KR102656783B1 - Apparatus for cryogenic test specimens - Google Patents

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KR102656783B1
KR102656783B1 KR1020230061826A KR20230061826A KR102656783B1 KR 102656783 B1 KR102656783 B1 KR 102656783B1 KR 1020230061826 A KR1020230061826 A KR 1020230061826A KR 20230061826 A KR20230061826 A KR 20230061826A KR 102656783 B1 KR102656783 B1 KR 102656783B1
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도찬우
안규백
안경준
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크라이오에이치앤아이(주)
조선대학교산학협력단
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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 극저온 시험 장치는 냉동기를 이용한 극저온 시험 장치에 있어서, 시편을 테스트하기 위한 테스트 룸; 상기 테스트 룸 내부에 위치하고 상기 시편을 고정하는 고정부; 상기 테스트 룸을 관통하여 결합되고, 상기 고정부와 접촉하여 상기 시편을 냉각시키는 냉동기; 상기 테스트 룸을 관통하여 결합되고, 상기 고정부를 향해 높이 방향으로 왕복이동하여 상기 시편을 가압하는 프레스부를 포함할 수 있다.A cryogenic test device according to an embodiment of the present invention includes a test room for testing specimens; A fixture located inside the test room and fixing the specimen; A refrigerator that penetrates the test room and cools the specimen by contacting the fixture; It may include a press unit that is coupled through the test room and reciprocates in the height direction toward the fixing unit to press the specimen.

Description

극저온 시험 장치{APPARATUS FOR CRYOGENIC TEST SPECIMENS}Cryogenic test equipment {APPARATUS FOR CRYOGENIC TEST SPECIMENS}

본 발명은 극저온 시험 장치에 관한 것이다.The present invention relates to cryogenic testing devices.

금속 재료는 인성, 연성, 취성, 강성 등 다양한 물리적 특성을 가지며, 이러한 물성을 저온에서 측정하는 저온 시험도 수행되고 있다.Metal materials have various physical properties such as toughness, ductility, brittleness, and rigidity, and low-temperature tests that measure these properties at low temperatures are also performed.

여기서, 대부분의 취성변형은 저온에서 발생되므로 실제 현상을 반영하기 위하여 시험을 저온에서 실시한다.Here, since most brittle deformation occurs at low temperatures, tests are conducted at low temperatures to reflect the actual phenomenon.

종래의 저온 시험 장치의 경우, 기화된 액화 질소를 시편의 주변으로 분사하여 시편을 냉각하는 단순 냉각 방식으로 시험편을 냉각시켜 시편 온도를 저하시킨 후, 목표 온도에 도달하면 필요한 시험을 진행하였다.In the case of a conventional low-temperature test device, the specimen temperature was lowered by cooling the specimen through a simple cooling method in which vaporized liquid nitrogen was sprayed around the specimen to cool it, and then the necessary tests were performed when the target temperature was reached.

그러나, 종래의 저온 시험 장치는 시편 주변에만 기화된 액화 질소를 단순히 스프레이 방식으로 분사하므로, 시편을 냉각시킬 수 있는 온도가 한정되어 있고, 기화된 액화 질소가 시편 주변에만 분사되어 시편과의 열교환이 충분하지 않은 문제점이 있었다.However, the conventional low-temperature test device simply sprays vaporized liquid nitrogen only around the specimen, so the temperature at which it can cool the specimen is limited, and the vaporized liquid nitrogen is sprayed only around the specimen, preventing heat exchange with the specimen. There was a problem that it wasn't enough.

또한, 시편과 프레스부가 접촉함에 따라 발생되는 마찰열로 인해 시편의 온도가 변하게 되므로, 시험값을 정확하게 측정할 수 없는 문제점이 있었다.In addition, because the temperature of the specimen changes due to frictional heat generated as the specimen contacts the press section, there was a problem in that the test value could not be accurately measured.

대한민국 공개특허 제10-2022-0158399호(2022.12.01. 공개)Republic of Korea Patent Publication No. 10-2022-0158399 (published on December 1, 2022)

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 냉동기를 통해 시편을 냉각시켜 시험을 진행하는 극저온 시험 장치를 제공하고자 한다.The present invention is intended to solve the above problems, and seeks to provide a cryogenic test device that conducts testing by cooling the specimen through a refrigerator.

또한, 프레스부는 시편과 접촉되는 부분에 제 1 단열부재를 더 포함하여 시편과 프레스부가 접촉하여 발생되는 마찰열로 인해 시편의 온도가 변하는 것을 방지하는 극저온 시험 장치를 제공하고자 한다. In addition, the press unit further includes a first insulation member at a portion in contact with the specimen, so as to prevent the temperature of the specimen from changing due to frictional heat generated by contact between the specimen and the press unit.

또한, 지그부는 시편과 접촉되는 부분에 제 2 단열부재를 더 포함하여 시편과 지그부가 접촉하여 발생되는 마찰열로 인해 시편의 온도가 변하는 것을 방지하는 극저온 시험 장치를 제공하고자 한다.In addition, the jig part further includes a second insulation member at the part in contact with the specimen, so as to prevent the temperature of the specimen from changing due to frictional heat generated by contact between the specimen and the jig part.

본 발명이 해결하고자 하는 과제들은 이상에서 언급된 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems to be solved by the present invention are not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the description below.

본 발명의 일 실시예에 따른 극저온 시험 장치는 냉동기를 이용한 극저온 시험 장치에 있어서, 시편을 테스트하기 위한 테스트 룸; 상기 테스트 룸 내부에 위치하고 상기 시편을 고정하는 고정부; 상기 테스트 룸을 관통하여 결합되고, 상기 고정부와 접촉하여 상기 시편을 냉각시키는 냉동기; 상기 테스트 룸을 관통하여 결합되고, 상기 고정부를 향해 높이 방향으로 왕복이동하여 상기 시편을 가압하는 프레스부를 포함할 수 있다.A cryogenic test device according to an embodiment of the present invention includes a test room for testing specimens; A fixture located inside the test room and fixing the specimen; A refrigerator that penetrates the test room and cools the specimen by contacting the fixture; It may include a press unit that is coupled through the test room and reciprocates in the height direction toward the fixing unit to press the specimen.

상기 냉동기는, 상기 테스트 룸에 접촉되고 상기 테스트 룸을 냉각시키는 제 1 단 냉동기 및 상기 고정부와 접촉하여 상기 시편을 냉각시키는 제 2 단 냉동기를 포함할 수 있다.The refrigerator may include a first stage refrigerator that is in contact with the test room and cools the test room, and a second stage refrigerator that is in contact with the fixture and cools the specimen.

상기 고정부는, 상기 시편의 일측을 고정하는 제 1 클립부; 및 상기 시편의 타측을 고정하는 제 2 클립부를 포함할 수 있다.The fixing part includes a first clip part that fixes one side of the specimen; And it may include a second clip part for fixing the other side of the specimen.

상기 냉동기는, 상기 제 1 클립부와 접촉하는 제 1 냉동기; 및 상기 제 2 클립부와 접촉하는 제 2 냉동기를 포함할 수 있다.The refrigerator may include a first refrigerator in contact with the first clip portion; And it may include a second refrigerator in contact with the second clip portion.

상기 시편의 일부는 상기 제 1 클립부 및 상기 제 2 클립부 사이에 노출될 수 있다.A portion of the specimen may be exposed between the first clip portion and the second clip portion.

상기 프레스부는 노출된 상기 시편의 일부를 가압할 수 있다.The press unit may press the exposed portion of the specimen.

상기 프레스부는 상기 시편과 접촉되는 부분에 제 1 단열부재를 포함할 수 있다.The press unit may include a first insulation member at a portion in contact with the specimen.

상기 테스트 룸의 하부에 위치하고 상기 고정부 또는 상기 시편을 지지하도록 돌출형성되는 지그부를 더 포함할 수 있다.It may further include a jig part located at the lower part of the test room and protruding to support the fixing part or the specimen.

상기 지그부는 상기 시편과 접촉되는 부분에 제 2 단열부재를 포함할 수 있다.The jig portion may include a second insulation member at a portion that is in contact with the specimen.

상기 지그부는 상기 테스트 룸과 접촉하는 하부에 제 3 단열부재를 더 포함할 수 있다.The jig part may further include a third insulation member at a lower portion in contact with the test room.

상기 테스트 룸을 감싸고 상기 테스트 룸과의 사이에 진공처리된 간극을 갖는 커버부를 더 포함할 수 있다.It may further include a cover portion surrounding the test room and having a vacuum-treated gap between the test room and the test room.

상기 커버부는 히터부를 더 포함할 수 있다.The cover part may further include a heater part.

상기 테스트 룸의 일단에는 제 1 도어부가 형성되고, 상기 커버부에는 상기 제 1 도어부와 대응되는 위치에 제 2 도어부가 형성될 수 있다.A first door may be formed at one end of the test room, and a second door may be formed on the cover at a position corresponding to the first door.

본 발명의 일 실시예에 따른 극저온 시험 장치는 냉동기를 통해 시편을 직접적으로 냉각시켜 사용자가 원하는 극저온까지 냉각시킬 수 있다.The cryogenic test device according to an embodiment of the present invention can cool the specimen to the cryogenic temperature desired by the user by directly cooling the specimen through a refrigerator.

또한, 프레스부는 시편과 접촉되는 부분에 제 1 단열부재를 더 포함하여 시편과 프레스부가 접촉하여 발생되는 마찰열로 인해 시편의 온도가 변하는 것을 방지할 수 있다. In addition, the press unit may further include a first insulation member at a portion in contact with the specimen to prevent the temperature of the specimen from changing due to frictional heat generated when the specimen contacts the press unit.

또한, 지그부는 시편과 접촉되는 부분에 제 2 단열부재를 더 포함하여 시편과 지그부가 접촉하여 발생되는 마찰열로 인해 시편의 온도가 변하는 것을 방지할 수 있다.In addition, the jig portion may further include a second insulation member at a portion in contact with the specimen to prevent the temperature of the specimen from changing due to frictional heat generated when the specimen and the jig portion are in contact.

본 발명의 효과들은 이상에서 언급된 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description below.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 극저온 시험 장치를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 극저온 시험 장치에서 테스트 룸의 내부정면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 극저온 시험 장치에서 테스트 룸의 내부측면도이다.
1 is a diagram showing a cryogenic test device according to an embodiment of the present invention.
Figure 2 is an internal front view of a test room in a cryogenic test apparatus according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is an internal side view of a test room in a cryogenic test apparatus according to an embodiment of the present invention.

아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.Below, with reference to the attached drawings, embodiments of the present invention will be described in detail so that those skilled in the art can easily implement the present invention. However, the present invention may be implemented in many different forms and is not limited to the embodiments described herein. In order to clearly explain the present invention in the drawings, parts unrelated to the description are omitted, and similar parts are given similar reference numerals throughout the specification.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서 전체에서 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐 아니라 중간에 다른 부재를 개재하여 연결되어 있는 경우와, 중간에 다른 소자를 사이에 전기적으로 연결되어 있는 경우도 포함한다. 나아가, 본원 명세서 전체에서, 어떤 부재가 다른 부재 "상에" 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 존재하는 경우도 포함한다. 또한, 본 명세서에서 사용된 "제1," "제2," 등의 표현들은 다양한 구성요소들을, 순서 및/또는 중요도에 상관없이 수식할 수 있고, 한 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위해 사용될 뿐 해당 구성요소들을 한정하지 않으며, 반드시 다른 구성요소를 의미하는 것은 아니다. 예로서, '제1 방향'과 '제2 방향'은 동일한 방향을 의미할 수도 있고, 다른 방향을 의미할 수도 있다.Throughout the specification, when a part "includes" a certain element, this means that it may further include other elements rather than excluding other elements, unless specifically stated to the contrary. In addition, when a part is said to be "connected" to another part throughout the specification, this means not only when it is directly connected, but also when it is connected through another member in the middle, or electrically between other elements in the middle. This also includes cases where they are connected. Furthermore, throughout the specification of the present application, when a member is said to be located “on” another member, this includes not only the case where a member is in contact with another member, but also the case where another member exists between the two members. Additionally, expressions such as “first,” “second,” and the like used in this specification may modify various components regardless of order and/or importance, and may be used to distinguish one component from another component. It is only used and does not limit the corresponding components, and does not necessarily mean other components. For example, 'first direction' and 'second direction' may mean the same direction or different directions.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 극저온 시험 장치(10)를 나타낸 도면이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 극저온 시험 장치(10)에서 테스트 룸(100)의 내부정면도이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 극저온 시험 장치(10)에서 테스트 룸(100)의 내부측면도이다.Figure 1 is a diagram showing a cryogenic test device 10 according to an embodiment of the present invention, and Figure 2 is an internal front view of the test room 100 in the cryogenic test device 10 according to an embodiment of the present invention. Figure 3 is an internal side view of the test room 100 in the cryogenic test apparatus 10 according to an embodiment of the present invention.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 극저온 시험 장치(10)는 테스트 룸(100), 고정부(200), 냉동기(300) 및 프레스부(400)를 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 1 to 3 , the cryogenic test device 10 may include a test room 100, a fixing unit 200, a refrigerator 300, and a press unit 400.

테스트 룸(100)은 시편(20)을 테스트하기 위한 공간으로, 내부에 시편(20)이 보관되고 밀폐구조로 형성될 수 있다.The test room 100 is a space for testing the specimen 20, and the specimen 20 is stored therein and may be formed in a sealed structure.

테스트 룸(100)의 일단에는 테스트 룸(100)의 내부에 보관된 시편(20)을 교체하기 용이하도록 제 1 도어부(110)가 형성될 수 있다.A first door portion 110 may be formed at one end of the test room 100 to facilitate replacing the specimen 20 stored inside the test room 100.

고정부(200)는 테스트 룸(100) 내부에 위치하고 시편(20)을 고정시킬 수 있다.The fixing unit 200 is located inside the test room 100 and can fix the specimen 20.

고정부(200)의 일단은 냉동기(300)와 결합되고, 고정부(200)의 타단은 시편(20)과 접촉되어 냉동기(300)의 열을 시편(20)으로 전달할 수 있다.One end of the fixing part 200 is coupled to the refrigerator 300, and the other end of the fixing part 200 is in contact with the specimen 20 to transfer heat from the freezer 300 to the specimen 20.

고정부(200)는 시편(20)과 접촉하였을 때, 시편(20)의 일부가 노출되도록 구성될 수 있다. 또는, 고정부(200)는 시편(20)의 전체를 감싸도록 구성될 수도 있다. When the fixing part 200 comes into contact with the specimen 20, a portion of the specimen 20 may be exposed. Alternatively, the fixing part 200 may be configured to surround the entire specimen 20.

고정부(200)는 시편(20)의 일측을 고정하는 제 1 클립부(210) 및 시편(20)의 타측을 고정하는 제 2 클립부(220)를 포함할 수 있다.The fixing part 200 may include a first clip part 210 that fixes one side of the specimen 20 and a second clip part 220 that fixes the other side of the specimen 20.

예를 들어, 도 2에 도시되는 바와 같이, 제 1 클립부(210)는 후술할 테스트 룸(100)의 좌측에 형성된 제 1 냉동기(301)와 결합되고, 시편(20)의 일측이 삽입될 수 있는 공간이 형성될 수 있다. 이때, 시편(20)의 일측은 제 1 클립부(210)에 의해 제공되는 공간에 삽입되어 고정될 수 있으며, 제 1 클립부(210)의 전면에 형성된 볼트의 조임으로 고정될 수 있으나, 이에 한정하지는 않는다.For example, as shown in FIG. 2, the first clip portion 210 is coupled to the first refrigerator 301 formed on the left side of the test room 100, which will be described later, and one side of the specimen 20 is inserted. A space can be formed. At this time, one side of the specimen 20 may be inserted into and fixed in the space provided by the first clip part 210, and may be fixed by tightening a bolt formed on the front of the first clip part 210. It is not limited.

한편, 도 2에 도시되는 바와 같이, 제 2 클립부(220)는 후술할 테스트 룸(100)의 우측에 형성된 제 2 냉동기(303)와 결합되고, 시편(20)의 타측이 삽입될 수 있는 공간이 형성될 수 있다. 이때, 시편(20)의 타측은 제 2 클립부(220)에 의해 제공되는 공간에 삽입되어 고정될 수 있으며, 제 2 클립부(220)의 전면에 형성된 볼트의 조임으로 고정될 수 있으나, 이에 한정하지는 않는다.Meanwhile, as shown in FIG. 2, the second clip portion 220 is coupled to the second refrigerator 303 formed on the right side of the test room 100, which will be described later, and the other side of the specimen 20 can be inserted. Space can be formed. At this time, the other side of the specimen 20 may be inserted into and fixed in the space provided by the second clip part 220, and may be fixed by tightening the bolt formed on the front of the second clip part 220. It is not limited.

여기서, 시편(20)의 일부는 제 1 클립부(210) 및 제 2 클립부(220) 사이에 노출될 수 있다.Here, a portion of the specimen 20 may be exposed between the first clip portion 210 and the second clip portion 220.

예를 들어, 도 2에 도시되는 바와 같이, 시편(20)의 중앙부는 제 1 클립부(210) 및 제 2 클립부(220) 사이에 노출되고 프레스부(400)의 의해 가압될 수 있다.For example, as shown in FIG. 2, the central portion of the specimen 20 is exposed between the first clip portion 210 and the second clip portion 220 and may be pressed by the press portion 400.

냉동기(300)는 테스트 룸(100)을 관통하여 결합되고, 고정부(200)와 접촉하여 시편(20)을 냉각시킬 수 있다. 본원에 있어, 냉동기(300)는 헬륨 가스를 작동 유체로 하는 GM(Gifford-McMahon) 사이클에 의해 냉각 능력을 발생하는 냉동기(300)일 수 있으나, 이에 한정하지 않으며, 예를 들어, 스털링 냉동기, 펄스튜브 냉동기, 줄톰슨 냉동기 등으로 구성될 수도 있다.The refrigerator 300 is coupled through the test room 100 and can cool the specimen 20 by contacting the fixing part 200. In the present application, the refrigerator 300 may be a refrigerator 300 that generates cooling capacity by the GM (Gifford-McMahon) cycle using helium gas as a working fluid, but is not limited thereto and includes, for example, a Sterling refrigerator, It may be composed of a pulse tube freezer, Joule Thompson freezer, etc.

한편, 냉동기(300)는 테스트 룸(100)의 좌측에 형성되고 제 1 클립부(210)와 접촉하는 제 1 냉동기(301)와 테스트 룸(100)의 우측에 형성되고 제 2 클립부(220)와 접촉하는 제 2 냉동기(303)를 포함할 수 있다.Meanwhile, the refrigerator 300 is formed on the left side of the test room 100 and is in contact with the first clip portion 210, and the first refrigerator 301 is formed on the right side of the test room 100 and is in contact with the second clip portion 220. ) may include a second refrigerator 303 in contact with the.

제 1 냉동기(301)는 제 1 클립부(210)와 접촉하여 시편(20)의 일측을 냉동시키고, 제 2 냉동기(303)는 제 2 클립부(220)와 접촉하여 시편(20)의 타측을 냉동시킬 수 있다.The first freezer 301 is in contact with the first clip part 210 to freeze one side of the specimen 20, and the second freezer 303 is in contact with the second clip part 220 to freeze the other side of the specimen 20. can be frozen.

이에 따라, 시편(20)의 양측부를 동시에 냉동시킴에 따라, 시편(20)이 냉동되기까지의 시간을 단축시킬 수 있다.Accordingly, by simultaneously freezing both sides of the specimen 20, the time until the specimen 20 is frozen can be shortened.

냉동기(300)는 테스트 룸(100)에 접촉되어 테스트 룸(100)을 냉각시키는 제 1 단 냉동기(310) 및 고정부(200)와 접촉하여 시편(20)을 냉각시키는 제 2 단 냉동기(320)를 포함할 수 있다.The freezer 300 includes a first stage freezer 310 that is in contact with the test room 100 to cool the test room 100, and a second stage freezer 320 that is in contact with the fixture 200 to cool the specimen 20. ) may include.

예를 들어, 도 2 내지 도 3에 도시되는 바와 같이, 제 1 단 냉동기(310)는 테스트 룸(100)에 접촉하여 냉각시킴으로써, 테스트 룸(100)의 내부 온도를 저온으로 유지시킬 수 있다. 제 2 단 냉동기(320)는 고정부(200)에 접촉하여 냉각시킴으로써, 시편(20)을 테스트에서 요구되는 온도로 냉각시킬 수 있다.For example, as shown in FIGS. 2 and 3, the first stage refrigerator 310 can maintain the internal temperature of the test room 100 at a low temperature by contacting and cooling the test room 100. The second stage freezer 320 can cool the specimen 20 to the temperature required for the test by contacting and cooling the fixing part 200.

이처럼, 냉동기(300)는 테스트 룸(100)을 냉각시키는 제 1 단 냉동기(310) 및 시편(20)과 접촉하여 냉각시키는 제 2단 냉동기(320)를 포함함에 따라, 시험대상인 시편(20)과 시편(20) 주위의 온도를 효율적으로 냉각시킬 수 있다.In this way, the refrigerator 300 includes a first-stage refrigerator 310 that cools the test room 100 and a second-stage refrigerator 320 that contacts and cools the specimen 20, so that the specimen 20 to be tested The temperature around the specimen 20 can be efficiently cooled.

프레스부(400)는 테스트 룸(100)을 관통하여 결합되고, 고정부(200)를 향해 높이 방향으로 왕복이동하여 시편(20)을 가압할 수 있다.The press unit 400 is coupled through the test room 100 and can press the specimen 20 by reciprocating in the height direction toward the fixing unit 200.

프레스부(400)는 도 1에 도시되는 바와 같이, 극저온 시험 장치(10)의 상부에서부터 연결되고 테스트 룸(100)을 관통하여 결합되어 사용자의 조작에 의해 높이 방향으로 왕복이동할 수 있다.As shown in FIG. 1, the press unit 400 is connected from the top of the cryogenic test device 10 and penetrates the test room 100, so that it can reciprocate in the height direction by the user's manipulation.

프레스부(400)는 노출된 상기 시편(20)의 일부를 가압할 수 있다. 예를 들어, 도 2에 도시되는 바와 같이, 프레스부(400)는 제 1 클립부(210) 및 제 2 클립부(220) 사이에 노출된 시편(20)의 중앙부를 가압할 수 있다.The press unit 400 may press the exposed portion of the specimen 20. For example, as shown in FIG. 2, the press unit 400 may press the central portion of the specimen 20 exposed between the first clip unit 210 and the second clip unit 220.

도 2 내지 도 3에 도시되는 바와 같이, 프레스부(400)는 최하단에 시편(20)과 접촉하는 제 1 단열부재(410)를 포함할 수 있다. 여기서, 제 1 단열부재(410)는 원기둥 형상을 가지고, 도 3에 도시되는 바와 같이, 원기둥의 윗면과 밑면은 프레스부(400)의 전방과 후방을 향하도록 프레스부(400)에 결합될 수 있다.As shown in FIGS. 2 and 3 , the press unit 400 may include a first insulation member 410 in contact with the specimen 20 at the lowermost end. Here, the first insulation member 410 has a cylindrical shape, and as shown in FIG. 3, the top and bottom surfaces of the cylinder can be coupled to the press unit 400 so as to face the front and rear of the press unit 400. there is.

도 2에 도시되는 바와 같이, 프레스부(400)는 제 1 단열부재(410)의 일부를 수용하는 수용 공간을 가지고, 제 1 단열부재(410)는 일부가 수용 공간에 수용되고 다른 일부는 노출되도록 프레스부(400)에 결합될 수 있다. 이때, 제 1 단열부재(410)의 측면(원기둥의 측면) 일부가 시편(20)을 바라보게 된다.As shown in FIG. 2, the press unit 400 has a receiving space for accommodating a portion of the first insulating member 410, and a portion of the first insulating member 410 is accommodated in the accommodating space and the other portion is exposed. It can be coupled to the press unit 400 as much as possible. At this time, a portion of the side (side of the cylinder) of the first insulation member 410 faces the specimen 20.

제 1 단열부재(410)는 에폭시 수지, 에폭시 수지에 유리섬유를 함침한 후 고열 및 고압으로 적층, 성형한 G10, G11, FR-4 등과 같은 재질로 형성될 수 있다.The first insulation member 410 may be formed of a material such as epoxy resin, G10, G11, FR-4, etc., which is obtained by impregnating epoxy resin with glass fiber and then laminating and molding it at high heat and high pressure.

이처럼, 프레스부(400)는 시편(20)과 접촉되는 부분에 제 1 단열부재(410)를 더 포함함에 따라, 프레스부(400)가 시편(20)을 가압하였을 경우에 발생되는 마찰열로 인해 시편(20)의 온도가 변하는 것을 방지할 수 있다.In this way, the press unit 400 further includes a first insulation member 410 at the portion in contact with the specimen 20, resulting in frictional heat generated when the press unit 400 presses the specimen 20. It is possible to prevent the temperature of the specimen 20 from changing.

프레스부(400)의 지속적인 사용에 의해 제 1 단열부재(410)의 시편(20)과 접촉되는 부분이 마모되어 정확한 시험 측정이 불가능한 경우에, 프레스부(400)와 제 1 단열부재(410)의 고정결합을 해제한 후, 제 1 단열부재(410)를 원기둥의 중심축을 회전시켜 마모가 되지 않은 부분이 시편(20)을 바라보도록 재결합하여 사용할 수 있다.When the part of the first insulation member 410 in contact with the specimen 20 is worn due to continuous use of the press unit 400 and accurate test measurement is not possible, the press unit 400 and the first insulation member 410 After releasing the fixed combination, the first insulation member 410 can be reassembled and used by rotating the central axis of the cylinder so that the unworn part faces the specimen 20.

본원에 따르면, 종래의 가압 부재보다 강도가 낮은 제 1 단열부재(410)를 사용하더라도 제 1 단열부재(410)를 교체하여 프레스부(400)를 반영구적으로 사용할 수 있다.According to the present application, even if the first insulation member 410 whose strength is lower than that of a conventional pressing member is used, the press unit 400 can be used semi-permanently by replacing the first insulation member 410.

또한, 제 1 단열부재(410)의 시편(20)과 접촉되는 부분이 마모될 때마다 제 1 단열부재(410)를 회전시켜 사용할 수 있어 제 1 단열부재(410)의 교체 주기를 연장시킬 수 있다.In addition, the first insulation member 410 can be rotated and used whenever the part of the first insulation member 410 in contact with the specimen 20 is worn, so the replacement cycle of the first insulation member 410 can be extended. there is.

한편, 극저온 시험 장치(10)는 테스트 룸(100)의 하부에 위치하고 고정부(200) 또는 시편(20)을 지지하도록 돌출형성되는 지그부(500)를 더 포함할 수 있다.Meanwhile, the cryogenic test device 10 may further include a jig portion 500 that is located at the lower part of the test room 100 and protrudes to support the fixing portion 200 or the specimen 20.

즉, 지그부(500)는 고정부(200)를 지지하거나 도 2와 같이 시편(20)의 일부가 노출되었을 때, 시편(20)을 지지할 수 있도록 고정부(200)와 근접된 위치에 돌출형성될 수 있다.That is, the jig part 500 supports the fixing part 200 or is positioned close to the fixing part 200 so as to support the specimen 20 when a part of the specimen 20 is exposed as shown in FIG. 2. It may be formed as a protrusion.

예를 들어, 도 2에 도시되는 바와 같이, 지그부(500)는 제 1 클립부(210) 또는 시편(20)의 일측과 제 2 클립부(220) 또는 시편(20)의 타측을 지지할 수 있도록 제 1 클립부(210)와 제 2 클립부(220)의 하부에 각각 돌출형성될 수 있다.For example, as shown in FIG. 2, the jig part 500 supports one side of the first clip part 210 or the specimen 20 and the other side of the second clip part 220 or the specimen 20. It may be formed to protrude from the lower portions of the first clip part 210 and the second clip part 220, respectively.

지그부(500)는 고정부(200) 또는 시편(20)과 접촉되는 부분에 제 2 단열부재(510)를 포함할 수 있다. 여기서, 제 2 단열부재(510)는 원기둥 형상을 가지고, 도 3에 도시되는 바와 같이, 원기둥의 윗면과 밑면은 지그부(500)의 전방과 후방을 향하도록 지그부(500)에 결합될 수 있다.The jig portion 500 may include a second insulation member 510 at a portion that is in contact with the fixing portion 200 or the specimen 20. Here, the second insulation member 510 has a cylindrical shape, and as shown in FIG. 3, the top and bottom surfaces of the cylinder can be coupled to the jig portion 500 so as to face the front and rear of the jig portion 500. there is.

도 2에 도시되는 바와 같이, 지그부(500)는 제 2 단열부재(510)의 일부를 수용하는 수용 공간을 가지고, 제 2 단열부재(510)는 일부가 수용 공간에 수용되고 다른 일부는 노출되도록 지그부(500)에 결합될 수 있다. 이때, 제 2 단열부재(510)의 측면(원기둥의 측면) 일부가 시편(20)을 바라보게 된다.As shown in FIG. 2, the jig portion 500 has a receiving space for accommodating a portion of the second insulating member 510, and a portion of the second insulating member 510 is accommodated in the accommodating space and the other portion is exposed. It can be coupled to the jig portion 500 as much as possible. At this time, a portion of the side (side of the cylinder) of the second insulation member 510 faces the specimen 20.

이때, 제 2 단열부재(510)는 에폭시 수지, 에폭시 수지에 유리섬유를 함침한 후 고열 및 고압으로 적층, 성형한 G10, G11, FR-4 등과 같은 재질로 구성될 수 있다.At this time, the second insulation member 510 may be made of a material such as epoxy resin, G10, G11, FR-4, etc., which is obtained by impregnating glass fiber with epoxy resin and then laminating and molding it at high heat and pressure.

이처럼, 지그부(500)는 시편(20)과 접촉되는 부분에 제 2 단열부재(510)를 포함함에 따라, 프레스부(400)에 의해 시편(20)을 가압시에 발생되는 마찰열로 인해 시편(20)이 온도가 변하는 것을 방지할 수 있다.In this way, the jig part 500 includes the second insulation member 510 at the part in contact with the specimen 20, so that the specimen 20 is in contact with the specimen 20 due to frictional heat generated when the specimen 20 is pressed by the press unit 400. (20) This can prevent the temperature from changing.

지그부(500)의 지속적인 사용에 의해 제 2 단열부재(510)의 시편(20)과 접촉되는 부분이 마모되어 정확한 시험 측정이 불가능한 경우에, 지그부(500)와 제 2 단열부재(510)의 고정결합을 해제한 후, 제 2 단열부재(510)를 원기둥의 중심축을 회전시켜 마모가 되지 않은 부분이 시편(20)을 바라보도록 재결합하여 사용할 수 있다.When the part of the second insulation member 510 in contact with the specimen 20 is worn due to continuous use of the jig portion 500 and accurate test measurement is not possible, the jig portion 500 and the second insulation member 510 After releasing the fixed combination, the second insulation member 510 can be reconnected and used by rotating the central axis of the cylinder so that the unworn part faces the specimen 20.

지그부(500)는 테스트 룸(100)과 접촉하는 하부에 제 3 단열부재(520)를 더 포함할 수 있다.The jig portion 500 may further include a third insulation member 520 at a lower portion in contact with the test room 100.

도 2 내지 도 3에 도시되는 바와 같이, 지그부(500)의 하부에는 제 3 단열부재(520)를 더 포함하여, 지그부(500)와 테스트 룸(100) 사이에 열교환이 발생되는 것을 방지할 수 있다.As shown in FIGS. 2 and 3, a third insulation member 520 is further included in the lower part of the jig portion 500 to prevent heat exchange from occurring between the jig portion 500 and the test room 100. can do.

한편, 극저온 시험 장치(10)는 테스트 룸(100)을 감싸고 테스트 룸(100)과의 사이에 진공처리된 간극을 갖는 커버부(600)를 더 포함할 수 있다.Meanwhile, the cryogenic test device 10 may further include a cover portion 600 that surrounds the test room 100 and has a vacuum-treated gap between the test room 100 and the test room 100 .

커버부(600)의 외측에는 테스트 룸(100)과 커버부(600) 사이의 간극을 진공 처리하는 진공용 포트(미도시)를 더 포함할 수 있다.The outside of the cover part 600 may further include a vacuum port (not shown) for vacuuming the gap between the test room 100 and the cover part 600.

테스트 룸(100)과 커버부(600) 사이의 간극은 진공용 포트(미도시)를 통해 진공처리됨에 따라, 테스트 룸(100)의 외부와 커버부(600)의 내부 사이의 단열효과를 극대화하여 열교환이 발생되는 것을 최소화할 수 있다.The gap between the test room 100 and the cover part 600 is vacuumed through a vacuum port (not shown), thereby maximizing the insulation effect between the outside of the test room 100 and the inside of the cover part 600. This can minimize heat exchange.

커버부(600)는 히터부(미도시)를 더 포함할 수 있다.The cover unit 600 may further include a heater unit (not shown).

예를 들어, 커버부(600)의 내주면에 극저온 시험 장치(10)의 전원공급부와 연결된 히터부(미도시)가 배치됨에 따라, 극저온에서의 시험이 완료된 후에 히터부(미도시)에 전원을 공급하여 극저온 상태의 극저온 시험 장치(10)를 상온상태로 복원시키는 데까지의 시간을 단축시킬 수 있다. 또한, 히터부(미도시)를 통해 고온환경에서의 시험이 가능해질 수 있다.For example, as a heater unit (not shown) connected to the power supply unit of the cryogenic test device 10 is disposed on the inner peripheral surface of the cover unit 600, power is turned on to the heater unit (not shown) after the test at cryogenic temperature is completed. The time it takes to restore the cryogenic test device 10 in a cryogenic state to room temperature can be shortened. Additionally, testing in a high temperature environment may be possible through a heater unit (not shown).

히터부(미도시)는 커버부(600)의 내주면에 지그재그 형태로 이격하여 열선 형태로 배치될 수 있으나, 이에 한정하지 않는다.The heater unit (not shown) may be arranged in a zigzag shape on the inner peripheral surface of the cover unit 600 in the form of a heating wire, but is not limited to this.

커버부(600)는 전술한 제 1 도어부(110)와 대응되는 위치에 제 2 도어부(미도시)가 형성될 수 있다.The cover part 600 may have a second door part (not shown) formed in a position corresponding to the above-described first door part 110.

커버부(600)의 일단에 제 1 도어부(110)와 대응되는 위치에 제 2 도어부(미도시)가 형성됨에 따라, 테스트 룸(100)의 내부에 보관된 시편(20)을 교체시에 용이할 수 있다. As a second door part (not shown) is formed at one end of the cover part 600 at a position corresponding to the first door part 110, when the specimen 20 stored inside the test room 100 is replaced It can be easy.

전술한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 극저온 시험 장치(10)에 의하면, 냉동기(300)를 통해 시편(20)을 직접적으로 냉각시켜 사용자가 원하는 극저온까지 냉각시킬 수 있게 된다.As described above, according to the cryogenic test device 10 according to an embodiment of the present invention, the specimen 20 can be cooled directly through the refrigerator 300 to the cryogenic temperature desired by the user.

또한, 프레스부(400)는 시편(20)과 접촉되는 부분에 제 1 단열부재(410)를 더 포함하여 시편(20)과 프레스부(400)가 접촉하여 발생되는 마찰열로 인해 시편(20)의 온도가 변하는 것을 방지할 수 있게 되고, 지그부(500)는 시편(20)과 접촉되는 부분에 제 2 단열부재(510)를 더 포함하여 시편(20)과 지그부(500)가 접촉하여 발생되는 마찰열로 인해 시편(20)의 온도가 변하는 것을 방지할 수 있게 된다.In addition, the press unit 400 further includes a first insulation member 410 at a portion in contact with the specimen 20, so that the specimen 20 is in contact with the specimen 20 due to frictional heat generated by contact with the press unit 400. It is possible to prevent the temperature of the sample from changing, and the jig portion 500 further includes a second insulation member 510 at the portion in contact with the specimen 20, so that the specimen 20 and the jig portion 500 are in contact with each other. It is possible to prevent the temperature of the specimen 20 from changing due to frictional heat generated.

이상에서 설명한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.The description of the present invention described above is for illustrative purposes, and those of ordinary skill in the technical field to which the present invention pertains can understand that it can be easily modified into other specific forms without changing the technical idea or essential features of the present invention. There will be. Therefore, the embodiments described above should be understood in all respects as illustrative and not restrictive. For example, each component described as single may be implemented in a distributed manner, and similarly, components described as distributed may also be implemented in a combined form.

또한, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 청구범위에 의하여 나타내어지며, 청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.In addition, the scope of the present invention is indicated by the claims described below rather than the detailed description above, and all changes or modified forms derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts should be construed as being included in the scope of the present invention. do.

10 : 극저온 시험 장치
20 : 시편
100 : 테스트 룸
110 : 제 1 도어부
200 : 고정부
210 : 제 1 클립부
220 : 제 2 클립부
300 : 냉동기
301 : 제 1 냉동기
303 : 제 2 냉동기
310 : 제 1 단 냉동기
320 : 제 2 단 냉동기
400 : 프레스부
410 : 제 1 단열부재
500 : 지그부
510 : 제 2 단열부재
520 : 제 3 단열부재
600 : 커버부
10: Cryogenic test device
20: Psalm
100: Test room
110: first door part
200: fixing part
210: first clip part
220: second clip part
300: Freezer
301: 1st freezer
303: Second freezer
310: 1st stage freezer
320: Second stage freezer
400: Press section
410: first insulation member
500: Jig part
510: Second insulation member
520: Third insulation member
600: Cover part

Claims (13)

냉동기를 이용한 극저온 시험 장치에 있어서,
시편을 테스트하기 위한 테스트 룸;
상기 테스트 룸 내부에 위치하고 상기 시편을 고정하는 고정부;
상기 테스트 룸을 관통하여 결합되고, 상기 고정부와 접촉하여 상기 시편을 냉각시키는 냉동기;
상기 테스트 룸을 관통하여 결합되고, 상기 고정부를 향해 높이 방향으로 왕복이동하여 상기 시편을 가압하는 프레스부를 포함하고,
상기 냉동기는,
상기 테스트 룸에 접촉되고 상기 테스트 룸을 냉각시키는 제 1 단 냉동기 및
상기 고정부와 접촉하여 상기 시편을 냉각시키는 제 2 단 냉동기를 포함하고,
상기 프레스부는 상기 시편과 접촉되는 부분에 제 1 단열부재를 포함하는 것인, 극저온 시험 장치.
In a cryogenic test device using a refrigerator,
a test room for testing specimens;
A fixture located inside the test room and fixing the specimen;
A refrigerator that penetrates the test room and cools the specimen by contacting the fixture;
A press unit coupled through the test room and reciprocating in the height direction toward the fixing unit to press the specimen,
The refrigerator,
a first stage refrigerator in contact with the test room and cooling the test room; and
It includes a second stage freezer that cools the specimen by contacting the fixture,
The press unit includes a first insulation member in a portion in contact with the specimen.
제 1 항에 있어서,
상기 고정부는,
상기 시편의 일측을 고정하는 제 1 클립부; 및
상기 시편의 타측을 고정하는 제 2 클립부를 포함하는 것인, 극저온 시험 장치.
According to claim 1,
The fixing part,
a first clip portion that secures one side of the specimen; and
A cryogenic test device comprising a second clip portion for fixing the other side of the specimen.
제 2 항에 있어서,
상기 냉동기는,
상기 제 1 클립부와 접촉하는 제 1 냉동기; 및
상기 제 2 클립부와 접촉하는 제 2 냉동기를 포함하는 것인, 극저온 시험 장치.
According to claim 2,
The refrigerator,
a first refrigerator in contact with the first clip portion; and
A cryogenic test device comprising a second refrigerator in contact with the second clip portion.
제 2 항에 있어서,
상기 시편의 일부는 상기 제 1 클립부 및 상기 제 2 클립부 사이에 노출되는 것인, 극저온 시험 장치.
According to claim 2,
A portion of the specimen is exposed between the first clip portion and the second clip portion.
삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 프레스부는 노출된 상기 시편의 일부를 가압하는 것인, 극저온 시험 장치.
According to claim 1,
The press unit presses the exposed portion of the specimen.
삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 테스트 룸의 하부에 위치하고 상기 고정부 또는 상기 시편을 지지하도록 돌출형성되는 지그부를 더 포함하는 것인, 극저온 시험 장치.
According to claim 1,
The cryogenic test device is located at the lower part of the test room and further includes a jig part protruding to support the fixing part or the specimen.
제 8 항에 있어서,
상기 지그부는 상기 시편과 접촉되는 부분에 제 2 단열부재를 포함하는 것인, 극저온 시험 장치.
According to claim 8,
A cryogenic testing device wherein the jig portion includes a second insulation member at a portion in contact with the specimen.
제 8 항에 있어서,
상기 지그부는 상기 테스트 룸과 접촉하는 하부에 제 3 단열부재를 더 포함하는 것인, 극저온 시험 장치.
According to claim 8,
The jig portion further includes a third insulation member at a lower portion in contact with the test room.
제 1 항에 있어서,
상기 테스트 룸을 감싸고 상기 테스트 룸과의 사이에 진공처리된 간극을 갖는 커버부를 더 포함하는 것인, 극저온 시험 장치.
According to claim 1,
A cryogenic test device further comprising a cover portion surrounding the test room and having a vacuum-treated gap between the test room and the test room.
제 11 항에 있어서,
상기 커버부의 내주면에 상기 극저온 시험 장치의 전원공급부와 연결되는 히터부를 더 포함하는 것인, 극저온 시험 장치.
According to claim 11,
The cryogenic test device further includes a heater portion connected to the power supply of the cryogenic test device on the inner peripheral surface of the cover portion.
제 11 항에 있어서,
상기 테스트 룸의 일단에는 제 1 도어부가 형성되고, 상기 커버부에는 상기 제 1 도어부와 대응되는 위치에 제 2 도어부가 형성되는 것인, 극저온 시험 장치.
According to claim 11,
A cryogenic test device in which a first door part is formed at one end of the test room, and a second door part is formed on the cover part at a position corresponding to the first door part.
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Citations (8)

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