KR102530370B1 - Break out box - Google Patents
Break out box Download PDFInfo
- Publication number
- KR102530370B1 KR102530370B1 KR1020200159676A KR20200159676A KR102530370B1 KR 102530370 B1 KR102530370 B1 KR 102530370B1 KR 1020200159676 A KR1020200159676 A KR 1020200159676A KR 20200159676 A KR20200159676 A KR 20200159676A KR 102530370 B1 KR102530370 B1 KR 102530370B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- pins
- pin
- connector
- breakout box
- switches
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/56—Testing of electric apparatus
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
Abstract
본 발명은 브레이크 아웃 박스에 관한 것으로, 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 복수의 제1 핀을 포함하는 제1 커넥터, 상기 복수의 제1 핀과 각각 대응하는 복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터, 전도성 배선으로 이루어진 인터커넥션, 그리고 상기 제1 핀, 상기 제2 핀 및 상기 인터커넥션을 선택적으로 연결시키는 복수의 스위치를 포함하는 스위칭부를 포함한다. 본 발명에 의하면, 종래 브레이크 아웃 박스와 동일하게 시험을 할 수 있으면서, 점퍼없이 절연 시험이 가능하고, 스위치 조작만으로 간단하게 절연 시험을 할 수 있는 장점이 있다.The present invention relates to a breakout box, wherein the breakout box according to the present invention includes a first connector including a plurality of first pins, and a second connector including a plurality of second pins respectively corresponding to the plurality of first pins. A switching unit including a connector, an interconnection made of conductive wires, and a plurality of switches selectively connecting the first pin, the second pin, and the interconnection. According to the present invention, while being able to test the same as the conventional breakout box, it is possible to perform an insulation test without a jumper, and there are advantages in that an insulation test can be performed simply by operating a switch.
Description
본 발명은 브레이크 아웃 박스에 관한 것으로, 보다 자세하게는 점퍼(jumper)없이 절연(isolation) 측정이 가능한 브레이크 아웃 박스에 관한 것이다.The present invention relates to a breakout box, and more particularly, to a breakout box capable of measuring isolation without a jumper.
일반적으로 브레이크 아웃 박스(Break Out Box)(B0B)는 위성체의 조립이나 시험 등에 있어서 위성체를 이루고 있는 각 유닛들 사이의 전기적인 인터페이스(interface), 전기적인 신호의 확인 또는 고장 등을 탐구하기 위해서 사용된다. 예컨대, 브레이크 아웃 박스는 점검하고자 하는 유닛들의 사이에 연결되고, 브레이크 아웃 박스에 구비된 복수의 테스트 포인트를 이용하여 특정 테스트 포인트에 연결된 신호 라인의 연결 상태를 확인하거나, 해당 테스트 포인트에서의 신호 레벨이나 전압의 크기 등을 측정하는데 사용될 수 있다.In general, a Break Out Box (B0B) is used to explore electrical interfaces between units constituting satellites, electrical signal confirmation or failure, etc. in satellite assembly or testing. do. For example, the breakout box is connected between units to be inspected, and the connection state of a signal line connected to a specific test point is checked using a plurality of test points provided in the breakout box, or the signal level at the corresponding test point. It can be used to measure the magnitude of or voltage.
브레이크 아웃 박스를 검증하고자 하는 유닛(unit)들의 연결 하니스(harness) 사이에 삽입한 후 브레이크 아웃 박스에서 적절한 필요 작업을 수행할 수 있다. 예를 들어 BOB의 특정 포인트(point)들을 이용하여 특정 라인들의 연결도를 확인하거나 그 포인트에서의 전기적 신호 파형이나, 전압/전류/저항 값 등을 측정할 수 있다. 또한 디버깅 목적으로 특정 핀(pin)들의 스왑(swap) 및 인위적인 개방(연결선의 open)도 가능하다.After the breakout box is inserted between the connection harnesses of the units to be verified, the breakout box can perform the necessary tasks. For example, it is possible to check the connection diagram of specific lines using specific points of the BOB, or to measure electrical signal waveforms or voltage/current/resistance values at those points. In addition, swapping of specific pins and artificial opening (opening of connection lines) are possible for debugging purposes.
제작된 하니스, 브레이크 아웃 박스 등의 사용에 앞서 신호 선간 단락 여부 확인을 위해 절연 시험은 필수적으로 수반되어야 한다. 절연 시험의 효율성 향상을 위해 다양한 신호선을 묶는 일련의 작업이 필요한데, 이는 보통 바나나 케이블 형태의 점퍼를 사용하므로 매우 번거롭고 혼잡하다.Before using manufactured harnesses, breakout boxes, etc., insulation tests must be performed to check for short circuits between signal lines. In order to improve the efficiency of the insulation test, a series of tasks for tying various signal lines are required, which is very cumbersome and confusing because banana cable type jumpers are usually used.
본 발명에서 해결하고자 하는 기술적 과제는 점퍼없이 절연 시험이 가능하고, 스위치 조작만으로 간단하게 절연 시험을 할 수 있는 브레이크 아웃 박스를 제공하는 것이다.A technical problem to be solved by the present invention is to provide a breakout box capable of performing an insulation test without a jumper and simply performing an insulation test only by operating a switch.
상기한 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 복수의 제1 핀을 포함하는 제1 커넥터, 상기 복수의 제1 핀과 각각 대응하는 복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터, 전도성 배선으로 이루어진 인터커넥션, 그리고 상기 제1 핀, 상기 제2 핀 및 상기 인터커넥션을 선택적으로 연결시키는 복수의 스위치를 포함하는 스위칭부를 포함한다.A breakout box according to the present invention for solving the above technical problem is a first connector including a plurality of first pins, a second connector including a plurality of second pins respectively corresponding to the plurality of first pins, and a switching unit including an interconnection made of conductive wires, and a plurality of switches selectively connecting the first pin, the second pin, and the interconnection.
상기 브레이크 아웃 박스는 상기 복수의 제1 핀에 각각 대응하는 복수의 제1 테스트 포인트, 그리고 상기 복수의 제2 핀에 각각 대응하는 복수의 제2 테스트 포인트를 더 포함할 수 있다.The breakout box may further include a plurality of first test points respectively corresponding to the plurality of first pins and a plurality of second test points respectively corresponding to the plurality of second pins.
상기 스위칭부는, 상기 복수의 제1 핀 중 절연(isolation) 시험 대상 핀은 개방(open)시키고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지 핀은 상기 인터커넥션에 모두 연결시킬 수 있다.The switching unit may open an isolation test target pin among the plurality of first pins, and connect all remaining pins among the plurality of first pins to the interconnection.
상기 복수의 스위치는 SPTT(Single Pole Triple Through) 스위치일 수 있다.The plurality of switches may be single pole triple through (SPTT) switches.
상기 인터커넥션은 제1 전도성 배선과 제2 전도성 배선을 포함할 수 있다.The interconnection may include a first conductive wire and a second conductive wire.
상기 스위칭부는, 상기 제1 핀을 상기 제2 핀 및 상기 제1 전도성 배선에 선택적으로 연결시키거나 개방시키고, 상기 제2 핀을 상기 제1 핀 및 상기 제2 전도성 배선에 선택적으로 연결시키거나 개방시킬 수 있다.The switching unit selectively connects or opens the first pin to the second pin and the first conductive wire, and selectively connects or opens the second pin to the first pin and the second conductive wire. can make it
상기 스위칭부는, 상기 복수의 제1 핀 중 절연 시험 대상 핀은 개방시키고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지 핀은 상기 제1 전도성 배선에 모두 연결시킬 수 있으며, 상기 복수의 제2 핀 중 절연 시험 대상 핀은 개방시키고, 상기 복수의 제2 핀 중 나머지 핀은 상기 제2 전도성 배선에 모두 연결시킬 수 있다.The switching unit may open an insulation test target pin among the plurality of first pins, connect all remaining pins of the plurality of first pins to the first conductive wire, and test insulation among the plurality of second pins. A target pin may be opened, and remaining pins among the plurality of second pins may be all connected to the second conductive line.
본 발명에 의하면, 종래 브레이크 아웃 박스와 동일하게 시험을 할 수 있으면서, 점퍼없이 절연 시험이 가능하고, 스위치 조작만으로 간단하게 절연 시험을 할 수 있는 장점이 있다.According to the present invention, while being able to test the same as the conventional breakout box, it is possible to perform an insulation test without a jumper, and there are advantages in that an insulation test can be performed simply by operating a switch.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 단락된 상태를 나타낸 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터의 특정 핀에 대한 절연 시험 상태를 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 단락된 상태를 나타낸 것이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터의 특정 핀과 제2 커넥터의 특정 핀에 대한 절연 시험 상태를 나타낸 것이다.1 shows a state in which all pins of a breakout box according to an embodiment of the present invention are open.
2 shows a state in which all pins of the breakout box according to an embodiment of the present invention are shorted.
3 illustrates an insulation test state for a specific pin of a first connector of a breakout box according to an embodiment of the present invention.
4 shows a state in which all pins of the breakout box according to another embodiment of the present invention are open.
5 shows a state in which all pins of the breakout box according to another embodiment of the present invention are shorted.
6 illustrates an insulation test state for a specific pin of a first connector and a specific pin of a second connector of a breakout box according to another embodiment of the present invention.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 그러나 이들 실시 예는 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명의 범위가 이에 의하여 제한되지 않는다는 것은 당업계의 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.Hereinafter, preferred embodiments in which a person skilled in the art can easily practice the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, these examples are intended to explain the present invention in more detail, and it will be apparent to those skilled in the art that the scope of the present invention is not limited thereto.
본 발명이 해결하고자 하는 과제의 해결 방안을 명확하게 하기 위한 발명의 구성을 본 발명의 바람직한 실시 예에 근거하여 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명하되, 도면의 구성요소들에 참조번호를 부여함에 있어서 동일 구성요소에 대해서는 비록 다른 도면상에 있더라도 동일 참조번호를 부여하였으며 당해 도면에 대한 설명시 필요한 경우 다른 도면의 구성요소를 인용할 수 있음을 미리 밝혀둔다. 아울러 본 발명의 바람직한 실시 예에 대한 동작 원리를 상세하게 설명함에 있어 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명 그리고 그 이외의 제반 사항이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.The composition of the present invention for clarifying the solution to the problem to be solved by the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings based on a preferred embodiment of the present invention, but the same reference numerals are assigned to the components of the drawings. For components, even if they are on other drawings, the same reference numerals have been assigned, and it is made clear in advance that components of other drawings can be cited if necessary in the description of the drawings. In addition, in the detailed description of the operating principle of the preferred embodiment of the present invention, if it is determined that the detailed description of known functions or configurations related to the present invention and other matters may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, A detailed description thereof is omitted.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 '연결'되어 있다고 할때, 이는 '직접적으로 연결'되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 '간접적으로 연결'되어 있는 경우도 포함한다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작, 또는 소자 외에 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작, 또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.In addition, throughout the specification, when a part is 'connected' to another part, it is not only 'directly connected', but also 'indirectly connected' with another element in between. include In this specification, singular forms also include plural forms unless specifically stated otherwise in a phrase. As used herein, "comprises" or "comprising" excludes the presence or addition of one or more other components, steps, operations, or elements other than the recited components, steps, operations, or elements. I never do that.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 단락된 상태를 나타낸 것이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터의 특정 핀에 대한 절연 시험 상태를 나타낸 것이다.1 shows a state in which all pins of the breakout box are open according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a state in which all pins of the breakout box are shorted according to an embodiment of the present invention, 3 illustrates an insulation test state for a specific pin of a first connector of a breakout box according to an embodiment of the present invention.
도 1 내지 도 3에 예시한 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 제1 커넥터(110), 제2 커넥터(120), 인터커넥션(130), 스위칭부(140), 복수의 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5')를 포함할 수 있다.The breakout box according to the present invention illustrated in FIGS. 1 to 3 includes a
도 1 내지 도 3에서는 설명의 편의를 위해 제1 커넥터(110)와 제2 커넥터(120)에 각각 핀이 5개 있는 경우를 예시하였으나, 실시예에 따라 각 커넥터(110, 120)의 핀의 개수는 달라질 수 있으며, 그에 따라 스위치(141, 142, 143, 144, 145) 및 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5')의 개수는 달라질 수 있다.1 to 3 illustrate a case where each of the
제1 커넥터(110)는 하니스 커넥터(도시하지 않음)와 연결될 수 있으며, 하니스 커넥터의 각 핀과 연결될 수 있는 복수의 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115)을 포함할 수 있다.The
제2 커넥터(120)는 다른 하니스 커넥터(도시하지 않음)와 연결될 수 있으며, 하니스 커넥터의 각 핀과 연결될 수 있는 복수의 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)을 포함할 수 있다.The
인터커넥션(130)은 전도성 배선으로 이루어질 수 있다.
스위칭부(140)는 복수의 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 포함하며, 각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)는 자신에 대응하는 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)과 인터커넥션(130)을 선택적으로 연결시킬 수 있다.The
각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)는 실시예에 따라 다양한 형태로 구현 가능하다. 예컨대 가장 단순하게는 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 그에 대응하는 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)의 연결을 온오프하는 제1 스위치 모듈, 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 인터커넥션(130)의 연결을 온오프하는 제2 스위치 모듈, 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125) 및 인터커넥션(130)의 연결을 온오프하는 제3 스위치 모듈을 포함할 수 있다.Each of the
가령 스위치(141)는 제1 핀(111)과 제2 핀(121)을 서로 연결시키거나, 제1 핀(111) 또는 제2 핀(121) 중 하나를 선택적으로 인터커넥션(130)에 연결시킬 수 있다. 그리고 제1 핀(111), 제2 핀(121) 및 인터커넥션(130)이 모두 연결되지 않게 할 수도 있다.For example, the
각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 조작하여 도 1에 예시한 것과 같이 제1 커넥터(110)와 제2 커넥터(120)의 모든 핀이 개방(open)되게 할 수 있다. 그리고 필요한 경우 도 2에 예시한 것과 같이 각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 조작하여 제1 커넥터(110)의 각 핀이 제2 커넥터(120)의 대응하는 핀과 모두 단락(short)되게 할 수도 있다.All pins of the
한편 제1 커넥터(110)의 각 핀에 대한 절연(isolation) 시험을 위해서 각 스위치(111, 112, 113, 114, 115)를 다음과 같이 조작할 수도 있다. Meanwhile, each
예컨대 제1 커넥터(110)의 두 번째 핀(112)에 대한 절연 시험을 하려면, 도 3에 예시한 것과 같이 스위치(142)를 조작하여 두 번째 핀(112)을 개방시키고, 스위치(141, 143, 144, 145)를 조작하여 핀(111, 113, 114, 115)은 인터커넥션(130)에 연결시킬 수 있다. 그리고 두 번째 핀(112)에 대한 테스트 포인트(2)와 나머지 다른 핀(111, 113, 114, 115)에 대한 테스트 포인트(1, 3, 4, 5) 중 하나를 이용하여 절연 시험을 할 수 있다.For example, to test the insulation of the
제2 커넥터(120)의 각 핀(121, 122, 123, 124, 125)에 대해서도 마찬가지로 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 조작하여 절연 시험 대상 핀은 개방시키고, 나머지 다른 핀은 인터커넥션(130)에 연결시킨 후 테스트 포인트(1', 2', 3', 4', 5')를 통해 절연 측정을 할 수 있다.Similarly, for each
한편 실시예에 따라 각 스위치(111, 112, 113, 114, 115)를 SPTT(Single Pole Triple Through) 스위치로 구현할 수도 있다. 이 경우 제1 커넥터(110)의 각 핀에 대해 절연 시험을 하도록 브레이크 아웃 박스를 제작하는 경우, SPTT 스위치의 폴(Pole)이 제1 커넥터(110)의 각 핀 쪽으로 위치하게 할 수 있다. 반대로 제2 커넥터(120)의 각 핀에 대해 절연 시험을 하도록 브레이크 아웃 박스를 제작하는 경우, SPTT 스위치의 폴(Pole)이 제1 커넥터(110)의 각 핀 쪽으로 위치하게 할 수 있다.Meanwhile, each of the
여기서 예시한 것 외에도 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)과 인터커넥션(130)을 선택적으로 연결시킬 수 있으면, 각 스위치(111, 112, 113, 114, 115)는 어떠한 구조를 가져도 무방하며, 그리고 FET(Field Effect Transistor), MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect transistor), BJT(Bipolar Junction Transistor) 등과 같이 스위칭 제어 신호에 따라 온오프 될 수 있는 스위칭 수단을 복수 개 조합하여 구현하는 것도 가능하다.In addition to what is illustrated here, if the
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이고, 도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 단락된 상태를 나타낸 것이며, 도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터의 특정 핀과 제2 커넥터의 특정 핀에 대한 절연 시험 상태를 나타낸 것이다.4 shows a state in which all pins of the breakout box are open according to another embodiment of the present invention, and FIG. 5 shows a state in which all pins of the breakout box are shorted according to another embodiment of the present invention, 6 illustrates an insulation test state for a specific pin of a first connector and a specific pin of a second connector of a breakout box according to another embodiment of the present invention.
도 4 내지 도 6에 예시한 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 제1 커넥터(110), 제2 커넥터(120), 인터커넥션(130), 스위칭부(140), 복수의 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5')를 포함할 수 있다.The breakout box according to the present invention illustrated in FIGS. 4 to 6 includes a
도 4 내지 도 6에서도 마찬가지로 설명의 편의를 위해 제1 커넥터(110)와 제2 커넥터(120)에 각각 핀이 5개 있는 경우를 예시하였으나, 실시예에 따라 각 커넥터(110, 120)의 핀의 개수는 달라질 수 있으며, 그에 따라 스위치(141, 142, 143, 144, 145) 및 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5')의 개수는 달라질 수 있다.Similarly, in FIGS. 4 to 6, for convenience of description, a case in which each of the
도 4 내지 도 6에 예시한 브레이크 아웃 박스는 인터커넥션(130)이 2개의 전도성 배선(131, 132)을 포함하는 점에서 도 1 내지 도 3에 예시한 브레이크 아웃 박스와 차이가 있다.The breakout box illustrated in FIGS. 4 to 6 is different from the breakout box illustrated in FIGS. 1 to 3 in that the
스위칭부(140)는 복수의 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 포함한다.The
각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)는 자신에 대응하는 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115)을 그에 대응하는 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)에 연결시키거나, 제1 전도성 배선(131)에 선택적으로 연결시킬 수 있다.Each of the
또한 각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)는 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)을 그에 대응하는 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115)에 연결시키거나, 제2 전도성 배선(132)에 선택적으로 연결시킬 수 있다.In addition, each of the
이를 위해 각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)는 간단하게는 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 그에 대응하는 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)의 연결을 온오프하는 제1 스위치 모듈, 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 제1 전도성 배선(131)의 연결을 온오프하는 제2 스위치 모듈, 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125) 및 제2 전도성 배선(132)의 연결을 온오프하는 제3 스위치 모듈을 포함할 수 있다.To this end, each of the
물론 도 1 내지 도 3에서와 마찬가지로 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115), 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125), 제1 전도성 배선(131), 제2 전도성 배선(132)을 선택적으로 연결시킬 수 있으면, 각 스위치(111, 112, 113, 114, 115)는 어떠한 구조를 가져도 무방하며, 그리고 FET, MOSFET, BJT 등과 같이 스위칭 제어 신호에 따라 온오프 될 수 있는 스위칭 수단을 복수 개 조합하여 구현하는 것도 가능하다.Of course, as in FIGS. 1 to 3, the
각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 조작하여 도 4에 예시한 것과 같이 제1 커넥터(110)와 제2 커넥터(120)의 모든 핀이 개방(open)되게 할 수 있다. 그리고 필요한 경우 도 5에 예시한 것과 같이 각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 조작하여 제1 커넥터(110)의 각 핀이 제2 커넥터(120)의 대응하는 핀과 모두 단락(short)되게 할 수도 있다.All pins of the
한편 도 4 내지 도 6에 예시한 브레이크 아웃 박스는 2개의 전도성 배선(131, 132)을 포함하고 있으므로, 제1 커넥터(110)의 각 핀에 대한 절연 시험과 제2 커넥터(120)의 각 핀에 대한 절연 시험을 동시에 할 수 있다.Meanwhile, since the breakout box illustrated in FIGS. 4 to 6 includes two
예컨대 제1 커넥터(110)의 두 번째 핀(112)과 제2 커넥터(120)의 세번 째 핀(123)에 대한 절연 시험을 동시에 하려면, 도 6에 예시한 것과 같이 스위치(142)를 조작하여 제1 커넥터(110)의 두 번째 핀(112)을 개방시키고, 스위치(141, 143, 144, 145)를 조작하여 제1 커넥터(110)의 나머지 핀(111, 113, 114, 115)은 제1 전도성 배선(131)에 연결시킬 수 있다. 동시에 스위치(143)를 조작하여 제2 커넥터(120)의 세 번째 핀(123)을 개방시키고, 스위치(141, 142, 144, 145)를 조작하여 제2 커넥터(120)의 나머지 핀(121, 122, 124, 125)은 제2 전도성 배선(132)에 연결시킬 수 있다.For example, to simultaneously test the
그리고 제1 커넥터(110)의 두 번째 핀(112)에 대한 테스트 포인트(2)와 나머지 다른 핀(111, 113, 114, 115)에 대한 테스트 포인트(1, 3, 4, 5) 중 하나를 이용하여 절연 시험을 하고, 제2 커넥터(120)의 세 번째 핀(123)에 대한 테스트 포인트(3')와 나머지 다른 핀(121, 122, 124, 125)에 대한 테스트 포인트(1', 2', 4', 5') 중 하나를 이용하여 절연 시험을 할 수 있다.In addition, one of
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concept of the present invention defined in the following claims are also made according to the present invention. falls within the scope of the rights of
Claims (6)
상기 복수의 제1 핀과 각각 대응하는 복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터,
제1 전도성 배선을 포함하는 인터커넥션, 그리고
상기 제1 핀, 상기 제2 핀 및 상기 인터커넥션을 선택적으로 연결시키는 복수의 제1 스위치를 포함하는 스위칭부
를 포함하고,
상기 복수의 제1 스위치는 각각,
상기 복수의 제1 스위치에 대응하는 상기 제1 핀을,
상기 제2 핀에 연결하는 것, 상기 제1 전도성 배선에 연결하는 것 및, 상기 제2 핀과 상기 제1 전도성 배선에 모두 연결되지 않게 하는 것 중 어느 하나로 선택적으로 동작하며,
상기 복수의 제1 스위치는,
SPTT(Single Pole Triple Through) 스위치인 브레이크 아웃 박스.
A first connector including a plurality of first pins;
A second connector including a plurality of second pins respectively corresponding to the plurality of first pins;
an interconnection comprising a first conductive wire; and
a switching unit including a plurality of first switches selectively connecting the first pin, the second pin, and the interconnection;
including,
Each of the plurality of first switches,
The first pins corresponding to the plurality of first switches,
Selectively operating as one of connecting to the second pin, connecting to the first conductive wire, and not being connected to both the second pin and the first conductive wire,
The plurality of first switches,
A breakout box that is a single pole triple through (SPTT) switch.
상기 복수의 제1 핀에 각각 대응하는 복수의 제1 테스트 포인트, 그리고
상기 복수의 제2 핀에 각각 대응하는 복수의 제2 테스트 포인트
를 더 포함하는 브레이크 아웃 박스.
In claim 1,
A plurality of first test points respectively corresponding to the plurality of first pins, and
A plurality of second test points respectively corresponding to the plurality of second pins
A breakout box further comprising a.
상기 스위칭부는,
상기 복수의 제1 핀 중 절연(isolation) 시험 대상 핀은 개방(open)시키고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지 핀은 상기 제1 전도성 배선에 모두 연결시키는 브레이크 아웃 박스.
In paragraph 2,
The switching unit,
A breakout box in which an isolation test target pin among the plurality of first pins is opened, and the remaining pins among the plurality of first pins are all connected to the first conductive wire.
상기 인터커넥션은,
제2 전도성 배선을 더 포함하고,
상기 스위칭부는,
복수의 제2 스위치를 더 포함하며,
상기 복수의 제2 스위치는 각각,
상기 복수의 제2 스위치에 대응하는 상기 제2 핀을,
상기 제1 핀에 연결하는 것, 상기 제2 전도성 배선에 연결하는 것 및, 상기 제1 핀과 상기 제1 전도성 배선에 모두 연결되지 않게 하는 것 중 어느 하나로 선택적으로 동작하며,
상기 복수의 제2 스위치는,
SPTT 스위치인 브레이크 아웃 박스.
In paragraph 2,
The interconnection is
Further comprising a second conductive wire,
The switching unit,
Further comprising a plurality of second switches,
Each of the plurality of second switches,
The second pins corresponding to the plurality of second switches,
Selectively operating as one of connecting to the first pin, connecting to the second conductive wire, and not being connected to both the first pin and the first conductive wire,
The plurality of second switches,
A breakout box that is an SPTT switch.
상기 스위칭부는,
상기 복수의 제1 핀 중 절연 시험 대상 핀은 개방시키고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지 핀은 상기 제1 전도성 배선에 모두 연결시키고,
상기 복수의 제2 핀 중 절연 시험 대상 핀은 개방시키고, 상기 복수의 제2 핀 중 나머지 핀은 상기 제2 전도성 배선에 모두 연결시키는 브레이크 아웃 박스.In paragraph 5,
The switching unit,
Of the plurality of first pins, the insulation test target pin is opened, and the remaining pins of the plurality of first pins are all connected to the first conductive wire,
A breakout box in which an insulation test target pin of the plurality of second pins is opened, and the remaining pins of the plurality of second pins are all connected to the second conductive wire.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200159676A KR102530370B1 (en) | 2020-11-25 | 2020-11-25 | Break out box |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200159676A KR102530370B1 (en) | 2020-11-25 | 2020-11-25 | Break out box |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20220072262A KR20220072262A (en) | 2022-06-02 |
KR102530370B1 true KR102530370B1 (en) | 2023-05-08 |
Family
ID=81985260
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020200159676A KR102530370B1 (en) | 2020-11-25 | 2020-11-25 | Break out box |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102530370B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102601061B1 (en) * | 2021-11-04 | 2023-11-09 | 한국항공우주연구원 | Break out box |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100164522A1 (en) * | 2008-12-27 | 2010-07-01 | Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd | Signal testing apparatus |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101743027B1 (en) * | 2015-07-23 | 2017-06-02 | 한국항공우주연구원 | Break Out Box |
-
2020
- 2020-11-25 KR KR1020200159676A patent/KR102530370B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100164522A1 (en) * | 2008-12-27 | 2010-07-01 | Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd | Signal testing apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20220072262A (en) | 2022-06-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7068060B2 (en) | Connection apparatus and cable assembly for semiconductor-device characteristic measurement apparatus | |
KR100993238B1 (en) | Semiconductor device and semiconductor device module | |
JP2005321379A5 (en) | ||
US9885746B2 (en) | Switching matrix and testing system for semiconductor characteristic measurement using the same | |
KR101374965B1 (en) | Method and apparatus for testing devices using serially controlled intelligent switches | |
US20070046302A1 (en) | Apparatus for testing electric cables | |
KR102530370B1 (en) | Break out box | |
KR101743027B1 (en) | Break Out Box | |
US7367810B2 (en) | Cable connector for selective wiring | |
US20070030011A1 (en) | Apparatus for testing cables | |
CN107271854B (en) | Dual-redundancy equipotential cable network mixed wire testing device and testing method | |
CN210604939U (en) | Wire harness testing device | |
CN206020563U (en) | Signal adapting device and the fault diagnosis system including signal adapting device | |
KR100310971B1 (en) | method for testing a wire harness and system for performming the same | |
KR102601061B1 (en) | Break out box | |
JP2018040801A (en) | Testing circuit board and operation method for the same | |
US20060123287A1 (en) | Curve tracing device and method | |
JP2007024718A (en) | Control method and control program of semiconductor characteristics measuring device | |
JP2020201255A (en) | Test and measurement instrument switch matrix, and method of operating the same | |
US10705136B2 (en) | Modular test assembly | |
JP4553563B2 (en) | Voltage / current measuring apparatus and voltage / current measuring method for switchboard | |
JP2001083203A (en) | Method and apparatus for checking disconnection of hot- line deterioration diagnosing device | |
US8167648B2 (en) | Low noise connector with cables having a center, middle and outer conductors | |
US20090224604A1 (en) | Semiconductor device having plural power source terminals coupled to function block and method of controlling the same | |
JPS5839420Y2 (en) | Connection cable check device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |