KR102610829B1 - 화소센싱회로 - Google Patents

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Abstract

일 실시예는 추가 신호를 통해 적분기의 동작구간을 늘리는 화소센싱회로에 관한 것으로서, 센싱전압의 안정적인 출력에 필요한 시간을 확보할 수 있다.

Description

화소센싱회로{PIXEL SENSING CIRCUIT}
본 실시예는 화소를 센싱하는 기술에 관한 것이다.
표시장치는 패널에 배치되는 화소들을 구동하는 소스드라이버를 포함할 수 있다.
소스드라이버는 영상데이터에 따라 데이터전압을 결정하고, 이러한 데이터전압을 화소들로 공급함으로써 각 화소의 밝기를 제어한다.
한편, 동일한 데이터전압이 공급되더라도 화소들의 특성에 따라 각 화소의 밝기는 달라질 수 있다. 예를 들어, 화소는 구동트랜지스터를 포함하는데, 구동트랜지스터의 문턱전압이 달라지면 동일한 데이터전압이 공급되더라도 화소의 밝기가 달라질 수 있다. 소스드라이버가 이러한 화소들의 특성변화를 고려하지 않으면 화소들이 원하지 않는 밝기로 구동되고, 화질 또한 저하될 수 있다. 화면의 얼룩은 화질저하의 한 예시이다.
이러한 화질 저하의 문제를 개선하기 위해 표시장치는 화소들의 특성을 센싱하는 화소센싱회로를 포함할 수 있다.
화소센싱회로는 각 화소와 연결되는 센싱라인을 통해 각 화소에 대한 아날로그신호를 수신할 수 있다. 그리고, 화소센싱회로는 아날로그신호를 화소센싱데이터로 변환하여 타이밍컨트롤러로 전송하는데, 타이밍컨트롤러는 이 화소센싱데이터를 통해 각 화소의 특성을 파악하게 된다. 그리고, 타이밍컨트롤러는 각 화소의 특성을 반영하여 영상데이터를 보상함으로써 화소의 편차에 따른 화질 저하의 문제를 개선할 수 있다.
한편, 화소센싱회로는 센싱구간에만 동작하도록 설계되어 있어서 동작범위가 제한적일 수 있다. 화소센싱을 위한 출력전압은 센싱구간이내에 안정화되어야만, 정확한 센싱이 가능하다. 그러나 때때로 이 센싱구간이 짧아서 충분한 센싱을 위한 시간이 부족할 수 있다. 출력전압이 센싱구간에서 안정화되지 못하면, 안정화되기 이전 상태의 출력전압이 센싱을 위해 사용되기 때문에 센싱에 오차가 발생할 수 있다.
또는 화소센싱을 위한 출력전압이 센싱구간이내에 안정화되지 못한다면, 화소센싱회로의 동작범위를 늘릴 필요가 있다. 즉, 이것은 센싱구간을 늘린다는 의미일 수 있다. 센싱구간이 늘어나면, 센싱을 위해 사용되는 출력전압이 충분히 안정화되고 이에 따라 정확한 센싱이 가능할 수 있다. 그러나 센싱구간을 늘리는 것은 한 프레임(frame)에서 패널의 디스플레이 구간을 줄이거나 프레임 레이트(frame rate)를 줄이는 것을 의미할 수 있다. 디스플레이 구간 또는 프레임 레이트의 감소는 화질 저하와 같은 문제를 야기할 수 있다. 특히 OLED(Organic Light Emitting Diode)패널의 경우 화소에 의한 부하가 커지면서 디스플레이 속도도 빨라짐에 따라 화소센싱회로의 동작범위는 더욱 줄어들 수 있다.
이러한 배경에서, 본 실시예의 일 목적은, 적분기의 동작을 규정하는 추가 신호를 통해 화소센싱회로의 동작범위를 확장하는 기술을 제공하는 것이다.
본 실시예의 다른 목적은, 적분기의 동작을 규정하는 추가 신호를 조정하여 화소센싱회로의 동작범위 확장의 정도를 조정하는 기술을 제공하는 것이다.
전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 실시예는, 디스플레이 패널에 배치되는 화소의 특성을 센싱하는 내부회로에 있어서, 상기 화소의 전류를 적분하는 적분기를 포함하고, 상기 적분기는, 제1 동작신호를 수신하고, 상기 제1 동작신호가 설정하는 동작구간에서 상기 화소의 전류를 적분하고, 상기 제1 동작신호를 수신하기 전에 제2 동작신호를 수신하여 상기 제2 동작신호가 설정하는 예비동작구간에서 상기 전류의 적분을 위한 구동을 시작하는 내부회로를 제공한다.
상기 내부회로에서, 상기 제2 동작신호는, 상기 제1 동작신호의 동작구간보다 앞선 시점에서 상기 제2 동작신호의 예비동작구간을 설정하고, 상기 적분기는, 상기 제2 동작신호의 예비동작구간에서 미리 구동될 수 있다.
상기 내부회로에서, 상기 적분기는, 상기 화소의 특성으로부터 센싱전압을 출력하고, 상기 센싱전압은, 상기 제1 동작신호의 동작구간에서 일정한 전압으로 수렴하는 포화전압일 수 있다.
상기 내부회로에서, 상기 센싱전압은, 상기 제1 동작신호의 동작구간 및 상기 제2 동작신호의 예비동작구간에 걸쳐 지연되어 출력될 수 있다.
상기 내부회로에서, 상기 제1 동작신호의 동작구간은, 상기 화소가 센싱되는 상기 패널의 센싱구간에 상응하도록 설정될 수 있다.
상기 내부회로에서, 상기 제2 동작신호의 예비동작구간은, 상기 화소가 영상데이터를 출력하는 상기 패널의 디스플레이구간 중 일부에 상응하도록 설정될 수 있다.
상기 내부회로에서, 상기 제1 동작신호 및 상기 제2 동작신호는, 데이터처리회로에서 생성되고 상기 화소로 데이터전압을 공급하도록 제어하는 데이터제어신호에 포함될 수 있다.
상기 내부회로에서, 상기 제1 동작신호는, 데이터처리회로에서 생성되고 상기 화소로 데이터전압을 공급하도록 제어하는 데이터제어신호에 포함되고, 상기 제2 동작신호는, 상기 데이터제어신호와 독립적으로 생성될 수 있다.
상기 내부회로에서, 상기 적분기는, 상기 제2 동작신호를 수신하면 턴온(turn on)하고, 상기 제1 동작신호의 동작구간 및 상기 제2 동작신호의 예비동작구간동안 턴온상태를 유지하는 증폭기를 포함할 수 있다.
다른 실시예는, 한 프레임을 디스플레이구간과 센싱구간으로 구분하는 제1 동작신호에 따라 상기 디스플레이구간을 인식하고, 상기 디스플레이구간에서 화소와 연결되는 데이터라인으로 데이터전압을 공급하는 데이터구동회로; 및 상기 센싱구간에서 상기 화소의 특성을 센싱하되, 상기 센싱구간의 시작시점보다 일정 시간 앞선 시점부터 센싱을 위한 구동을 시작하는 화소센싱회로를 포함하는 디스플레이구동집적회로를 제공한다.
상기 화소센싱회로에서, 상기 일정 시간 앞선 시점을 나타내는 제2 동작신호에 따라 일 내부회로의 구동을 시작시킬 수 있다.
상기 화소센싱회로에서, 적분기 혹은 버퍼를 구성하는 일 증폭기를 상기 일 내부회로에 포함하고, 상기 제2 동작신호에 따라 상기 일 증폭기의 구동을 시작시킬 수 있다.
상기 화소센싱회로에서, 상기 제2 동작신호에 따라 상기 일 내부회로의 구동을 시작하되, 상기 제1 동작신호에 따라 상기 센싱구간에서 상기 화소와 상기 일 내부회로를 연결시킬 수 있다.
상기 화소센싱회로에서, 상기 제2 동작신호는, 상기 제1 동작신호의 시지연에 따라 생성될 수 있다.
상기 화소센싱회로에서, 상기 화소센싱회로는, 상기 센싱구간에서 포화되는 상기 화소의 센싱값을 센싱데이터로 변환하여 출력하고, 상기 데이터구동회로는, 상기 센싱데이터에 따라 보상된 영상데이터를 수신하고, 상기 영상데이터를 상기 데이터전압으로 변환하여 상기 데이터라인으로 공급할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 실시예에 의하면, 화소센싱회로의 동작범위가 확장됨으로써 안정적인 센싱전압을 출력하고 이에 따른 센싱의 오차가 줄어들 수 있다.
그리고, 본 실시예에 의하면, 화소센싱회로의 동작범위가 확장됨으로써 센싱전압의 안정적인 출력에 필요한 센싱시간을 확보 또는 단축할 수 있다.
그리고, 본 실시예에 의하면, 센싱시간을 최소화하여 디스플레이 시간을 확보하고 화질저하를 개선할 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 표시장치의 구성도이다.
도 2는 일 실시예에 따른 화소의 구조와, 데이터구동회로 및 화소센싱회로에서 화소로 입출력되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 3은 종래의 화소센싱회로의 구성도이다.
도 4는 종래의 화소센싱회로 및 데이터처리회로의 내부 구성을 나타내는 도면이다.
도 5는 종래의 화소센싱회로의 센싱전압 파형을 나타내는 도면이다.
도 6은 일 실시예에 따른 화소센싱회로의 구성도이다.
도 7은 일 실시예에 따른 화소센싱회로의 센싱전압 파형을 나타내는 예시도이다.
도 8은 다른 실시예에 따른 화소센싱회로의 구성도이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도 1은 일 실시예에 따른 표시장치의 구성도이다.
도 1을 참조하면, 표시장치(100)는 패널(110) 및 패널(110)을 구동하는 패널구동회로(120, 130, 140, 150)를 포함할 수 있다.
패널(110)에는 복수의 데이터라인(DL), 복수의 게이트라인(GL) 및 복수의 센싱라인(SL)이 배치되고, 복수의 화소(P)가 배치될 수 있다.
패널(110)에 포함되는 적어도 하나의 구성을 구동하는 회로들(120, 130, 140, 150)이 패널구동회로로 호칭될 수 있다. 예를 들어, 데이터구동회로(120), 화소센싱회로(130), 게이트구동회로(140), 데이터처리회로(150) 등이 패널구동회로로 호칭될 수 있다.
전술한 각각의 회로(120, 130, 140, 150)가 패널구동회로로 호칭될 수 있고, 전체 혹은 복수의 회로가 패널구동회로로 호칭될 수도 있다.
패널구동회로에서, 게이트구동회로(140)는 턴온전압 혹은 턴오프전압의 스캔신호를 게이트라인(GL)으로 공급할 수 있다. 턴온전압의 스캔신호가 화소(P)로 공급되면 해당 화소(P)는 데이터라인(DL)과 연결되고 턴오프전압의 스캔신호가 화소(P)로 공급되면 해당 화소(P)와 데이터라인(DL)의 연결은 해제된다.
패널구동회로에서, 데이터구동회로(120)는 데이터라인(DL)으로 데이터전압을 공급한다. 데이터라인(DL)으로 공급된 데이터전압은 스캔신호에 따라 데이터라인(DL)과 연결된 화소(P)로 전달되게 된다.
패널구동회로에서, 화소센싱회로(130)는 각 화소(P)에 형성되는 아날로그신호-예를 들어, 전압, 전류 등-를 수신한다. 화소센싱회로(130)는 스캔신호에 따라 각 화소(P)와 연결될 수도 있고, 별도의 센싱신호에 따라 각 화소(P)와 연결될 수도 있다. 이때, 별도의 센싱신호는 게이트구동회로(140)에 의해 생성될 수 있다.
패널구동회로에서, 데이터처리회로(150)는 게이트구동회로(140) 및 데이터구동회로(120)로 각종 제어신호를 공급할 수 있다. 데이터처리회로(150)는 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔이 시작되도록 하는 게이트제어신호(GCS)를 생성하여 게이트구동회로(140)로 전송할 수 있다. 그리고, 데이터처리회로(150)는 외부에서 입력되는 영상데이터를 데이터구동회로(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환한 영상데이터(RGB)를 데이터구동회로(120)로 출력할 수 있다. 또한, 데이터처리회로(150)는 각 타이밍에 맞게 데이터구동회로(120)가 각 화소(P)로 데이터전압을 공급하도록 제어하는 데이터제어신호(DCS)를 전송할 수 있다.
데이터처리회로(150)는 화소(P)의 특성에 따라 영상데이터(RGB)를 보상하여 전송할 수 있다. 이때, 데이터처리회로(150)는 화소센싱회로(130)로부터 센싱데이터(S_DATA)를 수신할 수 있다. 센싱데이터(S_DATA)는 화소(P)의 특성에 대한 측정값을 포함할 수 있다.
한편, 데이터구동회로(120)는 소스드라이버라는 명칭으로 불리울 수 있다. 그리고, 게이트구동회로(140)는 게이트드라이버라는 명칭으로 불리울 수 있다. 그리고, 데이터처리회로(150)는 타이밍컨트롤러라는 명칭으로 불리울 수 있다. 데이터구동회로(120)와 화소센싱회로(130)는 하나의 집적회로(125)에 포함되어 있으면서, 소스드라이버IC(Integrated Circuit)라는 명칭으로 불리울 수 있다. 또한, 데이터구동회로(120), 화소센싱회로(130) 및 데이터처리회로(150)는 하나의 집적회로에 포함되어 있으면서, 통합IC라는 명칭으로 불리울 수 있다. 본 실시예가 이러한 명칭으로 제한되는 것은 아니나, 아래 실시예에 대한 설명에서는 소스드라이버, 게이트드라이버, 타이밍컨트롤러 등에서 일반적으로 알려진 일부 구성들의 설명은 생략한다. 따라서, 실시예에 대한 이해에 있어서는 이러한 일부 구성들이 생략되어 있는 것을 고려하여야 한다.
한편, 패널(110)은 유기발광표시패널일 수 있다. 이때, 패널(110)에 배치되는 화소(P)들은 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode) 및 하나 이상의 트랜지스터를 포함할 수 있다. 각 화소(P)에 포함되는 유기발광다이오드(OLED) 및 트랜지스터의 특성은 시간 혹은 주변 환경에 따라 변할 수 있다. 일 실시예에 따른 화소센싱회로(130)는 각 화소(P)에 포함된 이러한 구성요소들의 특성을 센싱하여 데이터처리회로(150)로 전송할 수 있다.
도 2는 일 실시예에 따른 화소의 구조와, 데이터구동회로 및 화소센싱회로에서 화소로 입출력되는 신호를 나타내는 도면이다.
도 2를 참조하면, 화소(P)는 유기발광다이오드(OLED), 구동트랜지스터(DRT), 스위칭트랜지스터(SWT), 센싱트랜지스터(SENT) 및 스토리지캐패시터(Cstg) 등을 포함할 수 있다.
유기발광다이오드(OLED)는 애노드전극, 유기층 및 캐소드전극 등으로 이루어질 수 있다. 구동트랜지스터(DRT)의 제어에 따라 애노드전극은 구동전압(EVDD)과 연결되고 캐소드전극은 기저전압(EVSS)과 연결되면서 발광하게 된다.
구동트랜지스터(DRT)는 유기발광다이오드(OLED)로 공급되는 구동전류를 제어함으로써 유기발광다이오드(OLED)의 밝기를 제어할 수 있다.
구동트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)는 유기발광다이오드(OLED)의 애노드전극과 전기적으로 연결될 수 있으며, 소스 노드 혹은 드레인 노드일 수 있다. 구동트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)는 스위칭트랜지스터(SWT)의 소스 노드 혹은 드레인 노드와 전기적으로 연결될 수 있으며, 게이트 노드일 수 있다. 구동트랜지스터(DRT)의 제3 노드(N3)는 구동전압(EVDD)을 공급하는 구동전압라인(DVL)과 전기적으로 연결될 수 있으며, 드레인 노드 혹은 소스 노드일 수 있다.
스위칭트랜지스터(SWT)는 데이터라인(DL)과 구동트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되고, 게이트 라인(GL1 및 GL2)을 통해 스캔신호를 공급받아 턴온될 수 있다.
이러한 스위칭트랜지스터(SWT)가 턴온되면 데이터라인(DL)을 통해 데이터구동회로(120)로부터 공급된 데이터전압(Vdata)이 구동트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)로 전달되게 된다.
스토리지캐패시터(Cstg)는 구동트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다.
스토리지캐패시터(Cstg)는 구동트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 존재하는 기생캐패시터일 수도 있고, 구동트랜지스터(DRT)의 외부에 의도적으로 설계한 외부 캐패시터일 수 있다.
센싱트랜지스터(SENT)는 구동트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 센싱라인(SL)을 연결시키고, 센싱라인(SL)은 제1 노드(N1)로 기준전압(Vref)을 전달하고 제1 노드(N1)에 형성되는 아날로그신호-예를 들어, 전압 혹은 전류-를 화소센싱회로(130)로 전달할 수 있다.
그리고, 화소센싱회로(130)는 센싱라인(SL)을 통해 전달되는 아날로그신호(Vsense 혹은 Isense)를 이용하여 화소(P)의 특성을 측정하게 된다.
제1 노드(N1)의 전압을 측정하면, 구동트랜지스터(DRT)의 문턱전압, 이동도(mobility), 전류특성 등을 파악할 수 있다. 또한, 제1 노드(N1)의 전압을 측정하면, 유기발광다이오드(OLED)의 기생정전용량, 전류특성 등의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 파악할 수 있다.
또한, 구동트랜지스터(DRT)를 거쳐 제1 노드(N1)로 전달되는 전류를 측정하면, 구동트랜지스터(DRT)의 전류 능력을 측정할 수 있다. 그리고, 제1 노드(N1)를 거쳐 유기발광다이오드(OLED)로 흐르는 전류를 측정하면, 유기발광다이오드(OLED)의 전류 특성을 측정할 수 있다.
화소센싱회로(130)는 제1 노드(N1)로부터 전달되거나 제1 노드(N1)로 전달되는 전류를 측정하고 측정값을 데이터처리회로(도 1의 150 참조)로 전송할 수 있다. 그리고, 데이터처리회로(도 1의 150 참조)는 이러한 전류를 분석하여 각 화소(P)의 특성을 파악할 수 있다.
도 3은 종래의 화소센싱회로의 구성도이다.
도 3을 참조하면, 화소센싱회로(10)는 아날로그디지털변환부(316)를 통해 화소(P)에서 전달되는 화소전압(Vsense) 또는 화소전류(Isense)를 센싱할 수 있다. 그리고, 화소센싱회로(10)는 센싱된 화소전류에 대응되는 센싱데이터(S_DATA)를 데이터처리회로로 전송할 수 있다.
화소센싱회로(10)는 복수의 채널회로(310)를 포함하고, 각각의 채널회로(310)는 아날로그전단(AFE: Analog-Front-End)부(312), 샘플앤홀드(S&H: Sample-and-Hold)부(314) 및 아날로그디지털변환(ADC: Analog-Digital-Convert)부(316)를 포함할 수 있다.
아날로그전단부(312)는 입력단으로 전달되는 아날로그신호-예를 들어, 전압 또는 전류-를 전처리할 수 있다. 아날로그신호는 화소전압(Vsense) 또는 화소전류(Isense)를 포함할 수 있다.
샘플앤홀드부(314)는 아날로그전단부(312)의 출력신호를 일정 시간동안 유지할 수 있다. 샘플앤홀드부(314)는 일정 시간이 지난 후에 유지한 출력신호를 아날로그디지털변환부(316)로 출력할 수 있다.
아날로그디지털변환부(316)는 샘플앤홀드부(314)의 출력신호를 디지털데이터로 변환할 수 있다.
또한 아날로그전단부(312)는 제1 동작신호(SIG1)를 수신할 수 있다. 아날로그전단부(312)가 제1 동작신호(SIG1)를 수신하면, 전처리할 아날로그신호-예를 들어, 화소전류(Isense)-를 수신할 준비를 한다. 예를 들어 아날로그전단부(312)의 전류적분기(current integrator)는 턴오프(turn off)되어 있는 중에 제1 동작신호(SIG1)를 수신하면, 턴온(turn on)될 수 있다.
제1 동작신호(SIG1)는 데이터처리회로(150)에 의하여 생성되어 데이터전압의 공급을 제어하는 데이터제어신호(DCS)에 포함될 수 있다.
도 4는 종래의 화소센싱회로 및 데이터처리회로의 내부 구성을 나타내는 도면이다.
도 4를 참조하면, 아날로그전단부(312)는 적분기(integrator, 410)를 포함할 수 있다.
아날로그전단부(312)는 적분기(410)를 포함할 수 있다. 그리고, 적분기(410)는 증폭기(Ap), 증폭기(Ap)의 일 입력단자-예를 들어, 마이너스 입력단자-와 출력단자 사이에 연결되는 캐패시터(Ci) 및 캐패시터(Ci)와 병렬로 연결되는 리셋스위치(SWr) 등을 포함할 수 있다.
적분기(410)는 화소로부터 아날로그신호-예를 들어, 화소전류(Isense)-를 적분하여 센싱전압(Vout)을 출력할 수 있다. 센싱전압(Vout)은 적분기(410)가 캐패시터(Ci)를 통해 화소전류(Isense)를 적분한 값을 포함할 수 있다. 캐패시터(Ci)에 의하여 적분된 값은 다음의 적분을 수행하기 전에 미리 리셋스위치(SWr)에 의하여 리셋(reset)될 수 있다.
적분기(410)의 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)에 의하여 구동될 수 있다. 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)에 의하여 턴오프 또는 턴온될 수 있다. 예를 들어, 증폭기(Ap)는 디스플레이구간동안에 꺼져 있다가 제1 동작신호(SIG1)에 따라 센싱구간동안에 켜질 수 있다. 디스플레이구간은 화소가 영상데이터를 출력하는 패널의 동작구간일 수 있다. 센싱구간은 화소가 센싱되는 패널의 동작구간일 수 있다. 센싱구간에서 켜진 증폭기(Ap)는 화소의 특성-예를 들어 화소전류(Isense)-을 센싱할 수 있다.
도 5는 종래의 화소센싱회로의 센싱전압 파형을 나타내는 도면이다.
도 5를 참조하면, 패널동작구간(PANEL) 및 제1 동작신호(SIG1)에 따라 화소센싱회로(130)가 출력하는 센싱전압(Vout)의 파형이 도시된다.
패널동작구간(PANEL)은 패널이 동작하는 태양에 따라 구분될 수 있는데, 디스플레이구간(DISPLAY) 및 센싱구간(SENSING)을 포함할 수 있다. 디스플레이구간(DISPLAY)은 패널이 영상데이터를 디스플레이하는 시간범위일 수 있다. 센싱구간(SENSING)은 화소의 특성이 센싱되는 시간범위일 수 있다. 패널이 한 프레임에서 영상데이터를 디스플레이하거나 화소를 센싱하는 것을 반복함에 따라 패널동작구간(PANEL)에서는 디스플레이구간(DISPLAY) 및 센싱구간(SENSING)이 반복할 수 있다.
제1 동작신호(SIG1)는 센싱구간(SENSING)에 동기화하여 증폭기(Ap)를 구동할 수 있다. 제1 동작신호(SIG1)는 데이터처리회로(150)에서 생성되고 데이터제어신호(DCS)에 포함되어 증폭기(Ap)로 공급될 수 있다. 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)에 따라 화소의 센싱을 위한 준비를 할 수 있는데, 그 준비는 증폭기(Ap)가 구동을 시작하는 것을 의미할 수 있다. 구체적으로 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)에 따라 켜질 수 있다.
예를 들어 패널동작구간(PANEL)이 디스플레이구간(DISPLAY)이면 제1 동작신호(SIG1)는 제1 레벨-예를 들어 로우레벨(low level)-을 가질 수 있다. 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)의 제1 레벨에서 꺼진 상태에 있을 수 있다. 패널동작구간(PANEL)이 센싱구간(SENSING)으로 변하면 제1 동작신호(SIG1)는 제2 레벨-예를 들어 하이레벨(high level)-로 변할 수 있다. 증폭기(Ap)는 제1 레벨에서 제2 레벨로의 상승에지(rising edge)에서 턴온되고, 제2 레벨이 유지되는 동안 켜진 상태에 있을 수 있다.
또한 제1 동작신호(SIG1)는 센싱구간(SENSING)에 동기화하여 증폭기(Ap)를 구동하지 않을 수 있다. 제1 동작신호(SIG1)는 데이터처리회로(150)에서 생성되고 데이터제어신호(DCS)에 포함되어 증폭기(Ap)로 공급될 수 있다. 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)에 따라 화소의 센싱을 종료할 수 있는데, 그 종료는 증폭기(Ap)가 구동을 정지하는 것을 의미할 수 있다. 구체적으로 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)에 따라 꺼질 수 있다.
한편 증폭기(Ap)가 구동을 시작한 뒤, 증폭기(Ap)는 센싱구간(SENSING)에서 제1 동작신호(SIG1)에 따라 센싱할 수 있다. 그래서 증폭기(Ap)는 센싱전압(Vout)을 출력할 수 있다. 센싱전압(Vout)은 화소전류(Isense)가 증폭기(Ap)에 의하여 적분된 값으로서, 화소전류(Isense)가 캐패시터(Ci)에 축적되어 증폭기(Ap)의 출력단자에 형성된 전압의 값일 수 있다. 여기서 증폭기(Ap)는 센싱구간(SENSING)에 대응한 구간(ON)에서는 턴온되어 화소를 센싱하고, 디스플레이구간(DISPLAY)에 대응한 구간(OFF)에서는 턴오프될 수 있다.
증폭기(Ap)가 출력하는 센싱전압(Vout)은 구동지연을 가질 수 있다.
예를 들어 이상적으로 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)의 상승에지에서 턴온되면, 센싱전압(Vout)은 바로 출력되어 센싱시간(Tsen)이내에 포화전압(Vsat)까지 도달할 수 있다. 여기서 센싱시간(Tsen)은 패널의 센싱구간(SENSING)에 대응하여 증폭기(Ap)가 제1 동작신호(SIG1)에 따라 동작하는 기간을 의미할 수 있다. 이와 같은 이상적인 센싱전압(Vout) 출력은 시간(TIME)에 따른 센싱전압(Vout) 그래프에서 점선으로 표시되는 제1 곡선(501)과 같을 수 있다.
그러나 실제로 증폭기(Ap)가 제1 동작신호(SIG1)의 상승에지에서 턴온되면, 센싱전압(Vout)은 구동지연시간(Td)만큼 지연되어 출력되고, 센싱전압(Vout)은 센싱시간(Tsen)이내에 포화전압(Vsat)까지 도달하지 못할 수 있다. 센싱전압(Vout)은 센싱시간(Tsen)을 지나서야 비로소 포화전압(Vsat)까지 도달될 수 있다. 이와 같은 실제의 센싱전압(Vout) 출력은 시간(TIME)에 따른 센싱전압(Vout) 그래프에서 실선으로 표시되는 제2 곡선(502)과 같을 수 있다.
또한 증폭기(Ap)가 출력하는 센싱전압(Vout)은 출력지연도 가질 수 있다. 예를 들어 증폭기(Ap)의 센싱전압(Vout)은 일정한 비율(시간에 대한 전압의 변화량) 또는 상이한 비율로 포화전압(Vsat)에 도달할 수 있다. 제1 곡선(501)과 제2 곡선(502)과 같이 센싱전압(Vout)이 상이한 비율로 출력되는 경우, 센싱전압(Vout)은 가파르게 증가하다가 포화전압(Vsat) 부근에서 낮은 비율로 출력될 수 있다.
따라서 구동지연은 증폭기(Ap)가 턴온된 이후부터 센싱을 시작하기 전까지의 시간을 의미하는 반면, 출력지연은 센싱전압(Vout)이 출력되기 시작한 이후부터 포화전압(Vsat)에 이르기 전까지의 시간을 의미할 수 있다. 또한 구동지연은 증폭기(Ap)가 센싱을 준비하는 과정에서 지연된 시간을 의미하는 반면, 출력지연은 센싱을 시작한 이후에 센싱전압(Vout)을 출력하는 과정에서 지연된 시간을 의미할 수 있다.
이러한 센싱전압(Vout)의 지연들 중에서도 특히, 구동지연은 증폭기(Ap)의 센싱시간(Tsen)의 부족과 화소센싱의 오차라는 문제들을 야기할 수 있다.
구동지연 때문에, 센싱전압(Vout)이 포화전압(Vsat)까지 완전하게 출력되기 위해서는 센싱시간(Tsen)으로는 부족할 수 있다. 그래서 추가적인 증폭기(Ap)의 동작시간이 필요할 수 있다. 추가적인 증폭기(Ap)의 동작시간이 필요함에 따라 한 프레임에서 센싱구간(SENSING)이 차지하는 비중이 커지고 디스플레이구간(DISPLAY)이 차지하는 비중이 작아져서 화질이 저하될 수 있다.
만약 센싱구간(SENSING)이 변경되지 않고, 센싱전압(Vout)이 안정화되기 이전(포화전압(Vsat)에 도달하기 이전)에 전압 Vo를 기반으로 센싱데이터(S_DATA)가 생성될 수 있다. 그렇게 된다면 센싱데이터(S_DATA)는 오차를 가질 수밖에 없다. 센싱데이터(S_DATA) 생성을 위하여 센싱전압(Vout)을 샘플링 하는 시점(Ps)에서 포화전압(Vsat)이 아닌 Vo의 전압이 샘플링되고 이 샘플링된 전압으로 센싱데이터(S_DATA)가 생성되기 때문이다. 따라서 증폭기(Ap) 센싱전압(Vout)의 출력을 충분히 안정화할 수 있도록 증폭기(Ap)의 동작범위를 확대할 필요가 있다.
도 6은 일 실시예에 따른 화소센싱회로의 구성도이다.
도 6을 참조하면, 화소센싱회로(130)는 아날로그전단부(612)의 증폭기를 동작시키는 신호를 추가로 수신하여 증폭기의 동작구간을 늘릴 수 있다. 화소센싱회로(130)는 채널회로(610)에 아날로그전단부(612), 샘플앤홀드부(614) 및 아날로그디지털변환부(616)를 포함할 수 있다. 증폭기 동작을 위한 추가 신호를 더 수신하기 위하여, 화소센싱회로(130)는 센싱동작신호공급부(601)를 더 포함할 수 있다.
센싱동작신호공급부(601)는 아날로그전단부(612)의 증폭기를 구동하는 복수의 신호를 수신하고, 상기 복수의 신호를 아날로그전단부(612)로 공급할 수 있다.
예를 들어 센싱동작신호공급부(601)는 제1 동작신호(SIG1) 및 제2 동작신호(SIG2)를 수신할 수 있다. 제1 동작신호(SIG1) 및 제2 동작신호(SIG2)는 아날로그전단부(612)의 증폭기를 구동할 수 있다. 아날로그전단부(612)의 증폭기는 제1 동작신호(SIG1) 및 제2 동작신호(SIG2) 중 어느 하나를 수신하면, 켜질 수 있다.
제1 동작신호(SIG1)는 데이터처리회로(150)에 의하여 생성되고, 데이터제어신호(DCS)에 포함되어 화소센싱회로(830)로 전송될 수 있다. 데이터제어신호(DCS) 중 제1 동작신호(SIG1)는 센싱동작신호공급부(601)로 전달될 수 있다.
제2 동작신호(SIG2)는 데이터처리회로(150)에 의하여 생성되어 데이터전압의 공급을 제어하는 데이터제어신호(DCS)에 포함될 수 있다. 데이터제어신호(DCS) 중 제2 동작신호(SIG2)는 센싱동작신호공급부(601)로 전달될 수 있다. 여기서 데이터처리회로(150)는 제1 동작신호(SIG1)를 시지연시켜 제2 동작신호(SIG2)를 생성할 수 있다.
또한 제2 동작신호(SIG2)는 화소센싱회로(130)에서 별도로 생성되어 데이터제어신호(DCS)와 독립된 신호일 수 있다. 여기서 화소센싱회로(130)는 제1 동작신호(SIG1)를 시지연시켜 제2 동작신호(SIG2)를 생성할 수 있다.
센싱동작신호공급부(601)는 서로 다른 타이밍에 복수의 신호 중 하나의 신호를 아날로그전단부(612)의 증폭기에 공급하고, 증폭기는 상기 하나의 신호에 따라 규정된 동작구간에서 동작할 수 있다.
예를 들어 센싱동작신호공급부(601)는 제1 동작신호(SIG1)를 아날로그전단부(612)에 공급하여 증폭기를 구동할 수 있다. 나아가 제1 동작신호(SIG1)의 공급 이전에, 센싱동작신호공급부(601)는 제2 동작신호(SIG2)를 아날로그전단부(612)에 공급하여 증폭기를 미리 구동할 수 있다. 아날로그전단부(612)의 증폭기는 제2 동작신호(SIG2)에 따라 미리 구동되어 화소센싱의 준비를 할 수 있다. 아날로그전단부(612)의 증폭기는 제2 동작신호(SIG2)에 따라 턴온되어 동작하다가, 제1 동작신호(SIG1)를 수신하면 제1 동작신호(SIG1)에 따라 턴온 동작을 계속 유지할 수 있다.
샘플앤홀드부(614)는 아날로그전단부(612)의 출력신호-예를 들어 센싱전압-를 일정 시간동안 유지할 수 있다. 샘플앤홀드부(614)는 일정 시간이 지난 후에 유지한 출력신호를 아날로그디지털변환부(616)로 출력할 수 있다.
아날로그디지털변환부(614)는 샘플앤홀드부(614)의 출력신호를 디지털데이터로 변환할 수 있다.
도 7은 일 실시예에 따른 화소센싱회로의 센싱전압 파형을 나타내는 예시도이다.
도 7을 참조하면, 패널동작구간(PANEL) 및 제1 및 2 동작신호(SIG1, SIG2)에 따라 화소센싱회로(130)가 출력하는 센싱전압(Vout)의 파형이 도시된다.
제1 동작신호(SIG1)는 센싱구간(SENSING)에 동기화하여 증폭기(Ap)를 구동할 수 있다. 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)에 따라 켜지거나 꺼질 수 있다. 센싱동작신호공급부(도 6의 601)는 제1 동작신호(SIG1)를 외부에서 수신하여 증폭기(Ap)로 전달할 수 있다.
제2 동작신호(SIG2)는 증폭기(Ap)를 구동할 수 있다. 증폭기(Ap)는 제2 동작신호(SIG2)에 따라 켜지거나 꺼질 수 있다. 센싱동작신호공급부(도 6의 601)는 제2 동작신호(SIG2)를 외부에서 수신하여 증폭기(Ap)로 전달할 수 있다.
제2 동작신호(SIG2)는, 제1 동작신호(SIG1)의 공급이전에, 증폭기(Ap)에 공급될 수 있다. 따라서 제2 동작신호(SIG2)가 증폭기(Ap)를 턴온하는 트리거 구간-예를 들어 하이레벨이 유지되는 구간-이 제1 동작신호(SIG1)가 증폭기(Ap)를 턴온하는 트리거 구간-예를 들어 하이레벨이 유지되는 구간-보다 앞설 수 있다.
제1 및 2 동작신호(SIG1, SIG2)가 증폭기(Ap)로 공급되면, 증폭기(Ap)는 제1 및 2 동작신호(SIG1, SIG2)에 따라 동작할 수 있다. 제2 동작신호(SIG2)는 증폭기(Ap)의 동작범위를 추가로 규정하고, 증폭기(Ap)는 기존의 동작범위에 더하여 추가된 동작범위에서도 동작할 수 있다.
예를 들어 증폭기(Ap)는 제2 동작신호(SIG2)가 제1 레벨-예를 들어 로우레벨-에서 제2 레벨-예를 들어 하이레벨-로 변하는 상승에지에서 턴온될 수 있다. 여기서 제2 레벨이 제1 동작신호(SIG1)의 상승에지가 나올 때까지 유지되도록 제2 동작신호(SIG2)가 생성될 수 있다. 또는 제2 레벨이 제1 동작신호(SIG1)의 상승에지 이후의 소정의 시간동안 유지되도록 제2 동작신호(SIG2)가 생성될 수 있다. 증폭기(Ap)는 제2 동작신호(SIG2)의 제2 레벨이 유지되는 동안 턴온상태를 유지할 수 있다. 증폭기(Ap)는 제2 동작신호(SIG2)에 따라 미리 구동되어 센싱을 위한 준비를 할 수 있다.
다음으로 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)의 제2 레벨이 유지되는 동안 턴온상태를 지속적으로 유지할 수 있다. 제2 동작신호(SIG2)가 제1 레벨로 변화하더라도, 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)에 따라 계속 구동될 수 있다. 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)에 따라 본격적으로 센싱할 수 있다.
동시에 증폭기(Ap)가 제1 동작신호(SIG1)를 수신하면, 증폭기(Ap)를 포함하는 채널회로(도 6의 610)는 화소와 연결되어 화소의 특성-예를 들어 화소전류(Isense)-를 입력받을 수 있다. 증폭기(Ap)는 제1 동작신호(SIG1)에 대응하는 센싱구간(SENSING)에서 화소와 연결될 수 있다. 그리고 증폭기(Ap)는 화소전류(Isense)의 적분을 시작함으로써 화소센싱을 시작할 수 있다.
제2 동작신호(SIG2)가 추가적으로 증폭기(Ap)에 공급됨으로써 증폭기(Ap)의 센싱시간(Tsen)이 제2 동작신호(SIG2)의 제2 레벨이 유지되는 시간 △T만큼 늘어날 수 있다. 이에 따라 증폭기(Ap)는 기존의 센싱시간(Tsen) 및 추가센싱시간(△T)를 포함하는 시간동안 턴온 상태를 유지할 수 있다.
추가센싱시간(△T)은 증폭기(Ap)의 구동지연을 커버하기 위한 여분의 시간을 의미할 수 있다. 따라서 추가센싱시간(△T)은 최소한 구동지연보다 큰 것이 바람직할 수 있다. 증폭기(Ap)는 추가센싱시간(△T) 동안 미리 구동하여 화소센싱을 위한 준비를 마칠 수 있고, 기존의 센싱시간(Tsen) 동안 출력지연을 가지는 센싱전압(Vout)을 안정적으로 출력할 수 있다.
제2 동작신호(SIG2)가 센싱구간(SENSING)에 대응하는 센싱시간(Tsen) 이전에 증폭기(Ap)에 공급되려면, 제2 동작신호(SIG2)는 화소가 영상데이터를 출력하는 디스플레이구간(DISPLAY)에 증폭기(Ap)에 공급될 필요가 있다. 따라서 제2 동작신호(SIG2)는 패널이 디스플레이구간(DISPLAY)에 있을 때 증폭기(Ap)에 공급될 수 있다. 즉, 제2 동작신호(SIG2)는 디스플레이구간(DISPLAY)의 일부 구간 또는 전 구간에 동기화하여 증폭기(Ap)에 공급될 수 있다. 이에 따라 증폭기(Ap)는 센싱구간(SENSING)의 시작시점보다 상기 일부 구간 또는 전 구간에 상응하는 시간만큼 앞선 시점부터 구동될 수 있다.
증폭기(Ap)는 센싱전압(Vout)을 센싱구간(SENSING) 이내에 안정화하여 출력하고, 상기 출력된 센싱전압(Vout)을 샘플앤홀드부(도 6의 614)로 전달할 수 있다. 예를 들어 증폭기(Ap)가 제2 동작신호(SIG2)를 수신하면, 증폭기(Ap)는 추가센싱시간(△T)에서 턴온되고 구동을 시작할 수 있다. 증폭기(Ap)가 제1 동작신호(SIG1)를 수신하면, 센싱-센싱전압(Vout)의 출력-을 시작할 수 있다. 증폭기(Ap)기가 센싱구간(SENSING)에 대응하는 센싱시간(Tsen)에 접어들면, 센싱전압(Vout)을 서서히 출력하고 센싱시간(Tsen)이내에 센싱전압(Vout)을 포화전압(Vsat)까지 도달시킬 수 있다. 증폭기(Ap)기는 센싱시간(Tsen) 이내에 포화된(안정된) 센싱전압(Vout)을 출력할 수 있다.
제2 동작신호(SIG2)가 추가적으로 증폭기(Ap)에 공급됨으로써, 센싱시간(Tsen)의 부족과 화소센싱 오차의 문제를 해결할 수 있다.
제2 동작신호(SIG2)는 센싱구간(SENSING) 이전에 증폭기(Ap)를 미리 턴온시키고 증폭기(Ap)에게 구동지연에 필요한 추가센싱시간(△T)을 제공할 수 있다. 추가센싱시간(△T)은 센싱전압(Vout)의 구동지연을 보상하기 위하여 추가된 시간을 의미할 수 있다. 추가센싱시간(△T)은 증폭기(Ap)의 구동지연이 센싱시간(Tsen)을 희생하는 것을 차단하므로, 센싱시간(Tsen)은 센싱전압(Vout)의 안정적인 출력에 필요한 충분한 시간이 될 수 있다. 증폭기(Ap)에 추가적인 동작구간을 부여함에 따라 센싱시간(Tsen)에 대응하는 센싱구간(SENSING)이 인위적으로 늘릴 필요가 없고 디스플레이구간(DISPLAY)을 그대로 유지될 수 있다. 따라서 화질 저하의 우려도 없게 된다.
또한 안정화된 센싱전압-포화전압(Vsat)-이 센싱전압(Vout)의 샘플링 시점(Ps)에서 샘플링될 수 있다. 상기 샘플링된 전압으로부터 센싱데이터가 아날로그디지털변환부(도 6의 616)에 의하여 생성될 수 있다. 그렇게 되면, 센싱데이터의 오차는 줄어들 수 있다.
도 8은 다른 실시예에 따른 화소센싱회로의 구성도이다.
도 8을 참조하면, 화소센싱회로(830)는 아날로그전단부(312)의 증폭기를 동작시키는 추가 신호를 생성할 수 있다. 추가 신호는 외부로부터 입력된 신호일 수 있으나, 본 도면과 같이 화소센싱회로(830)에서 자체적으로 생성될 수 있다. 이를 위하여 화소센싱회로(830)는 신호생성부(802)를 더 포함할 수 있다.
신호생성부(802)는 제2 동작신호(SIG2)를 생성하여 센싱동작신호공급부(620)로 전달할 수 있다. 신호생성부(802)에 의하여 생성된 제2 동작신호(SIG2)는 제1 동작신호(SIG1)처럼 증폭기(Ap)를 구동할 수 있다.
신호생성부(802)는 제1 동작신호(SIG1)를 가공하여 제2 동작신호(SIG2)를 생성할 수 있다. 신호생성부(802)는 제1 동작신호(SIG1)를 시지연하여 제2 동작신호(SIG2)를 생성할 수 있다. 예를 들어 신호생성부(802)는 제1 동작신호(SIG1)의 펄스폭 및 타이밍을 조절하여, 제1 동작신호(SIG1)와 상이한 펄스폭 및 상이한 타이밍을 가지는 제2 동작신호(SIG2)를 생성할 수 있다.
센싱동작신호공급부(620)는 신호생성부(802)로부터 제2 동작신호(SIG2)를 수신하여 아날로그전단부(612)로 전달할 수 있다.
한편 신호생성부(802)는 아날로그전단부(612) 증폭기의 동작범위에 따라 상이한 신호특성을 가지는 제2 동작신호(SIG2)를 생성할 수 있다. 예를 들어 신호생성부(802)는 추가센싱시간(△T)에 비례하는 펄스폭을 가지는 제2 동작신호(SIG2)를 생성할 수 있다. 증폭기의 추가 동작범위-예를 들어 도 7의 추가센싱시간(△T)-가 길면, 신호생성부(802)는 추가 동작범위에 상응하게 제2 동작신호(SIG2)의 펄스폭을 넓게 조정할 수 있다.
이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재될 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥 상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims (15)

  1. 디스플레이 패널에 배치되는 화소의 특성을 센싱하는 내부회로에 있어서,
    상기 화소의 전류를 적분하는 적분기를 포함하고,
    상기 적분기는, 제1 동작신호를 수신하고, 상기 제1 동작신호가 설정하는 동작구간에서 상기 화소의 전류를 적분하고, 상기 제1 동작신호를 수신하기 전에 제2 동작신호를 수신하여 상기 제2 동작신호가 설정하는 예비동작구간에서 상기 전류의 적분을 위한 구동을 시작하고,
    상기 적분기는, 상기 제2 동작신호를 수신하면 턴온(turn on)하고, 상기 제1 동작신호의 동작구간 및 상기 제2 동작신호의 예비동작구간동안 턴온상태를 유지하는 증폭기를 포함하는 내부회로.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제2 동작신호는, 상기 제1 동작신호의 동작구간보다 앞선 시점에서 상기 제2 동작신호의 예비동작구간을 설정하고,
    상기 적분기는, 상기 제2 동작신호의 예비동작구간에서 미리 구동되는 내부회로.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 적분기는, 상기 화소의 특성으로부터 센싱전압을 출력하고,
    상기 센싱전압은, 상기 제1 동작신호의 동작구간에서 일정한 전압으로 수렴하는 포화전압인 내부회로.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 센싱전압은, 상기 제1 동작신호의 동작구간 및 상기 제2 동작신호의 예비동작구간에 걸쳐 지연되어 출력되는 내부회로.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제1 동작신호의 동작구간은, 상기 화소가 센싱되는 상기 패널의 센싱구간에 상응하도록 설정되는 내부회로.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제2 동작신호의 예비동작구간은, 상기 화소가 영상데이터를 출력하는 상기 패널의 디스플레이구간 중 일부에 상응하도록 설정되는 내부회로.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제1 동작신호 및 상기 제2 동작신호는, 데이터처리회로에서 생성되고 상기 화소로 데이터전압을 공급하도록 제어하는 데이터제어신호에 포함되는 내부회로.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제1 동작신호는, 데이터처리회로에서 생성되고 상기 화소로 데이터전압을 공급하도록 제어하는 데이터제어신호에 포함되고,
    상기 제2 동작신호는, 상기 데이터제어신호와 독립적으로 생성되는 내부회로.
  9. 삭제
  10. 한 프레임을 디스플레이구간과 센싱구간으로 구분하는 제1 동작신호에 따라 상기 디스플레이구간을 인식하고, 상기 디스플레이구간에서 화소와 연결되는 데이터라인으로 데이터전압을 공급하는 데이터구동회로; 및
    상기 센싱구간에서 상기 화소의 특성을 센싱하되, 상기 센싱구간의 시작시점보다 일정 시간 앞선 시점부터 센싱을 위한 구동을 시작하는 화소센싱회로를 포함하고,
    상기 화소센싱회로는, 상기 일정 시간 앞선 시점을 나타내는 제2 동작신호에 따라 일 내부회로의 구동을 시작시키고,
    상기 화소센싱회로는, 적분기 혹은 버퍼를 구성하는 일 증폭기를 상기 일 내부회로에 포함하고, 상기 제2 동작신호에 따라 상기 일 증폭기의 구동을 시작시키는 디스플레이구동집적회로.
  11. 삭제
  12. 삭제
  13. 제10항에 있어서,
    상기 화소센싱회로는, 상기 제2 동작신호에 따라 상기 일 내부회로의 구동을 시작하되, 상기 제1 동작신호에 따라 상기 센싱구간에서 상기 화소와 상기 일 내부회로를 연결시키는 디스플레이구동집적회로.
  14. 제10항에 있어서,
    상기 제2 동작신호는, 상기 제1 동작신호의 시지연에 따라 생성되는 디스플레이구동집적회로.
  15. 제10항에 있어서,
    상기 화소센싱회로는, 상기 센싱구간에서 포화되는 상기 화소의 센싱값을 센싱데이터로 변환하여 출력하고,
    상기 데이터구동회로는, 상기 센싱데이터에 따라 보상된 영상데이터를 수신하고, 상기 영상데이터를 상기 데이터전압으로 변환하여 상기 데이터라인으로 공급하는 디스플레이구동집적회로.






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