KR102568005B1 - Modular in-line system for test process - Google Patents

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Abstract

본 발명은 상면에 피검사물을 개재하여 일방향으로 피검사물을 전진시키는 이송부 및 상기 이송부의 상측에 배치되어, 상기 이송부가 운반하는 피검사물에 선택적으로 공정을 수행하는 검사부를 포함하는 복수의 테스트 모듈, 상기 이송부에 피검사물을 적재시킨 트레이를 투입하는 로딩 모듈 및 상기 이송부에서 피검사물을 적재시킨 트레이를 배출시키는 언로딩 모듈을 포함하여 이루어지되, 상기 로딩 모듈은 복수의 상기 이송부가 피검사물을 운반하는 방향을 기준으로 일측에 배치되고, 상기 언로딩 모듈은 복수의 상기 이송부가 피검사물을 운반하는 방향을 기준으로 타측에 배치되며, 복수의 상기 테스트 모듈에 포함되는 각각의 상기 이송부는 지면으로부터의 높이 방향에 따른 위상이 상호 동일한 값으로 이루어져, 복수의 상기 테스트 모듈이 상호 결합 시에 트레이가 상기 로딩 모듈에서 상기 언로딩 모듈 측으로 이송되는 것을 특징으로 하는 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템이다.The present invention is a plurality of test modules including a transfer unit for advancing the inspection target in one direction through the inspection unit on the upper surface and an inspection unit disposed on the upper side of the transfer unit and selectively performing a process on the inspection target transported by the transfer unit, It includes a loading module for inserting a tray loaded with an object to be inspected into the transfer unit and an unloading module for discharging the tray loaded with an object to be inspected from the transfer unit, wherein the loading module is configured to carry the plurality of transfer units The unloading module is disposed on one side based on the direction, the unloading module is disposed on the other side based on the direction in which the plurality of transfer units transport the inspection object, and each of the transfer units included in the plurality of test modules has a height from the ground It is a test process modularization inline system characterized in that the phases according to the direction are made of mutually the same value, and the tray is transferred from the loading module to the unloading module side when a plurality of the test modules are mutually coupled.

Description

테스트 공정 모듈화 인라인 시스템{Modular in-line system for test process}Modular in-line system for test process}

본 발명은 트레이에 투입되는 피검사물에 테스트 공정을 수행하는 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 각각 상이한 방식의 테스트를 수행하는 복수의 모듈이 개재되고, 각각의 모듈 내부에 배치되어 트레이를 운반하는 이송부가 결합됨에 따라, 테스트 공정을 순차적으로 수행하는 모듈화 인라인 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a system for performing a test process on an inspection object put into a tray, and more particularly, to a system in which a plurality of modules each performing tests in different ways are interposed and disposed inside each module to carry the tray. As the transfer unit is coupled, it relates to a modular inline system that sequentially performs a test process.

하나의 이송 라인 내에서 제조하는 시스템을 통상적으로 인라인 시스템(In-line system)이라고 통칭하며, 상기 인라인 시스템은 제조 공정의 전자동화가 실현됨에 따라 관리 인력을 최소화할 수 있다는 장점이 있다. 양질의 제품을 생산하기 위하여, 제조 시스템 내에서의 테스트 모듈의 중요성이 대두되고 있으며, 복수의 문헌에서 최종 제품을 유통하기 전에 다양한 테스트를 수행하는 장치 및 시스템이 기재되어 있다.A system manufactured in one transfer line is commonly referred to as an in-line system, and the in-line system has the advantage of minimizing management personnel as the full automation of the manufacturing process is realized. In order to produce a quality product, the importance of a test module in a manufacturing system is emerging, and devices and systems for performing various tests before distributing a final product are described in a plurality of literatures.

국내등록특허공보 제10-0799984호 및 제10-0858491호는 이미지센서 패키지를 검사하는 장치에 대하여 기재하였다. 상기 문헌에 기재된 장치는 전기 검사 또는 이미지 검사 중 하나의 테스터 모듈을 포함하여 이루어짐에 따라, 이송 유닛에 의해 운반되는 피검사물에 검사를 수행하는 장치다.Korean Patent Registration Nos. 10-0799984 and 10-0858491 describe an apparatus for inspecting an image sensor package. The device described in the document is a device that performs an inspection on an object to be inspected carried by a transport unit by including one of the tester modules of an electrical inspection or an image inspection.

그러나 통상적으로 전기적인 특성을 갖는 다수의 제품을 유통하는데 있어서 필요한 테스트 방법은 다양하다. 예를 들어, 카메라 모듈을 생사하는데 필요한 테스트 방식은 주파수 응답 검사(SFR), 회로 연결 검사(O/S), 저항 값 검사(DCR), 위상차 검출 방식 오토 포커스(PDAF) 및 불량 화소 검출(Blemish Test) 등 다양한 테스트가 이루어져야 하며, 상기한 모든 테스트 공정을 수행하는 모듈은 시스템 내에 각각 존재하여야 한다. 따라서, 상기 복수의 문헌에 기재된 바와 같이, 하나의 장치 내에 테스트를 수행하는 모듈이 단일로 이루어질 시에는 각각의 검사 장치에 피검사물을 운반하는 관리 인력이 필요함과 동시에 설치 공간에 따른 제약이 따른다는 문제점을 야기한다.However, there are various test methods required for distributing a number of products having conventional electrical characteristics. For example, the test methods required to produce a camera module are frequency response test (SFR), circuit connection test (O/S), resistance value test (DCR), phase detection method auto focus (PDAF), and defective pixel detection (Blemish). Test), etc., must be performed, and modules that perform all the above test processes must exist in the system. Therefore, as described in the plurality of documents, when the module for performing the test in one device is made of a single unit, each inspection device requires management personnel to transport the inspected object, and at the same time, there are restrictions according to the installation space. cause problems

국내등록특허공보 제10-0799984호 "이미지센서 패키지 검사 장치 및 방법"(2008. 01. 25.)Korean Registered Patent Publication No. 10-0799984 "Image sensor package inspection apparatus and method" (2008. 01. 25.) 국내등록특허공보 제10-0858491호 "이미지센서 패키지 검사 장치 및 방법"(2008. 09. 08.)Korean Registered Patent Publication No. 10-0858491 "Image sensor package inspection apparatus and method" (2008. 09. 08.)

본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 궁극적으로는 상이한 테스트 공정을 수행하는 각각의 모듈이 상호 결합 또는 분리가 가능한 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention has been devised to solve the above problems, and ultimately aims to provide a test process modularization inline system in which each module performing different test processes can be mutually coupled or separated.

본 발명은 상면에 피검사물을 개재하여 일방향으로 피검사물을 전진시키는 이송부 및 상기 이송부의 상측에 배치되어, 상기 이송부가 운반하는 피검사물에 선택적으로 공정을 수행하는 검사부를 포함하는 복수의 테스트 모듈, 상기 이송부에 피검사물을 적재시킨 트레이를 투입하는 로딩 모듈 및 상기 이송부에서 피검사물을 적재시킨 트레이를 배출시키는 언로딩 모듈을 포함하여 이루어지되, 상기 로딩 모듈은 복수의 상기 이송부가 피검사물을 운반하는 방향을 기준으로 일측에 배치되고, 상기 언로딩 모듈은 복수의 상기 이송부가 피검사물을 운반하는 방향을 기준으로 타측에 배치되며, 복수의 상기 테스트 모듈에 포함되는 각각의 상기 이송부는 지면으로부터의 높이 방향에 따른 위상이 상호 동일한 값으로 이루어져, 복수의 상기 테스트 모듈이 상호 결합 시에 트레이가 상기 로딩 모듈에서 상기 언로딩 모듈 측으로 이송되는 것을 특징으로 한다.The present invention is a plurality of test modules including a transfer unit for advancing the inspection target in one direction through the inspection unit on the upper surface and an inspection unit disposed on the upper side of the transfer unit and selectively performing a process on the inspection target transported by the transfer unit, It includes a loading module for inserting a tray loaded with an object to be inspected into the transfer unit and an unloading module for discharging the tray loaded with an object to be inspected from the transfer unit, wherein the loading module is configured to carry the plurality of transfer units The unloading module is disposed on one side based on the direction, the unloading module is disposed on the other side based on the direction in which the plurality of transfer units transport the inspection object, and each of the transfer units included in the plurality of test modules has a height from the ground It is characterized in that the phases in the directions are made of the same value, so that the tray is transferred from the loading module to the unloading module side when the plurality of test modules are coupled to each other.

또한 복수의 상기 테스트 모듈, 상기 로딩 모듈 및 언로딩 모듈과 연동되어, 피검사물을 검사하는 테스트 공정을 제어하는 처리부를 더 포함하여 이루어지되, 상기 처리부는 복수의 상기 테스트 모듈, 상기 로딩 모듈 및 언로딩 모듈과 신호를 송수신하는 처리 통신부 및 복수의 상기 이송부가 트레이를 운반하는 방향을 기준으로 피검사물에 수행되는 테스트 공정의 순서를 연산하는 연산부를 포함하여 이루어진다.In addition, it further comprises a processing unit for controlling a test process for inspecting a test object in conjunction with a plurality of the test modules, the loading module, and the unloading module, wherein the processing unit includes a plurality of the test modules, the loading module, and the unloading module. It includes a processing communication unit that transmits and receives signals to and from the loading module, and a calculation unit that calculates the order of test processes performed on the inspection object based on the direction in which the plurality of transfer units transport the tray.

또한 상기 각각의 테스트 모듈은 피검사물에 수행되는 테스트 공정에 대한 정보를 저장하는 테스트 ID 저장부 및 타 구성과 신호를 송수신하는 테스트 통신부를 더 포함하여, 상기 ID 저장부에 저장된 정보를 상기 테스트 통신부를 통하여 타 구성으로 송신하는 것을 특징으로 한다.In addition, each of the test modules further includes a test ID storage unit for storing information on the test process performed on the inspected object and a test communication unit for transmitting and receiving signals to and from other components, so that the information stored in the ID storage unit is transmitted to the test communication unit. It is characterized in that it is transmitted to other configurations through.

또한 상기 테스트 통신부는 상기 이송부가 트레이를 운반하는 방향에 따른 전방 및 후방에 결합되는 다른 상기 테스트 모듈, 로딩 모듈 또는 언로딩 모듈과 신호를 송수신하는 제1 테스트 통신부 및 상기 처리부와 신호를 송수신하는 제2 테스트 통신부를 포함하여 이루어진다.In addition, the test communication unit transmits and receives signals with other test modules, loading modules, or unloading modules coupled to the front and rear along the direction in which the transfer unit transports the tray, and the first test communication unit transmits and receives signals with the processing unit. It consists of 2 test communication parts.

또한 상기 로딩 모듈 및 언로딩 모듈은 트레이를 상기 테스트 모듈 측으로 투입시키거나 외부로 배출시키는 공정에 대한 정보를 저장하는 제2 ID 저장부 및 타 구성과 신호를 송수신하는 로딩 통신부를 더 포함하여, 상기 ID 저장부에 저장된 정보를 상기 로딩 통신부를 통하여 타 구성으로 송신하는 것을 특징으로 한다.In addition, the loading module and the unloading module further include a second ID storage unit for storing information on a process of inserting the tray into the test module or discharging it to the outside and a loading communication unit for transmitting and receiving signals with other components, It is characterized in that the information stored in the ID storage unit is transmitted to other configurations through the loading communication unit.

또한 상기 로딩 통신부는 상기 테스트 모듈과 신호를 송수신하는 제1 로딩 통신부 및 상기 처리부와 신호를 송수신하는 제2 로딩 통신부를 포함하여 이루어진다.In addition, the loading communication unit includes a first loading communication unit that transmits and receives a signal to and from the test module and a second loading communication unit that transmits and receives a signal to and from the processing unit.

또한 복수의 피검사물이 적재된 트레이를 상하 반전시키는 플리핑 모듈을 더 포함하여, 피검사물의 상면 및 하면에 대하여 복수의 상기 테스트 모듈에서 수행되는 테스트 공정이 수행되는 것을 특징으로 한다.In addition, it further includes a flipping module for vertically inverting a tray on which a plurality of inspection objects are loaded, so that the test process performed by the plurality of test modules is performed on the upper and lower surfaces of the inspection objects.

본 발명으로 인하여, 하나의 이송부에 의해 피검사물이 운반될 시에 상이한 공정을 수행하는 복수의 모듈이 순차적으로 피검사물을 검사하여, 각각의 검사 모듈에 피검사물을 운반하는 관리 인력이 불필요하다는 효과를 얻을 수 있다.According to the present invention, when an object to be inspected is transported by one transport unit, a plurality of modules performing different processes sequentially inspect the object, so that management personnel who transport the object to each inspection module are unnecessary. can be obtained.

이에 따라, 검사 공정의 전자동화가 실현됨과 동시에 설치 공간에 따른 제약을 최소화할 수 있다.Accordingly, the full automation of the inspection process can be realized and restrictions according to the installation space can be minimized.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템을 도시한 예시도다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 복수의 테스트 모듈의 공정 과정을 도시한 예시도다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템의 공정 연산 과정을 도시한 예시도다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템을 도시한 예시도다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 플리핑 모듈을 도시한 예시도다.
1 is an exemplary diagram illustrating a test process modularization inline system according to an embodiment of the present invention.
2 is an exemplary diagram illustrating a process of a plurality of test modules according to an embodiment of the present invention.
3 is an exemplary diagram illustrating a process calculation process of a test process modularization inline system according to an embodiment of the present invention.
4 is an exemplary diagram illustrating a test process modularization inline system according to another embodiment of the present invention.
5 is an exemplary diagram illustrating a flipping module according to another embodiment of the present invention.

본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 안되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.The terms or words used in this specification and claims should not be construed as being limited to their usual or dictionary meanings, and the inventors can properly define the concept of terms in order to best explain their invention. Based on the principle, it should be interpreted as a meaning and concept consistent with the technical idea of the present invention.

따라서 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.Therefore, since the embodiments described in this specification and the configurations shown in the drawings are only the most preferred embodiments of the present invention and do not represent all of the technical ideas of the present invention, various equivalents that can replace them at the time of the present application It should be understood that there may be variations and examples.

이하, 도면을 참조하여 설명하기에 앞서, 본 발명의 요지를 드러내기 위해서 필요하지 않은 사항, 즉, 통상의 지식을 가진 당업자가 자명하게 부가할 수 있는 공지 구성에 대해서는 도시하지 않거나, 구체적으로 기술하지 않았음을 밝혀둔다.Hereinafter, prior to description with reference to the drawings, matters that are not necessary to reveal the subject matter of the present invention, that is, known configurations that can be added obviously by those skilled in the art are not shown or described in detail. make it clear you didn't

도 1은 본 발명에 따른 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템을 도시한 예시도다. 도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예는 피검사물에 테스트 공정을 수행하는 복수의 테스트 모듈(100) 및 복수의 상기 테스트 모듈(100)과 결합되는 로딩 모듈(200) 및 언로딩 모듈(300)을 포함하여 이루어진다.1 is an exemplary view showing a test process modularization inline system according to the present invention. As shown in FIG. 1, one embodiment of the present invention includes a plurality of test modules 100 for performing a test process on an object to be inspected, and a loading module 200 coupled with the plurality of test modules 100 and an unloading unit. module 300.

복수의 상기 테스트 모듈(100)은 서로 상이한 테스트 공정을 수행하는 제1 테스트 모듈(110), 제2 테스트 모듈(120) 및 제3 테스트 모듈(130)을 포함하여 이루어질 수 있다. 이 때, 상기 로딩 모듈(200) 및 언로딩 모듈(300) 사이에 배치되는 복수의 상기 테스트 모듈(100)의 수는 별도로 한정하지 않는다.The plurality of test modules 100 may include a first test module 110, a second test module 120, and a third test module 130 that perform different test processes. At this time, the number of the plurality of test modules 100 disposed between the loading module 200 and the unloading module 300 is not particularly limited.

또한 복수의 상기 테스트 모듈(100) 각각에는 길이 방향을 따라 전진 및 후진을 수행하여 피검사물을 운반하는 이송부(105)가 내부에 배치된다.In addition, each of the plurality of test modules 100 is provided with a transfer unit 105 that moves forward and backward along the longitudinal direction to transport the inspection object.

각각 상이한 테스트 공정을 수행하는 복수의 상기 테스트 모듈(100)은 도 1에 도시된 것과 같이, 내부에 배치되는 각각의 상기 이송부(105)가 동일한 위상에서 평면상으로 상이한 위치에 배치되는 구조에서 상기 로딩 모듈(200) 및 언로딩 모듈(300)과 결합된다. 상기한 구조로 이루어짐에 따라, 복수의 상기 테스트 모듈의 추가 배치, 삭제와 같은 배치 변경이 용이하게 이루어질 수 있다.As shown in FIG. 1, the plurality of test modules 100 each performing different test processes have a structure in which each of the transfer units 105 disposed inside is disposed at different positions on a plane in the same phase. It is combined with the loading module 200 and the unloading module 300. According to the structure described above, a change in arrangement such as adding or deleting a plurality of test modules can be easily performed.

상기 로딩 모듈(200) 및 언로딩 모듈(300)은 복수의 상기 테스트 모듈(100) 내부에 배치되는 상기 각각의 이송부(105)로 피검사물이 적재된 트레이를 투입하거나 매출하는 플레이트가 배치된다.In the loading module 200 and the unloading module 300, a plate for inputting or selling trays loaded with inspection objects to each transfer unit 105 disposed inside the plurality of test modules 100 is disposed.

각각의 상기 테스트 모듈(100)이 상호 결합하는 길이 방향 양단부에는 다른 모듈과 결합할 수 있는 모듈 포트(101)가 형성될 수 있다. 또한 상기 로딩 모듈(200) 및 언로딩 모듈(300)에는 상기 테스트 모듈(100)과 결합하는 로딩 포트(201) 및 언로딩 포트가 각각 형성될 수 있다. 즉, 복수의 상기 모듈 포트(101), 로딩 포트(201) 및 언로딩 포트를 통하여 피검사물에 수행하는 테스트 공정과 관련된 데이터를 전달한다. Module ports 101 capable of being coupled to other modules may be formed at both ends in the longitudinal direction where each of the test modules 100 are coupled to each other. In addition, a loading port 201 and an unloading port coupled to the test module 100 may be formed in the loading module 200 and the unloading module 300, respectively. That is, data related to the test process performed on the inspection object is transmitted through the plurality of module ports 101, the loading port 201, and the unloading port.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 복수의 테스트 모듈의 공정 과정을 도시한 예시도다. 도 2와 같이, 복수의 상기 테스트 모듈 각각에는 이송부(111,121,131), 테스트부(112,122,132) 및 위치 조정부(113,123,133)를 내부에 포함한다.2 is an exemplary diagram illustrating a process of a plurality of test modules according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 2 , each of the plurality of test modules includes transfer units 111 , 121 , and 131 , test units 112 , 122 , and 132 , and position adjusting units 113 , 123 , and 133 .

복수의 상기 이송부는 지면으로부터 동일한 위상에 배치되는 것이 특징이다. 즉, 복수의 상기 테스트 모듈의 기존 결합 구조가 변형될 시에도 복수의 상기 이송부가 피검사물을 기설정된 방향으로 이송시킬 수 있다. It is characterized in that the plurality of transfer units are disposed at the same phase from the ground. That is, even when the existing coupling structure of the plurality of test modules is deformed, the plurality of transfer units may transfer the inspection object in a predetermined direction.

도 2에 도시된 것과 같이, 상기 로딩 모듈(200)의 로딩 플레이트(210)가 상기 제1 테스트 모듈(110)의 제1 테스트 이송부(111)로 트레이를 운반하면, 상기 제1 테스트 이송부(111), 제2 테스트 이송부(121) 및 제3 테스트 이송부(131)를 거쳐 상기 언로딩 모듈(300)의 언로딩 플레이트(310)로 트레이가 운반된다. 상기한 과정에서 상기 제1 테스트부(112), 제2 테스트부(122) 및 제3 테스트부(132)는 트레이에 적재된 복수의 피검사물에 각각의 서로 상이한 테스트 공정을 실시한다. 상기 복수의 테스트부는 주파수 응답 검사(SFR), 회로 연결 검사(O/S), 저항 값 검사(DCR), 위상차 검출 방식 오토 포커스(PDAF) 및 불량 화소 검출(Blemish Test) 등 다양한 공정을 수행할 수 있으며, 복수의 상기 테스트 모듈에서 행하는 테스트 공정의 방식은 별도로 한정하지 않는다.As shown in FIG. 2 , when the loading plate 210 of the loading module 200 transports the tray to the first test transport unit 111 of the first test module 110, the first test transport unit 111 ), the tray is transported to the unloading plate 310 of the unloading module 300 via the second test transfer unit 121 and the third test transfer unit 131. In the above process, the first test unit 112, the second test unit 122, and the third test unit 132 perform different test processes on the plurality of inspection objects loaded on the tray. The plurality of test units may perform various processes such as frequency response test (SFR), circuit connection test (O/S), resistance value test (DCR), phase detection type auto focus (PDAF), and defective pixel detection (Blemish Test). However, the method of the test process performed in the plurality of test modules is not particularly limited.

복수의 상기 테스트부는 복수의 상기 위치 조정부에 결합되어, 피검사물 주변에 배치되어 해당 공정을 수행할 수 있다.The plurality of test units may be coupled to the plurality of position adjusting units and disposed around the inspection object to perform a corresponding process.

도 3은 본 발명에 따른 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템의 연산 과정을 도시한 예시도다. 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예는 복수의 상기 테스트 모듈, 로딩 모듈 및 언로딩 모듈과 연동되어 전반적인 테스트 공정을 연산하고 처리하는 별도의 처리부(400)가 추가적으로 포함되는 시스템으로 이루어질 수 있다.3 is an exemplary diagram illustrating an operation process of a test process modularization inline system according to the present invention. As shown in Figure 3, one embodiment of the present invention is a system that additionally includes a separate processing unit 400 that calculates and processes the overall test process in conjunction with a plurality of the test modules, loading modules, and unloading modules. It can be done.

복수의 상기 테스트 모듈은 각각의 테스트 공정에 대한 데이터를 저장하는 ID 저장부(102), 다른 테스트 모듈이나 상기 로딩 모듈 또는 언로딩 모듈과 신호를 송수신하는 테스트 통신부(103) 및 상기 테스트 모듈 내부에 배치되어 공정을 실질적으로 수행하는 테스트부를 제어하는 테스트 제어부(104)를 포함하여 이루어지 수 있다. 상기 ID 저장부(102)에 저장되는 데이터는 상기 테스트 통신부(103) 및 도 1에 도시된 모듈 포트, 로딩 포트 및 언로딩 포트의 결합 구조에 의해 상호 전달된다.The plurality of test modules include an ID storage unit 102 that stores data for each test process, a test communication unit 103 that transmits and receives signals to and from other test modules, the loading module, or the unloading module, and the inside of the test module. It may include a test controller 104 for controlling a test unit that is disposed and substantially performs a process. The data stored in the ID storage unit 102 is mutually transferred by the test communication unit 103 and the combined structure of the module port, loading port, and unloading port shown in FIG. 1 .

상기 로딩 모듈 및 언로딩 모듈은 상기 ID 저장부(102)에서 전달받은 데이터를 기반으로 각각의 상기 테스트 모듈의 위치를 판단하는 위치 판단부(202,302), 상기 처리부(400)와 연동되어 데이터를 송수신하는 로딩 통신부(203)와 언로딩 통신부(303) 및 내부에 배치되어 피검사물이 적재된 트레이를 복수의 상기 테스트 모듈로 투입시키거나 시스템 외부로 배출시키는 플레이트를 제어하는 로딩 제어부(204) 및 언로딩 제어부(304)를 포함하여 이루어질 수 있다. 상기 위치 판단부(202,302)에서 1차적으로 연산되는 복수의 상기 테스트 모듈의 결합 위치 정보를 상기 통신부(203,303)를 통하여 상기 처리부(400)로 송신한다.The loading module and the unloading module transmit and receive data in conjunction with the location determining unit 202 and 302 for determining the location of each test module based on the data received from the ID storage unit 102 and the processing unit 400. a loading communication unit 203 and an unloading communication unit 303, and a loading control unit 204 for controlling a plate disposed therein to input a tray loaded with inspection objects into a plurality of test modules or to discharge them to the outside of the system; and A loading control unit 304 may be included. The combination location information of the plurality of test modules, which is primarily calculated by the location determining unit 202 or 302, is transmitted to the processing unit 400 through the communication unit 203 or 303.

상기 처리부(400)는 복수의 상기 테스트 모듈, 로딩 모듈 및 언로딩 모듈과 연동되어 데이터를 송수신하는 처리 통신부(401) 및 전반적인 테스트 공정의 순서를 연산하는 공정 연산부(402)를 포함하여 이루어질 수 있다. 상기 처리 통신부(401)에서 수신한 데이터를 기반으로 연산된 테스트 공정에 의해 상기 공정 연산부(402)는 복수의 상기 테스트 제어부(104), 로딩 제어부(204) 및 언로딩 제어부(304)에 하달되는 명령에 대한 데이터를 복수의 상기 테스트 통신부(103), 로딩 통신부(203) 및 언로딩 통신부(303)로 전달한다.The processing unit 400 may include a processing communication unit 401 that transmits and receives data in conjunction with a plurality of the test modules, loading modules, and unloading modules, and a process calculation unit 402 that calculates an overall test process sequence. . According to the test process calculated based on the data received from the processing and communication unit 401, the process operation unit 402 is directed to the plurality of test control units 104, loading control unit 204, and unloading control unit 304. Data for the command is transferred to the plurality of test communication units 103, loading communication unit 203, and unloading communication unit 303.

상기한 구성이 포함되는 구조로 이루어짐에 따라, 관리자가 테스트 공정을 수행하는 인라인 시스템에 있어서 다양한 결합 구조를 실현할 수 있다. 즉, 설치되는 공간에 맞추어 가변시킬 수 있음에 따라, 시스템이 차지하는 공간을 최소화함과 동시에 테스트 공정을 관리하는 인력을 타공정에 이전 배치할 수 있어, 공정의 효율성이 향상된다는 긍정적인 효과를 도출할 수 있다.According to the structure including the above configuration, various coupling structures can be realized in an inline system in which a manager performs a test process. In other words, as it can be varied according to the installation space, the space occupied by the system can be minimized and at the same time, the manpower to manage the test process can be transferred to other processes, resulting in a positive effect of improving the efficiency of the process. can do.

도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템을 도시한 예시도다. 도 4에 도시된 실시예는 상기 로딩 모듈(200) 및 언로딩 모듈(300) 사이에 복수의 상기 테스트 모듈 이외에 별도의 진동 모듈(500) 및 플리핑 모듈(600)이 더 포함되는 구조로 이루어진다.4 is an exemplary diagram illustrating a test process modularization inline system according to another embodiment of the present invention. The embodiment shown in FIG. 4 has a structure in which a separate vibration module 500 and a flipping module 600 are further included in addition to the plurality of test modules between the loading module 200 and the unloading module 300. .

상기 진동 모듈(500)은 일정 주파수로 피검사물을 진동시킴에 따라, 피검사물 내부에 잔존하는 이물질을 검사하는 모듈이다. 상기 플리핑 모듈(600)은 복수의 피검사물이 적재된 트레이를 상하반전시키는 모듈이다.The vibration module 500 is a module for inspecting foreign substances remaining inside the inspection object by vibrating the inspection object at a predetermined frequency. The flipping module 600 is a module for vertically inverting a tray on which a plurality of objects to be inspected are stacked.

상기 진동 모듈(500) 및 플리핑 모듈(600)에도 다른 복수의 상기 테스트 모듈과 유사한 구조로, 별도의 모듈 포트가 결합부에 형성되는 구조로 이루어질 수 있다. 따라서, 상기 진동 모듈(500) 및 플리핑 모듈(600)도 상기 로딩 모듈(200) 및 언로딩 모듈(300) 사이에서 위치에 대한 제약을 받지 않고, 다양한 결합 구조를 이룰 수 있다.The vibration module 500 and the flipping module 600 may also have a structure similar to that of the plurality of other test modules, in which a separate module port is formed in the coupling part. Therefore, the vibration module 500 and the flipping module 600 are not restricted in position between the loading module 200 and the unloading module 300, and various coupling structures can be achieved.

도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 상기 플리핑 모듈(600)의 내부를 도시한 예시도다. 상기 플리핑 모듈(600)은 피검사물이 적재된 트레이를 파지하는 클리핑부(610), 상기 파지부(610)를 180도 회전시키는 회전부(620) 및 트레이를 상기 클리핑부(610)가 배치되는 위치로 승강시키고, 상하반전이 완료된 트레이를 이송부로 하강시키는 플리핑 플레이트(630)를 포함하여 이루어질 수 있다.5 is an exemplary view showing the inside of the flipping module 600 according to another embodiment of the present invention. The flipping module 600 includes a clipping unit 610 for holding a tray loaded with inspection objects, a rotation unit 620 for rotating the gripping unit 610 by 180 degrees, and a tray where the clipping unit 610 is disposed. It may be formed by including a flipping plate 630 that lifts to the position and lowers the tray that has been inverted upside down to the transfer unit.

상기와 같은 구조는 복수의 상기 테스트부가 각각의 상기 이송부 상측에 배치되어 피검사물과 선택적으로 접촉하는 구조의 특성상, 피검사물의 상측에 대한 검사만 이루어짐에 따라 높은 신뢰성을 확보할 수 없는 상황이 발생하는 것을 방지하기 위함이다. 즉, 기존에 각각의 상기 테스트부가 접촉하지 않은 하면을 상측으로 재배치시킴에 따라, 피검사물의 상면 및 하면에 대한 테스트 공정이 이루어져, 제조되는 피검사물의 높은 신뢰성을 확보할 수 있다.In the structure as described above, due to the nature of the structure in which a plurality of test units are disposed on the upper side of each of the transfer units and selectively contact the inspected object, as only the upper side of the inspected object is inspected, a situation in which high reliability cannot be secured occurs. to prevent doing That is, as the lower surface, which has not previously been in contact with each of the test units, is rearranged to the upper side, a test process is performed on the upper and lower surfaces of the inspected object, thereby ensuring high reliability of the manufactured inspected object.

지금까지 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시예를 중심으로 살펴보았다.So far, the present invention has been looked at mainly with its preferred embodiments.

본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 하나의 실시예에 관련된 것이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형된 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.The embodiments described in this specification and the configurations shown in the drawings relate to one of the most preferred embodiments of the present invention, and do not represent all of the technical spirit of the present invention, so various equivalents and modifications that can replace them It should be understood that there may be examples.

따라서 본 발명은 제시되는 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 본 발명의 기술 사상과 아래에 기재될 특허청구범위에 기재된 기술사상의 균등한 범위 내에서 다양한 수정 및 변경이 가능한 실시예가 있을 수 있다.Therefore, the present invention is not limited to the presented embodiments, and within the equivalent scope of the technical idea of the present invention and the technical idea described in the claims to be described below by those skilled in the art to which the present invention belongs There may be embodiments in which various modifications and changes are possible.

100 : 테스트 모듈
101 : 모듈 포트 102 : ID 저장부
103 : 테스트 통신부 104 : 테스트 제어부
105 : 이송부
110 : 제1 테스트 모듈
111 : 제1 테스트 이송부 112 : 제1 테스트부
113 : 제1 위치 조정부
120 : 제2 테스트 모듈
121 : 제2 테스트 이송부 122 : 제2 테스트부
123 : 제2 위치 조정부
130 : 제3 테스트 모듈
131 : 제3 테스트 이송부 132 : 제3 테스트부
133 : 제3 위치 조정부
200 : 로딩 모듈
201 : 로딩 포트 202 : 제1 위치 판단부
203 : 로딩 통신부 204 : 로딩 제어부
210 : 로딩 플레이트
300 : 언로딩 모듈
301 : 언로딩 포트 302 : 제2 위치 판단부
303 : 언로딩 통신부 304 : 언로딩 제어부
310 : 언로딩 플레이트
400 : 처리부
401 : 처리 통신부 402 : 공정 연산부
500 : 진동 검사 모듈
600 : 플리핑 모듈
610 : 클리핑부 620 : 회전부
630 : 플리핑 플레이트
100: test module
101: module port 102: ID storage unit
103: test communication unit 104: test control unit
105: transfer unit
110: first test module
111: first test transfer unit 112: first test unit
113: first position adjusting unit
120: second test module
121: second test transfer unit 122: second test unit
123: second position adjusting unit
130: third test module
131: third test transfer unit 132: third test unit
133: third position adjusting unit
200: loading module
201: loading port 202: first position determining unit
203: loading communication unit 204: loading control unit
210: loading plate
300: unloading module
301: unloading port 302: second position determining unit
303: unloading communication unit 304: unloading control unit
310: unloading plate
400: processing unit
401: processing communication unit 402: process operation unit
500: vibration inspection module
600: flipping module
610: clipping unit 620: rotation unit
630: flipping plate

Claims (7)

상면에 피검사물을 개재하여 일방향으로 피검사물을 전진시키는 이송부 및 상기 이송부의 상측에 배치되어, 상기 이송부가 운반하는 피검사물에 선택적으로 공정을 수행하는 검사부를 포함하는 복수의 테스트 모듈(100);
상기 이송부에 피검사물을 적재시킨 트레이를 투입하는 로딩 모듈(200); 및
상기 이송부에서 피검사물을 적재시킨 트레이를 배출시키는 언로딩 모듈(300);
을 포함하여 이루어지되,
상기 로딩 모듈(200)은 복수의 상기 이송부가 피검사물을 운반하는 방향을 기준으로 일측에 배치되고,
상기 언로딩 모듈(300)은 복수의 상기 이송부가 피검사물을 운반하는 방향을 기준으로 타측에 배치되며,
복수의 상기 테스트 모듈(100)에 포함되는 각각의 상기 이송부는 지면으로부터의 높이 방향에 따른 위상이 상호 동일한 값으로 이루어져, 복수의 상기 테스트 모듈(100)이 상호 결합 시에 트레이가 상기 로딩 모듈(200)에서 상기 언로딩 모듈(300) 측으로 이송되고,
상기 로딩 모듈(200)과 언로딩 모듈(300)의 사이에 구비되어 상기 이송부에 의해 운반되는 피검사물에 일정한 주파수를 가하여 피검사물이 진동되도록 함으로써, 피검사물에 잔존하는 이물질을 검사하도록 구성되는 진동 모듈(500)이 더 포함되고,
복수의 상기 테스트 모듈(100)은, 각각 주파수 응답 검사(SFR), 회로 연결 검사(O/S), 저항 값 검사(DCR), 위상차 검출 방식 오토 포커스(PDAF) 및 불량 화소 검출(Blemish Test) 중 어느 하나의 공정을 수행하되, 서로 상이한 공정을 수행하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템.
A plurality of test modules 100 including a transfer unit for advancing the inspection target in one direction through the inspection unit on the upper surface and an inspection unit disposed above the transfer unit and selectively performing a process on the inspection target transported by the transfer unit;
A loading module 200 for inserting a tray loaded with an object to be inspected into the transfer unit; and
an unloading module 300 for discharging the tray on which the inspection object is loaded in the transfer unit;
Including,
The loading module 200 is disposed on one side based on the direction in which the plurality of transfer units transport the inspection object,
The unloading module 300 is disposed on the other side based on the direction in which the plurality of transfer units transport the inspection object,
Each of the transfer units included in the plurality of test modules 100 has the same phase in the height direction from the ground, so that when the plurality of test modules 100 are coupled to each other, the tray moves to the loading module ( 200) to the unloading module 300 side,
It is provided between the loading module 200 and the unloading module 300 and applies a constant frequency to the inspected object carried by the transfer unit so that the inspected object vibrates, thereby inspecting foreign substances remaining in the inspected object. Vibration configured to inspect module 500 is further included;
The plurality of test modules 100, respectively, frequency response test (SFR), circuit connection test (O / S), resistance value test (DCR), phase difference detection type auto focus (PDAF) and defective pixel detection (Blemish Test) Test process modularization inline system, characterized in that configured to perform any one of the processes, but to perform different processes.
제1항에 있어서,
복수의 상기 테스트 모듈(100), 상기 로딩 모듈(200) 및 언로딩 모듈(300)과 연동되어, 피검사물을 검사하는 테스트 공정을 제어하는 처리부(400)를 더 포함하여 이루어지되,
상기 처리부(400)는
복수의 상기 테스트 모듈(100), 상기 로딩 모듈(200) 및 언로딩 모듈(300)과 신호를 송수신하는 처리 통신부(401) 및 복수의 상기 이송부가 트레이를 운반하는 방향을 기준으로 피검사물에 수행되는 테스트 공정의 순서를 연산하는 공정 연산부(402)를 포함하여 이루어지는 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템.
According to claim 1,
Further comprising a processing unit 400 that interlocks with the plurality of test modules 100, the loading module 200, and the unloading module 300 to control a test process for inspecting an object to be inspected,
The processing unit 400
The plurality of test modules 100, the loading module 200, and the unloading module 300 and the processing and communication unit 401 that transmits and receives signals and the plurality of transfer units are performed on the inspection object based on the direction in which the tray is transported. Test process modularization inline system comprising a process calculation unit 402 for calculating the order of the test process to be.
제2항에 있어서,
상기 각각의 테스트 모듈(100)은
피검사물에 수행되는 테스트 공정에 대한 정보를 저장하는 테스트 ID 저장부(102) 및 타 구성과 신호를 송수신하는 테스트 통신부(103)를 더 포함하여,
상기 ID 저장부(102)에 저장된 정보를 상기 테스트 통신부(103)를 통하여 타 구성으로 송신하는 것을 특징으로 하는 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템.
According to claim 2,
Each of the test modules 100
Further comprising a test ID storage unit 102 for storing information about the test process performed on the inspected object and a test communication unit 103 for transmitting and receiving signals with other components,
The test process modularization inline system, characterized in that for transmitting the information stored in the ID storage unit (102) to other configurations through the test communication unit (103).
제3항에 있어서,
상기 각각의 테스트 모듈(100)은
피검사물에 가하는 테스트 공정을 제어하는 테스트 제어부(104)를 더 포함하고,
상기 처리부(400)는
상기 처리 통신부(401)를 통하여 복수의 상기 테스트 제어부(104)에 공정 명령을 하달하는 것을 특징으로 하는 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템.
According to claim 3,
Each of the test modules 100
Further comprising a test control unit 104 for controlling a test process applied to the inspection object,
The processing unit 400
A test process modularization inline system characterized in that a process command is issued to a plurality of test control units 104 through the processing communication unit 401.
제2항에 있어서,
상기 로딩 모듈(200) 및 언로딩 모듈(300)은
트레이를 상기 테스트 모듈의 결합 순서를 판단하는 복수의 위치 판단부(202,302)와, 타 구성과 신호를 송수신하는 로딩 통신부(203) 및 언로딩 통신부(303)를 더 포함하여,
상기 위치 판단부(202,302)에서 인지한 복수의 상기 테스트 모듈의 순서를 상기 처리부(400)로 송신하는 것을 특징으로 하는 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템.
According to claim 2,
The loading module 200 and the unloading module 300
Further comprising a plurality of position determining units 202 and 302 for determining the order of combining the test modules with the tray, and a loading communication unit 203 and an unloading communication unit 303 for transmitting and receiving signals with other components,
The test process modularization inline system, characterized in that for transmitting the order of the plurality of test modules recognized by the position determining unit (202,302) to the processing unit (400).
제5항에 있어서,
상기 로딩 모듈(200) 및 언로딩 모듈(300)은
피검사물이 적재된 트레이를 시스템에 투입시키거나 배출시키는 공정을 제어하는 로딩 제어부(204) 및 언로딩 제어부(304)를 더 포함하고,
상기 처리부(400)는
상기 처리 통신부(401)를 통하여 상기 로딩 제어부(204) 및 언로딩 제어부(304)에 공정 명령을 하달하는 것을 특징으로 하는 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템.
According to claim 5,
The loading module 200 and the unloading module 300
Further comprising a loading control unit 204 and an unloading control unit 304 for controlling a process of inputting or discharging the tray loaded with the inspection object into the system,
The processing unit 400
A test process modularization inline system, characterized in that the process command is delivered to the loading control unit 204 and the unloading control unit 304 through the processing communication unit 401.
제1항에 있어서,
복수의 피검사물이 적재된 트레이를 상하 반전시키는 플리핑 모듈(600)을 더 포함하여,
피검사물의 상면 및 하면에 대하여 복수의 상기 테스트 모듈에서 수행되는 테스트 공정이 수행되는 것을 특징으로 하는 테스트 공정 모듈화 인라인 시스템.
According to claim 1,
Further comprising a flipping module 600 for vertically inverting the tray on which a plurality of inspection objects are loaded,
A test process modularization inline system, characterized in that the test process performed in the plurality of test modules is performed on the upper and lower surfaces of the inspected object.
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