KR102647225B1 - 안테나 시험 장치 및 방법 - Google Patents

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KR102647225B1 KR1020230089810A KR20230089810A KR102647225B1 KR 102647225 B1 KR102647225 B1 KR 102647225B1 KR 1020230089810 A KR1020230089810 A KR 1020230089810A KR 20230089810 A KR20230089810 A KR 20230089810A KR 102647225 B1 KR102647225 B1 KR 102647225B1
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서원구
박슬기
석유희
홍기
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한화시스템 주식회사
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Abstract

본 발명은, 지면에 설정된 시험영역 상에 안테나의 반사판을 위치시킬 수 있고, 시험영역으로부터 반사판을 회수할 수 있도록 지면 상에 배치되는 거치부와, 시험영역 측으로 전파를 방사할 수 있도록 지면 상에 배치되는 방사부와. 반사판 및 지면 중 적어도 하나로부터 반사되는 반사 전파를 스캔할 수 있도록 지면 상에 배치되는 스캔부, 및 스캔부가 스캔한 결과를 이용하여 반사판의 성능을 시험하는 시험부를 포함하며, 메쉬타입 안테나의 반사판의 성능을 시험하는 안테나 시험 장치와 이에 적용되는 안테나 시험 방법으로서, 무반사 챔버 외부의 다양한 장소에서 안테나의 반사판의 성능을 정확하게 시험할 수 있는 안테나 시험 장치 및 방법이 제시된다.

Description

안테나 시험 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ANTENNA}
본 발명은 안테나 시험 장치 및 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 무반사 챔버 외부의 다양한 장소에서 안테나의 반사판의 성능을 정확하게 시험할 수 있는 안테나 시험 장치 및 방법에 관한 것이다.
위성을 발사하기 전에, 위성의 주요 구성인 안테나에 대한 시험이 필요하다. 예컨대 안테나를 전개시키고 안테나로 전파를 방사한 후 안테나로부터 반사되는 반사 전파를 스캔한다. 그리고 스캔 결과를 이용하여 안테나의 근접전계 성능 시험을 수행한다. 그런데, 정확한 결과를 얻기 위해서는 무반사 챔버('무반향 챔버'라고도 한다)에서 안테나의 근접전계 성능 시험이 수행되어야 한다.
하지만, 대형 위성에 탑재되는 대형 안테나의 경우, 무반사 챔버보다 크기가 크기 때문에, 무반사 챔버에서 안테나의 근접전계 성능 시험을 수행하지 못하는 문제점이 있다.
본 발명의 배경이 되는 기술은 하기의 특허문헌에 게재되어 있다.
KR 10-2446277 B1 KR 10-2023-0040086 A KR 10-2013-0091393 A
본 발명은 무반사 챔버 외부의 다양한 장소에서 안테나의 반사판의 성능을 정확하게 시험할 수 있는 안테나 시험 장치 및 방법을 제공한다.
본 발명의 실시 형태에 따른 안테나 시험 장치는, 메쉬타입 안테나의 반사판의 성능을 시험하는 안테나 시험 장치로서, 지면에 설정된 시험영역 상에 상기 반사판을 위치시킬 수 있고, 상기 시험영역으로부터 상기 반사판을 회수할 수 있도록 상기 지면 상에 배치되는 거치부; 상기 시험영역 측으로 전파를 방사할 수 있도록 상기 지면 상에 배치되는 방사부; 상기 반사판 및 상기 지면 중 적어도 하나로부터 반사되는 반사 전파를 스캔할 수 있도록 상기 지면 상에 배치되는 스캔부; 및 상기 스캔부가 스캔한 결과를 이용하여 상기 반사판의 성능을 시험하는 시험부;를 포함한다.
상기 반사판이 상기 시험영역 상에 위치하는 제1상태에서 상기 방사부 및 상기 스캔부를 작동시키고, 상기 반사판이 회수된 제2상태에서 상기 방사부 및 상기 스캔부를 오차 범위 내에서 동일하게 작동시키도록, 상기 방사부 및 상기 스캔부의 작동을 제어하는 제어부;를 포함할 수 있다.
상기 거치부는, 상기 반사판을 눕혀서 전개시킨 상태로, 상기 반사판의 에지를 지지할 수 있도록 상기 반사판의 둘레를 따라 배치되는 복수개의 바 부재; 상기 반사판에 걸리는 장력을 조절할 수 있도록 상기 복수개의 바 부재에 장착되며, 상기 반사판의 에지와 결합되는 체결 부재; 및 상기 복수개의 바 부재의 구조를 유지할 수 있도록 상기 복수개의 바 부재를 상호 연결시키는 복수개의 연결 부재;를 포함할 수 있다.
상기 거치부는 상기 시험영역의 중심부 측에 배치될 수 있고, 상기 방사부는 상기 스캔부와의 간섭을 피하기 위해 상기 시험영역의 중심부를 둘러싸는 가장자리부 측에 배치될 수 있다.
상기 거치부를 상기 시험영역의 내로 이동시킬 수 있고 상기 거치부를 회수할 수 있도록 상기 지면에 설치되는 이동부;를 포함할 수 있다.
상기 방사부의 위치를 고정할 수 있도록 상기 시험영역의 가장자리부 내에서 지면에 설치되며, 하부가 상방으로 연장되고, 상부가 상기 시험영역의 중심부 측을 향하여 굴절되며, 상기 방사부가 지지되는 스텐드부; 및 상기 시험영역의 중심부의 동일 높이 복수 위치로 상기 스캔부를 이동시킬 수 있도록 전후좌우로 이동할 수 있게 설치되며 상기 스캔부가 지지되는 이동부;를 포함할 수 있다.
상기 스캔부는, 상기 반사판에 의해 상기 시험영역 상에 정의되는 안테나 개구면 상의 동일 높이 복수 위치에서, 지면 반사파 및 반사판 반사파가 혼합된 제1반사 전파를 스캔할 수 있고, 지면 반사파만 가지는 제2반사 전파를 스캔할 수 있다.
상기 시험부는, 상기 반사판에 대한 메쉬 전파 투과율 및 상기 제2반사 전파의 스캔 결과를 이용하여 상기 제1반사 전파 중의 반사판 반사파의 스캔 결과를 구하고, 상기 반사판 반사파의 스캔 결과와 미리 주어진 기준 방사 패턴을 대비하여, 대비 결과로부터 상기 반사판의 성능을 시험할 수 있다.
본 발명의 실시 형태에 따른 안테나 시험 방법은, 메쉬타입 안테나의 반사판의 성능을 시험하는 안테나 시험 방법으로서, 지면에 설정된 시험영역 상에 상기 반사판을 배치하는 과정; 상기 반사판 측으로 전파를 방사하는 제1방사 과정; 상기 지면 및 상기 반사판으로부터 반사되는 제1반사 전파를 스캔하는 제1스캔 과정; 상기 시험영역으로부터 상기 반사판을 회수하는 과정; 상기 반사판이 배치되어 있던 상기 시험영역 내의 면적으로 전파를 방사하는 제2방사 과정; 상기 지면으로부터 반사되는 제2반사 전파를 스캔하는 제2스캔 과정; 및 상기 제1반사 전파의 스캔 결과와 상기 제2반사 전파의 스캔 결과를 이용하여 상기 반사판의 성능을 시험하는 과정;을 포함한다.
상기 반사판을 배치하는 과정은, 상기 반사판을 눕혀서 전개시킨 상태로, 개구를 가진 거치부 상에 상기 반사판을 거치하는 과정; 상기 거치부를 상기 시험영역의 중심부 측에 안착시키는 과정;을 포함하고, 상기 반사판을 회수하는 과정은, 상기 거치부를 상기 시험영역에서 이탈시키는 과정;을 포함할 수 있다.
상기 반사판을 거치하는 과정은, 상기 반사판의 에지를 상기 거치부의 개구 둘레에 체결하고 장력을 이용하여 무중력 상태를 모사하는 과정;을 포함할 수 있다.
상기 제1방사 과정과 상기 제2방사 과정은 오차 범위 내에서 동일한 방사 조건 하에서 오차 범위 내에서 동일한 전파를 이용하여 수행될 수 있다.
상기 제1스캔 과정은, 상기 반사판에 의해 정의되는 안테나 개구면 상의 동일 높이 복수 위치에서, 지면 반사파 및 반사판 반사파가 혼합된 반사 전파를 상기 제1반사 전파로서 스캔하는 과정;을 포함할 수 있다.
상기 제2스캔 과정은, 상기 동일 높이 복수 위치에서, 지면 반사파만 가진 반사 전파를 상기 제2반사 전파로서 스캔하는 과정;을 포함할 수 있다.
상기 반사판의 성능을 시험하는 과정은, 상기 제2반사 전파의 스캔 결과를 이용하여 상기 제1반사 전파의 스캔 결과로부터 반사판 반사파에 대한 스캔 결과를 구하는 과정; 상기 반사판 반사파에 대한 스캔 결과로부터 상기 반사판의 방사 패턴을 생성하는 과정; 및 상기 방사 패턴을 미리 정해진 기준 방사 패턴과 대비하여 일치하는 정도에 따라 상기 반사판의 성능을 시험하는 과정;을 포함할 수 있다.
상기 반사판 반사파에 대한 스캔 결과를 구하는 과정은, 상기 반사판에 대한 메쉬 전파 투과율을 획득하는 과정; 상기 제2반사 전파의 크기 및 위상에 상기 메쉬 전파 투과율을 반영하여, 상기 제1반사 전파의 크기 및 위상에서 지면 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 구하는 과정; 및 상기 제1반사 전파의 크기 및 위상에 상기 지면 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 빼서, 상기 제1반사 전파의 크기 및 위상에서 반사판 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 구하고, 상기 반사판 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 상기 반사판 반사파에 대한 스캔 결과로서 구하는 과정;을 포함할 수 있다.
본 발명의 실시 형태에 따르면, 지면에 설정된 시험영역 상에 안테나의 반사판을 위치시킨 후, 시험영역 측으로 전파를 방사하고, 반사판 및 지면으로부터 반사되는 제1반사 전파를 스캔할 수 있다. 그리고 시험영역으로부터 반사판을 회수한 후, 시험영역 측으로 동일하게 전파를 방사하고, 지면으로부터 반사되는 제2반사 전파를 스캔할 수 있다. 또한, 제1반사 전파의 스캔 결과와 제2반사 전파의 스캔 결과를 이용하여 반사판의 성능을 시험할 수 있다. 이에, 성능을 시험할 때 지면에 의한 영향을 제거할 수 있고, 이로부터 반사판의 성능을 정확하게 시험할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치의 개략도이다.
도 2 및 도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 방법의 모식도이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 방법의 순서도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명의 실시 예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예에 한정되는 것이 아니고, 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이다. 단지 본 발명의 실시 예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 해당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 본 발명의 실시 예를 설명하기 위하여 도면은 과장될 수 있고, 도면상의 동일한 부호는 동일한 요소를 지칭한다.
본 발명은 안테나 시험 장치 및 방법에 관한 것으로, 이하에서는 안테나 시험 장치 및 방법이 위성에 탑재되는 대형의 메쉬타입 안테나에 대한 근접전계 성능 시험에 적용되는 경우를 예시하여 본 발명의 실시 예를 상세하게 설명한다. 즉, 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치 및 방법을 위성 탑재용 대형 메쉬타입 안테나 시험 장치 및 방법이라고 지칭할 수도 있다.
물론, 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치 및 방법은 다양한 종류의 안테나에 대한 각종 성능 시험에도 적용될 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치 및 방법을 설명하기 앞서, 메쉬타입 안테나에 대해 간단하게 설명한다.
본 발명의 실시 예가 적용되는 메쉬타입 안테나(이하 '안테나'라고 한다)는, 인공위성(이하 '위성'이라고 한다)에 탑재되기 위한 것으로, 메쉬(Mesh) 재질의 반사판을 포함할 수 있다. 반사판은 안테나의 피더를 감싸도록 기립되어 접혀진 상태에서 원기둥 혹은 원기둥과 가까운 소정의 형상을 이룰 수 있다. 그리고, 반사판은 피더를 중심으로 펼쳐진 상태에서 소정의 포물선을 그리며 완만하게 눕혀짐으로써 예컨대 파라볼라 안테나 반사판과 유사한 형상을 이룰 수 있다. 한편, 반사판이 기립되어 접혀진 상태에서 피더를 중심으로 펼쳐지며 완만하게 눕혀지는 상태가 되도록 하는 반사판의 움직임을 전개라고 한다.
이하, 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치를 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치의 개략도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치는, 메쉬타입 안테나의 반사판의 성능을 시험하기 위한 것으로서, 지면에 설정된 시험영역(T) 상에 반사판(1)을 위치시킬 수 있고, 시험영역(T)으로부터 반사판(1)을 회수할 수 있도록 지면 상에 배치되는 거치부(100), 시험영역(T) 측으로 전파를 방사할 수 있도록 지면 상에 배치되는 방사부(200), 반사판 및 지면 중 적어도 하나로부터 반사되는 반사 전파를 스캔할 수 있도록 지면 상에 배치되는 스캔부(300) 및 스캔부(300)가 스캔한 결과를 이용하여 반사판(1)의 성능을 시험하는 시험부(400)를 포함한다.
또한, 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치는, 방사부(200)의 위치를 고정할 수 있도록 시험영역(T)의 가장자리부 내에서 지면에 설치되며, 하부가 상방으로 연장되고, 상부가 시험영역(T)의 중심부 측을 향하여 굴절되며, 방사부(200)가 지지되는 스텐드부(500) 및 시험영역(T)의 중심부의 동일 높이 복수 위치로 스캔부(300)를 이동시킬 수 있도록 전후좌우로 이동할 수 있게 설치되며 스캔부(300)가 지지되는 이동부(600)를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치는, 반사판(1)이 시험영역(T) 상에 위치하는 제1상태에서 방사부(200) 및 스캔부(300)를 작동시키고, 반사판(1)이 회수된 제2상태에서 방사부(200) 및 스캔부(300)를 오차 범위 내에서 동일하게 작동시키도록, 방사부(200) 및 스캔부(300)의 작동을 제어하는 제어부(미도시)를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치는, 거치부(100)를 시험영역(T) 내로 이동시킬 수 있고 거치부(100)를 회수할 수 있도록 지면에 설치되는 이송부(미도시)를 더 포함할 수 있다.
반사판(1)은 위성에 탑재되기 위한 것이다. 반사판(1)은 메쉬(Mesh) 재질을 포함할 수 있다. 시험영역(T)은 야외에 위치할 수 있다. 이때, 시험영역(T)은 야외의 지면을 따라 형성되고, 소정의 면적을 가질 수 있다.
물론, 시험영역(T)은 실내에 위치할 수도 있다. 즉, 시험영역(T)은 실내의 바닥면을 따라 형성되고, 소정의 면적을 가질 수 있다. 이때, 실내는 시험동 내를 의미할 수 있다. 여기서, 시험동은 예컨대 지상에서 위성에 대한 각종 기능 시험을 수행하기 위한 장비들이 구비된 대형의 구조물일 수 있다. 이때, 시험동은 무반사 챔버와 다르게, 내부 벽면의 전체면적에 전자파 흡수체를 구축하지 않아도 된다. 이 때문에, 시험동은 무반사 챔버에 비해 상당히 큰 크기로 건축될 수 있다. 이에, 시험동의 내부에는 반사판(1) 및 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치가 여유롭게 수용될 수 있다.
한편, 이하에서는 시험영역(T)이 야외의 지면에 설정되는 것을 예시하여 실시 예를 이어서 설명한다. 그러나 이하에서 설명되는 내용은 시험영역(T)이 시험동의 바닥면에 설정되는 경우에도 유사 혹은 동일하게 적용될 수 있다.
거치부(100)는 반사판(1)을 눕혀서 전개시킨 상태로 유지시키며 무중력 상태를 모사하는 역할을 한다. 또한, 거치부(100)는 무중력 상태로 모사된 반사판(1)을 시험영역(T) 상에 위치시키는 역할을 한다. 또한, 거치부(100)는 무중력 상태로 모사된 반사판(1)을 시험영역(T)으로부터 회수하는 역할을 한다.
여기서, 무중력 상태로 모사한다는 것은 예컨대 장력을 이용하여 반사판(1)의 복수 위치를 당겨줌으로써, 복수 위치에서 반사판(1)에 작용하는 중력을 상쇄시켜 무중력 조건을 모사함으로써, 중력에 의한 반사판(1)의 변형을 최소화하는 것을 의미한다.
거치부(100)는, 무중력 상태로 모사된 반사판(1)을 시험영역(T) 상에 위치시킬 수 있고, 시험영역(T)으로부터 반사판(1)을 회수할 수 있도록 지면 상에 배치될 수 있다. 즉, 거치부(100)는 지면 상에서 이동할 수 있게 배치된다. 예컨대 이러한 거치부(100)를 이동식 거치부(100)라고 지칭할 수도 있다.
이때, 거치부(100)는 이송부(미도시)에 의해 시험영역(T) 상에 위치될 수 있고, 마찬가지로, 이송부에 의해 시험영역(T)으로부터 회수될 수 있다. 즉. 이송부에 의해 거치부(100)를 시험영역(T) 상의 정해진 위치에 정확하게 위치시킬 수 있다. 이때, 정해진 위치는 시험영역(T)의 중심부일 수 있다. 보다 상세하게는, 정해진 위치는 시험영역(T)의 전후 방향 및 좌우 방향으로의 중심부일 수 있다. 따라서, 거치부(100)는 이송부에 의해 시험영역(T)의 중심부에 정확한 위치로 배치될 수 있다. 이에, 거치부(100)의 전후 방향 및 좌우 방향으로의 중심 위치가 시험영역(T)의 중심부에 상하 정렬될 수 있다. 또한, 거치부(100)는 이송부에 의해 시험영역(T)의 중심부로부터 안정적으로 회수될 수 있다. 이로부터, 거치부(100)의 위치 재현성을 확보할 수 있다. 한편, 이송부(미도시)의 구성과 방식은 다양할 수 있다. 예컨대 이송부에는 로봇 암, 로봇 대차 등의 구성과 방식이 적용될 수 있다. 즉, 이송부는 로보틱스를 기반으로 하는 자동화 로봇 기술을 활용하여 다양한 구성으로 구현될 수 있다. 이처럼 본 발명의 실시 예에서는 이송부의 구성과 방식을 특별하게 한정하지 않으므로, 여기에서는 이동부에 대해 구체적인 설명을 생략한다.
한편, 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치는 이송부(미도시)를 포함하지 않을 수도 있다. 이러한 경우, 거치부(100)는 안테나 시험을 수행하는 연구자에 의해 옮겨질 수도 있다. 이때, 위치 재현성을 확보위해 시험영역(T) 내의 지면에 소정의 마크가 마련되고, 연구자는 마크를 이용하여 거치부(100)를 정확한 위치에 배치할 수 있다.
한편, 이하에서는 거치부(100)가 이송부(미도시)에 의해 이동되는 것을 예시하여 실시 예를 이어서 설명한다. 그러나 이하에서 설명되는 내용은 거치부(100)가 연구자에 의해 이동되는 경우에도 유사 혹은 동일하게 적용될 수 있다.
거치부(100)는 바 부재(110), 연결 부재(120) 및 체결 부재(130)를 포함할 수 있다. 물론, 거치부(100)의 구성은 다양할 수 있다. 바 부재(110)는 반사판(1)의 에지를 지지하는 역할을 한다. 이를 위해, 바 부재(110)의 개수는 복수개일 수 있다. 또한, 복수개의 바 부재(110)는 반사판(1)을 눕혀서 전개시킨 상태로, 반사판(1)의 에지를 지지할 수 있도록, 전개된 상태의 반사판(1)의 둘레를 따라 배치될 수 있고, 각각이 상하 방향으로 연장될 수 있다. 여기서, 상하 방향은 좌우 방향 및 전후 방향과 교차하는 방향일 수 있다. 연결 부재(120)는 복수개의 바 부재(110)의 배치 구조를 유지시키는 역할을 한다. 이를 위해, 연결 부재(120)의 개수는 복수개일 수 있다. 또한, 복수개의 연결 부재(120)는 복수개의 바 부재(110)의 사이마다 배치될 수 있고, 각각이 상하 방향에 대하여 경사지게 연장될 수 있다. 또한, 복수개의 연결 부재(120)는 복수개의 바 부재(110)의 구조를 유지할 수 있도록 각각이 배치된 위치에서 복수개의 바 부재(110)를 상호 연결시킬 수 있다. 물론, 바 부재(110) 및 연결 부재(120)의 각각의 구조와, 이들 간의 결합 구조는 다양할 수 있다.
한편, 복수개의 바 부재(110) 및 복수개의 연결 부재(120) 중 적어도 일부는 거치부(100)가 이동부(미도시)에 의하여 이동될 때, 이동부(미도시)에 의해 파지될 수 있다. 즉, 복수개의 바 부재(110) 및 복수개의 연결 부재(120)는 이동부의 그립핑 동작 및 운반 동작을 위한 핸들의 역할도 수행할 수 있다.
체결 부재(130)는 복수개의 바 부재(110)에 반사판(1)을 지지시키는 역할과, 반사판(1)에 장력을 인가하고 인가된 장력의 크기를 조절하여 무중력 상태를 모사하는 역할을 한다. 체결 부재(130)는 복수개일 수 있다. 복수개의 체결 부재(130)는 반사판(1)에 걸리는 장력을 조절할 수 있도록 복수개의 바 부재(110)의 상단에 각각 장착될 수 있고, 반사판(1)의 에지와 탈착 가능하도록 결합될 수 있다. 이때, 반사판(1)의 에지를 바 부재(110)의 상단에 결합시키기 위한 체결 부재(130)의 구조는 다양할 수 있다. 예컨대 조임식 구조, 걸이식 구조 등이 체결 부재(130)에 적용될 수 있다. 한편, 거치부(100)는 링 부재를 더 포함할 수 있다. 링 부재는 복수개의 바 부재(110)의 상측 단부들 및 하측 단부들 중 적어도 일측의 단부들을 연결하도록 형성될 수 있다.
방사부(200)는 시험영역(T) 측으로 전파를 방사하는 역할을 한다. 이를테면 방사부(200)는 반사판(1)에 대한 급전안테나의 역할을 한다. 이때, 방사부(200)로부터 시험영역(T) 측으로 방사되는 전파는 근접전계 성능 시험을 위한 것일 수 있다. 이를 위해, 방사부(200)는 시험영역(T) 측으로 전파를 방사할 수 있도록 시험영역(T) 내에서 지면 상에 배치될 수 있다. 보다 구체적으로 설명하면 방사부(200)는 반사판(1)의 전개 시 급전안테나가 놓이는 위치(즉, 급전 위치)에 대응하는 시험영역(T) 상의 소정의 위치에 배치될 수 있고, 배치된 위치에서 시험영역(T) 측으로 전파를 방사할 수 있다. 또한, 방사부(200)는 제어부(미도시)로부터 송출되는 신호를 입력받을 수 있게 연결될 수 있다. 이에, 방사부(200)는 제어부(미도시)에서 급전받은 신호를 이용하여 근접전계 성능 시험을 위한 전파를 생성할 수 있고, 생성된 전파를 시험영역(T) 측으로 방사할 수 있다. 이때, 신호를 급전받아 전파를 방사할 수 있도록 하는 방사부(200)의 구체적인 구성과 방식은 다양할 수 있다. 한편, 방사부(200)는 후술하는 스캔부(300)와의 간섭을 피하기 위해 시험영역(T)의 중심부를 둘러싸는 가장자리부 측에 가깝도록 배치될 수 있다. 한편, 방사부(200)는 시험영역(T)에 놓인 반사판(1)의 중심을 지향하도록 경사지게 배치될 수 있다. 물론, 방사부(200)의 배치는 다양할 수 있다.
스캔부(300)는 반사판 및 지면 중 적어도 하나로부터 반사되는 반사 전파를 스캔하는 역할을 한다. 이때, 스캔은 안테나의 근접전계 성능 시험을 위한 스캔일 수 있다. 이를 위해, 스캔부(300)는 반사판(1) 및 지면 중 적어도 하나로부터 반사되는 반사 전파를 스캔할 수 있도록 시험영역(T) 내에서 지면 상에 배치될 수 있다. 또한, 스캔부(300)는 반사판(1)에 의해 시험영역(T) 상에 정의되는 안테나 개구면 상의 동일 높이 복수 위치에서, 지면 반사파 및 반사판 반사파가 혼합된 제1반사 전파를 스캔할 수 있고, 지면 반사파만 가지는 제2반사 전파를 스캔할 수 있다. 여기서, 지면 반사파는 전파가 지면에 도달한 후 지면으로부터 반사되는 반사 전파를 지칭할 수 있다. 반사판 반사파는 전파가 반사판(1)에 도달한 후 반사판(1)으로부터 반사되는 반사 전파를 지칭할 수 있다. 스캔부(300)는 제1반사 전파를 스캔하여 반사판(1)이 시험영역(T)에 배치된 상태에서의 안테나 개구면 전체의 복수 위치별로 전파의 크기와 위상을 수집할 수 있고, 제2반사 전파를 스캔하여 반사판(1)이 시험영역(T)으로부터 회수된 상태에서의 안테나 개구면이 위치하였던 면적 전체의 복수 위치별로 전파의 크기와 위상을 수집할 수 있다.
시험부(400)는 스캔부(300)가 스캔한 결과를 이용하여 반사판(1)의 성능을 시험하는 역할을 한다. 이에, 시험부(400)는 스캔부(300)로부터 정보 예컨대 스캔부(300)가 스캔한 결과를 전달받을 수 있게 연결될 수 있다. 여기서, 스캔부(300)가 스캔한 결과는 안테나 개구면 상의 동일 높이 복수 위치에서 측정되는 반사 신호의 크기 및 위상을 포함할 수 있다.
또한, 시험부(400)는, 반사판(1)에 대한 메쉬 전파 투과율 및 제2반사 전파의 스캔 결과를 이용하여 제1반사 전파 중의 반사판 반사파의 스캔 결과를 구하고, 반사판 반사파의 스캔 결과와 미리 주어진 기준 방사 패턴을 대비하여, 대비 결과로부터 반사판의 성능을 시험할 수 있다. 즉, 반사판 반사파의 스캔 결과가 미리 주어진 기준 방사 패턴에 일치하는 정도가 높을수록 반사판(1)의 성능이 높아질 수 있고, 일치하는 정도가 낮을수록 반사판(1)의 성능이 낮아질 수 있다. 여기서, 성능이 높아진다는 것은 성능이 원하는 수준과 오차 범위 내에서 일치하거나 원하는 수준에 근접하는 것을 의미하고, 성능이 낮다는 것은 성능이 원하는 수준에서 멀어지는 것을 의미한다.
한편, 메쉬 전파 투과율은 예컨대 전파가 매쉬 재질을 가진 반사판(1)을 투과하는 정도를 의미하며, 주파수별로 파장별로 다를 수 있다. 예컨대 소정의 주파수와 소정의 파장에서 메쉬 전파 투과율이 100%에 가깝다고 하면, 해당 주파수와 해당 파장에서 전파의 거의 대부분이 반사판(1)을 통과한다는 의미이다. 반사판(1)의 메쉬 전파 투과율은 100%보다 작은 소정의 값일 수 있다.
이때, 메쉬 전파 투과율은 소정의 측정 장비를 이용하여 반사판(1)으로부터 측정될 수 있는 것으로서, 이를 위한 측정 장비는 전자기술 및 통신기술 분야의 공지의 기술을 이용하여 다양한 구성으로 구현될 수 있고, 이러한 측정 장비를 사용하여 반사판(1)으로부터 다양한 방식으로 메쉬 전파 투과율 측정할 수 있다. 이에, 여기서는 반사판(1)으로부터 메쉬 전파 투과율을 측정하는 측정 장비 및 이를 이용한 측정 방식에 대한 상세한 설명을 생략한다. 한편, 메쉬 전파 투과율은 예컨대 소정 값의 크기와 ㏈ 단위를 가지는 감쇄량의 형태로 표현될 수도 있다.
스텐드부(500)는 방사부(200)의 위치를 고정해주는 역할을 한다. 이를 위해, 스텐드부(500)는 제1지지 부재(510) 및 제2지지 부재(520)를 포함할 수 있다. 제1지지 부재(510)는 스텐드부(500)의 하부를 형성할 수 있다. 제1지지 부재(510)는 시험영역(T)의 가장자리부 내에서 지면에 설치되며, 상방으로 연장될 수 있다. 제2지지 부재(520)는 스텐드부(500)의 상부를 형성할 수 있다. 제2지지 부재(520)는 제1지지 부재(510)로부터 상방으로 경사지게 연장될 수 있고, 제1지지 부재(510)에 대하여 시험영역(T)의 중심부 측을 향하여 소정 각도로 경사지게 굴절될 수 있다. 제2지지 부재(520)의 끝단에 방사부(200)가 지지될 수 있다. 물론, 스텐드부(500)의 구성은 다양할 수 있다.
이동부(600)는 스캔부(300)를 시험영역(T)의 중심부의 동일 높이 복수 위치로 이동시키는 역할을 한다. 이동부(600)가 스캔부(300)를 이동시킴으로써, 스캔부(300)는 반사판(1)에 의해 시험영역(T) 상에 정의되는 안테나 개구면 전체를 스캔할 수 있다. 이동부(600)는 시험영역(T) 내의 지면에 설치될 수 있다. 이동부(600)는 전후 방향으로 각각 연장되며, 좌우 방향으로 상호 이격되는 복수의 레일 부재(610), 복수의 레일 부재(610)의 각각의 상측에 각각 배치되며, 상하 방향으로 연장되는 복수의 높이 부재(620), 복수의 높이 부재(620)의 각각의 하단을 복수의 레일 부재(610)에 주행 가능하게 연결시키는 복수의 주행 부재(630), 복수의 높이 부재(620)의 각각의 상단을 좌우 방향으로 연결시키도록 장착되는 가이드 부재(640) 가이드 부재(640)를 따라 이동 가능하도록 설치되며, 스캔부(300)가 지지되는 컬럼 부재(650)를 포함할 수 있다. 물론, 이동부(600)의 구성은 다양할 수 있다.
제어부(미도시)는 안테나 시험 장치의 전체적인 작동을 제어하는 제어컴퓨터의 일종일 수 있다. 제어부는 이송부, 방사부(200), 스캔부(300) 및 시험부(400)의 작동을 제어할 수 있다. 구체적으로, 제어부는 반사판(1)이 시험영역(T) 상에 위치하도록 이송부를 작동시키고, 이어서 반사판(1)이 시험영역(T) 상에 위치하는 제1상태에서 방사부(200), 스캔부(300) 및 시험부(400)를 작동시킬 수 있다. 또한, 제어부는 반사판(1)이 시험영역(T)으로부터 회수되도록 이송부를 작동시키고, 이어서 반사판(1)이 회수된 제2상태에서 방사부(200), 스캔부(300) 및 시험부(400)를 오차 범위 내에서 동일하게 작동시키도록, 이송부, 방사부(200), 스캔부(300) 및 시험부(400)의 작동을 제어할 수 있다. 한편, 오차 범위 내에서 동일하게 작동시킨다는 것은, 제1상태에서 방사부(200)로부터 방사되는 전파와 제2상태에서 방사부(200)로부터 방사되는 전파가 오차 범위 내에서 동일한 방사 면적, 동일한 크기, 동일한 주파수 및 동일한 파장을 갖는 것과, 제1상태에서 스캔부(300)의 스캔 위치들와 제2상태에서 스캔부의 스캔 위치들이 오차 범위 내에서 동일한 것을 의미한다. 이러한 제어부의 제어에 의해, 제1상태와 제2상태에서 방사부(200)가 동일 범위로 동일하게 전파를 방사하 수 있고, 제1상태와 제2상태에서 스캔부(300)가 동일 위치들에서 반사파를 스캔할 수 있다.
도 2 및 도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 방법의 모식도이다. 또한, 도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 방법의 순서도이다.
이하, 도 1 내지 도 4를 참조하여, 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 방법을 상세하게 설명한다.
본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 방법은, 메쉬타입 안테나의 반사판의 성능을 시험하기 위한 것으로서, 지면에 설정된 시험영역(T) 상에 반사판(1)을 배치하는 과정(S100), 반사판(1) 측으로 전파(P)를 방사하는 제1방사 과정(S200), 지면 및 반사판(1)으로부터 반사되는 제1반사 전파를 스캔하는 제1스캔 과정(S300), 시험영역(T)으로부터 반사판(1)을 회수하는 과정(S400), 반사판(1)이 배치되어 있던 시험영역(T) 내의 면적으로 전파(P)를 방사하는 제2방사 과정(S500), 지면으로부터 반사되는 제2반사 전파를 스캔하는 제2스캔 과정(S600) 및 제1반사 전파의 스캔 결과와 제2반사 전파의 스캔 결과를 이용하여 반사판(1)의 성능을 시험하는 과정(S700)을 포함한다.
이때, 안테나 시험 방법은 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치에서 수행될 수 있다. 그러나, 이에 한정되지 않고, 다양한 구성의 시험 장치에서 안테나 시험 방법이 수행될 수 있다. 이하에서는 안테나 시험 방법이 본 발명의 실시 예에 따른 안테나 시험 장치에서 수행되는 것을 예시하여 실시 예를 설명한다. 그러나 이하에서 설명되는 내용은 다양한 구성의 시험 장치에서 안테나 시험 방법이 수행되는 경우에도 유사 혹은 동일하게 적용될 수 있다.
우선, 지면에 설정된 시험영역(T) 상에 반사판(1)을 배치하는 과정(S100)을 수행한다. 이를 위해, 반사판(1)을 눕혀서 전개시킨 상태로, 개구를 가진 거치부(100) 상에 반사판(1)을 거치할 수 있다. 이때, 반사판(1)의 에지를 거치부(100)의 개구 둘레에 체결하고 장력을 이용하여 무중력 상태를 모사할 수 있다. 즉, 거치부(100)에 구비되는 복수개의 체결 부재(130)를 이용해서, 거치부(100)의 바 부재(110)에 반사판(1)의 에지의 복수 지점을 체결할 수 있다. 또한, 체결 시에 반사판(1)의 에지의 복수 지점으로 가해지는 장력을 조절하여 반사판(1)에 무중력 상태를 모사해줄 수 있다. 그리고, 반사판(1)이 장착된 거치부(100)를 이송부를 이용하여 시험영역(T)의 중심부에 안착시킬 수 있다.
도 2를 참조하면, 반사판(1)의 배치가 종료되면, 반사판(1) 측으로 전파(P)를 방사하는 제1방사 과정(S200)을 수행한다. 예컨대 방사부(200)를 작동시키고, 방사부(200)로부터 근접전계 성능 시험을 위한 전파(P)를 방사할 수 있다. 이때, 전파(P)의 신호 크기, 펄스 형태, 방사 범위 등의 방사 조건은 반사판(1)의 근접전계 성능 시험에 적합한 소정의 조건으로 정해질 수 있다.
이후, 지면 및 반사판(1)으로부터 반사되는 제1반사 전파를 스캔하는 제1스캔 과정(S300)을 수행한다. 즉, 반사판(1)에 의해 정의되는 안테나 개구면 상의 동일 높이 복수 위치에서, 지면 반사파(RPg) 및 반사판 반사파(RPr)가 혼합된 반사 전파를 제1반사 전파로서 스캔할 수 있다. 예를 들어, 이동부(600)를 작동시켜서 스캔부(300)를 동일 높이상의 복수 위치로 이동시킨다. 스캔부(300)가 이동하는 동안 스캔부(300)를 작동시켜 반사판(1)에 의해 정의되는 안테나 개구면 상의 동일 높이 복수 위치에서 제1반사 전파를 스캔하여 안테나 개구면 위치별로 제1반사 전파의 크기와 위상을 수집한다. 수집된 안테나 개구면 위치별 제1반사 전파의 크기와 위상은 제1스캔 결과로서 시험부(400)로 입력될 수 있다.
제1차 스캔이 종료되면, 시험영역(T)으로부터 반사판(1)을 회수하는 과정(S400)을 수행한다. 즉, 이송부를 작동시켜서 거치부(100)를 시험영역(T)에서 이탈시킬 수 있다.
이후, 반사판(1)이 배치되어 있던 시험영역(T) 내의 면적으로 전파(P)를 방사하는 제2방사 과정(S500)을 수행한다. 도 3에 도시된 것처럼, 방사부(200)를 작동시키고, 방사부(200)로부터 근접전계 성능 시험을 위한 전파(P)를 방사할 수 있다. 이때, 전파(P)의 신호 크기, 펄스 형태, 방사 범위 등의 방사 조건은 제1방사 과정에서의 방사 조건과 오차 범위내에서 동일한 방사 조건일 수 있고, 그에 따라 방사되는 전파(P)도 제1방사 과정에서의 경우와 오차 범위내에서 동일할 수 있다.
이후, 지면으로부터 반사되는 제2반사 전파를 스캔하는 제2스캔 과정(S600)을 수행한다. 예를 들어, 제1스캔 과정에서의 경우와 오차 범위내에서 동일하게 스캔부(300)를 이동시키며, 제1스캔 과정에서의 경우와 오차 범위내에서 동일하게 스캔부(300)를 작동시켜서, 스캔부(300)를 동일 높이 복수 위치에서, 지면 반사파(RPg)만 가진 반사 전파를 제2반사 전파로서 스캔하여, 스캔 위치별로 제1반사 전파의 크기와 위상을 수집한다. 이때, 제2스캔 과정에서의 스캔 위치는 제1스캔 과정에서의 안테나 개구면 위치와 동일 위치일 수 있다. 수집된 스캔 위치별 제2반사 전파의 크기와 위상은 제2스캔 결과로서 시험부(400)로 입력될 수 있다.
이어서, 제1반사 전파의 스캔 결과와 제2반사 전파의 스캔 결과를 이용하여 반사판(1)의 성능을 시험하는 과정(S700)을 수행한다. 이 과정은 시험부(400)에서 수행될 수 있다. 예컨대 시험부(400)는, 제2스캔 과정에서 스캔부(300)로부터 입력받은 제2반사 전파의 스캔 결과를 이용하여, 제1반사 전파의 스캔 결과로부터 반사판 반사파에 대한 스캔 결과를 구할 수 있다. 이를 위해, 우선, 반사판(1)에 대한 메쉬 전파 투과율을 획득할 수 있다. 메쉬 전파 투과율은 예컨대 전파가 매쉬 재질을 가진 반사판(1)을 투과하는 정도를 의미하며, 소정의 측정 장비를 이용하여 반사판(1)으로부터 측정할 수 있다. 또한, 제2반사 전파의 크기 및 위상에 메쉬 전파 투과율을 반영하여, 제1반사 전파의 크기 및 위상에서 지면 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 구할 수 있다. 즉, 소정 위치에서 수집된 제2반사 전파의 크기를 A라 하고, 위상을 B라고 하고, 메쉬 전파 투과율이 0.3이라고 하면, 0.3A 및 0.3B를 해당 위치에 대한 제1반사 전파의 크기 및 위상에서 지면 반사파가 차지하는 크기 및 위상으로 구할 수 있다. 예를 들어, 제2반사 전파는 반사판(1)이 없는 상태에서 지면으로부터 반사된 지면 반사파이고, 이 지면 반사파에 메쉬 전파 투과율을 반영하면, 메쉬 재질 반사판(1)이 배치된 상태에서의 지면으로부터 반사되는 지면 반사파를 구할 수 있다. 이후, 제1스캔 과정에서 시험부(400)로 입력된 제1반사 전파의 크기 및 위상에 시험부(400)에서 계산된 지면 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 빼서, 제1반사 전파의 크기 및 위상에서 반사판 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 구하고, 반사판 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 반사판 반사파에 대한 스캔 결과로서 구할 수 있다.
또한, 시험부(400)에서, 반사판 반사파에 대한 스캔 결과로부터 반사판의 방사 패턴을 생성할 수 있고, 이로부터 반사판(1)의 빔폭 및 이득 등의 파라메터를 구할 수 있다. 또한, 생성된 방사 패턴을 미리 정해진 기준 방사 패턴과 대비하여 빔폭 및 이득 등의 파라메터가 일치하는 정도에 따라 일치할수록 반사판의 성능을 높게 평가하고, 일치하는 정도가 낮을수록 반사판의 성능을 낮게 평가함으로써, 반사판의 성능을 시험할 수 있다.
본 발명의 상기 실시 예는 본 발명의 설명을 위한 것이고, 본 발명의 제한을 위한 것이 아니다. 본 발명의 상기 실시 예에 개시된 구성과 방식은 서로 결합하거나 교차하여 다양한 형태로 조합 및 변형될 것이고, 이에 의한 변형 예들도 본 발명의 범주로 볼 수 있음을 주지해야 한다. 즉, 본 발명은 청구범위 및 이와 균등한 기술적 사상의 범위 내에서 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 본 발명이 해당하는 기술 분야에서의 업자는 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 다양한 실시 예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
100: 거치부
200: 방사부
300: 스캔부
400: 시험부

Claims (16)

  1. 메쉬타입 안테나의 반사판의 성능을 시험하는 안테나 시험 장치로서,
    지면에 설치되는 이송부;
    상기 지면에 설정된 시험영역 상에 상기 반사판을 위치시킬 수 있고, 상기 시험영역으로부터 상기 반사판을 회수할 수 있도록 상기 지면 상에 배치되는 거치부;
    상기 시험영역 측으로 전파를 방사할 수 있도록 상기 지면 상에 배치되는 방사부;
    상기 반사판 및 상기 지면 중 적어도 하나로부터 반사되는 반사 전파를 스캔할 수 있도록 상기 지면 상에 배치되는 스캔부; 및
    상기 스캔부가 스캔한 결과를 이용하여 상기 반사판의 성능을 시험하는 시험부;를 포함하고,
    상기 거치부는 상기 반사판을 눕혀서 전개시킨 상태로 상기 반사판의 에지를 지지하고, 상기 이송부에 의해 상기 시험영역의 중심부에 배치될 수 있고, 상기 시험영역의 중심부로부터 회수될 수 있고,
    상기 이송부는 상기 거치부를 파지하고 이동할 수 있도록 설치되며,
    상기 방사부는 상기 시험영역의 중심부를 둘러싸는 가장자리부 측에서 상기 시험영역의 중심을 지향하도록 배치되는 안테나 시험 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 반사판이 상기 시험영역 상에 위치하는 제1상태에서 상기 방사부 및 상기 스캔부를 작동시키고, 상기 반사판이 회수된 제2상태에서 상기 방사부 및 상기 스캔부를 오차 범위 내에서 동일하게 작동시키도록, 상기 방사부 및 상기 스캔부의 작동을 제어하는 제어부;를 포함하는 안테나 시험 장치.
  3. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 거치부는,
    상기 반사판을 눕혀서 전개시킨 상태로, 상기 반사판의 에지를 지지할 수 있도록 상기 반사판의 둘레를 따라 배치되는 복수개의 바 부재;
    상기 반사판에 걸리는 장력을 조절할 수 있도록 상기 복수개의 바 부재에 장착되며, 상기 반사판의 에지와 결합되는 체결 부재; 및
    상기 복수개의 바 부재의 구조를 유지할 수 있도록 상기 복수개의 바 부재를 상호 연결시키는 복수개의 연결 부재;를 포함하는 안테나 시험 장치.
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 방사부의 위치를 고정할 수 있도록 상기 시험영역의 가장자리부 내에서 지면에 설치되며, 하부가 상방으로 연장되고, 상부가 상기 시험영역의 중심부 측을 향하여 굴절되며, 상기 방사부가 지지되는 스텐드부; 및
    상기 시험영역의 중심부의 동일 높이 복수 위치로 상기 스캔부를 이동시킬 수 있도록 전후좌우로 이동할 수 있게 설치되며 상기 스캔부가 지지되는 이동부;를 포함하는 안테나 시험 장치.
  7. 청구항 2에 있어서,
    상기 스캔부는, 상기 반사판에 의해 상기 시험영역 상에 정의되는 안테나 개구면 상의 동일 높이 복수 위치에서, 지면 반사파 및 반사판 반사파가 혼합된 제1반사 전파를 스캔할 수 있고, 지면 반사파만 가지는 제2반사 전파를 스캔할 수 있는 안테나 시험 장치.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 시험부는, 상기 반사판에 대한 메쉬 전파 투과율 및 상기 제2반사 전파의 스캔 결과를 이용하여 상기 제1반사 전파 중의 반사판 반사파의 스캔 결과를 구하고, 상기 반사판 반사파의 스캔 결과와 미리 주어진 기준 방사 패턴을 대비하여, 대비 결과로부터 상기 반사판의 성능을 시험하는 안테나 시험 장치.
  9. 메쉬타입 안테나의 반사판의 성능을 시험하는 안테나 시험 방법으로서,
    상기 반사판을 눕혀서 전개시킨 상태로 상기 반사판의 에지를 거치부에 체결하고, 지면에 설치된 이송부로 상기 거치부를 파지하고 상기 거치부를 상기 지면에 설정된 시험영역의 중심부로 이동시켜, 상기 시험영역에 상기 반사판을 배치하는 과정;
    전파를 방사하기 위한 방사부를 상기 시험영역의 중심부를 둘러싸는 가장자리부 측에서 상기 시험영역의 중심을 지향하도록 하여, 상기 반사판 측으로 전파를 방사하는 제1방사 과정;
    상기 지면 및 상기 반사판으로부터 반사되는 제1반사 전파를 스캔하는 제1스캔 과정;
    상기 이송부를 이용하여 상기 시험영역으로부터 상기 반사판을 회수하는 과정;
    상기 방사부를 이용하여 상기 반사판이 배치되어 있던 상기 시험영역 내의 면적으로 전파를 방사하는 제2방사 과정;
    상기 지면으로부터 반사되는 제2반사 전파를 스캔하는 제2스캔 과정; 및
    상기 제1반사 전파의 스캔 결과와 상기 제2반사 전파의 스캔 결과를 이용하여 상기 반사판의 성능을 시험하는 과정;을 포함하는 안테나 시험 방법.
  10. 삭제
  11. 청구항 9에 있어서,
    상기 반사판을 배치하는 과정은,
    상기 반사판의 에지를 개구를 가진 상기 거치부의 개구 둘레에 체결하고 장력을 이용하여 무중력 상태를 모사하는 과정;을 포함하는 안테나 시험 방법.
  12. 청구항 9에 있어서,
    상기 제1방사 과정과 상기 제2방사 과정은 오차 범위 내에서 동일한 방사 조건 하에서 오차 범위 내에서 동일한 전파를 이용하여 수행되는 안테나 시험 방법.
  13. 청구항 9, 청구항 11 내지 청구항 12 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 제1스캔 과정은,
    상기 반사판에 의해 정의되는 안테나 개구면 상의 동일 높이 복수 위치에서, 지면 반사파 및 반사판 반사파가 혼합된 반사 전파를 상기 제1반사 전파로서 스캔하는 과정;을 포함하는 안테나 시험 방법.
  14. 청구항 13에 있어서,
    상기 제2스캔 과정은,
    상기 동일 높이 복수 위치에서, 지면 반사파만 가진 반사 전파를 상기 제2반사 전파로서 스캔하는 과정;을 포함하는 안테나 시험 방법.
  15. 청구항 9, 청구항 11 내지 청구항 12 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 반사판의 성능을 시험하는 과정은,
    상기 제2반사 전파의 스캔 결과를 이용하여 상기 제1반사 전파의 스캔 결과로부터 반사판 반사파에 대한 스캔 결과를 구하는 과정;
    상기 반사판 반사파에 대한 스캔 결과로부터 상기 반사판의 방사 패턴을 생성하는 과정; 및
    상기 방사 패턴을 미리 정해진 기준 방사 패턴과 대비하여 일치하는 정도에 따라 상기 반사판의 성능을 시험하는 과정;을 포함하는 안테나 시험 방법.
  16. 청구항 15에 있어서,
    상기 반사판 반사파에 대한 스캔 결과를 구하는 과정은,
    상기 반사판에 대한 메쉬 전파 투과율을 획득하는 과정;
    상기 제2반사 전파의 크기 및 위상에 상기 메쉬 전파 투과율을 반영하여, 상기 제1반사 전파의 크기 및 위상에서 지면 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 구하는 과정; 및
    상기 제1반사 전파의 크기 및 위상에 상기 지면 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 빼서, 상기 제1반사 전파의 크기 및 위상에서 반사판 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 구하고, 상기 반사판 반사파가 차지하는 크기 및 위상을 상기 반사판 반사파에 대한 스캔 결과로서 구하는 과정;을 포함하는 안테나 시험 방법.
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