KR102574813B1 - Flexible electroluminesence display - Google Patents

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KR102574813B1
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Abstract

본 출원은 플렉서블 전계 발광 표시장치에 관한 것이다. 본 출원의 일 실시 예에 따른 플렉서블 전계 발광 표시장치는, 플렉서블 기판, 스캔 배선, 데이터 배선, 화소 구동 전원 배선, 구동 소자 및 발광 소자를 포함한다. 플렉서블 기판은, 기저층과, 기저층의 표면 위에서 매트릭스 방식으로 배열된 다수 개의 화소들을 정의하도록 일정 두께 돌출한 격벽을 구비한다. 스캔 배선은, 격벽을 타고 넘어 플렉서블 기판의 가로 방향으로 진행한다. 데이터 배선 및 화소 구동 전원 배선은, 격벽을 타고 넘어 플렉서블 기판의 세로 방향으로 진행한다. 구동 소자는, 화소 내에 배치되고 스캔 배선, 데이터 배선 및 화소 구동 전원 배선에 연결된다. 발광 소자는, 화소 내에 배치되고 구동 소자에 연결된다.The present application relates to a flexible electroluminescent display device. A flexible electroluminescent display device according to an exemplary embodiment of the present application includes a flexible substrate, a scan wire, a data wire, a pixel driving power supply wire, a driving element, and a light emitting element. The flexible substrate includes a base layer and barrier ribs protruding with a certain thickness to define a plurality of pixels arranged in a matrix manner on a surface of the base layer. The scan wiring crosses over the barrier rib and proceeds in the horizontal direction of the flexible substrate. The data wiring and the pixel driving power supply wiring go over the barrier rib in the vertical direction of the flexible substrate. The driving element is disposed in the pixel and connected to the scan wiring, the data wiring and the pixel driving power supply wiring. A light emitting element is disposed in a pixel and connected to a driving element.

Description

플렉서블 전계 발광 표시장치{FLEXIBLE ELECTROLUMINESENCE DISPLAY}Flexible electroluminescence display {FLEXIBLE ELECTROLUMINESENCE DISPLAY}

본 출원은 플렉서블 전계 발광 표시장치에 관한 것이다. 특히, 본 출원은 표시 영역을 접었다 펼때 혹은 둥글게 말았다 펼때 굽힘 응력에 강건한 구조를 갖는 플렉서블 전계 발광 표시장치에 관한 것이다.The present application relates to a flexible electroluminescent display device. In particular, the present application relates to a flexible electroluminescent display device having a structure that is robust against bending stress when the display area is folded and unfolded or rolled and unfolded.

표시장치들 중에서 전계 발광 표시장치는 자체 발광형으로서, 시야각, 대조비 등이 우수하며, 별도의 백 라이트가 필요하지 않아 경량 박형이 가능하며, 소비 전력이 유리한 장점이 있다. 특히, 전계 발광 표시장치 중 유기발광 표시장치는 직류 저전압 구동이 가능하고, 응답 속도가 빠르며, 제조 비용이 저렴한 장점이 있다.Among display devices, an electroluminescent display device is a self-luminous type, and has excellent viewing angles and contrast ratios, and has advantages such as light weight and thinness as it does not require a separate backlight, and advantageous power consumption. In particular, among the electroluminescent display devices, the organic light emitting display device can be driven at a low DC voltage, has a fast response speed, and has low manufacturing cost.

전계 발광 표시장치는 다수 개의 전계 발광 다이오드를 포함한다. 전계 발광 다이오드는, 애노드 전극, 애노드 전극 상에 형성되는 발광층, 그리고 발광층 위에 형성되는 캐소드 전극을 포함한다. 애노드 전극에 고전위 전압이 인가되고 캐소드 전극에 저전위 전압이 인가되면, 애노드 전극에서는 정공이 캐소드 전극에서는 전자가 각각 발광층으로 이동된다. 발광층에서 정공과 전자가 결합할 때, 여기 과정에서 여기자(exiton)가 형성되고, 여기자로부터의 에너지로 인해 빛이 발생한다. 전계 발광 표시장치는, 뱅크에 의해 개별적으로 구분되는 다수 개의 전계 발광 다이오드의 발광층에서 발생하는 빛의 양을 전기적으로 제어하여 영상을 표시한다.An electroluminescent display device includes a plurality of electroluminescent diodes. The light emitting diode includes an anode electrode, a light emitting layer formed on the anode electrode, and a cathode electrode formed on the light emitting layer. When a high potential voltage is applied to the anode electrode and a low potential voltage is applied to the cathode electrode, holes from the anode electrode and electrons from the cathode electrode move to the light emitting layer, respectively. When holes and electrons are combined in the light emitting layer, excitons are formed in an excitation process, and light is generated due to energy from the excitons. An electroluminescent display device displays an image by electrically controlling the amount of light emitted from light emitting layers of a plurality of electroluminescent diodes individually divided by banks.

전계 발광 표시장치는 초박형으로 구현할 수 있고, 유기물질의 특징인 유연성을 최대한 활용할 수 있다는 장점이 있다. 우수한 유연성을 이용하여, 필요에 따라 접고 펼수 있는 폴더블(foldable) 표시장치 혹은 두루마리 방식으로 말아서 보관하고 펼쳐서 사용하는 롤러블(Rollable) 표시장치로의 개발이 용이하다. 하지만, 반복적으로 접고 펴는 동작을 반복할 경우, 구부림 응력에 의해 접히는 부분에서의 갈라짐 혹은 파손이 발생할 수 있다. 이러한 파손이 발생할 경우, 파손된 결함부를 통해 수분 또는 이물질이 외부로부터 롤러블 혹은 폴더블 전계 발광 표시장치 내부로 침투되고, 이는 전계 발광 표시장치의 수명을 단축하는 원인이 될 수 있다.The electroluminescent display device has the advantage of being ultra-thin and maximally utilizing flexibility, which is a characteristic of organic materials. Using excellent flexibility, it is easy to develop a foldable display device that can be folded and unfolded as needed or a rollable display device that can be rolled up, stored, and unfolded for use. However, when repeated folding and unfolding operations are repeated, cracks or damage may occur at the folded portion due to bending stress. When such damage occurs, moisture or foreign matter penetrates into the rollable or foldable electroluminescent display from the outside through the damaged defective portion, which may shorten the lifespan of the electroluminescent display.

본 출원은 구부림과 펴는 동작을 반복하더라도 구부림 응력을 최소화하여, 갈라짐이나 파손을 방지할 수 있는 플렉서블 전계 발광 표시장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다. 또한, 본 출원은 반복되는 구부림 동작에 의한 응력을 흡수할 수 있으며 외부로부터 수분 침투를 억제하는 구조를 갖는 플렉서블 전계 발광 표시장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.A technical problem of the present application is to provide a flexible electroluminescent display capable of preventing cracking or breakage by minimizing bending stress even when bending and unfolding operations are repeated. In addition, a technical problem of the present application is to provide a flexible electroluminescent display device having a structure capable of absorbing stress caused by repeated bending operations and suppressing moisture permeation from the outside.

본 출원의 일 실시 예에 따른 플렉서블 전계 발광 표시장치는, 플렉서블 기판, 스캔 배선, 데이터 배선, 화소 구동 전원 배선, 구동 소자 및 발광 소자를 포함한다. 플렉서블 기판은, 기저층과, 기저층의 표면 위에서 매트릭스 방식으로 배열된 다수 개의 화소들을 정의하도록 일정 두께 돌출한 격벽을 구비한다. 스캔 배선은, 격벽을 타고 넘어 플렉서블 기판의 가로 방향으로 진행한다. 데이터 배선 및 화소 구동 전원 배선은, 격벽을 타고 넘어 플렉서블 기판의 세로 방향으로 진행한다. 구동 소자는, 화소 내에 배치되고 스캔 배선, 데이터 배선 및 화소 구동 전원 배선에 연결된다. 발광 소자는, 화소 내에 배치되고 구동 소자에 연결된다.A flexible electroluminescent display device according to an exemplary embodiment of the present application includes a flexible substrate, a scan wire, a data wire, a pixel driving power supply wire, a driving element, and a light emitting element. The flexible substrate includes a base layer and barrier ribs protruding with a certain thickness to define a plurality of pixels arranged in a matrix manner on a surface of the base layer. The scan wiring crosses over the barrier rib and proceeds in the horizontal direction of the flexible substrate. The data wiring and the pixel driving power supply wiring go over the barrier rib in the vertical direction of the flexible substrate. The driving element is disposed in the pixel and connected to the scan wiring, the data wiring and the pixel driving power supply wiring. A light emitting element is disposed in a pixel and connected to a driving element.

일례로, 기저층은 상기 격벽보다 얇은 두께를 갖는다. 기저층과 격벽은 일체형으로 형성된다.For example, the base layer has a thickness smaller than that of the barrier rib. The base layer and the barrier rib are integrally formed.

일례로, 구동 소자와 발광 소자는, 격벽으로 둘러싸인 화소 내부에 배치된다. 스캔 배선, 데이터 배선 및 화소 구동 전류 배선들은, 격벽 위와 기저층 위를 지나가도록 배치된다.For example, a driving element and a light emitting element are arranged inside a pixel surrounded by partition walls. The scan wires, data wires, and pixel driving current wires are arranged to pass over the barrier rib and the base layer.

일례로, 격벽 위에서 역 테이퍼 단면 형상을 갖고 적층된 스페이서를 더 포함한다. 발광층은, 스페이서에 의해 화소별로 분리된다. 공통 전극은, 스페이서를 타고 넘어 가로 방향으로 이웃하는 화소들의 발광층 위에 공통으로 적층된다.For example, a spacer having an inverted taper cross-sectional shape and stacked on the barrier rib is further included. The light emitting layer is separated for each pixel by spacers. The common electrode is commonly stacked on light emitting layers of horizontally adjacent pixels over the spacer.

일례로, 구동 소자와 발광 소자 사이에 적층된 평탄화 막을 더 포함한다. 구동 소자에 포함된 무기 물질로 이루어진 절연막의 측면은 격벽의 측면과 접한다.For example, a planarization film stacked between the driving element and the light emitting element is further included. A side surface of the insulating film made of an inorganic material included in the driving element is in contact with a side surface of the barrier rib.

일례로, 평탄화 막은, 격벽의 높이보다 높게 적층되어 격벽의 상부 표면을 덮는다.In one example, the planarization film is stacked higher than the height of the barrier rib and covers the upper surface of the barrier rib.

일례로, 평탄화 막은, 격벽의 높이보다 낮게 적층되어 평탄화 막의 측면이 격벽의 측면과 접촉한다.In one example, the planarization film is stacked lower than the height of the barrier rib so that the side surface of the planarization film is in contact with the side surface of the barrier rib.

일례로, 플렉서블 기판은, 화소들이 배치된 표시 영역, 그리고 표시 영역을 둘러싸는 비 표시 영역을 포함한다. 비 표시 영역은, 기저층 위에 배치된 게이트 구동 소자, 기저층 위에 배치된 공통 전원 배선, 기저층 위에 배치된 댐 구조체, 그리고 기저층의 최외각 테두리를 따라 상부로 돌출되며, 상기 댐 구조체를 둘러싸는 외부 격벽을 포함한다.For example, the flexible substrate includes a display area in which pixels are disposed, and a non-display area surrounding the display area. The non-display area includes a gate driving element disposed on the base layer, a common power supply wire disposed on the base layer, a dam structure disposed on the base layer, and an external partition wall protruding upward along an outermost edge of the base layer and surrounding the dam structure. include

일례로, 외부 격벽의 상부 표면에는 무기 물질층이 적층되지 않은다.For example, an inorganic material layer is not laminated on an upper surface of the external barrier rib.

일례로, 격벽을 타고 넘어 발광 소자 위에 적층된 제1 무기 봉지층, 제1 무기 봉지층 위에 적층된 유기 봉지층, 그리고 유기 봉지층 위에 적층된 제2 무기 봉지층을 더 포함한다.For example, it further includes a first inorganic encapsulation layer stacked on the light emitting element over the barrier rib, an organic encapsulation layer stacked on the first inorganic encapsulation layer, and a second inorganic encapsulation layer stacked on the organic encapsulation layer.

일례로, 유기 봉지층은, 댐 구조체 내측 영역에 제한된다. 제1 무기 봉지층 및 제2 무기 봉지층은, 유기 봉지층을 밀봉하며, 댐 구조체 외부에서 면 접촉을 하며, 외부 격벽의 내측면과 접촉한다.For example, the organic encapsulation layer is limited to the inner region of the dam structure. The first inorganic encapsulation layer and the second inorganic encapsulation layer seal the organic encapsulation layer, make surface contact outside the dam structure, and contact the inner surface of the external partition wall.

일례로, 기저층 하부에 적층된 버퍼 층, 그리고 버퍼 층 하부에 적층된 하부 기판을 더 포함한다.For example, a buffer layer stacked under the base layer and a lower substrate stacked under the buffer layer are further included.

본 출원에 따른 플렉서블 전계 발광 표시장치는 구부렸다 펴는 동작을 반복하더라도 응력을 완화하거나 흡수할 수 있는 구조를 갖는다. 그 결과, 반복되는 구부림 동작을 하더라도, 갈라짐이나 파손이 발생하지 않는다. 본 출원에 따른 플렉서블 전계 발광 표시장치는 구부림 응력에 강건하고, 외부로부터 수분 및 이물질의 침투를 방지할 수 있는 구조를 갖는다.The flexible electroluminescent display device according to the present application has a structure capable of alleviating or absorbing stress even when bending and unfolding operations are repeated. As a result, even if repeated bending operations are performed, no cracks or breakages occur. The flexible electroluminescent display device according to the present application has a structure that is robust against bending stress and can prevent penetration of moisture and foreign substances from the outside.

위에서 언급된 본 출원의 효과 외에도, 본 출원의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 기술되거나, 그러한 기술 및 설명으로부터 본 출원이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.In addition to the effects of the present application mentioned above, other features and advantages of the present application will be described below, or will be clearly understood by those skilled in the art from such description and description.

도 1은 본 출원의 바람직한 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치를 나타내는 평면도이다.
도 2는 본 출원의 바람직한 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치에서 단일 화소의 구조를 나타내는 평면 확대도이다.
도 3은 본 출원의 일 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치의 구조를 나타내는 것으로 도 2 절취선 I-I'을 따라 도시한 단면도이다.
도 4는 본 출원의 다른 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치의 구조를 나타내는 것으로 도 2 절취선 I-I'을 따라 도시한 단면도이다.
도 5는 본 출원의 또 다른 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치의 구조를 나타내는 것으로 도 1 절취선 II-II'을 따라 도시한 단면도이다.
1 is a plan view illustrating a flexible electroluminescent display device according to a preferred embodiment of the present application.
2 is an enlarged plan view showing the structure of a single pixel in a flexible electroluminescent display device according to a preferred embodiment of the present application.
3 is a cross-sectional view taken along the line II′ of FIG. 2 showing the structure of a flexible electroluminescent display device according to an exemplary embodiment of the present application.
4 is a cross-sectional view taken along the line II′ of FIG. 2 showing the structure of a flexible electroluminescent display device according to another embodiment of the present application.
5 is a cross-sectional view taken along the line II-II′ of FIG. 1 showing the structure of a flexible electroluminescent display device according to another embodiment of the present application.

본 출원의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 일 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 출원은 이하에서 개시되는 일 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 출원의 일 예들은 본 출원의 개시가 완전하도록 하며, 본 출원의 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 출원의 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Advantages and features of the present application, and methods of achieving them, will become clear with reference to examples described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present application is not limited to the examples disclosed below and will be implemented in a variety of different forms, and only the examples of the present application make the disclosure of the present application complete, and common in the technical field to which the invention of the present application belongs. It is provided to completely inform those who have knowledge of the scope of the invention, and the invention of this application is only defined by the scope of the claims.

본 출원의 일 예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 출원이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 출원의 예를 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 출원의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. Since the shape, size, ratio, angle, number, etc. disclosed in the drawings for explaining an example of the present application are exemplary, the present application is not limited to the matters shown. Like reference numbers designate like elements throughout the specification. In addition, in describing examples of the present application, if it is determined that a detailed description of related known technologies may unnecessarily obscure the subject matter of the present application, the detailed description will be omitted.

본 명세서에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다. When 'includes', 'has', 'consists', etc. mentioned in this specification is used, other parts may be added unless 'only' is used. In the case where a component is expressed in the singular, the case including the plural is included unless otherwise explicitly stated.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.In interpreting the components, even if there is no separate explicit description, it is interpreted as including the error range.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.In the case of a description of a positional relationship, for example, 'on top of', 'on top of', 'at the bottom of', 'next to', etc. Or, unless 'directly' is used, one or more other parts may be located between the two parts.

시간 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~후에', '~에 이어서', '~다음에', '~전에' 등으로 시간적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.In the case of a description of a temporal relationship, for example, 'immediately' or 'directly' when a temporal precedence relationship is described in terms of 'after', 'following', 'next to', 'before', etc. It can also include non-continuous cases unless is used.

제 1, 제 2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제 1 구성요소는 본 출원의 기술적 사상 내에서 제 2 구성요소일 수도 있다.Although first, second, etc. are used to describe various components, these components are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another. Therefore, the first component mentioned below may be the second component within the technical spirit of the present application.

"적어도 하나"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, "제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 적어도 하나"의 의미는 제 1 항목, 제 2 항목 또는 제 3 항목 각각 뿐만 아니라 제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미할 수 있다. The term “at least one” should be understood to include all possible combinations from one or more related items. For example, "at least one of the first item, the second item, and the third item" means not only the first item, the second item, or the third item, respectively, but also two of the first item, the second item, and the third item. It may mean a combination of all items that can be presented from one or more.

본 출원의 여러 예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.Each feature of the various examples of the present application can be partially or entirely combined or combined with each other, technically various interlocking and driving are possible, and each example can be implemented independently of each other or can be implemented together in a related relationship. .

이하에서는 본 출원에 따른 플렉서블 전계 발광 표시장치의 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 각 도면의 구성 요소들에 참조 부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다.Hereinafter, an example of a flexible electroluminescent display device according to the present application will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In adding reference numerals to components of each drawing, the same components may have the same numerals as much as possible even if they are displayed on different drawings.

도 1은 본 출원의 바람직한 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치를 나타내는 평면도이다. 도 1을 참조하면, 본 출원에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치는 플렉서블 기판(FS), 화소(P), 격벽(PD), 공통 전원 배선(CPL) 및 댐 구조물(DM)을 포함할 수 있다.1 is a plan view illustrating a flexible electroluminescent display device according to a preferred embodiment of the present application. Referring to FIG. 1 , a flexible electroluminescent display device according to the present application may include a flexible substrate FS, a pixel P, a barrier rib PD, a common power line CPL, and a dam structure DM.

플렉서블 기판(FS)은 베이스 기판(또는 베이스층)으로서, 플라스틱 재질 또는 유리 재질을 포함한다. 특히, 플렉서블 표시장치의 경우, 유연성이 우수한 플라스틱 재질로 형성하는 것이 바람직하다. 하지만, 유리 재질이더라도, 초박형으로 형성하여 플렉서블 표시장치를 구현할 수 있다.The flexible substrate FS is a base substrate (or base layer) and includes a plastic material or a glass material. In particular, in the case of a flexible display device, it is preferable to form a plastic material having excellent flexibility. However, even if it is made of glass, it is possible to realize a flexible display device by forming it into an ultra-thin shape.

일 예에 따른 플렉서블 기판(FS)은 평면적으로 사각 형태, 각 모서리 부분이 일정한 곡률반경으로 라운딩된 사각 형태, 또는 적어도 6개의 변을 갖는 비사각 형태를 가질 수 있다. 여기서, 비사각 형태를 갖는 플렉서블 기판(FS)은 적어도 하나의 돌출부 또는 적어도 하나의 노치부(notch portion)를 포함할 수 있다.The flexible substrate FS according to an example may have a rectangular shape in plan view, a quadrangular shape in which each corner portion is rounded with a constant radius of curvature, or a non-rectangular shape having at least six sides. Here, the flexible substrate FS having a non-square shape may include at least one protrusion or at least one notch portion.

일 예에 따른 플렉서블 기판(FS)은 표시 영역(AA)과 비 표시 영역(IA)으로 구분될 수 있다. 표시 영역(AA)은 플렉서블 기판(FS)의 중앙 영역에 마련되는 것으로, 영상을 표시하는 영역으로 정의될 수 있다. 일 예에 따른 표시 영역(AA)은 평면적으로 사각 형태, 각 모서리 부분이 일정한 곡률 반경을 가지도록 라운딩 된 사각 형태, 또는 적어도 6개의 변을 갖는 비 사각 형태를 가질 수 있다. 여기서, 비 사각 형태를 갖는 표시 영역(AA)은 적어도 하나의 돌출부 또는 적어도 하나의 노치부를 포함할 수 있다.The flexible substrate FS according to an example may be divided into a display area AA and a non-display area IA. The display area AA is provided in the central area of the flexible substrate FS and may be defined as an area for displaying an image. The display area AA according to an example may have a quadrangular shape in plan view, a quadrangular shape in which corners are rounded to have a constant radius of curvature, or a non-rectangular shape having at least six sides. Here, the display area AA having a non-rectangular shape may include at least one protrusion or at least one notch.

비 표시 영역(IA)은 표시 영역(AA)을 둘러싸도록 플렉서블 기판(FS)의 가장자리 영역에 마련되는 것으로, 영상이 표시되는 않는 영역 또는 주변 영역으로 정의될 수 있다. 일 예에 따른 비 표시 영역(IA)은 플렉서블 기판(FS)의 제1 가장자리에 마련된 제1 비 표시 영역(IA1), 제1 비 표시 영역(IA1)과 나란한 플렉서블 기판(FS)의 제2 가장자리에 마련된 제2 비 표시 영역(IA2), 플렉서블 기판(FS)의 제3 가장자리에 마련된 제3 비 표시 영역(IA3), 및 제3 비 표시 영역과 나란한 플렉서블 기판(FS)의 제4 가장자리에 마련된 제4 비 표시 영역(IA4)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 비 표시 영역(IA1)은 플렉서블 기판(FS)의 상측(또는 하측) 가장자리 영역, 제2 비 표시 영역(IA2)은 플렉서블 기판(FS)의 하측(또는 상측) 가장자리 영역, 제3 비 표시 영역(IA3)은 플렉서블 기판(FS)의 좌측(또는 우측) 가장자리 영역, 그리고 제4 비 표시 영역(IA4)은 플렉서블 기판(FS)의 우측(또는 좌측) 가장자리 영역일 수 있으나, 반드시 이에 한정되지 않는다.The non-display area IA is provided on the edge area of the flexible substrate FS to surround the display area AA, and may be defined as an area where no image is displayed or a peripheral area. The non-display area IA according to an example includes a first non-display area IA1 provided at a first edge of the flexible substrate FS and a second edge of the flexible substrate FS parallel to the first non-display area IA1. A second non-display area IA2 provided on, a third non-display area IA3 provided on a third edge of the flexible substrate FS, and provided on a fourth edge of the flexible substrate FS parallel to the third non-display area. A fourth non-display area IA4 may be included. For example, the first non-display area IA1 is an upper (or lower) edge area of the flexible substrate FS, the second non-display area IA2 is a lower (or upper) edge area of the flexible substrate FS, The third non-display area IA3 may be the left (or right) edge area of the flexible substrate FS, and the fourth non-display area IA4 may be the right (or left) edge area of the flexible substrate FS. It is not necessarily limited to this.

화소(P)는 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA) 상에 마련될 수 있다. 일 예에 따른 화소(P)는 복수 개가 매트릭스 배열을 이루고 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA) 내에 배치될 수 있다. 화소(P)는 격벽(PD)에 의해 정의될 수 있다. 격벽(PD)은 일정한 폭을 갖고 화소(P)를 둘러싼다. 예를 들어, 일정한 폭을 갖는 그물 형상의 격벽(PD)에 의해 다수 개의 화소(P)들이 매트릭스 방식으로 구획되며 정의된다.The pixel P may be provided on the display area AA of the flexible substrate FS. A plurality of pixels P according to an example form a matrix arrangement and may be disposed in the display area AA of the flexible substrate FS. The pixel P may be defined by the barrier rib PD. The barrier rib PD has a constant width and surrounds the pixel P. For example, a plurality of pixels P are partitioned and defined in a matrix manner by a net-shaped barrier rib PD having a constant width.

일 예에 따른 화소(P)는 표시 영역(AA) 상에 스트라이프(stripe) 구조를 가지도록 배치될 수 있다. 이 경우, 하나의 단위 화소는 적색 화소, 녹색 화소, 및 청색 화소를 포함할 수 있으며, 나아가 하나의 단위 화소는 백색 화소를 더 포함할 수 있다.Pixels P according to an example may be arranged to have a stripe structure on the display area AA. In this case, one unit pixel may include a red pixel, a green pixel, and a blue pixel, and furthermore, one unit pixel may further include a white pixel.

다른 예에 따른 화소(P)는 표시 영역(AA) 상에 펜타일(pentile) 구조를 가지도록 배치될 수 있다. 이 경우, 하나의 단위 화소는 평면적으로 다각 형태로 배치된 적어도 하나의 적색 화소, 적어도 2개의 녹색 화소, 및 적어도 하나의 청색 화소들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 펜타일 구조를 갖는 하나의 단위 화소는 하나의 적색 화소, 2개의 녹색 화소, 및 하나의 청색 화소가 평면적으로 팔각 형태를 가지도록 배치될 수 있고, 이 경우 청색 화소는 상대적으로 가장 큰 크기의 개구 영역(또는 발광 영역)을 가질 수 있으며, 녹색 화소는 상대적으로 가장 작은 크기의 개구 영역을 가질 수 있다.Pixels P according to another example may be arranged to have a pentile structure on the display area AA. In this case, one unit pixel may include at least one red pixel, at least two green pixels, and at least one blue pixel arranged in a polygonal shape in a planar view. For example, in one unit pixel having a pentile structure, one red pixel, two green pixels, and one blue pixel may be arranged to have an octagonal shape in plan view. In this case, the blue pixel is relatively the largest. It may have a large opening area (or light emitting area), and the green pixel may have a relatively small opening area.

화소(P)는 스캔 배선(SL), 센싱 배선(RL), 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전원 배선(PL)에 전기적으로 연결된 화소 회로(PC), 및 화소 회로(PC)에 전기적으로 연결된 발광 소자(ED)를 포함할 수 있다.The pixel P is electrically connected to a pixel circuit PC electrically connected to a scan line SL, a sensing line RL, a data line DL, and a pixel driving power supply line PL, and electrically connected to the pixel circuit PC. A light emitting device (ED) may be included.

스캔 배선(SL), 센싱 배선(RL), 데이터 배선(DL), 화소 구동 전원 배선(PL)들은 화소(P)의 가장자리에 배치될 수 있다. 이들 배선들은 다수 개의 화소(P)에 걸쳐 연장되어 있다. 따라서, 이들 배선들은 격벽(PD)을 타고 넘어 화소(P)들을 가로 질러 연장된다.The scan line SL, the sensing line RL, the data line DL, and the pixel driving power line PL may be disposed at an edge of the pixel P. These wires extend over a plurality of pixels P. Accordingly, these wires cross over the barrier rib PD and extend across the pixels P.

스캔 배선(SL)은 제1 방향(X)을 따라 길게 연장되고 제1 방향(X)과 교차하는 제2 방향(Y)을 따라 일정 간격으로 배치된다. 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA)은 제1 방향(X)과 나란하면서 제2 방향(Y)을 따라 서로 이격된 복수의 스캔 배선(SL)을 포함한다. 여기서, 제1 방향(X)은 플렉서블 기판(FS)의 가로 방향으로 정의될 수 있고, 제2 방향(Y)은 플렉서블 기판(FS)의 세로 방향으로 정의될 수 있으나, 반드시 이에 한정되지 않고 그 반대로 정의될 수도 있다.The scan lines SL extend along the first direction X and are disposed at regular intervals along the second direction Y crossing the first direction X. The display area AA of the flexible substrate FS includes a plurality of scan lines SL parallel to the first direction X and spaced apart from each other along the second direction Y. Here, the first direction X may be defined as the horizontal direction of the flexible substrate FS, and the second direction Y may be defined as the vertical direction of the flexible substrate FS, but is not necessarily limited thereto. It can also be defined conversely.

센싱 배선(RL)은 스캔 배선(SL)과 나란하도록 플렉서블 기판(FS) 상에 배치된다. 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA)은 스캔 배선(SL)과 나란한 복수의 센싱 배선(RL)을 포함한다. 경우에 따라서, 센싱 배선(RL)은 데이터 배선(DL)과 나란한 수직 센싱 배선을 더 포함할 수 있다.The sensing line RL is disposed on the flexible substrate FS parallel to the scan line SL. The display area AA of the flexible substrate FS includes a plurality of sensing lines RL parallel to the scan lines SL. In some cases, the sensing line RL may further include a vertical sensing line parallel to the data line DL.

데이터 배선(DL)은 제2 방향(Y)을 따라 길게 연장되고 제1 방향(X)을 따라 일정 간격으로 배치된다. 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA)은 제2 방향(Y)과 나란하면서 제1 방향(X)을 따라 서로 이격된 복수의 데이터 배선(DL)을 포함한다.The data lines DL extend along the second direction Y and are disposed at regular intervals along the first direction X. The display area AA of the flexible substrate FS includes a plurality of data lines DL parallel to the second direction Y and spaced apart from each other along the first direction X.

화소 구동 전원 배선(PL)은 데이터 배선(DL)과 나란하도록 플렉서블 기판(FS) 상에 배치된다. 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA)은 데이터 배선(DL)과 나란한 복수의 화소 구동 전원 배선(PL)을 포함한다. 선택적으로, 화소 구동 전원 배선(PL)은 스캔 배선(SL)과 나란하도록 배치될 수도 있다.The pixel driving power line PL is disposed on the flexible substrate FS parallel to the data line DL. The display area AA of the flexible substrate FS includes a plurality of pixel driving power lines PL parallel to the data lines DL. Optionally, the pixel driving power line PL may be arranged parallel to the scan line SL.

화소 회로(PC)는 격벽(PD)로 둘러싸인 화소(P) 내부 영역에 배치되며, 화소(P) 내부 영역을 지나가는 하나의 스캔 배선(SL)으로부터 공급되는 스캔 신호에 응답하여 화소(P) 내부 영역을 지나가는 데이터 배선(DL)으로부터 공급되는 데이터 전압을 기반으로 화소 구동 전원 배선(PL)으로부터 발광 소자(ED)에 흐르는 전류(Ied)를 제어한다.The pixel circuit PC is disposed in the inner region of the pixel P surrounded by the barrier rib PD, and responds to a scan signal supplied from one scan line SL passing through the inner region of the pixel P to the inside of the pixel P. A current Ied flowing from the pixel driving power supply line PL to the light emitting element ED is controlled based on the data voltage supplied from the data line DL passing through the region.

일 예에 따른 화소 회로(PC)는 적어도 2개의 박막 트랜지스터 및 하나의 커패시터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 일 예에 따른 화소 회로(PC)는 데이터 전압을 기반으로 하는 데이터 전류(Ied)를 발광 소자(ED)에 공급하는 구동 박막 트랜지스터, 데이터 배선(DL)으로부터 공급되는 데이터 전압을 구동 박막 트랜지스터에 공급하는 스위칭 박막 트랜지스터, 및 구동 박막 트랜지스터의 게이트-드레인 전압을 저장하는 커패시터를 포함할 수 있다.The pixel circuit PC according to an example may include at least two thin film transistors and one capacitor. For example, the pixel circuit PC according to an exemplary embodiment drives a data voltage supplied from a driving thin film transistor supplying a data current Ied based on the data voltage to the light emitting device ED and a data line DL. It may include a switching thin film transistor that supplies the thin film transistor, and a capacitor that stores the gate-drain voltage of the driving thin film transistor.

다른 예에 따른 화소 회로(PC)는 적어도 3개의 박막 트랜지스터 및 적어도 하나의 커패시터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 일 예에 따른 화소 회로(PC)는 적어도 3개의 박막 트랜지스터 각각의 동작(또는 기능)에 따라 전류 공급 회로와 데이터 공급 회로 및 보상 회로를 포함할 수 있다. 여기서, 전류 공급 회로는 데이터 전압을 기반으로 하는 데이터 전류(Ied)를 발광 소자(ED)에 공급하는 구동 박막 트랜지스터를 포함할 수 있다. 데이터 공급 회로는 적어도 하나의 스캔 신호에 응답하여 데이터 배선(DL)으로부터 공급되는 데이터 전압을 전류 공급 회로에 공급하는 적어도 하나의 스위칭 박막 트랜지스터를 포함할 수 있다. 보상 회로는 적어도 하나의 센싱 신호에 응답하여 구동 박막 트랜지스터의 특성 값(임계 전압 및/또는 이동도) 변화를 보상하는 적어도 하나의 보상 박막 트랜지스터를 포함할 수 있다.A pixel circuit PC according to another example may include at least three thin film transistors and at least one capacitor. For example, the pixel circuit PC according to an example may include a current supply circuit, a data supply circuit, and a compensation circuit according to the operation (or function) of each of at least three thin film transistors. Here, the current supply circuit may include a driving thin film transistor that supplies the data current Ied based on the data voltage to the light emitting element ED. The data supply circuit may include at least one switching thin film transistor supplying the data voltage supplied from the data line DL to the current supply circuit in response to at least one scan signal. The compensation circuit may include at least one compensation thin film transistor that compensates for a change in characteristic values (threshold voltage and/or mobility) of the driving thin film transistor in response to at least one sensing signal.

발광 소자(ED)는 격벽(PD)으로 둘러싸인 화소(P) 영역 내부에 배치되며, 화소 회로(PC)로부터 공급되는 데이터 전류(Ied)에 의해 발광하여 데이터 전류(Ied)에 해당하는 휘도의 광을 방출한다. 이 경우, 데이터 전류(Ied)는 화소 구동 전원 배선(PL)으로부터 구동 박막 트랜지스터와 발광 소자(ED)를 통해 공통 전원 배선(CPL)으로 흐를 수 있다.The light emitting element ED is disposed inside the pixel P region surrounded by the barrier rib PD, and emits light with a luminance corresponding to the data current Ied by emitting light according to the data current Ied supplied from the pixel circuit PC. emits In this case, the data current Ied may flow from the pixel driving power line PL through the driving thin film transistor and the light emitting element ED to the common power line CPL.

일 예에 따른 발광 소자(ED)는 화소 회로(PC)와 전기적으로 연결된 화소 구동 전극(또는 제 1 전극 혹은 애노드), 화소 구동 전극 상에 형성된 발광층, 및 발광층에 전기적으로 연결된 공통 전극(또는 제 2 전극 혹은 캐소드)을 포함할 수 있다.The light emitting element ED according to an example includes a pixel driving electrode (or first electrode or anode) electrically connected to the pixel circuit PC, a light emitting layer formed on the pixel driving electrode, and a common electrode (or second electrode) electrically connected to the light emitting layer. 2 electrodes or cathodes).

본 출원의 일 실시 예에 의한 전계발광 표시장치는, 배선들(SL, RL, DL, PL)은 격벽(PD)을 타고 넘어, 격벽(PD)에 의해 정의된 화소(P) 내부 영역을 가로 지르면서 플렉서블 기판(FS) 위에 배치된다. 반면에, 화소 회로(PC)와 발광 소자(ED)는 격벽(PD)에 의해 구획된 화소(P) 내부 영역에만 배치되는 특징이 있다.In the electroluminescence display device according to an exemplary embodiment of the present application, the wires SL, RL, DL, and PL cross over the barrier rib PD and cross the inner area of the pixel P defined by the barrier rib PD. It is placed on the flexible substrate FS while holding it. On the other hand, the pixel circuit PC and the light emitting element ED are disposed only in the inner region of the pixel P partitioned by the barrier rib PD.

공통 전원 배선(CPL)은 플렉서블 기판(FS)의 비 표시 영역(IA) 상에 배치되고 표시 영역(AA) 상에 배치된 공통 전극과 전기적으로 연결된다. 일 예에 따른 공통 전원 배선(CPL)은 일정한 배선 폭을 가지면서 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(IA)에 인접한 제2 내지 제4 비 표시 영역(IA2, IA3, IA4)을 따라 배치되고, 플렉서블 기판(FS)의 제1 비 표시 영역(IA1)에 인접한 표시 영역(AA)의 일부를 제외한 나머지 부분을 둘러싼다. 공통 전원 배선(CPL)의 일단은 제1 비 표시 영역(IA1)의 일측 상에 배치되고, 공통 전원 배선(CPL)의 타단은 제1 비 표시 영역(IA1)의 타측 상에 배치될 수 있다. 그리고, 공통 전원 배선(CPL)의 일단과 타단 사이는 제2 내지 제4 비 표시 영역(IA2, IA3, IA4)을 둘러싸도록 배치될 수 있다. 이에 따라, 일 예에 따른 공통 전원 배선(CPL)은 평면적으로 플렉서블 기판(FS)의 제1 비표시 영역(IA1)에 해당하는 일측이 개구된 '∩'자 형태를 가질 수 있다.The common power line CPL is disposed on the non-display area IA of the flexible substrate FS and electrically connected to a common electrode disposed on the display area AA. The common power line CPL according to an example has a constant wiring width and is disposed along second to fourth non-display areas IA2, IA3, and IA4 adjacent to the display area IA of the flexible substrate FS, It surrounds the rest of the display area AA adjacent to the first non-display area IA1 of the flexible substrate FS except for a portion. One end of the common power line CPL may be disposed on one side of the first non-display area IA1, and the other end of the common power line CPL may be disposed on the other side of the first non-display area IA1. Also, between one end and the other end of the common power line CPL may be disposed to surround the second to fourth non-display areas IA2 , IA3 , and IA4 . Accordingly, the common power line CPL according to an example may have a '∩' shape in which one side corresponding to the first non-display area IA1 of the flexible substrate FS is open in plan view.

봉지층은 플렉서블 기판(FS) 상에 형성되어 표시 영역(AA) 및 공통 전원 배선(CPL)의 상부면과 측면을 둘러싸도록 형성할 수 있다. 한편, 봉지층은, 제1 비 표시 영역(IA1)에서는, 공통 전원 배선(CPL)의 일단과 타단을 노출할 수 있다. 봉지층은 산소 또는 수분이 표시 영역(AA) 내에 마련된 발광 소자(ED)로 침투하는 것을 방지할 수 있다. 일 예에 따른 봉지층은 적어도 하나의 무기막을 포함할 수 있다. 다른 예에 따른 봉지층은 복수의 무기막 및 복수의 무기막 사이의 유기막을 포함할 수 있다.The encapsulation layer may be formed on the flexible substrate FS to surround upper and side surfaces of the display area AA and the common power line CPL. Meanwhile, the encapsulation layer may expose one end and the other end of the common power supply line CPL in the first non-display area IA1 . The encapsulation layer may prevent oxygen or moisture from penetrating into the light emitting device ED provided in the display area AA. An encapsulation layer according to an example may include at least one inorganic layer. An encapsulation layer according to another example may include a plurality of inorganic layers and an organic layer between the plurality of inorganic layers.

본 출원의 일 예에 따른 플렉서블 전계 발광 표시장치는 패드부(PP), 게이트 구동 회로(200) 및 구동 집적 회로(300)를 더 포함할 수 있다.The flexible electroluminescent display device according to an example of the present application may further include a pad part PP, a gate driving circuit 200, and a driving integrated circuit 300.

패드부(PP)는 플렉서블 기판(FS)의 비 표시 영역(IA)에 마련된 복수의 패드를 포함할 수 있다. 일 예에 따른 패드부(PP)는 플렉서블 기판(FS)의 제1 비 표시 영역(IA1)에 마련된 복수의 공통 전원 공급 패드, 복수의 데이터 입력 패드, 복수의 전원 공급 패드 및 복수의 제어 신호 입력 패드 등을 포함할 수 있다.The pad part PP may include a plurality of pads provided in the non-display area IA of the flexible substrate FS. The pad unit PP according to an example includes a plurality of common power supply pads, a plurality of data input pads, a plurality of power supply pads, and a plurality of control signal inputs provided in the first non-display area IA1 of the flexible substrate FS. pads and the like.

게이트 구동 회로(200)는 플렉서블 기판(FS)의 제3 비 표시 영역(IA3) 및/또는 제4 비 표시 영역(IA4)에 마련되어 표시 영역(AA)에 마련된 스캔 배선들(SL)과 일대일로 연결된다. 게이트 구동 회로(200)는 화소(P)의 제조 공정, 즉 박막 트랜지스터의 제조 공정과 함께 플렉서블 기판(FS)의 제3 비 표시 영역(IA3) 및/또는 제4 비 표시 영역(IA4)에 집적된다. 이러한 게이트 구동 회로(200)는 구동 집적 회로(300)로부터 공급되는 게이트 제어 신호를 기반으로 스캔 신호를 생성하여 정해진 순서에 따라 출력함으로써 복수의 스캔 배선(SL) 각각을 정해진 순서에 따라 구동한다. 일 예에 따른 게이트 구동 회로(200)는 쉬프트 레지스터를 포함할 수 있다.The gate driving circuit 200 is provided in the third non-display area IA3 and/or the fourth non-display area IA4 of the flexible substrate FS and is one-to-one with the scan wires SL provided in the display area AA. Connected. The gate driving circuit 200 is integrated into the third non-display area IA3 and/or the fourth non-display area IA4 of the flexible substrate FS along with the manufacturing process of the pixel P, that is, the thin film transistor manufacturing process. do. The gate driving circuit 200 generates scan signals based on the gate control signal supplied from the driving integrated circuit 300 and outputs them in a predetermined order, thereby driving each of the plurality of scan lines SL in a predetermined order. The gate driving circuit 200 according to an example may include a shift register.

댐 구조체(DM)는 플렉서블 기판(FS)의 제1 비 표시 영역(IA1), 제2 비 표시 영역(IA2), 제3 비 표시 영역(IA3) 및 제4 비 표시 영역(IA4)에 마련되어 표시 영역(AA) 주변을 둘러싸는 폐곡선 구조를 가질 수 있다. 일례로, 댐 구조체(DM)는 공통 전원 배선(CPL)의 외측에 배치됨으로서 플렉서블 기판(FS) 위에서 최 외각부에 위치할 수 있다. 패드부(PP)와 구동 집적 회로(300)은 댐 구조체(DM)의 외측 영역에 배치되는 것이 바람직하다.The dam structure DM is provided in the first non-display area IA1, the second non-display area IA2, the third non-display area IA3, and the fourth non-display area IA4 of the flexible substrate FS. It may have a closed curve structure surrounding the area AA. For example, the dam structure DM may be disposed outside the common power supply line CPL and may be located at the outermost portion on the flexible substrate FS. It is preferable that the pad part PP and the driving integrated circuit 300 are disposed on the outer region of the dam structure DM.

도 1에서는 댐 구조체(DM)가 최외곽에 배치된 경우를 도시하였지만, 이에 국한하는 것은 아니다. 다른 예로, 댐 구조체(DM)는 공통 전원 배선(CPL)과 게이트 구동 회로(200) 사이에 배치될 수 있다. 또 다른 예로, 댐 구조체(DM)는 표시 영역(AA)과 게이트 구동 회로(300) 사이에 배치될 수 있다.Although FIG. 1 shows the case where the dam structure DM is disposed at the outermost part, it is not limited thereto. As another example, the dam structure DM may be disposed between the common power line CPL and the gate driving circuit 200 . As another example, the dam structure DM may be disposed between the display area AA and the gate driving circuit 300 .

구동 집적 회로(300)는 칩 실장(또는 본딩) 공정을 통해 플렉서블 기판(FS)의 제1 비 표시 영역(IA1)에 정의된 칩 실장 영역에 실장된다. 구동 집적 회로(300)의 출력 단자들은 패드부(PP)에 전기적으로 연결되고, 구동 집적 회로(300)의 출력 단자들은 표시 영역(AA)에 마련된 복수의 데이터 배선(DL)과 복수의 화소 구동 전원 배선(PL)에 전기적으로 연결된다. 구동 집적 회로(300)는 패드부(PP)를 통해 디스플레이 구동 회로부(또는 호스트 회로)로부터 입력되는 각종 전원, 타이밍 동기 신호, 및 디지털 영상 데이터 등을 수신하고, 타이밍 동기 신호에 따라 게이트 제어 신호를 생성하여 게이트 구동 회로(200)의 구동을 제어하고, 이와 동시에 디지털 영상 데이터를 아날로그 형태의 화소 데이터 전압으로 변환하여 해당하는 데이터 배선(DL)에 공급한다.The driving integrated circuit 300 is mounted in the chip mounting area defined in the first non-display area IA1 of the flexible substrate FS through a chip mounting (or bonding) process. Output terminals of the driving integrated circuit 300 are electrically connected to the pad part PP, and the output terminals of the driving integrated circuit 300 are connected to a plurality of data lines DL provided in the display area AA and driving a plurality of pixels. It is electrically connected to the power line (PL). The driving integrated circuit 300 receives various types of power, timing synchronization signals, digital image data, etc. input from the display driving circuit unit (or host circuit) through the pad unit PP, and generates a gate control signal according to the timing synchronization signal. generated to control the driving of the gate driving circuit 200, and at the same time, digital image data is converted into an analog pixel data voltage and supplied to the corresponding data line DL.

구동 집적 회로(300)가 칩 형태로 실장된 경우, 폴더블 혹은 롤러블 표시장치에서 구동 집적 회로(300)가 접히는 부분이 되지 않는 것이 바람직하다. 예를 들어, 도 1에 도시한 경우에서 플렉서블 기판(FS)이 X축을 기준으로 상변 하변이 서로 만나도록 구부러질 경우, 구동 집적 회로(300)는 접히거나 둥글게 말리지 않아도 되는 하단변에 평행하도록 설정하는 것이 바람직하다.When the drive integrated circuit 300 is mounted in a chip form, it is preferable that the drive integrated circuit 300 does not form a foldable portion in a foldable or rollable display device. For example, in the case shown in FIG. 1, when the flexible substrate FS is bent so that the upper and lower sides meet each other with respect to the X axis, the drive integrated circuit 300 is set to be parallel to the lower side that does not need to be folded or rolled It is desirable to do

이하, 본 출원의 주요 특징을 설명하기 위해 구조적 특징을 잘 나타내고 있는 확대도면 및/또는 단면도들을 참조하여 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 특히, 폴더블 혹은 롤러블 표시장치에서 구부림 응력에 의해 파손을 방지할 수 있는 유기 격벽과 화소 구조를 중심으로 상세히 설명한다Hereinafter, preferred embodiments will be described in detail with reference to enlarged drawings and/or cross-sectional views showing structural features in order to explain the main features of the present application. In particular, it will be described in detail, focusing on organic partition walls and pixel structures that can prevent breakage due to bending stress in a foldable or rollable display device.

도 2 및 3을 참조하여, 본 출원의 일 실시 예에 대해 설명한다. 필요한 경우, 도 1을 함께 참조한다. 도 2는 본 출원의 바람직한 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치에서 단일 화소의 구조를 나타내는 평면 확대도이다. 도 3은 본 출원의 일 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치의 구조를 나타내는 것으로 도 2 절취선 I-I'을 따라 도시한 단면도이다.Referring to Figures 2 and 3, an embodiment of the present application will be described. If necessary, refer to FIG. 1 together. 2 is an enlarged plan view showing the structure of a single pixel in a flexible electroluminescent display device according to a preferred embodiment of the present application. 3 is a cross-sectional view taken along the line II′ of FIG. 2 showing the structure of a flexible electroluminescent display device according to an exemplary embodiment of the present application.

도 2에 도시한 본 출원의 일 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치는 플렉서블 기판(FS) 위에 매트릭스 방식으로 배열된 다수 개의 화소(P)들을 구비한다. 플렉서블 기판(FS)은 격벽(PD)과 기저층(PS)을 구비한다. 격벽(PD)은 일정 폭과 높이를 갖는다. 격벽(PD)은 그물망 형상을 가지면서, 기저층(PS)의 상부 표면 위에서 연결되어 있다. 예를 들어, 폴리이미드와 같은 유기 물질을 판상 형태의 기판으로 형성한 후에, 일정 폭을 갖는 그물 패턴을 마스크로 하여 유기물질로 만든 기판을 일정 깊이 식각하여 기저층(PS)과 격벽(PD)을 형성할 수 있다. 격벽(PD)과 기저층(PS)은 일체로 이루어져 있으며, 동일한 물질로 이루어져 있다. 얇은 두께를 갖는 기저층(PS)의 표면 위에는 일정 폭과 기저층(PS)보다 두꺼운 두께를 갖는 격벽(PD)들이 돌출되고, 격벽(PD)들로 둘러싸인 내부 영역이 화소(P)로 정의된다.A flexible electroluminescent display according to an exemplary embodiment of the present application shown in FIG. 2 includes a plurality of pixels P arranged in a matrix manner on a flexible substrate FS. The flexible substrate FS includes a barrier rib PD and a base layer PS. The barrier rib PD has a predetermined width and height. The barrier rib PD has a mesh shape and is connected on the upper surface of the base layer PS. For example, after forming an organic material such as polyimide into a plate-shaped substrate, the substrate made of the organic material is etched to a certain depth using a net pattern having a certain width as a mask to form a base layer (PS) and a barrier rib (PD). can form The barrier rib PD and the base layer PS are integrally formed and made of the same material. Barrier ribs PD having a certain width and a thickness greater than that of the base layer PS protrude on the surface of the base layer PS having a small thickness, and an inner region surrounded by the barrier ribs PD is defined as a pixel P.

기저층(PS)은 유기 기판을 식각하여 형성하기 때문에 두께가 매우 얇을 수 있다. 두께가 너무 얇을 경우, 그 위에 형성하는 소자들의 안정성을 확보하기 어려울 수 있다. 이를 방지하기 위해, 플렉서블 기판(FS)은, 하부 기판(BS)과 하부 버퍼층(MB)을 더 구비할 수 있다. 예를 들어, 하부 기판(BS)을 먼저 형성하고, 그 위에 하부 버퍼층(MB)을 증착하고, 하부 버퍼층(MB) 위에 유기물질로 기판을 형성한다. 그 후, 유기 기판을 패턴하여, 기저층(PS)과 격벽(PD)을 형성한다.Since the base layer PS is formed by etching an organic substrate, it may have a very thin thickness. If the thickness is too thin, it may be difficult to secure the stability of elements formed thereon. To prevent this, the flexible substrate FS may further include a lower substrate BS and a lower buffer layer MB. For example, a lower substrate BS is first formed, a lower buffer layer MB is deposited thereon, and a substrate is formed of an organic material on the lower buffer layer MB. After that, the organic substrate is patterned to form the base layer PS and the barrier rib PD.

플렉서블 기판(FS) 위에는 가로 방향으로 배열된 스캔 배선(SL) 및 센싱 배선(RL), 그리고 세로 방향으로 배열된 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전원 배선(PL)을 포함한다. 이들 배선들은 화소(P)의 영역의 내부 영역을 가로지르면서 플렉서블 기판(FS) 위에 배치된다. 도 2에서는 하나의 화소(P)에 센싱 배선(RL)하나, 스캔 배선(SL) 하나, 데이터 배선(DL) 하나와 화소 구동 전원 배선(PL) 하나가 지나간다. 특히, 배선들은 격벽(PD)을 타고 넘어 다수 개의 화소(P)들을 거쳐 연장된다.On the flexible substrate FS, scan lines SL and sensing lines RL are arranged in a horizontal direction, and data lines DL and pixel driving power lines PL are arranged in a vertical direction. These wires are disposed on the flexible substrate FS while crossing the inner region of the pixel P region. In FIG. 2 , one sensing line RL, one scan line SL, one data line DL, and one pixel driving power supply line PL pass through one pixel P. In particular, the lines extend over the barrier rib PD through a plurality of pixels P.

격벽(PD)으로 둘러싸인 화소(P) 영역 내부에는 스위칭 박막 트랜지스터(ST), 구동 박막 트랜지스터(DT), 보상 박막 트랜지스터(ET), 커패시터(Cst) 그리고 화소 구동 전극(AE)이 배치되어 있다. 화소 구동 전극(AE) 위에는 발광층(EL) 및 공통 전극(CE)이 순차 적층되어 발광 소자(ED)를 구성한다.A switching thin film transistor ST, a driving thin film transistor DT, a compensation thin film transistor ET, a capacitor Cst, and a pixel driving electrode AE are disposed in the pixel P region surrounded by the barrier rib PD. The light emitting layer EL and the common electrode CE are sequentially stacked on the pixel driving electrode AE to form the light emitting element ED.

스위칭 박막 트랜지스터(ST)는 스캔 배선(SL)을 통해 공급된 스캔 신호에 응답하여 데이터 배선(DL)을 통해 공급되는 데이터 신호가 커패시터(Cst)에 데이터 전압으로 저장되도록 스위칭 동작한다. 구동 박막 트랜지스터(DT)는 커패시터(Cst)에 저장된 데이터 전압에 따라 화소 구동 전원 배선(PL)과 공통 전원 배선(CPL) 사이에 구동 전류가 흐르도록 동작한다. 발광 소자(ED)는 구동 박막 트랜지스터(DT)에 의해 형성된 구동 전류에 따라 빛을 발광한다. 보상 박막 트랜지스터(ET)는 구동 박막 트랜지스터(DT)의 문턱 전압 등을 보상하기 위해 화소(P) 내에 배치된 회로이다. 보상 박막 트랜지스터(ET)는 구동 박막 트랜지스터(DT)의 드레인 전극과 발광 소자(ED)의 화소 구동 전극(AE)(혹은 센싱 노드)에 접속된다. 보상 박막 트랜지스터(ET)는 센싱 배선(RL)을 통해 전달되는 초기화 전압을 센싱 노드에 공급하거나 센싱 노드의 전압 또는 전류를 검출하도록 동작한다.The switching thin film transistor ST performs a switching operation so that the data signal supplied through the data line DL is stored as a data voltage in the capacitor Cst in response to the scan signal supplied through the scan line SL. The driving thin film transistor DT operates to allow a driving current to flow between the pixel driving power line PL and the common power line CPL according to the data voltage stored in the capacitor Cst. The light emitting element ED emits light according to a driving current formed by the driving thin film transistor DT. The compensation thin film transistor ET is a circuit disposed in the pixel P to compensate for the threshold voltage of the driving thin film transistor DT. The compensation thin film transistor ET is connected to the drain electrode of the driving thin film transistor DT and the pixel driving electrode AE (or sensing node) of the light emitting element ED. The compensation thin film transistor ET supplies an initialization voltage transmitted through the sensing line RL to a sensing node or operates to detect a voltage or current of the sensing node.

스위칭 박막 트랜지스터(ST)는 데이터 배선(DL)에 소스 전극(SS)이 연결되고, 구동 박막 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(DG)에 드레인 전극(SD)이 연결된다. 구동 박막 트랜지스터(DT)는 화소 구동 전원 배선(PL)에 소스 전극(DS)이 연결되고, 발광 소자(ED)의 화소 구동 전극(AE)에 드레인 전극(DD)이 연결된다. 커패시터(Cst)는 구동 박막 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(DG)에 제1 전극이 연결되고, 발광 소자(ED)의 화소 구동 전극(AE)에 제2 전극이 연결된다.The source electrode SS of the switching thin film transistor ST is connected to the data line DL, and the drain electrode SD is connected to the gate electrode DG of the driving thin film transistor DT. In the driving thin film transistor DT, the source electrode DS is connected to the pixel driving power line PL, and the drain electrode DD is connected to the pixel driving electrode AE of the light emitting element ED. A first electrode of the capacitor Cst is connected to the gate electrode DG of the driving thin film transistor DT, and a second electrode is connected to the pixel driving electrode AE of the light emitting element ED.

상기 설명은 p-type 박막 트랜지스터의 경우를 중심으로 설명하였다. 하지만 이에 국한되는 것은 아니며, n-type 박막 트랜지스터를 사용할 수도 있다. N-type 박막 트랜지스터의 경우 소스 전극과 드레인 전극이 바뀔 수도 있다.The above description has been centered on the case of a p-type thin film transistor. However, it is not limited thereto, and an n-type thin film transistor may be used. In the case of an N-type thin film transistor, the source electrode and drain electrode may be swapped.

발광 소자(ED)는 구동 박막 트랜지스터(DT)의 드레인 전극(DD)에 화소 구동 전극(AE)이 연결되고 공통 배선(CPL)에 공통 전극(CE)이 연결된다. 보상 박막 트랜지스터(ET)는 센싱 배선(RL)에 소스 전극(ES)이 연결되고 센싱 노드인 발광 소자(ED)의 화소 구동 전극(AE)에 드레인 전극(ED)이 연결된다.In the light emitting element ED, the pixel driving electrode AE is connected to the drain electrode DD of the driving thin film transistor DT and the common electrode CE is connected to the common line CPL. In the compensation thin film transistor ET, the source electrode ES is connected to the sensing line RL and the drain electrode ED is connected to the pixel driving electrode AE of the light emitting element ED as a sensing node.

스캔 배선(SL)은 스위칭 박막 트랜지스터(ST)와 보상 박막 트랜지스터(ET)의 반도체 층(SA, EA)과 중첩한다. 스캔 배선(SL)에서 스캔 반도체 층(SA)과 중첩하는 부분이 스캔 게이트 전극(SG)이며, 스캔 반도체 층(SA)에서 스캔 게이트 전극(SG)과 중첩하는 영역이 채널 영역으로 정의된다. 마찬가지로, 센싱 배선(RL)에서 센싱 반도체 층(EA)과 중첩되는 부분이 센싱 게이트 전극(EG)이며, 센싱 반도체 층(EA)에서 스캔 게이트 전극(EG)와 중첩하는 영역이 채널 영역으로 정의된다. 한편, 구동 박막 트랜지스터(DT)의 구동 반도체 층(DG)은 일측단이 구동 소스 전극(DS)에 접촉하고 구동 게이트 전극(DG)과 중첩하여 타단이 구동 드레인 전극(DD)에 연결된다.The scan line SL overlaps the semiconductor layers SA and EA of the switching thin film transistor ST and the compensation thin film transistor ET. A portion of the scan line SL overlapping the scan semiconductor layer SA is the scan gate electrode SG, and a region of the scan semiconductor layer SA overlapping the scan gate electrode SG is defined as a channel region. Similarly, a portion of the sensing line RL overlapping the sensing semiconductor layer EA is the sensing gate electrode EG, and a region of the sensing semiconductor layer EA overlapping the scan gate electrode EG is defined as a channel region. . Meanwhile, one end of the driving semiconductor layer DG of the driving thin film transistor DT contacts the driving source electrode DS, overlaps the driving gate electrode DG, and the other end is connected to the driving drain electrode DD.

도 3을 더 참조하여, 본 출원의 일 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치의 단면 구조에 대해 상세히 설명한다. 본 출원의 일 실시 예에 따른 플렉서블 전계 발광 표시장치는 플렉서블 기판(FS), 화소 어레이 층(120) 및 봉지층(130)을 포함할 수 있다.Further referring to FIG. 3 , a cross-sectional structure of a flexible electroluminescent display according to an exemplary embodiment of the present application will be described in detail. A flexible electroluminescent display device according to an exemplary embodiment of the present application may include a flexible substrate FS, a pixel array layer 120 and an encapsulation layer 130 .

플렉서블 기판(FS)은 베이스 층으로서, 플라스틱 재질 또는 유리 재질을 포함한다. 일 예에 따른 플렉서블 기판(FS)은 불투명 또는 유색 폴리이미드(polyimide) 재질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 폴리이미드 재질의 플렉서블 기판(FS)은 상대적으로 두꺼운 캐리어 기판에 마련되어 있는 릴리즈층의 전면(前面)에 일정 두께로 코팅된 폴리이미드 수지가 경화된 것일 수 있다. 이 경우, 캐리어 유리 기판은 레이저 릴리즈 공정을 이용한 릴리즈층의 릴리즈에 의해 기판(SUB)으로부터 분리된다.The flexible substrate FS is a base layer and includes a plastic material or a glass material. The flexible substrate FS according to an example may include an opaque or colored polyimide material. For example, the flexible substrate FS made of polyimide may be a cured polyimide resin coated to a certain thickness on the front surface of a release layer provided on a relatively thick carrier substrate. In this case, the carrier glass substrate is separated from the substrate SUB by releasing the release layer using a laser release process.

일 예에 따른 플렉서블 기판(FS)은 유기물질로 이루어진 기판을 식각하여 형성한 격벽(PD)과 기저층(PS)을 포함한다. 경우에 따라서, 기저층(PS) 하면에는 하부 버퍼층(MB)과 하부 기판(BS)이 부착될 수 있다. 이 경우, 하부 기판(BS)의 상부 표면에 하부 버퍼 층(MB)를 증착한 후, 유기물질을 도포한다. 그 후에, 유기물질을 그물 모양의 패턴으로 식각하여, 격벽(PD)과 기저층(PS)을 형성한다. 그 결과, 기저층(PS)은 격벽(PD)보다 얇은 두께를 갖는다. 또한, 격벽(PD)은 기저층(PS) 위에서 돌출된 메쉬 형태를 가지며, 기저층(PS)은 격벽(PD)으로 둘러싸인 함몰부 형태를 갖는다. 격벽(PD)과 기저층(PS)은 동일한 물질을 포함하며 일체로 이루어져 있다.The flexible substrate FS according to an example includes barrier ribs PD and a base layer PS formed by etching a substrate made of an organic material. In some cases, a lower buffer layer MB and a lower substrate BS may be attached to a lower surface of the base layer PS. In this case, after depositing the lower buffer layer MB on the upper surface of the lower substrate BS, an organic material is applied. After that, the organic material is etched in a net pattern to form the barrier rib PD and the base layer PS. As a result, the base layer PS has a thickness smaller than that of the barrier rib PD. In addition, the barrier rib PD has a mesh shape protruding above the base layer PS, and the base layer PS has a shape of a depression surrounded by the barrier rib PD. The barrier rib PD and the base layer PS include the same material and are integrally formed.

일 예에 따른 플렉서블 기판(FS)은 두께 방향(Z)을 기준으로, 플렉서블 기판(FS)의 후면에 결합된 백 플레이트(도시하지 않음)를 더 구비할 수 있다. 백 플레이트는 플렉서블 기판(FS)을 평면 상태로 유지시킨다. 일 예에 따른 백 플레이트는 플라스틱 재질, 예를 들어, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(polyethylene terephthalate) 재질을 포함할 수 있다. 이러한 백 플레이트는 캐리어 유리 기판으로부터 분리된 플렉서블 기판(FS)의 후면에 라미네이팅 될 수 있다.The flexible substrate FS according to an example may further include a back plate (not shown) coupled to a rear surface of the flexible substrate FS in the thickness direction Z. The back plate maintains the flexible substrate FS in a flat state. The back plate according to an example may include a plastic material, for example, a polyethylene terephthalate material. Such a back plate may be laminated on the rear surface of the flexible substrate FS separated from the carrier glass substrate.

가장 바람직하게는 플렉서블 기판(FS)은, 자유롭게 접거나 펼 수 있는 유연성이 우수한 재질인 것이 바람직하다. 플렉서블 기판(FS)은 표시 영역(AA)과 표시 영역(AA)을 둘러싸는 비 표시 영역(IA)을 포함할 수 있다.Most preferably, the flexible substrate FS is a material having excellent flexibility that can be freely folded or unfolded. The flexible substrate FS may include a display area AA and a non-display area IA surrounding the display area AA.

플렉서블 기판(FS)에서 격벽(PD)으로 둘러싸인 화소(P)의 기저층(PS) 상부 표면 상에는 상부 버퍼층(BUF)이 형성되어 있다. 상부 버퍼층(BUF)은 투습에 취약한 플렉서블 기판(FS)을 통해서 화소 어레이 층(120)으로 침투하는 수분을 차단하기 위하여, 기저층(PS)의 표면 상에 형성된다. 일 예에 따른 상부 버퍼층(BUF)은 교번하여 적층된 복수의 무기막들로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 상부 버퍼층(BUF)은 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 및 실리콘산질화막(SiON) 중 하나 이상의 무기막이 교번하여 적층된 다중막으로 형성될 수 있다. 상부 버퍼층(BUF)이 무기 물질로 이루어진 절연막인 경우, 상부 버퍼층(BUF)은 격벽(PD)으로 둘러싸인 화소(P) 영역 내부의 기저층(PS) 표면 위에 모두 형성하는 것이 바람직하다. 따라서, 격벽(PD)의 하단은 상부 버퍼층(BUF)와 접촉한다. 상부 버퍼층(BUF)은 격벽(PD)의 상부 표면에 적층될 수도 있다. 그러나, 본 출원은 플렉서블 표시장치에서 표시 패널의 유연성을 확보하기 위해, 각 화소(P) 별로 무기층이 구분되어 형성되도록 하는 것을 특징으로 한다. 이를 위해, 격벽(PD) 위에는 무기 물질층이 적층되지 않는 것이 바람직하다.An upper buffer layer BUF is formed on the upper surface of the base layer PS of the pixel P surrounded by the barrier rib PD in the flexible substrate FS. The upper buffer layer BUF is formed on the surface of the base layer PS to block moisture penetrating into the pixel array layer 120 through the flexible substrate FS, which is vulnerable to moisture permeation. The upper buffer layer BUF according to an example may include a plurality of inorganic layers alternately stacked. For example, the upper buffer layer BUF may be formed of a multilayer in which one or more inorganic layers of a silicon oxide layer (SiOx), a silicon nitride layer (SiNx), and a silicon oxynitride layer (SiON) are alternately stacked. When the upper buffer layer BUF is an insulating film made of an inorganic material, the upper buffer layer BUF is preferably formed entirely on the surface of the base layer PS in the pixel P region surrounded by the barrier rib PD. Accordingly, the lower end of the barrier rib PD contacts the upper buffer layer BUF. The upper buffer layer BUF may be stacked on the upper surface of the barrier rib PD. However, the present application is characterized in that the inorganic layer is formed separately for each pixel (P) in order to secure flexibility of the display panel in the flexible display device. To this end, it is preferable that the inorganic material layer is not stacked on the barrier rib PD.

화소 어레이 층(120)은 박막 트랜지스터 층, 평탄화 층(PLN), 뱅크 패턴(BN), 및 발광 소자(ED)를 포함할 수 있다. 일례로, 화소 어레이 층(120)은 격벽(PD)으로 둘러싸인 화소(P) 영역별로 구분되어 형성될 수 있다. 따라서, 박막 트랜지스터층, 평탄화 층(PLN) 및 뱅크 패턴(BN)은 격벽(PD)의 하단부보다 위에 형성된다.The pixel array layer 120 may include a thin film transistor layer, a planarization layer PLN, a bank pattern BN, and a light emitting element ED. For example, the pixel array layer 120 may be formed separately for each pixel P region surrounded by the barrier rib PD. Therefore, the thin film transistor layer, the planarization layer PLN, and the bank pattern BN are formed above the lower end of the barrier rib PD.

박막 트랜지스터 층은 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA)에 정의된 복수의 화소(P) 및 플렉서블 기판(FS)의 제4 비표시 영역(IA4)에 정의된 게이트 구동 회로(200)에 각각 마련된다.The thin film transistor layer is applied to the plurality of pixels P defined in the display area AA of the flexible substrate FS and the gate driving circuit 200 defined in the fourth non-display area IA4 of the flexible substrate FS. provided

일 예에 따른 박막 트랜지스터 층은 상부 버퍼층(BUF) 위에 형성된 스위칭 박막 트랜지스터(ST), 구동 박막 트랜지스터(DT), 보상 박막 트랜지스터(ET), 게이트 절연막(GI) 및 층간 절연막(ILD)을 포함한다. 여기서, 도 3에는, 편의상, 스위칭 박막 트랜지스터(ST)와 구동 박막 트랜지스터(DT)를 중심으로 도시하였다.The thin film transistor layer according to an example includes a switching thin film transistor (ST), a driving thin film transistor (DT), a compensation thin film transistor (ET), a gate insulating film (GI) and an interlayer insulating film (ILD) formed on the upper buffer layer (BUF). . Here, in FIG. 3, for convenience, the switching thin film transistor ST and the driving thin film transistor DT are mainly shown.

스위칭 박막 트랜지스터(ST)는 상부 버퍼층(BUF) 상에 형성된 스위칭 반도체 층(SA), 스위칭 게이트 전극(SG), 스위칭 소스 전극(SS) 및 스위칭 드레인 전극(SD)을 포함한다. 구동 박막 트랜지스터(DT)는 상부 버퍼층(BUF) 상에 형성된 구동 반도체 층(DA), 구동 게이트 전극(DG), 구동 소스 전극(DS) 및 구동 드레인 전극(DD)을 포함한다. 도 3에서 박막 트랜지스터(ST, DT)는 게이트 전극(SG, DG)이 반도체 층(SA, DA)의 상부에 위치하는 상부 게이트(탑 게이트, top gate) 구조를 도시하였으나, 반드시 이에 한정되지 않는다. 다른 예로, 박막 트랜지스터(ST, DT)는 게이트 전극(SG, DG)이 반도체 층(SA, DA)의 하부에 위치하는 하부 게이트(보텀 게이트, bottom gate) 구조 또는 게이트 전극(SG, DG)이 반도체 층(SA, DA)의 상부와 하부에 모두 위치하는 더블 게이트(double gate) 구조를 가질 수 있다.The switching thin film transistor ST includes a switching semiconductor layer SA, a switching gate electrode SG, a switching source electrode SS, and a switching drain electrode SD formed on the upper buffer layer BUF. The driving thin film transistor DT includes a driving semiconductor layer DA, a driving gate electrode DG, a driving source electrode DS, and a driving drain electrode DD formed on the upper buffer layer BUF. In FIG. 3, the thin film transistors ST and DT show a top gate structure in which the gate electrodes SG and DG are positioned on top of the semiconductor layers SA and DA, but is not necessarily limited thereto. . As another example, the thin film transistors ST and DT have a bottom gate structure in which the gate electrodes SG and DG are positioned below the semiconductor layers SA and DA, or the gate electrodes SG and DG are It may have a double gate structure located both above and below the semiconductor layers SA and DA.

반도체 층(SA, DA)은 실리콘계 반도체 물질, 산화물계 반도체 물질, 또는 유기물계 반도체 물질을 포함할 수 있으며, 단층 구조 또는 복층 구조를 가질 수 있다.The semiconductor layers SA and DA may include a silicon-based semiconductor material, an oxide-based semiconductor material, or an organic material-based semiconductor material, and may have a single-layer structure or a multi-layer structure.

게이트 절연막(GI)은 반도체 층(SA, DA)을 덮도록 플렉서블 기판(FS) 위에, 특히 기저층(PS) 위에 형성될 수 있다. 게이트 절연막(GI)은 무기막, 예를 들어 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다. 특히, 게이트 절연막(GI)이 무기 물질을 포함하는 절연막인 경우, 격벽(PD)으로 둘러싸인 각 화소(P) 영역 내에 구분되어 형성하는 것이 바람직하다. 게이트 절연막(GI)이 무기 물질로 이루어진 경우, 플렉서블 표시장치의 유연성을 확보하기 위해, 유기물질로 이루어진 격벽(PD)의 상부 표면에는 게이트 절연막(GI)이 적층되지 않는 것이 바람직하다.The gate insulating film GI may be formed on the flexible substrate FS, particularly on the base layer PS, to cover the semiconductor layers SA and DA. The gate insulating layer GI may be formed of an inorganic layer, for example, a silicon oxide layer (SiOx), a silicon nitride layer (SiNx), or a multilayer thereof. In particular, when the gate insulating film GI is an insulating film containing an inorganic material, it is preferable to form the insulating film separately in each pixel P region surrounded by the barrier rib PD. When the gate insulating layer GI is made of an inorganic material, it is preferable that the gate insulating layer GI is not stacked on the upper surface of the barrier rib PD made of an organic material in order to secure flexibility of the flexible display device.

스위칭 게이트 전극(SG)은 스위칭 반도체 층(SA)과 중첩되도록, 그리고 구동 게이트 전극(DG)은 구동 반도체 층(DA)과 중첩되도록 게이트 절연막(GI) 상에 형성될 수 있다. 게이트 전극(SG, DG)은 스캔 배선(SL)과 함께 형성될 수 있다. 일 예에 따른 게이트 전극(SG, DG)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.The switching gate electrode SG may be formed on the gate insulating layer GI so as to overlap the switching semiconductor layer SA, and the driving gate electrode DG may overlap the driving semiconductor layer DA. The gate electrodes SG and DG may be formed together with the scan line SL. The gate electrodes SG and DG according to an exemplary embodiment include molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu). ) may be formed of a single layer or multiple layers made of any one or an alloy thereof.

층간 절연막(ILD)은 게이트 전극(SG, DG)과 게이트 절연막(GI)을 덮도록 플렉서블 기판(FS) 위에 적층된다. 층간 절연막(ILD)이 무기 물질을 포함하는 절연막인 경우, 격벽(PD)으로 둘러싸인 각 화소(P) 영역 내에 구분되어 형성될 수 있다. 이 경우, 플렉서블 표시장치의 유연성을 확보하기 위해, 유기물질로 이루어진 격벽(PD)의 상부 표면에는 층간 절연막(ILD)이 적층되지 않는 것이 바람직하다. 특히, 본 출원의 일 실시 예에서는, 층간 절연막(ILD)의 상부 표면이 격벽(PD)의 상부 표면보다 낮은 높이를 갖는 것이 바람직하다. 그 결과, 무기 물질들은 격벽(PD)으로 둘러싸인 내부 영역의 기저층(PS) 상부 표면에만 배치되는 특징을 갖는다.An interlayer insulating layer ILD is stacked on the flexible substrate FS to cover the gate electrodes SG and DG and the gate insulating layer GI. When the interlayer insulating layer ILD is an insulating layer containing an inorganic material, it may be formed separately in each pixel P region surrounded by the barrier rib PD. In this case, in order to secure the flexibility of the flexible display device, it is preferable that the interlayer insulating layer ILD is not stacked on the upper surface of the barrier rib PD made of an organic material. In particular, in an exemplary embodiment of the present application, it is preferable that the upper surface of the interlayer insulating layer ILD has a lower height than the upper surface of the barrier rib PD. As a result, the inorganic materials are disposed only on the upper surface of the base layer PS in the inner region surrounded by the barrier rib PD.

층간 절연막(ILD) 및 게이트 절연막(GI)을 패턴하여, 반도체 층(SA. GA)의 일측단과 타측단을 노출한다. 층간 절연막(ILD) 위에 금속 물질을 증착하고 패턴하여, 소스 전극(SS, DS)과 드레인 전극(SD, DD)을 형성한다. 이 때, 도 2에서 도시한 데이터 배선(DL), 화소 구동 전원 배선(PL) 그리고, 캐패시터(Cst)의 제1 전극을 함께 형성할 수 있다.One end and the other end of the semiconductor layers SA and GA are exposed by patterning the interlayer insulating film ILD and the gate insulating film GI. A metal material is deposited and patterned on the interlayer insulating layer ILD to form source electrodes SS and DS and drain electrodes SD and DD. At this time, the data line DL shown in FIG. 2 , the pixel driving power supply line PL, and the first electrode of the capacitor Cst may be formed together.

스위칭 소스 전극(SS)과 스위칭 드레인 전극(SD)은 스위칭 게이트 전극(SG)을 사이에 두고 스위칭 반도체 층(SA)과 중첩되도록 층간 절연막(ILD) 상에 형성될 수 있다. 구동 소스 전극(DS)과 구동 드레인 전극(DD)은 구동 게이트 전극(DG)을 사이에 두고 구동 반도체 층(DA)과 중첩되도록 층간 절연막(ILD) 상에 형성될 수 있다. 소스 전극(SS, DS)과 드레인 전극(SD, DD)은 데이터 배선(DL)과 화소 구동 전원 배선(PL) 및 공통 전원 배선(CPL)과 함께 형성될 수 있다. 즉, 소스 전극(SS, DS), 드레인 전극(SD, DD), 데이터 배선(DL), 화소 구동 전원 배선(PL) 및 공통 전원 배선(CPL) 각각은 소스 드레인 전극 물질에 대한 패터닝 공정에 의해 동시에 형성될 수 있다.The switching source electrode SS and the switching drain electrode SD may be formed on the interlayer insulating layer ILD to overlap the switching semiconductor layer SA with the switching gate electrode SG interposed therebetween. The driving source electrode DS and the driving drain electrode DD may be formed on the interlayer insulating layer ILD to overlap the driving semiconductor layer DA with the driving gate electrode DG interposed therebetween. The source electrodes SS and DS and the drain electrodes SD and DD may be formed together with the data line DL, the pixel driving power line PL, and the common power line CPL. That is, each of the source electrodes SS and DS, the drain electrodes SD and DD, the data line DL, the pixel driving power line PL, and the common power line CPL is formed by a patterning process for the source-drain electrode material. can be formed simultaneously.

소스 전극(SS, DS)과 드레인 전극(SD, DD) 각각은 층간 절연막(ILD)과 게이트 절연막(GI)을 관통하는 전극 컨택홀을 통해 반도체 층(SA, DA)에 접속될 수 있다. 소스 전극(SS, DS)과 드레인 전극(SD, DD)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다. 여기서, 도 2 및 3에 도시된 구동 박막 트랜지스터(DT)의 구동 소스 전극(DS)은 화소 구동 전원 배선(PL)과 전기적으로 연결될 수 있다.Each of the source electrodes SS and DS and the drain electrodes SD and DD may be connected to the semiconductor layers SA and DA through an electrode contact hole penetrating the interlayer insulating layer ILD and the gate insulating layer GI. Source electrodes (SS, DS) and drain electrodes (SD, DD) are made of molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd) And copper (Cu) may be formed of a single layer or multiple layers made of any one or an alloy thereof. Here, the driving source electrode DS of the driving thin film transistor DT shown in FIGS. 2 and 3 may be electrically connected to the pixel driving power line PL.

이와 같이, 플렉서블 기판(FS)의 화소(P)에 마련된 박막 트랜지스터들(ST, DT. ET)은 화소 회로(PC)를 구성한다. 또한, 플렉서블 기판(FS)의 제 4 비표시 영역(IA4)에 배치된 게이트 구동 회로(200)는 화소(P)에 마련된 박막 트랜지스터(ST, DT, ET)와 동일하거나 유사한 박막 트랜지스터를 구비할 수 있다.As such, the thin film transistors ST, DT, and ET provided in the pixel P of the flexible substrate FS constitute the pixel circuit PC. In addition, the gate driving circuit 200 disposed in the fourth non-display area IA4 of the flexible substrate FS may include thin film transistors identical to or similar to the thin film transistors ST, DT, and ET provided in the pixel P. can

평탄화 층(PLN)은 박막 트랜지스터 층을 덮도록 플렉서블 기판(FS) 전체에 형성된다. 평탄화 층(PLN)은 박막 트랜지스터 층이 형성된 플렉서블 기판(FS)의 표면 상에 평탄면을 제공한다. 일 예에 따른 평탄화 층(PLN)은 아크릴 수지(acryl resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolic resin), 폴리아미드 수지(polyamide resin), 또는 폴리이미드 수지(polyimide resin) 등의 유기막으로 형성될 수 있다.The planarization layer PLN is formed over the entire flexible substrate FS to cover the thin film transistor layer. The planarization layer PLN provides a flat surface on the surface of the flexible substrate FS on which the thin film transistor layer is formed. According to an embodiment, the planarization layer (PLN) may include an organic material such as acrylic resin, epoxy resin, phenolic resin, polyamide resin, or polyimide resin. It can be formed into a film.

본 출원의 일 실시 예에서, 평탄화 층(PLN)은 격벽(PD) 위에도 적층될 수 있다. 격벽(PD) 위에는 스캔 배선(SL), 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전류 배선(PL)이 각 화소(P)들을 연결하도록 배치되어 있다. 따라서, 배선들을 보호 및 절연하는 목적에서 격벽(PD) 위에 평탄화 층(PLN)을 적층할 수 있다. 평탄화 층(PLN)은 유기 물질로 이루어지므로, 유기물질로 이루어진 격벽(PD) 위에 적층되더라도, 플렉서블 표시장치의 유연성에 문제가 되지 않는다. 이 경우, 평탄화 층(PLN)은 격벽(PD) 위를 지나가는 배선들(SL, DL, PL)을 덮는다. 또한, 평탄화 층(PLN)은 화소(P)에 마련된 구동 박막 트랜지스터(DT)의 구동 드레인 전극(DD)을 노출시키기 위한 화소 컨택홀(PH)을 포함할 수 있다.In one embodiment of the present application, the planarization layer PLN may also be deposited on the barrier rib PD. A scan line SL, a data line DL, and a pixel driving current line PL are disposed on the barrier rib PD to connect the pixels P to each other. Accordingly, a planarization layer PLN may be stacked on the barrier rib PD for the purpose of protecting and insulating the wires. Since the planarization layer PLN is made of an organic material, even if it is stacked on the barrier rib PD made of an organic material, flexibility of the flexible display device is not a problem. In this case, the planarization layer PLN covers the wires SL, DL, and PL passing over the barrier rib PD. In addition, the planarization layer PLN may include a pixel contact hole PH for exposing the driving drain electrode DD of the driving thin film transistor DT provided in the pixel P.

평탄화 층(PLN) 위에 도전 물질을 증착하고 패턴하여 화소 구동 전극(AE)을 형성한다. 화소 구동 전극(AE)은 화소(P) 영역 내부에 국한된 크기를 갖도록 형성한다. 화소 구동 전극(AE) 위에는 뱅크(혹은, 뱅크 패턴)(BN)을 형성한다. 뱅크(BN)는 평탄화 층(PLN) 상에 배치되어 표시 영역(AA)의 화소(P) 내에 개구 영역(또는 발광 영역)을 정의한다. 이러한 뱅크(BN)는 화소 정의막으로 표현될 수도 있다. 뱅크(BN)는 유기 물질로 이루어질 수 있다. 이 경우, 뱅크(BN)는 격벽(PD) 위를 덮도록 형성할 수 있다.A conductive material is deposited and patterned on the planarization layer PLN to form the pixel driving electrode AE. The pixel driving electrode AE is formed to have a size limited to the inside of the pixel P region. A bank (or bank pattern) BN is formed on the pixel driving electrode AE. The bank BN is disposed on the planarization layer PLN to define an opening area (or light emitting area) within the pixel P of the display area AA. Such a bank BN may be expressed as a pixel defining layer. The bank BN may be made of an organic material. In this case, the bank BN may be formed to cover the partition wall PD.

발광 소자(ED)는 화소 구동 전극(AE), 발광층(EL), 및 공통 전극(CE)을 포함한다. 화소 구동 전극(AE)은 평탄화 층(PLN) 상에 형성되고 평탄화 층(PLN)에 마련된 화소 컨택홀(PH)을 통해 구동 박막 트랜지스터의 드레인 전극(D)에 전기적으로 연결된다. 이 경우, 화소(P)의 개구 영역과 중첩되는 화소 구동 전극(AE)의 중간 부분을 제외한 나머지 가장자리 부분은 뱅크(BN)에 의해 덮일 수 있다. 뱅크(BN)는 화소 구동 전극(AE)의 가장자리 부분을 덮음으로써 화소(P)의 개구 영역을 정의할 수 있다.The light emitting element ED includes a pixel driving electrode AE, a light emitting layer EL, and a common electrode CE. The pixel driving electrode AE is formed on the planarization layer PLN and is electrically connected to the drain electrode D of the driving thin film transistor through a pixel contact hole PH provided in the planarization layer PLN. In this case, an edge portion other than a middle portion of the pixel driving electrode AE overlapping the opening area of the pixel P may be covered by the bank BN. The bank BN may define an opening area of the pixel P by covering an edge portion of the pixel driving electrode AE.

일 예에 따른 화소 구동 전극(AE)은 반사율이 높은 금속 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 화소 구동 전극(AE)은 알루미늄(Al)과 티타늄(Ti)의 적층 구조(Ti/Al/Ti), 알루미늄(Al)과 ITO(Indium Tin Oxide)의 적층 구조(ITO/Al/ITO), APC(Ag/Pd/Cu) 합금, 및 APC 합금과 ITO의 적층 구조(ITO/APC/ITO)와 같은 다층 구조로 형성되거나, 은(Ag), 알루미늄(Al), 몰리브덴(Mo), 금(Au), 마그네슘(Mg), 칼슘(Ca), 또는 바륨(Ba) 중에서 선택된 어느 하나의 물질 또는 2 이상의 합금 물질로 이루어진 단층 구조를 포함할 수 있다.The pixel driving electrode AE according to an example may include a metal material having high reflectivity. For example, the pixel driving electrode AE may have a stacked structure of aluminum (Al) and titanium (Ti/Al/Ti) or a stacked structure of aluminum (Al) and indium tin oxide (ITO/Al/Ti). ITO), APC (Ag/Pd/Cu) alloy, and a multilayer structure such as a laminated structure of APC alloy and ITO (ITO/APC/ITO), or silver (Ag), aluminum (Al), molybdenum (Mo) , Gold (Au), magnesium (Mg), calcium (Ca), or barium (Ba) may include a single layer structure made of any one material or two or more alloy materials selected.

발광층(EL)은 화소 구동 전극(AE)과 뱅크 패턴(BN)을 덮도록 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA) 전체에 형성된다. 일 예에 따른 발광층(EL)은 백색 광을 방출하기 위해 수직 적층된 2 이상의 발광부를 포함할 수 있다. 예를 들어, 일 예에 따른 발광층(EL)은 제 1 광과 제 2 광의 혼합에 의해 백색 광을 방출하기 위한 제 1 발광부와 제 2 발광부를 포함할 수 있다. 여기서, 제 1 발광부는 제 1 광을 방출하는 것으로 청색 발광부, 녹색 발광부, 적색 발광부, 황색 발광부, 및 황록색 발광부 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 제 2 발광부는 청색 발광부, 녹색 발광부, 적색 발광부, 황색 발광부, 및 황록색 중 제 1 광을 광학적으로 보완하는 제 2 광을 방출하는 발광부를 포함할 수 있다. 일례로, 제 1 발광부는 청색 발광부이고, 제 2 발광부는 황색 발광부와 녹색 발광부의 조합이거나 적색 발광부와 녹색 발광부의 조합일 수 있다. 또는, 기판을 중심으로 발광하는 방향에 따라 제 1 발광부는 황색 발광부와 녹색 발광부의 조합이거나 적색 발광부와 녹색 발광부의 조합이고, 제2 발광부는 청색 발광부일 수 있다.The emission layer EL is formed over the entire display area AA of the flexible substrate FS to cover the pixel driving electrode AE and the bank pattern BN. The light emitting layer EL according to an example may include two or more vertically stacked light emitting units to emit white light. For example, the light emitting layer EL according to an example may include a first light emitting part and a second light emitting part for emitting white light by mixing the first light and the second light. Here, the first light emitting unit emits the first light and may include any one of a blue light emitting unit, a green light emitting unit, a red light emitting unit, a yellow light emitting unit, and a yellow-green light emitting unit. The second light emitting unit may include a blue light emitting unit, a green light emitting unit, a red light emitting unit, a yellow light emitting unit, and a light emitting unit that emits second light optically supplementing the first light in a yellow-green color. For example, the first light emitting part may be a blue light emitting part, and the second light emitting part may be a combination of a yellow light emitting part and a green light emitting part, or a combination of a red light emitting part and a green light emitting part. Alternatively, the first light emitting unit may be a combination of a yellow light emitting part and a green light emitting part or a combination of a red light emitting part and a green light emitting part, and the second light emitting part may be a blue light emitting part according to a light emitting direction centered on the substrate.

다른 예에 따른 발광층(EL)은 화소(P)에 설정된 색상과 대응되는 컬러 광을 방출하기 위한, 청색 발광부, 녹색 발광부, 및 적색 발광부 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 예를 들어, 다른 예에 따른 발광층(EL)은 유기 발광층, 무기 발광층, 및 양자점 발광층 중 어느 하나를 포함하거나, 유기 발광층(또는 무기 발광층)과 양자점 발광층의 적층 또는 혼합 구조를 포함할 수 있다.The light emitting layer EL according to another example may include any one of a blue light emitting part, a green light emitting part, and a red light emitting part for emitting color light corresponding to a color set in the pixel P. For example, the light emitting layer EL according to another example may include any one of an organic light emitting layer, an inorganic light emitting layer, and a quantum dot light emitting layer, or may include a stacked or mixed structure of an organic light emitting layer (or an inorganic light emitting layer) and a quantum dot light emitting layer.

추가적으로, 일 예에 따른 발광 소자(ED)는 발광층(EL)의 발광 효율 및/또는 수명 등을 향상시키기 위한 기능층을 더 포함하여 이루어질 수 있다.Additionally, the light emitting device ED according to an example may further include a functional layer for improving light emitting efficiency and/or lifetime of the light emitting layer EL.

공통 전극(CE)은 발광층(EL)과 전기적으로 연결되도록 형성된다. 공통 전극(CE)은 각 화소(P)에 마련된 발광층(EL)과 공통적으로 연결되도록 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA) 전체에 형성된다.The common electrode CE is formed to be electrically connected to the light emitting layer EL. The common electrode CE is formed over the entire display area AA of the flexible substrate FS to be commonly connected to the light emitting layer EL provided in each pixel P.

일 예에 따른 공통 전극(CE)은 광을 투과시킬 수 있는 투명 전도성 물질 또는 반투과 전도성 물질을 포함할 수 있다. 공통 전극(CE)이 반투과 전도성 물질로 형성되는 경우, 마이크로 캐비티(micro cavity) 구조를 통해 발광 소자(ED)에서 발광된 광의 출광 효율을 높일 수 있다. 일 예에 따른 반투과 전도성 물질은 마그네슘(Mg), 은(Ag), 또는 마그네슘(Mg)과 은(Ag)의 합금 등을 포함할 수 있다. 추가적으로, 공통 전극(CE) 상에는 발광 소자(ED)에서 발광된 광의 굴절율을 조절하여 광의 출광 효율을 향상시키기 위한 캡핑층(capping layer)이 더 형성될 수 있다.The common electrode CE according to an example may include a transparent conductive material or a semi-transmissive conductive material capable of transmitting light. When the common electrode CE is formed of a transflective conductive material, light emission efficiency of light emitted from the light emitting device ED may be increased through a micro cavity structure. The transflective conductive material according to an example may include magnesium (Mg), silver (Ag), or an alloy of magnesium (Mg) and silver (Ag). Additionally, a capping layer may be further formed on the common electrode CE to improve light emission efficiency by adjusting the refractive index of light emitted from the light emitting element ED.

발광 소자(ED) 위에는 봉지층(130)이 더 적층될 수 있다. 봉지층(130)은 화소 어레이층(120)을 둘러싸도록 형성된다. 봉지층(130)은 산소 또는 수분이 발광 소자(ED)로 침투하는 것을 방지하는 역할을 한다.An encapsulation layer 130 may be further stacked on the light emitting device ED. The encapsulation layer 130 is formed to surround the pixel array layer 120 . The encapsulation layer 130 serves to prevent oxygen or moisture from penetrating into the light emitting device ED.

일 예에 따른 봉지층(130)은 제 1 무기 봉지층(PAS1), 제 1 무기 봉지층(PAS1) 상의 유기 봉지층(PCL) 및 유기 봉지층(PCL) 상의 제 2 무기 봉지층(PAS2)을 포함할 수 있다.The encapsulation layer 130 according to an example includes a first inorganic encapsulation layer (PAS1), an organic encapsulation layer (PCL) on the first inorganic encapsulation layer (PAS1), and a second inorganic encapsulation layer (PAS2) on the organic encapsulation layer (PCL). can include

제 1 무기 봉지층(PAS1)과 제 2 무기 봉지층(PAS2)은 수분이나 산소의 침투를 차단하는 역할을 한다. 일 예에 따른 제 1 무기 봉지층(PAS1)과 제 2 무기 봉지층(PAS2)은 실리콘 질화물, 알루미늄 질화물, 지르코늄 질화물, 티타늄 질화물, 하프늄 질화물, 탄탈륨 질화물, 실리콘 산화물, 알루미늄 산화물, 또는 티타늄 산화물 등의 무기물로 이루어질 수 있다. 이러한 제 1 무기 봉지층(PAS1)과 제 2 무기 봉지층(PAS2)은 화학 기상 증착 공정 또는 원자층 증착 공정에 의해 형성될 수 있다.The first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 serve to block penetration of moisture or oxygen. The first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 according to an embodiment may include silicon nitride, aluminum nitride, zirconium nitride, titanium nitride, hafnium nitride, tantalum nitride, silicon oxide, aluminum oxide, or titanium oxide. of inorganic materials. The first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 may be formed by a chemical vapor deposition process or an atomic layer deposition process.

유기 봉지층(PCL)은 제 1 무기 봉지층(PAS1)과 제 2 무기 봉지층(PAS2)에 의해 둘러싸인다. 유기 봉지층(PCL)은 제조 공정 중 발생할 수 있는 이물들(particles)을 덮을 수 있도록 제 1 무기 봉지층(PAS1) 및/또는 제 2 무기 봉지층(PAS2) 대비 상대적으로 두꺼운 두께로 형성될 수 있다. 유기 봉지층(PCL)은 실리콘옥시카본(SiOCz) 아크릴 또는 에폭시 계열의 레진(Resin) 등의 유기물로 이루어질 수 있다. 유기 봉지층(133)은 코팅 공정, 예를 들어 잉크젯 코팅 공정 또는 슬릿 코팅 공정에 의해 형성될 수 있다.The organic encapsulation layer PCL is surrounded by the first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2. The organic encapsulation layer (PCL) may be formed to have a relatively thick thickness compared to the first inorganic encapsulation layer (PAS1) and/or the second inorganic encapsulation layer (PAS2) so as to cover particles that may occur during the manufacturing process. there is. The organic encapsulation layer PCL may be formed of an organic material such as silicon oxycarbon (SiOCz) acrylic or epoxy-based resin. The organic encapsulation layer 133 may be formed by a coating process, for example, an inkjet coating process or a slit coating process.

본 출원의 일 실시 예에 의한 플렉서블 표시장치에서 각 화소(P)들은 격벽(PD)에 의해 구분되는 구조를 갖는다. 즉, 각 화소(P) 단위로 유연성이 우수한 격벽(PD)으로 구분되므로, 어느 방향으로 구부리더라도, 플렉서블 표시장치의 유연성을 확보할 수 있다. 특히, 격벽(PD) 위에는 박막 트랜지스터의 구성 요소들과 함께 적층되는 무기 물질로 이루어진 절연막인 상부 버퍼층(BUF), 게이트 절연막(GI) 및 중간 절연막(ILD)이 적층되지 않는다. 따라서, 구부러지는 동작에 의해 박막 트랜지스터가 손상되는 문제가 발생하지 않는다. 기저층(PS)의 하부에 적층된 하부 버퍼층(MB), 그리고 봉지층(130)에 포함된 제1 무기 봉지층(PAS1)과 제2 무기 봉지층(PAS2)가 무기 물질층이지만, 박막 트랜지스터와 같은 구동 소자들과 직접 접촉하는 무기 물질층이 아니므로, 구부러지는 동작에서 소자들에 악영향을 직접적으로 주지 않는다. 따라서, 본 출원의 일 실시 예에 의한 플렉서블 표시장치는 유연성이 우수하고, 반복되는 구부림 스트레스로 인해 소자가 파손되는 것을 방지하는 강건 구조를 가질 수 있다.In the flexible display device according to an exemplary embodiment of the present application, each pixel P has a structure divided by a barrier rib PD. That is, since each pixel P is divided into partition walls PD having excellent flexibility, flexibility of the flexible display device can be secured regardless of bending in any direction. In particular, the upper buffer layer BUF, the gate insulating layer GI, and the intermediate insulating layer ILD, which are insulating layers made of inorganic materials, are not stacked on the barrier rib PD. Therefore, the problem of damaging the thin film transistor due to the bending operation does not occur. Although the first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 included in the lower buffer layer MB stacked under the base layer PS and the encapsulation layer 130 are inorganic material layers, the thin film transistor and Since it is not an inorganic material layer in direct contact with the same driving elements, it does not directly adversely affect the elements in a bending operation. Accordingly, the flexible display device according to an exemplary embodiment of the present application may have excellent flexibility and a robust structure that prevents damage to elements due to repeated bending stress.

이하, 도 4를 도 2와 참조하여, 본 출원의 다른 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치의 단면 구조에 대해 상세히 설명한다. 본 출원의 다른 실시 예에 따른 플렉서블 전계 발광 표시장치는 플렉서블 기판(FS), 화소 어레이 층(120) 및 봉지층(130)을 포함할 수 있다. 본 출원의 다른 실시 예에 대한 설명에서 앞의 실시 예와 동일하거나 구분되지 않는 구성들에 대한 설명은 생략하거나 간략하게 서술한다.Hereinafter, a cross-sectional structure of a flexible electroluminescent display according to another embodiment of the present application will be described in detail with reference to FIG. 4 and FIG. 2 . A flexible electroluminescent display device according to another exemplary embodiment of the present application may include a flexible substrate FS, a pixel array layer 120 and an encapsulation layer 130 . In the description of other embodiments of the present application, descriptions of components that are the same as or indistinguishable from the previous embodiments are omitted or briefly described.

플렉서블 기판(FS)은 베이스 층으로서, 플라스틱 재질 또는 유리 재질을 포함한다. 일 예에 따른 플렉서블 기판(FS)은 불투명 또는 유색 폴리이미드(polyimide) 재질을 포함할 수 있다. 일 예에 따른 플렉서블 기판(FS)은 유기층을 식각하여 형성한 격벽(PD)과 기저층(PS)을 포함한다. 경우에 따라서, 기저층(PS) 하면에는 하부 버퍼층(MB)과 하부 기판(BS)이 부착될 수 있다. 이 경우, 하부 기판(BS)의 상부 표면에 하부 버퍼 층(MB)를 증착한 후, 유기층을 도포한다. 그 후에, 유기층을 그물 모양의 패턴으로 식각하여, 격벽(PD)과 기저층(PS)을 형성한다. 일 예에 따른 플렉서블 기판(FS)은 두께 방향(Z)을 기준으로, 플렉서블 기판(FS)의 후면에 결합된 백 플레이트(도시하지 않음)를 더 구비할 수 있다.The flexible substrate FS is a base layer and includes a plastic material or a glass material. The flexible substrate FS according to an example may include an opaque or colored polyimide material. The flexible substrate FS according to an example includes barrier ribs PD and a base layer PS formed by etching an organic layer. In some cases, a lower buffer layer MB and a lower substrate BS may be attached to a lower surface of the base layer PS. In this case, after depositing the lower buffer layer MB on the upper surface of the lower substrate BS, the organic layer is applied. Thereafter, the organic layer is etched in a net-like pattern to form the barrier rib PD and the base layer PS. The flexible substrate FS according to an example may further include a back plate (not shown) coupled to a rear surface of the flexible substrate FS in the thickness direction Z.

가장 바람직하게는 플렉서블 기판(FS)은, 자유롭게 접거나 펼 수 있는 유연성이 우수한 재질인 것이 바람직하다. 플렉서블 기판(FS)은 표시 영역(AA)과 표시 영역(AA)을 둘러싸는 비 표시 영역(IA)을 포함할 수 있다.Most preferably, the flexible substrate FS is a material having excellent flexibility that can be freely folded or unfolded. The flexible substrate FS may include a display area AA and a non-display area IA surrounding the display area AA.

플렉서블 기판(FS)에서 기저층(PS)의 상부 표면 상에는 상부 버퍼층(BUF)이 형성되어 있다. 상부 버퍼층(BUF)은 투습에 취약한 플렉서블 기판(FS)을 통해서 화소 어레이 층(120)으로 침투하는 수분을 차단하기 위하여, 기저층(PS)의 표면 상에 형성된다. 일 예에 따른 상부 버퍼층(BUF)은 교번하여 적층된 복수의 무기막들로 이루어질 수 있다. 상부 버퍼층(BUF)은 격벽(PD)으로 둘러싸인 각 화소(P) 별로 기저층(PS) 표면 위에만 형성하는 것이 바람직하다. 본 출원은 플렉서블 표시장치에서 표시 패널의 유연성을 확보하기 위해, 되도록 하는 것을 특징으로 한다. 이를 위해, 격벽(PD) 위에는 무기 물질층이 적층되지 않는 것이 바람직하다.An upper buffer layer BUF is formed on the upper surface of the base layer PS in the flexible substrate FS. The upper buffer layer BUF is formed on the surface of the base layer PS to block moisture penetrating into the pixel array layer 120 through the flexible substrate FS, which is vulnerable to moisture permeation. The upper buffer layer BUF according to an example may include a plurality of inorganic layers alternately stacked. The upper buffer layer BUF is preferably formed only on the surface of the base layer PS for each pixel P surrounded by the barrier rib PD. The present application is characterized in that in order to secure flexibility of a display panel in a flexible display device, it is possible. To this end, it is preferable that the inorganic material layer is not stacked on the barrier rib PD.

화소 어레이 층(120)은 박막 트랜지스터 층, 평탄화 층(PLN), 뱅크(BN), 및 발광 소자(ED)를 포함할 수 있다.The pixel array layer 120 may include a thin film transistor layer, a planarization layer PLN, a bank BN, and a light emitting element ED.

박막 트랜지스터 층은 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA)에 정의된 복수의 화소(P) 및 플렉서블 기판(FS)의 제3 및/또는 제4 비표시 영역(IA3, IA4)에 정의된 게이트 구동 회로(200)에 각각 마련된다.The thin film transistor layer includes a plurality of pixels P defined in the display area AA of the flexible substrate FS and gates defined in the third and/or fourth non-display areas IA3 and IA4 of the flexible substrate FS. Each is provided in the driving circuit 200 .

일 예에 따른 박막 트랜지스터 층은 상부 버퍼층(BUF) 위에 형성된 스위칭 박막 트랜지스터(ST), 구동 박막 트랜지스터(DT), 보상 박막 트랜지스터(ET), 게이트 절연막(GI) 및 층간 절연막(ILD)을 포함한다. 스위칭 박막 트랜지스터(ST)는 상부 버퍼층(BUF) 상에 형성된 스위칭 반도체 층(SA), 스위칭 게이트 전극(SG), 스위칭 소스 전극(SS) 및 스위칭 드레인 전극(SD)을 포함한다. 구동 박막 트랜지스터(DT)는 상부 버퍼층(BUF) 상에 형성된 구동 반도체 층(DA), 구동 게이트 전극(DG), 구동 소스 전극(DS) 및 구동 드레인 전극(DD)을 포함한다.The thin film transistor layer according to an example includes a switching thin film transistor (ST), a driving thin film transistor (DT), a compensation thin film transistor (ET), a gate insulating film (GI) and an interlayer insulating film (ILD) formed on the upper buffer layer (BUF). . The switching thin film transistor ST includes a switching semiconductor layer SA, a switching gate electrode SG, a switching source electrode SS, and a switching drain electrode SD formed on the upper buffer layer BUF. The driving thin film transistor DT includes a driving semiconductor layer DA, a driving gate electrode DG, a driving source electrode DS, and a driving drain electrode DD formed on the upper buffer layer BUF.

반도체 층(SA, DA)은 실리콘계 반도체 물질, 산화물계 반도체 물질, 또는 유기물계 반도체 물질을 포함할 수 있으며, 단층 구조 또는 복층 구조를 가질 수 있다.The semiconductor layers SA and DA may include a silicon-based semiconductor material, an oxide-based semiconductor material, or an organic material-based semiconductor material, and may have a single-layer structure or a multi-layer structure.

게이트 절연막(GI)은 반도체 층(SA, DA)을 덮도록 플렉서블 기판(FS) 위에 형성될 수 있다. 게이트 절연막(GI)은 무기막, 예를 들어 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다. 특히, 게이트 절연막(GI)이 무기 물질로 이루어진 경우, 격벽(PD)으로 둘러싸인 각 화소(P) 영역 내에 구분되어 형성하는 것이 바람직하다. 이 경우, 플렉서블 표시장치의 유연성을 확보하기 위해, 격벽(PD)의 상부 표면에는 게이트 절연막(GI)이 적층되지 않는 것이 바람직하다.The gate insulating layer GI may be formed on the flexible substrate FS to cover the semiconductor layers SA and DA. The gate insulating layer GI may be formed of an inorganic layer, for example, a silicon oxide layer (SiOx), a silicon nitride layer (SiNx), or a multilayer thereof. In particular, when the gate insulating film GI is made of an inorganic material, it is preferable to form the gate insulating film GI separately in each pixel P region surrounded by the barrier rib PD. In this case, in order to secure the flexibility of the flexible display device, it is preferable that the gate insulating film GI is not stacked on the upper surface of the barrier rib PD.

스위칭 게이트 전극(SG)은 스위칭 반도체 층(SA)과 중첩되도록, 그리고 구동 게이트 전극(DG)은 구동 반도체 층(DA)과 중첩되도록 게이트 절연막(GI) 상에 형성될 수 있다. 게이트 전극(SG, DG)은 스캔 배선(SL)과 함께 형성될 수 있다. 일 예에 따른 게이트 전극(SG, DG)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.The switching gate electrode SG may be formed on the gate insulating layer GI so as to overlap the switching semiconductor layer SA, and the driving gate electrode DG may overlap the driving semiconductor layer DA. The gate electrodes SG and DG may be formed together with the scan line SL. The gate electrodes SG and DG according to an exemplary embodiment include molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu). ) may be formed of a single layer or multiple layers made of any one or an alloy thereof.

층간 절연막(ILD)은 게이트 전극(SG, DG)과 게이트 절연막(GI)을 덮도록 플렉서블 기판(FS) 위에 적층된다. 층간 절연막(ILD)이 무기 물질로 이루어진 경우, 격벽(PD)으로 둘러싸인 각 화소(P) 영역 내에 구분되어 형성될 수 있다. 이 경우, 플렉서블 표시장치의 유연성을 확보하기 위해, 격벽(PD)의 상부 표면에는 층간 절연막(ILD)이 적층되지 않는 것이 바람직하다. 특히, 본 출원의 일 실시 예에서는, 층간 절연막(ILD)의 상부 표면이 격벽(PD)의 상부 표면보다 낮은 높이를 갖는 것이 바람직하다. 그 결과, 무기 물질들은 격벽(PD)으로 둘러싸인 내부 영역의 기저층(PS) 상부 표면에만 배치되는 특징을 갖는다.An interlayer insulating layer ILD is stacked on the flexible substrate FS to cover the gate electrodes SG and DG and the gate insulating layer GI. When the interlayer insulating layer ILD is made of an inorganic material, it may be formed separately in each pixel P area surrounded by the barrier rib PD. In this case, in order to secure the flexibility of the flexible display device, it is preferable that the interlayer insulating layer ILD is not laminated on the upper surface of the barrier rib PD. In particular, in an exemplary embodiment of the present application, it is preferable that the upper surface of the interlayer insulating layer ILD has a lower height than the upper surface of the barrier rib PD. As a result, the inorganic materials are disposed only on the upper surface of the base layer PS in the inner region surrounded by the barrier rib PD.

층간 절연막(ILD) 및 게이트 절연막(GI)을 패턴하여, 반도체 층(SA. GA)의 일측단과 타측단을 노출한다. 층간 절연막(ILD) 위에 금속 물질을 증착하고 패턴하여, 소스 전극(SS, DS)과 드레인 전극(SD, DD)을 형성한다. 이 때, 도 2에서 도시한 데이터 배선(DL), 화소 구동 전원 배선(PL) 그리고, 캐패시터(Cst)의 제1 전극을 함께 형성할 수 있다.One end and the other end of the semiconductor layers SA and GA are exposed by patterning the interlayer insulating film ILD and the gate insulating film GI. A metal material is deposited and patterned on the interlayer insulating layer ILD to form source electrodes SS and DS and drain electrodes SD and DD. At this time, the data line DL shown in FIG. 2 , the pixel driving power supply line PL, and the first electrode of the capacitor Cst may be formed together.

스위칭 소스 전극(SS)과 스위칭 드레인 전극(SD)은 스위칭 게이트 전극(SG)을 사이에 두고 스위칭 반도체 층(SA)과 중첩되도록 층간 절연막(ILD) 상에 형성될 수 있다. 구동 소스 전극(DS)과 구동 드레인 전극(DD)은 구동 게이트 전극(DG)을 사이에 두고 구동 반도체 층(DA)과 중첩되도록 층간 절연막(ILD) 상에 형성될 수 있다. 소스 전극(SS, DS), 드레인 전극(SD, DD), 데이터 배선(DL), 화소 구동 전원 배선(PL) 및 공통 전원 배선(CPL) 각각은 소스 드레인 전극 물질에 대한 패터닝 공정에 의해 동시에 형성될 수 있다.The switching source electrode SS and the switching drain electrode SD may be formed on the interlayer insulating layer ILD to overlap the switching semiconductor layer SA with the switching gate electrode SG interposed therebetween. The driving source electrode DS and the driving drain electrode DD may be formed on the interlayer insulating layer ILD to overlap the driving semiconductor layer DA with the driving gate electrode DG interposed therebetween. Each of the source electrodes SS and DS, the drain electrodes SD and DD, the data line DL, the pixel driving power line PL, and the common power line CPL are simultaneously formed by a patterning process for the source and drain electrode materials. It can be.

소스 전극(SS, DS)과 드레인 전극(SD, DD) 각각은 층간 절연막(ILD)과 게이트 절연막(GI)을 관통하는 전극 컨택홀을 통해 반도체 층(SA, DA)에 접속될 수 있다. 소스 전극(SS, DS)과 드레인 전극(SD, DD)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다. 여기서, 도 2 및 4에 도시된 구동 박막 트랜지스터(DT)의 구동 소스 전극(DS)은 화소 구동 전원 배선(PL)과 전기적으로 연결될 수 있다.Each of the source electrodes SS and DS and the drain electrodes SD and DD may be connected to the semiconductor layers SA and DA through an electrode contact hole penetrating the interlayer insulating layer ILD and the gate insulating layer GI. Source electrodes (SS, DS) and drain electrodes (SD, DD) are made of molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd) And copper (Cu) may be formed of a single layer or multiple layers made of any one or an alloy thereof. Here, the driving source electrode DS of the driving thin film transistor DT shown in FIGS. 2 and 4 may be electrically connected to the pixel driving power line PL.

이와 같이, 플렉서블 기판(FS)의 화소(P)에 마련된 박막 트랜지스터들(ST, DT. ET)은 화소 회로(PC)를 구성한다. 또한, 플렉서블 기판(FS)의 제3 및/또는 제 4 비표시 영역(IA3, IA4)에 배치된 게이트 구동 회로(200)는 화소(P)에 마련된 박막 트랜지스터(ST, DT, ET)와 동일하거나 유사한 박막 트랜지스터를 구비할 수 있다.As such, the thin film transistors ST, DT, and ET provided in the pixel P of the flexible substrate FS constitute the pixel circuit PC. In addition, the gate driving circuit 200 disposed in the third and/or fourth non-display areas IA3 and IA4 of the flexible substrate FS is the same as the thin film transistors ST, DT and ET provided in the pixel P. or a similar thin film transistor.

평탄화 층(PLN)은 박막 트랜지스터 층을 덮도록 격벽(PD)으로 둘러싸인 각 화소(P) 영역 내에 형성된다. 평탄화 층(PLN)은 박막 트랜지스터 층이 형성된 플렉서블 기판(FS)의 표면 상에 평탄면을 제공한다. 일 예에 따른 평탄화 층(PLN)은 아크릴 수지(acryl resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolic resin), 폴리아미드 수지(polyamide resin), 또는 폴리이미드 수지(polyimide resin) 등의 유기막으로 형성될 수 있다.The planarization layer PLN is formed in each pixel P region surrounded by the barrier rib PD to cover the thin film transistor layer. The planarization layer PLN provides a flat surface on the surface of the flexible substrate FS on which the thin film transistor layer is formed. According to an embodiment, the planarization layer (PLN) may include an organic material such as acrylic resin, epoxy resin, phenolic resin, polyamide resin, or polyimide resin. It can be formed into a film.

도 4에 도시한 본 출원의 다른 실시 예에서, 평탄화 층(PLN)은 격벽(PD) 위에 적층되지 않고, 격벽(PD) 사이의 내부 영역에만 도포된다. 격벽(PD) 위에는 스캔 배선(SL), 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전류 배선(PL)이 각 화소(P)들을 연결하도록 배치되어 있다. 이 경우, 격벽(PD) 위를 지나가는 배선들(SL, DL, PL)은 노출된 상태를 유지한다. 또한, 평탄화 층(PLN)은 화소(P)에 마련된 구동 박막 트랜지스터(DT)의 구동 드레인 전극(DD)을 노출시키기 위한 화소 컨택홀(PH)을 포함할 수 있다.In another embodiment of the present application shown in FIG. 4 , the planarization layer PLN is not laminated on the barrier ribs PD, but is applied only to the inner region between the barrier ribs PD. A scan line SL, a data line DL, and a pixel driving current line PL are disposed on the barrier rib PD to connect the pixels P to each other. In this case, the wires SL, DL, and PL passing over the barrier rib PD remain exposed. In addition, the planarization layer PLN may include a pixel contact hole PH for exposing the driving drain electrode DD of the driving thin film transistor DT provided in the pixel P.

평탄화 층(PLN) 위에 도전 물질을 증착하고 패턴하여 화소 구동 전극(AE)을 형성한다. 화소 구동 전극(AE)은 격벽(PD)으로 둘러싸인 화소(P) 영역 내부에 국한된 크기를 갖도록 형성한다. 화소 구동 전극(AE) 위에는 뱅크(BN)를 형성한다. 뱅크(BN)는 평탄화 층(PLN) 상에 배치되어 표시 영역(AA)의 화소(P) 내에 개구 영역(또는 발광 영역)을 정의한다. 이러한 뱅크(BN)는 화소 정의막으로 표현될 수도 있다. 본 출원의 다른 실시 예에서, 뱅크(BN)도 격벽(PD) 위에 적층되지 않고, 격벽(PD) 사이의 내부 영역인 각 화소(P) 영역 별로 구분되어 형성된다. 일 예로, 뱅크(BN)의 상부 표면은 격벽(PD)의 상부 표면보다 낮은 높이를 가질 수 있다.A conductive material is deposited and patterned on the planarization layer PLN to form the pixel driving electrode AE. The pixel driving electrode AE is formed to have a size limited to the inside of the pixel P region surrounded by the barrier rib PD. A bank BN is formed on the pixel driving electrode AE. The bank BN is disposed on the planarization layer PLN to define an opening area (or light emitting area) within the pixel P of the display area AA. Such a bank BN may be expressed as a pixel defining layer. In another embodiment of the present application, the banks BN are not stacked on the barrier ribs PD, but are formed separately for each pixel P region, which is an inner region between the barrier ribs PD. For example, an upper surface of the bank BN may have a lower height than an upper surface of the barrier rib PD.

발광 소자(ED)는 화소 구동 전극(AE), 발광층(EL), 및 공통 전극(CE)을 포함한다. 화소 구동 전극(AE)은 평탄화 층(PLN) 상에 형성되고 평탄화 층(PLN)에 마련된 화소 컨택홀(PH)을 통해 구동 박막 트랜지스터의 드레인 전극(D)에 전기적으로 연결된다. 이 경우, 화소(P)의 개구 영역과 중첩되는 화소 구동 전극(AE)의 중간 부분을 제외한 나머지 가장자리 부분은 뱅크(BN)에 의해 덮일 수 있다. 뱅크(BN)는 화소 구동 전극(AE)의 가장자리 부분을 덮음으로써 화소(P)의 개구 영역을 정의할 수 있다.The light emitting element ED includes a pixel driving electrode AE, a light emitting layer EL, and a common electrode CE. The pixel driving electrode AE is formed on the planarization layer PLN and is electrically connected to the drain electrode D of the driving thin film transistor through a pixel contact hole PH provided in the planarization layer PLN. In this case, an edge portion other than a middle portion of the pixel driving electrode AE overlapping the opening area of the pixel P may be covered by the bank BN. The bank BN may define an opening area of the pixel P by covering an edge portion of the pixel driving electrode AE.

발광층(EL)은 화소 구동 전극(AE)과 뱅크(BN)를 덮도록 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA)에 형성된다. 공통 전극(CE)은 발광층(EL)과 전기적으로 연결되도록 형성된다. 일 예에 따른 공통 전극(CE)은 광을 투과시킬 수 있는 투명 전도성 물질 또는 반투과 전도성 물질을 포함할 수 있다. 공통 전극(CE)이 반투과 전도성 물질로 형성되는 경우, 마이크로 캐비티(micro cavity) 구조를 통해 발광 소자(ED)에서 발광된 광의 출광 효율을 높일 수 있다. 일 예에 따른 반투과 전도성 물질은 마그네슘(Mg), 은(Ag), 또는 마그네슘(Mg)과 은(Ag)의 합금 등을 포함할 수 있다. 추가적으로, 공통 전극(CE) 상에는 발광 소자(ED)에서 발광된 광의 굴절율을 조절하여 광의 출광 효율을 향상시키기 위한 캡핑층(capping layer)이 더 형성될 수 있다.The light emitting layer EL is formed in the display area AA of the flexible substrate FS to cover the pixel driving electrode AE and the bank BN. The common electrode CE is formed to be electrically connected to the light emitting layer EL. The common electrode CE according to an example may include a transparent conductive material or a semi-transmissive conductive material capable of transmitting light. When the common electrode CE is formed of a transflective conductive material, light emission efficiency of light emitted from the light emitting device ED may be increased through a micro cavity structure. The transflective conductive material according to an example may include magnesium (Mg), silver (Ag), or an alloy of magnesium (Mg) and silver (Ag). Additionally, a capping layer may be further formed on the common electrode CE to improve light emission efficiency by adjusting the refractive index of light emitted from the light emitting device ED.

본 출원의 다른 실시 예에서, 발광 소자(ED)가 가지는 단면 구조의 특징에 대해 설명한다. 뱅크(BN)가 형성된 플렉서블 기판(FS) 위에 스페이서(SP)를 형성한다. 특히, 스페이서(SP)는 격벽(PD) 위에 형성한다. 격벽(PD)은 플렉서블 기판(FS) 위에서 연결된 메쉬 형태를 가지고 있다. 스페이서(SP)는 격벽(PD)과 동일한 형상을 가질 수 있다. 다른 예로, 스페이서(SP)는 기둥 모양을 가지며 격벽(PD) 위에서 산포되어 배치될 수 있다. 격벽(PD) 위에는 스캔 배선(SL), 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전원 배선(PL)이 배치되어 있다. 이들 배선들을 보호하기 위한 목적으로 스페이서(SP)는 격벽(PD)과 동일하게 메쉬 형상을 갖는 것이 바람직하다. 특히, 스페이서(SP)는 역 테이퍼 형상을 갖는 것이 바람직하다.In another embodiment of the present application, characteristics of the cross-sectional structure of the light emitting device ED will be described. A spacer SP is formed on the flexible substrate FS on which the bank BN is formed. In particular, the spacer SP is formed on the barrier rib PD. The barrier rib PD has a mesh shape connected on the flexible substrate FS. The spacer SP may have the same shape as the barrier rib PD. As another example, the spacers SP may have a columnar shape and may be distributed and disposed on the partition wall PD. A scan line SL, a data line DL, and a pixel driving power supply line PL are disposed on the barrier rib PD. For the purpose of protecting these wires, the spacer SP preferably has the same mesh shape as the barrier rib PD. In particular, the spacer SP preferably has a reverse taper shape.

스페이서(SP)가 형성된 플렉서블 기판(FS)의 표면 위에 유기 물질을 포함하는 발광층(EL)이 도포된다. 발광층(EL)은 스페이서(SP)의 역 테이퍼 구조로 인해, 각 화소(P) 영역 별로 단선된 구조를 갖는다. 즉, 발광층(EL)은 화소(P) 별로 독립되어 화소 전극(AE) 위에 적층된 구조를 갖는다. 다만, 스페이서(SP)의 상부 표면 위에 발광층(EL)의 잔여물이 적층될 수 있다. 하지만, 이 잔여물은 주변의 화소(P) 영역을 덮는 발광층(EL)과는 연결되지 않는다.An emission layer EL including an organic material is applied on the surface of the flexible substrate FS on which the spacer SP is formed. The light emitting layer EL has a disconnected structure for each pixel P region due to the inverse tapered structure of the spacer SP. That is, the light emitting layer EL has a structure that is independent for each pixel P and stacked on the pixel electrode AE. However, the remainder of the light emitting layer EL may be stacked on the upper surface of the spacer SP. However, this residue is not connected to the light emitting layer EL covering the surrounding pixel P area.

발광층(EL)이 형성된 플렉서블 기판(FS)의 표면 위에 공통 전극(CE)을 도포한다. 공통 전극(CE)은 투명한 성질을 갖는 금속 산화물을 포함한다. 일례로, 공통 전극(CE)은 가로 방향의 화소(P)들을 연결하는 띠 형상을 가질 수 있다. 격벽(PD) 위에는 가로 방향으로 진행하는 스캔 배선(SL)이 배치되어 있다. 스캔 배선(SL)과 공통 전극(CE)이 전기적으로 연결되지 않아야 하므로, 공통 전극(CE)은 스캔 배선(SL)과 일정 거리 이격하며, 가로 방향으로 진행하며, 뱅크(BN)에 의해 개방된 화소 전극(AE)을 모두 덮는 띠 형상을 가질 수 있다.A common electrode CE is applied on the surface of the flexible substrate FS on which the light emitting layer EL is formed. The common electrode CE includes a metal oxide having a transparent property. For example, the common electrode CE may have a strip shape connecting pixels P in a horizontal direction. A scan line SL extending in a horizontal direction is disposed on the barrier rib PD. Since the scan line SL and the common electrode CE must not be electrically connected, the common electrode CE is spaced apart from the scan line SL by a predetermined distance, runs in a horizontal direction, and is opened by the bank BN. It may have a band shape covering all of the pixel electrodes AE.

다른 예로, 공통 전극(CE)은, 세로 방향의 화소(P)들을 연결하는 띠 형상을 가질 수 있다. 격벽(PD) 위에는 세로 방향으로 진행하는 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전원 배선(PL)이 배치되어 있다. 공통 전극(CE)은 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전원 배선(PL)과 전기적으로 연결되지 않아야 한다. 따라서, 공통 전극(CE)은 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전원 배선(PL)과 일정 거리 이격하며, 세로 방향으로 진행하며, 뱅크(BN)에 의해 개방된 화소 전극(AE)을 모두 덮는 띠 형상을 가질 수 있다.As another example, the common electrode CE may have a strip shape connecting the pixels P in the vertical direction. A data line DL and a pixel driving power line PL are disposed on the barrier rib PD, which run in a vertical direction. The common electrode CE should not be electrically connected to the data line DL and the pixel driving power supply line PL. Therefore, the common electrode CE is spaced apart from the data line DL and the pixel driving power supply line PL by a predetermined distance, runs in a vertical direction, and covers all of the pixel electrodes AE opened by the bank BN. can have a shape.

발광 소자(ED) 위에는 봉지층(130)이 더 적층될 수 있다. 봉지층(130)은 화소 어레이층(120)을 둘러싸도록 형성된다. 봉지층(130)은 산소 또는 수분이 발광 소자(ED)로 침투하는 것을 방지하는 역할을 한다.An encapsulation layer 130 may be further stacked on the light emitting device ED. The encapsulation layer 130 is formed to surround the pixel array layer 120 . The encapsulation layer 130 serves to prevent oxygen or moisture from penetrating into the light emitting device ED.

일 예에 따른 봉지층(130)은 제 1 무기 봉지층(PAS1), 제 1 무기 봉지층(PAS1) 상의 유기 봉지층(PCL) 및 유기 봉지층(PCL) 상의 제 2 무기 봉지층(PAS2)을 포함할 수 있다.The encapsulation layer 130 according to an example includes a first inorganic encapsulation layer (PAS1), an organic encapsulation layer (PCL) on the first inorganic encapsulation layer (PAS1), and a second inorganic encapsulation layer (PAS2) on the organic encapsulation layer (PCL). can include

제1 무기 봉지층(PAS1)은 스페이서(SP)을 타고 넘어, 플렉서블 기판(FS)의 표면 전체를 덮는다. 제1 무기 봉지층(PAS1)은 무기 물질을 포함하므로, 역 테이퍼 진 스페이서(SP)의 형상을 모두 덮는 형상을 갖는다.The first inorganic encapsulation layer PAS1 climbs over the spacer SP and covers the entire surface of the flexible substrate FS. Since the first inorganic encapsulation layer PAS1 includes an inorganic material, it has a shape covering the entire shape of the reverse tapered spacer SP.

본 출원의 다른 실시 예에 의한 플렉서블 표시장치에서 각 화소(P)들은 격벽(PD)에 의해 구분되는 구조를 갖는다. 즉, 각 화소(P) 단위로 유연성이 우수한 격벽(PD)으로 구분되므로, 어느 방향으로 구부리더라도, 플렉서블 표시장치의 유연성을 확보할 수 있다. 특히, 격벽(PD) 위에는 박막 트랜지스터의 구성 요소들과 함께 적층되는 무기 물질인 상부 버퍼층(BUF), 게이트 절연막(GI) 및 층간 절연막(ILD)이 적층되지 않는다. 따라서, 구부러지는 동작에 의해 박막 트랜지스터가 손상되는 문제가 발생하지 않는다. 기저층(PS)의 배면에 적층된 하부 버퍼층(MB), 그리고 봉지층(130)에 포함된 제1 무기 봉지층(PAS1)과 제2 무기 봉지층(PAS2)이 무기 물질층이지만, 박막 트랜지스터와 같은 구동 소자들과 직접 접촉하는 무기 물질층이 아니므로, 구부러지는 동작에서 소자들에 악영향을 직접적으로 주지 않는다. 따라서, 본 출원에 의한 플렉서블 표시장치는 유연성이 우수하고, 반복되는 구부림 스트레스로 인해 소자가 파손되는 것을 방지하는 강건 구조를 가질 수 있다.In the flexible display device according to another embodiment of the present application, each pixel P has a structure partitioned by a barrier rib PD. That is, since each pixel P is divided into partition walls PD having excellent flexibility, flexibility of the flexible display device can be secured regardless of bending in any direction. In particular, the upper buffer layer BUF, the gate insulating layer GI, and the interlayer insulating layer ILD, which are inorganic materials, are not stacked on the barrier rib PD. Therefore, the problem of damaging the thin film transistor due to the bending operation does not occur. Although the lower buffer layer MB stacked on the rear surface of the base layer PS and the first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 included in the encapsulation layer 130 are inorganic material layers, the thin film transistor and Since it is not an inorganic material layer in direct contact with the same driving elements, it does not directly adversely affect the elements in a bending operation. Accordingly, the flexible display device according to the present application may have excellent flexibility and a robust structure that prevents breakage of elements due to repeated bending stress.

이하, 도 2와 도 5를 참조하여, 본 출원의 또 다른 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치에 대해 설명한다. 도 5는 본 출원의 또 다른 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치의 구조를 나타내는 것으로 도 1 절취선 II-II'을 따라 도시한 단면도이다. 본 출원의 또 다른 실시 예에서는, 플렉서블 전계 발광 표시 장치의 최 외곽에도 유기물질로 만든 격벽을 더 추가하여, 외부로부터의 수분 및 이물질 침투를 효과적으로 방지할 수 있는 구조를 제공한다. 본 출원의 또 다른 실시 예에 대한 설명에서 앞의 실시 예들과 동일하거나 구분되지 않는 구성들에 대한 설명은 생략하거나 간략하게 서술한다.Hereinafter, a flexible electroluminescent display device according to another exemplary embodiment of the present application will be described with reference to FIGS. 2 and 5 . 5 is a cross-sectional view taken along the line II-II′ of FIG. 1 showing the structure of a flexible electroluminescent display device according to another embodiment of the present application. In another embodiment of the present application, a barrier rib made of an organic material is further added to the outermost portion of the flexible electroluminescent display to provide a structure capable of effectively preventing penetration of moisture and foreign substances from the outside. In the description of another embodiment of the present application, descriptions of components that are the same as or indistinguishable from the previous embodiments are omitted or briefly described.

플렉서블 기판(FS)은 베이스 층으로서, 플라스틱 재질 또는 유리 재질을 포함한다. 경우에 따라서, 기저층(PS) 하면에는 하부 버퍼층(MB)과 하부 기판(BS)이 부착될 수 있다. 이 경우, 하부 기판(BS)의 상부 표면에 하부 버퍼 층(MB)를 증착한 후, 유기층을 도포한다. 그 후에, 유기층을 그물 모양의 패턴으로 식각하여, 격벽(PD)과 기저층(PS)을 형성한다. 격벽(PD)과 기저층(PS)은 일체로 이루어져 있으며, 동일한 물질로 이루어져 있다. 얇은 두께를 갖는 기저층(PS)의 표면 위에는 일정 폭과 기저층(PS)보다 두꺼운 두께를 갖는 격벽(PD)들이 돌출되고, 격벽(PD)들로 둘러싸인 내부 영역이 화소(P)로 정의된다.The flexible substrate FS is a base layer and includes a plastic material or a glass material. In some cases, a lower buffer layer MB and a lower substrate BS may be attached to a lower surface of the base layer PS. In this case, after depositing the lower buffer layer MB on the upper surface of the lower substrate BS, the organic layer is applied. Thereafter, the organic layer is etched in a net-like pattern to form the barrier rib PD and the base layer PS. The barrier rib PD and the base layer PS are integrally formed and made of the same material. Barrier ribs PD having a certain width and a thickness greater than that of the base layer PS protrude on the surface of the base layer PS having a small thickness, and an inner region surrounded by the barrier ribs PD is defined as a pixel P.

가장 바람직하게는 플렉서블 기판(FS)은, 자유롭게 접거나 펼 수 있는 유연성이 우수한 재질인 것이 바람직하다. 플렉서블 기판(FS)은 표시 영역(AA)과 표시 영역(AA)을 둘러싸는 비 표시 영역(IA)을 포함할 수 있다. 특히, 플렉서블 기판(FS)의 최외곽 가장자리에도 격벽(PD)이 돌출 배치되어 있다. 최외곽에 배치된 격벽(PD)은 비 표시 영역(IA)에 포함된다.Most preferably, the flexible substrate FS is a material having excellent flexibility that can be freely folded or unfolded. The flexible substrate FS may include a display area AA and a non-display area IA surrounding the display area AA. Particularly, the barrier rib PD is also protruded from the outermost edge of the flexible substrate FS. The outermost barrier rib PD is included in the non-display area IA.

플렉서블 기판(FS)에서 기저층(PS)의 상부 표면 상에는 상부 버퍼층(BUF)이 형성되어 있다. 상부 버퍼층(BUF)은 투습에 취약한 플렉서블 기판(FS)을 통해서 화소 어레이 층(120)으로 침투하는 수분을 차단하기 위하여, 기저층(PS)의 표면 상에 형성된다. 상부 버퍼층(BUF)은 격벽(PD) 상부 표면을 제외한 기저층(PS) 표면 위에 적층되는 것이 바람직하다. 따라서, 게이트 구동 회로(200)가 배치된 제3 비 표시 영역(IA3)에서도, 기저층(PS)의 표면 위에 상부 버퍼층(BUF)이 도포되어 있을 수 있다. 본 출원은 플렉서블 표시장치에서 표시 패널의 유연성을 확보하기 위해, 되도록 하는 것을 특징으로 한다. 이를 위해, 격벽(PD) 위에는 무기 물질층이 적층되지 않는 것이 바람직하다.An upper buffer layer BUF is formed on the upper surface of the base layer PS in the flexible substrate FS. The upper buffer layer BUF is formed on the surface of the base layer PS to block moisture penetrating into the pixel array layer 120 through the flexible substrate FS, which is vulnerable to moisture permeation. The upper buffer layer BUF is preferably stacked on the surface of the base layer PS except for the upper surface of the barrier rib PD. Therefore, even in the third non-display area IA3 where the gate driving circuit 200 is disposed, the upper buffer layer BUF may be coated on the surface of the base layer PS. The present application is characterized in that in order to secure flexibility of a display panel in a flexible display device, it is possible. To this end, it is preferable that the inorganic material layer is not stacked on the barrier rib PD.

화소 어레이 층(120)은 박막 트랜지스터 층, 평탄화 층(PLN), 뱅크(BN), 및 발광 소자(ED)를 포함할 수 있다.The pixel array layer 120 may include a thin film transistor layer, a planarization layer PLN, a bank BN, and a light emitting element ED.

박막 트랜지스터 층은 플렉서블 기판(FS)의 표시 영역(AA)에 정의된 복수의 화소(P) 및 플렉서블 기판(FS)의 제3 비 표시 영역(IA3)에 정의된 게이트 구동 회로(200)에 각각 마련된다.The thin film transistor layer is applied to the plurality of pixels P defined in the display area AA of the flexible substrate FS and the gate driving circuit 200 defined in the third non-display area IA3 of the flexible substrate FS. provided

일 예에 따른 박막 트랜지스터 층은 상부 버퍼층(BUF) 위에 형성된 스위칭 박막 트랜지스터, 구동 박막 트랜지스터, 보상 박막 트랜지스터, 게이트 절연막(GI) 및 층간 절연막(ILD)을 포함한다. 이하에서는 설명의 편이성을 위해 단순히 박막 트랜지스터(T)로 설명한다. 박막 트랜지스터(T)는 상부 버퍼층(BUF) 상에 형성된 반도체 층(A), 게이트 전극(G), 소스 전극(S) 및 드레인 전극(D)을 포함한다.The thin film transistor layer according to an example includes a switching thin film transistor, a driving thin film transistor, a compensation thin film transistor, a gate insulating film GI, and an interlayer insulating film ILD formed on the upper buffer layer BUF. Hereinafter, for convenience of description, a thin film transistor T will be simply described. The thin film transistor T includes a semiconductor layer A, a gate electrode G, a source electrode S, and a drain electrode D formed on the upper buffer layer BUF.

반도체 층(A)은 실리콘계 반도체 물질, 산화물계 반도체 물질, 또는 유기물계 반도체 물질을 포함할 수 있으며, 단층 구조 또는 복층 구조를 가질 수 있다.The semiconductor layer (A) may include a silicon-based semiconductor material, an oxide-based semiconductor material, or an organic material-based semiconductor material, and may have a single-layer structure or a multi-layer structure.

게이트 절연막(GI)은 반도체 층(A)을 덮도록 플렉서블 기판(FS) 위에 형성될 수 있다. 게이트 절연막(GI)은 무기막, 예를 들어 실리콘 산화막(SiOx), 실리콘 질화막(SiNx), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있다. 특히, 게이트 절연막(GI)이 무기 물질로 이루어진 경우, 격벽(PD)으로 둘러싸인 각 화소(P) 영역 내에 구분되어 형성하는 것이 바람직하다. 또한, 비 표시 영역(IA)에서도 기저층(PS) 표면 위에 게이트 절연막(GI)이 적층될 수 있다. 이 경우, 플렉서블 표시장치의 유연성을 확보하기 위해, 격벽(PD)의 상부 표면에는 게이트 절연막(GI)이 적층되지 않는 것이 바람직하다.The gate insulating layer GI may be formed on the flexible substrate FS to cover the semiconductor layer A. The gate insulating layer GI may be formed of an inorganic layer, for example, a silicon oxide layer (SiOx), a silicon nitride layer (SiNx), or a multilayer thereof. In particular, when the gate insulating film GI is made of an inorganic material, it is preferable to form the gate insulating film GI separately in each pixel P region surrounded by the barrier rib PD. Also, a gate insulating layer GI may be stacked on the surface of the base layer PS in the non-display area IA. In this case, in order to secure the flexibility of the flexible display device, it is preferable that the gate insulating film GI is not stacked on the upper surface of the barrier rib PD.

게이트 전극(G)은 반도체 층(A)과 중첩되도록 게이트 절연막(GI) 상에 형성될 수 있다. 게이트 전극(G)은 스캔 배선(SL)과 함께 형성될 수 있다. 일 예에 따른 게이트 전극(G)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.The gate electrode G may be formed on the gate insulating layer GI so as to overlap the semiconductor layer A. The gate electrode G may be formed together with the scan line SL. The gate electrode G according to an embodiment is selected from among molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu). It may be formed as a single layer or multiple layers made of any one or an alloy thereof.

층간 절연막(ILD)은 게이트 전극(G)과 게이트 절연막(GI)을 덮도록 플렉서블 기판(FS) 위에 적층된다. 층간 절연막(ILD)이 무기 물질로 이루어진 경우, 격벽(PD)으로 둘러싸인 각 화소(P) 영역 내에 구분되어 형성될 수 있다. 이 경우, 플렉서블 표시장치의 유연성을 확보하기 위해, 격벽(PD)의 상부 표면에는 층간 절연막(ILD)이 적층되지 않는 것이 바람직하다. 특히, 본 출원의 일 실시 예에서는, 층간 절연막(ILD)의 상부 표면이 격벽(PD)의 상부 표면보다 낮은 높이를 갖는 것이 바람직하다. 또한, 층간 절연막(ILD)은 최외각 격벽(PD) 내측의 기저층(PS) 위에도 적층될 수 있다. 그 결과, 무기 물질들은 격벽(PD)으로 둘러싸인 내부 영역의 기저층(PS) 상부 표면에만 배치되는 특징을 갖는다.An interlayer insulating layer ILD is stacked on the flexible substrate FS to cover the gate electrode G and the gate insulating layer GI. When the interlayer insulating layer ILD is made of an inorganic material, it may be formed separately in each pixel P area surrounded by the barrier rib PD. In this case, in order to secure the flexibility of the flexible display device, it is preferable that the interlayer insulating layer ILD is not laminated on the upper surface of the barrier rib PD. In particular, in an exemplary embodiment of the present application, it is preferable that the upper surface of the interlayer insulating layer ILD has a lower height than the upper surface of the barrier rib PD. In addition, the interlayer insulating layer ILD may also be stacked on the base layer PS inside the outermost barrier rib PD. As a result, the inorganic materials are disposed only on the upper surface of the base layer PS in the inner region surrounded by the barrier rib PD.

층간 절연막(ILD) 및 게이트 절연막(GI)을 패턴하여, 반도체 층(A)의 일측단과 타측단을 노출한다. 층간 절연막(ILD) 위에 금속 물질을 증착하고 패턴하여, 소스 전극(S)과 드레인 전극(D)을 형성한다. 이 때, 도 2에서 도시한 데이터 배선(DL), 화소 구동 전원 배선(PL) 그리고, 캐패시터(Cst)의 제1 전극을 함께 형성할 수 있다.One end and the other end of the semiconductor layer (A) are exposed by patterning the interlayer insulating film (ILD) and the gate insulating film (GI). A metal material is deposited and patterned on the interlayer insulating layer ILD to form a source electrode S and a drain electrode D. At this time, the data line DL shown in FIG. 2 , the pixel driving power supply line PL, and the first electrode of the capacitor Cst may be formed together.

소스 전극(S)과 드레인 전극(D)은 게이트 전극(G)을 사이에 두고 반도체 층(A)과 중첩되도록 층간 절연막(ILD) 상에 형성될 수 있다. 소스 전극(S)과 드레인 전극(D)은 게이트 전극(G)을 사이에 두고 반도체 층(A)과 중첩되도록 층간 절연막(ILD) 상에 형성될 수 있다. 소스 전극(S), 드레인 전극(D), 데이터 배선(DL), 화소 구동 전원 배선(PL) 및 공통 전원 배선(CPL) 각각은 소스 드레인 전극 물질에 대한 패터닝 공정에 의해 동시에 형성될 수 있다.The source electrode S and the drain electrode D may be formed on the interlayer insulating layer ILD to overlap the semiconductor layer A with the gate electrode G interposed therebetween. The source electrode S and the drain electrode D may be formed on the interlayer insulating layer ILD to overlap the semiconductor layer A with the gate electrode G interposed therebetween. Each of the source electrode S, the drain electrode D, the data line DL, the pixel driving power line PL, and the common power line CPL may be simultaneously formed by a patterning process for the source and drain electrode materials.

소스 전극(S)과 드레인 전극(D) 각각은 층간 절연막(ILD)과 게이트 절연막(GI)을 관통하는 전극 컨택홀을 통해 반도체 층(A)에 접속될 수 있다. 소스 전극(S)과 드레인 전극(D)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.Each of the source electrode S and the drain electrode D may be connected to the semiconductor layer A through an electrode contact hole penetrating the interlayer insulating layer ILD and the gate insulating layer GI. The source electrode (S) and the drain electrode (D) are made of molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu). ) may be formed of a single layer or multiple layers made of any one or an alloy thereof.

이와 같이, 플렉서블 기판(FS)의 화소(P)에 마련된 박막 트랜지스터들(T)은 화소 회로(PC)를 구성한다. 또한, 플렉서블 기판(FS)의 제3 비 표시 영역(IA3)에 배치된 게이트 구동 회로(200)는 화소(P)에 마련된 박막 트랜지스터(T)와 동일하거나 유사한 박막 트랜지스터를 구비할 수 있다.As such, the thin film transistors T provided in the pixel P of the flexible substrate FS constitute the pixel circuit PC. In addition, the gate driving circuit 200 disposed in the third non-display area IA3 of the flexible substrate FS may include a thin film transistor identical to or similar to the thin film transistor T provided in the pixel P.

평탄화 층(PLN)은 박막 트랜지스터 층을 덮도록 각 화소(P) 영역 내에 형성된다. 평탄화 층(PLN)은 박막 트랜지스터 층이 형성된 플렉서블 기판(FS)의 표면 상에 평탄면을 제공한다.A planarization layer PLN is formed in each pixel P region to cover the thin film transistor layer. The planarization layer PLN provides a flat surface on the surface of the flexible substrate FS on which the thin film transistor layer is formed.

본 출원의 또 다른 실시 예에서, 평탄화 층(PLN)은 격벽(PD) 위에 적층되지 않고, 격벽(PD) 사이의 내부 영역에만 도포된다. 격벽(PD) 위에는 스캔 배선(SL), 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전류 배선(PL)이 각 화소(P)들을 연결하도록 배치되어 있다. 이 경우, 격벽(PD) 위를 지나가는 배선들(SL, DL, PL)은 노출된 상태를 유지한다. 또한, 평탄화 층(PLN)은 화소(P)에 마련된 구동 박막 트랜지스터(DT)의 구동 드레인 전극(DD)을 노출시키기 위한 화소 컨택홀(PH)을 포함할 수 있다. 반면에, 최외각에 배치된 격벽(PD)의 상부 표면 위에는 아무것도 형성되지 않는다.In another embodiment of the present application, the planarization layer PLN is not laminated on the barrier ribs PD, but is applied only to an inner region between the barrier ribs PD. A scan line SL, a data line DL, and a pixel driving current line PL are disposed on the barrier rib PD to connect the pixels P to each other. In this case, the wires SL, DL, and PL passing over the barrier rib PD remain exposed. In addition, the planarization layer PLN may include a pixel contact hole PH for exposing the driving drain electrode DD of the driving thin film transistor DT provided in the pixel P. On the other hand, nothing is formed on the upper surface of the outermost partition wall PD.

평탄화 층(PLN) 위에 도전 물질을 증착하고 패턴하여 화소 구동 전극(AE)을 형성한다. 화소 구동 전극(AE)은 화소(P) 영역 내부에 국한된 크기를 갖도록 형성한다. 화소 구동 전극(AE) 위에는 뱅크(BN)를 형성한다. 뱅크(BN)는 평탄화 층(PLN) 상에 배치되어 표시 영역(AA)의 화소(P) 내에 개구 영역(또는 발광 영역)을 정의한다. 이러한 뱅크(BN)는 화소 정의막으로 표현될 수도 있다. 본 출원의 다른 실시 예에서, 뱅크(BN)도 격벽(PD) 위에 적층되지 않고, 격벽(PD) 사이의 내부 영역인 각 화소(P) 영역 별로 구분되어 형성된다. 일 예로, 뱅크(BN)의 상부 표면은 격벽(PD)의 상부 표면보다 낮은 높이를 가질 수 있다.A conductive material is deposited and patterned on the planarization layer PLN to form the pixel driving electrode AE. The pixel driving electrode AE is formed to have a size limited to the inside of the pixel P region. A bank BN is formed on the pixel driving electrode AE. The bank BN is disposed on the planarization layer PLN to define an opening area (or light emitting area) within the pixel P of the display area AA. Such a bank BN may be expressed as a pixel defining layer. In another embodiment of the present application, the banks BN are not stacked on the barrier ribs PD, but are formed separately for each pixel P region, which is an inner region between the barrier ribs PD. For example, an upper surface of the bank BN may have a lower height than an upper surface of the barrier rib PD.

발광 소자(ED)는 화소 구동 전극(AE), 발광층(EL), 및 공통 전극(CE)을 포함한다. 화소 구동 전극(AE)은 평탄화 층(PLN) 상에 형성되고 평탄화 층(PLN)에 마련된 화소 컨택홀(PH)을 통해 구동 박막 트랜지스터의 드레인 전극(D)에 전기적으로 연결된다. 이 경우, 화소(P)의 개구 영역과 중첩되는 화소 구동 전극(AE)의 중간 부분을 제외한 나머지 가장자리 부분은 뱅크(BN)에 의해 덮일 수 있다. 뱅크(BN)는 화소 구동 전극(AE)의 가장자리 부분을 덮음으로써 화소(P)의 개구 영역을 정의할 수 있다.The light emitting element ED includes a pixel driving electrode AE, a light emitting layer EL, and a common electrode CE. The pixel driving electrode AE is formed on the planarization layer PLN and is electrically connected to the drain electrode D of the driving thin film transistor through a pixel contact hole PH provided in the planarization layer PLN. In this case, an edge portion other than a middle portion of the pixel driving electrode AE overlapping the opening area of the pixel P may be covered by the bank BN. The bank BN may define an opening area of the pixel P by covering an edge portion of the pixel driving electrode AE.

발광층(EL)은 화소 구동 전극(AE)과 뱅크(BN)를 덮도록 형성된다. 공통 전극(CE)은 발광층(EL)과 전기적으로 연결되도록 형성된다. 일 예에 따른 공통 전극(CE)은 광을 투과시킬 수 있는 투명 전도성 물질 또는 반투과 전도성 물질을 포함할 수 있다.The light emitting layer EL is formed to cover the pixel driving electrode AE and the bank BN. The common electrode CE is formed to be electrically connected to the light emitting layer EL. The common electrode CE according to an example may include a transparent conductive material or a semi-transmissive conductive material capable of transmitting light.

본 출원의 또 다른 실시 예를 나타내는 도 5에서는, 발광 소자(ED)가 가지는 단면 구조가 도 4에 의한 실시 예와 동일한 구조를 갖는다. 하지만, 이에 국한되는 것은 아니며, 예를 들어, 도 3에 의한 실시 예와 동일한 구조를 가질 수도 있다.In FIG. 5 showing another embodiment of the present application, the cross-sectional structure of the light emitting device ED has the same structure as the embodiment of FIG. 4 . However, it is not limited thereto, and may have, for example, the same structure as the embodiment of FIG. 3 .

뱅크(BN)가 형성된 플렉서블 기판(FS) 위에 스페이서(SP)를 형성한다. 특히, 스페이서(SP)는 격벽(PD) 위에 형성한다. 격벽(PD)은 플렉서블 기판(FS) 위에서 연결된 메쉬 형태를 가지고 있다. 스페이서(SP)는 격벽(PD)과 동일한 형상을 가질 수 있다. 반면에, 최 외곽에 배치된 격벽(PD) 위에는 스페이서(SP)가 형성되지 않는다.A spacer SP is formed on the flexible substrate FS on which the bank BN is formed. In particular, the spacer SP is formed on the barrier rib PD. The barrier rib PD has a mesh shape connected on the flexible substrate FS. The spacer SP may have the same shape as the barrier rib PD. On the other hand, the spacer SP is not formed on the outermost barrier rib PD.

격벽(PD) 위에는 스캔 배선(SL), 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전원 배선(PL)의 일부가 지나가도록 배치되어 있다. 이들 배선들을 보호하기 위한 목적으로 스페이서(SP)는 격벽(PD)과 동일하게 메쉬 형상을 갖는 것이 바람직하다. 특히, 스페이서(SP)는 역 테이퍼 형상을 갖는 것이 바람직하다.Part of the scan line SL, the data line DL, and the pixel driving power line PL are disposed on the barrier rib PD so as to pass therethrough. For the purpose of protecting these wires, the spacer SP preferably has the same mesh shape as the barrier rib PD. In particular, the spacer SP preferably has a reverse taper shape.

스페이서(SP)가 형성된 플렉서블 기판(FS)의 표면 위에 유기 물질을 포함하는 발광층(EL)이 도포된다. 발광층(EL)은 스페이서(SP)의 역 테이퍼 구조로 인해, 각 화소(P) 영역 별로 단선된 구조를 갖는다. 즉, 발광층(EL)은 화소(P) 별로 독립되어 화소 전극(AE) 위에 적층된 구조를 갖는다. 다만, 스페이서(SP)의 상부 표면 위에 발광층(EL)의 잔여물이 적층될 수 있다. 하지만, 이 잔여물은 주변의 화소(P) 영역을 덮는 발광층(EL)과는 연결되지 않는다.An emission layer EL including an organic material is applied on the surface of the flexible substrate FS on which the spacer SP is formed. The light emitting layer EL has a disconnected structure for each pixel P region due to the inverse tapered structure of the spacer SP. That is, the light emitting layer EL has a structure that is independent for each pixel P and stacked on the pixel electrode AE. However, the remainder of the light emitting layer EL may be stacked on the upper surface of the spacer SP. However, this residue is not connected to the light emitting layer EL covering the area of the pixel P around it.

발광층(EL)이 형성된 플렉서블 기판(FS)의 표면 위에 공통 전극(CE)을 도포한다. 공통 전극(CE)은 투명한 성질을 갖는 금속 산화물을 포함한다. 일례로, 공통 전극(CE)은 가로 방향의 화소(P)들을 연결하는 띠 형상을 가질 수 있다. 격벽(PD) 위에는 가로 방향으로 진행하는 스캔 배선(SL)이 배치되어 있다. 스캔 배선(SL)과 공통 전극(CE)이 전기적으로 연결되지 않아야 하므로, 공통 전극(CE)은 스캔 배선(SL)과 일정 거리 이격하며, 가로 방향으로 진행하며, 뱅크(BN)에 의해 개방된 화소 구동 전극(AE)을 모두 덮는 띠 형상을 가질 수 있다.A common electrode CE is applied on the surface of the flexible substrate FS on which the light emitting layer EL is formed. The common electrode CE includes a metal oxide having a transparent property. For example, the common electrode CE may have a strip shape connecting pixels P in a horizontal direction. A scan line SL extending in a horizontal direction is disposed on the barrier rib PD. Since the scan line SL and the common electrode CE must not be electrically connected, the common electrode CE is spaced apart from the scan line SL by a predetermined distance, runs in a horizontal direction, and is opened by the bank BN. It may have a band shape covering all of the pixel driving electrodes AE.

다른 예로, 공통 전극(CE)은, 세로 방향의 화소(P)들을 연결하는 띠 형상을 가질 수 있다. 격벽(PD) 위에는 세로 방향으로 진행하는 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전원 배선(PL)의 일부가 지나가도록 배치되어 있다. 공통 전극(CE)은 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전원 배선(PL)과 전기적으로 연결되지 않아야 한다. 따라서, 공통 전극(CE)은 데이터 배선(DL) 및 화소 구동 전원 배선(PL)과 일정 거리 이격하며, 세로 방향으로 진행하며, 뱅크(BN)에 의해 개방된 화소 전극(AE)을 모두 덮는 띠 형상을 가질 수 있다.As another example, the common electrode CE may have a strip shape connecting the pixels P in the vertical direction. A portion of the data line DL and the pixel driving power line PL extending in the vertical direction are disposed on the barrier rib PD so as to pass therethrough. The common electrode CE should not be electrically connected to the data line DL and the pixel driving power supply line PL. Therefore, the common electrode CE is spaced apart from the data line DL and the pixel driving power supply line PL by a predetermined distance, runs in a vertical direction, and covers all of the pixel electrodes AE opened by the bank BN. can have a shape.

발광 소자(ED) 위에는 봉지층(130)이 더 적층될 수 있다. 봉지층(130)은 화소 어레이층(120)을 둘러싸도록 형성된다. 봉지층(130)은 산소 또는 수분이 발광 소자(ED)로 침투하는 것을 방지하는 역할을 한다.An encapsulation layer 130 may be further stacked on the light emitting device ED. The encapsulation layer 130 is formed to surround the pixel array layer 120 . The encapsulation layer 130 serves to prevent oxygen or moisture from penetrating into the light emitting device ED.

일 예에 따른 봉지층(130)은 제 1 무기 봉지층(PAS1), 제 1 무기 봉지층(PAS1) 상의 유기 봉지층(PCL) 및 유기 봉지층(PCL) 상의 제 2 무기 봉지층(PAS2)을 포함할 수 있다. 제1 무기 봉지층(PAS1)과 제2 무기 봉지층(PAS2)은 수분이나 산소의 침투를 차단하는 역할을 한다. 일 예에 따른 제1 무기 봉지층(PAS1)과 제2 무기 봉지층(PAS2)은 실리콘 질화물, 알루미늄 질화물, 지르코늄 질화물, 티타늄 질화물, 하프늄 질화물, 탄탈륨 질화물, 실리콘 산화물, 알루미늄 산화물, 또는 티타늄 산화물 등의 무기물로 이루어질 수 있다. 이러한 제1 무기 봉지층(PAS1)과 제2 무기 봉지층(PAS2)은 화학 기상 증착 공정 또는 원자층 증착 공정에 의해 형성될 수 있다.The encapsulation layer 130 according to an example includes a first inorganic encapsulation layer (PAS1), an organic encapsulation layer (PCL) on the first inorganic encapsulation layer (PAS1), and a second inorganic encapsulation layer (PAS2) on the organic encapsulation layer (PCL). can include The first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 serve to block penetration of moisture or oxygen. The first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 according to an embodiment may include silicon nitride, aluminum nitride, zirconium nitride, titanium nitride, hafnium nitride, tantalum nitride, silicon oxide, aluminum oxide, or titanium oxide. of inorganic materials. The first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 may be formed by a chemical vapor deposition process or an atomic layer deposition process.

제1 무기 봉지층(PAS1)은 스페이서(SP)을 타고 넘어, 플렉서블 기판(FS)의 표면 전체를 덮는다. 제1 무기 봉지층(PAS1)은 무기 물질을 포함하므로, 역 테이퍼 진 스페이서(SP)의 형상을 모두 덮는 형상을 갖는다. 따라서, 제1 무기 봉지층(PAS1)은 표시 영역(AA)에 배치된 격벽(PD) 위에도 적층된다.The first inorganic encapsulation layer PAS1 climbs over the spacer SP and covers the entire surface of the flexible substrate FS. Since the first inorganic encapsulation layer PAS1 includes an inorganic material, it has a shape covering the entire shape of the reverse tapered spacer SP. Therefore, the first inorganic encapsulation layer PAS1 is also stacked on the barrier rib PD disposed in the display area AA.

유기 봉지층(PCL)은 제1 무기 봉지층(PAS1)과 제2 무기 봉지층(PAS2)에 의해 둘러싸인다. 유기 봉지층(PCL)은 제조 공정 중 발생할 수 있는 이물들(particles)을 흡착 및/또는 차단할 수 있도록 제1 무기 봉지층(PAS1) 및/또는 제2 무기 봉지층(PAS2) 대비 상대적으로 두꺼운 두께로 형성될 수 있다. 유기 봉지층(PCL)은 실리콘옥시카본(SiOCz) 아크릴 또는 에폭시 계열의 레진(Resin) 등의 유기물로 이루어질 수 있다. 유기 봉지층(PCL)은 코팅 공정, 예를 들어 잉크젯 코팅 공정 또는 슬릿 코팅 공정에 의해 형성될 수 있다.The organic encapsulation layer PCL is surrounded by the first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2. The organic encapsulation layer (PCL) has a relatively thick thickness compared to the first inorganic encapsulation layer (PAS1) and/or the second inorganic encapsulation layer (PAS2) to adsorb and/or block particles that may occur during the manufacturing process. can be formed as The organic encapsulation layer PCL may be formed of an organic material such as silicon oxycarbon (SiOCz) acrylic or epoxy-based resin. The organic encapsulation layer (PCL) may be formed by a coating process, for example, an inkjet coating process or a slit coating process.

본 출원의 또 다른 실시 예에 의한 플렉서블 전계 발광 표시장치는, 최외곽 유기 격벽(PD)과 인접한 댐 구조체(DM)를 더 포함할 수 있다. 댐 구조체(DM)는 유기 봉지층(PCL)이 외부로 넘치는 것을 방지할 수 있도록 플렉서블 기판(FS)의 비 표시 영역(IA)에 배치된 구조체이다.The flexible electroluminescent display device according to another exemplary embodiment of the present application may further include a dam structure DM adjacent to the outermost organic barrier rib PD. The dam structure DM is a structure disposed in the non-display area IA of the flexible substrate FS to prevent the organic encapsulation layer PCL from overflowing to the outside.

일 예에 따른 댐 구조체(DM)는 표시 영역(AA), 표시 영역(AA) 외측에 배치된 게이트 구동 회로(200) 및 게이트 구동 회로(200) 외측에 배치된 공통 전원 배선(CPL)의 외측에 배치될 수 있다. 경우에 따라서, 댐 구조체(DM)는 공통 전원 배선(CPL)의 외측부와 중첩되도록 배치될 수 있다. 이 경우, 게이트 구동 회로(200) 및 공통 전원 배선(CPL)이 배치되는 비 표시 영역(IA)의 폭을 줄여 베젤(Bezel) 폭을 줄일 수 있다.The dam structure DM according to an example includes the display area AA, the gate driving circuit 200 disposed outside the display area AA, and the outside of the common power line CPL disposed outside the gate driving circuit 200. can be placed in In some cases, the dam structure DM may be disposed to overlap the outer portion of the common power line CPL. In this case, the width of the bezel may be reduced by reducing the width of the non-display area IA where the gate driving circuit 200 and the common power line CPL are disposed.

일례로, 댐 구조체(DM)는 플렉서블 기판(FS)에 수직하게 형성된 3중층 구조를 가질 수 있다. 예를 들어, 평탄화 막(PLN)으로 형성한 제1 층, 뱅크 패턴(BN)으로 형성한 제2 층, 그리고 스페이서(SP)로 형성한 제3 층을 포함할 수 있다. 댐 구조체(DM)에 포함된 스페이서(SP)는 정 테이퍼 구조를 가질 수 있다.For example, the dam structure DM may have a triple layer structure formed perpendicular to the flexible substrate FS. For example, a first layer formed of a planarization layer PLN, a second layer formed of a bank pattern BN, and a third layer formed of a spacer SP may be included. The spacer SP included in the dam structure DM may have a regular taper structure.

제1 층은 평탄화 막(PLN)을 패턴 사다리꼴 형상의 단면 구조를 가질 수 있다. 제2 층은 제1 층 위에 적층되는 사다리꼴 형상의 단면 구조를 가질 수 있다. 제3 층은 제2 층 위에 적층되는 사다리꼴 형상의 단면 구조를 가질 수 있다. 유기 봉지층(PCL)의 두께가 얇아서 유기 봉지층(PCL)의 퍼짐성을 제어하기가 용이한 경우에는 댐 구조체(DM)의 높이가 높지 않아도 충분할 수 있다. 이 경우에는 제3 층은 생략될 수 있다.The first layer may have a trapezoidal cross-sectional structure in which the planarization layer PLN is patterned. The second layer may have a trapezoidal cross-sectional structure stacked on the first layer. The third layer may have a trapezoidal cross-sectional structure stacked on the second layer. When the thickness of the organic encapsulation layer PCL is thin and it is easy to control the spreadability of the organic encapsulation layer PCL, it may be sufficient even if the height of the dam structure DM is not high. In this case, the third layer may be omitted.

유기 봉지층(PCL)의 가장자리 영역에서 상부 표면까지의 높이는 댐 구조체(DM)의 전체 높이보다 낮게 도포되는 것이 바람직하다. 그 결과, 댐 구조체(DM)의 상부 표면과 외측 측벽에서는 제1 무기 봉지층(PAS1)과 제2 무기 봉지층(PAS2)이 서로 면 접촉을 이루는 구조를 갖는다.It is preferable that the height of the organic encapsulation layer PCL from the edge area to the upper surface is lower than the entire height of the dam structure DM. As a result, the first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 are in surface contact with each other on the upper surface and the outer sidewall of the dam structure DM.

댐 구조체(DM)의 외부에는 최외곽에 배치된 격벽(PD)을 더 포함한다. 도 5에서 도시한 바와 같이, 제1 무기 봉지층(PAS1)과 제2 무기 봉지층(PAS2) 끝단면이 최외곽 격벽(PD)의 수직면과 맞닿아 있다. 즉, 제1 무기 봉지층(PAS1)과 제2 무기 봉지층(PAS2) 사이의 단면 틈이 격벽(PD)에 의해 밀봉되는 구조를 갖는다. 그 결과, 제1 무기 봉지층(PAS1)과 제2 무기 봉지층(PAS2)이 박리되거나 손상되는 문제가 발생하지 않는다.The outermost part of the dam structure DM further includes a partition wall PD. As shown in FIG. 5 , end faces of the first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 are in contact with the vertical surface of the outermost barrier rib PD. That is, it has a structure in which the cross-sectional gap between the first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 is sealed by the partition wall PD. As a result, a problem in which the first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 are separated or damaged does not occur.

본 출원의 또 다른 실시 예에 의한 플렉서블 표시장치에서 각 화소(P)들은 격벽(PD)에 의해 구분되는 구조를 갖는다. 즉, 각 화소(P) 단위로 유연성이 우수한 유기물질을 포함하는 격벽(PD)으로 구분되므로, 어느 방향으로 구부리더라도, 플렉서블 표시장치의 유연성을 확보할 수 있다. 특히, 격벽(PD) 위에는 박막 트랜지스터의 구성 요소들과 함께 적층되는 무기 물질인 상부 버퍼층(BUF), 게이트 절연막(GI) 및 중간 절연막(ILD)이 적층되지 않는다. 따라서, 구부러지는 동작에 의해 박막 트랜지스터가 손상되는 문제가 발생하지 않는다. 기저층(PS)의 하부에 적층된 하부 버퍼층(MB), 그리고 봉지층(130)에 포함된 제1 무기 봉지층(PAS1)과 제2 무기 봉지층(PAS2)이 무기 물질층이지만, 박막 트랜지스터와 같은 구동 소자들과 직접 접촉하는 무기 물질층이 아니므로, 구부러지는 동작에서 소자들에 악영향을 직접적으로 주지 않는다. 따라서, 본 출원의 일 실시 예에 의한 플렉서블 표시장치는 유연성이 우수하고, 반복되는 구부림 스트레스로 인해 소자가 파손되는 것을 방지하는 강건 구조를 가질 수 있다.In the flexible display device according to another embodiment of the present application, each pixel P has a structure divided by a barrier rib PD. That is, since each pixel (P) is divided by a partition wall (PD) containing an organic material having excellent flexibility, flexibility of the flexible display device can be secured regardless of bending in any direction. In particular, the upper buffer layer BUF, the gate insulating layer GI, and the intermediate insulating layer ILD, which are inorganic materials, are not stacked on the barrier rib PD. Therefore, the problem of damaging the thin film transistor due to the bending operation does not occur. Although the lower buffer layer MB stacked under the base layer PS and the first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 included in the encapsulation layer 130 are inorganic material layers, the thin film transistor and Since it is not an inorganic material layer in direct contact with the same driving elements, it does not directly adversely affect the elements in a bending operation. Accordingly, the flexible display device according to an exemplary embodiment of the present application may have excellent flexibility and a robust structure that prevents damage to elements due to repeated bending stress.

특히, 플렉서블 기판(FS)의 최외곽에도 격벽(PD)이 기저층(PS)보다 두꺼운 두께로 돌출되어 외부 환경과 차단하는 구조를 갖는다. 특히, 최외각의 격벽(PD)은 그 측벽 하단부가 표시 영역(AA)에서 연장되어 댐 구조체(DM)를 타고 넘어 연장된 제1 무기 봉지층(PAS1) 및 제2 무기 봉지층(PAS2)의 끝단과 접촉한다. 그 결과, 댐 구조체(DM) 외부에서 면 접촉하는 제1 무기 봉지층(PAS1) 및 제2 무기 봉지층(PAS2)의 합착된 끝단이, 최외각 격벽(PD)에 의해 밀봉되는 구조를 갖는다. 따라서, 외부에서 수분이나 이물질이 침투하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 적층된 박막들이 분리되거나 들뜨는 문제도 방지할 수 있다.Particularly, the barrier rib PD protrudes thicker than the base layer PS even at the outermost part of the flexible substrate FS to block the external environment. Particularly, the outermost barrier rib PD extends from the display area AA and extends over the dam structure DM with the lower portion of the side wall of the first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2. make contact with the end As a result, the bonded ends of the first inorganic encapsulation layer PAS1 and the second inorganic encapsulation layer PAS2 that are in surface contact outside the dam structure DM have a structure in which the outermost partition wall PD seals them. Therefore, it is possible to prevent penetration of moisture or foreign substances from the outside. In addition, it is possible to prevent problems in that the stacked thin films are separated or lifted.

본 출원에 의한 폴더블 혹은 롤러블 전계 발광 표시장치는, 반복되는 구부림 동작에 의한 스트레스를 흡수 및/또는 분산하며, 주요 소자들이 파손되는 것을 방지함과 동시에, 외부로부터의 수분 침투를 억제할 수 있는 구조를 제공한다.The foldable or rollable electroluminescent display device according to the present application can absorb and/or disperse stress caused by repeated bending operations, prevent damage to main elements, and suppress penetration of moisture from the outside. provides a structure that is

이와 같은 본 출원의 일 예에 따른 전계 표시 장치는 전자 수첩, 전자 책, PMP(Portable Multimedia Player), 네비게이션, UMPC(Ultra Mobile PC), 스마트 폰(smart phone), 이동 통신 단말기, 모바일 폰, 태블릿 PC(personal computer), 스마트 와치(smart watch), 와치 폰(watch phone), 또는 웨어러블 기기(wearable device) 등과 같은 휴대용 전자 기기뿐만 아니라 텔레비전, 노트북, 모니터, 냉장고, 전자 레인지, 세탁기, 카메라 등의 다양한 제품에 적용될 수 있다.Such an electric field display device according to an example of the present application is electronic notebook, electronic book, PMP (Portable Multimedia Player), navigation, UMPC (Ultra Mobile PC), smart phone, mobile communication terminal, mobile phone, tablet Portable electronic devices such as PC (personal computer), smart watch, watch phone, or wearable device, as well as televisions, laptops, monitors, refrigerators, microwave ovens, washing machines, cameras, etc. It can be applied to various products.

상술한 본 출원의 다양한 실시 예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 출원의 적어도 하나의 예에 포함되며, 반드시 하나의 예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 본 출원의 적어도 하나의 예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 본 출원이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의하여 다른 예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 출원의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Features, structures, effects, etc. described in various embodiments of the present application described above are included in at least one example of the present application, and are not necessarily limited to only one example. Furthermore, the features, structures, effects, etc. exemplified in at least one example of this application can be combined or modified with respect to other examples by those skilled in the art to which this application belongs. Therefore, contents related to these combinations and variations should be construed as being included in the scope of the present application.

이상에서 설명한 본 출원은 전술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 출원의 기술적 사항을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 출원이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다. 그러므로 본 출원의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 출원의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.The present application described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and it is common in the technical field to which this application belongs that various substitutions, modifications, and changes are possible without departing from the technical details of the present application. It will be clear to those who have knowledge of Therefore, the scope of the present application is indicated by the following claims, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and equivalent concepts should be construed as being included in the scope of the present application.

SUB: 기판 T: 박막 트랜지스터
PLN: 평탄화 층 BN: 뱅크 패턴
200: 게이트 구동 회로 300: 구동 집적 회로
120: 화소 어레이층 FS: 플렉서블 기판
ED: 발광 소자 AE: 화소 구동 전극
EL: 발광층 CE: 공통 전극
CPL: 공통 전원 배선 BS: 하부 기판
BSL: 하부 금속층 TR: 트랜치
M1: 제1 금속층 M2: 제2 금속층
W: 함몰부
ORL: 유기 물질층 INO: 무기 물질층
BD: 구부림 방향 BX: 구부림 축
SUB: Substrate T: Thin Film Transistor
PLN: planarization layer BN: bank pattern
200: gate driving circuit 300: driving integrated circuit
120: pixel array layer FS: flexible substrate
ED: light emitting element AE: pixel driving electrode
EL: light emitting layer CE: common electrode
CPL: common power wiring BS: lower board
BSL: bottom metal layer TR: trench
M1: first metal layer M2: second metal layer
W: depression
ORL: organic material layer INO: inorganic material layer
BD: bending direction BX: bending axis

Claims (12)

기저층과, 상기 기저층의 표면 위에서 매트릭스 방식으로 배열된 다수 개의 화소들을 둘러싸도록 상기 기저층과 일체형으로 상기 기저층으로부터 일정 두께 돌출한 격벽을 구비한 플렉서블 기판;
상기 격벽을 타고 넘어 상기 격벽으로 둘러싸인 상기 화소들의 내부를 가로 지르면서 상기 플렉서블 기판의 가로 방향으로 진행하는 스캔 배선;
상기 격벽을 타고 넘어 상기 격벽으로 둘러싸인 상기 화소들의 내부를 가로 지르면서 상기 플렉서블 기판의 세로 방향으로 진행하는 데이터 배선 및 화소 구동 전원 배선;
상기 화소 내에 배치되고 상기 스캔 배선, 상기 데이터 배선 및 상기 화소 구동 전원 배선에 연결된 구동 소자; 그리고
상기 화소 내에 배치되고 상기 구동 소자에 연결된 발광 소자를 포함하는 플렉서블 전계 발광 표시장치.
a flexible substrate having a base layer and barrier ribs protruding from the base layer with a predetermined thickness integrally with the base layer to surround a plurality of pixels arranged in a matrix manner on a surface of the base layer;
a scan line extending in a transverse direction of the flexible substrate while crossing the inside of the pixels surrounded by the barrier ribs and crossing the barrier ribs;
a data wire and a pixel driving power supply wire extending in a vertical direction of the flexible substrate while crossing the inside of the pixels surrounded by the barrier rib;
a driving element disposed within the pixel and connected to the scan wiring, the data wiring, and the pixel driving power supply wiring; and
A flexible electroluminescent display comprising a light emitting element disposed within the pixel and connected to the driving element.
제 1 항에 있어서,
상기 기저층은 상기 격벽보다 얇은 두께를 가지는 플렉서블 전계 발광 표시장치.
According to claim 1,
The base layer has a thickness smaller than that of the barrier rib.
제 1 항에 있어서,
상기 스캔 배선, 상기 데이터 배선 및 상기 화소 구동 전원 배선들은, 상기 격벽 위와 상기 기저층 위를 지나가도록 배치된 플렉서블 전계 발광 표시장치.
According to claim 1,
The scan line, the data line, and the pixel driving power line are arranged to pass over the barrier rib and the base layer.
제 3 항에 있어서,
상기 격벽 위에서 역 테이퍼 단면 형상을 갖고 적층된 스페이서를 더 포함하고,
상기 발광 소자는,
상기 구동 소자에 연결된 화소 전극;
상기 화소 전극 위의 발광층; 그리고
상기 발광층 위의 공통 전극을 포함하고,
상기 발광층은, 상기 스페이서에 의해 상기 화소별로 분리되며,
상기 공통 전극은, 상기 스페이서를 타고 넘어 가로 방향으로 이웃하는 화소들의 상기 발광층 위에 공통으로 적층된 플렉서블 전계 발광 표시장치.
According to claim 3,
Further comprising a stacked spacer having an inverse tapered cross-sectional shape on the partition wall,
The light emitting element,
a pixel electrode connected to the driving element;
a light emitting layer over the pixel electrode; and
Including a common electrode on the light emitting layer,
The light emitting layer is separated for each pixel by the spacer,
The common electrode is commonly stacked on the light emitting layers of horizontally adjacent pixels over the spacer.
제 1 항에 있어서,
상기 구동 소자와 상기 발광 소자 사이에 적층된 평탄화 막을 더 포함하며,
상기 구동 소자에 포함된 무기 물질로 이루어진 절연막의 측면은 상기 격벽의 측면과 접하는 플렉서블 전계 발광 표시장치.
According to claim 1,
Further comprising a planarization film laminated between the driving element and the light emitting element,
A side surface of an insulating film made of an inorganic material included in the driving element is in contact with a side surface of the barrier rib.
제 5 항에 있어서,
상기 평탄화 막은,
상기 격벽의 높이보다 높게 적층되어 상기 격벽의 상부 표면을 덮는 플렉서블 전계 발광 표시장치.
According to claim 5,
The planarization film,
A flexible electroluminescent display device stacked higher than the height of the barrier rib and covering an upper surface of the barrier rib.
제 5 항에 있어서,
상기 평탄화 막은,
상기 격벽의 높이보다 낮게 적층되어 상기 평탄화 막의 측면이 상기 격벽의 측면과 접촉하는 플렉서블 전계 발광 표시장치.
According to claim 5,
The planarization film,
The flexible electroluminescent display device of claim 1 , wherein a side surface of the planarization layer contacts a side surface of the barrier rib by being stacked lower than a height of the barrier rib.
제 1 항에 있어서,
상기 플렉서블 기판은,
상기 화소들이 배치된 표시 영역; 그리고
상기 표시 영역을 둘러싸는 비 표시 영역을 포함하고,
상기 비 표시 영역은,
상기 기저층 위에 배치된 게이트 구동 소자;
상기 기저층 위에 배치된 공통 전원 배선;
상기 기저층 위에 배치된 댐 구조체; 그리고
상기 기저층의 최외각 테두리를 따라 상부로 돌출되며, 상기 댐 구조체를 둘러싸는 외부 격벽을 포함하는 플렉서블 전계 발광 표시장치.
According to claim 1,
The flexible substrate,
a display area in which the pixels are disposed; and
a non-display area surrounding the display area;
The non-display area is
a gate driving element disposed on the base layer;
a common power wiring disposed above the base layer;
a dam structure disposed above the base layer; and
A flexible electroluminescent display comprising an external barrier rib protruding upward along an outermost edge of the base layer and surrounding the dam structure.
제 8 항에 있어서,
상기 외부 격벽의 상부 표면에는 무기 물질층이 적층되지 않은 플렉서블 전계 발광 표시장치.
According to claim 8,
A flexible electroluminescent display device in which an inorganic material layer is not stacked on an upper surface of the external barrier rib.
제 8 항에 있어서,
상기 격벽을 타고 넘어 상기 발광 소자 위에 적층된 제1 무기 봉지층;
상기 제1 무기 봉지층 위에 적층된 유기 봉지층;
상기 유기 봉지층 위에 적층된 제2 무기 봉지층을 더 포함하는 플렉서블 전계 발광 표시장치.
According to claim 8,
a first inorganic encapsulation layer stacked on the light emitting element over the barrier rib;
an organic encapsulation layer laminated on the first inorganic encapsulation layer;
A flexible electroluminescent display device further comprising a second inorganic encapsulation layer stacked on the organic encapsulation layer.
제 10 항에 있어서,
상기 유기 봉지층은, 상기 댐 구조체 내측 영역에 제한되고,
상기 제1 무기 봉지층 및 상기 제2 무기 봉지층은, 상기 유기 봉지층을 밀봉하며, 상기 댐 구조체 외부에서 면 접촉을 하며, 상기 외부 격벽의 내측면과 접촉하는 플렉서블 전계 발광 표시 장치.
According to claim 10,
The organic encapsulation layer is limited to the inner region of the dam structure,
The first inorganic encapsulation layer and the second inorganic encapsulation layer seal the organic encapsulation layer, make surface contact outside the dam structure, and contact the inner surface of the external barrier rib.
제 1 항에 있어서,
상기 기저층 하부에 적층된 하부 버퍼 층;
상기 하부 버퍼 층 하면에 적층된 하부 기판을 더 포함하는 플렉서블 전계 발광 표시장치.
According to claim 1,
a lower buffer layer stacked under the base layer;
A flexible electroluminescent display device further comprising a lower substrate stacked on a lower surface of the lower buffer layer.
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