KR102609268B1 - Photoresist film and application thereof - Google Patents

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KR102609268B1
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photoresist film
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지-아이 추앙
안-팡 투
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창 춘 플라스틱스 컴퍼니, 리미티드
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Abstract

포토레지스트 필름 및 그의 적용이 제공된다. 포토레지스트 필름은 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G" 및 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'를 가지며, 여기서 G" 대 G'(G"/G')의 비는 0.50 내지 10.40의 범위이다.Photoresist films and applications thereof are provided. The photoresist film has a shear loss modulus G" at 30° C. and a shear storage modulus G' at 30° C., where the ratio of G" to G' (G"/G') ranges from 0.50 to 10.40.

Description

포토레지스트 필름 및 그의 적용{PHOTORESIST FILM AND APPLICATION THEREOF}Photoresist film and its application {PHOTORESIST FILM AND APPLICATION THEREOF}

우선권 주장claim priority

본 출원은 2022년 2월 16일 출원된 대만 특허 출원 제111105671호의 이익을 주장하며, 그 대상은 전체가 참조로 본원에 포함된다.This application claims the benefit of Taiwan Patent Application No. 111105671 filed on February 16, 2022, the subject matter of which is incorporated herein by reference in its entirety.

발명의 분야field of invention

본 출원은 포토레지스트 필름, 특히 고-두께 포토레지스트 필름, 및 그의 적용을 제공한다.This application provides photoresist films, particularly high-thickness photoresist films, and applications thereof.

관련 기술의 설명Description of related technologies

일반적으로, 포토레지스트 필름은 수지, 감광성 물질 및 첨가제(들)로 구성되며, 노광 및 현상 후 포토레지스트 필름의 상태에 따라 포지티브형 포토레지스트 필름 또는 네거티브형 포토레지스트 필름일 수 있다. 포지티브형 포토레지스트 필름의 경우, 현상액은 광에 노출된 부분을 용해시켜 광에 노출되지 않은 부분을 남길 것이다. 네거티브형 포토레지스트 필름의 경우, 현상액은 광에 노출되지 않은 부분을 용해시켜 광에 노출된 부분을 남길 것이다.Generally, a photoresist film consists of a resin, a photosensitive material, and additive(s), and may be a positive-type photoresist film or a negative-type photoresist film depending on the state of the photoresist film after exposure and development. In the case of positive photoresist films, the developer will dissolve the areas exposed to light, leaving behind areas that are not exposed to light. In the case of negative photoresist film, the developer will dissolve the parts that are not exposed to light, leaving behind the parts that are exposed to light.

인쇄 회로 기판(PCB) 산업에서, 포토레지스트 필름은 회로 패턴을 형성하기 위한 에칭 공정에 사용된다. 전자 부품의 복잡성과 크기가 증가함에 따라, 인쇄 회로 기판 산업에서는 깊이 대 폭 비가 높은 후막 포토레지스트 필름이 필요하다. 그러나, 기존의 포토레지스트 필름은 기판과의 접착력이 좋지 않거나, 주름이 생기거나, 접착 과정에서 수지 유출이 발생하여 포토레지스트 필름의 두께가 불균일하고 에칭 정확도가 떨어지는 문제점이 있었다.In the printed circuit board (PCB) industry, photoresist films are used in etching processes to form circuit patterns. As the complexity and size of electronic components increases, the printed circuit board industry requires thick photoresist films with high depth-to-width ratios. However, the existing photoresist film had problems such as poor adhesion to the substrate, wrinkles, or resin leakage during the adhesion process, resulting in uneven thickness of the photoresist film and poor etching accuracy.

발명의 요약Summary of the Invention

상기 기술적 문제를 감안하여, 본 출원은 작업성, 접착 성능 및 외관이 우수한 고두께 포토레지스트 필름을 제공한다.In consideration of the above technical problems, the present application provides a high-thickness photoresist film with excellent workability, adhesive performance, and appearance.

따라서, 본 출원의 목적은 30 ℃에서 전단 손실 탄성률(shear loss modulus) G" 및 30 ℃에서 전단 저장 탄성률(shear storage modulus) G'를 갖고 여기서 G" 대 G'의 비(G"/G')는 0.50 내지 10.40의 범위인 포토레지스트 필름을 제공하는 것이다. 본 출원의 일부 실시양태에서, G" 대 G'의 비는 0.50 내지 10.36의 범위이다.Accordingly, the object of the present application is to have a shear loss modulus at 30° C. G" and a shear storage modulus at 30° C. G', wherein the ratio of G" to G' (G"/G' ) ranges from 0.50 to 10.40. In some embodiments of the present application, the ratio of G" to G' ranges from 0.50 to 10.36.

본 출원의 일부 실시양태에서, 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'는 0.001 kPa 내지 4300 kPa의 범위이고, 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G"는 0.08 kPa 내지 1900 kPa의 범위이다.In some embodiments of the present application, the shear storage modulus G' at 30°C ranges from 0.001 kPa to 4300 kPa and the shear loss modulus G" at 30°C ranges from 0.08 kPa to 1900 kPa.

본 출원의 일부 실시양태에서, 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G" 및 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'는 다음 작동 조건하에 레오미터(rheometer)를 사용하여 측정된다: 부착구(fixture)는 25 mm 평행 판 ETC 알루미늄이고, 모드는 전단 모드이며, 침지 시간은 0초이고, 초기 온도는 30 ℃이며, 램프 속도는 3 ℃/분이고, 최종 온도는 150 ℃이며, 램프 후 침지 시간은 0초이고, 압력은 1000 Pa이며, 측정은 단일 지점에서 이루어지고, 진동수는 1 Hz이다.In some embodiments of the present application, the shear loss modulus G" at 30° C. and the shear storage modulus G' at 30° C. are measured using a rheometer under the following operating conditions: The fixture is 25 mm parallel. The plate is ETC aluminum, the mode is shear mode, the immersion time is 0 seconds, the initial temperature is 30 ℃, the ramp rate is 3 ℃/min, the final temperature is 150 ℃, the immersion time after ramp is 0 sec, pressure is 1000 Pa, the measurement is made at a single point, and the frequency is 1 Hz.

본 출원의 일부 실시양태에서, 포토레지스트 필름은 60 μm 내지 600 μm, 예컨대 65 μm 내지 400 μm 범위의 두께를 갖는다.In some embodiments of the present application, the photoresist film has a thickness ranging from 60 μm to 600 μm, such as 65 μm to 400 μm.

본 출원의 일부 실시양태에서, 포토레지스트 필름은 네거티브형 포토레지스트 필름이다.In some embodiments of the present application, the photoresist film is a negative photoresist film.

본 출원의 일부 실시양태에서, 네거티브형 포토레지스트 필름은 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 및 광중합 개시제를 포함한다.In some embodiments of the present application, the negative photoresist film includes a carboxyl-containing (meth)acrylic based polymer and a photopolymerization initiator.

본 출원의 다른 목적은 상기 언급된 포토레지스트 필름 및 상기 포토레지스트 필름의 적어도 한 표면 상에 형성된 보호 필름을 포함하는 복합 필름을 제공하는 것이다.Another object of the present application is to provide a composite film comprising the above-mentioned photoresist film and a protective film formed on at least one surface of the photoresist film.

본 출원의 일부 실시양태에서, 보호 필름은 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름, 폴리올레핀 필름 및 이들의 복합체로 이루어진 군에서 선택된다.In some embodiments of the present application, the protective film is selected from the group consisting of polyethylene terephthalate films, polyolefin films, and composites thereof.

본 출원의 상기 목적, 기술적 특징 및 이점을 보다 명확하게 하기 위해, 이하 일부 특정 실시양태를 참조하여 본 출원을 상세히 설명할 것이다.In order to make the above objects, technical features and advantages of the present application clearer, the present application will be described in detail below with reference to some specific embodiments.

이하, 본 출원의 일부 구체적인 실시양태를 상세히 설명할 것이다. 그러나, 본 출원은 다양한 실시양태로 구현될 수 있으며 본 명세서에서 설명하는 실시양태에 제한되지 않는다.Hereinafter, some specific embodiments of the present application will be described in detail. However, the present application may be implemented in various embodiments and is not limited to the embodiments described herein.

명세서(특히 이어지는 청구범위)에 인용된 표현 "a", "the" 등은 별도의 설명이 없는 한 단수 및 복수 형태를 모두 포함한다.The expressions “a”, “the”, etc. cited in the specification (especially the claims that follow) include both singular and plural forms, unless otherwise specified.

본 명세서에서 언급된 "(메트)아크릴"이라는 용어는 별도의 설명이 없는 한 "아크릴" 및 "메타크릴"을 모두 포함하는 것으로 의도된다. 예를 들어, "카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체"라는 용어는 카복실-함유 아크릴 기반 중합체 및 카복실-함유 메타크릴 기반 중합체를 포괄하는 의미이다. 본 명세서에서 언급된 "(메트)아크릴레이트"라는 용어는 아크릴레이트 및 메타크릴레이트를 포괄하도록 의도된다. 예를 들어, "메틸 (메트)아크릴레이트"라는 용어는 메틸 아크릴레이트 및 메틸 메타크릴레이트를 포괄하도록 의도된다.The term “(meth)acrylic” mentioned herein is intended to include both “acrylic” and “methacrylic” unless otherwise specified. For example, the term “carboxyl-containing (meth)acrylic based polymer” is meant to encompass carboxyl-containing acrylic based polymers and carboxyl-containing methacrylic based polymers. The term “(meth)acrylate” referred to herein is intended to encompass acrylates and methacrylates. For example, the term “methyl (meth)acrylate” is intended to encompass methyl acrylate and methyl methacrylate.

종래 기술에 비해 본 출원의 효과는 주로 포토레지스트 필름의 레올로지 특성(rheological property)을 제어함으로써 우수한 접착 성능, 외관 및 작업성을 갖는 후막 포토레지스트 필름을 제공하는 데 있다. 포토레지스트 필름 및 그 적용에 대해 상세히 설명하면 다음과 같다.Compared to the prior art, the effect of the present application is mainly to provide a thick photoresist film with excellent adhesion performance, appearance, and workability by controlling the rheological properties of the photoresist film. A detailed description of the photoresist film and its application is as follows.

1. 포토레지스트 필름1. Photoresist film

본 출원의 포토레지스트 필름은 특정한 레올로지 특성을 갖는다. 본 출원에서, 포토레지스트 필름은 적합한 중합성 화합물(들)을 사용하여 제조될 수 있다. 포토레지스트 필름의 레올로지 특성 및 예시적인 제조 방법에 대한 상세한 설명은 하기에 제공된다.The photoresist film of the present application has specific rheological properties. In the present application, photoresist films can be prepared using suitable polymerizable compound(s). A detailed description of the rheological properties of the photoresist film and exemplary manufacturing methods is provided below.

1.1. 포토레지스트 필름의 레올로지 특성1.1. Rheological properties of photoresist films

본 출원의 포토레지스트 필름은 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G" 및 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'를 가지며, 여기서 G" 대 G'의 비는 0.50 내지 10.40의 범위이다. 예를 들어, G" 대 G'의 비는 0.50, 0.55, 0.60, 0.65, 0.70, 0.75, 0.80, 0.85, 0.90, 0.95, 1.00, 1.05, 1.10, 1.15, 1.20, 1.25, 1.30, 1.35, 1.40, 1.45, 1.50, 1.55, 1.60, 1.65, 1.70, 1.75, 1.80, 1.85, 1.90, 1.95, 2.00, 2.10, 2.15, 2.20, 2.25, 2.30, 2.35, 2.40, 2.45, 2.50, 2.55, 2.60, 2.65, 2.70, 2.75, 2.80, 2.85, 2.90, 2.95, 3.00, 3.05, 3.10, 3.15, 3.20, 3.25, 3.30, 3.35, 3.40, 3.45, 3.50, 3.55, 3.60, 3.65, 3.70, 3.75, 3.80, 3.85, 3.90, 3.95, 4.00, 4.05, 4.10, 4.15, 4.20, 4.25, 4.30, 4.35, 4.40, 4.45, 4.50, 4.55, 4.60, 4.65, 4.70, 4.75, 4.80, 4.85, 4.90, 4.95, 5.00, 5.05, 5.10, 5.15, 5.20, 5.25, 5.30, 5.35, 5.40, 5.45, 5.50, 5.55, 5.60, 5.65, 5.70, 5.75, 5.80, 5.85, 5.90, 5.95, 6.00, 6.05, 6.10, 6.15, 6.20, 6.25, 6.30, 6.35, 6.40, 6.45, 6.50, 6.55, 6.60, 6.65, 6.70, 6.75, 6.80, 6.85, 6.90, 6.95, 7.00, 7.05, 7.10, 7.15, 7.20, 7.25, 7.30, 7.35, 7.40, 7.45, 7.50, 7.55, 7.60, 7.65, 7.70, 7.75, 7.80, 7.85, 7.90, 7.95, 8.00, 8.05, 8.10, 8.15, 8.20, 8.25, 8.30, 8.35, 8.40, 8.45, 8.50, 8.55, 8.60, 8.65, 8.70, 8.75, 8.80, 8.85, 8.90, 8.95, 9.00, 9.05, 9.10, 9.15, 9.20, 9.25, 9.30, 9.35, 9.40, 9.45, 9.50, 9.55, 9.60, 9.65, 9.70, 9.75, 9.80, 9.85, 9.90, 9.95, 10.00, 10.05, 10.10, 10.15, 10.20, 10.25, 10.30, 10.35, 또는 10.40, 또는 여기에 기재된 임의의 두 값 사이의 범위 내일 수 있다. 본 출원의 일부 실시양태에서, G" 대 G'의 비(G"/G')은 0.50 내지 10.36의 범위이다. G" 대 G'의 비가 제시된 범위보다 낮으면, 기판에 대한 필름의 접착력이 불량하다. 반면에 G" 대 G'의 비가 제시된 범위보다 높으면 포토레지스트 필름에 주름이 생기고 수지 유출이 고르게 일어나 두께가 불균일해지고 에칭 정확성이 좋지 않아진다.The photoresist films of the present application have a shear loss modulus G" at 30°C and a shear storage modulus G' at 30°C, where the ratio of G" to G' ranges from 0.50 to 10.40. For example, the ratio of G" to G' is 0.50, 0.55, 0.60, 0.65, 0.70, 0.75, 0.80, 0.85, 0.90, 0.95, 1.00, 1.05, 1.10, 1.15, 1.20, 1.25, 1.30, 1.35, 1. .40, 1.45, 1.50, 1.55, 1.60, 1.65, 1.70, 1.75, 1.80, 1.85, 1.90, 1.95, 2.00, 2.10, 2.15, 2.20, 2.25, 2.30, 2.35, 2.40, 2.45, 2 .50, 2.55, 2.60, 2.65, 2.70, 2.75, 2.80, 2.85, 2.90, 2.95, 3.00, 3.05, 3.10, 3.15, 3.20, 3.25, 3.30, 3.35, 3.40, 3.45, 3.50, 3.55, 3.60, 3.65, 3.70, 3 .75, 3.80, 3.85, 3.90, 3.95, 4.00, 4.05, 4.10, 4.15, 4.20, 4.25, 4.30, 4.35, 4.40, 4.45, 4.50, 4.55, 4.60, 4.65, 4.70, 4.75, 4.80, 4.85, 4.90, 4.95, 5 .00, 5.05, 5.10, 5.15, 5.20, 5.25, 5.30, 5.35, 5.40, 5.45, 5.50, 5.55, 5.60, 5.65, 5.70, 5.75, 5.80, 5.85, 5.90, 5.95, 6.00, 6.05, 6.10, 6.15, 6.20, 6 .25, 6.30, 6.35, 6.40, 6.45, 6.50, 6.55, 6.60, 6.65, 6.70, 6.75, 6.80, 6.85, 6.90, 6.95, 7.00, 7.05, 7.10, 7.15, 7.20, 7.25, 7.30, 7.35, 7.40, 7.45, 7 .50, 7.55, 7.60, 7.65, 7.70, 7.75, 7.80, 7.85, 7.90, 7.95, 8.00, 8.05, 8.10, 8.15, 8.20, 8.25, 8.30, 8.35, 8.40, 8.45, 8.50, 8.55, 8.60, 8.65, 8.70, 8 .75, 8.80, 8.85, 8.90, 8.95, 9.00, 9.05, 9.10, 9.15, 9.20, 9.25, 9.30, 9.35, 9.40, 9.45, 9.50, 9.55, 9.60, 9.65, 9.70, 9.75, 9.80, 9.85, 9.90, 9.95, 1 0.00, 10.05, 10.10, 10.15, 10.20, It may be 10.25, 10.30, 10.35, or 10.40, or a range between any two values listed herein. In some embodiments of the present application, the ratio of G" to G' (G"/G') ranges from 0.50 to 10.36. If the G" to G' ratio is lower than the suggested range, the adhesion of the film to the substrate is poor. On the other hand, if the G" to G' ratio is higher than the suggested range, wrinkles appear in the photoresist film and resin outflow occurs evenly, increasing the thickness. It becomes uneven and the etching accuracy becomes poor.

G" 대 G'의 비에 관한 상기 조건이 충족된다는 전제하에, 포토레지스트 필름의 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'는 특별히 제한되지 않고 필요에 따라 조정될 수 있다. 일반적으로, 포토레지스트 필름의 30 ℃에서 전단 저장 탄성률(G')은 0.001 kPa 내지 4300 kPa 범위일 수 있다. 예를 들어, 포토레지스트 필름의 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'는 0.001 kPa, 0.005 kPa, 0.01 kPa, 0.05 kPa, 0.1 kPa, 0.5 kPa, 1 kPa, 5 kPa, 10 kPa, 20 kPa, 30 kPa, 40 kPa, 50 kPa, 60 kPa, 70 kPa, 80 kPa, 90 kPa, 100 kPa, 150 kPa, 200 kPa, 250 kPa, 300 kPa, 350 kPa, 400 kPa, 450 kPa, 500 kPa, 550 kPa, 600 kPa, 650 kPa, 700 kPa, 750 kPa, 800 kPa, 850 kPa, 900 kPa, 950 kPa, 1000 kPa, 1050 kPa, 1100 kPa, 1150 kPa, 1200 kPa, 1250 kPa, 1300 kPa, 1350 kPa, 1400 kPa, 1450 kPa, 1500 kPa, 1550 kPa, 1600 kPa, 1650 kPa, 1700 kPa, 1750 kPa, 1800 kPa, 1850 kPa, 1900 kPa, 1950 kPa, 2000 kPa, 2050 kPa, 2100 kPa, 2150 kPa, 2200 kPa, 2250 kPa, 2300 kPa, 2350 kPa, 2400 kPa, 2450 kPa, 2500 kPa, 2550 kPa, 2600 kPa, 2650 kPa, 2700 kPa, 2750 kPa, 2800 kPa, 2850 kPa, 2900 kPa, 2950 kPa, 3000 kPa, 3050 kPa, 3100 kPa, 3150 kPa, 3200 kPa, 3250 kPa, 3300 kPa, 3350 kPa, 3400 kPa, 3450 kPa, 3500 kPa, 3550 kPa, 3600 kPa, 3650 kPa, 3700 kPa, 3750 kPa, 3800 kPa, 3850 kPa, 3900 kPa, 3950 kPa, 4000 kPa, 4050 kPa, 4100 kPa, 4150 kPa, 4200 kPa, 4250 kPa, 또는 4300 kPa, 또는 여기에 기재된 임의의 두 값 사이의 범위 내일 수 있다. G' 값이 제시된 범위의 하한보다 낮으면, 포토레지스트 필름은 외력을 받았을 때 두께가 불균일해질 수 있다. 한편, G' 값이 제시된 범위의 상한보다 높으면 외력을 받을 때 포토레지스트 필름이 크랙되기 쉽다. 본 출원의 일부 실시양태에서, 포토레지스트 필름은 30 ℃에서 10 kPa 내지 2100 kPa 범위의 전단 저장 탄성률 G'를 갖는다.Provided that the above conditions regarding the ratio of G" to G' are met, the shear storage modulus G' at 30°C of the photoresist film is not particularly limited and can be adjusted as needed. Generally, the shear storage modulus at 30°C of the photoresist film is not limited, and can be adjusted as needed. The shear storage modulus (G') may range from 0.001 kPa to 4300 kPa. For example, the shear storage modulus (G') at 30° C. of the photoresist film may be 0.001 kPa, 0.005 kPa, 0.01 kPa, 0.05 kPa, 0.1 kPa. , 0.5 kPa, 1 kPa, 5 kPa, 10 kPa, 20 kPa, 30 kPa, 40 kPa, 50 kPa, 60 kPa, 70 kPa, 80 kPa, 90 kPa, 100 kPa, 150 kPa, 200 kPa, 250 kPa, 300 kPa, 350 kPa, 400 kPa, 450 kPa, 500 kPa, 550 kPa, 600 kPa, 650 kPa, 700 kPa, 750 kPa, 800 kPa, 850 kPa, 900 kPa, 950 kPa, 1000 kPa, 1050 kPa, 1100 kPa, 1150 kPa, 1200 kPa, 1250 kPa, 1300 kPa, 1350 kPa, 1400 kPa, 1450 kPa, 1500 kPa, 1550 kPa, 1600 kPa, 1650 kPa, 1700 kPa, 1750 kPa, 1800 kPa, 1850 kPa, 1 900 kPa, 1950 kPa , 2000 kPa, 2050 kPa, 2100 kPa, 2150 kPa, 2200 kPa, 2250 kPa, 2300 kPa, 2350 kPa, 2400 kPa, 2450 kPa, 2500 kPa, 2550 kPa, 2600 kPa, 2650 kPa, 2700 kPa, 2750 kPa, 2800 kPa, 2850 kPa, 2900 kPa, 2950 kPa, 3000 kPa, 3050 kPa, 3100 kPa, 3150 kPa, 3200 kPa, 3250 kPa, 3300 kPa, 3350 kPa, 3400 kPa, 3450 kPa, 3500 kPa, 3550 kPa , 3600 kPa, 3650 kPa, 3700 kPa, 3750 kPa, 3800 kPa, 3850 kPa, 3900 kPa, 3950 kPa, 4000 kPa, 4050 kPa, 4100 kPa, 4150 kPa, 4200 kPa, 4250 kPa, or 4300 kPa, or any two listed herein. It can be a range between values. If the G' value is lower than the lower limit of the suggested range, the photoresist film may have uneven thickness when subjected to external force. On the other hand, if the G' value is higher than the upper limit of the suggested range, the photoresist film is likely to crack when subjected to external force. In some embodiments of the present application, the photoresist film has a shear storage modulus G' at 30°C ranging from 10 kPa to 2100 kPa.

G" 대 G'의 비에 관한 상기 조건이 충족된다는 전제하에, 포토레지스트 필름의 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G"는 특별히 제한되지 않고 필요에 따라 조정될 수 있다. 일반적으로, 포토레지스트 필름의 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G"는 0.08 kPa 내지 1900 kPa 범위일 수 있다. 예를 들어, 포토레지스트 필름의 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G"는 0.08 kPa, 0.1 kPa, 0.5 kPa, 1 kPa, 5 kPa, 10 kPa, 20 kPa, 30 kPa, 40 kPa, 50 kPa, 60 kPa, 70 kPa, 80 kPa, 90 kPa, 100 kPa, 150 kPa, 200 kPa, 250 kPa, 300 kPa, 350 kPa, 400 kPa, 450 kPa, 500 kPa, 550 kPa, 600 kPa, 650 kPa, 700 kPa, 750 kPa, 800 kPa, 850 kPa, 900 kPa, 950 kPa, 1000 kPa, 1050 kPa, 1100 kPa, 1150 kPa, 1200 kPa, 1250 kPa, 1300 kPa, 1350 kPa, 1400 kPa, 1450 kPa, 1500 kPa, 1550 kPa, 1600 kPa, 1650 kPa, 1700 kPa, 1750 kPa, 1800 kPa, 1850 kPa, 또는 1900 kPa, 또는 여기에 기재된 임의의 두 값 사이의 범위 내일 수 있다. G" 값이 제시된 범위의 하한보다 낮으면 막을 형성하기가 어렵다. 한편, G" 값이 제시된 범위의 상한보다 높으면 포토레지스트 필름의 두께가 불균일해질 가능성이 있다. 본 출원의 일부 실시양태에서, 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G"는 140 kPa 내지 1860 kPa의 범위이다.Provided that the above conditions regarding the ratio of G" to G' are met, the shear loss modulus G" at 30° C. of the photoresist film is not particularly limited and can be adjusted as necessary. Typically, the shear loss modulus G" at 30 °C of the photoresist film may range from 0.08 kPa to 1900 kPa. For example, the shear loss modulus G" at 30 °C of the photoresist film may be 0.08 kPa, 0.1 kPa, 0.5 kPa, 1 kPa, 5 kPa, 10 kPa, 20 kPa, 30 kPa, 40 kPa, 50 kPa, 60 kPa, 70 kPa, 80 kPa, 90 kPa, 100 kPa, 150 kPa, 200 kPa, 250 kPa, 300 kPa, 350 kPa, 400 kPa, 450 kPa, 500 kPa, 550 kPa, 600 kPa, 650 kPa, 700 kPa, 750 kPa, 800 kPa, 850 kPa, 900 kPa, 950 kPa, 1000 kPa, 1050 kPa, 1100 kPa, 1150 kPa, 1150 kPa , 1200 kPa, 1250 kPa, 1300 kPa, 1350 kPa, 1400 kPa, 1450 kPa, 1500 kPa, 1550 kPa, 1600 kPa, 1650 kPa, 1700 kPa, 1750 kPa, 1800 kPa, 1850 kPa, or 1900 kPa , or here It can be in the range between any two values listed. If the G" value is lower than the lower limit of the presented range, it is difficult to form a film. On the other hand, if the G" value is higher than the upper limit of the presented range, the thickness of the photoresist film may become uneven. In some embodiments of the present application, the shear loss modulus G" at 30° C. ranges from 140 kPa to 1860 kPa.

30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G" 및 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'는 다음 작업 조건하에 레오미터를 사용하여 측정된다: 부착구는 25 mm 평행 판 ETC 알루미늄이고, 모드는 전단 모드이며, 침지 시간은 0초이고, 초기 온도는 30 ℃이며, 램프 속도는 3 ℃/분이고, 최종 온도는 150 ℃이며, 램프 후 침지 시간은 0초이고, 압력은 1000 Pa이며, 측정은 단일 지점에서 이루어지고, 진동수는 1 Hz이다. 자세한 측정 방법은 아래 실시예 섹션에 설명되어 있다.The shear loss modulus G" at 30 °C and the shear storage modulus G' at 30 °C are measured using a rheometer under the following operating conditions: the attachment is 25 mm parallel plate ETC aluminum, the mode is shear mode, and the immersion time is 0. seconds, the initial temperature is 30 °C, the ramp rate is 3 °C/min, the final temperature is 150 °C, the immersion time after the ramp is 0 seconds, the pressure is 1000 Pa, the measurement is made at a single point, and the frequency is 1 Hz. Detailed measurement methods are described in the Examples section below.

포토레지스트 필름의 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G" 대 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'의 비(G"/G')는 포토레지스트 필름에 잔류 용매의 비율을 제어하거나, 포토레지스트 필름의 제조를 위한 수지의 유형을 제어하는 것과 같이 포토레지스트 필름의 성분을 제어하거나, 또는 포토레지스트 필름의 제조를 위한 수지와 가교제 사이의 비를 제어함으로써 조정할 수 있다. 일반적으로, 포토레지스트 필름에서 잔류 용매의 비가 낮을수록 G"/G' 값이 낮아지고; 수지의 유리 전이 온도(Tg)가 높을수록 또는 수지 대 가교제의 비가 높을수록(즉, 수지의 비율이 높을수록) G"/G' 값이 낮아진다.The ratio of the shear loss modulus at 30 °C, G", of the photoresist film to the shear storage modulus, G' at 30 °C (G"/G'), is used to control the proportion of residual solvent in the photoresist film, or to control the proportion of residual solvent in the photoresist film. It can be adjusted by controlling the components of the photoresist film, such as by controlling the type of resin, or by controlling the ratio between the resin and the crosslinking agent for producing the photoresist film. In general, the lower the ratio of residual solvent in a photoresist film, the lower the G"/G' value; the higher the glass transition temperature (Tg) of the resin or the higher the ratio of resin to crosslinker (i.e., the higher the ratio of resin to crosslinker). As the value increases, the G"/G' value decreases.

본 출원의 포토레지스트 필름은 작업성, 접착 성능 및 외관이 우수할 뿐만 아니라 고두께로 형성될 수 있다는 장점이 있다. 일반적으로, 본 출원의 포토레지스트 필름은 60 μm 내지 600 μm, 보다 구체적으로 65 μm 내지 400 μm 범위의 두께를 가질 수 있다. 예를 들어, 본 출원의 포토레지스트 필름은 60 μm, 65 μm, 70 μm, 75 μm, 80 μm, 85 μm, 90 μm, 95 μm, 100 μm, 105 μm, 115 μm, 120 μm, 125 μm, 130 μm, 135 μm, 140 μm, 145 μm, 150 μm, 155 μm, 160 μm, 165 μm, 170 μm, 175 μm, 180 μm, 185 μm, 190 μm, 195 μm, 200 μm, 205 μm, 210 μm, 215 μm, 220 μm, 225 μm, 230 μm, 235 μm, 240 μm, 245 μm, 250 μm, 255 μm, 260 μm, 265 μm, 270 μm, 275 μm, 280 μm, 285 μm, 290 μm, 295 μm, 300 μm, 305 μm, 310 μm, 315 μm, 320 μm, 325 μm, 330 μm, 335 μm, 340 μm, 345 μm, 350 μm, 355 μm, 360 μm, 365 μm, 370 μm, 375 μm, 380 μm, 385 μm, 390 μm, 395 μm, 400 μm, 405 μm, 410 μm, 415 μm, 420 μm, 425 μm, 430 μm, 435 μm, 440 μm, 445 μm, 450 μm, 455 μm, 460 μm, 465 μm, 470 μm, 475 μm, 480 μm, 485 μm, 490 μm, 495 μm, 500 μm, 505 μm, 510 μm, 515 μm, 520 μm, 525 μm, 530 μm, 535 μm, 540 μm, 545 μm, 550 μm, 555 μm, 560 μm, 565 μm, 570 μm, 575 μm, 580 μm, 585 μm, 590 μm, 595 μm, 또는 600 μm, 또는 여기에 기재된 임의의 두 값 사이의 범위 내의 두께를 가질 수 있다. 본 출원의 일부 실시양태에서, 포토레지스트 필름은 65 μm 내지 350 μm 범위의 두께를 갖는다. 포토레지스트 필름의 두께가 더 두꺼울수록 더 두꺼운 금속 전도층을 허용한다. 따라서, 본 출원의 포토레지스트 필름은 전도층의 도금 전 패터닝을 위한 2.5D 및 3D 집적 회로의 패키지에 특히 적합하고 더 넓은 적용 범위를 갖는다.The photoresist film of the present application not only has excellent workability, adhesion performance, and appearance, but also has the advantage of being able to be formed to a high thickness. Generally, the photoresist film of the present application may have a thickness ranging from 60 μm to 600 μm, more specifically 65 μm to 400 μm. For example, the photoresist film of the present application has 60 μm, 65 μm, 70 μm, 75 μm, 80 μm, 85 μm, 90 μm, 95 μm, 100 μm, 105 μm, 115 μm, 120 μm, 125 μm, 130 μm, 135 μm, 140 μm, 145 μm, 150 μm, 155 μm, 160 μm, 165 μm, 170 μm, 175 μm, 180 μm, 185 μm, 190 μm, 195 μm, 200 μm, 205 μm, 210 μm , 215 μm, 220 μm, 225 μm, 230 μm, 235 μm, 240 μm, 245 μm, 250 μm, 255 μm, 260 μm, 265 μm, 270 μm, 275 μm, 280 μm, 285 μm, 290 μm, 295 μm, 300 μm, 305 μm, 310 μm, 315 μm, 320 μm, 325 μm, 330 μm, 335 μm, 340 μm, 345 μm, 350 μm, 355 μm, 360 μm, 365 μm, 370 μm, 375 μm, 380 μm, 385 μm, 390 μm, 395 μm, 400 μm, 405 μm, 410 μm, 415 μm, 420 μm, 425 μm, 430 μm, 435 μm, 440 μm, 445 μm, 450 μm, 455 μm, 460 μm , 465 μm, 470 μm, 475 μm, 480 μm, 485 μm, 490 μm, 495 μm, 500 μm, 505 μm, 510 μm, 515 μm, 520 μm, 525 μm, 530 μm, 535 μm, 540 μm, 545 thickness within the range of μm, 550 μm, 555 μm, 560 μm, 565 μm, 570 μm, 575 μm, 580 μm, 585 μm, 590 μm, 595 μm, or 600 μm, or between any two values listed herein. You can have it. In some embodiments of the present application, the photoresist film has a thickness ranging from 65 μm to 350 μm. A thicker photoresist film allows for a thicker metal conductive layer. Therefore, the photoresist film of the present application is particularly suitable for packaging of 2.5D and 3D integrated circuits for patterning before plating of the conductive layer and has a wider application range.

본 출원의 포토레지스트 필름은 포지티브형 포토레지스트 필름 또는 네거티브형 포토레지스트 필름일 수 있다. 본 출원의 일부 실시양태에서, 본 출원의 포토레지스트 필름은 네거티브형 포토레지스트 필름으로서; 즉, 현상액은 광에 노출되지 않은 포토레지스트 필름 부분을 용해시켜 광에 노출된 포토레지스트 필름 부분을 남길 것이다.The photoresist film of the present application may be a positive photoresist film or a negative photoresist film. In some embodiments of the present application, the photoresist film of the present application is a negative photoresist film; That is, the developer will dissolve the portions of the photoresist film that have not been exposed to light, leaving behind the portions of the photoresist film that have been exposed to light.

1.2. 포토레지스트 필름의 성분1.2. Ingredients of photoresist film

30 ℃에서 전단 손실 탄성률 대 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'의 비가 0.50 내지 10.40의 범위를 충족시킨다는 전제하에, 본 출원의 포토레지스트 필름의 성분은 필요에 따라 조절될 수 있다. 본 출원의 일부 실시양태에서, 포토레지스트 필름은 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 및 광중합 개시제를 포함하거나, 또는 본질적으로 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 및 광중합 개시제로 이루어지거나, 또는 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 및 광중합 개시제로 이루어진 네거티브형 포토레지스트 필름이다.The components of the photoresist film of the present application can be adjusted as needed, provided that the ratio of the shear loss modulus at 30° C. to the shear storage modulus G' at 30° C. satisfies the range of 0.50 to 10.40. In some embodiments of the present application, the photoresist film comprises a carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer and a photopolymerization initiator, or consists essentially of a carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer and a photopolymerization initiator, or is a carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer and a photopolymerization initiator. It is a negative photoresist film composed of a (meth)acrylic-based polymer and a photopolymerization initiator.

여기서, 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체는 (메트)아크릴산 기반 화합물(들)로부터 형성된 중합체 또는 공중합체, 또는 (메트)아크릴산 기반 화합물(들)과 다른 중합성 화합물(들)로부터 형성된 공중합체이다. (메트)아크릴산 기반 화합물이란 분자 내에 비닐기(들)(불포화 이중 결합 함유) 및 카복실기(들)를 함유하는 (메트)아크릴산 화합물을 지칭하며, 그 예로는 아크릴산 및 메타크릴산을 들 수 있으나 이에만 제한되지 않는다. 각각의 (메트)아크릴산 기반 화합물은 단독으로 또는 조합하여 사용될 수 있다. 다른 중합성 화합물은 비닐-함유 화합물(들)과 같이 불포화 이중 결합(들)을 함유하는 (메트)아크릴산 기반 화합물 이외의 임의의 화합물일 수 있다. 상기 다른 중합성 화합물의 예는 (메트)아크릴레이트 기반 화합물 및 폴리아크릴아미드를 포함하지만 이에 제한되지 않는다. (메트)아크릴레이트 기반 화합물의 예로는 메틸 아크릴레이트, 에틸 아크릴레이트, 부틸 아크릴레이트, 2-에틸헥실 아크릴레이트, 메틸 메타크릴레이트, 에틸 메타크릴레이트, 부틸 메타크릴레이트, 2-에틸헥실 메타크릴레이트, 이소부틸 아크릴레이트, 하이드록시프로필 아크릴레이트, 2-하이드록시에틸 아크릴레이트, 이소트리데실 아크릴레이트, o-페닐페녹시에틸 아크릴레이트, 라우릴 아크릴레이트, 사이클릭 트리메틸올프로판 포르말 아크릴레이트, 이소데실 아크릴레이트, 옥틸 아크릴레이트, 테트라하이드로푸르푸릴 아크릴레이트, 이소보르닐 아크릴레이트, 2-(2-에톡시에톡시)에틸 아크릴레이트, 2-페녹시에틸 아크릴레이트를 포함하지만 이에 제한되지 않는다. 상기 언급된 중합성 화합물은 단독으로 또는 임의의 조합으로 사용될 수 있다.Here, the carboxyl-containing (meth)acrylic based polymer is a polymer or copolymer formed from (meth)acrylic acid based compound(s), or a copolymer formed from (meth)acrylic acid based compound(s) and another polymerizable compound(s). am. (meth)acrylic acid-based compounds refer to (meth)acrylic acid compounds containing vinyl group(s) (containing unsaturated double bonds) and carboxyl group(s) in the molecule, examples of which include acrylic acid and methacrylic acid. It is not limited to this. Each (meth)acrylic acid-based compound can be used alone or in combination. Other polymerizable compounds may be any compounds other than (meth)acrylic acid based compounds containing unsaturated double bond(s), such as vinyl-containing compound(s). Examples of such other polymerizable compounds include, but are not limited to, (meth)acrylate-based compounds and polyacrylamide. Examples of (meth)acrylate based compounds include methyl acrylate, ethyl acrylate, butyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl methacrylate, butyl methacrylate, 2-ethylhexyl methacrylate. acrylate, isobutyl acrylate, hydroxypropyl acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, isotridecyl acrylate, o-phenylphenoxyethyl acrylate, lauryl acrylate, cyclic trimethylolpropane formal acrylate , isodecyl acrylate, octyl acrylate, tetrahydrofurfuryl acrylate, isobornyl acrylate, 2-(2-ethoxyethoxy)ethyl acrylate, 2-phenoxyethyl acrylate. No. The above-mentioned polymerizable compounds can be used alone or in any combination.

본 출원의 바람직한 일 실시양태에서, 카복실-함유 (메타)아크릴 기반 중합체는 (메타)아크릴산 기반 화합물과 (메타)아크릴레이트 기반 화합물로 형성된 공중합체이다. (메트)아크릴산 기반 화합물은 아크릴산, 메타크릴산, 또는 이들의 조합일 수 있다. (메트)아크릴레이트 기반 화합물은 메틸 메타크릴레이트, 부틸 아크릴레이트, 2-에틸헥실 아크릴레이트 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. (메트)아크릴산 기반 화합물 대 (메트)아크릴레이트 기반 화합물의 중량비는 0.05 내지 0.4의 범위일 수 있다. 예를 들어, (메트)아크릴산 기반 화합물 대 (메트)아크릴레이트 화합물의 중량비는 0.05, 0.1, 0.15, 0.2, 0.25, 0.3, 0.35, 또는 0.4, 또는 여기에 기재된 임의의 두 값 사이의 범위 내일 수 있다.In a preferred embodiment of the present application, the carboxyl-containing (meth)acrylic based polymer is a copolymer formed from a (meth)acrylic acid based compound and a (meth)acrylate based compound. The (meth)acrylic acid-based compound may be acrylic acid, methacrylic acid, or a combination thereof. The (meth)acrylate-based compound may be selected from the group consisting of methyl methacrylate, butyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, and combinations thereof. The weight ratio of (meth)acrylic acid-based compound to (meth)acrylate-based compound may range from 0.05 to 0.4. For example, the weight ratio of (meth)acrylic acid-based compound to (meth)acrylate compound can be 0.05, 0.1, 0.15, 0.2, 0.25, 0.3, 0.35, or 0.4, or a range between any two values listed herein. there is.

본 출원의 포토레지스트 필름의 G" 대 G'의 비가 충족된다는 전제하에, 포토레지스트 필름에 포함된 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체의 분자량은 특별히 제한되지 않는다. 일반적으로, 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체의 분자량은 30,000 내지 200,000일 수 있다. 예를 들어, 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체의 분자량은 30,000, 35,000, 40,000, 45,000, 50,000, 55,000, 60,000, 65,000, 70,000, 75,000, 80,000, 85,000, 90,000, 95,000, 100,000, 105,000, 110,000, 115,000, 120,000, 125,000, 130,000, 135,000, 140,000, 145,000, 150,000, 155,000, 160,000, 165,000, 170,000, 175,000, 180,000, 185,000, 190,000, 195,000, 또는 200,000, 또는 여기에 기재된 임의의 두 값 사이의 범위 내일 수 있지만, 본 출원이 이에 제한되는 것은 아니다.Provided that the ratio of G" to G' of the photoresist film of the present application is satisfied, the molecular weight of the carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer contained in the photoresist film is not particularly limited. In general, the carboxyl-containing (meth)acrylic based polymer is not limited. ) The molecular weight of the acrylic-based polymer may be 30,000 to 200,000.For example, the molecular weight of the carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer may be 30,000, 35,000, 40,000, 45,000, 50,000, 55,000, 60,000, 65,000, 70, 000, 75,000, 80,000, 85,000, 90,000, 95,000, 100,000, 105,000, 110,000, 115,000, 120,000, 125,000, 130,000, 135,000, 140,000, 145,000, 150,000, 155,000, 160,000, 165,000, 170,000, 175,000, 180,000, 185,000, 190,000, 195,000, or 200,000 , or a range between any two values described herein, but the application is not limited thereto.

본 출원의 포토레지스트 필름에서, 광중합 개시제의 종류는 특별히 제한되지 않으며, 당업계에 공지된 임의의 광중합 개시제일 수 있다. 당업계에 공지된 광중합 개시제의 예로는 비이미다졸 기반 화합물, 미힐러 케톤(Michler's ketone) 기반 화합물을 들 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 포토레지스트 필름에서 광중합 개시제의 양 또한 목적하는 중합 반응을 촉진시키는 효과가 제공되는 한 특별히 제한되지 않는다. 일반적으로, 광중합 개시제의 함량은 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 100 중량부에 대해 0.5 내지 15 중량부일 수 있다. 예를 들어, 광중합 개시제의 함량은 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 100 중량부에 대해 0.5, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 또는 15 중량부, 또는 여기에 기재된 임의의 두 값 사이의 범위 내일 수 있다.In the photoresist film of the present application, the type of photopolymerization initiator is not particularly limited, and may be any photopolymerization initiator known in the art. Examples of photopolymerization initiators known in the art include, but are not limited to, biimidazole-based compounds and Michler's ketone-based compounds. The amount of photopolymerization initiator in the photoresist film is also not particularly limited as long as it has the effect of promoting the desired polymerization reaction. Generally, the content of the photopolymerization initiator may be 0.5 to 15 parts by weight based on 100 parts by weight of the carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer. For example, the content of photopolymerization initiator is 0.5, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13 for 100 parts by weight of carboxyl-containing (meth)acrylic based polymer. , 14, or 15 parts by weight, or a range between any two values set forth herein.

본 출원의 일부 실시양태에서, 포토레지스트 필름은 상기 언급된 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 및 광중합 개시제를 포함하고, 가교제를 더 포함하는 네거티브형 포토레지스트 필름이다. 가교제는 당업계에 공지된 임의의 통상적인 다작용성 불포화 단량체일 수 있다. 예를 들어, 다작용성 불포화 단량체는 다작용성 아크릴레이트 기반 불포화 단량체일 수 있다. 이의 예는 에톡실화 트리메틸올프로판 트리아크릴레이트, 트리프로필렌 글리콜 디아크릴레이트, 1,6-헥산디올 디아크릴레이트, 에톡실화 비스페놀-A 디아크릴레이트, 폴리프로필렌 글리콜 디아크릴레이트 및 디펜타에리트리톨 헥사아크릴레이트를 포함하지만 이에 제한되지 않는다. 본 출원의 포토레지스트 필름의 G" 대 G'의 비의 조건이 충족되는 것을 전제로, 포토레지스트 필름에서 가교제의 양은 목적하는 가교 효과가 제공될 수 있는 한 특별히 제한되지 않는다. 일반적으로, 가교제의 함량은 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 100 중량부에 대해 10 내지 100 중량부일 수 있다. 예를 들어, 가교제의 함량은 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 100 중량부에 대해 10, 15, 20, 25, 30, 35, 40, 45, 50, 55, 60, 65, 70, 75, 80, 85, 90, 95, 또는 100 중량부, 또는 여기에 기재된 임의의 두 값 사이의 범위 내일 수 있다.In some embodiments of the present application, the photoresist film is a negative photoresist film comprising the above-mentioned carboxyl-containing (meth)acrylic based polymer and a photopolymerization initiator, and further comprising a crosslinking agent. The cross-linking agent may be any conventional multifunctional unsaturated monomer known in the art. For example, the multifunctional unsaturated monomer can be a multifunctional acrylate based unsaturated monomer. Examples thereof are ethoxylated trimethylolpropane triacrylate, tripropylene glycol diacrylate, 1,6-hexanediol diacrylate, ethoxylated bisphenol-A diacrylate, polypropylene glycol diacrylate and dipentaerythritol hexamethylene. Including, but not limited to, acrylates. Provided that the conditions of the ratio of G" to G' of the photoresist film of the present application are met, the amount of the crosslinking agent in the photoresist film is not particularly limited as long as the desired crosslinking effect can be provided. In general, the amount of the crosslinking agent is The content may be 10 to 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer.For example, the content of the crosslinking agent may be 10, 15, or 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer. 20, 25, 30, 35, 40, 45, 50, 55, 60, 65, 70, 75, 80, 85, 90, 95, or 100 parts by weight, or a range between any two values listed herein. there is.

본 출원의 다른 바람직한 실시양태에서, 포토레지스트 필름은 상기 언급된 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 및 광중합 개시제를 포함하고, 상기 언급된 용매 및 선택적인 가교제를 더 포함하는 네거티브형 포토레지스트 필름이다. 상기 용매는 포토레지스트 필름의 각 성분을 용해 또는 분산시킬 수 있지만 이들 성분과 반응하지 않는 임의의 불활성 용매일 수 있다. 용매의 예는 테트라하이드로푸란, 케톤, 메틸 에틸 케톤, 메틸 아세테이트, 에틸 아세테이트, 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르, 메탄올, 에탄올, 프로필렌 글리콜 메틸 에테르 아세테이트 및 γ-부티로락톤을 포함하지만 이에 제한되지 않는다. 상기 언급된 용매는 단독으로 또는 임의의 조합으로 사용될 수 있다.In another preferred embodiment of the present application, the photoresist film is a negative photoresist film comprising the above-mentioned carboxyl-containing (meth)acrylic based polymer and a photopolymerization initiator, and further comprising the above-mentioned solvent and an optional crosslinking agent. . The solvent may be any inert solvent that can dissolve or disperse each component of the photoresist film but does not react with these components. Examples of solvents include, but are not limited to, tetrahydrofuran, ketone, methyl ethyl ketone, methyl acetate, ethyl acetate, propylene glycol monomethyl ether, methanol, ethanol, propylene glycol methyl ether acetate, and γ-butyrolactone. The above-mentioned solvents can be used alone or in any combination.

상기 언급된 선택적이고 필수적인 성분들 외에, 본 출원의 포토레지스트 필름은 선택적으로 당업계에 공지된 하나 이상의 첨가제를 포함할 수 있다. 첨가제의 예는 염료, 안료, 라디칼 억제제 및 계면활성제를 포함하지만 이에 제한되지 않는다. 첨가제는 단독으로 또는 임의의 조합으로 사용할 수 있다.In addition to the optional and essential components mentioned above, the photoresist film of the present application may optionally include one or more additives known in the art. Examples of additives include, but are not limited to, dyes, pigments, radical inhibitors, and surfactants. Additives can be used alone or in any combination.

1.3. 포토레지스트 필름의 제조1.3. Manufacture of photoresist film

본 출원의 포토레지스트 필름의 제조 방법은 특별히 제한되지 않는다. 당업자는 본 출원의 설명의 개시내용에 기초하여 포토레지스트 필름을 제조할 수 있을 것이다. 예를 들어, 상기 언급된 네거티브형 포토레지스트 필름을 제조하는 경우, 포토레지스트 필름은 다음과 같은 공정에 의해 제조될 수 있다: 포토레지스트 필름의 각 성분(카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체, 광중합 개시제 및 기타 선택적인 가교제(들) 또는 첨가제(들) 포함)을 교반기로 균일하게 혼합하고 이들을 용매에 용해 또는 분산시켜 수지 조성물을 제공하는 단계; 상기 수지 조성물을 기판 상에 코팅한 후, 코팅된 수지 조성물을 건조시켜 포토레지스트 필름을 얻는 단계. 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체는 촉매의 존재하에서 (메트)아크릴산 기반 화합물 및 (메트)아크릴레이트 화합물과 같은 중합성 화합물(들)의 부가 반응에 의해 제조될 수 있다. 구체적인 제조 방법은 하기 실시예에 기재되어 있다.The manufacturing method of the photoresist film of the present application is not particularly limited. Those skilled in the art will be able to prepare photoresist films based on the disclosure of the description of this application. For example, when manufacturing the above-mentioned negative-type photoresist film, the photoresist film can be manufactured by the following process: each component of the photoresist film (carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer, photopolymerization uniformly mixing the initiator and other optional crosslinking agent(s) or additive(s) with a stirrer and dissolving or dispersing them in a solvent to provide a resin composition; After coating the resin composition on a substrate, drying the coated resin composition to obtain a photoresist film. Carboxyl-containing (meth)acrylic based polymers can be prepared by addition reaction of polymerizable compound(s) such as (meth)acrylic acid based compounds and (meth)acrylate compounds in the presence of a catalyst. Specific manufacturing methods are described in the examples below.

2. 포토레지스트 필름의 적용2. Application of photoresist film

일반적으로, 포토레지스트 필름의 각 표면은 포토레지스트 필름의 저장을 용이하게 하고 손상 및 이물질의 오염을 방지하기 위해 사용 전에 보호층으로 덮일 것이다. 따라서, 본 출원은 또한 상기 언급된 본 출원의 포토레지스트 필름 및 포토레지스트 필름의 적어도 한 표면 상에 형성된 보호 필름을 포함하는 복합 필름을 제공한다. 본 출원의 바람직한 실시양태에서, 포토레지스트 필름의 각 표면 상에 보호 필름이 형성되며, 상기 포토레지스트 필름의 표면 상에 형성되는 보호 필름의 재질은 동일하거나 상이할 수 있다.Typically, each surface of the photoresist film will be covered with a protective layer before use to facilitate storage of the photoresist film and prevent damage and contamination by foreign substances. Accordingly, the present application also provides a composite film comprising the above-mentioned photoresist film of the present application and a protective film formed on at least one surface of the photoresist film. In a preferred embodiment of the present application, a protective film is formed on each surface of the photoresist film, and the material of the protective film formed on the surface of the photoresist film may be the same or different.

보호 필름의 종류는 특별히 제한되지 않으며, 당업계에 공지된 임의의 통상적인 필름일 수 있다. 예를 들어, 보호 필름은 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름(PET 필름), 폴리올레핀 필름 및 이들의 복합체로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. 폴리올레핀 필름의 예는 폴리에틸렌 필름(PE 필름) 및 폴리프로필렌 필름(PP 필름), 예컨대 배향된 폴리프로필렌 필름을 포함하나 이에 제한되지 않는다. 복합체는 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름과 폴리올레핀 필름의 복합체 또는 상이한 폴리올레핀 필름의 복합체일 수 있다. 본 출원의 바람직한 일 실시양태에서, 복합 필름은 포토레지스트 필름의 한 표면 상에 형성된 PET 필름 및 포토레지스트 필름의 다른 표면 상에 형성된 PE 필름을 포함한다.The type of protective film is not particularly limited and may be any conventional film known in the art. For example, the protective film may be selected from the group consisting of polyethylene terephthalate film (PET film), polyolefin film, and composites thereof. Examples of polyolefin films include, but are not limited to, polyethylene films (PE films) and polypropylene films (PP films), such as oriented polypropylene films. The composite may be a composite of a polyethylene terephthalate film and a polyolefin film or a composite of different polyolefin films. In one preferred embodiment of the present application, the composite film comprises a PET film formed on one surface of the photoresist film and a PE film formed on the other surface of the photoresist film.

본 출원의 복합 필름의 제조 방법은 특별히 제한되지 않으며, 당업계에 공지된 임의의 방법일 수 있다. 당해 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 출원의 설명의 개시내용에 기초하여 복합 필름을 제조할 수 있을 것이다. 예를 들어, 복합 필름은 포토레지스트 필름의 양 표면 상에 보호 필름을 쌓아 적층체를 제공하고 상기 적층체를 압축하여 복합 필름을 수득함으로써 제조될 수 있다. 대안적으로, 복합 필름은 제1 보호 필름 상에 포토레지스트 필름의 형성을 위한 수지 조성물을 코팅하고, 코팅된 수지 조성물을 건조시켜 제1 보호 필름 상에 포토레지스트 필름을 형성한 후, 제1 보호 필름과 접촉해 있지 않은 포토레지스트 필름의 표면 상에 제2 보호 필름을 접착함으로써 제조될 수 있다. 대안적으로, 복합 필름은, 포토레지스트 필름의 형성을 위한 수지 조성물을 소정의 간격으로 이격된 2개의 보호 필름 사이의 위치로 압출한 후, 압출된 수지 조성물을 건조시켜 2개의 보호 필름 사이에 포토레지스트 필름을 형성함으로써 제조될 수도 있다.The method for producing the composite film of the present application is not particularly limited and may be any method known in the art. Those skilled in the art will be able to prepare composite films based on the disclosure of the description of this application. For example, a composite film can be produced by stacking a protective film on both surfaces of a photoresist film to provide a laminate and compressing the laminate to obtain a composite film. Alternatively, the composite film may be formed by coating a resin composition for forming a photoresist film on a first protective film, drying the coated resin composition to form a photoresist film on the first protective film, and then forming a photoresist film on the first protective film. It can be prepared by adhering a second protective film onto the surface of the photoresist film that is not in contact with the film. Alternatively, the composite film is made by extruding a resin composition for forming a photoresist film into a position between two protective films spaced at a predetermined interval, then drying the extruded resin composition to form a photoresist film between the two protective films. It can also be manufactured by forming a resist film.

3. 실시예3. Examples

3.1. 시험 방법3.1. Test Methods

[전단 저장 탄성률 G' 및 전단 손실 탄성률 G"의 측정][Measurement of shear storage modulus G' and shear loss modulus G"]

포토레지스트 필름을 기포를 제거하면서 여러 번 접어 두께 1.2 mm 내지 1.4 mm의 샘플을 제조하였다. 레오미터(모델: Discovery HR-2, TA instrument, Inc; Trios 소프트웨어 버전: 3.1.0.3538)를 사용하여 샘플에 대한 측정을 수행하였으며, 이때의 작업 조건은 다음과 같다: 부착구는 25 mm 평행 판 ETC 알루미늄이고, 모드는 전단 모드이며, 침지 시간은 0초이고, 초기 온도는 30 ℃이며, 램프 속도는 3 ℃/분이고, 최종 온도는 150 ℃이며, 램프 후 침지 시간은 0초이고, 압력은 1000 Pa이며, 측정은 단일 지점에서 이루어지고, 진동수는 1 Hz이다. 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G" 및 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'를 기록하고 G" 대 G'의 비(G"/G')을 계산하였다.The photoresist film was folded several times while removing air bubbles to prepare samples with a thickness of 1.2 mm to 1.4 mm. Measurements were performed on the samples using a rheometer (model: Discovery HR-2, TA instrument, Inc; Trios software version: 3.1.0.3538) with the following working conditions: the attachment port was a 25 mm parallel plate ETC. aluminum, the mode is shear mode, the immersion time is 0 seconds, the initial temperature is 30 ℃, the ramp rate is 3 ℃/min, the final temperature is 150 ℃, the immersion time after ramp is 0 sec, the pressure is 1000 Pa, the measurement is made at a single point, and the frequency is 1 Hz. The shear loss modulus G" at 30°C and the shear storage modulus G' at 30°C were recorded and the ratio of G" to G' (G"/G') was calculated.

[포토레지스트 필름의 주름 시험][Wrinkle test of photoresist film]

제조된 복합 필름을 길이 30 m, 폭 300 mm의 슬릿 롤에 권취하여 23 ℃ 내지 27 ℃의 온도에서 1시간 동안 두었다. 그 후, 슬릿 롤로부터 길이 5 m의 복합 필름을 제거하고, 복합 필름의 PE 보호 필름을 박리하였다. 그 후, 제거한 3 m 내지 5 m의 포토레지스트 필름의 표면을 맨눈으로 관찰하고, 길이 10 mm 이상, 폭 1 mm 이상의 주름의 수를 기록하였다.The prepared composite film was wound on a slit roll with a length of 30 m and a width of 300 mm and placed at a temperature of 23° C. to 27° C. for 1 hour. After that, the 5 m long composite film was removed from the slit roll, and the PE protective film of the composite film was peeled. Afterwards, the surface of the removed 3 m to 5 m photoresist film was observed with the naked eye, and the number of wrinkles with a length of 10 mm or more and a width of 1 mm or more was recorded.

[포토레지스트 필름의 100-그리드 접착력 시험][100-grid adhesion test of photoresist film]

포토레지스트 필름의 100-그리드 접착력 시험을 ASTM D3359에 따라 하기 방식으로 수행하였다. 두께 1.6 mm의 구리 피복 적층판(Chang Chun Plastics Co., Ltd. 제품; 모델: CCP-308) - 구리 피복 적층판의 동박 두께는 35 μm임 -을 준비하였다. 구리 피복 적층판을 #320 부직포 브러시 휠 및 #600 부직포 브러시 휠을 이용하여 브러시 연삭하고, 구리 피복 적층판의 동박 표면 온도를 50 ℃로 조절하였다. 제조된 복합 필름의 표면 상에 PE 보호 필름을 박리한 후, 포토레지스트 필름이 구리 피복 적층판의 동박 표면과 대향하도록 동박 표면에 PET 보호 필름과 함께 포토레지스트 필름을 쌓은 후, 라미네이터로 적층하여 샘플을 제공하였다. 적층 온도는 80 ℃이고, 적층 압력은 3.0 k g/㎠이며, 적층 속도는 2.0 m/분이었다. 샘플 상의 PET 필름을 박리하고, 샘플의 포토레지스트 필름을 블레이드를 사용하여 1 mm 내지 1.2 mm의 간격으로 100개의 10×10 정사각형 그리드로 절단하였다. 3M사에서 생산한 투명 테이프(모델명: 3M Transparent 600)를 그리드에서 포토레지스트 필름 표면에 접착하였다. 이어, 테이프를 기판에 대해 45도 각도로 신속히 박리하였다. 전체 그리드에 대한 포토레지스트 필름이 박리된 그리드의 수를 계산하여 백분율로 기록하였다.100-grid adhesion testing of photoresist films was performed in the following manner according to ASTM D3359. A copper clad laminate with a thickness of 1.6 mm (manufactured by Chang Chun Plastics Co., Ltd.; model: CCP-308) - the copper foil thickness of the copper clad laminate was 35 μm - was prepared. The copper clad laminate was brush ground using a #320 nonwoven brush wheel and a #600 nonwoven brush wheel, and the copper foil surface temperature of the copper clad laminate was adjusted to 50°C. After peeling off the PE protective film on the surface of the manufactured composite film, the photoresist film along with the PET protective film was stacked on the copper foil surface so that the photoresist film faces the copper foil surface of the copper clad laminate, and then laminated with a laminator to prepare the sample. provided. The stacking temperature was 80°C, the stacking pressure was 3.0 kg/cm2, and the stacking speed was 2.0 m/min. The PET film on the sample was peeled off, and the photoresist film of the sample was cut into 100 10×10 square grids at intervals of 1 mm to 1.2 mm using a blade. A transparent tape produced by 3M (model name: 3M Transparent 600) was attached to the photoresist film surface in a grid. The tape was then quickly peeled off at a 45 degree angle with respect to the substrate. The number of grids in which the photoresist film was peeled relative to the entire grid was calculated and recorded as a percentage.

[수지 유출 시험][Resin leak test]

구리 피복 적층판의 동박의 두께가 35 μm인 1.6 mm 두께의 구리 피복 적층판을 제조하였다. 구리 피복 적층판을 #320 부직포 브러시 휠 및 #600 부직포 브러시 휠을 이용하여 브러시 연삭하고, 구리 피복 적층판의 동박 표면 온도를 50 ℃로 조절하였다. 제조된 복합 필름의 표면 상에 PE 보호 필름을 박리한 후, 포토레지스트 필름이 구리 피복 적층판의 동박 표면과 대향하도록 동박 표면에 PET 보호 필름과 함께 포토레지스트 필름을 쌓은 후, 라미네이터로 적층하였다. 적층 온도는 80 ℃이고, 적층 압력은 3.0 k g/㎠이며, 적층 속도는 2.0 m/분이었다. 적층 시 맨눈으로 관찰하여 포토레지스트 필름의 가장자리에서 수지가 흘러나오는지 확인하였다. 수지가 유출되면 수지 유출이 발생한 것으로 판단한다.A 1.6 mm thick copper clad laminate with a copper foil thickness of 35 μm was manufactured. The copper clad laminate was brush ground using a #320 nonwoven brush wheel and a #600 nonwoven brush wheel, and the copper foil surface temperature of the copper clad laminate was adjusted to 50°C. After peeling off the PE protective film on the surface of the prepared composite film, the photoresist film was stacked with the PET protective film on the copper foil surface so that the photoresist film faced the copper foil surface of the copper clad laminate, and then laminated with a laminator. The stacking temperature was 80°C, the stacking pressure was 3.0 kg/cm2, and the stacking speed was 2.0 m/min. During lamination, it was observed with the naked eye to check whether the resin was flowing out from the edge of the photoresist film. If resin leaks, it is determined that a resin leak has occurred.

3.2. 포토레지스트 필름의 제조 및 시험3.2. Manufacturing and testing of photoresist films

3.2.1. 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체의 합성3.2.1. Synthesis of carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymers

[합성예 1][Synthesis Example 1]

공중합 단량체로서, 메타크릴산 15 g, 메틸 메타크릴레이트 60 g 및 부틸 아크릴레이트 25 g을 아조비스이소헵틸니트릴 0.5 g과 혼합하여 용액 a1을 제조하였다. 아조비스이소헵틸니트릴 0.5 g을 20 g의 에틸 아세테이트 용매에 용해시켜 용액 b1을 제조하였다. 교반기, 환류 냉각기, 온도계, 피펫이 구비된 플라스크를 준비하고, 플라스크에 에틸 아세테이트 80 g을 첨가한 후 70 ℃로 가열하였다. 이어, 용액 a1을 3시간 내에 일정한 속도로 플라스크에 적가하고, 플라스크 내의 용액을 70 ℃의 온도로 유지하고 2시간 동안 교반하였다. 그 후, 용액 b1을 0.5시간 내에 일정한 속도로 플라스크에 적가하고, 플라스크 내의 용액을 70 ℃의 온도로 유지하고 5시간 동안 교반하였다. 이후, 플라스크 내의 용액을 90 ℃로 가열하고 5시간 동안 교반하여 반응이 충분히 수행되도록 하였다. 반응 종료 후, 생성물을 실온으로 냉각하여 중량 평균 분자량이 55,000이고, 고형분이 50 중량%인 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 A(이하, "중합체 A"라고도 함)를 수득하였다.As copolymerization monomers, 15 g of methacrylic acid, 60 g of methyl methacrylate, and 25 g of butyl acrylate were mixed with 0.5 g of azobisoheptylnitrile to prepare solution a1. Solution b1 was prepared by dissolving 0.5 g of azobisoheptylnitrile in 20 g of ethyl acetate solvent. A flask equipped with a stirrer, reflux condenser, thermometer, and pipette was prepared, and 80 g of ethyl acetate was added to the flask and heated to 70°C. Next, solution a1 was added dropwise to the flask at a constant rate within 3 hours, and the solution in the flask was maintained at a temperature of 70° C. and stirred for 2 hours. After that, solution b1 was added dropwise to the flask at a constant rate within 0.5 hours, and the solution in the flask was maintained at a temperature of 70° C. and stirred for 5 hours. Afterwards, the solution in the flask was heated to 90°C and stirred for 5 hours to ensure that the reaction was sufficiently performed. After completion of the reaction, the product was cooled to room temperature to obtain carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer A (hereinafter also referred to as “polymer A”) with a weight average molecular weight of 55,000 and a solid content of 50% by weight.

[합성예 2][Synthesis Example 2]

공중합 단량체로서, 메타크릴산 15 g, 메틸 메타크릴레이트 65 g 및 부틸 아크릴레이트 20 g을 아조비스이소헵틸니트릴 0.43 g과 혼합하여 용액 a2를 제조하였다. 아조비스이소헵틸니트릴 0.5 g을 20 g의 에틸 아세테이트 용매에 용해시켜 용액 b2를 제조하였다. 교반기, 환류 냉각기, 온도계, 피펫이 구비된 플라스크를 준비하고, 플라스크에 에틸 아세테이트 80 g을 첨가한 후 70 ℃로 가열하였다. 그 후, 용액 a2를 3시간 내에 일정한 속도로 플라스크에 적가하고, 플라스크 내의 용액을 70 ℃의 온도로 유지하고 2시간 동안 교반하였다. 그 후, 용액 b2를 0.5시간 내에 일정한 속도로 플라스크에 적가하고, 플라스크 내의 용액을 70 ℃의 온도로 유지하고 5시간 동안 교반하였다. 이후 플라스크 내의 용액을 90 ℃로 가열하고 5시간 동안 교반하여 반응이 충분히 수행되도록 하였다. 반응 종료 후, 생성물을 실온으로 냉각하여 중량 평균 분자량이 65,000이고, 고형분이 45 중량%인 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 B(이하, "중합체 B"라고도 함)를 수득하였다.As copolymerization monomers, 15 g of methacrylic acid, 65 g of methyl methacrylate, and 20 g of butyl acrylate were mixed with 0.43 g of azobisoheptylnitrile to prepare solution a2. Solution b2 was prepared by dissolving 0.5 g of azobisoheptylnitrile in 20 g of ethyl acetate solvent. A flask equipped with a stirrer, reflux condenser, thermometer, and pipette was prepared, and 80 g of ethyl acetate was added to the flask and heated to 70°C. After that, solution a2 was added dropwise to the flask at a constant rate within 3 hours, and the solution in the flask was maintained at a temperature of 70° C. and stirred for 2 hours. Afterwards, solution b2 was added dropwise to the flask at a constant rate within 0.5 hours, and the solution in the flask was maintained at a temperature of 70° C. and stirred for 5 hours. Afterwards, the solution in the flask was heated to 90°C and stirred for 5 hours to ensure sufficient reaction. After completion of the reaction, the product was cooled to room temperature to obtain carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer B (hereinafter also referred to as “polymer B”) with a weight average molecular weight of 65,000 and a solid content of 45% by weight.

[합성예 3][Synthesis Example 3]

공중합 단량체로서, 메타크릴산 20 g, 메틸 메타크릴레이트 40 g 및 2-에틸헥실 아크릴레이트 40 g을 아조비스이소헵틸니트릴 0.5 g과 혼합하여 용액 a3을 제조하였다. 아조비스이소헵틸니트릴 0.5 g을 20 g의 에틸 아세테이트 용매에 용해시켜 용액 b3을 제조하였다. 교반기, 환류 냉각기, 온도계, 피펫이 구비된 플라스크를 준비하고, 플라스크에 에틸 아세테이트 80 g을 첨가한 후 70 ℃로 가열하였다. 그 후, 용액 a3을 3시간 내에 일정한 속도로 플라스크에 적가하고, 플라스크 내의 용액을 70 ℃의 온도로 유지하고 2시간 동안 교반하였다. 그 후, 용액 b3을 0.5시간 내에 일정한 속도로 플라스크에 적가하고, 플라스크 내의 용액을 70 ℃의 온도로 유지하고 5시간 동안 교반하였다. 이후 플라스크 내의 용액을 90 ℃로 가열하고 5시간 동안 교반하여 반응이 충분히 수행되도록 하였다. 반응 종료 후, 생성물을 실온으로 냉각하여 중량 평균 분자량이 55,000이고, 고형분이 50 중량%인 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 C(이하, "중합체 C"라고도 함)를 수득하였다.As a copolymerization monomer, 20 g of methacrylic acid, 40 g of methyl methacrylate, and 40 g of 2-ethylhexyl acrylate were mixed with 0.5 g of azobisoheptylnitrile to prepare solution a3. Solution b3 was prepared by dissolving 0.5 g of azobisoheptylnitrile in 20 g of ethyl acetate solvent. A flask equipped with a stirrer, reflux condenser, thermometer, and pipette was prepared, and 80 g of ethyl acetate was added to the flask and heated to 70°C. After that, solution a3 was added dropwise to the flask at a constant rate within 3 hours, and the solution in the flask was maintained at a temperature of 70° C. and stirred for 2 hours. Thereafter, solution b3 was added dropwise to the flask at a constant rate within 0.5 hours, and the solution in the flask was maintained at a temperature of 70° C. and stirred for 5 hours. Afterwards, the solution in the flask was heated to 90°C and stirred for 5 hours to ensure sufficient reaction. After completion of the reaction, the product was cooled to room temperature to obtain carboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer C (hereinafter also referred to as “polymer C”) with a weight average molecular weight of 55,000 and a solid content of 50% by weight.

3.2.3. 포토레지스트 필름의 제조3.2.3. Manufacture of photoresist film

하기 실시예 및 비교예에서 사용한 원료에 대한 정보를 하기 표 1에 나타내었다.Information on the raw materials used in the following examples and comparative examples is shown in Table 1 below.

원료 목록Raw Material List 원료Raw material 설명explanation 중합체 Apolymer A 합성예 1에서 제조된 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 ACarboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer A prepared in Synthesis Example 1 중합체 Bpolymer B 합성예 2에서 제조된 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 BCarboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer B prepared in Synthesis Example 2 중합체 Cpolymer C 합성예 3에서 제조된 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 CCarboxyl-containing (meth)acrylic-based polymer C prepared in Synthesis Example 3 3EO TMPTA3EO TMPTA 가교제, 에톡실화 트리메틸올프로판 트리아크릴레이트, CAS number: 28961-43-5Crosslinking agent, ethoxylated trimethylolpropane triacrylate, CAS number: 28961-43-5 BCIM-HABIBCIM-HABI 광중합 개시제, 1,2'-비스(2-클로로페닐)-테트라페닐 비이미다졸, CAS number: 7189-82-4Photopolymerization initiator, 1,2'-bis(2-chlorophenyl)-tetraphenyl biimidazole, CAS number: 7189-82-4 EABFEABF 광중합 개시제, 4,4'-비스(디에틸아미노)-벤조페논, CAS number: 90-93-7Photopolymerization initiator, 4,4'-bis(diethylamino)-benzophenone, CAS number: 90-93-7 C.I.42040C.I.42040 염료, 브릴리언트 그린, 중황산염, CAS number: 633-03-4Dye, brilliant green, bisulfate, CAS number: 633-03-4 THFTHF 용매, 테트라하이드로푸란, CAS number: 109-99-9Solvent, tetrahydrofuran, CAS number: 109-99-9

성분들을 표 2-1 내지 표 2-3에 나타낸 비율로 혼합하고 1시간 동안 교반을 통해 균일하게 혼합하여 수지 조성물을 얻었다. 표 2-1 내지 2-3에 나타낸 코팅 및 건조 조건에 따라 고다이라 권선봉(Kodaira wire-wound rod)으로 보호 필름으로 제공되는 PET 필름 상에 수지 조성물을 코팅하였다. 그런 다음, 코팅된 수지 조성물을 오븐에서 건조시켰다. 그 후, 건조된 수지 조성물의 표면을 보호 필름으로 제공되는 PE 필름으로 덮어 실시예 1 내지 9 및 비교예 1 내지 5 각각의 보호 필름으로 덮인 포토레지스트 필름(즉, 복합 필름)을 수득하였다.The ingredients were mixed in the ratios shown in Tables 2-1 to 2-3 and mixed uniformly by stirring for 1 hour to obtain a resin composition. The resin composition was coated on the PET film serving as a protective film using a Kodaira wire-wound rod according to the coating and drying conditions shown in Tables 2-1 to 2-3. Then, the coated resin composition was dried in an oven. Thereafter, the surface of the dried resin composition was covered with a PE film serving as a protective film to obtain a photoresist film (i.e., composite film) covered with the protective film of each of Examples 1 to 9 and Comparative Examples 1 to 5.

3.2.4. 포토레지스트 필름의 시험3.2.4. Testing of photoresist films

실시예 1 내지 9 및 비교예 1 내지 5의 포토레지스트 필름을 전단 저장 탄성률 G' 및 전단 손실 탄성률 G" 시험, 100-그리드 접착력 시험, 주름 시험 및 수지 유출 시험을 포함한 상술된 시험 방법에 따라 시험하고, 그 결과를 표 3-1 내지 표 3-3에 정리하였다.The photoresist films of Examples 1 to 9 and Comparative Examples 1 to 5 were tested according to the above-described test methods, including shear storage modulus G' and shear loss modulus G" test, 100-grid adhesion test, wrinkle test and resin runoff test. And the results are summarized in Table 3-1 to Table 3-3.

표 3-1 내지 표 3-3에 나타낸 바와 같이, 본 출원의 포토레지스트 필름은 박리율이 낮으며, 즉 기판과의 접착력이 우수하다. 본 출원의 포토레지스트 필름은 또한 주름이 관찰되지 않았기 때문에 우수한 외관을 갖는다. 또한, 본 출원의 포토레지스트 필름의 작업 동안 수지 유출이 발생하지 않아 작업성이 우수하다. 이에 반해, 비교예 1 및 2에 나타난 바와 같이, 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G" 대 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'의 비가 0.50 미만인 경우 포토레지스트 필름의 접착력은 좋지 않고 100-그리드 시험에서 훨씬 더 높은 박리율을 나타낸다. 또한, 비교예 3 내지 5에 나타난 바와 같이, 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G" 대 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'의 비가 10.40을 초과하는 경우, 포토레지스트 필름은 주름이 존재하여 외관이 불량하다. 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G" 대 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'의 비가 10.50보다 큰 경우(비교예 3 및 4), 포토레지스트 필름은 작업 중에 수지 유출 문제까지 갖고, 즉 포토레지스트 필름의 작업성이 좋지 않아 실제 사용에 적합하지 않다.As shown in Tables 3-1 to 3-3, the photoresist film of the present application has a low peeling rate, that is, excellent adhesion to the substrate. The photoresist film of the present application also has an excellent appearance since no wrinkles were observed. In addition, the workability is excellent because no resin leakage occurs during the work of the photoresist film of this application. In contrast, as shown in Comparative Examples 1 and 2, when the ratio of shear loss modulus G" at 30 °C to shear storage modulus G' at 30 °C is less than 0.50, the adhesion of the photoresist film is poor and much worse in the 100-grid test. In addition, as shown in Comparative Examples 3 to 5, when the ratio of the shear loss modulus G" at 30 ° C to the shear storage modulus G' at 30 ° C exceeds 10.40, the photoresist film has wrinkles. Therefore, the appearance is poor. If the ratio of the shear loss modulus G" at 30 ℃ to the shear storage modulus G' at 30 ℃ is greater than 10.50 (Comparative Examples 3 and 4), the photoresist film even has the problem of resin leakage during operation, that is, the workability of the photoresist film is reduced. This is not good and is not suitable for actual use.

상기 실시예는 본 출원의 원리 및 효과를 예시하고 본 출원의 독창적인 특징을 나타낸다. 당업자는 설명된 본 발명의 개시 및 제안에 기초하여 다양한 수정 및 대체를 수행할 수 있다. 따라서, 본 출원의 보호 범위는 이어지는 청구범위에 정의된 바와 같다.The above examples illustrate the principles and effects of the present application and reveal the original features of the present application. Those skilled in the art will be able to make various modifications and substitutions based on the teachings and suggestions of the invention described. Accordingly, the scope of protection of this application is as defined in the claims that follow.

Claims (10)

30 ℃에서 전단 손실 탄성률(shear loss modulus) G" 및 30 ℃에서 전단 저장 탄성률(shear storage modulus) G'를 갖고, 상기 G" 대 G'의 비(G"/G')는 0.50 내지 10.40의 범위이며,
30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G" 및 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'는 하기 작동 조건하에서 레오미터(rheometer)를 사용하여 측정됨: 부착구는 25 mm 평행 판 ETC 알루미늄이고, 모드는 전단 모드이며, 침지 시간은 0초이고, 초기 온도는 30 ℃이며, 램프 속도는 3 ℃/분이고, 최종 온도는 150 ℃이며, 램프 후 침지 시간은 0초이고, 압력은 1000 Pa이며, 측정은 단일 지점에서 이루어지고, 진동수는 1 Hz이며,
네거티브형 포토레지스트 필름인 포토레지스트 필름.
It has a shear loss modulus G" at 30° C. and a shear storage modulus G' at 30° C., wherein the ratio of G" to G'(G"/G') is between 0.50 and 10.40. range,
The shear loss modulus G" at 30 °C and the shear storage modulus G' at 30 °C were measured using a rheometer under the following operating conditions: attachment is 25 mm parallel plate ETC aluminum, mode is shear mode, immersion. The time is 0 s, the initial temperature is 30 °C, the ramp rate is 3 °C/min, the final temperature is 150 °C, the post-ramp immersion time is 0 s, the pressure is 1000 Pa, the measurement is made at a single point, , the frequency is 1 Hz,
Photoresist film, a negative photoresist film.
제1항에 있어서, G" 대 G'의 비는 0.50 내지 10.36의 범위인, 포토레지스트 필름.The photoresist film of claim 1, wherein the ratio of G" to G' ranges from 0.50 to 10.36. 제1항에 있어서, 30 ℃에서 전단 저장 탄성률 G'는 0.001 kPa 내지 4300 kPa이고, 30 ℃에서 전단 손실 탄성률 G"는 0.08 kPa 내지 1900 kPa인, 포토레지스트 필름.The photoresist film of claim 1, wherein the shear storage modulus G' at 30°C is from 0.001 kPa to 4300 kPa and the shear loss modulus G" at 30°C is from 0.08 kPa to 1900 kPa. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 두께가 60 μm 내지 600 μm의 범위인, 포토레지스트 필름.4. The photoresist film according to any one of claims 1 to 3, wherein the thickness ranges from 60 μm to 600 μm. 제4항에 있어서, 두께가 65 μm 내지 400 μm의 범위인, 포토레지스트 필름.5. The photoresist film of claim 4, wherein the thickness ranges from 65 μm to 400 μm. 제1항에 있어서, 카복실-함유 (메트)아크릴 기반 중합체 및 광중합 개시제를 포함하는 포토레지스트 필름.The photoresist film of claim 1, comprising a carboxyl-containing (meth)acrylic based polymer and a photopolymerization initiator. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항의 포토레지스트 필름; 및
상기 포토레지스트 필름의 적어도 한 표면 상에 형성된 보호 필름을 포함하는 복합 필름.
The photoresist film of any one of claims 1 to 3; and
A composite film comprising a protective film formed on at least one surface of the photoresist film.
제7항에 있어서, 상기 보호 필름이 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름, 폴리올레핀 필름 및 이들의 복합체로 이루어진 군에서 선택되는, 복합 필름.The composite film according to claim 7, wherein the protective film is selected from the group consisting of polyethylene terephthalate film, polyolefin film, and composites thereof. 삭제delete 삭제delete
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005070692A1 (en) 2004-01-27 2005-08-04 Asahi Kasei Chemicals Corporation Process for producing printing substrate capable of laser sculpture
WO2010134549A1 (en) 2009-05-20 2010-11-25 旭化成イーマテリアルズ株式会社 Photosensitive resin composition
JP4748812B2 (en) * 2005-11-21 2011-08-17 旭化成イーマテリアルズ株式会社 Flexographic printing plate
JP2021196482A (en) 2020-06-12 2021-12-27 旭化成株式会社 Photosensitive resin composition containing low dielectric loss tangent agent

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002278058A (en) 2002-05-30 2002-09-27 Hitachi Chem Co Ltd Photosensitive element
KR101922354B1 (en) * 2014-09-24 2018-11-26 아사히 가세이 가부시키가이샤 Photosensitive resin composition, photosensitive resin laminate, resin pattern production method, cured film, and display device
CN116157741A (en) 2020-08-25 2023-05-23 富士胶片株式会社 Transfer film, method for producing laminate, and method for producing circuit wiring

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005070692A1 (en) 2004-01-27 2005-08-04 Asahi Kasei Chemicals Corporation Process for producing printing substrate capable of laser sculpture
JP4748812B2 (en) * 2005-11-21 2011-08-17 旭化成イーマテリアルズ株式会社 Flexographic printing plate
WO2010134549A1 (en) 2009-05-20 2010-11-25 旭化成イーマテリアルズ株式会社 Photosensitive resin composition
JP2021196482A (en) 2020-06-12 2021-12-27 旭化成株式会社 Photosensitive resin composition containing low dielectric loss tangent agent

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