KR19980024829U - Probe Device - Google Patents
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Abstract
인쇄회로기판의 프로빙작업시 접지의 편의성을 향상시킴과 아울러 저가의 비용으로 측정가능한 프로브장치에 대해 개시한다. 이 프로브장치는 인쇄회로기판(100)의 측정을 위한 탐침(212,214)이 마련되는 하드 동축케이블(200)과, 하드 동축케이블(200)과 연결되어 인쇄회로기판(100)의 측정된 신호를 주파수 분석기(500)로 전송하기 위한 플렉시블 동축케이블(400)의 구성으로 대별된다.Disclosed is a probe device that can improve the convenience of grounding in a probing operation of a printed circuit board and can be measured at low cost. The probe device is connected to the hard coaxial cable 200 having the probes 212 and 214 for measuring the printed circuit board 100 and the hard coaxial cable 200 to measure the frequency of the measured signal of the printed circuit board 100. The configuration of the flexible coaxial cable 400 for transmission to the analyzer 500 is roughly divided.
그리고, 하드 동축케이블(200)의 일단부에는 인쇄회로기판(100)의 표면에 접촉가능한 접지용 탐침(214)과 신호단자용 탐침(212)이 마련되어 있으며, 이중 접지용 탐침(214)은 프로빙 측정작업시 인쇄회로기판(100)의 표면에 접촉될 경우 소정의 탄성수단에 의해서 후방으로 이동가능한 구조로 되어 있다.One end of the hard coaxial cable 200 is provided with a grounding probe 214 and a signal terminal probe 212 which are in contact with the surface of the printed circuit board 100, and the double grounding probe 214 is probing. When it is in contact with the surface of the printed circuit board 100 during the measurement operation is a structure that can move backward by a predetermined elastic means.
Description
본 고안은 프로브장치에 관한 것으로써, 특히 인쇄회로기판의 프로빙작업시 측정작업이 간편하도록 접지용 단자에 소정의 탄성력을 부가함과 아울러, 전기적인 충격에 의한 오동작을 방지하도록 한 프로브장치에 관한 것이다.The present invention relates to a probe device, and more particularly, to a probe device that adds a predetermined elastic force to a ground terminal to prevent measurement operation during a probing operation of a printed circuit board, and prevents malfunction due to electric shock. will be.
일반적으로, 고주파용 프로브(PROBE)는 프로브장치내에서 1GHz이상의 고주파를 취급하는 사용환경내에서 장비의 테스트를 위하여 사용되며, 프로빙작업시 인쇄회로기판의 이상 유무를 체크하는 주파수 분석기와 같이 채용되어 인쇄회로기판의 표면으로부터 누설되는 전류의 주파수를 측정하고, 이를 주파수 분석기로 전송하는 기능을 갖는다.In general, the high frequency probe is used for testing the equipment in a working environment that handles high frequency of 1 GHz or more in the probe device, and is adopted as a frequency analyzer that checks for abnormalities of the printed circuit board during probing. It measures the frequency of current leaking from the surface of the printed circuit board and transmits it to the frequency analyzer.
상기한 프로브는 인쇄회로기판의 측정을 위하여 단부에 접지단자용 탐침과 신호단자용 탐침이 소정 길이로 마련되고, 이 두 탐침을 인쇄회로기판의 표면에 접촉시켜 인쇄회로기판의 누설전류를 측정하는 기능을 갖는다.The probe is provided with a ground terminal probe and a signal terminal probe at a predetermined length for measuring a printed circuit board. The probes contact the surface of the printed circuit board to measure a leakage current of the printed circuit board. Has the function.
종래 프로브장치는 도 1에 도시된 바와 같이, 선단에 인쇄회로기판(10)의 누설전류를 측정하기 위한 접지단자용 탐침(22)과 신호단자용 탐침(24)이 마련되는 프로브(20)와, 프로브(20)의 후단에 마련되어 인쇄회로기판(10)으로부터 측정된 신호를 전송하는 플렉시블 동축케이블(40)을 연결시키는 동축케이블 커넥터(30)와, 플렉시블 동축케이블(40)로부터 전송된 신호의 주파수를 분석하여 인쇄회로기판(10)의 이상 유무를 체크하는 주파수 분석기(50)를 구비하는 구조로 되어있다.As shown in FIG. 1, the conventional probe device includes a probe 20 having a ground terminal probe 22 and a signal terminal probe 24 for measuring a leakage current of the printed circuit board 10 at a front end thereof. And a coaxial cable connector 30 provided at a rear end of the probe 20 to connect a flexible coaxial cable 40 for transmitting a signal measured from the printed circuit board 10, and a signal transmitted from the flexible coaxial cable 40. The frequency analyzer 50 checks the abnormality of the printed circuit board 10 by analyzing the frequency.
상세히 설명하면, 상기한 프로브(20)는 내부에 신호단자용 탐침(24)으로부터 전송된 신호가 두 단자용 탐침(22,24)의 길이가 대략 12cm 정도이므로, 인쇄회로기판(10)으로부터 측정된 신호가 탐침(22,24)를 통해 전송되면서 손실(loss)이 발생하게 된다.In detail, the probe 20 is measured from the printed circuit board 10 because the signal transmitted from the signal terminal probe 24 therein is approximately 12 cm in length of the two terminal probes 22 and 24. As the signal is transmitted through the probes 22 and 24, a loss occurs.
따라서, 프로브(20)의 내부에는 인쇄회로기판(10)으로부터 측정된 신호를 증폭시키고 필터링함과 아울러 임피던스 저항을 매칭시키기 위한 증폭기, 필터 및 임피던스 매칭회로 등의 부수적인 회로가 내장되어 있다.Accordingly, an additional circuit such as an amplifier, a filter, and an impedance matching circuit for amplifying and filtering the signal measured from the printed circuit board 10 and matching the impedance resistance is built in the probe 20.
이러한 구조를 갖는 종래 프로브장치의 작용을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the conventional probe device having such a structure is as follows.
전원이 공급됨에 따라 회로가 동작되는 인쇄회로기판(10)의 표면에 프로브(20)의 접지단자용 탐침(22)과 신호단자용 탐침(24)을 접촉시키면, 인쇄회로기판(10)에 흐르는 전류가 두 탐침(22,24)을 통해 프로브(20) 내부로 전달된다.The ground terminal probe 22 and the signal terminal probe 24 of the probe 20 are brought into contact with the surface of the printed circuit board 10 on which the circuit is operated as power is supplied. Current is passed through the probes 22 and 24 into the probe 20.
이어서, 프로브(20)는 수신되는 전기적인 신호를 증폭기, 필터 및 임피던스 매칭회로를 거쳐 올바른 주파수 영역으로 변환시킨 후에, 동축커넥터(30)와 플렉시블 동축케이블(40)측으로 전송한다.Subsequently, the probe 20 converts the received electrical signal into a correct frequency region through an amplifier, a filter, and an impedance matching circuit, and then transmits the electrical signal to the coaxial connector 30 and the flexible coaxial cable 40.
그리고, 전송된 주파수는 주파수 분석기(50)에서 분석하여 인쇄회로기판(10)의 이상 유무를 체크할 수 있게 된다.In addition, the transmitted frequency may be analyzed by the frequency analyzer 50 to check whether the printed circuit board 10 is abnormal.
그런데, 종래의 프로브장치는 다음과 같은 문제점을 갖는다.However, the conventional probe device has the following problems.
첫째, 탐침의 길이로 인하여 인쇄회로기판으로부터 측정되는 전류의 손실이 발생하게 되므로, 별도의 회로소자(증폭기, 필터, 임피던스 매칭회로등)가 요구된다.First, since the loss of current measured from the printed circuit board occurs due to the length of the probe, a separate circuit device (amplifier, filter, impedance matching circuit, etc.) is required.
둘째, 프로브내부에 회로소자가 내장되므로, 비교적 고가(高價)의 비용이 요구되는 문제점이 있다.Second, since a circuit element is built in the probe, there is a problem that a relatively high cost is required.
셋째, 프로빙 측정시 작업자의 부주의한 행동으로 인하여 전기적인 쇼트가 발생하게 되고, 이에 따라 프로브내부에 내장된 회로소자가 파손되거나 열화되는 문제점이 있다.Third, an electrical short occurs due to an inadvertent action of an operator during probing measurement, and thus, a circuit element embedded in the probe is damaged or deteriorated.
본 고안 프로브장치는 상기한 제반문제점을 감안하여 안출된 것으로, 다음과 같은 목적을 갖는다.The probe device of the present invention has been devised in view of the above-mentioned problems, and has the following objectives.
첫째, 프로빙 작업에서의 인쇄회로기판의 측정시 회로소자의 파손을 방지함으로써, 안정성을 향상시킬 수 있도록 한 프로브장치를 제공하는 데 있다.First, to provide a probe device that can improve the stability by preventing damage to the circuit elements when measuring the printed circuit board in the probing operation.
둘째, 비교적 저가의 프로브를 제공함으로써, 테스트 비용을 절감할 수 있도록 한 프로브장치를 제공하는 데 있다.Second, to provide a probe device that can reduce the test cost by providing a relatively low-cost probe.
셋째, 인쇄회로기판의 프로빙작업시 접지의 편의성을 향상시킬 수 있도록 한 프로브장치를 제공하는 데 있다.Third, to provide a probe device to improve the convenience of grounding when probing a printed circuit board.
도 1은 종래 프로브장치를 나타낸 사용상태도,1 is a use state diagram showing a conventional probe device,
도 2는 본 고안에 따른 프로브장치의 구성을 나타낸 사시도,Figure 2 is a perspective view showing the configuration of a probe device according to the present invention,
도 3은 본 고안의 사용상태를 나타낸 사용상태도,3 is a use state diagram showing a use state of the present invention,
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
100 : 인쇄회로기판 200 : 하드 동축케이블100: printed circuit board 200: hard coaxial cable
212 : 신호단자용 탐침 214 : 접지용 탐침212: signal terminal probe 214: grounding probe
220 : 케이스 230 : 스프링220: case 230: spring
400 : 플렉시블 동축케이블 500 : 주파수 분석기400: flexible coaxial cable 500: frequency analyzer
상기한 목적을 달성하기 위한 본 고안 프로브장치의 구성적인 특징요소는 일단부부에 인쇄회로기판의 표면과 접촉되어 일정이상의 하중이 가해질 경우 소정의 탄성력을 가하는 탄성수단에 의해서 완충가능한 접지용 탐침과, 상기 인쇄회로기판의 전기적신호를 측정하는 신호단자용 탐침이 마련되는 하드 동축케이블;The constituent features of the present invention probe apparatus for achieving the above object is a grounding probe capable of buffering by elastic means for applying a predetermined elastic force when a predetermined load is applied to one end of the contact with the surface of the printed circuit board, A hard coaxial cable provided with a signal terminal probe for measuring an electrical signal of the printed circuit board;
상기 하드 동축케이블의 타단부에 연결되어 상기 인쇄회로기판으로부터 측정되는 신호를 수신하여 분석하기 위한 주파수 분석기로 전송시키는 플렉시블 동축케이블;을 구비하여 된 것을 특징으로 한다.And a flexible coaxial cable connected to the other end of the hard coaxial cable to transmit a signal measured from the printed circuit board to a frequency analyzer for analysis.
그리고, 본 고안이 가지는 또 다른 특징적인 구성요소는 상기 탄성수단이 상기 하드 동축케이블의 외주면에 소정의 내부공간을 갖도록 마련되는 케이스와, 상기 케이스의 내부에 설치되고 상기 접지용 탐침의 단부와 연결되어 상기 접지용 탐침을 일방향 탄성바이어스시키는 스프링을 구비하여서,Further, another characteristic component of the present invention is a case in which the elastic means is provided to have a predetermined inner space on the outer circumferential surface of the hard coaxial cable, and is installed in the case and connected to the end of the grounding probe And a spring for unidirectionally biasing the grounding probe,
상기 접지용 탐침에 일정 이상의 하중이 전달될 때 소정 거리만큼 후방이동되어 충격을 완충시킬 수 있도록 된 것이다.When a predetermined load or more is transmitted to the grounding probe, it is moved backward by a predetermined distance to cushion the impact.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 고안 프로브장치의 구성 및 작용을 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described the configuration and operation of the subject innovation probe device as follows.
본 고안에 따른 프로브장치는 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 인쇄회로기판(100)의 측정을 위한 탐침(212,214)이 마련되는 하드 동축케이블(200)과, 하드 동축케이블(200)과 연결되어 인쇄회로기판(100)의 측정된 신호를 주파수 분석기(500)로 전송하기 위한 플렉시블 동축케이블(400)의 구성으로 대별된다.As shown in FIGS. 2 and 3, the probe device according to the present invention includes a hard coaxial cable 200 and a hard coaxial cable 200 having probes 212 and 214 for measuring the printed circuit board 100. The connection is roughly divided into the configuration of the flexible coaxial cable 400 for transmitting the measured signal of the printed circuit board 100 to the frequency analyzer 500.
하드 동축케이블(200)은 인쇄회로기판(100)으로부터 측정된 전기적인 신호의 올바른 전송을 위하여 임피던스 저항값이 대략 50Ω정도를 유지하도록 소정의 길이를 가지며, 전송시 전기적인 손실을 최소화하기 위하여 구리(cu)재질인 파이프 형상인 통상의 것이 채용된다.The hard coaxial cable 200 has a predetermined length such that the impedance resistance value is approximately 50 Ω for the correct transmission of the electrical signal measured from the printed circuit board 100, and the copper to minimize the electrical loss during transmission. The usual thing of the pipe shape which is (cu) material is employ | adopted.
그리고, 하드 동축케이블(200)의 일단부에는 인쇄회로기판(100)의 표면에 접촉가능한 접지용 탐침(214)과 신호단자용 탐침(212)이 마련되어 있으며, 이중 접지용 탐침(214)은 프로빙 측정작업시 인쇄회로기판(100)의 표면에 접촉될 경우 소정의 탄성수단에 의해서 후방으로 이동가능한 구조로 되어 있다.One end of the hard coaxial cable 200 is provided with a grounding probe 214 and a signal terminal probe 212 which are in contact with the surface of the printed circuit board 100, and the double grounding probe 214 is probing. When it is in contact with the surface of the printed circuit board 100 during the measurement operation is a structure that can move backward by a predetermined elastic means.
또한, 상기한 접지용 탐침(214)과 신호단자용 탐침(212)은 기존의 프로브에 채용되는 탐침의 길이보다 짧게 마련되고, 이중 접지용 탐침(214)는 신호단자용 탐침(212)보다 전방으로 더 돌출되도록 마련됨이 바람직하다.In addition, the grounding probe 214 and the signal terminal probe 212 is provided shorter than the length of the probe employed in the existing probe, the double grounding probe 214 is ahead of the signal terminal probe 212 It is preferable to be provided to further protrude.
이는 접지용 탐침(214)이 후방이동가능한 구조를 갖도록 함으로써, 프로빙작업에서의 인쇄회로기판(100)의 표면 접촉시 접지의 편의성을 향상시킬 수 있도록 한 것이다.This allows the grounding probe 214 to have a rearwardly movable structure, thereby improving the convenience of grounding during surface contact of the printed circuit board 100 in the probing operation.
또한, 케이스(220)는 하드 동축케이블(200)의 외주면 선단측에 납땜 등의 방법으로 고정시키고, 그 외측으로는 도면에 미도시된 피복으로 절연되는 구조를 갖는다.In addition, the case 220 is fixed to the outer circumferential front end side of the hard coaxial cable 200 by soldering or the like, and the outside thereof is insulated with a coating not shown in the drawings.
더욱 상세하게 설명하면, 상기한 탄성수단은 하드 동축케이블(200)의 외주면에 접지용 탐침(214)의 일부가 출몰가능하도록 수용되며 소정의 내부공간을 갖는 마련되는 케이스(220)와, 이 케이스(220)의 내부에는 단부가 접지용 탐침(214)과 연결되어 일방향으로 접지용 탐침(214)을 탄성바이어스시키도록 소정 탄성력을 갖는 스프링(230)이 수용된다.In more detail, the elastic means is a case 220 is accommodated so that a part of the grounding probe 214 on the outer circumferential surface of the hard coaxial cable 200 and provided with a predetermined internal space, and the case Inside the 220, a spring 230 having a predetermined elastic force is received so that an end thereof is connected to the grounding probe 214 to elastically bias the grounding probe 214 in one direction.
그리고, 플렉시블 동축케이블(400)은 인쇄회로기판(100)으로부터 전달되는 전기적 신호를 주파수 분석기(500)로 전송하도록 동축케이블 커넥터(300)에 의해서 하드 동축케이블(200)과 연결되는 구조를 갖는다.In addition, the flexible coaxial cable 400 has a structure that is connected to the hard coaxial cable 200 by the coaxial cable connector 300 to transmit the electrical signal transmitted from the printed circuit board 100 to the frequency analyzer 500.
이러한 구성을 갖는 본 고안 프로브장치의 작용을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the subject innovation probe device having such a configuration as follows.
작업자는 하드 동축케이블(200)을 파지한 다음에 인쇄회로기판(100)의 표면에 두 탐침(212,214)을 접촉시키면, 접지용 탐침(214)은 인쇄회로기판(100)의 표면에 일정한 힘(즉, 스프링(230)의 탄성력)이상 접촉되면 스프링(230)이 수축되면서 후방으로 이동된다.When the operator grips the hard coaxial cable 200 and then contacts the two probes 212 and 214 to the surface of the printed circuit board 100, the grounding probe 214 may have a constant force on the surface of the printed circuit board 100. That is, when the elastic force of the spring 230) is contacted or more, the spring 230 is contracted and moved rearward.
그리고, 신호단자용 탐침(212)은 인쇄회로기판(100)의 표면에 상기한 접지용 탐침(214)과 같이 접촉되어 인쇄회로기판(100)의 전기적 신호를 수신하여 하드 동축케이블(200)을 통해서 전달시킨다.In addition, the signal terminal probe 212 contacts the surface of the printed circuit board 100 with the grounding probe 214 described above to receive an electrical signal from the printed circuit board 100 to receive the hard coaxial cable 200. Pass it through.
이어서, 하드 동축케이블(200)로 전달된 전기적 신호는 동축케이블 커넥터(300) 및 플렉시블 동축케이블(400)을 통해서 주파수 분석기(500)로 전송되고, 이 전송된 전기적 신호는 주파수 분석기(500)에서 분석하여 인쇄회로기판(100)의 이상 유무를 체크할 수 있게 된다.Subsequently, the electrical signals transmitted to the hard coaxial cable 200 are transmitted to the frequency analyzer 500 through the coaxial cable connector 300 and the flexible coaxial cable 400, and the transmitted electrical signals are transmitted from the frequency analyzer 500. By analyzing it, it is possible to check the abnormality of the printed circuit board 100.
이상과 같이 설명한 본 고안 프로브장치는 전기적 쇼트에 의해서 회로소자가 파손될 우려가 있는 고가의 프로브 대신에 하드 동축케이블을 대체함과 아울러, 인쇄회로기판의 표면 접촉이 용이하도록 접지용 탐침을 탄성바이어스시키는 구조로 된 것인바, 이에 따르면 프로빙작업시 전기적 쇼트에 의한 부품파손을 예방하여 보다 안정적인 측정이 가능할 뿐만 아니라, 인쇄회로기판의 표면 접촉시 용이하게 접촉가능한 유용한 효과를 갖는다.The probe device of the present invention described above replaces a hard coaxial cable in place of an expensive probe which may damage a circuit element by an electrical short, and elastically biases a grounding probe to facilitate surface contact of a printed circuit board. It has a structure, according to this, it is possible to prevent the damage caused by the electrical short during the probing operation to enable a more stable measurement, and has a useful effect that can be easily contacted when the surface of the printed circuit board.
Claims (2)
Priority Applications (1)
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| KR2019980006102U KR19980024829U (en) | 1998-04-17 | 1998-04-17 | Probe Device |
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|---|---|---|---|
| KR2019980006102U KR19980024829U (en) | 1998-04-17 | 1998-04-17 | Probe Device |
Publications (1)
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| KR19980024829U true KR19980024829U (en) | 1998-07-25 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR2019980006102U KR19980024829U (en) | 1998-04-17 | 1998-04-17 | Probe Device |
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|---|---|
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR100521441B1 (en) * | 2003-03-19 | 2005-10-12 | 동부아남반도체 주식회사 | Test apparatus of semiconductor device and method for preventing burnt probe of the device |
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1998
- 1998-04-17 KR KR2019980006102U patent/KR19980024829U/en not_active Application Discontinuation
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