KR102675745B1 - Head maintenance unit and apparatus for treating substrate - Google Patents

Head maintenance unit and apparatus for treating substrate Download PDF

Info

Publication number
KR102675745B1
KR102675745B1 KR1020200155336A KR20200155336A KR102675745B1 KR 102675745 B1 KR102675745 B1 KR 102675745B1 KR 1020200155336 A KR1020200155336 A KR 1020200155336A KR 20200155336 A KR20200155336 A KR 20200155336A KR 102675745 B1 KR102675745 B1 KR 102675745B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
head
liquid receiving
unit
liquid
substrate
Prior art date
Application number
KR1020200155336A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20220069147A (en
Inventor
이병주
이상화
이동윤
정지용
전한석
권강
정재훈
김상훈
Original Assignee
세메스 주식회사
Filing date
Publication date
Application filed by 세메스 주식회사 filed Critical 세메스 주식회사
Priority to KR1020200155336A priority Critical patent/KR102675745B1/en
Priority to CN202111337342.9A priority patent/CN114536982A/en
Priority to US17/529,323 priority patent/US20220153030A1/en
Publication of KR20220069147A publication Critical patent/KR20220069147A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102675745B1 publication Critical patent/KR102675745B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/133354Arrangements for aligning or assembling substrates
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass

Abstract

본 발명은 기판을 처리하는 장치를 제공한다. 기판 처리 장치는, 기판으로 처리 액을 토출하는 적어도 하나 이상의 노즐이 형성된 헤드를 포함하는 헤드 유닛; 및 상기 헤드에 대한 메인터넌스를 수행하는 헤드 메인터넌스 유닛을 포함하고, 상기 헤드 메인터넌스 유닛은, 상부가 개방된 액 받이 공간을 가지는 적어도 하나 이상의 액 받이 부가 형성된 액 받이 블록; 상기 액 받이 공간과 유체 연통하며, 상기 액 받이 공간에 감압을 제공하는 감압 라인; 및 상기 감압 라인에 설치되는 감압 밸브를 포함할 수 있다.The present invention provides an apparatus for processing a substrate. A substrate processing apparatus includes: a head unit including a head provided with at least one nozzle for discharging a processing liquid to a substrate; and a head maintenance unit that performs maintenance on the head, wherein the head maintenance unit includes: a liquid receiving block formed with at least one liquid receiving part having an open upper liquid receiving space; a pressure reducing line in fluid communication with the liquid receiving space and providing reduced pressure to the liquid receiving space; And it may include a pressure reducing valve installed in the pressure reducing line.

Description

헤드 메인터넌스 유닛 및 기판 처리 장치{HEAD MAINTENANCE UNIT AND APPARATUS FOR TREATING SUBSTRATE}Head maintenance unit and substrate processing device {HEAD MAINTENANCE UNIT AND APPARATUS FOR TREATING SUBSTRATE}

본 발명은 헤드 메인터넌스 유닛 및 기판 처리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a head maintenance unit and a substrate processing device.

최근, 액정 디스플레이 소자, 유기 EL 디스플레이 소자 등과 같은 디스플레이 소자는 고해상도가 요구되고 있다. 고해상도를 가지는 디스플레이 소자를 제조하기 위해서는 기판 상에 단위 면적당 더 많은 픽셀을 형성해야 하며, 이와 같이 조밀하게 배치되는 픽셀들 각각에 잉크와 같은 약액을 정확히 토출하는 것이 중요하다. 그렇지 않은 경우 불량으로 제조되는 디스플레이 소자가 불량으로 판정될 수 있기 때문이다. 따라서, 관련 기술들에 따르면, 디스플레이 소자의 제조에서는 픽셀들 각각에 토출되는 약액의 토출 지점(예컨대, 타점), 그리고 약액의 토출 양을 정확하게 관리하는 것이 요구된다. 이에, 잉크를 토출하는 헤드가 약액을 토출시 약액의 타점, 그리고 약액의 토출 양에 대한 데이터를 획득하거나, 헤드에 형성된 노즐에서 약액이 고화되어 노즐에 막힘 현상이 발생하는 것을 최소화하기 위해, 일반적인 잉크젯 장치의 헤드는 프리 제팅(Pre-Jetting)을 수행한다.Recently, display devices such as liquid crystal display devices and organic EL display devices are required to have high resolution. In order to manufacture a display device with high resolution, more pixels must be formed per unit area on the substrate, and it is important to accurately discharge a chemical solution such as ink into each of these densely arranged pixels. If this is not the case, a defective display element may be determined to be defective. Therefore, according to related technologies, in the manufacture of display elements, it is required to accurately manage the discharge point (eg, dot) of the chemical liquid discharged to each pixel and the discharge amount of the chemical liquid. Accordingly, in order to obtain data on the hitting point of the chemical and the discharge amount of the chemical when the head that discharges the ink discharges the chemical, or to minimize the occurrence of clogging in the nozzle due to solidification of the chemical in the nozzle formed on the head, general The head of the inkjet device performs pre-jetting.

도 1은 일반적인 잉크젯 장치의 헤드가 프리 제팅을 수행하는 모습을 보여주는 도면이다. 도 1을 참조하면, 일반적인 잉크젯 장치(1)는 헤드 유닛(2)을 포함한다. 헤드 유닛(2)은 잉크 액적(I)을 토출하는 복수의 헤드(4), 그리고 복수의 헤드(4)가 끼워지는 헤드 프레임(3), 그리고 헤드(4)를 제어하는 헤드 인터페이스 보드(5)를 포함한다. 또한, 잉크젯 장치(1)는 헤드 메인터넌스 부재(6)를 포함한다. 헤드 메인터넌스 부재(6)는 헤드(4)가 토출하는 액적 형태의 잉크(I)를 흡수하는 다공성 플레이트(8)와 다공성 플레이트(8)를 지지하는 지지 프레임(7)을 포함한다. 다공성 플레이트(8)와 지지 프레임(7)은 복수 개가 제공된다.Figure 1 is a diagram showing the head of a general inkjet device performing free jetting. Referring to FIG. 1, a typical inkjet device 1 includes a head unit 2. The head unit 2 includes a plurality of heads 4 that discharge ink droplets I, a head frame 3 into which the plurality of heads 4 are inserted, and a head interface board 5 that controls the heads 4. ) includes. Additionally, the inkjet device 1 includes a head maintenance member 6. The head maintenance member 6 includes a porous plate 8 that absorbs ink I in the form of droplets discharged by the head 4 and a support frame 7 that supports the porous plate 8. A plurality of porous plates 8 and support frames 7 are provided.

상술한 바와 같이 헤드(4)가 토출하는 잉크(I)의 토출 지점, 그리고 잉크(I)의 토출 양이 정확하게 관리되는지를 살피기 위해(또는, 헤드(4)에 형성된 노즐의 막힘 현상을 방지하기 위해), 헤드(4)는 기판을 처리하기 이전에 프리 제팅(Pre-Jetting)을 수행한다. 프리 제팅(Pre-Jetting)은 헤드(4)들이 다공성 플레이트(8)들의 사이에 위치한 상태로 수행된다. 선택적으로 프리 제팅(Pre-Jetting)은 헤드(4)들이 다공성 플레이트(8)의 상부에 위치한 상태로 수행될 수도 있다.As described above, to check whether the discharge point of the ink (I) discharged by the head (4) and the discharge amount of the ink (I) are accurately managed (or to prevent clogging of the nozzles formed on the head (4)) ), the head 4 performs pre-jetting before processing the substrate. Pre-jetting is performed with the heads 4 positioned between the porous plates 8. Optionally, pre-jetting may be performed with the heads 4 located on top of the porous plate 8.

상술한 바와 같이 조밀하게 배치되는 픽셀들 각각에 잉크(I)를 정확하게 토출하기 위해서, 최근에는 헤드(4)가 토출하는 잉크(I)의 볼륨이 점차 작아지고 있다. 헤드(4)가 토출하는 액적 형태의 잉크(I)의 볼륨은 6 피코리터(Pico Liter, PL) 이하일 수 있다. 이와 같이 헤드(4)가 토출하는 액적 형태의 잉크(I)의 볼륨이 작아짐에 따라, 헤드(4)가 프리 제팅(Pre-Jetting)을 수행시 토출된 잉크(I)는 비산될 수 있다. 비산된 잉크(I)는 헤드 인터페이스 보드(5) 및/또는 헤드 유닛(2)이 설치되는 기판 처리 장치(1)를 오염시킬 수 있다.In order to accurately eject ink (I) into each of the densely arranged pixels as described above, recently, the volume of ink (I) ejected by the head 4 has gradually become smaller. The volume of ink (I) in the form of droplets discharged by the head 4 may be 6 pico liter (PL) or less. As the volume of ink (I) in the form of droplets ejected by the head 4 decreases, the ink (I) ejected may scatter when the head 4 performs pre-jetting. The scattered ink (I) may contaminate the head interface board (5) and/or the substrate processing apparatus (1) in which the head unit (2) is installed.

본 발명은 헤드에 대한 메인터넌스를 효과적으로 수행할 수 있는 헤드 메인터넌스 유닛 및 기판 처리 장치를 제공하는 것을 일 목적으로 한다.One object of the present invention is to provide a head maintenance unit and a substrate processing device that can effectively perform maintenance on the head.

또한, 본 발명은 헤드가 프리 제팅을 수행시 헤드로부터 토출된 액적 형태의 잉크가 기판 처리 장치를 오염시키는 것을 최소화 할 수 있는 헤드 메인터넌스 유닛 및 기판 처리 장치를 제공하는 것을 일 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide a head maintenance unit and a substrate processing device that can minimize contamination of the substrate processing device by ink in the form of droplets discharged from the head when the head performs free jetting.

또한, 본 발명은 헤드가 프리 제팅을 수행시 헤드로부터 토출된 액적 형태의 잉크가 비산되는 것을 최소화 할 수 있는 헤드 메인터넌스 유닛 및 기판 처리 장치를 제공하는 것을 일 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide a head maintenance unit and a substrate processing device that can minimize scattering of ink in the form of droplets discharged from the head when the head performs free jetting.

본 발명의 목적은 여기에 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재들로부터 통상의 기술자가 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The object of the present invention is not limited here, and other objects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description below.

본 발명은 기판을 처리하는 장치를 제공한다. 기판 처리 장치는, 기판으로 처리 액을 토출하는 적어도 하나 이상의 노즐이 형성된 헤드를 포함하는 헤드 유닛; 및 상기 헤드에 대한 메인터넌스를 수행하는 헤드 메인터넌스 유닛을 포함하고, 상기 헤드 메인터넌스 유닛은, 상부가 개방된 액 받이 공간을 가지는 적어도 하나 이상의 액 받이 부가 형성된 액 받이 블록; 상기 액 받이 공간과 유체 연통하며, 상기 액 받이 공간에 감압을 제공하는 감압 라인; 및 상기 감압 라인에 설치되는 감압 밸브를 포함할 수 있다.The present invention provides an apparatus for processing a substrate. A substrate processing apparatus includes: a head unit including a head provided with at least one nozzle for discharging a processing liquid to a substrate; and a head maintenance unit that performs maintenance on the head, wherein the head maintenance unit includes: a liquid receiving block formed with at least one liquid receiving part having an open upper liquid receiving space; a pressure reducing line in fluid communication with the liquid receiving space and providing reduced pressure to the liquid receiving space; And it may include a pressure reducing valve installed in the pressure reducing line.

일 실시 예에 의하면, 상기 액 받이 블록은, 상기 감압 라인과 연결되고, 상기 액 받이 공간과 유체 연통하는 감압 유로를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the liquid receiving block may be connected to the pressure reducing line and include a pressure reducing flow path in fluid communication with the liquid receiving space.

일 실시 예에 의하면, 상기 액 받이 블록은, 상기 감압 유로, 그리고 상기 액 받이 공간 사이에 형성되는 연결 유로를 더 포함할 수 있다.According to one embodiment, the liquid receiving block may further include a connection passage formed between the pressure reduction passage and the liquid receiving space.

일 실시 예에 의하면, 상기 연결 유로에는, 상기 감압 유로와 상기 액 받이 공간을 선택적으로 유체 연통시키는 연결 밸브가 설치될 수 있다.According to one embodiment, a connection valve may be installed in the connection passage to selectively communicate fluidly between the pressure reduction passage and the liquid receiving space.

일 실시 예에 의하면, 상기 헤드는, 복수로 제공되고, 상기 액 받이 부는, 상기 헤드가 제공되는 숫자와 동일한 수로 제공될 수 있다.According to one embodiment, a plurality of heads may be provided, and the number of liquid receiving parts may be the same as the number of heads provided.

일 실시 예에 의하면, 상기 헤드, 그리고 상기 액 받이 부는 복수로 제공되고, 상기 액 받이 부는, 상기 헤드가 배열되는 방향을 따라 상기 액 받이 블록에 형성될 수 있다.According to one embodiment, the head and the liquid receiving part are provided in plurality, and the liquid receiving part may be formed on the liquid receiving block along the direction in which the head is arranged.

일 실시 예에 의하면, 상기 장치는, 제어기를 더 포함하고, 상기 제어기는, 상기 헤드와 연결된 배관에 가스를 공급하여 상기 헤드를 퍼징하는 퍼징 단계; 그리고 상기 메인터넌스 유닛으로 상기 처리 액을 액적 형태로 토출하는 프리 제팅 단계 중 적어도 어느 하나를 수행하도록 상기 헤드 유닛을 제어할 수 있다.According to one embodiment, the device further includes a controller, the controller comprising: a purging step of purging the head by supplying gas to a pipe connected to the head; Additionally, the head unit may be controlled to perform at least one of the free jetting steps of discharging the treatment liquid in the form of droplets to the maintenance unit.

일 실시 예에 의하면, 상기 제어기는, 상기 프리 제팅 단계를 수행하는 경우, 상기 액 받이 블록이 상기 헤드의 하부에 위치되고, 상기 헤드가 상기 처리 액을 액적 형태을 토출시 상기 감압 밸브를 온(On)하도록 상기 헤드 유닛, 그리고 상기 헤드 메인터넌스 유닛을 제어할 수 있다.According to one embodiment, when performing the pre-jetting step, the liquid receiving block is located at the bottom of the head, and the controller turns on the pressure reducing valve when the head discharges the processing liquid in the form of droplets. ), the head unit, and the head maintenance unit can be controlled.

일 실시 예에 의하면, 상기 액 받이 부는, 단면에서 바라볼 때, 상하 방향을 따라 연장되는 측 면; 및 상기 측 면으로부터 하향 경사진 방향으로 연장되는 경사 면을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the liquid receiving part has a side extending along the vertical direction when viewed in cross section; And it may include an inclined surface extending in a downwardly inclined direction from the side surface.

또한, 본 발명은, 잉크를 토출하여 기판을 처리하는 장치가 포함하며, 상기 잉크를 토출하는 헤드에 대한 메인터넌스를 수행하는 헤드 메인터넌스 유닛을 제공한다. 헤드 메인터넌스 유닛은, 상부가 개방된 액 받이 공간을 가지는 적어도 하나 이상의 액 받이 부를 포함하는 액 받이 블록; 상기 액 받이 공간과 유체 연통하며, 상기 액 받이 공간에 감압을 제공하는 감압 라인; 및 상기 감압 라인에 설치되는 감압 밸브를 포함할 수 있다.Additionally, the present invention provides a head maintenance unit that includes a device for discharging ink to process a substrate and performs maintenance on a head discharging the ink. The head maintenance unit includes: a liquid receiving block including at least one liquid receiving portion having an open upper liquid receiving space; a pressure reducing line in fluid communication with the liquid receiving space and providing reduced pressure to the liquid receiving space; And it may include a pressure reducing valve installed in the pressure reducing line.

일 실시 예에 의하면, 상기 액 받이 블록은, 상기 감압 라인과 연결되고, 상기 액 받이 공간과 유체 연통하는 감압 유로를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the liquid receiving block may be connected to the pressure reducing line and include a pressure reducing flow path in fluid communication with the liquid receiving space.

일 실시 예에 의하면, 상기 액 받이 블록은, 상기 감압 유로, 그리고 상기 액 받이 공간 사이에 형성되는 연결 유로를 더 포함할 수 있다.According to one embodiment, the liquid receiving block may further include a connection passage formed between the pressure reduction passage and the liquid receiving space.

일 실시 예에 의하면, 상기 연결 유로에는, 상기 감압 유로와 상기 액 받이 공간을 선택적으로 유체 연통시키는 연결 밸브가 설치될 수 있다.According to one embodiment, a connection valve may be installed in the connection passage to selectively communicate fluidly between the pressure reduction passage and the liquid receiving space.

일 실시 예에 의하면, 상기 액 받이 부는, 복수의 상기 헤드가 배열되는 방향을 따라 상기 액 받이 블록에 형성될 수 있다.According to one embodiment, the liquid receiving portion may be formed on the liquid receiving block along a direction in which the plurality of heads are arranged.

일 실시 예에 의하면, 상기 액 받이 부는, 단면에서 바라볼 때, 상하 방향을 따라 연장되는 측 면; 및 상기 측 면으로부터 하향 경사진 방향으로 연장되는 경사 면을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the liquid receiving part has a side extending along the vertical direction when viewed in cross section; And it may include an inclined surface extending in a downwardly inclined direction from the side surface.

또한, 본 발명은 잉크를 토출하여 기판을 처리하는 장치를 제공한다. 기판 처리 장치는, 기판으로 잉크를 액적 형태로 토출하는 노즐이 형성된 적어도 하나 이상의 헤드를 포함하는 헤드 유닛; 상기 헤드가 상기 기판으로 상기 잉크를 토출하여 상기 기판에 대한 프린팅 공정이 수행되는 프린팅 영역; 상부에서 바라볼 때, 상기 프린팅 영역과 나란히 배치되며 상기 헤드에 대한 메인터넌스가 수행되는 메인터넌스 영역; 상기 헤드 유닛이 상기 프린팅 영역, 그리고 상기 메인터넌스 영역 사이에서 왕복 이동할 수 있도록 구비되는 겐트리; 및 상기 메인터넌스 영역에 설치되며, 상기 프린팅 영역에서 상기 기판의 이동 방향과 평행한 방향으로 이동 가능하게 구성되고, 상기 헤드에 대한 메인터넌스를 수행하는 헤드 메인터넌스 유닛을 포함하고, 상기 헤드 메인터넌스 유닛은, 상부가 개방된 액 받이 공간을 가지는 적어도 하나 이상의 액 받이 부를 포함하는 액 받이 블록; 상기 액 받이 공간과 유체 연통하며, 상기 액 받이 공간에 감압을 제공하는 감압 라인; 및 상기 감압 라인에 설치되는 감압 밸브를 포함할 수 있다.Additionally, the present invention provides a device for treating a substrate by discharging ink. A substrate processing apparatus includes: a head unit including at least one head provided with a nozzle that discharges ink in the form of droplets onto a substrate; a printing area where the head discharges the ink onto the substrate to perform a printing process on the substrate; When viewed from the top, a maintenance area is disposed in line with the printing area and performs maintenance on the head; a gantry provided to enable the head unit to move back and forth between the printing area and the maintenance area; and a head maintenance unit installed in the maintenance area, configured to be movable in a direction parallel to the movement direction of the substrate in the printing area, and performing maintenance on the head, wherein the head maintenance unit is configured to move in a direction parallel to the movement direction of the substrate in the printing area. a liquid receiving block including at least one liquid receiving portion having an open liquid receiving space; a pressure reducing line in fluid communication with the liquid receiving space and providing reduced pressure to the liquid receiving space; And it may include a pressure reducing valve installed in the pressure reducing line.

일 실시 예에 의하면, 상기 액 받이 블록은, 상기 감압 라인과 연결되고, 상기 액 받이 공간과 유체 연통하는 감압 유로를 포함할 수 있다.According to one embodiment, the liquid receiving block may be connected to the pressure reducing line and include a pressure reducing flow path in fluid communication with the liquid receiving space.

일 실시 예에 의하면, 상기 액 받이 부는, 단면에서 바라볼 때, 상하 방향을 따라 연장되는 측 면; 및 상기 측 면으로부터 하향 경사진 방향으로 연장되는 경사 면을 포함할 수 있다.According to one embodiment, the liquid receiving part has a side extending along the vertical direction when viewed in cross section; And it may include an inclined surface extending in a downwardly inclined direction from the side surface.

일 실시 예에 의하면, 상기 장치는, 제어기를 더 포함하고, 상기 제어기는, 상기 헤드와 연결된 배관에 가스를 공급하여 상기 헤드를 퍼징하는 퍼징 단계; 그리고 상기 메인터넌스 유닛으로 상기 잉크를 액적 형태로 토출하는 프리 제팅 단계 중 적어도 어느 하나를 수행하도록 상기 헤드 유닛을 제어할 수 있다.According to one embodiment, the device further includes a controller, the controller comprising: a purging step of purging the head by supplying gas to a pipe connected to the head; Additionally, the head unit can be controlled to perform at least one of the free jetting steps of discharging the ink in the form of droplets using the maintenance unit.

일 실시 예에 의하면, 상기 제어기는, 상기 프리 제팅 단계를 수행하는 경우, 상기 액 받이 블록이 상기 헤드의 하부에 위치되고, 상기 헤드가 상기 잉크를 액적 형태을 토출시 상기 감압 밸브를 온(On)하도록 상기 헤드 유닛, 그리고 상기 헤드 메인터넌스 유닛을 제어할 수 있다.According to one embodiment, when performing the pre-jetting step, the controller turns on the pressure reducing valve when the liquid receiving block is located below the head and the head discharges the ink in the form of droplets. The head unit and the head maintenance unit can be controlled to do so.

본 발명의 일 실시 예에 의하면, 헤드에 대한 메인터넌스를 효과적으로 수행할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, maintenance on the head can be performed effectively.

또한, 본 발명의 일 실시 예에 의하면, 헤드가 프리 제팅을 수행시 헤드로부터 토출된 액적 형태의 잉크가 기판 처리 장치를 오염시키는 것을 최소화 할 수 있다.Additionally, according to an embodiment of the present invention, it is possible to minimize contamination of the substrate processing device by ink in the form of droplets ejected from the head when the head performs free jetting.

또한, 본 발명의 일 실시 예에 의하면, 헤드가 프리 제팅을 수행시 헤드로부터 토출된 액적 형태의 잉크가 비산되는 것을 최소화 할 수 있다.Additionally, according to an embodiment of the present invention, scattering of ink in the form of droplets discharged from the head when the head performs free jetting can be minimized.

본 발명의 효과가 상술한 효과들로 한정되는 것은 아니며, 언급되지 않은 효과들은 본 명세서 및 첨부된 도면들로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확히 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present invention are not limited to the effects described above, and effects not mentioned above will be clearly understood by those skilled in the art from this specification and the accompanying drawings.

도 1은 일반적인 잉크젯 장치의 헤드가 프리 제팅을 수행하는 모습을 보여주는 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 보여주는 도면이다.
도 3은 도 2의 헤드 메인터넌스 유닛을 보여주는 도면이다.
도 4는 도 3의 액 받이 블록, 그리고 액 받이 블록에 연결된 감압 라인을 보여주는 도면이다.
도 5는 도 4의 액 받이 블록, 그리고 감압 라인을 B-B' 에서 바라본 단면도이다.
도 6은 도 4의 액 받이 블록을 A-A' 에서 바라본 단면도이다.
도 7은 도 4의 흡입 세정 모듈을 보여주는 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 헤드가 프리 제팅하는 모습을 보여주는 도면이다.
도 9은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 액 받이 블록을 보여주는 도면이다.
도 10은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 액 받이 블록을 보여주는 도면이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 헤드 메인터넌스 유닛을 보여주는 도면이다.
Figure 1 is a diagram showing the head of a general inkjet device performing free jetting.
Figure 2 is a diagram showing a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram showing the head maintenance unit of FIG. 2.
FIG. 4 is a diagram showing the liquid receiving block of FIG. 3 and a pressure reducing line connected to the liquid receiving block.
FIG. 5 is a cross-sectional view of the liquid receiving block of FIG. 4 and the pressure reduction line viewed from BB'.
Figure 6 is a cross-sectional view of the liquid receiving block of Figure 4 viewed from AA'.
Figure 7 is a diagram showing the suction cleaning module of Figure 4.
Figure 8 is a diagram showing free jetting by the head of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
Figure 9 is a diagram showing a liquid receiving block according to another embodiment of the present invention.
Figure 10 is a diagram showing a liquid receiving block according to another embodiment of the present invention.
Figure 11 is a diagram showing a head maintenance unit according to another embodiment of the present invention.

아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시 예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예에 한정되지 않는다. 또한, 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도면 전체에 걸쳐 동일한 부호를 사용한다.Below, with reference to the attached drawings, embodiments of the present invention will be described in detail so that those skilled in the art can easily implement the present invention. However, the present invention may be implemented in many different forms and is not limited to the embodiments described herein. Additionally, when describing preferred embodiments of the present invention in detail, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted. In addition, the same symbols are used throughout the drawings for parts that perform similar functions and actions.

어떤 구성요소를 '포함'한다는 것은, 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다. 구체적으로, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.'Including' a certain component does not mean excluding other components, but rather including other components, unless specifically stated to the contrary. Specifically, terms such as “comprise” or “have” are intended to designate the presence of features, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof described in the specification, but are not intended to include one or more other features or It should be understood that this does not exclude in advance the possibility of the presence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 또한 도면에서 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. Additionally, the shapes and sizes of elements in the drawings may be exaggerated for clearer explanation.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로 사용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채 제1 구성 요소는 제2 구성 요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성 요소도 제1 구성 요소로 명명될 수 있다.Terms such as first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The above terms may be used for the purpose of distinguishing one component from another component. For example, a first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may also be referred to as a first component without departing from the scope of the present invention.

어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성 요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성 요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성 요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성 요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.When a component is said to be "connected" or "connected" to another component, it is understood that it may be directly connected to or connected to that other component, but that other components may also exist in between. It should be. On the other hand, when it is mentioned that a component is “directly connected” or “directly connected” to another component, it should be understood that there are no other components in between. Other expressions that describe the relationship between components, such as "between" and "immediately between" or "neighboring" and "directly adjacent to" should be interpreted similarly.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미이다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미인 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by a person of ordinary skill in the technical field to which the present invention pertains. Terms such as those defined in commonly used dictionaries should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related technology, and unless clearly defined in the present application, should not be interpreted as having an ideal or excessively formal meaning. .

이하에서는, 도 2 내지 도 10을 참조하여 본 발명의 실시 예에 대하여 설명한다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 to 10.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 보여주는 도면이다. 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치(100)는 기판(S) 상에 잉크와 같은 약액을 공급하여 기판을 처리하는 잉크젯 장치일 수 있다. 예컨대, 기판 처리 장치(100)는 기판(S) 상에 액적 형태의 잉크(I)를 토출하여 기판(S)에 대한 프린팅 공정을 수행할 수 있다. 또한, 기판(S)은 글라스(Glass) 기판일 수 있다. 그러나, 이에 한정되는 것은 아니고 기판(S)의 종류는 다양하게 변형될 수 있다.Figure 2 is a diagram showing a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 2 , the substrate processing device 100 according to an embodiment of the present invention may be an inkjet device that processes a substrate (S) by supplying a chemical solution, such as ink, onto the substrate (S). For example, the substrate processing apparatus 100 may perform a printing process on the substrate S by discharging ink I in the form of droplets on the substrate S. Additionally, the substrate S may be a glass substrate. However, it is not limited to this and the type of substrate S may be modified in various ways.

기판 처리 장치(100)는 프린팅 영역(10), 메인터넌스 영역(20), 겐트리(30), 헤드 유닛(40), 노즐 얼라인 부(50), 제4비전 부(60), 제어기(80), 그리고 헤드 메인터넌스 유닛(200)을 포함할 수 있다.The substrate processing apparatus 100 includes a printing area 10, a maintenance area 20, a gantry 30, a head unit 40, a nozzle alignment unit 50, a fourth vision unit 60, and a controller 80. ), and may include a head maintenance unit 200.

프린팅 영역(10)은 상부에서 바라볼 때, 그 길이 방향이 제1방향(X) 일 수 있다. 이하에서는, 상부에서 바라볼 때, 제1방향(X)과 수직한 방향을 제2방향(Y)이라 하고, 제1방향(X) 및 제2방향(Y)에 수직한 방향을 제3방향(Z)이라 한다. 제3방향(Z)은 지면에 수직한 방향일 수 있다. 또한, 제1방향(X)은 후술하는 기판(S)이 이송하는 방향일 수 있다. 프린팅 영역(10)에서는 후술하는 헤드 유닛(40)이 기판(S)으로 액적 형태의 잉크(I)를 토출하여 기판(S)에 대한 프린팅 공정이 이루어질 수 있다. When viewed from the top, the printing area 10 may have a longitudinal direction in the first direction (X). Hereinafter, when viewed from the top, the direction perpendicular to the first direction (X) is referred to as the second direction (Y), and the direction perpendicular to the first direction (X) and the second direction (Y) is referred to as the third direction. It is called (Z). The third direction (Z) may be a direction perpendicular to the ground. Additionally, the first direction (X) may be a direction in which the substrate (S), which will be described later, is transported. In the printing area 10, the head unit 40, which will be described later, discharges ink I in the form of droplets onto the substrate S, so that a printing process can be performed on the substrate S.

또한, 프린팅 영역(10)에서 이송되는 기판(S)은 부상되는 상태를 유지할 수 있다. 이에, 프린팅 영역(10)에서는 기판(S)을 이송시 기판(S)을 부상시킬 수 있는 부상 스테이지가 구비될 수 있다. 또한, 프린팅 영역(10)에서는 기판(S)의 일 측면 또는 양 측면을 파지하여 이송시키는 이송 부가 더 구비될 수 있다. 언급한 이송 부는 부상 스테이지의 일 측 또는 양 측을 따라 구비되는 가이드 레일 및 기판(S)의 일 측면 또는 양 측면을 파지한 상태에서 가이드 레일을 따라 활주하는 그리퍼 등을 포함할 수 있다. 또한, 프린팅 영역(10)에서 이송되는 기판, 예컨대 기판(S)은 제1방향(X)을 따라 이송될 수 있다.Additionally, the substrate S transferred from the printing area 10 may remain in a floating state. Accordingly, the printing area 10 may be provided with a levitation stage capable of levitating the substrate S when transferring the substrate S. Additionally, the printing area 10 may further include a transfer unit that grips and transfers one or both sides of the substrate S. The mentioned transfer unit may include a guide rail provided along one or both sides of the floating stage and a gripper that slides along the guide rail while holding one or both sides of the substrate S. Additionally, the substrate, for example, the substrate S, transferred from the printing area 10 may be transferred along the first direction (X).

메인터넌스 영역(20)에서는 주로, 후술하는 헤드 유닛(40)에 대한 메인터넌스가 수행될 수 있다. 메인터넌스 영역(20)은 상부에서 바라볼 때, 그 길이 방향이 제1방향(X)일 수 있다. 또한, 메인터넌스 영역(20)은 프린팅 영역(10)과 나란히 배치될 수 있다. 예컨대, 메인터넌스 영역(20)과 프린팅 영역(10)은 제2방향(Y)을 따라 나란히 배열될 수 있다.In the maintenance area 20, maintenance on the head unit 40, which will be described later, can be performed. When viewed from the top, the maintenance area 20 may have a longitudinal direction in the first direction (X). Additionally, the maintenance area 20 may be arranged parallel to the printing area 10. For example, the maintenance area 20 and the printing area 10 may be arranged side by side along the second direction (Y).

헤드 유닛(40)이 기판(S)으로 처리 액(I)을 액적 형태로 토출하기 전 또는 후에, 메인터넌스 영역(20)에서는 후술하는 헤드 유닛(40)의 헤드(42)가 처리 액을 토출할 수 있다. 예컨대, 메인터넌스 영역(20)에서는 퍼징 단계, 그리고 프리 제팅 단계 중 적어도 어느 하나를 수행할 수 있다. 후술하는 제어기(80)는 메인터넌스 영역(20)에서 퍼징 단계, 그리고 프리 제팅 단계 중 적어도 어느 하나를 수행하도록 후술하는 헤드 유닛(40)을 제어할 수 있다. Before or after the head unit 40 discharges the processing liquid I to the substrate S in the form of droplets, the maintenance area 20 allows the head 42 of the head unit 40 to be described later to discharge the processing liquid. You can. For example, in the maintenance area 20, at least one of a purging step and a free jetting step may be performed. The controller 80, described later, can control the head unit 40, described later, to perform at least one of a purging step and a free jetting step in the maintenance area 20.

퍼징 단계는 후술하는 헤드 유닛(40)의 헤드(42)와 연결된 배관(미도시)으로 질소와 같은 비활성 가스를 공급하여, 헤드(42)와 연결된 배관을 퍼징할 수 있다. 헤드(42)와 연결된 배관으로 비활성 가스가 공급되면, 공급된 비활성 가스는 배관에 잔류하는 처리 액(I)을 헤드(42)의 노즐(42a)을 향해 밀어낼 수 있다. 노즐(42a)을 향해 밀어내진 처리 액(I)은 노즐(42a)을 통해 토출될 수 있다.In the purging step, an inert gas such as nitrogen may be supplied to a pipe (not shown) connected to the head 42 of the head unit 40, which will be described later, to purge the pipe connected to the head 42. When an inert gas is supplied to the pipe connected to the head 42, the supplied inert gas can push the treatment liquid (I) remaining in the pipe toward the nozzle 42a of the head 42. The processing liquid (I) pushed toward the nozzle 42a may be discharged through the nozzle 42a.

또한, 프리 제팅 단계는 헤드 유닛(40)의 헤드(42)가 토출하는 액적 형태의 처리 액(I)의 타점, 그리고 처리 액(I)의 볼륨을 조절하기 위한 데이터를 수집하기 위해 수행될 수 있다. 또한, 프리 제팅 단계는 헤드 유닛(40)의 헤드(42)에 형성된 노즐(42a)에서 처리 액(I)이 고화되어 노즐(42a)의 막힘 현상이 발생되는 것을 방지하기 위해 수행될 수 있다. 프리 제팅 단계에는 헤드 유닛(40)의 헤드(42)가 처리 액(I)을 액적 형태로 토출할 수 있다. 프리 제팅 단계에는 헤드 유닛(40)이 메인터넌스 영역에 제공되는 헤드 메인터넌스 유닛(200)으로 처리 액(I)을 액적 형태로 토출할 수 있다. 프리 제팅 단계에서 헤드 유닛(40)이 토출하는 액적 형태의 처리 액(I)의 볼륨은 6 피코리터(Pico Liter, PL) 이하일 수 있다. In addition, the pre-jetting step can be performed to collect data for controlling the dots of the treatment liquid (I) in the form of droplets discharged by the head 42 of the head unit 40 and the volume of the treatment liquid (I). there is. Additionally, the pre-jetting step may be performed to prevent the processing liquid I from solidifying in the nozzle 42a formed in the head 42 of the head unit 40 and clogging the nozzle 42a. In the pre-jetting step, the head 42 of the head unit 40 may discharge the treatment liquid I in the form of droplets. In the pre-jetting step, the head unit 40 may discharge the treatment liquid I in the form of droplets to the head maintenance unit 200 provided in the maintenance area. The volume of the treatment liquid (I) in the form of droplets discharged by the head unit 40 in the pre-jetting step may be 6 pico liter (PL) or less.

또한, 메인터넌스 영역(20)에서 후술하는 헤드 유닛(40)이 처리 액(I)을 액적 형태로 토출할 수 있기 때문에, 메인터넌스 영역(20)은 프린팅 영역(10)과 동일 또는 유사한 공정 환경을 가질 수 있다.In addition, since the head unit 40, which will be described later, in the maintenance area 20 can discharge the processing liquid I in the form of droplets, the maintenance area 20 may have the same or similar process environment as the printing area 10. You can.

겐트리(30)는 후술하는 헤드 유닛(40) 또는 후술하는 제4비전 부(60)가 직선 왕복 이동을 할 수 있도록 구비될 수 있는 것이다. 겐트리(30)는 제1겐트리(31), 제2겐트리(32), 그리고 제3겐트리(33)를 포함할 수 있다. 제1겐트리(31)와 제2겐트리(32)는 프린팅 영역(10) 및 메인터넌스 영역(20)을 따라 연장되는 구조를 갖도록 구비될 수 있다. 또한, 제1겐트리(31)와 제2겐트리(32)는 제1방향(X)을 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 즉, 제1겐트리(31)와 제2겐트리(32)는 후술하는 헤드 유닛(40)이 제2방향(Y)을 따라 프린팅 영역(10)과 메인터넌스 영역(20) 사이에서 왕복 이동할 수 있도록 프린팅 영역(10) 및 메인터넌스 영역(20)이 배치되는 제2방향(Y)을 따라 연장되는 구조를 갖도록 구비될 수 있다.The gantry 30 can be provided so that the head unit 40, which will be described later, or the fourth vision unit 60, which will be described later, can move in a straight line. The gantry 30 may include a first gantry 31, a second gantry 32, and a third gantry 33. The first gantry 31 and the second gantry 32 may be provided to have a structure extending along the printing area 10 and the maintenance area 20. Additionally, the first gantry 31 and the second gantry 32 may be arranged to be spaced apart from each other along the first direction (X). That is, the first gantry 31 and the second gantry 32 allow the head unit 40, which will be described later, to move back and forth between the printing area 10 and the maintenance area 20 along the second direction (Y). It may be provided to have a structure extending along the second direction (Y) in which the printing area 10 and the maintenance area 20 are arranged.

또한, 제3겐트리(33)는 프린팅 영역(10)을 제2방향(Y)을 따라 연장되는 구조를 갖도록 구비될 수 있다. 즉, 제3겐트리(33)는 후술하는 제4비전 부(60)가 제2방향(Y)을 따라 이동할 수 있게 연장되는 구조를 갖도록 구비될 수 있다.Additionally, the third gantry 33 may be provided to have a structure extending along the printing area 10 in the second direction (Y). That is, the third gantry 33 may be provided with a structure that extends so that the fourth vision unit 60, which will be described later, can move along the second direction (Y).

헤드 유닛(40)은 기판(S)으로 처리 액(I)을 액적 형태로 토출할 수 있다. 헤드 유닛(40)이 토출하는 처리 액(I)은 잉크일 수 있다. 헤드 유닛(40)은 기판(S)으로 처리 액(I)을 액적 형태로 토출하여 기판(S)에 대한 프린팅 공정을 수행할 수 있다. 예컨대, 헤드 유닛(40)은 제2방향(Y)을 따라 왕복 이동하면서 기판(S)으로 처리 액(I)을 토출하여 기판(S)에 대한 프린팅 공정을 수행할 수 있다.The head unit 40 may discharge the processing liquid (I) in the form of droplets to the substrate (S). The processing liquid (I) discharged by the head unit 40 may be ink. The head unit 40 may perform a printing process on the substrate S by discharging the treatment liquid I in the form of droplets to the substrate S. For example, the head unit 40 may perform a printing process on the substrate S by discharging the treatment liquid I to the substrate S while reciprocating along the second direction Y.

헤드 유닛(40)은 헤드(42), 헤드 프레임(44), 헤드 인터페이스 보드(45), 제1비전 부(46), 그리고 제2비전 부(48)를 포함할 수 있다. The head unit 40 may include a head 42, a head frame 44, a head interface board 45, a first vision unit 46, and a second vision unit 48.

헤드(42)에는 처리 액(I)을 액적 형태로 토출하는 복수의 노즐(42a)이 형성될 수 있다. 헤드(42)는 적어도 하나 이상이 제공될 수 있다. 예컨대, 헤드(42)는 복수로 제공될 수 있다. 복수의 헤드(42)는 제1방향(X)을 따라 나란히 배열될 수 있다. 복수의 헤드(42)들은 헤드 프레임(44)에 끼워질 수 있다. 또한, 헤드 프레임(44)에는 헤드 인터페이스 보드(45)가 설치될 수 있다. 헤드 인터페이스 보드(45)는 헤드(42)를 제어하여, 헤드(42)가 토출하는 잉크(I)의 볼륨을 제어할 수 있다. The head 42 may be provided with a plurality of nozzles 42a that discharge the processing liquid I in the form of droplets. At least one head 42 may be provided. For example, a plurality of heads 42 may be provided. The plurality of heads 42 may be arranged side by side along the first direction (X). A plurality of heads 42 may be fitted into the head frame 44 . Additionally, a head interface board 45 may be installed on the head frame 44. The head interface board 45 can control the head 42 and the volume of ink (I) ejected by the head 42.

헤드(42)는 헤드 프레임(44)을 매개로 제1겐트리(31)와 제2겐트리(32)에 이동 가능하게 결합될 수 있다. 예컨대, 헤드(42)는 제1겐트리(31)와 제2겐트리(32)의 길이 방향인 제2방향(Y)을 따라 이동 가능하게 제공될 수 있다. 또한, 헤드(42)는 제1겐트리(31)와 제2겐트리(32)의 길이 방향인 제2방향(Y)을 따라 프린팅 영역(10), 그리고 메인터넌스 영역(20) 사이를 직선 왕복 이동할 수 있다. 또한, 상부에서 바라볼 때 헤드(42)의 일 측에는 제1비전 부(46)와 제2비전 부(48)가 결합될 수 있다. 제1비전 부(46)와 제2비전 부(48)는 제1방향(X)을 따라 나란히 배치될 수 있다. 제1비전 부(46)와 제2비전 부(48)는 헤드(42)가 토출하는 액적 형태의 잉크(I)들을 확인할 수 있다. 제1비전 부(46)와 제2비전 부(48)는 이미지 획득 모듈을 포함하는 카메라일 수 있다.The head 42 may be movably coupled to the first gantry 31 and the second gantry 32 via the head frame 44. For example, the head 42 may be provided to be movable along the second direction Y, which is the longitudinal direction of the first gantry 31 and the second gantry 32. In addition, the head 42 reciprocates in a straight line between the printing area 10 and the maintenance area 20 along the second direction (Y), which is the longitudinal direction of the first gantry 31 and the second gantry 32. You can move. Additionally, the first vision unit 46 and the second vision unit 48 may be combined on one side of the head 42 when viewed from the top. The first vision unit 46 and the second vision unit 48 may be arranged side by side along the first direction (X). The first vision unit 46 and the second vision unit 48 can check the ink (I) in the form of droplets ejected by the head 42. The first vision unit 46 and the second vision unit 48 may be cameras including an image acquisition module.

노즐 얼라인 부(50)는 메인터넌스 영역(20)에 제공될 수 있다. 노즐 얼라인 부(50)는 상부에서 바라볼 때 제1겐트리(31)와 제2겐트리(32) 사이에 제공될 수 있다. 이에, 노즐 얼라인 부(50)는 헤드(42)에 형성된 노즐(42a)들의 상태를 확인할 수 있다. 예컨대, 노즐 얼라인 부(50)는 이동 레일(52), 그리고 제3비전 부(54)를 포함할 수 있다. 이동 레일(52)은 그 길이 방향이 제1방향(X) 일 수 있다. 제3비전 부(54)는 이동 레일(52)의 길이 방향인 제1방향(X)을 따라 직선 왕복 이동할 수 있다. 제3비전 부(54)는 이동 레일(52)의 길이 방향을 따라 이동하면서 헤드(42)의 노즐(42a)들을 촬상할 수 있다.The nozzle alignment unit 50 may be provided in the maintenance area 20 . The nozzle alignment unit 50 may be provided between the first gantry 31 and the second gantry 32 when viewed from the top. Accordingly, the nozzle aligner 50 can check the status of the nozzles 42a formed on the head 42. For example, the nozzle alignment unit 50 may include a moving rail 52 and a third vision unit 54. The moving rail 52 may have a longitudinal direction in the first direction (X). The third vision unit 54 can reciprocate in a straight line along the first direction (X), which is the longitudinal direction of the moving rail 52. The third vision unit 54 can image the nozzles 42a of the head 42 while moving along the longitudinal direction of the moving rail 52.

제4비전 부(60)는 제3겐트리(33)의 길이 방향인 제2방향(Y)을 따라 이동 가능하도록 제3겐트리(33)에 설치될 수 있다. 제4비전 부(60)는 이미지 획득 모듈을 포함하는 카메라일 수 있다. 제4비전 부(60)는 제2기판(S2)에 토출된 잉크 액적(I)들의 이미지를 획득하고, 획득된 이미지를 후술하는 제어기(80)로 전달할 수 있다. 제어기(80)는 제4비전 부(60)가 획득한 이미지를 분석하여 헤드 유닛(40)이 토출하는 잉크 액적의 타점, 헤드(42)의 이동 속도, 기판의 이동 속도 등을 보정하기 위한 데이터를 산출할 수 있다.The fourth vision unit 60 may be installed in the third gantry 33 to be movable along the second direction (Y), which is the longitudinal direction of the third gantry 33. The fourth vision unit 60 may be a camera including an image acquisition module. The fourth vision unit 60 may acquire images of ink droplets (I) discharged on the second substrate (S2) and transmit the acquired images to the controller 80, which will be described later. The controller 80 analyzes the image acquired by the fourth vision unit 60 and provides data to correct the dot point of the ink droplet ejected by the head unit 40, the moving speed of the head 42, the moving speed of the substrate, etc. can be calculated.

헤드 메인터넌스 유닛(200)은 메인터넌스 영역(20)에 설치될 수 있다. 헤드 메인터넌스 유닛(200)은 메인터넌스 영역(20)에서 이동 가능하게 구성될 수 있다. 예컨대, 헤드 메인터넌스 유닛(200)은 메인터넌스 영역(20)에서 제1방향(X)을 따라 이동 가능하게 구성될 수 있다. 예컨대, 헤드 메인터넌스 유닛(200)은 프린팅 영역(10)에서 기판(S)의 이동 방향과 평행한 방향으로 이동가능하게 구성될 수 있다. 헤드 메인터넌스 유닛(200)은 헤드(42)에 대한 메인터넌스를 수행할 수 있다. 헤드 메인터넌스 유닛(200)에 대한 구체적인 구조는 후술한다.The head maintenance unit 200 may be installed in the maintenance area 20. The head maintenance unit 200 may be configured to be movable in the maintenance area 20 . For example, the head maintenance unit 200 may be configured to be movable along the first direction (X) in the maintenance area 20. For example, the head maintenance unit 200 may be configured to be movable in a direction parallel to the direction of movement of the substrate S in the printing area 10. The head maintenance unit 200 may perform maintenance on the head 42. The specific structure of the head maintenance unit 200 will be described later.

제어기(80)는 기판 처리 장치(100)를 제어할 수 있다. 제어기(80)는 기판 처리 장치(100)가 기판(S)에 대한 처리 공정을 수행하도록 기판 처리 장치(100)를 제어할 수 있다. 예컨대, 제어기(80)는 기판 처리 장치(100)가 기판(S)에 대한 프린팅 공정을 수행하도록 기판 처리 장치(100)를 제어할 수 있다. 또한, 제어기(80)는 기판 처리 장치(100)가 헤드 유닛(40)에 대한 메인터넌스를 수행하도록 기판 처리 장치(100)를 제어할 수 있다. 예컨대, 제어기(80)는 헤드 유닛(40)에 대한 메인터넌스를 수행하도록, 헤드 유닛(40), 그리고 헤드 메인터넌스 유닛(200)을 제어할 수 있다. 또한, 제어기(80)는 제1비전 부(46), 제2비전 부(48), 제3비전 부(54), 그리고 제4비전 부(60)가 촬상하여 획득하는 이미지(사진 또는 영상)를 근거로 헤드 유닛(40)의 헤드 유닛(40)이 토출하는 액적 형태의 처리 액(I)의 타점, 헤드(42)의 이동 속도, 기판(S)의 이동 속도 등을 보정하기 위한 데이터를 산출할 수 있다. The controller 80 may control the substrate processing apparatus 100 . The controller 80 may control the substrate processing apparatus 100 so that the substrate processing apparatus 100 performs a processing process on the substrate S. For example, the controller 80 may control the substrate processing apparatus 100 so that the substrate processing apparatus 100 performs a printing process on the substrate S. Additionally, the controller 80 may control the substrate processing apparatus 100 so that the substrate processing apparatus 100 performs maintenance on the head unit 40 . For example, the controller 80 may control the head unit 40 and the head maintenance unit 200 to perform maintenance on the head unit 40. In addition, the controller 80 controls the images (photos or videos) acquired by the first vision unit 46, the second vision unit 48, the third vision unit 54, and the fourth vision unit 60. Based on this, data for correcting the hitting point of the treatment liquid (I) in the form of a droplet discharged by the head unit 40, the moving speed of the head 42, the moving speed of the substrate S, etc. It can be calculated.

또한, 제어기(80)는 기판 처리 장치(100)의 제어를 실행하는 마이크로프로세서(컴퓨터)로 이루어지는 프로세스 컨트롤러와, 오퍼레이터가 기판 처리 장치(100)를 관리하기 위해서 커맨드 입력 조작 등을 행하는 키보드나, 기판 처리 장치(100)의 가동 상황을 가시화해서 표시하는 디스플레이 등으로 이루어지는 유저 인터페이스와, 기판 처리 장치(100)에서 실행되는 처리를 프로세스 컨트롤러의 제어로 실행하기 위한 제어 프로그램이나, 각종 데이터 및 처리 조건에 따라 각 구성부에 처리를 실행시키기 위한 프로그램, 즉 처리 레시피가 저장된 기억부를 구비할 수 있다. 또한, 유저 인터페이스 및 기억부는 프로세스 컨트롤러에 접속되어 있을 수 있다. 처리 레시피는 기억 부 중 기억 매체에 기억되어 있을 수 있고, 기억 매체는, 하드 디스크이어도 되고, CD-ROM, DVD 등의 가반성 디스크나, 플래시 메모리 등의 반도체 메모리 일 수도 있다. In addition, the controller 80 includes a process controller consisting of a microprocessor (computer) that controls the substrate processing apparatus 100, a keyboard through which the operator performs command input operations, etc. to manage the substrate processing apparatus 100, A user interface consisting of a display that visualizes and displays the operating status of the substrate processing device 100, a control program for executing the processing performed in the substrate processing device 100 under the control of the process controller, and various data and processing conditions. Accordingly, each component may be provided with a storage unit in which a program for executing processing, that is, a processing recipe, is stored. Additionally, the user interface and storage may be connected to the process controller. The processing recipe may be stored in a storage medium in the storage unit, and the storage medium may be a hard disk, a portable disk such as a CD-ROM or DVD, or a semiconductor memory such as a flash memory.

도 3은 도 2의 헤드 메인터넌스 유닛을 보여주는 도면이다. 도 3을 참조하면, 헤드 메인터넌스 유닛(200)은 퍼징 배스(210), 액 받이 블록(230), 감압 라인(240), 흡입 세정 모듈(250), 그리고 흡입 라인(260)을 포함할 수 있다. 도 3에서는 설명의 편의를 위해 감압 라인(240), 그리고 흡입 라인(260)의 도시는 생략하였다.FIG. 3 is a diagram showing the head maintenance unit of FIG. 2. Referring to FIG. 3, the head maintenance unit 200 may include a purging bath 210, a liquid receiving block 230, a pressure reduction line 240, a suction cleaning module 250, and a suction line 260. . In FIG. 3 , the pressure reduction line 240 and the suction line 260 are omitted for convenience of explanation.

퍼징 배스(210)는 메인터넌스 영역(20)에서 제1방향(X)을 따라 이동 가능하게 구성될 수 있다. 퍼징 배스(210)는 상술한 헤드 유닛(40)의 퍼징 단계, 또는 프리 제팅 단계를 수행시 헤드 유닛(40)의 하부 영역으로 이동될 수 있다. 예컨대, 퍼징 배스(210)는 메인터넌스 영역(20)에서 LM 가이드와 같은 이동 부재에 의해 제1방향(X)을 따라 이동 가능하게 구성될 수 있다. 또한, 이동 부재는 LM 가이드에 한정되는 것은 아니고, 퍼징 배스(210)를 이동시킬 수 있는 공지된 장치로 다양하게 변형될 수 있다.The purging bath 210 may be configured to be movable along the first direction (X) in the maintenance area 20 . The purging bath 210 may be moved to a lower area of the head unit 40 when performing the purging step or the free jetting step of the head unit 40 described above. For example, the purging bath 210 may be configured to be movable along the first direction (X) in the maintenance area 20 by a moving member such as an LM guide. Additionally, the moving member is not limited to the LM guide, and may be variously modified into known devices capable of moving the purging bath 210.

퍼징 배스(210)는 액 수용 부(211), 지지 프레임(212), 그리고 지지 플레이트(213)를 포함할 수 있다.The purging bath 210 may include a liquid receiving portion 211, a support frame 212, and a support plate 213.

액 수용 부(211)는 상부가 개방된 통 형상을 가질 수 있다. 액 수용 부(211)는 상술한 퍼징 단계 또는 프리 제팅 단계를 수행시, 헤드(42)로부터 토출되는 처리 액(I)을 받는 수용 공간을 가질 수 있다. 액 수용 부(211)에는 액 수용 부(211)가 가지는 수용 공간으로 공급된 처리 액(I)을 외부로 배출시킬 수 있는 배출 라인(미도시)이 연결될 수 있다. 또한, 액 수용 부(211)는 복수의 지지 프레임(212)에 의해 지지 플레이트(213)에 지지될 수 있다. 지지 플레이트(213)는 상술한 이동 부재(예컨대, LM 가이드)와 결합될 수 있다. 이에, 퍼징 배스(210)는 이동 부재에 의해 제1방향(X)을 따라 이동될 수 있다.The liquid receiving portion 211 may have a cylindrical shape with an open top. The liquid receiving portion 211 may have a receiving space that receives the treatment liquid I discharged from the head 42 when the purging step or the free jetting step described above is performed. The liquid receiving part 211 may be connected to a discharge line (not shown) capable of discharging the treatment liquid (I) supplied to the receiving space of the liquid receiving part 211 to the outside. Additionally, the liquid receiving portion 211 may be supported on the support plate 213 by a plurality of support frames 212. The support plate 213 may be combined with the above-described moving member (eg, LM guide). Accordingly, the purging bath 210 may be moved along the first direction (X) by the moving member.

또한, 퍼징 배스(210)의 액 수용 부(211)에는 액 받이 블록(230), 그리고 흡입 세정 모듈(250)이 설치될 수 있다. 액 받이 블록(230)은 적어도 하나 이상이 퍼징 배스(210)에 설치될 수 있다. 예컨대, 액 받이 블록(230)은 복수 개가 퍼징 배스(210)에 설치될 수 있다. 예컨대, 액 받이 블록(230)은 6 개가 퍼징 배스(210)에 설치될 수 있다. 그러나, 이에 한정되는 것은 아니고, 액 받이 블록(230)이 퍼징 배스(210)에 설치되는 숫자는 다양하게 가변될 수 있다 또한, 액 받이 블록(230)은 2 개의 그룹으로 나뉘어 지고, 2 개의 그룹 중 어느 하나의 그룹은 제2방향(Y)을 따라 나란히 배열될 수 있다. 2 개의 그룹 중 다른 하나의 그룹은 상술한 어느 하나의 그룹과 제1방향(X)을 따라 이격되되, 제2방향(Y)을 따라 나란히 배열될 수 있다.. 또한, 흡입 세정 모듈(250)은 적어도 하나 이상이 퍼징 배스(210)에 설치될 수 있다. 예컨대, 흡입 세정 모듈(250)은 복수 개가 퍼징 배스(210)에 설치될 수 있다. 예컨대, 흡입 세정 모듈(250)은 2 개가 퍼징 배스(210)에 설치될 수 있다. 그러나, 이에 한정되는 것은 아니고, 퍼징 배스(210)에 설치되는 흡입 세정 모듈(250)의 숫자는 다양하게 가변될 수 있다.Additionally, a liquid receiving block 230 and a suction cleaning module 250 may be installed in the liquid receiving portion 211 of the purging bath 210. At least one liquid receiving block 230 may be installed in the purging bath 210. For example, a plurality of liquid receiving blocks 230 may be installed in the purging bath 210 . For example, six liquid receiving blocks 230 may be installed in the purging bath 210 . However, it is not limited to this, and the number of liquid receiving blocks 230 installed in the purging bath 210 can be varied. Additionally, the liquid receiving blocks 230 are divided into two groups, and are divided into two groups. Any one of the groups may be arranged side by side along the second direction (Y). The other group of the two groups may be spaced apart from any of the above-described groups along the first direction (X), but may be arranged side by side along the second direction (Y). In addition, the suction cleaning module 250 At least one may be installed in the purging bath 210. For example, a plurality of suction cleaning modules 250 may be installed in the purging bath 210. For example, two suction cleaning modules 250 may be installed in the purging bath 210. However, it is not limited to this, and the number of suction cleaning modules 250 installed in the purging bath 210 may vary.

액 받이 블록(230)은 상술한 헤드 유닛(40)의 프리 제팅 단계가 수행되는 경우, 헤드 유닛(40)의 하부에 배치될 수 있다. 액 받이 블록(230)은 헤드 유닛(40)이 액적 형태의 처리 액(I)을 토출시, 헤드 유닛(40)으로부터 토출되는 처리 액(I)을 받을 수 있다. 또한 흡입 세정 모듈(250)은 진공 흡입 방식으로 헤드 유닛(40)의 노즐(42a) 또는 노즐(42a)의 주변 영역에 부착된 처리 액(I)들을 헤드 유닛(40)으로부터 제거할 수 있다.The liquid receiving block 230 may be disposed below the head unit 40 when the pre-jetting step of the head unit 40 described above is performed. The liquid receiving block 230 may receive the treatment liquid (I) discharged from the head unit 40 when the head unit 40 discharges the treatment liquid (I) in the form of droplets. Additionally, the suction cleaning module 250 may remove the treatment liquid (I) attached to the nozzle 42a of the head unit 40 or the surrounding area of the nozzle 42a from the head unit 40 using a vacuum suction method.

도 4는 도 3의 액 받이 블록, 그리고 액 받이 블록에 연결된 감압 라인을 보여주는 도면이고, 도 5는 도 4의 액 받이 블록, 그리고 감압 라인을 B-B' 에서 바라본 단면도이고, 도 6은 도 4의 액 받이 블록을 A-A' 에서 바라본 단면도이다. 도 4 내지 도 6을 참조하면, 액 받이 블록(230)에는 감압 유로(232), 결합 구(234), 액 받이 부(235), 그리고 연결 유로(237)가 형성될 수 있다. FIG. 4 is a view showing the liquid receiving block of FIG. 3 and the pressure reducing line connected to the liquid receiving block, FIG. 5 is a cross-sectional view of the liquid receiving block of FIG. 4 and the pressure reducing line viewed from line B-B', and FIG. 6 is a view showing the liquid receiving block of FIG. 4 and the pressure reducing line connected to the liquid receiving block. This is a cross-sectional view of the liquid receiving block from A-A'. Referring to FIGS. 4 to 6 , a pressure reducing passage 232, a coupling sphere 234, a liquid receiving portion 235, and a connection passage 237 may be formed in the liquid receiving block 230.

감압 유로(232)는 액 받이 블록(230) 내에 형성될 수 있다. 감압 유로(232)는 액 받이 블록(230) 내에 액 받이 블록(230)의 길이 방향을 따라 형성될 수 있다. 액 받이 블록(230)에 형성된 감압 유로(232)는 결합 구(234)를 통해 연결되는 감압 라인(240)으로부터 감압을 전달받을 수 있다. 감압 라인(240)에는 감압 밸브(242)가 설치될 수 있다. 감압 밸브(242)는 온/오프 밸브이거나, 유량 조절 밸브로 제공될 수 있다. 감압 밸브(242)의 개폐에 따라 감압 라인(240)이 제공하는 감압은 감압 유로(232)에 전달될 수 있다.The pressure reduction passage 232 may be formed within the liquid receiving block 230. The pressure reduction flow path 232 may be formed within the liquid receiving block 230 along the longitudinal direction of the liquid receiving block 230 . The pressure reduction passage 232 formed in the liquid receiving block 230 may receive reduced pressure from the pressure reduction line 240 connected through the coupling hole 234. A pressure reducing valve 242 may be installed in the pressure reducing line 240. The pressure reducing valve 242 may be an on/off valve or may be provided as a flow control valve. As the pressure reduction valve 242 opens and closes, the reduced pressure provided by the pressure reduction line 240 may be transmitted to the pressure reduction passage 232.

감압 유로(232)의 상부에는 액 받이 부(235)가 형성될 수 있다. 액 받이 부(235)는 액 받이 공간(236)을 가질 수 있다. 액 받이 공간(236)은 상부가 개방되도록 제공될 수 있다. 액 받이 부(235)는 적어도 하나 이상이 제공될 수 있다. 예컨대, 액 받이 부(235)는 복수 개가 제공될 수 있다. 액 받이 부(235)는 상술한 헤드(42)와 동일한 수로 제공될 수 있다. 액 받이 부(235)는 복수로 제공되는 헤드(42)가 배열되는 방향을 따라 액 받이 블록(230)에 형성될 수 있다. 예컨대, 헤드(42)가 제1방향(X)을 따라 배열되면, 액 받이 부(235)도 제1방향(X)을 따라 액 받이 블록(230)에 형성될 수 있다. 이에, 헤드 유닛(40)의 헤드(42)들이 액 받이 블록(230)의 상부에 배치되는 경우(예컨대, 프리 제팅을 수행하는 경우), 각각의 헤드(42)들은 액 받이 부(235)들 각각의 상부에 배치될 수 있다. 이에, 복수의 헤드(42)들에 대한 프리 제팅을 동시에 수행할 수 있다.A liquid receiving portion 235 may be formed on the upper part of the pressure reduction passage 232. The liquid receiving part 235 may have a liquid receiving space 236. The liquid receiving space 236 may be provided with an open top. At least one liquid receiving unit 235 may be provided. For example, a plurality of liquid receiving units 235 may be provided. The liquid receiving portions 235 may be provided in the same number as the heads 42 described above. The liquid receiving portion 235 may be formed on the liquid receiving block 230 along the direction in which the plurality of heads 42 are arranged. For example, if the head 42 is arranged along the first direction (X), the liquid receiving portion 235 may also be formed in the liquid receiving block 230 along the first direction (X). Accordingly, when the heads 42 of the head unit 40 are disposed on the upper part of the liquid receiving block 230 (for example, when performing free jetting), each head 42 is connected to the liquid receiving portions 235. It can be placed on top of each. Accordingly, free jetting for a plurality of heads 42 can be performed simultaneously.

액 받이 부(235)는 액 받이 블록(230)의 길이 방향에서 바라볼 때, 측 면(235a)과 경사 면(235b)을 가질 수 있다. 측 면(235a)은 액 받이 블록(230)의 길이 방향, 그리고 액 받이 블록(230)의 단면에서 바라볼 때, 상하 방향을 따라 연장될 수 있다(Chamfer 금지). 예컨대, 측 면(235a)에는 단차진 부분이 형성되지 않을 수 있다. 이에, 후술하는 바와 같이 헤드(42)가 처리 액(I)을 액적 형태로 토출하는 경우, 액 받이 공간(236)에 전달된 처리 액(I)은 측 면(235a)을 따라 아래 방향으로 흐르게 된다. 즉, 처리 액(I)이 액 받이 부(235)에 부착되어 액 받이 부(235)에 쌓이는 문제점을 해소할 수 있다. 또한, 경사 면(235b)은 측 면(235a)으로부터 하향 경사진 방향으로 연장될 수 있다. 경사 면(235b)은 후술하는 연결 유로(237)를 향하는 방향으로 하향 경사진 방향으로 연장될 수 있다. 경사 면(235b)은 액 받이 공간(236)으로 전달된 처리 액(I)이 연결 유로(237)를 거쳐 감압 유로(232)로 전달될 수 있게 도울 수 있다. The liquid receiving portion 235 may have a side surface 235a and an inclined surface 235b when viewed in the longitudinal direction of the liquid receiving block 230. The side surface 235a may extend along the longitudinal direction of the liquid receiving block 230 and in the vertical direction when viewed from the cross section of the liquid receiving block 230 (Chamfer prohibited). For example, a stepped portion may not be formed on the side surface 235a. Accordingly, as will be described later, when the head 42 discharges the treatment liquid (I) in the form of droplets, the treatment liquid (I) delivered to the liquid receiving space 236 flows downward along the side surface 235a. do. In other words, the problem that the treatment liquid (I) adheres to the liquid receiving part 235 and accumulates in the liquid receiving part 235 can be solved. Additionally, the inclined surface 235b may extend in a downwardly inclined direction from the side surface 235a. The inclined surface 235b may extend in a downwardly inclined direction toward the connection passage 237, which will be described later. The inclined surface 235b may help the treatment liquid (I) delivered to the liquid receiving space 236 to be transferred to the pressure reduction passage 232 through the connection passage 237.

또한, 액 받이 공간(236), 그리고 감압 유로(232) 사이에는 연결 유로(237)가 형성되어 있을 수 있다. 연결 유로(237)는 복수의 액 받이 부(235) 각각에 대응하여 형성되어 있을 수 있다. 연결 유로(237)는 감압 유로(232)와 액 받이 공간(236)을 서로 유체 연통시킬 수 있다. 이에, 감압 라인(240)이 제공하는 감압은 감압 유로(232)에 전달되고, 감압 유로(232)에 전달된 감압은 연결 유로(237)에 전달되고, 연결 유로(237)에 전달된 감압은 액 받이 공간(236)에 전달될 수 있다.Additionally, a connection passage 237 may be formed between the liquid receiving space 236 and the pressure reduction passage 232. The connection passage 237 may be formed to correspond to each of the plurality of liquid receiving portions 235. The connection passage 237 may allow the pressure reduction passage 232 and the liquid receiving space 236 to be in fluid communication with each other. Accordingly, the reduced pressure provided by the pressure reduction line 240 is transmitted to the pressure reduction flow path 232, the reduced pressure delivered to the pressure reduction flow path 232 is transmitted to the connection flow path 237, and the reduced pressure delivered to the connection flow path 237 is It can be delivered to the liquid receiving space 236.

도 7은 도 4의 흡입 세정 모듈을 보여주는 도면이다. 도 7을 참조하면, 흡입 세정 모듈(250)은 내부에 흡입 유로가 형성된 바디(251), 그리고 헤드(42)의 하면을 흡입 세정하는 흡입 구(253)를 포함할 수 있다. 또한, 흡입 세정 모듈(250)은 흡입 라인(260)과 연결될 수 있다. 흡입 라인(260)은 바디(251)에 형성된 흡입 유로에 감압을 제공할 수 있다. 또한, 흡입 라인(260)에는 흡입 밸브(262)가 설치되어 있을 수 있다. 흡입 라인(260)이 제공하는 감압에 의해 흡입 구(253)는 헤드(42)의 하면을 흡입하여, 헤드(42)에 형성된 노즐(42a) 또는 노즐(42a)의 주변 영역에 부착된 처리 액(I)을 제거할 수 있다.Figure 7 is a diagram showing the suction cleaning module of Figure 4. Referring to FIG. 7, the suction cleaning module 250 may include a body 251 with a suction flow path formed therein, and a suction port 253 for suction cleaning the lower surface of the head 42. Additionally, the suction cleaning module 250 may be connected to the suction line 260. The suction line 260 may provide reduced pressure to the suction passage formed in the body 251. Additionally, a suction valve 262 may be installed in the suction line 260. By the reduced pressure provided by the suction line 260, the suction port 253 suctions the lower surface of the head 42, and the treatment liquid attached to the nozzle 42a formed in the head 42 or the surrounding area of the nozzle 42a. (I) can be removed.

도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치의 헤드가 프리 제팅하는 모습을 보여주는 도면이다. 도 8을 참조하면, 헤드(42)에 대하여 프리 제팅 단계를 수행하는 경우, 제어기(80)는 헤드 유닛(40), 그리고 헤드 메인터넌스 유닛(200)을 제어할 수 있다. 예컨대, 제어기(80)는 프리 제팅 단계를 수행하는 경우, 액 받이 블록(230)이 헤드(42)의 하부에 위치되도록 헤드 메인터넌스 유닛(200)을 이동시킬 수 있다. 예컨대, 제어기(80)는 액 받이 블록(230)이 가지는 액 받이 부(235)들 각각이 복수의 헤드(42)들 각각의 하부에 대응하게 위치하도록 헤드 메인터넌스 유닛(200)을 이동시킬 수 있다. 이때, 액 받이 부(235)의 상단과 헤드(42)의 하면 사이의 간격은 1mm 이하일 수 있다. Figure 8 is a diagram showing free jetting by the head of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 8 , when performing a pre-jetting step on the head 42, the controller 80 can control the head unit 40 and the head maintenance unit 200. For example, when performing the free jetting step, the controller 80 may move the head maintenance unit 200 so that the liquid receiving block 230 is located below the head 42. For example, the controller 80 may move the head maintenance unit 200 so that each of the liquid receiving parts 235 of the liquid receiving block 230 is positioned correspondingly to the lower part of each of the plurality of heads 42. . At this time, the gap between the top of the liquid receiving portion 235 and the bottom of the head 42 may be 1 mm or less.

이후, 제어기(80)는 헤드 유닛(40)을 제어하여, 헤드(42)가 처리 액(I)을 액적 형태로 토출하도록 할 수 있다. 이때, 헤드(42)로부터 토출되는 액적 형태의 처리 액(I)의 볼륨은 6 피코리터(Pico Liter, PL) 이하일 수 있다.Thereafter, the controller 80 may control the head unit 40 to cause the head 42 to discharge the treatment liquid I in the form of droplets. At this time, the volume of the treatment liquid (I) in the form of droplets discharged from the head 42 may be 6 pico liter (PL) or less.

또한, 제어기(80)는 헤드 메인터넌스 유닛(200)을 제어하여, 헤드(42)가 처리 액(I)을 토출하기 전, 또는 그 후에 감압 밸브(242)가 온(On)되도록 헤드 메인터넌스 유닛(200)을 제어할 수 있다. 감압 밸브(242)가 온(On)되면 감압 라인(240)이 제공하는 감압은, 감압 유로(232), 그리고 연결 유로(237)를 거쳐 액 받이 공간(236)으로 전달될 수 있다. 이에, 헤드 유닛(40)이 토출하는 액적 형태의 처리 액(I)은 액 받이 공간(236)에 전달된 감압에 의해 액 받이 공간(236)으로 빨려 들어갈 수 있다. 이에, 액적 형태로 토출되는 처리 액(I)이 가지는 볼륨이 아주 작더라도, 처리 액(I)이 비산되는 문제점을 최소화 할 수 있다. 즉, 프리 제팅 단계에서 처리 액(I)이 비산되는 문제를 최소화 할 수 있어, 비산되는 처리 액(I)에 의해 기판 처리 장치(100), 예컨대 헤드 유닛(40)이 오염되는 것을 최소화 할 수 있다. 이에, 처리 되는 기판(S)이 헤드 유닛(40)에 부착될 수 있는 불순물에 의해 오염될 위험 또한 효과적으로 낮출 수 있다.In addition, the controller 80 controls the head maintenance unit 200 so that the pressure reducing valve 242 is turned on before or after the head 42 discharges the treatment liquid (I). 200) can be controlled. When the pressure reducing valve 242 is turned on, the reduced pressure provided by the pressure reducing line 240 may be transmitted to the liquid receiving space 236 through the pressure reducing flow path 232 and the connection flow path 237. Accordingly, the treatment liquid (I) in the form of droplets discharged by the head unit 40 may be sucked into the liquid receiving space 236 by the reduced pressure delivered to the liquid receiving space 236. Accordingly, even if the volume of the treatment liquid (I) discharged in the form of droplets is very small, the problem of the treatment liquid (I) scattering can be minimized. In other words, the problem of the processing liquid (I) scattering in the pre-jetting step can be minimized, and contamination of the substrate processing device 100, such as the head unit 40, by the scattering processing liquid (I) can be minimized. there is. Accordingly, the risk that the substrate S being processed will be contaminated by impurities that may adhere to the head unit 40 can also be effectively reduced.

도 9은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 액 받이 블록을 보여주는 도면이다. 도 9를 참조하면, 다른 실시 예에 따른 액 받이 블록(230)에 형성된 연결 유로(237) 각각에는 감압 유로(232)와 액 받이 공간(236)을 선택적으로 유체 연통시키는 연결 밸브(238)가 설치될 수 있다. 연결 밸브(238)는 온/오프 밸브이거나, 유량 조절 밸브일 수 있다. 연결 밸브(238)는 제어기(80)에 의해 온/오프 또는 개폐율이 조절될 수 있다. 예컨대, 제어기(80)는 감압 라인(240)과 인접한 연결 밸브(238)의 개폐율과 감압 라인(240)과 먼 연결 밸브(238)의 개폐율을 서로 다르게 할 수 있다. 예컨대, 감압 라인(240)과 인접한 연결 밸브(238)의 개방율은 감압 라인(240)과 먼 연결 밸브(238)의 개방율 보다 작을 수 있다. 즉, 감압 라인(240)이 연결되는 위치에 따라 액 받이 부(235)들 각각이 가지는 액 받이 공간(236)에 전달되는 감압의 크기가 서로 다를 수 있다. 그러나, 본 발명의 다른 실시 예에 의하면 연결 밸브(238)들의 개폐율을 서로 다르게 조절하여 액 받이 부(235) 각각이 가지는 액 받이 공간(236)에 전달되는 감압의 크기를 서로 동일하게 맞출 수 있다.Figure 9 is a diagram showing a liquid receiving block according to another embodiment of the present invention. Referring to FIG. 9, each of the connection passages 237 formed in the liquid receiving block 230 according to another embodiment has a connection valve 238 that selectively communicates fluidly between the pressure reducing passage 232 and the liquid receiving space 236. Can be installed. The connection valve 238 may be an on/off valve or a flow control valve. The connection valve 238 can be turned on/off or its opening/closing rate can be adjusted by the controller 80. For example, the controller 80 may make the opening/closing rates of the connection valve 238 adjacent to the pressure reduction line 240 different from the opening/closing rate of the connection valve 238 far from the pressure reduction line 240. For example, the opening rate of the connection valve 238 adjacent to the pressure reduction line 240 may be smaller than the opening rate of the connection valve 238 far from the pressure reduction line 240. That is, depending on the location where the pressure reduction line 240 is connected, the amount of reduced pressure delivered to the liquid receiving space 236 of each of the liquid receiving parts 235 may be different. However, according to another embodiment of the present invention, the opening and closing rates of the connection valves 238 can be adjusted differently to equalize the amount of reduced pressure delivered to the liquid receiving space 236 of each liquid receiving part 235. there is.

도 10은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 액 받이 블록을 보여주는 도면이다. 도 10을 참조하면, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 액 받이 블록(230)에는 액 받이 부재(290)가 설치될 수 있다. 액 받이 부재(290)는 헤드(42)가 토출하는 처리 액(I)을 흡수 할 수 있는 다공성 플레이트일 수 있다. 액 받이 부재(290)는, 중앙 영역의 상면(290a)의 높이가 가장자리 영역의 상면(290b) 높이와 서로 상이하도록 단차진 형상을 가질 수 있다. 예컨대, 액 받이 부재(290)의 중앙 영역의 상면(290a) 높이는 가장자리 영역의 상면(290b) 높이보다 높을 수 있다. 액 받이 부재(290)가 제공되는 경우, 액 받이 부재(290)의 가장자리 영역에는 처리 액(I)이 맺히는 현상이 발생될 수 있다. 액 받이 부재(290)의 가장자리 영역에 처리 액(I)이 맺히게 되면, 처리 액(I)은 헤드(42)의 하면에 전달될 수 있다. 이에, 액 받이 부재(290)의 가장자리 영역의 상면(290b) 높이가 낮게 제공되어, 처리 액(I) 맺힘에 의한 헤드(42)의 오염을 최소화 할 수 있다. 또한, 액 받이 부재(290)가 다공성 플레이트로 제공됨에 따라, 액 받이 공간(236)에 전달된 감압은 액 받이 부재(290)를 통해 헤드(42)의 하면에 전달될 수 있다.Figure 10 is a diagram showing a liquid receiving block according to another embodiment of the present invention. Referring to FIG. 10, a liquid receiving member 290 may be installed in the liquid receiving block 230 according to another embodiment of the present invention. The liquid receiving member 290 may be a porous plate capable of absorbing the treatment liquid (I) discharged by the head 42. The liquid receiving member 290 may have a stepped shape so that the height of the upper surface 290a in the central area is different from the height of the upper surface 290b in the edge area. For example, the height of the upper surface 290a of the central area of the liquid receiving member 290 may be higher than the height of the upper surface 290b of the edge area. When the liquid receiving member 290 is provided, the processing liquid I may form at the edge area of the liquid receiving member 290. When the treatment liquid (I) forms on the edge area of the liquid receiving member 290, the treatment liquid (I) may be delivered to the lower surface of the head 42. Accordingly, the height of the upper surface 290b of the edge area of the liquid receiving member 290 is provided low, so that contamination of the head 42 due to the treatment liquid I can be minimized. Additionally, as the liquid receiving member 290 is provided as a porous plate, the reduced pressure transmitted to the liquid receiving space 236 may be transmitted to the lower surface of the head 42 through the liquid receiving member 290.

도 11은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 헤드 메인터넌스 유닛을 보여주는 도면이다. 도 11을 참조하면, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 헤드 메인터넌스 유닛(200)은 헤드 세정 모듈(270)을 더 포함할 수 있다. 헤드 세정 모듈(270)은 프레임(272)과 헤드 세정 바(274)를 포함할 수 있다. 헤드 세정 바(274)는 헤드(42)에 부착된 처리 액(I)을 닦아 낼 수 있다. 헤드 세정 바(274)는 회전 가능하게 제공될 수 있다. 헤드 세정 바(274)는 상부가 개방된 프레임(272) 내에 제공될 수 있다.Figure 11 is a diagram showing a head maintenance unit according to another embodiment of the present invention. Referring to FIG. 11, the head maintenance unit 200 according to another embodiment of the present invention may further include a head cleaning module 270. The head cleaning module 270 may include a frame 272 and a head cleaning bar 274. The head cleaning bar 274 can wipe off the treatment liquid (I) attached to the head 42. The head cleaning bar 274 may be rotatably provided. The head cleaning bar 274 may be provided within a frame 272 with an open top.

상술한 예에서는, 액 받이 블록(230)이 헤드 유닛(40)의 프리 제팅 단계에 사용되는 것을 예로 들어 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 액 받이 블록(230)은 헤드 유닛(40)이 미세한 볼륨을 가지는 처리 액(I)을 토출하는 다양한 처리 단계, 메인터넌스 단계에 동일 또는 유사하게 사용될 수 있다.In the above example, the liquid receiving block 230 is used in the pre-jetting step of the head unit 40 as an example, but it is not limited thereto. For example, the liquid receiving block 230 may be used in the same or similar manner in various processing steps and maintenance steps in which the head unit 40 discharges the processing liquid (I) having a fine volume.

이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하는 것이다. 또한 전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시 형태를 나타내어 설명하는 것이며, 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있다. 즉 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 저술한 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 구현하기 위한 최선의 상태를 설명하는 것이며, 본 발명의 구체적인 적용 분야 및 용도에서 요구되는 다양한 변경도 가능하다. 따라서 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.The above detailed description is illustrative of the present invention. Additionally, the foregoing is intended to illustrate preferred embodiments of the present invention, and the present invention can be used in various other combinations, modifications, and environments. That is, changes or modifications are possible within the scope of the inventive concept disclosed in this specification, the scope equivalent to the written disclosure, and/or the technology or knowledge in the art. The written examples illustrate the best state for implementing the technical idea of the present invention, and various changes required for specific application fields and uses of the present invention are also possible. Accordingly, the detailed description of the invention above is not intended to limit the invention to the disclosed embodiments. Additionally, the appended claims should be construed to include other embodiments as well.

잉크젯 장치 : 1
헤드 유닛 : 2
헤드 프레임 : 3
헤드 : 4
헤드 인터페이스 보드 : 5
헤드 메인터넌스 부재 : 6
지지 프레임 : 7
액 받이 플레이트 : 8
헤드 메인터넌스 유닛 : 200
퍼징 배스 : 210
액 수용 부 : 211
지지 프레임 : 212
지지 플레이트 : 213
액 받이 블록 : 230
감압 유로 : 232
결합 구 : 234
액 받이 부 : 235
측 면 : 235a
경사 면 : 235b
액 받이 공간 : 236
연결 유로 : 237
연결 밸브 : 238
감압 라인 : 240
감압 밸브 : 242
흡입 세정 모듈 : 250
바디 : 251
흡입 구 : 253
흡입 라인 : 260
흡입 밸브 : 262
헤드 세정 모듈 : 270
프레임 : 272
헤드 세정 바 : 274
액 받이 부재 : 290
Inkjet device: 1
Head Unit: 2
Head frame: 3
Heads: 4
Head interface board: 5
Absence of head maintenance: 6
Support frame: 7
Liquid receiving plate: 8
Head maintenance unit: 200
Purging Bath: 210
Liquid receiving part: 211
Support frame: 212
Support plate: 213
Liquid receiving block: 230
Decompression flow path: 232
Combining phrases: 234
Liquid receiver part: 235
Side: 235a
Slope: 235b
Liquid receiving space: 236
Connection Euro: 237
Connection valve: 238
Pressure relief line: 240
Pressure reducing valve: 242
Suction cleaning module: 250
Body: 251
Intake port: 253
Suction line: 260
Intake valve: 262
Head cleaning module: 270
Frame: 272
Head cleaning bar: 274
Liquid receiver member: 290

Claims (20)

삭제delete 기판을 처리하는 장치에 있어서,
기판으로 처리 액을 토출하는 적어도 하나 이상의 노즐이 형성된 헤드를 포함하는 헤드 유닛; 및
상기 헤드에 대한 메인터넌스를 수행하는 헤드 메인터넌스 유닛을 포함하고,
상기 헤드 메인터넌스 유닛은,
상부가 개방된 액 받이 공간을 가지는 적어도 하나 이상의 액 받이 부가 형성된 액 받이 블록;
상기 액 받이 공간과 유체 연통하며, 상기 액 받이 공간에 감압을 제공하는 감압 라인; 및
상기 감압 라인에 설치되는 감압 밸브를 포함하고,
상기 액 받이 블록은,
상기 감압 라인과 연결되고, 상기 액 받이 공간과 유체 연통하는 감압 유로를 포함하는 기판 처리 장치.
In a device for processing a substrate,
A head unit including a head provided with at least one nozzle for discharging a processing liquid to a substrate; and
Includes a head maintenance unit that performs maintenance on the head,
The head maintenance unit is,
A liquid receiving block formed with at least one liquid receiving part having an open upper liquid receiving space;
a pressure reducing line in fluid communication with the liquid receiving space and providing reduced pressure to the liquid receiving space; and
Including a pressure reducing valve installed in the pressure reducing line,
The liquid receiving block is,
A substrate processing device comprising a pressure reduction flow path connected to the pressure reduction line and in fluid communication with the liquid receiving space.
제2항에 있어서,
상기 액 받이 블록은,
상기 감압 유로, 그리고 상기 액 받이 공간 사이에 형성되는 연결 유로를 더 포함하는 기판 처리 장치.
According to paragraph 2,
The liquid receiving block is,
A substrate processing apparatus further comprising a connection flow path formed between the pressure reduction flow path and the liquid receiving space.
제3항에 있어서,
상기 연결 유로에는,
상기 감압 유로와 상기 액 받이 공간을 선택적으로 유체 연통시키는 연결 밸브가 설치되는 기판 처리 장치.
According to paragraph 3,
In the connection flow path,
A substrate processing device wherein a connection valve is installed to selectively communicate fluidly between the pressure reduction passage and the liquid receiving space.
제2항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 헤드는,
복수로 제공되고,
상기 액 받이 부는,
상기 헤드가 제공되는 숫자와 동일한 수로 제공되는 기판 처리 장치.
According to any one of claims 2 to 4,
The head is,
Provided in plural,
The above liquid collector blowing,
A substrate processing device provided in the same number as the number of heads provided.
제2항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 헤드, 그리고 상기 액 받이 부는 복수로 제공되고,
상기 액 받이 부는,
상기 헤드가 배열되는 방향을 따라 상기 액 받이 블록에 형성되는 기판 처리 장치.
According to any one of claims 2 to 4,
The head and the liquid receiver are provided in plural numbers,
The above liquid receiver blowing,
A substrate processing device formed on the liquid receiving block along the direction in which the head is arranged.
제2항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 장치는,
제어기를 더 포함하고,
상기 제어기는,
상기 헤드와 연결된 배관에 가스를 공급하여 상기 헤드를 퍼징하는 퍼징 단계; 그리고
상기 메인터넌스 유닛으로 상기 처리 액을 액적 형태로 토출하는 프리 제팅 단계 중 적어도 어느 하나를 수행하도록 상기 헤드 유닛을 제어하는 기판 처리 장치.
According to any one of claims 2 to 4,
The device is,
further comprising a controller,
The controller is,
A purging step of purging the head by supplying gas to a pipe connected to the head; and
A substrate processing device that controls the head unit to perform at least one of a pre-jetting step of discharging the processing liquid in the form of droplets to the maintenance unit.
제7항에 있어서,
상기 제어기는,
상기 프리 제팅 단계를 수행하는 경우, 상기 액 받이 블록이 상기 헤드의 하부에 위치되고, 상기 헤드가 상기 처리 액을 액적 형태을 토출시 상기 감압 밸브를 온(On)하도록 상기 헤드 유닛, 그리고 상기 헤드 메인터넌스 유닛을 제어하는 기판 처리 장치.
In clause 7,
The controller is,
When performing the pre-jetting step, the liquid receiving block is located at the bottom of the head, the head unit turns on the pressure reducing valve when the head discharges the treatment liquid in the form of droplets, and the head maintenance unit A substrate processing device that controls the unit.
제2항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 액 받이 부는,
단면에서 바라볼 때, 상하 방향을 따라 연장되는 측 면; 및
상기 측 면으로부터 하향 경사진 방향으로 연장되는 경사 면을 포함하는 기판 처리 장치.
According to any one of claims 2 to 4,
The above liquid collector blowing,
When viewed in cross section, a side extending along an upward and downward direction; and
A substrate processing device comprising an inclined surface extending in a downwardly inclined direction from the side surface.
삭제delete 잉크를 토출하여 기판을 처리하는 장치가 포함하며, 상기 잉크를 토출하는 헤드에 대한 메인터넌스를 수행하는 헤드 메인터넌스 유닛에 있어서,
상부가 개방된 액 받이 공간을 가지는 적어도 하나 이상의 액 받이 부를 포함하는 액 받이 블록;
상기 액 받이 공간과 유체 연통하며, 상기 액 받이 공간에 감압을 제공하는 감압 라인; 및
상기 감압 라인에 설치되는 감압 밸브를 포함하고,
상기 액 받이 블록은,
상기 감압 라인과 연결되고, 상기 액 받이 공간과 유체 연통하는 감압 유로를 포함하는 헤드 메인터넌스 유닛.
In the head maintenance unit, which includes a device for discharging ink and processing a substrate, and performing maintenance on the head discharging the ink,
a liquid receiving block including at least one liquid receiving unit having an open upper liquid receiving space;
a pressure reducing line in fluid communication with the liquid receiving space and providing reduced pressure to the liquid receiving space; and
Including a pressure reducing valve installed in the pressure reducing line,
The liquid receiving block is,
A head maintenance unit connected to the pressure reduction line and including a pressure reduction flow path in fluid communication with the liquid receiving space.
제11항에 있어서,
상기 액 받이 블록은,
상기 감압 유로, 그리고 상기 액 받이 공간 사이에 형성되는 연결 유로를 더 포함하는 헤드 메인터넌스 유닛.
According to clause 11,
The liquid receiving block is,
A head maintenance unit further comprising a connection flow path formed between the pressure reducing flow path and the liquid receiving space.
제12항에 있어서,
상기 연결 유로에는,
상기 감압 유로와 상기 액 받이 공간을 선택적으로 유체 연통시키는 연결 밸브가 설치되는 헤드 메인터넌스 유닛.
According to clause 12,
In the connection flow path,
A head maintenance unit equipped with a connection valve that selectively communicates fluidly between the pressure reducing passage and the liquid receiving space.
제11항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 액 받이 부는,
복수의 상기 헤드가 배열되는 방향을 따라 상기 액 받이 블록에 형성되는 헤드 메인터넌스 유닛.
According to any one of claims 11 to 13,
The above liquid collector blowing,
A head maintenance unit formed on the liquid receiving block along the direction in which the plurality of heads are arranged.
제11항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 액 받이 부는,
단면에서 바라볼 때, 상하 방향을 따라 연장되는 측 면; 및
상기 측 면으로부터 하향 경사진 방향으로 연장되는 경사 면을 포함하는 헤드 메인터넌스 유닛.
According to any one of claims 11 to 13,
The above liquid collector blowing,
When viewed in cross section, a side extending along an upward and downward direction; and
A head maintenance unit including an inclined surface extending in a downwardly inclined direction from the side surface.
삭제delete 잉크를 토출하여 기판을 처리하는 장치에 있어서,
기판으로 잉크를 액적 형태로 토출하는 노즐이 형성된 적어도 하나 이상의 헤드를 포함하는 헤드 유닛;
상기 헤드가 상기 기판으로 상기 잉크를 토출하여 상기 기판에 대한 프린팅 공정이 수행되는 프린팅 영역;
상부에서 바라볼 때, 상기 프린팅 영역과 나란히 배치되며 상기 헤드에 대한 메인터넌스가 수행되는 메인터넌스 영역;
상기 헤드 유닛이 상기 프린팅 영역, 그리고 상기 메인터넌스 영역 사이에서 왕복 이동할 수 있도록 구비되는 겐트리; 및
상기 메인터넌스 영역에 설치되며, 상기 프린팅 영역에서 상기 기판의 이동 방향과 평행한 방향으로 이동 가능하게 구성되고, 상기 헤드에 대한 메인터넌스를 수행하는 헤드 메인터넌스 유닛을 포함하고,
상기 헤드 메인터넌스 유닛은,
상부가 개방된 액 받이 공간을 가지는 적어도 하나 이상의 액 받이 부를 포함하는 액 받이 블록;
상기 액 받이 공간과 유체 연통하며, 상기 액 받이 공간에 감압을 제공하는 감압 라인; 및
상기 감압 라인에 설치되는 감압 밸브를 포함하고,
상기 액 받이 블록은,
상기 감압 라인과 연결되고, 상기 액 받이 공간과 유체 연통하는 감압 유로를 포함하는 기판 처리 장치.
In a device for discharging ink to process a substrate,
A head unit including at least one head equipped with a nozzle that discharges ink in the form of droplets onto the substrate;
a printing area where the head discharges the ink onto the substrate to perform a printing process on the substrate;
When viewed from the top, a maintenance area is disposed in line with the printing area and performs maintenance on the head;
a gantry provided to enable the head unit to move back and forth between the printing area and the maintenance area; and
A head maintenance unit installed in the maintenance area, configured to be movable in a direction parallel to the movement direction of the substrate in the printing area, and performing maintenance on the head,
The head maintenance unit is,
a liquid receiving block including at least one liquid receiving unit having an open upper liquid receiving space;
a pressure reducing line in fluid communication with the liquid receiving space and providing reduced pressure to the liquid receiving space; and
Including a pressure reducing valve installed in the pressure reducing line,
The liquid receiving block is,
A substrate processing device comprising a pressure reduction flow path connected to the pressure reduction line and in fluid communication with the liquid receiving space.
제17항에 있어서,
상기 액 받이 부는,
단면에서 바라볼 때, 상하 방향을 따라 연장되는 측 면; 및
상기 측 면으로부터 하향 경사진 방향으로 연장되는 경사 면을 포함하는 기판 처리 장치.
According to clause 17,
The above liquid collector blowing,
When viewed in cross section, a side extending along an upward and downward direction; and
A substrate processing device comprising an inclined surface extending in a downwardly inclined direction from the side surface.
제17항 및 제18항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 장치는,
제어기를 더 포함하고,
상기 제어기는,
상기 헤드와 연결된 배관에 가스를 공급하여 상기 헤드를 퍼징하는 퍼징 단계; 그리고
상기 메인터넌스 유닛으로 상기 잉크를 액적 형태로 토출하는 프리 제팅 단계 중 적어도 어느 하나를 수행하도록 상기 헤드 유닛을 제어하는 기판 처리 장치.
According to any one of claims 17 and 18,
The device is,
further comprising a controller,
The controller is,
A purging step of purging the head by supplying gas to a pipe connected to the head; and
A substrate processing device that controls the head unit to perform at least one of a pre-jetting step of discharging the ink in the form of droplets to the maintenance unit.
제19항에 있어서,
상기 제어기는,
상기 프리 제팅 단계를 수행하는 경우, 상기 액 받이 블록이 상기 헤드의 하부에 위치되고, 상기 헤드가 상기 잉크를 액적 형태을 토출시 상기 감압 밸브를 온(On)하도록 상기 헤드 유닛, 그리고 상기 헤드 메인터넌스 유닛을 제어하는 기판 처리 장치.
According to clause 19,
The controller is,
When performing the pre-jetting step, the liquid receiving block is located below the head, and the head unit turns on the pressure reducing valve when the head discharges the ink in the form of droplets, and the head maintenance unit. A substrate processing device that controls .
KR1020200155336A 2020-11-19 2020-11-19 Head maintenance unit and apparatus for treating substrate KR102675745B1 (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200155336A KR102675745B1 (en) 2020-11-19 Head maintenance unit and apparatus for treating substrate
CN202111337342.9A CN114536982A (en) 2020-11-19 2021-11-12 Head maintenance unit and apparatus for processing substrate
US17/529,323 US20220153030A1 (en) 2020-11-19 2021-11-18 Head maintenance unit and apparatus for treating substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200155336A KR102675745B1 (en) 2020-11-19 Head maintenance unit and apparatus for treating substrate

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20220069147A KR20220069147A (en) 2022-05-27
KR102675745B1 true KR102675745B1 (en) 2024-06-19

Family

ID=

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004122480A (en) * 2002-09-30 2004-04-22 Seiko Epson Corp Method and device for maintaining functional liquid-drop ejection head, liquid-drop ejector, process for manufacturing electro-optical device, electro-optical device, electronic device
JP2004181837A (en) * 2002-12-04 2004-07-02 Seiko Epson Corp Liquid drop ejector, liquid drop ejecting system, electrooptical device, manufacturing method for electrooptical device, and electronic equipment

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004122480A (en) * 2002-09-30 2004-04-22 Seiko Epson Corp Method and device for maintaining functional liquid-drop ejection head, liquid-drop ejector, process for manufacturing electro-optical device, electro-optical device, electronic device
JP2004181837A (en) * 2002-12-04 2004-07-02 Seiko Epson Corp Liquid drop ejector, liquid drop ejecting system, electrooptical device, manufacturing method for electrooptical device, and electronic equipment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4564454B2 (en) Coating method, coating apparatus, and coating program
KR20100053518A (en) Single phase proximity head having a controlled meniscus for treating a substrate
EP2357085A1 (en) Liquid jet head, liquid jet recorder and method for filling liquid jet head with liquid
KR102675745B1 (en) Head maintenance unit and apparatus for treating substrate
JP4290075B2 (en) Substrate holding chuck cleaning / drying apparatus and substrate holding chuck cleaning / drying method
EP2380743A1 (en) Liquid jetting head, liquid jetting recording apparatus, and method for filling liquid jetting head with liquid
KR102188024B1 (en) Air vent system
JP2007229609A (en) Droplet spray apparatus and method of manufacturing coated body
KR20220069147A (en) Head maintenance unit and apparatus for treating substrate
JP5470919B2 (en) Suction device and droplet discharge device equipped with the same
JP2010181504A (en) Liquid-suctioning tank and droplet discharge device provided with the same
JP2007196094A (en) Treatment liquid supply unit and substrate treatment apparatus equipped with the same
KR102667087B1 (en) Cleaning unit, substrate processing apparatus including same, and head cleaning method
KR20180089863A (en) Coating device and coating method
KR102663111B1 (en) Substrate processing apparatus, and method of controlling the substrate processing apparatus
KR101884852B1 (en) Chemical nozzle and apparatus for treating substrate
KR20230102514A (en) Cleaning unit and substrate processing apparatus including same
KR102650047B1 (en) Unit for supplying substrate treating liquid and apparatus for treating substrate including the same
US20210001634A1 (en) Ink tank for liquid chemical discharging apparatus and liquid chemical discharging apparatus including the same
KR20230060725A (en) Substrate treating liquid draining module and substrate treating apparatus including the same
KR20230030401A (en) Foreign substance treating module and substrate treating apparatus including the same
JP2006075772A (en) Flushing unit and drop discharger equipped with the same, and manufacturing method of electrooptic device, electrooptic device, and electronic equipment
JP5169550B2 (en) Suction device control method, suction device, and droplet discharge device
KR20240066088A (en) Droplet discharging system, droplet discharging method and droplet discharging apparatus
KR20230030415A (en) Process treating unit and substrate treating apparatus including the same