KR102667646B1 - 애벌란시 포토다이오드(apd) 사각을 완화하기 위한 시스템들 및 방법들 - Google Patents

애벌란시 포토다이오드(apd) 사각을 완화하기 위한 시스템들 및 방법들 Download PDF

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로저 쥘리엉 핀토
칸케 가오
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Abstract

애벌란시 포토다이오드(APD) 사각을 완화시키고 다중 복귀 광 신호의 검출에서 개선된 정확도를 허용하는 시스템들 및 방법들이 본 명세서에 설명된다. 사각 지대는 1차 APD의 포화로 인해 발생할 수 있다. 시스템들 및 방법들은 중복 APD의 포함 및 시간 다이버시티, 및 공간 다이버시티의 이용을 포함한다. APD들에 의한 검출은 바이어스 신호에 의해 활성화된다. 중복 APD는 1차 APD와 비교하여 시간 지연 바이어스 신호를 수신한다. 추가적으로, 중복 APD는 중복 APD의 출력을 감쇠시키기 위해 주 초점면으로부터 떨어져 위치된다. 감쇠에 의해, 중복 APD는 포화되지 않을 수 있고 1차 APD의 사각 지대 동안에 성공적인 검출을 가질 수 있다. 실시예들은 다수의 1차 APD들 및 다수의 2차 APD들을 포함할 수 있다.

Description

애벌란시 포토다이오드(APD) 사각을 완화하기 위한 시스템들 및 방법들
관련 특허 출원들에 대한 상호 참조
본 특허 출원은 2018년 2월 15일자로 출원된, 발명의 명칭이 "애벌란시 포토다이오드(APD) 사각을 완화하기 위한 시스템들 및 방법들(SYSTEMS AND METHODS FOR MITIGATING AVALANCHE PHOTODIODE (APD) BLINDING)"인, 발명자들로 키란 쿠마르 군남, 니틴쿠마르 사가르바이 바롯, 라제쉬 라마링감 바라하라잔, 로저 쥘리엉 핀토, 칸케 가오를 열거하는, 공동으로 소유된 미국 특허 출원 제15/898,132호(사건번호 20151-2161)를 우선권으로 주장하고, 이 특허 문서는 본 명세서에 그 전체가 모든 목적들로 참조로 포함된다.
기술 분야
본 개시내용은 일반적으로 애벌란시 포토다이오드(APD)를 위한 시스템들 및 방법들에 관한 것이며, 보다 구체적으로는 광 검출 및 레인징 시스템(LIDAR)과 같은 광 검출 애플리케이션들에서 이용되는 APD들에 대한 것이다.
배경 기술
LIDAR 시스템과 같은 광 검출 및 레인징 시스템에서, 복귀 신호 내의 다수의 피크들이 서로 시간적으로 근접하여 수신될 수 있다. LIDAR 시스템들의 포토다이오드들이 포화할 수 있고 역방향 바이어스 애벌란시 복구 현상들을 나타낼 수 있기 때문에, APD 검출에서 사각 지대(blinding spot)가 발생할 수 있다. 사각 지대는 다중 복귀 광 신호(multi-return light signal)에서 피크들을 검출하기 위한 LIDAR 시스템의 능력을 제한할 수 있다. 이러한 상황에서, APD는 광에 민감하지 않을 수 있고 APD가 포화로부터 복구될 때까지 다중 복귀 광 신호에서 피크를 검출하지 못 할 수 있다.
따라서, APD 사각을 완화시키고 다중 복귀 광 신호들의 정확한 검출을 허용하는 시스템들 및 방법들이 필요하다.
참조들은 본 발명의 실시예들에 대해 이루어질 것이고, 그 예들은 첨부 도면들에 예시될 수 있다. 이들 도면들은 제한적인 것이 아니라 예시적인 것으로 의도된다. 본 발명은 일반적으로 이러한 실시예들의 맥락에서 설명되지만, 본 발명의 범위를 이러한 특정한 실시예들로 제한하려는 의도는 아니라는 점이 이해되어야 한다. 도면들에서의 항목들은 축척에 맞지 않는다.
도 1은 본 문서의 실시예들에 따른 광 검출 및 레인징 시스템의 동작을 도시한다.
도 2는 본 문서의 실시예들에 따른 광 검출 및 레인징 시스템 및 다중 복귀 광 신호들의 동작을 예시한다.
도 3은 본 문서의 실시예들에 따른 회전 거울을 갖는 LIDAR 시스템을 도시한다.
도 4a는 본 문서의 실시예들에 따른 포토다이오드의 전류-전압 특성들을 그래픽으로 예시한다.
도 4b는 본 문서의 실시예들에 따른 사각 지대 상의 크기를 그래픽으로 예시한다.
도 5는 본 문서의 실시예들에 따른 사각 지대를 포함하는 검출된 다중 복귀 광 신호를 그래픽으로 예시한다.
도 6은 본 문서의 실시예들에 따른 중복 APD를 갖는 광 검출기를 도시한다.
도 7a, 7b, 7c는 본 문서의 실시예들에 따른 중복 APD를 갖는 광 검출기의 동작에 대한 파형들을 그래픽으로 예시한다.
도 8은 본 문서의 실시예들에 따른 중복 APD를 갖는 광 검출기를 이용하는 다중 복귀 광 신호들을 검출하기 위한 흐름도를 도시한다.
도 9는 본 문서의 실시예들에 따른 컴퓨팅 디바이스/정보 처리 시스템의 간략화된 블록도를 도시한다.
다음의 설명에서, 설명의 목적들로, 본 발명의 이해를 제공하기 위해 특정 상세들이 제시된다. 그러나, 본 발명은 이러한 상세들 없이 실시될 수 있다는 것이 본 기술분야의 통상의 기술자에게 명백할 것이다. 또한, 본 기술분야의 통상의 기술자는 아래에 설명되는 본 발명의 실시예들이 프로세스, 장치, 시스템, 디바이스, 또는 유형의 컴퓨터 판독가능 매체 상의 방법과 같은, 다양한 방식들로 구현될 수 있다는 것을 인식할 것이다.
도면들에 도시된 컴포넌트들 또는 모듈들은 본 발명의 예시적인 실시예들을 예시하고 본 발명을 모호하게 하는 것을 회피하는 것으로 의도된다. 본 논의 전체에 걸쳐 컴포넌트들은 서브 유닛들을 포함할 수 있는 별도의 기능 유닛들로서 설명될 수 있지만, 본 기술분야의 통상의 기술자들은 다양한 컴포넌트들 또는 그것의 부분들이 별개의 컴포넌트들로 분할될 수 있거나 단일 시스템 또는 컴포넌트 내에 통합되는 것을 포함하여 함께 통합될 수 있다는 것을 인식할 것이라는 점도 이해될 것이다. 본 명세서에서 논의된 기능들 또는 동작들은 컴포넌트들로서 구현될 수 있다는 점에 유의해야 한다. 컴포넌트들은 소프트웨어, 하드웨어, 또는 그것의 조합으로 구현될 수 있다.
더욱이, 도면들 내의 컴포넌트들 또는 시스템들 사이의 접속들은 직접 접속들로 제한되도록 의도되지 않는다. 오히려, 이들 컴포넌트들 사이의 데이터는 수정되거나, 재포맷되거나, 그렇지 않으면 중간 컴포넌트들에 의해 변경될 수 있다. 또한, 추가적인 또는 더 적은 접속들이 사용될 수 있다. 또한, 용어들 "결합된", "접속된", 또는 "통신가능하게 결합된"은 직접 접속들, 하나 이상의 중간 디바이스를 통한 간접 접속들, 및 무선 접속들을 포함하는 것으로 이해되어야 한다는 점에 유의해야 한다.
본 명세서에서 "일 실시예", "바람직한 실시예", "실시예", 또는 "실시예들"에 대한 참조는 실시예와 관련하여 설명된 특정한 특징, 구조, 특성, 또는 기능이 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되고 하나보다 많은 실시예에 있을 수 있다는 것을 의미한다. 또한, 본 명세서의 다양한 곳들에서 위에 언급된 문구들의 출현들은 반드시 모두 동일한 실시예 또는 실시예들을 언급하는 것은 아니다.
명세서에서의 다양한 곳들에서의 특정 용어들의 사용은 예시를 위한 것이고 제한적인 것으로 해석되어서는 안 된다. 서비스, 기능, 또는 리소스는 단일 서비스, 기능, 또는 리소스로 제한되지 않고; 이러한 용어들의 사용은 분산되거나 집합될 수 있는 관련 서비스들, 기능들, 또는 리소스들의 그룹화를 언급할 수 있다.
용어들 "포함하다(include)", "포함하는(including)", "포함하다(comprise)", 및 "포함하는(comprising)"은 개방적 용어들인 것으로 이해되어야 하고 다음의 임의의 리스트들은 예시들이며 열거된 항목들로 제한되는 것을 의미하지 않는다. 본 명세서에서 사용되는 임의의 제목들은 단지 조직적 목적들을 위한 것이며 설명 또는 청구항들의 범위를 제한하기 위해 사용되지 않을 것이다. 본 특허 문서에서 언급된 각각의 참조는 그 전체가 본 명세서에 참조로 포함된다.
더욱이, 본 기술분야의 통상의 기술자는, (1) 특정 단계들이 임의적으로(optionally) 수행될 수 있고; (2) 단계들이 본 명세서에 제시된 특정 순서로 제한되지 않을 수 있고; (3) 특정 단계들이 상이한 순서들로 수행될 수 있고; (4) 특정 단계들이 동시에 수행될 수 있다는 것을 인식할 것이다.
A. 광 검출 및 레인징 시스템
LIDAR 시스템과 같은 광 검출 및 레인징 시스템은 시스템을 둘러싸는 환경의 형상 및 윤곽을 측정하는 도구일 수 있다. LIDAR 시스템들은 자율 주행 및 표면의 항공 매핑 둘 다를 포함하는 다수의 애플리케이션들에 적용될 수 있다. LIDAR 시스템들은 시스템이 동작하는 환경 내에서 물체로부터 후속하여 반사되는 광 펄스를 방출한다. 물체는 "반사체"로 간주될 수 있다. 물체와 LIDAR 시스템 사이의 거리를 결정하기 위해, 각각의 펄스가 방출되는 것으로부터 수신되는 것으로 이동하는 시간(즉, 비행 시간 "TOF")이 측정될 수 있다. 과학은 광의 물리학 및 광학에 기초한다.
LIDAR 시스템에서, 광은 급속 점화 레이저(rapidly firing laser)로부터 방출될 수 있다. 레이저 광은 매체를 통해 이동하고 건물들, 나무 가지들 및 차량들과 같은 환경에서 사물들의 포인트들로부터 반사한다. 반사된 광 에너지는 LIDAR 수신기(검출기)로 되돌아가며 여기서 이것은 환경을 매핑하기 위해 기록되고 사용된다.
도 1은 본 문서의 실시예들에 따른 광 검출 및 레인징 컴포넌트들(102) 및 데이터 분석 및 해석(109)의 동작(100)을 도시한다. 광 검출 및 레인징 컴포넌트들(102)은 방출된 광 신호(110)를 전송하는 전송기(104), 검출기를 포함하는 수신기(106), 및 시스템 제어 및 데이터 취득(108)을 포함할 수 있다. 방출된 광 신호(110)는 매질을 통해 전파되고 물체(112)로부터 반사된다. 복귀 광 신호(114)는 매질을 통해 전파되고 수신기(106)에 의해 수신된다. 시스템 제어 및 데이터 취득(108)은 전송기(104)에 의한 광 방출을 제어할 수 있고, 데이터 취득은 수신기(106)에 의해 검출된 복귀 광 신호(114)를 기록할 수 있다. 데이터 분석 및 해석(109)은 시스템 제어 및 데이터 취득(108)으로부터 접속(116)을 통해 출력을 수신하고 데이터 분석 기능들을 수행할 수 있다. 접속(116)은 접촉 또는 비접촉 통신 방법으로 구현될 수 있다. 전송기(104) 및 수신기(106)는 광학 렌즈(도시되지 않음)를 포함할 수 있다. 전송기(104)는 복수의 펄스들을 갖는 레이저 빔을 특정한 시퀀스로 방출할 수 있다. 일부 실시예들에서, 광 검출 및 레인징 컴포넌트들(102) 및 데이터 분석 및 해석(109)은 LIDAR 시스템을 포함한다.
도 2는 본 문서의 실시예들에 따른 다중 복귀 광 신호들: (1) 복귀 신호(203) 및 (2) 복귀 신호(205)를 포함하는 광 검출 및 레인징 시스템(202)의 동작(200)을 예시한다. 광 검출 및 레인징 시스템(202)은 LIDAR 시스템일 수 있다. 레이저의 빔 발산으로 인해, 단일 레이저 점화는 다수의 복귀들을 생성하는 다수의 물체들과 종종 부딪친다. 광 검출 및 레인징 시스템(202)은 다수의 복귀들을 분석할 수 있고 가장 강한 복귀, 마지막 복귀 중 어느 하나, 또는 복귀들 둘 다를 보고할 수 있다. 도 2에 의해, 광 검출 및 레인징 시스템(202)은 근거리 벽(204) 및 원거리 벽(208)의 방향으로 레이저를 방출한다. 예시된 바와 같이, 빔의 대부분은 영역(206)에서 근거리 벽(204)에 부딪쳐서 복귀 신호(203)를 초래하며, 빔의 또 다른 부분은 영역(210)에서 원거리 벽(208)에 부딪쳐서 복귀 신호(205)를 초래한다. 복귀 신호(203)는 복귀 신호(205)와 비교하여 더 짧은 TOF 및 더 강한 수신 신호 강도를 가질 수 있다. 광 검출 및 레인징 시스템(202)은 두 물체들 사이의 거리가 최소 거리보다 큰 경우에만 복귀들 둘 다를 기록할 수 있다. 단일 및 다중 복귀 LIDAR 시스템들 둘 다에서, 정확한 TOF가 계산되도록 복귀 신호는 전송된 광 신호와 정확하게 연관되는 것이 중요하다.
LIDAR 시스템의 일부 실시예들은 2-D(즉, 단일 평면) 포인트 클라우드 방식으로 거리 데이터를 캡처할 수 있다. 이러한 LIDAR 시스템들은 산업 응용들에서 종종 사용될 수 있고 종종 조사, 매핑, 자율 주행, 및 다른 사용들을 위해 용도 변경될 수 있다. 이러한 디바이스들의 일부 실시예들은 적어도 하나의 평면을 가로질러 스캐닝을 시행하기 위해 일부 타입의 이동 거울과 결합된 단일 레이저 방출기/검출기 쌍의 사용에 의존한다. 이 거울은 다이오드로부터 방출된 광을 반사할뿐만 아니라, 복귀 광을 검출기에 반사시킬 수도 있다. 본 출원에서 회전 거울의 사용은 시스템 설계 및 제조성 둘 다를 단순화하면서 90-180-360도의 방위각을 달성하는 수단일 수 있다.
도 3은 본 문서의 실시예들에 따른 회전 거울을 갖는 LIDAR 시스템(300)을 도시한다. LIDAR 시스템(300)은 평면을 가로질러 효과적으로 스캔하기 위해 회전 거울과 결합된 단일 레이저 방출기/검출기를 이용한다. 이러한 시스템에 의해 수행되는 거리 측정들은 사실상 2차원(즉, 평면)이고, 캡처된 거리 포인트들은 2-D(즉, 단일 평면) 포인트 클라우드로서 렌더링된다. 일부 실시예들에서, 제한들 없이, 회전 거울들은 매우 빠른 속도들로, 예를 들어 분당 수천 회전수들로 회전된다. 회전 거울은 또한 스피닝 거울로서 언급될 수 있다.
LIDAR 시스템(300)은 단일 광 방출기 및 광 검출기를 포함하는 레이저 전자 장치(302)를 포함한다. 방출된 레이저 신호(301)는 방출된 레이저 신호(301)를 회전 거울(306)로 반사하는 고정 거울(304)로 지향될 수 있다. 회전 거울(306)이 "회전"하면, 방출된 레이저 신호(301)는 그 전파 경로에 있는 물체(308)로부터 반사될 수 있다. 반사된 신호(303)는 회전 거울(306) 및 고정 거울(304)을 통해 레이저 전자장치(302) 내의 검출기에 결합될 수 있다.
앞서 살펴본 바와 같이, 비행 시간 또는 TOF는 LIDAR 시스템이 환경을 매핑하기 위해 사용하는 방법이며 대상 물체들을 검출하기 위해 사용되는 실행가능하고 입증된 기술을 제공한다. 동시에, 레이저들이 점화됨에 따라, LIDAR 시스템 내의 펌웨어는 수신된 데이터를 분석하고 측정할 수 있다. LIDAR 시스템 내의 광학 수신 렌즈는 망원경처럼 작용하여 환경으로부터 되돌아오는 광 광자들의 단편들을 수집한다. 시스템에서 이용되는 레이저들이 더 많을수록, 환경에 관한 정보가 더 많이 수집될 수 있다. 단일 레이저 LIDAR 시스템들은 더 적은 광자들이 회수될 수 있기 때문에 다수의 레이저들을 갖는 시스템들에 비해 불리할 수 있고, 따라서 더 적은 정보가 취득될 수 있다. LIDAR 시스템들의 일부 실시예들은, 제한 없이, 8, 16, 32 및 64개의 레이저들로 구현되었다. 또한, 일부 LIDAR 실시예들은, 제한 없이, 0.3°로서 타이트한 레이저 빔 간격을 갖는 30-40°의 수직 시야(FOV)를 가질 수 있고 초당 5-20 회전들의 회전 속도들을 가질 수 있다.
회전 거울 기능성은 또한 MEMS와 같은 고체 상태 기술로 구현될 수 있다.
B. 다중 복귀 광 신호 검출기들에서의 애벌란시 포토다이오드들(APD)
도 2에 대해 논의된 바와 같이, LIDAR 시스템에 의해, 하나의 레이저 점화는 하나의 라인에서 상이한 거리를 갖는 다수의 물체들에 부딪힐 수 있어, 다수의 복귀 신호들이 수신되게 한다. 이러한 환경들에서 다수의 복귀 광 신호들을 검출하는 것은, 특히 LIDAR 시스템의 애벌란시 포토다이오드(APD)가 포화되어 사각 지대를 초래하고 다중 복귀 신호에서 피크를 검출할 수 없을 때 LIDAR 시스템에 대해 극히 어려울 수 있다. 본 명세서에서 사용될 때, "피크"는 다중 복귀 신호의 "펄스"와 동등하다.
포토다이오드는 광을 전류로 변환하는 반도체 디바이스이다. 전류는 광자들이 포토다이오드에서 흡수될 때 생성된다. 광이 존재하지 않을 때 소량의 전류가 또한 생성될 수 있다. 도 4a는 본 문서의 실시예들에 따른 포토다이오드의 전류-전압(IV)(400) 특성들을 그래픽으로 예시한다. 제로 바이어스 또는 광전지 모드에서 사용될 때, 디바이스 외부의 광전류의 흐름은 제한되고 전압은 축적된다. 이 모드는 태양 전지들에 대한 기초인 광전지 효과를 활용한다. 전압(Vd)은 통상적으로 다이오드에 대한 "온" 상태로 간주되는 전압을 나타낸다.
본 문서의 실시예들의 이익은 포토다이오드가 역방향 바이어스로 동작하는 포토다이오드 모드에서의 동작이다. 도 4a에 따르면, 역방향 바이어스 전압이 증가함에 따라, 음의 전류 i는 항복 전압 Vbr이 발생할 때까지 대략적인 선형 방식으로 증가한다. 항복 후에, 음의 전류 i는 포토다이오드가 포화함에 따라 상당히 증가할 수 있다. 그 다음 포토다이오드는 역방향 바이어스 복구 모드에 진입할 수 있다. 역방향 바이어스 복구 모드 동안 포토다이오드는 광에 둔감할 수 있으므로, 검출 프로세스에서 사각 지대가 있을 수 있다.
일반적으로, LIDAR 센서의 포토다이오드는 APD이다. 애벌란시 포토다이오드들은 역방향 항복 전압에 접근하는 높은 역방향 바이어스로 동작하기 위해 최적화된 구조를 갖는 포토다이오드들이다. 이 구조는 각각의 광 생성 캐리어가 애벌란시 항복에 의해 증가될 수 있게 하여, 포토다이오드 내의 내부 이득을 초래하며, 이는 디바이스의 유효 응답성을 증가시킨다.
앞서 언급된 바와 같이, APD가 역방향 바이어스 복구 모드에 있을 때, 포토다이오드는 광에 둔감할 수 있다. 이 경우, 포토다이오드가 역방향 바이어스 동작 모드로 복구될 때까지 LIDAR 시스템 광 검출이 방지될 수 있다. 예를 들어, 레이저 기반의 야간 비전 시스템들은 고 반사성 물체들과 연관된 사각 효과들을 극복하지 못할 수 있다. 많은 표지판들은 차량 운영자에 의한 직접 관찰 편의를 위해 차량 헤드램프들로부터 방출되는 것과 같은 백열 광의 반사를 위한 고 반사성 표면들을 갖는다. 표지판들은 대량의 광을 반사하고 이미지 포화를 유발할 수 있는 역반사 페인트로 종종 커버된다. 포화된 이미지는 일반적으로 불명확하고 판독 불가능할 수 있다. 트럭들, 버스들, 및 밴들과 같은 크고 편평한 표면들은 또한 이미지 포화를 야기할 수 있다. 밝은 광이 반사체에 가까울 때, 광 검출기로의 복귀 신호는 APD를 포화시켜, 사각 지대를 야기할 수 있다. 사각 지대들을 검출하는 것은 반투명 물체들, 예를 들어, 길모퉁이에서 유리 키오스크들을 검출할 때 특히 중요할 수 있다.
일부 실시예들에서, 제한 없이, 복구 시간은 수 나노 초, 예를 들어, 제한 없이, 2-6 나노 초일 수 있고, 이는 수 미터의 사각 지대를 야기할 수 있다. 도 4b는 본 문서의 실시예들에 따른 사각 지대(450)의 크기를 그래픽으로 예시한다. 구체적으로, 도 4b는 초 단위의 역방향 복구 시간에 대해 미터 단위의 사각 지대 크기를 나타낸다.
C. APD들에서의 사각 지대들의 완화
도 5는 본 문서의 실시예들에 따른 사각 지대를 포함하는 검출된 다중 복귀 광 신호(500)를 그래픽으로 예시한다. 검출 프로세스에서 이용되는 광 검출 시스템은 LIDAR 시스템일 수 있고 광 검출 시스템은 단일 APD로 검출을 수행할 수 있다. 다중 복귀 광 신호(500)는 펄스들의 시퀀스 및 사각 지대를 포함한다. 논의된 바와 같이, 밝은 광이 반사체에 가까울 때, 광 검출기로의 복귀 신호는 APD를 포화시켜, 사각 지대를 야기할 수 있다. 이 상황은 LIDAR 시스템의 정확도를 손상시킬 수 있고, 이는 교정을 통해 해결되지 않을 수 있다. 예를 들어, 레이저 빔은 점화되고 여러 반사체들에서 반사될 수 있다. 도 5에 예시된 바와 같이, 다중 복귀 광 신호(500)는 반사체 A, 반사체 B 및 반사체 C에 의해 나타나는 바와 같은 3개의 피크 신호들의 시퀀스를 포함한다. 피크 신호들의 크기는 거리 및 반사체 정보를 나타낼 수 있다. 도 5는 또한 밝은 광이 반사체들에 근접하여 APD의 포화를 야기할 수 있었기 때문에 발생할 수 있는 사각 지대를 포함한다. 제4 피크는 반사체 C 직후에 위치되었을 수 있지만, 사각 지대 때문에 LIDAR 시스템에 의해 검출되지 않았을 수 있다. 사실상, 제4 피크는 "숨겨진 피크"였다. 일부 실시예들에서, 반사체 C의 피크는 제4 피크와 중첩할 수 있다. 도 5는 광 검출기가 디코딩을 위해 단일 APD를 이용할 때 다중 복귀 광 신호(500) 내의 후속 광 펄스들을 디코딩할 때의 성능 과제들을 예시한다.
본 문서의 실시예들은 검출의 정확도를 개선하기 위해 광 검출 시스템에서의 중복 APD들의 사용을 제안한다. 예를 들어, 모든 동시 레이저 점화 그룹을 지원하기 위한 하나의 중복 APD가 있을 수 있다. 현재의 LIDAR 시스템들은 한 번에 하나의 APD가 검출을 수행할 수 있게 하는 점화 제어 기능과 함께 다수의 APD들을 포함할 수 있다. 본 문서들의 일 실시예는 다수의 APD들을 지원하도록 하나의 중복 APD를 구성할 것이다.
중복 APD를 구현함에 있어서, 사각의 확률을 최소화하기 위해 공간 다이버시티가 이용될 수 있다. 중복 APD가 주 광학 평면 상에 위치된 1차 APD보다 적은 전력을 수신할 수 있도록, 중복 APD를 주 광학 평면으로부터 떨어져 위치시킴으로써 공간 멀티플렉싱이 구현될 수 있다. 1차 APD들은 주 초점면 상에 위치될 수 있으므로 1차 APD들은 "민감" APD들이고 따라서 이들은 감쇠되지 않고 그들의 동작은 제한되지 않는다. 따라서, 민감 APD들과 중복 APD 사이의 광학 분리는 중복 APD에서 수신된 광학 전력을 감쇠시키는 것을 허용할 수 있고; 따라서, "감쇠된 중복 APD"라는 용어를 허용할 수 있다. 감쇠된 입력은 민감 APD가 포화될 때 감쇠된 중복 APD가 포화하지 않을 수 있도록 보장할 수 있다. "감쇠된 중복 APD"는 2차 APD로서 언급될 수 있고, "민감 APD"는 1차 APD로서 언급될 수 있다.
추가적으로, 본 문서들의 실시예는 시간 다이버시티를 포함시키는 것에 의해 검출 성능을 개선할 수 있다. 시간 다이버시티는 중복 APD에의 바이어스 신호를 민감 APD의 바이어스 신호에 대해 지연시킴으로써 달성될 수 있다.
1. 중복 APD를 갖는 광 검출기
도 6은 본 문서의 실시예들에 따른 중복 APD를 갖는 광 검출기(600)를 도시한다. 광 검출기(600)는 LIDAR 시스템에서 이용될 수 있다. 광 검출기(600)는 공간 다이버시티 및 시간 다이버시티 기능들을 포함하고 4개의 1차(민감) APD들 및 하나의 2차(중복) APD를 포함한다. 2차 APD는 1차 APD들 중 임의의 하나와 함께 동작할 수 있다. 본 명세서에 설명된 바와 같이, 광 검출기(600)는 정적 또는 동적 기초로 동작할 수 있다. 정적 동작의 일 실시예에서, 2차 APD 및 1차 APD들의 동작은 미리 정의될 수 있고 다중 복귀 광 신호들의 특성들과 독립적일 수 있다.
다중 복귀 광 신호는 민감 APD들(604a, 604b, 604c 및 604d)을 포함하는 1차 APD들의 뱅크, 또는 민감 APD 뱅크(604)에 의해 수신될 수 있다. 민감 APD들(604a, 604b, 604c 및 604d)은 레이저 점화 시퀀스에 기초하여 제어기에 의해 활성화될 수 있다. 제어기는 신호들(603a, 603b, 603c 및 603d)을 통해 각각 민감 APD들(604a, 604b, 604c 및 604d)에 결합되는, APD 레인지 게이트 제어(610)일 수 있다. APD 레인지 게이트 제어(610)는 또한 지연(608)에 결합될 수 있다. 본 기술분야의 통상의 기술자는 다른 실시예들에서, 민감 APD들의 뱅크가 n개의 APD들을 포함할 수 있고 4개의 APD들로 제한되지 않을 수 있다는 것을 인식할 것이다. 일부 실시예들에서, 1차 APD들의 수 n은 16과 128 사이에서 변할 수 있다.
일 실시예에서, 감쇠된 중복 APD(606)는 민감 APD(604a)에 대한 중복 APD로서 동작할 수 있다. APD 레인지 게이트 제어(610)는 민감 APD(604a)를 활성화시켜 민감 APD(604a)가 다중 복귀 광 신호(602)를 수신하게 한다. 다중 복귀 광 신호(602)의 특성들은 검출 프로세스 동안 민감 APD(604a)에 대한 사각 지대를 야기할 수 있다. 동시에, APD 레인지 게이트 제어(610)는 지연(608)을 활성화시켜, 감쇠된 중복 APD(606)가 민감 APD(604a)의 활성화에 대해 시간 지연을 가진 채 활성화되도록 한다. 감쇠된 중복 APD(606)에 대한 이 지연된 바이어스 게이트는 지연(608)을 통해 민감 APD(604a)에 대해 시간 다이버시티를 제공한다. 광 검출기(600)가 레이저 점화 제어를 통해 순서화함에 따라, 민감 APD 뱅크(604) 내의 다른 APD들, 예를 들어 민감 APD들(604b, 604c 및 604d)이 선택된다. 이들 다른 민감 APD들 각각이 활성화됨에 따라, 감쇠된 중복 APD(606)는 선택된 민감 APD를 지원하기 위해 중복 방식으로 동작한다.
감쇠된 중복 APD(606)는 민감 APD 뱅크(604) 내의 임의의 APD들에 대해 시간 다이버시티를 갖고서 APD 레인지 게이트 제어(610)에 의해 활성화될 수 있다. 민감 APD 뱅크(604)와 감쇠된 중복 APD(606) 사이의 시간 다이버시티 요소를 허용하기 위해 지연(608)이 켜질 수 있다. 지연 단계 크기는 레이저 폭 펄스의 일부일 수 있다. 시간 다이버시티는 도 7a, 7b, 7c에 대해 논의될 바와 같이, 다중 복귀 광 신호들의 검출의 정확도를 개선할 수 있다.
공간 다이버시티는 다음과 같이 구현될 수 있다. 먼저, 민감 APD 뱅크(604) 내의 APD들 각각은 서로로부터 상이한 광학 평면에 위치될 수 있다. 감쇠된 중복 APD(606)는 민감 APD들 뱅크(604)에서의 APD들과 상이한 광학 평면에 위치될 수 있다. 민감 APD들 뱅크(604)에서의 APD들과 중복 APD 사이의 광학 분리는 중복 APD에서 수신된 광학 전력을 감쇠시키는 것을 허용할 수 있고; 따라서, "감쇠된 중복 APD(606))"라는 용어를 허용할 수 있다. 공간 다이버시티는 반투명 거울들의 사용을 통해 달성될 수 있다. 예를 들어, 제한들 없이, 현재 거울들은 2% 투과성을 가질 수 있고, 따라서 상이한 광학 평면일 수 있는 현재 거울 뒤에 중복 APD들을 배치할 수 있다.
민감 APD 뱅크(604)는 APD 사각의 가능성을 완화하기 위해 감쇠된 중복 APD(606)와 함께 동작할 수 있다. 민감 APD(604a)가 활성화될 수 있고 복귀 신호들의 시퀀스를 검출할 수 있다. 시간 다이버시티(지연) 및 공간 다이버시티에 의해, 감쇠된 중복 APD(606)는 광 검출기(600) 내의 복귀 신호들의 시퀀스의 검출을 지원하도록 활성화될 수 있다. 감쇠된 중복 APD(606)는 민감 APD(604a)가 포화되어 사각 지대를 가질 때 숨겨진 펄스를 검출할 수 있고, 이는 민감 APD(604a)의 검출 능력에 부정적인 영향을 줄 수 있다.
감쇠된 중복 APD(606)의 출력은 저잡음 전류 증폭기(612)에 결합되어 그 전류를 증폭할 수 있다. 제어기는 감쇠된 중복 APD(606) 및 민감 APD(604a)로부터의 결과 출력들을 관리하기 위해 반전 이득 비율 제어를 이용하여 이득 제어(614)를 활성화한다. 각각의 결과적인 출력은 반전 이득 비율 제어에 기초하여 상이한 이득을 가질 수 있다. 결과 출력들은 결합기(616)에 결합되며, 이는 최대 이득 비율 결합을 결합하는 최대 이득 비율을 갖는 MIMO 처리를 구현한다. 결합기(616)의 출력은 트랜스 임피던스 증폭기(TIA)(618)에 결합된다. 트랜스 임피던스 증폭기(618)의 출력은 검출된 다중 복귀 신호(622)를 출력하는 다이버시티 강화 광학 검출기(620)에 결합된다.
결합기(616)는 2개의 병렬 경로들, 즉 저잡음 전류 증폭기(612)로부터의 경로(감쇠된 중복 APD(606)에 기초함) 및 민감 APD(604a)로부터의 경로로 인해 바람직하지 않은 잡음을 가질 수 있다. 병렬 경로들의 동적 가중은 잡음의 영향을 완화시킬 수 있다. 예를 들어, 민감 APD(604a) 전류가 임계값 미만인 경우, 감쇠된 중복 APD(606)에 기초한 전류는 역가중될 수 있다. 민감 APD(604a) 전류가 잡음 플로어 아래에 있는 경우, 민감 APD(604a) 전류는 역가중될 수 있다. 고 잡음 환경에서, 결합기(616)는 결합을 중단하고, 그것의 입력들만을 모니터링한다.
도 7a, 7b 및 7c는 본 문서의 실시예들에 따른 중복 APD를 갖는 도 6의 광 검출기(600)의 동작을 위한 파형들(700, 720 및 740)을 그래픽으로 예시한다. 구체적으로는, 도 7a, 7b 및 7c는 민감 APD(604a) 및 감쇠된 중복 APD(606)로부터 생기는 파형들을 그래픽으로 예시한다. 도 7a는 제1 펄스가 제2 펄스에 근접하는 다중 복귀 광 신호(602)의 두 펄스들을 예시한다. 펄스들은 이상적인 직사각형 펄스들로 표현된다.
도 7b는 민감 APD(604a)의 및 감쇠된 중복 APD(606)로부터의 응답 또는 출력을 예시한다. 이 출력의 생성 동안, 민감 APD(604a)는 포화되어 사각 지대(사각 영역 참조)를 초래할 수 있다. 다시 말해서, 도 7b는 민감 APD(604a) 즉, 1차 APD를 포화시키는 밝은 반사체에 가까운 것을 예시한다. 포화로부터의 복구 동안, 민감 APD(604a)는 제2 펄스를 검출하지 못할 수 있다. 통상적인 포화 복구는 몇 나노 초(ns) 동안 지속될 수 있다. 따라서, ~30cm/ns에서, 6ns는 2미터의 사각 지대를 초래할 수 있다.
도 7b는 또한 민감 APD(604a)의 주 광학 축에 위치되는 감쇠된 중복 APD(606)(즉, 응답 중복 APD)의 응답 또는 출력을 예시한다. 따라서 "중복 APD"가 감쇠된다. 도 7b에 따르면, "민감 검출기의 응답"의 크기는 "응답 중복 APD"의 크기보다 크다.
감쇠된 중복 APD(606)의 출력은 저잡음 전류 증폭기(612)에 의해 전기적으로 증폭되어, 도 7c의 파형들(740)을 초래할 수 있다. 파형(740)은 근접한 2개의 이벤트들을 캡처하기 위해 최대 이득 비율 결합을 갖는 MIMO 처리의 결과를 보여준다.
파형들(740)은 민감 APD(604a)의 응답(제1 펄스) 및 감쇠된 중복 APD(606)의 증폭된 출력(제2 펄스)을 포함한다. 저잡음 전류 증폭기(612)의 증폭 때문에, 감쇠된 중복 APD(606)에 의해 검출된 펄스(제2 펄스)는 이제 민감 APD(604a)에 의해 검출된 펄스(제1 펄스)보다 크다. 파형(740)이 가까운 상승 에지들을 포함하기 때문에 파형(740)은 다이버시티 수신기에 의해 디코딩될 수 있다.
2. 중복 APD를 이용하는 광 검출 방법
광 검출 및 레인징 시스템, 예를 들어, LIDAR 시스템에 의해 다중 복귀 광 신호를 검출하는 방법이 설명된다. 도 8은 본 문서의 실시예들에 따른 중복 APD를 갖는 광 검출기를 이용하여 다중 복귀 광 신호들을 검출하기 위한 흐름도(800)를 도시한다. 보다 구체적으로, 도 8은 제1 펄스가 1차 APD에서의 포화를 야기하여 사각지대를 초래하는 경우에서, 다중 복귀 광 신호에서 숨겨진 펄스를 검출하는 방법을 설명한다. (도 7b 참조).
다음의 단계들에서, 광 검출기(600)의 일부 요소들에 대한 참조들이 이루어진다. 또한, 다음의 단계들에서, 1차 APD는 민감 APD(604abcd) 중 하나일 수 있고 2차 APD는 감쇠된 중복 APD(606)일 수 있다. 방법의 단계들은 다음을 포함한다:
서로 가까운 근접성을 가질 수 있는 펄스들을 포함하는 다중 복귀 광(MRL) 신호를 수신한다. MRL 신호는 광 검출기(600)에서 1차 APD(고 이득 검출기)의 포화를 야기할 수 있는 밝은 반사체에 가까운 것으로 인해 야기된 숨겨진 펄스를 포함할 수 있다. (단계 802)
APD 레인지 게이트 제어(610)를 활성화하여 바이어스 신호를 생성한다. 이 동작은 1차 APD들 및 2차 APD들의 활성화 시퀀스를 결정한다. 이득 제어(610)가 활성화된다. (단계 804)
선택된 1차 APD(고 이득 검출기)에서 바이어스 신호 및 MRL 신호를 수신한다. 1차 APD는 점화 제어에 기초하여 민감 APD 뱅크(604)로부터 선택될 수 있다. 또한, 민감 APD 뱅크(604) 내의 각각의 APD는 상이한 광학 평면에 위치될 수 있다. 1차 APD는 2차 APD에 대한 트리거를 생성한다. (단계 806)
2차 APD에서 MRL 신호 및 지연된 바이어스 신호를 수신하고, 바이어스 신호는 지연(608)에 의해 지연된다. 지연된 바이어스 신호는 2차 APD가 1차 APD에 대해 지연된 시간 윈도우를 검출하게 할 수 있다. 2차(중복) APD는 1차 APD와 상이한 광학 평면에 있을 수 있고, 이는 2차(중복) APD로부터 방출된 신호가 1차(민감) APD로부터 방출된 신호에 대해 "감쇠"되게 한다. (단계 808)
이득 제어(614)를 활성화하여 2차 APD 및 1차 APD로부터의 결과 출력들을 관리하기 위해 반전 이득 비율 제어를 이용한다. (단계 812)
단계(812)의 이득 제어(614)에 기초하여 저잡음 전류 증폭기(612)로 2차 APD의 출력을 증폭한다. (단계 810)
가까운 근접성의 두 펄스들(이벤트들)을 캡처하기 위해 최대 이득 비율 결합과 함께 MIMO 처리를 이용하여 1차 APD 및 2차 APD로부터의 결과 신호들을 결합한다. (단계 814)
트랜스임피던스 증폭기로 단계(814)의 결과들을 증폭한다. (단계 816)
다이버시티 강화 광학 검출기(620)로 하나 이상의 숨겨진 펄스를 포함하는 다중 복귀 신호를 검출 및 출력한다. (단계 818)
D. 중복성을 위한 실시예들
앞서 논의된 바와 같이, 다중 복귀 광 신호의 광 검출의 성능은 1차 APD에 대해 중복적으로 동작하는 2차 APD의 포함들로 개선될 수 있다. 성능은 시간 다이버시티의 포함으로 더 개선될 수 있고, 예를 들어, 2차 APD로의 바이어스 신호가 1차 APD에 대해 지연된다. 성능은 1차 APD 및 2차 APD의 광학 평면들의 공간 다이버시티의 포함으로 더 개선될 수 있다. 공간 다이버시티의 경우, 2차 APD의 출력은 감쇠될 수 있고, 이는 2차 APD가 포화하고 역방향 바이어스 복구 기간에 진입할 가능성을 최소화할 수 있다. 이는 2차 APD가 숨겨진 펄스들을 검출하는 것을 허용할 수 있다.
2차 및 1차 APD들에 대한 다양한 구성들은 추가 성능 개선들을 가질 수 있다. 예시적인 실시예들은, 제한들 없이, 1개의 1차 APD에 대한 1개의 2차 APD, n개의 1차 APD들에 대한 1개의 2차 APD 및 n개의 1차 APD들에 대한 m개의 2차 APD들을 포함한다. 다시 말해서, 다수의 중복 APD들이 1차 APD들의 상이한 조합들과 함께 이용될 수 있다. 2차 및 1차 APD들은 정적 환경 또는 동적 환경에서 동작할 수 있다. 본 명세서에 설명된 바와 같이, 광 검출기(600)는 정적 기준으로 동작할 수 있다. 정적 환경에 대해, 중복 APD들 및 1차 APD들의 동작은 미리 정의될 수 있고 다중 복귀 광 신호들의 특성들과 독립적일 수 있다.
동적 솔루션들은 다중 복귀 광 신호들의 신호 처리 정보에 기초할 수 있다. 가능한 동적인 실시예들은 1) 1차 APD들의 점화 제어 순서를 변경하는 것을 제한들 없이 포함할 수 있다. 이 실시예는 한 시점에서 둘 이상의 1차 APD들을 활성화하는 것; 2) 광학 초점면 상의 선택된 APD들의 위치에 기초하여 다수의 2차 APD들 및 다수의 1차 APD들의 중복 정렬을 동적으로 조정하는 것; 및 3) 2차 APD들에 결합된 지연 바이어스 신호를 동적으로 조정하는 것을 포함할 수 있다.
E. 요약
본 문서들의 실시예들은 APD 사각을 완화하기 위한 시스템들 및 방법들을 개시한다. 시스템은 제1 바이어스 신호에 의해 활성화될 때 다중 복귀 광 신호를 수신 및 검출하도록 동작 가능한 1차 애벌란시 포토다이오드(APD) - 다중 복귀 광 신호는 둘 이상의 광 펄스들을 포함함 -; 제2 바이어스 신호에 의해 활성화될 때 다중 복귀 광 신호를 수신 및 검출하도록 동작 가능한 2차 APD; 제1 바이어스 신호에 지연을 추가함으로써 제2 바이어스 신호를 생성하는 지연 기능부; 및 1차 APD에 의해 검출된 다중 복귀 광 신호 및 2차 APD에 의해 검출된 다중 복귀 광 신호를 결합하도록 동작 가능한 결합기를 포함할 수 있고, 다중 복귀 광 신호를 검출할 때 1차 APD가 포화하고 후속 펄스를 검출할 수 없는 경우, 2차 APD는 후속 펄스를 디코딩할 수 있다. 방법은 1차 APD에서 다중 복귀 광 신호를 수신하는 단계 - 다중 복귀 광 신호는 1차 APD가 포화하게 하고 검출 사각 지대를 생성하는 펄스들의 시퀀스를 포함함 -; 2차 APD에서 다중 복귀 광 신호를 수신하는 단계 - 2차 APD는 1차 APD에 대해 중복적으로 동작함 -; 및 2차 APD에 의해 1차 APD의 검출 사각 지대에 숨겨져 있고 1차 APD에 의해 검출되지 않은 다중 복귀 광 신호 내의 펄스들을 검출하는 단계를 포함한다. 시스템은, 제1 바이어스 신호에 의해 활성화될 때 다중 복귀 광 신호를 검출하도록 각각 동작 가능한 둘 이상의 1차 애벌란시 포토다이오드들(APD) - 다중 복귀 광 신호는 2개 이상의 펄스들을 포함함 -; 제2 바이어스 신호에 의해 활성화될 때 다중 복귀 광 신호를 검출하도록 각각 동작 가능한 둘 이상의 2차 APD들 - 둘 이상의 2차 APD들 각각은 다중 복귀 광 신호의 검출을 수행하기 위해 둘 이상의 1차 APD들 각각과 중복적으로 동작하도록 동작 가능함 -; 및 다중 복귀 광 신호의 검출을 위해 둘 이상의 2차 APD들 중 하나 및 둘 이상의 1차 APD들 중 하나를 선택하도록 동작 가능한 제어기를 포함한다.
F. 시스템 실시예들
실시예들에서, 본 특허 문서의 양태들은 정보 처리 시스템들/컴퓨팅 시스템들에 관한 것이거나 이들 상에서 구현될 수 있다. 본 개시내용의 목적들을 위해, 컴퓨팅 시스템은 비즈니스, 과학, 제어, 또는 다른 목적들을 위한 임의의 형태의 정보, 지능, 또는 데이터를 컴퓨팅, 계산, 결정, 분류, 처리, 전송, 수신, 검색, 발신, 라우트, 스위칭, 저장, 디스플레이, 통신, 매니페스트, 검출, 기록, 재생, 처리, 또는 이용하도록 동작 가능한 임의의 수단 또는 수단들의 집합을 포함할 수 있다. 예를 들어, 컴퓨팅 시스템은 그 환경 내의 물체들을 매핑하기 위해 비행 시간을 사용하는 LIDAR 시스템과 같은 광학 측정 시스템일 수 있다. 컴퓨팅 시스템은 랜덤 액세스 메모리(RAM), 중앙 처리 장치(CPU) 또는 하드웨어 또는 소프트웨어 제어 로직과 같은 하나 이상의 처리 리소스, ROM 및/또는 다른 유형들의 메모리를 포함할 수 있다. 컴퓨팅 시스템의 추가 컴포넌트들은 외부 디바이스들과 통신하기 위한 하나 이상의 네트워크 또는 무선 포트뿐만 아니라 키보드, 마우스, 터치스크린 및/또는 비디오 디스플레이와 같은 다양한 입력 및 출력(I/O) 디바이스들을 포함할 수 있다. 컴퓨팅 시스템은 또한 다양한 하드웨어 컴포넌트들 사이에서 통신을 전송하도록 동작 가능한 하나 이상의 버스를 포함할 수 있다.
도 9는 본 문서의 실시예들에 따른 컴퓨팅 디바이스/정보 처리 시스템(또는 컴퓨팅 시스템)의 간략화된 블록도를 도시한다. 시스템(900)에 대해 도시된 기능성들은 정보 처리 시스템의 다양한 실시예들을 지원하도록 동작할 수 있다는 것이 이해될 것이지만, 정보 처리 시스템은 상이하게 구성될 수 있고 상이한 컴포넌트들을 포함할 수 있다는 것이 이해될 것이다.
도 9에 예시된 바와 같이, 시스템(900)은 컴퓨팅 리소스들을 제공하고 컴퓨터를 제어하는 하나 이상의 중앙 처리 장치(CPU)(901)를 포함한다. CPU(901)는 마이크로프로세서 등으로 구현될 수 있고, 또한 수학적 계산들을 위해 하나 이상의 그래픽 처리 유닛(GPU)(917) 및/또는 부동 소수점 코프로세서를 포함할 수 있다. 시스템(900)은 랜덤 액세스 메모리(RAM), 판독 전용 메모리(ROM), 또는 둘 다의 형태일 수 있는 시스템 메모리(902)를 또한 포함할 수 있다.
도 9에 도시된 바와 같이, 다수의 제어기들 및 주변 디바이스들이 또한 제공될 수 있다. 입력 제어기(903)는 키보드, 마우스 또는 스타일러스와 같은 다양한 입력 디바이스(들)(904)에 대한 인터페이스를 나타낸다. 무선 디바이스(906)와 통신하는 무선 제어기(905)가 또한 존재할 수 있다. 시스템(900)은 또한 하나 이상의 저장 디바이스(908)와 인터페이싱하기 위한 저장 제어기(907)를 포함할 수 있으며, 저장 디바이스들 각각은 플래시 메모리와 같은 저장 매체, 또는 본 발명의 다양한 양태들을 구현하는 프로그램들의 실시예들을 포함할 수 있는 운영 체제들, 유틸리티들 및 애플리케이션들에 대한 명령어들의 프로그램들을 기록하는 데 사용될 수 있는 광학 매체를 포함한다. 저장 디바이스(들)(908)는 또한 본 발명에 따라 처리된 데이터 또는 처리될 데이터를 저장하기 위해 사용될 수 있다. 시스템(900)은 또한 디스플레이 디바이스(911)에 인터페이스를 제공하기 위한 디스플레이 제어기(909)를 포함할 수 있다. 컴퓨팅 시스템(900)은 또한 자동차 시스템(913)과 통신하기 위한 자동차 신호 제어기(912)를 포함할 수 있다. 통신 제어기(914)는 시스템(900)이 자동차 네트워크, 인터넷, 클라우드 리소스(예를 들어, 이더넷 클라우드, 파이버 채널 오버 이더넷(FCoE)/데이터 센터 브리징(DCB) 클라우드 등), 근거리 통신망(LAN), 광역 통신망(WAN), 저장 영역 네트워크(SAN)를 포함하는 여러 네트워크들 중 임의의 것을 통해 또는 적외선 신호들을 포함하는 임의의 적절한 전자기 캐리어 신호들을 통해 원격 디바이스들에 접속할 수 있게 하는 하나 이상의 통신 디바이스(915)와 인터페이스할 수 있다.
예시된 시스템에서, 모든 주요 시스템 컴포넌트들은 하나보다 많은 물리적 버스를 나타낼 수 있는 버스(916)에 접속할 수 있다. 그러나, 다양한 시스템 컴포넌트들은 서로 물리적으로 근접할 수 있거나 그렇지 않을 수 있다. 예를 들어, 입력 데이터 및/또는 출력 데이터는 하나의 물리적 위치로부터 또 다른 물리적 위치로 원격으로 전송될 수 있다. 또한, 본 발명의 다양한 양태들을 구현하는 프로그램들은 네트워크를 통해 원격 위치(예를 들어, 서버)로부터 액세스될 수 있다. 이러한 데이터 및/또는 프로그램들은 하드 디스크들, 플로피 디스크들, 및 자기 테이프와 같은 자기 매체들; CD-ROM들 및 홀로그래픽 디바이스들과 같은 광학 매체들; 자기 광학 매체들; 및 주문형 집적 회로들(ASIC), 프로그램가능 로직 디바이스들(PLD), 플래시 메모리 디바이스들, 및 ROM 및 RAM 디바이스들과 같은 프로그램 코드를 저장하거나 저장 및 실행하도록 특별히 구성되는 하드웨어 디바이스들을 포함하지만 이에 제한되지 않는 여러 머신 판독가능 매체 중 임의의 것을 통해 전달될 수 있다.
본 발명의 실시예들은 하나 이상의 프로세서 또는 처리 유닛이 단계들이 수행되게 하기 위한 명령어들을 갖는 하나 이상의 비일시적 컴퓨터 판독가능 매체 상에 인코딩될 수 있다. 하나 이상의 비일시적 컴퓨터 판독가능 매체는 휘발성 및 비휘발성 메모리를 포함할 것이라는 점에 유의해야 한다. 하드웨어 구현 또는 소프트웨어/하드웨어 구현을 포함하는 대안적인 구현들이 가능하다는 점에 유의해야 한다. 하드웨어 구현 기능들은 ASIC(들), 프로그램 가능 어레이들, 디지털 신호 처리 회로 등을 사용하여 실현될 수 있다. 따라서, 임의의 청구항들에서의 "수단" 용어들은 소프트웨어 및 하드웨어 구현들 둘 다를 커버하도록 의도된다. 유사하게, 본 명세서에서 사용되는 "컴퓨터 판독 가능 매체 또는 매체들"이라는 용어는 그것에 대해 구현되는 명령어들의 프로그램을 갖는 소프트웨어 및/또는 하드웨어, 또는 그것의 조합을 포함한다. 이러한 구현 대안들을 염두에 두고, 도면들 및 첨부된 설명은 본 기술분야의 통상의 기술자가 요구되는 처리를 수행하기 위해 프로그램 코드(즉, 소프트웨어)를 기입하고/하거나 회로들(즉, 하드웨어)을 제조하는 데에 필요로 하는 기능적 정보를 제공한다는 것이 이해되어야 한다.
본 발명의 실시예들은 다양한 컴퓨터 구현 동작들을 수행하기 위한 컴퓨터 코드를 갖는 비일시적인 유형의(tangible) 컴퓨터 판독 가능 매체를 갖는 컴퓨터 제품들에 더 관련될 수 있다는 점에 유의해야 한다. 매체들 및 컴퓨터 코드는 본 발명의 목적들을 위해 특별히 설계되고 구성된 것들일 수 있거나, 이들은 관련 기술분야의 통상의 기술자들에게 공지되거나 이용 가능한 종류의 것일 수 있다. 유형의 컴퓨터 판독가능 매체들의 예들은, 하드 디스크들, 플로피 디스크들, 및 자기 테이프와 같은 자기 매체들; CD-ROM들 및 홀로그래픽 디바이스들과 같은 광학 매체들; 자기 광학 매체들; 및 주문형 집적 회로들(ASIC), 프로그램가능 로직 디바이스들(PLD), 플래시 메모리 디바이스들, 및 ROM 및 RAM 디바이스들과 같은 프로그램 코드를 저장하거나 저장 및 실행하도록 특별히 구성되는 하드웨어 디바이스들을 포함하지만 이에 제한되지 않는다. 컴퓨터 코드의 예들은 컴파일러에 의해 생성된 것과 같은 머신 코드, 및 해석 프로그램을 사용하여 컴퓨터에 의해 실행되는 상위 레벨 코드를 포함하는 파일들을 포함한다. 본 발명의 실시예들은 처리 디바이스에 의해 실행되는 프로그램 모듈들에 있을 수 있는 머신 실행가능 명령어들로서 전체적으로 또는 부분적으로 구현될 수 있다. 프로그램 모듈들의 예들은 라이브러리들, 프로그램들, 루틴들, 물체들, 컴포넌트들, 및 데이터 구조들을 포함한다. 분산 컴퓨팅 환경들에서, 프로그램 모듈들은 물리적으로 로컬, 원격, 또는 둘 다인 설정들에 위치될 수 있다.
본 기술분야의 통상의 기술자는 컴퓨팅 시스템 또는 프로그래밍 언어가 본 발명의 실시에 중요하지 않다는 것을 인식할 것이다. 본 기술분야의 통상의 기술자는 또한 상술된 다수의 요소들이 서브 모듈들로 물리적으로 및/또는 기능적으로 분리되거나 함께 결합될 수 있다는 것을 인식할 것이다.
이전 예들 및 실시예들은 예시적이고 본 개시내용의 범위를 제한하지 않는다는 것이 본 기술분야의 통상의 기술자들에게 이해될 것이다. 명세서를 읽고 도면들을 검토하면 본 기술분야의 통상의 기술자들에게 명백한 모든 치환들, 강화들, 등가물들, 조합들, 및 개선들이 본 개시내용의 진정한 사상 및 범위 내에 포함된다는 것이 의도된다. 임의의 청구항들의 요소들은 다수의 종속성들, 구성들, 및 조합들을 갖는 것을 포함하여 상이하게 배열될 수 있다는 점에 또한 유의해야 한다.

Claims (23)

  1. 애벌란시 포토다이오드 사각(Avalanche photodiode blinding)을 완화하기 위한 시스템으로서,
    제1 바이어스 신호에 의해 활성화될 때 다중 복귀 광 신호를 수신 및 검출하도록 동작 가능한 1차 애벌란시 포토다이오드(APD) - 상기 다중 복귀 광 신호는 둘 이상의 광 펄스들을 포함함 -;
    제2 바이어스 신호에 의해 활성화될 때 상기 다중 복귀 광 신호를 수신 및 검출하도록 동작 가능한 2차 APD;
    상기 제1 바이어스 신호에 지연을 추가함으로써 상기 제2 바이어스 신호를 생성하는 지연 회로; 및
    상기 다중 복귀 광 신호를 검출한 것에 기초하여 상기 1차 APD에 의해 생성된 제1 출력과 상기 다중 복귀 광 신호를 검출한 것에 기초하여 상기 2차 APD에 의해 생성된 제2 출력을 결합하도록 동작 가능한 결합기
    를 포함하고, 상기 다중 복귀 광 신호의 제1 펄스를 검출할 때 상기 1차 APD가 포화하는 경우, 2차 APD는 상기 제1 펄스에 후속하는 상기 다중 복귀 광 신호의 제2 펄스를 디코딩하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  2. 제1항에 있어서 상기 지연 회로를 제어하도록 동작 가능한 레인지 게이트 제어부를 더 포함하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  3. 제1항에 있어서, 상기 2차 APD는 상기 1차 APD에 대해 감쇠되는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  4. 제3항에 있어서, 상기 2차 APD는 상기 1차 APD와 상이한 광학 평면 상에 위치되어, 상기 2차 APD가 상기 1차 APD보다 상기 다중 복귀 광 신호의 더 적은 광학 전력을 수신하도록 구성되는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  5. 제1항에 있어서, 전류 증폭기를 더 포함하고, 상기 2차 APD의 제2 출력은 출력 전류를 포함하고, 상기 전류 증폭기는 상기 2차 APD의 상기 출력 전류를 증폭하도록 동작 가능한, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  6. 제5항에 있어서, 이득 제어기를 더 포함하고, 상기 1차 APD의 제1 출력은 출력 전류를 포함하고, 상기 이득 제어기는 상기 2차 APD의 출력 전류 및 상기 1차 APD의 출력 전류에 기초하여 반전 이득 비율 제어를 통해 상기 전류 증폭기를 제어하도록 동작 가능한, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  7. 제1항에 있어서, 상기 결합기의 출력에 결합되고 검출된 다중 복귀 신호를 생성하도록 동작 가능한 다이버시티(diversity) 강화 광학 검출기를 더 포함하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  8. 제1항에 있어서, 둘 이상의 1차 APD들을 포함하고, 상기 2차 APD는 상기 둘 이상의 1차 APD들에 대한 점화 제어 시퀀스에 기초하여 상기 둘 이상의 1차 APD들에 대한 중복 지원을 제공하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  9. 제1항에 있어서, 둘 이상의 1차 APD들 및 둘 이상의 2차 APD들을 포함하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  10. 제9항에 있어서, 상기 다중 복귀 광 신호를 검출하도록 상기 둘 이상의 1차 APD들 중 하나 및 상기 둘 이상의 2차 APD 중 하나를 선택하도록 동작 가능한 제어기를 더 포함하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  11. 제1항에 있어서, 상기 결합기는 최대 이득 비율 결합을 갖는 MIMO 처리를 구현하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  12. 애벌란시 포토다이오드(APD) 사각을 완화하기 위한 방법으로서,
    1차 APD에서 다중 복귀 광 신호를 수신하는 단계 - 상기 다중 복귀 광 신호는 상기 1차 APD가 포화하게 하고 검출 사각 지대를 생성하는 펄스들의 시퀀스를 포함함 -;
    2차 APD에서 상기 다중 복귀 광 신호를 수신하는 단계 - 상기 2차 APD는 상기 1차 APD에 대해 중복적으로 동작함 -; 및
    상기 2차 APD에 의해, 상기 1차 APD의 상기 검출 사각 지대에 숨겨진 상기 다중 복귀 광 신호 내의 펄스들을 검출하는 단계
    를 포함하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 2차 APD와 상기 1차 APD 사이에 광학 분리가 있고, 상기 2차 APD에서 수신된 다중 복귀 광 신호의 광학 전력은 상기 1차 APD에서 수신된 다중 복귀 광 신호의 광학 전력에 대해 감쇠되는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 방법.
  14. 제13항에 있어서, 상기 1차 APD가 상기 다중 복귀 광 신호에 의해 포화되면, 상기 2차 APD는 상기 2차 APD에서 수신된 상기 다중 복귀 광 신호의 광학 전력의 감쇠로 인한 포화를 회피하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 방법.
  15. 제12항에 있어서, 상기 1차 APD에서의 상기 다중 복귀 광 신호의 검출은 제1 바이어스 신호에 의해 활성화되고, 상기 2차 APD에서의 상기 다중 복귀 광 신호의 검출은 제2 바이어스 신호에 의해 활성화되고, 상기 제2 바이어스 신호는 지연 스텝에 의해 상기 제1 바이어스 신호에 대해 지연되는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 방법.
  16. 제15항에 있어서, 상기 지연 스텝은 상기 다중 복귀 광 신호의 펄스 폭의 일부인, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 방법.
  17. 애벌란시 포토다이오드(APD) 사각을 완화하기 위한 시스템으로서,
    제1 바이어스 신호에 의해 활성화될 때 다중 복귀 광 신호를 검출하도록 각각 동작 가능한 둘 이상의 1차 애벌란시 포토다이오드들(APD) - 상기 다중 복귀 광 신호는 둘 이상의 펄스들을 포함함 -;
    제2 바이어스 신호에 의해 활성화될 때 상기 다중 복귀 광 신호를 검출하도록 각각 동작 가능한 둘 이상의 2차 APD들 - 상기 둘 이상의 2차 APD들 각각은 상기 다중 복귀 광 신호의 상기 검출을 수행하기 위해 상기 둘 이상의 1차 APD들 각각과 중복적으로 동작하도록 동작 가능함 -; 및
    상기 다중 복귀 광 신호의 검출을 위해 상기 둘 이상의 2차 APD들 중 하나 및 상기 둘 이상의 1차 APD들 중 하나를 선택하도록 동작 가능한 제어기
    를 포함하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  18. 제17항에 있어서, 상기 1차 및 2차 APD들의 선택들을 위한 기초가 미리 정의되는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  19. 제17항에 있어서, 상기 1차 및 2차 APD들은 상기 다중 복귀 광 신호의 신호 처리 정보에 기초하여 동적으로 선택되는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  20. 제19항에 있어서, 상기 동적 선택은 상기 1차 APD들의 점화 순서를 변경하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  21. 제19항에 있어서, 상기 동적 선택은 상기 제1 바이어스 신호에 대해 상기 제2 바이어스 신호를 조정하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  22. 제19항에 있어서, 상기 동적 선택은 상기 1차 및 2차 APD들의 초점면(focal plane) 상의 각각의 위치들에 기초하는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
  23. 제17항에 있어서, 상기 선택된 2차 APD는 상기 선택된 1차 APD의 주 광학 초점면으로부터 떨어져 위치됨으로써 상기 선택된 1차 APD에 대해 상기 선택된 2차 APD를 감쇠시키는, 애벌란시 포토다이오드 사각을 완화하기 위한 시스템.
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10775486B2 (en) 2018-02-15 2020-09-15 Velodyne Lidar, Inc. Systems and methods for mitigating avalanche photodiode (APD) blinding
US11005438B2 (en) * 2018-06-28 2021-05-11 Apple Inc. Active saturation prevention of pulse-mode transimpedance amplifiers
US11719792B2 (en) 2020-08-21 2023-08-08 Lg Innotek Co., Ltd. Systems and methods for intra-shot dynamic adjustment of LIDAR detector gain
CN113206708B (zh) * 2021-05-06 2022-06-14 西安邮电大学 一种高动态水下无线光接收系统
CN115656974B (zh) * 2022-12-09 2023-04-07 武汉灵途传感科技有限公司 一种激光雷达集成双apd的探测方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004247948A (ja) 2003-02-13 2004-09-02 Fuji Photo Film Co Ltd 撮像装置

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1429047A1 (ru) 1986-09-12 1988-10-07 Предприятие П/Я В-2548 Способ определени частотных характеристик фотоприемного устройства с лавинным фотодиодом
WO2005076037A1 (en) * 2004-02-04 2005-08-18 Elbit Systems Ltd. Gated imaging
JP2007288522A (ja) * 2006-04-17 2007-11-01 Fujifilm Corp 撮像装置及び固体撮像素子駆動方法
JP2008020203A (ja) * 2006-07-10 2008-01-31 Omron Corp レーダ装置
EP2446301B1 (en) * 2009-06-22 2018-08-01 Toyota Motor Europe Pulsed light optical rangefinder
EP3901653A3 (en) 2010-05-17 2022-03-02 Velodyne Lidar USA, Inc. High definition lidar system
JP2012202776A (ja) * 2011-03-24 2012-10-22 Toyota Central R&D Labs Inc 距離測定装置
US9246041B1 (en) 2012-04-26 2016-01-26 Id Quantique Sa Apparatus and method for allowing avalanche photodiode based single-photon detectors to be driven by the same electrical circuit in gated and in free-running modes
JP6225411B2 (ja) * 2012-10-16 2017-11-08 株式会社豊田中央研究所 光学的測距装置
JP6017916B2 (ja) * 2012-10-16 2016-11-02 株式会社豊田中央研究所 光検出器
DE102013100696B3 (de) * 2013-01-24 2013-11-07 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich
DE102014207599A1 (de) * 2014-04-23 2015-10-29 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Betreiben eines Fotodetektors
US9335414B2 (en) * 2014-07-11 2016-05-10 Raytheon Company Frequency agile LADAR
US10036801B2 (en) 2015-03-05 2018-07-31 Big Sky Financial Corporation Methods and apparatus for increased precision and improved range in a multiple detector LiDAR array
JP2016170114A (ja) * 2015-03-13 2016-09-23 株式会社東芝 距離測定装置及び光検出器
RU2597668C1 (ru) 2015-05-15 2016-09-20 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" Способ подавления лавинного шума в спектрометрах с медленными сцинтилляторами и кремниевыми фотоумножителями
CN108603758A (zh) * 2015-11-30 2018-09-28 卢米诺技术公司 具有分布式激光器和多个传感器头的激光雷达系统和激光雷达系统的脉冲激光器
JP6785429B2 (ja) * 2015-12-03 2020-11-18 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 撮像装置
CN105606232B (zh) * 2016-01-28 2019-03-12 中国人民解放军信息工程大学 一种探测光信号的实现方法及系统
US20190049582A1 (en) * 2016-02-12 2019-02-14 Pioneer Corporation Information processing device, control method, program and storage medium
US9985071B2 (en) * 2016-04-15 2018-05-29 Qualcomm Incorporated Active area selection for LIDAR receivers
CN107271055B (zh) * 2016-04-20 2023-04-25 中国科学技术大学 一种并行雪崩光电二极管阵列结构的红外单光子探测系统
CN106130722A (zh) 2016-06-13 2016-11-16 上海理工大学 一种适用于超高速量子保密通信系统的雪崩光电二极管探测阵列
JP6867212B2 (ja) * 2017-03-31 2021-04-28 株式会社デンソー 光検出器及び測距装置
DE102017209259A1 (de) * 2017-06-01 2018-12-06 Robert Bosch Gmbh Lidarsystem
AU2018297291B2 (en) 2017-07-05 2024-03-07 Ouster, Inc. Light ranging device with electronically scanned emitter array and synchronized sensor array
US10775486B2 (en) 2018-02-15 2020-09-15 Velodyne Lidar, Inc. Systems and methods for mitigating avalanche photodiode (APD) blinding
US10497738B2 (en) * 2018-04-20 2019-12-03 Omnivision Technologies, Inc. First photon correlated time-of-flight sensor
US11573302B2 (en) * 2019-10-17 2023-02-07 Argo AI, LLC LiDAR system comprising a Geiger-mode avalanche photodiode-based receiver having pixels with multiple-return capability

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004247948A (ja) 2003-02-13 2004-09-02 Fuji Photo Film Co Ltd 撮像装置

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