KR19990021386A - How to display bad die using laser - Google Patents
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Abstract
본 발명은 웨이퍼에서 절단된 다이중에서 불량한 다이를 표시를 하는 방법에 있어서, 상기 다이를 테스트를 이용하여 각각의 다이에 대한 정보를 파악하는 프리 레이저 테스트 단계와, 상기 단계 후에 다이에 대하여 파악된 정보를 이용하여 교정가능한 다이를 교정하는 레이저 리페어 단계와, 상기 단계 후에 교정된 다이에 대하여 최종적으로 양/불량 여부를 모니터링하는 포스트 레이저 테스트단계와, 상기 단계 후에 불량 여부로 파악된 다이의 상부면에 설치된 퓨즈박스의 폴리퓨즈막에 레이저광을 조사하여 색상을 변색시켜서 불량한 다이를 표시하는 레이저 마킹 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 불량다이 표시방법인 바, 레이저광을 퓨즈박스에 조사하여 퓨즈박스의 폴리퓨즈막이 녹아서 상층으로 이동하여 나이트라이드막을 변색시켜 다이의 불량 여부를 표시하도록 하므로 단시간에 불량한 다이를 표시하여서 제조공정의 시간손실을 줄이도록 하는 매우 유용하고 효과적인 발명이다.The present invention relates to a method for displaying a bad die among dies cut from a wafer, comprising: a pre-laser test step of grasping information about each die by using the die test, and information grasped about the die after the step; A laser repair step of calibrating a die that can be calibrated using a laser beam; and a post laser test step of finally monitoring whether a die has been calibrated after the step; A method of marking a defective die using a laser, characterized by comprising a laser marking step of discoloring the color by irradiating a laser light to a poly-fuse film of the installed fuse box. The polyfuse film in the box melts and moves to the upper layer to form nitride Discoloration was hayeoseo hameuro display poor die in a short time to show whether or not the defective die is very useful and effective invention to reduce the time loss in the production process.
Description
본 발명은 불량다이(Die)를 표시하는 방법에 관한 것으로서, 특히, 다이의 상부면 적소에 직사각형상의 퓨즈박스를 설치하고, 이 퓨즈박스의 상부면에 산화막과 나이트라이드막을 순차적으로 적층하여 다이가 불량인 경우에 레이저광을 퓨즈박스에 조사하여 폴리퓨즈막이 녹아서 상층으로 이동하여 나이트라이드막을 변색시켜 다이의 불량 여부를 표시하도록 하는 레이저를 이용한 불량다이 표시방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for displaying a defective die, and in particular, a rectangular fuse box is provided in place on an upper surface of a die, and an oxide film and a nitride film are sequentially stacked on the upper surface of the die box, so that the die is formed. In the case of a defect, the method relates to a defect die display method using a laser to irradiate laser light to a fuse box to dissolve the polyfuse film and to move to an upper layer to discolor the nitride film to indicate whether the die is defective.
일반적으로, 반도체장치를 만들기 위하여서는 각종의 공정을 거쳐서 제조된 웨이퍼(Wafer)를 직사각형상의 얇은 조각을 잘라내어 그 조각위에 각종의 장치를 설치하여 사용하게 되며, 이와 같이, 얇은 조각은 다이(Die ; 칩이라도고 칭함)라고 불리우며, 이 다이의 상부면에 다이오드, 트랜지스터 및 기타의 디바이스 등을 설치하여 만들게 되는 것으로서, 이때 대량으로 제조된 다이를 정상품인지 불량품인지 여부를 여러 단계의 테스트를 거쳐서 판단하고 불량품인 경우에는 다이에 불량의 표시를 하게 되는 것이다.In general, in order to make a semiconductor device, a wafer manufactured through various processes is cut out of thin rectangular pieces, and various kinds of devices are installed on the pieces. Thus, the thin pieces are die (Die; Chip, which is made by installing diodes, transistors, and other devices on the upper surface of the die. At this time, it is judged whether the die manufactured in large quantities is genuine or defective through various stages of testing. If it is a defective product, the die will be marked as defective.
도 1은 종래의 양호한 다이와 불량다이를 표시하는 방법을 개략적인 순서를 보인 도면으로서, 일반적으로 불량다이를 판단하여 표시하는 방법은 제조된 웨이퍼를 사각형상의 작은 조각인 다이로 절단시킨 후에 이 다이를 프리 레이저 테스트 단계(S1)를 통하여 각각의 다이에 대한 정보를 인식하고 파악하여 레이저 리페어 시스템에 보내어 이 정보를 이용하여 교정 가능한 다이를 교정(Repair)하는 레이저 리페어단계(S2)와, 이 단계(S2) 후에 교정된 다이에 대한 양/불량 여부를 최종적으로 모니터링하여 판단하는 포스트 레이저 테스트단계(S3)를 거쳐 양/불량의 다이의 뒷부분을 적절하게 그라인딩(Grinding)하는 빽 그라이딩 단계(S4)를 거쳐서 다시 테스트라인에 있는 잉킹(Inking)장비를 이용하여 양호한 다이와 불량한 다이를 잉크로써 표시(Marking)하는 잉킹단계(S5)를 거치게 되고, 이 잉킹단계(S5)에서 잉킹된 다이를 견고하게 하기 위한 베이크단계(S6)를 거쳐서 조립이 이루어지게 되는 것이다.1 is a schematic sequence diagram showing a conventional good die and a bad die display method. In general, a method for determining and displaying a bad die is to cut the die after cutting the fabricated wafer into small rectangular dies. The laser repair step (S2) of recognizing and identifying information on each die through the pre-laser test step (S1) and sending it to the laser repair system to repair a die that can be calibrated using this information, and the step ( Back grinding step (S4) to properly grind the back portion of the good / bad die through the post-laser test step (S3) to finally monitor and judge whether or not the corrected die after the S2) Marking good and bad dies with ink using inking equipment in the test line And subjecting the system (S5), via a baking step (S6) for tightly the die inking in the inking step (S5) which will be assembled is made.
그런데, 상기한 바와 같이, 종래에 양호한 다이와 불량한 다이를 구별하기 위하여서는 잉크를 다이의 표면 적소에 표시한 후에 다이의 표면에 표시된 잉크표시가 그대로 남아 있도록 하기 위하여 별도의 베이킹 단계를 거쳐 잉크를 견고하게 마킹시키는 것으로서, 이 종래의 방법은 불량한 다이와 양호한 다이를 구별하기 위하여 표시하는 잉킹단계와 이 잉킹단계 후에 거치게 되는 다이의 잉킹된 부분을 견고하게 하는 베이크단계에 시간이 많이 걸리되어 전체공정에서 시간 손실이 커지는 문제점이 있었다.As described above, in order to distinguish between good and bad dies in the related art, after the ink is displayed on the surface of the die, the ink is firmly subjected to a separate baking step so that the ink marks on the surface of the die remain intact. In this conventional method, this conventional method takes a long time in the inking step of marking to distinguish between a bad die and a good die, and a baking step of hardening the inked portion of the die which is subjected after the inking step. There was a problem that the loss is large.
본 발명은 이러한 점을 감안하여 안출한 것으로서, 다이의 상부면 적소에 직사각형상의 퓨즈박스를 설치하고, 이 퓨즈박스의 상부면에 산화막과 나이트라이드막을 순차적으로 적층하여 다이가 불량인 경우에 레이저광을 퓨즈박스에 조사하여 폴리퓨즈막을 녹이고 상층으로 이동시켜 이 녹은 폴리가 나이트라이드막을 변색시켜 다이의 불량 여부를 표시하도록 하므로 단시간에 불량한 다이를 표시하여서 반도체장치의 제조공정상의 시간손실을 줄이는 것이 목적이다.The present invention has been made in view of this point, and a rectangular fuse box is provided in place on the upper surface of the die, and an oxide film and a nitride film are sequentially stacked on the upper surface of the fuse box so that the laser beam is damaged when the die is defective. To melt the polyfuse film and move it to the upper layer so that the melted poly discolors the nitride film to indicate whether the die is defective. Therefore, it is necessary to display a poor die in a short time to reduce the time loss in the manufacturing process of the semiconductor device. to be.
도 1은 종래의 불량다이를 표시하는 방법을 개략적인 순서를 보인 도면이고,1 is a view showing a schematic sequence of a conventional method for displaying a bad die,
도 2는 본 발명에 따른 레이저를 이용한 불량다이를 표시하는 방법을 순차적으로 보인 도면이고,2 is a view sequentially showing a method for displaying a bad die using a laser according to the present invention,
도 3은 본 발명에 따른 불량다이를 표시하기 위한 퓨즈박스가 다이에 설치된 상태를 보인 도면이고,3 is a view showing a fuse box installed on the die for indicating a defective die according to the present invention,
도 4는 본 발명에 따른 불량다이 표시용 퓨즈박스를 보인 도면이고,4 is a view showing a bad die display fuse box according to the present invention,
도 5는 본 발명에 따른 다이에 퓨즈박스가 설치된 상태 단면도이다.5 is a cross-sectional view of a fuse box installed in a die according to the present invention.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings
60 : 다이 70 : 퓨즈박스60: die 70: fuse box
72 : 폴리퓨즈막 80 : 필드산화막72: polyfuse film 80: field oxide film
90 : 산화막 100 : 나이트라이드막90 oxide film 100 nitride film
이러한 목적은 웨이퍼에서 절단된 다이중에서 불량한 다이를 표시를 하는 방법에 있어서, 상기 다이를 테스트를 이용하여 각각의 다이에 대한 정보를 파악하는 프리 레이저 테스트단계와, 상기 단계 후에 다이에 대하여 파악된 정보를 이용하여 교정가능한 다이를 교정하는 레이저 리페어단계와, 상기 단계 후에 교정된 다이에 대하여 최종적으로 양/불량 여부를 모니터링하는 포스트 레이저 테스트단계와, 상기 단계 후에 불량 여부로 파악된 다이의 상부면에 설치된 퓨즈박스의 폴리퓨즈막에 레이저광을 조사하여 색상을 변색시켜서 불량한 다이를 표시하는 레이저 마킹 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 불량다이 표시방법를 제공함으로써 달성된다.The purpose of the method is to mark a bad die among dies cut from a wafer, the pre-laser test step of grasping information about each die by using the die test, and the information identified about the die after the step. A laser repair step of calibrating a die that can be calibrated using a laser beam; and a post laser test step of finally monitoring whether a die has been calibrated after the step; It is achieved by providing a bad die display method using a laser, characterized in that the laser marking step of irradiating a laser light to the poly-fuse film of the installed fuse box to discolor the color to display a bad die.
그리고, 상기 다이의 모서리 적소에 설치된 퓨즈박스의 상부면에 산화막과, 그 산화막 상에는 나이트라이드막을 적층시켜서 레이저광이 퓨즈박스의 폴리퓨즈막을 녹이고, 이 녹은 폴리가 상층으로 산화막을 통하여 이동하여 나이트라이드막과 결합되어 변색을 일으키므로 불량한 다이를 구별하도록 하는 것이다.Then, an oxide film and a nitride film are stacked on the upper surface of the fuse box disposed at the edge of the die, and laser light melts the polyfuse film of the fuse box, and the melted poly moves to the upper layer through the oxide film. It is combined with the film to cause discoloration, so that the bad die is distinguished.
이하, 첨부한 도면에 의거하여 본 발명에 따른 레이저를 이용한 불량다이 표시방법에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a method for displaying a defective die using a laser according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
우선, 도 2에 도시된 바와 같이, 웨이퍼에서 절단된 다이중에서 불량한 다이를 표시를 하는 방법에 있어서, 상기 다이(60)를 테스트를 이용하여 각각의 다이(60)에 대한 정보를 파악하는 프리 레이저 테스트 단계(S1)를 거쳐 상기 단계(S1)후에 다이(60)에 대하여 파악된 정보를 이용하여 교정가능한 다이(60)를 레이저 리페어 단계(S2)에서 교정하도록 하고, 상기 단계(S2) 후에 교정된 다이(60)에 대하여 최종적으로 양/불량 여부를 모니터링하는 포스트 레이저 테스트단계(S3)를 거쳐 상기 단계(S3) 후에 불량 여부로 파악된 다이(60)의 상부면에 설치된 퓨즈박스(70)의 폴리퓨즈막(72)에 레이저광을 조사하여 색상을 변색시켜서 불량한 다이(60)를 레이저 마킹 단계(S40)에서 표시하도록 하며, 상기 단계(S40) 후에 다이(60)의 뒷 부분을 그라인딩하여 가공하는 그라인딩 단계(S50)를 거쳐 다이의 조립을 수행하게 되는 것이다.First, as shown in FIG. 2, in a method of displaying a bad die among dies cut from a wafer, a pre-laser that grasps information about each die 60 using the die 60 is tested. After the step (S1) through the test step (S1) using the information obtained for the die 60, the correctable die 60 to be calibrated in the laser repair step (S2), after the step (S2) The fuse box 70 installed on the upper surface of the die 60 determined as defective after the step S3 through a post laser test step S3 for finally monitoring whether the die 60 is defective or defective. Irradiating laser light to the polyfuse film 72 to discolor the color so that the defective die 60 is displayed in the laser marking step S40, and after the step S40, the back portion of the die 60 is ground. Grinding Stage Processing Through the system (S50) is to perform the assembly of the die.
도 5에 도시된 바와 같이, 상기 다이(60)의 모서리 적소에 설치된 퓨즈박스(70)의 상부면에 산화막(90)과, 그 산화막(90) 상에 나이트라이드막(100)이 적층되어지게 된다.As shown in FIG. 5, the oxide film 90 and the nitride film 100 are stacked on the oxide film 90 on the upper surface of the fuse box 70 installed at the edge of the die 60. do.
이와 같이, 본 발명은 프리레이저 테스트 단계(S10), 레이저 리페어(S20) 및 포스트 레이저 테스트단계(S30)는 종래의 과정과 동일하게 이루어지며, 레이저마킹 단계(S40)를 새롭게 추가하여 이루어지는 것으로서, 종래의 잉킹단계와 베이킹 단계를 생략하는 효과를 가지게 된다.As described above, the present invention is made in the same manner as the conventional process, the pre-laser test step (S10), laser repair (S20) and post-laser test step (S30), is made by adding a new laser marking step (S40), It has the effect of omitting the conventional inking step and baking step.
한편, 본 발명에 따른 방법에서 레이저 마킹 단계(S40)는 다이(60)의 모서리 적소에 일정 간격으로 폴리퓨즈막(72)이 형성된 퓨즈박스(70)를 설치하고서 그 퓨즈박스(70) 상에 산화막(90)과 나이트라이드막(100)을 순서대로 적층되어 있으며, 이때 이상이 있는 불량한 다이(60)의 상부면에 레이저광을 조사하게 되면, 나이트라이드막(100)과 산화막(90)을 투과한 레이저광이 퓨즈박스(70)의 폴리퓨즈막(72)을 녹이게 되고, 계속하여 폴리퓨즈막(72)이 녹음에 따라 압력이 증가한 폴리가 상측에 있는 산화막(90)을 통하여 나이트라이드막(100)으로 분출하게 되고, 이 나이트라이드막(100)을 밀어내면서 나이트라이드막(100)을 변색시켜서 불량한 다이(60)를 표시하게 되는 것이다.On the other hand, the laser marking step (S40) in the method according to the present invention is installed on the fuse box 70 by installing a fuse box 70 in which the poly-fuse film 72 is formed at a predetermined interval in the corner of the die 60 The oxide film 90 and the nitride film 100 are stacked in this order. When the laser beam is irradiated to the upper surface of the defective die 60 having abnormalities, the nitride film 100 and the oxide film 90 are formed. The transmitted laser light melts the polyfuse film 72 of the fuse box 70, and then the nitride is formed through the oxide film 90 on the upper side of the poly-fusing film, which has increased in pressure as the polyfuse film 72 is recorded. The film 100 is ejected into the film 100, and the nitride film 100 is discolored while the nitride film 100 is pushed out to display the poor die 60.
따라서, 상기한 바와 같이 본 발명에 따른 레이저를 이용한 불량다이 표시방법을 이용하게 되면, 다이의 상부면 적소에 직사각형상의 퓨즈박스를 설치하고, 이 퓨즈박스의 상부면에 산화막과 나이트라이드막을 순차적으로 적층하여 다이가 불량인 경우에 레이저광을 퓨즈박스에 조사하여 폴리퓨즈막이 녹아서 상층으로 이동하여 나이트라이드막을 변색시켜 다이의 불량 여부를 표시하도록 하므로 종래의 잉킹단계와 베이크단계 없이 불량한 다이를 표시하는 작업시간을 줄일 수 있으므로 반도체소자의 제조공정을 단순화시키고 생산성을 증대시키는 잇점을 지닌 매우 유용하고 효과적인 발명인 것이다.Therefore, when the bad die display method using the laser according to the present invention is used as described above, a rectangular fuse box is installed in place on the upper surface of the die, and an oxide film and a nitride film are sequentially formed on the upper surface of the fuse box. When the die is defective by laminating, the laser beam is irradiated to the fuse box to melt the polyfuse film, and then the upper layer is discolored to discolor the nitride film to indicate whether the die is defective. Therefore, the die is displayed without the conventional inking step and the baking step. It is a very useful and effective invention with the advantage of simplifying the manufacturing process of semiconductor devices and increasing productivity since the working time can be reduced.
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