KR102652216B1 - 연결 기판을 포함하는 표시 장치 그리고 패드 접속 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

표시 장치는 제1 내지 제4 패널 패드들을 포함하는 표시 패널 및 상기 제1 내지 제4 패드들에 각각 접속하는 제1 내지 제4 연결 기판 패드들을 포함하는 연결 기판을 포함하되, 상기 제1 패널 패드 및 상기 제2 패널 패드는 전기적으로 연결되고, 상기 제3 패널 패드 및 상기 제4 패널 패드는 전기적으로 연결되며, 상기 연결 기판은, 상기 제1 연결 기판 패드로 전송된 제1 패널 테스트 신호와 상기 제2 연결 기판 패드로부터 수신되는 제1 패널 피드백 신호에 근거해서 제1 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제3 연결 기판 패드로 전송된 제2 패널 테스트 신호와 상기 제4 연결 기판 패드로부터 수신되는 제2 패널 피드백 신호에 근거해서 제2 테스트 결과 신호를 생성하며, 상기 제1 테스트 결과 신호 및 상기 제2 테스트 결과 신호를 순차적으로 테스트 결과 신호로서 출력한다.

Description

연결 기판을 포함하는 표시 장치 그리고 패드 접속 검사 방법{DISPLAY DEVICE HAVING CONNECTION BOARD AND PAD CONTACT TEST METHOD THEREOF}
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로 좀 더 구체적으로는 표시 패널에 전기적으로 연결되는 연결 기판을 포함하는 표시 장치에 관한 것이다.
텔레비전, 휴대 전화, 태블릿 컴퓨터, 네비게이션, 게임기 등과 같은 멀티미디어 장치에 사용되는 다양한 표시 장치들이 개발되고 있다. 표시 장치들 중 유기 발광 표시 장치는 전자와 정공의 재결합에 의하여 빛을 발생하는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode)를 이용하여 영상을 표시한다. 이러한, 유기 발광 표시 장치는 빠른 응답속도를 가짐과 동시에 낮은 소비전력으로 구동되는 장점이 있다.
유기 발광 표시 장치는 영상을 표시하는 표시 패널, 표시 패널의 동작을 제어하기 위한 제어 신호들 및 영상 신호들을 제공하는 호스트 장치 및 호스트 장치로부터의 제어 신호들 및 영상 신호들을 표시 패널로 제공하기 위한 연결 기판을 포함할 수 있다.
연결 기판은 복수의 회로 기판들을 포함할 수 있으며, 회로 기판들은 패드들을 통해 상호 접속될 수 있다. 예를 들어, 회로 기판의 패드들과 표시 패널의 패드들은 충분히 완전하게 접속되어야 제어 신호들 및 영상 신호들이 왜곡 없이 표시 패널로 전달될 수 있다.
본 발명은 패드들의 접속 상태를 검사할 수 있는 연결 기판을 포함하는 표시 장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 다른 목적은 패드들의 접속 상태를 검사할 수 있는 표시 장치의 패드 접속 검사 방법을 제공하는데 있다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 특징에 의하면, 표시 장치는: 제1 내지 제4 패널 패드들을 포함하는 표시 패널, 및 상기 제1 내지 제4 패드들에 각각 접속하는 제1 내지 제4 연결 기판 패드들을 포함하는 연결 기판을 포함한다. 상기 제1 패널 패드 및 상기 제2 패널 패드는 전기적으로 연결되고, 상기 제3 패널 패드 및 상기 제4 패널 패드는 전기적으로 연결된다. 상기 연결 기판은, 상기 제1 내지 제4 연결 기판 패드들에 전기적으로 연결되고, 상기 제1 연결 기판 패드로 전송된 제1 패널 테스트 신호와 상기 제2 연결 기판 패드로부터 수신되는 제1 패널 피드백 신호에 근거해서 제1 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제3 연결 기판 패드로 전송된 제2 패널 테스트 신호와 상기 제4 연결 기판 패드로부터 수신되는 제2 패널 피드백 신호에 근거해서 제2 테스트 결과 신호를 생성하며, 상기 제1 테스트 결과 신호 및 상기 제2 테스트 결과 신호를 순차적으로 테스트 결과 신호로서 출력하는 구동 회로를 포함한다.
예시적인 실시예에서, 상기 구동 회로는 집적 회로로 구성되며, 상기 연결 기판은 상기 구동 회로가 실장될 수 있는 칩 온 필름으로 구성될 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 제1 패널 패드 및 상기 제2 패널 패드는 상기 표시 패널의 일측에 배열되고, 상기 제3 패널 패드 및 상기 제4 패널 패드는 상기 제1 패널 패드 및 상기 제2 패널 패드와 이격하여 상기 표시 패널의 타측에 배열될 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 구동 회로는 상기 제1 패널 테스트 신호와 상기 제1 패널 피드백 신호 사이의 제1 오차가 소정 값보다 작을 때 제1 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제1 오차가 상기 소정 값보다 크거나 같을 때 상기 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성하며, 상기 구동 회로는 상기 제2 패널 테스트 신호와 상기 제2 패널 피드백 신호 사이의 제2 오차가 상기 소정 값보다 작을 때 상기 제1 레벨의 상기 제2 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제2 오차가 상기 소정 값보다 크거나 같을 때 상기 제2 레벨의 상기 제2 테스트 결과 신호를 생성할 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 표시 패널은 복수의 패널 패드들을 더 포함하고, 상기 연결 기판은 상기 복수의 패널 패드들에 각각 접속하는 복수의 연결 기판 신호 패드들을 더 포함하며, 상기 복수의 패널 패드들 및 상기 복수의 연결 기판 신호 패드들 중 적어도 하나는 영상 신호를 전송하기 위한 영상 신호 패드일 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 제1 패널 패드 및 상기 제2 패널 패드는 상기 복수의 패널 패드들의 일측에 배열되고, 상기 제3 패널 패드 및 상기 제4 패널 패드는 상기 복수의 패널 패드들의 타측에 배열될 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 표시 패널은 서로 전기적으로 연결된 제5 패널 패드 및 제6 패널 패드 그리고 서로 전기적으로 연결된 제7 패널 패드 및 제8 패널 패드를 더 포함하고, 상기 연결 기판은 상기 제5 내지 제8 패널 패드들에 각각 접속하는 제5 내지 제8 연결 기판 패드들을 더 포함하며, 상기 구동 회로는 상기 제5 내지 제8 연결 기판 패드들에 전기적으로 연결되며, 상기 제5 연결 기판 패드로 전송된 제5 패널 테스트 신호와 상기 제6 연결 기판 패드로부터 수신되는 제3 패널 피드백 신호에 근거해서 제3 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제7 연결 기판 패드로 전송된 제4 패널 테스트 신호와 상기 제8 연결 기판 패드로부터 수신되는 제4 패널 피드백 신호에 근거해서 제4 테스트 결과 신호를 생성하며, 상기 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들을 순차적으로 상기 테스트 결과 신호로서 출력할 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 제5 내지 제8 패널 패드들은 상기 복수의 패널 패드들 사이에 각각 배열될 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 연결 기판은 연결 기판 출력 패드를 더 포함하고, 상기 구동 회로는 한 프레임동안 상기 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들을 상기 연결 기판 출력 패드로 순차적으로 출력할 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 연결 기판 출력 패드에 접속하는 출력 수신 패드를 포함하는 메인 회로 기판을 더 포함하되, 상기 메인 회로 기판은 상기 출력 수신 패드를 통해 상기 제1 테스트 결과 신호 및 상기 제2 테스트 결과 신호를 수신하는 메인 컨트롤러를 더 포함할 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 메인 회로 기판은 제1 내지 제4 메인 기판 패드들을 더 포함하고, 상기 연결 기판은 상기 제1 내지 제4 메인 기판 패드들에 각각 접속하는 제1 내지 제4 메인 접속 패드들을 더 포함하고, 상기 구동 회로는 상기 제1 내지 제4 메인 기판 패드들에 전기적으로 연결되고, 상기 제1 메인 접속 패드로 전송된 제1 메인 기판 테스트 신호와 상기 제2 메인 접속 패드로부터 수신되는 제1 메인 기판 피드백 신호에 근거해서 제5 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제3 메인 접속 패드로 전송된 제2 메인 접속 테스트 신호와 상기 제4 메인 접속 패드로부터 수신되는 제2 메인 접속 피드백 신호에 근거해서 제6 테스트 결과 신호를 생성하며, 상기 제5 테스트 결과 신호 및 상기 제6 테스트 결과 신호를 순차적으로 상기 테스트 결과 신호로서 출력할 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 구동 회로는 상기 제1 내지 제 6 테스트 결과 신호들을 한 프레임동안 순차적으로 상기 연결 기판 출력 패드로 출력할 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 제1 메인 기판 패드 및 상기 제2 메인 기판 패드는 상기 메인 회로 기판의 일측에 배열되고, 상기 제3 메인 기판 패드 및 상기 제4 메인 기판 패드는 상기 제1 메인 기판 패드 및 상기 제2 메인 기판 패드와 이격하여 상기 메인 회로 기판의 타측에 배열될 수 있다.
본 발명의 다른 특징에 따른 표시 장치는: 복수의 패널 패드들을 포함하는 표시 패널, 각각이 제1 내지 제4 연결 기판 패드들, 및 연결 기판 출력 패드를 포함하는 복수의 연결 기판들, 상기 복수의 연결 기판들 각각의 상기 연결 기판 출력 패드와 접속하는 복수의 출력 수신 패드들을 포함하는 메인 회로 기판을 포함한다. 상기 복수의 패널 패드들은 서로 전기적으로 연결된 제1 및 제2 패널 패드들 그리고 서로 전기적으로 연결된 제3 및 제4 패널 패드들을 포함하며, 상기 복수의 연결 기판들 중 어느 하나의 상기 제1 내지 제4 연결 기판 패드들은 상기 제1 내지 제4 패널 패드들에 각각 접속한다. 상기 복수의 연결 기판들 중 어느 하나는, 상기 제1 내지 제4 연결 기판 패드들에 전기적으로 연결되고, 상기 제1 연결 기판 패드로 전송된 제1 패널 테스트 신호, 상기 제2 연결 기판 패드로부터 수신되는 제1 패널 피드백 신호, 상기 제3 연결 기판 패드로 전송된 제2 패널 테스트 신호 및 상기 제4 연결 기판 패드로부터 수신되는 제2 패널 피드백 신호에 근거해서 제1 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제1 테스트 결과 신호를 상기 연결 기판 출력 패드로 출력하는 구동 회로를 포함한다.
예시적인 실시예에서, 상기 구동 회로는 집적 회로로 구성되며, 상기 복수의 연결 기판들 각각은 상기 구동 회로가 실장될 수 있는 칩 온 필름으로 구성될 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 구동 회로는 상기 제1 패널 테스트 신호와 상기 제1 패널 피드백 신호 사이의 제1 오차가 소정 값보다 작고, 상기 제2 패널 테스트 신호와 상기 제2 패널 피드백 신호 사이의 제2 오차가 상기 소정 값보다 작을 때 제1 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제1 오차 및 상기 제2 오차 중 적어도 하나가 상기 소정 값보다 크거나 같을 때 상기 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성할 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 복수의 연결 기판들 각각의 상기 구동 회로는 한 프레임 내 서로 다른 구간에 상기 제1 테스트 결과 신호를 출력할 수 있다.
본 발명의 다른 특징에 따른 표시 장치는 서로 전기적으로 연결된 제1 패널 패드 및 제2 패널 패드, 서로 전기적으로 연결된 제3 패널 패드 및 제4 패널 패드를 포함하는 표시 패널 및 제1 내지 제4 연결 기판 패드들을 포함하는 연결 기판을 포함하며, 상기 표시 장치의 패드 접속 검사 방법은: 상기 표시 패널의 상기 제1 내지 제4 패널 패드들에 상기 제1 내지 제4 연결 기판 패드들을 각각 접속하는 단계, 상기 제1 연결 기판 패드로 제1 패널 테스트 신호를 전송하고, 상기 제3 연결 기판 패드로 제2 패널 테스트 신호를 전송하는 단계, 상기 제1 패널 테스트 신호와 상기 제1 패널 피드백 신호 사이의 제1 오차에 근거해서 제1 테스트 결과 신호를 생성하는 단계, 상기 제2 연결 기판 패드로부터 제1 패널 피드백 신호를 수신하고, 상기 제4 연결 기판 패드로부터 제2 패널 피드백 신호를 수신하는 단계, 상기 제2 패널 테스트 신호와 상기 제2 패널 피드백 신호 사이의 제2 오차에 근거해서 제2 테스트 결과 신호를 생성하는 단계 및 상기 제1 테스트 결과 신호 및 상기 제2 테스트 결과 신호를 순차적으로 출력하는 단계를 포함한다.
예시적인 실시예에서, 상기 연결 기판은 연결 기판 출력 패드를 더 포함하며, 상기 출력 단계는 상기 제1 테스트 결과 신호 및 상기 제2 테스트 결과 신호를 한 프레임동안 상기 연결 기판 출력 패드로 순차적으로 출력할 수 있다.
예시적인 실시예에서, 상기 출력 단계는 상기 제1 패널 테스트 신호와 상기 제1 패널 피드백 신호 사이의 상기 제1 오차가 소정 값보다 작을 때 제1 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제1 오차가 상기 소정 값보다 크거나 같을 때 상기 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성하며, 상기 출력 단계는 상기 제2 패널 테스트 신호와 상기 제2 패널 피드백 신호 사이의 제2 오차가 상기 소정 값보다 작을 때 상기 제1 레벨의 상기 제2 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제2 오차가 상기 소정 값보다 크거나 같을 때 상기 제2 레벨의 상기 제2 테스트 결과 신호를 생성할 수 있다.
이와 같은 구성을 갖는 표시 장치는 표시 패널과 연결 기판이 정상적으로 접속되었는 지를 검사할 수 있다. 또한 연결 기판의 복수의 패드들이 표시 패널의 패널 패드들과 접속할 때 비정상적으로 접속된 패드의 위치를 메인 컨트롤러가 알 수 있다. 따라서 표시 장치의 생산 공정 효율이 향상될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 평면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널과 연결 기판의 연결을 예시적으로 보여주는 단면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널과 연결 기판의 접속 및 연결 기판과 메인 기판의 접속을 예시적으로 보여주는 평면도이다.
도 5a 및 도 5b는 구동 회로로부터 출력되는 테스트 결과 신호를 예시적으로 보여주는 타이밍도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널과 연결 기판의 접속 및 연결 기판과 메인 기판의 접속을 예시적으로 보여주는 평면도이다.
도 7a 및 도 7c는 구동 회로로부터 출력되는 테스트 결과 신호를 예시적으로 보여주는 타이밍도이다.
도 8은 구동 회로와 메인 컨트롤러 사이의 전송 신호를 예시적으로 보여주는 도면이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 평면도이다.
도 10a 및 도 10b는 제1 내지 제4 구동 회로들로부터 출력되는 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들 및 메인 컨트롤러에서 수신되는 테스트 결과 신호를 예시적으로 보여주는 타이밍도이다.
도 11은 표시 장치와 연결되는 검사 장치를 예시적으로 보여주는 도면이다.
본 명세서에서, 어떤 구성요소(또는 영역, 층, 부분 등)가 다른 구성요소 "상에 있다", "연결된다", 또는 "결합된다"고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 배치/연결/결합될 수 있거나 또는 그들 사이에 제3의 구성요소가 배치될 수도 있다는 것을 의미한다.
동일한 도면부호는 동일한 구성요소를 지칭한다. 또한, 도면들에 있어서, 구성요소들의 두께, 비율, 및 치수는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다.
"및/또는"은 연관된 구성들이 정의할 수 있는 하나 이상의 조합을 모두 포함한다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
또한, "아래에", "하측에", "위에", "상측에" 등의 용어는 도면에 도시된 구성들의 연관관계를 설명하기 위해 사용된다. 상기 용어들은 상대적인 개념으로, 도면에 표시된 방향을 기준으로 설명된다.
다르게 정의되지 않는 한, 본 명세서에서 사용된 모든 용어 (기술 용어 및 과학 용어 포함)는 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 갖는다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에서 정의된 용어와 같은 용어는 관련 기술의 맥락에서 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하고, 이상적인 또는 지나치게 형식적인 의미로 해석되지 않는 한, 명시적으로 여기에서 정의된다.
"포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 사시도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(DD)는 액정 표시 장치, 전계 방출 표시 장치, 플라즈마 표시 장치, 또는 유기 발광 표시 장치일 수 있다. 다만, 이는 예시적으로 나열한 것으로 표시 장치(DD)가 상기 나열한 표시 장치의 종류에 한정되는 것은 아니다.
도 1에서 표시 장치(DD)의 일 예로 평판 표시 장치를 도시하였다. 그러나, 이에 제한되는 것은 아니고, 표시 장치(DD)는 폴더블 표시 장치, 롤러블 표시 장치 또는 밴디드 표시 장치일 수 있고, 특별히 제한되지 않는다. 표시 장치(DD)는 텔레비전, 모니터 등과 같은 대형 전자 장치를 비롯하여, 휴대 전화, 태블릿, 자동차 네비게이션, 게임기, 스마트 와치 등과 같은 중소형 전자 장치 등에 사용될 수 있다.
표시 장치(DD)는 제1 방향(DR1)과 제2 방향(DR2)이 정의하는 면과 평행하고 이미지(IM)가 표시되는 표시면(IS)을 포함할 수 있다. 표시 장치(DD)의 표시면(IS)은 복수 개의 영역들을 포함할 수 있다. 표시 장치(DD)는 이미지(IM)가 표시되는 표시 영역(DD-DA) 및 표시 영역(DD-DA)에 인접한 비표시 영역(DD-NDA)을 포함한다. 비표시 영역(DD-NDA)은 이미지가 표시되지 않는 영역이다.
일 예로써, 표시 영역(DD-DA)은 사각 형상일 수 있다. 비표시 영역(DD-NDA)은 표시 영역(DD-DA)을 둘러쌀 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 표시 영역(DD-DA)의 형상과 비표시 영역(DD-NDA)의 형상은 상대적으로 디자인될 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(DD)의 평면도이다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널과 연결 기판의 연결을 예시적으로 보여주는 단면도이다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 표시 장치(DD)는 표시 패널(DPL), 연결 기판(FCB) 및 메인 기판(MCB)을 포함할 수 있다.
표시 패널(DPL)은 평면상에서 표시 영역(DA)과 비표시 영역(NDA)을 포함한다. 표시 패널(DPL)의 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA)은 표시 장치(DD)의 표시 영역(DD-DA, 도 1 참조) 및 비표시 영역(DD-NDA, 도 1 참조)에 각각 대응한다. 표시 패널(DPL)의 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA)은 표시 장치(DD)의 표시 영역(DD-DA, 도 1 참조) 및 비표시 영역(DD-NDA, 도 1 참조)과 반드시 동일할 필요는 없고, 표시 패널(DPL)의 구조 및/또는 디자인에 따라 변경될 수 있다.
표시 패널(DPL)은 복수 개의 화소들(PX)을 포함한다. 복수 개의 화소들(PX)이 배치된 영역이 표시 영역(DA)으로 정의된다. 본 실시예에서 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)의 테두리를 따라 정의될 수 있다.
도 2를 참조하면, 표시 패널(DPL)은 스캔 라인들(SL), 데이터 라인들(DL), 발광 라인들(EL), 스캔 제어 라인(SCL), 초기화 전압 라인(VINTL), 및 전압 라인(VL)을 포함할 수 있다.
비표시 영역(NDA)의 일 측에는 스캔 라인들(SL) 및 발광 라인들(EL)이 연결된 스캔 구동 회로(SDC)가 배치될 수 있다.
스캔 라인들(SL)은 스캔 구동 회로(SDC)로부터 제1 방향(DR1)으로 연장되며 복수 개의 화소들(PX) 중 대응하는 화소(PX)에 각각 연결된다. 발광 라인들(EL) 각각은 스캔 구동 회로(SDC)로부터 제1 방향(DR1)으로 연장되며 스캔 라인들(SL) 중 대응하는 스캔 라인에 나란하게 배열될 수 있다. 데이터 라인들(DL)은 제2 방향(DR2)으로 연장되며 복수 개의 화소들(PX) 중 대응하는 화소(PX)에 각각 연결된다. 스캔 제어 라인(SCL)은 스캔 구동 회로(SDC)에 제어 신호들을 제공할 수 있다. 초기화 전압 라인(VINTL)은 복수 개의 화소들(PX)에 초기화 전압을 제공할 수 있다. 전압 라인(VL)은 복수 개의 화소들(PX)에 연결되며, 복수 개의 화소들(PX)에 제1 전압을 제공할 수 있다. 전압 라인(VL)은 제1 방향(DR1)으로 연장하는 복수의 라인들 및 제2 방향(DR2)으로 연장하는 복수의 라인들을 포함할 수 있다.
스캔 라인들(SL), 데이터 라인들(DL), 발광 라인들(EL), 스캔 제어 라인(SCL), 초기화 전압 라인(VINTL), 전압 라인(VL) 중 일부는 동일한 층에 배치되고, 일부는 다른 층에 배치될 수 있다.
표시 패널(DPL)의 비표시 영역(NDA)에는 패널 패드들(AP)이 배열된다. 패널 패드들(AP)은 제1 방향(DR1)으로 나란히 배열될 수 있다. 이 실시예에서, 패널 패드들(AP)은 제1 방향(DR1)으로 일렬로 배열된 것으로 도시하고 설명하나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 패널 패드들(AP)은 2개 이상의 행들로 배열되거나, 또는 지그재그 형태로 배열될 수 있다.
데이터 라인들(DL), 스캔 제어 라인(SCL), 초기화 전압 라인(VINTL) 및 전압 라인(VL)은 패널 패드들(AP)에 연결된다.
표시 패널(DPL)의 패널 패드들(AP)은 연결 기판(FCB)의 연결 기판 패드들(BP)에 접속될 수 있다. 연결 기판(FCB)은 구동 회로(DIC)를 포함할 수 있다. 구동 회로(DIC)는 집적 회로(integrated circuit, IC)로 구성될 수 있다. 연결 기판(FCB)은 집적 회로인 구동 회로(DIC)가 실장될 수 있는 연성 회로 기판(flexible printed circuit board)일 수 있다. 예를 들어, 연결 기판(FCB)은 칩 온 필름(chip on film, COF)일 수 있다. 도 2의 연결 기판(FCB)에는 하나의 구동 회로(DIC)만 실장 되었으나, 다수의 집적 회로들이 연결 기판(FCB)에 실장될 수 있다. 예를 들어, 구동 회로(DIC)는 구동 컨트롤러, 데이터 드라이버, 전압 발생기 등을 포함할 수 있다.
도면에 도시되지 않았으나, 연결 기판 패드들(BP)과 구동 회로(DIC)를 전기적으로 연결하기 위한 다수의 배선들이 연결 기판(FCB) 상에 배열될 수 있다.
패널 패드들(AP)은 표시 패널(DPL)의 하면에 배열되고, 연결 기판 패드들(BP)은 연결 기판(FCB)의 상면에 배열될 수 있다. 패널 패드들(AP)과 연결 기판 패드들(BP)이 접속되었을 때 패널 패드들(AP) 및 연결 기판 패드들(BP)은 표시 패널(DPL)의 상면에서 보이지 않는다. 따라서 도 2에서 패널 패드들(AP) 및 연결 기판 패드들(BP)은 점선으로 표시하였다. 다른 실시예에서, 패널 패드들(AP)은 표시 패널(DPL)의 상면에 배열되고, 연결 기판 패드들(BP)은 연결 기판(FCB)의 하면에 배열될 수 있다. 이러한 경우, 패널 패드들(AP)과 연결 기판 패드들(BP)이 접속될 때 연결 기판(FCB)의 일부 영역이 표시 패널(DPL)의 상측 일부와 중첩된다.
연결 기판(FCB)은 메인 접속 패드들(CP)을 더 포함한다. 메인 기판(MCB)은 메인 기판 패드들(DP)을 포함한다. 이 실시예에서, 메인 접속 패드들(CP)은 연결 기판(FCB)의 하면에 배열되고, 메인 기판 패드들(DP)은 메인 기판(MCB)의 상면에 배열된다. 연결 기판(FCB)의 메인 접속 패드들(CP)은 메인 기판(MCB)의 메인 기판 패드들(DP)과 접속될 수 있다. 이 실시예에서, 메인 접속 패드 및 메인 기판 패드는 설명의 편의를 위해 정의된 용어이며, 발명의 범위를 제한하려는 의도가 아님이 잘 이해될 것이다. 다른 실시예에서, 메인 접속 패드들(CP)은 연결 기판(FCB)의 상면에 배열되고, 메인 기판 패드들(DP)은 메인 기판(MCB)의 하면에 배열될 수 있다. 이 경우, 메인 접속 패드들(CP)과 메인 기판 패드들(DP)이 접속될 때 메인 기판(MCB)의 일부 영역이 연결 기판(FCB)의 상측 일부와 중첩된다.
메인 기판(MCB)은 메인 컨트롤러(MC)를 포함할 수 있다. 메인 기판(MCB)은 메인 컨트롤러(MC)로부터 수신되는 제어 신호들 및 영상 신호들을 메인 기판 패드들(DP)로 전달하기 위한 신호 배선들(미 도시됨)을 더 포함할 수 있다. 메인 기판(MCB)은 리지드 인쇄 회로 기판(Rigid Printed Circuit) 또는 연성 인쇄 회로 기판(Flexible Printed Circuit, FPC)일 수 있다.
도 2에서 패널 패드들(AP) 및 연결 기판 패드들(BP)의 접속에 대한 이해를 돕기 위해 패널 패드들(AP) 및 연결 기판 패드들(BP)이 어긋나게 도시되었다. 도 3에 도시된 바와 같이, 패널 패드들(AP) 및 연결 기판 패드들(BP)은 충분히 완전하게 접속되는 것이 바람직하다.
패널 패드들(AP) 및 연결 기판 패드들(BP)이 충분히 완전하게 접속되어야 구동 회로(DIC)로부터의 제어 신호들 및 영상 신호들이 왜곡 없이 표시 패널(DPL)로 전달될 수 있다.
마찬가지로, 도 2에서, 메인 접속 패드들(CP) 및 메인 기판 패드들(DP)의 접속에 대한 이해를 돕기 위해 메인 접속 패드들(CP) 및 메인 기판 패드들(DP)이 어긋나게 도시되었다. 도 3에 도시된 바와 같이, 메인 접속 패드들(CP) 및 메인 기판 패드들(DP)은 충분히 완전하게 접속되는 것이 바람직하다.
메인 접속 패드들(CP) 및 메인 기판 패드들(DP)이 충분히 완전하게 접속되어야 메인 컨트롤러(MC)로부터 수신되는 제어 신호들 및 영상 신호들이 왜곡 없이 구동 회로(DIC)로 전달될 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널과 연결 기판의 접속 및 연결 기판과 메인 기판의 접속을 예시적으로 보여주는 평면도이다. 도 5a 및 도 5b는 구동 회로(DIC)로부터 출력되는 테스트 결과 신호(TS)를 예시적으로 보여주는 타이밍도이다.
도 4를 참조하면, 표시 패널(DPL)은 제1 내지 제4 패널 패드들(AP1-AP4) 및 패널 패드들(AP)을 포함한다. 제1 패널 패드(AP1) 및 제2 패널 패드(AP2)는 제1 연결 배선(CL1)을 통해 전기적으로 연결된다. 제3 패널 패드(AP3) 및 제4 패널 패드(AP4)는 제2 연결 배선(CL2)을 통해 전기적으로 연결된다.
제1 패널 패드(AP1) 및 제2 패널 패드(AP2)는 표시 패널(DPL2)의 일측에 인접하게 배치되고, 제3 패널 패드(AP3) 및 제4 패널 패드(AP4)는 표시 패널(DPL2)의 타측에 인접하게 배치된다. 즉, 제1 패널 패드(AP1) 및 제2 패널 패드(AP2)와 제3 패널 패드(AP3) 및 제4 패널 패드(AP4)는 제1 방향(DR1)으로 서로 이격하여 배치된다.
연결 기판(FCB)은 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(BP1-BP4) 및 연결 기판 패드들(BP)을 포함한다. 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(BP1-BP4)은 제1 내지 제4 패널 패드들(AP1-AP4)에 각각 접속할 수 있다. 연결 기판 패드들(BP)은 패널 패드들(AP)에 각각 접속할 수 있다. 연결 기판 패드들(BP) 및 패널 패드들(AP)은 도 2에 도시된 데이터 라인들(DL), 스캔 제어 라인(SCL), 초기화 전압 라인(VINTL), 및 전압 라인(VL)과 전기적으로 연결될 수 있다.
연결 기판(FCB)은 제1 내지 제4 패널 테스트 라인들(TL11-TL14)을 더 포함한다. 구동 회로(DIC)는 제1 내지 제4 패널 테스트 라인들(TL11-TL14)을 통해 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(BP1-BP4)에 각각 전기적으로 연결될 수 있다.
또한 연결 기판(FCB)은 연결 기판 출력 패드(CPO)를 포함한다. 연결 기판 출력 패드(CPO)는 제1 신호 배선(SL1)을 통해 구동 회로(DIC)와 전기적으로 연결된다.
메인 기판(MCB)은 출력 수신 패드(DPO)를 포함한다. 출력 수신 패드(DPO)는 연결 기판 출력 패드(CPO)에 접속된다. 출력 수신 패드(DPO)는 제2 신호 배선(SL2)을 통해 메인 컨트롤러(MC)와 전기적으로 연결된다.
구동 회로(DIC)는 제1 패널 테스트 라인(TL11)을 통해 제1 연결 기판 패드(BP1)로 제1 패널 테스트 신호를 전송하고, 제2 패널 테스트 라인(TL12)을 통해 제2 연결 기판 패드(BP2)로부터 제1 패널 피드백 신호를 수신한다. 구동 회로(DIC)로부터 출력되는 제1 패널 테스트 신호는 제1 패널 테스트 라인(TL11), 제1 연결 기판 패드(BP1), 제1 패널 패드(AP1), 제1 연결 배선(CL1), 제2 패널 패드(AP2), 제2 연결 기판 패드(BP2) 및 제2 패널 테스트 라인(TL12)을 통해 제1 패널 피드백 신호로서 구동 회로(DIC)로 제공된다. 구동 회로(DIC)는 제1 패널 테스트 신호 및 제1 패널 피드백 신호에 근거해서 제1 테스트 결과 신호(TRS1)를 생성한다.
만일 제1 연결 기판 패드(BP1)와 제1 패널 패드(AP1)가 충분히 완전하게 접속되고, 제2 연결 기판 패드(BP2)와 제2 패널 패드(AP2)가 충분히 완전하게 접속되었다면 제1 패널 테스트 신호와 제1 패널 피드백 신호 사이의 제1 오차(예를 들면, 제1 패널 테스트 신호의 전압 레벨과 제1 패널 피드백 신호의 전압 레벨의 차이)는 소정값보다 작을 것이다. 이때 구동 회로(DIC)는 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)의 제1 테스트 결과 신호(TRS1)를 생성한다.
만일 제1 연결 기판 패드(BP1)와 제1 패널 패드(AP1)가 충분히 완전하게 접속되지 않았거나, 제2 연결 기판 패드(BP2)와 제2 패널 패드(AP2)가 충분히 완전하게 접속되지 않았다면 제1 패널 테스트 신호와 제1 패널 피드백 신호 사이의 제1 오차는 소정값보다 크거나 같을 것이다. 이때 구동 회로(DIC)는 제2 레벨(예를 들면, 로우 레벨)의 제1 테스트 결과 신호(TRS1)를 생성한다.
구동 회로(DIC)는 제3 패널 테스트 라인(TL13)을 통해 제3 연결 기판 패드(BP3)로 제2 패널 테스트 신호를 전송하고, 제4 패널 테스트 라인(TL14)을 통해 제4 연결 기판 패드(BP4)로부터 제2 패널 피드백 신호를 수신한다. 구동 회로(DIC)는 제2 패널 테스트 신호 및 제2 패널 피드백 신호에 근거해서 제2 테스트 결과 신호(TRS2)를 생성한다. 구동 회로(DIC)로부터 출력되는 제2 패널 테스트 신호는 제3 패널 테스트 라인(TL13), 제3 연결 기판 패드(BP3), 제3 패널 패드(AP3), 제2 연결 배선(CL2), 제4 패널 패드(AP4), 제4 연결 기판 패드(BP4) 및 제4 패널 테스트 라인(TL14)을 통해 제2 패널 피드백 신호로서 구동 회로(DIC)로 제공된다. 구동 회로(DIC)는 제2 패널 테스트 신호 및 제2 패널 피드백 신호에 근거해서 제2 테스트 결과 신호(TRS2)를 생성한다.
만일 제3 연결 기판 패드(BP3)와 제3 패널 패드(AP3)가 충분히 완전하게 접속되지 않았거나, 제4 연결 기판 패드(BP4)와 제4 패널 패드(AP4)가 충분히 완전하게 접속되지 않았다면 제2 패널 테스트 신호와 제2 패널 피드백 신호 사이의 제2 오차(예를 들면, 제2 패널 테스트 신호의 전압 레벨과 제2 패널 피드백 신호의 전압 레벨의 차이)는 소정값보다 작을 것이다. 이때 구동 회로(DIC)는 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)의 제2 테스트 결과 신호(TRS2)를 생성한다.
만일 제3 연결 기판 패드(BP3)와 제3 패널 패드(AP3)가 충분히 완전하게 접속되지 않고, 제4 연결 기판 패드(BP4)와 제4 패널 패드(AP4)가 충분히 완전하게 접속되지 않았다면 제2 패널 테스트 신호와 제2 패널 피드백 신호 사이의 제2 오차는 소정값보다 크거나 같을 것이다. 이때 구동 회로(DIC)는 제2 레벨(예를 들면, 로우 레벨)의 제2 테스트 결과 신호(TRS2)를 생성한다.
구동 회로(DIC)는 제1 테스트 결과 신호(TRS1) 및 제2 테스트 결과 신호(TRS2)를 순차적으로 테스트 결과 신호(TS)로서 출력한다. 구동 회로(DIC)로부터 출력되는 테스트 결과 신호(TS)는 제1 신호 배선(SL1), 연결 기판 출력 패드(CPO), 출력 수신 패드(DPO) 및 제2 신호 배선(SL2)을 통해 메인 컨트롤러(MC)로 전달될 수 있다.
도 5a를 참조하면, 메인 컨트롤러(MC)는 구동 회로(DIC)로 동기 신호(V_SYNC)를 제공할 수 있다. 동기 신호(V_SYNC)는 영상 신호의 매 프레임(F)마다 천이하는 수직 동기 신호일 수 있다. 구동 회로(DIC)는 동기 신호(V_SYNC)에 동기해서 제1 테스트 결과 신호(TRS1) 및 제2 테스트 결과 신호(TRS2)를 순차적으로 테스트 결과 신호(TS)로서 출력할 수 있다. 다른 실시예에서, 구동 회로(DIC)는 수직 동기 신호가 아닌 다른 동기 신호들(예를 들면, 수평 동기 신호 또는 클럭 신호) 중 어느 하나에 동기해서 제1 테스트 결과 신호(TRS1) 및 제2 테스트 결과 신호(TRS2)를 순차적으로 테스트 결과 신호(TS)로서 출력할 수 있다.
동기 신호(V_SYNC)의 한 프레임(F)은 제1 구간(P1) 및 제2 구간(P2)을 포함할 수 있다. 구동 회로(DIC)는 예를 들어, 한 프레임(F)의 제1 구간(P1)동안 제1 테스트 결과 신호(TRS1)를 테스트 결과 신호(TS)로서 출력하고, 제2 구간(P2)동안 제2 테스트 결과 신호(TRS2)를 테스트 결과 신호(TS)로서 출력한다. 만일 제1 연결 기판 패드(BP1)와 제1 패널 패드(AP1)가 충분히 완전하게 접속되고, 제2 연결 기판 패드(BP2)와 제2 패널 패드(AP2)가 충분히 완전하게 접속되었다면 제1 테스트 결과 신호(TRS1)는 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다. 만일 제3 연결 기판 패드(BP3)와 제3 패널 패드(AP3)가 충분히 완전하게 접속되고, 제4 연결 기판 패드(BP4)와 제4 패널 패드(AP4)가 충분히 완전하게 접속되었다면 제2 패널 테스트 신호는 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다. 이 경우, 테스트 결과 신호(TS)는 제1 구간(P1) 및 제2 구간(P2) 각각에서 하이 레벨이다.
도 5b를 참조하면, 만일 제1 연결 기판 패드(BP1)와 제1 패널 패드(AP1)가 충분히 완전하게 접속되고, 제2 연결 기판 패드(BP2)와 제2 패널 패드(AP2)가 충분히 완전하게 접속되었다면 제1 테스트 결과 신호(TRS1)는 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다. 만일 제3 연결 기판 패드(BP3)와 제3 패널 패드(AP3)가 충분히 완전하게 접속되지 않았거나, 제4 연결 기판 패드(BP4)와 제4 패널 패드(AP4)가 충분히 완전하게 접속되지 않았다면 제2 패널 테스트 신호는 제2 레벨(예를 들면, 로우 레벨)일 수 있다. 이 경우, 테스트 결과 신호(TS)는 제1 구간(P1)에서 하이 레벨이고, 제2 구간(P2)에서 로우 레벨이다.
메인 컨트롤러(MC)는 구동 회로(DIC)로부터 테스트 결과 신호(TS)를 수신하고, 한 프레임(F) 내 제1 구간(P1) 및 제2 구간(P2) 각각에서 테스트 결과 신호(TS)의 신호 레벨에 따라 표시 패널(DPL)과 연결 기판(FCB)의 접속 상태를 판별할 수 있다. 예를 들어, 한 프레임(F) 내 제1 구간(P1)에서 테스트 결과 신호(TS)가 하이 레벨이면, 메인 컨트롤러(MC)는 제1 연결 기판 패드(BP1)와 제1 패널 패드(AP1)가 충분히 완전하게 접속되고, 제2 연결 기판 패드(BP2)와 제2 패널 패드(AP2)가 충분히 완전하게 접속된 것으로 판별할 수 있다. 예를 들어, 한 프레임(F) 내 제2 구간(P2)에서 테스트 결과 신호(TS)가 로우 레벨이면, 메인 컨트롤러(MC)는 제3 연결 기판 패드(BP3)와 제3 패널 패드(AP3)가 충분히 완전하게 접속되지 않았거나, 제4 연결 기판 패드(BP4)와 제4 패널 패드(AP4)가 충분히 완전하게 접속되지 않은 것으로 판별할 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널과 연결 기판의 접속 및 연결 기판과 메인 기판의 접속을 예시적으로 보여주는 평면도이다. 도 7a 및 도 7c는 구동 회로(DIC)로부터 출력되는 테스트 결과 신호(TS)를 예시적으로 보여주는 타이밍도이다.
도 6에 도시된 표시 장치(DD2)에서 도 4에 도시된 표시 장치(DD)와 동일한 구성 요소는 동일한 인출 부호를 병기한다. 도 6을 참조하면, 표시 장치(DD2)는 표시 패널(DPL2), 연결 기판(FCB2) 및 메인 기판(MCB2)을 포함한다.
표시 패널(DPL2)은 제1 내지 제8 패널 패드들(AP1-AP8) 및 패널 패드들(AP)을 포함한다. 제1 패널 패드(AP1) 및 제2 패널 패드(AP2)는 제1 연결 배선(CL1)을 통해 전기적으로 연결된다. 제3 패널 패드(AP3) 및 제4 패널 패드(AP4)는 제2 연결 배선(CL2)을 통해 전기적으로 연결된다. 제5 패널 패드(AP5) 및 제6 패널 패드(AP6)는 제3 연결 배선(CL3)을 통해 전기적으로 연결된다. 제7 패널 패드(AP7) 및 제8 패널 패드(AP8)는 제4 연결 배선(CL4)을 통해 전기적으로 연결된다.
제1 패널 패드(AP1) 및 제2 패널 패드(AP2)는 표시 패널(DPL2)의 일측에 인접하게 배치되고, 제3 패널 패드(AP3) 및 제4 패널 패드(AP4)는 표시 패널(DPL2)의 타측에 인접하게 배치된다. 즉, 제1 패널 패드(AP1) 및 제2 패널 패드(AP2)와 제3 패널 패드(AP3) 및 제4 패널 패드(AP4)는 제1 방향(DR1)으로 서로 이격하여 배치된다.
제5 패널 패드(AP5) 및 제6 패널 패드(AP6)는 패널 패드들(AP) 사이에서 인접하게 배치되고, 제7 패널 패드(AP7) 및 제8 패널 패드(AP8)는 패널 패드들(AP) 사이에서 인접하게 배치된다.
연결 기판(FCB2)은 제1 내지 제8 연결 기판 패드들(BP1-BP8) 및 연결 기판 패드들(BP)을 포함한다. 제1 내지 제8 연결 기판 패드들(BP1-BP8)은 제1 내지 제8 패널 패드들(AP1-AP8)에 각각 접속할 수 있다. 연결 기판 패드들(BP)은 패널 패드들(AP)에 각각 접속할 수 있다. 연결 기판 패드들(BP) 및 패널 패드들(AP)은 도 2에 도시된 데이터 라인들(DL), 스캔 제어 라인(SCL), 초기화 전압 라인(VINTL), 및 전압 라인(VL)과 전기적으로 연결될 수 있다.
연결 기판(FCB2)은 제1 내지 제8 패널 테스트 라인들(TL11-TL18), 제1 내지 제4 메인 기판 테스트 라인들(TL21-TL24)을 포함한다. 구동 회로(DIC)는 제1 내지 제8 패널 테스트 라인들(TL11-TL18)을 통해 제1 내지 제8 연결 기판 패드들(BP1-BP8)에 각각 전기적으로 연결될 수 있다.
또한 연결 기판(FCB2)은 제1 내지 제4 메인 접속 패드들(CP1-CP4), 연결 기판 출력 패드(CPO)를 포함한다. 구동 회로(DIC)는 제1 내지 제4 메인 기판 테스트 라인들(TL21-TL24)을 통해 제1 내지 제4 메인 접속 패드들(CP1-CP4)에 각각 전기적으로 연결될 수 있다.
메인 기판(MCB)은 제1 내지 제4 메인 기판 패드들(DP1-DP4), 출력 수신 패드(DPO)를 포함한다. 제1 내지 제4 메인 기판 패드들(DP1-DP4)은 제1 내지 제4 메인 접속 패드들(CP1-CP4)에 접속된다. 출력 수신 패드(DPO)는 연결 기판 출력 패드(CPO)에 접속된다. 0출력 수신 패드(DPO)는 제2 신호 배선(SL2)을 통해 메인 컨트롤러(MC)와 전기적으로 연결된다.
구동 회로(DIC)는 제1, 제3, 제5 및 제7 패널 테스트 라인들(TL11, TL13, TL15, TL17)을 통해 제1, 제3, 제5 및 제7 연결 기판 패드들(BP1, BP3, BP5, BP7)로 제1 내지 제4 패널 테스트 신호들을 각각 전송하고, 제2, 제4, 제6 및 제8 패널 테스트 라인들(TL12, TL14, TL16, TL18)을 통해 제2, 제4, 제6 및 제8 연결 기판 패드들(BP2, BP4, BP6, BP8)로부터 제1 내지 제4 패널 피드백 신호들을 수신한다. 구동 회로(DIC)는 제1 패널 테스트 신호 및 제1 패널 피드백 신호에 근거해서 제1 테스트 결과 신호(TRS1)를 생성하고, 제2 패널 테스트 신호 및 제2 패널 피드백 신호에 근거해서 제2 테스트 결과 신호(TRS2)를 생성하고, 제3 패널 테스트 신호 및 제3 패널 피드백 신호에 근거해서 제3 테스트 결과 신호(TRS3)를 생성하고, 제4 패널 테스트 신호 및 제4 패널 피드백 신호에 근거해서 제4 테스트 결과 신호(TRS4)를 생성한다.
또한 구동 회로(DIC)는 제1 및 제3 메인 테스트 라인들(TL21, TL23)을 통해 제1 및 제3 메인 접속 패드들(CP1, CP3)로 제1 및 제3 메인 기판 테스트 신호들을 각각 전송하고, 제2 및 제4 메인 테스트 라인들(TL22, TL24)을 통해 제2 및 제4 메인 접속 패드들(CP2, CP4)로부터 제1 및 제2 메인 기판 피드백 신호들을 수신한다. 구동 회로(DIC)는 제1 메인 기판 테스트 신호 및 제1 메인 기판 피드백 신호에 근거해서 제1 메인 기판 테스트 결과 신호(MTS1)를 생성하고, 제2 메인 기판 테스트 신호 및 제2 메인 기판 피드백 신호에 근거해서 제2 메인 기판 테스트 결과 신호(MTS2)를 생성한다.
도 7a를 참조하면, 메인 컨트롤러(MC)는 구동 회로(DIC)로 동기 신호(V_SYNC)를 제공할 수 있다. 동기 신호(V_SYNC)는 영상 신호의 매 프레임(F)마다 천이하는 수직 동기 신호일 수 있다. 구동 회로(DIC)는 동기 신호(V_SYNC)에 동기해서 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS1-TRS4) 및 제1 및 제2 메인 기판 테스트 결과 신호들(MTS1-MTS2)을 순차적으로 테스트 결과 신호(TS)로서 출력할 수 있다. 다른 실시예에서, 구동 회로(DIC)는 수직 동기 신호가 아닌 다른 동기 신호들(예를 들면, 수평 동기 신호 또는 클럭 신호) 중 어느 하나에 동기해서 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS1-TRS4) 및 제1 및 제2 메인 기판 테스트 결과 신호들(MTS1-MTS2)을 순차적으로 테스트 결과 신호(TS)로서 출력할 수 있다.
한 프레임(F)은 제1 내지 제 6구간들(P1-P6)을 포함할 수 있다. 구동 회로(DIC)는 예를 들어, 한 프레임(F)의 제1 내지 제 6구간들(P1-P6)에서 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS1-TRS4) 및 제1 및 제2 메인 기판 테스트 결과 신호들(MTS1-MTS2)을 테스트 결과 신호(TS)로서 순차적으로 출력할 수 있다.
만일 제1 내지 제8 연결 기판 패드들(BP1-BP8)과 제1 내지 제8 패널 패드들(AP1-AP8)이 충분히 완전하게 접속되고, 제1 내지 제4 메인 접속 패드들(CP1-CP4)과 제1 내지 제4 메인 기판 패드들(DP1-DP4)이 충분히 완전하게 접속되었다면 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS1-TRS4) 및 제1 및 제2 메인 기판 테스트 결과 신호들(MTS1-MTS2)은 각각 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다.
도 7b를 참조하면, 만일 제1 내지 제8 연결 기판 패드들(BP1-BP8)과 제1 내지 제8 패널 패드들(AP1-AP8)이 충분히 완전하게 접속되고, 제3 및 제4 메인 접속 패드들(CP3, CP4)과 제3 및 제4 메인 기판 패드들(DP3, DP4) 충분히 완전하게 접속되었다면 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS1-TRS4) 및 제2 메인 기판 테스트 결과 신호(MTS2)는 각각 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다. 그러나, 제1 및 제2 메인 접속 패드들(CP1, CP1)과 제1 및 제2 메인 기판 패드들(DP1, DP2)이 충분히 완전하게 접속되지 않았다면 제1 메인 기판 테스트 결과 신호(MTS1)는 제2 레벨(예를 들면, 로우 레벨)일 수 있다.
도 7c를 참조하면, 만일 제1 및 제2 연결 기판 패드들(BP1, BP2)과 제1 및 제2 패널 패드들(AP1, AP2)이 충분히 완전하게 접속되고, 제1 내지 제4 메인 접속 패드들(CP1-CP4)과 제1 내지 제4 메인 기판 패드들(DP1-DP4)이 충분히 완전하게 접속되었다면 제1 테스트 결과 신호(TRS1) 제1 및 제2 메인 기판 테스트 결과 신호들(MTS1-MTS2)은 각각 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다. 그러나, 제3 내지 제8 연결 기판 패드들(BP3-BP8)과 제3 내지 제8 패널 패드들(AP3-AP8)이 충분히 완전하게 접속되지 않았다면 제2 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS2-TRS4)은 각각 제2 레벨(예를 들면, 로우 레벨)일 수 있다.
메인 컨트롤러(MC)는 구동 회로(DIC)로부터 테스트 결과 신호(TS)를 수신하고, 한 프레임(F) 내 제1 내지 제6 구간들(P1-P6) 각각에서 테스트 결과 신호(TS)의 신호 레벨에 따라 표시 패널(DPL2)과 연결 기판(FCB2)의 접속 상태를 판별할 수 있다. 예를 들어, 한 프레임(F) 내 제1 구간(P1)에서 테스트 결과 신호(TS)가 하이 레벨이면, 메인 컨트롤러(MC)는 제1 연결 기판 패드(BP1)와 제1 패널 패드(AP1)가 충분히 완전하게 접속되고, 제2 연결 기판 패드(BP2)와 제2 패널 패드(AP2)가 충분히 완전하게 접속된 것으로 판별할 수 있다. 예를 들어, 도 7b에 도시된 바와 같이, 한 프레임(F) 내 제5 구간(P5)에서 테스트 결과 신호(TS)가 로우 레벨이면, 메인 컨트롤러(MC)는 제3 및 제4 메인 접속 패드들(CP3, CP4)과 제3 및 제4 메인 기판 패드들(DP3, DP4)이 충분히 완전하게 접속되지 않은 것으로 판별할 수 있다.
도 8은 구동 회로(DIC)와 메인 컨트롤러(MC) 사이의 전송 신호를 예시적으로 보여주는 도면이다.
도 2 및 도 8을 참조하면, 구동 회로(DIC)와 메인 컨트롤러(MC)는 다양한 인터페이스 방식들 중 어느 하나로 연결될 수 있다. 인터페이스 방식은 USI(Universal Serial Interface), CPU 인터페이스, RGB 인터페이스, MIPI(mobile industry processor interface), MDDI(mobile display digital interface), CDP(compact display port), MPL(mobile pixel link), CMADS(current mode advanced differential signaling), SPI(serial peripheral interface), I2C (inter-Integrated Circuit) 인터페이스, DP(display port) 및 eDP (embedded display port) 인터페이스, CCI(camera control interface), CSI(camera serial interface), MCU(micro controller unit) 인터페이스, HDMI(high definition multimedia interface), IPI(intra panel interface) 중 하나일 수 있다. 이외에도, 인터페이스 방식은 다양한 고속 시리얼 인터페이스(high speed serial interface) 방식들 중 하나일 수 있다.
메인 컨트롤러(MC)는 전원 전압(VDD) 및 전송 데이터(TD)를 구동 회로(DIC)로 제공한다. 전원 전압(VDD)의 공급이 시작된 후 트레이닝 구간(TRN_P) 동안 메인 컨트롤러(MC)는 구동 회로(DIC)로 시스템 클럭 신호 및 파라미터 신호 등을 전송할 수 있다.
구동 회로(DIC)는 수신된 시스템 클럭 신호 및 파라미터 신호에 근거해서 표시 패널(DPL)의 동작에 필요한 클럭 신호들을 복원하고, 수신 동작의 최적화를 위한 동작을 수행한다.
구동 회로(DIC)는 트레이닝 구간(TRN_P)이 종료된 후 영상 데이터 신호(RGB)가 수신되는 데이터 구간(DATA_P)이 시작되기 전인 제어 구간(CTRL_P) 동안 테스트 결과 신호(TS)를 메인 컨트롤러(MC)로 전송한다. 테스트 결과 신호(TS)는 예를 들어, 도 4에 도시된 제1 내지 제4 패널 패드들(AP1-AP4) 및 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(BP1-BP4) 각각의 접속 상태를 나타내는 디지털 신호일 수 있다. 예를 들어, 테스트 결과 신호(TS)는 복수의 비트들을 포함할 수 있다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(DD3)의 평면도이다.
도 9를 참조하면, 표시 장치(DD3)는 표시 패널(DPL3), 제1 내지 제4 연결 기판들(FCB11-FCB14) 및 메인 기판(MCB3)을 포함할 수 있다. 제1 내지 제4 연결 기판들(FCB11-FCB14)은 제1 내지 제4 구동 회로들(DIC11-DIC14)을 각각 포함할 수 있다. 제1 내지 제4 구동 회로들(DIC11-DIC14) 각각은 집적 회로(integrated circuit, IC)로 구성될 수 있다. 제1 내지 제4 연결 기판들(FCB11-FCB14)은 집적 회로인 제1 내지 제4 구동 회로들(DIC11-DIC14)이 실장될 수 있는 연성 회로 기판(flexible printed circuit board)일 수 있다. 예를 들어, 제1 내지 제4 연결 기판들(FCB11-FCB14)은 칩 온 필름(chip on film, COF)일 수 있다. 제1 내지 제4 연결 기판들(FCB11-FCB14) 각각은 제1 내지 제4 구동 회로들(DIC11-DIC14) 뿐만 아니라 다른 집적 회로들을 더 포함할 수 있다.
표시 패널(DPL3)은 제1 연결 기판(FCB11)에 대응하는 제1 내지 제4 패널 패드들(AP1-AP4)을 포함한다. 도 9에는 제1 연결 기판(FCB11)에 대응하는 제1 내지 제4 패널 패드들(AP1-AP4)만을 도시하나, 표시 패널(DPL3)은 제2 내지 제4 연결 기판들(FCB12-FCB14) 각각에 대응하는 제1 내지 제4 패널 패드들을 더 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 표시 패널(DPL3)은 제1 내지 제4 연결 기판들(FCB11-FCB14) 중 일부에 대응하는 제1 내지 제4 패널 패드들(AP1-AP4)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(DPL3)은 제1 연결 기판(FCB11)에 대응하는 제1 내지 제4 패널 패드들(AP1-AP4) 및 제4 연결 기판들(FCB14)에 대응하는 제1 내지 제4 패널 패드들을 포함하고, 제2 연결 기판(FCB12) 및 제3 연결 기판(FCB13)에 대응하는 제1 내지 제4 패널 패드들은 포함하지 않을 수 있다.
또한, 도 9에 도시된 표시 패널(DPL3)은 제1 연결 기판(FCB11)에 대응하는 4개의 패널 패드들 즉, 제1 내지 제4 패널 패드들(AP1-AP4)을 포함하나, 제1 패널 패드(AP1) 및 제2 패널 패드(AP2)만을 포함할 수 있다.
제1 패널 패드(AP1) 및 제2 패널 패드(AP2)는 제1 연결 배선(CL1)을 통해 전기적으로 연결된다. 제3 패널 패드(AP3) 및 제4 패널 패드(AP4)는 제2 연결 배선(CL2)을 통해 전기적으로 연결된다.
제1 패널 패드(AP1) 및 제2 패널 패드(AP2)는 표시 패널(DPL3)의 일측에 인접하게 배치되고, 제3 패널 패드(AP3) 및 제4 패널 패드(AP4)는 표시 패널(DPL3)의 타측에 인접하게 배치된다. 즉, 제1 패널 패드(AP1) 및 제2 패널 패드(AP2)와 제3 패널 패드(AP3) 및 제4 패널 패드(AP4)는 제1 방향(DR1)으로 서로 이격하여 배치된다.
제1 연결 기판(FCB11)은 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(BP1-BP4)을 포함한다. 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(BP1-BP4)은 제1 내지 제4 패널 패드들(AP1-AP4)에 각각 접속할 수 있다. 도 9에는 제1 연결 기판(FCB11)의 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(BP1-BP4) 만을 도시하고 설명하나, 제2 내지 제4 연결 기판들(FCB12-FCB14) 각각은 제1 연결 기판(FCB11)의 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(BP1-BP4)과 동일한 제1 내지 제4 연결 기판 패드들을 포함할 수 있다.
제1 연결 기판(FCB11)은 제1 내지 제4 패널 테스트 라인들(TL11-TL14)을 더 포함한다. 제1 구동 회로(DIC11)는 제1 내지 제4 패널 테스트 라인들(TL11-TL14)을 통해 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(BP1-BP4)에 각각 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 구동 회로(DIC11)는 제1 패널 테스트 라인(TL11)을 통해 제1 연결 기판 패드(BP1)로 제1 패널 테스트 신호를 전송하고, 제2 패널 테스트 라인(TL12)을 통해 제2 연결 기판 패드(BP2)로부터 제1 패널 피드백 신호를 수신한다. 제1 구동 회로(DIC11)로부터 출력되는 제1 패널 테스트 신호는 제1 패널 테스트 라인(TL11), 제1 연결 기판 패드(BP1), 제1 패널 패드(AP1), 제1 연결 배선(CL1), 제2 패널 패드(AP2), 제2 연결 기판 패드(BP2) 및 제2 패널 테스트 라인(TL12)을 통해 제1 패널 피드백 신호로서 구동 회로(DIC)로 제공된다.
제1 구동 회로(DIC11)는 제3 패널 테스트 라인(TL13)을 통해 제3 연결 기판 패드(BP3)로 제2 패널 테스트 신호를 전송하고, 제4 패널 테스트 라인(TL14)을 통해 제4 연결 기판 패드(BP4)로부터 제2 패널 피드백 신호를 수신한다. 제1 구동 회로(DIC11)는 제2 패널 테스트 신호 및 제2 패널 피드백 신호에 근거해서 제2 테스트 결과 신호(TRS2)를 생성한다. 제1 구동 회로(DIC11)로부터 출력되는 제2 패널 테스트 신호는 제3 패널 테스트 라인(TL13), 제3 연결 기판 패드(BP3), 제3 패널 패드(AP3), 제2 연결 배선(CL2), 제4 패널 패드(AP4), 제4 연결 기판 패드(BP4) 및 제4 패널 테스트 라인(TL14)을 통해 제2 패널 피드백 신호로서 구동 회로(DIC)로 제공된다.
제1 구동 회로(DIC11)는 제1 패널 테스트 신호, 제1 패널 피드백 신호, 제2 패널 테스트 신호 및 제2 패널 피드백 신호에 근거해서 제1 테스트 결과 신호(TRS1)를 생성한다.
제2 내지 제4 구동 회로들(DIC12-DIC14) 각각은 제1 구동 회로(DIC11)와 마찬가지로 표시 장치(DD3)와 제2 내지 제4 연결 기판들(FCB12-FCB14) 각각의 접속 상태를 테스트하고, 제2 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS2-TRS4)을 생성한다.
제1 내지 제4 연결 기판들(FCB11-FCB14)은 제1 내지 제4 연결 기판 출력 패드들(CPO1-CPO4)을 각각 포함한다. 제1 내지 제4 연결 기판들(FCB11-FCB14)은 제1 내지 제4 연결 기판 출력 패드들(CPO1-CPO4)로 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS1-TRS4)을 각각 출력한다.
메인 기판(MCB3)은 제1 내지 제4 출력 수신 패드들(DPO1-DPO4)를 포함한다. 제1 내지 제4 출력 수신 패드들(DPO1-DPO4)은 제1 내지 제4 연결 기판 출력 패드들(CPO1-CPO4)에 각각 접속된다. 제1 내지 제4 출력 수신 패드들(DPO1-DPO4)은 제2 신호 배선(SL2)을 통해 메인 컨트롤러(MC)와 전기적으로 연결된다.
메인 컨트롤러(MC)는 제2 신호 배선(SL2)을 통해 제1 내지 제4 출력 수신 패드들(DPO1-DPO4)로부터 테스트 결과 신호(TS)를 수신한다.
도 10a 및 도 10b는 제1 내지 제4 구동 회로들(DIC11-DIC14)로부터 출력되는 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS1-TRS4) 및 메인 컨트롤러(MC)에서 수신되는 테스트 결과 신호를 예시적으로 보여주는 타이밍도이다.
도 10a를 참조하면, 메인 컨트롤러(MC)는 제1 내지 제4 구동 회로들(DIC11-DIC14)로 동기 신호(V_SYNC)를 제공할 수 있다. 동기 신호(V_SYNC)는 영상 신호의 매 프레임(F)마다 천이하는 수직 동기 신호일 수 있다. 제1 내지 제4 구동 회로들(DIC11-DIC14)은 동기 신호(V_SYNC)에 동기해서 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS1-TRS4)을 각각 출력한다.
동기 신호(V_SYNC)의 한 프레임(F)은 제1 내지 제4 구간들(P1-P4)을을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 구동 회로(DIC11)는 한 프레임(F)의 제1 구간(P1)동안 제1 테스트 결과 신호(TRS1)를 출력한다. 제2 구동 회로(DIC12)는 한 프레임(F)의 제2 구간(P2)동안 제2 테스트 결과 신호(TRS2)를 출력한다. 제3 구동 회로(DIC13)는 한 프레임(F)의 제3 구간(P3)동안 제3 테스트 결과 신호(TRS3)를 출력한다. 제4 구동 회로(DIC14)는 한 프레임(F)의 제4 구간(P4)동안 제4 테스트 결과 신호(TRS4)를 출력한다.
제2 신호 배선(SL2)은 제1 내지 제4 출력 수신 패드들(DPO1-DPO4)에 공통으로 연결된다. 메인 컨트롤러(MC)는 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS1-TRS4)을 테스트 결과 신호(TS)로서 수신할 수 있다. 메인 컨트롤러(MC)는 동기 신호(V_SYNC)에 동기해서 테스트 결과 신호(TS)를 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS1-TRS4)로 복원할 수 있다.
예를 들어, 제1 연결 기판(FCB11)의 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(BP1-BP4)과 제1 내지 제4 패널 패드들(AP1-AP4)이 충분히 완전하게 접속되었다면 제1 테스트 결과 신호(TRS1)는 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다.
유사하게 제2 연결 기판(FCB12)의 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(미 도시됨)이 표시 패널(DPL3)의 패널 패드들과 충분히 완전하게 접속되었다면 제2 테스트 결과 신호(TRS2)는 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다. 또한 제3 연결 기판(FCB13)의 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(미 도시됨)이 표시 패널(DPL3)의 패널 패드들과 충분히 완전하게 접속되었다면 제3 테스트 결과 신호(TRS3)는 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다. 또한 제4 연결 기판(FCB14)의 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(미 도시됨)이 표시 패널(DPL3)의 패널 패드들과 충분히 완전하게 접속되었다면 제4 테스트 결과 신호(TRS4)는 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다.
이 경우, 도 10a메 도시된 바와 같이, 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들(TRS1-TRS4)은 제1 내지 제4 구간들(P1-P4)에서 각각 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)이고, 테스트 결과 신호(TS)는 제1 내지 제4 구간들(P1-P4)에서 모두 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)이다.
도 10b를 참조하면, 제1 연결 기판(FCB11)의 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(BP1-BP4)과 제1 내지 제4 패널 패드들(AP1-AP4)이 충분히 완전하게 접속되었다면 제1 테스트 결과 신호(TRS1)는 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다. 제2 연결 기판(FCB12)의 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(미 도시됨)이 표시 패널(DPL3)의 패널 패드들과 충분히 완전하게 접속되었다면 제2 테스트 결과 신호(TRS2)는 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)일 수 있다. 또한 제3 연결 기판(FCB13)의 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(미 도시됨) 중 적어도 하나가 표시 패널(DPL3)의 패널 패드들과 충분히 완전하게 접속되지 않았다면 제3 테스트 결과 신호(TRS3)는 제2 레벨(예를 들면, 로우 레벨)일 수 있다. 또한 제4 연결 기판(FCB14)의 제1 내지 제4 연결 기판 패드들(미 도시됨) 중 적어도 하나가 표시 패널(DPL3)의 패널 패드들과 충분히 완전하게 접속되지 않았다면 제4 테스트 결과 신호(TRS4)는 제2 레벨(예를 들면, 로우 레벨)일 수 있다.
이 경우, 도 10b메 도시된 바와 같이, 제1 테스트 결과 신호(TRS1) 및 제2 테스트 결과 신호(TRS2)는 제1 구간(P1) 및 제2 구간(P2)에서 각각 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)이고, 제3 테스트 결과 신호(TRS3) 및 제4 테스트 결과 신호(TRS4)는 제3 구간(P3) 및 제4 구간(P4)에서 각각 제2 레벨(예를 들면, 로우 레벨)이다.
그러므로 테스트 결과 신호(TS)는 제1 구간(P1) 및 제2 구간(P2)에서 각각 제1 레벨(예를 들면, 하이 레벨)이고, 제3 구간(P3) 및 제4 구간(P4)에서 각각 제2 레벨(예를 들면, 로우 레벨)이다.
도 11은 표시 장치(DD)와 연결되는 검사 장치(TDD)를 예시적으로 보여주는 도면이다.
도 11을 참조하면, 표시 장치(DD)는 표시 패널(DPL), 구동 회로(DIC) 및 메인 컨트롤러(MC)를 포함한다. 구동 회로(DIC)는 도 2에 도시된 연결 기판(FCB)에 구비될 수 있고, 메인 컨트롤러(MC)는 도 2에 도시된 메인 기판(MCB)에 구비될 수 있다. 검사 장치(TDD)는 표시 장치(DD)와 전기적으로 연결될 수 있다.
검사 장치(TDD)는 메인 컨트롤러(MC)로 검사 제어 신호(TEST_CTRL)를 출력한다. 검사 제어 신호(TEST_CTRL)은 메인 컨트롤러(MC)로 하여금 구동 회로(DIC)의 테스트 동작을 제어하기 위한 신호들을 포함할 수 있다.
메인 컨트롤러(MC)는 검사 제어 신호(TEST_CTRL)에 응답해서 테스트 인에이블 신호(TEST_EN) 및 동기 신호(V_SYNC)를 구동 회로(DIC)로 전송한다. 구동 회로(DIC)는 테스트 인에이블 신호(TEST_EN)에 응답해서 표시 패널(DPL)로 패널 테스트 신호(PTS)를 전송하고, 패널 피드백 신호(PFB)를 수신한다. 예를 들어, 패널 테스트 신호(PTS)는 도 4에 도시된 구동 회로(DIC)로부터 제1 패널 테스트 라인(TL11)으로 출력되는 제1 패널 테스트 신호 및 제3 패널 테스트 라인(TL13)으로 제공되는 제2 패널 테스트 신호를 포함할 수 있다. 또한 패널 피드백 신호(PFB)는 도 4에 도시된 제2 패널 테스트 라인(TL12)으로부터 수신되는 제1 패널 피드백 신호 및 제4 패널 테스트 라인(TL14)으로부터 수신되는 제2 패널 피드백 신호를 포함할 수 있다.
구동 회로(DIC)는 동기 신호(V_SYNC)에 동기해서 패널 테스트 신호(PTS) 및 패널 피드백 신호(PFB)에 근거한 테스트 결과 신호(TS)를 메인 컨트롤러(MC)로 제공한다.
메인 컨트롤러(MC)는 테스트 결과 신호(TS)를 테스트 피드백 신호(TEST_FB)로서 검사 장치(TDD)로 제공한다.
검사 장치(TDD)는 테스트 피드백 신호(TEST_FB)를 사용자(또는 생산자)에게 표시할 수 있다. 따라서 사용자는 표시 패널(DPL)의 패널 패드들과 구동 회로(DIC)의 연결 기판 패드들의 접속 상태를 용이하게 판별할 수 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술 분야에 통상의 지식을 갖는 자라면, 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
DD: 표시 장치
DPL: 표시 패널
FCB: 연결 기판
MCB: 메인 기판
DIC: 구동 회로
MC: 메인 컨트롤러
AP1-AP8: 패널 패드들
BP1-BP8: 연결 기판 패드들
CP1-CP4: 메인 접속 패드들
CPO: 연결 기판 출력 패드
DP1-DP4: 메인 기판 패드들
DPO: 출력 수신 패드

Claims (20)

  1. 제1 내지 제4 패널 패드들을 포함하는 표시 패널; 및
    상기 제1 내지 제4 패널 패드들에 각각 접속하는 제1 내지 제4 연결 기판 패드들을 포함하는 연결 기판을 포함하되,
    상기 제1 패널 패드 및 상기 제2 패널 패드는 전기적으로 연결되고, 상기 제3 패널 패드 및 상기 제4 패널 패드는 전기적으로 연결되며,
    상기 연결 기판은,
    상기 제1 내지 제4 연결 기판 패드들에 전기적으로 연결되고, 상기 제1 연결 기판 패드로 전송된 제1 패널 테스트 신호와 상기 제2 연결 기판 패드로부터 수신되는 제1 패널 피드백 신호에 근거해서 제1 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제3 연결 기판 패드로 전송된 제2 패널 테스트 신호와 상기 제4 연결 기판 패드로부터 수신되는 제2 패널 피드백 신호에 근거해서 제2 테스트 결과 신호를 생성하는 구동 회로를 포함하되,
    상기 구동 회로는 동기 신호에 동기해서 제1 구간동안 상기 제1 테스트 결과 신호를 테스트 결과 신호로서 출력하고, 상기 제1 구간과 다른 제2 구간동안 상기 제2 테스트 결과 신호를 상기 테스트 결과 신호로서 출력하는 구동 회로를 포함하는 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 구동 회로는 집적 회로로 구성되며,
    상기 연결 기판은 상기 구동 회로가 실장될 수 있는 칩 온 필름으로 구성되는 표시 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 패널 패드 및 상기 제2 패널 패드는 상기 표시 패널의 일측에 배열되고,
    상기 제3 패널 패드 및 상기 제4 패널 패드는 상기 제1 패널 패드 및 상기 제2 패널 패드와 이격하여 상기 표시 패널의 타측에 배열되는 표시 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 구동 회로는 상기 제1 패널 테스트 신호와 상기 제1 패널 피드백 신호 사이의 제1 오차가 소정 값보다 작을 때 제1 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제1 오차가 상기 소정 값보다 크거나 같을 때 상기 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성하며,
    상기 구동 회로는 상기 제2 패널 테스트 신호와 상기 제2 패널 피드백 신호 사이의 제2 오차가 상기 소정 값보다 작을 때 상기 제1 레벨의 상기 제2 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제2 오차가 상기 소정 값보다 크거나 같을 때 상기 제2 레벨의 상기 제2 테스트 결과 신호를 생성하는 표시 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 표시 패널은 복수의 패널 패드들을 더 포함하고,
    상기 연결 기판은 상기 복수의 패널 패드들에 각각 접속하는 복수의 연결 기판 신호 패드들을 더 포함하며,
    상기 복수의 패널 패드들 및 상기 복수의 연결 기판 신호 패드들 중 적어도 하나는 영상 신호를 전송하기 위한 영상 신호 패드인 표시 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 제1 패널 패드 및 상기 제2 패널 패드는 상기 복수의 패널 패드들의 일측에 배열되고,
    상기 제3 패널 패드 및 상기 제4 패널 패드는 상기 복수의 패널 패드들의 타측에 배열되는 표시 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 표시 패널은 서로 전기적으로 연결된 제5 패널 패드 및 제6 패널 패드 그리고 서로 전기적으로 연결된 제7 패널 패드 및 제8 패널 패드를 더 포함하고,
    상기 연결 기판은 상기 제5 내지 제8 패널 패드들에 각각 접속하는 제5 내지 제8 연결 기판 패드들을 더 포함하며,
    상기 구동 회로는 상기 제5 내지 제8 연결 기판 패드들에 전기적으로 연결되며, 상기 제5 연결 기판 패드로 전송된 제5 패널 테스트 신호와 상기 제6 연결 기판 패드로부터 수신되는 제3 패널 피드백 신호에 근거해서 제3 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제7 연결 기판 패드로 전송된 제4 패널 테스트 신호와 상기 제8 연결 기판 패드로부터 수신되는 제4 패널 피드백 신호에 근거해서 제4 테스트 결과 신호를 생성하며, 상기 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들을 순차적으로 상기 테스트 결과 신호로서 출력하는 표시 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 제5 내지 제8 패널 패드들은 상기 복수의 패널 패드들 사이에 배열되는 표시 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 연결 기판은 연결 기판 출력 패드를 더 포함하고,
    상기 구동 회로는 한 프레임동안 상기 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들을 상기 연결 기판 출력 패드로 순차적으로 출력하는 표시 장치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 연결 기판 출력 패드에 접속하는 출력 수신 패드를 포함하는 메인 회로 기판을 더 포함하되,
    상기 메인 회로 기판은 상기 출력 수신 패드를 통해 상기 제1 테스트 결과 신호 및 상기 제2 테스트 결과 신호를 수신하는 메인 컨트롤러를 더 포함하는 표시 장치.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 메인 회로 기판은 제1 내지 제4 메인 기판 패드들을 더 포함하고,
    상기 연결 기판은 상기 제1 내지 제4 메인 기판 패드들에 각각 접속하는 제1 내지 제4 메인 접속 패드들을 더 포함하고,
    상기 구동 회로는 상기 제1 내지 제4 메인 기판 패드들에 전기적으로 연결되고, 상기 제1 메인 접속 패드로 전송된 제1 메인 기판 테스트 신호와 상기 제2 메인 접속 패드로부터 수신되는 제1 메인 기판 피드백 신호에 근거해서 제1 메인 기판 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제3 메인 접속 패드로 전송된 제2 메인 기판 테스트 신호와 상기 제4 메인 접속 패드로부터 수신되는 제2 메인 기판 피드백 신호에 근거해서 제2 메인 기판 테스트 결과 신호를 생성하며, 상기 제1 내지 제4 테스트 결과 신호들 및 상기 제1 및 제2 메인 기판 테스트 결과 신호들을 순차적으로 상기 테스트 결과 신호로서 출력하는 표시 장치.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 구동 회로는 상기 제1 내지 제 4 테스트 결과 신호들 및 상기 제1 및 제2 메인 기판 테스트 결과 신호들을 한 프레임동안 순차적으로 상기 연결 기판 출력 패드로 출력하는 표시 장치.
  13. 제 11 항에 있어서,
    상기 제1 메인 기판 패드 및 상기 제2 메인 기판 패드는 상기 메인 회로 기판의 일측에 배열되고,
    상기 제3 메인 기판 패드 및 상기 제4 메인 기판 패드는 상기 제1 메인 기판 패드 및 상기 제2 메인 기판 패드와 이격하여 상기 메인 회로 기판의 타측에 배열되는 표시 장치.
  14. 복수의 패널 패드들을 포함하는 표시 패널;
    각각이 제1 내지 제4 연결 기판 패드들, 및 연결 기판 출력 패드를 포함하는 복수의 연결 기판들;
    상기 복수의 연결 기판들 각각의 상기 연결 기판 출력 패드와 접속하는 복수의 출력 수신 패드들을 포함하는 메인 회로 기판을 포함하되,
    상기 복수의 패널 패드들은 서로 전기적으로 연결된 제1 및 제2 패널 패드들 그리고 서로 전기적으로 연결된 제3 및 제4 패널 패드들을 포함하며,
    상기 복수의 연결 기판들 중 어느 하나의 상기 제1 내지 제4 연결 기판 패드들은 상기 제1 내지 제4 패널 패드들에 각각 접속하고,
    상기 복수의 연결 기판들 각각은 구동 회로를 포함하고,
    상기 복수의 연결 기판들 각각의 상기 구동 회로는 상기 제1 내지 제4 연결 기판 패드들에 전기적으로 연결되고, 상기 제1 연결 기판 패드로 전송된 제1 패널 테스트 신호, 상기 제2 연결 기판 패드로부터 수신되는 제1 패널 피드백 신호, 상기 제3 연결 기판 패드로 전송된 제2 패널 테스트 신호 및 상기 제4 연결 기판 패드로부터 수신되는 제2 패널 피드백 신호에 근거해서 제1 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제1 테스트 결과 신호를 상기 연결 기판 출력 패드로 출력하되,
    상기 복수의 연결 기판들 각각의 상기 구동 회로는 한 프레임 내 서로 다른 구간에 상기 제1 테스트 결과 신호를 출력하는 표시 장치.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 복수의 연결 기판들 각각의 상기 구동 회로는 집적 회로로 구성되며,
    상기 복수의 연결 기판들 각각은 상기 구동 회로가 실장될 수 있는 칩 온 필름으로 구성되는 표시 장치.
  16. 제 14 항에 있어서,
    상기 복수의 연결 기판들 각각의 상기 구동 회로는 상기 제1 패널 테스트 신호와 상기 제1 패널 피드백 신호 사이의 제1 오차가 소정 값보다 작고, 상기 제2 패널 테스트 신호와 상기 제2 패널 피드백 신호 사이의 제2 오차가 상기 소정 값보다 작을 때 제1 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제1 오차 및 상기 제2 오차 중 적어도 하나가 상기 소정 값보다 크거나 같을 때 상기 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성하는 표시 장치.
  17. 삭제
  18. 서로 전기적으로 연결된 제1 패널 패드 및 제2 패널 패드, 서로 전기적으로 연결된 제3 패널 패드 및 제4 패널 패드를 포함하는 표시 패널 및 제1 내지 제4 연결 기판 패드들을 포함하는 연결 기판을 포함하는 표시 장치의 패드 접속 검사 방법에 있어서:
    상기 표시 패널의 상기 제1 내지 제4 패널 패드들에 상기 제1 내지 제4 연결 기판 패드들을 각각 접속하는 단계;
    상기 제1 연결 기판 패드로 제1 패널 테스트 신호를 전송하고, 상기 제3 연결 기판 패드로 제2 패널 테스트 신호를 전송하는 단계;
    상기 제1 패널 테스트 신호와 상기 제1 패널 피드백 신호 사이의 제1 오차에 근거해서 제1 테스트 결과 신호를 생성하는 단계;
    상기 제2 연결 기판 패드로부터 제1 패널 피드백 신호를 수신하고, 상기 제4 연결 기판 패드로부터 제2 패널 피드백 신호를 수신하는 단계;
    상기 제2 패널 테스트 신호와 상기 제2 패널 피드백 신호 사이의 제2 오차에 근거해서 제2 테스트 결과 신호를 생성하는 단계; 및
    동기 신호에 동기해서 제1 구간동안 상기 제1 테스트 결과 신호를 테스트 결과 신호로서 출력하고, 상기 제1 구간과 다른 제2 구간동안 상기 제2 테스트 결과 신호를 상기 테스트 결과 신호로서 출력하는 단계를 포함하는 표시 장치의 패드 접속 검사 방법.
  19. 제 18 항에 있어서,
    상기 연결 기판은 연결 기판 출력 패드를 더 포함하며,
    한 프레임은 상기 제1 구간 및 상기 제2 구간을 포함하고,
    상기 출력하는 단계는 상기 제1 구간동안 상기 제1 테스트 결과 신호를 상기 테스트 결과 신호로서 상기 연결 기판 출력 패드로 출력하고, 상기 제2 테스트 결과 신호를 상기 테스트 결과 신호로서 상기 연결 기판 출력 패드로 출력하는 것을 포함하는 표시 장치의 패드 접속 검사 방법.
  20. 제 18 항에 있어서,
    상기 출력하는 단계는 상기 제1 패널 테스트 신호와 상기 제1 패널 피드백 신호 사이의 상기 제1 오차가 소정 값보다 작을 때 제1 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제1 오차가 상기 소정 값보다 크거나 같을 때 상기 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 상기 제1 테스트 결과 신호를 생성하며,
    상기 출력하는 단계는 상기 제2 패널 테스트 신호와 상기 제2 패널 피드백 신호 사이의 제2 오차가 상기 소정 값보다 작을 때 상기 제1 레벨의 상기 제2 테스트 결과 신호를 생성하고, 상기 제2 오차가 상기 소정 값보다 크거나 같을 때 상기 제2 레벨의 상기 제2 테스트 결과 신호를 생성하는 표시 장치의 패드 접속 검사 방법.
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