KR102650392B1 - 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법 및 장치 그리고 저장 매체 - Google Patents

송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법 및 장치 그리고 저장 매체 Download PDF

Info

Publication number
KR102650392B1
KR102650392B1 KR1020227009446A KR20227009446A KR102650392B1 KR 102650392 B1 KR102650392 B1 KR 102650392B1 KR 1020227009446 A KR1020227009446 A KR 1020227009446A KR 20227009446 A KR20227009446 A KR 20227009446A KR 102650392 B1 KR102650392 B1 KR 102650392B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
noise
electrical signal
level
noise amount
amount
Prior art date
Application number
KR1020227009446A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20220050962A (ko
Inventor
쿼 장
레이 저우
보루이 리
셩핑 리
Original Assignee
후아웨이 테크놀러지 컴퍼니 리미티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 후아웨이 테크놀러지 컴퍼니 리미티드 filed Critical 후아웨이 테크놀러지 컴퍼니 리미티드
Publication of KR20220050962A publication Critical patent/KR20220050962A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102650392B1 publication Critical patent/KR102650392B1/ko

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
    • H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
    • H04B10/0799—Monitoring line transmitter or line receiver equipment
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
    • H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
    • H04B10/0795—Performance monitoring; Measurement of transmission parameters
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
    • H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
    • H04B10/0795—Performance monitoring; Measurement of transmission parameters
    • H04B10/07953—Monitoring or measuring OSNR, BER or Q
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/50—Transmitters
    • H04B10/516—Details of coding or modulation
    • H04B10/524—Pulse modulation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)
  • Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)

Abstract

본 출원의 실시예는 송신기 테스트 파라미터를 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 수신기의 유형을 제한하지 않고, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양을 획득하기 위한, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법 및 장치 그리고 저장 매체를 개시한다.

Description

송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법 및 장치 그리고 저장 매체
본 출원은 2019년 8월 31일에 출원된 중국 특허 출원 번호 제201910819211.0호에 대한 우선권을 주장하는, 2020년 3월 3일에 출원된 국제 출원 번호 제PCT/CN2020/077530호의 계속 출원이다. 상기 출원의 개시 내용은 그 전체로서 원용에 의해 본 명세서에 포함된다.
본 출원은 광 통신 기술 분야에 관한 것으로, 특히 송신기 테스트 파라미터(transmitter test parameter)를 획득하는 방법 및 장치, 그리고 저장 매체에 관한 것이다.
광 통신 네트워크에서 하나의 수신기와 서로 다른 유형의 송신기 간의 통신을 구현하기 위해, 수신기는 서로 다른 유형의 송신기에 대해 일관성 테스트(consistency test)를 수행해야 한다. 현재, 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 방법은, 주로 아이 마스크(Eye Mask), 송신기 및 분산 페널티(transmitter and dispersion penalty, TDP), 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티(transmitter and dispersion eye closure penalty, TDEC)를 포함한다.
송신기에 대한 일관성 테스트를 수행할 때, 다음 솔루션을 사용하여 송신기 테스트 파라미터를 획득할 수 있다: 먼저 오실로스코프를 사용하여 송신기에 의해 송신된 광 신호에 대해 파형 샘플링(waveform sampling)을 수행하여, 샘플링된 전기 신호를 획득한다. 그러면, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양(noise amount)이 획득된다. 샘플링된 전기 신호의 레벨이 1 또는 0인지에 상관없이 동일한 노이즈 양이 획득된다. 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양은 수신기의 노이즈 허용 능력(noise tolerance capability)을 평가하기 위해 송신기 테스트 파라미터로 사용된다.
송신기 테스트 파라미터를 획득하기 위한 솔루션에서, 샘플링된 모든 전기 신호는 동일한 노이즈 양에 대응한다. 이 솔루션은 일반적으로 PIN 수신기에만 적용 가능하지만 애벌랜치 포토다이오드(avalanche photodiode, APD) 수신기에는 적용되지 않는다. 그 이유는 샷 노이즈(shot noise)가 APD 수신기에 미치는 영향으로 인해 서로 다른 진폭에서 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이 다르기 때문이다. 예를 들어, 레벨 1의 신호는 레벨 0의 신호보다 더 많은 노이즈가 필요하다. 샘플링된 모든 전기 신호는 동일한 노이즈 양에 대응하기 때문에, 전술한 송신기 테스트 파라미터를 획득하기 위한 솔루션에 기반하여, APD 수신기는 송신기 테스트 파라미터와 동일한 노이즈 양만 사용할 수 있다. 결과적으로, 송신기 일관성 테스트 결과는 송신기의 실제 성능을 반영할 수 없다. 송신기 테스트 파라미터를 획득하기 위한 전술한 솔루션은 PIN 수신기에만 적용할 수 있다. 따라서, 현재 솔루션이 적용될 수 있는 수신기의 유형은 현재 솔루션에서 제한된다.
본 출원의 실시예는 송신기 테스트 파라미터를 사용하여 송신기에 대해 일관성 테스트를 수행하는 수신기의 유형을 제한하지 않고, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양을 획득하기 위한, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법 및 장치, 그리고 저장 매체를 제공한다.
전술한 기술적 문제를 해결하기 위해, 본 출원의 실시예는 다음과 같은 기술적 솔루션을 제공한다.
제1 측면에 따르면, 본 출원의 실시예는 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법을 제공하며, 상기 방법은, 송신기에 의해 송신된 광 신호(optical signal)에 대해 파형 샘플링을 수행하여 샘플링된 전기 신호를 획득하는 단계; 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터(noise ratio parameter) 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭(level amplitude)에 기반하여, 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양(noise amount)을 획득하는 단계 - 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 최소 레벨보다 크고 최대 레벨보다 작고, 상기 초기 노이즈 비율 파라미터는 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율이며, 상기 최대 노이즈 양은 상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이고, 상기 최소 노이즈 양은 상기 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이며, 상기 제1 노이즈 양은 상기 최소 노이즈 양보다 크고 상기 최대 노이즈 양보다 작은 노이즈 양임 -; 및 상기 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호(ideal electrical signal)의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양을 획득하는 단계 - 상기 이상적인 전기 신호는 상기 샘플링된 전기 신호와 동일한 광 변조 진폭을 가지며, 상기 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭은 상기 최대 레벨 또는 상기 최소 레벨임 - 를 포함하고, 상기 제1 노이즈 양과 상기 제2 노이즈 양은 상기 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 데 사용된다. 이 솔루션에서, 본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양은 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 획득될 수 있고, 결정된 제1 노이즈 양은 최소 노이즈 양보다 크고 최대 노이즈 양보다 작은 노이즈 양이다. 따라서, 본 출원의 이 실시예에서, 상이한 레벨 진폭에서 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이 상이하며, 즉 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양이 획득될 수 있다. 따라서, 이 솔루션은 다양한 유형의 수신기에 적용될 수 있다. 송신기 테스트 파라미터를 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 수신기의 유형은 본 출원의 이 실시예에서 제한되지 않는다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는, 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이인 것으로 결정하는 단계; 및 상기 최대 노이즈 양 및 상기 최소 노이즈 양을 보간 조건(interpolation condition)으로 사용하고, 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대한 보간 계산을 수행하여 상기 제1 노이즈 양을 획득하는 단계를 포함한다. 이 솔루션에서, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 획득된 후, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 최대 레벨과 최소 레벨 사이에 있는지를 판정한다. 예를 들어, 최대 레벨이 1이고 최소 레벨이 0이면, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 0.8, 0.9, 0.6 등일 수 있다. 최대 노이즈 양과 최소 노이즈 양을 보간 조건으로 사용하며, 즉, 최대 노이즈 양과 최소 노이즈 양을 보간 알고리즘의 두 끝점(endpoint) 값으로 사용하고, 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대해 보간 계산을 수행하여, 제1 노이즈 양을 획득한다. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 클수록 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양이 더 크다는 것을 지시한다(indicate). 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 작을수록 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양이 더 작다는 것을 지시한다. 보간 알고리즘은 최대 노이즈 양과 최소 노이즈 양을 알고 있을 때 보간 함수를 사용하여 결과를 계산하는 데 사용되는 알고리즘이다. 복수의 보간 알고리즘이 본 출원의 이 실시예에서 사용될 수 있다. 예를 들어, 보간 알고리즘은 선형 보간, 최근접 이웃 보간(nearest-neighbor interpolation) 또는 쌍선형(bilinear) 보간일 수 있다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 최대 노이즈 양 및 상기 최소 노이즈 양을 보간 조건으로 사용하고, 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대한 보간 계산을 수행하여 상기 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는, 미리 설정된 샘플링 포인트에서 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 허용 노이즈 양 을 획득하는 단계; 상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 최대 노이즈 양 을 방식으로 결정하는 단계 - M은 상기 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타냄 -; 상기 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 최소 노이즈 양이 인 것으로 결정하는 단계; 상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이에서 양자화를 수행하여 N개의 레벨 값을 획득하는 단계 - 상기 N개의 레벨 값은 모두 상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이이고, N은 양의 정수임 -; 미리 설정된 보간 알고리즘에 따라 상기 N개의 레벨 값에 각각 대응하는 N개의 노이즈 양을 계산하는 단계; 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 상기 N개의 레벨 값 중 제1 레벨 값인 것으로 결정하는 단계; 및 상기 N개의 레벨 값과 상기 N개의 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여 상기 제1 레벨 값에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계를 포함한다. 이 솔루션에서, 최대 레벨과 최소 레벨에 기반하여 레벨 진폭 양자화가 수행되어, 최대 레벨과 최소 레벨 사이의 양자화를 통해 N개의 레벨 값을 획득한다. N개의 레벨 값에 각각 대응하는 N개의 노이즈 양이 미리 설정된 보간 알고리즘에 따라 계산되며, 즉 양자화를 통해 획득된 N개의 레벨 값 각각에 대해 보간 알고리즘에 따라 하나의 노이즈 양이 계산된다. 이 경우, N개의 레벨 값에 대해 N개의 노이즈 양이 계산될 수 있다. 예를 들어, 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계(correspondence)는 N개의 레벨 값에 각각 대응하는 N개의 노이즈 양을 포함할 수 있다. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 N개의 레벨 값 중 제1 레벨 값이면, 제1 레벨 값은 N개의 레벨 값 중 레벨 값이다. 마지막으로, N개의 레벨 값과 N개의 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여 제1 레벨 값에 대응하는 제1 노이즈 양이 획득된다. 본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 N개의 레벨 값 중 제1 레벨 값으로 결정되고, N개의 레벨 값과 N개의 노이즈 양 사이의 대응 관계가 제1 레벨 값을 사용하여 검색되어, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 결정한다. 본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호의 상이한 레벨 진폭에 대해 상이한 노이즈 양이 결정될 수 있다. 본 출원의 이 실시예는 샘플링된 전기 신호의 상이한 레벨 진폭에 대응하는 미세한(fine) 노이즈 양을 획득하기 위한 솔루션을 제공한다. 따라서, 본 출원의 이 실시예에서, 송신기에 의해 전송된 상이한 광 신호의 실제 광 파워 감쇠(optical power attenuation)가 송신기의 실제 성능을 반영하기 위해 시뮬레이션될 수 있다. 본 출원의 이 실시예에서, 상이한 레벨 진폭에서 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이 상이하며, 즉 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양이 획득될 수 있다. 따라서, 이 솔루션은 다양한 유형의 수신기에 적용될 수 있다. 송신기 테스트 파라미터를 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 수신기의 유형은 본 출원의 이 실시예에서 제한되지 않는다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는, 상기 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터, 상기 최대 노이즈 양 및 상기 최소 노이즈 양에 기반하여, 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하는 단계 - 상기 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는, 상기 최소 레벨보다 크고 상기 최대 레벨보다 작은 레벨 진폭 각각에 대응하는 노이즈 양을 포함함 -; 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 사용하여 상기 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 검색하여, 상기 제1 노이즈 양을 획득하는 단계를 포함한다. 본 출원의 이 실시예에서, 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 초기 노이즈 비율 파라미터, 최대 노이즈 양 및 최소 노이즈 양에 기반하여 미리 구축될 수 있다. 예를 들어, 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 최대 노이즈 양과 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 최소 노이즈 양을 포함한다. 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 최대 레벨과 최소 레벨 사이의 레벨에서 전기 신호에 대응하는 노이즈 양을 더 포함한다. 다시 말해서, 대응 관계는 모든 레벨 진폭에 각각 대응하는 노이즈 양을 포함할 수 있다. 예를 들어, 대응 관계는 테이블 또는 세트일 수 있다. 예를 들어, 테이블은 모든 레벨 진폭에 각각 대응하는 서로 다른 노이즈 양을 포함한다. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 획득된 후, 대응 관계를 검색함으로써 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양이 결정될 수 있다. 이 경우, 대응 관계를 검색하여 획득된 노이즈 양은 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양이다.
이 솔루션에서, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는, 복수의 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양의 값 사이의 대응 관계이다. 예를 들어, 대응 관계는 테이블 또는 세트일 수 있다. 예를 들어, 대응 관계는 P개의 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양을 포함할 수 있다. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 획득된 후, 대응 관계를 검색함으로써 상이한 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭에 대응하는 상이한 노이즈 양이 결정될 수 있다. 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계가 구축된 후, 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 제3 노이즈 양과 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 제4 노이즈 양은 대응 관계를 검색하여 결정될 수 있다. 샘플링된 전기 신호는 등화기에서 추가로 처리된 후, 등화된 전기 신호가 출력된다. 등화기의 시간 도메인 컨볼루션(convolution) 기능으로 인해, 최대 레벨과 최소 레벨에 대응하는 노이즈를 평균화하며, 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율은 전술한 초기 노이즈 비율 파라미터 M보다 작다. 따라서, 샘플링된 전기 신호가 등화기에 의해 처리된 후, 전술한 초기 노이즈 비율 파라미터는 등화 파라미터에 기반하여 수정되어야 하며, 즉, 초기 노이즈 비율 파라미터는 제3 노이즈 양 및 제4 노이즈 양에 기반하여 수정되어, 수정된 노이즈 비율 파라미터를 획득한다. 등화기는 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하여 등화된 전기 신호를 획득한다. 등화기마다 노이즈 증강 정도(noise enhancement degree)가 상이하다. 따라서, 등화(equalization) 파라미터에 기반하여 노이즈 증강 팩터(noise enhancement factor)를 더 획득할 수 있고, 노이즈 증강 팩터는 현재 사용되는 등화기의 노이즈 증강 정도를 측정하는데 사용될 수 있다. 획득된 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 수정된 노이즈 비율 파라미터, 노이즈 증강 팩터 및 평균 광 파워에 기반하여 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양이 획득될 수 있다. 등화기의 등화 파라미터는 수정된 노이즈 비율 파라미터 및 노이즈 증강 팩터를 결정하는 데 사용될 수 있기 때문에, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 수정된 노이즈 비율 파라미터, 노이즈 증강 팩터 및 평균 광 파워는 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 데 사용된다. 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양이 송신기 테스트 파라미터로 사용되므로, 수신기에서 등화기를 사용할 때 노이즈로 인한 신호의 광 파워 감쇠를 시뮬레이션하여 송신기의 실제 성능을 반영할 수 있다. 본 출원의 이 실시예에서, 상이한 레벨 진폭에서 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이 상이하며, 즉 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양이 획득될 수 있다. 따라서, 이 솔루션은 다양한 유형의 수신기에 적용될 수 있다. 송신기 테스트 파라미터를 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 수신기의 유형은 본 출원의 이 실시예에서 제한되지 않는다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 송신기에 의해 송신된 광 신호에 대해 파형 샘플링을 수행하여 샘플링된 전기 신호를 획득하는 단계 이후에, 상기 방법은, 등화기를 사용하여 상기 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하여, 등화된 전기 신호를 획득하는 단계를 더 포함한다. 이 솔루션에서, 수신기는 등화기를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 샘플링된 전기 신호는 등화기에 추가로 입력된다. 등화기는 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하기 때문에, 등화된 전기 신호를 획득한다. 등화기의 시간 도메인 컨볼루션 기능으로 인해, 서로 다른 레벨 진폭에 대응하는 노이즈가 평균화된다. 따라서, 등화된 전기 신호에 대해 다시 제1 노이즈 양을 결정해야 한다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는, 상기 등화기에 대응하는 등화 파라미터를 획득하는 단계 - 상기 등화 파라미터는 상기 등화기의 탭 길이 및 상기 등화기의 탭 계수를 포함함 -; 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 등화 파라미터, 및 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 상기 제1 노이즈 양을 획득하는 단계를 포함한다. 이 솔루션에서, 수신기는 등화기를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 샘플링된 전기 신호는 등화기에 추가로 입력된다. 등화기가 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하기 때문에, 등화된 전기 신호를 획득하고 등화기에 대응하는 등화 파라미터를 획득한다. 등화기의 시간 도메인 컨볼루션 기능으로 인해, 최대 레벨과 최소 레벨에 대응하는 노이즈를 평균화하며, 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율은 전술한 초기 노이즈 비율 파라미터 M보다 작다. 따라서, 샘플링된 전기 신호가 등화기에 의해 처리된 후, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 등화 파라미터 및 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 등화된 전기 신호에 대한 제1 노이즈 양을 다시 구해야 한다. 등화기의 등화 파라미터는 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양에 영향을 준다. 따라서, 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양이 획득될 수 있으므로, 수신기에서 등화기를 사용할 때 노이즈로 인한 신호의 광 파워 감쇠를 시뮬레이션하여 송신기의 실제 성능을 반영할 수 있다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 등화 파라미터, 및 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 상기 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는, 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 등화 파라미터 및 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하는 단계; 상기 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여, 상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 제3 노이즈 양 및 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 제4 노이즈 양을 결정하는 단계; 상기 제3 노이즈 양과 상기 제4 노이즈 양에 기반하여 상기 초기 노이즈 비율 파라미터를 수정하여, 수정된 노이즈 비율 파라미터를 획득하는 단계; 상기 등화 파라미터에 기반하여 노이즈 증강 팩터를 획득하는 단계 - 상기 노이즈 증강 팩터는 상기 등화기의 노이즈 증강 정도를 나타내는 데 사용됨 -; 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 수정된 노이즈 비율 파라미터, 상기 노이즈 증강 팩터, 및 평균 광 파워에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계 - 상기 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서의 샘플링된 전기 신호의 광 파워의 평균값임 - 를 포함한다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 수정된 노이즈 비율 파라미터, 상기 노이즈 증강 팩터, 및 평균 광 파워에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 상기 제1 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하는 단계를 포함하고, y는 상기 샘플링된 전기 신호가 위치된 샘플링 포인트에서 수집된 신호 파워를 나타내고, Pth는 상기 평균 광 파워를 나타내며, 는 광 파워가 Pth 보다 큰 샘플링 포인트의 진폭 분포(amplitude distribution)이고, 는 광 파워가 Pth보다 작은 샘플링 포인트의 진폭 분포이며, M(y)는 상기 수정된 노이즈 비율 파라미터를 나타내고, Ceq는 상기 노이즈 증강 팩터이며, BERtarget은 비트 오류율 임계값이고, Q는 표준 정규 분포의 꼬리 함수(tail function)를 나타낸다.
이 솔루션에서 앞의 수식은 가우시안 노이즈 모델을 사용하여 구축될 수 있으며, 순방향 오류 정정을 통해 비트 오류 결정이 수행되며, 지정된 비트 오류율 임계값이 BERtarget으로 표현되고, 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양 은 전술한 수식을 충족하며, 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양 이 전술한 수식을 사용하여 출력될 수 있다. 제한이 없다. 본 출원의 이 실시예에서, 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양 을 계산하기 위한 전술한 수식은 제한을 부과하지 않을 수 있고, 제1 노이즈 양은 전술한 수식의 등가 변형 또는 수식 변환에 기반하여 계산될 수 있다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 등화 파라미터에 기반하여 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하는 단계는, 상기 등화기에서 P개의 탭에 대응하는 P개의 연속 샘플링 포인트를 결정하는 단계 - P의 값은 양의 정수임 -; n번째 샘플링 포인트에 있으면서 또한 등화 후에 존재하는 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하는 단계 - L은 상기 등화기의 탭 길이를 나타내고, heq는 상기 등화기의 탭 계수를 나타내며, noise(n-m)은 (n-m)번째 샘플링 포인트에 있으면서 또한 시간 도메인 등화 처리가 수행되기 전에 존재하는 노이즈 양을 나타내고, 는 서로 다른 레벨 진폭에서의 평균 노이즈 양임 -; 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 양자화하여 W개의 레벨을 획득하는 단계 - W는 양의 정수임 -; 및 의 계산 방식에 기반하여 상기 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하는 단계 - 상기 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 상기 P개의 연속 샘플링 포인트에서 레벨 진폭에 대응하는 개의 노이즈 양을 포함함 - 를 포함한다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양을 획득하는 단계는, 상기 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하는 단계를 포함하고, y는 상기 이상적인 전기 신호가 위치된 샘플링 포인트에서 수집된 신호 파워를 나타내며, Pth는 평균 광 파워를 나타내고, 상기 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서 상기 이상적인 전기 신호의 광 파워의 평균값을 나타내며, M은 상기 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타내며, BERtarget은 비트 오류율 임계값이고, Q는 표준 정규 분포의 꼬리 함수를 나타낸다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 방법은, 상기 제1 노이즈 양 및 상기 제2 노이즈 양을 사용하여, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티(transmitter and dispersion eye closure penalty)를 계산하는 단계를 더 포함한다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 제1 노이즈 양 및 상기 제2 노이즈 양을 사용하여 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티를 계산하는 단계는, 상기 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 다음 방식:
으로 계산하는 단계 - 는 상기 제1 노이즈 양을 나타내고 는 상기 제2 노이즈 양을 나타냄 - 를 포함한다.
이 솔루션에서, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티는 로서 표현될 수 있으며, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 는 전술한 수식을 사용하여 계산될 수 있고, 계산된 TDEC 결과가 송신기 일관성 테스트 결과로서 사용될 수 있다. 제한이 없다. 본 출원의 이 실시예에서, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 계산하기 위한 전술한 수식은 제한을 부과할 수 없으며, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 는 전술한 수식의 등가 변형 또는 공식 변환에 기반하여 계산될 수 있다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 방법은, 상기 비트 에러율 임계값이 사용될 때, 상기 샘플링된 전기 신호 및 상기 이상적인 전기 신호에 각각 대응하는 노이즈 양을 획득하는 단계; 상기 샘플링된 전기 신호 및 상기 이상적인 전기 신호에 각각 대응하면서 또한 상기 비트 오류율 임계값을 사용할 때 획득된 노이즈 양에 기반하여, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계를 획득하는 단계; 및 상기 계산된 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 다음 방식:
으로 수정하는 단계 - 는 수정된 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티를 나타내고, 는 상기 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계를 나타냄 - 를 더 포함한다.
이 솔루션에서, 노이즈 분포에 대한 영향을 평가하기 위해, 샘플링된 전기 신호와 이상적인 전기 신호에 각각 대응하면서 또한 비트 오류율 임계값이 사용될 때 획득되는 노이즈 양에 기반하여, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계가 획득된다. 예를 들어, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계는 TDEC 수정 룩업 테이블(look-up table)일 수 있으며, 서로 다른 수정 값이 룩업 테이블에 기반하여 서로 다른 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 에 할당된다. 수정된 TDEC는 송신기의 실제 성능을 반영하기 위해, 수신기에서 등화기를 사용할 때 노이즈로 인한 신호의 광 파워 감쇠를 시뮬레이션하는 데 사용될 수 있다.
제2 측면에 따르면, 본 출원은 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치를 더 제공하며, 상기 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치는, 송신기에 의해 송신된 광 신호에 대해 파형 샘플링을 수행하여 샘플링된 전기 신호를 획득하도록 구성된 처리 모듈을 포함하고, 상기 처리 모듈은 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하도록 - 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 최소 레벨보다 크고 최대 레벨보다 작고, 상기 초기 노이즈 비율 파라미터는 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율이며, 상기 최대 노이즈 양은 상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이고, 상기 최소 노이즈 양은 상기 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이며, 상기 제1 노이즈 양은 상기 최소 노이즈 양보다 크고 상기 최대 노이즈 양보다 작은 노이즈 양임 - 구성되고; 그리고 상기 처리 모듈은 상기 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양을 획득하도록 - 상기 이상적인 전기 신호는 상기 샘플링된 전기 신호와 동일한 광 변조 진폭을 가지며, 상기 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭은 상기 최대 레벨 또는 상기 최소 레벨임 - 구성되며, 상기 제1 노이즈 양과 상기 제2 노이즈 양은 상기 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 데 사용된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이인 것으로 결정하고; 그리고 상기 최대 노이즈 양 및 상기 최소 노이즈 양을 보간 조건으로 사용하며, 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대한 보간 계산을 수행하여 상기 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 미리 설정된 샘플링 포인트에서 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 허용 노이즈 양 을 획득하고; 상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 최대 노이즈 양 을 방식으로 결정하며 - M은 상기 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타냄 -; 상기 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 최소 노이즈 양이 인 것으로 결정하고; 상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이에서 양자화를 수행하여 N개의 레벨 값을 획득하며 - 상기 N개의 레벨 값은 모두 상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이이고, N은 양의 정수임 -; 미리 설정된 보간 알고리즘에 따라 상기 N개의 레벨 값에 각각 대응하는 N개의 노이즈 양을 계산하며; 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 상기 N개의 레벨 값 중 제1 레벨 값인 것으로 결정하고; 그리고 상기 N개의 레벨 값과 상기 N개의 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여 상기 제1 레벨 값에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 상기 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터, 상기 최대 노이즈 양 및 상기 최소 노이즈 양에 기반하여, 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하고 - 상기 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는, 상기 최소 레벨보다 크고 상기 최대 레벨보다 작은 레벨 진폭 각각에 대응하는 노이즈 양을 포함함 -; 그리고 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 사용하여 상기 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 검색하여, 상기 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 상기 광 신호에 대해 파형 샘플링을 수행하여 상기 샘플링된 전기 신호를 획득한 후에, 등화기를 사용하여 상기 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하여, 등화된 전기 신호를 획득하도록 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 상기 등화기에 대응하는 등화 파라미터를 획득하고 - 상기 등화 파라미터는 상기 등화기의 탭 길이 및 상기 등화기의 탭 계수를 포함함 -; 그리고 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 등화 파라미터, 및 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 상기 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 등화 파라미터 및 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하고; 상기 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여, 상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 제3 노이즈 양 및 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 제4 노이즈 양을 결정하며; 상기 제3 노이즈 양과 상기 제4 노이즈 양에 기반하여 상기 초기 노이즈 비율 파라미터를 수정하여, 수정된 노이즈 비율 파라미터를 획득하고; 상기 등화 파라미터에 기반하여 노이즈 증강 팩터를 획득하며 - 상기 노이즈 증강 팩터는 상기 등화기의 노이즈 증강 정도를 나타내는 데 사용됨 -; 그리고 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 수정된 노이즈 비율 파라미터, 상기 노이즈 증강 팩터, 및 평균 광 파워에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하도록 - 상기 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서의 샘플링된 전기 신호의 광 파워의 평균값임 - 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 상기 제1 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하도록 구성되며, y는 상기 샘플링된 전기 신호가 위치된 샘플링 포인트에서 수집된 신호 파워를 나타내고, Pth는 상기 평균 광 파워를 나타내며, 는 광 파워가 Pth 보다 큰 샘플링 포인트의 진폭 분포이고, 는 광 파워가 Pth보다 작은 샘플링 포인트의 진폭 분포이며, M(y)는 상기 수정된 노이즈 비율 파라미터를 나타내고, Ceq는 상기 노이즈 증강 팩터이며, BERtarget은 비트 오류율 임계값이고, Q는 표준 정규 분포의 꼬리 함수를 나타낸다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 상기 등화기에서 P개의 탭에 대응하는 P개의 연속 샘플링 포인트를 결정하고 - P의 값은 양의 정수임 -; 그리고 n번째 샘플링 포인트에 있으면서 또한 등화 후에 존재하는 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하도록 - L은 상기 등화기의 탭 길이를 나타내고, heq는 상기 등화기의 탭 계수를 나타내며, noise(n-m)은 (n-m)번째 샘플링 포인트에 있으면서 또한 시간 도메인 등화 처리가 수행되기 전에 존재하는 노이즈 양을 나타내고, 는 서로 다른 레벨 진폭에서의 평균 노이즈 양임 - 구성되며,
상기 처리 모듈은 추가로, 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 양자화하여 W개의 레벨을 획득하고 - W는 양의 정수임 -; 그리고 의 계산 방식에 기반하여 상기 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하도록 - 상기 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 상기 P개의 연속 샘플링 포인트에서 레벨 진폭에 대응하는 개의 노이즈 양을 포함함 - 구성된다.
이 솔루션에서, 노이즈 분포에 대한 수신기의 영향을 평가하기 위해, 등화 파라미터에 기반하여 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득할 수 있다. 예를 들어, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 등화 이후에 존재하는 레벨 진폭 및 노이즈와 관련된 룩업 테이블일 수 있으며, 서로 다른 노이즈 양이 룩업 테이블에 기반하여, 서로 다른 레벨 진폭에서의 샘플링된 전기 신호에 할당된다. 등화기의 P개의 연속 중간 샘플링 포인트에 대응하는 노이즈만을 고려한다고 가정한다. 실제 애플리케이션 시나리오에서, 레벨 진폭 및 노이즈 양과 관련된 룩업 테이블만 구축하면 된다. 레벨 진폭을 양자화하여 W개의 레벨을 획득하고, 깊이가 P인 룩업 테이블이 구축되며, 테이블은 총 개의 검색 항목을 포함하고, 개의 검색 항목은 P개의 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭에 대응하는 개의 노이즈 양을 포함한다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 상기 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하도록 구성되고, y는 상기 이상적인 전기 신호가 위치된 샘플링 포인트에서 수집된 신호 파워를 나타내며, Pth는 평균 광 파워를 나타내고, 상기 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서 상기 이상적인 전기 신호의 광 파워의 평균값을 나타내며, M은 상기 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타내며, BERtarget은 비트 오류율 임계값이고, Q는 표준 정규 분포의 꼬리 함수를 나타낸다.
이 솔루션에서, 이상적인 전기 신호에 대응하는 평균 광 파워를 추가로 결정해야 하며, 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서 이상적인 전기 신호의 광 파워 평균값이다. 예를 들어, 후속 실시예에서, Pth 또는 Pave는 평균 광 파워를 나타낸다. 획득된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양 이 획득될 수 있으며, 제2 노이즈 양 은 송신기에 대한 후속 일관성 테스트에 사용될 수 있다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 상기 제1 노이즈 양 및 상기 제2 노이즈 양을 사용하여, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티를 계산하도록 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 상기 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 다음 방식:
으로 계산하도록 - 는 상기 제1 노이즈 양을 나타내고 는 상기 제2 노이즈 양을 나타냄 - 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 상기 처리 모듈은 추가로, 상기 비트 에러율 임계값이 사용될 때, 상기 샘플링된 전기 신호 및 상기 이상적인 전기 신호에 각각 대응하는 노이즈 양을 획득하고; 상기 샘플링된 전기 신호 및 상기 이상적인 전기 신호에 각각 대응하면서 또한 상기 비트 오류율 임계값을 사용할 때 획득된 노이즈 양에 기반하여, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계를 획득하며; 그리고 상기 계산된 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 다음 방식:
으로 수정하도록 - 는 수정된 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티를 나타내고, 는 상기 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계를 나타냄 - 구성된다.
본 출원의 제2 측면에서, 상기 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치에 포함된 모듈은 추가로, 제1 측면 및 이의 가능한 구현에 설명된 단계를 수행할 수 있다. 자세한 내용은 제1 측면과 그의 가능한 구현의 설명을 참조한다.
제3 측면에 따르면, 본 출원의 실시예는 컴퓨터가 판독 가능한 저장 매체를 제공한다. 상기 컴퓨터가 판독 가능한 저장 매체는 명령을 저장한다. 상기 명령이 컴퓨터에서 실행될 때, 상기 컴퓨터는 제1 측면에 따른 방법을 수행하도록 인에이블된다.
제4 측면에 따르면, 본 출원의 실시예는 명령을 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품을 제공한다. 상기 컴퓨터 프로그램 제품이 컴퓨터에서 실행될 때, 상기 컴퓨터는 제1 측면에 따른 방법을 수행하도록 인에이블된다.
제5 측면에 따르면, 본 출원의 실시예는 수신기를 제공하며, 상기 수신기는 단말 디바이스 또는 칩과 같은 엔티티를 포함할 수 있고, 상기 수신기는 프로세서 및 메모리를 포함하며, 상기 메모리는 명령을 저장하도록 구성되고, 상기 프로세서는 상기 수신기가 제1 측면에서 설명된 방법을 수행하도록, 상기 메모리의 명령을 실행한다.
제6 측면에 따르면, 본 출원은 칩 시스템을 제공한다. 상기 칩 시스템은, 예를 들어, 전술한 방법에서 데이터 및/또는 정보를 송신하거나 처리하는 것과 같은 전술한 측면에서의 기능을 구현함에 있어서 상기 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치를 지원하도록 구성된 프로세서를 포함한다. 가능한 설계에서, 상기 칩 시스템은 메모리를 더 포함한다. 상기 메모리는 상기 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치에 필요한 프로그램 명령 및 데이터를 저장하도록 구성된다. 상기 칩 시스템은 칩을 포함하거나 칩 및 기타 개별 디바이스를 포함할 수 있다.
도 1은 본 출원의 실시예에 따른 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하기 위한 시스템의 구성의 개략도이다.
도 2는 본 출원의 실시예에 따른 수신기의 구성의 개략도이다.
도 3은 본 출원의 실시예에 따른 다른 수신기의 구성의 개략도이다.
도 4는 본 출원의 실시예에 따른 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법의 개략적인 블록 흐름도이다.
도 5는 본 출원의 실시예에 따른 샘플링된 전기 신호의 아이 다이어그램의 개략도이다.
도 6은 본 출원의 실시예에 따른 TDEC를 계산하고 수정하는 흐름도이다.
도 7은 본 출원의 실시예에 따른 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치의 구성의 개략도이다.
도 8은 본 출원의 실시예에 따른 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 다른 장치의 구성의 개략도이다.
본 출원의 실시예는 송신기 테스트 파라미터를 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 수신기의 유형을 제한하지 않고, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양을 획득하기 위한 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법 및 장치, 그리고 저장 매체를 제공한다.
다음은 첨부된 도면을 참조하여 본 출원의 실시예를 설명한다.
본 출원의 명세서, 특허청구범위 및 첨부된 도면에서 "제1" 및 "제2"와 같은 용어는 유사한 객체를 구별하기 위한 것으로, 반드시 특정한 순서 또는 시퀀스를 나타내는 것은 아니다. 이러한 방식으로 사용된 용어는 적절한 상황에서 상호 교환이 가능함을 이해해야 한다. 이는 본 출원의 실시예에서 동일한 속성을 갖는 객체를 설명할 때 사용하는 구별 방식일 뿐이다. 또한, 용어 "포함하다", "갖다" 및 이들의 다른 변형은 비배타적 포함을 포함하기 위한 것이므로, 일련의 유닛을 포함하는 프로세스, 방법, 시스템, 제품 또는 디바이스가 반드시 이러한 유닛에 제한되지 않으며, 명시적으로 나열되지 않았거나 그러한 프로세스, 방법, 시스템, 제품 또는 장치에 고유한 다른 유닛을 포함할 수 있다.
본 출원의 실시예의 기술적 솔루션은 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하기 위한 시스템에 적용될 수 있다. 도 1은 본 출원의 실시예에 따른 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하기 위한 시스템의 구성의 개략도이다. 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하기 위한 시스템은 송신기와 수신기를 포함할 수 있고, 송신기와 수신기 사이에는 광 전송 채널(optical transmission channel)이 구성될 수 있으며, 예를 들어, 광 전송 채널은 광섬유(optical fiber)를 포함한다. 송신기는 광 신호를 수신기로 송신하고, 수신기는 광 신호를 수신하며 광 신호를 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 완료할 수 있다.
본 출원의 이 실시예에서, 수신기가 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행할 때, 송신기 테스트 파라미터를 획득할 필요가 있다. 예를 들어, 수신기는 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치를 포함할 수 있으며, 즉 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치가 수신기의 컴포넌트이다. 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치는 본 출원의 실시예에서 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법을 수행할 수 있다. 다르게는, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치는 수신기와 독립적인 디바이스이다. 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치는 송신기 테스트 파라미터를 획득하기 위한 후속 방법을 수행한다. 수신기는 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치로부터 송신기 테스트 파라미터를 획득하고, 수신기는 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행할 수 있다. 수신기가 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법을 수행하는 예는 다음 실시예에서 설명을 위해 사용된다.
본 출원의 이 실시예에서, 수신기가 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 복수의 방법이 있다. 예를 들어, 상기 방법은 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티(transmitter dispersion eye closure penalty, TDEC) 그리고 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 4군(transmitter dispersion eye closure penalty quaternary, TDECQ)을 포함할 수 있다. 제한이 없다. 본 출원의 이 실시예에서, 수신기는 다른 솔루션을 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행할 수 있다. 이것은 여기에서 제한되지 않는다.
본 출원의 일부 실시예에서, 도 2는 본 출원의 실시예에 따른 수신기의 구성의 개략도이다. 수신기는 광 스플리터(optical splitter), 광섬유, 광전 검출기(photoelectric detector), 클럭 복구(clock recovery) 모듈, 오실로스코프(oscilloscope) 및 프로세서를 포함할 수 있다. 먼저, 광 스플리터는 광 전송 채널을 통해 송신기에 의해 송신된 광 신호를 분할한다(split). 다음으로 광 스플리터는 광섬유를 사용하여 광 신호를 광전 검출기로 전송한다. 광전 검출기는 광 신호를 전기 신호(electrical signal)로 변환한다. 그런 다음 클럭 복구 모듈은 전기 신호에 대해 클럭 복구를 수행한 다음 전기 신호를 오실로스코프에 전송한다. 오실로스코프는 패턴 트리거(pattern triggered) 방식으로 또는 실시간으로 직접 오실로스코프를 사용하여 완전한 샘플링된 전기 신호를 수집한다. 마지막으로, 프로세서는 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양을 획득하고, 프로세서는 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행한다. 자세한 내용은 후속 실시예에서 프로세서에 의해 수행되는 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법에 대한 자세한 설명을 참조한다.
본 출원의 일부 다른 실시예에서, 도 3은 본 출원의 실시예에 따른 다른 수신기의 구성의 개략도이다. 광 스플리터, 광섬유, 광전 검출기, 클럭 복구 모듈, 오실로스코프 및 프로세서 외에, 수신기는 등화기(equalizer)를 더 포함할 수 있다. 등화기는 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하여 등화된 전기 신호(equalized electrical signal)를 획득하도록 구성된다. 마지막으로, 프로세서는 등화된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양을 획득하고 프로세서는 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행한다. 자세한 내용은 후속 실시예에서 프로세서에 의해 수행되는 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법에 대한 자세한 설명을 참조한다.
전술한 수신기에 기반하여, 본 출원의 실시예에서 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법이 아래에서 설명된다. 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법은 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치에 의해 수행될 수 있다. 예를 들어, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치는 수신기의 컴포넌트일 수 있다. 수신기가 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법을 수행하는 예는 다음 실시예에서 설명을 위해 사용된다. 도 4에 도시된 바와 같이, 본 출원의 이 실시예에서 제공되는 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법은 다음 단계를 포함한다:
401. 송신기에 의해 송신된 광 신호에 대해 파형 샘플링을 수행하여 샘플링된 전기 신호를 획득한다.
수신기는 송신기로부터 광 신호를 수신할 수 있고, 광 신호는 송신기에 의해 수신기로 송신되는 데이터를 운반한다.
본 출원의 일부 실시예에서, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법이 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치에 의해 수행되면, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치는 수신기를 사용하여, 송신기에 의해 송신된 광 신호를 획득할 수 있다.
본 출원의 이 실시예에서, 도 2 및 도 3으로부터, 수신기는 광 스플리터, 광전 검출기 및 오실로스코프를 사용하여 파형 샘플링을 수행하여 광 신호를 전기 신호로 변환하고, 전기 신호를 샘플링하여 샘플링된 전기 신호를 획득할 수 있음을 알 수 있다. 샘플링된 전기 신호는 레벨 진폭(level amplitude)을 가진다. 샘플링을 통해 획득된 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 제한되지 않는다. 본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 샘플링된 전기 신호에 대해 결정된 노이즈 양에 대한 기초(basis)이다. 샘플링된 전기 신호의 서로 다른 레벨 진폭에 대해 서로 다른 노이즈 양이 결정될 수 있으므로, 송신기에 의해 전송되는 서로 다른 광 신호의 실제 광 파워 감쇠가 시뮬레이션되어 송신기의 실제 성능을 반영할 수 있다. 자세한 내용은 다음 단계(402)에서 노이즈 양 결정에 대한 자세한 설명을 참조한다.
402. 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하며, 여기서 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 최소 레벨보다 크고 최대 레벨보다 작으며, 초기 노이즈 비율 파라미터는 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율이고, 최대 노이즈 양은 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이며, 최소 노이즈 양은 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이고, 제1 노이즈 양은 최소 노이즈 양보다 크고 최대 노이즈 양보다 작은 노이즈 양이다.
본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호가 획득된 후, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 결정될 수 있고, 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터가 추가로 획득될 수 있다. 초기 노이즈 비율 파라미터는 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율이다. 최대 노이즈 양은 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양으로, 예를 들어 최대 레벨은 1일 수 있다. 최소 노이즈 양은 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이며, 예를 들어 최소 레벨은 0일 수 있다. 최대 노이즈 양 및 최소 노이즈 양은 소정의 최대 레벨의 전기 신호와 소정의 최소 레벨의 전기 신호에 기반하여 결정될 수 있다. 최대 노이즈 양 및 최소 노이즈 양이 결정된 후, 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터가 결정될 수 있다.
본 출원의 이 실시예에서, 초기 노이즈 비율 파라미터는 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 계산하는 데 사용될 수 있다. 제1 노이즈 양은 구체적으로 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치에 의해 획득된 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이다. 본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양은 최소 노이즈 양보다 크고 최대 노이즈 양보다 작은 노이즈 양이다. 예를 들어, 제1 노이즈 양은 제1 구간(interval)에서의 노이즈 양이고, 제1 구간의 최대값은 최대 노이즈 양이고, 제1 구간의 최소값은 최소 노이즈 양일 수 있다. 제1 노이즈 양이 최대 노이즈 양과 최소 노이즈 양 사이이면, 제1 노이즈 양의 구체적인 값은 제한되지 않는다. 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양은 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭과 초기 노이즈 비율 파라미터에 따라 다르다. 본 출원의 이 실시예에서, 수신기는 샘플링된 전기 신호의 상이한 레벨 진폭에 대해 상이한 노이즈 양을 결정할 수 있다. 이는 샘플링된 모든 전기 신호에 대해 동일한 노이즈 양이 결정되는 현재 솔루션과 상당히 다르다. 따라서, 본 출원의 이 실시예에서, 수신기가 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양을 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행할 때, 송신기에 의해 전송되는 상이한 광 신호의 실제 광 파워 감쇠를 시뮬레이션하여 송신기의 실제 성능을 반영할 수 있다. 또한, 본 출원의 이 실시예에서, 상이한 레벨 진폭에서 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이 상이하며, 즉 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양이 획득될 수 있다. 따라서, 이 솔루션은 서로 다른 유형의 수신기에 적용될 수 있다. 송신기 테스트 파라미터를 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 수신기의 유형은 본 출원의 이 실시예에서 제한되지 않는다. 예를 들어, 본 출원의 이 실시예는 PIN 수신기에 적용될 수 있고, APD 수신기에도 적용될 수 있다.
본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 복수의 특정 방식이 있다. 예를 들어, 초기 노이즈 비율 파라미터와 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 입력 조건으로 사용하기 위해 미리 설정된 계산 방법이 사용될 수 있다. 계산된 제1 노이즈 양이 최대 노이즈 양과 최소 노이즈 양 사이이면, 제1 노이즈 양의 구체적인 값은 계산 방법을 사용하여 획득될 수 있다.
본 출원의 일부 실시예에서, 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계(402)는:
미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터, 최대 노이즈 양 및 최소 노이즈 양에 기반하여 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하는 단계 - 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 최소 레벨보다 크고 최대 레벨보다 작은 각 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양을 포함함 -; 및
샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 사용하여 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 검색하여 제1 노이즈 양을 획득하는 단계를 포함한다.
본 출원의 이 실시예에서, 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 초기 노이즈 비율 파라미터, 최대 노이즈 양 및 최소 노이즈 양에 기반하여 미리 설정될 수 있다. 예를 들어, 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 최대 노이즈 양과 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 최소 노이즈 양을 포함한다. 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 최대 레벨과 최소 레벨 사이의 레벨에서 전기 신호에 대응하는 노이즈 양을 더 포함한다. 달리 말하면, 대응 관계는 모든 레벨 진폭에 각각 대응하는 노이즈 양을 포함할 수 있다. 예를 들어, 대응 관계는 테이블 또는 세트일 수 있다. 예를 들어, 테이블은 모든 레벨 진폭에 각각 대응하는 서로 다른 노이즈 양을 포함한다. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 획득된 후, 대응 관계를 검색하는 것에 의해, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양이 결정될 수 있다. 이 경우, 대응 관계를 검색하여 획득된 노이즈 양은 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양이다.
본 출원의 일부 실시예에서, 샘플링된 전기 신호의 상이한 레벨 진폭에 대해 상이한 노이즈 양이 결정될 수 있다. 예를 들어, 샘플링된 전기 신호가 최대 레벨의 전기 신호일 때, 제1 노이즈 양이 최대 노이즈 양인 것으로 결정된다. 다른 예로, 샘플링된 전기 신호가 최소 레벨의 전기 신호일 때, 제1 노이즈 양이 최소 노이즈 양인 것으로 결정된다. 또한, 본 출원의 일부 실시예에서, 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계(402)는 다음을 포함한다:
4021. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 최대 레벨과 최소 레벨 사이인 것으로 결정한다.
4022. 최대 노이즈 양과 최소 노이즈 양을 보간 조건으로 사용하고, 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대한 보간 계산을 수행하여 제1 노이즈 양을 획득한다.
샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 획득된 후, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 최대 레벨과 최소 레벨 사이인지를 판정된다. 예를 들어, 최대 레벨이 1이고 최소 레벨이 0이면, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 0.8, 0.9, 0.6 등일 수 있다. 최대 노이즈 양과 최소 노이즈 양을 보간 조건으로 사용하며, 즉, 최대 노이즈 양과 최소 노이즈 양을 보간 알고리즘의 두 끝점 값으로 사용하고, 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대해 레벨 진폭에 대해 보간 계산을 수행하여 제1 노이즈 양을 획득한다. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 클수록 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양이 더 크다는 것을 지시한다. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 작을수록 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양이 더 작다는 것을 지시한다.
본 출원의 일부 실시예에서, 보간 알고리즘은 최대 노이즈 양 및 최소 노이즈 양이 알려진 경우 보간 함수를 사용하여 결과를 계산하는 데 사용되는 알고리즘이다. 복수의 보간 알고리즘이 본 출원의 이 실시예에서 사용될 수 있다. 예를 들어, 보간 알고리즘은 선형 보간, 최근접 이웃 보간 또는 쌍선형 보간일 수 있다. 이것은 여기에서 제한되지 않는다.
또한, 본 출원의 일부 실시예에서, 최대 노이즈 양 및 최소 노이즈 양을 보간 조건으로 사용하고, 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대한 보간 계산을 수행하여, 제1 노이즈 양을 획득하는 단계(4022)는 다음을 포함한다:
A1. 미리 설정된 샘플링 포인트에서 샘플링된 전기 신호의 허용 노이즈 양 을 획득한다.
A2. 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 최대 노이즈 를 방식으로 결정하며, 여기서 M은 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타낸다.
A3. 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 최소 노이즈 양이 인 것으로 결정한다.
A4. 최대 레벨과 최소 레벨 사이의 양자화를 수행하여 N개의 레벨 값을 획득하며, 여기서 N개의 레벨 값은 모두 최대 레벨과 최소 레벨 사이이고, N은 양의 정수이다.
A5. 미리 설정된 보간 알고리즘에 따라 N개의 레벨 값에 각각 대응하는 N개의 노이즈 양을 계산한다.
A6. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 N개의 레벨 값 중 제1 레벨 값인 것으로 결정한다.
A7. N개의 레벨 값과 N개의 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여 제1 레벨 값에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득한다.
샘플링된 전기 신호의 미리 설정된 샘플링 포인트가 먼저 결정된다. 예를 들어, TDEC 시나리오에서, 결정된 샘플링 포인트는 0.4 단위 간격(unit interval, UI) 위치의 샘플링 포인트와 0.6 UI 위치의 샘플링 포인트일 수 있다. 미리 설정된 샘플링 포인트에서의 샘플링된 전기 신호의 허용 노이즈 양 을 획득한다. 예를 들어, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양은 가우시안 노이즈 모델을 사용하여 획득되어, 왼쪽 위치 및 오른쪽 위치(0.4 UI 위치 및 0.6 UI 위치)의 샘플링 포인트에서 최대 허용 노이즈 양 및 을 획득한다. 이 경우, 미리 설정된 샘플링 포인트의 샘플링된 전기 신호의 허용 노이즈 양 은 왼쪽 위치(0.4UI) 또는 오른쪽 위치(0.6UI)의 샘플링 포인트에서 허용 노이즈 양 또는 이다. 이 획득된 후, 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 최대 노이즈 가 결정될 수 있으며: , 여기서 M은 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타낸다. 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 최소 노이즈 양은 로 결정된다.
최대 레벨과 최소 레벨에 기반하여 레벨 진폭 양자화를 수행하여 최대 레벨과 최소 레벨 간의 양자화를 통해 N개의 레벨 값을 획득한다. 이 경우, N개의 레벨 값은 모두 최대 레벨과 최소 레벨 사이이며, N은 양의 정수이다. 다음으로, N개의 레벨 값에 각각 대응하는 N개의 노이즈 양은 미리 설정된 보간 알고리즘에 따라 계산되며, 즉, 양자화를 통해 획득된 N개의 레벨 값 각각에 대해 보간 알고리즘에 따라 하나의 노이즈 양이 계산된다. 이 경우, N개의 레벨 값에 대해 N개의 노이즈 양이 계산될 수 있다. 예를 들어, 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 N개의 레벨 값에 각각 대응하는 N개의 노이즈 양을 포함할 수 있다. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 N개의 레벨 값 중 제1 레벨 값이면, 제1 레벨 값은 N개의 레벨 값에서의 레벨 값이다. 마지막으로, N개의 레벨 값과 N개의 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여 제1 레벨 값에 대응하는 제1 노이즈 양이 획득된다. 본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 N개의 레벨 값 중 제1 레벨 값으로 결정되고, N개의 레벨 값과 N개의 노이즈 양 사이의 대응 관계가 제1 레벨 값을 사용하여 검색되어, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 결정한다. 본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호의 상이한 레벨 진폭에 대해 상이한 노이즈 양이 결정될 수 있다. 본 출원의 이 실시예는 샘플링된 전기 신호의 상이한 레벨 진폭에 대응하는 미세한 노이즈 양을 획득하기 위한 솔루션을 제공한다. 따라서, 본 출원의 이 실시예에서, 송신기에 의해 전송된 상이한 광 신호의 실제 광 파워 감쇠가 시뮬레이션되어, 송신기의 실제 성능을 반영할 수 있다. 본 출원의 이 실시예에서, 상이한 레벨 진폭에서 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이 상이하며, 즉 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양이 획득될 수 있다. 따라서, 이 솔루션은 다양한 유형의 수신기에 적용될 수 있다. 송신기 테스트 파라미터를 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 수신기의 유형은 본 출원의 이 실시예에서 제한되지 않는다.
예를 들어, 도 5는 본 출원의 실시예에 따른 샘플링된 전기 신호의 아이 다이어그램(eye diagram)의 개략도이다. 수신기가 APD 수신기인 예가 사용된다. 송신기에 의해 송신된 광 신호를 수신할 때, APD 수신기는 광 신호를 샘플링하여 샘플링된 전기 신호를 획득할 수 있다. APD 수신기는 초기 노이즈 비율 파라미터 M을 획득하고, 그다음 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득할 수 있다. 예를 들어, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 레벨 1 또는 레벨 0일 수 있다. 레벨이 결정 임계값보다 높은 샘플링 포인트에 대응하는 노이즈를 로 결정하고, 레벨이 결정 임계값보다 낮은 샘플링 포인트에 대응하는 노이즈를 로 결정한다. 그러나, 제한된 대역폭 및 비선형성과 같은 요인으로 인해, 아이 다이어그램은 2개 이상의 레벨을 가지며, 다양한 크로스 레벨(cross level)을 추가로 포함하며, 즉, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 최대 레벨과 최소 레벨 사이이고, 예를 들어, 샘플링 포인트에서의 레벨은 0과 1에 제한되지 않으며, 0.9 또는 0.8과 같은 크로스 레벨일 수 있다.
본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 보다 정확한 노이즈 양이 획득될 수 있다. 예를 들어, 선형 보간 알고리즘에 따라 획득된 N개의 노이즈 양은 각각 (M-(M-1)/N)×, (M-2(M-1)/N)×, ..., (1+2(M-1)/N)×, 및 (1+(M-1)/N)×이다. 샘플링 포인트의 레벨이 1과 0일 때, 대응하는 노이즈 양은 및 이다. 0.9 또는 0.8과 같은 중간 레벨에 대응하는 샘플링 포인트의 경우, 보간 알고리즘에 따라 노이즈 양을 획득한다. 도 5는 선형 보간 결과를 도시한다. 예를 들어, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 0.5일 때, 샘플링된 전기 신호에 대해 결정되는 노이즈 양은 (M+1)/2이다.
본 출원의 일부 실시예에서, 도 3에 도시된 수신기의 구성에 기반하여, 수신기가 오실로스코프를 사용하여 전기 신호에 대한 파형 샘플링을 수행한 후, 샘플링된 전기 신호를 획득하기 위해, 본 출원의 이 실시예에서 제공된 방법은 다음 단계를 더 포함한다.
B1. 등화기를 사용하여 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하여 등화된 전기 신호를 획득한다.
수신기는 등화기를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 샘플링된 전기 신호가 등화기에 추가로 입력된다. 등화기는 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하기 때문에, 등화된 전기 신호를 획득한다. 등화기의 시간 도메인 컨볼루션 기능으로 인해, 서로 다른 레벨 진폭에 대응하는 노이즈가 평균화된다. 따라서, 등화된 전기 신호에 대해 다시 제1 노이즈 양을 결정해야 한다.
본 출원의 일부 실시예에서, 단계 B1이 수행되는 구현 시나리오에서, 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계(402)는 다음을 포함한다:
C1. 등화기에 대응하는 등화 파라미터를 획득하며, 여기서 등화 파라미터는 등화기의 탭(tap) 길이 및 등화기의 탭 계수를 포함한다.
C2. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 균등 파라미터 및 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득한다.
수신기는 등화기를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 샘플링된 전기 신호가 등화기에 추가로 입력된다. 등화기는 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하기 때문에, 등화된 전기 신호를 획득하고 등화기에 대응하는 등화 파라미터를 획득한다. 구체적으로, 획득된 등화 파라미터는 등화기의 탭 길이 및 등화기의 탭 계수를 포함할 수 있다. 탭 길이는 L로 표현될 수 있으며, 탭 계수는 등화기의 파라미터에 의존한다.
본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호가 등화기에 의해 추가로 처리된 후, 등화된 전기 신호가 출력된다. 등화기의 시간 도메인 컨볼루션 기능으로 인해 최대 레벨과 최소 레벨에 대응하는 노이즈를 평균화하며, 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율은 전술한 초기 노이즈 비율 파라미터 M보다 작다. 따라서, 샘플링된 전기 신호가 등화기에 의해 처리된 후, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 등화 파라미터 및 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 등화된 전기 신호에 대한 제1 노이즈 양을 다시 구해야 한다. 등화기의 등화 파라미터는 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양에 영향을 준다. 따라서, 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득할 수 있으므로, 수신기에서 등화기를 사용할 때 노이즈로 인한 신호의 광 파워 감쇠를 시뮬레이션하여 송신기의 실제 성능을 반영할 수 있다.
본 출원의 일부 실시예에서, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 등화 파라미터, 및 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계(C2)는 구체적으로 다음 단계를 포함할 수 있다:
C21. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 등화 파라미터 및 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득한다.
C22. 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여, 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 제3 노이즈 양과 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 제4 노이즈 양을 결정한다.
C23. 제3 노이즈 양과 제4 노이즈 양에 기반하여 초기 노이즈 비율 파라미터를 수정하여, 수정된 노이즈 비율 파라미터를 획득한다.
C24. 등화 파라미터에 기반하여 노이즈 증강 팩터를 획득하며, 노이즈 증강 팩터는 등화기의 노이즈 증강 정도를 나타내는 데 사용된다.
C25. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 수정된 노이즈 비율 파라미터, 노이즈 증강 팩터 및 평균 광 파워에 기반하여 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하며, 여기서 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서 샘플링된 전기 신호의 광 파워의 평균값이다.
구체적으로, 단계(C21)에서, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 등화 파라미터 및 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계가 먼저 획득된다. 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는, 연속적인 복수의 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양의 값의 대응 관계이다. 예를 들어, 대응 관계는 테이블 또는 세트일 수 있다. 예를 들어, 대응 관계는 P개의 연속 샘플링 포인트에서 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양을 포함할 수 있다. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 획득된 후, 대응 관계를 검색함으로써 상이한 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭에 대응하는 상이한 노이즈 양이 결정될 수 있다. 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는, P개의 연속 샘플링 포인트에서 상이한 레벨 진폭에 대응하는 상이한 노이즈 양을 포함할 수 있다.
또한, 등화 파라미터에 기반하여 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하는 단계(C21)는 다음을 포함한다:
C211. 등화기에서 P개의 탭에 대응하는 P개의 연속 샘플링 포인트를 결정하며, 여기서 P 값은 양의 정수이다.
C212. n번째 샘플링 포인트에 있으면서 또한 등화 후에 존재하는 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하며, 여기서, L은 등화기의 탭 길이를 나타내며, heq는 등화기의 탭 계수를 나타내고, noise(n-m)은 (n-m)번째 샘플링 포인트에 있으면서 또한 시간 도메인 등화 처리가 수행되기 전에 존재하는 노이즈 양을 나타내며, 는 서로 다른 레벨 진폭에서의 평균 노이즈 양이다.
C213. 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 양자화하여 W개의 레벨을 획득하며, 여기서 W는 양의 정수이다.
C214. 의 계산 방식에 기반하여 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하며, 여기서 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 P개의 연속 샘플링 포인트에서 레벨 진폭에 대응하는 개의 노이즈 양을 포함한다.
노이즈 분포에 대한 수신기의 영향을 평가하기 위해, 등화 파라미터에 기반하여 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득할 수 있다. 예를 들어, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는, 등화 이후에 존재하는 레벨 진폭 및 노이즈와 관련된 룩업 테이블일 수 있으며, 룩업 테이블에 기반하여 서로 다른 레벨 진폭에서 샘플링된 전기 신호에 서로 다른 노이즈 양이 할당된다.
예를 들어, 수신기의 등화기가 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행한 후, n번째 샘플링 포인트에서의 노이즈 는 다음:
과 같이 시간 도메인에서 이산화될 수 있으며, 여기서 은 등화 이전에 존재하는 노이즈이며 수신 신호의 파워 과 관련되며, 은 등화 후 존재하는 노이즈이고, L은 등화기의 탭 길이이며, 은 등화기의 탭 계수이다. 등화기의 P개의 연속적인 중간 샘플링 포인트에 대응하는 노이즈만을 고려한다고 가정하고, P개의 연속 샘플링 포인트를 P개의 커서(cursor)라고도 부를 수 있다. 이 경우, P개의 연속 샘플링 포인트의 양측 샘플링 포인트에 대응하는 노이즈 은 로 단순화될 수 있다. 이 경우, 단계(C212)의 수식이 사용된다. 이 레벨 진폭에 의존하기 때문에, 실제 애플리케이션 시나리오에서 레벨 진폭 및 과 관련된 룩업 테이블만 구축하면 된다. 레벨 진폭은 W개의 레벨(level)을 획득하기 위해 양자화되고, 깊이가 P인 룩업 테이블이 에 기반하여 그리고 단계(C212)의 수식에 따라 구축되며, 테이블은 총 개의 검색 항목을 포함한다. 룩업 테이블은 하기 테이블 1과 같다.
전술한 테이블 1에 기반하여, 본 출원의 이 실시예에서 노이즈 분포는 다음 두 가지 방식으로 변경될 수 있다. 예를 들어, 노이즈 분포를 변경하기 위해 전술한 테이블 1에 기반하여 서로 다른 노이즈 양이 서로 다른 레벨 진폭에서의 샘플링 신호에 할당될 수 있다. 다른 예를 들어, 초기 노이즈 비율 파라미터 M은 노이즈 분포를 변경하기 위해 수정될 수 있다. 예를 들어, 후속 단계(C23)에서 초기 노이즈 비율 파라미터 M이 수정된다. 레벨 1에 대응하는 노이즈는 제3 노이즈 양 이고, 레벨 0에 대응하는 노이즈는 제4 노이즈 양 이라고 가정한다. 그러므로, 수정된 노이즈 비율 파라미터는 제4 노이즈 양 에 대한 제3 노이즈 양 의 비율을 사용하여 획득될 수 있다.
단계(C22)에서, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계가 구축된 후, 대응 관계를 검색하는 것에 의해, 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 제3 노이즈 양 및 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 제4 노이즈 양이 결정될 수 있다. 제3 노이즈 양은 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양으로, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여 발견되고, 제4 노이즈 양은 최소 레벨에서 전기 신호에 대응하는 노이즈 양으로, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여 발견된다.
단계(C23)에서, 샘플링된 전기 신호가 등화기에 의해 추가 처리된 후, 등화된 전기 신호가 출력된다. 등화기의 시간 도메인 컨볼루션 기능으로 인해 최대 레벨과 최소 레벨에 대응하는 노이즈를 평균화하며, 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율은 전술한 초기 노이즈 비율 파라미터 M보다 작다. 따라서, 샘플링된 전기 신호가 등화기에 의해 처리된 후, 등화 파라미터에 기반하여 전술한 초기 노이즈 비율 파라미터를 수정해야 하며, 즉, 초기 노이즈 비율 파라미터를 제3 노이즈 양 및 제4 노이즈 양에 기반하여 수정하여, 수정된 노이즈 비율 파라미터를 획득한다.
예를 들어, 수정된 노이즈 비율 파라미터를 획득하기 위해 제3 노이즈 양 및 제4 노이즈 양에 기반하여 초기 노이즈 비율 파라미터를 수정하는 것은 다음 방식:
으로 구현될 수 있으며, 최대 레벨에 대응하는 제3 노이즈 양은 이고 최소 레벨에 대응하는 제4 노이즈 양은 이며, 수정된 노이즈 비율 파라미터는 M'이다.
단계(C24)에서, 등화기는 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하여 등화된 전기 신호를 획득한다. 서로 다른 등화기는 서로 다른 노이즈 증강 정도를 가진다. 따라서, 등화 파라미터에 기반하여 노이즈 증강 팩터를 더 획득할 수 있고, 노이즈 증강 팩터는 현재 사용되는 등화기의 노이즈 증강 정도를 측정하는데 사용될 수 있다.
단계(C25)에서, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 평균 광 파워가 추가로 결정될 필요가 있으며, 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서 샘플링된 전기 신호의 광 파워의 평균값이다. 예를 들어, 후속 실시예에서, Pth 또는 Pave는 평균 광 파워를 나타낸다. 획득된 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 수정된 노이즈 비율 파라미터, 노이즈 증강 팩터 및 평균 광 파워에 기반하여, 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득할 수 있다. 등화기의 등화 파라미터는 수정된 노이즈 비율 파라미터 및 노이즈 증강 팩터를 결정하는 데 사용될 수 있기 때문에, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 수정된 노이즈 비율 파라미터, 노이즈 증강 팩터 및 평균 광 파워는, 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 데 사용된다. 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 송신기 테스트 파라미터로 사용하므로, 수신기에서 등화기를 사용할 때 노이즈로 인한 신호의 광 파워 감쇠를 시뮬레이션하여 송신기의 실제 성능을 반영할 수 있다. 본 출원의 이 실시예에서, 상이한 레벨 진폭에서 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이 상이하며, 즉 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양이 획득될 수 있다. 따라서, 이 솔루션은 다양한 유형의 수신기에 적용될 수 있다. 송신기 테스트 파라미터를 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 수신기의 유형은, 본 출원의 이 실시예에서 제한되지 않는다.
본 출원의 일부 실시예에서, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 수정된 노이즈 비율 파라미터, 노이즈 증강 팩터, 및 평균 광 파워에 기반하여 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계(C25)는 다음을 포함한다:
C251. 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하며, 여기서 y는 샘플링된 전기 신호가 위치된 샘플링 포인트에서 수집된 신호 파워를 나타내고, Pth는 상기 평균 광 파워를 나타내며, 는 광 파워가 Pth 보다 큰 샘플링 포인트의 진폭 분포이고, 는 광 파워가 Pth보다 작은 샘플링 포인트의 진폭 분포이며, M(y)는 수정된 노이즈 비율 파라미터를 나타내고, Ceq는 노이즈 증강 팩터이며, BERtarget은 비트 오류율 임계값이고, Q는 표준 정규 분포의 꼬리 함수(tail function)를 나타낸다.
전술한 수식은 가우시안 노이즈 모델을 사용하여 구축될 수 있으며, 비트 오류 결정은 순방향 오류 정정(forward error correction, FEC)을 통해 수행되며, 지정된 비트 오류율 임계값은 BERtarget으로 표현되고, 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양 는 단계(C251)의 수식을 만족하며, 단계(C251)에서의 전술한 수식을 사용하여 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양 을 출력할 수 있다. 제한이 없다. 본 출원의 이 실시예에서, 단계(C251)에서, 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양 을 계산하기 위한 전술한 수식은 제한을 부과하지 않을 수 있으며, 제1 노이즈 양 은 단계(C251)에서의 전술한 수식의 등가 변형 또는 공식 변환에 기반하여 계산될 수 있다.
403. 초기 노이즈 비율 파라미터와 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양을 획득하며, 여기서 이상적인 전기 신호는 샘플링된 전기 신호와 광 변조 진폭이 동일하며, 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭은 최대 레벨 또는 최소 레벨이다.
본 출원의 이 실시예에서, 단계(402)와 단계(403) 사이에는 논리적 시퀀스가 없다. 단계(402)는 단계(403) 이전에 수행될 수 있거나, 단계(403)는 단계(402) 이전에 수행될 수 있으며, 또는 단계(402) 및 단계(403)가 동시에 수행될 수 있다. 이것은 여기에서 제한되지 않는다.
본 출원의 이 실시예에서, 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터가 획득된다. 초기 노이즈 비율 파라미터는 최대 노이즈 양과 최소 노이즈 양의 비율이다. 최대 노이즈 양은 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양으로, 예를 들어 최대 레벨은 1일 수 있다. 최소 노이즈 양은 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이며, 예를 들어 최소 레벨은 0일 수 있다. 최대 노이즈 양 및 최소 노이즈 양은 미리 결정된 최대 레벨의 전기 신호와 미리 결정된 최소 레벨의 전기 신호에 기반하여 결정될 수 있다. 최대 노이즈 양 및 최소 노이즈 양이 결정된 후, 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터가 결정될 수 있다.
본 출원의 이 실시예에서, 이상적인 전기 신호는 샘플링된 전기 신호의 광 변조 진폭에 기반하여 결정된다. 이 경우, 이상적인 전기 신호는 테스트될 샘플링된 전기 신호와 광변조 진폭(Optical Modulation Amplitude, OMA)이 동일한 가상 신호이며, 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭이 최대 레벨 또는 최소 레벨일 수 있으며, 즉 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭은 최대 레벨과 최소 레벨 사이의 레벨 값이 아니다. 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양은 초기 노이즈 비율 파라미터와 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 획득된다. 제2 노이즈 양은 이상적인 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이고, 제2 노이즈 양은 이상적인 전기 신호의 최대 허용 노이즈 양이다.
본 출원의 일부 실시예에서, 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양을 획득하는 단계(403)는:
이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하는 단계 - y는 이상적인 전기 신호가 위치한 샘플링 포인트에서 수집된 신호 파워를 나타내며, Pth는 평균 광 파워를 나타내며, 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서 이상적인 전기 신호의 광 파워 평균값을 나타내고, M은 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타내며, BERtarget은 비트 오류율 임계값이고, Q는 표준 정규 분포의 꼬리 함수를 나타냄 - 를 포함한다.
구체적으로, 이상적인 전기 신호에 대응하는 평균 광 파워를 더 결정해야 하며, 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서 이상적인 전기 신호의 광 파워의 평균값이다. 예를 들어, 후속 실시예에서, Pth 또는 Pave는 평균 광 파워를 나타낸다. 획득된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양 이 획득될 수 있고, 제2 노이즈 양 이 송신기의 후속 일관성 테스트에 사용될 수 있다.
본 출원의 이 실시예에서, 전술한 단계(402)를 사용하여 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하고, 전술한 단계(403)를 사용하여 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양을 획득한 후, 제1 노이즈 양 및 제2 노이즈 양이 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 데 사용될 수 있다. TDEC 또는 TDECQ 테스트 방법은 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 데 사용되어, 제1 노이즈 양 및 제2 노이즈 양을 사용하여 최종 송신기 일관성 테스트 결과를 획득할 수 있다.
본 출원의 일부 실시예에서, 본 출원의 이 실시예에서 제공된 방법은 다음 단계를 더 포함할 수 있다.
D1. 제1 노이즈 양과 제2 노이즈 양을 사용하여 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티(transmitter and dispersion eye closure penalty)를 계산한다.
제1 노이즈 양과 제2 노이즈 양은 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 데 사용된다. 예를 들어, TDEC 또는 TDECQ 테스트 방법을 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행할 수 있다. 후속 실시예에서, TDEC의 계산이 예로서 사용된다. 이 경우, 계산된 TDEC 결과는 송신기 일관성 테스트 결과로 사용될 수 있다.
예를 들어, 본 출원의 일부 실시예에서, 제1 노이즈 양 및 제2 노이즈 양을 사용하여 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티를 계산하는 단계(D1)는 다음을 포함한다:
D11. 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 다음 방식:
으로 계산하며, 는 제1 노이즈 양을 나타내고 는 제2 노이즈 양을 나타낸다.
구체적으로, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티가 로서 표현될 수 있으며, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 는 단계(D11)의 전술한 수식을 사용하여 계산될 수 있으며, 계산된 TDEC 결과가 송신기 일관성 테스트 결과로서 사용될 수 있다. 제한이 없다. 본 출원의 본 실시 예에서는, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 계산하기 위한 단계(D11)의 전술한 수식은 제한이 없으며, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 가 단계(S11)의 전술한 수식의 등가 변환 또는 공식 변환에 기반하여 계산될 수 있다.
본 출원의 일부 실시예에서, 단계(D1 또는 D11)이 수행되는 구현 시나리오에서, 본 출원의 이 실시예에서 제공된 방법은 다음 단계를 더 포함할 수 있다:
E1. 비트 오류율 임계값을 사용할 때, 샘플링된 전기 신호와 이상적인 전기 신호에 각각 대응하는 노이즈 양을 획득한다.
E2. 샘플링된 전기 신호 및 이상적인 전기 신호에 각각 대응하면서 또한 비트 오류율 임계값을 사용할 때 획득된 노이즈 양에 기반하여, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계를 획득한다.
E3. 계산된 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 다음 방식:
으로 수정하며, 는 수정된 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티를 나타내고, 는 상기 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계를 나타낸다.
구체적으로, 노이즈 분포에 대한 영향을 평가하기 위해, 샘플링된 전기 신호 및 이상적인 전기 신호에 각각 대응하면서 또한 비트 오류율 임계값을 사용할 때 획득된 노이즈 양에 기반하여, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계가 획득된다. 예를 들어, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계는 TDEC 수정 룩업 테이블일 수 있으며, 룩업 테이블에 기반하여 서로 다른 수정 값이 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 에 할당된다.
예를 들어, TDEC 테스트 방법은 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 데 사용되며, TDEC 테스트 방법을 사용하여 감도(파워) 페널티를 평가할 수 있다. 감도 패널티는 순방향 오류 정정(forward error correction, FEC) 비트 오류율 임계값의 경우에 테스트할 샘플링된 전기 신호의 허용 가능한 광 파워 감쇠(tolerable optical power attenuation)와 이상적인 전기 신호의 허용 가능한 광 파워 감쇠 간의 차이이다. TDEC 테스트 방법에서, 신호에 노이즈를 추가하여 신호의 광 파워 감쇠를 시뮬레이션한다. PIN 수신기의 경우, 제한된 열 노이즈로 인해 광 파워에 따라 총 노이즈 양이 변하지 않는다. 따라서, 노이즈를 n배 추가하는 것은 광 파워를 n배 줄이는 것과 동등하다. 이러한 방식은 열 노이즈가 지배적인(dominant) PIN 수신기에 적용될 수 있다. 그러나, APD 수신기에서, 노이즈 추가는 광 파워 감쇠와 동등하지 않다. APD 수신기의 경우, 샷 노이즈의 영향으로 인해, 광 파워를 줄이면 전체 노이즈 양도 감소한다. 따라서, 노이즈를 n배 추가하는 것은 광 파워를 n배 줄이는 것과 동등하지 않다. 따라서, 본 출원의 이 실시예에서, TDEC 수정 방법은 광 파워 감쇠와 노이즈 양 추가 사이의 관계에 기반하여 결정될 필요가 있다. 먼저, 두 가지 물리적 프로세스, 즉 광 파워 감쇠와 노이즈 양 추가를 수학적 모델을 사용하여 별도로 설명한다.
신호 y(t)가 에 의해 감쇠될 때, 가우시안 노이즈 분포로 인해 다음 수학적 모델:
을 사용하여 광 파워 감쇠 모델을 나타낼 수 있으며, 는 시스템의 실제 노이즈이고, 는 신호 감쇠 계수이며, 는 진폭이 보다 큰 샘플링 포인트의 진폭 분포이고, 는 진폭이 보다 작은 샘플링 포인트의 진폭 분포이며, 는 평균 광 파워를 나타낸다.
노이즈가 신호 y(t)에 추가될 때, 다음 수학적 모델:
을 사용하여 노이즈 추가 모델을 나타낼 수 있다.
전술한 두 수식에 기반하여 테스트할 샘플링된 전기 신호에 대해 광 파워 감쇠와 노이즈 양 추가 간의 관계는 다음:
과 같으며, 는 샘플링된 전기 신호를 수신한 후 존재하는 노이즈이고, 는 샘플링된 전기 신호의 신호 감쇠 계수이며, 는 샘플링된 전기 신호의 허용 노이즈 양의 추정치이다.
이상적인 전기 신호의 경우, 광 파워 감쇠와 노이즈 양 추가 간의 관계는 다음:
과 같으며, 은 이상적인 전기 신호를 수신한 후 존재하는 노이즈이고, 은 이상적인 전기 신호의 신호 감쇠 계수이며, 는 이상적인 전기 신호의 허용 노이즈 양의 추정치이다.
따라서, 실제 TDEC 값은 다음:
과 같으며, 및 은 각각 테스트할 샘플링된 전기 신호 및 이상적인 전기 신호에 각각 대응하면서 또한 FEC 비트 오류 임계값이 1e-2일 때 존재하는 노이즈 양이다. 비트 에러 임계값이 1e-2일 때 이상적인 전기 신호와 테스트할 샘플링된 전기 신호의 광 파워가 상이하기 때문에 및 이 서로 다르며, 계산된 TDEC 값이 의 값을 추정하여 수정될 필요가 있다. 본 출원의 이 실시예에서, 의 값은 룩업 테이블을 사용하여 추정된다. 룩업 테이블은 하기 테이블 2와 같다.
테이블에서, 은 및 와 관련이 있다. 그러므로, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계는 로 표현될 수 있다. 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 는 단계(E3)의 수식을 사용하여 수정될 수 있다.
전술한 실시예의 예시적인 설명으로부터, 파형 샘플링은 샘플링된 전기 신호를 획득하기 위해 송신기에 의해 송신된 광 신호에 대해 수행되고; 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양은 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 획득되며, 여기서 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 최소 레벨보다 크고 최대 레벨보다 작으며, 초기 노이즈 비율 파라미터는 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율이고, 최대 노이즈 양은 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이며, 최소 노이즈 양은 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이고, 제1 노이즈 양은 최소 노이즈 양보다 크고 최대 노이즈 양보다 작은 노이즈 양이며; 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양은 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 획득되며, 여기서 이상적인 전기 신호는 샘플링된 전기 신호와 동일한 광 변조 진폭을 가지며, 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭은 최대 레벨 또는 최소 레벨이며, 여기서 제1 노이즈 양과 제2 노이즈 양은 송신기에서 일관성 테스트를 수행하는 데 사용된다. 본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양은 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 획득될 수 있고, 결정된 제1 노이즈 양은 최소 노이즈 양보다 크고 최대 노이즈 양보다 작다. 따라서, 본 출원의 이 실시예에서, 상이한 레벨 진폭에서 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이 상이하며, 즉 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양이 획득될 수 있다. 따라서, 이 솔루션은 다양한 유형의 수신기에 적용될 수 있다. 송신기 테스트 파라미터를 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 수신기의 유형은 본 출원의 이 실시예에서 제한되지 않는다.
본 출원의 실시예에서 전술한 솔루션을 더 잘 이해하고 구현하기 위해, 다음은 대응하는 애플리케이션 시나리오의 예를 사용하여 상세한 설명을 제공한다.
본 출원의 이 실시예에서는 수신기가 TDEC 테스트 방법을 수행하는 예가 사용된다. 수신기의 오실로스코프는 샘플링된 전기 신호를 수집한 후 수신기는 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 초기 노이즈 비율 파라미터, 평균 광 파워와 같은 데이터를 획득된 다음 TDEC를 계산한다. 도 6은 본 출원의 실시예에 따른 TDEC를 계산 및 수정하는 흐름도이다. 다음 절차가 주로 포함된다.
S11. 수신기는 등화 파라미터를 계산한다.
등화 파라미터는 등화기의 탭 길이 및 탭 계수를 포함할 수 있다.
S12. 수신기는 노이즈 증강 팩터 를 계산한다.
수신기는 다음 방식:
으로 노이즈 증강 팩터 를 계산할 수 있으며, N(f)는 가우시안 화이트 노이즈의 스펙트럼 분포이고, 는 등화기의 주파수 도메인 표현이다.
S13. 수신기는 룩업 테이블을 설정한다.
예를 들어, 전술한 테이블 1과 같은 룩업 테이블이 설정된다.
S14. 수신기는 M 값을 수정한다.
수신기는 전술한 테이블 1을 사용하여 획득되는 제3 노이즈 양 및 제4 노이즈 양을 사용하여 초기 노이즈 비율 파라미터 M을 수정할 수 있다.
예를 들어, 등화 파라미터에 기반하여 레벨 진폭 및 노이즈와 관련된 룩업 테이블을 구축하며, M 값을 수정하며, 수정된 이다.
S15. 수신기는 샘플링된 전기 신호의 허용 노이즈 양을 계산한다.
테스트될 신호의 허용 노이즈 양 을 계산하고, 테스트될 신호에 노이즈를 추가하므로( 값만큼 증가), 다음 수식이 유효하며, 여기서 는 시스템에서 허용되는 비트 오류율 임계값이다:
이 경우, 는 이다.
S16. 수신기는 이상적인 전기 신호의 허용 노이즈 양을 계산한다.
이상적인 전기 신호의 허용 노이즈 양 이 계산되고, 노이즈가 이상적인 전기 신호에 추가되므로(의 값만큼 증가됨), 다음 수식이 유효하며, 여기서 은 시스템에 의해 허용되는 비트 오류율 임계값이다:
이 경우, 는 이다.
S17. 수신기는 TDEC를 계산한다.
가 다음 방식:
으로 계산된다.
S18. 수신기는 TDEC를 수정한다.
예를 들어, 수정된 은 전술한 테이블 2에 기반하여 계산된다:
APD 수신기의 시나리오에서, TDEC를 계산하고 수정하기 위한 솔루션이 본 출원의 이 실시예에서 제안된다는 것은 본 출원의 이 실시예의 예시적인 설명으로부터 알 수 있다. 이 솔루션은 APD 수신기가 사용되는 시나리오, 예를 들어 액세스 네트워크 또는 40km 근거리 광 전송에 적용될 수 있다.
구체적으로, 본 출원의 이 실시예에서, TDEC에 대해, 신호에 노이즈가 추가되는 방법에 기반하여 신호의 노이즈 내성 능력(tolerance capability)이 평가된다. 따라서, 본 출원의 이 실시예에서는 샘플링 포인트에서의 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 대응하는 노이즈 양을 결정하고, 샘플링 포인트에서의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양은 보간을 통해 계산된다. TDEC 테스트 방법에서 등화기는 노이즈를 증강시키는 것 외에도 APD 수신기의 노이즈 분포에도 영향을 미친다. 본 출원의 이 실시예에서, 룩업 테이블을 사용하여 등화기가 APD 수신기의 노이즈 분포에 미치는 영향을 평가하는 것을 제안하고, 전술한 테이블 1에 의해 보여지는 룩업 테이블이 시간 도메인에서 노이즈를 계산하는 것에 의해 구축된다. APD 수신기에서 광 파워를 줄이는 것은 노이즈를 추가하는 것과 동등하지 않는다. 본 출원의 이 실시예에서, 광 파워 감소와 노이즈 추가 사이의 관계가 구축된다. 이 관계에 기반하여 TDEC를 수정하는 솔루션을 제안한다. 수정된 TDEC는 송신기의 실제 성능을 반영하기 위해 수신기에서 등화기를 사용할 때 노이즈로 인한 신호의 광 파워 감쇠를 시뮬레이션하는 데 사용할 수 있다.
간략한 설명을 위해, 전술한 방법 실시예는 일련의 동작의 조합으로 표현된다는 점에 유의해야 한다. 그러나, 당업자는 본 출원이 설명된 동작의 순서로 제한되지 않는다는 것을 인식해야 하는데, 그 이유는 본 출원에 따르면 일부 단계가 다른 순서로 또는 동시에 수행될 수 있기 때문이다. 본 명세서에 기술된 실시예는 모두 실시예에 속하고 관련된 동작 및 모듈이 본 출원에서 반드시 필요한 것은 아니라는 것이 당업자에 의해 추가로 이해되어야 한다.
본 출원의 실시예에서 전술한 솔루션을 더 잘 구현하기 위해, 다음은 전술한 솔루션을 구현하도록 구성된 관련 장치를 추가로 제공한다.
도 7을 참조한다. 본 출원의 실시예에서 제공되는 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치(700)는 처리 모듈(701)을 포함할 수 있다.
처리 모듈은 송신기에 의해 송신된 광학 신호에 대해 파형 샘플링을 수행하여 샘플링된 전기 신호를 획득하도록 구성된다.
처리 모듈은 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성되며, 여기서 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 최소 레벨보다 크고 최대 레벨보다 작으며, 초기 노이즈 비율 파라미터는 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율이고, 최대 노이즈 양은 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이며, 최소 노이즈 양은 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이고, 제1 노이즈 양은 최소 노이즈 양보다 크고 최대 노이즈 양보다 작은 노이즈 양이다.
처리 모듈은 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양을 획득하도록 구성되며, 여기서 이상적인 전기 신호는 샘플링된 전기 신호와 동일한 광 변조 진폭을 가지며, 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭은 최대 레벨 또는 최소 레벨이다.
제1 노이즈 양과 제2 노이즈 양은 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 데 사용된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 최대 레벨과 최소 레벨 사이에 있는 것으로 결정하고; 최대 노이즈 양 및 최소 노이즈 양을 보간 조건으로 사용하며, 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대한 보간 계산을 수행하여 제1 노이즈 양을 획득한다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 미리 설정된 샘플링 포인트에서 샘플링된 전기 신호의 허용 노이즈 양 을 획득하고; 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 최대 노이즈 를 방식으로 결정하며 - M은 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타냄 -; 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 최소 노이즈 양이 인 것으로 결정하고; 최대 레벨과 최소 레벨 사이에서 양자화를 수행하여 N개의 레벨 값을 획득하며 - N개의 레벨 값은 모두 최대 레벨과 최소 레벨 사이이고 N은 양의 정수임 -; 미리 설정된 보간 알고리즘에 따라 N개의 레벨 값에 각각 대응하는 N 노이즈 양을 계산하고; 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 N개의 레벨 값 중 제1 레벨 값인 것으로 결정하며; N개의 레벨 값과 N개의 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여 제1 레벨 값에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 추가로, 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터, 최대 노이즈 양 및 최소 노이즈 양에 기반하여 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하고 - 레벨 진폭 및 노이즈 양 사이의 대응 관계는 최소 레벨보다 크고 최대 레벨보다 작은 각 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양을 포함함 -; 그리고 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 사용하여 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 검색하여, 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 추가로, 광 신호에 대해 파형 샘플링을 수행하여 샘플링된 전기 신호를 획득한 후, 등화기를 사용하여 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하여 등화된 전기 신호를 획득하도록 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 추가로, 등화기에 대응하는 등화 파라미터를 획득하고 - 등화 파라미터는 등화기의 탭 길이 및 등화기의 탭 계수를 포함함 -; 그리고 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 등화 파라미터, 및 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 등화 파라미터, 및 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하고; 연속 샘플링 포인트에서 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응에 기반하여 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 제3 노이즈 양 및 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 제4 노이즈 양을 결정하며; 제3 노이즈 양 및 제4 노이즈 양에 기반하여 초기 노이즈 비율 파라미터를 수정하여, 수정된 노이즈 비율 파라미터를 획득하고; 등화 파라미터에 기반하여 노이즈 증강 팩터를 획득하고 - 노이즈 증강 팩터는 등화기의 노이즈 증강 정도를 나타내는 사용됨 -; 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 수정된 노이즈 비율 파라미터, 노이즈 증강 팩터, 및 평균 광 파워에 기반하여 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하도록 - 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서의 샘플링된 전기 신호의 광 파워의 평균값임 - 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 추가로, 등화된 전기 신호에 대응하는 상기 제1 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하도록 구성되며, y는 샘플링된 전기 신호가 위치된 샘플링 포인트에서 수집된 신호 파워를 나타내고, Pth는 평균 광 파워를 나타내며, 는 광 파워가 Pth 보다 큰 샘플링 포인트의 진폭 분포이고, 는 광 파워가 Pth보다 작은 샘플링 포인트의 진폭 분포이며, M(y)는 수정된 노이즈 비율 파라미터를 나타내고, Ceq는 노이즈 증강 팩터이며, BERtarget은 비트 오류율 임계값이고, Q는 표준 정규 분포의 꼬리 함수를 나타낸다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 추가로, 등화기에서 P개의 탭에 대응하는 P개의 연속 샘플링 포인트를 결정하고 - P의 값은 양의 정수임 -; 그리고 n번째 샘플링 포인트에 있으면서 또한 등화 후에 존재하는 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하도록 구성되며, L은 등화기의 탭 길이를 나타내고, heq는 등화기의 탭 계수를 나타내며, noise(n-m)은 (n-m)번째 샘플링 포인트에 있으면서 또한 시간 도메인 등화 처리가 수행되기 전에 존재하는 노이즈 양을 나타내고, 는 서로 다른 레벨 진폭에서의 평균 노이즈 양이다.
처리 모듈은 추가로, 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 양자화하여 W개의 레벨을 획득하고 - W는 양의 정수임 -; 그리고 의 계산 방식에 기반하여 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하도록 구성되며, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 P개의 연속 샘플링 포인트에서 레벨 진폭에 대응하는 개의 노이즈 양을 포함한다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 추가로, 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양 을 다음 방식:
으로 계산하도록 구성되고, y는 이상적인 전기 신호가 위치된 샘플링 포인트에서 수집된 신호 파워를 나타내며, Pth는 평균 광 파워를 나타내고, 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서 이상적인 전기 신호의 광 파워의 평균값을 나타내며, M은 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타내며, BERtarget은 비트 오류율 임계값이고, Q는 표준 정규 분포의 꼬리 함수를 나타낸다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 추가로, 제1 노이즈 양 및 제2 노이즈 양을 사용하여 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티를 계산하도록 구성된다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 추가로, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 다음 방식:
으로 계산하도록 구성되며, 는 상기 제1 노이즈 양을 나타내고 는 상기 제2 노이즈 양을 나타낸다.
본 출원의 일부 실시예에서, 처리 모듈은 추가로, 비트 에러율 임계값이 사용될 때, 샘플링된 전기 신호 및 이상적인 전기 신호에 각각 대응하는 노이즈 양을 획득하고; 샘플링된 전기 신호 및 이상적인 전기 신호에 각각 대응하면서 또한 비트 오류율 임계값을 사용할 때 획득된 노이즈 양에 기반하여, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계를 획득하며; 그리고 계산된 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 다음 방식:
으로 수정하도록 구성되며, 는 수정된 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티를 나타내고, 는 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계를 나타낸다.
전술한 실시예의 예시적인 설명으로부터, 파형 샘플링은 샘플링된 전기 신호를 획득하기 위해 송신기에 의해 송신된 광 신호에 대해 수행되고; 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양은 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 획득되며, 여기서 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 최소 레벨보다 크고 최대 레벨보다 작고, 초기 노이즈 비율 파라미터는 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율이며, 최대 노이즈 양은 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이고, 최소 노이즈 양은 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이며, 제1 노이즈 양은 최소 노이즈 양보다 크고 최대 노이즈 양보다 작은 노이즈 양이고; 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양은 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 획득되며, 여기서 이상적인 전기 신호는 샘플링된 전기 신호와 동일한 광 변조 진폭을 가지며, 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭은 최대 레벨 또는 최소 레벨이며, 여기서 제1 노이즈 양과 제2 노이즈 양은 송신기에서 일관성 테스트를 수행하는 데 사용된다. 본 출원의 이 실시예에서, 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양은 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여 획득될 수 있고, 결정된 제1 노이즈 양은 최소 노이즈 양보다 크고 최대 노이즈 양보다 작다. 따라서, 본 출원의 이 실시예에서, 상이한 레벨 진폭에서 샘플링된 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이 상이하며, 즉 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대응하는 노이즈 양이 획득될 수 있다. 따라서, 이 솔루션은 송신기 테스트 파라미터를 획득하기 위한 다양한 유형의 장치에 적용될 수 있다. 송신기 테스트 파라미터를 사용하여 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치의 유형은, 본 출원의 이 실시예에서 제한되지 않는다.
장치의 모듈/유닛 및 그 실행 프로세스 사이의 정보 교환과 같은 내용은 본 출원의 방법 실시예와 동일한 아이디어에 기반하고 있으며, 따라서, 본 출원의 방법 실시예와 동일한 기술적 효과를 가져온다는 점에 유의해야 한다. 특정 내용에 대해서는 본 출원의 방법 실시예에서 전술한 설명을 참조한다. 세부 사항은 여기에서 다시 설명되지 않는다.
본 출원의 실시예는 컴퓨터 저장 매체를 더 제공한다. 컴퓨터 저장 매체는 프로그램을 저장하고, 프로그램의 실행은 전술한 방법 실시예에서 설명된 단계의 일부 또는 전부를 포함한다.
다음은 본 출원의 실시예에서 제공되는 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 다른 장치를 설명한다. 도 8을 참조한다. 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치(800)는:
수신기(801), 프로세서(802), 및 메모리(803)를 포함한다(송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치(800)에 하나 이상의 프로세서(802)가 있을 수 있으며, 하나의 프로세서가 도 8의 예로서 사용됨). 본 출원의 일부 실시예에서, 수신기(801), 프로세서(802), 및 메모리(803)는 버스를 이용하거나 다른 방식으로 연결될 수 있다. 도 8에서, 수신기(801), 프로세서(802) 및 메모리(803)가 버스를 사용하여 연결되는 예가 사용된다.
메모리(803)는 읽기 전용 메모리 및 랜덤 액세스 메모리를 포함할 수 있고, 프로세서(802)에 명령 및 데이터를 제공할 수 있다. 메모리(803)의 일부는 비휘발성 랜덤 액세스 메모리(Non-Volatile Random Access Memory, NVRAM)를 더 포함할 수 있다. 메모리(803)는 운영 체제 및 작동 명령, 실행 가능한 모듈 또는 데이터 구조, 이들의 서브세트, 또는 이들의 확장된 세트를 저장한다. 작동 명령은 다양한 작동을 구현하기 위한 다양한 작동 명령일 수 있다. 운영 체제는 다양한 기본 서비스를 구현하고 하드웨어 기반 태스크를 처리하기 위한 다양한 시스템 프로그램을 포함할 수 있다.
프로세서(802)는 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치의 작동을 제어하고, 프로세서(802)는 또한 중앙 처리 유닛(central processing unit, CPU)으로 지칭될 수 있다. 특정 애플리케이션에서, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치의 컴포넌트는 버스 시스템을 사용하여 함께 결합된다. 데이터 버스 외에도, 버스 시스템에는 전원 버스, 제어 버스 및 상태 신호 버스가 포함된다. 그러나 명확한 설명을 위해 도면에서 다양한 버스를 버스 시스템이라고 한다.
본 출원의 실시예에 개시된 방법은 프로세서(802)에 적용될 수 있거나 프로세서(802)에 의해 구현될 수 있다. 프로세서(802)는 집적 회로 칩일 수 있고 신호 처리 능력을 갖는다. 구현 프로세스에서, 전술한 방법의 단계는 프로세서(802)의 하드웨어 집적 논리 회로를 사용하거나 소프트웨어 형태의 명령을 사용하여 구현될 수 있다. 프로세서(802)는 범용 프로세서, 디지털 신호 프로세서(digital signal processor, DSP), 애플리케이션 특정 집적 회로(application-specific integrated circuit, ASIC), 필드 프로그램 가능 게이트 어레이(field-programmable gate array, FPGA) 또는 다른 프로그래밍 가능한 논리 디바이스, 이산 게이트 또는 트랜지스터 논리 디바이스, 또는 이산 하드웨어 컴포넌트일 수 있다. 프로세서는 본 출원의 실시예에 개시된 방법, 단계 및 논리 블록도를 구현하거나 수행할 수 있다. 범용 프로세서는 마이크로프로세서일 수 있거나, 프로세서는 임의의 통상적인 프로세서 등일 수 있다. 본 출원의 실시예를 참조하여 개시된 방법의 단계는 하드웨어 디코딩 프로세서에 의해 직접 수행 및 완료될 수 있거나, 또는 디코딩 프로세서에서 하드웨어 및 소프트웨어 모듈의 조합을 사용하여 수행 및 완료될 수 있다. 소프트웨어 모듈은 랜덤 액세스 메모리, 플래시 메모리, 읽기 전용 메모리, 프로그램 가능한 읽기 전용 메모리, 전기적으로 소거 가능한 프로그램 가능한 메모리, 또는 레지스터와 같은 당업계의 성숙한 저장 매체에 위치할 수 있다. 저장 매체는 메모리(803)에 위치되며, 프로세서(802)는 메모리(803)의 정보를 읽고 프로세서의 하드웨어와 결합하여 전술한 방법의 단계를 완료한다.
수신기(801)는 송신기에 의해 송신된 광 신호를 수신하고, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치의 관련 설정 및 기능 제어와 관련된 신호 입력을 생성하도록 구성될 수 있다.
본 출원의 이 실시예에서, 프로세서(802)는 송신기 테스트 파라미터를 획득하기 위한 전술한 방법을 수행하도록 구성된다.
다른 가능한 설계에서, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치가 칩일 때, 칩은 처리 유닛 및 통신 유닛을 포함한다. 처리 유닛은 예를 들어 프로세서일 수 있다. 통신 유닛은, 예를 들면, 입출력 인터페이스, 핀, 회로 등이 될 수 있다. 처리 유닛은 저장 유닛에 저장된 컴퓨터가 실행가능한 명령을 실행하여, 장치 내의 칩이 전술한 제1 측면의 임의의 구현에 따른 무선 통신 방법을 수행할 수 있게 한다. 선택적으로, 저장 유닛은 칩의 저장 유닛, 예를 들어 레지스터 또는 버퍼이고; 또는 저장 유닛은 다르게는 칩 외부 및 단말 내의 저장 유닛, 예를 들어 읽기 전용 메모리(read-only memory, ROM), 정적 정보 및 명령을 저장할 수 있는 다른 유형의 정적 저장 디바이스, 또는 랜덤 액세스 메모리(random access memory, RAM)일 수 있다.
어디에서나 언급된 프로세서는 송신기 테스트 파라미터를 획득하기 위한 전술한 방법의 프로그램 실행을 제어하기 위한, 범용 중앙 처리 유닛, 마이크로프로세서, ASIC, 또는 하나 이상의 집적 회로일 수 있다.
또한, 설명된 장치 실시예는 단지 예에 불과하다는 점에 유의해야 한다. 별도의 부분으로 설명된 유닛은 물리적으로 분리되거나 분리되지 않을 수 있으며, 유닛으로 디스플레이되는 부분은 물리적인 유닛일 수도 있고 아닐 수도 있으며, 즉, 한 곳에 위치하거나 복수의 네트워크 유닛에 분산될 수 있다. 일부 또는 모든 모듈은 실시예의 솔루션의 목적을 달성하기 위한 실제 필요에 따라 선택될 수 있다. 또한, 본 출원에서 제공하는 장치 실시예의 첨부 도면에서, 모듈 간의 연결 관계는 모듈 간에 통신 연결이 있음을 나타내며, 이는 구체적으로 하나 이상의 통신 버스 또는 신호 케이블로 구현될 수 있다.
전술한 구현에 대한 설명에 기반하여, 당업자는 본 출원이 필요한 범용 하드웨어와 함께 소프트웨어를 사용하여 구현될 수 있거나, 또는 물론 전용 집적 회로, 전용 CPU, 전용 메모리, 전용 컴포넌트 등을 포함하는 전용 하드웨어를 사용하여 구현될 수 있음을 명확하게 이해할 수 있을 것이다. 일반적으로 컴퓨터 프로그램을 사용하여 완성할 수 있는 모든 기능은 대응하는 하드웨어를 사용하여 매우 쉽게 구현될 수 있다. 또한, 동일한 기능을 구현하는 데 사용되는 특정한 하드웨어 구조는 다양한 형태, 예를 들면, 아날로그 회로, 디지털 회로, 전용 회로 등의 형태일 수 있다. 그러나 본 출원의 경우, 소프트웨어 프로그램 구현이 대부분의 경우 더 나은 구현이다. 이러한 이해를 바탕으로 본 출원의 본질적인 기술적 솔루션 또는 선행 기술에 기여하는 부분은 소프트웨어 제품의 형태로 구현될 수 있다. 소프트웨어 제품은 컴퓨터의 플로피 디스크, USB 플래시 드라이브, 이동식 하드 디스크, ROM, RAM, 자기 디스크 또는 광 디스크와 같은 판독 가능한 저장 매체에 저장되며, 본 출원의 실시예에서 방법을 수행하도록 컴퓨터 디바이스(개인용 컴퓨터, 서버, 네트워크 디바이스 등일 수 있음)에게 지시하기 위한 여러 명령을 포함한다.
전술한 실시예의 전부 또는 일부는 소프트웨어, 하드웨어, 펌웨어, 또는 이들의 임의의 조합을 사용하여 구현될 수 있다. 소프트웨어가 구현을 위해 사용될 때, 실시예의 전부 또는 일부는 컴퓨터 프로그램 제품의 형태로 구현될 수 있다.
컴퓨터 프로그램 제품은 하나 이상의 컴퓨터 명령을 포함한다. 컴퓨터 프로그램 명령이 컴퓨터에 로딩되어 실행될 때, 본 출원의 실시예에 따른 절차 또는 기능의 전부 또는 일부가 생성된다. 컴퓨터는 범용 컴퓨터, 전용 컴퓨터, 컴퓨터 네트워크 또는 다른 프로그램 가능한 장치일 수 있다. 컴퓨터 명령은 컴퓨터가 판독 가능한 저장 매체에 저장될 수 있으며 또는, 컴퓨터가 판독 가능한 저장 매체에서 다른 컴퓨터가 판독 가능한 저장 매체로 전송될 수 있다. 예를 들어, 컴퓨터 명령은 유선(예를 들어, 동축 케이블, 광섬유 또는 디지털 가입자 라인(digital subscriber line, DSL))으로 또는 무선(예를 들어, 적외선, 라디오 또는 마이크로파) 방식으로, 웹사이트, 컴퓨터, 서버 또는 데이터 센터에서 다른 웹사이트, 컴퓨터, 서버 또는 데이터 센터로 전송될 수 있다. 컴퓨터가 판독 가능한 저장 매체는 컴퓨터에 의해 액세스 가능한 임의의 사용 가능한 매체, 또는 하나 이상의 사용 가능한 매체를 통합하는 데이터 저장 디바이스, 예를 들어, 서버 또는 데이터 센터일 수 있다. 사용 가능한 매체는 자기 매체(예를 들어, 플로피 디스크, 하드 디스크, 자기 테이프), 광학 매체(예를 들어, DVD), 반도체 매체(예를 들어, 솔리드 스테이트 드라이브(Solid State Drive, SSD)) 등일 수 있다.

Claims (23)

  1. 송신기 테스트 파라미터를 획득하기 위한 장치에 의해 수행되는 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법으로서,
    송신기에 의해 송신된 광 신호(optical signal)에 대해 파형 샘플링을 수행하여 샘플링된 전기 신호를 획득하는 단계;
    미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양(noise amount)을 획득하는 단계 - 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 최소 레벨보다 크고 최대 레벨보다 작고, 상기 초기 노이즈 비율 파라미터는 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율이며, 상기 최대 노이즈 양은 상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이고, 상기 최소 노이즈 양은 상기 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이며, 상기 제1 노이즈 양은 상기 최소 노이즈 양보다 크고 상기 최대 노이즈 양보다 작은 노이즈 양임 -; 및
    상기 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호(ideal electrical signal)의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양을 획득하는 단계 - 상기 이상적인 전기 신호는 상기 샘플링된 전기 신호와 동일한 광 변조 진폭을 가지며, 상기 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭은 상기 최대 레벨 또는 상기 최소 레벨임 -
    를 포함하고,
    상기 제1 노이즈 양과 상기 제2 노이즈 양은 상기 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 데 사용되는, 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는,
    상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이인 것으로 결정하는 단계; 및
    상기 최대 노이즈 양 및 상기 최소 노이즈 양을 보간 조건으로 사용하고, 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대한 보간 계산을 수행하여 상기 제1 노이즈 양을 획득하는 단계
    를 포함하는, 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 최대 노이즈 양 및 상기 최소 노이즈 양을 보간 조건으로 사용하고, 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대한 보간 계산을 수행하여 상기 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는,
    미리 설정된 샘플링 포인트에서 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 허용 노이즈 양 을 획득하는 단계;
    상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 최대 노이즈 양 을 방식으로 결정하는 단계 - M은 상기 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타냄 -;
    상기 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 최소 노이즈 양이 인 것으로 결정하는 단계;
    상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이에서 양자화를 수행하여 N개의 레벨 값을 획득하는 단계 - 상기 N개의 레벨 값은 모두 상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이이고, N은 양의 정수임 -;
    미리 설정된 보간 알고리즘에 따라 상기 N개의 레벨 값에 각각 대응하는 N개의 노이즈 양을 계산하는 단계;
    상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 상기 N개의 레벨 값 중 제1 레벨 값인 것으로 결정하는 단계; 및
    상기 N개의 레벨 값과 상기 N개의 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여 상기 제1 레벨 값에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계
    를 포함하는, 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는,
    상기 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터, 상기 최대 노이즈 양 및 상기 최소 노이즈 양에 기반하여, 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하는 단계 - 상기 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는, 상기 최소 레벨보다 크고 상기 최대 레벨보다 작은 레벨 진폭 각각에 대응하는 노이즈 양을 포함함 -; 및
    상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 사용하여 상기 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 검색하여, 상기 제1 노이즈 양을 획득하는 단계
    를 포함하는, 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 송신기에 의해 송신된 광 신호에 대해 파형 샘플링을 수행하여 샘플링된 전기 신호를 획득하는 단계 이후에, 상기 방법은,
    등화기를 사용하여 상기 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하여, 등화된 전기 신호를 획득하는 단계
    를 더 포함하는 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는,
    상기 등화기에 대응하는 등화 파라미터를 획득하는 단계 - 상기 등화 파라미터는 상기 등화기의 탭 길이 및 상기 등화기의 탭 계수를 포함함 -; 및
    상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 등화 파라미터, 및 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 상기 제1 노이즈 양을 획득하는 단계
    를 포함하는, 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 등화 파라미터, 및 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 상기 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는,
    상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 등화 파라미터 및 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하는 단계;
    상기 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여, 상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 제3 노이즈 양 및 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 제4 노이즈 양을 결정하는 단계;
    상기 제3 노이즈 양과 상기 제4 노이즈 양에 기반하여 상기 초기 노이즈 비율 파라미터를 수정하여, 수정된 노이즈 비율 파라미터를 획득하는 단계;
    상기 등화 파라미터에 기반하여 노이즈 증강 팩터(noise enhancement factor)를 획득하는 단계 - 상기 노이즈 증강 팩터는 상기 등화기의 노이즈 증강 정도를 나타내는 데 사용됨 -; 및
    상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 수정된 노이즈 비율 파라미터, 상기 노이즈 증강 팩터, 및 평균 광 파워(optical power)에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계 - 상기 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서의 샘플링된 전기 신호의 광 파워의 평균값임 -
    를 포함하는, 방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 수정된 노이즈 비율 파라미터, 상기 노이즈 증강 팩터, 및 평균 광 파워에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하는 단계는,
    상기 등화된 전기 신호에 대응하는 상기 제1 노이즈 양 을 다음 방식:

    으로 계산하는 단계
    를 포함하고,
    y는 상기 샘플링된 전기 신호가 위치된 샘플링 포인트에서 수집된 신호 파워를 나타내고, Pth는 상기 평균 광 파워를 나타내며, 는 광 파워가 Pth 보다 큰 샘플링 포인트의 진폭 분포이고, 는 광 파워가 Pth보다 작은 샘플링 포인트의 진폭 분포이며, M(y)는 상기 수정된 노이즈 비율 파라미터를 나타내고, Ceq는 상기 노이즈 증강 팩터이며, BERtarget은 비트 오류율 임계값이고, Q는 표준 정규 분포의 꼬리 함수(tail function)를 나타내는, 방법.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 등화 파라미터에 기반하여 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하는 단계는,
    상기 등화기에서 P개의 탭에 대응하는 P개의 연속 샘플링 포인트를 결정하는 단계 - P의 값은 양의 정수임 -;
    n번째 샘플링 포인트에 있으면서 또한 등화 후에 존재하는 노이즈 양 을 다음 방식:

    으로 계산하는 단계 - L은 상기 등화기의 탭 길이를 나타내고, heq는 상기 등화기의 탭 계수를 나타내며, noise(n-m)은 (n-m)번째 샘플링 포인트에 있으면서 또한 시간 도메인 등화 처리가 수행되기 전에 존재하는 노이즈 양을 나타내고, 는 서로 다른 레벨 진폭에서의 평균 노이즈 양임 -;
    상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 양자화하여 W개의 레벨을 획득하는 단계 - W는 양의 정수임 -; 및
    의 계산 방식에 기반하여 상기 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하는 단계 - 상기 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는 상기 P개의 연속 샘플링 포인트에서 레벨 진폭에 대응하는 개의 노이즈 양을 포함함 -
    를 포함하는, 방법.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양을 획득하는 단계는,
    상기 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양 을 다음 방식:

    으로 계산하는 단계
    를 포함하고,
    y는 상기 이상적인 전기 신호가 위치된 샘플링 포인트에서 수집된 신호 파워를 나타내며, Pth는 평균 광 파워를 나타내고, 상기 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서 상기 이상적인 전기 신호의 광 파워의 평균값을 나타내며, M은 상기 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타내며, BERtarget은 비트 오류율 임계값이고, Q는 표준 정규 분포의 꼬리 함수를 나타내는, 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 방법은,
    상기 제1 노이즈 양 및 상기 제2 노이즈 양을 사용하여, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티(transmitter and dispersion eye closure penalty)를 계산하는 단계
    를 더 포함하는 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 제1 노이즈 양 및 상기 제2 노이즈 양을 사용하여 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티를 계산하는 단계는,
    상기 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 다음 방식:

    으로 계산하는 단계 - 는 상기 제1 노이즈 양을 나타내고 는 상기 제2 노이즈 양을 나타냄 -
    을 포함하는, 방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 방법은,
    상기 비트 오류율 임계값이 사용될 때, 상기 샘플링된 전기 신호 및 상기 이상적인 전기 신호에 각각 대응하는 노이즈 양을 획득하는 단계;
    상기 샘플링된 전기 신호 및 상기 이상적인 전기 신호에 각각 대응하면서 또한 상기 비트 오류율 임계값을 사용할 때 획득된 노이즈 양에 기반하여, 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계를 획득하는 단계; 및
    상기 계산된 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티 를 다음 방식:

    으로 수정하는 단계 - 는 수정된 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티를 나타내고, 는 상기 송신기 및 분산 아이 클로저 페널티와 노이즈 양 사이의 수정 관계를 나타냄 -
    를 더 포함하는 방법.
  14. 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치로서,
    송신기에 의해 송신된 광 신호에 대해 파형 샘플링을 수행하여 샘플링된 전기 신호를 획득하도록 구성된 프로세서
    를 포함하고,
    상기 프로세서는 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터 및 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하도록 - 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭은 최소 레벨보다 크고 최대 레벨보다 작고, 상기 초기 노이즈 비율 파라미터는 최소 노이즈 양에 대한 최대 노이즈 양의 비율이며, 상기 최대 노이즈 양은 상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이고, 상기 최소 노이즈 양은 상기 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 노이즈 양이며, 상기 제1 노이즈 양은 상기 최소 노이즈 양보다 크고 상기 최대 노이즈 양보다 작은 노이즈 양임 - 구성되고; 그리고
    상기 프로세서는 상기 초기 노이즈 비율 파라미터 및 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭에 기반하여, 상기 이상적인 전기 신호에 대응하는 제2 노이즈 양을 획득하도록 - 상기 이상적인 전기 신호는 상기 샘플링된 전기 신호와 동일한 광 변조 진폭을 가지며, 상기 이상적인 전기 신호의 레벨 진폭은 상기 최대 레벨 또는 상기 최소 레벨임 - 구성되며,
    상기 제1 노이즈 양과 상기 제2 노이즈 양은 상기 송신기에 대한 일관성 테스트를 수행하는 데 사용되는, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 프로세서는 추가로, 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이인 것으로 결정하고; 그리고 상기 최대 노이즈 양 및 상기 최소 노이즈 양을 보간 조건으로 사용하며, 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭에 대한 보간 계산을 수행하여 상기 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성되는, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 프로세서는 추가로, 미리 설정된 샘플링 포인트에서 상기 샘플링된 전기 신호에 대응하는 허용 노이즈 양 을 획득하고; 상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 최대 노이즈 양 을 방식으로 결정하며 - M은 상기 초기 노이즈 비율 파라미터를 나타냄 -; 상기 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 최소 노이즈 양이 인 것으로 결정하고; 상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이에서 양자화를 수행하여 N개의 레벨 값을 획득하며 - 상기 N개의 레벨 값은 모두 상기 최대 레벨과 상기 최소 레벨 사이이고, N은 양의 정수임 -; 미리 설정된 보간 알고리즘에 따라 상기 N개의 레벨 값에 각각 대응하는 N개의 노이즈 양을 계산하며; 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭이 상기 N개의 레벨 값 중 제1 레벨 값인 것으로 결정하고; 그리고 상기 N개의 레벨 값과 상기 N개의 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여 상기 제1 레벨 값에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성되는, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 프로세서는 추가로, 상기 미리 설정된 초기 노이즈 비율 파라미터, 상기 최대 노이즈 양 및 상기 최소 노이즈 양에 기반하여, 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하고 - 상기 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계는, 상기 최소 레벨보다 크고 상기 최대 레벨보다 작은 레벨 진폭 각각에 대응하는 노이즈 양을 포함함 -; 그리고 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭을 사용하여 상기 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 검색하여, 상기 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성되는, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치.
  18. 제14항에 있어서,
    상기 프로세서는 추가로, 상기 광 신호에 대해 파형 샘플링을 수행하여 상기 샘플링된 전기 신호를 획득한 후에, 등화기를 사용하여 상기 샘플링된 전기 신호에 대해 시간 도메인 등화 처리를 수행하여, 등화된 전기 신호를 획득하도록 구성되는, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 프로세서는 추가로, 상기 등화기에 대응하는 등화 파라미터를 획득하고 - 상기 등화 파라미터는 상기 등화기의 탭 길이 및 상기 등화기의 탭 계수를 포함함 -; 그리고 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 등화 파라미터, 및 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 상기 제1 노이즈 양을 획득하도록 구성되는, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치.
  20. 제19항에 있어서,
    상기 프로세서는 추가로, 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 등화 파라미터 및 상기 초기 노이즈 비율 파라미터에 기반하여, 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계를 획득하고; 상기 연속 샘플링 포인트에서의 레벨 진폭과 노이즈 양 사이의 대응 관계에 기반하여, 상기 최대 레벨의 전기 신호에 대응하는 제3 노이즈 양 및 최소 레벨의 전기 신호에 대응하는 제4 노이즈 양을 결정하며; 상기 제3 노이즈 양과 상기 제4 노이즈 양에 기반하여 상기 초기 노이즈 비율 파라미터를 수정하여, 수정된 노이즈 비율 파라미터를 획득하고; 상기 등화 파라미터에 기반하여 노이즈 증강 팩터를 획득하며 - 상기 노이즈 증강 팩터는 상기 등화기의 노이즈 증강 정도를 나타내는 데 사용됨 -; 그리고 상기 샘플링된 전기 신호의 레벨 진폭, 상기 수정된 노이즈 비율 파라미터, 상기 노이즈 증강 팩터, 및 평균 광 파워에 기반하여, 상기 등화된 전기 신호에 대응하는 제1 노이즈 양을 획득하도록 - 상기 평균 광 파워는 서로 다른 레벨 진폭에서의 샘플링된 전기 신호의 광 파워의 평균값임 - 구성되는, 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 장치.
  21. 삭제
  22. 삭제
  23. 삭제
KR1020227009446A 2019-08-31 2020-03-03 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법 및 장치 그리고 저장 매체 KR102650392B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910819211.0A CN112448760B (zh) 2019-08-31 2019-08-31 一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质
CN201910819211.0 2019-08-31
PCT/CN2020/077530 WO2021036220A1 (zh) 2019-08-31 2020-03-03 一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20220050962A KR20220050962A (ko) 2022-04-25
KR102650392B1 true KR102650392B1 (ko) 2024-03-21

Family

ID=74685382

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020227009446A KR102650392B1 (ko) 2019-08-31 2020-03-03 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법 및 장치 그리고 저장 매체

Country Status (7)

Country Link
US (1) US11962344B2 (ko)
EP (1) EP4020843A4 (ko)
JP (1) JP7292502B6 (ko)
KR (1) KR102650392B1 (ko)
CN (2) CN115441944A (ko)
CA (1) CA3149781A1 (ko)
WO (1) WO2021036220A1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11923896B2 (en) * 2021-03-24 2024-03-05 Tektronix, Inc. Optical transceiver tuning using machine learning
US11907090B2 (en) 2021-08-12 2024-02-20 Tektronix, Inc. Machine learning for taps to accelerate TDECQ and other measurements
US11940889B2 (en) 2021-08-12 2024-03-26 Tektronix, Inc. Combined TDECQ measurement and transmitter tuning using machine learning
US11923895B2 (en) 2021-03-24 2024-03-05 Tektronix, Inc. Optical transmitter tuning using machine learning and reference parameters
US11601204B2 (en) 2021-07-16 2023-03-07 Cisco Technology, Inc. Leveraging coherent detection to measure performance of optical transmitter
CN116566480A (zh) * 2022-01-27 2023-08-08 华为技术有限公司 一种一致性测试的方法、装置和系统
CN116566481A (zh) * 2022-01-27 2023-08-08 华为技术有限公司 一致性测试方法和相关装置
CN117728886A (zh) * 2022-09-19 2024-03-19 华为技术有限公司 一种tdec的测试方法及相关设备
WO2024078470A1 (en) * 2022-10-10 2024-04-18 Huawei Technologies Co., Ltd. A receiver device for pulse amplitude modulation signals

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20150318919A1 (en) 2014-05-01 2015-11-05 Mellanox Technologies Denmark Aps Method of calculating transmitter and dispersion penalty for predicting optical data link and signal quality

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7643752B2 (en) 2004-12-22 2010-01-05 Clariphy Communications, Inc. Testing of transmitters for communication links by software simulation of reference channel and/or reference receiver
US8831115B2 (en) 2004-12-22 2014-09-09 Qualcomm Incorporated MC-CDMA multiplexing in an orthogonal uplink
DE102006032545B3 (de) * 2006-07-13 2007-11-08 Siemens Ag Verfahren und Anordnungen zur Bestimmung des optischen Signal-Rausch-Verhältnisses für ein optisches Übertragungssystem
US20100117884A1 (en) * 2008-11-11 2010-05-13 Qualcomm Incorporated Method for performing consistency checks for multiple signals received from a transmitter
US9112604B2 (en) * 2010-02-15 2015-08-18 Exfo Inc. Reference-based in-band OSNR measurement on polarization-multiplexed signals
JP2013038815A (ja) 2012-10-01 2013-02-21 Fujitsu Ltd 光ファイバ伝送路の特性および光信号の品質をモニタするモニタ回路
CN102904635B (zh) * 2012-10-25 2015-08-12 中兴通讯股份有限公司 一种光信噪比检测的方法、系统和设备
CN104348544B (zh) 2013-08-05 2017-11-10 北京凌云光子技术有限公司 测量光传输信道质量参数的方法及装置
EP3240197A1 (en) * 2016-04-28 2017-11-01 Nxp B.V. Receiver circuits with feedforward signal path
CN107800474A (zh) * 2016-09-07 2018-03-13 富士通株式会社 噪声强度的检测装置、方法以及相干光接收机
CN112803997A (zh) * 2018-04-27 2021-05-14 华为技术有限公司 一致性测试方法、装置和存储介质
US10720995B1 (en) * 2019-08-21 2020-07-21 Cisco Technology, Inc. Unequal spacing on multilevel signals

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20150318919A1 (en) 2014-05-01 2015-11-05 Mellanox Technologies Denmark Aps Method of calculating transmitter and dispersion penalty for predicting optical data link and signal quality

Also Published As

Publication number Publication date
US11962344B2 (en) 2024-04-16
KR20220050962A (ko) 2022-04-25
EP4020843A1 (en) 2022-06-29
JP7292502B6 (ja) 2024-02-19
WO2021036220A1 (zh) 2021-03-04
CN112448760B (zh) 2022-07-29
EP4020843A4 (en) 2022-10-26
US20220182139A1 (en) 2022-06-09
CN115441944A (zh) 2022-12-06
CN112448760A (zh) 2021-03-05
JP2022546405A (ja) 2022-11-04
JP7292502B2 (ja) 2023-06-16
CA3149781A1 (en) 2021-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102650392B1 (ko) 송신기 테스트 파라미터를 획득하는 방법 및 장치 그리고 저장 매체
US9906267B2 (en) Determining the signal quality of an electrical interconnect
CN110417463A (zh) 一致性测试方法、装置和存储介质
US9231796B2 (en) Power aware equalization in a serial communications link
US20080022022A1 (en) Information transmission device and information transmission method
CN110611626B (zh) 信道估计方法、装置及设备
US11627022B2 (en) Variable gain amplifier and sampler offset calibration without clock recovery
CN115622846B (zh) 基于链路两端均衡参数的eq降低延时方法、系统及装置
US9692620B2 (en) System aware transmitter adaptation for high speed serial interfaces
KR20140093626A (ko) 나이퀴스트 주파수에서 분산 통신 채널에서의 채널 손실 판정 시스템 및 방법
CN114726702B (zh) 信道频偏的估计和补偿方法及装置
WO2021189360A1 (zh) 一种信道跟踪方法及其相关设备
JP7231870B2 (ja) 波長分散量算出装置及び波長分散量算出方法
US10437753B1 (en) Calibration on high-speed IO interfaces
KR20220088159A (ko) 집적 회로 및 이의 동작 방법
CN111901049A (zh) 激光通信系统的时间误差补偿方法、装置及可读存储介质
WO2023284492A1 (zh) 光信噪比估计方法、光通信设备及存储介质
CN110875784B (zh) 一种天线校准方法及装置
CN116054928A (zh) 一种基于信噪比预测的自适应变速率方法及装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant