KR102350976B1 - Resistance measuring device for conductive fabrics - Google Patents

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Abstract

전도성 소재용 저항측정장치가 개시된다. 본 발명에 따른 전도성 소재용 저항측정장치는, 관통형성된 중공을 기준으로 상면에 유연한 전도성 소재가 놓이는 절연소재의 테이블; 상기 전도성 소재가 평평하게 놓이도록 그 상면을 가압하는 절연소재의 누름판; 상기 테이블의 아래쪽에서 상기 전도성 소재와 이격된 상태로 상기 중공에 결합되어 상기 전도성 소재 상에 와전류를 유도하고, 와전류로부터 소정의 전기적 신호를 생성하는 탐침부; 및 상기 탐침부와 연결되어 생성된 상기 전기적 신호에 기초하여 면저항값을 측정하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 유연한 전도성 소재는 동일한 정위치에서 주름지지 않고 평평하게 펴진 상태에서 면저항값 또는 도전율에 대한 측정이 손상 없이 비접촉방식으로 일관성 있게 이루어질 수 있고, 다양한 종류의 유연한 전도성 소재에 대한 범용적인 사용이 가능하며, 측정치에 대한 오차범위 또한 감소되는 효과가 있다.A resistance measuring device for a conductive material is disclosed. According to the present invention, there is provided a resistance measuring device for a conductive material, comprising: a table made of an insulating material on which a flexible conductive material is placed on an upper surface based on a hollow formed through; a press plate made of an insulating material for pressing the upper surface of the conductive material to be laid flat; a probe unit coupled to the hollow at the bottom of the table to be spaced apart from the conductive material to induce an eddy current on the conductive material and generate a predetermined electrical signal from the eddy current; and a control unit configured to measure a sheet resistance value based on the electrical signal generated by being connected to the probe unit. According to the present invention, the measurement of sheet resistance or conductivity of a flexible conductive material can be consistently made in a non-contact manner without damage in a state in which it is flat and not wrinkled at the same position, and it is a general purpose for various types of flexible conductive materials. It can be used, and the error range for the measurement value is also reduced.

Description

전도성 소재용 저항측정장치{RESISTANCE MEASURING DEVICE FOR CONDUCTIVE FABRICS}RESISTANCE MEASURING DEVICE FOR CONDUCTIVE FABRICS

본 발명은, 전도성 소재용 저항측정장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 경질의 평평한 판형태가 아니라 유연하게 휘어지는 전도성 소재의 저항을 비접촉방식으로 작은 오차범위 내에서 일관성 있게 측정할 수 있는 저항측정장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resistance measuring device for a conductive material, and more particularly, a resistance measurement capable of consistently measuring the resistance of a conductive material that is not in the form of a hard flat plate but is flexible within a small error range in a non-contact method. It's about the device.

면으로 이루어진 도전성 물품의 저항을 측정하는 이유는, 일반적으로 해당 물품의 전기적 특성(전도성, 세기, 감도 등) 즉, 표면에서 전류가 얼마나 흐르는지를 알기 위함이다.The reason for measuring the resistance of a conductive article made of cotton is generally to know the electrical properties (conductivity, strength, sensitivity, etc.) of the article, that is, how much current flows through the surface.

일례를 들면, 모두 도전성 물품인 스마트폰의 터치스크린, ITO(투명전도막), Ag 나노와이어(AgNW), 그래핀(Graphene), 전도성 필름 또는 직물, 반도체 웨이퍼 등은, 그 표면 저항 또는 도전율의 측정을 통해 각각의 전기적 특징인 감도나 품질의 양호도를 판별할 수 있게 된다. For example, the touch screen of a smartphone, which are all conductive articles, ITO (transparent conductive film), Ag nanowire (AgNW), graphene, conductive film or fabric, semiconductor wafer, etc., the surface resistance or conductivity of Through the measurement, it is possible to determine the sensitivity or quality of each electrical characteristic.

위와 같은, 도전성 물품에 대한 저항 등을 측정하기 위한 방법 중 4 탐침법은, 도 7의 (a)에 도시된 바와 같이 스퍼터링 또는 증착법에 의해 박막이 형성된 반도체 웨이퍼 등의 표면 저항을 측정하는 데에 사용되는 방법이다.As described above, among the methods for measuring the resistance to the conductive article, the 4 probe method is used to measure the surface resistance of a semiconductor wafer on which a thin film is formed by sputtering or deposition, as shown in FIG. 7 (a). method used.

4 탐침법은, 기판(10) 상에 형성된 금속막(12)의 표면에 4개의 테스트 프로브(14,15,16,17)를 접촉시킨 후 외측의 테스트 프로브(14,17) 사이에 전류(I)가 흐르는 동안 내측의 테스트 프로브(15,16)에 형성된 전위차(V)를 측정함으로써, 저항성분을 산출하는 방법이다.In the four-probe method, four test probes 14, 15, 16, and 17 are brought into contact with the surface of the metal film 12 formed on the substrate 10, and then a current ( This is a method of calculating the resistance component by measuring the potential difference (V) formed in the inner test probes 15 and 16 while I) flows.

이러한 4 탐침법은 테스트 프로브(14,15,16,17)와 금속막(12) 간의 접촉이 원활히 이루어지지 않는 미세한 진동 환경의 경우, 측정치에 오차가 발생하기 쉽고, 테스트 프로브(14,15,16,17)의 과도한 눌림으로 인해 금속막(12)의 표면이 손상될 수 있으며, 접촉에 따른 테스트 프로브(14,15,16,17)의 마모로 인해 주기적인 교체가 이루어져야 하는 문제가 있다.In this four-probe method, in the case of a fine vibration environment in which contact between the test probes 14 , 15 , 16 , and 17 and the metal film 12 is not made smoothly, errors easily occur in the measurement values, and the test probes 14 , 15 , The surface of the metal film 12 may be damaged due to excessive pressing of the 16 and 17 , and there is a problem in that periodic replacement is required due to wear of the test probes 14 , 15 , 16 and 17 due to contact.

이러한 4 탐침법의 문제를 해소하기 위해, 근래에는 비접촉식으로 도전성 물품의 표면 저항을 측정하는 양측식 와전류법이 제시되고 있다.In order to solve the problem of the four-probe method, a two-sided eddy current method for measuring the surface resistance of a conductive article in a non-contact manner has recently been proposed.

비접촉의 양측식 와전류법은, 도 7의 (b)에 도시된 바와 같이, C형 페라이트 코어(20)에 코일(21)을 권취하고, 고주파 발진회로(22)를 통해 코일(21)에 고주파 전력을 인가함으로써 이루어지는 측정법이다.In the non-contact double-sided eddy current method, as shown in FIG. 7(b), the coil 21 is wound around the C-type ferrite core 20, and the high frequency wave is applied to the coil 21 through the high-frequency oscillation circuit 22. It is a measurement method made by applying power.

구체적으로, 코어(20)의 단부(20a,20b)에 수 mm로 이격된 공간에 반도체 웨이퍼(24)를 삽입한 후 고주파 전력을 인가하면, 반도체 웨이퍼(24)에서 유도된 와전류는 반도체 웨이퍼(24)의 금속막에서 주울 열로 소모되는데, 이때 소모된 주울 열은 파형검출회로(26)를 통해 검지되어 반도체 웨이퍼(24)의 도전율 즉, 저항값으로 산출된다. Specifically, when the semiconductor wafer 24 is inserted into a space spaced apart by several mm at the ends 20a and 20b of the core 20 and high-frequency power is applied, the eddy current induced in the semiconductor wafer 24 is generated by the semiconductor wafer ( 24) is consumed as Joule heat. In this case, the Joule heat consumed is detected through the waveform detection circuit 26 and calculated as the conductivity of the semiconductor wafer 24, that is, the resistance value.

위와 같은 양측식 와전류법은, 피측정물의 표면에 측정장치가 직접 접촉되지 않는 관계상 피측정물의 표면에 대한 손상, 분진 발생, 또는 측정장치의 마모에 의한 정기적인 교환 등의 문제가 발생하지 않는 잇점이 있다.The two-sided eddy current method as described above does not cause problems such as damage to the surface of the target object, generation of dust, or periodic replacement due to wear of the measurement device because the measurement device does not directly contact the surface of the measurement object. There is a point.

그러나 이러한 방법은, C형 페라이트 코어(20) 자체가 넓은 설치공간이 필요함은 물론이고, 이송 로봇 등과 같은 별도의 장치를 구비하여 페라이트 코어(20)의 협소한 이격공간에 반도체 웨이퍼(24)를 정확히 위치시켜야 한다는 점에서 이송 로봇에 대한 설치공간의 확보가 또한 요구되며, 피측정물의 두께에 따라 코어(20)의 간격을 조절하는 작동 구조를 부가하거나 여러 종류의 페라이트 코어(20)를 구비해야 한다는 점에서 적용상에 제약이 있다.However, this method not only requires a large installation space for the C-type ferrite core 20 itself, but also includes a separate device such as a transfer robot to install the semiconductor wafer 24 in a narrow space of the ferrite core 20 . It is also required to secure an installation space for the transfer robot in that it must be accurately positioned, and an operation structure that adjusts the spacing of the cores 20 according to the thickness of the object to be measured must be added or several types of ferrite cores 20 must be provided. There are limitations in its application.

나아가 종래 측정장치는, 반도체 웨이퍼와 같이 휘어지지 않는 경질 소재에 대한 사용에는 적합하지만, 유연한 소재로 제조된 터치스크린, 투명전도막, Ag 나노와이어, 전도성 필름 또는 직물/부직포와 같은 소재에 대한 저항값 또는 도전율을 신뢰성 있게 측정하는 데에는 적합하지 않아 유연한 전도성 소재를 위한 측정장치가 필요한 실정이다.Furthermore, the conventional measuring device is suitable for use on hard materials that do not bend such as semiconductor wafers, but has resistance to materials such as touch screens, transparent conductive films, Ag nanowires, conductive films, or woven/non-woven fabrics made of flexible materials. It is not suitable for reliably measuring the value or conductivity, so a measuring device for a flexible conductive material is required.

본 발명의 목적은, 유연하게 휘어지는 터치스크린, 투명전도막, Ag 나노와이어, 전도성 필름 또는 직물/부직포와 같은 소재의 면저항값 또는 도전율을 비접촉방식으로 작은 오차범위 내에서 일관성 있게 범용적으로 측정하는데에 적합한 전도성 소재용 저항측정장치를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to measure the sheet resistance or conductivity of materials such as flexible touch screens, transparent conductive films, Ag nanowires, conductive films, or woven/non-woven fabrics in a non-contact method consistently within a small error range. To provide a resistance measuring device for conductive materials suitable for

상기 목적은, 관통형성된 중공을 기준으로 상면에 유연한 전도성 소재가 놓이는 절연소재의 테이블; 상기 전도성 소재가 평평하게 놓이도록 그 상면을 가압하는 절연소재의 누름판; 상기 테이블의 아래쪽에서 상기 전도성 소재와 이격된 상태로 상기 중공에 결합되어 상기 전도성 소재 상에 와전류를 유도하고, 와전류로부터 소정의 전기적 신호를 생성하는 탐침부; 및 상기 탐침부와 연결되어 생성된 상기 전기적 신호에 기초하여 면저항값을 측정하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전도성 소재용 저항측정장치에 의해 달성된다.The object is, the table of insulating material on which a flexible conductive material is placed on the upper surface based on the hollow formed through; a press plate made of an insulating material for pressing the upper surface of the conductive material to be laid flat; a probe unit coupled to the hollow at the bottom of the table to be spaced apart from the conductive material to induce an eddy current on the conductive material and generate a predetermined electrical signal from the eddy current; and a control unit for measuring a sheet resistance value based on the electrical signal generated in connection with the probe unit.

상기 전도성 소재용 저항측정장치는, 상기 이격거리의 조절을 위해 상기 테이블과 상기 탐침부 사이에 설치되어 상기 탐침부를 상하방향으로 이동시키는 승강부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The resistance measuring device for a conductive material is installed between the table and the probe unit to adjust the separation distance, and it characterized in that it further comprises a lifting unit for moving the probe unit in a vertical direction.

상기 누름판은, 상기 전도성 소재의 전체를 덮는 크기로 형성되고, 상기 전도성 소재용 저항측정장치는, 상기 테이블과 상기 누름판 사이에 설치되어 상기 누름판을 상하방향으로 이동시키며 상기 전도성 소재를 소정압으로 누르는 가압부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The pressure plate is formed to have a size that covers the entire conductive material, and the resistance measuring device for the conductive material is installed between the table and the pressure plate to move the pressure plate up and down and press the conductive material with a predetermined pressure It is characterized in that it further comprises a pressing part.

상기 가압부는, 상하로 배치되어 동력장치의 회전력에 의해 회전하는 한 쌍의 풀리; 한 쌍의 상기 풀리에 걸치도록 배치되어 상기 풀리의 회전에 따라 일측이 상하로 이동하는 벨트; 및 상기 벨트의 일측에 고정된 상태로 상기 누름판에 결합되어 상기 누름판을 승강시키는 승강블록을 포함할 수 있다.The pressing unit may include: a pair of pulleys disposed vertically and rotated by the rotational force of the power unit; a belt arranged to span the pair of pulleys, one side of which moves up and down according to the rotation of the pulleys; and a lifting block coupled to the pressing plate while being fixed to one side of the belt to elevate the pressing plate.

상기 전도성 소재용 저항측정장치는, 상기 누름판에 구비되어 상기 전도성 소재가 평평하게 펴지도록 흡착하는 부착부를 더 포함하고, 상기 부착부는, 상기 누름판의 내부에 형성되어 진공장치와 연통되는 빈공간; 및 상기 전도성 소재를 누르는 상기 누름판의 일면에서 상기 빈공간과 연통되도록 형성된 다수의 흡기홀을 포함할 수 있다.The resistance measuring device for the conductive material further includes an attachment portion provided on the pressure plate for adsorbing the conductive material to be flattened, and the attachment portion may include: an empty space formed inside the pressure plate and communicating with the vacuum device; and a plurality of intake holes formed to communicate with the empty space on one surface of the pressing plate for pressing the conductive material.

상기 전도성 소재용 저항측정장치는, 상기 흡기홀이 상방 또는 하방을 향해 각각 위치하도록 상기 누름판을 회전시키는 회동부를 더 포함할 수 있다.The resistance measuring device for a conductive material may further include a rotating part for rotating the pressing plate so that the intake hole is positioned upward or downward, respectively.

본 발명에 의하면, 절연소재의 테이블의 중공 위에 놓인 유연한 전도성 소재를 평평하게 가압하는 절연소재의 누름판과, 테이블의 아래쪽에서 전도성 소재와 거리를 두고 중공에 결합되어 전도성 소재 상에 와전류를 유도하며 소정의 전기적 신호를 생성하는 탐침부와, 생성된 전기적 신호에 기초하여 면저항값을 측정하는 제어부로 인해, 유연한 전도성 소재는 동일한 정위치에서 주름지지 않고 평평하게 펴진 상태에서 면저항값 또는 도전율에 대한 측정이 손상 없이 비접촉방식으로 일관성 있게 이루어질 수 있고, 다양한 종류의 유연한 전도성 소재에 대한 범용적인 사용이 가능하며, 측정치에 대한 오차범위 또한 감소되는 효과가 있다.According to the present invention, a press plate of an insulating material that flatly presses a flexible conductive material placed on the hollow of a table made of insulating material, and a distance from the conductive material at the bottom of the table are coupled to the hollow to induce an eddy current on the conductive material, Due to the probe unit that generates the electrical signal of It can be done consistently in a non-contact method without damage, can be used universally for various types of flexible conductive materials, and has the effect of reducing the error range for measurement values.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 전도성 소재용 저항측정장치의 사시도이다.
도 2는 도 1의 주요구성을 분해한 분해사시도이다.
도 3은 도 1의 절단선 A-A에 따른 단면도이다.
도 4는 본 발명의 변형예에 따른 전도성 소재용 저항측정장치의 사시도이다.
도 5는 도 4의 절단선 B-B에 따른 단면도이다.
도 6은 도 1의 누름판의 압력에 대응하여 측정된 전도성 소재의 면저항값 변화추이와 오차범위를 나타낸 그래프이다.
도 7은 종래 도전성 물품에 대한 저항 측정법을 각각 도시한 도면이다.
1 is a perspective view of a resistance measuring device for a conductive material according to an embodiment of the present invention.
2 is an exploded perspective view in which the main configuration of FIG. 1 is disassembled;
FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 1 .
4 is a perspective view of a resistance measuring device for a conductive material according to a modified example of the present invention.
FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line BB of FIG. 4 .
6 is a graph showing the change trend and error range of the sheet resistance value of the conductive material measured in response to the pressure of the pressing plate of FIG. 1 .
7 is a diagram illustrating a method of measuring resistance of a conventional conductive article, respectively.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세하게 설명하면 다음과 같다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서, 이미 공지된 기능 혹은 구성에 대한 설명은, 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, in describing the present invention, descriptions of already known functions or configurations will be omitted in order to clarify the gist of the present invention.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 전도성 소재용 저항측정장치의 사시도이고, 도 2는 도 1의 주요구성을 분해한 분해사시도이고, 도 3은 도 1의 절단선 A-A에 따른 단면도이고, 도 4는 본 발명의 변형예에 따른 전도성 소재용 저항측정장치의 사시도이고, 도 5는 도 4의 절단선 B-B에 따른 단면도이고, 도 6은 도 1의 누름판의 압력에 대응하여 측정된 전도성 소재의 면저항값 변화추이와 오차범위를 나타낸 그래프이고, 도 7은 종래 도전성 물품에 대한 저항 측정법을 각각 도시한 도면이다.1 is a perspective view of a resistance measuring device for a conductive material according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an exploded perspective view in which the main configuration of FIG. 1 is disassembled, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 4 is a perspective view of a resistance measuring device for a conductive material according to a modified example of the present invention, FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the cutting line BB of FIG. 4, and FIG. 6 is a conductive material measured in response to the pressure of the pressure plate of FIG. It is a graph showing the change trend of the sheet resistance value and the error range, and FIG. 7 is a diagram showing a resistance measurement method for a conventional conductive article, respectively.

발명의 설명 및 청구범위 등에서 방향을 지칭하는 상(위쪽), 하(아래쪽), 좌우(옆쪽 또는 측방), 전(정,앞쪽), 후(배,뒤쪽) 등은 권리의 한정의 용도가 아닌 설명의 편의를 위해서 도면 및 구성 간의 상대적 위치를 기준으로 정한 것으로, 특별히 다르게 한정하는 경우 외에는 이에 따른다.Top (top), bottom (bottom), left and right (side or lateral), front (front, front), rear (back, back), etc., which refer to directions in the description and claims of the invention, etc. are not used for limiting rights For convenience of explanation, the relative positions between the drawings and the components are determined as a reference, and are followed unless otherwise specifically limited.

본 발명에 따른 전도성 소재용 저항측정장치(100)는, 동일한 정위치에서 주름지지 않고 평평하게 펴진 상태에서 전도성 소재(CF)의 면저항값 또는 도전율을 손상 없이 비접촉방식으로 일관성 있게 측정함으로써 오차범위를 줄이는 한편, 다양한 종류의 유연한 전도성 소재(CF)에 대하여 범용적으로 사용되도록 하기 위해 안출된 발명이다.The resistance measuring device 100 for a conductive material according to the present invention measures the sheet resistance value or conductivity of the conductive material (CF) in a non-contact manner consistently without damage in a flat, non-wrinkled state at the same position, thereby reducing the error range. On the other hand, it is an invention devised to be universally used for various types of flexible conductive materials (CF).

상술한 바와 같은 기능 내지 작용을 구체적으로 구현하기 위해, 본 발명에 따른 전도성 소재용 저항측정장치(100)는, 도 1 내지 3에 도시된 바와 같이 테이블(110), 누름판(120), 탐침부(130), 제어부(140), 승강부(150) 및 가압부(160) 등을 포함하는 실시예와, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이 실시예의 구성에 회동부(180) 및 부착부(170)를 더 추가한 변형예로 구성될 수 있다.In order to specifically implement the above-described functions or actions, the resistance measuring device 100 for a conductive material according to the present invention is a table 110, a pressing plate 120, and a probe unit as shown in FIGS. 1 to 3 . 130 , the control unit 140 , the lifting unit 150 and the pressing unit 160 , and the rotating unit 180 and the attachment unit in the configuration of the embodiment as shown in FIGS. 4 and 5 . It may be configured as a modified example further adding (170).

이하에서는 상술한 각 구성에 대하여 도면을 참조하여 구체적으로 설명하기로 한다.Hereinafter, each configuration described above will be described in detail with reference to the drawings.

먼저, 테이블(110)은, 유연하게 휘어지는 전도성 소재(CF)를 평평한 면에 펴진 상태로 위치시키기 위해 마련된 구성요소로서, 평평한 상판(112)과, 이를 지지하는 4개의 다리(114)로 구성되되, 상판(112)의 중앙부에는 후술할 탐지부가 상판(112)의 아래쪽에서 삽입고정되도록 중공(113)이 관통형성될 수 있다.First, the table 110 is a component provided to position a flexible conductive material (CF) in an unfolded state on a flat surface, and is composed of a flat top plate 112 and four legs 114 supporting it. , A hollow 113 may be formed through the central portion of the upper plate 112 so that a detection unit, which will be described later, is inserted and fixed from the lower side of the upper plate 112 .

이러한 테이블(110)은, 후술할 탐지부의 전자기적 작용에 테이블(110) 소재 자체가 영향을 미치지 않도록 하기 위해 세라믹, 유리, 고무계 재료, 합성수지 또는 천연수지 등과 같은 절연소재로 제작될 수 있다.The table 110 may be made of an insulating material such as ceramic, glass, rubber-based material, synthetic resin, or natural resin so that the material of the table 110 itself does not affect the electromagnetic action of the detection unit, which will be described later.

여기서 유연하게 휘어지는 전도성 소재(CF)란, 다양한 소재와 제조방법에 의해 제작되어 유연하게 휘어지며 전자가 유동하는 터치스크린, 투명전도막, Ag 나노와이어, 전도성 필름 또는 직물/부직포 등을 지칭한다.Here, the flexible conductive material (CF) refers to a touch screen, a transparent conductive film, Ag nanowire, a conductive film, or a woven/non-woven fabric, which is produced by various materials and manufacturing methods, is flexible, and allows electrons to flow.

다만, 본 발명의 전도성 소재(CF)는, 도 1에 도시된 바와 같이 소정길이의 전도성 섬유를 엮은 ELG사의 CARBISO M 카본 부직포로서, 섬유길이는 40~90mm, 면적당 무게가 100-500 kg/sqm, 섬유중량공차가 ±10%일 수 있다. 물론, 이와 달리 나일론과 스판덱스 등을 혼용한 신축성 직물에 전도성 제형을 코팅하거나 또는 전도성의 금속섬유를 혼용한 원단으로 제작된 유연한 소재일 수도 있다.However, the conductive material (CF) of the present invention is a CARBISO M carbon nonwoven fabric manufactured by ELG in which conductive fibers of a predetermined length are woven as shown in FIG. 1, with a fiber length of 40 to 90 mm and a weight per area of 100-500 kg/sqm , the fiber weight tolerance may be ±10%. Of course, alternatively, it may be a flexible material made of a fabric in which a conductive formulation is coated on an elastic fabric mixed with nylon and spandex or the like or a mixture of conductive metal fibers.

이러한 유연한 전도성 소재(CF)는, 도 1에 도시된 바와 같이 사각형으로 재단된 후 면저항값 또는 도전율과 같은 전기적 특성(불량이나 품질 판단의 기준)의 측정을 위해, 도 3에 도시된 바와 같이 테이블(110)과 후술할 누름판(120) 사이에 평평하게 펴진 상태로 배치될 수 있다.Such a flexible conductive material (CF) is cut into a rectangle as shown in FIG. 1 and then for measurement of electrical properties such as sheet resistance or conductivity (standards for judging defects or quality), a table as shown in FIG. It may be arranged in a flat state between the 110 and the pressing plate 120 to be described later.

누름판(120)은, 유연하게 휘어지는 전도성 소재(CF)가 주름지거나 접히지 않고 평평하게 테이블(110)의 상판(112)에 놓이도록 그 상면을 가압하는 판상의 구성요소로서, 후술할 탐지부의 전자기적 작용에 누름판(120) 소재 자체가 영향을 미치지 않도록 하기 위해 세라믹, 유리, 고무계 재료, 합성수지 또는 천연수지 등과 같은 절연소재를 이용하여 제작할 수 있다.The pressing plate 120 is a plate-shaped component that presses the upper surface of the flexible conductive material (CF) so that it is flatly placed on the upper plate 112 of the table 110 without being wrinkled or folded. In order to prevent the material itself from affecting the operation, it may be manufactured using an insulating material such as ceramic, glass, rubber-based material, synthetic resin, or natural resin.

이때, 누름판(120)은, 피측정물인 유연한 전도성 소재(CF)를 덮을 수 있는 형상으로 제작하면 충분하나, 전도성 소재(CF)에 대응하는 사각형 형상으로 전도성 소재(CF)보다 크게 형성하는 것이 바람직하다.At this time, it is sufficient if the pressure plate 120 is manufactured in a shape that can cover the flexible conductive material (CF), which is the measurement target, but it is preferable to form a rectangular shape corresponding to the conductive material (CF) and be larger than the conductive material (CF). do.

여기서 누름판(120)을 전도성 소재(CF)보다 크게 형성하는 이유는, 테이블(110) 상에 놓여 평평하게 눌려진 전도성 소재(CF)에 대한 외부 전자기장의 영향을 최소화하기 위한 것이다.Here, the reason why the pressure plate 120 is larger than the conductive material CF is to minimize the effect of an external electromagnetic field on the conductive material CF placed on the table 110 and pressed flat.

탐침부(130)는, 유연하게 휘어지는 전도성 소재(CF)에 대한 전기적 특징인 면저항값 또는 도전율에 상응하는 소정의 전기적 신호를 생성하기 위해 테이블(110)의 아래쪽에서 전도성 소재(CF)와 이격(G)된 상태로 중공(113)에 결합되는 구성요소이다.The probe unit 130 is spaced apart from the conductive material (CF) at the bottom of the table 110 to generate a predetermined electrical signal corresponding to the sheet resistance value or conductivity, which is an electrical characteristic of the flexible conductive material (CF). G) is a component coupled to the hollow 113 in a state.

이러한 탐침부(130)는, 구체적으로 전도성 소재(CF) 상에 와전류를 유도하고, 와전류로부터 소정의 전기적 신호를 생성하기 위해, 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이 소정길이를 갖는 중앙의 코어(132)와, 코어(132)를 중심으로 권취되어 후술할 제어부(140)와 연결되는 코일(134)과, 코어(132)와 코일(134)을 내부에 수용하여 보호하는 하우징(136) 등으로 구성될 수 있다.In order to induce an eddy current on the conductive material (CF) and generate a predetermined electrical signal from the eddy current, the probe unit 130 specifically has a central core having a predetermined length as shown in FIGS. 2 and 3 . 132, a coil 134 wound around the core 132 and connected to a control unit 140 to be described later, and a housing 136 for accommodating and protecting the core 132 and the coil 134 therein, etc. can be composed of

이때, 코어(132)는 페라이트 소재로 이루어진 원기둥형상의 구성요소로서, 후술할 코일(134) 중심에 삽입됨으로써, 자속을 코일(134)의 중심축 상에 집중시킬 수 있게 된다.At this time, the core 132 is a cylindrical component made of a ferrite material, and is inserted into the center of the coil 134 to be described later, thereby concentrating the magnetic flux on the central axis of the coil 134 .

이러한 코어(132)는 코일(134)에 의해 생성되는 고주파 자장에 의해 발열손실이 적고, 도전성이 낮으며, 투자율이 높은 페라이트 소재로 제작하되, 코일(134)과 직접적으로 접촉하지 않도록 코어(132)를 얇은 절연판으로 절연하거나 더스트 코어를 사용하여 코일(134)의 효율을 증대할 수 있다.The core 132 is made of a ferrite material having low heat loss, low conductivity, and high magnetic permeability due to the high-frequency magnetic field generated by the coil 134 , but the core 132 is not in direct contact with the coil 134 . ) may be insulated with a thin insulating plate or the efficiency of the coil 134 may be increased by using a dust core.

코일(134)은, 후술할 제어부(140)로부터 고주파의 교류전원을 인가받아(제어부(140)로부터의 입력전원) 교대로 자속이 바뀌는 자기장을 형성함으로써, 이격(G)배치된 피측정물인 전도성 소재(CF)에 와전류를 유도하는 구성요소로서, 도선의 단면직경, 코일(134)의 권취 등은 측정하는 전도성 소재(CF)의 종류 등에 따라 적절히 변경될 수 있다.The coil 134 receives high-frequency AC power from the control unit 140 to be described later (input power from the control unit 140) and forms a magnetic field in which the magnetic flux is alternately changed, so that the conductive object, which is spaced apart (G) As a component for inducing an eddy current in the material CF, the cross-sectional diameter of the conducting wire, the winding of the coil 134, etc. may be appropriately changed according to the type of the conductive material CF to be measured.

여기서 전도성 소재(CF)에 생성된 와전류는, 교류전원의 주파수, 투자율, 코일(134)과 전도성 소재(CF) 간의 이격(G)거리, 탐지부의 크기, 전도성 소재(CF)의 종류, 크기 등의 파라미터에 기초하여 가변되는 전류로서, 코일(134) 자체의 임피던스는 이러한 와전류의 크기에 대응하여 변화(제어부(140)로 제공되는 출력전원의 변화)되는 하나의 인자이므로, 본 발명에서 소정의 전기적 신호로 취급될 수 있다.Here, the eddy current generated in the conductive material (CF) is the frequency of the AC power, the magnetic permeability, the separation (G) distance between the coil 134 and the conductive material (CF), the size of the detection unit, the type and size of the conductive material (CF), etc. As a current variable based on the parameter of It can be treated as an electrical signal.

위와 같이 와전류에 의해 변화된 코일(134)(및 코어(132))의 임피던스는 후술할 제어부(140)에 의해 전도성 소재(CF)의 면저항값 또는 도전율을 도출하는 데에 이용될 수 있는데, 구체적인 설명은 제어부(140)에 관한 설명에서 언급하기로 한다.The impedance of the coil 134 (and the core 132) changed by the eddy current as described above may be used to derive the sheet resistance or conductivity of the conductive material CF by the control unit 140 to be described later, detailed description will be referred to in the description of the control unit 140 .

제어부(140)는, 상술한 탐침부(130) 등과 연결되어 생성된 전기적 신호(코일(134) 자체의 임피던스 등)에 기초하여 전도성 소재(CF)의 전기적 특성인 면저항값을 측정하는 구성요소로서, 도 1에 도시된 바와 같이 테이블(110) 일측에 설치될 수 있다.The control unit 140 is a component that measures a sheet resistance value, which is an electrical characteristic of the conductive material (CF), based on an electrical signal (impedance of the coil 134 itself, etc.) generated in connection with the above-described probe unit 130 and the like. , may be installed on one side of the table 110 as shown in FIG.

이러한 제어부(140)는, 구체적으로 상술한 탐침부(130)는 물론, 후술할 가압부(160) 및 부착부(170) 등과 각각 전기적으로 연결되어 이들의 작동을 제어하고 전송된 신호나 데이터를 처리 및 저장할 수 있는 MCU(micro controller unit), 마이컴(microcomputer), 아두이노(Arduino)와 같은 모듈화된 정보처리유닛, 영상정보를 시각적으로 나타내는 표시장치, 작동 설정을 위한 버튼 등을 포함하여 구성될 수 있다.Specifically, the control unit 140 is electrically connected to the above-described probe unit 130 as well as a pressing unit 160 and an attachment unit 170 to be described later, respectively, to control their operation and transmit transmitted signals or data. It can be configured to include a micro controller unit (MCU) capable of processing and storing, a microcomputer, and a modular information processing unit such as an Arduino, a display device that visually displays image information, and a button for setting operation. can

이때, 정보처리유닛은, 상술한 바와 같은 전기적 신호 즉, 와전류에 의한 코일(134) 자체의 임피던스 변화를 입력받아 내장된 검파회로를 통해 특정한 신호파를 분리하고, 내장된 A/D변환기 등을 통해 신호파를 디지털신호로 변환하여 전도성 소재(CF)의 전기적 특성인 면저항값을 산출 및 저장하도록 구성할 수 있다.At this time, the information processing unit receives the electrical signal as described above, that is, the impedance change of the coil 134 itself due to the eddy current, separates a specific signal wave through the built-in detection circuit, and uses the built-in A/D converter, etc. It can be configured to convert a signal wave into a digital signal to calculate and store the sheet resistance value, which is an electrical characteristic of the conductive material (CF).

위와 같이 연결된 각 장치를 제어하고 송수신된 신호나 데이터 등을 처리하며 면저항값 등을 산출하고, 표시 및 저장하는 제어부(140)의 일련의 처리과정은, 상술한 정보처리유닛을 통해 읽힐 수 있는 C, C++, JAVA, 기계어 등의 프로그래밍 언어로 코딩됨으로써 이루어지게 되는데, 이는 당업자 수준에서 다양한 방식 및 형태로 손쉽게 이루어질 수 있는 것이므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략하기로 한다.A series of processing processes of the control unit 140 that controls each connected device as described above, processes transmitted and received signals or data, calculates, displays, and stores the sheet resistance value, etc. C, which can be read through the above-described information processing unit , C++, JAVA, is made by coding in a programming language such as machine language, which can be easily made in various ways and forms at the level of those skilled in the art, and detailed description thereof will be omitted.

승강부(150)는, 테이블(110)에 놓인 전도성 소재(CF)와 탐지부의 간의 이격(G)거리를 조절하기 위해 마련된 구성요소로서, 테이블(110)과 탐침부(130) 사이에 설치되어 탐침부(130)를 상하방향으로 이동시킬 수 있는 공지의 작동수단으로 구현될 수 있다.The lifting unit 150 is a component provided to adjust the separation (G) distance between the conductive material (CF) placed on the table 110 and the detection unit, and is installed between the table 110 and the probe unit 130 . It may be implemented as a well-known operating means capable of moving the probe unit 130 in the vertical direction.

이때, 공지의 작동수단은, 강한 가압력으로 정확한 직선 제어가 가능한 유압실린더 방식, 모터 등과 연결된 스크류축과 결합되어 직선왕복하는 너트로 구성되는 볼스크류 방식 등과 같이 다양한 방식의 작동수단일 수 있다.In this case, the known operating means may be various types of operating means, such as a hydraulic cylinder method capable of accurate linear control with a strong pressing force, and a ball screw method consisting of a nut coupled with a screw shaft connected to a motor, etc. and reciprocating in a straight line.

다만, 본 발명의 실시예에 따른 승강부(150)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 탐침부(130)의 하우징(136) 상단 외주면을 따라 형성된 수나사(152)와, 이에 대응하여 나사 체결되도록 중공(113)의 내주면을 따라 형성되어 탐침부(130)를 승강시키는 암나사(154)로 구성되어 전도성 소재(CF)와 탐침부(130) 간의 이격(G)거리를 0.1mm 내지 5.0mm 범위로 조절할 수 있다.However, the lifting unit 150 according to the embodiment of the present invention, as shown in FIG. 2, the male screw 152 formed along the upper outer peripheral surface of the housing 136 of the probe unit 130, and screw fastening corresponding thereto It is formed along the inner circumferential surface of the hollow 113 as much as possible and is composed of a female screw 154 that elevates the probe unit 130 so that the distance (G) between the conductive material (CF) and the probe unit 130 is in the range of 0.1 mm to 5.0 mm. can be adjusted with

이러한 간명한 구조의 승강부(150)로 인해 탐침부(130)에 대한 승강작동은, 전도성 소재(CF)의 특성에 대응하여 특별한 동력장치 없이도 신속하고 용이하게 이루어질 수 있게 된다.Due to the lifting unit 150 having such a simple structure, the lifting operation of the probe unit 130 can be performed quickly and easily without a special power device in response to the characteristics of the conductive material (CF).

가압부(160)는, 누름판(120)을 상하방향으로 이동시키며 전도성 소재(CF)를 소정압으로 누르기 위해 마련된 구성요소로서, 테이블(110)과 누름판(120) 사이에 설치되어 누름판(120)을 상하로 승강시킬 수 있는 공지의 작동수단이라면 어떠한 것이라도 무방하다.The pressing unit 160 is a component provided to move the pressing plate 120 in the vertical direction and pressing the conductive material (CF) with a predetermined pressure, and is installed between the table 110 and the pressing plate 120 and the pressing plate 120 . Any known operating means capable of elevating up and down may be used.

즉, 가압부(160) 또한, 강한 가압력으로 정확한 직선 제어가 가능한 유압실린더 방식, 모터 등과 연결된 스크류축과 결합되어 직선왕복하는 너트로 구성되는 볼스크류 방식 등과 같이 다양한 방식의 작동수단일 수 있다.That is, the pressing unit 160 may also be an operating means of various methods, such as a hydraulic cylinder method capable of accurate linear control with a strong pressing force, a ball screw method consisting of a nut that reciprocates in a straight line coupled to a screw shaft connected to a motor, and the like.

다만, 본 발명의 실시예에 따른 가압부(160)는, 기계적 작동에 따른 마찰, 소음, 분진발생 등을 최소화하고 정확한 이동에 의한 가압력의 구현을 위해, 도 3에 도시된 바와 같이, 동력장치(미도시)와 연계된 풀리(162), 벨트(164) 및 승강블록(166) 등을 포함하여 구성된다.However, the pressing unit 160 according to the embodiment of the present invention minimizes friction, noise, dust generation, etc. according to mechanical operation and implements a pressing force by accurate movement, as shown in FIG. 3 , a power device (not shown) is configured to include a pulley 162, a belt 164 and a lifting block 166 associated with it.

풀리(162)는, 한 쌍이 상하로 배치되어 동력장치의 회전력에 의해 회전하는 구성요소로서, 상하로 길게 환형으로 배치고정된 후술할 벨트(164)에 치합되거나 또는 견고하게 밀착되어 벨트(164)의 상하 이동을 안내하는 구성요소로서, 함체를 이루는 케이스의 상,하단에 각각 회전가능하게 내설될 수 있다.A pair of pulleys 162 is a component that is arranged vertically and rotates by the rotational force of the power unit, and is meshed with or firmly in close contact with a belt 164 to be described later that is vertically arranged and fixed in an annular shape. As a component for guiding the vertical movement of the housing, it may be rotatably installed at the upper and lower ends of the case constituting the housing.

이때, 한 쌍의 풀리(162) 중 어느 하나는 제어부(140)에 의해 작동제어되는 동력장치인 제어모터 등과 결합되어 벨트(164)에 회전구동력을 전달하게 된다.At this time, any one of the pair of pulleys 162 is coupled to a control motor, which is a power device operated and controlled by the controller 140 , to transmit a rotational driving force to the belt 164 .

벨트(164)는, 한 쌍의 풀리(162)에 걸치도록 배치되어 풀리(162)의 회전에 따라 일측이 상하로 이동하는 구성요소로서, 상술한 바와 같이 한 쌍의 풀리(162) 외주면과 치합되거나 또는 견고하게 밀착되어 환형을 이루게 된다.The belt 164 is a component that is disposed to span a pair of pulleys 162 and one side moves up and down according to the rotation of the pulley 162, and meshes with the outer peripheral surface of the pair of pulleys 162 as described above. or tightly adhered to form an annular shape.

승강블록(166)은, 벨트(164)와 누름판(120) 사이에 구비되어 누름판(120)을 승강시키는 구성요소로서, 벨트(164)의 일측에 고정된 상태로 누름판(120)을 향해 돌출형성되어 누름판(120)과 일체화되는 결합을 이루게 된다.The lifting block 166 is provided between the belt 164 and the pressing plate 120 to elevate the pressing plate 120 , and is fixed to one side of the belt 164 and protrudes toward the pressing plate 120 . to form an integrated coupling with the pressing plate 120 .

상술한 바와 같이 제어부(140)의 작동제어에 따라 정역 회전하는 동력장치에 의해 어느 하나의 풀리(162)가 회전하며 벨트(164)의 상방 이동을 안내하게 되면, 승강블록(166)과 누름판(120)은 테이블(110)로부터 상승하게 되므로, 전도성 소재(CF)에 대한 측정준비나 교체가 손쉽게 이루어지게 된다. As described above, when any one of the pulleys 162 rotates by the power device rotating forward and reverse according to the operation control of the controller 140 and guides the upward movement of the belt 164, the lifting block 166 and the pressing plate ( Since the 120 rises from the table 110, preparation for measurement or replacement of the conductive material CF is easily performed.

반대로, 어느 하나의 풀리(162)가 회전하며 벨트(164)의 하방 이동을 안내하게 되면, 승강블록(166)과 누름판(120)은 테이블(110)을 향해 하강하며 측정준비 또는 교체된 전도성 소재(CF)를 소정의 압력으로 가압할 수 있게 된다.Conversely, when any one of the pulleys 162 rotates and guides the downward movement of the belt 164, the lifting block 166 and the pressing plate 120 descend toward the table 110, and the conductive material prepared for measurement or replaced. (CF) can be pressurized to a predetermined pressure.

이에 따라 다양한 종류의 유연한 전도성 소재(CF)에 대응한 범용적인 저항측정이 가능해짐은 물론이고, 주름지지 않고 평평하게 펴진 상태에서 유연한 전도성 소재(CF)에 대한 비접촉방식의 면저항 측정이 정확하고 일관성 있게 이루어질 수 있게 된다.As a result, not only is it possible to measure general resistance in response to various types of flexible conductive materials (CF), but also non-contact sheet resistance measurement of flexible conductive materials (CF) is accurate and consistent in a flat, non-wrinkled state. can be made possible.

나아가 본 발명의 실시예에 따른 저항측정장치를 이용하여 상술한 ELG사의 CARBISO M 카본 부직포에 대한 면저항을 수십 회 측정한 시험 결과는, 도 6에 도시된 바와 같다.Furthermore, the test result of measuring the sheet resistance of the CARBISO M carbon nonwoven fabric of ELG company mentioned above using the resistance measuring device according to an embodiment of the present invention several tens of times is shown in FIG. 6 .

도 6을 참조하면, 우선, 소정의 압력범위(0.0 KPa 내지 1.0 KPa)에서는 누름판(120)의 가압력이 증가할수록 면저항 측정치에 대한 오차범위가 유의미한 수준으로 감소(상하 파란 막대의 간격)되는 것을 확인할 수 있다.Referring to FIG. 6, first, in a predetermined pressure range (0.0 KPa to 1.0 KPa), as the pressing force of the pressing plate 120 increases, the error range for the sheet resistance measurement value decreases to a significant level (the interval between the upper and lower blue bars). can

그리고 본 발명의 실시예에 따른 누름판(120)의 가압력을 0.5 KPa 내지 1.0 KPa의 범위로 유지하며 전도성 소재(CF)의 면저항을 측정할 경우, 종래 측정법인 IEC 62899에 비해 상대표준편차가 준수하게 낮은(6.5) 것을 확인할 수 있다. And when the sheet resistance of the conductive material (CF) is measured while maintaining the pressing force of the pressing plate 120 according to the embodiment of the present invention in the range of 0.5 KPa to 1.0 KPa, the relative standard deviation is observed compared to the conventional measurement method IEC 62899. It can be seen that it is low (6.5).

위와 같은 시험 결과는, 본 발명의 실시예에 따른 저항측정장치(100)를 이용할 경우, 유연한 전도성 소재(CF)의 면저항 측정치에 대한 정확도와 신뢰도가 종래 측정법에 비해 향상되었음을 보여준다.The above test results show that, when the resistance measuring apparatus 100 according to the embodiment of the present invention is used, the accuracy and reliability of the sheet resistance measurement of the flexible conductive material (CF) is improved compared to the conventional measurement method.

한편, 본 발명의 변형예에 따른 전도성 소재용 저항측정장치(100)는, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 상술한 실시예의 구성에 부착부(170) 및 회동부(180)를 더 포함하여 이루어질 수 있다.On the other hand, the resistance measuring apparatus 100 for a conductive material according to a modified example of the present invention, as shown in Figs. 4 and 5, the attachment part 170 and the rotating part 180 in the configuration of the above-described embodiment more can be included.

여기서 부착부(170)는, 누름판(120)에 구비되어 누름판(120)과 함께 전도성 소재(CF)가 더욱 평평하게 펴지며 흡착되도록 하기 위해 마련된 구성요소로서, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 진공장치(174)와 연통된 빈공간(172) 및 다수의 흡기홀(175)을 포함하여 구성될 수 있다.Here, the attachment part 170 is a component provided on the pressing plate 120 so that the conductive material CF is more flatly spread and adsorbed together with the pressing plate 120 , as shown in FIGS. 4 and 5 . Likewise, it may be configured to include an empty space 172 communicating with the vacuum device 174 and a plurality of intake holes 175 .

빈공간(172)은 누름판(120)의 내부에 형성되어 진공장치(174)와 연통되는 구성요소이고, 다수의 흡기홀(175)은 전도성 소재(CF)를 누르는 누름판(120)의 일면에서 빈공간(172)과 연통되도록 형성된 구성요소이다.The empty space 172 is a component that is formed inside the pressure plate 120 and communicates with the vacuum device 174, and the plurality of intake holes 175 are empty on one surface of the pressure plate 120 that presses the conductive material CF. It is a component formed to communicate with the space (172).

이때, 진공장치(174)는 상술한 제어부(140)와 튜브(175)를 통해 연결된 상태에서 제어부(140)에 의한 작동제어에 따라 빈공간(172)을 음압상태로 만들고, 빈공간(172)과 연통된 다수의 흡기홀(175)을 통한 공기의 흡인을 유도하게 된다.At this time, the vacuum device 174 makes the empty space 172 into a negative pressure state according to the operation control by the controller 140 in a state connected through the above-described controller 140 and the tube 175, and the empty space 172 It induces the suction of air through the plurality of intake holes 175 in communication with the.

이로 인해 유연한 전도성 소재(CF)는 누름판(120)에 의한 가압과 함께 더욱 주름지지 않고 평평하게 펴진 상태를 유지하며 면저항값 또는 도전율에 대한 측정이 비접촉방식으로 이루어지게 되므로, 일관성 있고 신뢰성과 정확성이 담보된 측정치가 도출될 수 있게 된다.Due to this, the flexible conductive material (CF) does not become more wrinkled with pressure by the pressing plate 120 and maintains a flat state, and the sheet resistance or conductivity is measured in a non-contact method, resulting in consistent, reliable and accurate Collateralized measurements can be derived.

회동부(180)는, 상술한 흡기홀(175)이 상방 또는 하방을 향해 각각 위치하도록 누름판(120)을 회전시키는 구성요소로서, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 승강블록(166)에 형성된 축공(184)과, 누름판(120)에서 승강블록(166)쪽으로 돌출형성되어 축공(184)에 회전가능하게 결합되는 회전축(182)으로 구성될 수 있다. The rotating unit 180 is a component that rotates the pressing plate 120 so that the above-described intake hole 175 is positioned upward or downward, respectively, and as shown in FIGS. 4 and 5 , the lifting block 166 . It may be composed of a shaft hole 184 formed in, and a rotation shaft 182 that is formed to protrude from the pressure plate 120 toward the lifting block 166 and is rotatably coupled to the shaft hole 184 .

이러한 회동부(180)로 인해, 흡기홀(175)이 상방을 향하도록 누름판(120)을 회전시킬 수 있게 되고, 이때, 진공장치(174)를 가동하게 되면 전도성 소재(CF)를 정위치에 정확하게 안착시킬 수 있게 된다.Due to this rotating part 180, it is possible to rotate the pressure plate 120 so that the intake hole 175 faces upward, and at this time, when the vacuum device 174 is operated, the conductive material CF is moved to the correct position. can be seated accurately.

그리고 흡기홀(175)이 하방을 향하도록 누름판(120)을 회전시키고, 가압부(160)에 의한 누름판(120)의 하방 이동을 통해 소정압으로 전도성 소재(CF)를 가압한 후, 탐침부(130)에 의한 면저항 측정작동을 연이어 수행하는 일련의 측정과정이 이루어질 수 있게 된다.Then, the pressure plate 120 is rotated so that the intake hole 175 faces downward, and the conductive material CF is pressed to a predetermined pressure through the downward movement of the pressure plate 120 by the pressing unit 160, and then the probe unit A series of measurement processes of successively performing the sheet resistance measurement operation by 130 can be made.

앞에서, 본 발명의 특정한 실시예가 설명되고 도시되었지만 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 일이다. 따라서, 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 기술적 사상이나 관점으로부터 개별적으로 이해되어서는 안 되며, 변형된 실시예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.In the foregoing, specific embodiments of the present invention have been described and illustrated, but it is common knowledge in the art that the present invention is not limited to the described embodiments, and that various modifications and variations can be made without departing from the spirit and scope of the present invention. It is self-evident to those who have Accordingly, such modifications or variations should not be individually understood from the spirit or point of view of the present invention, and modified embodiments should be said to belong to the claims of the present invention.

100: 전도성 소재용 저항측정장치
CF: 전도성 소재 110: 테이블
112: 상판 113: 중공
114: 다리 G: 이격
120: 누름판 130: 탐침부
132: 코어 134: 코일
136: 하우징 140: 제어부
150: 승강부 152: 수나사
154: 암나사 160: 가압부
162: 풀리 164: 벨트
166: 승강블록 170: 부착부
172: 빈공간 174: 진공장치
175: 튜브 176: 흡기홀
180: 회동부 182: 회전축
184: 축공
100: resistance measuring device for conductive materials
CF: conductive material 110: table
112: top plate 113: hollow
114: leg G: separation
120: pressure plate 130: probe unit
132: core 134: coil
136: housing 140: control unit
150: lifting unit 152: male thread
154: female thread 160: pressing part
162: pulley 164: belt
166: elevating block 170: attachment part
172: empty space 174: vacuum device
175: tube 176: intake hole
180: rotating part 182: rotating shaft
184: shaft

Claims (6)

관통형성된 중공을 기준으로 상면에 유연한 전도성 소재가 놓이는 절연소재의 테이블; 상기 전도성 소재가 평평하게 놓이도록 그 상면을 가압하는 절연소재의 누름판; 상기 테이블의 아래쪽에서 상기 전도성 소재와 이격된 상태로 상기 중공에 결합되어 상기 전도성 소재 상에 와전류를 유도하고, 와전류로부터 소정의 전기적 신호를 생성하는 탐침부; 및 상기 탐침부와 연결되어 생성된 상기 전기적 신호에 기초하여 면저항값을 측정하는 제어부를 포함하고,
상기 누름판은,
상기 전도성 소재의 전체를 덮는 크기로 형성되고,
상기 테이블과 상기 누름판 사이에 설치되어 상기 누름판을 상하방향으로 이동시키며 상기 전도성 소재를 소정압으로 누르는 가압부를 더 포함하되,
상기 가압부는,
상하로 배치되어 동력장치의 회전력에 의해 회전하는 한 쌍의 풀리;
한 쌍의 상기 풀리에 걸치도록 배치되어 상기 풀리의 회전에 따라 일측이 상하로 이동하는 벨트; 및
상기 벨트의 일측에 고정된 상태로 상기 누름판에 결합되어 상기 누름판을 승강시키는 승강블록을 포함하는 것을 특징으로 하는 전도성 소재용 저항측정장치.
A table made of an insulating material on which a flexible conductive material is placed on the upper surface based on the hollow formed through it; a press plate made of an insulating material for pressing the upper surface of the conductive material to be laid flat; a probe unit coupled to the hollow at the bottom of the table to be spaced apart from the conductive material to induce an eddy current on the conductive material and generate a predetermined electrical signal from the eddy current; and a control unit for measuring a sheet resistance value based on the electrical signal generated by being connected to the probe unit,
The press plate is
It is formed in a size that covers the whole of the conductive material,
Further comprising a pressing part installed between the table and the pressing plate to move the pressing plate in the vertical direction and pressing the conductive material with a predetermined pressure,
The pressurizing part,
a pair of pulleys disposed vertically and rotated by the rotational force of the power unit;
a belt arranged to span the pair of pulleys, one side of which moves up and down according to the rotation of the pulleys; and
Resistance measuring device for a conductive material, characterized in that it comprises a lifting block coupled to the press plate in a state of being fixed to one side of the belt to elevate the press plate.
제1항에 있어서,
상기 전도성 소재용 저항측정장치는,
상기 이격거리의 조절을 위해 상기 테이블과 상기 탐침부 사이에 설치되어 상기 탐침부를 상하방향으로 이동시키는 승강부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전도성 소재용 저항측정장치.
According to claim 1,
The resistance measuring device for the conductive material,
Resistance measuring device for a conductive material, characterized in that it further comprises a lifting unit installed between the table and the probe unit to adjust the separation distance to move the probe unit in the vertical direction.
삭제delete 삭제delete 관통형성된 중공을 기준으로 상면에 유연한 전도성 소재가 놓이는 절연소재의 테이블; 상기 전도성 소재가 평평하게 놓이도록 그 상면을 가압하는 절연소재의 누름판; 상기 테이블의 아래쪽에서 상기 전도성 소재와 이격된 상태로 상기 중공에 결합되어 상기 전도성 소재 상에 와전류를 유도하고, 와전류로부터 소정의 전기적 신호를 생성하는 탐침부; 및 상기 탐침부와 연결되어 생성된 상기 전기적 신호에 기초하여 면저항값을 측정하는 제어부를 포함하고,
상기 누름판에 구비되어 상기 전도성 소재가 평평하게 펴지도록 흡착하는 부착부를 더 포함하고,
상기 부착부는,
상기 누름판의 내부에 형성되어 진공장치와 연통되는 빈공간; 및 상기 전도성 소재를 누르는 상기 누름판의 일면에서 상기 빈공간과 연통되도록 형성된 다수의 흡기홀을 포함하는 것을 특징으로 하는 전도성 소재용 저항측정장치.
A table made of an insulating material on which a flexible conductive material is placed on the upper surface based on the hollow formed through it; a press plate made of an insulating material for pressing the upper surface of the conductive material to be laid flat; a probe unit coupled to the hollow at the bottom of the table to be spaced apart from the conductive material to induce an eddy current on the conductive material and generate a predetermined electrical signal from the eddy current; and a control unit for measuring a sheet resistance value based on the electrical signal generated by being connected to the probe unit,
It is provided on the pressing plate and further includes an attachment part for adsorbing the conductive material to be flattened,
The attachment part,
an empty space formed inside the pressing plate and communicating with the vacuum device; and a plurality of intake holes formed to communicate with the empty space on one surface of the pressing plate for pressing the conductive material.
제5항에 있어서,
상기 전도성 소재용 저항측정장치는,
상기 흡기홀이 상방 또는 하방을 향해 각각 위치하도록 상기 누름판을 회전시키는 회동부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전도성 소재용 저항측정장치.
6. The method of claim 5,
The resistance measuring device for the conductive material,
Resistance measuring device for a conductive material, characterized in that it further comprises a rotating part for rotating the press plate so that the intake hole is positioned upward or downward, respectively.
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