KR102450680B1 - 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 입자 빔 깊이 프로파일을 측정 방법을 개시한다. 그의 측정 방법은, 인체의 청각 기관들 내에 제 1 방향으로 제 1 센서들을 제공하는 단계와, 상기 인체의 정수리와 구강 내에 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 제 2 센서들을 제공하는 단계와, 상기 인체의 머리 내에 입자 빔을 제공하는 단계와, 상기 입자 빔에 의해 생성된 음향 신호를 상기 제 1 및 제 2 센서들을 통해 검출하는 단계와, 상기 음향 신호로부터 상기 머리 내에서의 상기 입자 빔의 브래그 피크 위치에 대응되는 상기 입자 빔의 깊이 프로파일을 계산하는 단계를 포함한다.
Description
본 발명은 본 발명은 입자 빔의 측정 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법에 관한 것이다.
일반적으로 양성자 치료는 기존 방사선 치료와 대조적으로 정상조직의 불필요한 방사선량을 줄일 수 있다는 장점이 있다. 그럼에도 불구하고, 양성자 치료는 입자 빔의 선량(dose) 또는 깊이 프로파일(depth profile or range)을 파악하기 쉽지 않은 단점이 있다. 체내 입자 빔의 선량 분포를 정확하게 알지 못할 경우 치료 계획 시스템은 노출될 선량을 정확하게 계산할 수 없다. 때문에, 현재 양성자 치료 시설에서는 환자의 안전을 고려하여 치료 부위 주변에 추가적인 PTV (치료계획목표체적) 마진을 두어 치료를 진행하고 있다. 양성자 빔은 자신이 가지고 있는 에너지에 해당하는 만큼 인체내부로 들어가 완전히 에너지를 전달하고 흡수되기 때문에 양성자 빔의 분포를 출구 선량 측정으로 내부 선량을 예측하는 것은 불가능하다. 종래에는 인체 내부를 구성하는 원자나 핵과 상호작용하여 생성되는 양전자가 쌍소멸하는 위치를 측정하는 Positron Emission Tomography (PET) 영상법이 제안되었으나 핵반응으로 생성되는 양전자 방출체의 반감기가 길어 양전자 방출체의 분포를 실시간을 확인하는 것이 적합지 않고 양성자 빔의 선량분포와 양전자 방출체의 생성 위치와의 연관성이 떨어진다는 지적을 받고 있다.
한편, 양성자 빔이 원자의 핵과 충돌하는 경우가 있는데, 상기 양성자 빔은 핵과의 충돌 이후에 에너지를 잃고 산란되고 핵은 deuteron, triton 또는 중이온 때로는 하나 또는 그 이상의 중성자를 방출한다. 이 과정에서 양성자로부터 에너지를 받은 핵이 여기상태로 전이되었다가 바닥상태로 떨어지면서 고에너지 (3~10 MeV) 감마선을 방출하는데, 핵반응 즉시 방출된다고 하여 즉발감마선이라고 한다. 즉발감마선의 분포와 양성자 선량분포 간의 상관관계가 밝혀지면서 이를 활용한 장치 개발이 활발하게 이루어지고 있으며 임상시험 단계에 오른 장치도 보고되고 있다.
한편, 양성자는 인체 내부를 진행하면서 원자 주위의 전자들과 비탄성 충돌(inelastic Coulombic interactions)을 하는 과정에서 지속적으로 운동에너지를 잃는다. 이 과정에서 전자가 에너지를 얻고 원자 밖으로 산란되어 나가는 현상이 나타난다. 전자가 에너지를 얻을 경우, 대부분 열에너지로 전환되는데 특정한 위치 또는 공간에 온도변화가 유도될 경우 주변으로 퍼져나가는 음파가 발생하는 것은 매우 잘 알려져 있는 사실이다. 최근에는 양성자가 전자와 상호작용한 결과로 생성된 음파를 측정하여 브래그 피크 위치와 선량 정보를 측정하는 아이디어가 나왔다. 양성자를 환자 몸에 주입하면 체내에서 발생한 음향신호가 360도로 퍼져나가면서 피부에 도달하게 되는데, 이때 피부에 음향센서를 물리적으로 접촉시켜 양성자가 피부에 도달한 시간과 측정된 음향신호가 측정된 시간과의 상관관계를 체내 음향신호의 전파속도를 감안하여 계산하면 브래그 피크 위치를 정확히 알아낼 수 있다. 그러나 치료에 사용하는 양성자의 수가 한정되어 있고 이에 의해 발생하는 음향신호의 세기가 피부를 통해 측정할 만큼 강하지 않다는 단점이 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 인체의 머리 내의 음향신호를 효과적으로 검출할 수 있는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법을 제공하는 데 있다.
또한, 본 발명의 다른 해결 과제는 브래그 피크 위치를 정확히 계산할 수 있는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법을 제공하는 데 있다.
본 발명은 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법을 개시한다. 그의 측정방법은, 인체의 청각 기관들 내에 제 1 방향으로 제 1 센서들을 제공하는 단계; 상기 인체의 정수리와 구강 내에 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 제 2 센서들을 제공하는 단계; 상기 인체의 머리 내에 입자 빔을 제공하는 단계; 상기 입자 빔에 의해 생성된 음향 신호를 상기 제 1 및 제 2 센서들을 통해 검출하는 단계; 및 상기 음향 신호로부터 상기 머리 내에서의 상기 입자 빔의 브래그 피크 위치에 대응되는 상기 입자 빔의 깊이 프로파일을 계산하는 단계를 포함한다.
일 예에 따르면, 상기 제 1 센서들은 압전 센서 또는 광 센서를 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 상기 제 1 센서들은 상기 청각 기관의 고막의 진동을 감지할 수 있다.
일 예에 따르면, 상기 제 1 센서들은 상기 청각 기관들의 중이 내에 제공될 수 있다.
일 예에 따르면, 상기 제 2 센서들은 압전 센서들을 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 상기 제 1 센서들을 제공하는 단계는 상기 제 1 센서들 사이의 제 1 거리를 측정하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 제 2 센서들을 제공하는 단계는 상기 제 2 센서들 사이의 제 2 거리를 측정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 상기 입자 빔은 양성자 빔을 포함할 수 있다.
일 예에 따르면, 상기 입자 빔은 상기 제 1 및 제 2 방향들과 교차하는 제 3 방향으로 입사될 수 있다.
본 발명의 개념에 따른 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법은 청각 기관들을 통해 음향신호들을 효과적으로 검출하고, 상기 음향신호들을 이용하여 제 1 및 제 2 방향에 대하여 입자 빔의 브래그 피크 위치를 계산할 수 있다.
도 1은 본 발명의 입자 빔의 깊이 프로파일 측정장치를 보여주는 도면이다.
도 2는 본 발명의 개념에 따른 입자 빔(12)의 깊이 프로파일 측정방법을 보여주는 플로우 챠트이다.
도 3은 도 1의 청각 기관들 각각의 중이와 내이 내의 고막과 달팽이 관을 보여주는 도면이다.
도 4a 및 도 4b는 도 1의 제 1 센서의 고막의 진동 감지 방법을 보여주는 도면들이다.
도 2는 본 발명의 개념에 따른 입자 빔(12)의 깊이 프로파일 측정방법을 보여주는 플로우 챠트이다.
도 3은 도 1의 청각 기관들 각각의 중이와 내이 내의 고막과 달팽이 관을 보여주는 도면이다.
도 4a 및 도 4b는 도 1의 제 1 센서의 고막의 진동 감지 방법을 보여주는 도면들이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면들과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전문에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함한다(comprises)' 및/또는 '포함하는(comprising)'은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 또한, 바람직한 실시예에 따른 것이기 때문에, 설명의 순서에 따라 제시되는 참조 부호는 그 순서에 반드시 한정되지는 않는다.
또한, 본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 발명의 이상적인 예시도인 단면도 및/또는 평면도들을 참고하여 설명될 것이다. 도면들에 있어서, 막 및 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. 따라서, 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도시된 특정 형태로 제한되는 것이 아니라 제조 공정에 따라 생성되는 형태의 변화도 포함하는 것이다. 따라서, 도면에서 예시된 영역들은 개략적인 속성을 가지며, 도면에서 예시된 부분들의 모양은 특정 형태를 예시하기 위한 것이며 발명의 범주를 제한하기 위한 것이 아니다.
도 1은 본 발명의 입자 빔의 깊이 프로파일 측정장치(100)를 보여준다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 개념에 따른 입자 빔의 깊이 프로파일 측정장치(100)는 입자 빔 소스(10), 호도스코프(20), 제 1 센서들(32), 제 2 센서들(34), 신호 증폭기(40), 신호 처리기(50) 및 신호 분석기(60)를 포함할 수 있다.
상기 입자 빔 소스(10)는 입자 빔(12)을 생성할 수 있다. 상기 입자 빔(12)을 인체의 머리(2) 내에 제공할 수 있다. 예를 들어, 상기 입자 빔(12)은 양성자 빔을 포함할 수 있다. 상기 입자 빔 소스(10)는 양성자 생성기를 포함할 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 입자 빔 소스(10)는 레이저 광을 생성하는 레이저 장치와 상기 레이저 광에 의해 입자 빔을 생성하는 타깃을 포함할 수 있다. 상기 타깃은 그래핀, 그라파이트, 또는 탄소나노튜브의 탄소 성분을 포함하며, 본 발명은 이에 한정되지 않고 다양하게 실시 변경 가능할 수 있다.
상기 호도스코프(20)는 상기 입자 빔 소스(10)와 상기 머리(2) 사이에 배치될 수 있다. 상기 호도스코프(20)는 상기 입자 빔(12)의 입사 시점, 선량 및/또는 입사 방향을 검출할 수 있다. 상기 입자 빔(12)은 상기 호도스코프(20)를 통과한 후 상기 머리(2) 내의 종양(4)으로 제공될 수 있다. 상기 입자 빔(12)은 종양(4) 내에 브래그 피크 위치(6) 및/또는 지점(point)를 갖고, 음향 신호(14)를 생성시킬 수 있다. 상기 음향 신호(14)는 상기 머리(2) 내의 청각 기관들(8)으로 제공될 수 있다. 예를 들어, 상기 음향 신호(14)는 약 16Hz 내지 약 20KHz 정도의 가청 주파수를 가질 수 있다. 이와 달리 상기 입자 빔(12)은 상기 가청 주파수 보다 높은 약 20KHz이상의 라디오 주파수의 상기 음향 신호14)를 생성할 수 있다.
상기 제 1 센서들(32)은 상기 인체의 머리(2) 내에 제공될 수 있다. 일 예에 따르면, 상기 제 1 센서들(32)은 상기 머리(2)의 청각 기관들(8) 내에 제 1 방향(x)으로 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 센서들(32)은 상기 머리(2)의 마주보는 귀 구멍들 내에 제공될 수 있다. 상기 제 1 센서들(32)은 상기 음향 신호(14)를 감지하여 제 1 감지 신호(31)를 생성할 수 있다. 상기 제 1 감지 신호(31)는 상기 제 1 방향(x)에 대한 상기 브래그 피크 위치(6)의 정보를 제공할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 센서들(32)은 압전 센서, 광 센서, 포토다이오드, 또는 광섬유 음향센서를 포함할 수 있다.
상기 제 2 센서들(34)은 상기 인체의 머리(2)에 제 2 방향(y) 방향으로 배치될 수 있다. 예를 들어 상기 제 2 센서들(34)은 상기 머리(2)의 정수리(7)와 구강(9) 내에 배치될 수 있다. 상기 제 2 센서들(34)은 상기 음향 신호(14)를 감지하여 제 2 감지 신호들(33)을 생성할 수 있다. 상기 제 2 감지 신호들(33)은 상기 제 2 방향(y)에 대한 상기 브래그 피크 위치(6)의 정보를 제공할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 2 센서들(34)은 압전 센서를 포함할 수 있다.
상기 신호 증폭기(40)는 상기 제 1 및 제 2 센서들(32, 34)로 연결될 수 있다. 상기 신호 증폭기(40)는 상기 제 1 및 제 2 센서들(32, 34))의 제 1 및 제 2 감지 신호들(31, 33)을 증폭할 수 있다.
상기 신호 처리기(50)는 상기 호도스코프(20) 및 상기 신호 증폭기(40)에 연결될 수 있다. 일 예에 따르면, 상기 신호 처리기(50)는 상기 입자 빔(12)과 상기 음향 신호(14)의 정보를 처리할 수 있다. 상기 신호 처리기(50)는 상기 입자 빔(12)의 검출 신호와 상기 제 1 및 제 2 감지 신호들(31, 33)을 수신할 수 있다. 상기 신호 처리기(50)는 상기 입자 빔(12)의 선량 및 입사 방향을 판별할 수 있다. 상기 신호 처리기(50)는 상기 제 1 및 제 2 감지 신호들(31, 33) 각각의 주파수, 위상 및 세기를 판별할 수 있다.
상기 신호 분석기(60)는 상기 신호 처리기(50)에 연결될 수 있다. 상기 신호 분석기(60)는 상기 입자 빔(12)의 입사 방향과, 상기 제 1 및 제 2 감지 신호들(31, 33)의 위상 차이를 이용하여 상기 제 1 및 제 2 방향들(x, y)에 대한 상기 입자 빔(12)의 브래그 피크 위치(6)를 계산 및/또는 판별할 수 있다. 또한, 상기 신호 분석기(60)는 상기 제 1 및 제 2 감지 신호들(31, 33)의 세기를 이용하여 상기 입자 빔(12)의 흡수 선량을 판별할 수 있다. 이와 달리, 상기 신호 처리기(50)와 상기 신호 분석기(60)는 하나의 컴퓨터로 구성될 수 있다. 상기 신호 처리기(50)와 상기 신호 분석기(60)는 브래그 피크 위치(6), 상기 입자 빔(12)의 깊이 프로파일, 및/또는 상기 입자 빔(12)의 흡수 선량의 계산 방법은 후속에서 보다 구체적으로 설명될 것이다.
이와 같이 구성된 본 발명의 입자 빔(12)의 깊이 프로파일 측정장치(100)의 깊이 프로파일 측정방법을 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 개념에 따른 입자 빔(12)의 깊이 프로파일 측정방법을 보여준다.
도 2를 참조하면, 입자 빔(12)의 깊이 프로파일 측정방법은 인체의 청각 기관들(8) 내에 제 1 센서들(32)을 제공하는 단계(S10), 구강(9) 및 정수리(7) 내에 제 2 센서들(34)을 제공하는 단계(S20), 상기 인체의 머리(2) 내에 입자 빔(12)을 제공하는 단계(S30), 상기 입자 빔(12)의 입사 시점 및 진행 방향을 검출하는 단계(S40), 제 1 및 제 2 감지 신호들(31, 33)을 획득하는 단계(S50) 및 상기 제 1 및 제 2 감지 신호들(31, 33)로부터 상기 머리(2) 내에서의 상기 입자 빔(12)의 브래그 피크 위치(6)를 계산하는 단계(S60)를 포함할 수 있다.
도 1 및 도 2를 침조하면, 제 1 센서들(32)은 상기 머리(2) 양측들의 마주보는 청각 기관들(8) 내에 제공된다(S10). 상기 제 1 센서들(32)은 시술자 및/또는 로봇에 의해 상기 청각 기관들(8) 내에 제 1 방향(x)으로 제공될 수 있다. 상기 신호 처리기(50) 및/또는 상기 신호 분석기(60)는 상기 제 1 센서들(32) 사이의 제 1 거리(d1)을 검출할 수 있다. 상기 제 1 거리(d1)는 근거리 통신(blue-tooth)에 의해 검출될 수 있다. 예를 들어, 상기 청각 기관들(8)의 각각은 그의 깊이 방향으로 외이, 중이 및 내이로 구분될 수 있다. 상기 외이는 머리(2)의 외곽으로 돌출된 귀에 근접한 부분이고, 상기 내이는 상기 귀로부터 가장 멀리 이격된 부분이고, 상기 중이는 상기 외이와 내이 사이를 연결하는 부분으로 정의될 수 있다.
도 3은 도 1의 청각 기관들(8) 각각의 중이(82)와 내이(84) 내의 고막(92)과 달팽이 관(94)을 보여준다.
도 1 및 도 3을 참조하면, 고막(92)은 중이(82) 내에 배치되고, 달팽이 관(94)은 내이(84) 내에 배치될 수 있다. 상기 고막(92)은 얇은 박판 형태를 가질 수 있다. 상기 고막(92)은 외부의 상기 청각 기관들(8) 외부의 소리를 외부의 음향 진동으로 변환하고, 상기 외부의 음향 진동을 상기 달팽이 관(94)을 통해 상기 머리(2)내의 뇌에 전달할 수 있다. 상기 달팽이 관(94)은 기체 및/또는 유체로 충진될 수 있다. 또한, 상기 고막(92)은 상기 머리(2) 또는 상기 달팽이 관(94) 내의 상기 음향 신호(14)를 내부 소리로 변환하고, 상기 내부 소리를 상기 청각 기관들(8)의 외부로 유출(discharge)시킬 수 있다. 상기 음향 신호(14)와 상기 내부 소리는 전자기파 에너지에 대응될 수 있다. 이하 음향 신호(14)와 내부 소리는 모두 상기 음향 신호(14)로 설명될 것이다.
일 예에 따르면, 상기 제 1 및 제 2 센서들(32, 34)의 각각은 상기 중이(82) 내에 제공될 수 있다.
다음, 제 2 센서들(34)은 정수리(7) 및 구강(9) 내에 제공된다(S20). 상기 제 2 센서들(34)은 상기 시술자 및/또는 로봇에 의해 상기 정수리(7) 및 구강(9) 내에 제 2 방향(y)으로 제공될 수 있다. 상기 신호 처리기(50) 및/또는 상기 신호 분석기(60)는 상기 제 2 센서들(34) 사이의 제 2 거리(d2)을 검출할 수 있다. 상기 제 2 거리(d2)는 근거리 통신(blue-tooth)에 의해 검출될 수 있다.
그 다음, 입자 빔 소스(10)는 상기 호도스코프(20)를 통해 상기 머리(2)로 상기 입자 빔(12)을 제공한다(S30). 상기 입자 빔(12)은 임의의 선량을 갖고, 제 3 방향(미도시)으로 입사될 수 있다.
그리고, 호도스코프(20)는 상기 입자 빔(12)의 선량과 진행 방향을 검출한다(S40). 상기 호도스코프(20)는 상기 입자 빔(12)의 검출 신호를 신호 처리기(50)으로 송신할 수 있다. 상기 신호 처리기(50)는 상기 입자 빔 소스(10)를 제어할 수 있다. 상기 머리(2) 내의 상기 입자 빔(12)은 종양(4)으로 제공될 수 있다. 상기 입자 빔(12)은 상기 종양(4) 내의 브래그 피크 위치(6)에서 흡수되어 상기 음향 신호(14)를 생성할 수 있다. 상기 음향 신호(14)는 상기 청각 기관들(8)로 전달될 수 있다.
이후, 상기 제 1 및 제 2 센서들(32, 34)은 상기 음향 신호(14)를 감지한다(S50). 상기 제 1 센서들(32)은 상기 중이(82) 내의 고막(92)의 상기 음향 신호(14)를 감지할 수 있다. 상기 음향 신호(14)의 감지 방법은 다음과 같다.
도 4a 및 도 4b는 도 1의 제 1 센서(32)의 고막(92)의 음향 신호(14) 감지 방법을 보여준다.
도 4a를 참조하면, 상기 압전 소자의 제 1 센서(32)는 상기 고막(92)의 상기 음향 신호(14)를 직접 감지할 수 있다. 상기 고막(92)은 상기 귓구멍 내의 공기(미도시)를 통해 상기 음향 신호(14)를 제 1 센서(32)에 제공할 수 있다.
도 4b를 참조하면, 제 1 센서(32)는 광(90)을 사용하여 상기 고막(92)의 진동을 감지할 수 있다. 제 2 센서(34)는 상기 제 1 센서(32)와 동일한 광(90) 사용하여 상기 고막(92)의 진동을 감지할 수 있다. 예를 들어, 상기 제 1 센서(32)는 광원과, 광 센서를 포함할 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 광원은 상기 고막(92)으로 상기 광(90)을 제공할 수 있다. 상기 광 센서는 상기 고막(92)으로부터 반사된 상기 광(90)을 감지할 수 있다.
다시 도 1을 참조하면, 제 2 센서들(34)은 정수리(7) 및 구강(9) 내에서 상기 음향 신호(14)를 직접적으로 감지할 수 있다.
그리고, 신호 분석기(60)는 감지된 제 1 및 제 2 감지 신호들(31, 33)를 분석하여 상기 입자 빔(12)의 깊이 프로파일을 계산한다(S60). 예를 들어, 상기 신호 분석기(60)는 상기 제 1 감지 신호(31)를 이용하여 상기 제 1 방향(x)의 상기 브래그 피크 위치(6)를 계산할 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 신호 분석기(60)는 상기 제 1 감지 신호(31)로부터 상기 제 1 방향(x)에 대한 상기 브래그 피크 위치(6)를 획득할 수 있다. 이와 달리, 상기 신호 분석기(60)는 상기 제 1 거리(d1) 내에서의 상기 브래그 피크 위치(6)를 획득할 수 있다. 또한, 상기 신호 분석기(60)는 상기 제 2 감지 신호(33)를 이용하여 상기 제 2 방향(y)의 상기 브래그 피크 위치(6)를 계산할 수 있다. 상기 신호 분석기(60)는 상기 제 2 감지 신호(33)로부터 상기 제 2 방향(y)에 대한 상기 브래그 피크 위치(6)를 획득할 수 있다. 이와 달리, 상기 신호 분석기(60)는 상기 제 2 거리(d2) 내에서의 상기 브래그 피크 위치(6)를 획득할 수 있다.
이상에서와 같이 도면과 명세서에서 실시 예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허 청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허 청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
Claims (8)
- 수평 방향으로 배열되도록 인체의 머리 양측들의 청각 기관들 내에 제 1 센서들을 제공하는 단계;
수직 방향으로 배열되도록 상기 인체의 정수리 상부와 구강 내에 제 2 센서들을 제공하는 단계;
상기 제 1 센서들 사이 및 상기 제 2 센서들 사이의 상기 머리 내의 종양에 상기 인체를 통과하는 입자 빔을 제공하여 음향 신호를 생성하는 단계;
상기 제 1 및 제 2 센서들을 통해 상기 음향 신호를 입체적으로 검출하는 단계; 및
상기 제 1 및 제 2 센서들의 상기 음향 신호의 검출 시간 차이 또는 신호 세기 차이를 분석하여 상기 종양 내에서의 상기 음향 신호의 생성 위치에 대응되는 상기 입자 빔의 브래그 피크 위치를 계산하는 단계를 포함하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정 방법.
- 제 1 항에 있어서,
상기 제 1 센서들은 압전 센서 또는 광 센서를 포함하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정 방법.
- 제 2 항에 있어서,
상기 제 1 센서들은 상기 청각 기관의 고막의 진동을 감지하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정 방법.
- 제 3 항에 있어서,
상기 제 1 센서들은 상기 청각 기관들의 중이 내에 제공되는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법.
- 제 1 항에 있어서,
상기 제 2 센서들은 압전 센서들을 포함하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정 방법.
- 제 1 항에 있어서,
상기 제 1 센서들을 제공하는 단계는 상기 제 1 센서들 사이의 제 1 거리를 측정하는 단계를 포함하되,
상기 제 2 센서들을 제공하는 단계는 상기 제 2 센서들 사이의 제 2 거리를 측정하는 단계를 포함하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법.
- 제 1 항에 있어서,
상기 입자 빔은 양성자 빔을 포함하는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법.
- 제 1 항에 있어서,
상기 입자 빔은 상기 수평 및 수직 방향들과 교차하는 높이 방향으로 입사되는 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법.
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