KR102630427B1 - 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 시스템 및 방법 - Google Patents
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- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 title claims abstract description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 238000001093 holography Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 7
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2441—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using interferometry
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02041—Interferometers characterised by particular imaging or detection techniques
- G01B9/02047—Interferometers characterised by particular imaging or detection techniques using digital holographic imaging, e.g. lensless phase imaging without hologram in the reference path
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/0209—Low-coherence interferometers
- G01B9/02091—Tomographic interferometers, e.g. based on optical coherence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/021—Interferometers using holographic techniques
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T17/00—Three dimensional [3D] modelling, e.g. data description of 3D objects
- G06T17/30—Polynomial surface description
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
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- G03H1/04—Processes or apparatus for producing holograms
- G03H1/0402—Recording geometries or arrangements
- G03H2001/0441—Formation of interference pattern, not otherwise provided for
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Algebra (AREA)
- Mathematical Optimization (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Mathematical Analysis (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Pure & Applied Mathematics (AREA)
- Computer Graphics (AREA)
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 일 실시예에서 기 설정된 패턴의 구조광을 대상체로 조사하여 투과시키는 상태를 개략적으로 나타낸 도면이며,
도 3은 서로 다른 굴절률을 갖는 매질을 통과하는 파동 간 광 경로 차이를 나타낸 도면이고,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 수광 장치의 홀로그래픽 카메라 및 영상 처리 장치의 구성을 나타낸 도면이고,
도 5는 본 발명의 일 실시예에서 핀 홀 어레이와 면광원을 결합한 발광 장치의 전방에 공기와 40mm 두께의 아크릴을 배치하고 홀로그램을 촬영한 결과를 나타낸 도면이고,
도 6은 도 5에서 측정된 복원 거리에 따른 초점 매트릭스 프로파일을 나타낸 그래프이며,
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 자가 간섭 홀로그래픽을 활용한 컴퓨터 단층 촬영 방법을 나타낸 흐름도이다.
100 : 컴퓨터 단층 촬영 시스템
102 : 발광 장치
102a : 발광부
102b : 구조광 패턴
104 : 수광 장치
104a : 자가 간섭 홀로그래픽 카메라
106 : 회전 장치
108 : 영상 처리 장치
111 : 집광 렌즈
113 : 선편광판
115 : 기하학적 위상 렌즈
117 : 편광 이미지 센서
121 : 굴절률 측정부
123 : 이미지 생성부
Claims (14)
- 대상체로 광선을 조사하는 발광 장치;
소정의 회전축을 기준으로 상기 발광 장치를 회전시키는 회전 장치;
상기 발광 장치와 대향하여 마련되고, 상기 대상체를 투과한 광선을 검출하여 홀로그램 이미지를 획득하는 자가 간섭 홀로그래픽 카메라를 포함하는 수광 장치; 및
상기 홀로그램 이미지에 기반하여 상기 대상체에 따른 굴절률의 차이를 검출하고, 상기 굴절률의 차이에 따른 정사영 데이터를 획득하여 상기 대상체에 대한 3차원 이미지를 생성하는 영상 처리 장치를 포함하되,
상기 발광 장치는,
상기 광선을 발생시키는 발광부; 및
상기 발광부와 상기 대상체 사이에 배치되고, 상기 광선이 통과하면서 기 설정된 패턴의 구조광을 형성시키는 구조광 패턴을 포함하고,
상기 자가 간섭 홀로그래픽 카메라는,
상기 대상체를 투과한 구조광을 좌원 편광 및 우원 편광으로 변환하는 기하학적 위상 렌즈; 및
상기 변환된 좌원 편광 및 우원 편광의 상호 간섭에 의해 간섭 무늬를 획득하고, 상기 획득된 간섭 무늬를 통해 홀로그램 이미지를 획득하는 편광 이미지 센서를 포함하고,
상기 영상 처리 장치는,
상기 홀로그램 이미지의 자동 초점 정렬(Autofocusing)을 통해 상기 구조광의 위상 정보를 분석하여 공기 중에 전파되는 구조광과 상기 대상체를 투과하는 구조광 간의 굴절률 차이를 측정하는 굴절률 측정부; 및
상기 측정된 굴절률 차이에 기반하여 굴절률의 정사영 데이터를 획득하고, 획득한 정사영 데이터에 기반하여 상기 대상체에 대한 3차원 이미지를 생성하는 이미지 생성부를 포함하는, 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 시스템.
- 청구항 1에 있어서,
상기 발광 장치는, 가시광선 또는 적외선을 상기 대상체로 조사하고,
상기 대상체는, 상기 가시광선 또는 상기 적외선이 투과할 수 있는 물체인, 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 시스템.
- 청구항 2에 있어서,
상기 발광 장치는,
비간섭성(incoherent) 광원을 포함하는, 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 시스템.
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 청구항 1에 있어서,
상기 굴절률 측정부는,
상기 공기 중에 전파되는 구조광에 대응하는 홀로그램 이미지와 상기 대상체를 투과하는 구조광에 대응하는 홀로그램 이미지 간의 복원 거리 차이를 통해 광 경로 차이를 산출하는, 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 시스템.
- 발광 장치에서, 대상체로 광선을 조사하는 단계;
수광 장치에서, 자가 간섭 홀로그래픽 카메라를 통해 상기 대상체를 투과한 광선을 검출하여 홀로그램 이미지를 획득하는 단계; 및
영상 처리 장치에서, 상기 홀로그램 이미지에 기반하여 상기 대상체에 따른 굴절률의 차이를 검출하고, 상기 굴절률의 차이에 따른 정사영 데이터를 획득하여 상기 대상체에 대한 3차원 이미지를 생성하는 단계를 포함하되,
상기 대상체로 광선을 조사하는 단계는,
상기 발광 장치에서, 광선을 발생시키는 단계; 및
상기 발광 장치에서, 상기 광선을 구조광 패턴으로 통과시켜 기 설정된 패턴의 구조광을 형성하는 단계를 포함하고,
상기 홀로그램 이미지를 획득하는 단계는,
기하학적 위상 렌즈에서, 상기 대상체를 투과한 구조광을 좌원 편광 및 우원 편광으로 변환하는 단계; 및
편광 이미지 센서에서, 상기 변환된 좌원 편광 및 우원 편광의 상호 간섭에 의해 간섭 무늬를 획득하고, 상기 획득된 간섭 무늬를 통해 홀로그램 이미지를 획득하는 단계를 포함하고,
상기 3차원 이미지를 생성하는 단계는,
굴절률 측정부에서, 상기 홀로그램 이미지의 자동 초점 정렬(Autofocusing)을 통해 상기 구조광의 위상 정보를 분석하여 공기 중에 전파되는 구조광과 상기 대상체를 투과하는 구조광 간의 굴절률 차이를 측정하는 단계; 및
이미지 생성부에서, 상기 측정된 굴절률 차이에 기반하여 굴절률의 정사영 데이터를 획득하고, 획득한 정사영 데이터에 기반하여 상기 대상체에 대한 3차원 이미지를 생성하는 단계를 포함하는, 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 방법.
- 청구항 8에 있어서,
상기 발광 장치는, 가시광선 또는 적외선을 상기 대상체로 조사하고,
상기 대상체는, 상기 가시광선 또는 상기 적외선이 투과할 수 있는 물체인, 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 방법.
- 청구항 9에 있어서,
상기 발광 장치는,
비간섭성(incoherent) 광원을 포함하는, 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 방법.
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 청구항 8에 있어서,
상기 굴절률 차이를 측정하는 단계는,
상기 굴절률 측정부에서, 상기 공기 중에 전파되는 구조광에 대응하는 홀로그램 이미지와 상기 대상체를 투과하는 구조광에 대응하는 홀로그램 이미지 간의 복원 거리 차이를 통해 광 경로 차이를 산출하는 단계를 포함하는, 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020220010430A KR102630427B1 (ko) | 2022-01-25 | 2022-01-25 | 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 시스템 및 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020220010430A KR102630427B1 (ko) | 2022-01-25 | 2022-01-25 | 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 시스템 및 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20230114373A KR20230114373A (ko) | 2023-08-01 |
KR102630427B1 true KR102630427B1 (ko) | 2024-01-29 |
Family
ID=87561744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020220010430A KR102630427B1 (ko) | 2022-01-25 | 2022-01-25 | 자가 간섭 홀로그래픽을 이용한 컴퓨터 단층 촬영 시스템 및 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102630427B1 (ko) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101118528B1 (ko) | 2011-06-30 | 2012-03-06 | 한국지질자원연구원 | 단일 장축 시료 또는 장축형 복수 시료의 컴퓨터 단층촬영 실현시스템 |
WO2015008074A1 (en) * | 2013-07-17 | 2015-01-22 | Cambridge Consultants Limited | Optical apparatus and methods |
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KR102214296B1 (ko) | 2014-01-09 | 2021-02-08 | 지고 코포레이션 | 비구면 표면과 그 외의 비-평탄 표면의 토포그래피의 측정 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102160941B1 (ko) * | 2019-01-21 | 2020-09-29 | 경희대학교 산학협력단 | 자가간섭 디지털 홀로그래픽 시스템 |
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- 2022-01-25 KR KR1020220010430A patent/KR102630427B1/ko active IP Right Grant
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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---|---|
KR20230114373A (ko) | 2023-08-01 |
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PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20220125 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20231204 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20240123 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20240124 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20240124 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration |