KR102534751B1 - 삼차원 위치조절장치 및 이를 포함하는 비파괴 검사시스템 - Google Patents
삼차원 위치조절장치 및 이를 포함하는 비파괴 검사시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102534751B1 KR102534751B1 KR1020210132704A KR20210132704A KR102534751B1 KR 102534751 B1 KR102534751 B1 KR 102534751B1 KR 1020210132704 A KR1020210132704 A KR 1020210132704A KR 20210132704 A KR20210132704 A KR 20210132704A KR 102534751 B1 KR102534751 B1 KR 102534751B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- plate
- tilting
- elevating
- horizontal
- control unit
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/09—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being neutrons
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
- G01N2223/1016—X-ray
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/106—Different kinds of radiation or particles neutrons
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/316—Accessories, mechanical or electrical features collimators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3301—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts beam is modified for scan, e.g. moving collimator
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3303—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts object fixed; source and detector move
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3307—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts source and detector fixed; object moves
Abstract
본 발명은 삼차원 위치조절장치 및 이를 포함하는 비파괴 검사시스템에 관한 것이다.
이 중에서 삼차원 위치조절장치는 피사체에 이격하여 배치되는 승강 지지대와, 승강 지지대에 승강 가능하게 설치되는 승강 플레이트와, 승강 플레이트를 승강시키기 위한 구동력을 승강 플레이트에 제공하는 액츄에이터와, 분광기가 장착 가능한 거치공간을 제공하고 분광기의 자세가 조절되도록 승강 플레이트에 설치되는 틸팅 조절 유닛과, 틸팅 조절 유닛이 승강 플레이트에서 수평 이동이 가능하도록 틸팅 조절 유닛과 승강 플레이트 사이에 연결되는 수평 이동 어셈블리를 포함할 수 있다.
이 중에서 삼차원 위치조절장치는 피사체에 이격하여 배치되는 승강 지지대와, 승강 지지대에 승강 가능하게 설치되는 승강 플레이트와, 승강 플레이트를 승강시키기 위한 구동력을 승강 플레이트에 제공하는 액츄에이터와, 분광기가 장착 가능한 거치공간을 제공하고 분광기의 자세가 조절되도록 승강 플레이트에 설치되는 틸팅 조절 유닛과, 틸팅 조절 유닛이 승강 플레이트에서 수평 이동이 가능하도록 틸팅 조절 유닛과 승강 플레이트 사이에 연결되는 수평 이동 어셈블리를 포함할 수 있다.
Description
본 발명은 검출기의 삼차원 위치조절장치 및 이를 포함하는 비파괴 검사시스템에 대한 발명이다.
일반적으로 비파괴 검사는 제품을 파괴하지 않고도 제품 내부의 성질을 외부에서 검사하는 것을 가리킨다. 그리고 비파괴 검사 시스템은 비파괴 검사를 구현하는 장비들의 집합을 가리킨다.
이러한 비파괴 검사 시스템은 다양한 분야에 사용될 수 있다. 예를 들어, 종래에는 "중성자선 및 엑스선 검출 가능한 방사선 검출 장치 및 방법(등록특허 10-2025662)"에 대한 특허 문헌이 제안된 바 있다. X선만을 조사하는 경우에 검색대상물의 형태를 육안으로 볼 수 있으나, 검색대상물의 물질 정보에 대하여는 알 수 없고, 중성자선만을 조사하는 경우에 검색대상물의 물질 정보에 대하여 알 수 있으나, 검색대상물의 정확한 분별을 위한 해상도에 한계가 있기 때문이다.
그러나 종래 특허 문헌의 경우, 방사선 발생장치가 이송프레임으로부터 일정 거리 이격되어 설치되면, 방사선 발생장치에서 검색대상물까지의 X선의 조사 거리와 중성자선의 조사 거리가 서로 동일하므로, X선을 이용하여 검색대상물에 대한 정확한 형태를 분별하기 위한 해상도를 만족하는 동시에, 중성자선을 이용하여 검색대상물의 물질 정보를 정확하게 확득할 수 있는데 한계가 있다.
이에 피사체의 방사선에 대한 정확한 검출을 위해 피사체를 향한 검출 각도를 다양한 각도/방향으로 조절할 수 있는 기술이 요구되고 있다.
본 발명의 실시예들은 상기와 같은 배경에서 발명된 것으로서, 검출기의 삼차원 위치조절장치 및 이를 포함하는 비파괴 검사시스템을 제공하고자 한다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 피사체에 대한 분광기의 자세 조절을 위한 삼차원 위치조절장치로서, 상기 피사체에 이격하여 배치되는 승강 지지대; 상기 승강 지지대에 승강 가능하게 설치되는 승강 플레이트; 상기 승강 플레이트를 승강시키기 위한 구동력을 상기 승강 플레이트에 제공하는 액츄에이터; 상기 분광기가 장착 가능한 거치공간을 제공하고, 상기 분광기의 자세가 조절되도록 상기 승강 플레이트에 설치되는 틸팅 조절 유닛; 및 상기 틸팅 조절 유닛이 상기 승강 플레이트에서 수평 이동이 가능하도록 상기 틸팅 조절 유닛과 상기 승강 플레이트 사이에 연결되는 수평 이동 어셈블리를 포함하는 삼차원 위치조절장치가 제공될 수 있다.
이때, 본발명은 상기 액츄에이터의 구동력을 상기 승강 플레이트에 전달하기 위한 동력 연결 어셈블리를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 틸팅 조절 유닛은 지지 플레이트; 상기 지지 플레이트의 상측에 배치되는 분광기 하우징; 상기 분광기 하우징을 사이에 두도록 상치 위치 플레이트의 양측부에 이격 설치되고, 상기 분광기 하우징이 상기 지지 플레이트의 상하방향으로 틸팅 가능하도록 상기 분광기 하우징에 회전 가능하게 연결되는 수직 프레임; 상기 분광기 하우징을 틸팅시키기 위한 회전력을 상기 분광기 하우징에 제공하는 틸팅 모터; 및 상기 틸팅 모터의 회전력이 상기 분광기 하우징에 전달되도록 상기 틸팅 모터와 상기 분광기 하우징 사이를 구동 연결하는 틸팅 수단을 포함할 수 있다.
또한, 상기 수평 이동 어셈블리는 상기 틸팅 조절 유닛을 상기 승강 플레이트의 가로방향으로 안내하도록 상기 승강 플레이트에서 가로방향으로 연장 형성되는 제1 메인 가이드 레일; 상기 제1 메인 가이드 레일을 따라 이동시키기 위한 구동력을 상기 틸팅 조절 유닛에 제공하는 제1 수평 모터; 상기 틸팅 조절 유닛을 상기 승강 플레이트의 세로방향으로 안내하도록 상기 승강 플레이트에서 세로방향으로 연장 형성되는 제2 메인 가이드 레일; 및 상기 제2 메인 가이드 레일을 따라 이동시키기 위한 구동력을 상기 틸팅 조절 유닛에 제공하는 제2 수평 모터를 포함할 수 있다.
또한, 상기 동력 연결 어셈블리는 상기 승강 지지대에 나란하도록 상기 액츄에이터의 구동축에 연결되는 구동 샤프트; 상기 구동 샤프트를 회전 가능하게 지지하도록 상기 승강 지지대에 고정 설치되는 지지 브라켓; 및 상기 승강 플레이트의 측부에 설치되되, 상기 구동 샤프트의 회전 운동이 상기 승강 플레이트의 상하 운동으로 변환하도록 상기 구동 샤프트에 회전 결합되는 승강 블럭을 포함할 수 있다.
또한, 상기 틸팅 수단은 상기 분광기 하우징의 회전축에 나란하도록 상기 틸팅 모터의 구동축에 연결되는 틸팅 샤프트; 상기 틸팅 샤프트의 단부에 설치되는 틸팅 기어; 상기 분광기 하우징의 회전축에 장착되고, 상기 틸팅 기어에 맞물리도록 가장자리부에 톱니 기어가 형성되는 섹터 기어를 포함할 수 있다.
또한, 상기 수평 이동 어셈블리는 상기 제1 수평 모터의 구동축에 연결되는 제1 수평 샤프트; 상기 제1 수평 샤프트를 회전 가능하게 지지하도록 상기 승강 플레이트에 고정 설치되는 제1 수평 브라켓; 상기 제1 수평 샤프트에 회전 결합되는 제1 수평 블럭; 상기 틸팅 조절 유닛의 하부에서 상기 승강 플레이트에서 세로방향으로 연장 형성되는 제1 서브 가이드 레일; 및 상기 제1 메인 가이드 레일을 따라 슬라이딩 이동이 가능하도록 상기 제1 수평 블럭에 고정 설치되고, 상기 틸팅 조절 유닛이 상기 승강 플레이트에서 세로방향으로 이동될 때, 상기 제1 서브 가이드 레일을 상기 승강 플레이트의 세로방향으로 안내하는 제1 레일 블럭을 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 수평 이동 어셈블리는 상기 제2 수평 모터의 구동축에 연결되는 제2 수평 샤프트; 상기 제2 수평 샤프트를 회전 가능하게 지지하도록 상기 승강 플레이트에 고정 설치되는 제2 수평 브라켓; 상기 제2 수평 샤프트에 회전 결합되는 제2 수평 블럭; 상기 틸팅 조절 유닛의 하부에서 상기 승강 플레이트에서 가로방향으로 연장 형성되는 제2 서브 가이드 레일; 및 상기 제1 메인 가이드 레일을 따라 슬라이딩 이동이 가능하도록 상기 제2 수평 블럭에 고정 설치되고, 상기 틸팅 조절 유닛이 상기 승강 플레이트에서 가로방향으로 이동될 때, 상기 제2 서브 가이드 레일을 상기 승강 플레이트의 가로방향으로 안내하는 제2 레일 블럭을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 측면에 따르면, X선 및 중성자선 중 어느 하나의 방사선을 선택적으로 피사체를 향해 조사하는 방사선 발생장치; 상기 피사체를 투과한 상기 어느 하나의 방사선을 검출하기 위한 방사선 검출장치; 상기 피사체를 상기 방사선 발생장치로부터 가까워지거나 멀어지도록 이동시키는 피사체 이송장치; 및 상기 피사체에 대한 분광기의 자세를 조절을 위한 삼차원 위치조절장치를 포함하고, 상기 삼차원 위치조절장치는 상기 피사체에 이격하여 배치되는 승강 지지대; 상기 승강 지지대에 승강 가능하게 설치되는 승강 플레이트; 상기 승강 플레이트를 승강시키기 위한 구동력을 상기 승강 플레이트에 제공하는 액츄에이터; 상기 분광기가 장착되는 거치공간을 제공하고, 상기 분광기의 자세 조절을 위해 상기 승강 플레이트에 설치되는 틸팅 조절 유닛; 및 상기 틸팅 조절 유닛이 상기 승강 플레이트에서 수평 이동이 가능하도록 상기 틸팅 조절 유닛과 상기 승강 플레이트 사이에 연결되는 수평 이동 어셈블리를 포함하는 비파괴 검사시스템을 포함할 수 있다.
이때, 상기 피사체 이송장치는 상기 방사선 발생장치를 향해 연장 형성되는 이동 레일; 상기 피사체가 거치 되도록 상기 이동 레일에 설치되는 베이스 유닛; 상기 베이스 유닛을 상기 방사선 발생장치를 향해 슬라이딩 이동시키기 위한 제1 이동 유닛; 및 상기 베이스 유닛을 상기 이동 레일에서 승강시키기 위한 제2 이동 유닛을 포함할 수 있다.
또한, 상기 방사선 검출장치는 상기 피사체를 통과한 X선 및 중성자선을 검출하는 검출기; 상기 피사체 이송장치의 제1 이동 유닛에 고정 설치되는 고정 프레임; 상기 검출기를 승강시키기 위한 구동력을 제공하는 승강 모터; 및 상기 승강 모터와 상기 검출기 사이를 구동 연결하도록 상기 고정 프레임에 설치되어, 상기 승강 모터의 구동력을 상기 검출기에 전달하는 동력 분배 어셈블리를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 분광기(일 예로, 감마선 분광 검사기)를 피사체를 향해 다양한 각도/방향을 조절함으로써, 피사체에 대하여 3차원적으로 정확한 방사선(일 예로, 감마선)을 분광기를 통해 검출할 수 있다는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사시스템을 나타낸 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사시스템을 나타낸 측면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사시스템의 방사선 검출장치를 도시한 분해 사시도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출장치가 설치된 피사체 이송장치를 도시한 사시도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 피사체 이송장치의 베이스 유닛을 도시한 측면도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 피사체 이송장치의 이동 레일 및 제1 이동 유닛의 제1 이동 플레이트 사이의 결합 관계를 도시한 분해 사시도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사시스템의 삼차원 위치조절장치를 도시한 사시도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 삼차원 위치조절장치의 틸팅 조절 유닛과 수평 이동 어셈블리 간의 분해 사시도이다.
도 9 내지 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 수평 이동 어셈블리의 분해 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사시스템을 나타낸 측면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사시스템의 방사선 검출장치를 도시한 분해 사시도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출장치가 설치된 피사체 이송장치를 도시한 사시도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 피사체 이송장치의 베이스 유닛을 도시한 측면도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 피사체 이송장치의 이동 레일 및 제1 이동 유닛의 제1 이동 플레이트 사이의 결합 관계를 도시한 분해 사시도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사시스템의 삼차원 위치조절장치를 도시한 사시도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 삼차원 위치조절장치의 틸팅 조절 유닛과 수평 이동 어셈블리 간의 분해 사시도이다.
도 9 내지 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 수평 이동 어셈블리의 분해 사시도이다.
이하에서는 본 발명의 사상을 구현하기 위한 구체적인 실시예에 대하여 도면을 참조하여 상세히 설명하도록 한다.
아울러 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다.
또한, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 '연결', '지지', '접속', '공급', '전달', '접촉'된다고 언급된 때에는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결, 지지, 접속, 공급, 전달, 접촉될 수도 있지만 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
본 명세서에서 사용된 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로 본 발명을 한정하려는 의도로 사용된 것은 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함한다.
또한, 본 명세서에서 상측, 하측, 측면 등의 표현은 도면에 도시를 기준으로 설명한 것이며 해당 대상의 방향이 변경되면 다르게 표현될 수 있음을 미리 밝혀둔다. 마찬가지의 이유로 첨부 도면에 있어서 일부 구성요소는 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었으며, 각 구성요소의 크기는 실제 크기를 전적으로 반영하는 것이 아니다.
또한, 제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 해당 구성요소들은 이와 같은 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 이 용어들은 하나의 구성요소들을 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
명세서에서 사용되는 "포함하는"의 의미는 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소 및/또는 성분을 구체화하며, 다른 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소, 성분 및/또는 군의 존재나 부가를 제외시키는 것은 아니다.
이하, 도 1 내지 도 10을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 검출기의 삼차원 위치조절장치의 구체적인 구성에 대하여 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사시스템을 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사시스템을 나타낸 측면도이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출장치를 도시한 분해 사시도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사시스템(10)은, 방사선 발생장치(100), 방사선 검출장치(200), 피사체 이송장치(300), 삼차원 위치조절장치(400) 및 제어기(미도시)를 포함할 수 있다.
구체적으로, 방사선 발생장치(100)는 X선 및 중성자선을 발생시킬 수 있고, 발생된 X선 및 중성자선을 피사체를 향해 조사할 수 있다. 예컨대, 방사선 발생장치(100)는 전자총에서 발생된 전자빔을 전자 가속기에서 가속시키고, 가속된 전자빔을 타겟에 충돌시켜 타겟으로부터 X선과 중성자선을 발생시킨 후, 발생된 X선과 중성자선을 피사체를 향해 조사할 수 있다.
본 실시예에서, 방사선 발생장치(100)는 X선 및 중성자선을 피사체를 향해 조사하지만, 이에 한정되지는 아니하며, 방사선 발생장치(100)는 X선 만을 피사체를 향해 조사하거나, 중성자선 만을 피사체를 향해 조사하거나, 또는 X선 및 중성자선을 포함한 다양한 종류의 방사선을 피사체를 향해 조사할 수 있을 것이다.
방사선 검출장치(200)는 피사체가 수용된 베이스 유닛(320)을 사이에 두고 방사선 발생장치(100)와 대향되도록 배치될 수 있다. 방사선 검출장치(200)는 피사체 이송장치(300)에 의해 방사선 발생장치(100)로부터 가까워지거나 멀어지도록 이동될 수 있다.
방사선 검출장치(200)는 피사체를 투과한 X선 및 중성자선을 검출할 수 있다. 방사선 발생장치(100)에서 조사된 X선과 중성자선이 피사체에 투과되면, 방사선 검출장치(200)는 피사체를 투과한 X선을 검출하여 피사체의 외관 형태에 대한 정보를 획득할 수 있고, 피사체를 투과한 중성자선을 검출하여 피사체의 물질정보를 획득할 수 있다.
이러한 방사선 검출장치(200)는 검출기(210), 고정 프레임(220), 승강 모터 및 동력 분배 어셈블리(240)를 포함할 수 있다. 검출기(210)는 피사체를 통과한 X선 및 중성자선을 검출할 수 있는 검출 기기로 이해될 수 있다. 예를 들어, 검출기(210)는 X선을 검출할 수 있는 엑스레이 디텍터(Xray Detector)와, 중성자선을 검출할 수 있는 중성자 디턱터(Nutron Detector)를 포함할 수 있다. 이들 엑스레이 디텍터와 중성자 디턱터는, 검출기(210)의 상하방향으로 적층될 수 있다. 검출기(210)는 동력 분배 어셈블리(240)를 매개로 고정 프레임(220)의 상부에서 승강 가능하게 설치될 수 있다.
고정 프레임(220)은 제1 이동 유닛(330), 보다 자세하게는 제1 이동 유닛(330)을 통해 이동 레일(310) 상에 고정 설치될 수 있다. 고정 프레임(220)은 박스 형태로 제공될 수 있다. 고정 프레임(220)의 상부에는 동력 분배 어셈블리(240)가 설치될 수 있고, 고정 프레임(220)의 내부에는 승강 모터가 장착될 수 있다.
승강 모터는 검출기(210)를 승강시키기 위한 구동력을 검출기(210)에 제공할 수 있다. 승강 모터는 동력 분배 어셈블리(240)를 매개로 검출기(210)에 구동 연결될 수 있다. 승강 모터의 구동력(회전력)이 동력 분배 어셈블리(240)에 제공되면, 동력 분배 어셈블리(240)는 승강 모터의 구동력(회전력)을 검출기(210)를 승강시키기 위한 직선운동으로 변환하여 검출기(210)에 전달할 수 있다.
동력 분배 어셈블리(240)는 고정 프레임(220)의 상부와 검출기(210)의 하부 사이에 마련될 수 있다. 동력 분배 어셈블리(240)는 승강 모터와 검출기(210) 사이를 구동 연결함으로써, 승강 모터의 구동력을 검출기(210)에 전달할 수 있다. 이를 위해, 동력 분배 어셈블리(240)는 메인 샤프트(241), 서브 샤프트(242) 및 승강 샤프트(243)를 포함할 수 있다.
메인 샤프트(241)는 고정 프레임(220)의 상부 중심에서 고정 프레임(220)의 폭방향으로 연장되게 배치될 수 있다. 메인 샤프트(241)는 메인휠(244)을 통해 승강 모터의 구동기어와 맞물릴 수 있다. 메인 샤프트(241)의 메인휠(244)은 승강 모터의 작동시 구동기어에 의해 회전됨에 따라, 승강 모터로부터 구동력을 제공받을 수 있다.
메인 샤프트(241)의 단부는 서브 샤프트(242)에 구동 연결될 수 있다. 메인 샤프트(241)는 서브 샤프트(242)와 서로 교차되게 배치될 수 있다. 메인 샤프트(241)의 단부는 서브 샤프트(242)와 기어류를 매개로 구동되게 연결될 수 있다. 일 예로, 메인 샤프트(241)의 단부와 서브 샤프트(242)의 단부는, 베벨 기어를 통해 구동 연결될 수 있다.
서브 샤프트(242)는 메인 샤프트(241)로부터 구동력을 전달받도록 메인 샤프트(241)의 양단부에 수직하게 구동 연결될 수 있다. 서브 샤프트(242)는 검출기(210)의 길이방향으로 연장 형성될 수 있다. 서브 샤프트(242)는 고정 프레임(220)의 폭방향으로 이격 배치되는 복수 개로 제공될 수 있다. 복수 개의 서브 샤프트(242)는 메인 샤프트(241)로부터 구동력을 제공받아 승강 샤프트(243)에 전달할 수 있다. 예컨대, 서브 샤프트(242)의 일단은 메인 샤프트(241)의 단부에 구동 연결될 수 있고, 서브 샤프트(242)의 타단은 승강 샤프트(243)의 측부에 구동 연결될 수 있다.
승강 샤프트(243)는 고정 프레임(220)의 상부와 검출기(210)의 하부 사이에서 이격 배치되는 복수 개로 제공될 수 있다. 승강 샤프트(243)의 상단은 검출기(210)의 하부에 고정 설치될 수 있고, 승강 샤프트(243)의 하단은 고정 프레임(220)에 승강 가능하게 설치될 수 있다.
서브 샤프트(242)의 회전 운동을 검출기(210)의 상하 운동으로 변환시키기 위해, 승강 샤프트(243)의 측부와 서브 샤프트(242)의 단부는 기어 결합 방식으로 상호 구동 연결될 수 있다. 일 예로, 서브 샤프트(242)의 단부와 승강 샤프트(243)의 측부는 레크 앤 피니언 기어방식으로 구동 연결될 수 있다.
한편, 중성자선을 통해 피사체의 물질정보에 대한 정확한 정보를 검출하기 위해서, 피사체와 방사선 발생장치(100) 사이의 이격 거리는, 기 설정된 피사체와 방사선 발생장치(100) 간 이격 거리(평균 거리)보다 더 가깝게 위치되는 것이 바람직하다. 또한, X선을 통해 피사체의 형태정보에 대한 정확한 정보를 검출되기 위해서는, 피사체와 방사선 발생장치(100) 사이의 이격 거리는, 기 설정된 피사체와 방사선 발생장치(100) 간 이격 거리(평균 거리)보다 더 멀리 위치되는 것이 바람직하다. 이들 중성자선 및 X선을 통해 최적의 검출 조건을 동시에 만족하기 위해서, 피사체와 방사선 발생장치(100) 사이의 이격 거리는 피사체 이송장치(300)를 통해 적절하게 조절될 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 검출장치가 설치된 피사체 이송장치를 도시한 사시도이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 피사체 이송장치의 베이스 유닛을 도시한 측면도이며, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 피사체 이송장치의 이동 레일 및 제1 이동 유닛의 제1 이동 플레이트 사이의 결합 관계를 도시한 분해 사시도이다.
도 4 내지 도 6을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 피사체 이송장치(300)는, X선 및 중성자선을 조사하는 방사선 발생장치(100)로부터 가까워지거나 멀어지도록 피사체를 이동시킬 수 있다. 이러한 피사체 이송장치(300)는 이동 레일(310), 베이스 유닛(320), 제1 이동 유닛(330) 및 제2 이동 유닛(340)을 포함할 수 있다.
이동 레일(310)은 방사선 발생장치(100)를 향해 연장 형성될 수 있는 레일 형태로 제공될 수 있다. 예컨대, 이동 레일(310)은 방사선 발생장치(100)와 피사체 간 동일 연장 선상에 위치될 수 있다. 이 이동 레일(310)은 이동 플레이트(311)와, 이동 플레이트(311)의 상면에 고정 설치되는 이동 가이드(312)로 구성될 수 있다.
이동 레일(310)의 이동 플레이트(311)는 지면에 대하여 제1 이동 플레이트(331)를 지지하는 지지판일 수 있다. 이동 플레이트(311)의 상면에는 이동 가이드(312)가 장착될 수 있고, 이동 플레이트(311)의 하면에는 지면에 맞닿는 복수 개의 레그편이 구비될 수 있다. 복수 개의 레그편은 높이 조절이 가능함으로써, 이동 플레이트(311)의 수평을 유지할 수 있다.
이동 가이드(312)는 제1 이동 플레이트(331)의 이동 경로를 안내할 수 있는 레일 가이드 형태로 제공될 수 있다. 이동 가이드(312)는 이동 플레이트(311)의 길이방향으로 연장 형성되는 레일 형태로 제공될 수 있다. 이동 가이드(312)는 이동 플레이트(311)의 폭방향(Y방향)으로 이격 배치되는 복수 개로 제공될 수 있다.
베이스 유닛(320)은 피사체의 회전이 가능한 피사체의 거치 공간을 제공할 수 있다. 또한, 베이스 유닛(320)은 제1 이동 유닛(330)을 통해, 방사선 발생장치(100)로부터 가까워지거나 멀어지게 위치될 수 있다. 또한, 베이스 유닛(320)은 제1 이동 유닛(330)을 통해, 이동 레일(310)로부터 높이가 조절될 수 있다.
이러한 베이스 유닛(320)은 고정 플레이트(321), 베이스 플레이트(322), 링 기어(323), 회전 모터(324), 피사체 하우징(325) 및 클램프(326)를 포함할 수 있다.
고정 플레이트(321)는 베이스 플레이트(322), 링 기어(323) 및 회전 모터(324)를 지지할 수 있다. 예를 들어, 고정 플레이트(321)의 측부에는 제2 이동 유닛(340)이 연결될 수 있다. 고정 플레이트(321)의 하부에는 회전 모터(324)가 장착될 수 있다. 고정 플레이트(321)의 상부에는 베이스 플레이트(322) 및 링 기어(323)가 회전 가능하게 장착될 수 있다.
베이스 플레이트(322)는 고정 플레이트(321)의 상부에 회전 가능하게 설치될 수 있다. 베이스 플레이트(322)의 상면에는 피사체가 거치 가능한 거치 공간이 제공될 수 있다. 거치 공간에는 피사체 하우징(325)과, 피사체 하우징(325)을 고정하기 위한 클램프(326)가 마련될 수 있다.
링 기어(323)는 회전 모터(324)의 회전력을 베이스 플레이트(322)에 전달할 수 있는 기어류일 수 있다. 링 기어(323)는 레크 앤 피니언 기어방식을 통해 회전 모터(324)로부터 회전력을 제공받을 수 있다. 일 예로, 링 기어(323)는 베이스 플레이트(322)의 외경부를 두르는 고리 형태의 레크 기어일 수 있고, 링 기어(323)에 맞물리는 회전 모터(324)의 회전 기어(327)로는 피니언 기어가 사용될 수 있다.
회전 모터(324)는 회전 기어(327)를 통해, 베이스 플레이트(322)에 회전력을 제공할 수 있다. 회전 기어(327)는 링 기어(323)에 맞물리므로, 회전 모터(324)의 작동시, 회전 기어(327)의 회전력은 링 기어(323)를 통해 베이스 플레이트(322)에 전달될 수 있다.
피사체 하우징(325)은 피사체가 수용가능한 내부 공간을 제공할 수 있다. 피사체 하우징(325)은 X선 및 중성자선이 투과 가능한 재질로 구성될 수 있다. 피사체 하우징(325)은 클램프(326)를 통해, 베이스 플레이트(322)에 선택적으로 고정될 수 있다.
클램프(326)는 피사체 하우징(325)을 베이스 플레이트(322)의 상면에 고정하기 위한 락킹 기구로 이해될 수 있다. 클램프(326)는 피사체 하우징(325)의 원주방향으로 이격되는 복수 개로 제공되므로, 피사체 하우징(325)이 베이스 플레이트(322)의 상면에 장착될 때, 복수 개의 클램프(326)는 파사체 하우징의 가장자리부를 안정적으로 고정할 수 있다.
제1 이동 유닛(330)은 베이스 유닛(320)을 방사선 발생장치(100)를 향해 슬라이딩 이동시킬 수 있다. 이러한 제1 이동 유닛(330)은 제1 이동 플레이트(331), 제1 가이드 블럭(332), 제1 구동 모터(333) 및 제1 동력 전달 어셈블리(334)를 포함할 수 있다. 제1 이동 플레이트(331)는 베이스 유닛(320)이 설치 가능한 플레이트 형태로 제공될 수 있다. 제1 이동 플레이트(331)의 상면에는 베이스 유닛(320)이 설치될 수 있다. 제1 이동 플레이트(331)의 하부에는 복수 개의 제1 가이드 블럭(332)이 설치될 수 있다.
제1 가이드 블럭(332)은 이동 레일(310)을 따라 슬라이딩 이동이 가능한 레일 구조를 제공할 수 있다. 제1 가이드 블럭(332)은 이동 레일(310)의 이동 가이드(312)가 매칭되는 위치에 배치될 수 있다. 제1 가이드 블럭(332)은 이동 레일(310)의 이동 가이드(312)를 따라 길이방향을 이격 배치되는 복수 개로 제공될 수 있다. 각각의 제1 가이드 블럭(332)의 상부에는 제1 이동 플레이트(331)가 고정 설치될 수 있다. 각각의 제1 가이드 블럭(332)의 하부는 이동 가이드(312)를 따라 슬라이딩 이동이 가능하도록 이동 레일(310)의 상부에 안착될 수 있다.
제1 구동 모터(333)는 제1 이동 플레이트(331)를 이동시키기 위한 구동력을 제1 이동 플레이트(331)에 제공할 수 있다. 보다 자세하게, 제1 구동 모터(333)는 제1 동력 전달 어셈블리(334)를 통해 제1 이동 플레이트(331)에 구동 연결될 수 있다. 이 제1 구동 모터(333)의 구동축은 제1 동력 전달 어셈블리(334)의 제1 회전 샤프트(334a)와 구동 연결될 수 있다. 제1 구동 모터(333)의 구동축은 제1 동력 전달 어셈블리(334)의 제1 회전 샤프트(334a)와 동일 연장 선상에 위치되어 연결될 수 있다.
제1 동력 전달 어셈블리(334)는 제1 구동 모터(333)와 제1 이동 플레이트(331) 사이를 구동 연결하도록 이동 레일(310)에 설치될 수 있다. 제1 구동 모터(333)의 구동력을 제1 이동 플레이트(331)에 전달하기 위해, 제1 동력 전달 어셈블리(334)는 제1 회전 샤프트(334a), 제1 베어링 브라켓(334b) 및 제1 이동 블럭(334c)을 포함하여 구성될 수 있다.
제1 회전 샤프트(334a)는 제1 구동 모터(333)의 구동축 단부에 구동 연결될 수 있다. 제1 회전 샤프트(334a)는 이동 레일(310)에 나란하도록 이동 레일(310)에 설치될 수 있다. 제1 회전 샤프트(334a)는 제1 베어링 브라켓(334b)을 통해 회전 가능하게 지지될 수 있다.
제1 베어링 브라켓(334b)은 이동 레일(310)에 고정 설치될 수 있다. 제1 베어링 브라켓(334b)은 제1 회전 샤프트(334a)의 회전이 가능하도록 제1 회전 샤프트(334a)를 지지할 수 있다. 제1 베어링 브라켓(334b)은 제1 회전 샤프트(334a)의 일단 및 타단을 지지할 수 있다.
제1 이동 블럭(334c)은 제1 이동 플레이트(331)의 하부에 고정 설치될 수 있다. 제1 이동 블럭(334c)의 내경부에는 제1 회전 샤프트(334a)가 회전 결합될 수 있다. 제1 구동 모터(333)의 작동시, 제1 구동 모터(333)의 구동축 회전에 의해 제1 회전 샤프트(334a)가 회전되면, 제1 회전 샤프트(334a)의 회전에 의해, 제1 이동 블럭(334c)은 방사선 발생장치(100)로부터 가까워지거나 멀어지는 방향으로 이동될 수 있다. 제1 회전 샤프트(334a)의 회전 운동이 제1 이동 플레이트(331)의 수평 운동으로 변환되는 것이다.
제2 이동 유닛(340)은 베이스 유닛(320)을 이동 레일(310)에서 승강시킬 수 있다. 제2 이동 유닛(340)은 제2 지지 프레임(341), 제2 구동 모터(342) 및 제2 동력 전달 어셈블리(343)로 이루어질 수 있다.
제2 지지 프레임(341)은 베이스 유닛(320)을 사이에 두고 제1 이동 유닛(330)의 양측부에 대향되게 배치되는 한 쌍으로 제공될 수 있다. 제2 지지 프레임(341)의 상부에는 제2 구동 모터(342)가 장착될 수 있다. 제2 지지 프레임(341)에는 제2 동력 전달 어셈블리(343)가 장착될 수 있다.
제2 구동 모터(342)는 베이스 유닛(320)을 승강시키기 위한 구동력을 베이스 유닛(320)에 제공할 수 있다. 제2 구동 모터(342)는 제2 동력 전달 어셈블리(343)를 통해 베이스 유닛(320)에 구동 연결될 수 있다. 예컨대, 제2 구동 모터(342)의 구동축은 제2 동력 전달 어셈블리(343)의 제2 회전 샤프트(343a)와 구동 연결될 수 있다. 제2 구동 모터(342)의 구동축은 제2 동력 전달 어셈블리(343)의 제2 회전 샤프트(343a)와 동일 연장 선상에 위치되어 연결될 수 있다.
제2 동력 전달 어셈블리(343)는 제2 지지 프레임(341)에 설치되어, 제2 구동 모터(342)와 베이스 유닛(320) 사이를 구동 연결할 수 있다. 제2 동력 전달 어셈블리(343)는 제2 구동 모터(342)의 구동력을 베이스 유닛(320)에 전달함으로써, 베이스 유닛(320)을 승강시킬 수 있다.
제2 동력 전달 어셈블리(343)는 제2 회전 샤프트(343a), 제2 베어링 브라켓(343b) 및 제2 이동 블럭(343c)으로 구성될 수 있다. 제2 회전 샤프트(343a)는 제2 구동 모터(342)의 구동축 단부에 연결될 수 있다. 제2 회전 샤프트(343a)는 제2 구동 모터(342)의 구동축과 동일 선상에 위치되도록 제2 지지 프레임(341)과 나란하게 배치될 수 있다.
제2 베어링 브라켓(343b)은 제2 지지 프레임(341)에 고정 설치될 수 있다. 제2 베어링 브라켓(343b)은 제2 회전 샤프트(343a)가 회전 가능하도록 제2 회전 샤프트(343a)의 일단 및 타단을 지지할 수 있다.
제2 이동 블럭(343c)은 베이스 유닛(320)의 측부에 고정 설치될 수 있다. 제2 이동 블럭(343c)의 내경부에는 제1 회전 샤프트(334a)가 회전가능하게 결합될 수 있다. 제2 구동 모터(342)의 작동시, 제2 구동 모터(342)의 구동축 회전에 의해 제2 회전 샤프트(343a)가 회전되면, 제2 회전 샤프트(343a)의 회전에 의해, 제2 이동 블럭(343c)은 제2 지지 프레임(341)의 상하방향으로 이동될 수 있다. 제2 회전 샤프트(343a)의 회전 운동이 베이스 유닛(320)의 상하 운동으로 변환되는 것이다.
이하에서는 상술한 바와 같은 구성을 갖는 피사체 이송장치의 작용 및 효과에 대하여 설명한다.
피사체(일 예로, 총기류, 마약류 등)는 베이스 유닛(320)에 수용된 상태에서, 피사체의 외관 형태 및 물질 정보를 정확하게 측정하기 위한 측정 위치로 이동될 수 있다.
방사선의 종류(X선, 중성자선)에 따라, 피사체와 방사선 발생장치(100) 간 최적의 거리를 유지하기 위해, 피사체는 베이스 유닛(320)에 수용된 상태에서, 방사선 발생장치(100)로부터 가까워지거나 멀어지도록 도 1의 X방향으로 이동될 수 있다.
보다 자세하게, 제1 구동 모터(333)의 작동에 의해, 제1 회전 샤프트(334a)가 회전되면, 제1 이동 블럭(334c)은 제1 회전 샤프트(334a)의 회전에 의해, 방사선 발생장치(100)로부터 가까워지거나 멀어지는 방향으로 이동될 수 있는데, 제1 이동 블럭(334c)의 이동과 연동하여, 제1 이동 플레이트(331)는 이동 레일(310)의 이동 가이드(312)를 따라 슬라이딩 이동됨으로써, 베이스 유닛(320)과 방사선 발생장치(100) 간의 이격 거리가 조절될 수 있다
또한, 피사체를 통과한 방사선을 다양한 각도에서 측정하기 위해, 피사체는 베이스 유닛(320)에 수용된 상태에서 회전될 수 있다. 회전 모터(324)의 작동시, 회전 모터(324)의 회전력이 링 기어(323)가 전달되면, 베이스 플레이트(322)는 링 기어(323)의 회전에 연동하여 고정 플레이트(321) 상에서 회전될 수 있다.
또한, 방사선 검출장치(200)의 엑스레이 디텍터 및 중성자 디턱터 위치를 피사체에 대응되는 높이로 조절하기 위해, 피사체는 베이스 유닛(320)에 수용된 상태에서 제2 이동 유닛(340)의 작동에 의해 도 1의 Z방향으로 승강될 수 있다. 제2 구동 모터(342)의 작동시, 제2 구동 모터(342)의 구동축 회전에 의해 제2 회전 샤프트(343a)가 회전되면, 제2 회전 샤프트(343a)의 회전에 의해, 제2 이동 블럭(343c)은 제2 지지 프레임(341)의 상하방향으로 이동되면서, 베이스 유닛(320)은 승강될 수 있다.
제어기는 피사체 이송장치(300)를 제어하기 위한 컨트롤러로 이해될 수 있다. 이 제어기는 마이크로프로세서를 포함하는 연산 장치, 메모리 등에 의해 구현될 수 있으며, 그 구현 방식은 당업자에게 자명한 사항이므로 더 이상의 자세한 설명을 생략한다.
다만, 본 실시예에서, 방사선 발생장치(100)가 X선 또는 중성자선을 조사할 때, 제어기는 방사선 검출장치(2000가 방사선 발생장치(100)로부터 서로 다른 이격거리에 위치하도록 피사체 이송장치(300)를 제어할 수 있다. 예를 들어, 피사체 이송장치(300)는 제어기의 제어에 따라, 방사선 발생장치(100)가 X선을 조사하는 경우, 방사선 검출장치(200)가 방사선 발생장치(100)로부터 기 설정된 제1 이격거리에 위치시킬 수 있고, 방사선 발생장치(100)가 중성자선을 조사하는 경우 방사선 검출장치(200)가 방사선 발생장치(100)로부터 제1 이격거리와 상이하도록 기 설정된 제2 이격거리에 위치시킬 수 있다.
또한, 방사선 발생장치(100)가 X선 또는 중성자선을 조사하는 동안, 제어기는 피사체가 회전하면서 승강되도록 회전 모터(324) 및 제2 이동 유닛(340)을 제어할 수 있다. 예컨대, 방사선 발생장치(100)가 X선 또는 중성자선을 파사체를 향해 조사할 때, 제어기의 제어에 의해, 회전 모터(324)는 파사체가 수용된 베이스 플레이트(322)를 회전시킬 수 있고, 제어기의 제어에 의해, 제2 이동 유닛(340)은 베이스 플레이트(322)가 장착된 베이스 유닛(320)을 승강시킬 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴 검사시스템의 삼차원 위치조절장치를 도시한 사시도이고, 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 삼차원 위치조절장치의 틸팅 조절 유닛과 수평 이동 어셈블리 간의 분해 사시도이며, 도 9 내지 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 수평 이동 어셈블리의 분해 사시도이다.
도 7 내지 도 10을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 삼차원 위치조절장치(400)는, 피사체에 대한 분광기의 자세 조절을 위해, 승강 지지대(410), 승강 플레이트(420), 액츄에이터(430), 틸팅 조절 유닛(450), 수평 이동 어셈블리(460) 및 동력 연결 어셈블리(470)를 포함할 수 있다.
구체적으로, 승강 지지대(410)는 방사선 발생장치(100) 및 피사체 이송장치(300) 사이 공간에 대향되게 배치되는 한 쌍으로 구성될 수 있다. 승강 지지대(410)는 피사체가 수용된 베이스 유닛(320)으로부터 일정 거리 이격하여 배치될 수 있다. 승강 지지대(410)의 상부에는 액츄에이터(430)가 장착될 수 있다. 승강 지지대(410)에는 제2 동력 연결 어셈블리(470)가 장착될 수 있다.
승강 플레이트(420)는 승강 지지대(410)에 승강 가능하게 설치될 수 있다. 이를 위해, 승강 플레이트(420)의 측부에는 동력 연결 어셈블리(470)의 승강 블럭(473)이 장착될 수 있다. 승강 플레이트(420)의 상부에는 틸팅 조절 유닛(450)이 수평 이동 가능하게 장착될 수 있다.
액츄에이터(430)는 승강 플레이트(420)를 승강시키기 위한 구동력을 동력 연결 어셈블리(470)를 통해 승강 플레이트(420)에 제공할 수 있다. 액츄에이터(430)의 구동축은 동력 연결 어셈블리(470)의 구동 샤프트(471)와 구동 연결될 수 있다. 이때, 액츄에이터(430)의 구동축은 동력 연결 어셈블리(470)의 구동 샤프트(471)와 동일 연장 선상에 위치되어 연결될 수 있다.
틸팅 조절 유닛(450)은 분광기(일예로, 감마선 분광 검사기)의 자세가 조절되도록 승강 플레이트(420)에 설치될 수 있다. 틸팅 조절 유닛(450)은 분광기를 피사체를 향해 다양한 각도/방향을 조절함으로써, 분광기는 피사체에 대하여 3차원적으로 정확한 방사선(일 예로, 감마선)을 검출할 수 있다.
이러한 틸팅 조절 유닛(450)은 지지 플레이트(451), 분광기 하우징(452), 수직 프레임(453), 틸팅 모터(454) 및 틸팅 수단(455)을 포함할 수 있다. 지지 플레이트(451)는 분광기 하우징(452), 수직 프레임(453), 틸팅 모터(454) 및 틸팅 수단(455)을 지지할 수 있다. 지지 플레이트(451)는 수직 프레임(453) 및 틸팅 수단(455)을 통해 분광기 하우징(452)을 지지할 수 있다.
분광기 하우징(452)은 분광기를 구성하는 하우징일 수 있다. 분광기 하우징(452)은 지지 플레이트(451)의 상측에 배치될 수 있다. 분광기 하우징(452)은 틸팅 수단(455)을 통해 수직 프레임(453)에 틸팅 가능하게 연결될 수 있다. 본 실시예에서, 분광기 하우징(452)은 분광기를 구성하는 하우징으로 설명하였으나, 이에 한정되지는 아니하며, 분광기 하우징(452)은 분광기의 거치/장착을 위한 장착 하우징으로 구성될 수 있음은 물론이다.
수직 프레임(453)은 지지 플레이트(451)의 상면에서 분광기 하우징(452)을 사이에 두고 배치되는 한 쌍으로 구성될 수 있다. 한 쌍의 수직 프레임(453)은 사이에는 분광기 하우징(452)이 소정 각도 틸팅 가능하게 연결될 수 있다.
틸팅 모터(454)는 분광기 하우징(452)을 일방향 또는 타방향으로 소정 각도로 틸팅시키기 위한 회전력을 분광기 하우징(452)에 제공할 수 있다. 틸팅 모터(454)의 회전력은 틸팅 수단(455)을 통해 분광기 하우징(452)에 전달될 수 있다.
틸팅 수단(455)은 틸팅 모터(454)와 분광기 하우징(452) 사이를 구동 연결하여 틸팅 모터(454)의 회전력을 분광기 하우징(452)에 전달할 수 있다. 이를 위해, 틸팅 수단(455)은 틸팅 샤프트(455c)의 단부에 설치되는 틸팅 기어(455a)와, 분광기 하우징(452)의 회전축에 장착되는 섹터 기어(455b)와 틸팅 모터(454)의 구동축에 연결되는 틸팅 샤프트(455c)로 구성될 수 있다. 이때, 섹터 기어(455b)의 가장자리부에는 틸팅 기어(455a)에 맞물리는 톱니 기어가 구비될 수 있다. 그리고 틸팅 샤프트(455c)는 분광기 하우징(452)의 회전축에 나란하게 배치될 수 있다.
틸팅 모터(454)의 작동시, 틸팅 모터(454)의 구동력이 틸팅 샤프트(455c)로 전달되면, 틸팅 기어(455a)의 회전에 의해 섹터 기어(455b)가 회전될 수 있고, 섹터 기어(455b)의 회전에 의해 분광기 하우징(452)의 회전축이 회전되면서, 분광기 하우징(452)은 일방향 또는 타방향으로 소정 각도 틸팅될 수 있다.
수평 이동 어셈블리(460)는 틸팅 조절 유닛(450)과 승강 플레이트(420) 사이에 연결되어, 틸팅 조절 유닛(450)을 승강 플레이트(420)의 가로 방향 또는 세로 방향으로 안내할 수 있다.
도 9를 참고하면, 틸팅 조절 유닛(450)을 승강 플레이트(420)의 가로 방향으로 안내하기 위해, 수평 이동 어셈블리(460)는 제1 메인 가이드 레일(461a), 제1 수평 모터(462a), 제1 수평 샤프트(463a), 제1 수평 브라켓(464a), 제1 수평 블럭(465a), 제1 서브 가이드 레일(466a), 제1 레일 블럭(467a)을 포함할 수 있다.
제1 메인 가이드 레일(461a)은 승강 플레이트(420)에서 가로방향으로 연장 형성되는 레일 구조로 제공될 수 있다. 제1 메인 가이드 레일(461a)은 틸팅 조절 유닛(450)을 승강 플레이트(420)의 가로방향으로 안내할 수 있다. 제1 메인 가이드 레일(461a)은 승강 플레이트(420)의 양측 가장자리부에서 대향되게 배치되는 한 쌍으로 배치될 수 있다.
제1 수평 모터(462a)는 제1 메인 가이드 레일(461a)을 따라 이동시키기 위한 구동력을 틸팅 조절 유닛(450)에 제공할 수 있다. 제1 수평 모터(462a)의 구동축은 제1 수평 샤프트(463a)에 연결될 수 있다. 제1 수평 모터(462a)의 구동축은 제1 수평 샤프트(463a)와 동일 연장 선상에 배치될 수 있다.
제1 수평 브라켓(464a)은 제1 수평 샤프트(463a)를 회전 가능하게 지지하도록 승강 플레이트(420)에 고정 설치될 수 있다. 이 제1 수평 브라켓(464a)은 제1 수평 샤프트(463a)의 일단부와 제1 수평 샤프트(463a)의 타단부를 지지하기 위해, 승강 플레이트(420)에 복수 개로 제공될 수 있다.
제1 수평 블럭(465a)의 일단은 제1 수평 샤프트(463a)에 회전 결합될 수 있고, 제1 수평 블럭(465a)의 타단은 제1 레일 블럭(467a)에 고정 설치될 수 있다. 제1 수평 블럭(465a)은 제1 수평 샤프트(463a)의 회전시, 제1 수평 샤프트(463a)의 길이방향을 따라 이동될 수 있다.
제1 레일 블럭(467a)의 일측부는 제1 수평 블럭(465a)에 고정 설치될 수 있다. 제1 레일 블럭(467a)의 하부는 제1 메인 가이드 레일(461a)을 따라 슬라이딩 이동이 가능하도록 제1 메인 가이드 레일(461a)에 안착될 수 있다. 제1 레일 블럭(467a)의 상부는 제1 서브 가이드 레일(466a)이 슬라이딩 이동 가능하도록 제1 서브 가이드 레일(466a)을 지지할 수 있다.
제1 서브 가이드 레일(466a)은 틸팅 조절 유닛(450)의 하부에 레일 구조로 제공될 수 있다. 제1 서브 가이드 레일(466a)은 틸팅 조절 유닛(450)의 하부에서 승강 플레이트(420)에서 세로방향으로 연장 형성될 수 있다. 제1 서브 가이드 레일(466a)은 제1 메인 가이드 레일(461a)과 서로 교차되는 방향으로 배치될 수 있다. 제1 서브 가이드 레일(466a)에는 제1 레일 블럭(467a)이 슬라이딩 이동될 수 있다.
이에 따라, 제1 수평 모터(462a)의 작동시 제1 수평 샤프트(463a)가 회전되면, 제1 수평 샤프트(463a)의 회전에 의해 제1 수평 블록이 제1 수평 샤프트(463a)의 길이 방향, 다시 말해, 승강 플레이트(420)의 가로방향으로 이동됨에 따라, 제1 수평 블록에 고정 설치된 제1 레일 블럭(467a)은 제1 메인 가이드 레일(461a)을 따라 승강 플레이트(420)의 가로방향으로 이동될 수 있다.
이때, 틸팅 조절 유닛(450)의 하부에 고정 설치된 제1 서브 가이드 레일(466a)은, 제1 레일 블럭(467a)에 교차되게 슬라이딩 결합된 상태이므로, 제1 레일 블럭(467a)이 제1 메인 가이드 레일(461a)을 따라 승강 플레이트(420)의 가로방향으로 이동될 때, 틸팅 조절 유닛(450)은 승강 플레이트(420)의 가로방향으로 이동될 수 있다.
도 10을 참고하면, 틸팅 조절 유닛(450)을 승강 플레이트(420)의 세로 방향으로 안내하기 위해, 수평 이동 어셈블리(460)는 제2 메인 가이드 레일(461b), 제2 수평 모터(462b), 제2 수평 샤프트(463b), 제2 수평 브라켓(464b), 제2 수평 블럭(465b), 제2 서브 가이드 레일(466b) 및 제2 레일 블럭(467b)을 포함할 수 있다.
제2 메인 가이드 레일(461b)은 승강 플레이트(420)에서 세로방향으로 연장 형성되는 레일 구조로 제공될 수 있다. 제2 메인 가이드 레일(461b)은 틸팅 조절 유닛(450)을 승강 플레이트(420)의 세로방향으로 안내할 수 있다. 제2 메인 가이드 레일(461b)은 승강 플레이트(420) 상에서 제1 메인 가이드 레일(461a)과 교차되게 배치될 수 있다.
제2 수평 모터(462b)는 제2 메인 가이드 레일(461b)을 따라 이동시키기 위한 구동력을 틸팅 조절 유닛(450)에 제공할 수 있다. 제2 수평 모터(462b)의 구동축은 제2 수평 샤프트(463b)에 연결될 수 있다. 제2 수평 모터(462b)의 구동축은 제2 수평 샤프트(463b)와 동일 연장 선상에 배치될 수 있다.
제2 수평 브라켓(464b)은 제2 수평 샤프트(463b)를 회전 가능하게 지지하도록 승강 플레이트(420)에 고정 설치될 수 있다. 이 제2 수평 브라켓(464b)은 제2 수평 샤프트(463b)의 일단부와 제2 수평 샤프트(463b)의 타단부를 지지하기 위해, 승강 플레이트(420)에 복수 개로 제공될 수 있다.
제2 수평 블럭(465b)의 일단은 제2 수평 샤프트(463b)에 회전 결합될 수 있고, 제2 수평 블럭(465b)의 타단은 제2 레일 블럭(467b)에 고정 설치될 수 있다. 제2 수평 블럭(465b)은 제2 수평 샤프트(463b)의 회전시, 제2 수평 샤프트(463b)의 길이방향을 따라 이동될 수 있다.
제2 레일 블럭(467b)의 일측부는 제2 수평 블럭(465b)에 고정 설치될 수 있다. 제1 레일 블럭(467a)의 하부는 제2 메인 가이드 레일(461b)을 따라 슬라이딩 이동이 가능하도록 제2 메인 가이드 레일(461b)에 안착될 수 있다. 제2 레일 블럭(467b)의 상부는 제2 서브 가이드 레일(466b)이 슬라이딩 이동 가능하도록 제2 서브 가이드 레일(466b)을 지지할 수 있다.
제2 서브 가이드 레일(466b)은 틸팅 조절 유닛(450)의 하부에 레일 구조로 제공될 수 있다. 제2 서브 가이드 레일(466b)은 틸팅 조절 유닛(450)의 하부에서 승강 플레이트(420)에서 세로방향으로 연장 형성될 수 있다. 제2 서브 가이드 레일(466b)은 제2 메인 가이드 레일(461b)과 서로 교차되는 방향으로 배치될 수 있다. 제2 서브 가이드 레일(466b)에는 제2 레일 블럭(467b)이 슬라이딩 이동될 수 있다.
이에 따라, 제2 수평 모터(462b)의 작동에 의해 제2 수평 샤프트(463b)가 회전되면, 제2 수평 샤프트(463b)의 회전에 의해 제2 수평 블록이 제2 수평 샤프트(463b)의 길이 방향, 다시 말해, 승강 플레이트(420)의 세로방향으로 이동됨에 따라, 제2 수평 블록에 고정 설치된 제2 레일 블럭(467b)은 제2 메인 가이드 레일(461b)을 따라 승강 플레이트(420)의 세로방향으로 이동될 수 있다.
이때, 틸팅 조절 유닛(450)의 하부에 고정 설치된 제2 서브 가이드 레일(466b)은, 제2 레일 블럭(467b)에 교차되게 슬라이딩 결합된 상태이므로, 제2 레일 블럭(467b)이 제2 메인 가이드 레일(461b)을 따라 승강 플레이트(420)의 가로방향으로 이동되면, 틸팅 조절 유닛(450)은 승강 플레이트(420)의 세로방향으로 이동될 수 있다.
동력 연결 어셈블리(470)는 액츄에이터(430)의 구동력을 승강 플레이트(420)에 전달할 수 있다. 동력 연결 어셈블리(470)는 구동 샤프트(471), 지지 브라켓(472) 및 승강 블럭(473)을 포함할 수 있다. 구동 샤프트(471)는 액츄에이터(430)의 구동축에 연결될 수 있다. 구동 샤프트(471)는 액츄에이터(430)의 구동축과 동일 선상에 위치되도록 승강 지지대(410)와 나란하게 배치될 수 있다.
지지 브라켓(472)은 승강 지지대(410)에 고정 설치될 수 있다. 지지 브라켓(472)은 구동 샤프트(471)를 회전 가능하게 지지하도록 구동 샤프트(471)의 일단 및 타단을 지지할 수 있다.
승강 블럭(473)은 승강 플레이트(420)의 측부에 설치될 수 있다. 승강 블럭(473)의 내경부에는 구동 샤프트(471)가 회전가능하게 결합될 수 있다. 액츄에이터(430)의 작동시, 액츄에이터(430)의 구동축 회전에 의해 구동 샤프트(471)가 회전되면, 구동 샤프트(471)의 회전에 의해, 승강 블럭(473)은 승강 지지대(410)의 상하방향으로 이동될 수 있다.
이하에서는 상술한 바와 같은 구성을 갖는 삼차원 위치조절장치의 작용 및 효과에 대하여 설명한다.
피사체(일 예로, 총기류, 마약류 등)가 베이스 유닛(320)에 수용된 상태에서, 분광기(일예로, 감마선 분광 검사기)는 삼차원 위치조절장치(400)를 통해 피사체에 대한 위치를 3차원적으로 정확하게 검출할 수 있다.
먼저, 분광기(분광 하우징)의 높이를 조절하는 경우, 액츄에이터(430)의 구동축 회전에 의해 구동 샤프트(471)가 회전되면, 구동 샤프트(471)의 회전에 의해, 승강 블럭(473)은 승강 지지대(410)의 상하방향으로 이동되는데, 이때, 승강 블럭(473)이 고정 설치된 틸팅 조절 유닛(450) 또한 은 승강 지지대(410)의 상하방향으로 이동될 수 있다.
또한, 틸팅 조절 유닛(450)의 위치를 승강 플레이트(420)의 가로 방향으로 조절하는 경우, 제1 수평 모터(462a)의 작동시 제1 수평 샤프트(463a)가 회전되면, 제1 수평 샤프트(463a)의 회전에 의해 제1 수평 블록이 승강 플레이트(420)의 가로방향으로 이동됨에 따라, 제1 수평 블록에 고정 설치된 제1 레일 블럭(467a)은 제1 메인 가이드 레일(461a)을 따라 승강 플레이트(420)의 가로방향으로 이동되므로, 틸팅 조절 유닛(450)은 승강 플레이트(420)의 가로방향으로 이동될 수 있다.
또한, 틸팅 조절 유닛(450)의 위치를 승강 플레이트(420)의 세로 방향으로 조절하는 경우, 제2 수평 모터(462b)의 작동에 의해 제2 수평 샤프트(463b)가 회전되면, 제2 수평 샤프트(463b)의 회전에 의해 제2 수평 블록이 승강 플레이트(420)의 세로방향으로 이동되므로, 제2 수평 블록에 고정 설치된 제2 레일 블럭(467b)은 제2 메인 가이드 레일(461b)을 따라 승강 플레이트(420)의 세로방향으로 이동될 수 있고, 결국, 틸팅 조절 유닛(450)은 승강 플레이트(420)의 세로방향으로 이동될 수 있다.
또한, 분광기(분광 하우징)를 틸팅 조절 유닛(450)의 상하방향으로 틸팅하는 경우, 틸팅 모터(454)의 작동시, 틸팅 모터(454)의 구동력이 틸팅 샤프트(455c)로 전달되면, 틸팅 기어(455a) 및 섹터 기어(455b)의 회전에 의해 분광기 하우징(452)의 회전축이 회전되어, 분광기(분광 하우징)는 조절 유닛의 상하방향으로 소정 각도 틸팅될 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 X선 및 중성자선을 조사하는 방사선 발생장치와 피사체 사이의 이격 거리를 적절하게 조절하여, 피사체의 외관 형태 및 물질 정보를 정확하게 획득할 수 있고, 피사체의 이격 거리, 피사체의 높이, 피사체의 회전에 대한 조절이 가능하므로, X선 및 중성자선 측정을 위한 정확한 측정위치로 파사체를 이동시킬 수 있고, 피사체에 대한 최적의 테스트 조건을 제공할 수 있으며, 분광기를 피사체를 향해 다양한 각도/방향을 조절함으로써, 피사체에 대하여 3차원적으로 정확한 방사선을 분광기를 통해 검출할 수 있다는 등의 우수한 장점이 있다.
이상 본 발명의 실시예들을 구체적인 실시 형태로서 설명하였으나, 이는 예시에 불과한 것으로서, 본 발명은 이에 한정되지 않는 것이며, 본 명세서에 개시된 기초 사상에 따르는 최광의 범위를 갖는 것으로 해석되어야 한다. 당업자는 개시된 실시형태들을 조합/치환하여 적시되지 않은 형상의 패턴을 실시할 수 있으나, 이 역시 본 발명의 범위를 벗어나지 않는 것이다. 이외에도 당업자는 본 명세서에 기초하여 개시된 실시형태를 용이하게 변경 또는 변형할 수 있으며, 이러한 변경 또는 변형도 본 발명의 권리범위에 속함은 명백하다.
10 :비파괴 검사시스템 100 :방사선 발생장치
200 :방사선 검출장치 210 :검출기
220 :고정 프레임 240 :동력 분배 어셈블리
241 :메인 샤프트 242 :서브 샤프트
243 :승강 샤프트 244 :메인 휠
300 :피사체 이송장치 310 :이동 레일
311 :이동 플레이트 312 :이동 가이드
320 :베이스 유닛 321 :고정 플레이트
322 :베이스 플레이트 323 :링 기어
324 :회전 모터 325 :피사체 하우징
326 :클램프 330 :제1 이동 유닛
331 :제1 이동 플레이트 332 :제1 가이드 블럭
333 :제1 구동 모터 334 :제1 동력 전달 어셈블리
334a :제1 회전 샤프트 334b :제1 베어링 브라켓
334c :제1 이동 블럭 340 :제1 이동 유닛
341 :제2 지지 프레임 342 :제2 구동 모터
343 :제2 동력 전달 어셈블리 343a :제2 회전 샤프트
343b :제2 베어링 브라켓 343c :제2 이동 블럭
400 :삼차원 위치조절장치 410 :승강 지지대
420 :승강 플레이트 430 :액츄에이터
450 :틸팅 조절 유닛 451 :지지 플레이트
452 :분광기 하우징 453 :수직 프레임
454 :틸팅 모터 455 :틸팅 수단
455a :틸팅 기어 455b :섹터 기어
455c :틸팅 샤프트 460 :수평 이동 어셈블리
461a :제1 메인 가이드 레일 461b :제2 메인 가이드 레일
462a :제1 수평 모터 462b :제2 수평 모터
463a :제1 수평 샤프트 463b :제2 수평 샤프트
464a :제1 수평 브라켓 464b :제2 수평 브라켓
465a :제1 수평 블럭 465b :제2 수평 블럭
466a :제1 서브 가이드 레일 466b :제2 서브 가이드 레일
467a :제1 레일 블럭 467b :제2 레일 블럭
470 :동력 연결 어셈블리 471 :구동 샤프트
472 :지지 브라켓 473 :승강 블럭
200 :방사선 검출장치 210 :검출기
220 :고정 프레임 240 :동력 분배 어셈블리
241 :메인 샤프트 242 :서브 샤프트
243 :승강 샤프트 244 :메인 휠
300 :피사체 이송장치 310 :이동 레일
311 :이동 플레이트 312 :이동 가이드
320 :베이스 유닛 321 :고정 플레이트
322 :베이스 플레이트 323 :링 기어
324 :회전 모터 325 :피사체 하우징
326 :클램프 330 :제1 이동 유닛
331 :제1 이동 플레이트 332 :제1 가이드 블럭
333 :제1 구동 모터 334 :제1 동력 전달 어셈블리
334a :제1 회전 샤프트 334b :제1 베어링 브라켓
334c :제1 이동 블럭 340 :제1 이동 유닛
341 :제2 지지 프레임 342 :제2 구동 모터
343 :제2 동력 전달 어셈블리 343a :제2 회전 샤프트
343b :제2 베어링 브라켓 343c :제2 이동 블럭
400 :삼차원 위치조절장치 410 :승강 지지대
420 :승강 플레이트 430 :액츄에이터
450 :틸팅 조절 유닛 451 :지지 플레이트
452 :분광기 하우징 453 :수직 프레임
454 :틸팅 모터 455 :틸팅 수단
455a :틸팅 기어 455b :섹터 기어
455c :틸팅 샤프트 460 :수평 이동 어셈블리
461a :제1 메인 가이드 레일 461b :제2 메인 가이드 레일
462a :제1 수평 모터 462b :제2 수평 모터
463a :제1 수평 샤프트 463b :제2 수평 샤프트
464a :제1 수평 브라켓 464b :제2 수평 브라켓
465a :제1 수평 블럭 465b :제2 수평 블럭
466a :제1 서브 가이드 레일 466b :제2 서브 가이드 레일
467a :제1 레일 블럭 467b :제2 레일 블럭
470 :동력 연결 어셈블리 471 :구동 샤프트
472 :지지 브라켓 473 :승강 블럭
Claims (11)
- 피사체에 대한 분광기의 자세 조절을 위한 삼차원 위치조절장치로서,
상기 피사체에 이격하여 배치되는 승강 지지대;
상기 승강 지지대에 승강 가능하게 설치되는 승강 플레이트;
상기 승강 플레이트를 승강시키기 위한 구동력을 상기 승강 플레이트에 제공하는 액츄에이터;
상기 분광기가 장착 가능한 거치공간을 제공하고, 상기 분광기의 자세가 조절되도록 상기 승강 플레이트에 설치되는 틸팅 조절 유닛; 및
상기 틸팅 조절 유닛이 상기 승강 플레이트에서 수평 이동이 가능하도록 상기 틸팅 조절 유닛과 상기 승강 플레이트 사이에 연결되는 수평 이동 어셈블리를 포함하고,
상기 틸팅 조절 유닛은
지지 플레이트;
상기 지지 플레이트의 상측에 배치되는 분광기 하우징;
상기 분광기 하우징을 사이에 두도록 상기 지지 플레이트의 양측부에 이격 설치되고, 상기 분광기 하우징이 상기 지지 플레이트의 상하방향으로 틸팅 가능하도록 상기 분광기 하우징에 회전 가능하게 연결되는 수직 프레임;
상기 분광기 하우징을 틸팅시키기 위한 회전력을 상기 분광기 하우징에 제공하는 틸팅 모터; 및
상기 틸팅 모터의 회전력이 상기 분광기 하우징에 전달되도록 상기 틸팅 모터와 상기 분광기 하우징 사이를 구동 연결하는 틸팅 수단을 포함하는,
삼차원 위치조절장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 액츄에이터의 구동력을 상기 승강 플레이트에 전달하기 위한 동력 연결 어셈블리를 더 포함하는,
삼차원 위치조절장치. - 삭제
- 피사체에 대한 분광기의 자세 조절을 위한 삼차원 위치조절장치로서,
상기 피사체에 이격하여 배치되는 승강 지지대;
상기 승강 지지대에 승강 가능하게 설치되는 승강 플레이트;
상기 승강 플레이트를 승강시키기 위한 구동력을 상기 승강 플레이트에 제공하는 액츄에이터;
상기 분광기가 장착 가능한 거치공간을 제공하고, 상기 분광기의 자세가 조절되도록 상기 승강 플레이트에 설치되는 틸팅 조절 유닛; 및
상기 틸팅 조절 유닛이 상기 승강 플레이트에서 수평 이동이 가능하도록 상기 틸팅 조절 유닛과 상기 승강 플레이트 사이에 연결되는 수평 이동 어셈블리를 포함하고,
상기 수평 이동 어셈블리는
상기 틸팅 조절 유닛을 상기 승강 플레이트의 가로방향으로 안내하도록 상기 승강 플레이트에서 가로방향으로 연장 형성되는 제1 메인 가이드 레일;
상기 제1 메인 가이드 레일을 따라 이동시키기 위한 구동력을 상기 틸팅 조절 유닛에 제공하는 제1 수평 모터;
상기 틸팅 조절 유닛을 상기 승강 플레이트의 세로방향으로 안내하도록 상기 승강 플레이트에서 세로방향으로 연장 형성되는 제2 메인 가이드 레일; 및
상기 제2 메인 가이드 레일을 따라 이동시키기 위한 구동력을 상기 틸팅 조절 유닛에 제공하는 제2 수평 모터를 포함하는,
삼차원 위치조절장치. - 제 2 항에 있어서,
상기 동력 연결 어셈블리는
상기 승강 지지대에 나란하도록 상기 액츄에이터의 구동축에 연결되는 구동 샤프트;
상기 구동 샤프트를 회전 가능하게 지지하도록 상기 승강 지지대에 고정 설치되는 지지 브라켓; 및
상기 승강 플레이트의 측부에 설치되되, 상기 구동 샤프트의 회전 운동이 상기 승강 플레이트의 상하 운동으로 변환하도록 상기 구동 샤프트에 회전 결합되는 승강 블럭을 포함하는,
삼차원 위치조절장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 틸팅 수단은
상기 분광기 하우징의 회전축에 나란하도록 상기 틸팅 모터의 구동축에 연결되는 틸팅 샤프트;
상기 틸팅 샤프트의 단부에 설치되는 틸팅 기어;
상기 분광기 하우징의 회전축에 장착되고, 상기 틸팅 기어에 맞물리도록 가장자리부에 톱니 기어가 형성되는 섹터 기어를 포함하는,
삼차원 위치조절장치. - 제 4 항에 있어서,
상기 수평 이동 어셈블리는
상기 제1 수평 모터의 구동축에 연결되는 제1 수평 샤프트;
상기 제1 수평 샤프트를 회전 가능하게 지지하도록 상기 승강 플레이트에 고정 설치되는 제1 수평 브라켓;
상기 제1 수평 샤프트에 회전 결합되는 제1 수평 블럭;
상기 틸팅 조절 유닛의 하부에서 상기 승강 플레이트에서 세로방향으로 연장 형성되는 제1 서브 가이드 레일; 및
상기 제1 메인 가이드 레일을 따라 슬라이딩 이동이 가능하도록 상기 제1 수평 블럭에 고정 설치되고, 상기 틸팅 조절 유닛이 상기 승강 플레이트에서 세로방향으로 이동될 때, 상기 제1 서브 가이드 레일을 상기 승강 플레이트의 세로방향으로 안내하는 제1 레일 블럭을 더 포함하는,
삼차원 위치조절장치. - 제 4 항에 있어서,
상기 수평 이동 어셈블리는
상기 제2 수평 모터의 구동축에 연결되는 제2 수평 샤프트;
상기 제2 수평 샤프트를 회전 가능하게 지지하도록 상기 승강 플레이트에 고정 설치되는 제2 수평 브라켓;
상기 제2 수평 샤프트에 회전 결합되는 제2 수평 블럭;
상기 틸팅 조절 유닛의 하부에서 상기 승강 플레이트에서 가로방향으로 연장 형성되는 제2 서브 가이드 레일; 및
상기 제2 메인 가이드 레일을 따라 슬라이딩 이동이 가능하도록 상기 제2 수평 블럭에 고정 설치되고, 상기 틸팅 조절 유닛이 상기 승강 플레이트에서 가로방향으로 이동될 때, 상기 제2 서브 가이드 레일을 상기 승강 플레이트의 가로방향으로 안내하는 제2 레일 블럭을 더 포함하는,
삼차원 위치조절장치. - X선 및 중성자선 중 어느 하나의 방사선을 선택적으로 피사체를 향해 조사하는 방사선 발생장치;
상기 피사체를 투과한 상기 어느 하나의 방사선을 검출하기 위한 방사선 검출장치;
상기 피사체를 상기 방사선 발생장치로부터 가까워지거나 멀어지도록 이동시키는 피사체 이송장치; 및
상기 피사체에 대한 분광기의 자세를 조절을 위한 삼차원 위치조절장치를 포함하고,
상기 삼차원 위치조절장치는
상기 피사체에 이격하여 배치되는 승강 지지대;
상기 승강 지지대에 승강 가능하게 설치되는 승강 플레이트;
상기 승강 플레이트를 승강시키기 위한 구동력을 상기 승강 플레이트에 제공하는 액츄에이터;
상기 분광기가 장착되는 거치공간을 제공하고, 상기 분광기의 자세 조절을 위해 상기 승강 플레이트에 설치되는 틸팅 조절 유닛; 및
상기 틸팅 조절 유닛이 상기 승강 플레이트에서 수평 이동이 가능하도록 상기 틸팅 조절 유닛과 상기 승강 플레이트 사이에 연결되는 수평 이동 어셈블리를 포함하며,
상기 틸팅 조절 유닛은
지지 플레이트;
상기 지지 플레이트의 상측에 배치되는 분광기 하우징;
상기 분광기 하우징을 사이에 두도록 상기 지지 플레이트의 양측부에 이격 설치되고, 상기 분광기 하우징이 상기 지지 플레이트의 상하방향으로 틸팅 가능하도록 상기 분광기 하우징에 회전 가능하게 연결되는 수직 프레임;
상기 분광기 하우징을 틸팅시키기 위한 회전력을 상기 분광기 하우징에 제공하는 틸팅 모터; 및
상기 틸팅 모터의 회전력이 상기 분광기 하우징에 전달되도록 상기 틸팅 모터와 상기 분광기 하우징 사이를 구동 연결하는 틸팅 수단을 포함하는,
비파괴 검사시스템. - 제 9 항에 있어서,
상기 피사체 이송장치는
상기 방사선 발생장치를 향해 연장 형성되는 이동 레일;
상기 피사체가 거치 되도록 상기 이동 레일에 설치되는 베이스 유닛;
상기 베이스 유닛을 상기 방사선 발생장치를 향해 슬라이딩 이동시키기 위한제1 이동 유닛; 및
상기 베이스 유닛을 상기 이동 레일에서 승강시키기 위한 제2 이동 유닛을 포함하는,
비파괴 검사시스템. - 제 9 항에 있어서,
상기 방사선 검출장치는
상기 피사체를 통과한 X선 및 중성자선을 검출하는 검출기;
상기 피사체 이송장치의 제1 이동 유닛에 고정 설치되는 고정 프레임;
상기 검출기를 승강시키기 위한 구동력을 제공하는 승강 모터; 및
상기 승강 모터와 상기 검출기 사이를 구동 연결하도록 상기 고정 프레임에 설치되어, 상기 승강 모터의 구동력을 상기 검출기에 전달하는 동력 분배 어셈블리를 포함하는,
비파괴 검사시스템.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210132704A KR102534751B1 (ko) | 2021-10-06 | 2021-10-06 | 삼차원 위치조절장치 및 이를 포함하는 비파괴 검사시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210132704A KR102534751B1 (ko) | 2021-10-06 | 2021-10-06 | 삼차원 위치조절장치 및 이를 포함하는 비파괴 검사시스템 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20230049479A KR20230049479A (ko) | 2023-04-13 |
| KR102534751B1 true KR102534751B1 (ko) | 2023-05-26 |
Family
ID=85978736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020210132704A KR102534751B1 (ko) | 2021-10-06 | 2021-10-06 | 삼차원 위치조절장치 및 이를 포함하는 비파괴 검사시스템 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102534751B1 (ko) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101209518B1 (ko) * | 2012-02-23 | 2012-12-07 | 테크밸리 주식회사 | 헬리컬 ｃｔ장치 |
| KR102025662B1 (ko) * | 2018-06-08 | 2019-09-27 | 한국원자력연구원 | 중성자선 및 엑스선 검출 가능한 방사선 검출 장치 및 방법 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101126686B1 (ko) * | 2010-06-11 | 2012-03-29 | 한동희 | 패널 자세 조절장치 및 이를 갖는 패널 부착장치 |
| KR102081594B1 (ko) * | 2018-04-30 | 2020-02-26 | 주식회사 쎄크 | 엑스레이 검사장치 |
-
2021
- 2021-10-06 KR KR1020210132704A patent/KR102534751B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101209518B1 (ko) * | 2012-02-23 | 2012-12-07 | 테크밸리 주식회사 | 헬리컬 ｃｔ장치 |
| KR102025662B1 (ko) * | 2018-06-08 | 2019-09-27 | 한국원자력연구원 | 중성자선 및 엑스선 검출 가능한 방사선 검출 장치 및 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20230049479A (ko) | 2023-04-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US11369323B2 (en) | Radiological imaging device with improved functionality | |
| KR101209518B1 (ko) | 헬리컬 ｃｔ장치 | |
| US7783003B2 (en) | Rotating carriage assembly for use in scanning cargo conveyances transported by a crane | |
| JP5081766B2 (ja) | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置 | |
| JP3805254B2 (ja) | コンテナ検査装置 | |
| JP4876110B2 (ja) | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置 | |
| US8734013B2 (en) | Small mobile x-ray scanning system | |
| WO2014148266A1 (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| US20080089466A1 (en) | X-ray CT examination installation and CT methods of examining objects | |
| KR102534751B1 (ko) | 삼차원 위치조절장치 및 이를 포함하는 비파괴 검사시스템 | |
| KR20200126368A (ko) | 화상 취득 시스템 및 화상 취득 방법 | |
| KR102534747B1 (ko) | 비파괴 검사시스템 | |
| KR101209516B1 (ko) | 셔터장치를 구비한 엑스선 검사장비 | |
| KR101785459B1 (ko) | 비파괴 검사 시스템 | |
| KR101790135B1 (ko) | 팬텀 장치 | |
| WO2022143164A1 (zh) | 辐射检查系统 | |
| CN106053499B (zh) | 射线检查系统和射线检查方法 | |
| US6949747B2 (en) | Apparatus and method for automatically adjusting the path of a medical camera | |
| CN113702406A (zh) | 扫描检测设备 | |
| JP2540722B2 (ja) | 放射線治療装置 | |
| KR101664349B1 (ko) | 위치정렬기능을 가지는 비파괴 검사용 방사선 검출장치 | |
| KR102521529B1 (ko) | 엑스선 발생기 높이 및 각도 조정장치 | |
| KR102503248B1 (ko) | 조사범위 자동 조절 장치 | |
| JP2020041954A (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| CN218938170U (zh) | 检查设备和检查系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant |