KR102417201B1 - Test method of display panel, and test apparatus of display panel comprising real time test function of degraded pixel cell - Google Patents

Test method of display panel, and test apparatus of display panel comprising real time test function of degraded pixel cell Download PDF

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Abstract

표시 패널의 검사 방법이 제공된다. 상기 표시 패널의 검사 방법은, 복수의 화소 셀을 갖는 피시험 표시 패널을 준비하는 단계, 상기 피시험 표시 패널에 포함된 상기 복수의 화소 셀 중에서 피시험 화소 셀을 선택하는 단계, 상기 피시험 화소 셀에 검사 신호를 인가하는 단계, 상기 검사 신호에 대한 상기 피시험 화소 셀의 출력 신호를 측정하는 단계, 및 시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 특징화하여, 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출하고, 열화 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.A method of inspecting a display panel is provided. The method of inspecting the display panel includes preparing a display panel under test having a plurality of pixel cells, selecting a pixel cell under test from among the plurality of pixel cells included in the display panel under test, and the pixel under test Characterizing information of the pixel cell under test by applying a test signal to a cell, measuring an output signal of the pixel cell under test with respect to the test signal, and characterizing an amount of variation of the output signal with time It may include the step of deriving and determining whether deterioration.

Description

열화 화소 셀의 실시간 검사 기능을 갖는 표시 패널의 검사 방법 및 표시 패널의 검사 장치{Test method of display panel, and test apparatus of display panel comprising real time test function of degraded pixel cell}BACKGROUND OF THE INVENTION Field of the Invention

본 출원은 표시 패널의 검사 방법 및 표시 패널의 검사 장치에 관련된 것으로, 보다 상세하게는, 열화 화소 셀의 실시간 검사 기능을 갖는 표시 패널의 검사 방법 및 표시 패널의 검사 장치에 관련된 것이다. The present application relates to a display panel inspection method and a display panel inspection apparatus, and more particularly, to a display panel inspection method and a display panel inspection apparatus having a real-time inspection function of deteriorated pixel cells.

전자제품의 소형, 경량화, 고기능화 됨에 따라 인쇄회로기판 위의 부품들은 크기도 작아지고, 배치도 고밀도화가 되어 이를 생산하는 작업방법이 더욱 정밀하고 고속화, 자동화되고 있다. 또한, 디스플레이 시장이 기존 LCD에서 OLED로 전환되면서 세계 적으로 OLED 설비 투자가 급증하고 있다. As electronic products become smaller, lighter, and more functional, the parts on the printed circuit board have become smaller in size, and the layout has also become higher, so that the production method is becoming more precise, faster, and automated. In addition, as the display market shifts from LCD to OLED, investment in OLED facilities is rapidly increasing worldwide.

국내 OLED 공정용 디스플레이 검사장비 시장규모는 2012년 1,380억 원에서 2016년 5,657억 원에서 연평균 41.19%씩 증가하였으며, 국내 디스플레이 검사장비 시장은 2011년 1,138억 원에서 2015년 2,134억 원으로 증가하였으며, 연평균 1.39%의 성장률을 보이면서 2020 년에는 2,287억 원의 시장규모를 형성할 것으로 전망된다. 또한, 전세계 디스플레이 검사장비 시장은 2011년 1.78억 달러에서 연평균 17.1% 성장하여 2015년 3.34억 달러 규모이며, 2020년에는 7.35억 달러의 시장규모를 형성할 것으로 전망된다.The size of the domestic OLED process display inspection equipment market increased from KRW 138 billion in 2012 to KRW 565.7 billion in 2016 at an average annual rate of 41.19%, and the domestic display inspection equipment market increased from KRW 113.8 billion in 2011 to KRW 213.4 billion in 2015, It is expected to form a market size of 228.7 billion won in 2020, showing an average annual growth rate of 1.39%. In addition, the global display inspection equipment market is expected to grow at a CAGR of 17.1% from $178 million in 2011 to $334 billion in 2015, and is expected to form a market size of $735 billion in 2020.

디스플레이 검사 장비에 대한 시장 수요가 증가함에 따라 디스플레이 검사 장비에 대한 다양한 기술들이 개발되고 있다. As the market demand for display inspection equipment increases, various technologies for display inspection equipment are being developed.

예를 들어, 대한민국 특허 등록공보 10-1279892에는 액정표시모듈의 해상도 및 구동주파수의 셋팅 메뉴화면을 제공하는 스캔박스 제어부와; 상기 셋팅 메뉴화면 상에서 사용자에 의한 설정내용에 따라, 상기 액정표시모듈에 공급되는 입력 영상신호의 해 상도와 구동주파수를 조정하여 출력하는 스캐닝 컨버터와; 상기 스캐닝 컨버터로부터 공급되는 해상도의 영상신호를 디스플레이하는 액정표시모듈을 포함하고, 상기 스캐닝 컨버터는, 상기 셋팅 메뉴화면 상에서 사용자에 의한 메뉴 설정상태에 따라, 상기 액정표시모듈에 공급되는 파워나, 입력 영상신호의 해상도, 구동주파수, 스프레드 스펙트럼을 조정하기 위한 제어신호를 출력하는 마이크로컴퓨터와; 상기 마이크로컴퓨터의 제어하에 상기 액정표시 모듈의 구동주파수를 변환하여 출력하는 주파수 컨버터와; 전원부로부터 공급되는 소정 레벨의 전압을 이용하여 상기 액정표시모듈에 소정 레벨의 패널전압을 출력하는 패널전압 제어부와; 상기 마이크로컴퓨터의 제어하에 해당 듀티비의 펄스폭변조신호를 출력하는 펄스폭변조신호 제어부와; 사용자에 의해 조정된 듀티비의 펄스폭변조신호에 상응되게 백라이트의 출력 전압이나 전류를 조절하여 해당 밝 기의 백라이트가 제공되도록 하는 마스터 인버터 및 슬레이브 인버터로 구성된 것을 특징으로 하는 액정표시모 듈의 검사 장치 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장치가 개시되어 있다. For example, Republic of Korea Patent Registration No. 10-1279892 discloses a scan box control unit that provides a setting menu screen for the resolution and driving frequency of the liquid crystal display module; a scanning converter which adjusts and outputs the resolution and driving frequency of the input image signal supplied to the liquid crystal display module according to the setting by the user on the setting menu screen; and a liquid crystal display module for displaying an image signal of a resolution supplied from the scanning converter, wherein the scanning converter includes a power supplied to the liquid crystal display module or an input according to a menu setting state by a user on the setting menu screen. a microcomputer for outputting a control signal for adjusting the resolution, driving frequency, and spread spectrum of the image signal; a frequency converter for converting and outputting a driving frequency of the liquid crystal display module under the control of the microcomputer; a panel voltage controller for outputting a panel voltage of a predetermined level to the liquid crystal display module by using a voltage of a predetermined level supplied from a power supply; a pulse width modulation signal controller for outputting a pulse width modulation signal of a corresponding duty ratio under the control of the microcomputer; Inspection of a liquid crystal display module, characterized in that it consists of a master inverter and a slave inverter to provide a backlight of the corresponding brightness by adjusting the output voltage or current of the backlight corresponding to the pulse width modulation signal of the duty ratio adjusted by the user Disclosed is a display panel inspection device characterized in that the device.

본 출원이 해결하고자 하는 일 기술적 과제는, 열화 화소 셀의 실시간 검사 기능을 갖는 표시 패널의 검사 방법 및 표시 패널의 검사 장치를 제공하는 데 있다. SUMMARY One technical problem to be solved by the present application is to provide a display panel inspection method and a display panel inspection apparatus having a real-time inspection function of deteriorated pixel cells.

본 출원이 해결하고자 하는 다른 기술적 과제는, 고신뢰성의 표시 패널의 검사 방법 및 표시 패널의 검사 장치를 제공하는 데 있다.Another technical problem to be solved by the present application is to provide a high-reliability inspection method for a display panel and a display panel inspection apparatus.

본 출원이 해결하고자 하는 또 다른 기술적 과제는, 검사 비용이 저렴한 표시 패널의 검사 방법 및 표시 패널의 검사 장치를 제공하는 데 있다.Another technical problem to be solved by the present application is to provide a method for inspecting a display panel and an apparatus for inspecting a display panel that are inexpensive in inspection cost.

본 출원이 해결하고자 하는 또 다른 기술적 과제는, 검사 속도가 빠른 표시 패널의 검사 방법 및 표시 패널의 검사 장치를 제공하는 데 있다.Another technical problem to be solved by the present application is to provide a method for inspecting a display panel that has a high inspection speed and an apparatus for inspecting a display panel.

본 출원이 해결하고자 하는 기술적 과제는 상술된 것에 제한되지 않는다. The technical problem to be solved by the present application is not limited to the above.

상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 출원은 표시 패널의 검사 방법을 제공한다. In order to solve the above technical problem, the present application provides a method of inspecting a display panel.

일 실시 예에 따르면, 상기 표시 패널의 검사 방법은, 복수의 화소 셀을 갖는 피시험 표시 패널을 준비하는 단계, 상기 피시험 표시 패널에 포함된 상기 복수의 화소 셀 중에서 피시험 화소 셀을 선택하는 단계, 상기 피시험 화소 셀에 검사 신호를 인가하는 단계, 상기 검사 신호에 대한 상기 피시험 화소 셀의 출력 신호를 측정하는 단계, 및 시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 특징화하여, 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출하고, 열화 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다. According to an embodiment, the method of inspecting the display panel includes preparing a display panel under test having a plurality of pixel cells, and selecting a pixel cell under test from among the plurality of pixel cells included in the display panel under test. Step, applying a test signal to the pixel cell under test, measuring an output signal of the pixel cell under test with respect to the test signal, and characterizing the amount of variation of the output signal with time, the test signal The method may include deriving characterization information of the pixel cell and determining whether the pixel cell is deteriorated.

일 실시 예에 따르면, 상기 피시험 화소 셀의 열화 여부를 판단하는 단계는, 참조용 표시 패널에 포함된 참조용 화소 셀에 상기 검사 신호를 인가한 후 출력되는 참조용 출력 신호의 시간에 따른 변동량을 특징화시킨 참조용 특징화 정보가 준비되고, 상기 참조용 데이터 베이스의 상기 참조용 특징화 정보와 상기 피시험 화소 셀의 상기 특징화 정보를 비교하는 것을 포함할 수 있다. According to an embodiment, the determining of whether the pixel cell under test is deteriorated may include applying the inspection signal to the reference pixel cell included in the reference display panel and then the amount of variation with time of the reference output signal outputted and preparing reference characterization information that characterizes , and comparing the reference characterization information of the reference database with the characterization information of the pixel cell under test.

일 실시 예에 따르면, 상기 참조용 표시 패널은 상기 피시험 표시 패널과 동종의 패널이고, 상기 참조용 화소 셀은 상기 피시험 화소 셀과 동일한 구조 및 동일한 물질로 형성된 것을 포함할 수 있다. According to an embodiment, the reference display panel may be the same as the display panel under test, and the reference pixel cell may include the same structure and the same material as the pixel cell under test.

일 실시 예에 따르면, 시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 특징화하여 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출는 단계는, 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호의 MFCC 값을 산출하는 것을 포함할 수 있다. According to an embodiment, the deriving the characterization information of the pixel cell under test by characterizing the amount of variation of the output signal with time may include calculating an MFCC value of the output signal of the pixel cell under test. can

일 실시 예에 따르면, 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호의 MFCC 값은, 120개 초과 160개 미만의 필터를 사용하여 산출되는 것을 포함할 수 있다. According to an embodiment, the MFCC value of the output signal of the pixel cell under test may include calculating using more than 120 filters but less than 160 filters.

일 실시 예에 따르면, 상기 피시험 화소 셀에 인가되는 상기 검사 신호는, 500nA 이상인 것을 포함할 수 있다. According to an embodiment, the test signal applied to the pixel cell under test may include 500 nA or more.

상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 출원은 표시 패널의 검사 장치를 제공한다. In order to solve the above technical problem, the present application provides an apparatus for inspecting a display panel.

일 실시 예에 따르면, 상기 표시 패널의 검사 장치는, 피시험 표시 패널에 포함된 피시험 화소 셀에 검사 신호를 인가하는 검사 신호 인가부, 상기 검사 신호에 대한 상기 피시험 화소 셀의 출력 신호를 측정하는 출력 신호 측정부, 및 시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 특징화하여, 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출하고 열화 여부를 판단하는 열화 확인부를 포함할 수 있다. According to an embodiment, the inspection device of the display panel includes an inspection signal applying unit that applies an inspection signal to a pixel cell under test included in the display panel under test, and an output signal of the pixel cell under test with respect to the inspection signal It may include an output signal measuring unit that measures, and a deterioration checking unit that characterizes the amount of variation of the output signal over time, derives characterization information of the pixel cell under test, and determines whether deterioration occurs.

일 실시 예에 따르면, 상기 열화 확인부는, 참조용 표시 패널에 포함된 참조용 화소 셀에 상기 검사 신호를 인가한 후 출력되는 참조용 출력 신호의 시간에 따른 변동량을 특징화시킨 참조용 특징화 정보를 갖는 참조용 데이터 베이스, 및 상기 참조용 데이터 베이스의 상기 참조용 특징화 정보와 상기 피시험 화소 셀의 상기 특징화 정보를 비교하는 비교 판단부를 포함할 수 있다. According to an embodiment, the deterioration check unit may include characterization information for reference that characterizes an amount of variation with time of an output signal for reference output after applying the inspection signal to a pixel cell for reference included in the reference display panel and a comparison determining unit that compares the reference characterization information of the reference database with the characterization information of the pixel cell under test.

일 실시 예에 따르면, 상기 표시 패널의 검사 장치는, 상기 피시험 화소 셀의 출력 신호를 증폭시키는 증폭부를 더 포함할 수 있다. According to an embodiment, the test apparatus of the display panel may further include an amplifier for amplifying an output signal of the pixel cell under test.

일 실시 예에 따르면, 상기 피시험 표시 패널은, 액정 표시 패널, 유기 발광 다이오드 표시 패널, 또는 양자점 발광 다이오드 표시 패널 중에서 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. According to an embodiment, the display panel under test may include at least one of a liquid crystal display panel, an organic light emitting diode display panel, and a quantum dot light emitting diode display panel.

본 출원의 실시 예에 따르면, 피시험 표시 패널에 포함된 복수의 화소 셀 중에서 피시험 화소 셀이 선택되고, 상기 피시험 화소 셀에 검사 신호를 인가한 후, 상기 검사 신호에 대한 상기 피시험 화소 셀의 출력 신호의 시간에 따른 변동량을 특징화시켜 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보가 도출되고, 상기 특징화 정보를 이용하여, 상기 피시험 화소 셀의 열화 여부가 판단될 수 있다. According to the exemplary embodiment of the present application, a pixel cell under test is selected from among a plurality of pixel cells included in the display panel under test, and after applying a test signal to the pixel cell under test, the pixel under test corresponds to the test signal Characterization information of the pixel cell under test is derived by characterizing the amount of time variation of the output signal of the cell, and it can be determined whether the pixel cell under test is deteriorated using the characterization information.

이에 따라, 간소한 방법으로 상기 피시험 표시 패널에 포함된 상기 피시험 화소 셀에 대한 열화 여부가 검사될 수 있고, 검사 비용 및 검사 시간이 절약될 수 있고, 상기 피시험 화소 셀의 열화 여부가 실시간으로 검사될 수 있다. Accordingly, the deterioration of the pixel cell under test included in the display panel under test can be inspected in a simple way, the inspection cost and inspection time can be saved, and the deterioration of the pixel cell under test can be checked by a simple method. It can be inspected in real time.

도 1은 본 출원의 실시 예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 2는 본 출원의 실시 예에 따른 표시 패널의 일 예를 설명하기 위한 회로도이다.
도 3은 본 출원의 실시 예에 따른 피시험 표시 패널의 검사 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 4는 본 출원의 실시 예에 따른 피시험 표시 패널의 검사 장치에 포함된 열화 확인부를 설명하기 위한 블록도이다.
도 5는 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 시간에 따른 전류 값의 변동량을 측정한 그래프들이다.
도 7은 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값을 도시한 것이다.
도 8은 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값의 산출 과정에서 필터링 과정을 도시한 그래프이다.
도 9는 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값의 산출 과정에서 cepstrum number에 따른 정확도를 측정한 그래프이다.
도 10은 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값의 산출 과정에서 필터 개수에 따른 정확도를 측정한 그래프이다.
도 11은 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값의 산출 과정에서 주파수에 따른 정확도를 측정한 그래프이다.
도 12는 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값의 산출 과정에서 검사 신호의 전류 값에 따른 정확도를 측정한 그래프이다.1 is a flowchart illustrating a method of inspecting a display panel according to an exemplary embodiment of the present application.
2 is a circuit diagram illustrating an example of a display panel according to an embodiment of the present application.
3 is a block diagram illustrating an apparatus for inspecting a display panel under test according to an exemplary embodiment of the present application.
4 is a block diagram illustrating a deterioration check unit included in an inspection apparatus for a display panel under test according to an exemplary embodiment of the present application.
5 is a diagram for explaining a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application.
6 is a graph illustrating a change amount of a current value according to time of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application.
7 illustrates an MFCC value of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application.
8 is a graph illustrating a filtering process in a process of calculating an MFCC value of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application.
9 is a graph of measuring accuracy according to a cepstrum number in a process of calculating an MFCC value of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application.
10 is a graph of measuring accuracy according to the number of filters in a process of calculating an MFCC value of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application.
11 is a graph of measuring accuracy according to frequency in a process of calculating an MFCC value of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application.
12 is a graph of measuring accuracy according to a current value of a test signal in a process of calculating an MFCC value of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세히 설명할 것이다. 그러나 본 발명의 기술적 사상은 여기서 설명되는 실시 예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화 될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시 예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the technical spirit of the present invention is not limited to the embodiments described herein and may be embodied in other forms. Rather, the embodiments introduced herein are provided so that the disclosed content may be thorough and complete, and the spirit of the present invention may be sufficiently conveyed to those skilled in the art.

본 명세서에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소 상에 있다고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 형성될 수 있거나 또는 그들 사이에 제 3의 구성요소가 개재될 수도 있다는 것을 의미한다. 또한, 도면들에 있어서, 막 및 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. In this specification, when a component is referred to as being on another component, it means that it may be directly formed on the other component or a third component may be interposed therebetween. In addition, in the drawings, thicknesses of films and regions are exaggerated for effective description of technical content.

또한, 본 명세서의 다양한 실시 예 들에서 제1, 제2, 제3 등의 용어가 다양한 구성요소들을 기술하기 위해서 사용되었지만, 이들 구성요소들이 이 같은 용어들에 의해서 한정되어서는 안 된다. 이들 용어들은 단지 어느 구성요소를 다른 구성요소와 구별시키기 위해서 사용되었을 뿐이다. 따라서, 어느 한 실시 예에 제 1 구성요소로 언급된 것이 다른 실시 예에서는 제 2 구성요소로 언급될 수도 있다. 여기에 설명되고 예시되는 각 실시 예는 그것의 상보적인 실시 예도 포함한다. 또한, 본 명세서에서 '및/또는'은 전후에 나열한 구성요소들 중 적어도 하나를 포함하는 의미로 사용되었다.In addition, in various embodiments of the present specification, terms such as first, second, third, etc. are used to describe various components, but these components should not be limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another. Accordingly, what is referred to as a first component in one embodiment may be referred to as a second component in another embodiment. Each embodiment described and illustrated herein also includes a complementary embodiment thereof. In addition, in this specification, 'and/or' is used in the sense of including at least one of the components listed before and after.

명세서에서 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함한다. 또한, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 구성요소 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 구성요소 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 배제하는 것으로 이해되어서는 안 된다. 또한, 하기에서 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다.In the specification, the singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. In addition, terms such as "comprise" or "have" are intended to designate that a feature, number, step, element, or a combination thereof described in the specification exists, but one or more other features, number, step, configuration It should not be construed as excluding the possibility of the presence or addition of elements or combinations thereof. In addition, in the following description of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related well-known function or configuration may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

도 1은 본 출원의 실시 예에 따른 표시 패널의 검사 방법을 설명하기 위한 순서도이고, 도 2는 본 출원의 실시 예에 따른 표시 패널의 일 예를 설명하기 위한 회로도이다. 1 is a flowchart illustrating a method of inspecting a display panel according to an embodiment of the present application, and FIG. 2 is a circuit diagram illustrating an example of a display panel according to an embodiment of the present application.

도 1을 참조하면, 복수의 화소 셀을 갖는 피시험 표시 패널이 준비된다(S110). Referring to FIG. 1 , a display panel under test having a plurality of pixel cells is prepared ( S110 ).

상기 피시험 표시 패널 내에, 도 2의 (a) 및 (b)에 도시된 바와 같이, 복수의 워드 라인(WL1~WL3) 및 복수의 비트 라인(BL1~BL2)의 교차 영역에 복수의 화소 셀이 정의될 수 있다.In the display panel under test, as shown in FIGS. 2A and 2B , a plurality of pixel cells are formed at intersections of the plurality of word lines WL1 to WL3 and the plurality of bit lines BL1 to BL2. can be defined.

상기 피시험 표시 패널은, 도 2의 (a)에 도시된 바와 같이 액정 표시 패널일 수 있다. 도 2이 (a)에서 2개의 트랜지스터 및 1개의 커패시터를 포함하는 화소 셀이 도시되었으나, 박막 트랜지스터 기판의 구조는 이에 한정되지 않고, 다양한 박막 트랜지스터 기판 구조에 본 출원의 실시 예가 적용될 수 있다. The display panel under test may be a liquid crystal display panel as shown in FIG. 2A . Although FIG. 2A illustrates a pixel cell including two transistors and one capacitor, the structure of the thin film transistor substrate is not limited thereto, and the embodiment of the present application may be applied to various thin film transistor substrate structures.

또한, 상기 피시험 표시 패널은, 도 2의 (b)에 도시된 바와 같이 유기 발광 다이오드 표시 패널, 또는 양자점 발광 다이오드 표시 패널일 수 있다. 도 2의 (b)에서는 트랜지스터가 생략되어 표시되었다. Also, the display panel under test may be an organic light emitting diode display panel or a quantum dot light emitting diode display panel as shown in FIG. 2B . In FIG. 2B , the transistor is omitted.

상기 피시험 표시 패널에 포함된 상기 복수의 화소 셀 중에서 피시험 화소 셀이 선택될 수 있다(S120). A pixel cell under test may be selected from among the plurality of pixel cells included in the display panel under test ( S120 ).

상기 피시험 화소 셀은, 도 2의 (a) 및 (b)에 도시된 바와 같이, 복수의 워드 라인(WL1~WL3) 및 상기 복수의 비트 라인(BL1~BL2) 중에서 어느 하나의 워드 라인 및 어느 하나의 비트 라인이 선택되고, 선택된 워드 라인 및 선택된 비트 라인이 교차하는 영역에 제공된 화소 셀일 수 있다. As shown in FIGS. 2A and 2B , the pixel cell under test includes any one of the plurality of word lines WL1 to WL3 and the plurality of bit lines BL1 to BL2 and It may be a pixel cell provided in a region where any one bit line is selected and the selected word line and the selected bit line intersect.

상기 피시험 화소 셀에 검사 신호가 인가될 수 있다(S130). A test signal may be applied to the pixel cell under test ( S130 ).

상기 검사 신호는, 상술된 바와 같이, 상기 피시험 화소 셀과 연결된 상기 선택된 워드 라인 및 상기 선택된 비트 라인에 전류 및/또는 전압을 인가하는 방법으로 제공될 수 있다. As described above, the test signal may be provided by a method of applying a current and/or a voltage to the selected word line and the selected bit line connected to the pixel cell under test.

상기 피시험 화소 셀에 인가되는 상기 검사 신호는 500nA 이상 100mA 이하일 수 있다. 만약, 상기 검사 신호가 500nA 미만인 경우, 상기 피시험 화소 셀의 열화 여부를 판단하는 신뢰도가 낮을 수 있고, 상기 검사 신호가 100mA를 초과하는 경우 후술되는 출력 신호의 변동량이 용이하게 확인되지 않을 수 있다. 이에 따라, 본 출원의 실시 예에 따르면, 상기 피시험 화소 셀에 인가되는 상기 검사 신호는 500nA 이상 100mA 이하일 수 있고, 이로 인해, 상기 피시험 화소 셀의 검사 신뢰성이 향상될 수 있다. The test signal applied to the pixel cell under test may be 500 nA or more and 100 mA or less. If the test signal is less than 500 nA, the reliability of determining whether the pixel cell under test is deteriorated may be low. . Accordingly, according to an embodiment of the present application, the test signal applied to the pixel cell under test may be 500 nA or more and 100 mA or less, and thus, the test reliability of the pixel cell under test may be improved.

상기 검사 신호에 대한 상기 피시험 화소 셀의 출력 신호가 측정될 수 있다(S140). An output signal of the pixel cell under test with respect to the test signal may be measured ( S140 ).

상기 출력 신호는, 시간에 따라 측정될 수 있고, 상기 출력 신호는, 상기 피시험 화소 셀에 따라서 다른 변동량(fluctuation)을 가질 수 있다. 다시 말하면, 상기 피시험 화소 셀이 열화된 경우 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호의 시간에 따른 변동량과 상기 피시험 화소셀이 정상적인 경우 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호의 시간에 따른 변동량이 서로 다를 수 있다. The output signal may be measured according to time, and the output signal may have a different fluctuation amount according to the pixel cell under test. In other words, when the pixel cell under test is deteriorated, the amount of variation with time of the output signal of the pixel cell under test and when the pixel cell under test is normal, the amount of variation with time of the output signal of the pixel cell under test may be different.

시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 특징화하여, 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출하고 열화 여부가 판단될 수 있다(S150). By characterizing the amount of variation of the output signal according to time, characterization information of the pixel cell under test may be derived, and whether deterioration may be determined ( S150 ).

일 실시 예에 따르면, 시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 특징화하기 전, 상기 출력 신호가 증폭될 수 있다. 이에 따라, 상기 출력 신호의 변동량이 미세한 경우에도, 상기 출력 신호의 변동량이 용이하게 특징화될 수 있다. According to an embodiment, before characterizing the amount of variation of the output signal over time, the output signal may be amplified. Accordingly, even when the variation amount of the output signal is small, the variation amount of the output signal can be easily characterized.

상술된 바와 같이, 상기 피시험 화소 셀의 열화 여부에 따라서, 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호의 시간에 따른 변동량이 서로 다를 수 있다. 이에 따라, 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호의 시간에 따른 변동량을 특징화하여, 상기 피시험 화소 셀의 열화 여부가 판단될 수 있다. As described above, the amount of time variation of the output signal of the pixel cell under test may be different depending on whether the pixel cell under test is deteriorated. Accordingly, it can be determined whether the pixel cell under test is deteriorated by characterizing the amount of time variation of the output signal of the pixel cell under test.

구체적으로, 상기 피시험 화소 셀의 열화 여부를 확인하기 위해, 참조용 특징화 정보가 준비된다. 상기 참조용 특징화 정보를 준비하는 단계는, 참조용 표시 패널을 준비하는 단계, 상기 참조용 표시 패널에 포함된 참조용 화소 셀에 상기 검사 신호를 인가하는 단계, 및 상기 검사 신호에 대한 상기 참조용 화소 셀의 출력 신호의 시간에 따른 변동량을 특징화시켜 상기 참조용 특징화 정보를 생성하는 단계를 포함할 수 있다. Specifically, in order to check whether the pixel cell under test is deteriorated, characterization information for reference is prepared. The preparing of the characterization information for reference includes preparing a reference display panel, applying the inspection signal to reference pixel cells included in the reference display panel, and the reference to the inspection signal and generating the characterization information for reference by characterizing an amount of variation with time of the output signal of the pixel cell for use.

일 실시 예에 따르면, 상기 참조용 표시 패널은, 상기 피시험 표시 패널과 동종의 패널일 수 있고, 상기 참조용 화소 셀은 상기 피시험 화소 셀과 동일한 구조 및 동일한 물질로 형성된 것일 수 있다. 예를 들어, 상기 피시험 표시 패널이 액정 표시 패널인 경우 상기 참조용 표시 패널 또한 액정 표시 패널일 수 있고, 상기 피시험 표시 패널이 유기 발광 다이오드 표시 패널인 경우 상기 참조용 표시 패널 또한 유기 발광 다이오드 표시 패널일 수 있고, 상기 피시험 표시 패널이 양자점 다이오드 표시 패널인 경우 상기 참조용 표시 패널 또한 양자점 다이오드 표시 패널일 수 있다. According to an embodiment, the reference display panel may be the same type as the display panel under test, and the reference pixel cell may be formed of the same structure and the same material as the pixel cell under test. For example, when the display panel under test is a liquid crystal display panel, the reference display panel may also be a liquid crystal display panel, and when the display panel under test is an organic light emitting diode display panel, the reference display panel is also an organic light emitting diode The display panel may be a display panel, and when the display panel under test is a quantum dot diode display panel, the reference display panel may also be a quantum dot diode display panel.

또는, 상술된 바와 달리, 상기 참조용 특징화 정보는, 상기 피시험 표시 패널에 포함된 상기 복수의 화소 셀 중에서 상기 피시험 화소 셀을 제외한 나머지 화소 셀에 상기 검사 신호를 인가하고, 상기 검사 신호에 대한 상기 나머지 화소 셀의 출력 신호에 대한 변동량을 각각 특징화시켜 생성될 수 있다. Alternatively, as described above, the reference characterization information is obtained by applying the inspection signal to the remaining pixel cells excluding the pixel cell under test among the plurality of pixel cells included in the display panel under test, and the inspection signal It may be generated by characterizing the amount of variation with respect to the output signal of the remaining pixel cells, respectively.

상기 피시험 화소 셀의 상기 특징화 정보 및 상기 참조용 화소 셀의 상기 참조용 특징화 정보는, 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호 및 상기 참조용 화소 셀의 상기 출력 신호가 특징 벡터화된 것일 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 특징화하여 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출하는 단계는, 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호의 MFCC(Mel scale filtered cepstral coefficient) 값을 산출하는 것을 포함할 수 있다. 표시 패널에 포함된 화소 셀 내에서 캐리어의 이동에 대한 변화는 캐리어의 트랩, 디트랩(detrap), 또는 스캐터링(scattering)에 기인하며, 특정한 주파수에 한정된 것으로 가정할 수 있다. 이에 따라, 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호를 증폭시키고, 증폭된 상기 출력 신호의의 MFCC 값을 산출하는 방법으로, 캐리어의 이동에 대한 변화, 즉 상기 출력 신호의 시간에 따른 변동량이 용이하고 빠르게 특징화될 수 있다. The characterization information of the pixel cell under test and the characterization information for reference of the reference pixel cell may be a feature vectorized result of the output signal of the pixel cell under test and the output signal of the reference pixel cell. have. According to an embodiment, the deriving the characterization information of the pixel cell under test by characterizing the amount of variation of the output signal according to time may include a Mel scale filtered cepstral coefficient (MFCC) of the output signal of the pixel cell under test. ) may include calculating a value. A change in carrier movement within a pixel cell included in the display panel is due to carrier trapping, detrapment, or scattering, and may be assumed to be limited to a specific frequency. Accordingly, as a method of amplifying the output signal of the pixel cell under test and calculating the MFCC value of the amplified output signal, it is easy to change the carrier movement, that is, the amount of change with time of the output signal. can be characterized quickly.

또한, 일 실시 예에 따르면, 상기 참조용 특징화 정보는, 기계 학습 및 딥러닝을 통해 지속적으로 업데이트 및 보완될 수 있다. 이에 따라, 상기 피시험 화소 셀의 열화 여부 판단에 대한 신뢰성이 향상될 수 있다. Also, according to an embodiment, the reference characterization information may be continuously updated and supplemented through machine learning and deep learning. Accordingly, reliability of determining whether the pixel cell under test is deteriorated may be improved.

상기 피시험 화소 셀의 열화 여부를 판단하는 단계는, 상기 참조용 데이터 베이스의 상기 참조용 특징화 정보와 특징화된 상기 피시험 화소 셀의 시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 비교하는 것을 포함할 수 있다. 다시 말하면, 상기 참조용 화소 셀이 정상적인 셀이고, 상기 피시험 화소 셀이 열화된 셀인 경우, 상기 참조용 화소 셀로부터 도출된 상기 참조용 특징화 정보와 상기 피시험 화소 셀에서 도출된 상기 특징화 정보는 기준 범위 밖에서 서로 다를 수 있고, 이 경우, 상기 피시험 화소 셀은 열화된 것으로 판단될 수 있다. 반면, 상기 참조용 화소 셀 및 상기 피시험 화소 셀이 모두 정상적인 셀인 경우, 상기 참조용 화소 셀로부터 도출된 상기 참조용 특징화 정보와 상기 피시험 화소 셀에서 도출된 상기 특징화 정보는 기준 범위 내에서 서로 동일할 수 있고, 이 경우, 상기 피시험 화소 셀은 정상 셀로 판단될 수 있다. The determining whether the pixel cell under test is deteriorated may include comparing the amount of variation of the output signal according to time of the characterized pixel cell under test with the characterization information for reference in the reference database. can In other words, when the reference pixel cell is a normal cell and the test pixel cell is a degraded cell, the reference characterization information derived from the reference pixel cell and the characterization derived from the reference pixel cell The information may be different from each other outside the reference range, and in this case, it may be determined that the pixel cell under test is deteriorated. On the other hand, when both the reference pixel cell and the pixel cell under test are normal cells, the reference characterization information derived from the reference pixel cell and the characterization information derived from the pixel cell under test are within a reference range may be identical to each other, and in this case, the pixel cell under test may be determined to be a normal cell.

본 출원의 실시 예에 따르면, 상기 피시험 표시 패널에 포함된 상기 복수의 화소 셀 중에서 상기 피시험 화소 셀이 선택되고, 상기 피시험 화소 셀에 검사 신호를 인가한 후, 상기 검사 신호에 대한 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호의 시간에 따른 변동량을 특징화시켜 상기 피시험 화소 셀의 상기 특징화 정보가 도출되고, 상기 특징화 정보를 이용하여, 상기 피시험 화소 셀의 열화 여부가 판단될 수 있다. According to an embodiment of the present application, after the pixel cell under test is selected from among the plurality of pixel cells included in the display panel under test, and a test signal is applied to the pixel cell under test, the test signal is The characterization information of the pixel cell under test is derived by characterizing the amount of time variation of the output signal of the pixel cell under test, and it is determined whether the pixel cell under test is deteriorated using the characterization information. can

이에 따라, 간소한 방법으로 상기 피시험 표시 패널에 포함된 상기 피시험 화소 셀에 대한 열화 여부가 검사될 수 있고, 검사 비용 및 검사 시간이 절약될 수 있고, 상기 피시험 화소 셀의 열화 여부가 실시간으로 검사될 수 있다. Accordingly, the deterioration of the pixel cell under test included in the display panel under test can be inspected in a simple way, the inspection cost and inspection time can be saved, and the deterioration of the pixel cell under test can be checked by a simple method. It can be inspected in real time.

이하, 상술된 본 출원의 실시 예에 따른 피시험 표시 패널의 검사 방법을 구현하기 위한, 피시험 표시 패널의 검사 장치의 일 예가 도 3 및 도 4를 참조하여 설명된다. Hereinafter, an example of an inspection apparatus for a display under test panel for implementing the above-described method for inspecting a display panel under test according to an embodiment of the present application will be described with reference to FIGS. 3 and 4 .

도 3은 본 출원의 실시 예에 따른 피시험 표시 패널의 검사 장치를 설명하기 위한 블록도이고, 도 4는 본 출원의 실시 예에 따른 피시험 표시 패널의 검사 장치에 포함된 열화 확인부를 설명하기 위한 블록도이다. 3 is a block diagram for explaining an inspection device for a display panel under test according to an embodiment of the present application This is a block diagram for

도 3 및 도 4를 참조하면, 본 출원의 실시 예에 따른 피시험 표시 패널의 검사 장치는, 검사 신호 인가부(110), 증폭부(120), 출력 신호 측정부(130), 및 열화 확인부(140)를 포함할 수 있다. 3 and 4 , the inspection apparatus of the display panel under test according to an embodiment of the present application includes an inspection signal applying unit 110 , an amplifying unit 120 , an output signal measuring unit 130 , and deterioration check A unit 140 may be included.

상기 검사 신호 인가부(110)는, 피시험 표시 패널에 포함된 피시험 화소 셀에 검사 신호를 인가할 수 있다. 상기 검사 신호는, 500nA 이상 ***nA 이하일 수 있다. 상기 검사 신호 인가부(110)는, 도 2의 (a) 및 (b)에 도시된 바와 같이, 상기 피시험 화소 셀에 연결된 워드 라인 및 비트 라인을 통해 상기 검사 신호를 인가할 수 있다. The test signal applying unit 110 may apply a test signal to the pixel cell under test included in the display panel under test. The test signal may be 500 nA or more and *** nA or less. As shown in FIGS. 2A and 2B , the test signal applying unit 110 may apply the test signal through a word line and a bit line connected to the pixel cell under test.

상기 증폭부(120)는, 상기 검사 신호에 대한 상기 피시험 화소 셀의 출력 신호를 증폭시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호의 시간에 따른 변동량이 용이하게 특징화될 수 있다. The amplifying unit 120 may amplify an output signal of the pixel cell under test with respect to the test signal. Accordingly, the variation with time of the output signal of the pixel cell under test can be easily characterized.

상기 출력 신호 측정부(130)는, 증폭된 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호를 측정할 수 있다. The output signal measuring unit 130 may measure the amplified output signal of the pixel cell under test.

상기 열화 확인부(140)는, 시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 특징화하여, 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출하고 열화 여부를 판단할 수 있다. The deterioration check unit 140 may characterize the amount of variation of the output signal over time, derive characterization information of the pixel cell under test, and determine whether deterioration occurs.

구체적으로, 상기 열화 확인부(140)는, 참조용 데이터 베이스(142) 및 비교 판단부(144)를 포함할 수 있다. Specifically, the deterioration check unit 140 may include a reference database 142 and a comparison determination unit 144 .

상기 참조용 데이터 베이스(142)는, 참조용 표시 패널에 포함된 참조용 화소 셀에 상기 검사 신호를 인가한 후 출력되는 참조용 출력 신호의 시간에 따른 변동량을 특징화시킨 참조용 특징화 정보를 포함할 수 있다. The reference database 142 includes reference characterization information that characterizes the variation with time of the reference output signal output after the test signal is applied to the reference pixel cells included in the reference display panel. may include

또한, 상기 비교 판단부(144)는, 상기 참조용 데이터 베이스(142)의 상기 참조용 특징화 정보와 상기 피시험 화소 셀의 상기 특징화 정보를 비교하여, 상기 피시험 화소 셀의 열화 여부를 판단할 수 있다. In addition, the comparison determination unit 144 compares the characterization information for reference of the reference database 142 with the characterization information of the pixel cell under test to determine whether the pixel cell under test is deteriorated. can judge

상술된 본 발명의 실시 예들은 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들에 의해 수행될 수 있음을 당업자들에게 이해될 수 있을 것이다. 이들 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 범용 컴퓨터, 특수용 컴퓨터, 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비의 프로세서에 탑재될 수 있으므로, 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비의 프로세서를 통해 수행되는 그 인스트럭션들이 흐름도 블록(들)에서 본 발명의 실시 예들의 기능들을 수행하는 수단을 생성하게 된다.It will be understood by those skilled in the art that the above-described embodiments of the present invention may be performed by computer program instructions. These computer program instructions may be embodied in a processor of a general purpose computer, special purpose computer, or other programmable data processing equipment, such that the instructions performed by the processor of the computer or other programmable data processing equipment are not shown in the flowchart block(s). It creates means for performing the functions of the embodiments of the invention.

이들 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 특정 방식으로 기능을 구현하기 위해 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비를 지향할 수 있는 컴퓨터 이용 가능 또는 컴퓨터 판독 가능 메모리에 저장되는 것도 가능하므로, 그 컴퓨터 이용가능 또는 컴퓨터 판독 가능 메모리에 저장된 인스트럭션들은 본 발명의 실시 예에 따른 기능을 수행하는 인스트럭션 수단을 내포하는 제조 품목을 생산하는 것도 가능하다. These computer program instructions may also be stored in a computer-usable or computer-readable memory that may direct a computer or other programmable data processing equipment to implement a function in a particular manner, and thus the computer-usable or computer-readable memory. The instructions stored in the . It is also possible to produce a manufactured item including an instruction means for performing a function according to an embodiment of the present invention.

컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비 상에 탑재되는 것도 가능하므로, 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비 상에서 일련의 동작 단계들이 수행되어 컴퓨터로 실행되는 프로세스를 생성해서 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비를 수행하는 인스트럭션들은 흐름도 블록(들)에서 설명된 기능들을 실행하기 위한 단계들을 제공하는 것도 가능하다.The computer program instructions may also be mounted on a computer or other programmable data processing equipment, such that a series of operational steps are performed on the computer or other programmable data processing equipment to create a computer-executed process to create a computer or other programmable data processing equipment. It is also possible that instructions for performing the processing equipment provide steps for performing the functions described in the flowchart block(s).

또한, 각 블록은 특정된 논리적 기능(들)을 실행하기 위한 하나 이상의 실행 가능한 인스트럭션들을 포함하는 모듈, 세그먼트 또는 코드의 일부를 나타낼 수 있다. 또, 몇 가지 대체 실행 예들에서는 블록들에서 언급된 기능들이 순서를 벗어나서 발생하는 것도 가능하다. 예컨대, 잇달아 도시되어 있는 두 개의 블록들은 사실 실질적으로 동시에 수행되는 것도 가능하고 또는 그 블록들이 때때로 해당하는 기능에 따라 역순으로 수행되는 것도 가능하다.Additionally, each block may represent a module, segment, or portion of code that includes one or more executable instructions for executing specified logical function(s). It is also possible for the functions mentioned in blocks to occur out of order in some alternative implementations. For example, two blocks shown one after another may be performed substantially simultaneously, or the blocks may sometimes be performed in the reverse order according to a corresponding function.

이하, 상술된 본 출원의 실시 예에 따른 구체적인 실험 예가 설명된다. Hereinafter, specific experimental examples according to the above-described embodiments of the present application will be described.

도 5는 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀을 설명하기 위한 도면이다. 5 is a diagram for explaining a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application.

실험 예에 따른 화소 셀을 갖는 표시 패널 준비Preparation of a display panel having pixel cells according to an experimental example

도 5의 (a)에 도시된 바와 같이, ITO/Glass, ZnO 나노 입자가 부탄올에 분산된 전자 수송층, 양자점 발광층(QD), 4,4′-bis(N-carbazolyl)-1,1′-biphenyl(CBP) 홀 수송층, MoO3 홀 주입층, 및 Al 전극이 순차적으로 적층된 화소 셀을 갖는 표시 패널을 준비하였다. As shown in (a) of Figure 5, ITO / Glass, ZnO nanoparticles dispersed in butanol electron transport layer, quantum dot light emitting layer (QD), 4,4'-bis(N-carbazolyl)-1,1'- A display panel having a pixel cell in which a biphenyl (CBP) hole transport layer, a MoO 3 hole injection layer, and an Al electrode are sequentially stacked was prepared.

도 5의 (b)에 도시된 바와 같이, ITO/Glass에서 ZnO 전자 수송층 경유하여 양자점 발광층(QD)로 전자가 주입되고, Al 전극에서 MoO3 홀 주입층을 경유하여 양자점 발광층(QD)으로 홀이 주입되어, 양자점 발광층(QD)에서 주입된 전자 및 홀이 결합하여 광이 방출될 수 있다. As shown in Fig. 5 (b), electrons are injected from ITO/Glass to the quantum dot light emitting layer (QD) via the ZnO electron transport layer, and from the Al electrode via the MoO 3 hole injection layer to the quantum dot light emitting layer (QD). When this is injected, electrons and holes injected from the quantum dot emission layer QD are combined to emit light.

도 6은 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 시간에 따른 전류 값의 변동량을 측정한 그래프들이다.6 is a graph illustrating changes in current values according to time of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application.

도 6을 참조하면, 상술된 실험 예에 따른 표시 패널의 복수의 화소 셀에 대해서 실제 셀의 동작 영역과 일치하는 전압 및 전류 조건에 대응하는 검사 신호를 인가하고, 복수의 화소 셀의 출력 신호들을 측정하고, 푸리에 변환하여 전력 스펙트럼 밀도(Power Spectral Density)를 계산하였다. Referring to FIG. 6 , a test signal corresponding to voltage and current conditions matching the operating regions of an actual cell is applied to a plurality of pixel cells of the display panel according to the above-described experimental example, and output signals of the plurality of pixel cells are applied. Measurement and Fourier transform were performed to calculate Power Spectral Density.

도 6에 도시된 것과 같이, 정상적인 화소 셀과 열화된 화소 셀의 시간에 따른 출력 신호의 변동량이 상이한 것을 확인할 수 있으며, 화소 셀의 출력 신호의 시간에 따른 변동량의 특징화를 통해 화소 셀의 열화 여부를 판단할 수 있음을 알 수 있다. As shown in FIG. 6 , it can be seen that the variation amount of the output signal of the normal pixel cell and the deteriorated pixel cell is different with time, and the degradation of the pixel cell is characterized by the time variation of the output signal of the pixel cell. It can be determined whether or not

도 7은 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값을 도시한 것이고, 도 8은 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값의 산출 과정에서 필터링 과정을 도시한 그래프이다. 7 illustrates an MFCC value of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application, and FIG. 8 illustrates a filtering process in a process of calculating an MFCC value of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application. It is a graph.

도 7 및 도 8을 참조하면, 도 6을 참조하여 설명된 정상적인 화소 셀과 열화된 화소 셀의 MFCC 값을 계산하여 도시하였고, 도 8에 도시된 바와 같이 필터링을 수행하였다. 7 and 8 , MFCC values of the normal and deteriorated pixel cells described with reference to FIG. 6 were calculated and illustrated, and filtering was performed as shown in FIG. 8 .

도 7에서 알 수 있듯이, 정상적인 화소 셀의 MFCC와 열화된 화소 셀의 MFCC가 서로 상이한 것을 확인할 수 있으며, MFCC 값의 비교를 통해, 화소 셀의 열화 여부를 용이하게 판단할 수 있음을 알 수 있다. As can be seen from FIG. 7 , it can be seen that the MFCC of a normal pixel cell and the MFCC of a deteriorated pixel cell are different from each other, and it can be seen that it can be easily determined whether the pixel cell is deteriorated by comparing the MFCC values .

도 9는 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값의 산출 과정에서 cepstrum number에 따른 정확도를 측정한 그래프이고, 도 10은 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값의 산출 과정에서 필터 개수에 따른 정확도를 측정한 그래프이고, 도 11은 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값의 산출 과정에서 주파수에 따른 정확도를 측정한 그래프이고, 도 12는 본 출원의 실험 예에 따른 표시 패널의 화소 셀의 MFCC 값의 산출 과정에서 검사 신호의 전류 값에 따른 정확도를 측정한 그래프이다. 9 is a graph of measuring accuracy according to a cepstrum number in a process of calculating an MFCC value of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application, and FIG. 10 is a graph showing MFCC of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application It is a graph measuring the accuracy according to the number of filters in the process of calculating the value, and FIG. 11 is a graph measuring the accuracy according to frequency in the process of calculating the MFCC value of the pixel cell of the display panel according to the experimental example of the present application, and FIG. 12 is a graph in which accuracy according to a current value of a test signal is measured in a process of calculating an MFCC value of a pixel cell of a display panel according to an experimental example of the present application.

도 9 내지 도 12를 참조하면, 도 6을 참조하여 설명된 열화된 화소 셀의 MFCC값 산출 과정에서, sampling rate 120,000 및 130,000 조건에서, cepstrum number, 필터 개수, 주파수, 및 검사 신호의 전류 값에 따른, 화소 셀의 열화 여부 판단에 따른 정확도를 측정하였다. 9 to 12 , in the process of calculating the MFCC value of the deteriorated pixel cell described with reference to FIG. 6 , the cepstrum number, the number of filters, the frequency, and the current value of the inspection signal under the sampling rate of 120,000 and 130,000 conditions Accordingly, the accuracy according to the determination of whether the pixel cell is deteriorated was measured.

도 9에서 알 수 있듯이, cepstrum number가 증가할수록 화소 셀의 열화 여부 판단에 대한 정확도가 증가하는 것을 확인할 수 있다. 또한, 도 10에서 알 수 있듯이, MFCC 값의 산출과정에서 아용되는 필터의 개수가 120개 초과 160개 미만인 경우(140개), 정확도가 가장 높은 것을 확인할 수 있으며, 도 11에 도시된 것과 같이 주파수가 증가할수록 정확도가 증가하는 것을 알 수 있다. As can be seen from FIG. 9 , it can be seen that as the cepstrum number increases, the accuracy of determining whether the pixel cell is deteriorated increases. In addition, as can be seen from FIG. 10 , when the number of filters used in the process of calculating the MFCC value is more than 120 and less than 160 (140), it can be confirmed that the accuracy is the highest, and as shown in FIG. 11 , the frequency It can be seen that the accuracy increases as the value increases.

또한, 도 12에 도시된 것과 같이, 검사 신호의 전류 값이 500nA 이상인 경우, 정확도가 크게 증가하며, 특히, sampling rate 120,000 조건에서 검사 신호의 전류 값이 500nA 이상인 경우 정확도가 현저하게 증가하는 것을 확인할 수 있다. In addition, as shown in FIG. 12 , when the current value of the test signal is 500 nA or more, the accuracy is greatly increased. In particular, it is confirmed that the accuracy significantly increases when the current value of the test signal is 500 nA or more under the sampling rate 120,000 condition. can

이상, 본 발명을 바람직한 실시 예를 사용하여 상세히 설명하였으나, 본 발명의 범위는 특정 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 첨부된 특허청구범위에 의하여 해석되어야 할 것이다. 또한, 이 기술분야에서 통상의 지식을 습득한 자라면, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않으면서도 많은 수정과 변형이 가능함을 이해하여야 할 것이다.As mentioned above, although the present invention has been described in detail using preferred embodiments, the scope of the present invention is not limited to specific embodiments and should be construed according to the appended claims. In addition, those skilled in the art should understand that many modifications and variations are possible without departing from the scope of the present invention.

110: 검사 신호 인가부
120: 증폭부
130: 출력 신호 측정부
140: 열화 확인부
142: 참조용 데이터 베이스
144: 비교 판단부110: inspection signal applying unit
120: amplification unit
130: output signal measurement unit
140: deterioration confirmation unit
142: database for reference
144: comparison judgment unit

Claims (10)

복수의 화소 셀을 갖는 피시험 표시 패널을 준비하는 단계;
상기 피시험 표시 패널에 포함된 상기 복수의 화소 셀 중에서 피시험 화소 셀을 선택하는 단계;
상기 피시험 화소 셀에 검사 신호를 인가하는 단계;
상기 검사 신호에 대한 상기 피시험 화소 셀의 출력 신호를 측정하는 단계; 및
시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 특징화하여, 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출하고, 열화 여부를 판단하는 단계를 포함하되,
시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 특징화하여 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출는 단계는,
120개 초과 160개 미만의 필터를 사용하여 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호의 MFCC 값을 산출하는 것을 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
preparing a display panel under test having a plurality of pixel cells;
selecting a pixel cell under test from among the plurality of pixel cells included in the display panel under test;
applying a test signal to the pixel cell under test;
measuring an output signal of the pixel cell under test with respect to the test signal; and
Characterizing the amount of variation of the output signal over time, deriving characterization information of the pixel cell under test, and determining whether or not deterioration occurs;
The step of deriving the characterization information of the pixel cell under test by characterizing the amount of variation of the output signal with time includes:
and calculating an MFCC value of the output signal of the pixel cell under test using more than 120 filters and less than 160 filters.
 제1 항에 있어서,
상기 피시험 화소 셀의 열화 여부를 판단하는 단계는,
참조용 표시 패널에 포함된 참조용 화소 셀에 상기 검사 신호를 인가한 후 출력되는 참조용 출력 신호의 시간에 따른 변동량을 특징화시킨 참조용 특징화 정보가 준비되고,
참조용 데이터 베이스의 상기 참조용 특징화 정보와 상기 피시험 화소 셀의 상기 특징화 정보를 비교하는 것을 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
According to claim 1,
The step of determining whether the pixel cell under test is deteriorated may include:
Characterization information for reference characterizing an amount of variation with time of an output signal for reference output after applying the inspection signal to a pixel cell for reference included in the reference display panel is prepared;
and comparing the reference characterization information of a reference database with the characterization information of the pixel cell under test.
 제2 항에 있어서,
상기 참조용 표시 패널은 상기 피시험 표시 패널과 동종의 패널이고,
상기 참조용 화소 셀은 상기 피시험 화소 셀과 동일한 구조 및 동일한 물질로 형성된 것을 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
3. The method of claim 2,
The reference display panel is a panel of the same type as the display panel under test;
and wherein the reference pixel cell is formed of the same structure and the same material as the pixel cell under test.
 제1 항에 있어서,
상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출하기 전, 상기 출력 신호의 시간에 따른 변동량을 증폭시키는 것을 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
According to claim 1,
and amplifying a time-dependent variation of the output signal before deriving the characterization information of the pixel cell under test.
 제1 항에 있어서,
상기 피시험 화소 셀에 인가되는 상기 검사 신호는 100mA 이하인 것을 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
According to claim 1,
and the test signal applied to the pixel cell under test is 100 mA or less.
 제1 항에 있어서,
상기 피시험 화소 셀에 인가되는 상기 검사 신호는, 500nA 이상인 것을 포함하는 표시 패널의 검사 방법.
According to claim 1,
and the inspection signal applied to the pixel cell under test is 500 nA or more.
 피시험 표시 패널에 포함된 피시험 화소 셀에 검사 신호를 인가하는 검사 신호 인가부;
상기 검사 신호에 대한 상기 피시험 화소 셀의 출력 신호를 측정하는 출력 신호 측정부; 및
시간에 따른 상기 출력 신호의 변동량을 특징화하여, 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출하고 열화 여부를 판단하는 열화 확인부를 포함하되,
상기 열화 확인부는, 120개 초과 160개 미만의 필터를 사용하여 상기 피시험 화소 셀의 상기 출력 신호의 MFCC 값을 산출하여 상기 피시험 화소 셀의 특징화 정보를 도출하는 것을 포함하는 표시 패널의 검사 장치.
an inspection signal applying unit that applies an inspection signal to pixel cells under test included in the display panel under test;
an output signal measuring unit measuring an output signal of the pixel cell under test with respect to the test signal; and
and a deterioration check unit that characterizes the amount of variation of the output signal over time, derives characterization information of the pixel cell under test, and determines whether deterioration occurs,
and wherein the deterioration check unit calculates an MFCC value of the output signal of the pixel cell under test using more than 120 filters but less than 160 filters to derive characterization information of the pixel cell under test. Device.
 제7 항에 있어서,
상기 열화 확인부는,
참조용 표시 패널에 포함된 참조용 화소 셀에 상기 검사 신호를 인가한 후 출력되는 참조용 출력 신호의 시간에 따른 변동량을 특징화시킨 참조용 특징화 정보를 갖는 참조용 데이터 베이스; 및
상기 참조용 데이터 베이스의 상기 참조용 특징화 정보와 상기 피시험 화소 셀의 상기 특징화 정보를 비교하는 비교 판단부를 포함하는 표시 패널의 검사 장치.
8. The method of claim 7,
The deterioration confirmation unit,
a reference database having characterization information for reference that characterizes an amount of time-dependent variation of an output signal for reference output after applying the inspection signal to a pixel cell for reference included in the reference display panel; and
and a comparison determination unit comparing the reference characterization information of the reference database with the characterization information of the pixel cell under test.
 제7 항에 있어서,
상기 피시험 화소 셀의 출력 신호를 증폭시키는 증폭부를 더 포함하는 표시 패널의 검사 장치.
8. The method of claim 7,
and an amplifier for amplifying an output signal of the pixel cell under test.
 제7 항에 있어서,
상기 피시험 표시 패널은, 액정 표시 패널, 유기 발광 다이오드 표시 패널, 또는 양자점 발광 다이오드 표시 패널 중에서 적어도 어느 하나를 포함하는 표시 패널의 검사 장치.8. The method of claim 7,
and the display panel under test includes at least one of a liquid crystal display panel, an organic light emitting diode display panel, and a quantum dot light emitting diode display panel.
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