KR19980076639A - Delay adjustment circuit - Google Patents
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Abstract
본 발명은 딜레이 조정 회로에 관한 것으로, 외부로부터 입력단에 소정의 신호를 입력받고, 최종 출력단으로부터 소정의 딜레이된 신호를 출력하며, 각각이 입력받은 신호를 딜레이하여 다음 단에 출력시키는 복수의 인버터와, 상기 각각의 복수의 인버터로부터 소정의 딜레이된 신호를 각각 입력받고, 다시 소정의 딜레이된 신호를 다음 인버터의 입력신호로 각각 출력시키는 복수의 커패시터 조정부와, 상기 복수의 커패시터 조정부가 각각 직렬 모드 및 병렬 모드, 그리고 패스 모드 중 어느 하나의 모드가 되도록 하는 소정의 비트 값을 상기 복수의 커패시터 조정부에 각각 출력시키는 복수의 모드 변환 레지스터를 포함하여, 공정 상의 오차로 인한 딜레이 값을 원하는 딜레이 값으로 조정할 수 있고, 여러 가지 특성을 고려하기 위해 딜레이 값을 변화시킬 수 있다.The present invention relates to a delay adjustment circuit, comprising: a plurality of inverters that receive a predetermined signal from an external input terminal, output a predetermined delayed signal from a final output terminal, and delay each of the input signals to the next stage; A plurality of capacitor adjusting units each receiving a predetermined delayed signal from each of the plurality of inverters, and outputting a predetermined delayed signal as an input signal of a next inverter, respectively, the plurality of capacitor adjusting units, respectively, in series mode and And a plurality of mode conversion registers for outputting a predetermined bit value to each of the plurality of capacitor adjusters to be one of the parallel mode and the pass mode, thereby adjusting the delay value due to a process error to a desired delay value. Can change the delay value to account for various characteristics Can be mad.
Description
본 발명은 딜레이(delay) 조정 회로에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 소정의 입력신호에 의해 커패시터 값을 변화시킴으로써 다양한 소정의 딜레이된 출력신호를 얻을 수 있도록 하는 딜레이 조정 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a delay adjustment circuit, and more particularly, to a delay adjustment circuit for obtaining various predetermined delayed output signals by changing a capacitor value by a predetermined input signal.
도 1은 종래의 딜레이 회로도이다.1 is a conventional delay circuit diagram.
도 1을 참조하면, 종래 딜레이 회로는 복수의 인버터(INV1INV10) 및 상기 각 인버터(INV1INV10) 사이에 각각 연결된 복수의 커패시터(C1C10)로 구성된다.Referring to FIG. 1, a conventional delay circuit includes a plurality of inverters INV1INV10 and a plurality of capacitors C1C10 respectively connected between the inverters INV1INV10.
이와 같은 종래의 딜레이 회로는, 각 단의 값이 정해져 있고 단수가 설계부터 정해지기 때문에, 회로의 시뮬레이션(simulation)을 수행할 때 사용한 파라미터와 공정 상의 파라미터가 일치하지 않는 경우가 자주 발생된다.In such a conventional delay circuit, since the value of each stage is determined and the number of stages is determined from the design, it is often the case that the parameters used in the simulation of the circuit do not coincide with the process parameters.
이에 따라, 원하지 않는 딜레이 값을 얻게 되어 회로 특성상의 문제점이 발생된다.As a result, unwanted delay values are obtained, resulting in problems in circuit characteristics.
또한, 딜레이 회로에서 공정 상의 문제없이 원하는 특성을 얻었다고 하더라도, 다른 여러 가지 특성을 고려하기 위해 딜레이 값을 변화시키고자 하는 경우, 단수의 제약으로 인해 수행하기 어려운 문제점 등이 발생된다.In addition, even if a desired characteristic is obtained without a process problem in a delay circuit, when a delay value is changed in order to take into account various other characteristics, it is difficult to perform due to a singular constraint.
본 발명은 상술한 제반 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 딜레이 회로의 단수의 제약과 공정 상의 문제로 인해 발생되는 원치 않는 딜레이 값을 원하는 딜레이 값으로 변화시킬 수 있는 딜레이 조정 회로를 제공함에 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been proposed to solve the above-mentioned problems, and provides a delay adjustment circuit that can change an unwanted delay value caused by a single stage limitation of a delay circuit and a process problem into a desired delay value. There is this.
본 발명의 다른 목적은, 여러 가지 특성을 고려하기 위해 딜레이 값을 변화시킬 수 있는 딜레이 조정 회로를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a delay adjustment circuit that can change the delay value in order to consider various characteristics.
도 1은 종래의 딜레이 회로도;1 is a conventional delay circuit diagram;
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 딜레이 조정 회로도;2 is a delay adjustment circuit diagram according to an embodiment of the present invention;
도 3은 도 2의 커패시터 조정부를 나타낸 상세 회로도.3 is a detailed circuit diagram illustrating a capacitor adjusting unit of FIG. 2.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
INV1INV20 : 인버터C1C10 : 커패시터INV1INV20: Inverter C1C10: Capacitor
C11 : 제 1 커패시터C12 : 제 2 커패시터C11: first capacitor C12: second capacitor
110 : 커패시터 조정부RG1RG10 : 모드변환 레지스터110: capacitor adjustment unit RG1 RG10: mode conversion register
MN1MN4 : NMOS 트랜지스터MP1MP4 : PMOS 트랜지스터MN1MN4: NMOS transistor MP1MP4: PMOS transistor
(구성)(Configuration)
상술한 목적을 달성하기 위해 제안된 본 발명의 특징에 의하면, 딜레이 조정 회로는, 외부로부터 입력단에 소정의 신호를 입력받고, 최종 출력단으로부터 소정의 딜레이된 신호를 출력하며, 각각이 입력받은 신호를 딜레이하여 다음 단에 출력시키는 복수의 인버터와; 상기 각각의 복수의 인버터로부터 소정의 딜레이된 신호를 각각 입력받고, 다시 소정의 딜레이된 신호를 다음 인버터의 입력신호로 각각 출력시키는 복수의 커패시터 조정부와; 상기 복수의 커패시터 조정부가 각각 직렬 모드 및 병렬 모드, 그리고 패스 모드 중 어느 하나의 모드가 되도록 하는 소정의 비트 값을 상기 복수의 커패시터 조정부에 각각 출력시키는 복수의 모드변환 레지스터를 포함한다.According to a feature of the present invention proposed to achieve the above object, a delay adjustment circuit receives a predetermined signal from an external input terminal, outputs a predetermined delayed signal from a final output terminal, A plurality of inverters which are delayed and output to the next stage; A plurality of capacitor adjusting units each receiving a predetermined delayed signal from each of the plurality of inverters, and outputting a predetermined delayed signal as an input signal of a next inverter, respectively; And a plurality of mode conversion registers respectively outputting a predetermined bit value to the plurality of capacitor adjusting units such that the plurality of capacitor adjusting units are in any one of a serial mode, a parallel mode, and a pass mode.
이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 복수의 커패시터 조정부는, 각각 제 1 모드변환신호 입력단자에 게이트 단자가 연결되고, 딜레이신호 입력단자 및 딜레이신호 출력단자 사이에 전류패스가 연결된 제 1 NMOS 트랜지스터와; 상기 제 2 모드변환신호 입력단자에 게이트 단자가 연결되고, 상기 제 1 NMOS 트랜지스터의 전류패스에 각각의 전류패스가 연결된 제 1 PMOS 트랜지스터 및 제 2 NMOS 트랜지스터와; 상기 제 1 PMOS 트랜지스터와 공통 게이트 단자를 갖고, 상기 제 1 PMOS 트랜지스터 및 제 2 NMOS 트랜지스터의 전류패스 사이에 전류패스가 연결된 제 2 PMOS 트랜지스터와; 상기 제 1 PMOS 트랜지스터의 전류패스에 일단이 연결된 제 1 커패시터와; 상기 제 2 NMOS 트랜지스터의 전류패스에 일단이 연결된 제 2 커패시터와; 상기 제 1 및 제 2 커패시터의 타단에 전류패스가 연결되고, 상기 제 2 PMOS 트랜지스터와 공통 벌크단자를 갖는 제 3 PMOS 트랜지스터와; 상기 제 2 PMOS 트랜지스터의 전류패스 및 상기 제 3 PMOS 트랜지스터의 전류패스 사이에 전류패스가 연결되고, 상기 제 2 NMOS 트랜지스터와 공통 게이트 단자를 갖는 제 3 NMOS 트랜지스터와; 상기 제 1 커패시터의 타단 및 접지단자 사이에 전류패스가 연결되고, 상기 제 2 NMOS 트랜지스터와 공통 게이트 단자를 갖는 제 4 NMOS 트랜지스터와; 상기 제 2 커패시터의 타단 및 접지단자 사이에 전류패스가 연결되고, 상기 제 3 PMOS 트랜지스터와 공통 게이트 단자를 갖는 제 4 PMOS 트랜지스터를 포함한다.In a preferred embodiment of the present invention, the plurality of capacitor adjusting units each include a first NMOS transistor having a gate terminal connected to a first mode conversion signal input terminal, and a current path connected between a delay signal input terminal and a delay signal output terminal. Wow; A first PMOS transistor and a second NMOS transistor having a gate terminal connected to the second mode conversion signal input terminal and each current path connected to a current path of the first NMOS transistor; A second PMOS transistor having a common gate terminal with the first PMOS transistor, and having a current path coupled between a current path of the first PMOS transistor and a second NMOS transistor; A first capacitor having one end connected to a current path of the first PMOS transistor; A second capacitor having one end connected to a current path of the second NMOS transistor; A third PMOS transistor having a current path connected to the other ends of the first and second capacitors and having a common bulk terminal with the second PMOS transistor; A third NMOS transistor connected between a current path of the second PMOS transistor and a current path of the third PMOS transistor, the third NMOS transistor having a common gate terminal with the second NMOS transistor; A fourth NMOS transistor having a current path connected between the other end of the first capacitor and a ground terminal and having a common gate terminal with the second NMOS transistor; A current path is connected between the other end of the second capacitor and the ground terminal, and includes a fourth PMOS transistor having a common gate terminal with the third PMOS transistor.
이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 복수의 커패시터 조정부는, 상기 모드변환 레지스터로부터 상기 제 1 및 제 2 모드변환신호 입력단자에 각각 하이레벨 신호 및 로우레벨 신호를 각각 입력받고, 상기 제 1 및 제 2 커패시터가 병렬연결 상태로 되어, 이 두 커패시터의 연결 상태에 따른 소정의 딜레이신호를 상기 딜레이신호 출력단자를 통해 출력시킨다.In a preferred embodiment of this aspect, the plurality of capacitor adjusting unit receives a high level signal and a low level signal, respectively, from the mode conversion register to the first and second mode conversion signal input terminals, respectively. The second capacitor is connected in parallel to output a predetermined delay signal according to the connection state of the two capacitors through the delay signal output terminal.
이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 복수의 커패시터 조정부는, 상기 모드변환 레지스터로부터 상기 제 1 및 제 2 모드변환신호 입력단자에 각각 하이레벨 신호를 입력받고, 상기 제 1 및 제 2 커패시터가 직렬 연결 상태로 되어, 이 두 커패시터의 연결 상태에 따른 소정의 딜레이신호를 상기 딜레이신호 출력단자를 통해 출력시킨다.In a preferred embodiment of this aspect, the plurality of capacitor adjusting unit receives a high level signal from the mode conversion register to the first and second mode conversion signal input terminals, respectively, and the first and second capacitors are connected in series. In the connected state, a predetermined delay signal corresponding to the connection state of the two capacitors is output through the delay signal output terminal.
이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 복수의 커패시터 조정부는, 상기 모드변환 레지스터로부터 상기 제 1 모드변환신호 입력단자에 로우레벨 신호를 입력받고, 상기 딜레이신호 입력단자로부터 입력된 신호를 상기 제 1 및 제 2 커패시터를 거치지 않고 그대로 상기 딜레이신호 출력단자를 통해 출력시킨다.In a preferred embodiment of the present invention, the plurality of capacitor adjusting units receive a low level signal from the mode conversion register to the first mode conversion signal input terminal and receive a signal input from the delay signal input terminal. And outputs the delayed signal output terminal as it is without passing through the second capacitor.
(작용)(Action)
본 발명은 딜레이 조정 회로에 관한 것으로, 외부로부터 입력단에 소정의 신호를 입력받고, 최종 출력단으로부터 소정의 딜레이된 신호를 출력하며, 각각이 입력받은 신호를 딜레이하여 다음 단에 출력시키는 복수의 인버터와, 상기 각각의 복수의 인버터로부터 소정의 딜레이된 신호를 각각 입력받고, 다시 소정의 딜레이된 신호를 다음 인버터의 입력신호로 각각 출력시키는 복수의 커패시터 조정부와, 상기 복수의 커패시터 조정부가 각각 직렬 모드 및 병렬 모드, 그리고 패스 모드 중 어느 하나의 모드가 되도록 하는 소정의 비트 값을 상기 복수의 커패시터 조정부에 각각 출력시키는 복수의 모드변환 레지스터를 포함하여, 공정 상의 오차로 인한 딜레이 값을 원하는 딜레이 값으로 조정할 수 있고, 여러 가지 특성을 고려하기 위해 딜레이 값을 변화시킬 수 있다.The present invention relates to a delay adjustment circuit, comprising: a plurality of inverters that receive a predetermined signal from an external input terminal, output a predetermined delayed signal from a final output terminal, and delay each of the input signals to the next stage; A plurality of capacitor adjusting units each receiving a predetermined delayed signal from each of the plurality of inverters, and outputting a predetermined delayed signal as an input signal of a next inverter, respectively, the plurality of capacitor adjusting units, respectively, in series mode and A plurality of mode conversion registers for outputting a predetermined bit value to each of the plurality of capacitor adjusting units to be in one of the parallel mode and the pass mode, thereby adjusting the delay value due to a process error to a desired delay value. Can change the delay value to account for various characteristics Can.
(실시예)(Example)
이하, 도 2 내지 도 3을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 2 to 3.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 딜레이 조정 회로도이다.2 is a delay adjustment circuit diagram according to an embodiment of the present invention.
도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 딜레이 조정 회로는, 복수의 인버터(INV11INV20)와, 복수의 커패시터 조정부(110)와, 복수의 모드변환 레지스터(RG1RG10)를 포함하여, 공정 상에서 틀어진 딜레이 값을 원하는 딜레이 값으로 변화시킬 수 있고, 다른 여러 가지 특성을 고려하기 위해 의도적으로 딜레이 값을 변화시킬 수 있다.Referring to FIG. 2, a delay adjustment circuit according to an embodiment of the present invention includes a plurality of inverters INV11INV20, a plurality of capacitor adjusting units 110, and a plurality of mode conversion registers RG1RG10. The delay value can be changed to the desired delay value, and the delay value can be intentionally changed to consider various other characteristics.
상기 복수의 인버터(INV11INV20)는, 외부로부터 입력단에 소정의 신호를 입력받고, 최종 출력단으로부터 소정의 딜레이된 신호를 출력하며, 각각이 입력받은 신호를 딜레이하여 다음 단에 출력시키고, 상기 복수의 커패시터 조정부(110)는, 상기 각각의 복수의 인버터(INV11INV20)로부터 소정의 딜레이된 신호를 각각 입력받고, 다시 소정의 딜레이된 신호를 다음 인버터의 입력신호로 각각 출력시킨다.The plurality of inverters INV11INV20 receive a predetermined signal from an external input terminal, output a predetermined delayed signal from a final output terminal, delay each of the input signals to the next stage, and output the plurality of capacitors. The adjusting unit 110 receives a predetermined delayed signal from each of the plurality of inverters INV11INV20, and outputs the predetermined delayed signal as an input signal of the next inverter, respectively.
그리고, 상기 복수의 모드변환 레지스터(RG1RG10)는, 상기 복수의 커패시터 조정부(110)가 각각 직렬 모드(serial mode) 및 병렬 모드(parallel mode), 그리고 패스 모드(pass mode) 중 어느 하나의 모드가 되도록 변환시키는 2 비트 값을 상기 복수의 커패시터 조정부(110)에 각각 출력시킨다.In addition, the plurality of mode conversion registers RG1RG10 may be configured such that the capacitor adjusting unit 110 has any one of a serial mode, a parallel mode, and a pass mode. Two bit values, which are converted so as to be converted, are output to the plurality of capacitor adjusting units 110, respectively.
도 3은 도 2의 커패시터 조정부(110)를 나타낸 상세 회로도이다.3 is a detailed circuit diagram illustrating the capacitor adjusting unit 110 of FIG. 2.
도 3을 참조하면, 상기 복수의 커패시터 조정부(110)는, 각각 제 1 모드변환신호 입력단자(en)에 게이트 단자가 연결되고, 딜레이신호 입력단자(A) 및 딜레이신호 출력단자(Y) 사이에 전류패스가 연결된 제 1 NMOS 트랜지스터(MN1)와, 상기 제 2 모드변환신호 입력단자(X)에 게이트 단자가 연결되고, 상기 제 1 NMOS 트랜지스터(MN1)의 전류패스에 각각의 전류패스가 연결된 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1) 및 제 2 NMOS 트랜지스터(MN2)와, 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)와 공통 게이트 단자를 갖고, 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1) 및 제 2 NMOS 트랜지스터(MN2)의 전류패스 사이에 전류패스가 연결된 제 2 PMOS 트랜지스터(MP2)를 포함한다.Referring to FIG. 3, each of the plurality of capacitor adjusting units 110 has a gate terminal connected to a first mode conversion signal input terminal en, and between a delay signal input terminal A and a delay signal output terminal Y. A first NMOS transistor MN1 having a current path connected thereto, a gate terminal connected to the second mode conversion signal input terminal X, and a respective current path connected to a current path of the first NMOS transistor MN1. The first PMOS transistor MP1 and the second NMOS transistor MN2, the first PMOS transistor MP1 and a common gate terminal, the current of the first PMOS transistor MP1 and the second NMOS transistor MN2 And a second PMOS transistor MP2 connected between current paths.
그리고, 상기 제 1 PMOS 트랜지스터(MP1)의 전류패스에 일단이 연결된 제 1 커패시터(C11)와, 상기 제 2 NMOS 트랜지스터(MN2)의 전류패스에 일단이 연결된 제 2 커패시터(C12)와, 상기 제 1 및 제 2 커패시터(C11, C12)의 타단에 전류패스가 연결되고, 상기 제 2 PMOS 트랜지스터(MP2)와 공통 벌크단자를 갖는 제 3 PMOS 트랜지스터(MP3)를 포함한다.The first capacitor C11 has one end connected to the current path of the first PMOS transistor MP1, the second capacitor C12 connected to one end of the current path of the second NMOS transistor MN2, and the first capacitor C11 connected to the current path of the second PMOS transistor MP1. A current path is connected to the other ends of the first and second capacitors C11 and C12, and includes a third PMOS transistor MP3 having a common bulk terminal with the second PMOS transistor MP2.
또한, 상기 제 2 PMOS 트랜지스터(MP2)의 전류패스 및 상기 제 3 PMOS 트랜지스터(MP3)의 전류패스 사이에 전류패스가 연결되고, 상기 제 2 NMOS 트랜지스터(MN2)와 공통 게이트 단자를 갖는 제 3 NMOS 트랜지스터(MN3)와, 상기 제 1 커패시터(C11)의 타단 및 접지단자 사이에 전류패스가 연결되고, 상기 제 2 NMOS 트랜지스터(MN2)와 공통 게이트 단자를 갖는 제 4 NMOS 트랜지스터(MN4)와, 상기 제 2 커패시터(C12)의 타단 및 접지단자 사이에 전류패스가 연결되고, 상기 제 3 PMOS 트랜지스터(MP3)와 공통 게이트 단자를 갖는 제 4 PMOS 트랜지스터(MP4)를 포함한다.In addition, a current path is connected between the current path of the second PMOS transistor MP2 and the current path of the third PMOS transistor MP3, and has a third NMOS having a common gate terminal with the second NMOS transistor MN2. A fourth NMOS transistor MN4 having a common gate terminal connected to a current path between the transistor MN3, the other end of the first capacitor C11, and a ground terminal, and having a common gate terminal with the second NMOS transistor MN2; A current path is connected between the other end of the second capacitor C12 and the ground terminal, and includes a fourth PMOS transistor MP4 having the common gate terminal and the third PMOS transistor MP3.
상기 복수의 커패시터 조정부(110)는, 상기 모드변환 레지스터(RG1RG10)로부터 상기 제 1 및 제 2 모드변환신호 입력단자(en, X)에 각각 하이레벨(high level) 신호 및 로우레벨(low level) 신호를 각각 입력받고, 상기 제 1 및 제 2 커패시터(C11, C12)가 병렬연결 상태로 되어, 이 두 커패시터(C11, C12)의 연결 상태에 따른 소정의 딜레이신호를 상기 딜레이신호 출력단자(Y)를 통해 출력시킨다.The plurality of capacitor adjusting units 110 may include a high level signal and a low level from the mode conversion register RG1RG10 to the first and second mode conversion signal input terminals en and X, respectively. The signal is input to each other, and the first and second capacitors C11 and C12 are connected in parallel, and the delay signal output terminal Y receives a predetermined delay signal according to the connection state of the two capacitors C11 and C12. Through).
그리고, 상기 복수의 커패시터 조정부(110)는, 상기 모드변환 레지스터(RG1RG10)로부터 상기 제 1 및 제 2 모드변환신호 입력단자(en, X)에 각각 하이레벨 신호를 입력받고, 상기 제 1 및 제 2 커패시터(C11, C12)가 직렬 연결 상태로 되어, 이 두 커패시터(C11, C12)의 연결 상태에 따른 소정의 딜레이신호를 상기 딜레이신호 출력단자(Y)를 통해 출력시킨다.The capacitor adjusting unit 110 receives a high level signal from the mode conversion register RG1RG10 to the first and second mode conversion signal input terminals en and X, respectively. The two capacitors C11 and C12 are connected in series to output a predetermined delay signal according to the connection state of the two capacitors C11 and C12 through the delay signal output terminal Y.
또한, 상기 복수의 커패시터 조정부(110)는, 상기 모드변환 레지스터(RG1RG10)로부터 상기 제 1 모드변환신호 입력단자(en)에 로우레벨 신호를 입력받고, 상기 제 2 모드변환신호 입력단자(X)에 입력되는 신호와 무관하게 상기 딜레이신호 입력단자(A)로부터 입력된 신호를 상기 제 1 및 제 2 커패시터(C11, C12)를 거치지 않고 그대로 상기 딜레이신호 출력단자(Y)를 통해 출력시킨다.In addition, the plurality of capacitor adjusting units 110 receives a low level signal from the mode conversion register RG1RG10 to the first mode conversion signal input terminal en, and the second mode conversion signal input terminal X. Irrespective of the signal input to the signal, the signal input from the delay signal input terminal A is output through the delay signal output terminal Y without passing through the first and second capacitors C11 and C12.
이상과 같은 상기 커패시터 조정부(110)는, 상기 복수의 모드변환 레지스터(RG1RG10)로부터 입력받은 2 비트 값으로 상기 커패시터(C11, C12) 값을 조정하여 딜레이 값을 조정하게 된다.The capacitor adjusting unit 110 as described above adjusts the delay value by adjusting the values of the capacitors C11 and C12 with the two bit values received from the plurality of mode conversion registers RG1RG10.
다음은 상기 제 1 및 제 2 모드변환신호 입력단자(en, X)에 입력되는 상기 모드변환 레지스터(RG1RG10)의 2 비트 값에 따른 상기 복수의 커패시터 조정부(110)의 모드변환 상태를 나타낸 표이다.The following is a table showing the mode conversion state of the plurality of capacitor adjustment unit 110 according to the two-bit value of the mode conversion register (RG1RG10) input to the first and second mode conversion signal input terminal (en, X). .
[표 1]TABLE 1
상기 표 1을 참조하면, 상기 제 1 모드변환신호 입력단자(en)에 입력된 신호가 하이레벨의 신호(1)인 경우, 상기 제 2 모드변환신호 입력단자(X)의 입력신호에 따라 상기 제 1 및 제 2 커패시터(C11, C12)의 직렬 연결 내지 병렬 연결이 결정되어, 최종적인 커패시터 값을 변화시킬 수 있게 된다.Referring to Table 1, when the signal input to the first mode conversion signal input terminal en is a high level signal 1, the signal is input according to the input signal of the second mode conversion signal input terminal X. The series connection or parallel connection of the first and second capacitors C11 and C12 is determined, so that the final capacitor value can be changed.
그리고, 상기 제 1 모드변환신호 입력단자(en)에 입력된 신호를 로우레벨 신호(0)로 함으로써, 상기 제 1 및 제 2 커패시터(C11, C12)가 없는 패스 모드로 변환시킬 수도 있다.In addition, the signal input to the first mode conversion signal input terminal en may be converted into a pass mode without the first and second capacitors C11 and C12.
이상과 같은 딜레이 조정 회로는 상기 복수의 인버터(INV11INV20) 및 상기 복수의 커패시터 조정부(110)의 여러 단에 걸쳐 최종적으로 나오게 되는 출력신호가 각 단의 커패시터 조합에 의해 결정되므로, 공정 상의 문제나 딜레이 값을 조정하고자 하는 경우, 상기 복수의 레지스터(RG1RG10)의 비트 값에 따라 여러 가지의 딜레이 값을 얻을 수 있다.In the delay adjustment circuit as described above, since an output signal finally outputs through various stages of the plurality of inverters INV11INV20 and the plurality of capacitor adjusting units 110 is determined by the capacitor combination of each stage, a process problem or delay may be caused. In order to adjust the value, various delay values may be obtained according to bit values of the plurality of registers RG1RG10.
본 발명은 종래의 딜레이 회로가 단수의 제약 및 공정 상의 오차에 따라 원치 않는 딜레이 값을 갖게 되는 문제점 및, 의도적으로 딜레이 값을 변화시키려 할 때 그 값을 조정할 수 없는 문제점을 해결한 것으로서, 공정 상의 오차로 인한 딜레이 값을 원하는 딜레이 값으로 조정할 수 있고, 여러 가지 특성을 고려하기 위해 딜레이 값을 변화시킬 수 있는 효과가 있다.The present invention solves the problem that a conventional delay circuit has an unwanted delay value due to a singular constraint and a process error, and a problem in which the value can not be adjusted when the delay value is intentionally changed. The delay value due to the error can be adjusted to the desired delay value, and the delay value can be changed to consider various characteristics.
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970013427A KR100245558B1 (en) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | A delay control circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970013427A KR100245558B1 (en) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | A delay control circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19980076639A true KR19980076639A (en) | 1998-11-16 |
KR100245558B1 KR100245558B1 (en) | 2000-02-15 |
Family
ID=19502562
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970013427A KR100245558B1 (en) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | A delay control circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100245558B1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010063038A (en) * | 1999-12-21 | 2001-07-09 | 박종섭 | Delay circuit of semiconductor device |
KR100489587B1 (en) * | 1997-12-29 | 2005-08-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | Time delay circuit |
-
1997
- 1997-04-11 KR KR1019970013427A patent/KR100245558B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100489587B1 (en) * | 1997-12-29 | 2005-08-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | Time delay circuit |
KR20010063038A (en) * | 1999-12-21 | 2001-07-09 | 박종섭 | Delay circuit of semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100245558B1 (en) | 2000-02-15 |
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