KR102576100B1 - Test Apparatus And Method Of Fabricating Display Device - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 검사장치 및 이를 이용한 표시장치의 제조방법에 관한 것이다. 다수의 검사용 게이트제어신호 및 다수의 검사용 데이터신호를 생성하는 검사영상생성부와, 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 순차적으로 측정하는 순간전류측정부와, 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 전달받아 소비전류를 산출하는 소비전류산출부를 포함하는 검사장치를 제공한다. 표시패널에 다수의 게이트배선, 다수의 데이터배선 및 게이트구동부를 형성하는 단계와, 검사장치를 이용하여 게이트구동부에 다수의 검사용 게이트제어신호를 인가하고 다수의 데이터배선에 다수의 검사용 데이터신호를 인가하는 단계와, 다수의 검사용 게이트제어신호로부터 게이트구동부의 소비전류를 산출하는 단계와, 표시패널에 구동부를 부착하는 단계를 포함하는 표시장치의 제조방법을 제공한다. 표시패널 완성 후 교류신호를 이용하여 게이트구동부의 소비전류를 검출하여 표시패널의 양불을 판정함으로써, 수율이 개선되고 제조비용이 절감됨과 동시에 양불 판정의 정확성이 향상된다. The present invention relates to an inspection device and a manufacturing method of a display device using the same. An inspection image generating unit that generates a plurality of inspection gate control signals and a plurality of inspection data signals, an instantaneous current measurement unit that sequentially measures the instantaneous current of the plurality of inspection gate control signals, and a plurality of inspection gate controls Provided is a test device including a current consumption calculation unit receiving an instantaneous current of a signal and calculating current consumption. Forming a plurality of gate wires, a plurality of data wires, and a gate driver on a display panel; applying a plurality of gate control signals for inspection to the gate driver using an inspection device; and applying a plurality of data signals for inspection to the plurality of data wires. A manufacturing method of a display device is provided, which includes applying a voltage, calculating current consumption of a gate driver from a plurality of gate control signals for inspection, and attaching a driver to a display panel. After the completion of the display panel, by detecting current consumption of the gate driver using an AC signal to determine pass/fail of the display panel, yield is improved, manufacturing cost is reduced, and accuracy of pass/fail judgment is improved.

Description

검사장치 및 이를 이용한 표시장치의 제조방법 {Test Apparatus And Method Of Fabricating Display Device}Inspection device and method of manufacturing a display device using the same {Test Apparatus And Method Of Fabricating Display Device}

본 발명은 검사장치에 관한 것으로, 특히 게이트구동부의 소비전류를 검출하여 표시패널의 양불을 판정하는 표시장치용 검사장치 및 이를 이용한 표시장치의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection device, and more particularly, to an inspection device for a display device for determining pass/fail of a display panel by detecting current consumption of a gate driver and a manufacturing method of the display device using the same.

근래에 들어 사회가 본격적인 정보화 시대로 접어듦에 따라 대량의 정보를 처리 및 표시하는 표시장치 분야가 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응하여 여러 가지 다양한 표시장치가 개발되어 각광받고 있다. BACKGROUND OF THE INVENTION [0002] In recent years, as society has entered an information age in earnest, the field of display devices for processing and displaying large amounts of information has been rapidly developed.

이 같은 표시장치의 구체적인 예로는, 액정표시장치(liquid crystal display: LCD), 플라즈마표시장치(plasma display panel: PDP), 전계방출표시장치(field emission display: FED), 유기발광다이오드 표시장치(organic light emitting diode: OLED) 등을 들 수 있는데, 이들 표시장치는 박형화, 경량화, 저소비전력화의 우수한 성능을 보여 기존의 브라운관(cathode ray tube: CRT)을 빠르게 대체하고 있다.Specific examples of such a display device include a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), a field emission display (FED), and an organic light emitting diode display (organic). light emitting diode (OLED) and the like, and these display devices are rapidly replacing the existing cathode ray tube (CRT) by showing excellent performance in thinning, light weight, and low power consumption.

이러한 표시장치는, 영상을 표시하는 표시패널과, 표시패널에 다수의 신호를 공급하는 구동부를 포함하고, 구동부는 주로 인쇄회로기판(printed circuit board: PCB)으로 구현되는데, 표시패널에 부착되는 인쇄회로기판은 표시장치의 부피 및 무게 증가의 원인이 된다. Such a display device includes a display panel for displaying an image and a driver for supplying a plurality of signals to the display panel, and the driver is mainly implemented as a printed circuit board (PCB), which is attached to the display panel. The circuit board causes an increase in the volume and weight of the display device.

이에 따라, 구동부 중 쉬프트레지스터(shift register)와 같은 게이트구동부를 표시패널에 직접 형성하고, 나머지 회로를 하나의 인쇄회로기판으로 구현하여 인쇄회로기판의 부피 및 무게를 최소화하는 게이트-인-패널(gate in panel: GIP) 타입의 구동부가 제안되었다. Accordingly, a gate-in-panel that minimizes the volume and weight of the printed circuit board by forming a gate driver such as a shift register among the drivers directly on the display panel and implementing the remaining circuits as a single printed circuit board ( A gate in panel (GIP) type drive unit has been proposed.

한편, 게이트-인-패널 타입의 게이트구동부를 구성하는 박막트랜지스터의 초기 문턱전압(Vth) 특성에 따라 게이트 구동부의 신뢰성과 소비전력이 상반된 경향을 보이는데, 예를 들어, 박막트랜지스터의 초기 문턱전압이 양의 방향으로 이동(positive shift)한 경우 게이트구동부의 출력은 안정적이 되지만 신뢰성이 저하되고, 박막트랜지스터의 초기 문턱전압이 음의 방향으로 이동(negative shift)한 경우, 게이트구동부의 신뢰성은 향상되지만 소비전력이 증가하고 출력이 불안정해질 수 있다.On the other hand, the reliability and power consumption of the gate driver show opposite tendencies depending on the initial threshold voltage (Vth) characteristics of the thin film transistor constituting the gate driver of the gate-in-panel type. For example, the initial threshold voltage of the thin film transistor When the initial threshold voltage of the thin film transistor shifts in the positive direction (positive shift), the output of the gate driver becomes stable but the reliability decreases. When the initial threshold voltage of the thin film transistor moves in the negative direction (negative shift), the reliability of the gate driver improves Power consumption increases and output may become unstable.

이에 따라, 게이트-인-패널 타입의 게이트구동부의 신뢰성을 향상시키기 위하여, 박막트랜지스터의 초기 문턱전압이 음의 방향으로 이동하도록 조정하여 게이트-인-패널 타입의 게이트구동부를 형성한다.Accordingly, in order to improve the reliability of the gate driver of the gate-in-panel type, the gate driver of the gate-in-panel type is formed by adjusting the initial threshold voltage of the thin film transistor to move in a negative direction.

그러나, 신뢰성 향상의 반대 급부로, 게이트-인-패널 타입의 게이트구동부의 소비전력이 과도하게 증가하는 경우가 발생할 수 있으므로, 표시장치 완성 후 소비전력 검사단계를 수행하는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다. However, since the power consumption of the gate driver of the gate-in-panel type may increase excessively as a counterpoint to reliability improvement, a power consumption inspection step is performed after completing the display device, which will be described with reference to the drawings. do.

도 1은 종래의 표시장치의 소비전력 검사단계를 설명하기 위한 도면이다.1 is a diagram for explaining a power consumption inspection step of a conventional display device.

도 1에 도시한 바와 같이, 종래의 표시장치는, 타이밍제어부(20), 데이터구동부(30), 게이트구동부(40) 및 표시패널(50)을 포함한다.As shown in FIG. 1 , a conventional display device includes a timing controller 20 , a data driver 30 , a gate driver 40 and a display panel 50 .

타이밍제어부(20)는, 영상신호(IS)와 데이터인에이블신호(DE), 수평동기신호(HSY), 수직동기신호(VSY), 클럭(CLK)을 이용하여, 게이트제어신호(GCS), 데이터제어신호(DCS) 및 영상데이터(RGB)를 생성하고, 생성된 데이터제어신호(DCS) 및 영상데이터(RGB)를 데이터구동부(30)에 공급하고, 생성된 게이트제어신호(GCS)를 게이트구동부(40)에 공급한다. The timing controller 20 uses the video signal IS, the data enable signal DE, the horizontal synchronization signal HSY, the vertical synchronization signal VSY, and the clock CLK to generate the gate control signal GCS, The data control signal (DCS) and the image data (RGB) are generated, the generated data control signal (DCS) and the image data (RGB) are supplied to the data driver 30, and the generated gate control signal (GCS) is sent to the gate. supplied to the drive unit 40.

데이터구동부(30)는, 데이터제어신호(DCS) 및 영상데이터(RGB)를 이용하여 데이터신호를 생성하고, 생성된 데이터신호를 표시패널(50)의 데이터배선(DL)에 공급한다. The data driver 30 generates a data signal using the data control signal DCS and the image data RGB, and supplies the generated data signal to the data line DL of the display panel 50 .

게이트구동부(40)는, 게이트제어신호(GCS)를 이용하여 게이트신호를 생성하고, 생성된 게이트신호를 표시패널(50)의 게이트배선(GL)에 공급한다. The gate driver 40 generates a gate signal using the gate control signal GCS and supplies the generated gate signal to the gate line GL of the display panel 50 .

표시패널(20)은, 게이트신호 및 데이터신호를 이용하여 영상을 표시하고 다수의 화소(P)를 포함하는 표시영역(DA)과, 표시영역(DA) 외측의 게이트구동부(40)가 배치되는 비표시영역(NDA)으로 구분될 수 있다. The display panel 20 displays an image using a gate signal and a data signal and has a display area DA including a plurality of pixels P and a gate driver 40 outside the display area DA. It can be divided into a non-display area (NDA).

여기서, 게이트구동부(40)는 화소(P)와 동일한 공정을 통하여 표시패널(50)에 집적되는 게이트-인-패널(gate-in-panel: GIP) 타입일 수 있다.Here, the gate driver 40 may be a gate-in-panel (GIP) type integrated into the display panel 50 through the same process as the pixel P.

이러한 표시장치의 타이밍제어부(20) 및 데이터구동부(30)에 검사장치(60)를 연결하여 표시장치의 소비전력을 검출하는데, 검사장치(60)는 직류의 전원전압을 공급하여 표시장치를 구동하면서 직류의 전원전류를 측정할 수 있으며, 전원전압과 전원전류의 곱으로부터 소비전력을 산출할 수 있다. The test device 60 is connected to the timing control unit 20 and the data driver 30 of the display device to detect the power consumption of the display device. The test device 60 supplies DC power supply voltage to drive the display device. The power supply current of direct current can be measured while doing so, and the power consumption can be calculated from the product of the power supply voltage and the power supply current.

그리고, 검사장치는 산출된 소비전력과 기준소비전력을 비교하고, 비교결과에 따라 해당 표시장치의 양불을 판정하고, 양품으로 판정된 표시장치만 선택적으로 출하한다.Then, the inspection device compares the calculated power consumption with the reference power consumption, determines whether the corresponding display device is good or bad according to the comparison result, and selectively ships only the display device determined to be good.

그런데, 소비전력이 기준소비전력을 초과하는 불량은 표시패널(50)에 집적되는 게이트구동부(40)에 주로 기인함에도 불구하고, 표시패널(50) 완성 후 타이밍제어부(20) 및 데이터구동부(30)를 표시패널(50)에 부착한 이후에 소비전력 검사단계를 수행함으로써, 불량품인 표시패널(50)에 부착된 양품인 타이밍제어부(20) 및 데이터구동부(30)를 소모하게 되어 표시장치의 수율이 감소하고 제조비용이 증가하는 문제가 있다. However, despite the fact that defects in which power consumption exceeds the standard power consumption are mainly caused by the gate driver 40 integrated in the display panel 50, the timing control unit 20 and the data driver 30 after the display panel 50 is completed. ) is attached to the display panel 50, and then the power consumption inspection step is performed, thereby consuming the timing control unit 20 and the data driver 30, which are good products attached to the display panel 50, which are defective products. There is a problem in that the yield decreases and the manufacturing cost increases.

그리고, 소비전력이 기준소비전력을 초과하는 불량의 주 원인인 게이트구동부(40)의 소비전력을 직접 산출하지 못하고, 표시장치 전체의 소비전력을 산출함으로써, 표시패널에 대한 양불 판정의 정확성이 저하되는 문제가 있다.In addition, since the power consumption of the gate driver 40, which is the main cause of defects in which power consumption exceeds the standard power consumption, cannot be directly calculated, and the power consumption of the entire display device is calculated, the accuracy of pass/fail judgment on the display panel is lowered. there is a problem

본 발명은, 이러한 문제점을 해결하기 위하여 제시된 것으로, 표시패널 완성 후 게이트구동부의 소비전류를 검출하여 표시패널의 양불을 판정함으로써, 수율이 개선되고 제조비용이 절감되는 검사장치 및 이를 이용한 표시장치의 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention has been proposed to solve these problems, and by detecting the current consumption of the gate driver after the completion of the display panel to determine whether the display panel is good or bad, an inspection device that improves yield and reduces manufacturing cost, and a display device using the same. It is an object of the present invention to provide a manufacturing method.

그리고, 본 발명은, 표시패널 완성 후 교류신호를 이용하여 게이트구동부의 소비전류를 검출하여 표시패널의 양불을 판정함으로써, 수율이 개선되고 제조비용이 절감됨과 동시에 양불 판정의 정확성이 향상되는 검사장치 및 이를 이용한 표시장치의 제조방법을 제공하는 것을 다른 목적으로 한다. In addition, the present invention is an inspection device that improves yield, reduces manufacturing cost, and improves the accuracy of pass/fail judgment at the same time by determining pass/fail of the display panel by detecting the current consumption of the gate driver using an AC signal after completion of the display panel. And another object is to provide a manufacturing method of a display device using the same.

위와 같은 과제의 해결을 위해, 본 발명은, 다수의 검사용 게이트제어신호 및 다수의 검사용 데이터신호를 생성하는 검사영상생성부와, 상기 검사영상생성부로부터 상기 다수의 검사용 게이트제어신호 및 상기 다수의 검사용 데이터신호를 전달받아 출력하고, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 순차적으로 측정하는 순간전류측정부와, 상기 순간전류측정부로부터 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 전달받아 소비전류를 산출하는 소비전류산출부를 포함하는 검사장치를 제공한다.In order to solve the above problems, the present invention provides an inspection image generator for generating a plurality of inspection gate control signals and a plurality of inspection data signals, and a plurality of inspection gate control signals and An instantaneous current measuring unit that receives and outputs the plurality of inspection data signals and sequentially measures instantaneous currents of the plurality of inspection gate control signals; and Provided is a test device including a current consumption calculation unit for receiving instantaneous current and calculating current consumption.

그리고, 상기 소비전류산출부는, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 합산한 후 프레임 별로 평균값을 구하여 소비전류로 산출할 수 있다. The current consumption calculation unit may calculate the current consumption by summing up the instantaneous currents of the plurality of test gate control signals and obtaining an average value for each frame.

또한, 상기 순간전류측정부는, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호 및 상기 다수의 검사용 데이터신호를 전달하는 다수의 신호배선과, 상기 다수의 신호배선에 각각 연결되는 다수의 전류측정회로를 포함할 수 있다.In addition, the instantaneous current measuring unit may include a plurality of signal wires for transmitting the plurality of gate control signals for inspection and the plurality of data signals for inspection, and a plurality of current measuring circuits respectively connected to the plurality of signal wires. can

그리고, 상기 순간전류측정부는, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 제1통신수단을 통하여 상기 검사영상생성부로 전달하고, 상기 검사영상생성부는, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 제2통신수단을 통하여 상기 소비전류산출부로 전달할 수 있다.The instantaneous current measurement unit transfers the instantaneous current of the plurality of gate control signals for inspection to the inspection image generator through the first communication means, and the inspection image generator transmits the instantaneous current of the plurality of gate control signals for inspection. Current may be transferred to the current consumption calculation unit through the second communication means.

또한, 상기 소비전류산출부는, 상기 순간전류측정부에 장착될 수 있다.In addition, the current consumption calculation unit may be mounted on the instantaneous current measurement unit.

한편, 본 발명은, 표시패널에 다수의 게이트배선, 다수의 데이터배선 및 게이트구동부를 형성하는 단계와, 검사장치를 이용하여 상기 게이트구동부에 다수의 검사용 게이트제어신호를 인가하고 상기 다수의 데이터배선에 다수의 검사용 데이터신호를 인가하는 단계와, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호로부터 상기 게이트구동부의 소비전류를 산출하는 단계와, 상기 표시패널에 구동부를 부착하는 단계를 포함하는 표시장치의 제조방법을 제공한다.Meanwhile, the present invention provides a step of forming a plurality of gate wires, a plurality of data wires, and a gate driver on a display panel; applying a plurality of gate control signals for inspection to the gate driver using an inspection device; A display device comprising the steps of applying a plurality of data signals for inspection to wires, calculating current consumption of the gate driver from the plurality of gate control signals for inspection, and attaching the driver to the display panel. A manufacturing method is provided.

그리고, 상기 소비전류를 산출하는 단계는, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 측정하는 단계와, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 합산한 후 프레임 별로 평균값을 구하여 상기 소비전류로 산출하는 단계를 포함할 수 있다.The calculating of the current consumption may include measuring the instantaneous currents of the plurality of gate control signals for inspection, summing the instantaneous currents of the plurality of gate control signals for inspection, and obtaining an average value for each frame to obtain the consumption current. A step of calculating the current may be included.

또한, 상기 표시장치의 제조방법은, 상기 소비전류를 기준소비전류와 비교하는 단계와, 상기 소비전류가 상기 기준소비전류보다 작은 경우 상기 표시패널을 양품으로 판정하는 단계와, 상기 소비전류가 상기 기준소비전류보다 큰 경우 상기 표시패널을 불량품으로 판정하는 단계를 더 포함할 수 있다.The manufacturing method of the display device may include comparing the current consumption with a reference current consumption, determining the display panel as a good product when the current consumption is smaller than the reference current consumption, and The method may further include determining that the display panel is a defective product when the current consumption is greater than the reference current consumption.

그리고, 상기 표시패널에 상기 구동부를 부착하는 단계는, 상기 양품으로 판정받은 상기 표시패널에 대하여 선택적으로 수행될 수 있다.The attaching of the driver to the display panel may be selectively performed with respect to the display panel determined to be good.

본 발명은, 표시패널 완성 후 게이트구동부의 소비전류를 검출하여 표시패널의 양불을 판정함으로써, 수율이 개선되고 제조비용이 절감되는 효과를 갖는다. The present invention has an effect of improving yield and reducing manufacturing cost by determining pass/fail of the display panel by detecting the current consumption of the gate driver after completion of the display panel.

그리고, 본 발명은, 표시패널 완성 후 교류신호를 이용하여 게이트구동부의 소비전류를 검출하여 표시패널의 양불을 판정함으로써, 수율이 개선되고 제조비용이 절감됨과 동시에 양불 판정의 정확성이 향상되는 효과를 갖는다. In addition, the present invention determines whether the display panel is good or bad by detecting the current consumption of the gate driver using an AC signal after the completion of the display panel, thereby improving the yield, reducing the manufacturing cost, and improving the accuracy of good or bad judgment at the same time. have

도 1은 종래의 표시장치의 소비전력 검사단계를 설명하기 위한 도면.
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치를 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 표시패널과 검사장치를 도시한 도면.
도 4는 도 3의 표시패널과 검사장치 사이의 연결부를 확대한 도면.
도 5는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 검사용 게이트제어신호를 도시한 도면.
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치의 표시패널과 검사장치를 도시한 도면.1 is a diagram for explaining a power consumption inspection step of a conventional display device;
2 is a diagram showing a display device according to a first embodiment of the present invention;
3 is a view showing a display panel and an inspection device of a display device according to a first embodiment of the present invention;
4 is an enlarged view of a connection portion between the display panel and the inspection device of FIG. 3;
5 is a diagram illustrating a gate control signal for inspection of a display device according to a first embodiment of the present invention;
6 is a view showing a display panel and an inspection device of a display device according to a second embodiment of the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 검사장치 및 이를 이용한 표시장치의 제조방법을 설명하는데, 액정표시장치를 예로 들어 설명한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, a test device according to the present invention and a manufacturing method of a display device using the same will be described, taking a liquid crystal display device as an example.

도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치를 도시한 도면이다.2 is a diagram illustrating a display device according to a first embodiment of the present invention.

도 2에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치(110)는, 타이밍제어부(120), 데이터구동부(130), 게이트구동부(140) 및 표시패널(150)을 포함한다.As shown in FIG. 2 , the display device 110 according to the first embodiment of the present invention includes a timing controller 120, a data driver 130, a gate driver 140, and a display panel 150. .

타이밍제어부(120)는, 그래픽카드 또는 TV시스템과 같은 외부시스템으로부터 전달되는 영상신호(IS)와 데이터인에이블신호(DE), 수평동기신호(HSY), 수직동기신호(VSY), 클럭(CLK) 등의 다수의 타이밍신호를 이용하여, 게이트제어신호(GCS), 데이터제어신호(DCS) 및 영상데이터(RGB)를 생성하고, 생성된 데이터제어신호(DCS) 및 영상데이터(RGB)를 데이터구동부(130)에 공급하고, 생성된 게이트제어신호(GCS)를 게이트구동부(140)에 공급한다. The timing controller 120 includes a video signal IS, a data enable signal DE, a horizontal synchronization signal HSY, a vertical synchronization signal VSY, and a clock signal CLK transmitted from an external system such as a graphic card or a TV system. ), a gate control signal (GCS), a data control signal (DCS), and image data (RGB) are generated using a plurality of timing signals, such as the data control signal (DCS) and the image data (RGB). is supplied to the driver 130, and the generated gate control signal GCS is supplied to the gate driver 140.

여기서, 게이트제어신호(GCS)는 데이터구동부(130)를 통하여 게이트구동부(140)에 공급될 수 있다.Here, the gate control signal GCS may be supplied to the gate driver 140 through the data driver 130 .

데이터구동부(130)는, 타이밍제어부(120)로부터 공급되는 데이터제어신호(DCS) 및 영상데이터(RGB)를 이용하여 데이터신호(데이터전압)를 생성하고, 생성된 데이터신호를 표시패널(150)의 데이터배선(DL)에 공급한다. The data driver 130 generates a data signal (data voltage) using the data control signal (DCS) and the image data (RGB) supplied from the timing controller 120, and sends the generated data signal to the display panel 150. is supplied to the data line (DL) of

게이트구동부(140)는, 타이밍제어부(120)로부터 공급되는 게이트제어신호(GCS)를 이용하여 게이트신호(게이트전압)를 생성하고, 생성된 게이트신호를 표시패널(150)의 게이트배선(GL)에 공급한다. The gate driver 140 generates a gate signal (gate voltage) using the gate control signal (GCS) supplied from the timing controller 120, and sends the generated gate signal to the gate line (GL) of the display panel 150. supply to

표시패널(120)은, 영상을 표시하고 다수의 화소(P)를 포함하는 표시영역(DA)과, 표시영역(DA) 외측의 비표시영역(NDA)으로 구분될 수 있다. The display panel 120 may be divided into a display area DA that displays an image and includes a plurality of pixels P, and a non-display area NDA outside the display area DA.

이러한 표시패널(150)의 표시영역(DA)은, 게이트신호 및 데이터신호를 이용하여 영상을 표시하는데, 서로 교차하여 화소(P)를 정의하는 게이트배선(GL) 및 데이터배선(DL)과, 각 화소(P)에 배치되어 게이트배선(GL) 및 데이터배선(DL)에 연결되는 화소 박막트랜지스터(Tp), 화소 박막트랜지스터(Tp)에 연결되는 액정 커패시터(Cl) 및 스토리지 커패시터(Cs)를 포함한다.The display area DA of the display panel 150 displays an image using a gate signal and a data signal, and includes a gate line GL and a data line DL that cross each other to define a pixel P; A pixel thin film transistor (Tp) disposed in each pixel (P) and connected to the gate line (GL) and data line (DL), a liquid crystal capacitor (Cl) and a storage capacitor (Cs) connected to the pixel thin film transistor (Tp). include

여기서, 화소 박막트랜지스터(Tp)는 산화물 반도체(oxide semiconductor)로 이루어지는 액티브층을 포함할 수 있다.Here, the pixel thin film transistor Tp may include an active layer made of an oxide semiconductor.

도시하지는 않았지만, 표시패널(150)은, 서로 마주보며 이격되는 제1 및 제2기판과, 제1 및 제2기판 사이의 액정층을 포함할 수 있고, 게이트배선(GL), 데이터배선(DL) 및 화소 박막트랜지스터(Tp)는 제1기판 내면에 배치될 수 있고, 액정 커패시터(Cl)는, 제1기판 내면의 화소전극과, 제2기판 내면의 공통전극과, 화소전극 및 공통전극 사이의 액정층을 포함할 수 있다. Although not shown, the display panel 150 may include first and second substrates facing each other and spaced apart from each other, and a liquid crystal layer between the first and second substrates, and may include a gate line GL and a data line DL. ) and the pixel thin film transistor Tp may be disposed on the inner surface of the first substrate, and the liquid crystal capacitor Cl is between the pixel electrode on the inner surface of the first substrate, the common electrode on the inner surface of the second substrate, and the pixel electrode and the common electrode. It may include a liquid crystal layer of.

여기서, 게이트구동부(140)는 화소 박막트랜지스터(Tp)와 동일한 공정을 통하여 표시패널(150)의 비표시영역(NDA)에 집적되는 게이트-인-패널(gate-in-panel: GIP) 타입일 수 있다.Here, the gate driver 140 is a gate-in-panel (GIP) type integrated in the non-display area NDA of the display panel 150 through the same process as the pixel thin film transistor Tp. can

한편, 표시패널(150)의 비표시영역(NDA)에는 패드부(152)가 형성되는데, 패드부(152)는 표시영역(DA)의 게이트구동부(140) 및 데이터배선(DL)에 연결될 수 있다.Meanwhile, a pad portion 152 is formed in the non-display area NDA of the display panel 150, and the pad portion 152 may be connected to the gate driver 140 and the data line DL of the display area DA. there is.

도시하지는 않았지만, 패드부(152)는 다수의 데이터패드, 다수의 검사패드 및 다수의 검사배선으로 이루어질 수 있다.Although not shown, the pad unit 152 may include a plurality of data pads, a plurality of test pads, and a plurality of test wires.

다수의 검사패드는, 다수의 검사배선을 통하여 게이트구동부(140) 및 데이터배선(DL)에 연결되며, 표시패널(150) 완성 후 외부의 검사장치(도 3의 160)에 연결되어 검사장치(160)로부터 공급되는 검사용 게이트제어신호 및 검사용 데이터신호를 각각 게이트구동부(140) 및 데이터배선(DL)에 전달하는 역할을 한다.The plurality of test pads are connected to the gate driver 140 and the data line DL through a plurality of test wires, and after completing the display panel 150, they are connected to an external test device ( 160 in FIG. 3 ) to test the device ( 160) serves to transfer the gate control signal for inspection and the data signal for inspection supplied from the gate driver 140 and the data line DL, respectively.

다수의 데이터패드는, 게이트구동부(140) 및 데이터배선(DL)에 연결되며, 표시패널에 대한 검사단계 완료 후, 타이밍제어부(120)가 연결되는 데이터구동부(130)에 연결되어 타이밍제어부(120) 및 데이터구동부(130)로부터 공급되는 게이트제어신호(GCS) 및 데이터신호를 각각 게이트구동부(140) 및 데이터배선(DL)에 전달하는 역할을 한다.The plurality of data pads are connected to the gate driver 140 and the data line DL, and are connected to the data driver 130 to which the timing control unit 120 is connected after the completion of the inspection of the display panel, so that the timing control unit 120 ) and the gate control signal GCS and data signals supplied from the data driver 130 to the gate driver 140 and the data line DL, respectively.

이러한 패드부(152) 및 검사장치(160)를 도면을 참조하여 설명한다.The pad part 152 and the inspection device 160 will be described with reference to the drawings.

도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 표시패널과 검사장치를 도시한 도면이고, 도 4는 도 3의 표시패널과 검사장치 사이의 연결부를 확대한 도면으로, 도 2와 동일한 부분에 대한 설명은 생략한다.3 is a view showing a display panel and an inspection device of a display device according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 4 is an enlarged view of a connection between the display panel and the inspection device of FIG. 3, the same as that of FIG. The description of the part is omitted.

도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이, 검사장치(160)는 표시패널(150)의 패드부(152)에 연결되어 표시패널(150)에 검사용 게이트제어신호 및 검사용 데이터신호를 공급한다. As shown in FIGS. 3 and 4 , the inspection device 160 is connected to the pad part 152 of the display panel 150 and supplies a gate control signal for inspection and a data signal for inspection to the display panel 150 . .

검사장치(160)는, 순간전류측정부(162), 검사영상생성부(164), 소비전류산출부(166)를 포함하는데, 순간전류측정부(162)는 제1연결부(170)를 통하여 표시패널(150)의 패드부(152)에 연결되고, 소비전류산출부(166)는 제2연결부(176)를 통하여 순간전류측정부(162)에 연결된다.The inspection device 160 includes an instantaneous current measuring unit 162, an inspection image generating unit 164, and a current consumption calculating unit 166, the instantaneous current measuring unit 162 via the first connection unit 170. It is connected to the pad part 152 of the display panel 150, and the current consumption calculator 166 is connected to the instantaneous current measuring part 162 through the second connection part 176.

순간전류측정부(162)는, 다수의 신호배선(172)과, 다수의 신호배선(172)에 각각 연결되는 다수의 전류측정회로(174)를 포함하고, 제1 및 제2연결부(170, 176) 각각은 순간전류측정부(162)의 다수의 신호배선(172)에 연결되는 다수의 전달배선을 포함한다.The instantaneous current measuring unit 162 includes a plurality of signal wires 172 and a plurality of current measuring circuits 174 respectively connected to the plurality of signal wires 172, and includes first and second connection parts 170, 176) Each includes a plurality of transfer wires connected to the plurality of signal wires 172 of the instantaneous current measuring unit 162.

예를 들어, 순간전류측정부(162)는 인쇄회로기판(printed circuit board: PCB)일 수 있고, 전류측정회로(174)는 전류측정 집적회로(integrated circuit: IC)일 수 있고, 제1연결부(170)는 유연인쇄회로(flexible printed circuit: FPC)일 수 있고, 제2연결부(176)는 배선케이블일 수 있다.For example, the instantaneous current measurement unit 162 may be a printed circuit board (PCB), the current measurement circuit 174 may be a current measurement integrated circuit (IC), and the first connection unit 170 may be a flexible printed circuit (FPC), and the second connection portion 176 may be a wiring cable.

검사영상생성부(164)는, 다수의 검사영상에 대응되는 다수의 검사용 게이트제어신호 및 다수의 검사용 데이터신호를 생성하고, 생성된 다수의 검사용 게이트제어신호 및 다수의 검사용 데이터신호를 제2연결부(176)를 통하여 순간전류측정부(162)의 다수의 신호배선(172)에 전달한다.The inspection image generator 164 generates a plurality of gate control signals for inspection and a plurality of data signals for inspection corresponding to the plurality of inspection images, and generates a plurality of gate control signals for inspection and a plurality of data signals for inspection. is transmitted to the plurality of signal wires 172 of the instantaneous current measurement unit 162 through the second connection unit 176.

예를 들어, 검사영상생성부(164)는, 다양한 계조 및 다양한 형태의 영상을 생성하는 패턴 제너레이터(pattern generator)일 수 있다.For example, the inspection image generator 164 may be a pattern generator that generates images of various gradations and shapes.

순간전류측정부(162)는 전달받은 다수의 검사용 게이트제어신호 및 다수의 검사용 데이터신호를 제1연결부(170)를 통하여 표시패널(150)의 패드부(152)에 전달한다. The instantaneous current measurement unit 162 transmits the received plurality of gate control signals for inspection and the plurality of data signals for inspection to the pad unit 152 of the display panel 150 through the first connection unit 170 .

표시패널(150)의 게이트구동부(140)는, 전달받은 다수의 검사용 게이트제어신호를 이용하여 검사용 게이트신호를 생성하고, 생성된 다수의 검사용 게이트신호를 표시패널(150)의 게이트배선(GL)에 전달한다.The gate driver 140 of the display panel 150 generates inspection gate signals using the received plurality of inspection gate control signals, and transmits the generated inspection gate signals to the gate wiring of the display panel 150. (GL).

그리고, 표시패널의 다수의 화소(P)는, 전달받은 다수의 검사용 게이트신호 및 다수의 검사용 데이터신호를 이용하여 다수의 검사용 영상을 표시한다.Also, the plurality of pixels P of the display panel display a plurality of images for inspection by using the plurality of gate signals for inspection and the plurality of data signals for inspection.

여기서, 순간전류측정부(162)는 다수의 전류측정회로(174)를 이용하여 다수의 신호배선(172)를 통하여 전달되는 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 측정하고, 측정된 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 RS232C와 같은 제1통신수단을 통하여 검사영상생성부(164)로 순차적으로 전달한다. Here, the instantaneous current measuring unit 162 measures instantaneous currents of a plurality of test gate control signals transmitted through a plurality of signal wires 172 using a plurality of current measuring circuits 174, and measures the measured The instantaneous current of the gate control signal for inspection is sequentially transferred to the inspection image generator 164 through a first communication means such as RS232C.

그리고, 검사영상생성부(164)는 전달받은 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 RS232C와 같은 제2통신수단을 통하여 소비전류산출부(166)에 순차적으로 전달한다. In addition, the inspection image generator 164 sequentially transfers the received instantaneous currents of the plurality of gate control signals for inspection to the current consumption calculator 166 through a second communication means such as RS232C.

소비전류산출부(166)는 순차적으로 전달받은 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 합산한 후 프레임 별로 평균값을 구하여 소비전류로 산출한다. The current consumption calculation unit 166 sums up the instantaneous currents of the plurality of test gate control signals sequentially received, and calculates the average value for each frame as current consumption.

예를 들어, 소비전류산출부(166)는 컴퓨터의 중앙처리부(central processing unit: CPU)일 수 있다. For example, the current consumption calculator 166 may be a central processing unit (CPU) of a computer.

이러한 순간전류의 측정 및 소비전류의 산출을 도면을 참조하여 설명한다.Measurement of the instantaneous current and calculation of the current consumption will be described with reference to the drawings.

도 5는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 검사용 게이트제어신호를 도시한 도면으로, 도 2 내지 도 4를 함께 참조하여 설명한다. FIG. 5 is a diagram illustrating a gate control signal for inspection of a display device according to a first embodiment of the present invention, and will be described with reference to FIGS. 2 to 4 together.

도 5에 도시한 바와 같이, 검사영상생성부(164)가 순간전류측정부(162)에 전달하는 다수의 검사용 게이트제어신호는 1주기(T)로 반복되는 구형파(rectangular wave)인 클럭신호를 포함한다. As shown in FIG. 5, a plurality of inspection gate control signals transmitted from the inspection image generator 164 to the instantaneous current measurement unit 162 are clock signals that are rectangular waves that are repeated in one cycle (T). includes

이러한 클럭신호를 포함하는 다수의 검사용 게이트제어신호는 순간전류측정부(162) 및 패드부(152)를 통하여 게이트구동부(140)에 전달되고, 게이트구동부(140)의 쉬프트레지스터(shift register)는 클럭신호를 포함하는 다수의 검사용 게이트제어신호를 이용하여 다수의 검사용 게이트신호를 생성한다.A plurality of test gate control signals including these clock signals are transferred to the gate driver 140 through the instantaneous current measurement unit 162 and the pad unit 152, and the shift register of the gate driver 140 generates a plurality of gate signals for inspection using a plurality of gate control signals for inspection including a clock signal.

그리고, 순간전류측정부(162)의 다수의 전류측정회로(174)는 각각 클럭신호를 포함하는 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 측정한다. In addition, the plurality of current measurement circuits 174 of the instantaneous current measurement unit 162 measure instantaneous currents of a plurality of test gate control signals including clock signals, respectively.

게이트구동부(140)의 쉬프트레지스터(shift register)는 고전위전압 또는 클럭신호에 연결되는 풀업 트랜지스터(pull up transistor)와 저전위전압에 연결되는 풀다운 트랜지스터(pull down transistor)를 포함하는데, Q노드 및 QB노드의 전압이 변동되는 동안 순간적으로 풀업 트랜지스터 및 풀다운 트랜지스터가 동시에 턴-온(turn-on pull up transistor) 되어 소비전류가 발생할 수 있다. The shift register of the gate driver 140 includes a pull-up transistor connected to a high potential voltage or a clock signal and a pull-down transistor connected to a low potential voltage. While the voltage of the QB node is varied, a pull-up transistor and a pull-down transistor are momentarily turned on at the same time, and current consumption may occur.

즉, 클럭신호와 같은 교류신호의 상승시점(rising timing) 및 하강시점(falling timing) 부근에서 상대적으로 큰 소비전류가 발생한다.That is, a relatively large current consumption occurs near the rising timing and falling timing of an AC signal such as a clock signal.

그런데, 순간전류측정부(162)의 다수의 전류측정회로(174)가 계속해서 클럭신호의 소비전류를 측정할 수 없고, 정확하게 클럭신호의 상승시점 및 하강시점의 소비전류를 측정할 수 없으므로, 순간전류측정부(162)의 다수의 전류측정회로(174)는 클럭신호의 1주기(T) 내의 다수의 측정시점에 순간전류를 측정하여 순차적으로 검사영상생성부(164)를 통하여 소비전류산출부(166)로 전달하고, 소비전류산출부(166)는 다수의 측정시점에 측정된 순간전류의 합을 프레임 별로 평균함으로써, 표시패널(150)의 게이트구동부(140)의 소비전류를 정확하게 산출할 수 있다. However, since the plurality of current measuring circuits 174 of the instantaneous current measuring unit 162 cannot continuously measure the current consumption of the clock signal and cannot accurately measure the current consumption at the rising and falling points of the clock signal, The plurality of current measurement circuits 174 of the instantaneous current measurement unit 162 measure the instantaneous current at a plurality of measurement points within one cycle (T) of the clock signal and sequentially calculate the current consumption through the inspection image generator 164. unit 166, and the current consumption calculation unit 166 accurately calculates the current consumption of the gate driver 140 of the display panel 150 by averaging the sum of instantaneous currents measured at multiple measurement points for each frame. can do.

그리고, 산출된 소비전류에 클럭신호의 하이레벨 및 로우레벨의 전압차를 곱하여 표시패널(150)의 게이트구동부(140)의 소비전력을 산출할 수 있다. Power consumption of the gate driver 140 of the display panel 150 may be calculated by multiplying the calculated current consumption by the voltage difference between the high level and the low level of the clock signal.

이후, 검사장치(160)는 게이트구동부(140)의 소비전류 또는 소비전력을 미리 정해진 기준소비전류 또는 기준소비전력과 비교하고, 비교결과에 따라 해당 표시패널(150)의 양불을 판정할 수 있다.Thereafter, the inspection device 160 compares the current or power consumption of the gate driver 140 with a predetermined reference current or reference power consumption, and determines whether the corresponding display panel 150 is good or bad according to the comparison result. .

예를 들어, 게이트구동부(140)의 소비전류 또는 소비전력이 미리 정해진 기준소비전류 또는 기준소비전력보다 작으면 양품으로 판정하고, 게이트구동부(140)의 소비전류 또는 소비전력이 미리 정해진 기준소비전류 또는 기준소비전력보다 크면 불량품으로 판정할 수 있다.For example, if the current or power consumption of the gate driver 140 is less than the predetermined standard current consumption or standard power consumption, it is determined as a good product, and the current or power consumption of the gate driver 140 is the predetermined standard current consumption. Alternatively, if it is greater than the standard power consumption, it can be determined as a defective product.

이후, 양품 판정을 받은 표시패널(150)에 선택적으로 타이밍제어부(120) 및 데이터구동부(130)의 구동부를 부착하여 표시장치(110)를 완성할 수 있다.Thereafter, the display device 110 may be completed by selectively attaching the driving unit of the timing controller 120 and the data driver 130 to the display panel 150 that has been judged to be a good product.

이상과 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 검사장치 및 이를 이용한 표시장치의 제조방법에서는, 표시패널(150) 완성 후 타이밍제어부(120) 및 데이터구동부(130)와 같은 구동부 부착 전에 교류신호를 공급하고 순간전류측정부(162), 검사영상생성부(164) 및 소비전류산출부(166)를 포함하는 검사장치(160)를 이용하여 표시패널(150)의 게이트구동부(140)의 소비전류를 산출하여 표시패널(150)의 양불을 판정함으로써, 표시장치(110)의 수율이 개선되고 제조비용이 절감됨과 동시에 양불 판정의 정확성이 향상된다. As described above, in the inspection device according to the first embodiment of the present invention and the manufacturing method of the display device using the same, after the completion of the display panel 150, before attaching driving units such as the timing control unit 120 and the data driving unit 130, the AC signal consumption of the gate driver 140 of the display panel 150 by using the test device 160 including the instantaneous current measuring unit 162, the inspection image generating unit 164, and the current consumption calculating unit 166. By determining whether the display panel 150 is good or bad by calculating the current, the yield of the display device 110 is improved, the manufacturing cost is reduced, and the accuracy of good or bad judgment is improved.

한편, 다른 실시예에서는, 소비전류산출부(166)을 순간전류측정부(162)에 장착할 수도 있는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다. Meanwhile, in another embodiment, the current consumption calculation unit 166 may be mounted on the instantaneous current measurement unit 162, which will be described with reference to the drawings.

도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치의 표시패널과 검사장치를 도시한 도면으로, 제1실시예와 동일한 부분에 대한 설명은 생략한다. 6 is a diagram showing a display panel and an inspection device of a display device according to a second embodiment of the present invention, and descriptions of the same parts as those of the first embodiment are omitted.

도 6에 도시한 바와 같이, 검사장치(260)는 표시패널(250)의 패드부(252)에 연결되어 표시패널(250)에 검사용 게이트제어신호 및 검사용 데이터신호를 공급한다. As shown in FIG. 6 , the inspection device 260 is connected to the pad part 252 of the display panel 250 and supplies a gate control signal for inspection and a data signal for inspection to the display panel 250 .

검사장치(260)는, 순간전류측정부(262), 검사영상생성부(264)를 포함한다. The inspection device 260 includes an instantaneous current measuring unit 262 and an inspection image generating unit 264 .

도시하지는 않았지만, 순간전류측정부(262)는 제1연결부를 통하여 표시패널(250)의 패드부(252)에 연결되고, 소비전류산출부(266)는 제2연결부를 통하여 순간전류측정부(262)에 연결된다.Although not shown, the instantaneous current measurement unit 262 is connected to the pad unit 252 of the display panel 250 through the first connection part, and the current consumption calculation unit 266 is the instantaneous current measurement unit (through the second connection part). 262) is connected.

그리고, 순간전류측정부(262)는, 다수의 신호배선과, 다수의 신호배선에 각각 연결되는 다수의 전류측정회로와, 소비전류산출부를 포함한다. In addition, the instantaneous current measurement unit 262 includes a plurality of signal wires, a plurality of current measuring circuits respectively connected to the plurality of signal wires, and a current consumption calculator.

예를 들어, 순간전류측정부(262)는 인쇄회로기판(printed circuit board: PCB)일 수 있고, 전류측정회로는 전류측정 집적회로(integrated circuit: IC)일 수 있고, 소비전류산출부는 전류산출 집적회로(IC)일 수 있으며, 전류측정회로 및 소비전류산출부는 하나의 집적회로(IC)로 구성될 수도 있다. For example, the instantaneous current measurement unit 262 may be a printed circuit board (PCB), the current measurement circuit may be a current measurement integrated circuit (IC), and the current consumption calculation unit calculates the current. It may be an integrated circuit (IC), and the current measuring circuit and the current consumption calculation unit may be composed of one integrated circuit (IC).

여기서, 순간전류측정부(262)의 다수의 전류측정회로는 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 측정하고, 측정된 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 순간전류측정부(262)의 소비전류산출부에 순차적으로 전달하고, 순간전류측정부(262)의 소비전류산출부는 순차적으로 전달받은 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 합산한 후 프레임 별로 평균값을 구하여 표시패널(250)의 게이트구동부(240)의 소비전류로 산출한다. Here, the plurality of current measuring circuits of the instantaneous current measurement unit 262 measure the instantaneous currents of the plurality of gate control signals for inspection, and the measured instantaneous currents of the plurality of gate control signals for inspection are converted to the instantaneous current measurement unit 262. The current consumption calculation unit of the instantaneous current measurement unit 262 sums the instantaneous currents of the plurality of test gate control signals sequentially received, and then calculates the average value for each frame to obtain the average value of the display panel 250. ) is calculated as the consumption current of the gate driver 240.

이후, 검사장치(260)는 게이트구동부(240)의 소비전류 또는 소비전력을 미리 정해진 기준소비전류 또는 기준소비전력과 비교하고, 비교결과에 따라 해당 표시패널(250)의 양불을 판정할 수 있다.Thereafter, the inspection device 260 compares the current or power consumption of the gate driver 240 with a predetermined standard current or standard power consumption, and determines whether the corresponding display panel 250 is good or bad according to the comparison result. .

예를 들어, 게이트구동부(240)의 소비전류 또는 소비전력이 미리 정해진 기준소비전류 또는 기준소비전력보다 작으면 양품으로 판정하고, 게이트구동부(140)의 소비전류 또는 소비전력이 미리 정해진 기준소비전류 또는 기준소비전력보다 크면 불량품으로 판정할 수 있다.For example, if the current or power consumption of the gate driving unit 240 is less than the predetermined standard current consumption or standard power consumption, it is determined as a good product, and the current or power consumption of the gate driving unit 140 is the predetermined standard current consumption. Alternatively, if it is greater than the standard power consumption, it can be determined as a defective product.

이후, 양품 판정을 받은 표시패널(250)에 선택적으로 타이밍제어부 및 데이터구동부의 구동부를 부착하여 표시장치를 완성할 수 있다.Thereafter, a display device may be completed by selectively attaching a timing control unit and a driving unit of a data driving unit to the display panel 250 that has been judged to be a good product.

이상과 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 검사장치 및 이를 이용한 표시장치의 제조방법에서는, 표시패널(250) 완성 후 타이밍제어부(220) 및 데이터구동부(230)와 같은 구동부 부착 전에 교류신호를 공급하고 순간전류측정부(262) 및 검사영상생성부(264)를 포함하는 검사장치(260)를 이용하여 표시패널(250)의 게이트구동부(240)의 소비전류를 산출하여 표시패널(250)의 양불을 판정함으로써, 표시장치(210)의 수율이 개선되고 제조비용이 절감됨과 동시에 양불 판정의 정확성이 향상된다. As described above, in the inspection device according to the second embodiment of the present invention and the manufacturing method of the display device using the same, after the completion of the display panel 250, before attaching driving units such as the timing control unit 220 and the data driving unit 230, the AC signal is supplied, and the current consumption of the gate driver 240 of the display panel 250 is calculated using the inspection device 260 including the instantaneous current measuring unit 262 and the inspection image generating unit 264, and the display panel 250 ), the yield of the display device 210 is improved, the manufacturing cost is reduced, and the accuracy of the pass/fail judgment is improved.

또한, 순간전류의 순차적 전달을 위한 통신수단이 생략되므로, 제조비용이 더욱 절감된다. In addition, since the communication means for sequential transmission of the instantaneous current is omitted, the manufacturing cost is further reduced.

본 발명의 실시예에서는 액정표시장치를 예로 들었으나, 다른 실시예에서는 유기발광다이오드 표시장치에 검사장치(160, 260)를 적용할 수도 있다.In the embodiment of the present invention, a liquid crystal display device is taken as an example, but in other embodiments, the inspection devices 160 and 260 may be applied to an organic light emitting diode display device.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the above has been described with reference to preferred embodiments of the present invention, those skilled in the art will variously modify and change the present invention within the scope not departing from the technical spirit and scope of the present invention described in the claims below. You will understand that it can be done.

110: 표시장치 150: 표시패널
152: 패드부 160: 검사장치
162: 순간전류측정부 164: 검사영상생성부
166: 소비전류산출부110: display device 150: display panel
152: pad part 160: inspection device
162: instantaneous current measuring unit 164: inspection image generating unit
166: current consumption calculation unit

Claims (10)

다수의 검사용 게이트제어신호 및 다수의 검사용 데이터신호를 생성하는 검사영상생성부와;
상기 검사영상생성부로부터 상기 다수의 검사용 게이트제어신호 및 상기 다수의 검사용 데이터신호를 전달받아 출력하고, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 순차적으로 측정하는 순간전류측정부와;
상기 순간전류측정부로부터 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 전달받아 소비전류를 산출하는 소비전류산출부
를 포함하고,
상기 소비전류를 기준소비전류와 비교하고,
상기 소비전류가 상기 기준소비전류보다 작은 경우 상기 순간전류측정부에 연결되는 표시패널을 양품으로 판정하고, 상기 소비전류가 상기 기준소비전류보다 큰 경우 상기 표시패널을 불량품으로 판정하는 검사장치.
an inspection image generator for generating a plurality of gate control signals for inspection and a plurality of data signals for inspection;
an instantaneous current measuring unit that receives and outputs the plurality of gate control signals for inspection and the plurality of data signals for inspection from the inspection image generator, and sequentially measures instantaneous currents of the plurality of gate control signals for inspection;
Current consumption calculation unit for receiving the instantaneous current of the plurality of inspection gate control signals from the instantaneous current measurement unit and calculating current consumption
including,
Compare the current consumption with the reference current consumption,
An inspection apparatus for determining a display panel connected to the instantaneous current measuring unit as a good product when the current consumption is less than the reference current consumption, and determining the display panel as a defective product when the current consumption is greater than the reference current consumption.
 제 1 항에 있어서,
상기 소비전류산출부는, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 합산한 후 프레임 별로 평균값을 구하여 소비전류로 산출하는 검사장치.
According to claim 1,
wherein the current consumption calculation unit sums instantaneous currents of the plurality of test gate control signals and calculates an average value for each frame as current consumption.
 제 1 항에 있어서,
상기 순간전류측정부는, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호 및 상기 다수의 검사용 데이터신호를 전달하는 다수의 신호배선과, 상기 다수의 신호배선에 각각 연결되는 다수의 전류측정회로를 포함하는 검사장치.
According to claim 1,
The instantaneous current measuring unit includes a plurality of signal wires for transmitting the plurality of gate control signals for inspection and the plurality of data signals for inspection, and a plurality of current measuring circuits respectively connected to the plurality of signal wires. .
 제 1 항에 있어서,
상기 순간전류측정부는, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 제1통신수단을 통하여 상기 검사영상생성부로 전달하고,
상기 검사영상생성부는, 상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 제2통신수단을 통하여 상기 소비전류산출부로 전달하는 검사장치.
According to claim 1,
The instantaneous current measuring unit transmits instantaneous currents of the plurality of inspection gate control signals to the inspection image generator through a first communication means;
The test image generator transmits the instantaneous current of the plurality of test gate control signals to the current consumption calculator through a second communication means.
 제 1 항에 있어서,
상기 소비전류산출부는, 상기 순간전류측정부에 장착되는 검사장치.
According to claim 1,
The current consumption calculation unit is mounted on the instantaneous current measurement unit.
 표시패널에 다수의 게이트배선, 다수의 데이터배선 및 게이트구동부를 형성하는 단계와;
검사장치를 이용하여 상기 게이트구동부에 다수의 검사용 게이트제어신호를 인가하고 상기 다수의 데이터배선에 다수의 검사용 데이터신호를 인가하는 단계와;
상기 다수의 검사용 게이트제어신호로부터 상기 게이트구동부의 소비전류를 산출하는 단계와;
상기 소비전류를 기준소비전류와 비교하는 단계와;
상기 소비전류가 상기 기준소비전류보다 작은 경우 상기 표시패널을 양품으로 판정하는 단계와;
상기 소비전류가 상기 기준소비전류보다 큰 경우 상기 표시패널을 불량품으로 판정하는 단계와;
상기 표시패널에 구동부를 부착하는 단계
를 포함하는 표시장치의 제조방법.
forming a plurality of gate wires, a plurality of data wires, and a gate driver on the display panel;
applying a plurality of gate control signals for inspection to the gate driver using an inspection device and applying a plurality of data signals for inspection to the plurality of data wires;
calculating current consumption of the gate driver from the plurality of test gate control signals;
comparing the current consumption with a reference current consumption;
determining that the display panel is good when the current consumption is less than the reference current consumption;
determining that the display panel is defective when the current consumption is greater than the reference current consumption;
attaching a driver to the display panel;
A method of manufacturing a display device comprising a.
 제 6 항에 있어서,
상기 소비전류를 산출하는 단계는,
상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 측정하는 단계와;
상기 다수의 검사용 게이트제어신호의 순간전류를 합산한 후 프레임 별로 평균값을 구하여 상기 소비전류로 산출하는 단계
를 포함하는 표시장치의 제조방법.
According to claim 6,
In the step of calculating the current consumption,
measuring instantaneous currents of the plurality of test gate control signals;
Calculating the current consumption by calculating an average value for each frame after summing the instantaneous currents of the plurality of test gate control signals.
A method of manufacturing a display device comprising a.
 삭제delete 제 6 항에 있어서,
상기 표시패널에 상기 구동부를 부착하는 단계는, 상기 양품으로 판정받은 상기 표시패널에 대하여 선택적으로 수행되는 표시장치의 제조방법.
According to claim 6,
The attaching of the drive unit to the display panel is selectively performed with respect to the display panel determined to be good.
 제 1 항에 있어서,
상기 검사영상생성부는 다수의 계조 및 다수의 형태의 영상을 생성하는 패턴 제너레이터이고,
상기 소비전류산출부는 컴퓨터의 중앙처리부인 검사장치.According to claim 1,
The inspection image generating unit is a pattern generator that generates multiple gradations and multiple types of images;
The current consumption calculation unit is a central processing unit of a computer.
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