KR102400333B1 - Array substrate and liquid crystal display including the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 비용 상승 없이 공통전압 공급라인의 공통전압이 검사 라인에 인가된 정전기에 의해 왜곡되는 것을 방지할 수 있는 어레이 기판과 이를 포함한 액정표시장치에 관한 것이다. 구체적으로, 본 발명은 서로 이격되는 제1 및 제2 그라운드 전극들과 제1 및 제2 그라운드 전극들을 전기적으로 연결하는 점핑 전극들, 및 점핑 전극들 각각에 전기적으로 연결된 방전 회로를 포함한다. 그 결과, 본 발명은 외부로부터의 정전기가 검사 라인들에 인가되거나, 검사 라인들에 유기(遺棄)된 정전기가 제1 및 제2 그라운드 전극들로 인가되는 경우, 점핑 전극들에 연결된 방전 회로들을 통해 정전기를 방전시킬 수 있다. 따라서, 본 발명은 제1 및 제2 그라운드 전극들 사이에 배치된 공통전압 공급라인의 공통전압이 정전기에 의해 왜곡되는 것을 방지할 수 있다.The present invention relates to an array substrate capable of preventing distortion of a common voltage of a common voltage supply line by static electricity applied to an inspection line without an increase in cost, and a liquid crystal display including the same. Specifically, the present invention includes first and second ground electrodes spaced apart from each other, jumping electrodes electrically connecting the first and second ground electrodes, and a discharge circuit electrically connected to each of the jumping electrodes. As a result, the present invention provides discharge circuits connected to the jumping electrodes when static electricity from the outside is applied to the inspection lines or static electricity induced in the inspection lines is applied to the first and second ground electrodes. static electricity can be discharged. Accordingly, according to the present invention, it is possible to prevent the common voltage of the common voltage supply line disposed between the first and second ground electrodes from being distorted by static electricity.

Description

어레이 기판과 이를 포함한 액정표시장치{ARRAY SUBSTRATE AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY INCLUDING THE SAME}Array substrate and liquid crystal display including same

본 발명의 실시예는 어레이 기판과 이를 포함한 액정표시장치에 관한 것이다.An embodiment of the present invention relates to an array substrate and a liquid crystal display including the same.

액정표시장치는 경량, 박형, 저소비 전력구동 등의 특징으로 인해 그 응용범위가 점차 넓어지고 있는 추세에 있다. 액정표시장치는 노트북 PC와 같은 휴대용 컴퓨터, 사무 자동화 기기, 오디오/비디오 기기, 옥내외 광고 표시장치 등으로 광범위하게 이용되고 있다. 액정표시장치는 액정층에 인가되는 전계를 제어하여 백라이트 유닛으로부터 입사되는 빛을 변조함으로써 화상을 표시한다.The liquid crystal display has a tendency to gradually expand its application range due to the characteristics of light weight, thin shape, and low power consumption driving. Liquid crystal display devices are widely used in portable computers such as notebook PCs, office automation devices, audio/video devices, indoor and outdoor advertisement display devices, and the like. A liquid crystal display displays an image by controlling an electric field applied to a liquid crystal layer to modulate light incident from a backlight unit.

액정표시장치는 화소들이 마련된 어레이 기판, 컬러필터들과 블랙 매트릭스가 마련된 컬러필터 기판, 및 어레이 기판과 컬러필터 기판 사이에 개재된 액정층을 포함한다. 액정표시장치의 화소들 각각은 화소전극에 공급되는 데이터전압과 공통전극에 공급되는 공통전압 간의 전계에 의해 액정층의 액정을 구동함으로써 백라이트 유닛으로부터 입사되는 빛을 변조한다.The liquid crystal display includes an array substrate on which pixels are provided, a color filter substrate on which color filters and a black matrix are provided, and a liquid crystal layer interposed between the array substrate and the color filter substrate. Each of the pixels of the liquid crystal display modulates light incident from the backlight unit by driving the liquid crystal of the liquid crystal layer by an electric field between the data voltage supplied to the pixel electrode and the common voltage supplied to the common electrode.

액정표시장치의 제조방법은 다음과 같다. 어레이 모기판에 복수의 어레이 기판들이 형성되고 컬러필터 모기판에 복수의 컬러필터 기판들이 형성된다. 그리고 나서, 어레이 모기판과 컬러필터 모기판은 서로 합착되고, 어레이 모기판과 컬러필터 모기판 사이에 액정이 주입된다. 그리고 나서, 합착된 어레이 모기판과 컬러필터 모기판을 스크라이빙(scribing) 공정을 통해 절단(cutting)함으로써, 복수의 액정표시장치들이 마련된다.The manufacturing method of the liquid crystal display device is as follows. A plurality of array substrates are formed on the array mother substrate, and a plurality of color filter substrates are formed on the color filter mother substrate. Then, the array mother substrate and the color filter mother substrate are bonded to each other, and liquid crystal is injected between the array mother substrate and the color filter mother substrate. Then, by cutting the bonded array mother substrate and the color filter mother substrate through a scribing process, a plurality of liquid crystal display devices are provided.

어레이 모기판의 어레이 기판들 각각에 마련된 박막 트랜지스터들 또는 화소들의 불량 검사를 위해, 어레이 기판들 각각의 일 측에는 검사 라인들이 형성될 수 있다. 화소들의 불량 검사는 검사 라인들에 구동 신호들과 데이터 전압들을 공급함으로써 수행될 수 있다.Inspection lines may be formed on one side of each of the array substrates for defective inspection of thin film transistors or pixels provided on each of the array substrates of the array mother substrate. The defective inspection of the pixels may be performed by supplying driving signals and data voltages to the inspection lines.

한편, 액정표시장치는 외관의 심미감을 높이기 위해 탑 케이스(top case)를 삭제하여 베젤(bezel)을 최소화한 보더리스(borderless) 방식으로 제조되고 있다. 베젤은 액정표시장치의 테두리 영역으로 화상이 표시되지 않는 비표시영역을 가리킨다. 보더리스 방식에서는 액정표시장치의 상부를 둘러싸는 탑 케이스가 존재하지 않기 때문에, 액정표시장치의 어레이 기판들 각각의 검사 라인들에 정전기가 인가될 확률이 높다. 검사 라인들에 정전기가 인가되는 경우, 검사 라인들(151~155)에 유기(遺棄)된 정전기가 검사 라인들에 인접하게 배치되는 공통전압 공급라인에 인가될 수 있다. 이로 인해, 공통전압 공급라인의 공통전압이 정전기에 의해 왜곡되는 문제가 발생할 수 있다. 공통전압 공급라인의 공통전압이 정전기에 의해 왜곡되는 경우, 액정표시장치가 표시하는 화상에 얼룩이 보여질 수 있다.On the other hand, the liquid crystal display device is manufactured in a borderless method in which a bezel is minimized by removing a top case in order to enhance the aesthetics of the appearance. The bezel is a border area of the liquid crystal display and refers to a non-display area in which an image is not displayed. In the borderless method, since the top case surrounding the upper portion of the liquid crystal display does not exist, there is a high probability that static electricity is applied to the inspection lines of each of the array substrates of the liquid crystal display. When static electricity is applied to the inspection lines, static electricity induced in the inspection lines 151 to 155 may be applied to a common voltage supply line disposed adjacent to the inspection lines. For this reason, a problem in that the common voltage of the common voltage supply line is distorted by static electricity may occur. When the common voltage of the common voltage supply line is distorted by static electricity, spots may be seen in an image displayed by the liquid crystal display device.

이를 해결하기 위해, 검사 라인들이 형성된 어레이 기판의 일 측에 도전 테이프를 부착하는 방법이 제안되었다. 하지만, 도전 테이프 부착 방법은 도전 테이프로 인해 비용이 증가되는 문제가 있다.To solve this problem, a method of attaching a conductive tape to one side of an array substrate on which inspection lines are formed has been proposed. However, the method of attaching the conductive tape has a problem in that the cost increases due to the conductive tape.

본 발명의 실시예는 비용 상승 없이 공통전압 공급라인의 공통전압이 검사 라인에 인가된 정전기에 의해 왜곡되는 것을 방지할 수 있는 어레이 기판과 이를 포함한 액정표시장치를 제공한다.An embodiment of the present invention provides an array substrate capable of preventing distortion of a common voltage of a common voltage supply line by static electricity applied to an inspection line without an increase in cost, and a liquid crystal display including the same.

본 발명의 실시예에 따른 어레이 기판은 그라운드 전압이 인가되는 제1 그라운드 전극, 제1 그라운드 전극과 이격되게 배치되는 제2 그라운드 전극, 제1 및 제2 그라운드 전극들을 전기적으로 연결하는 점핑 전극, 제1 구동전압이 공급되는 제1 구동전압 라인, 및 점핑 전극과 제1 구동전압 라인 사이에 전기적으로 연결되며, 점핑 전극의 전압을 제1 구동전압 라인으로 방전하는 방전 회로를 구비한다.The array substrate according to an embodiment of the present invention includes a first ground electrode to which a ground voltage is applied, a second ground electrode spaced apart from the first ground electrode, a jumping electrode electrically connecting the first and second ground electrodes, and a second ground electrode. A first driving voltage line to which one driving voltage is supplied, and a discharge circuit electrically connected between the jumping electrode and the first driving voltage line to discharge the voltage of the jumping electrode to the first driving voltage line.

본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는 화소들이 배치된 어레이 기판과 어레이 기판 상에 배치된 상부 기판을 포함하는 표시패널을 구비한다. 어레이 기판은 그라운드 전압이 인가되는 제1 그라운드 전극, 제1 그라운드 전극과 이격되게 배치되는 제2 그라운드 전극, 제1 및 제2 그라운드 전극들을 전기적으로 연결하는 점핑 전극, 제1 구동전압이 공급되는 제1 구동전압 라인, 및 점핑 전극과 제1 구동전압 라인 사이에 전기적으로 연결되며, 점핑 전극의 전압을 제1 구동전압 라인으로 방전하는 방전 회로를 포함한다.A liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention includes a display panel including an array substrate on which pixels are disposed and an upper substrate disposed on the array substrate. The array substrate includes a first ground electrode to which a ground voltage is applied, a second ground electrode spaced apart from the first ground electrode, a jumping electrode electrically connecting the first and second ground electrodes, and a first ground electrode to which a first driving voltage is supplied. and a first driving voltage line and a discharge circuit electrically connected between the jumping electrode and the first driving voltage line to discharge the voltage of the jumping electrode to the first driving voltage line.

본 발명의 실시예는 서로 이격되는 제1 및 제2 그라운드 전극들과 제1 및 제2 그라운드 전극들을 전기적으로 연결하는 점핑 전극들, 및 점핑 전극들 각각에 전기적으로 연결된 방전 회로를 포함한다. 그 결과, 본 발명의 실시예는 외부로부터의 정전기가 검사 라인들에 인가되거나, 검사 라인들에 유기(遺棄)된 정전기가 제1 및 제2 그라운드 전극들로 인가되는 경우, 점핑 전극들에 연결된 방전 회로들을 통해 정전기를 방전시킬 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예는 제1 및 제2 그라운드 전극들 사이에 배치된 공통전압 공급라인의 공통전압이 정전기에 의해 왜곡되는 것을 방지할 수 있다.An embodiment of the present invention includes first and second ground electrodes spaced apart from each other, jumping electrodes electrically connecting the first and second ground electrodes, and a discharge circuit electrically connected to each of the jumping electrodes. As a result, the embodiment of the present invention is connected to the jumping electrodes when static electricity from the outside is applied to the inspection lines or static electricity induced in the inspection lines is applied to the first and second ground electrodes. It is possible to discharge static electricity through the discharge circuits. Accordingly, the embodiment of the present invention can prevent the common voltage of the common voltage supply line disposed between the first and second ground electrodes from being distorted by static electricity.

또한, 본 발명의 실시예는 검사 라인들을 어레이 기판들 각각의 일측 가장자리에 마련하고, 패드들을 어레이 기판들 각각의 일측의 반대측 가장자리에 마련한다. 그 결과, 본 발명의 실시예는 어레이 기판들 각각의 검사 라인들을 검사 패드들과 검사 라인들에 인접한 어레이 기판의 패드들에 연결할 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예는 검사 패드들에 지그들을 탐침하고 소정의 신호들을 인가함으로써, 검사 라인들에 인접한 어레이 기판의 패드들 각각에 신호 또는 전압을 인가할 수 있다. 그러므로, 본 발명의 실시예는 모기판에 형성되는 어레이 기판들의 개수를 늘리기 위해, 복수의 어레이 기판들 각각이 그에 인접한 어레이 기판들에 맞닿도록 형성되는 경우에도, 어레이 기판의 박막 트랜지스터들과 화소들의 불량을 검사할 수 있다.In addition, according to the embodiment of the present invention, inspection lines are provided on one edge of each of the array substrates, and pads are provided on the opposite edge of one side of each of the array substrates. As a result, according to the embodiment of the present invention, the inspection lines of each of the array substrates may be connected to the inspection pads and the pads of the array substrate adjacent to the inspection lines. Accordingly, according to the embodiment of the present invention, a signal or voltage may be applied to each of the pads of the array substrate adjacent to the inspection lines by probing the jigs to the inspection pads and applying predetermined signals. Therefore, in the embodiment of the present invention, in order to increase the number of array substrates formed on the mother substrate, even when each of the plurality of array substrates is formed to contact the adjacent array substrates, the thin film transistors and pixels of the array substrate defects can be inspected.

나아가, 제1 그라운드 전극의 저항이 높아지는 것을 방지하기 위해, 공통전압 공급라인과 표시영역 사이에 제2 그라운드 전극을 배치하고, 제1 그라운드 전극과 제2 그라운드 전극을 점핑 전극들을 통해 전기적으로 연결시킨다. 그 결과, 본 발명의 실시예는 공통전압 공급라인으로 인해 제1 그라운드 전극의 면적이 줄어든 것을 제2 그라운드 전극의 면적으로 보충할 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예는 제1 그라운드 전극의 저항이 높아지는 것을 방지할 수 있다.Furthermore, in order to prevent the resistance of the first ground electrode from increasing, a second ground electrode is disposed between the common voltage supply line and the display area, and the first ground electrode and the second ground electrode are electrically connected through jumping electrodes. . As a result, in the embodiment of the present invention, the reduced area of the first ground electrode due to the common voltage supply line can be supplemented with the area of the second ground electrode. Accordingly, the embodiment of the present invention can prevent the resistance of the first ground electrode from being increased.

도 1은 복수의 어레이 기판들을 포함하는 어레이 모기판을 보여주는 일 예시도면이다.
도 2는 도 1의 서로 인접한 어레이 기판들을 상세히 보여주는 일 예시도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 어레이 기판을 상세히 보여주는 일 예시도면이다.
도 4는 도 3의 화소를 보여주는 회로도이다.
도 5는 도 4의 방전 회로의 회로도이다.
도 6은 도 3의 A 영역을 상세히 보여주는 평면도이다.
도 7은 도 6의 I-I'의 단면도이다.
도 8은 도 5의 Ⅱ-Ⅱ'의 단면도이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 보여주는 평면도이다.
도 10은 도 9의 Ⅲ-Ⅲ'의 단면도이다.
1 is an exemplary view showing an array mother substrate including a plurality of array substrates.
FIG. 2 is an exemplary view showing in detail the array substrates adjacent to each other of FIG. 1 .
3 is an exemplary view showing in detail an array substrate of a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention.
4 is a circuit diagram illustrating the pixel of FIG. 3 .
FIG. 5 is a circuit diagram of the discharge circuit of FIG. 4 .
FIG. 6 is a plan view illustrating a region A of FIG. 3 in detail.
7 is a cross-sectional view taken along line II′ of FIG. 6 .
8 is a cross-sectional view taken along line II-II' of FIG. 5 .
9 is a plan view illustrating a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 10 is a cross-sectional view taken along line III-III' of FIG. 9 .

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. Advantages and features of the present invention and methods of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in a variety of different forms, and only these embodiments allow the disclosure of the present invention to be complete, and common knowledge in the technical field to which the present invention belongs It is provided to fully inform the possessor of the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims.

본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. The shapes, sizes, proportions, angles, numbers, etc. disclosed in the drawings for explaining the embodiments of the present invention are illustrative and the present invention is not limited to the illustrated matters. Like reference numerals refer to like elements throughout. In addition, in describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known technology may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

본 명세서에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다. When 'including', 'having', 'consisting', etc. mentioned in this specification are used, other parts may be added unless 'only' is used. When a component is expressed in the singular, cases including the plural are included unless otherwise explicitly stated.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.In interpreting the components, it is construed as including an error range even if there is no separate explicit description.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.In the case of a description of the positional relationship, for example, when the positional relationship of two parts is described as 'on', 'on', 'on', 'beside', etc., 'right' Alternatively, one or more other parts may be positioned between two parts unless 'directly' is used.

시간 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~후에', '~에 이어서', '~다음에', '~전에' 등으로 시간적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.In the case of a description of a temporal relationship, for example, 'immediately' or 'directly' when a temporal relationship is described with 'after', 'following', 'after', 'before', etc. It may include cases that are not continuous unless this is used.

제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.Although the first, second, etc. are used to describe various elements, these elements are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another. Accordingly, the first component mentioned below may be the second component within the spirit of the present invention.

"X축 방향", "Y축 방향" 및 "Z축 방향"은 서로 간의 관계가 수직으로 이루어진 기하학적인 관계만으로 해석되어서는 아니 되며, 본 발명의 구성이 기능적으로 작용할 수 있는 범위 내에서보다 넓은 방향성을 가지는 것을 의미할 수 있다. "X-axis direction", "Y-axis direction", and "Z-axis direction" should not be interpreted only as a geometric relationship in which the relationship between each other is vertical, and is wider than within the scope where the configuration of the present invention can function functionally. It may mean having a direction.

"적어도 하나"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, "제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 적어도 하나"의 의미는 제 1 항목, 제 2 항목 또는 제 3 항목 각각 뿐만 아니라 제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미할 수 있다. The term “at least one” should be understood to include all possible combinations from one or more related items. For example, the meaning of “at least one of the first, second, and third items” means that each of the first, second, or third items as well as two of the first, second and third items It may mean a combination of all items that can be presented from more than one.

본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.Each feature of the various embodiments of the present invention can be partially or wholly combined or combined with each other, technically various interlocking and driving are possible, and each of the embodiments may be independently implemented with respect to each other or implemented together in a related relationship. may be

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 복수의 어레이 기판들을 포함하는 어레이 모기판을 보여주는 일 예시도면이다. 도 1을 참조하면, 액정표시장치의 제조비용을 절감하기 위해, 어레이 모기판(10)에 복수의 어레이 기판(100)들이 형성될 수 있다.1 is an exemplary view showing an array mother substrate including a plurality of array substrates. Referring to FIG. 1 , in order to reduce the manufacturing cost of the liquid crystal display, a plurality of array substrates 100 may be formed on an array mother substrate 10 .

모기판(10)에 형성되는 어레이 기판(100)들의 개수가 많을수록 액정표시장치의 제조비용을 더 절감할 수 있다. 모기판(10)에 형성되는 어레이 기판(100)들의 개수를 늘리기 위해, 복수의 어레이 기판(100)들 각각은 도 1과 같이 제1 방향으로 그에 인접한 어레이 기판(100)들에 맞닿도록 형성될 수 있다. 즉, 어느 한 어레이 기판(100)의 상하측은 또 다른 어레이 기판(100)들에 맞닿을 수 있다. 구체적으로, 어느 한 어레이 기판(100)의 상측은 y축 방향으로 인접한 또 다른 어레이 기판(100)의 하측과 맞닿으며, 어레이 기판(100)의 하측은 y축 방향으로 인접한 또 다른 어레이 기판(100)의 상측과 맞닿을 수 있다.As the number of array substrates 100 formed on the mother substrate 10 increases, the manufacturing cost of the liquid crystal display device can be further reduced. In order to increase the number of array substrates 100 formed on the mother substrate 10 , each of the plurality of array substrates 100 may be formed to abut against the array substrates 100 adjacent thereto in the first direction as shown in FIG. 1 . can That is, upper and lower sides of one array substrate 100 may contact other array substrates 100 . Specifically, an upper side of one array substrate 100 contacts a lower side of another array substrate 100 adjacent in the y-axis direction, and a lower side of the array substrate 100 is adjacent to another array substrate 100 in the y-axis direction. ) may be in contact with the upper side of the

또한, 어레이 기판(100)들 각각은 도 1과 같이 제2 방향으로 그에 인접한 어레이 기판(100)들과 소정의 간격(s)만큼 떨어지도록 형성될 수 있다. 제2 방향은 제1 방향과 교차하는 방향으로, x축 방향일 수 있다. 즉, 어느 한 어레이 기판(100)의 좌우측은 또 다른 어레이 기판(100)들과 소정의 간격(s)만큼 떨어지도록 형성될 수 있다. 이 경우, 소정의 간격(s)에는 어레이 기판(100)들 각각의 박막 트랜지스터들과 화소들의 불량을 검사하기 위한 검사 패드들이 마련될 수 있다.In addition, each of the array substrates 100 may be formed to be spaced apart from the array substrates 100 adjacent thereto by a predetermined distance s in the second direction as shown in FIG. 1 . The second direction may be a direction crossing the first direction and may be an x-axis direction. That is, left and right sides of one array substrate 100 may be formed to be spaced apart from other array substrates 100 by a predetermined distance s. In this case, inspection pads for inspecting defects of thin film transistors and pixels of each of the array substrates 100 may be provided at a predetermined interval s.

한편, 모기판(10)에 형성되는 어레이 기판(100)들의 개수를 늘리기 위해, 복수의 어레이 기판(100)들 각각이 도 1과 같이 제1 방향으로 그에 인접한 어레이 기판(100)들에 맞닿도록 형성되는 경우, 검사 패드들과 어레이 기판(100)들 각각의 패드들을 연결하는 검사 라인들이 어레이 기판(100)에 형성된다. 이하에서는, 도 2를 결부하여 검사 라인들에 대하여 상세히 설명한다.Meanwhile, in order to increase the number of array substrates 100 formed on the mother substrate 10 , each of the plurality of array substrates 100 may be in contact with the array substrates 100 adjacent thereto in the first direction as shown in FIG. 1 . When formed, inspection lines connecting the inspection pads and the respective pads of the array substrate 100 are formed on the array substrate 100 . Hereinafter, the inspection lines will be described in detail with reference to FIG. 2 .

도 2는 도 1의 서로 인접한 어레이 기판들을 상세히 보여주는 일 예시도면이다. 도 2에서는 설명의 편의를 위해 y축 방향으로 인접한 3 개의 어레이 기판들(100a, 100b, 100c)만을 도시하였다. 구체적으로, 도 2에서는 제1 어레이 기판(100a)의 상측에 맞닿은 어레이 기판을 제2 어레이 기판(100b)으로 예시하였으며, 제1 어레이 기판(100a)의 하측에 맞닿은 어레이 기판을 제3 어레이 기판(100c)으로 예시하였다.FIG. 2 is an exemplary view showing in detail the array substrates adjacent to each other of FIG. 1 . In FIG. 2 , only three array substrates 100a , 100b , and 100c adjacent in the y-axis direction are illustrated for convenience of explanation. Specifically, in FIG. 2, the array substrate in contact with the upper side of the first array substrate 100a is exemplified as the second array substrate 100b, and the array substrate in contact with the lower side of the first array substrate 100a is the third array substrate ( 100c).

어레이 기판들(100a, 100b, 100c) 각각은 표시영역(DA), 제1 및 제2 게이트 구동부들(110, 120), 공통전압 공급라인(130), 검사 라인들(151~155)을 포함한다. 또한, 어레이 기판들(100a, 100b, 100c) 각각은 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들을 포함한다. 도 2에서는 설명의 편의를 위해 5 개의 검사 라인들(151~155)만을 예시하였으나, 검사 라인들의 개수는 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다.Each of the array substrates 100a, 100b, and 100c includes a display area DA, first and second gate drivers 110 and 120 , a common voltage supply line 130 , and inspection lines 151 to 155 . do. In addition, each of the array substrates 100a, 100b, and 100c includes data pads DP, common pads CP, gate pads GP, and ground pads GNDP. In FIG. 2 , only five inspection lines 151 to 155 are exemplified for convenience of description, but it should be noted that the number of inspection lines is not limited thereto.

검사 라인들(151~155)은 어레이 기판들(100a, 100b, 100c) 각각의 일측 가장자리에 마련될 수 있다.데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들은 어레이 기판들(100a, 100b, 100c) 각각의 일측의 반대측 가장자리에 마련될 수 있다. 예를 들어, 도 2와 같이 어레이 기판들(100a, 100b, 100c) 각각의 상측 가장자리에는 검사 라인들(151~155)이 마련되고, 하측 가장자리에는 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들이 마련될 수 있다. 데이터 패드(DP)들은 데이터 라인(DL)들에 접속되고, 공통 패드(CP)들은 공통전압 공급라인(130)에 접속될 수 있다. 게이트 패드(GP)들은 게이트 제어 신호라인(GCL)들에 접속되며, 그라운드 패드(GNDP)들은 그라운드 라인(GNDL)들에 접속될 수 있다. 게이트 제어신호라인(GCL)들은 게이트 패드(GP)들과 게이트 구동부들(110, 120)을 연결하며, 그라운드 라인(GNDL)들은 그라운드 패드(GNDP)들과 제1 그라운드 전극(160)을 연결한다.The inspection lines 151 to 155 may be provided at one edge of each of the array substrates 100a, 100b, and 100c. Data pads DP, common pads CP, gate pads GP, and ground pads GNDP may be provided at opposite edges of one side of each of the array substrates 100a, 100b, and 100c. For example, as shown in FIG. 2 , inspection lines 151 to 155 are provided on upper edges of each of the array substrates 100a, 100b, and 100c, and data pads DP and common pads CP are provided on lower edges of each of the array substrates 100a, 100b, and 100c. Fields, gate pads GP, and ground pads GNDP may be provided. The data pads DP may be connected to the data lines DL, and the common pads CP may be connected to the common voltage supply line 130 . The gate pads GP may be connected to the gate control signal lines GCL, and the ground pads GNDP may be connected to the ground lines GNDL. The gate control signal lines GCL connect the gate pads GP and the gate drivers 110 and 120 , and the ground lines GNDL connect the ground pads GNDP and the first ground electrode 160 . .

어레이 기판들(100a, 100b, 100c) 각각의 검사 라인들(151~155)은 검사 패드(IP)들과 검사 라인들(151~155)에 인접한 어레이 기판의 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들을 연결한다. 검사 패드(IP)들은 도 1과 같이 어레이 기판들(100a, 100b, 100c) 각각과 제2 방향으로 인접한 어레이 기판 사이의 소정의 간격(s)에 마련될 수 있다. 예를 들어, 제1 어레이 기판(100a)의 검사 라인들(151~155)은 검사 패드(IP)들과 제2 어레이 기판(100b)의 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들을 연결한다. 즉, 제1 어레이 기판(100a)의 검사 라인들(151~155) 각각의 일단(一端)은 검사 패드(IP)에 접속되고, 타단(他端)은 제2 어레이 기판(100b)의 데이터 패드(DP), 공통 패드(CP), 게이트 패드(GP) 또는 그라운드 패드(GNDP)에 접속된다. 구체적으로, 제1 어레이 기판(100a)의 검사 라인들(151~155)은 검사 패드(IP)들로부터 제2 어레이 기판(100b)의 바깥쪽, 제2 어레이 기판(100b)의 게이트 패드(GP)들에 인접한 영역, 제1 어레이 기판(100a)의 일측 가장자리를 경유하여 제2 어레이 기판(100b)의 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들에 접속될 수 있다.Inspection lines 151 to 155 of each of the array substrates 100a, 100b, and 100c include inspection pads IP, data pads DP of the array substrate adjacent to inspection lines 151 to 155, and a common pad. CPs, gate pads GP, and ground pads GNDP are connected. The test pads IP may be provided at a predetermined interval s between each of the array substrates 100a , 100b , and 100c and the array substrate adjacent in the second direction as shown in FIG. 1 . For example, the test lines 151 to 155 of the first array substrate 100a may include test pads IP, data pads DP, common pads CP of the second array substrate 100b, and the like. The gate pads GP and the ground pads GNDP are connected. That is, one end of each of the inspection lines 151 to 155 of the first array substrate 100a is connected to the inspection pad IP, and the other end is the data pad of the second array substrate 100b. DP, the common pad CP, the gate pad GP, or the ground pad GNDP. Specifically, the inspection lines 151 to 155 of the first array substrate 100a are connected to the outside of the second array substrate 100b from the inspection pads IP and the gate pad GP of the second array substrate 100b. ), data pads DP, common pads CP, gate pads GP, and ground of the second array substrate 100b via one edge of the first array substrate 100a. It may be connected to the pads GNDP.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 실시예는 검사 라인들(151~155)을 어레이 기판들(100a, 100b, 100c) 각각의 일측 가장자리에 마련하고, 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들을 어레이 기판들(100a, 100b, 100c) 각각의 일측의 반대측 가장자리에 마련한다. 그 결과, 본 발명의 실시예는 어레이 기판들(100a, 100b, 100c) 각각의 검사 라인들(151~155)을 검사 패드(IP)들과 검사 라인들(151~155)에 인접한 어레이 기판의 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들에 연결할 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예는 검사 패드(IP)들에 지그(jig)들을 탐침하고 소정의 신호들을 인가함으로써, 검사 라인들(151~155)에 인접한 어레이 기판의 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들 각각에 전압 또는 신호를 공급할 수 있다. 그러므로, 본 발명의 실시예는 모기판(10)에 형성되는 어레이 기판(100)들의 개수를 늘리기 위해, 복수의 어레이 기판(100)들 각각이 도 1과 같이 제1 방향으로 그에 인접한 어레이 기판(100)들에 맞닿도록 형성되는 경우에도, 어레이 기판의 박막 트랜지스터들과 화소들의 불량을 검사할 수 있다.As described above, in the embodiment of the present invention, the inspection lines 151 to 155 are provided on one edge of each of the array substrates 100a, 100b, and 100c, and the data pads DP and the common pad CP ), gate pads GP, and ground pads GNDP are provided at opposite edges of one side of each of the array substrates 100a, 100b, and 100c. As a result, in the embodiment of the present invention, the inspection lines 151 to 155 of each of the array substrates 100a, 100b, and 100c are applied to the inspection pads IP and the array substrate adjacent to the inspection lines 151 to 155. They may be connected to the data pads DP, common pads CP, gate pads GP, and ground pads GNDP. Therefore, according to the embodiment of the present invention, the data pads DP of the array substrate adjacent to the inspection lines 151 to 155, the common ones, by probing the jigs to the inspection pads IP and applying predetermined signals. A voltage or a signal may be supplied to each of the pads CP, the gate pads GP, and the ground pads GNDP. Therefore, in the embodiment of the present invention, in order to increase the number of array substrates 100 formed on the mother substrate 10 , each of the plurality of array substrates 100 is disposed adjacent thereto in the first direction as shown in FIG. 1 . 100), defects of thin film transistors and pixels of the array substrate may be inspected.

도 3은 도 2의 제1 어레이 기판을 상세히 보여주는 일 예시도면이다. 도 3을 참조하면, 제1 어레이 기판(100a)은 표시영역(DA), 제1 및 제2 게이트 구동부들(110, 120), 공통전압 공급라인(130), 방전 회로(140)들, 검사 라인들(151~155), 제1 그라운드 전극(160), 제2 그라운드 전극(170), 및 점핑 전극(180)들을 포함한다. 또한, 제1 어레이 기판(100a)은 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들을 포함한다. 또한, 제1 어레이 기판(100a)은 데이터라인(DL)들, 게이트라인(GL)들, 공통라인(CL)들, 게이트 제어 신호라인(GCL)들, 및 그라운드 라인(GNDL)들을 포함한다.FIG. 3 is an exemplary view showing in detail the first array substrate of FIG. 2 . Referring to FIG. 3 , the first array substrate 100a includes a display area DA, first and second gate drivers 110 and 120 , a common voltage supply line 130 , discharge circuits 140 , and inspection. It includes lines 151 to 155 , a first ground electrode 160 , a second ground electrode 170 , and jumping electrodes 180 . Also, the first array substrate 100a includes data pads DP, common pads CP, gate pads GP, and ground pads GNDP. Also, the first array substrate 100a includes data lines DL, gate lines GL, common lines CL, gate control signal lines GCL, and ground lines GNDL.

표시영역(DA)에는 데이터라인(DL)들, 게이트라인(GL)들, 공통라인(CL)들, 및 화소(P)들이 마련된다. 데이터라인(DL)들은 게이트라인(GL)들 및 공통라인(CL)들과 교차된다. 데이터라인(DL)들은 y축 방향으로 배치될 수 있고, 게이트라인(GL)들과 공통라인(CL)들은 x축 방향으로 배치될 수 있다. 화소(P)들 각각은 데이터라인(DL), 게이트라인(GL), 및 공통라인(CL)에 접속될 수 있다.Data lines DL, gate lines GL, common lines CL, and pixels P are provided in the display area DA. The data lines DL cross the gate lines GL and the common lines CL. The data lines DL may be disposed in the y-axis direction, and the gate lines GL and common lines CL may be disposed in the x-axis direction. Each of the pixels P may be connected to a data line DL, a gate line GL, and a common line CL.

화소(P)는 도 4와 같이 트랜지스터(T), 화소전극(11), 공통전극(12), 액정셀(13), 및 스토리지 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다. 트랜지스터(T)는 게이트라인(GL)의 게이트신호에 의해 턴-온되어 데이터라인(DL)의 데이터전압을 화소전극(11)에 공급한다. 공통전극(12)은 공통라인(CL)으로부터 공통전압을 공급받는다. 이로 인해, 화소(P)는 화소전극(11)에 공급된 데이터전압과 공통전극(12)에 공급된 공통전압의 전위차에 의해 발생되는 전계에 의해 액정셀(13)의 액정을 구동하여 백라이트 유닛으로부터 입사되는 빛의 투과량을 조정할 수 있다. 그 결과, 화소(P)들은 화상을 표시할 수 있다. 또한, 스토리지 커패시터(Cst)는 화소전극(11)과 공통전극(12) 사이에 마련되어 화소전극(11)과 공통전극(12) 간의 전압차를 일정하게 유지한다.As shown in FIG. 4 , the pixel P may include a transistor T, a pixel electrode 11 , a common electrode 12 , a liquid crystal cell 13 , and a storage capacitor Cst. The transistor T is turned on by the gate signal of the gate line GL to supply the data voltage of the data line DL to the pixel electrode 11 . The common electrode 12 receives a common voltage from the common line CL. For this reason, the pixel P drives the liquid crystal of the liquid crystal cell 13 by the electric field generated by the potential difference between the data voltage supplied to the pixel electrode 11 and the common voltage supplied to the common electrode 12 to drive the backlight unit. It is possible to adjust the amount of transmitted light from the As a result, the pixels P can display an image. In addition, the storage capacitor Cst is provided between the pixel electrode 11 and the common electrode 12 to maintain a constant voltage difference between the pixel electrode 11 and the common electrode 12 .

공통전극(12)은 TN(Twisted Nematic) 모드와 VA(Vertical Alignment) 모드와 같은 수직 전계 구동방식에서 상부기판상에 형성되며, IPS(In Plane Switching) 모드와 FFS(Fringe Field Switching) 모드와 같은 수평 전계 구동방식에서 화소 전극과 함께 하부기판상에 형성된다. 표시패널(110)의 액정 모드는 전술한 TN 모드, VA 모드, IPS 모드, FFS 모드뿐 아니라 어떠한 액정모드로도 구현될 수 있다.The common electrode 12 is formed on the upper substrate in a vertical electric field driving method such as TN (Twisted Nematic) mode and VA (Vertical Alignment) mode. It is formed on the lower substrate together with the pixel electrode in the horizontal electric field driving method. The liquid crystal mode of the display panel 110 may be implemented in any liquid crystal mode as well as the aforementioned TN mode, VA mode, IPS mode, and FFS mode.

제1 및 제2 게이트 구동부들(110, 120), 공통전압 공급라인(130), 검사 라인들(151~155), 제1 그라운드 전극(160), 제2 그라운드 전극(170), 게이트 제어 신호라인(GCL)들, 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들은 표시영역(DA)의 주변에 마련된 비표시영역(NDA)에 배치된다. 비표시영역(NDA)은 제1 어레이 기판(100a)에서 표시영역(DA)을 제외한 영역으로, 화상이 표시되지 않는 영역이다.First and second gate drivers 110 and 120 , common voltage supply line 130 , inspection lines 151 to 155 , first ground electrode 160 , second ground electrode 170 , gate control signal Lines GCL, data pads DP, common pads CP, gate pads GP, and ground pads GNDP are disposed in non-display area NDA provided around display area DA. are placed The non-display area NDA is an area in the first array substrate 100a excluding the display area DA, and is an area in which an image is not displayed.

제1 및 제2 게이트 구동부들(110, 120)은 게이트라인(GL)들에 접속된다. 제1 및 제2 게이트 구동부들(110, 120)은 게이트 패드(GP)들에 접속된 게이트 제어 신호라인(GCL)들로부터 게이트 제어신호들을 공급받는다. 제1 및 제2 게이트 구동부들(110, 120) 각각은 게이트 제어신호들에 따라 게이트신호들을 미리 정해진 순서대로 게이트라인(GL)들에 출력한다. 미리 정해진 순서는 순차적인 순서일 수 있다. 또한, 제1 및 제2 게이트 구동부들(110, 120)은 게이트신호들을 동시에 게이트라인(GL)들에 출력한다.The first and second gate drivers 110 and 120 are connected to the gate lines GL. The first and second gate drivers 110 and 120 receive gate control signals from gate control signal lines GCL connected to the gate pads GP. Each of the first and second gate drivers 110 and 120 outputs gate signals to the gate lines GL in a predetermined order according to the gate control signals. The predetermined order may be a sequential order. Also, the first and second gate drivers 110 and 120 simultaneously output gate signals to the gate lines GL.

제1 게이트 구동부(110)는 표시영역(DA)의 일측 바깥쪽에 배치되고, 제2 게이트 구동부(120)는 표시영역(DA)의 일측의 반대측 바깥쪽에 배치될 수 있다. 예를 들어, 도 3과 같이 표시영역(DA)의 좌측 바깥쪽에는 제1 게이트 구동부(110)가 배치되고, 표시영역(DA)의 우측 바깥쪽에는 제2 게이트 구동부(120)가 배치될 수 있다. 또한, 도 3에서는 제1 어레이 기판(110a)이 두 개의 게이트 구동부들을 포함하는 것을 예시하였으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다. 즉, 제1 어레이 기판(110a)은 하나의 게이트 구동부만을 포함할 수 있다.The first gate driver 110 may be disposed outside one side of the display area DA, and the second gate driver 120 may be disposed outside the other side of the one side of the display area DA. For example, as shown in FIG. 3 , the first gate driver 110 may be disposed on the left outer side of the display area DA, and the second gate driver 120 may be disposed on the right outer side of the display area DA. there is. Also, although FIG. 3 illustrates that the first array substrate 110a includes two gate drivers, it should be noted that the present invention is not limited thereto. That is, the first array substrate 110a may include only one gate driver.

도 3에서는 제1 및 제2 게이트 구동부들(110, 120)이 다수의 트랜지스터들을 포함하는 GIP(gate driver in panel) 방식으로 제1 어레이 기판(100a)에 직접 형성된 것을 예시하였으나, 이에 한정되지 않음에 주의하여야 한다. 즉, 제1 및 제2 게이트 구동부들(110, 120) 각각이 구동 칩으로 구현되는 경우, 연성필름상에 실장될 수 있다. 이 경우, 구동 칩이 실장된 연성필름을 TAB(tape automated bonding) 방식에 의해 제1 어레이 기판(100a)에 부착함으로써, 제1 및 제2 게이트 구동부들(110, 120)은 게이트라인(GL)들에 접속될 수 있다.3 illustrates that the first and second gate drivers 110 and 120 are directly formed on the first array substrate 100a using a gate driver in panel (GIP) method including a plurality of transistors, but is not limited thereto. should pay attention to That is, when each of the first and second gate drivers 110 and 120 is implemented as a driving chip, they may be mounted on a flexible film. In this case, by attaching the flexible film on which the driving chip is mounted to the first array substrate 100a by a tape automated bonding (TAB) method, the first and second gate drivers 110 and 120 are connected to the gate line GL. can be connected to

공통전압 공급라인(130)은 공통 패드(CP)들에 접속되어 공통전압을 공급받는다. 공통전압 공급라인(130)은 공통라인(CL)들에 접속된다. 이로 인해, 공통 패드(CP)들에 인가되는 공통전압은 공통전압 공급라인(130)을 통해 공통라인(CL)들에 공급될 수 있다.The common voltage supply line 130 is connected to the common pads CP to receive a common voltage. The common voltage supply line 130 is connected to the common lines CL. Accordingly, the common voltage applied to the common pads CP may be supplied to the common lines CL through the common voltage supply line 130 .

공통전압 공급라인(130)은 표시영역(DA)과 제1 게이트 구동부(110) 사이, 표시영역(DA)과 제2 게이트 구동부(120) 사이, 및 표시영역(DA)과 제1 그라운드 전극(160) 사이에 배치될 수 있다. 즉, 공통전압 공급라인(130)은 표시영역(DA)의 세 측 바깥쪽, 예를 들어 상측 바깥쪽, 좌측 바깥쪽, 및 우측 바깥쪽을 둘러싸도록 배치될 수 있다.The common voltage supply line 130 is connected between the display area DA and the first gate driver 110 , between the display area DA and the second gate driver 120 , and between the display area DA and the first ground electrode ( ). 160) may be disposed between. That is, the common voltage supply line 130 may be disposed to surround the outer three sides of the display area DA, for example, the upper outer side, the left outer side, and the right outer side.

방전 회로(140)들은 제1 그라운드 전극(160)과 제1 및 제2 게이트 구동부들(110, 120) 각각의 제1 구동전압 라인 사이에 배치될 수 있다. 방전 회로(140)들각각은 제1 그라운드 전극(160)과 제2 그라운드 전극(170)을 전기적으로 연결하는 점핑 전극(180)과 제1 구동전압 라인에 연결되어 제1 그라운드 전극(160) 또는 제2 그라운드 전극(170)에 인가된 정전기를 제1 구동전압 라인으로 방전한다. 방전 회로(140)에 대한 자세한 설명은 도 5 및 도 6을 결부하여 후술한다.The discharge circuits 140 may be disposed between the first ground electrode 160 and the first driving voltage line of each of the first and second gate drivers 110 and 120 . Each of the discharge circuits 140 is connected to a jumping electrode 180 electrically connecting the first ground electrode 160 and the second ground electrode 170 and a first driving voltage line to the first ground electrode 160 or The static electricity applied to the second ground electrode 170 is discharged to the first driving voltage line. A detailed description of the discharging circuit 140 will be described later with reference to FIGS. 5 and 6 .

검사 라인들(151~155)은 제1 어레이 기판(100a)의 일측 가장자리에 배치된다. 예를 들어, 도 3과 같이 검사 라인들(151~155)들은 제1 어레이 기판(100a)의 상측 가장자리에 마련될 수 있다.The inspection lines 151 to 155 are disposed at one edge of the first array substrate 100a. For example, as shown in FIG. 3 , the inspection lines 151 to 155 may be provided on the upper edge of the first array substrate 100a.

제1 어레이 기판(100a)이 스크라이빙 공정에 의해 절단(cutting)되는 경우, 검사 라인들(151~155)은 검사 패드(IP)들과 제1 어레이 기판(100a)에 인접한 제2 어레이 기판(100b)의 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들과 접속되지 않는다. 즉, 도 2와 같이 제1 어레이 기판(100a)의 검사 라인들(151~155)은 검사 패드(IP)들로부터의 전압 또는 신호들을 제1 어레이 기판(100a)에 인접한 제2 어레이 기판(100b)의 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들에 인가하기 위한 라인들이므로, 제1 어레이 기판(100a)이 스크라이빙 공정에 의해 절단(cutting)되는 경우, 검사 라인들(151~155)에는 어떠한 전압도 인가되지 않는다. 즉, 제1 어레이 기판(100a)이 스크라이빙 공정에 의해 절단(cutting)되는 경우, 검사 라인들(151~155)은 플로팅된다.When the first array substrate 100a is cut by a scribing process, the inspection lines 151 to 155 are connected to the inspection pads IP and the second array substrate adjacent to the first array substrate 100a. The data pads DP, the common pads CP, the gate pads GP, and the ground pads GNDP of 100b are not connected. That is, as shown in FIG. 2 , the inspection lines 151 to 155 of the first array substrate 100a transmit voltages or signals from the inspection pads IP to the second array substrate 100b adjacent to the first array substrate 100a. ) of the data pads DP, common pads CP, gate pads GP, and ground pads GNDP, so that the first array substrate 100a is subjected to a scribing process. When cut by , no voltage is applied to the inspection lines 151 to 155 . That is, when the first array substrate 100a is cut by a scribing process, the inspection lines 151 to 155 are floated.

제1 그라운드 전극(160)은 그라운드 라인(GNDL)들을 통해 그라운드 패드(GNDP)들에 접속되어 그라운드 전압을 공급받는다. 그라운드 전압은 0V 이하의 전압일 수 있다. 제1 그라운드 전극(160)은 검사 라인들(151~155)과 공통전압 공급라인(130) 사이에 배치된다.The first ground electrode 160 is connected to the ground pads GNDP through the ground lines GNDL to receive a ground voltage. The ground voltage may be a voltage of 0V or less. The first ground electrode 160 is disposed between the test lines 151 to 155 and the common voltage supply line 130 .

제2 그라운드 전극(170)은 제1 그라운드 전극(160)과 이격되며, 공통전압 공급라인(130)과 표시영역(DA) 사이에 배치된다. 제1 그라운드 전극(160)과 제2 그라운드 전극(170)은 점핑 전극(180)들을 통해 전기적으로 연결된다. 구체적으로, 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170)과 공통전압 공급라인(130)은 모두 제1 금속 패턴으로 형성되므로, 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170)을 전기적으로 연결하기 위해서는 제1 금속 패턴과 다른 층에 형성되는 점핑 전극(180)들이 필요하다.The second ground electrode 170 is spaced apart from the first ground electrode 160 and is disposed between the common voltage supply line 130 and the display area DA. The first ground electrode 160 and the second ground electrode 170 are electrically connected through the jumping electrodes 180 . Specifically, since both the first and second ground electrodes 160 and 170 and the common voltage supply line 130 are formed in the first metal pattern, the first and second ground electrodes 160 and 170 are electrically connected to each other. In order to connect, jumping electrodes 180 formed on a layer different from that of the first metal pattern are required.

구체적으로, 공통전압 공급라인(130)이 표시영역(DA)과 검사 라인들(151~155) 사이에 배치되므로, 표시영역(DA)과 검사 라인들(151~155) 사이에서 제1 그라운드 전극(160)의 두께는 얇아진다. 이로 인해, 제1 그라운드 전극(160)의 저항이 높아지는 문제가 있다. 본 발명의 실시예는 제1 그라운드 전극(160)의 저항이 높아지는 것을 방지하기 위해, 공통전압 공급라인(130)과 표시영역(DA) 사이에 제2 그라운드 전극(170)을 배치하고, 제1 그라운드 전극(160)과 제2 그라운드 전극(170)을 점핑 전극(180)들을 통해 전기적으로 연결시킨다. 그 결과, 본 발명의 실시예는 공통전압 공급라인(130)으로 인해 제1 그라운드 전극(160)의 면적이 줄어든 것을 제2 그라운드 전극(170)의 면적으로 보충할 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예는 제1 그라운드 전극(160)의 저항이 높아지는 것을 방지할 수 있다.Specifically, since the common voltage supply line 130 is disposed between the display area DA and the inspection lines 151 to 155 , the first ground electrode is disposed between the display area DA and the inspection lines 151 to 155 . The thickness of 160 becomes thinner. Accordingly, there is a problem in that the resistance of the first ground electrode 160 is increased. In the embodiment of the present invention, in order to prevent the resistance of the first ground electrode 160 from increasing, the second ground electrode 170 is disposed between the common voltage supply line 130 and the display area DA, and the first The ground electrode 160 and the second ground electrode 170 are electrically connected through the jumping electrodes 180 . As a result, in the embodiment of the present invention, the reduced area of the first ground electrode 160 due to the common voltage supply line 130 can be supplemented with the area of the second ground electrode 170 . Accordingly, the embodiment of the present invention can prevent the resistance of the first ground electrode 160 from being increased.

데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들은 제1 어레이 기판(100a)의 일측의 반대측 가장자리에 마련될 수 있다. 이때, 제1 어레이 기판(100a)의 일측에는 검사 라인들(151~155)이 마련된다. 예를 들어, 도 3과 같이 제1 어레이 기판(100a)의 상측 가장자리에 검사 라인들(151~155)이 마련되는 경우, 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들은 1 어레이 기판(100a)의 하측 가장자리에 마련될 수 있다. 데이터 패드(DP)들은 데이터 라인(DL)들에 접속되고, 공통 패드(CP)들은 공통전압 공급라인(130)에 접속되며, 게이트 패드(GP)들은 게이트 제어 신호라인(GCL)들에 접속되며, 그라운드 패드(GNDP)들은 그라운드 라인(GNDL)들에 접속될 수 있다.The data pads DP, common pads CP, gate pads GP, and ground pads GNDP may be provided on an opposite edge of one side of the first array substrate 100a. In this case, inspection lines 151 to 155 are provided on one side of the first array substrate 100a. For example, when the inspection lines 151 to 155 are provided on the upper edge of the first array substrate 100a as shown in FIG. 3 , the data pads DP, the common pads CP, and the gate pad GP ) and the ground pads GNDP may be provided at the lower edge of the first array substrate 100a. The data pads DP are connected to the data lines DL, the common pads CP are connected to the common voltage supply line 130 , and the gate pads GP are connected to the gate control signal lines GCL. , ground pads GNDP may be connected to ground lines GNDL.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 실시예는 공통전압 공급라인(130)과 검사 라인들(151~155) 사이에 제1 그라운드 전극(160)을 배치하고, 표시영역(DA)과 공통전압 공급라인(130) 사이에 제2 그라운드 전극(170)을 배치하며, 점핑 전극(180)들을 이용하여 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170)을 전기적으로 연결하고, 방전 회로(140)들 각각을 점핑 전극(180)들 각각에 전기적으로 연결한다. 그 결과, 본 발명의 실시예는 외부로부터의 정전기가 검사 라인들(151~155)에 인가되고, 검사 라인들(151~155)에 유기(遺棄)된 정전기가 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170)로 인가되는 경우, 점핑 전극(180)들에 연결된 방전 회로(140)들을 통해 정전기를 방전시킬 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예는 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170) 사이에 배치된 공통전압 공급라인(130)의 공통전압이 정전기에 의해 왜곡되는 것을 방지할 수 있다.As described above, in the embodiment of the present invention, the first ground electrode 160 is disposed between the common voltage supply line 130 and the inspection lines 151 to 155 , and the display area DA and the common voltage are supplied. The second ground electrode 170 is disposed between the lines 130 , the first and second ground electrodes 160 and 170 are electrically connected using the jumping electrodes 180 , and the discharge circuits 140 are formed. Each is electrically connected to each of the jumping electrodes 180 . As a result, in the embodiment of the present invention, static electricity from the outside is applied to the inspection lines 151 to 155 , and static electricity induced in the inspection lines 151 to 155 is applied to the first and second ground electrodes. When the voltages 160 and 170 are applied, static electricity may be discharged through the discharge circuits 140 connected to the jumping electrodes 180 . Accordingly, the embodiment of the present invention can prevent the common voltage of the common voltage supply line 130 disposed between the first and second ground electrodes 160 and 170 from being distorted by static electricity.

도 5는 도 4의 방전 회로의 회로도이다. 도 5를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 방전 회로(140)는 방전 소자와 저항(R)을 포함한다.FIG. 5 is a circuit diagram of the discharge circuit of FIG. 4 . Referring to FIG. 5 , the discharging circuit 140 according to the embodiment of the present invention includes a discharging element and a resistor (R).

방전 소자는 제1 구동전압 라인(DVL1)의 제1 구동전압과 점핑 전극(180)의 그라운드 전압 간의 전압 차가 문턱전압보다 큰 경우 점핑 전극(180)의 전압을 제1 구동전압 라인(DVL1)으로 방전한다. 이하에서는 설명의 편의를 위해, 방전 소자가 트랜지스터(TR)인 것을 중심으로 설명한다. 하지만, 방전 소자는 트랜지스터(TR)인 것에 한정되지 않으며, 다이오드(diode)일 수도 있다.When the voltage difference between the first driving voltage of the first driving voltage line DVL1 and the ground voltage of the jumping electrode 180 is greater than a threshold voltage, the discharge device converts the voltage of the jumping electrode 180 to the first driving voltage line DVL1. discharge Hereinafter, for convenience of description, the discharge element will be mainly described as the transistor TR. However, the discharge device is not limited to the transistor TR, and may be a diode.

트랜지스터(TR)은 제1 구동전압 라인(DVL1)에 전기적으로 연결된 게이트 전극과 소스 전극, 및 점핑 전극(180)에 전기적으로 연결된 드레인 전극을 포함한다. 트랜지스터(TR)은 박막 트랜지스터(thin film transistor)로 형성될 수 있다. 저항(R)은 트랜지스터(TR)의 게이트 전극과 드레인 전극 사이에 배치된다.The transistor TR includes a gate electrode and a source electrode electrically connected to the first driving voltage line DVL1 , and a drain electrode electrically connected to the jumping electrode 180 . The transistor TR may be formed of a thin film transistor. The resistor R is disposed between the gate electrode and the drain electrode of the transistor TR.

정전기가 인가되지 않는 경우, 트랜지스터(TR)의 게이트 전극과 소스 전극이 제1 구동전압 라인(DVL1)에 접속되므로, 게이트-소스 간 전압 차(Vgs)는 트랜지스터(TR)의 문턱전압(Vth)보다 작다. (Vgs<Vth) 이로 인해, 트랜지스터(TR)는 턴-오프 상태이므로, 드레인 전극으로부터 소스 전극으로 전류가 흐르지 않는다.When static electricity is not applied, since the gate electrode and the source electrode of the transistor TR are connected to the first driving voltage line DVL1, the gate-source voltage difference Vgs is the threshold voltage Vth of the transistor TR. smaller than (Vgs<Vth) For this reason, since the transistor TR is in a turned-off state, no current flows from the drain electrode to the source electrode.

하지만, 정전기(10kV)가 인가되는 경우, 트랜지스터(TR)의 드레인 전극이 점핑 전극(180)에 접속되므로, 드레인 전극의 전위가 크게 상승한다. 이 경우, 트랜지스터(TR)의 드레인-소스간 전압 차(Vds)는 게이트-소스 간 전압 차(Vgs)로부터 문턱전압(Vth)을 감산한 전압(Vgs-Vth)보다 크기 때문에(Vds>Vgs-Vth), 트랜지스터(TR)는 턴-온된다. 이로 인해, 점핑 전극(180)에 인가된 정전기(10kV)는 제1 구동전압 라인(DVL1)으로 방전될 수 있다.However, when static electricity (10 kV) is applied, since the drain electrode of the transistor TR is connected to the jumping electrode 180 , the potential of the drain electrode greatly increases. In this case, since the voltage difference Vds between the drain and the source of the transistor TR is greater than the voltage Vgs-Vth obtained by subtracting the threshold voltage Vth from the voltage difference between the gate and source Vgs (Vds>Vgs-) Vth), the transistor TR is turned on. Accordingly, the static electricity 10kV applied to the jumping electrode 180 may be discharged to the first driving voltage line DVL1 .

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 실시예는 방전 회로(140)를 이용하여 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170)에 정전기가 인가되는 경우, 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170)을 전기적으로 연결하는 점핑 전극(180)들에 연결된 방전 회로(140)들을 통해 정전기를 방전시킬 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예는 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170) 사이에 배치된 공통전압 공급라인(130)의 공통전압이 정전기에 의해 왜곡되는 것을 방지할 수 있다.As described above, in the embodiment of the present invention, when static electricity is applied to the first and second ground electrodes 160 and 170 using the discharge circuit 140 , the first and second ground electrodes 160 . , 170 , static electricity may be discharged through the discharge circuits 140 connected to the jumping electrodes 180 . Accordingly, the embodiment of the present invention can prevent the common voltage of the common voltage supply line 130 disposed between the first and second ground electrodes 160 and 170 from being distorted by static electricity.

도 6은 도 3의 A 영역을 상세히 보여주는 평면도이다. 도 6에서는 설명의 편의를 위해 공통전압 공급회로(130), 방전 회로(140), 제1 그라운드 전극(160), 제2 그라운드 전극(170), 점핑 전극(180), 및 제1 구동전압 라인(DVL1)만을 도시하였다.FIG. 6 is a plan view illustrating a region A of FIG. 3 in detail. 6 , for convenience of explanation, a common voltage supply circuit 130 , a discharge circuit 140 , a first ground electrode 160 , a second ground electrode 170 , a jumping electrode 180 , and a first driving voltage line Only (DVL1) is shown.

도 6을 참조하면, 방전 회로(140)는 트랜지스터(TR)와 저항(R)을 포함한다. 트랜지스터(TR)는 제1 콘택홀(CNT1)을 통해 제1 구동전압 라인(DVL1)에 접속된 게이트 전극(GE), 제1 구동전압 라인(DVL1)으로부터 연장된 소스 전극(SE), 및 제2 콘택홀(CNT2)을 통해 점핑 전극(180)에 접속된 드레인 전극(DE)을 포함한다. 저항(R)은 점핑 전극(180)으로부터 연장되며, 제3 콘택홀(CNT3)을 통해 트랜지스터(TR)의 게이트 전극(GE)에 접속된다. 저항(R)의 크기는 배선의 두께와 길이에 따라 설정될 수 있다.Referring to FIG. 6 , the discharge circuit 140 includes a transistor TR and a resistor R. The transistor TR includes a gate electrode GE connected to the first driving voltage line DVL1 through the first contact hole CNT1 , a source electrode SE extending from the first driving voltage line DVL1 , and a second transistor TR. A drain electrode DE connected to the jumping electrode 180 through the second contact hole CNT2 is included. The resistor R extends from the jumping electrode 180 and is connected to the gate electrode GE of the transistor TR through the third contact hole CNT3 . The size of the resistor R may be set according to the thickness and length of the wiring.

점핑 전극(180)은 공통전압 공급라인(130)을 가로질러 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170)을 전기적으로 연결시킨다. 점핑 전극(180)은 제4 콘택홀(CNT4)을 통해 제2 그라운드 전극(170)과 접속되며, 제5 콘택홀(CNT5)을 통해 제1 그라운드 전극(180)과 접속된다.The jumping electrode 180 electrically connects the first and second ground electrodes 160 and 170 across the common voltage supply line 130 . The jumping electrode 180 is connected to the second ground electrode 170 through the fourth contact hole CNT4 , and is connected to the first ground electrode 180 through the fifth contact hole CNT5 .

게이트 구동부들(110, 120)에는 게이트 로우 전압에 해당하는 제1 구동전압과 게이트 하이 전압에 해당하는 제2 구동전압이 공급되며, 제1 구동전압 라인(DVL1)은 게이트 구동부들(110, 120) 각각에 제1 구동전압을 공급하기 위한 라인이다. 게이트 로우 전압은 표시영역(DA)과 게이트 구동부들(110, 120)의 트랜지스터들을 턴-오프시킬 수 있는 전압으로 0V 이하의 전압일 수 있다. 게이트 하이 전압은 표시영역(DA)과 게이트 구동부들(110, 120)의 트랜지스터들을 턴-온시킬 수 있는 전압으로 10V 이상의 전압일 수 있다.A first driving voltage corresponding to a gate low voltage and a second driving voltage corresponding to a gate high voltage are supplied to the gate drivers 110 and 120 , and the first driving voltage line DVL1 is connected to the gate drivers 110 and 120 ) is a line for supplying the first driving voltage to each. The gate low voltage is a voltage capable of turning off the transistors of the display area DA and the gate drivers 110 and 120 and may be a voltage of 0V or less. The gate high voltage is a voltage capable of turning on the transistors of the display area DA and the gate drivers 110 and 120 and may be a voltage of 10V or more.

도 7은 도 6의 I-I'의 단면도이다. 도 8은 도 5의 Ⅱ-Ⅱ'의 단면도이다. 이하에서는, 도 6 내지 도 8을 결부하여 방전 회로(140)의 트랜지스터(TR)와 저항(R), 및 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170)을 전기적으로 연결하는 점핑 전극(180)에 대하여 상세히 설명한다.7 is a cross-sectional view taken along line II′ of FIG. 6 . 8 is a cross-sectional view taken along line II-II' of FIG. 5 . Hereinafter, in conjunction with FIGS. 6 to 8 , the transistor TR and the resistor R of the discharge circuit 140 , and the jumping electrode 180 electrically connecting the first and second ground electrodes 160 and 170 . ) will be described in detail.

도 6 내지 도 8을 참조하면, 제1 어레이 기판(100a) 상에는 트랜지스터(TR)의 게이트 전극(GE), 공통전압 공급라인(130), 제1 그라운드 전극(160), 및 제2 그라운드 전극(170)이 제1 금속 패턴으로 형성될 수 있다. 제1 금속 패턴은 게이트 금속 패턴으로, 예를 들어 몰리브덴(Mo), 티타늄(Ti), 알루미늄(Al) 또는 구리(Cu)를 재료로 이용하여 단일층(single layer) 또는 몰리브덴(Mo), 티타늄(Ti), 알루미늄(Al) 또는 구리(Cu)의 재료 중 적어도 2개의 금속을 포함한 복층(multi layer) 구조로 형성될 수도 있다.6 to 8, on the first array substrate 100a, the gate electrode GE of the transistor TR, the common voltage supply line 130, the first ground electrode 160, and the second ground electrode ( 170) may be formed as the first metal pattern. The first metal pattern is a gate metal pattern, for example, a single layer or molybdenum (Mo), titanium using molybdenum (Mo), titanium (Ti), aluminum (Al), or copper (Cu) as a material. It may be formed in a multi-layer structure including at least two metals among a material of (Ti), aluminum (Al), or copper (Cu).

제1 금속 패턴 상에는 게이트 절연막(GI)이 형성된다. 게이트 절연막(GI)은 실리콘 질화물(SiNx)와 실리콘 산화물(SiOx)와 같은 무기막일 수 있다.A gate insulating layer GI is formed on the first metal pattern. The gate insulating layer GI may be an inorganic layer such as silicon nitride (SiNx) and silicon oxide (SiOx).

게이트 절연막(GI) 상에는 액티브층(ACT)이 형성된다. 게이트 절연막(GI) 상에는 트랜지스터(TR)의 소스 전극(SE)과 드레인 전극(DE), 및 제1 구동전압 라인(DVL1)이 제2 금속 패턴으로 형성될 수 있다. 제2 금속 패턴은 소스 드레인 금속 패턴으로 몰리브덴(Mo), 티타늄(Ti), 알루미늄(Al) 또는 구리(Cu)를 재료로 이용하여 단일층(single layer) 또는 몰리브덴(Mo), 티타늄(Ti), 알루미늄(Al) 또는 구리(Cu)의 재료 중 적어도 2개의 금속을 포함한 복층(multi layer) 구조로 형성될 수도 있다.An active layer ACT is formed on the gate insulating layer GI. A source electrode SE and a drain electrode DE of the transistor TR, and a first driving voltage line DVL1 may be formed in a second metal pattern on the gate insulating layer GI. The second metal pattern is a source-drain metal pattern using molybdenum (Mo), titanium (Ti), aluminum (Al), or copper (Cu) as a material to form a single layer or molybdenum (Mo), titanium (Ti). , may be formed in a multi-layer structure including at least two metals of a material of aluminum (Al) or copper (Cu).

트랜지스터(TR)의 소스 전극(SE)과 드레인 전극(DE)은 액티브층(ACT)의 일부와 중첩되게 형성될 수 있다. 이로 인해, 트랜지스터(TR)의 소스 전극(SE)과 드레인 전극(DE) 각각은 액티브층(ACT) 상에서 액티브층(ACT)과 접속될 수 있다. 제1 구동전압 라인(DLV1)이 제2 금속 패턴으로 형성되는 반면에 트랜지스터(TR)의 게이트 전극(GE)은 제1 금속 패턴으로 형성되므로, 트랜지스터(TR)의 게이트 전극(GE)과 제1 구동전압 라인(DVL1)은 게이트 절연막(GI)을 관통하는 제1 콘택홀(CNT1)을 통해 서로 접속될 수 있다.The source electrode SE and the drain electrode DE of the transistor TR may be formed to overlap a portion of the active layer ACT. Accordingly, each of the source electrode SE and the drain electrode DE of the transistor TR may be connected to the active layer ACT on the active layer ACT. Since the first driving voltage line DLV1 is formed in the second metal pattern while the gate electrode GE of the transistor TR is formed in the first metal pattern, the gate electrode GE of the transistor TR and the first The driving voltage line DVL1 may be connected to each other through the first contact hole CNT1 passing through the gate insulating layer GI.

액티브층(ACT)과 제2 금속 패턴 상에는 보호막(PAS)이 형성된다. 보호막(PAS)은 포토 아크릴(PAC)과 같은 유기막일 수 있다.A passivation layer PAS is formed on the active layer ACT and the second metal pattern. The passivation layer PAS may be an organic layer such as photo acrylic (PAC).

보호막(PAS) 상에는 점핑 전극(180)이 제3 금속 패턴으로 형성될 수 있다. 제3 금속 패턴은 투명전극 패턴으로, 예를 들어 ITO(Induim Tin Oxide) 및 IZO(Induim Zinc Oxide)와 같은 TCO(Transparent Conducting Oxide)로 형성될 수 있다.The jumping electrode 180 may be formed in a third metal pattern on the passivation layer PAS. The third metal pattern is a transparent electrode pattern, and may be formed of, for example, transparent conducting oxide (TCO) such as induim tin oxide (ITO) and induim zinc oxide (IZO).

트랜지스터(TR)의 드레인 전극(DE)과 점핑 전극(180)은 보호막(PAS)을 관통하는 제2 콘택홀(CNT2)을 통해 서로 접속될 수 있다. 또한, 트랜지스터(TR)의 게이트 전극(GE)과 점핑 전극(180)으로부터 연장된 저항(R)은 게이트 절연막(GI)과 보호막(PAS)을 관통하는 제3 콘택홀(CNT3)을 통해 서로 접속될 수 있다. 또한, 제2 그라운드 전극(170)과 점핑 전극(180)은 게이트 절연막(GI)과 보호막(PAS)을 관통하는 제4 콘택홀(CNT4)을 통해 서로 접속될 수 있다. 나아가, 제1 그라운드 전극(160)과 점핑 전극(180)은 게이트 절연막(GI)과 보호막(PAS)을 관통하는 제5 콘택홀(CNT5)을 통해 서로 접속될 수 있다.The drain electrode DE of the transistor TR and the jumping electrode 180 may be connected to each other through the second contact hole CNT2 penetrating the passivation layer PAS. In addition, the gate electrode GE of the transistor TR and the resistor R extending from the jumping electrode 180 are connected to each other through the third contact hole CNT3 penetrating the gate insulating layer GI and the passivation layer PAS. can be Also, the second ground electrode 170 and the jumping electrode 180 may be connected to each other through the fourth contact hole CNT4 penetrating the gate insulating layer GI and the passivation layer PAS. Furthermore, the first ground electrode 160 and the jumping electrode 180 may be connected to each other through the fifth contact hole CNT5 penetrating the gate insulating layer GI and the passivation layer PAS.

도 9는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치를 보여주는 평면도이다. 도 9를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치는 표시패널(1000), 연성필름(1300), 소스 드라이브 집적회로(integrated circuit, 이하 "IC"라 칭함)(1400), 및 회로보드(1500)를 포함한다.9 is a plan view illustrating a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention. Referring to FIG. 9 , the liquid crystal display according to the embodiment of the present invention includes a display panel 1000 , a flexible film 1300 , a source drive integrated circuit (hereinafter referred to as “IC”) 1400 , and a circuit Includes a board 1500 .

표시패널(1000)은 제1 기판(1100), 제2 기판(1200), 제1 기판(1100)과 제2 기판(1200) 사이에 개재된 액정층을 포함한다. 제1 기판(1100)은 화소들이 마련되는 어레이 기판일 수 있다. 제1 기판(1100)에 대하여는 도 3을 결부하여 이미 앞에서 상세히 설명하였으므로, 이에 대한 자세한 설명은 생략한다.The display panel 1000 includes a first substrate 1100 , a second substrate 1200 , and a liquid crystal layer interposed between the first substrate 1100 and the second substrate 1200 . The first substrate 1100 may be an array substrate on which pixels are provided. Since the first substrate 1100 has already been described in detail with reference to FIG. 3 , a detailed description thereof will be omitted.

제2 기판(1200)은 컬러필터와 블랙 매트릭스가 마련되는 컬러필터 기판일 수 있다. 하지만, 표시패널(1000)이 COT(colorfilter on TFT array) 방식으로 형성되는 경우에 컬러필터는 어레이 기판에 형성될 수 있다.The second substrate 1200 may be a color filter substrate on which a color filter and a black matrix are provided. However, when the display panel 1000 is formed using a color filter on TFT array (COT) method, the color filter may be formed on the array substrate.

제1 기판(1100)에 형성된 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들 상에는 연성필름(1400)에 부착되어야 한다. 따라서, 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들을 노출시키기 위해, 제2 기판(1200)의 크기는 제1 기판(1100)의 크기보다 작을 수 있다.The flexible film 1400 must be attached to the data pads DP, common pads CP, gate pads GP, and ground pads GNDP formed on the first substrate 1100 . Accordingly, in order to expose the data pads DP, common pads CP, gate pads GP, and ground pads GNDP, the size of the second substrate 1200 is that of the first substrate 1100 . may be smaller than the size.

도 10과 같이 제1 기판(1100)에는 제1 편광판(1110)이 부착되고 제2 기판(1200)에는 제2 편광판(1210)이 부착될 수 있다. 또한, 제1 기판(1100)과 제2 기판(1200) 각각에는 액정층과 접하는 내면에 액정의 프리틸트각을 설정하기 위한 배향막이 형성될 수 있다.10 , a first polarizing plate 1110 may be attached to the first substrate 1100 , and a second polarizing plate 1210 may be attached to the second substrate 1200 . In addition, an alignment layer for setting a pretilt angle of the liquid crystal may be formed on an inner surface in contact with the liquid crystal layer on each of the first substrate 1100 and the second substrate 1200 .

소스 드라이브 IC(1400)가 구동 칩으로 구현되는 경우, 도 9와 같이 COF(chip on film) 또는 COP(chip on plastic) 방식으로 연성필름(1300)상에 실장된다. 연성필름(1300)에는 도 3의 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들에 접속되는 다수의 패드들이 마련될 수 있다. 또한, 연성필름(1300)에는 데이터 패드(DP)들과 소스 드라이브 IC(1400)를 연결하는 배선들, 회로보드(1500)의 배선들과 연결되는 배선들이 마련될 수 있다. 연성필름(1300)은 이방성 도전 필름(antisotropic conducting film)을 이용하여 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들 상에 부착되며, 이로 인해 데이터 패드(DP)들, 공통 패드(CP)들, 게이트 패드(GP)들, 및 그라운드 패드(GNDP)들과 연성필름(1300)의 패드들은 연결될 수 있다.When the source drive IC 1400 is implemented as a driving chip, it is mounted on the flexible film 1300 in a chip on film (COF) or chip on plastic (COP) manner as shown in FIG. 9 . A plurality of pads connected to the data pads DP, common pads CP, gate pads GP, and ground pads GNDP of FIG. 3 may be provided on the flexible film 1300 . Also, the flexible film 1300 may be provided with wires connecting the data pads DP and the source drive IC 1400 and wires connected to the wires of the circuit board 1500 . The flexible film 1300 is attached on data pads (DP), common pads (CP), gate pads (GP), and ground pads (GNDP) using an anisotropic conducting film, Accordingly, the data pads DP, the common pads CP, the gate pads GP, and the ground pads GNDP may be connected to the pads of the flexible film 1300 .

소스 드라이브 IC(1400)는 데이터라인들(D1~Dm)에 데이터전압들을 공급한다. 구체적으로, 소스 드라이브 IC(1400)는 연성필름(1300)의 배선들과 패드들, 데이터 패드(DP)들을 통해 데이터라인들(DL)에 데이터전압들을 공급할 수 있다.The source drive IC 1400 supplies data voltages to the data lines D1 to Dm. Specifically, the source drive IC 1400 may supply data voltages to the data lines DL through wires, pads, and data pads DP of the flexible film 1300 .

회로보드(1500)는 연성필름(1300)에 부착될 수 있다. 회로보드(1500)에는 구동 칩들로 구현된 다수의 회로들이 실장될 수 있다. 예를 들어, 회로보드(1500)에는 구동 칩들로 구현된 공통전압 공급회로와 타이밍 제어회로 등이 실장될 수 있다. 또한, 회로보드(1500)에는 외부로부터 입력되는 신호들이 공급되는 신호 케이블과 접속되는 커넥터가 마련될 수 있다. 회로보드(1500)에는 구동 칩들과 커넥터에 접속되는 다수의 배선들이 마련될 수 있으며, 회로보드(1500)의 배선들은 연성필름(1300)의 배선들에 연결될 수 있다.The circuit board 1500 may be attached to the flexible film 1300 . A plurality of circuits implemented with driving chips may be mounted on the circuit board 1500 . For example, a common voltage supply circuit and a timing control circuit implemented by driving chips may be mounted on the circuit board 1500 . Also, a connector connected to a signal cable to which signals input from the outside are supplied may be provided on the circuit board 1500 . A plurality of wires connected to the driving chips and the connector may be provided on the circuit board 1500 , and the wires of the circuit board 1500 may be connected to wires of the flexible film 1300 .

액정표시장치는 백라이트 유닛을 더 포함한다. 백라이트 유닛은 표시패널(1000)에 빛을 조사하기 위해 표시패널(1000)의 아래에 배치될 수 있다. 백라이트 유닛은 직하형(direct type) 또는 에지형(edge type)으로 구현될 수 있다.The liquid crystal display device further includes a backlight unit. The backlight unit may be disposed under the display panel 1000 to irradiate light to the display panel 1000 . The backlight unit may be implemented as a direct type or an edge type.

도 10은 도 9의 Ⅲ-Ⅲ'의 단면도이다. 도 10을 참조하면, 제1 기판(1100)은 어레이 기판이고, 제2 기판(1200)은 컬러필터 기판인 것을 중심으로 설명하였다. 도 10에서는 설명의 편의를 위해 백라이트 유닛은 도시하지 않았으며, 제1 기판(1100)의 표시영역(DA), 공통전압 공급라인(130), 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170), 및 검사 라인들(1700)만을 도시하였다.FIG. 10 is a cross-sectional view taken along line III-III' of FIG. 9 . Referring to FIG. 10 , the description has been focused on that the first substrate 1100 is an array substrate and the second substrate 1200 is a color filter substrate. In FIG. 10 , the backlight unit is not shown for convenience of explanation, and the display area DA of the first substrate 1100 , the common voltage supply line 130 , and the first and second ground electrodes 160 and 170 . , and only the inspection lines 1700 are shown.

제2 기판(1200)의 상면에는 정전기 방지를 위한 투명 정전기보호층(1220)이 배치되고, 투명 정전기 보호층(1220)의 상면에는 제2 편광판(1210)이 배치될 수 있다. 이때, 액정표시장치가 외관의 심미감을 높이기 위해 보더리스(borderless)로 구현되는 경우, 탑 케이스(top case)가 삭제되고, 제2 편광판(1210)은 제2 기판(1200) 및 투명 정전기 보호층(1220)보다 길게 연장된 연장부(1211)를 포함하며, 제2 편광판(1210)의 연장부(1211)와 표시패널(1000)의 측면에 접착제(1600)가 도포된다.A transparent static electricity protection layer 1220 for preventing static electricity may be disposed on an upper surface of the second substrate 1200 , and a second polarizing plate 1210 may be disposed on an upper surface of the transparent static electricity protection layer 1220 . At this time, when the liquid crystal display device is implemented as borderless in order to enhance the aesthetics of the appearance, the top case is deleted, and the second polarizing plate 1210 includes the second substrate 1200 and the transparent static electricity protection layer. It includes an extension portion 1211 extending longer than 1220 , and an adhesive 1600 is applied to the extension portion 1211 of the second polarizing plate 1210 and the side surface of the display panel 1000 .

보더리스로 구현된 액정표시장치는 정전기 방지를 위한 투명 정전기 보호층(1220)이 제2 편광판(1210)에 의해 덮히게 되어 외부로 노출되지 않으므로, 외부의 정전기가 제1 기판(1100)에 마련된 검사 라인들(1700)로 공급되기 쉽다. 하지만, 본 발명의 실시예는 검사 라인들(1700)과 공통전압 공급 라인(130) 사이에 제1 그라운드 전극(160)을 배치하고, 표시영역(DA)과 공통전압 공급 라인(130) 사이에 제2 그라운드 전극(170)을 배치하며, 도 3과 같이 점핑 전극(180)들을 이용하여 제1 및 제2 그라운드 전극들(160, 170)을 전기적으로 연결시키며, 방전 회로(140)들 각각을 점핑 전극(180)에 전기적으로 연결시킨다. 그 결과, 본 발명의 실시예는 외부로부터의 정전기가 검사 라인들(1700)에 인가되고, 검사 라인들(1700)에 유기된 정전기가 제1 및 제2 그라운드 라인들(160, 170)에 인가되는 경우, 방전 회로(140)들을 통해 방전될 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예는 공통전압 공급라인(130)의 공통전압이 정전기에 의해 왜곡되는 것을 방지할 수 있다.In the borderless liquid crystal display device, since the transparent static electricity protection layer 1220 for preventing static electricity is covered by the second polarizing plate 1210 and is not exposed to the outside, external static electricity is provided on the first substrate 1100. It is easy to be supplied to the inspection lines 1700 . However, in the embodiment of the present invention, the first ground electrode 160 is disposed between the inspection lines 1700 and the common voltage supply line 130 , and between the display area DA and the common voltage supply line 130 . The second ground electrode 170 is disposed, and the first and second ground electrodes 160 and 170 are electrically connected using the jumping electrodes 180 as shown in FIG. 3 , and each of the discharge circuits 140 is connected to each other. It is electrically connected to the jumping electrode 180 . As a result, in the embodiment of the present invention, external static electricity is applied to the inspection lines 1700 , and static electricity induced in the inspection lines 1700 is applied to the first and second ground lines 160 and 170 . In this case, it may be discharged through the discharging circuits 140 . Accordingly, the embodiment of the present invention can prevent the common voltage of the common voltage supply line 130 from being distorted by static electricity.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.Those skilled in the art from the above description will be able to see that various changes and modifications are possible without departing from the technical spirit of the present invention. Accordingly, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be defined by the claims.

10: 모기판 100: 어레이 기판
100a: 제1 어레이 기판 100b: 제2 어레이 기판
100c: 제3 어레이 기판 110: 제1 게이트 구동부
120: 제2 게이트 구동부 130: 공통전압 공급라인
140: 방전 회로 151~155, 1700: 검사 라인들
160: 제1 그라운드 전극 170: 제2 그라운드 전극
180: 점핑 던극 1000: 표시패널
1100: 제1 기판 1110: 제1 편광판
1200: 제2 기판 1210: 제2 편광판
1220: 투명 정전기 보호층 1300: 연성필름
1400: 소스 드라이브 IC 1500: 회로보드
1600: 접착제
10: mother substrate 100: array substrate
100a: first array substrate 100b: second array substrate
100c: third array substrate 110: first gate driver
120: second gate driver 130: common voltage supply line
140: discharge circuits 151 to 155, 1700: inspection lines
160: first ground electrode 170: second ground electrode
180: jumping dungeon 1000: display panel
1100: first substrate 1110: first polarizing plate
1200: second substrate 1210: second polarizing plate
1220: transparent electrostatic protective layer 1300: flexible film
1400: source drive IC 1500: circuit board
1600: adhesive

Claims (14)

그라운드 전압이 인가되는 제1 그라운드 전극;
상기 제1 그라운드 전극과 이격되어 배치되는 제2 그라운드 전극;
상기 제1 그라운드 전극과 상기 제2 그라운드 전극 사이에 배치되어, 공통전압이 인가되는 공통전압 공급 라인;
상기 제1 그라운드 전극보다 바깥쪽에 배치되는 검사 라인들;
상기 제1 및 제2 그라운드 전극들을 전기적으로 연결하는 점핑 전극;
제1 구동전압이 공급되는 제1 구동전압 라인; 및
상기 점핑 전극과 상기 제1 구동전압 라인 사이에 전기적으로 연결되며, 상기 점핑 전극의 전압을 상기 제1 구동전압 라인으로 방전하는 방전 회로를 구비하며,
상기 방전 회로는 트랜지스터인 방전 소자를 포함하고,
상기 검사 라인들, 상기 공통전압 공급 라인, 상기 제1 그라운드 전극, 및 상기 제2 그라운드 전극은 상기 트랜지스터의 게이트 전극과 동일한 층에 배치되는 어레이 기판.
a first ground electrode to which a ground voltage is applied;
a second ground electrode spaced apart from the first ground electrode;
a common voltage supply line disposed between the first ground electrode and the second ground electrode and to which a common voltage is applied;
inspection lines disposed outside the first ground electrode;
a jumping electrode electrically connecting the first and second ground electrodes;
a first driving voltage line to which a first driving voltage is supplied; and
and a discharge circuit electrically connected between the jumping electrode and the first driving voltage line and discharging the voltage of the jumping electrode to the first driving voltage line;
The discharging circuit includes a discharging element that is a transistor,
and the inspection lines, the common voltage supply line, the first ground electrode, and the second ground electrode are disposed on the same layer as a gate electrode of the transistor.
제 1 항에 있어서,
상기 방전 소자는 상기 제1 구동전압과 상기 그라운드 전압 간의 전압 차가 문턱 전압보다 큰 경우 상기 점핑 전극의 전압을 상기 제1 구동전압 라인으로 방전하는 어레이 기판.
The method of claim 1,
The discharge element is an array substrate for discharging the voltage of the jumping electrode to the first driving voltage line when a voltage difference between the first driving voltage and the ground voltage is greater than a threshold voltage.
제 2 항에 있어서,
상기 트랜지스터의 게이트 전극과 소스 전극이 제1 구동전압이 공급되는 제1 구동전압 라인에 접속되고, 드레인 전극이 상기 점핑 전극에 접속되는 어레이 기판.
3. The method of claim 2,
An array substrate in which a gate electrode and a source electrode of the transistor are connected to a first driving voltage line to which a first driving voltage is supplied, and a drain electrode is connected to the jumping electrode.
제 3 항에 있어서,
상기 방전 회로는,
상기 게이트 전극과 상기 점핑 전극 사이에 접속된 저항을 더 포함하는 어레이 기판.
4. The method of claim 3,
The discharge circuit is
The array substrate further comprising a resistor connected between the gate electrode and the jumping electrode.
삭제delete 제 3 항에 있어서,
상기 제1 구동전압 라인은 상기 트랜지스터의 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극과 동일한 층에 배치되는 어레이 기판.
4. The method of claim 3,
The first driving voltage line is disposed on the same layer as the source electrode and the drain electrode of the transistor.
제 3 항에 있어서,
상기 점핑 전극은 상기 소스 전극 및 드레인 전극 상에 배치되는 투명 전극층에 배치되는 어레이 기판.
4. The method of claim 3,
The jumping electrode is an array substrate disposed on a transparent electrode layer disposed on the source electrode and the drain electrode.
제 1 항에 있어서,
상기 검사 라인들은 일측 가장자리에 배치되는 어레이 기판.
The method of claim 1,
The inspection lines are disposed on one edge of the array substrate.
제 8 항에 있어서,
서로 교차하는 데이터 라인들과 게이트 라인들;
상기 데이터라인들에 연결되는 데이터 패드들;
상기 공통전압 공급라인에 연결되는 공통 패드들; 및
상기 제1 그라운드 전극에 연결되는 그라운드 패드들을 더 구비하고,
상기 데이터 패드들, 상기 공통 패드들, 및 상기 그라운드 패드들은 상기 일측의 반대측 가장자리에 배치되는 어레이 기판.
9. The method of claim 8,
data lines and gate lines crossing each other;
data pads connected to the data lines;
common pads connected to the common voltage supply line; and
Further comprising ground pads connected to the first ground electrode,
The data pads, the common pads, and the ground pads are disposed on the opposite edge of the one side.
제 1 항에 있어서,
상기 검사 라인들은 어떠한 전압도 인가되지 않는 플로팅 라인들인 어레이 기판.
The method of claim 1,
The inspection lines are floating lines to which no voltage is applied.
화소들이 배치된 어레이 기판과 상기 어레이 기판 상에 배치된 상부 기판을 포함하는 표시패널을 구비하고,
상기 어레이 기판은,
그라운드 전압이 인가되는 제1 그라운드 전극;
상기 제1 그라운드 전극과 이격되어 배치되는 제2 그라운드 전극;
상기 제1 그라운드 전극과 상기 제2 그라운드 전극 사이에 배치되어, 공통전압이 인가되는 공통전압 공급 라인;
상기 제1 그라운드 전극보다 바깥쪽에 배치되는 검사 라인들;
상기 제1 및 제2 그라운드 전극들을 전기적으로 연결하는 점핑 전극;
제1 구동전압이 공급되는 제1 구동전압 라인; 및
상기 점핑 전극과 상기 제1 구동전압 라인 사이에 전기적으로 연결되며, 상기 제1 그라운드 전극의 전압을 상기 제1 구동전압 라인으로 방전하는 방전 회로를 포함하고,
상기 방전 회로는 트랜지스터인 방전 소자를 포함하고,
상기 검사 라인들, 상기 공통전압 공급 라인, 상기 제1 그라운드 전극, 및 상기 제2 그라운드 전극은 상기 트랜지스터의 게이트 전극과 동일한 층에 배치되는 액정표시장치.
A display panel comprising: an array substrate on which pixels are disposed; and an upper substrate disposed on the array substrate;
The array substrate is
a first ground electrode to which a ground voltage is applied;
a second ground electrode spaced apart from the first ground electrode;
a common voltage supply line disposed between the first ground electrode and the second ground electrode and to which a common voltage is applied;
inspection lines disposed outside the first ground electrode;
a jumping electrode electrically connecting the first and second ground electrodes;
a first driving voltage line to which a first driving voltage is supplied; and
and a discharge circuit electrically connected between the jumping electrode and the first driving voltage line and discharging the voltage of the first ground electrode to the first driving voltage line;
The discharging circuit includes a discharging element that is a transistor,
The inspection lines, the common voltage supply line, the first ground electrode, and the second ground electrode are disposed on the same layer as the gate electrode of the transistor.
제 11 항에 있어서,
상기 상부 기판의 상면에 배치된 편광판을 더 구비하며,
상기 편광판은 상기 상부 기판의 일 측보다 길게 연장된 연장부를 포함하는 액정표시장치.
12. The method of claim 11,
Further comprising a polarizing plate disposed on the upper surface of the upper substrate,
The polarizing plate includes an extension portion extending longer than one side of the upper substrate.
제 12 항에 있어서,
상기 편광판의 연장부와 상기 표시패널의 측면에 도포되는 접착제를 더 구비하는 액정표시장치.
13. The method of claim 12,
The liquid crystal display device further comprising an adhesive applied to the extended portion of the polarizing plate and a side surface of the display panel.
제 12 항에 있어서,
상기 어레이 기판은 상기 상부 기판의 일 측에 대응되는 상기 어레이 기판의 일 측에 배치된 검사 라인들을 더 포함하는 액정표시장치.
13. The method of claim 12,
The array substrate further includes inspection lines disposed on one side of the array substrate corresponding to one side of the upper substrate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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