KR102565967B1 - Sensing apparatus, panel driving apparatus and display device - Google Patents

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Abstract

본 발명은 캐패시터 혹은 전류원을 이용하여 센싱라인의 정전용량 특성값을 센싱하고 이를 화소의 특성 센싱에 반영함으로써 화소에 대한 특성 센싱의 정확도를 제고시키는 기술을 제공한다.The present invention provides a technology for improving the accuracy of feature sensing for a pixel by sensing a capacitance characteristic value of a sensing line using a capacitor or a current source and reflecting the capacitance characteristic value in pixel characteristic sensing.

Figure R1020160098544
Figure R1020160098544

Description

센싱장치, 패널구동장치 및 표시장치{SENSING APPARATUS, PANEL DRIVING APPARATUS AND DISPLAY DEVICE}Sensing device, panel driving device and display device {SENSING APPARATUS, PANEL DRIVING APPARATUS AND DISPLAY DEVICE}

본 발명은 표시장치를 구동하는 기술에 관한 것이다. The present invention relates to a technology for driving a display device.

표시장치에는 패널에 배치되는 화소들을 구동하기 위한 소스드라이버가 포함된다.A display device includes a source driver for driving pixels arranged on a panel.

소스드라이버는 영상데이터에 따라 데이터전압을 결정하고, 이러한 데이터전압을 화소들로 공급함으로써 각 화소의 밝기를 제어한다.The source driver controls the brightness of each pixel by determining a data voltage according to image data and supplying the data voltage to the pixels.

한편, 동일한 데이터전압이 공급되더라도 화소들의 특성에 따라 각 화소의 밝기는 달라질 수 있다. 예를 들어, 화소에는 구동트랜지스터가 포함되는데, 구동트랜지스터의 문턱전압이 달라지면 동일한 데이터전압이 공급되더라도 화소의 밝기가 달라진다. 소스드라이버가 이러한 화소들의 특성변화를 고려하지 않게 되면 화소들이 원하지 않는 밝기로 구동되고, 화질이 저하되는 문제가 발생할 수 있다.Meanwhile, even if the same data voltage is supplied, the brightness of each pixel may vary according to the characteristics of the pixels. For example, a pixel includes a driving transistor, and when the threshold voltage of the driving transistor changes, the brightness of the pixel changes even when the same data voltage is supplied. If the source driver does not consider the change in the characteristics of these pixels, the pixels are driven at an undesirable brightness and the image quality deteriorates.

구체적으로, 화소들은 시간에 따라 혹은 주변 환경에 따라 특성이 변한다. 이때, 소스드라이버가 화소들의 변화된 특성을 고려하지 않고 데이터전압을 공급하게 되면, 화질이 저하되는 문제-예를 들어, 화면얼룩 등의 문제-가 발생한다.Specifically, the characteristics of the pixels change according to time or the surrounding environment. At this time, if the source driver supplies the data voltage without considering the changed characteristics of the pixels, a problem of deterioration in image quality (for example, a problem such as screen stains) occurs.

이러한 화질 저하의 문제를 개선하기 위해 표시장치는 화소들의 특성을 센싱하는 센싱장치를 포함할 수 있다.In order to improve such a problem of deterioration in image quality, a display device may include a sensing device that senses characteristics of pixels.

센싱장치는 각 화소와 연결되는 센싱라인을 통해 각 화소에 대한 센싱신호를 수신할 수 있다. 그리고, 센싱장치는 센싱신호를 센싱데이터로 변환하여 타이밍컨트롤러로 전송하는데, 타이밍컨트롤러는 이러한 센싱데이터를 통해 각 화소의 특성을 파악하게 된다. 그리고, 타이밍컨트롤러는 각 화소의 특성을 반영하여 영상데이터를 보상함으로써 화소의 편차에 따른 화질 저하의 문제를 개선시킬 수 있다.The sensing device may receive a sensing signal for each pixel through a sensing line connected to each pixel. Then, the sensing device converts the sensing signal into sensing data and transmits it to the timing controller, and the timing controller grasps the characteristics of each pixel through the sensing data. Further, the timing controller can improve the problem of deterioration in image quality due to pixel deviation by compensating for image data by reflecting characteristics of each pixel.

한편, 센싱장치가 화소의 특성을 부정확하게 센싱하는 경우, 이러한 영상데이터 보상의 효용성도 낮아지게 된다. 예를 들어, 센싱장치의 부정확한 센싱에 의해 특성 편차가 없는 화소들이 특성 편차가 있는 것으로 센싱되는 경우, 잘못된 영상데이터 보상이 발생하고 화질이 오히려 저하되는 문제가 발생할 수 있다.On the other hand, if the sensing device inaccurately senses the pixel characteristics, the effectiveness of such image data compensation is also lowered. For example, when pixels without characteristic variation are sensed as having characteristic variation due to inaccurate sensing of the sensing device, erroneous image data compensation may occur and image quality may deteriorate.

센싱장치는 각 화소와 연결되는 센싱라인을 통해 각 화소를 센싱하게 되는데, 센싱라인에 편차가 있는 경우, 센싱장치는 각 화소의 특성을 부정확하게 센싱할 수 있다. 예를 들어, 센싱라인에는 라인임피던스가 있고, 이러한 라인임피던스는 센싱장치에서의 신호 수신값에 영향을 미친다. 그런데, 센싱라인별로 이러한 라인임피던스에 편차가 있는 경우, 센싱장치는 각 화소의 특성을 부정확하게 센싱할 수 있다. 구체적인 예로, 라인임피던스에 포함되어 있는 저항값이나 정전용량에 따라 신호 지연의 크기가 다르게 되는데, 센싱라인별로 라인임피던스가 다른 경우, 센싱장치는 같은 특성의 화소들을 서로 다른 특성값으로 센싱할 수 있다.The sensing device senses each pixel through a sensing line connected to each pixel. If there is a deviation in the sensing line, the sensing device may inaccurately sense the characteristics of each pixel. For example, a sensing line has a line impedance, and this line impedance affects a signal reception value in the sensing device. However, when there is a deviation in the line impedance for each sensing line, the sensing device may inaccurately sense the characteristics of each pixel. As a specific example, the magnitude of signal delay varies depending on the resistance value or capacitance included in the line impedance. If the line impedance is different for each sensing line, the sensing device can sense pixels with the same characteristic with different characteristic values. .

이러한 배경에서, 본 발명의 목적은, 일 측면에서, 화소에 대한 특성 센싱의 정확도를 제고시키는 기술을 제공하는 것이다. 다른 측면에서, 본 발명의 목적은, 센싱라인의 편차를 반영하여 화소에 대한 특성을 센싱하는 기술을 제공하는 것이다. 또 다른 측면에서, 본 발명의 목적은, 센싱라인의 편차 혹은 센싱라인의 특성을 측정하는 기술을 제공하는 것이다.Against this background, an object of the present invention, in one aspect, is to provide a technique for improving the accuracy of characteristic sensing for a pixel. In another aspect, an object of the present invention is to provide a technique for sensing a characteristic of a pixel by reflecting a deviation of a sensing line. In another aspect, an object of the present invention is to provide a technique for measuring a deviation of a sensing line or a characteristic of a sensing line.

전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 측면에서, 본 발명은, 복수의 화소가 배치되고 화소와 연결되는 복수의 센싱라인이 배치되는 패널에 대하여, 화소의 특성을 센싱하는 센싱장치를 제공한다.In order to achieve the above object, in one aspect, the present invention provides a sensing device for sensing characteristics of pixels in a panel in which a plurality of pixels are disposed and a plurality of sensing lines connected to the pixels are disposed.

이러한 센싱장치는, 센싱부 및 제어부를 포함하는데, 센싱부는 센싱라인을 통해 화소에 대한 센싱신호를 수신하고 센싱신호를 변환하여 화소센싱데이터를 생성한다. 그리고, 제어부는 제1시점에 센싱라인에 제1전압이 공급되고 제2시점에 센싱라인에 제1전류원 혹은 제1캐패시터이 연결되며 제3시점에 센싱라인의 전압이 측정되도록 제어한다.Such a sensing device includes a sensing unit and a control unit, and the sensing unit receives a sensing signal for a pixel through a sensing line and converts the sensing signal to generate pixel sensing data. The control unit controls such that a first voltage is supplied to the sensing line at a first time point, a first current source or a first capacitor is connected to the sensing line at a second time point, and a voltage of the sensing line is measured at a third time point.

다른 측면에서, 본 발명은, 복수의 화소가 배치되고 화소와 연결되는 복수의 데이터라인 및 복수의 센싱라인이 배치되는 패널을 구동하는 장치를 제공한다.In another aspect, the present invention provides a device for driving a panel in which a plurality of pixels are disposed and a plurality of data lines and a plurality of sensing lines connected to the pixels are disposed.

이러한 패널구동장치는 데이터구동회로, 센싱회로 및 데이터처리회로를 포함하는데, 데이터구동회로는 영상데이터를 데이터전압으로 변환하여 상기 데이터라인으로 공급한다. 그리고, 센싱회로는 센싱라인을 통해 화소에 대한 센싱신호를 수신하고, 센싱신호를 변환하여 화소센싱데이터를 생성하며, 제1시점에서 센싱라인에 제1전압을 공급하고 제2시점에서 센싱라인에 제1전류원 혹은 제1캐패시터를 연결시키며 제3시점에서 센싱라인의 전압을 측정하여 라인센싱데이터를 생성한다. 그리고, 데이터처리회로는 화소센싱데이터 및 라인센싱데이터를 이용하여 영상데이터를 보상처리한다.The panel driving device includes a data driving circuit, a sensing circuit, and a data processing circuit. The data driving circuit converts image data into data voltage and supplies it to the data line. Further, the sensing circuit receives a sensing signal for the pixel through the sensing line, converts the sensing signal to generate pixel sensing data, supplies a first voltage to the sensing line at a first time point, and supplies a first voltage to the sensing line at a second time point. A first current source or a first capacitor is connected, and a voltage of the sensing line is measured at a third point in time to generate line sensing data. And, the data processing circuit compensates for the image data using the pixel sensing data and the line sensing data.

또 다른 측면에서, 본 발명은, 패널, 하나의 제1전류원 혹은 하나의 제1캐패시터 및 복수의 소스드라이버IC(Integrated Circuit)를 포함하는 표시장치를 제공한다.In another aspect, the present invention provides a display device including a panel, one first current source or one first capacitor, and a plurality of source driver integrated circuits (ICs).

이러한 표시장치에서, 각각의 소스드라이버IC는 영상데이터를 데이터전압으로 변환하여 데이터라인으로 공급하고, 센싱라인을 통해 화소에 대한 센싱신호를 수신하고, 센싱신호를 변환하여 화소센싱데이터를 생성하며, 일 시점에서 센싱라인에 제1전압을 공급하고 다른 일 시점에서 센싱라인에 상기 하나의 제1전류원 혹은 상기 하나의 제1캐패시터를 연결시키며 또 다른 일 시점에서 센싱라인의 전압을 측정하여 라인센싱데이터를 생성한다.In such a display device, each source driver IC converts image data into data voltage and supplies it to a data line, receives a sensing signal for a pixel through a sensing line, converts the sensing signal to generate pixel sensing data, At one point in time, a first voltage is supplied to the sensing line, and at another point in time, the one first current source or the one first capacitor is connected to the sensing line, and at another point in time, the voltage of the sensing line is measured to obtain line sensing data. generate

그리고, 표시장치는 제1전압을 공급하는 하나의 제1전압원을 더 포함할 수 있는데, 소스드라이버IC는 일 시점에서 센싱라인과 상기 하나의 제1전압원을 연결시킨다.The display device may further include one first voltage source supplying the first voltage, and the source driver IC connects the sensing line to the one first voltage source at a point in time.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 센싱라인의 편차 혹은 센싱라인의 특성을 측정할 수 있다. 그리고, 본 발명에 의하면, 센싱라인의 편차를 반영하여 화소에 대한 특성을 센싱할 수 있다. 그리고, 본 발명에 의하면, 화소에 대한 특성 센싱의 정확도를 높이고 표시장치의 화질을 개선시킬 수 있다.As described above, according to the present invention, the deviation of the sensing line or the characteristic of the sensing line can be measured. Further, according to the present invention, it is possible to sense the characteristic of a pixel by reflecting the deviation of the sensing line. In addition, according to the present invention, it is possible to increase the accuracy of feature sensing for pixels and improve the image quality of a display device.

도 1은 일 실시예에 따른 표시장치의 구성도이다.
도 2는 도 1의 각 화소에 대한 화소 구조 및 데이터구동회로와 센싱회로에서 화소로 입출력되는 전압을 나타내는 도면이다.
도 3은 센싱라인의 정전용량 차이에 따른 센싱신호의 측정값 차이를 나타내는 도면이다.
도 4는 일 실시예에 따른 센싱회로의 구성과 그 주변 회로의 예시를 나타내는 도면이다.
도 5는 일 실시예에 따른 센싱회로의 제어방법에 대한 흐름도이다.
도 6은 다른 실시예에 따른 센싱회로의 구성과 그 주변 회로의 예시를 나타내는 도면이다.
도 7은 다른 실시예에 따른 센싱회로의 제어방법에 대한 흐름도이다.
도 8은 화소의 특성값과 관련된 내용을 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 데이터구동회로 및 센싱회로가 복수의 소스드라이버IC로 구현되는 실시예를 나타내는 제1예시 도면이다.
도 10은 데이터구동회로 및 센싱회로가 복수의 소스드라이버IC로 구현되는 실시예를 나타내는 제2예시 도면이다.
1 is a configuration diagram of a display device according to an exemplary embodiment.
FIG. 2 is a diagram illustrating a pixel structure of each pixel of FIG. 1 and voltages input and output from a data driving circuit and a sensing circuit to a pixel.
3 is a diagram illustrating a difference in measured values of a sensing signal according to a difference in capacitance of a sensing line.
4 is a diagram illustrating a configuration of a sensing circuit and an example of a peripheral circuit thereof according to an exemplary embodiment.
5 is a flowchart of a control method of a sensing circuit according to an exemplary embodiment.
6 is a diagram illustrating a configuration of a sensing circuit and an example of a peripheral circuit thereof according to another embodiment.
7 is a flowchart of a control method of a sensing circuit according to another embodiment.
8 is a diagram for explaining contents related to characteristic values of pixels.
9 is a first exemplary diagram illustrating an embodiment in which a data driving circuit and a sensing circuit are implemented with a plurality of source driver ICs.
10 is a second exemplary diagram illustrating an embodiment in which a data driving circuit and a sensing circuit are implemented with a plurality of source driver ICs.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail through exemplary drawings. In adding reference numerals to components of each drawing, it should be noted that the same components have the same numerals as much as possible even if they are displayed on different drawings. In addition, in describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.Also, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used in describing the components of the present invention. These terms are only used to distinguish the component from other components, and the nature, order, or order of the corresponding component is not limited by the term. When an element is described as being “connected,” “coupled to,” or “connected” to another element, that element is directly connected or connectable to the other element, but there is another element between the elements. It will be understood that elements may be “connected”, “coupled” or “connected”.

도 1은 일 실시예에 따른 표시장치의 구성도이다.1 is a configuration diagram of a display device according to an exemplary embodiment.

도 1을 참조하면, 표시장치(100)는 패널(110) 및 패널(110)을 구동하는 장치(120, 130, 140, 150)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1 , a display device 100 may include a panel 110 and devices 120 , 130 , 140 , and 150 that drive the panel 110 .

패널(110)에는 복수의 데이터라인(DL), 복수의 게이트라인(GL) 및 복수의 센싱라인(SL)이 배치되고, 복수의 화소(P)가 배치될 수 있다.A plurality of data lines DL, a plurality of gate lines GL, and a plurality of sensing lines SL may be disposed on the panel 110, and a plurality of pixels P may be disposed.

패널구동장치는 데이터구동회로(120), 센싱회로(130), 게이트구동회로(140), 데이터처리회로(150) 등으로 구성될 수 있다.The panel driving device may include a data driving circuit 120, a sensing circuit 130, a gate driving circuit 140, and a data processing circuit 150.

패널구동장치에서, 게이트구동회로(140)는 턴온전압 혹은 턴오프전압의 스캔신호를 게이트라인(GL)으로 공급할 수 있다. 턴온전압의 스캔신호가 화소(P)로 공급되면 해당 화소(P)는 데이터라인(DL)과 연결되고 턴오프전압의 스캔신호가 화소(P)로 공급되면 해당 화소(P)와 데이터라인(DL)의 연결은 해제된다.In the panel driving device, the gate driving circuit 140 may supply a scan signal of a turn-on voltage or a turn-off voltage to the gate line GL. When the scan signal of the turn-on voltage is supplied to the pixel P, the corresponding pixel P is connected to the data line DL, and when the scan signal of the turn-off voltage is supplied to the pixel P, the corresponding pixel P and the data line ( DL) is disconnected.

패널구동장치에서, 데이터구동회로(120)는 데이터라인(DL)으로 데이터전압을 공급한다. 데이터라인(DL)으로 공급된 데이터전압은 스캔신호에 따라 데이터라인(DL)과 연결된 화소(P)로 전달되게 된다.In the panel driving device, the data driving circuit 120 supplies the data voltage to the data line DL. The data voltage supplied to the data line DL is transferred to the pixel P connected to the data line DL according to the scan signal.

패널구동장치에서, 센싱회로(130)는 각 화소(P)에 형성되는 센싱신호-예를 들어, 전압, 전류 등-를 수신한다. 센싱회로(130)는 스캔신호에 따라 각 화소(P)와 연결될 수도 있고, 별도의 센싱신호에 따라 각 화소(P)와 연결될 수도 있다. 이때, 센싱신호는 게이트구동회로(140)에 의해 생성될 수 있다.In the panel driving device, the sensing circuit 130 receives a sensing signal (eg, voltage, current, etc.) formed in each pixel P. The sensing circuit 130 may be connected to each pixel P according to a scan signal or may be connected to each pixel P according to a separate sensing signal. At this time, the sensing signal may be generated by the gate driving circuit 140 .

패널구동장치에서, 데이터처리회로(150)는 게이트구동회로(140) 및 데이터구동회로(120)로 각종 제어신호를 공급할 수 있다. 데이터처리회로(150)는 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔이 시작되도록 하는 게이트제어신호(GCS)를 생성하여 게이트구동회로(140)로 전송할 수 있다. 그리고, 데이터처리회로(150)는 외부에서 입력되는 영상데이터를 데이터구동회로(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환한 영상데이터(RGB)를 데이터구동회로(120)로 출력할 수 있다. 또한, 데이터처리회로(150)는 각 타이밍에 맞게 데이터구동회로(120)가 각 화소(P)로 데이터전압을 공급하도록 제어하는 데이터제어신호(DCS)를 전송할 수 있다.In the panel driving device, the data processing circuit 150 may supply various control signals to the gate driving circuit 140 and the data driving circuit 120 . The data processing circuit 150 may generate a gate control signal GCS for starting a scan according to timing implemented in each frame and transmit it to the gate driving circuit 140 . In addition, the data processing circuit 150 may output image data RGB obtained by converting image data input from the outside to suit the data signal format used by the data driving circuit 120 to the data driving circuit 120 . Also, the data processing circuit 150 may transmit a data control signal DCS for controlling the data driving circuit 120 to supply data voltages to each pixel P according to each timing.

데이터처리회로(150)는 화소(P)의 특성에 따라 영상데이터(RGB)를 보상하여 전송할 수 있다. 이때, 데이터처리회로(150)는 센싱회로(130)로부터 센싱데이터(SENSE_DATA)를 수신할 수 있다. 센싱데이터(SENSE_DATA)에는 화소(P)의 특성에 대한 측정값이 포함될 수 있다. 또한, 센싱데이터(SENSE_DATA)에는 센싱라인(SL)에 대한 측정값이 포함될 수 있다.The data processing circuit 150 may compensate and transmit the image data RGB according to the characteristics of the pixel P. At this time, the data processing circuit 150 may receive the sensing data SENSE_DATA from the sensing circuit 130 . The sensing data SENSE_DATA may include measurement values for characteristics of the pixel P. In addition, the sensing data SENSE_DATA may include a measurement value of the sensing line SL.

한편, 데이터구동회로(120)는 소스드라이버라는 명칭으로 불리울 수 있다. 그리고, 게이트구동회로(140)는 게이트드라이버라는 명칭으로 불리울 수 있다. 그리고, 데이터처리회로(150)는 타이밍컨트롤러라는 명칭으로 불리울 수 있다. 데이터구동회로(120)와 센싱회로(130)는 하나의 집적회로에 포함되어 있으면서, 소스드라이버IC(Integrated Circuit)라는 명칭으로 불리울 수 있다. 또한, 데이터구둥회로(120), 센싱회로(130) 및 데이터처리회로(150)는 하나의 집적회로에 포함되어 있으면서, 통합IC라는 명칭으로 불리울 수 있다. 본 실시예가 이러한 명칭으로 제한되는 것은 아니나, 아래 실시예에 대한 설명에서는 소스드라이버, 게이트드라이버, 타이밍컨트롤러 등에서 일반적으로 알려진 일부 구성들의 설명은 생략한다. 따라서, 실시예에 대한 이해에 있어서는 이러한 일부 구성들이 생략되어 있는 것을 고려하여야 한다.Meanwhile, the data driving circuit 120 may be called a source driver. Also, the gate driving circuit 140 may be called a gate driver. Also, the data processing circuit 150 may be called a timing controller. The data driving circuit 120 and the sensing circuit 130 are included in one integrated circuit and may be called a source driver IC (Integrated Circuit). In addition, the data driving circuit 120, the sensing circuit 130, and the data processing circuit 150 are included in one integrated circuit and may be called an integrated IC. Although the present embodiment is not limited to these names, descriptions of some commonly known components such as a source driver, a gate driver, a timing controller, and the like are omitted in the description of the following embodiments. Therefore, it should be considered that some of these configurations are omitted in the understanding of the embodiment.

한편, 패널(110)은 유기발광표시패널일 수 있다. 이때, 패널(110)에 배치되는 화소(P)들은 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode) 및 하나 이상의 트랜지스터를 포함할 수 있다. 각 화소(P)에 포함되는 유기발광다이오드(OLED) 및 트랜지스터의 특성은 시간 혹은 주변 환경에 따라 변할 수 있다. 일 실시예에 따른 센싱회로(130)는 각 화소(P)에 포함된 이러한 구성요소들의 특성을 센싱하여 데이터처리회로(150)로 전송할 수 있다.Meanwhile, the panel 110 may be an organic light emitting display panel. In this case, the pixels P disposed on the panel 110 may include organic light emitting diodes (OLEDs) and one or more transistors. The characteristics of organic light emitting diodes (OLEDs) and transistors included in each pixel P may change according to time or surrounding environment. The sensing circuit 130 according to an embodiment may sense the characteristics of these components included in each pixel P and transmit the sensed characteristics to the data processing circuit 150 .

도 2는 도 1의 각 화소에 대한 화소 구조 및 데이터구동회로와 센싱회로에서 화소로 입출력되는 전압을 나타내는 도면이다.FIG. 2 is a diagram illustrating a pixel structure of each pixel of FIG. 1 and voltages input and output from a data driving circuit and a sensing circuit to a pixel.

도 2를 참조하면, 화소(P)는 유기발광다이오드(OLED), 구동트랜지스터(DRT), 스위칭트랜지스터(SWT), 센싱트랜지스터(SENT) 및 스토리지캐패시터(Cstg) 등을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2 , the pixel P may include an organic light emitting diode (OLED), a driving transistor (DRT), a switching transistor (SWT), a sensing transistor (SENT), and a storage capacitor (Cstg).

유기발광다이오드(OLED)는 애노드전극, 유기층 및 캐소드전극 등으로 이루어질 수 있다. 구동트랜지스터(DRT)의 제어에 따라 애노드전극은 구동전압(EVDD)과 연결되고 캐소드전극은 기저전압(EVSS)과 연결되면서 발광하게 된다.An organic light emitting diode (OLED) may include an anode electrode, an organic layer, and a cathode electrode. Under the control of the driving transistor DRT, the anode electrode is connected to the driving voltage EVDD and the cathode electrode is connected to the ground voltage EVSS to emit light.

구동트랜지스터(DRT)는 유기발광다이오드(OLED)로 공급되는 구동전류를 제어함으로써 유기발광다이오드(OLED)의 밝기를 제어할 수 있다.The driving transistor DRT may control brightness of the organic light emitting diode OLED by controlling a driving current supplied to the organic light emitting diode OLED.

구동트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)는 유기발광다이오드(OLED)의 애노드전극과 전기적으로 연결될 수 있으며, 소스 노드 혹은 드레인 노드일 수 있다. 구동트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)는 스위칭트랜지스터(SWT)의 소스 노드 혹은 드레인 노드와 전기적으로 연결될 수 있으며, 게이트 노드일 수 있다. 구동트랜지스터(DRT)의 제3노드(N3)는 구동전압(EVDD)을 공급하는 구동전압라인(DVL)과 전기적으로 연결될 수 있으며, 드레인 노드 혹은 소스 노드일 수 있다.The first node N1 of the driving transistor DRT may be electrically connected to the anode electrode of the organic light emitting diode OLED, and may be a source node or a drain node. The second node N2 of the driving transistor DRT may be electrically connected to a source node or a drain node of the switching transistor SWT and may be a gate node. The third node N3 of the driving transistor DRT may be electrically connected to the driving voltage line DVL supplying the driving voltage EVDD, and may be a drain node or a source node.

스위칭트랜지스터(SWT)는 데이터라인(DL)과 구동트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되고, 게이트 라인(GL)을 통해 스캔신호를 공급받아 턴온될 수 있다.The switching transistor SWT may be electrically connected between the data line DL and the second node N2 of the driving transistor DRT, and may be turned on by receiving a scan signal through the gate line GL.

이러한 스위칭트랜지스터(SWT)가 턴온되면 데이터라인(DL)을 통해 데이터구동회로(120)로부터 공급된 데이터전압(Vdata)이 구동트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)로 전달되게 된다.When the switching transistor SWT is turned on, the data voltage Vdata supplied from the data driving circuit 120 through the data line DL is transferred to the second node N2 of the driving transistor DRT.

스토리지캐패시터(Cstg)는 구동트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 전기적으로 연결될 수 있다.The storage capacitor Cstg may be electrically connected between the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DRT.

스토리지캐패시터(Cstg)는 구동트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 존재하는 기생캐패시터일 수도 있고, 구동트랜지스터(DRT)의 외부에 의도적으로 설계한 외부 캐패시터일 수 있다.The storage capacitor Cstg may be a parasitic capacitor existing between the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DRT, or an external capacitor intentionally designed outside the driving transistor DRT. can

센싱트랜지스터(SENT)는 구동트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 센싱라인(S)을 연결시키고, 센싱라인(SL)은 제1노드(N1)의 특성치-예를 들어, 전압-를 센싱회로(130)로 전달할 수 있다.The sensing transistor SENT connects the first node N1 of the driving transistor DRT to the sensing line S, and the sensing line SL transmits a characteristic value of the first node N1 - for example, voltage. It can be transmitted to the sensing circuit 130.

그리고, 센싱회로(130)는 센싱라인(SL)을 통해 전달되는 센싱신호(Vsense)를 이용하여 화소(P)의 특성을 측정하게 된다.Also, the sensing circuit 130 measures the characteristics of the pixel P using the sensing signal Vsense transmitted through the sensing line SL.

제1노드(N1)의 전압을 측정하면, 구동트랜지스터(DRT)의 문턱전압, 이동도(mobility) 등을 파악할 수 있다. 또한, 제1노드(N1)의 전압을 측정하면, 유기발광다이오드(OLED)의 기생정전용량 등의 유기발광다이오드(OLED)의 열화정도를 파악할 수 있다.When the voltage of the first node N1 is measured, the threshold voltage and mobility of the driving transistor DRT can be determined. In addition, when the voltage of the first node N1 is measured, the degree of deterioration of the organic light emitting diode (OLED), such as the parasitic capacitance of the organic light emitting diode (OLED), can be grasped.

센싱회로(130)는 제1노드(N1)의 전압을 측정하고 측정값을 데이터처리회로(도 1의 150 참조)로 전송할 수 있다. 그리고, 데이터처리회로(도 1의 150 참조)는 이러한 제1노드(N1)의 전압을 분석하여 각 화소(P)의 특성을 파악할 수 있다.The sensing circuit 130 may measure the voltage of the first node N1 and transmit the measured value to the data processing circuit (see 150 in FIG. 1 ). In addition, the data processing circuit (see 150 in FIG. 1 ) can determine the characteristics of each pixel P by analyzing the voltage of the first node N1 .

한편, 화소(P)로부터 전달되는 센싱신호(Vsense)는 센싱라인(SL)을 통해 센싱회로(130)로 전달되는데, 이때, 센싱회로(130)가 수신하는 센싱신호(Vsense)는 센싱라인(SL)의 정전용량(CSL)에 영향을 받을 수 있다.Meanwhile, the sensing signal Vsense transmitted from the pixel P is transmitted to the sensing circuit 130 through the sensing line SL. At this time, the sensing signal Vsense received by the sensing circuit 130 is the sensing line ( SL) can be affected by the capacitance (CSL).

도 3은 센싱라인의 정전용량 차이에 따른 센싱신호의 측정값 차이를 나타내는 도면이다.3 is a diagram illustrating a difference in measured values of a sensing signal according to a difference in capacitance of a sensing line.

센싱라인의 정전용량에 따라 센싱신호의 신호 지연이 달라지는데, 센싱회로가 서로 다른 정전용량(CSLa, CSLb)를 가지는 센싱라인에 대해 동일한 시점(T1)에서 센싱신호를 측정하게 되면, 신호 지연의 차이로 인해 두 센싱라인에 연결된 화소의 특성이 같더라도 도 3에 도시된 것과 같이 측정되는 센싱신호의 값(Vsense_a, Vsense_b)이 달라질 수 있다.The signal delay of the sensing signal varies according to the capacitance of the sensing line. When the sensing circuit measures the sensing signal at the same time point (T1) for the sensing lines having different capacitances (CSLa, CSLb), the difference in signal delay Therefore, even if the characteristics of the pixels connected to the two sensing lines are the same, values of the sensing signals (Vsense_a and Vsense_b) measured may be different as shown in FIG. 3 .

Figure 112016075230367-pat00001
Figure 112016075230367-pat00001

Vpixel은 화소에 형성되는 전압이고, R은 화소로부터 센싱회로까지의 라인저항이다.Vpixel is the voltage formed in the pixel, and R is the line resistance from the pixel to the sensing circuit.

센싱회로에서 측정되는 센싱신호(Vsense)는 수학식 1을 따른다. 화소에 형성되는 전압(Vpixel)이 동일하고, 센싱라인의 캐패시턴스만 도 3과 같이 CSLa와 CSLb로 차이날 때, 측정되는 센싱신호(Vsense)의 차이를 계산하면 수학식 2와 같이 된다.The sensing signal Vsense measured by the sensing circuit follows Equation 1. When the voltage (Vpixel) formed in the pixel is the same and only the capacitance of the sensing line is different between CSLa and CSLb as shown in FIG. 3, the difference in the measured sensing signal (Vsense) is calculated as in Equation 2

Figure 112016075230367-pat00002
Figure 112016075230367-pat00002

수학식 2와 같이 동일한 특성을 가지는 두 화소도 센싱라인의 정전용량에 따라 서로 다른 값으로 센싱될 수 있기 때문에, 일 실시예에 따른 표시장치는 센싱라인의 정전용량을 측정하고 센싱라인의 정전용량으로 화소에 대한 센싱신호를 보상할 수 있다.Since two pixels having the same characteristics as shown in Equation 2 can be sensed at different values according to the capacitance of the sensing line, the display device according to an exemplary embodiment measures the capacitance of the sensing line and determines the capacitance of the sensing line. Sensing signals for pixels may be compensated.

표시장치는 센싱라인의 정전용량을 직접 측정하지 않고 센싱라인의 정전용량에 대응되는 값을 측정하거나 계산할 수 있다. 이하에서는 설명의 편의를 위해 정전용량에 대응되는 값을 정전용량 특성값이라고 호칭한다. 정전용량 특성값은 센싱라인의 정전용량에 일대일 대응되는 함수값일 수 있다. 예를 들어, 정전용량 특성값은 정전용량 값 그 자체일 수도 있고, 정전용량에 일정한 비례 상수가 곱해진 값일 수도 있고, 정전용량과 반비례의 관계에 있는 값일 수도 있다.The display device may measure or calculate a value corresponding to the capacitance of the sensing line without directly measuring the capacitance of the sensing line. Hereinafter, for convenience of description, a value corresponding to capacitance is referred to as a capacitance characteristic value. The capacitance characteristic value may be a function value corresponding one-to-one to the capacitance of the sensing line. For example, the capacitance characteristic value may be the capacitance value itself, may be a value obtained by multiplying the capacitance by a constant proportional constant, or may be a value in inverse proportion to the capacitance.

도 4는 일 실시예에 따른 센싱회로의 구성과 그 주변 회로의 예시를 나타내는 도면이다.4 is a diagram illustrating a configuration of a sensing circuit and an example of a peripheral circuit thereof according to an exemplary embodiment.

도 4를 참조하면, 센싱회로(130)는 센싱부(410) 및 제어부(420)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 4 , the sensing circuit 130 may include a sensing unit 410 and a control unit 420 .

센싱부(410)는 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)으로부터 수신되는 신호를 변환하여 디지털데이터를 생성할 수 있다.The sensing unit 410 may generate digital data by converting signals received from the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn.

센싱부(410)는 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)으로부터 화소의 특성에 대응되는 센싱신호를 수신할 수 있다. 그리고, 센싱부(410)는 센싱신호를 변환하여 화소센싱데이터를 생성할 수 있다.The sensing unit 410 may receive sensing signals corresponding to characteristics of pixels from the sensing lines SL1 , SL2 , ..., SLn. Also, the sensing unit 410 may generate pixel sensing data by converting the sensing signal.

센싱부(410)는 아날로그 신호인 센싱신호를 수신하기 위해 샘플앤홀드(S/H)를 포함할 수 있다. 그리고, 센싱부(410)는 샘플링된 아날로그 신호를 디지털신호로 변환하는 아날로그디지털컨버터(ADC: Analog Digital Converter)를 더 포함할 수 있다.The sensing unit 410 may include a sample and hold (S/H) to receive a sensing signal that is an analog signal. Also, the sensing unit 410 may further include an analog digital converter (ADC) that converts the sampled analog signal into a digital signal.

도면에는 도시되지 않았으나, 센싱회로(130)는 변환된 디지털데이터를 저장하는 메모리를 더 포함할 수 있고, 저장된 디지털데이터를 외부 장치(예를 들어, 데이터처리회로(도 1의 150 참조))로 전송하기 위한 통신부를 더 포함할 수 있다.Although not shown in the drawings, the sensing circuit 130 may further include a memory for storing the converted digital data, and transfer the stored digital data to an external device (for example, a data processing circuit (see 150 in FIG. 1)). It may further include a communication unit for transmission.

센싱부(410)는 복수의 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)을 짧은 시간에 혹은 동시에 센싱하기 위해 복수의 채널을 포함할 수 있다. 그리고, 각각의 채널에는 샘플앤홀드(S/H) 및/또는 아날로그디지털컨버터(ADC)가 포함될 수 있다.The sensing unit 410 may include a plurality of channels to sense the plurality of sensing lines SL1, SL2, ..., SLn in a short time or simultaneously. In addition, each channel may include a sample-and-hold (S/H) and/or an analog-to-digital converter (ADC).

센싱부(410)는 이러한 샘플앤홀드(S/H), 아날로그디지털컨버터(ADC) 등을 이용하여 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)으로부터 센싱신호를 수신하고 센싱신호를 변환하여 화소센싱데이터를 생성할 수 있다.The sensing unit 410 receives sensing signals from the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn using such a sample-and-hold (S/H), analog-to-digital converter (ADC), and converts the sensing signals to Pixel sensing data may be generated.

한편, 센싱부(410)는 화소센싱데이터의 생성에 사용되는 회로들(예를 들어, 샘플앤홀드(S/H), 아날로그디지털컨버터(ADC) 등)을 이용하여 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)의 정전용량 특성값에 대응되는 라인센싱데이터도 생성할 수 있다.On the other hand, the sensing unit 410 uses circuits (eg, sample and hold (S/H), analog-to-digital converter (ADC), etc.) used to generate pixel-sensed data to sense lines SL1, SL2, ..., line sensing data corresponding to the capacitance characteristic values of SLn) may also be generated.

센싱회로(130)에는 제1전압(V1)이 공급될 수 있다. 그리고, 센싱회로(130)에는 제1캐패시터(CCAL)가 연결될 수 있다. 제어부(420)는 이러한 제1전압(V1)과 제1캐패시터(CCAL)를 이용하여 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)의 정전용량(CSL1, CSL2, ..., CSLn)에 대응되는 정전용량 특성값이 센싱부(410)에서 측정되도록 제어할 수 있다.A first voltage V1 may be supplied to the sensing circuit 130 . Also, a first capacitor CCAL may be connected to the sensing circuit 130 . The control unit 420 applies the first voltage V1 and the first capacitor CCAL to the capacitances CSL1, CSL2, ..., CSLn of the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn. The corresponding capacitance characteristic value may be controlled to be measured by the sensing unit 410 .

제어부(420)는 먼저, 제1시점에서 복수의 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn) 중 선택된 센싱라인으로 제1전압(V1)을 공급한다. 이러한 과정을 통해, 해당 센싱라인은 제1전압(V1)으로 충전된다.The controller 420 first supplies the first voltage V1 to a selected sensing line among the plurality of sensing lines SL1 , SL2 , ..., SLn at a first point in time. Through this process, the corresponding sensing line is charged with the first voltage V1.

그리고, 제어부(420)는 제2시점에서 해당 센싱라인에 제1캐패시터(CCAL)를 연결시킨다. 이러한 과정을 통해, 해당 센싱라인에 충전된 전하는 제1캐패시터(CCAL)와 공유된다.Also, the controller 420 connects the first capacitor CCAL to the corresponding sensing line at a second time point. Through this process, the charge charged in the corresponding sensing line is shared with the first capacitor CCAL.

그리고, 제어부(420)는 제3시점에서 해당 센싱라인의 전압을 측정함으로써 해당 센싱라인의 정전용량 특성값을 측정하게 된다.Then, the controller 420 measures the capacitance characteristic value of the corresponding sensing line by measuring the voltage of the corresponding sensing line at a third time point.

한편, 제어부(420)는 제2시점 이전에 해당되는 제4시점에서 제1캐패시터(CCAL)의 전하를 일정한 값으로 리셋시키기 위해 제2전압(V2)을 공급하고, 제2시점 이전에 제2전압(V2)의 공급을 중단할 수 있다.On the other hand, the control unit 420 supplies the second voltage V2 to reset the charge of the first capacitor CCAL to a constant value at a fourth time point corresponding to before the second time point, and supplies the second voltage V2 before the second time point. The supply of voltage V2 can be stopped.

Figure 112016075230367-pat00003
Figure 112016075230367-pat00003

Vx는 제3시점에서 센싱부(410)를 통해 측정되는 센싱라인의 전압이고, CSL은 측정되는 센싱라인의 정전용량이다.Vx is the voltage of the sensing line measured through the sensing unit 410 at the third point in time, and CSL is the capacitance of the sensing line to be measured.

수학식 3을 참조하면, 제3시점에서 측정되는 센싱라인의 전압(Vx)은 제1전압(V1), 제2전압(V2), 제1캐패시터(CCAL) 및 센싱라인의 정전용량(CSL)의 함수인데, Vx, V1, V2 및 CCAL 값을 알 수 있기 때문에, 수학식 3을 다시 풀면, 센싱라인의 정전용량(CSL)이 계산될 수 있다.Referring to Equation 3, the voltage (Vx) of the sensing line measured at the third point is the first voltage (V1), the second voltage (V2), the first capacitor (CCAL) and the capacitance (CSL) of the sensing line Since it is a function of Vx, V1, V2 and CCAL values, solving Equation 3 again can calculate the capacitance (CSL) of the sensing line.

Figure 112016075230367-pat00004
Figure 112016075230367-pat00004

수학식 4는 제3시점에서 측정된 센싱라인 전압(Vx), 제1캐패시터(CCAL)의 정전용량, 제1전압(V1) 및 제2전압(V2)으로 센싱라인의 정전용량(CSL)을 계산하는 것을 나타낸다.Equation 4 calculates the capacitance CSL of the sensing line with the sensing line voltage Vx measured at the third point, the capacitance of the first capacitor CCAL, the first voltage V1 and the second voltage V2. represents counting.

센싱회로(130)는 제3시점에서 측정된 센싱라인 전압(Vx)을 디지털데이터로 변환하여 라인센싱데이터로 생성하고, 표시장치는 이러한 라인센싱데이터를 이용하여 센싱라인의 정전용량(CSL)을 계산하거나 센싱라인의 정전용량 특성값을 계산할 수 있다.The sensing circuit 130 converts the sensing line voltage (Vx) measured at the third point into digital data to generate line sensing data, and the display device calculates the capacitance (CSL) of the sensing line using the line sensing data. It can be calculated or the capacitance characteristic value of the sensing line can be calculated.

한편, 도 4를 참조하면, 센싱회로(130)에는 복수의 스위치회로(SW11~SW1n, SW21~SW2n, SW3)가 배치되는데, 센싱회로(130)는 이러한 복수의 스위치회로(SW11~SW1n, SW21~SW2n, SW3)를 이용하여 각각의 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)에 대한 정전용량 특성값을 센싱할 수 있다.Meanwhile, referring to FIG. 4 , a plurality of switch circuits (SW11 to SW1n, SW21 to SW2n, and SW3) are disposed in the sensing circuit 130, and the sensing circuit 130 includes a plurality of switch circuits (SW11 to SW1n, SW21). Capacitance characteristic values for each of the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn may be sensed using ~ SW2n and SW3.

도 4를 참조하면, 제1전압(V1)이 공급되는 단자와 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)은 제1스위치회로(SW11~SW1n)에 의해 연결될 수 있다. 제어부(420)는 제1시점에서 제1스위치회로(SW11~SW1n)를 이용하여 제1전압(V1)이 공급되는 단자와 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)을 연결시킨다.Referring to FIG. 4 , the terminal to which the first voltage V1 is supplied and the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn may be connected by first switch circuits SW11 to SW1n. The controller 420 connects the terminal to which the first voltage V1 is supplied and the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn using the first switch circuits SW11 to SW1n at a first time point.

복수의 제1스위치회로(SW11~SW1n) 중 하나의 제1스위치회로가 온(ON)되고 나머지 제1스위치회로가 오프(OFF)되면서 하나의 센싱라인으로 제1전압(V1)이 공급될 수 있다. 실시예에 따라서는 하나의 제1스위치회로가 복수의 센싱라인을 제1전압원과 연결시킬 수도 있다.The first voltage V1 may be supplied to one sensing line as one of the plurality of first switch circuits SW11 to SW1n is turned on and the remaining first switch circuits are turned off. there is. Depending on embodiments, one first switch circuit may connect a plurality of sensing lines to the first voltage source.

제1캐패시터(CCAL)가 연결되는 단자와 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)은 제2스위치회로(SW21, SW22, ..., SW2n)에 의해 연결될 수 있다. 제어부(420)는 제2시점에서 제2스위치회로(SW21, SW22, ..., SW2n)를 이용하여 제1캐패시터(CCAL)와 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)을 연결시킨다. 제2시점 이전에 센싱라인으로의 제1전압(V1)의 공급이 해제된다.A terminal to which the first capacitor CCAL is connected and the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn may be connected by second switch circuits SW21, SW22, ..., SW2n. The control unit 420 connects the first capacitor CCAL and the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn using the second switch circuits SW21, SW22, ..., SW2n at the second time point. . Prior to the second point in time, the supply of the first voltage V1 to the sensing line is released.

복수의 제2스위치회로(SW21~SW2n) 중 하나의 제2스위치회로가 온(ON)되고 나머지 제2스위치회로가 오프(OFF)되면서 하나의 센싱라인과 제1캐패시터(CCAL)가 연결될 수 있다. 실시예에 따라서는 하나의 제2스위치회로가 복수의 센싱라인을 제1캐패시터(CCAL)로 연결시킬 수도 있다.As one of the plurality of second switch circuits SW21 to SW2n is turned on and the other second switch circuits are turned off, one sensing line and the first capacitor CCAL may be connected. . Depending on embodiments, one second switch circuit may connect a plurality of sensing lines to the first capacitor CCAL.

제3스위치회로(SW3)는 제2전압(V2)이 공급되는 단자와 제1캐패시터(CCAL)를 연결시킬 수 있다. 제어부(420)는 제2시점 이전에 해당되는 제4시점에서 제3스위치회로(SW3)를 이용하여 제2전압(V2)을 제1캐패시터(CCAL)로 공급할 수 있다.The third switch circuit SW3 may connect a terminal to which the second voltage V2 is supplied and the first capacitor CCAL. The control unit 420 may supply the second voltage V2 to the first capacitor CCAL by using the third switch circuit SW3 at a fourth time point prior to the second time point.

도 5는 일 실시예에 따른 센싱회로의 제어방법에 대한 흐름도이다.5 is a flowchart of a control method of a sensing circuit according to an exemplary embodiment.

도 5를 참조하면, 센싱회로는 측정 대상이 되는 센싱라인으로 제1전압을 공급하고, 제1캐패시터로 제2전압을 공급한다(S502). 이때, 센싱라인과 제1캐패시터는 서로 분리되어 있다.Referring to FIG. 5 , the sensing circuit supplies a first voltage to a sensing line to be measured and supplies a second voltage to a first capacitor (S502). At this time, the sensing line and the first capacitor are separated from each other.

그리고, 센싱회로는 센싱라인에 대한 제1전압의 공급을 해제하고, 제1캐패시터에 대한 제2전압의 공급을 해제한다(S504). 이때, 센싱라인은 제1전압으로 충전되어 있고, 제1캐패시터는 제2전압으로 충전되어 있다.Then, the sensing circuit releases the supply of the first voltage to the sensing line and the supply of the second voltage to the first capacitor (S504). At this time, the sensing line is charged with the first voltage, and the first capacitor is charged with the second voltage.

그리고, 센싱회로는 센싱라인과 제1캐패시터를 연결시킨다(S506). 이러한 연결을 통해, 센싱라인의 정전용량에 충전된 전하와 제1캐패시터에 충전된 전하가 서로 공유된다.Then, the sensing circuit connects the sensing line and the first capacitor (S506). Through this connection, the charge charged in the capacitance of the sensing line and the charge charged in the first capacitor are shared with each other.

그리고, 센싱회로는 센싱라인의 전압을 측정하고(S508), 측정한 센싱라인의 전압을 변환하여 라인센싱데이터를 생성하며(S510), 화소센싱데이터 및/또는 라인센싱데이터를 데이터처리회로로 전송한다(S512). 이러한 화소센싱데이터 및 라인센싱데이터는 데이터처리회로에서 화소의 특성값 계산에 사용된다.Then, the sensing circuit measures the voltage of the sensing line (S508), converts the measured voltage of the sensing line to generate line sensing data (S510), and transmits the pixel sensing data and/or the line sensing data to the data processing circuit. Do (S512). Such pixel sensing data and line sensing data are used to calculate characteristic values of pixels in a data processing circuit.

도 6은 다른 실시예에 따른 센싱회로의 구성과 그 주변 회로의 예시를 나타내는 도면이다.6 is a diagram illustrating a configuration of a sensing circuit and an example of a peripheral circuit thereof according to another embodiment.

도 6을 참조하면, 센싱회로(630)는 센싱부(410), 제어부(420) 및 복수의 스위치회로(SW11~SW1n, SW21~SW2n)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 6 , the sensing circuit 630 may include a sensing unit 410, a control unit 420, and a plurality of switch circuits SW11 to SW1n and SW21 to SW2n.

센싱회로(630)에는 제1전압(V1)이 공급될 수 있다. 그리고, 센싱회로(630)에는 제1전류원(ICAL)이 연결될 수 있다. 제어부(420)는 이러한 제1전압(V1)과 제1전류원(ICAL)을 이용하여 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)의 정전용량(CSL1, CSL2, ..., CSLn)에 대응되는 정전용량 특성값이 센싱부(410)에서 측정되도록 제어할 수 있다.A first voltage V1 may be supplied to the sensing circuit 630 . Also, the first current source ICAL may be connected to the sensing circuit 630 . The controller 420 applies the first voltage V1 and the first current source ICAL to the capacitances CSL1, CSL2, ..., CSLn of the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn. The corresponding capacitance characteristic value may be controlled to be measured by the sensing unit 410 .

제어부(420)는 먼저, 제1시점에서 복수의 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn) 중 선택된 센싱라인으로 제1전압(V1)을 공급한다. 이러한 과정을 통해, 해당 센싱라인은 제1전압(V1)으로 충전된다.The controller 420 first supplies the first voltage V1 to a selected sensing line among the plurality of sensing lines SL1 , SL2 , ..., SLn at a first point in time. Through this process, the corresponding sensing line is charged with the first voltage V1.

그리고, 제어부(420)는 제2시점에서 해당 센싱라인에 제1전류원(ICAL)을 연결시킨다. 이러한 과정을 통해, 해당 센싱라인에 충전된 전하는 제1전류원(ICAL)에 의해 방전된다. 이때, 제어부(420)는 미리 설정된 시간 동안만 제1전류원(ICAL)을 센싱라인으로 연결시킬 수 있다.Also, the controller 420 connects the first current source ICAL to the corresponding sensing line at a second time point. Through this process, the charge charged in the corresponding sensing line is discharged by the first current source ICAL. At this time, the controller 420 may connect the first current source ICAL to the sensing line only for a preset time.

그리고, 제어부(420)는 제3시점에서 해당 센싱라인의 전압을 측정함으로써 해당 센싱라인의 정전용량 특성값을 측정하게 된다.Then, the controller 420 measures the capacitance characteristic value of the corresponding sensing line by measuring the voltage of the corresponding sensing line at a third time point.

Figure 112016075230367-pat00005
Figure 112016075230367-pat00005

Vx는 제3시점에서 센싱부(410)를 통해 측정되는 센싱라인의 전압이고, CSL은 측정되는 센싱라인의 정전용량이다. 그리고, I1은 제1전류원(ICAL)에 의해 방전되는 전류량이고 ΔT는 센싱라인이 I1의 전류로 방전되는 시간이다.Vx is the voltage of the sensing line measured through the sensing unit 410 at the third point in time, and CSL is the capacitance of the sensing line to be measured. Also, I1 is the amount of current discharged by the first current source ICAL, and ΔT is the time during which the sensing line is discharged with the current of I1.

수학식 5를 참조하면, 제3시점에서 측정되는 센싱라인의 전압(Vx)은 제1전압(V1), 방전전류(I1), 방전시간(ΔT) 및 센싱라인의 정전용량(CSL)의 함수인데, Vx, V1, I1 및 ΔT 값을 알 수 있기 때문에, 수학식 5를 다시 풀면, 센싱라인의 정전용량(CSL)이 계산될 수 있다.Referring to Equation 5, the voltage (Vx) of the sensing line measured at the third point is a function of the first voltage (V1), the discharge current (I1), the discharge time (ΔT), and the capacitance (CSL) of the sensing line. Since the values of Vx, V1, I1 and ΔT can be known, the capacitance CSL of the sensing line can be calculated by solving Equation 5 again.

Figure 112016075230367-pat00006
Figure 112016075230367-pat00006

수학식 6은 제3시점에서 측정된 센싱라인 전압(Vx), 제1전압(V1), 방전전류(I1) 및 방전시간(ΔT)으로 센싱라인의 정전용량(CSL)을 계산하는 것을 나타낸다.Equation 6 shows that the capacitance (CSL) of the sensing line is calculated with the sensing line voltage (Vx), the first voltage (V1), the discharge current (I1), and the discharge time (ΔT) measured at the third point in time.

센싱회로(630)는 제3시점에서 측정된 센싱라인 전압(Vx)을 디지털데이터로 변환하여 라인센싱데이터로 생성하고, 표시장치는 이러한 라인센싱데이터를 이용하여 센싱라인의 정전용량(CSL)을 계산하거나 센싱라인의 정전용량 특성값을 계산할 수 있다.The sensing circuit 630 converts the sensing line voltage Vx measured at the third point into digital data to generate line sensing data, and the display device calculates the capacitance CSL of the sensing line using the line sensing data. It can be calculated or the capacitance characteristic value of the sensing line can be calculated.

한편, 도 6을 참조하면, 센싱회로(630)에는 복수의 스위치회로(SW11~SW1n, SW21~SW2n)가 배치되는데, 센싱회로(630)는 이러한 복수의 스위치회로(SW11~SW1n, SW21~SW2n)를 이용하여 각각의 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)에 대한 정전용량 특성값을 센싱할 수 있다.On the other hand, referring to FIG. 6, a plurality of switch circuits (SW11 to SW1n, SW21 to SW2n) are disposed in the sensing circuit 630, and the sensing circuit 630 includes a plurality of switch circuits (SW11 to SW1n, SW21 to SW2n). ) may be used to sense capacitance characteristic values for each of the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn.

도 6을 참조하면, 제1전압(V1)이 공급되는 단자와 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)은 제1스위치회로(SW11~SW1n)에 의해 연결될 수 있다. 제어부(420)는 제1시점에서 제1스위치회로(SW11~SW1n)를 이용하여 제1전압(V1)이 공급되는 단자와 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)을 연결시킨다.Referring to FIG. 6 , the terminal to which the first voltage V1 is supplied and the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn may be connected by first switch circuits SW11 to SW1n. The controller 420 connects the terminal to which the first voltage V1 is supplied and the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn using the first switch circuits SW11 to SW1n at a first time point.

복수의 제1스위치회로(SW11~SW1n) 중 하나의 제1스위치회로가 온(ON)되고 나머지 제1스위치회로가 오프(OFF)되면서 하나의 센싱라인으로 제1전압(V1)이 공급될 수 있다. 실시예에 따라서는 하나의 제1스위치회로가 복수의 센싱라인을 제1전압원과 연결시킬 수도 있다.The first voltage V1 may be supplied to one sensing line as one of the plurality of first switch circuits SW11 to SW1n is turned on and the remaining first switch circuits are turned off. there is. Depending on embodiments, one first switch circuit may connect a plurality of sensing lines to the first voltage source.

제1전류원(ICAL)이 연결되는 단자와 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)은 제2스위치회로(SW21, SW22, ..., SW2n)에 의해 연결될 수 있다. 제어부(420)는 제2시점에서 제2스위치회로(SW21, SW22, ..., SW2n)를 이용하여 제1전류원(ICAL)과 센싱라인(SL1, SL2, ..., SLn)을 연결시킨다. 제2시점 이전에 센싱라인으로의 제1전압(V1)의 공급이 해제된다.A terminal to which the first current source ICAL is connected and the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn may be connected by second switch circuits SW21, SW22, ..., SW2n. The controller 420 connects the first current source ICAL and the sensing lines SL1, SL2, ..., SLn using the second switch circuits SW21, SW22, ..., SW2n at the second time point. . Prior to the second point in time, the supply of the first voltage V1 to the sensing line is released.

복수의 제2스위치회로(SW21~SW2n) 중 하나의 제2스위치회로가 온(ON)되고 나머지 제2스위치회로가 오프(OFF)되면서 하나의 센싱라인과 제1전류원(ICAL)이 연결될 수 있다. 실시예에 따라서는 하나의 제2스위치회로가 복수의 센싱라인을 제1전류원(ICAL)으로 연결시킬 수도 있다.As one of the plurality of second switch circuits SW21 to SW2n is turned on and the other second switch circuits are turned off, one sensing line and the first current source ICAL may be connected. . Depending on embodiments, one second switch circuit may connect a plurality of sensing lines to the first current source ICAL.

도 7은 다른 실시예에 따른 센싱회로의 제어방법에 대한 흐름도이다.7 is a flowchart of a control method of a sensing circuit according to another embodiment.

도 7을 참조하면, 센싱회로는 측정 대상이 되는 센싱라인으로 제1전압을 공급한다(S702). 이때, 센싱라인과 제1전류원은 서로 분리되어 있다.Referring to FIG. 7 , the sensing circuit supplies a first voltage to a sensing line to be measured (S702). At this time, the sensing line and the first current source are separated from each other.

그리고, 센싱회로는 센싱라인에 대한 제1전압의 공급을 해제한다(S704). 이때, 센싱라인은 제1전압으로 충전되어 있다.Then, the sensing circuit releases the supply of the first voltage to the sensing line (S704). At this time, the sensing line is charged with the first voltage.

그리고, 센싱회로는 센싱라인과 제1전류원을 연결시킨다(S706). 이러한 연결을 통해, 센싱라인의 정전용량에 충전된 전하가 제1전류원에 의해 방전된다.And, the sensing circuit connects the sensing line and the first current source (S706). Through this connection, the charge charged in the capacitance of the sensing line is discharged by the first current source.

그리고, 센싱회로는 센싱라인의 전압을 측정하고(S708), 측정한 센싱라인의 전압을 변환하여 라인센싱데이터를 생성하며(S710), 화소센싱데이터 및/또는 라인센싱데이터를 데이터처리회로로 전송한다(S712). 이러한 화소센싱데이터 및 라인센싱데이터는 데이터처리회로에서 화소의 특성값 계산에 사용된다.Then, the sensing circuit measures the voltage of the sensing line (S708), converts the measured voltage of the sensing line to generate line sensing data (S710), and transmits the pixel sensing data and/or the line sensing data to the data processing circuit. Do (S712). Such pixel sensing data and line sensing data are used to calculate characteristic values of pixels in a data processing circuit.

한편, 데이터처리회로는 센싱회로로부터 수신되는 화소센싱데이터 및 라인센싱데이터에 따라 화소의 특성값을 계산할 수 있다.Meanwhile, the data processing circuit may calculate characteristic values of pixels according to pixel sensing data and line sensing data received from the sensing circuit.

도 8은 화소의 특성값과 관련된 내용을 설명하기 위한 도면이다.8 is a diagram for explaining contents related to characteristic values of pixels.

화소(P)를 센싱라인(SL)과 연결시키고, 화소(P)에 구동전압(Vin)을 입력하면, 화소(P)에서 센싱라인(SL) 방향으로 화소전류(Ipixel)가 흐르게 된다.When the pixel P is connected to the sensing line SL and the driving voltage Vin is input to the pixel P, the pixel current Ipixel flows from the pixel P to the sensing line SL.

Figure 112016075230367-pat00007
Figure 112016075230367-pat00007

k는 화소(P)에 위치하는 구동트랜지스터의 모빌리티(mobility)값이고, Vth는 구동트랜지스터의 문턱전압이다.k is a mobility value of a driving transistor positioned in the pixel P, and Vth is a threshold voltage of the driving transistor.

화소전류(Ipixel)가 일정 시간(T1) 동안 흐르게 되면, 센싱라인(SL)의 정전용량(CSL)이 화소전류(Ipixel)로 충전되고, 센싱라인(SL)에 전압(Vsense)이 형성되게 된다.When the pixel current Ipixel flows for a certain period of time T1, the capacitance CSL of the sensing line SL is charged with the pixel current Ipixel, and a voltage Vsense is formed in the sensing line SL. .

센싱회로는 센싱라인(SL)에 형성되는 전압(Vsense)를 센싱하고 이를 화소센싱데이터로 만들어서 데이터처리회로로 전송하게 된다. 그리고, 데이터처리회로는 화소센싱데이터와 라인센싱데이터를 이용하여 화소(P)의 특성값을 계산하게 된다.The sensing circuit senses the voltage Vsense formed on the sensing line SL, converts it into pixel sensing data, and transmits it to the data processing circuit. And, the data processing circuit calculates the characteristic value of the pixel P using the pixel sensing data and the line sensing data.

Figure 112016075230367-pat00008
Figure 112016075230367-pat00008

Figure 112016075230367-pat00009
Figure 112016075230367-pat00009

수학식 9에서, Vsense은 화소센싱데이터를 통해 획득되고, CSL은 라인센싱데이터를 통해 획득된다. 그리고, Vin 및 T1은 제어되는 변수이고, Vth는 알려진 값이거나 다른 방법에 의해 계산된 값이다. 데이터처리회로는 이와 같이 화소센싱데이터 및 라인센싱데이터를 조합하여 화소(P)의 모빌리티(특성값의 일 예)를 정확하게 계산할 수 있다.In Equation 9, Vsense is obtained through pixel sensing data, and CSL is obtained through line sensing data. And, Vin and T1 are variables to be controlled, and Vth is a known value or a value calculated by another method. The data processing circuit can accurately calculate the mobility (an example of a characteristic value) of the pixel P by combining the pixel sensing data and the line sensing data in this way.

센싱회로가 제1캐패시터를 이용할 때-도 4를 참조하여 설명한 실시예와 같이 구성될 때, 데이터처리회로는 제1캐패시터의 정전용량 혹은 그 정전용량과 연계된 값을 미리 저장하고 있고, 제1캐패시터가 센싱라인과 연결될 때 발생하는 전하공유(charge sharing) 현상에 따른 계산식(수학식 4)에 따라 각 센싱라인의 정전용량(CSL)에 대응되는 값을 계산할 수 있다.When the sensing circuit uses the first capacitor-when configured as in the embodiment described with reference to FIG. 4, the data processing circuit stores the capacitance of the first capacitor or a value associated with the capacitance in advance, and A value corresponding to the capacitance (CSL) of each sensing line may be calculated according to a calculation formula (Equation 4) according to a charge sharing phenomenon that occurs when a capacitor is connected to a sensing line.

센싱회로가 제1전류원을 이용할 때-도 6을 참조하여 설명한 실시예와 같이 구성될 때, 데이터처리회로는 제1전류원에 의해 방전되는 전하량과 연계된 값(예를 들어, 방전전류 및 방전시간)을 미리 저장하고 있고, 제1전류원이 센싱라인과 연결될 때 발생하는 방전 현상에 따른 계산식(수학식 6)에 따라 각 센싱라인의 정전용량(CSL)에 대응되는 값을 계산할 수 있다.When the sensing circuit uses the first current source-when configured as in the embodiment described with reference to FIG. 6, the data processing circuit outputs a value associated with the amount of charge discharged by the first current source (e.g., discharge current and discharge time). ) is stored in advance, and a value corresponding to the capacitance (CSL) of each sensing line can be calculated according to a calculation formula (Equation 6) according to a discharge phenomenon that occurs when the first current source is connected to the sensing line.

그리고, 데이터처리회로는 이러한 화소(P)의 특성값을 이용하여 영상데이터를 보상할 수 있다.Also, the data processing circuit may compensate image data using the characteristic values of the pixels P.

Figure 112016075230367-pat00010
Figure 112016075230367-pat00010

수학식 10에서 구동전압(Vin)은 영상데이터에 대응되는 값이다. 데이터처리회로는 수학식 10과 같이 화소(P)의 특성값(예, 모빌리티 및 문턱전압)을 계산하고 이를 반영하여 영상데이터를 보상할 수 있다.In Equation 10, the driving voltage Vin is a value corresponding to image data. The data processing circuit may compensate image data by calculating characteristic values (eg, mobility and threshold voltage) of the pixel P as in Equation 10 and reflecting them.

도 9는 데이터구동회로 및 센싱회로가 복수의 소스드라이버IC로 구현되는 실시예를 나타내는 제1예시 도면이다.9 is a first exemplary diagram illustrating an embodiment in which a data driving circuit and a sensing circuit are implemented with a plurality of source driver ICs.

도 9를 참조하면, 데이터구동회로 및 센싱회로는 복수의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)로 구현될 수 있다.Referring to FIG. 9 , the data driving circuit and the sensing circuit may be implemented with a plurality of source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n.

각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 패널(110) 내의 화소들을 블록 혹은 그룹별로 나누어서 구동하고 센싱할 수 있다. 화소 수가 많거나 패널(110)이 넓게 형성되는 경우, 이와 같이 복수의 소스드라이버(920a, 920b, ..., 920n)가 블록 혹은 그룹별로 나누어서 화소들을 구동하거나 센싱할 수 있다.Each of the source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n may drive and sense the pixels in the panel 110 by dividing them into blocks or groups. When the number of pixels is large or the panel 110 is formed wide, the plurality of source drivers 920a, 920b, ..., 920n may be divided into blocks or groups to drive or sense pixels.

각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 데이터구동회로 및 센싱회로의 기능을 수행할 수 있다. 일 예로서, 각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 영상데이터를 데이터전압으로 변환하여 데이터라인(DL)으로 공급할 수 있다. 그리고, 각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 센싱라인(SL)을 통해 화소(P)에 대한 센싱신호를 수신하고, 센싱신호를 변환하여 화소센싱데이터를 생성할 수 있다. 그리고, 각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 일 시점에서 센싱라인(SL)에 제1전압을 공급하고 다른 일 시점에서 센싱라인(SL)에 제1캐패시터(CCAL)를 연결시킬 수 있다. 그리고, 각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 또 다른 일 시점에서 센싱라인(SL)의 전압을 측정하여 라인센싱데이터를 생성할 수 있다.Each of the source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n may perform functions of a data driving circuit and a sensing circuit. As an example, each of the source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n may convert image data into a data voltage and supply the converted data voltage to the data line DL. In addition, each of the source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n may receive a sensing signal for the pixel P through the sensing line SL and convert the sensing signal to generate pixel sensing data. there is. In addition, each of the source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n supplies a first voltage to the sensing line SL at one point in time and a first capacitor CCAL to the sensing line SL at another point in time. can be connected. In addition, each of the source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n may generate line sensing data by measuring the voltage of the sensing line SL at another point in time.

각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 데이터처리회로(950)와 각각 데이터를 주고 받을 수 있는데, 예를 들어, 각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 생성된 화소센싱데이터 및 라인센싱데이터를 센싱데이터(SENSE_DATA)로서 데이터처리회로로 전송할 수 있다. 그리고, 각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 데이터처리회로(950)로부터 데이터구동제어신호(DCS) 및 영상데이터(RGB)를 수신할 수 있다.Each source driver IC (920a, 920b, ..., 920n) can transmit and receive data to and from the data processing circuit 950, respectively. For example, each source driver IC (920a, 920b, ..., 920n) may transmit the generated pixel sensing data and line sensing data to the data processing circuit as sensing data SENSE_DATA. Also, each of the source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n may receive the data driving control signal DCS and the image data RGB from the data processing circuit 950.

각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 제1캐패시터(CCAL)와의 전하공유를 이용하여 각 센싱라인(SL)의 정전용량 특성값을 측정할 수 있다. 이때, 각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 하나의 제1캐패시터(CCAL)를 공유할 수 있다. 각 센싱라인(SL)의 정전용량 특성값은 수학식 4와 같이 제1캐패시터(CCAL)와의 전하 공유 관계식에 따라 계산될 수 있는데, 이때, 제1캐패시터(CCAL)의 정전용량에 오차가 있는 경우, 측정되는 정전용량 특성값에도 오차가 있을 수 있다.Each of the source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n may measure the capacitance characteristic value of each sensing line SL by using charge sharing with the first capacitor CCAL. In this case, each of the source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n may share one first capacitor CCAL. The capacitance characteristic value of each sensing line SL can be calculated according to the charge sharing relational expression with the first capacitor CCAL as shown in Equation 4. At this time, when there is an error in the capacitance of the first capacitor CCAL , there may be an error in the measured capacitance characteristic value.

한편, 각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)가 하나의 제1캐패시터(CCAL)를 공유하게 되는 경우, 제1캐패시터(CCAL)에 오차가 있더라도 각 센싱라인(SL)의 정전용량 특성값은 절대값에서 오차가 있을 수는 있어도 상대값에서는 편차가 발생하지 않게 된다. 따라서, 도 9와 같은 구조에서 표시장치(900)는 각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)가 블록 혹은 그룹을 나누어서 화소를 구동하거나 센싱하더라도 블럭딤(block dim)과 같은 문제는 발생하지 않게 된다.On the other hand, when each source driver IC (920a, 920b, ..., 920n) shares one first capacitor (CCAL), even if there is an error in the first capacitor (CCAL), each sensing line (SL) Although there may be an error in the absolute value of the capacitance characteristic value, no deviation occurs in the relative value. Therefore, in the structure shown in FIG. 9, the display device 900, even if each of the source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n divides blocks or groups to drive or sense pixels, the same as block dim. the problem won't happen.

각각의 소스드라이버IC(920a, 920b, ..., 920n)는 제1전압을 공급하는 제1전압원(V1S)과 제2전압을 공급하는 제2전압원(V2S)도 공유할 수 있다. 이를 통해, 표시장치(900)는 공급 전압의 차이에서 발생하는 블록별 센싱 오차도 제거할 수 있다.Each of the source driver ICs 920a, 920b, ..., 920n may also share a first voltage source V1S supplying a first voltage and a second voltage source V2S supplying a second voltage. Through this, the display device 900 can also remove a sensing error for each block that occurs due to a difference in supply voltage.

도 10은 데이터구동회로 및 센싱회로가 복수의 소스드라이버IC로 구현되는 실시예를 나타내는 제2예시 도면이다.10 is a second exemplary diagram illustrating an embodiment in which a data driving circuit and a sensing circuit are implemented with a plurality of source driver ICs.

도 10을 참조하면, 데이터구동회로 및 센싱회로는 복수의 소스드라이버IC(1020a, 1020b, ..., 1020n)로 구현될 수 있다.Referring to FIG. 10 , the data driving circuit and the sensing circuit may be implemented with a plurality of source driver ICs 1020a, 1020b, ..., 1020n.

각각의 소스드라이버IC(1020a, 1020b, ..., 1020n)는 패널(110) 내의 화소들을 블록 혹은 그룹별로 나누어서 구동하고 센싱할 수 있다. 화소 수가 많거나 패널(110)이 넓게 형성되는 경우, 이와 같이 복수의 소스드라이버(1020a, 1020b, ..., 1020n)가 블록 혹은 그룹별로 나누어서 화소들을 구동하거나 센싱할 수 있다.Each of the source driver ICs 1020a, 1020b, ..., 1020n may drive and sense the pixels in the panel 110 by dividing them into blocks or groups. When the number of pixels is large or the panel 110 is formed wide, the plurality of source drivers 1020a, 1020b, ..., 1020n may be divided into blocks or groups to drive or sense pixels.

각각의 소스드라이버IC(1020a, 1020b, ..., 1020n)는 데이터처리회로(1050)와 각각 데이터를 주고 받을 수 있는데, 예를 들어, 각각의 소스드라이버IC(1020a, 1020b, ..., 1020n)는 생성된 화소센싱데이터 및 라인센싱데이터를 센싱데이터(SENSE_DATA)로서 데이터처리회로로 전송할 수 있다. 그리고, 각각의 소스드라이버IC(1020a, 1020b, ..., 1020n)는 데이터처리회로(1050)로부터 데이터구동제어신호(DCS) 및 영상데이터(RGB)를 수신할 수 있다.Each source driver IC (1020a, 1020b, ..., 1020n) can send and receive data to and from the data processing circuit 1050, respectively. For example, each source driver IC (1020a, 1020b, ..., 1020n) may transmit the generated pixel sensing data and line sensing data to the data processing circuit as sensing data SENSE_DATA. Also, each of the source driver ICs 1020a, 1020b, ..., 1020n may receive the data driving control signal DCS and the image data RGB from the data processing circuit 1050.

각각의 소스드라이버IC(1020a, 1020b, ..., 1020n)는 제1전류원(ICAL)을 이용한 방전 현상에 따라 각 센싱라인(SL)의 정전용량 특성값을 측정할 수 있다. 이때, 각각의 소스드라이버IC(1020a, 1020b, ..., 1020n)는 하나의 제1전류원(ICAL)을 공유할 수 있다. 각 센싱라인(SL)의 정전용량 특성값은 수학식 6과 같이 제1전류원(ICAL)과의 방전 관계식에 따라 계산될 수 있는데, 이때, 제1전류원(ICAL)의 방전전류에 오차가 있는 경우, 측정되는 정전용량 특성값에도 오차가 있을 수 있다.Each of the source driver ICs 1020a, 1020b, ..., 1020n may measure a capacitance characteristic value of each sensing line SL according to a discharge phenomenon using the first current source ICAL. In this case, each of the source driver ICs 1020a, 1020b, ..., 1020n may share one first current source ICAL. The capacitance characteristic value of each sensing line SL can be calculated according to the discharge relational expression with the first current source ICAL as shown in Equation 6. At this time, when there is an error in the discharge current of the first current source ICAL , there may be an error in the measured capacitance characteristic value.

한편, 각각의 소스드라이버IC(1020a, 1020b, ..., 1020n)가 하나의 제1전류원(ICAL)을 공유하게 되는 경우, 제1전류원(ICAL)에 오차가 있더라도 각 센싱라인(SL)의 정전용량 특성값은 절대값에서 오차가 있을 수는 있어도 상대값에서는 편차가 발생하지 않게 된다. 따라서, 도 10과 같은 구조에서 표시장치(1000)는 각각의 소스드라이버IC(1020a, 1020b, ..., 1020n)가 블록 혹은 그룹을 나누어서 화소를 구동하거나 센싱하더라도 블럭딤(block dim)과 같은 문제는 발생하지 않게 된다.Meanwhile, when each source driver IC (1020a, 1020b, ..., 1020n) shares one first current source (ICAL), even if there is an error in the first current source (ICAL), each sensing line (SL) Although there may be an error in the absolute value of the capacitance characteristic value, no deviation occurs in the relative value. Therefore, in the structure shown in FIG. 10, the display device 1000 has the same block dim even if each of the source driver ICs 1020a, 1020b, ..., 1020n drives or senses pixels by dividing them into blocks or groups. the problem won't happen.

각각의 소스드라이버IC(1020a, 1020b, ..., 1020n)는 제1전압을 공급하는 제1전압원(V1S)도 공유할 수 있다. 이를 통해, 표시장치(1000)는 공급 전압의 차이에서 발생하는 블록별 센싱 오차도 제거할 수 있다.Each of the source driver ICs 1020a, 1020b, ..., 1020n may also share a first voltage source V1S supplying a first voltage. Through this, the display device 1000 can also remove a sensing error for each block that occurs due to a difference in supply voltage.

이상에서 설명한 실시예에 의하면, 센싱라인의 편차 혹은 센싱라인의 특성이 측정될 수 있다. 그리고, 이러한 실시예에 의하면, 센싱라인의 편차를 반영하여 화소에 대한 특성값을 계산할 수 있다. 그리고, 이러한 실시예에 의하면, 화소에 대한 특성 센싱의 정확도를 높이고 표시장치의 화질을 개선시킬 수 있다.According to the embodiment described above, the deviation of the sensing line or the characteristic of the sensing line can be measured. And, according to this embodiment, it is possible to calculate a characteristic value for a pixel by reflecting the deviation of the sensing line. In addition, according to this embodiment, it is possible to increase the accuracy of feature sensing for pixels and improve the image quality of the display device.

이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재될 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥 상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Terms such as "comprise", "comprise" or "have" described above mean that the corresponding component may be inherent unless otherwise stated, and therefore do not exclude other components. It should be construed that it may further include other components. All terms, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which the present invention belongs, unless defined otherwise. Commonly used terms, such as terms defined in a dictionary, should be interpreted as consistent with the meaning in the context of the related art, and unless explicitly defined in the present invention, they are not interpreted in an ideal or excessively formal meaning.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description is merely an example of the technical idea of the present invention, and various modifications and variations can be made to those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical spirit of the present invention, but to explain, and the scope of the technical spirit of the present invention is not limited by these embodiments. The protection scope of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the equivalent range should be construed as being included in the scope of the present invention.

Claims (14)

복수의 화소가 배치되고 상기 화소와 각각 연결되는 복수의 센싱라인이 배치되는 패널에 대하여, 상기 화소의 특성을 센싱하는 센싱장치로서,
상기 각각의 센싱라인을 통해 상기 화소에 대한 센싱신호를 수신하고 상기 센싱신호를 변환하여 상기 화소에 대한 화소센싱데이터를 생성하는 센싱부; 및
제1시점에 상기 센싱라인에 제1전압이 공급되고 제2시점에 상기 센싱라인에 제1전류원 혹은 제1캐패시터가 연결되며 제3시점에 상기 센싱라인의 전압이 측정되도록 제어하는 제어부를 포함하고,
상기 센싱부는 상기 제3시점에 측정한 상기 센싱라인의 전압을 변환하여 상기 센싱라인의 정전용량 특성값에 대응되는 라인센싱데이터를 생성하는 센싱장치.
A sensing device for sensing characteristics of the pixels in a panel on which a plurality of pixels are disposed and a plurality of sensing lines connected to the pixels, respectively, are disposed,
a sensing unit configured to receive a sensing signal for the pixel through each of the sensing lines and convert the sensing signal to generate pixel sensing data for the pixel; and
A first voltage is supplied to the sensing line at a first time point, a first current source or a first capacitor is connected to the sensing line at a second time point, and a control unit for controlling the voltage of the sensing line to be measured at a third time point. ,
The sensing unit converts the voltage of the sensing line measured at the third point in time to generate line sensing data corresponding to a capacitance characteristic value of the sensing line.
제1항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 제1시점에서 상기 센싱라인에 제1전압원을 연결시키고, 상기 제2시점 이전에 상기 제1전압원에 대한 연결을 해제하는 센싱장치.
According to claim 1,
The control unit,
A sensing device that connects a first voltage source to the sensing line at the first time point, and disconnects the connection to the first voltage source before the second time point.
제2항에 있어서,
상기 제어부는,
제1스위치회로를 이용하여 상기 제1전압원과 상기 센싱라인의 연결을 제어하고, 제2스위치회로를 이용하여 상기 제1전류원 혹은 상기 제1캐패시터와 상기 센싱라인의 연결을 제어하는 센싱장치.
According to claim 2,
The control unit,
A sensing device for controlling a connection between the first voltage source and the sensing line using a first switch circuit and controlling a connection between the first current source or the first capacitor and the sensing line using a second switch circuit.
제1항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 제3시점에 상기 센싱부를 이용하여 상기 센싱라인의 전압을 측정하는 센싱장치.
According to claim 1,
The control unit,
A sensing device for measuring the voltage of the sensing line using the sensing unit at the third time point.
제4항에 있어서,
상기 화소센싱데이터 및 상기 라인센싱데이터는 데이터처리장치로 전송되어 각 화소의 특성값 계산에 사용되는 센싱장치.
According to claim 4,
The sensing device wherein the pixel sensing data and the line sensing data are transmitted to a data processing device and used to calculate a characteristic value of each pixel.
제1항에 있어서,
상기 제어부는,
미리 설정된 시간 동안만 상기 제1전류원을 상기 센싱라인으로 연결시키는 센싱장치.
According to claim 1,
The control unit,
A sensing device that connects the first current source to the sensing line only for a preset time.
제1항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 제2시점 이전에 해당되는 제4시점에서 상기 제1캐패시터에 제2전압이 공급되도록 제어하고, 상기 제2시점 이전에 상기 제2전압의 공급이 중단되도록 제어하는 센싱장치.
According to claim 1,
The control unit,
The sensing device controls supply of the second voltage to the first capacitor at a fourth time point before the second time point, and controls supply of the second voltage to be stopped before the second time point.
복수의 화소가 배치되고 상기 화소와 각각 연결되는 복수의 데이터라인 및 복수의 센싱라인이 배치되는 패널을 구동하는 장치에 있어서,
영상데이터를 데이터전압으로 변환하여 상기 데이터라인으로 공급하는 데이터구동회로;
상기 각각의 센싱라인을 통해 상기 화소에 대한 센싱신호를 수신하고, 상기 센싱신호를 변환하여 상기 화소에 대한 화소센싱데이터를 생성하며, 제1시점에서 상기 센싱라인에 제1전압을 공급하고 제2시점에서 상기 센싱라인에 제1전류원 혹은 제1캐패시터를 연결시키며 제3시점에서 상기 센싱라인의 전압을 측정하여 상기 센싱라인의 정전용량 특성값에 대응되는 라인센싱데이터를 생성하는 센싱회로; 및
상기 화소센싱데이터 및 상기 라인센싱데이터를 이용하여 상기 영상데이터를 보상처리하는 데이터처리회로
를 포함하는 패널구동장치.
An apparatus for driving a panel in which a plurality of pixels are disposed and a plurality of data lines and a plurality of sensing lines respectively connected to the pixels are disposed,
a data driving circuit that converts image data into data voltages and supplies them to the data lines;
Receiving a sensing signal for the pixel through each sensing line, converting the sensing signal to generate pixel sensing data for the pixel, supplying a first voltage to the sensing line at a first point in time, and supplying a second voltage to the sensing line. a sensing circuit connecting a first current source or a first capacitor to the sensing line at a point in time and measuring a voltage of the sensing line at a third point in time to generate line sensing data corresponding to a capacitance characteristic value of the sensing line; and
A data processing circuit for compensating the image data using the pixel sensing data and the line sensing data.
Panel driving device including a.
제8항에 있어서,
상기 데이터처리회로는,
상기 제1캐패시터의 정전용량과 연계된 값을 미리 저장하고 있고, 상기 제1캐패시터가 상기 센싱라인과 연결될 때 발생하는 전하공유(charge sharing) 현상에 따른 계산식에 따라 각 센싱라인의 정전용량에 대응되는 값을 계산하는 패널구동장치.
According to claim 8,
The data processing circuit,
A value associated with the capacitance of the first capacitor is stored in advance, and the capacitance of each sensing line is corresponded to according to a calculation formula based on a charge sharing phenomenon that occurs when the first capacitor is connected to the sensing line. Panel drive device that calculates the value to be
제9항에 있어서,
상기 전하공유 현상에 따른 계산식은 아래 수식을 따르는 패널구동장치.
Figure 112016075230367-pat00011

CSL: 센싱라인의 정전용량, CCAL: 제1캐패시터의 정전용량, Vx:제3시점에서 측정되는 센싱라인의 전압, V1: 제1전압, V2: 제2전압
According to claim 9,
The calculation formula according to the charge sharing phenomenon is a panel driving device according to the following formula.
Figure 112016075230367-pat00011

CSL: capacitance of the sensing line, CCAL: capacitance of the first capacitor, Vx: voltage of the sensing line measured at the third point, V1: first voltage, V2: second voltage
제8항에 있어서,
상기 데이터처리회로는,
상기 제1전류원에 의해 방전되는 전하량과 연계된 값을 미리 저장하고 있고, 상기 제1전류원이 상기 센싱라인과 연결될 때 발생하는 방전(discharge) 현상에 따른 계산식에 따라 각 센싱라인의 정전용량에 대응되는 값을 계산하는 패널구동장치.
According to claim 8,
The data processing circuit,
A value associated with the amount of charge discharged by the first current source is stored in advance, and the capacitance of each sensing line is corresponded to according to a calculation formula according to a discharge phenomenon that occurs when the first current source is connected to the sensing line. Panel drive device that calculates the value to be
제11항에 있어서,
상기 방전 현상에 따른 계산식은 아래 수식을 따르는 패널구동장치.
Figure 112016075230367-pat00012

CSL: 센싱라인의 정전용량, I1: 제1전류원의 방전전류, ΔT: 제1전류원의 방전시간, Vx: 제3시점에서 측정되는 센싱라인 전압, V1 : 제1전압
According to claim 11,
The calculation formula according to the discharge phenomenon is a panel drive device according to the following formula.
Figure 112016075230367-pat00012

CSL: capacitance of the sensing line, I1: discharge current of the first current source, ΔT: discharge time of the first current source, Vx: sensing line voltage measured at the third point, V1: first voltage
복수의 화소가 배치되고 상기 화소와 각각 연결되는 복수의 데이터라인 및 복수의 센싱라인이 배치되는 패널;
하나의 제1전류원 혹은 하나의 제1캐패시터; 및
영상데이터를 데이터전압으로 변환하여 상기 데이터라인으로 공급하고, 상기 각각의 센싱라인을 통해 상기 화소에 대한 센싱신호를 수신하고, 상기 센싱신호를 변환하여 상기 화소에 대한 화소센싱데이터를 생성하며, 일 시점에서 상기 센싱라인에 제1전압을 공급하고 다른 일 시점에서 상기 센싱라인에 상기 하나의 제1전류원 혹은 상기 하나의 제1캐패시터를 연결시키며 또 다른 일 시점에서 상기 센싱라인의 전압을 측정하여 상기 센싱라인의 정전용량 특성값에 대응되는 라인센싱데이터를 생성하는 복수의 소스드라이버IC(Integrated Circuit)
를 포함하는 표시장치.
a panel on which a plurality of pixels are disposed and a plurality of data lines and a plurality of sensing lines respectively connected to the pixels are disposed;
one first current source or one first capacitor; and
Converting image data into data voltages and supplying them to the data lines, receiving sensing signals for the pixels through the respective sensing lines, converting the sensing signals to generate pixel sensing data for the pixels, At one point in time, a first voltage is supplied to the sensing line, and at another point in time, the one first current source or the one first capacitor is connected to the sensing line, and at another point in time, the voltage of the sensing line is measured. Multiple source driver ICs (Integrated Circuit) that generate line sensing data corresponding to the capacitance characteristic value of the sensing line
A display device including a.
제13항에 있어서,
상기 제1전압을 공급하는 하나의 제1전압원을 더 포함하고,
상기 소스드라이버IC는,
상기 일 시점에서 상기 센싱라인과 상기 하나의 제1전압원을 연결시키는 표시장치.
According to claim 13,
Further comprising a first voltage source supplying the first voltage,
The source driver IC,
A display device connecting the sensing line and the one first voltage source at the point of time.
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