KR19980010819U - Elf파 감지기가 부설된 멀티테스터기 - Google Patents

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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/12Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will

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Abstract

본 고안은 멀티테스터기(1) 외장에 설치된 안테나에 의해서 감지되는 전자파가 저항(R)을 거쳐 다이악(DIAC) 소자에서 전자파의 종류를 분류하여 높은 주파수는 By Pass시키고 낮은 주파수(ELF)는 IC로 입력되어 DC 전압으로 변조하여 증폭하고 다이오드(D)를 통하여 메터(METER) 부분으로 전달되어 메터가 작동되도록한 전자파 감지회로(2)를 통상의 전류, 전압, 저항 등을 측정할 수 있도록 된 멀티테스터기에 연결시켜 전자파를 감지할 수 있도록 고안된 ELF파 감지기가 부설된 멀티테스터기.

Description

ELF파 감지기가 부설된 멀티테스터기
본 고안은 주변에서 사용되는 컴퓨터, 텔레비젼 등의 각종 전자기기에서 발생되는 전자파를 검출하여 이를 방지할 수 있도록 대처하기 위한 전자파 감지기에 관한 것으로서, 종래의 전자파 감지기는 별도의 장비로 제작하여 휴대가 힘들며, 제작비가 상승할 뿐만아니라, 전류, 전압, 저항 등의 측정을 병행해야 할 경우에는 기존의 멀티테스터기와 전자파 감지를 함께 휴대해야 하므로 취급 관리에 매우 불편한 문제점이 있었다.
본 고안은 안테나에서 전자파를 감지하여 저항(RESISTOR)을 거쳐 다이악(DIAC) 소자에서 전자파의 종류를 분류하여 높은 주파수는 통과시키고 낮은 주파수 ELF파(Extra Low Frequency)는 IC로 입력되어 메터(METTER)가 동작되도록한 것으로서, 본 고안은 전자파 감지회로를 통상의 멀티테스터기 회로에 같이 연결시켜 전자파를 간단 용이하게 검출할 수 있게하여 전기기기의 접지 상태 유무를 간단히 확인할 수 있도록 고안된 것이다.
도1은 본 고안의 감지회로가 연결된 멀티테스터기 회로도
도2는 본 고안의 감지회로 발췌 구성도
도3은 본 고안의 안테나가 설치된 테스터기의 예시도
* 도면 중 주요 부분에 대한 부호 설명
1 : 멀티테스터기,2 : 전자파 감지회로
ANT : 안테나,R : 저항
DIAC : 다이악,CONT 1 : 제1접점
CONT 2 : 제2접점,CONT 3 : 제3접점
GND : 그라운드(테스터기 접지단)
이하 첨부 도면에 의거하여 본 고안을 상세히 설명하면 다음과 같다.
통상의 전류, 전압, 저항 등을 간편하게 측정할 수 있도록 된 멀티테스터기(회로계)(1)에 있어서, 안테나(ANT)에서 감지된 전자파는 고전압 보호용 저항(R)을 거쳐 다이악(DIAC) 소자에서 분류될 수 있도록 저항(R)과 IC사이에 다이악(DIAC) 일측단을 접속하고, 타측단은 -전압단측 제3접점(CONT 3)과 그라운드(GND)측 제1접점 사이에 접속되도록하며, IC와 다이오드(D) 및 메터(METER)를 직렬로 연결하여 그라운드(GND)측단에 접속한 것으로 +전압단은 제2접점(CONT 2)과 연결한 후 IC 일측에 접속되어 전자파를 감지할 수 있도록된 아나로그방식의 감지회로(2)가 멀티테스터기(1)에 연결된 구성이다.
이와 같이된 본 고안은 멀티테스터기(1) 일측의 안테나(ANT)를 인출시켜 컴퓨터, 텔레비젼, 복사기 등의 AC를 사용한 모든 장비 주변에 위치하면 전자파가 발생될 경우 안테나(ANT)에서 전자파를 감지하여 저항(R)을 통과한 후 다이악(DIAC) 소자에서 전다파의 종류를 분류하여 높은 주파수는 By Pass시키고 낮은 주파수 ELF파(Extra Low Fequency)는 IC로 입력된다. 이때 저항(R)은 과전압 보호용이다.
이렇게 IC에 입력된 ELF파는 DC 전압으로 변조하여 증폭시킨 다음 다이오드(D)를 통하여 메터(METER)로 전달되어 메터가 작동하게 된다. 즉 전자파가 많이 발생되는지의 여부는 메터의 지시치에 따라 알 수 있게 된다.
본 고안은 상기와 같이 진동되는 아나로그 방식의 ELF파 감지 회로(2)를 사용할 수 있으며, 또는 디지탈 방식의 ELF파 감지 회로를 사용하여 멀티테스터기(1)에 연결시켜 사용할 수도 있다.
이와 같이된 본 고안은 전류, 전압, 저항, 전자파를 하나의 테스터기로 측정 및 감지할 수 있게 되므로 별도의 테스터기를 각각 구비할 필요가 없으며, 전자기기 A/S업자 또는 가정 등에서 간단 용이하게 사용할 수 있으며 특히 전지전자기기의 접지상태 유무를 간단히 확인하며, 사용되는 전자기기의 전자파 발생 유무를 수시로 감지하여 항상 전자파에 대한 대비를 할수 있도록한 효과를 갖게 된다.
본 고안은 전류, 전압, 저항 등을 측정할 수 있도록된 테스터기에 연결시켜 전자기기에서 발생되는 전자파를 간단 용이하게 검출 할 수 있도록 고안된 ELF파 감지기가 부설된 멀티테스터기에 관한 것이다.

Claims (2)

  1. 통상의 전류, 전압, 저항 등을 측정할 수 있도록된 멀티테스터기(회로계)에 있어서,
    멀티테스터기(1) 외장에 설치된 안테나(ANT)에 의해서 감지되는 전자파가 저항(R)을 거쳐 다이악(DIAC) 소자에서 분류될 수 있도록 저항(R)과 IC사이에 다이악(DIAC) 일측단을 접속하고, 타측단은 -전압단(ACC)측 제3접점(CONT 3)과 그라운드(GND)측 제1접점 사이에 연결하며, IC와 다이오드(D) 및 메터(METER)는 직렬로 그라운드(GND)측단에 접속하고, +전압단(VCC)은 제2접점(CONT 2)과 IC 일측에 접속하여 전자파를 감지할 수 있도록한 아나로그 방식의 감지회로(2)가 멀티테스터기(1)에 연결된 것을 특징으로 하는 ELF파 감지기가 부설된 멀티테스터기.
  2. 제1항에 있어서,
    전류, 전압, 저항 등을 측정할 수 있도록 된 멀티테스터기(1)에 전자파를 감지할 수 있도록된 디지탈 방식의 감지회로가 연결된 것을 특징으로 하는 ELF파 감지기가 부설된 멀티테스터기.
KR2019960024279U 1996-08-13 1996-08-13 Elf파 감지기가 부설된 멀티테스터기 KR19980010819U (ko)

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