KR102553788B1 - Microscope system for quantifying birefringence of sample - Google Patents

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Abstract

본 발명의 일 실시 예에 따른 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템은, 시료의 광학적 이방성에 대한 정량적 정보를 제공하는 현미경 시스템에 있어서, 광을 방출하는 광원부; 상기 광원부에서 방출된 광의 편광 형태를 변조하는 편광 변조부; 상기 편광 변조부에 의해 변조된 광이 시료에 조사되고 상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 방향에 따라 구분하여 검출하는 편광 취득부; 및 상기 편광 취득부가 검출한 광을 통해 상기 시료의 광학적 이방성에 대한 정량적 정보를 가시화하는 영상을 생성하는 영상 생성부를 포함한다. A microscope system for quantifying the optical anisotropy of a sample according to an embodiment of the present invention is a microscope system for providing quantitative information on the optical anisotropy of a sample, comprising: a light source unit emitting light; a polarization modulator for modulating a polarization form of light emitted from the light source unit; a polarization acquiring unit configured to detect the light modulated by the polarization modulating unit by irradiating the sample and classifying the light reflected or transmitted from the sample according to a polarization direction; and an image generating unit generating an image visualizing quantitative information about the optical anisotropy of the sample through the light detected by the polarization acquisition unit.

Description

시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템{MICROSCOPE SYSTEM FOR QUANTIFYING BIREFRINGENCE OF SAMPLE}Microscope system for quantifying the optical anisotropy of a sample {MICROSCOPE SYSTEM FOR QUANTIFYING BIREFRINGENCE OF SAMPLE}

본 발명은 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 일정한 편광 상태로 변조된 광을 시료에 조사하고 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 축에 따라 분리 취득한 상을 연산함으로써 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템에 관한 것이다. The present invention relates to a microscope system for quantifying the optical anisotropy of a sample, and more particularly, by irradiating a sample with light modulated in a constant polarization state and calculating an image obtained by separating light reflected or transmitted from the sample along a polarization axis. It relates to a microscope system for quantifying the optical anisotropy of a sample.

산술 현미경은 광학 수치 모델 기반 산술 연산 기법을 이용해 기존 현미경의 복잡한 광학계를 단순화하고, 시료의 광세기 정보뿐만 아니라 위상 정보 등 일반 현미경에서 제공할 수 없는 정보를 복원 및 제공하는 영상 기술이다. 대표적으로 미분 위상차(Differential phase-contrast) 영상 기술과 Fourier ptychography 기술이 있다. 미분 위상차 현미경은 2개 이상의 상보적인 광조사 패턴으로 취득한 여러 개의 광세기 영상을 이용하여 투명한 시료의 정량적인 위상 정보를 복원하는 영상 기술이고, Fourier ptychography 기술은 시료를 다양한 각도의 평면파로 조사하고, 취득된 영상을 Fourier 공간에서 중합하여 대면적, 고해상도 영상을 복원하는 기술이다.Arithmetic microscopy is an imaging technology that simplifies the complex optical system of existing microscopes by using an optical numerical model-based arithmetic operation technique, and restores and provides information that general microscopes cannot provide, such as light intensity information as well as phase information. Representatively, there are differential phase-contrast imaging technology and Fourier ptychography technology. Differential phase contrast microscopy is an imaging technique that restores quantitative phase information of a transparent sample using several light intensity images acquired with two or more complementary light irradiation patterns, and Fourier ptychography technology irradiates the sample with plane waves of various angles, It is a technique for restoring large-area, high-resolution images by superimposing acquired images in Fourier space.

복굴절은 광의 편광 상태에 따라 하나의 매질 안에서 굴절률이 상이해서 두 개의 굴절광으로 분리되는 현상으로 조사광이 광학적으로 이방성을 가지는 매질에 입사할 때 발생하게 된다. 반도체 소재, 복합소재, 생체 시료들이 광학적 이방성을 갖고 있다. Birefringence is a phenomenon in which the refractive index is different in one medium according to the polarization state of light and is separated into two refracted lights, which occurs when irradiation light is incident on a medium having optical anisotropy. Semiconductor materials, composite materials, and biological samples have optical anisotropy.

복합소재 및 반도체 소재의 내부 결정 구조의 기계적 특성, 생분해성, 생체 적합성 등을 결정하기 위해 결정 구조를 관찰하는데 광학적 이방성 특성에 대한 영상이 이용된다. 특히, 반도체 공정에 필요한 실리콘 웨이퍼와 EUV 마스크는 광학적 이방성 측정을 통해 조기에 결함을 찾고, 불필요한 공정이 최소화될 수 있다. Images of optical anisotropy are used to observe the crystal structure to determine the mechanical properties, biodegradability, and biocompatibility of the internal crystal structure of composite materials and semiconductor materials. In particular, silicon wafers and EUV masks required for semiconductor processes can find defects at an early stage through optical anisotropy measurement, and unnecessary processes can be minimized.

또한, 염색체, 근육 조직 및 미세 소관 등 생체 조직은 광학적 이방성을 가지고 있어서 광학적 이방성 특성 영상을 통해 그 내부 구조가 관찰 가능하다. 따라서, 생체 시료에 대한 광학적 이방성 특성 영상은 생물 및 의료 분야에서도 사용되고, 염색과 같은 전처리 과정이 필요 없다는 점에서 더욱 유용하다.In addition, since biological tissues such as chromosomes, muscle tissues, and microtubules have optical anisotropy, their internal structures can be observed through optical anisotropy characteristic images. Therefore, the optically anisotropic characteristic image of a biological sample is more useful in that it is used in biological and medical fields and does not require a preprocessing process such as staining.

광학적 이방성 측정 기술로는 편광 현미경과 간섭계 기반의 기술이 있다. 편광 현미경은 조사부와 측정부 사이에 편광판을 구비하여 편광판을 물리적으로 회전시키면서 영상을 취득하기 때문에 영상 수집의 안정성 및 반복성이 낮은 단점이 있다. 이를 해결하기 위해서는 고가의 Electric variable retarder 사용이 필요하지만, 전기적 장치이기 때문에 사용 조건에 따라 캘리브레이션이 요구된다. 간섭계 기반의 광학적 이방성 측정 기술은 간섭계를 사용하기 때문에 복잡한 광학계 구성이 필요하고, 외란에 취약하다는 단점이 있다. Optical anisotropy measurement techniques include polarization microscopy and interferometry-based techniques. The polarization microscope has a disadvantage in that stability and repeatability of image collection are low because a polarizing plate is provided between the irradiation unit and the measurement unit to acquire images while physically rotating the polarizing plate. To solve this problem, it is necessary to use an expensive electric variable retarder, but since it is an electric device, calibration is required according to the conditions of use. Since interferometry-based optical anisotropy measurement technology uses an interferometer, it requires a complicated optical system configuration and is vulnerable to disturbance.

본 발명은 시료에 조사되는 광의 편광을 변조하고 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 축에 따라 분리한 영상을 취득하고, 취득한 영상을 수치 모델 기반 알고리즘으로 연산함으로써 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템을 제공한다. The present invention is a microscope system that quantifies the optical anisotropy of a sample by modulating the polarization of light irradiated onto a sample, obtaining an image obtained by separating light reflected or transmitted from the sample along a polarization axis, and calculating the obtained image with a numerical model-based algorithm. provides

본 발명의 일 실시 예에 따른 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템은, 시료의 광학적 이방성에 대한 정량적 정보를 제공하는 현미경 시스템에 있어서, 광을 방출하는 광원부; 상기 광원부에서 방출된 광의 편광 형태를 변조하는 편광 변조부; 상기 편광 변조부에 의해 변조된 광이 시료에 조사되고 상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 방향에 따라 구분하여 검출하는 편광 취득부; 및 상기 편광 취득부가 검출한 광을 통해 상기 시료의 광학적 이방성에 대한 정량적 정보를 가시화하는 영상을 생성하는 영상 생성부를 포함한다. A microscope system for quantifying the optical anisotropy of a sample according to an embodiment of the present invention is a microscope system for providing quantitative information on the optical anisotropy of a sample, comprising: a light source unit emitting light; a polarization modulator for modulating a polarization form of light emitted from the light source unit; a polarization acquiring unit configured to detect the light modulated by the polarization modulating unit by irradiating the sample and classifying the light reflected or transmitted from the sample according to a polarization direction; and an image generating unit generating an image visualizing quantitative information about the optical anisotropy of the sample through the light detected by the polarization acquisition unit.

또한, 상기 시료의 광학적 이방성은, 상기 시료의 광축 방향 및 위상 지연값을 포함한다. 이 때 상기 시료의 광축 방향 및 위상 지연값은 하기의 식을 통해 산출될 수 있다.

Figure 112023012375917-pat00023

(여기에서,
Figure 112023012375917-pat00024
,
Ix : X 편광 축의 방향으로 분리된 광세기 영상, θ : 광축방향, δ : 위상지연)In addition, the optical anisotropy of the sample includes an optical axis direction and a phase retardation value of the sample. At this time, the optical axis direction and phase retardation value of the sample may be calculated through the following equation.
Figure 112023012375917-pat00023

(From here,
Figure 112023012375917-pat00024
,
I x : optical intensity image separated in the direction of the X polarization axis, θ: optical axis direction, δ: phase retardation)

또한, 상기 광원부는 LED 어레이 또는 레이저를 포함한다. In addition, the light source unit includes an LED array or a laser.

또한, 상기 편광 취득부는, 복수의 집광 렌즈 및 상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 방향에 따라 구분하고 구분된 광의 각각의 세기를 검출하는 편광 카메라를 포함한다. In addition, the polarization acquisition unit includes a plurality of condensing lenses and a polarization camera configured to classify light reflected or transmitted from the sample according to a polarization direction and to detect respective intensities of the divided light.

또한, 상기 편광 취득부는, 복수의 집광 렌즈, 상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 일정한 각도로 이격시켜 분리하는 월라스톤 프리즘 및 상기 분리된 직교하는 편광 방향에 따른 광을 검출하는 이미지 센서를 포함하는 카메라를 포함한다. In addition, the polarization acquisition unit detects a plurality of condensing lenses, a Wollaston prism that separates the light reflected or transmitted from the sample at a predetermined angle according to orthogonal polarization directions, and the separated light according to orthogonal polarization directions. It includes a camera including an image sensor for

또한, 상기 편광 취득부는, 상기 복수의 집광 렌즈 사이에 위치하는 필드 스톱을 더 포함한다. In addition, the polarization acquisition unit further includes a field stop positioned between the plurality of condensing lenses.

또한, 상기 편광 취득부는, 복수의 집광 렌즈, 상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 반사 또는 투과시키는 편광 빔 스플리터, 상기 편광 빔 스플리터에서 반사된 제1 광을 검출하는 제1 카메라, 및 상기 편광 빔 스플리터를 투과한 제2 광을 검출하는 제2 카메라를 포함한다. In addition, the polarization acquisition unit may include a plurality of condensing lenses, a polarization beam splitter that reflects or transmits light reflected or transmitted from the sample according to orthogonal polarization directions, and a first unit that detects the first light reflected from the polarization beam splitter. It includes a camera, and a second camera that detects the second light transmitted through the polarization beam splitter.

본 발명에 따른 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템은, 간단한 구조를 갖는 광학계를 이용하여 시료를 반사 또는 투과한 광의 상을 얻고, 상기 상의 광 세기를 수치 모델 알고리즘으로 산술 처리함으로써 광학적 이방성을 정량화한 영상을 얻을 수 있다. The microscope system for quantifying the optical anisotropy of a sample according to the present invention obtains an image of light reflected or transmitted through a sample using an optical system having a simple structure, and quantifies the optical anisotropy by arithmetically processing the light intensity of the image with a numerical model algorithm. You can get one video.

본 발명에서 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다. The effects obtainable in the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the description below. will be.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템의 개략적인 구성도이다.
도 2a는 본 발명의 일 실시 예에 따른 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템의 편광 취득부의 일 예이다.
도 2b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템의 편광 취득부의 다른 예이다.
도 2c는 본 발명의 일 실시 예에 따른 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템의 편광 취득부의 또 다른 예이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따라 시료의 광학적 이방성의 정량적 정보를 가시화한 것을 도시한다.
1 is a schematic configuration diagram of a microscope system for quantifying optical anisotropy of a sample according to an embodiment of the present invention.
2A is an example of a polarization acquisition unit of a microscope system for quantifying optical anisotropy of a sample according to an embodiment of the present invention.
2B is another example of a polarization acquisition unit of a microscope system for quantifying optical anisotropy of a sample according to an embodiment of the present invention.
2C is another example of a polarization acquisition unit of a microscope system for quantifying optical anisotropy of a sample according to an embodiment of the present invention.
3 illustrates visualization of quantitative information of optical anisotropy of a sample according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예들을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 명세서 사용되는 용어들은 본 발명의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 하여 내려져야 할 것이다.The terms used in this specification are terms defined in consideration of the functions of the present invention, and may vary according to the intention or custom of a user or operator. Therefore, definitions of these terms should be made based on the contents throughout this specification.

아울러, 아래에 개시된 실시 예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것이 아니라 본 발명의 청구범위에 제시된 구성요소의 예시적인 사항에 불과하며, 본 발명의 명세서 전반에 걸친 기술사상에 포함되고 청구범위의 구성요소에서 균등물로서 치환 가능한 구성요소를 포함하는 실시 예는 본 발명의 권리범위에 포함될 수 있다.In addition, the embodiments disclosed below do not limit the scope of the present invention, but are merely exemplary of the components presented in the claims of the present invention, are included in the technical spirit throughout the specification of the present invention, and cover the scope of the claims. Embodiments including components that can be replaced as equivalents in components may be included in the scope of the present invention.

그리고 아래에 개시된 실시 예에서의 “제1”, “제2”, “일면”, “타면” 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위해 사용되는 것으로서, 구성요소가 상기 용어들에 의해 제한되는 것은 아니다. 이하, 본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명의 요지를 흐릴 수 있는 공지 기술에 대한 상세한 설명은 생략한다.In the embodiments disclosed below, terms such as "first", "second", "one surface", and "other surface" are used to distinguish one component from another component, and the component is the term are not limited by Hereinafter, in describing the present invention, detailed descriptions of known technologies that may obscure the gist of the present invention will be omitted.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템의 개략적인 구성도이다.1 is a schematic configuration diagram of a microscope system for quantifying optical anisotropy of a sample according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템(1000)은 광원부(100), 편광 변조부(200), 편광 취득부(300), 및 영상 생성부(400)를 포함한다.Referring to FIG. 1 , a microscope system 1000 for quantifying the optical anisotropy of a sample according to an embodiment of the present invention includes a light source unit 100, a polarization modulator 200, a polarization acquisition unit 300, and an image generator. (400).

광원부(100)는 시료로 광을 방출하며, LED 또는 레이저 등의 광원을 이용될 수 있다. 예를 들어, 광원부(100)는 광원으로 LED 어레이를 이용하며, LED 어레이는 매트릭스 구조의 일정한 피치로 발광 다이오드가 배열되는 것이다.The light source unit 100 emits light to the sample, and a light source such as LED or laser may be used. For example, the light source unit 100 uses an LED array as a light source, and in the LED array, light emitting diodes are arranged at a constant pitch in a matrix structure.

편광 변조부(200)는 광원부(100)에서 방출된 광을 일정한 편광 형태로 변조한다. 광원부(100)에서 방출된 광은 전기장의 진동이 일정한 방향성이 없는 무편광된 광 또는 일정한 편광 형태를 가질 수 있다. 본 발명은, 미리 의도하는 일정한 방향성으로 편광된 조사광을 시료에 조사하고, 시료를 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 검출하여 시료의 특성이 반영된 검출광의 전달 함수를 조사광의 전달 함수와 수치적으로 대비함으로써 시료의 광학적 이방성 특성을 추출하게 된다. 따라서, 편광 변조부(200)는, 영상 생성부(400)가 광학적 이방성을 추출하는데 이용하는 산술 식의 간편화를 위해 미리 의도된 편광 형태로 광원부(100)에서 방출된 광을 변조하게 된다. 일 실시 예에 의하면, 편광 변조부(200)은 원 편광된, 특히 좌원 편광된 광이 시료에 조사되도록 방출 광을 변조한다. 편광 변조부(200)은 광원부에서 방출된 광의 편광 상태에 따라 의도하는 편광 형태로 변조하기 위해 광학 기구들의 다양한 조합이 가능하다. The polarization modulator 200 modulates the light emitted from the light source 100 into a constant polarization. The light emitted from the light source unit 100 may have a non-polarized light or a constant polarization form in which the oscillation of the electric field does not have a constant direction. In the present invention, irradiation light polarized in a predetermined direction is irradiated to a sample, and light reflected or transmitted through the sample is detected according to an orthogonal polarization direction, and the transfer function of the detection light reflecting the characteristics of the sample is a transfer function of the irradiation light. By comparing numerically with , the optical anisotropy characteristics of the sample are extracted. Accordingly, the polarization modulator 200 modulates the light emitted from the light source unit 100 in a pre-intended polarization form to simplify an arithmetic expression used by the image generator 400 to extract the optical anisotropy. According to an embodiment, the polarization modulator 200 modulates emission light such that circularly polarized light, particularly left circularly polarized light, is irradiated onto the sample. The polarization modulator 200 may use various combinations of optical instruments to modulate the light emitted from the light source into a desired polarization shape according to the polarization state.

편광 변조부(200)는, 일 예로 광원부의 광원이 레이저인 경우, 일정한 편광 형태를 원편광으로 변조하기 위한 웨이브 플레이트(wave plate) 또는 지연자(retarder)를 포함하거나 공간 광 변조기(SLM: Spatial Light Modulator)를 포함할 수 있다. For example, when the light source of the light source unit is a laser, the polarization modulator 200 includes a wave plate or a retarder for modulating a constant polarization into circular polarization, or a spatial light modulator (SLM). Light Modulator).

또한, 편광 변조부(200)은 다른 예로 광원부의 광원이 무편광된 광을 방출하는 경우, 무편광된 광을 원편광으로 변조하기 위해 선형 편광기와 웨이브 플레이트 또는 지연자를 포함하거나, 원형 편광기를 포함할 수 있다.In addition, the polarization modulator 200 includes a linear polarizer and a wave plate or a retarder or a circular polarizer to modulate the unpolarized light into circularly polarized light, as another example, when the light source of the light source unit emits unpolarized light. can do.

편광 취득부(300)는 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 방향에 따라 구분하여 검출하고 편광 방향에 따라 분리된 광의 세기를 전기적 신호로 전환하여 영상 생성부에 전달한다. 의도하는 일정한 편광 형태를 가진 조사광이 시료에 조사되고 시료에서 반사 또는 투과된 광은 시료의 광학적 이방성에 의해 조사광이 가진 편광 형태가 유지되지 않고 변화하게 된다. 일 실시 예에서, 원편광된 광이 시료에 조사되고 시료를 반사 또는 투과하는 과정에서 시료의 광학적 이방성이 반영된 반사광 또는 투과광은 타원 편광된 광일 수 있다. 편광 취득부(300)는 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 방향에 따라 분리하는 광학 기구 또는 직교하는 편광 방향에 따라 각각 분리된 광의 세기를 전기적 신호로 검출하는 이미지 센서를 포함한 카메라를 포함할 수 있다. The polarization acquisition unit 300 classifies and detects the light reflected or transmitted from the sample according to the polarization direction, converts the intensity of the separated light according to the polarization direction into an electrical signal, and transmits it to the image generator. Irradiation light having a certain intended polarization form is irradiated onto the sample, and the polarization form of the irradiation light is not maintained and the light reflected or transmitted from the sample is changed due to the optical anisotropy of the sample. In an embodiment, in a process in which circularly polarized light is irradiated onto a sample and reflected or transmitted through the sample, reflected light or transmitted light in which optical anisotropy of the sample is reflected may be elliptically polarized light. The polarization acquisition unit 300 may include an optical device that separates the light reflected or transmitted from the sample according to the polarization direction or a camera including an image sensor that detects the intensity of each separated light according to the orthogonal polarization direction as an electrical signal. there is.

도 2a 내지 2c는 본 발명의 일 실시 예에 따른 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템의 편광 취득부의 일 예, 다른 예 및 또 다른 예를 도시한다. 2a to 2c illustrate one example, another example, and another example of a polarization acquisition unit of a microscope system for quantifying optical anisotropy of a sample according to an embodiment of the present invention.

도 2a를 참조하면, 일 예에서, 편광 취득부(300)는 복수의 집광 렌즈 및 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 방향에 따라 구분하고 구분된 광의 세기를 검출하는 편광 카메라(321)를 포함한다. 편광 취득부(300)는 시료(10)을 통과한 광을 평행광으로 변조하는 제1 렌즈(311) 및 평행광이 편광 카메라(321)에 감광되도록 집광하는 제2 렌즈(312)를 포함하는 복수의 집광렌즈를 포함한다. 편광 카메라(321)은 감광된 광을 0 도, 45 도, 90도, 및 135도 축의 편광 방향의 성분에 따른 세기로 각각 분류하여 검출하고 광세기 영상을 복원한다. 도 2b를 참조하면, 다른 예에서, 편광 취득부(300)는, 복수의 집광 렌즈, 시료에서 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 일정한 각도로 이격시켜 분리하는 월라스톤 프리즘(Wollaston prism)(322), 및 분리된 직교하는 편광 방향에 따른 광을 검출하는 이미지 센서를 포함하는 카메라(332)를 포함한다. Referring to FIG. 2A , in one example, the polarization acquisition unit 300 includes a plurality of condensing lenses and a polarization camera 321 that classifies light reflected or transmitted from a sample according to a polarization direction and detects the intensity of the divided light. do. The polarization acquisition unit 300 includes a first lens 311 that modulates the light passing through the sample 10 into parallel light and a second lens 312 that condenses the parallel light so that the polarization camera 321 is sensitive to it. It includes a plurality of condensing lenses. The polarization camera 321 classifies and detects the sensitized light into intensities according to components of the polarization directions of the 0 degree, 45 degree, 90 degree, and 135 degree axes, respectively, and restores the light intensity image. Referring to FIG. 2B , in another example, the polarization acquisition unit 300 includes a plurality of condensing lenses and a Wollaston prism that separates light reflected or transmitted from a sample at a predetermined angle along orthogonal polarization directions. ) 322, and a camera 332 including an image sensor for detecting light along separated orthogonal polarization directions.

편광 취득부(300)는 시료(10)을 통과한 광을 평행광으로 변조하는 제1 렌즈(311) 및 월라스톤 프리즘(322)에 의해 편광 방향에 따라 분리된 광이 각각 카메라(332)의 이미지 센서에 감광되도록 집광하는 제2 렌즈(312)를 포함하는 복수의 집광렌즈를 포함한다. 월라스톤 프리즘(322)은 시료의 광학적 이방성 특성이 반영된 반사광 또는 투과광을 서로 직교하는 진동면을 갖는 두 선편광된 광으로 일정한 각도로 이격되게 분리한다. 월라스톤 프리즘(322)에 의해 분리된 광이 카메라(332)의 이미지 센서 내에 영역을 달리하여 동시에 감광됨으로써 시료를 반사 또는 투과한 광은 직교하는 편광 방향의 성분에 따른 세기로 각각 분류되어 검출된다. The polarization acquisition unit 300 converts the light separated according to the polarization direction by the first lens 311 and the Wollaston prism 322, which modulate the light passing through the sample 10 into parallel light, to the camera 332, respectively. It includes a plurality of condensing lenses including a second lens 312 condensing light to be sensitive to the image sensor. The Wollaston prism 322 separates the reflected light or transmitted light reflecting the optically anisotropic characteristics of the sample into two linearly polarized lights having vibration planes orthogonal to each other and spaced apart at a predetermined angle. The light separated by the Wollaston prism 322 is sensitized at the same time by varying the area within the image sensor of the camera 332, so that the light reflected or transmitted through the sample is classified into intensities according to components of orthogonal polarization directions and detected. .

본 예에서, 편광 취득부(300)는 제1 렌즈(311) 및 제2 렌즈(312) 이외에 제1 렌즈(311)와 월라스톤 프리즘(322) 사이에 배치되는 제3 렌즈(미도시)를 더 포함하고, 제1 렌즈(311) 및 제3 렌즈 사이에 위치하는 필드 스톱(field stop)(미도시)을 더 포함한다. 필드 스톱의 배치 위치 및 어퍼쳐 크기를 조절하여 이미지 센서 내로 월라스톤 프리즘에 의해 분리된 광이 감광되도록 하고 상기 분리된 광이 이미지 센서 내에서 겹치는 것을 방지한다. In this example, the polarization acquisition unit 300 includes a third lens (not shown) disposed between the first lens 311 and the Wollaston prism 322 in addition to the first lens 311 and the second lens 312 . It further includes, and a field stop (not shown) positioned between the first lens 311 and the third lens. The placement of the field stop and the aperture size are adjusted so that the light separated by the Wollaston prism is dimmed into the image sensor and the separated light is prevented from overlapping within the image sensor.

도 2c를 참조하면, 또 다른 예에서, 편광 취득부(300)는 복수의 집광 렌즈, 시료(10)에서 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 반사 또는 투과시키는 편광 빔 스플리터(PBS)(323), 편광 빔 스플리터(323)에서 반사된 제1 광을 검출하는 제1 카메라(333) 및 편광 빔 스플리터(323)를 투과한 제2 광을 검출하는 제2 카메라(334)를 포함한다.Referring to FIG. 2C , in another example, the polarization acquisition unit 300 includes a plurality of condensing lenses and a polarization beam splitter (PBS) that reflects or transmits light reflected or transmitted from the specimen 10 according to orthogonal polarization directions. 323, a first camera 333 for detecting the first light reflected by the polarization beam splitter 323 and a second camera 334 for detecting the second light transmitted through the polarization beam splitter 323. .

편광 취득부(300)는 시료(10)을 통과한 광을 평행광으로 변조하는 제1 렌즈(311) 및 평행광이 편광 빔 스프리터를 거쳐 이미지 센서에 감광되도록 이를 집광하는 제2 렌즈(312)를 포함하는 복수의 집광렌즈를 포함한다. 편광 빔 스플리터(323) 시료의 광학적 이방성 특성이 반영된 반사광 또는 투과광을 서로 직교하는 진동면을 갖는 두 선편광된 제1 광 및 제2 광으로 분리한다. 편광 빔 스플리터(323)에 의해 분리된 광은 서로 직교하는 방향으로 나아가므로 본 예에서는 분리된 광을 검출하는 두 대의 카메라가 필요하다. 제1 카메라 및 제2 카메라에 포함되는 각각의 이미지 센서에 의해 시료를 반사 또는 투과한 광은 직교하는 편광 방향의 성분에 따른 세기로 각각 검출된다. The polarization acquisition unit 300 includes a first lens 311 that modulates the light passing through the sample 10 into parallel light and a second lens 312 that collects the parallel light so that the image sensor is exposed to the parallel light through a polarization beam splitter. It includes a plurality of condensing lenses including a. The polarization beam splitter 323 separates the reflected light or the transmitted light reflecting the optically anisotropic characteristics of the sample into two linearly polarized first and second lights having vibration planes orthogonal to each other. Since the light split by the polarization beam splitter 323 travels in directions orthogonal to each other, two cameras are required to detect the split light in this example. Light reflected or transmitted through the sample by each image sensor included in the first camera and the second camera is detected as an intensity according to a component of an orthogonal polarization direction.

영상 생성부(400)는 편광 취득부(300)가 검출한 광을 통해 시료의 광학적 이방성에 대한 정량적 정보를 가시화하는 영상을 생성한다. 편광 취득부(300)는 편광 방향에 따라 분리된 광 각각의 세기를 전기적 신호로 변환하여 영상 생성부(400)로 전달하고, 이를 송신한 영상 생성부(400)는 기 저장된 수치 모델 기반 알고리즘에 의한 연산을 통해 시료의 정량적인 광학적 이방성 특성 정보를 추출한다. 여기서, 시료의 광학적 이방성은 시료의 광축 방향과 위상 지연값을 포함한다.The image generator 400 generates an image visualizing quantitative information about the optical anisotropy of the sample through the light detected by the polarization acquisition unit 300 . The polarization acquisition unit 300 converts the intensity of each light separated according to the polarization direction into an electrical signal and transmits it to the image generator 400, which is transmitted to the image generator 400 based on a pre-stored numerical model-based algorithm. The quantitative optical anisotropy property information of the sample is extracted through the operation of Here, the optical anisotropy of the sample includes an optical axis direction and a phase retardation value of the sample.

영상 생성부(400)는 편광 취득부(300)에서 전달한 전기적 신호를 연산 처리할 수 있는 컴퓨팅 장치일 수 있다.The image generator 400 may be a computing device capable of calculating and processing the electric signal transmitted from the polarization acquisition unit 300 .

영상 생성부(400)는 시료의 특성 또는 편광 취득부의 방식에 따라 각기 다른 수치 모델 기반 알고리즘을 이용할 수 있다. 예를 들어 다양한 각도로 광을 조사하고 취득한 광의 정보를 푸리에 공간에 중합해 대면적, 고해상도 광흡수 및 광위상 영상을 복원하는 FPM(Fourier Ptychographic Microscopy)와 조사광 패턴에 따른 PTF(Phase Transfer Function)을 이용해 고감도 광위상 영상을 복원하는 DPC(Differential Phase Contrast) 기반 QPI(Quantitative Phase Imaging)이 적용이 가능한 알고리즘이 있다.The image generator 400 may use different numerical model-based algorithms according to the characteristics of the sample or the method of the polarization acquisition unit. For example, FPM (Fourier Ptychographic Microscopy), which restores large-area, high-resolution light absorption and optical phase images by irradiating light at various angles and superimposing acquired light information into Fourier space, and PTF (Phase Transfer Function) according to the irradiated light pattern There is an algorithm that can be applied to DPC (Differential Phase Contrast)-based QPI (Quantitative Phase Imaging) that restores a high-sensitivity optical phase image using .

일 실시 예에서, 영상 생성부(400)는, 원평광된 광을 시료에 조사하고 시료를 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 분리하여 분리된 광의 각각의 광세기를 검출하는 경우, 즉, 도 2b 및 도 2c에 도시된 실시 예의 경우, 하기의 수학식들을 이용하여 시료의 광학적 이방성 정보, 즉, 시료의 광축 방향 및 위상 지연값을 정량적으로 추출할 수 있다. In one embodiment, when the image generator 400 irradiates circularly polarized light to a sample and separates light reflected or transmitted through the sample according to an orthogonal polarization direction to detect each light intensity of the separated light, That is, in the case of the embodiments shown in FIGS. 2B and 2C , the optical anisotropy information of the sample, that is, the optical axis direction and the phase delay value of the sample may be quantitatively extracted using the following equations.

원편광된 광을 시료에 조사하고 시료를 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 분리하여 얻은 분리된 광 각각의 전기장은 수학식 1과 같다.The electric field of each separated light obtained by irradiating a sample with circularly polarized light and separating the light reflected or transmitted through the sample according to the orthogonal polarization direction is as shown in Equation 1.

수학식 1Equation 1

Figure 112021007313034-pat00001
Figure 112021007313034-pat00001

여기서,

Figure 112021007313034-pat00002
,
Figure 112021007313034-pat00003
,
Figure 112021007313034-pat00004
, 및
Figure 112021007313034-pat00005
는 직교하는 편광 방향에 따라 분리된 광 각각의 전기장의 진폭 및 위상이고,
Figure 112021007313034-pat00006
는 광학적 이방성 시료를 모델링한 Jones 매트릭스이다. here,
Figure 112021007313034-pat00002
,
Figure 112021007313034-pat00003
,
Figure 112021007313034-pat00004
, and
Figure 112021007313034-pat00005
is the amplitude and phase of the electric field of each light separated along the orthogonal polarization direction,
Figure 112021007313034-pat00006
is the Jones matrix modeling the optically anisotropic sample.

시료의 광학적 이방성인 광축 방향 및 위상 지연을 추출하기 위해서는 상기 수학식 1은 Stokes 파라미터, 즉 수학식 2와 같이 변환된다.In order to extract the optical axis direction and phase retardation, which are the optical anisotropy of the sample, Equation 1 is converted to the Stokes parameter, that is, Equation 2.

수학식 2Equation 2

Figure 112021007313034-pat00007
Figure 112021007313034-pat00007

시료의 광축 방향(

Figure 112021007313034-pat00008
) 및 위상 지연(
Figure 112021007313034-pat00009
)의 공간적 분포는 수학식 3과 같이 추출된다. Optical axis direction of the sample (
Figure 112021007313034-pat00008
) and phase delay (
Figure 112021007313034-pat00009
) The spatial distribution of Equation 3 is extracted.

수학식 3Equation 3

Figure 112021007313034-pat00010
Figure 112021007313034-pat00010

상기에서는 Jones 매트릭스를 이용하여 시료의 정량적인 광학적 이방성 특성을 추출하는 것을 서술하였지만, 보다 많은 편광 방향에 따른 광세기 영상을 취득하고 뮬러 매트릭스(Mueller matrix)를 이용하여 연산하는 경우 이색성(dichroism)과 같이 추가적인 광학적 이방성 특성을 얻을 수 있다. Although the extraction of quantitative optical anisotropy characteristics of the sample using the Jones matrix has been described above, dichroism occurs when acquiring light intensity images according to more polarization directions and calculating them using the Mueller matrix Additional optical anisotropic properties can be obtained as

일 실시 예에서, 영상 생성부(400)는, 원평광된 광을 시료에 조사하고 시료를 반사 또는 투과한 광을 0도, 45도, 90도 및 135도 편광 축의 편광 방향에 따라 분리하여 분리된 광의 각각의 광세기를 검출하는 경우, 즉, 도 2a에 도시된 실시 예의 경우, 하기의 수학식들을 이용하여 시료의 광학적 이방성 정보, 즉, 시료의 광축 방향 및 위상 지연값을 정량적으로 추출할 수 있다.In one embodiment, the image generator 400 irradiates the sample with circularly polarized light and separates the light reflected or transmitted through the sample according to polarization directions of 0 degree, 45 degree, 90 degree and 135 degree polarization axes. In the case of detecting each light intensity of the detected light, that is, in the case of the embodiment shown in FIG. 2A, the optical anisotropy information of the sample, that is, the optical axis direction and phase delay value of the sample can be quantitatively extracted using the following equations. can

수학식 4Equation 4

Figure 112021007313034-pat00011
Figure 112021007313034-pat00011

수학식 4에서

Figure 112021007313034-pat00012
는 X 편광 축의 방향으로 분리된 광세기 영상이고,
Figure 112021007313034-pat00013
는 시료의 광축 방향이고,
Figure 112021007313034-pat00014
는 위상 지연이다. 시료의 광축 방향() 및 위상 지연(
Figure 112021007313034-pat00016
)은 수학식 5과 같이 얻을 수 있다. in Equation 4
Figure 112021007313034-pat00012
Is the optical intensity image separated in the direction of the X polarization axis,
Figure 112021007313034-pat00013
is the optical axis direction of the sample,
Figure 112021007313034-pat00014
is the phase delay. Optical axis direction of the sample ( ) and phase delay (
Figure 112021007313034-pat00016
) can be obtained as in Equation 5.

수학식 5Equation 5

Figure 112021007313034-pat00017
Figure 112021007313034-pat00017

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따라 시료의 광학적 이방성의 정량적 정보를 가시화한 것을 도시한다.3 illustrates visualization of quantitative information of optical anisotropy of a sample according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 도 3의 (a) 내지 (c)는 투명한 시료를 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 분리된 광 각각의 세기를 평균하여 이미지로 도시한 것이다. 도 3의 (d) 내지 (f)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 현미경 시스템으로 추출한 시료의 광학적 이방성, 즉 광축 방향과 위상 지연값을 2차원 맵의 형태로 제공한다. 여기서, 광축 방향은 색으로, 위상 지연값은 진하기로 혼합하여 도시된다. 이로써, 본 발명에 따른 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템에 의해 광학적 이방성을 가진 시료의 특성을 정량화 하여 가시화할 수 있음을 확인할 수 있다. Referring to FIG. 3 , (a) to (c) of FIG. 3 are images obtained by averaging intensities of light separated according to orthogonal polarization directions of light reflected or transmitted through a transparent sample. 3 (d) to (f) provide the optical anisotropy, that is, the optical axis direction and phase retardation value of the sample extracted by the microscope system according to an embodiment of the present invention in the form of a two-dimensional map. Here, the optical axis direction is shown in color and the phase retardation value in dark. Accordingly, it can be confirmed that the characteristics of the sample having optical anisotropy can be quantified and visualized by the microscope system for quantifying the optical anisotropy of the sample according to the present invention.

도 3의 (a) 내지 (d)는 UAD(uric acid dihydrate)을 시료로 하고, 도 3의 (b) 내지 (e)는 UA(anhydrous uric acid)을 시료로 하고, 도 3의 (c) 내지 (f)는 UAD 및 UA의 혼합물을 시료로 한다. 3 (a) to (d) use UAD (uric acid dihydrate) as a sample, FIG. 3 (b) to (e) use UA (anhydrous uric acid) as a sample, and FIG. 3 (c) to (f) take a mixture of UAD and UA as a sample.

Claims (7)

시료의 광학적 이방성에 대한 정량적 정보를 제공하는 현미경 시스템에 있어서,
광을 방출하는 광원부;
상기 광원부에서 방출된 광의 편광 형태를 변조하는 편광 변조부;
상기 편광 변조부에 의해 변조된 광이 시료에 조사되고 상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 방향에 따라 구분하여 검출하는 편광 취득부; 및
상기 편광 취득부가 검출한 광을 통해 상기 시료의 광학적 이방성에 대한 정량적 정보를 가시화하는 영상을 생성하는 영상 생성부를 포함하며,
상기 시료의 광학적 이방성은, 상기 시료의 광축 방향 및 위상 지연값을 포함하고,
상기 시료의 광축 방향 및 위상 지연값은 하기의 식을 통해 산출되는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템.
Figure 112023012375917-pat00025

(여기에서,
Figure 112023012375917-pat00026
,
Ix : X 편광 축의 방향으로 분리된 광세기 영상, θ : 광축방향, δ : 위상지연)
In a microscope system that provides quantitative information on the optical anisotropy of a sample,
a light source unit that emits light;
a polarization modulator for modulating a polarization form of light emitted from the light source unit;
a polarization acquiring unit configured to detect the light modulated by the polarization modulating unit by irradiating the sample and classifying the light reflected or transmitted from the sample according to a polarization direction; and
And an image generator for generating an image visualizing quantitative information on the optical anisotropy of the sample through the light detected by the polarization acquisition unit,
The optical anisotropy of the sample includes an optical axis direction and a phase retardation value of the sample,
The optical axis direction and phase retardation value of the sample is calculated through the following equation, the microscope system for quantifying the optical anisotropy of the sample.
Figure 112023012375917-pat00025

(From here,
Figure 112023012375917-pat00026
,
I x : optical intensity image separated in the direction of the X polarization axis, θ: optical axis direction, δ: phase retardation)
삭제delete 청구항 1에 있어서,
상기 광원부는 LED 어레이 또는 레이저를 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템.
The method of claim 1,
A microscope system for quantifying the optical anisotropy of a sample, wherein the light source unit includes an LED array or a laser.
청구항 1에 있어서,
상기 편광 취득부는,
복수의 집광 렌즈 및 상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 편광 방향에 따라 구분하고 구분된 광의 각각의 세기를 검출하는 편광 카메라를 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템.
The method of claim 1,
The polarization acquisition unit,
A microscope system for quantifying optical anisotropy of a sample, comprising a plurality of condensing lenses and a polarization camera configured to classify light reflected or transmitted from the sample according to a polarization direction and detect respective intensities of the separated light.
청구항 1에 있어서,
상기 편광 취득부는,
복수의 집광 렌즈,
상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 일정한 각도로 이격시켜 분리하는 월라스톤 프리즘 및
상기 분리된 직교하는 편광 방향에 따른 광을 검출하는 이미지 센서를 포함하는 카메라를 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템.
The method of claim 1,
The polarization acquisition unit,
a plurality of condensing lenses;
A Wollaston prism that separates the light reflected or transmitted from the sample at a predetermined angle according to the orthogonal polarization direction, and
A microscope system for quantifying optical anisotropy of a sample, comprising a camera including an image sensor for detecting light along the separated orthogonal polarization direction.
청구항 5에 있어서,
상기 편광 취득부는,
상기 복수의 집광 렌즈 사이에 위치하는 필드 스톱을 더 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템.
The method of claim 5,
The polarization acquisition unit,
A microscope system for quantifying optical anisotropy of a sample, further comprising a field stop positioned between the plurality of condensing lenses.
청구항 1에 있어서,
상기 편광 취득부는,
복수의 집광 렌즈,
상기 시료에서 반사 또는 투과한 광을 직교하는 편광 방향에 따라 반사 또는 투과시키는 편광 빔 스플리터,
상기 편광 빔 스플리터에서 반사된 제1 광을 검출하는 제1 카메라, 및
상기 편광 빔 스플리터를 투과한 제2 광을 검출하는 제2 카메라를 포함하는, 시료의 광학적 이방성을 정량화하는 현미경 시스템.
The method of claim 1,
The polarization acquisition unit,
a plurality of condensing lenses;
A polarization beam splitter for reflecting or transmitting light reflected or transmitted from the sample according to orthogonal polarization directions;
A first camera for detecting the first light reflected by the polarization beam splitter, and
A microscope system for quantifying optical anisotropy of a sample, comprising a second camera for detecting second light transmitted through the polarization beam splitter.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009533160A (en) * 2006-04-13 2009-09-17 ズッカーマン,ラルフ Method and apparatus for noninvasive measurement of tissue function and metabolism by measuring steady state fluorescence anisotropy

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7061601B2 (en) * 1999-07-02 2006-06-13 Kla-Tencor Technologies Corporation System and method for double sided optical inspection of thin film disks or wafers
JP3425923B2 (en) * 2000-03-27 2003-07-14 Necエレクトロニクス株式会社 Evaluation method and evaluation device for anisotropic multilayer thin film structure
KR20080061196A (en) * 2006-12-28 2008-07-02 엘지전자 주식회사 Measuring apparatus and method for rubbing angle of liquid crystal alignment film
KR20170055661A (en) * 2015-11-12 2017-05-22 조선대학교산학협력단 Apparatus of real time imaging spectroscopic ellipsometry for large-area thin film measurements

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009533160A (en) * 2006-04-13 2009-09-17 ズッカーマン,ラルフ Method and apparatus for noninvasive measurement of tissue function and metabolism by measuring steady state fluorescence anisotropy

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Opt. Lett. 2021. 1. 15. Vol. 46, No. 2, pp. 392-395.*

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