KR102335625B1 - Micro lighting emitting apparatus and method for manufacturing the same - Google Patents

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KR102335625B1 KR1020200087604A KR20200087604A KR102335625B1 KR 102335625 B1 KR102335625 B1 KR 102335625B1 KR 1020200087604 A KR1020200087604 A KR 1020200087604A KR 20200087604 A KR20200087604 A KR 20200087604A KR 102335625 B1 KR102335625 B1 KR 102335625B1
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곽준섭
김태경
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순천대학교 산학협력단
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Abstract

The present invention relates to a micro light emitting device and a method for manufacturing a micro light emitting device, and more specifically, to a high quality micro light emitting device with improved bonding characteristics and a method for manufacturing a micro light emitting device. A micro light emitting device according to an embodiment of the present invention comprises: a circuit unit (100) having a switching element selectively transmitting an electric signal, and a first electrode unit electrically connected to the switching element; a light emitting unit having a semiconductor laminate structure including an n-type semiconductor layer, an active layer, and a p-type semiconductor layer, and a second electrode unit electrically connected to the semiconductor laminate structure; a conductive bonding layer provided between the first electrode unit and the second electrode unit; and a plurality of nanorods provided on any one electrode unit of the first electrode unit or the second electrode unit and inserted at least partially into the conductive bonding layer.

Description

마이크로 발광장치 및 마이크로 발광장치 제조방법{Micro lighting emitting apparatus and method for manufacturing the same}Micro lighting emitting apparatus and method for manufacturing the same

본 발명은 마이크로 발광장치 및 마이크로 발광장치 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 접합 특성이 향상된 고품질의 마이크로 발광장치 및 마이크로 발광장치 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a micro light emitting device and a method for manufacturing a micro light emitting device, and more particularly, to a high quality micro light emitting device with improved bonding characteristics and a method for manufacturing a micro light emitting device.

마이크로 발광장치는 2차원적으로 배열된 복수의 발광 픽셀로 이루어지며, 배열된 발광 픽셀은 전기적인 제어를 통해 선택적으로 개별 점멸될 수 있다. 마이크로 발광장치는 각각의 발광 픽셀이 개별적으로 스위칭소자에 의해 구동되는 방식으로, 기판 상에 매트릭스 패턴으로 형성된 각각의 발광 픽셀에 공급되는 전압을 스위칭하는 스위칭소자를 구비하고, 스위칭소자에 전기 신호를 공급하는 구동 회로를 포함하는 회로부를 포함한다. 여기서, 스위칭소자는 예를 들어, CMOS(Complementary metal-oxide semiconductor) 또는 박막 트랜지스터(TFT, Thin film transistor)로 형성될 수 있다.The micro light emitting device includes a plurality of two-dimensionally arranged light emitting pixels, and the arranged light emitting pixels can be individually flickered selectively through electrical control. The micro light emitting device is provided with a switching device for switching the voltage supplied to each light emitting pixel formed in a matrix pattern on a substrate in such a way that each light emitting pixel is individually driven by a switching device, and applies an electrical signal to the switching device It includes a circuit unit including a driving circuit for supplying it. Here, the switching device may be formed of, for example, a complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) or a thin film transistor (TFT).

이러한 마이크로 발광장치를 제조하는 방법으로 사용되는 플립칩 본딩은 기판을 뒤집어 회로부에 접속함으로써 기판의 전면적에 스위칭소자를 배열할 수 있어 마이크로 발광장치에 적용하기 용이하며, 전기적인 접속 길이가 짧아 전기적, 기계적 특성이 우수한 장점을 가지고 있다.Flip-chip bonding used as a method of manufacturing such a micro light emitting device is easy to apply to a micro light emitting device because it can arrange switching elements over the entire area of the board by turning the board over and connecting to the circuit part. It has excellent mechanical properties.

그러나 플립칩 본딩에 있어 문제시되는 것은 기판의 휘어짐(warpage)로 인한 수율의 저하이다. 가벼운 무게, 낮은 유전 상수 등의 장점를 나타내는 유기 기판의 경우 열팽창 계수가 상대적으로 높고 상온에서의 초기 상태에서도 오목하거나 볼록한 모양으로 수직 방향으로 수 내지 수십 μm가량의 간극이 발생하며, 전극부 사이가 전기적으로 접속되지 못하고 접속 불량에 의한 마이크로 발광장치의 신뢰성 및 품질이 저하될 수 있다.However, a problem in flip chip bonding is a decrease in yield due to warpage of the substrate. In the case of organic substrates that exhibit advantages such as light weight and low dielectric constant, the coefficient of thermal expansion is relatively high, and even in the initial state at room temperature, a gap of several to tens of μm occurs in the vertical direction in a concave or convex shape, and there is an electrical gap between the electrodes. is not connected, and the reliability and quality of the micro light emitting device may be deteriorated due to poor connection.

이에, 마이크로 발광장치를 제조하기 위한 플립칩 본딩 시 가압 또는 가열에 의해 기판이 기울어지거나, 마이크로 발광장치의 고유의 휨 특성으로 인해 각 기판의 전극부 사이에 간극이 발생하는 경우에도 전기적 접속을 유지할 수 있는 마이크로 발광장치 및 마이크로 발광장치 제조방법이 필요하다.Accordingly, electrical connection is maintained even when the substrate is tilted by pressure or heating during flip-chip bonding for manufacturing a micro light emitting device, or when a gap occurs between the electrodes of each substrate due to the inherent bending characteristics of the micro light emitting device. There is a need for a micro light emitting device and a method for manufacturing the micro light emitting device.

한국공개특허공보 제10-2016-0080264호Korean Patent Publication No. 10-2016-0080264

본 발명은 접합 특성이 향상된 고품질의 마이크로 발광장치 및 마이크로 발광장치 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a high-quality micro light emitting device with improved bonding characteristics and a method for manufacturing the micro light emitting device.

본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치는 선택적으로 전기신호를 전달하는 스위칭소자와, 상기 스위칭소자와 전기적으로 연결되는 제1 전극부를 구비하는 회로부; n형 반도체층, 활성층, p형 반도체층을 포함하는 반도체 적층구조물과, 상기 반도체 적층구조물과 전기적으로 연결되는 제2 전극부를 구비하는 발광부; 상기 제1 전극부와 상기 제2 전극부의 사이에 제공되는 도전성 접합층; 및 상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중 어느 하나의 전극부 상에 제공되어, 상기 도전성 접합층에 적어도 부분적으로 삽입되는 복수의 나노로드;를 포함할 수 있다.A micro light emitting device according to an embodiment of the present invention includes: a circuit unit including a switching element for selectively transmitting an electric signal, and a first electrode unit electrically connected to the switching element; a light emitting unit having a semiconductor laminate structure including an n-type semiconductor layer, an active layer, and a p-type semiconductor layer, and a second electrode unit electrically connected to the semiconductor laminate; a conductive bonding layer provided between the first electrode part and the second electrode part; and a plurality of nanorods provided on one of the first electrode part and the second electrode part and inserted at least partially into the conductive bonding layer.

상기 복수의 나노로드 각각의 강도는 상기 도전성 접합층의 강도보다 같거나 클 수 있다.The strength of each of the plurality of nanorods may be equal to or greater than the strength of the conductive bonding layer.

상기 복수의 나노로드 각각은, 직경보다 길이가 더 긴 막대형상일 수 있다.Each of the plurality of nanorods may have a rod shape having a length greater than a diameter.

단위평면적 당 상기 복수의 나노로드의 유효 평면적 밀도는 0%보다는 크고 80% 이하일 수 있다.The effective planar density of the plurality of nanorods per unit area may be greater than 0% and less than or equal to 80%.

상기 복수의 나노로드는 금속물질 또는 도전성 산화물로 이루어질 수 있다.The plurality of nanorods may be made of a metal material or a conductive oxide.

상기 복수의 나노로드 각각은, 나노로드의 몸체를 제공하는 나노로드 몸체부 및 상기 나노로드 몸체부의 표면을 도포하는 금속 코팅층을 포함할 수 있다.Each of the plurality of nanorods may include a nanorod body providing a body of the nanorod and a metal coating layer coating a surface of the nanorod body.

상기 복수의 나노로드가 제공되는 상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중 어느 하나의 전극부 상에 형성되어, 상기 복수의 나노로드의 핵생성 위치를 제공하는 시드층을 더 포함할 수 있다.It may further include a seed layer formed on any one electrode part of the first electrode part or the second electrode part provided with the plurality of nanorods to provide a nucleation location of the plurality of nanorods. .

상기 복수의 나노로드가 제공되는 상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중 어느 하나의 전극부 상에 제공되어, 상기 복수의 나노로드의 형성면을 정의하는 커버층을 더 포함할 수 있다.A cover layer provided on any one of the first electrode part and the second electrode part on which the plurality of nanorods are provided, and defining a formation surface of the plurality of nanorods may be further included.

상기 도전성 접합층은 땜납물질 또는 액체금속으로 이루어질 수 있다.The conductive bonding layer may be made of a solder material or a liquid metal.

상기 발광부는 상기 반도체 적층구조물에 적층면을 제공하는 기판을 더 구비할 수 있다.The light emitting unit may further include a substrate providing a laminated surface to the semiconductor laminated structure.

상기 스위칭소자는 이차원적으로 배열되도록 복수개 제공되고, 상기 반도체 적층구조물은 복수개의 상기 스위칭소자에 대응하도록, 이차원적으로 배열되도록 복수개 제공되어 마이크로 엘이디 어레이를 이루며, 복수개의 상기 반도체 적층구조물 각각은, 대응하는 스위칭소자에 의해 개별적으로 점멸될 수 있는 마이크로 엘이디 어레이의 단위 발광셀일 수 있다.A plurality of the switching elements are provided to be two-dimensionally arranged, and a plurality of the semiconductor laminate structures are provided to correspond to the plurality of switching elements and are two-dimensionally arranged to form a micro LED array, each of the plurality of the semiconductor laminate structures, It may be a unit light emitting cell of a micro LED array that can be individually flickered by a corresponding switching element.

본 발명의 다른 실시예에 따른 마이크로 발광장치 제조방법은, 선택적으로 전기신호를 전달하는 스위칭소자와, 상기 스위칭소자와 전기적으로 연결되는 제1 전극부를 구비하는 회로부를 준비하는 과정; n형 반도체층, 활성층, P형 반도체층을 포함하는 반도체 적층구조물과, 상기 반도체 적층구조물과 전기적으로 연결되는 제2 전극부를 구비하는 발광부를 준비하는 과정; 상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중에 선택된 어느 하나의 전극부 상에 도전성 접합층을 형성하는 과정; 상기 제1 전극부와 상기 제2 전극부 중에 선택되지 않은 나머지 하나의 전극부 상에 복수의 나노로드를 형성하는 과정; 상기 제1 전극부와 상기 제2 전극부가 서로 대향하도록 상기 회로부와 상기 발광부를 정렬시키는 과정; 및 상기 회로부와 상기 발광부 사이의 간격을 좁혀, 상기 복수의 나노로드를 적어도 부분적으로 상기 도전성 접합층에 삽입시키면서 상기 제1 전극부와 상기 제2 전극부를 접합시키는 과정;을 포함할 수 있다.A method of manufacturing a micro light emitting device according to another embodiment of the present invention comprises the steps of: preparing a circuit unit including a switching element selectively transmitting an electric signal, and a first electrode unit electrically connected to the switching element; preparing a light emitting part having a semiconductor stacked structure including an n-type semiconductor layer, an active layer, and a P-type semiconductor layer, and a second electrode part electrically connected to the semiconductor stacked structure; forming a conductive bonding layer on any one of the first electrode part and the second electrode part; forming a plurality of nanorods on the other electrode part that is not selected among the first electrode part and the second electrode part; aligning the circuit part and the light emitting part so that the first electrode part and the second electrode part face each other; and narrowing the gap between the circuit part and the light emitting part, and bonding the first electrode part and the second electrode part while at least partially inserting the plurality of nanorods into the conductive bonding layer.

상기 복수의 나노로드를 형성하는 과정은, 상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중 선택되지 않은 나머지 하나의 전극부 상에 복수의 나노로드의 핵생성 위치를 제공하는 시드층을 형성하는 과정; 및 상기 시드층 상에 복수의 나노로드를 성장시키는 과정;을 포함할 수 있다.The process of forming the plurality of nanorods is a process of forming a seed layer providing nucleation positions of the plurality of nanorods on the remaining one electrode part that is not selected among the first electrode part or the second electrode part. ; and growing a plurality of nanorods on the seed layer.

상기 복수의 나노로드를 형성하는 과정은, 상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중 선택되지 않은 나머지 하나의 전극부 상에 부분적으로 제공되어, 복수의 나노로드의 형성면을 정의하는 커버층을 형성하는 과정; 및 상기 형성면에 복수의 나노로드를 성장시키는 과정;을 포함할 수 있다.In the process of forming the plurality of nanorods, a cover layer is partially provided on the remaining one electrode portion that is not selected among the first electrode portion or the second electrode portion, and defines a surface on which the plurality of nanorods are formed. process of forming; and growing a plurality of nanorods on the formation surface.

상기 복수의 나노로드를 형성하는 과정 동안에, 상기 복수의 나노로드 각각은, 상기 나머지 하나의 전극부 상에서 전방으로 연장되며, 직경보다 길이가 더 긴 막대형상으로 형성될 수 있다.During the process of forming the plurality of nanorods, each of the plurality of nanorods may be formed in a rod shape extending forward on the other electrode part and having a length longer than a diameter.

상기 복수의 나노로드를 형성하는 과정 동안에, 단위평면적 당 상기 복수의 나노로드의 유효 평면적 밀도는 0%보다는 크고 80% 이하일 수 있다.During the process of forming the plurality of nanorods, the effective planar density of the plurality of nanorods per unit area may be greater than 0% and less than or equal to 80%.

상기 복수의 나노로드를 형성하는 과정은, 상기 복수의 나노로드 각각의 표면을 도포하는 금속 코팅층을 상기 복수의 나노로드 각각에 코팅하는 과정;을 포함할 수 있다.The process of forming the plurality of nanorods may include a process of coating a metal coating layer for applying a surface of each of the plurality of nanorods to each of the plurality of nanorods.

상기 스위칭소자는 이차원적으로 배열되도록 복수개가 제공되고, 상기 반도체 적층구조물는 복수개의 상기 스위칭소자에 대응하여, 이차원적으로 배열되도록 복수개 제공되어 마이크로 엘이디 어레이를 이루며, 복수개의 상기 반도체 적층구조물 각각은, 대응하는 스위칭소자에 의해 개별적으로 점멸될 수 있는 마이크로 엘이디 어레이의 발광셀일 수 있다. A plurality of the switching elements are provided to be two-dimensionally arranged, and a plurality of the semiconductor laminate structures are provided to correspond to the plurality of switching elements and are two-dimensionally arranged to form a micro LED array, It may be a light emitting cell of a micro LED array that can be individually flickered by a corresponding switching element.

본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치 및 마이크로 발광장치 제조방법은 전극부와 도전성 접합층 사이에 복수개의 나노로드를 제공하여, 플립칩 본딩의 접합 특성을 더욱 향상시킬 수 있고, 이에 신뢰성이 향상된 마이크로 발광장치를 제공할 수 있다.The micro light emitting device and the method of manufacturing the micro light emitting device according to an embodiment of the present invention provide a plurality of nanorods between the electrode part and the conductive bonding layer, thereby further improving the bonding characteristics of flip chip bonding, and thus reliability is improved. A micro light emitting device may be provided.

특히, 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치 및 마이크로 발광장치 제조방법은 복수개의 발광셀과 복수개의 스위칭소자 각각을 접합시켜 복수개의 발광셀을 개별적으로 점멸할 수 있는 마이크로 어레이 엘이디에서, 플립칩 본딩의 가열 또는 가압에 의해 기판이 기울어지거나, 마이크로 발광 장치의 고유의 휨 특성으로 인해 회로부와 발광부 사이에 간극이 발생하더라도 접합되지 않는 부분이 생기는 것을 방지할 수 있고, 마이크로 발광장치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.In particular, the micro light emitting device and the method for manufacturing the micro light emitting device according to the embodiment of the present invention include a flip chip in a micro array LED capable of individually flickering a plurality of light emitting cells by bonding a plurality of light emitting cells and a plurality of switching elements, respectively. Even if the substrate is tilted by heating or pressurization of bonding or a gap occurs between the circuit part and the light emitting part due to the inherent bending characteristics of the micro light emitting device, it is possible to prevent the non-bonding part from occurring, and to improve the reliability of the micro light emitting device. can be improved

이때, 단위평면적 당 상기 복수개의 나노로드의 유효 평면적 밀도는 0% 보다는 크고 80% 이하로 제공함으로써, 상기 나노로드 각각이 독립적으로 기능할 수 있으며, 도전성 접합부에 삽입되는 것을 용이하게 하여, 더욱 신뢰성있는 전기적 연결을 제공할 수 있고, 이에, 마이크로 발광장치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.At this time, the effective planar density of the plurality of nanorods per unit area is greater than 0% and 80% or less, so that each of the nanorods can function independently and easily inserted into the conductive junction, resulting in more reliability It is possible to provide an electrical connection in which there exists, and thus, the reliability of the micro light emitting device can be improved.

또한, 상기 복수의 나노로드부의 핵생성 위치를 제공하는 시드층을 제공함으로써, 상기 나노로드와 상기 전극부의 접합성을 향상시킬 수 있고, 상기 나노로드가 형성되는 나노로드 형성면을 정의하는 커버부를 제공함으로써, 상기 시드층에만 복수의 나노로드를 형성시킬 수 있으며, 불필요한 위치에 나노로드가 형성되어 발광장치가 오작동하는 것을 방지할 수 있다.In addition, by providing a seed layer providing a nucleation location of the plurality of nanorods, bonding properties between the nanorods and the electrode can be improved, and a cover section defining a nanorod formation surface on which the nanorods are formed is provided. Accordingly, it is possible to form a plurality of nanorods only in the seed layer, and it is possible to prevent the light emitting device from malfunctioning due to the nanorods being formed at unnecessary positions.

한편, 본 발명의 다른 실시예에 따른 마이크로 발광장치는 복수개의 스위칭소자가 복수개의 반도체 적층구조물과 연결되고, 복수개의 반도체 적층구조물이 개별적으로 점멸할 수 있게 제공되어, 마이크로 엘이디 단위 발광셀로서 기능할 수 있으며, 디스플레이 장치로서 제공될 수 있다.On the other hand, in the micro light emitting device according to another embodiment of the present invention, a plurality of switching elements are connected to a plurality of semiconductor stacked structures, and the plurality of semiconductor stacked structures are provided so that they can blink individually, so as to function as a micro LED unit light emitting cell. and may be provided as a display device.

그리고 본 발명의 다른 실시예에 따른 마이크로 발광장치 제조방법은 회로부와 발광부를 대향시키고 간격을 좁혀 접합시킴으로써, 상기 나노로드를 상기 도전성 접합부에 삽입시킬 수 있고, 이에, 상기 나노로드부를 통해 회로부와 발광부 사이의 간극을 보상할 수 있으며, 신뢰성이 향상된 마이크로 발광장치를 제조할 수 있다.And, in the method for manufacturing a micro light emitting device according to another embodiment of the present invention, the nanorods can be inserted into the conductive junction part by bonding the circuit part and the light emitting part to face each other and narrowing the gap, and thus, the circuit part and light emission through the nanorod part It is possible to compensate for the gap between the parts, and it is possible to manufacture a micro light emitting device with improved reliability.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치를 나타낸 단면도.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치를 나타낸 단면도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 공정조건에 따른 복수의 나노로드의 평면 미세구조 및 직경의 변화를 나타낸 사진.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 발광부를 나타낸 단면도.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 시드층 및 커버층을 사용하여 복수의 나노로드를 형성하는 과정을 나타낸 도면.
1 is a cross-sectional view showing a micro light emitting device according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view showing a micro light emitting device according to an embodiment of the present invention.
3 is a photograph showing changes in the planar microstructure and diameter of a plurality of nanorods according to process conditions according to an embodiment of the present invention.
4 is a cross-sectional view showing a light emitting unit according to an embodiment of the present invention.
5 is a view showing a process of forming a plurality of nanorods using a seed layer and a cover layer according to another embodiment of the present invention.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 더욱 상세히 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 설명 중, 동일 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하도록 하고, 도면은 본 발명의 실시예를 정확히 설명하기 위하여 크기가 부분적으로 과장될 수 있으며, 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in a variety of different forms, only these embodiments allow the disclosure of the present invention to be complete, and the scope of the invention to those of ordinary skill in the art completely It is provided to inform you. In the description, the same reference numerals are assigned to the same components, and the sizes of the drawings may be partially exaggerated in order to accurately describe the embodiments of the present invention, and the same reference numerals refer to the same elements in the drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치를 나타낸 단면도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치를 나타낸 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing a micro light-emitting device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view showing a micro light-emitting device according to an embodiment of the present invention.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치는 선택적으로 전기신호를 전달하는 스위칭소자(110)와, 상기 스위칭소자(110)와 전기적으로 연결되는 제1 전극부(120)를 구비하는 회로부(100); n형 반도체층(211), 활성층(212), p형 반도체층(213)을 포함하는 반도체 적층구조물(210)과, 상기 반도체 적층구조물(210)과 전기적으로 연결되는 제2 전극부(220)를 구비하는 발광부(200); 상기 제1 전극부(120)와 상기 제2 전극부(220)의 사이에 제공되는 도전성 접합층(300);을 포함할 수 있다.1 and 2, the micro light emitting device according to an embodiment of the present invention includes a switching device 110 that selectively transmits an electrical signal, and a first electrode part electrically connected to the switching device 110 ( A circuit unit 100 having a 120); A semiconductor stacked structure 210 including an n-type semiconductor layer 211 , an active layer 212 , and a p-type semiconductor layer 213 , and a second electrode part 220 electrically connected to the semiconductor stacked structure 210 . A light emitting unit 200 having a; and a conductive bonding layer 300 provided between the first electrode part 120 and the second electrode part 220 .

스위칭소자(110)는 전기 회로에 의해 전기신호를 공급받아 상기 전기신호를 차단 또는 전달할 수 있도록 제공되는 소자로써, 상기 스위칭소자(110)는 발광부(200)와 오믹 접속(Ohmic contact)하며 외부로부터 제공받은 전기신호에 따라 상기 발광부(200)의 점멸을 온오프 제어할 수 있다. 예를 들어, CMOS(Complementary metal-oxide semiconductor) 또는 TFT(Thin film transistor) 등의 반도체소자를 사용할 수 있으며, 특별히 한정하지 않는다. 여기서 상기 스위칭소자(110)는 소스, 드레인과 게이트 구조체를 포함할 수 있다. 드레인과 소스 간에 전압을 가하면 게이트 구조체를 통해 전류가 흐르며, 역방향으로 전압을 가하면 전류가 제한된다.The switching element 110 is an element provided to block or transmit the electric signal by receiving an electric signal by an electric circuit, and the switching element 110 is in ohmic contact with the light emitting unit 200 and externally The blinking of the light emitting unit 200 may be controlled on/off according to an electric signal provided from the . For example, a semiconductor device such as a complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) or a thin film transistor (TFT) may be used, but is not particularly limited. Here, the switching device 110 may include a source, a drain, and a gate structure. When a voltage is applied between the drain and the source, a current flows through the gate structure, and when a voltage is applied in the reverse direction, the current is limited.

제1 전극부(120)는 상기 스위칭소자(110)와 전기적으로 접속될 수 있고, 전도성의 물질로 형성되어 상기 스위칭소자(110)가 다른 부품과 전기적으로 연결될 수 있도록 단자로써 기능할 수 있다. 이때, 상기 스위칭소자(110)는 소스, 드레인, 게이트 구조체를 포함하므로, 상기 제1 전극부(120) 또한 소스, 드레인, 게이트 구조체 3개의 전극부를 포함할 수 있다. 이에, 예를 들어, Ag, Al, Au, Cr, Cu, Ir, Mg, Nd, Ni, Pd, Pt, Rh, Ti, W 등에서 선택된 어느 하나의 금속 또는 둘 이상의 합금으로 이루어질 수 있으나, 이에 특별히 한정하지 않는다. The first electrode part 120 may be electrically connected to the switching element 110 , and may be formed of a conductive material to function as a terminal so that the switching element 110 may be electrically connected to other components. In this case, since the switching device 110 includes a source, a drain, and a gate structure, the first electrode part 120 may also include three electrode parts of a source, a drain, and a gate structure. Thus, for example, Ag, Al, Au, Cr, Cu, Ir, Mg, Nd, Ni, Pd, Pt, Rh, Ti, W may be made of any one metal or two or more alloys selected from, but in particular do not limit

반도체 적층구조물(210)은 발광다이오드로서 기능하기 위해 제공되며, 상기 스위칭소자(110)로부터 전기신호를 제공받아 발광할 수 있다. 발광다이오드는 전류가 가해지면 n형 반도체층(211)과 p형 반도체층(213)의 접합부분인 활성층(212)에서 전자와 정공의 재결합에 의해 다양한 색상의 빛을 발생시킬 수 있는 반도체 장치이다. 또한, 긴 수명과 낮은 전원, 우수한 초기 구동 특성, 높은 진동 저항 등의 여러 장점을 갖기때문에 그 수요가 지속적으로 증가하고 있다.The semiconductor laminate structure 210 is provided to function as a light emitting diode, and may emit light by receiving an electrical signal from the switching device 110 . The light emitting diode is a semiconductor device capable of generating light of various colors by recombination of electrons and holes in the active layer 212, which is a junction part of the n-type semiconductor layer 211 and the p-type semiconductor layer 213, when a current is applied. . In addition, since it has several advantages such as a long lifespan, low power supply, excellent initial driving characteristics, and high vibration resistance, its demand is continuously increasing.

그리고 발광 다이오드는 종래의 백열전구나 형광등과 같은 조명과는 달리 초소형, 저소비 전력, 고효율, 친환경 등의 많은 장점을 보유하고 있어, 최근에는 대형 디스플레이 및 자동차용 조명 등까지도 그 영역을 넓혀나가고 있는 추세이다. And, unlike conventional lighting such as incandescent light bulbs or fluorescent lamps, light emitting diodes have many advantages such as ultra-small size, low power consumption, high efficiency, and eco-friendliness. .

n형 반도체층(211)은 적층면 상에 형성될 수 있고, 예를 들어, 질화갈륨계 반도체 물질로 이루어질 수 있다. 보다 구체적으로는 n형 도전형 불순물이 도핑된 GaN층 또는 GaN/AlGaN층으로 이루어질 수 있으며, n형 도전형 불순물로는 예를 들어, Si, Ge, Sn 등을 사용할 수 있으나 이에 한정하지 않는다.The n-type semiconductor layer 211 may be formed on the stacked surface, and may be made of, for example, a gallium nitride-based semiconductor material. More specifically, it may be formed of a GaN layer or a GaN/AlGaN layer doped with n-type impurities, and the n-type impurities may include, for example, Si, Ge, Sn, etc., but is not limited thereto.

활성층(212)은 n형 반도체 상에 형성될 수 있고, 다중 양자우물(Multi-Quantum Well) 구조의 InGaN/GaN층으로 이루어질 수 있다. 그리고 활성층(212)은 n형 반도체층(211)과 p형 반도체층(213)에 전압이 인가되거나 전류가 공급되는 경우에 발광할 수 있다.The active layer 212 may be formed on an n-type semiconductor and may include an InGaN/GaN layer having a multi-quantum well structure. In addition, the active layer 212 may emit light when a voltage or current is applied to the n-type semiconductor layer 211 and the p-type semiconductor layer 213 .

p형 반도체층(213)은 활성층(212) 상에 형성될 수 있고, 질화갈륨계 반도체 물질로 이루어질 수 있다. 보다 구체적으로, p형 반도체층(213)은 p형 도전형 불순물이 도핑된 GaN층 또는 GaN/AlGaN층으로 이루어질 수 있으며, p형 도전형 불순물로는 Mg, Zn, Be 등을 사용할 수 있으며 특별히 한정하지 않는다. p형 반도체층(213)과 활성층(212)의 일부는 식각으로 제거될 수 있으며, 이를 통해 저면에 n형 반도체층(211)의 일부를 노출시킬 수 있다.The p-type semiconductor layer 213 may be formed on the active layer 212 and may be made of a gallium nitride-based semiconductor material. More specifically, the p-type semiconductor layer 213 may be formed of a GaN layer or a GaN/AlGaN layer doped with p-type conductivity-type impurities, and Mg, Zn, Be, etc. may be used as the p-type conductivity type impurities. do not limit A portion of the p-type semiconductor layer 213 and the active layer 212 may be removed by etching, thereby exposing a portion of the n-type semiconductor layer 211 on the bottom surface.

이때, 반도체 구조물은 화학기상 증착법 및 전자빔 증착법과 같은 공지의 증착방법 또는 스퍼터링 등의 공정에 의해 형성될 수 있다. 여기서, 리프트 오프방식이란 포토레지스트(PR)를 도포하고 증착 영역에 스폿 모양의 자외선을 조사하여 현상함으로써 포토레지스트(PR)를 제거한 후에 크롬 등의 증착막(또는 차광막)을 증착하여 포토레지스트(PR)와 함께 비증착 영역의 증착막(예를 들어, 크롬)을 제거하는 것을 말한다. In this case, the semiconductor structure may be formed by a known deposition method such as chemical vapor deposition and electron beam deposition, or a process such as sputtering. Here, the lift-off method is to remove the photoresist (PR) by applying photoresist (PR), irradiating spot-shaped ultraviolet rays to the deposition area, and developing the photoresist (PR) by depositing a deposition film (or light-shielding film) such as chromium. together with the removal of the deposited film (eg, chromium) in the non-deposited region.

제2 전극부(220)는 상기 반도체 적층구조물(210)과 전기적으로 접속될 수 있고, 전도성의 물질로 형성되어 상기 반도체 적층구조물(210)이 다른 부품과 전기적으로 연결될 수 있도록 단자로써 기능할 수 있다. 이때, 상기 반도체 적층구조물(210)은 n형 반도체층(211) 및 p형 반도체층(213)을 포함하므로, 상기 제2 전극부(220) 또한 n형 전극부, p형 전극부 2가지의 전극부를 포함할 수 있다. 이에, 예를 들어, Ag, Al, Au, Cr, Cu, Ir, Mg, Nd, Ni, Pd, Pt, Rh, Ti, W 등에서 선택된 어느 하나의 금속 또는 둘 이상의 합금으로 이루어질 수 있으나, 이에 특별히 한정하지 않는다. The second electrode part 220 may be electrically connected to the semiconductor stacked structure 210 and formed of a conductive material to function as a terminal so that the semiconductor stacked structure 210 may be electrically connected to other components. have. At this time, since the semiconductor stacked structure 210 includes an n-type semiconductor layer 211 and a p-type semiconductor layer 213 , the second electrode part 220 also includes an n-type electrode part and a p-type electrode part. It may include an electrode part. Thus, for example, Ag, Al, Au, Cr, Cu, Ir, Mg, Nd, Ni, Pd, Pt, Rh, Ti, W may be made of any one metal or two or more alloys selected from, but in particular do not limit

도전성 접합층(300)은 상기 제1 전극부와 상기 제2 전극부 사이를 전기적으로 접속시키기 위해 제공되며, 일반적으로 솔더링(Soldering)에 의해 생성된다. 이때, 상기 전극부 사이를 전기적으로 접속시켜야 하며, 마이크로 발광장치의 반도체 사이를 접속시켜야함을 고려하여, 전기 전도도가 높은 물질인 예를 들어, Sn, Ag, Cu, In, Pb 중 하나라도 포함하는 물질 등을 사용할 수 있으며 여기서는 특별히 한정하지 않는다.The conductive bonding layer 300 is provided to electrically connect the first electrode part and the second electrode part, and is generally generated by soldering. At this time, in consideration of the need to electrically connect the electrodes and connect the semiconductors of the micro light emitting device, a material with high electrical conductivity, for example, Sn, Ag, Cu, In, or Pb, is included. and the like can be used, and there is no particular limitation here.

상기 발광부(200)와 상기 회로부(100) 사이에 열전도성 물질이 충진되는 언더필층(700)이 제공될 수 있다. 여기서 언더필(underfill) 기술이란 CSP, BGA, Filp chip, 단위 발광 유닛 등의 발광다이오드 패키지 밑을 열전도도가 우수한 열전도성 물질이나 절연 수지 등을 이용하여 메우는 공법이며, 이러한 언더필 기술은 물리적 충격이나 열적 충격을 많이 받는 소자 등에서 사용될 수 있다. An underfill layer 700 filled with a thermally conductive material may be provided between the light emitting unit 200 and the circuit unit 100 . Here, the underfill technology is a method of filling the underfill of the light emitting diode package such as CSP, BGA, Filp chip, and unit light emitting unit using a thermally conductive material or insulating resin with excellent thermal conductivity. It can be used in devices that are subjected to a lot of shock.

이때, 언더필층(700)을 이루는 물질은 에폭시 수지, 경화제, 충진제, 첨가제의 종류나 함유량에 따라 각기 다른 열팽창계수, 저항, 열전도성 내수성, 점성 등의 특성을 포함할 수 있는데, 예를 들어, 에폭시 수지 등의 경화제나 Al2O3, BN, AlN 등 우수한 열전도도를 가지는 열전도성 물질 중에서 적어도 어느 하나를 포함하여 형성할 수 있다.At this time, the material constituting the underfill layer 700 may include different properties such as coefficient of thermal expansion, resistance, thermal conductivity, water resistance, and viscosity depending on the type or content of the epoxy resin, curing agent, filler, and additive, for example, It may be formed by including at least one of a curing agent such as an epoxy resin or a thermally conductive material having excellent thermal conductivity, such as Al 2 O 3 , BN, and AlN.

이러한 언더필층(700)을 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200) 사이에 충진하여 사용하면 언더필층(700)으로 인해 기판에 형성된 마이크로 발광장치를 외부로부터 보호할 뿐만 아니라, 언더필층(700)을 통한 열전도도를 실질적으로 향상시켜 마이크로 발광장치의 방출 열에 의한 온도 변화에 따른 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200)의 열팽창 변형을 저감할 수 있다. 또한, 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200) 중 적어도 하나에서 충분히 낮은 온도를 유지할 수 있기 때문에 마이크로 발광장치의 성능 및 신뢰성을 향상시키고 수명을 연장시킬 수 있다.When the underfill layer 700 is filled and used between the circuit part 100 and the light emitting part 200 , the underfill layer 700 protects the micro light emitting device formed on the substrate from the outside, and the underfill layer 700 ) through substantially improved thermal conductivity, thereby reducing thermal expansion deformation of the circuit unit 100 and the light emitting unit 200 according to a temperature change due to heat emitted from the micro light emitting device. In addition, since a sufficiently low temperature can be maintained in at least one of the circuit unit 100 and the light emitting unit 200 , the performance and reliability of the micro light emitting device can be improved, and the lifespan of the micro light emitting device can be extended.

한편, 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치는 상기 언더필층(700)이 필요에 따라 제공되지 않을 수도 있으므로, 상기 언더필층(700)은 필수적인 구성요소가 아닐 수 있으며, 이에 특별히 한정하지 않는다.Meanwhile, in the micro light emitting device according to an embodiment of the present invention, the underfill layer 700 may not be provided as needed, so the underfill layer 700 may not be an essential component, and the present invention is not particularly limited thereto.

그리고, 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중 어느 하나의 전극부 상에 제공되어, 상기 도전성 접합층(300)에 적어도 부분적으로 삽입되는 복수의 나노로드(400);를 포함할 수 있다. 나노로드(400)는 나노미터(nm) 단위의 직경과 길이를 가지는 막대형상의 구조체이며, 기존의 벌크소재에서 볼 수 없었던 다양한 물리적 화학적 장점을 가지고 있다. In addition, a plurality of nanorods 400 are provided on any one of the first electrode part 120 and the second electrode part 220 and are at least partially inserted into the conductive bonding layer 300 . ; may be included. The nanorod 400 is a rod-shaped structure having a diameter and length of nanometers (nm), and has various physical and chemical advantages that have not been seen in conventional bulk materials.

본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치는 제1 전극부(120)와 제2 전극부(220) 중 어느 하나의 상에 상기 나노로드(400)를 제공하고 접합층(300)에 삽입되도록 하여 접합층(300)을 이용한 접속에 추가적으로 연결지점을 제공함으로써, 접합 특성을 향상시킬 수 있으며, 마이크로 발광장치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.In the micro light emitting device according to an embodiment of the present invention, the nanorods 400 are provided on any one of the first electrode part 120 and the second electrode part 220 and inserted into the bonding layer 300 . By providing an additional connection point to the connection using the bonding layer 300 , bonding characteristics can be improved, and reliability of the micro light-emitting device can be improved.

여기서 상기 복수의 나노로드(400)는 예를 들어, 도 1의 (a)와 같이 제1 전극부(120)의 상에 제공되어 회로부(100)에 포함되거나, 도 1의 (b)와 같이 제2 전극부(220)에 형성되어 발광부(200)에 제공될 수 있으나 전기적으로 접속시킬 수 있으면 족하고, 이에 특별히 한정하지 않는다.Here, the plurality of nanorods 400 are provided on the first electrode part 120 and included in the circuit part 100 as shown in FIG. It may be formed on the second electrode part 220 and provided to the light emitting part 200 , but it is sufficient as long as it can be electrically connected, and the present invention is not particularly limited thereto.

그리고, 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치는 복수개의 스위칭소자(110) 및 복수개의 반도체 적층구조물(210)이 이차원적으로 배열되어 각각의 어레이를 이루고 각각 개별적으로 연결된 마이크로 어레이 발광장치일 수 있다. 이러한 마이크로 어레이 발광장치에서는 하나의 반도체 적층구조물(210)이 하나의 발광셀로서 기능할 수 있고, 복수개의 스위칭소자(110)에 의해 개별적으로 점멸됨에 따라 원하는 발광 패턴을 형성할 수 있다.In addition, the micro light emitting device according to an embodiment of the present invention may be a micro array light emitting device in which a plurality of switching elements 110 and a plurality of semiconductor laminate structures 210 are two-dimensionally arranged to form respective arrays and are individually connected to each other. have. In such a microarray light emitting device, one semiconductor stacked structure 210 can function as one light emitting cell, and a desired light emitting pattern can be formed by individually flickering by the plurality of switching elements 110 .

이때, 상기 복수개의 스위칭소자(110) 및 복수개의 반도체 적층구조물(210) 각각을 전기적으로 접속시키기 위하며, 상기 발광부(200)를 뒤집어 상기 회로부(100)에 접속하는 플립칩(Flip chip) 본딩에 의해 접속될 수 있다. 이에, 전면적에 반도체 적층구조물(210)을 배열할 수 있어, 복수개의 반도체 적층구조물(210) 즉, 복수개의 발광셀을 필요로 하는 마이크로 어레이 발광장치에 적용하기 용이하며, 전기적인 접속 길이가 짧아 전기적, 기계적 특성이 우수한 장점을 나타낼 수 있다.At this time, in order to electrically connect each of the plurality of switching elements 110 and the plurality of semiconductor laminate structures 210 , the light emitting unit 200 is turned over to connect to the circuit unit 100 . A flip chip is used. They can be connected by bonding. Accordingly, since the semiconductor stacked structure 210 can be arranged over the entire area, it is easy to apply to a microarray light emitting device requiring a plurality of semiconductor stacked structures 210 , that is, a plurality of light emitting cells, and the electrical connection length is short. An advantage of excellent electrical and mechanical properties may be exhibited.

여기서 마이크로 어레이된 복수개의 발광셀, 즉, 복수개의 반도체 적층구조물(210) 각각은, 예를 들어, n형 반도체층(211)이 각각 존재하며, 각 단위 반도체 적층 구조물(210)을 전기적으로 분리할 수 있게 되어, 효율적인 전류 주입을 통한 우수한 전기적 특성 및 균일한 발광을 얻을 수 있다. 또는, 하나의 단에 나열배치된 복수개의 반도체 적층구조물(210)이 하나의 n형 반도체층(211)을 공유하며 반도체 적층구조물(210) 간의 간격을 최소화할 수도 있으나, 이에 특별히 한정하지 않는다.Here, in each of the plurality of microarrayed light emitting cells, that is, each of the plurality of semiconductor stacked structures 210 , for example, an n-type semiconductor layer 211 is present, respectively, and each unit semiconductor stacked structure 210 is electrically separated from each other. Thus, excellent electrical properties and uniform light emission can be obtained through efficient current injection. Alternatively, the plurality of semiconductor stacked structures 210 arranged in a row at one stage may share one n-type semiconductor layer 211 and minimize the spacing between the semiconductor stacked structures 210 , but is not particularly limited thereto.

상기 회로부(100) 및 상기 발광부(200)는 플립칩 본딩으로 접속될 수 있다. 하지만, 회로부(100)와 발광부(200)를 정렬하고 사이를 좁혀 가압 및 가열하며 각 전극부를 접합하는 플립칩 본딩 과정에 의해 상기 발광부(200)에 포함되는 기판은 가압 및 가열에 의해 변형이 일어날 수 있다. The circuit unit 100 and the light emitting unit 200 may be connected by flip-chip bonding. However, the substrate included in the light emitting unit 200 is deformed by pressing and heating by a flip-chip bonding process in which the circuit unit 100 and the light emitting unit 200 are aligned, pressed, heated, and joined to each electrode unit. This can happen.

예를 들어, 도 2의 (a)와 같이 정렬이 흐트러지며 기판이 기울어질 수 있고, 또는 도 2의 (b)와 같이 마이크로 발광장치의 고유의 휨 특성의 원인으로 인해 발광부(200)와 회로부(100) 사이에 간극이 발생하며, 접속되지 않는 지점이 발생할 수 있다. 그리고 상기 간극을 발생하지 않도록 더욱 거리를 좁혀 가압할 경우, 이미 접속이 이루어진 전극부에는 큰 압력이 가해지며, 손상 또는 파괴가 발생할 수 있다. 이에 각 전극 간의 접속이 불완전해지며, 마이크로 발광장치의 신뢰성이 저하될 수 있는 문제가 발생할 수 있다.For example, as shown in (a) of FIG. 2, the alignment is disturbed and the substrate may be inclined, or as shown in FIG. A gap may occur between the circuit units 100 , and a point at which no connection is made may occur. In addition, if the distance is further narrowed so as not to generate the gap and pressurized, a large pressure is applied to the electrode part that has already been connected, and damage or destruction may occur. Accordingly, the connection between the respective electrodes may be incomplete, and there may be a problem in that the reliability of the micro light emitting device may be deteriorated.

이에, 상기 간극을 보상할 수 있도록 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중 어느 하나의 전극부 상에 복수의 나노로드(400)를 제공함으로써, 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200) 사이에 간극이 발생하더라도 복수의 나노로드(400)에 의해 전기적 연결이 유지될 수 있고, 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200) 사이의 전기적 연결을 더욱 신뢰성 있게 제공할 수 있으며, 마이크로 발광장치의 품질을 더욱 향상시킬 수 있다.Accordingly, by providing a plurality of nanorods 400 on any one electrode part of the first electrode part 120 or the second electrode part 220 to compensate for the gap, the circuit part 100 Even if a gap occurs between the light emitting unit 200 and the plurality of nanorods 400, the electrical connection can be maintained, and the electrical connection between the circuit unit 100 and the light emitting unit 200 can be more reliably can be provided, and the quality of the micro light emitting device can be further improved.

상기 복수의 나노로드(400) 각각의 강도는 상기 도전성 접합층(300)의 강도보다 같거나 클 수 있다. 상기 복수의 나노로드(400)는 간극을 보상하며 접속할 수 있도록 제공되어야하므로, 상기 접합층(300)과 물리적으로 연결될 수 있어야한다. 이에, 상기 접합층(300)에 상기 복수의 나노로드(400)가 적어도 부분적으로 삽입될 수 있도록, 상기 복수의 나노로드(400) 각각의 강도는 상기 도전성 접합층(300)의 강도보다 크거나 같을 수 있고, 이에, 상기 도전성 접합층(300)에 삽입될 수 있으며, 전기적으로도 접속될 수 있다.The strength of each of the plurality of nanorods 400 may be equal to or greater than the strength of the conductive bonding layer 300 . Since the plurality of nanorods 400 must be provided to be connected while compensating for the gap, they must be physically connected to the bonding layer 300 . Accordingly, the strength of each of the plurality of nanorods 400 is greater than the strength of the conductive bonding layer 300 so that the plurality of nanorods 400 can be at least partially inserted into the bonding layer 300 . may be the same, and thus, may be inserted into the conductive bonding layer 300 and may be electrically connected.

상기 나노로드(400)가 전술한 바와 같이 도전성 접합층(300)에 삽입되려면 삽입되는 면의 표면적이 낮을수록 표면저항이 낮아지며 같은 힘으로도 용이한 삽입이 가능할 수 있다.In order for the nanorods 400 to be inserted into the conductive bonding layer 300 as described above, the lower the surface area of the inserted surface, the lower the surface resistance, and easy insertion may be possible even with the same force.

이때, 상기 복수의 나노로드(400) 각각은, 직경보다 길이가 더 긴 막대형상일 수 있다. 상기 나노로드(400)는 직경이 작을수록 단위면적 당 가해지는 응력이 높아지며 상기 도전성 접합층(300)에 삽입되기 용이할 수 있다. 하지만, 상기 나노로드(400)의 직경이 너무 작아질 경우 나노로드(400)는 가해지는 하중을 버티기 어려워질 수 있고, 이에 상기 도전성 접합층(300)에 삽입되기 어려워질 수 있다. 또한 상기 나노로드(400)는 전기적 접속을 위해 전자를 전달할 수 있어야 하므로 직경이 너무 얇게 제공되면 이러한 전자의 전달 기능을 수행하기 어려워질 수 있다.In this case, each of the plurality of nanorods 400 may have a rod shape having a length longer than a diameter. The smaller the diameter of the nanorods 400 is, the higher the stress applied per unit area, and the easier it is to be inserted into the conductive bonding layer 300 . However, when the diameter of the nanorods 400 is too small, it may be difficult for the nanorods 400 to withstand the applied load, which may make it difficult to be inserted into the conductive bonding layer 300 . In addition, since the nanorod 400 must be able to transfer electrons for electrical connection, if the diameter is too thin, it may be difficult to perform such an electron transfer function.

따라서 바람직하게는 상기 나노로드(400)는 50 nm 내지 1 μm의 직경을 나타낼 수 있고, 상기 도전성 접합층(300)에 삽입되기 용이할 수 있으며, 삽입 시 파손되지 않을 수 있다. 더욱 바람직하게는 100nm 내지 300nm의 직경을 나타내며, 상기 도전성 접합층(300)에 삽입되기 더욱 용이할 수 있고, 구조적으로 더욱 안정적일 수 있으므로, 마이크로 발광장치의 품질을 더욱 향상시킬 수 있다.Therefore, preferably, the nanorods 400 may have a diameter of 50 nm to 1 μm, may be easily inserted into the conductive bonding layer 300 , and may not be damaged when inserted. More preferably, it has a diameter of 100 nm to 300 nm, may be more easily inserted into the conductive bonding layer 300 , and may be more structurally stable, so that the quality of the micro light emitting device can be further improved.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 공정조건에 따른 복수의 나노로드(400)의 평면 미세구조 및 직경의 변화를 나타낸 사진이다.3 is a photograph showing changes in the planar microstructure and diameter of a plurality of nanorods 400 according to process conditions according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 단위평면적 당 상기 복수의 나노로드(400)의 유효 평면적 밀도는 0%보다는 크고 80% 이하일 수 있다. 여기서, 도 3의 복수의 나노로드(400)의 평면 미세구조 및 직경의 변화는, 공정시간을 일정하게 통제하고, 나노로드를 형성하기 위한 원료물질의 농도(mol%) 조성을 증가시키는 공정조건에서 진행되었다. 이와 같이 공정조건을 간단히 변화하는 것에 의해서 나노로드(400)의 미세구조 및 직경을 변화시킬 수 있어서, 단위평면적당 나노로드(400)의 유효 평면적 밀도를 용이하게 조절하는 것이 가능하다. 이때, 상기 바람직한 직경을 나타내는 나노로드(400)는 전체면적에서 유효 면적이 너무 증가할 경우, 즉, 상기 복수의 나노로드(400)의 단면에서의 밀도가 80%보다 높으면 상기 나노로드(400)는 하나의 벌크(Bulk)와 같은 상태가 되어 각각이 독립적으로 작용하기 어려울 수 있다. 반면, 상기 나노로드(400)가 너무 적게 제공될 경우 전기 전도성이 필요량보다 부족해질 수 있다.Referring to FIG. 3 , the effective planar density of the plurality of nanorods 400 per unit area may be greater than 0% and less than or equal to 80%. Here, the change in the planar microstructure and diameter of the plurality of nanorods 400 of FIG. 3 is performed under the process conditions of constantly controlling the process time and increasing the concentration (mol%) composition of the raw material for forming the nanorods. proceeded By simply changing the process conditions as described above, the microstructure and diameter of the nanorods 400 can be changed, so that it is possible to easily control the effective planar density of the nanorods 400 per unit area area. At this time, when the effective area of the nanorods 400 showing the preferred diameter increases too much in the total area, that is, when the density in the cross-section of the plurality of nanorods 400 is higher than 80%, the nanorods 400 is in a state like one bulk, and it may be difficult to act independently of each. On the other hand, when too little of the nanorods 400 are provided, electrical conductivity may be insufficient than a required amount.

이에, 상기 나노로드(400)의 유효면적밀도는 바람직하게는 80 % 이하일 수 있고, 더욱 바람직하게는 10 % 내지 50 %를 나타낼 수 있다. 이에, 상기 복수의 나노로드(400) 각각이 독립적으로 기능할 수 있으며, 상기 도전성 접합층(300)에 용이하게 삽입될 수 있고, 전극간의 전기적 접속을 위해 필요한 전기 전도성을 충분히 제공할 수 있음으로서 접속의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.Accordingly, the effective areal density of the nanorods 400 may be preferably 80% or less, and more preferably 10% to 50%. Accordingly, each of the plurality of nanorods 400 can function independently, can be easily inserted into the conductive bonding layer 300, and can sufficiently provide electrical conductivity necessary for electrical connection between electrodes. The reliability of the connection can be improved.

여기서, 상기 평면적이란 상기 복수의 나노로드(400)를 상면에서 바라본 평면도에서의 면적을 말하는 것이며, 단위 평면적이란 상기 평면적을 단위적으로 나타낸 것으로, 이때, 상기 단위 평면적에서 상기 복수의 나노로드(400)가 차지하는 총 면적이 유효단위 평면적이다.Here, the planar area refers to an area in a plan view of the plurality of nanorods 400 viewed from the upper surface, and the unit planar area refers to the planar area as a unit, in this case, the plurality of nanorods 400 in the unit planar area. The total area occupied by ) is the effective unit plan area.

복수의 나노로드(400) 각각의 길이는 0.5μm 내지 20μm 일 수 있다. 복수의 나노로드(400) 각각은 상기 도전성 접합층에 삽입될 수 있도록 직경보다 길이가 더 긴 막대형상일 수 있음을 고려하여, 직경이 수 나노미터(nm) 내지 수십 나노미터(nm)일때, 길이는 수백 나노미터(nm)에서 수 마이크로미터(㎛)임이 바람직할 수 있다. Each of the plurality of nanorods 400 may have a length of 0.5 μm to 20 μm. Considering that each of the plurality of nanorods 400 may have a rod shape longer than the diameter to be inserted into the conductive bonding layer, when the diameter is several nanometers (nm) to several tens of nanometers (nm), The length may preferably be several hundred nanometers (nm) to several micrometers (μm).

하지만, 상기 나노로드(400)가 0.5μm의 길이로 제공될 경우, 지나치게 짧은 길이를 나타내며, 상기 간극을 보상하기 어려울 수 있고, 20μm를 초과하여 지나치게 길게 제공될 경우 상기 도전성 접합층(300)을 모두 관통하고 상기 복수의 나노로드(400)가 성장한 면과 대향하는 전극부까지 도달하며, 대향하는 전극부에 손상을 입힐 수 있거나, 도전성 접합층(300)에 삽입 시 길이대비 작은 직경을 나타내며 부러지게 될 수 있으므로, 도전성 접합층(300)의 접합체 역할을 수행하기 어렵게 할 수 있다. 이에, 더욱 바람직하게는 1μm 내지 5μm로 제공될 수 있으며, 전극부에 손상을 입히지 않고도 접속할 수 있고, 전기적 접속을 더욱 안정적으로 유지하며, 간극을 보상하기에 충분한 길이로 제공될 수 있다.However, when the nanorods 400 are provided with a length of 0.5 μm, they exhibit an excessively short length, it may be difficult to compensate for the gap, and when the nanorods 400 are provided with a length of more than 20 μm, the conductive bonding layer 300 is formed. It penetrates all and reaches the electrode portion opposite to the surface on which the plurality of nanorods 400 grow, and may damage the opposite electrode portion, or exhibit a small diameter compared to the length when inserted into the conductive bonding layer 300 and break Therefore, it may be difficult to perform the role of the bonding body of the conductive bonding layer 300 . Accordingly, more preferably, it may be provided in a range of 1 μm to 5 μm, and it can be connected without damaging the electrode part, and it can be provided with a length sufficient to keep the electrical connection more stable and to compensate for the gap.

그리고, 상기 복수의 나노로드(400)는 금속물질 또는 도전성 산화물로 이루어질 수 있다. 상기 복수의 나노로드(400)는 전극부 사이의 전기적 연결이 유지되도록 도전성을 나타내야할 수 있다. 또한, 상기 도전성 접합층(300)에 삽입될 수 있도록 상기 도전성 접합층(300)보다 높은 강도를 나타내야한다. 이에, 상기 나노로드(400)의 재료에는 예를 들어, Ni과 Cu 및 이를 포함하는 합금 등의 금속물질이 사용될 수 있다.In addition, the plurality of nanorods 400 may be made of a metal material or a conductive oxide. The plurality of nanorods 400 may have to exhibit conductivity so that an electrical connection between the electrodes is maintained. In addition, it should exhibit a higher strength than the conductive bonding layer 300 to be inserted into the conductive bonding layer (300). Accordingly, for the material of the nanorods 400 , for example, a metal material such as Ni and Cu and an alloy including the same may be used.

한편, 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치는, 나노로드(400)의 재료로 사용되는 물질로, 예를 들어, Al, Mg, Zn 등을 포함하는 도전성 산화물(oxide)일 수 있고, 성장면에 나노로드 핵(400`)을 제공하고 수열합성법으로 나노로드 핵(400`)을 일방향으로 성장시켜 나노로드(400)를 제조할 수 있다. On the other hand, the micro light emitting device according to the embodiment of the present invention, a material used as a material of the nanorod 400, for example, may be a conductive oxide containing Al, Mg, Zn, etc., and grow The nanorod 400 can be manufactured by providing the nanorod nucleus 400' on the surface and growing the nanorod nucleus 400' in one direction by hydrothermal synthesis.

예를 들어, 수열합성법으로 도전성 산화물인 ZnO로 이루어진 나노로드(400)를 형성하기 위해서는, ZnO를 합성하기 위한 용액인 Zinc nitrate hexahydrate [Zn(NO3)2·6H2O]와 Hexamethylenetetramine [(CH2)6N4]를 Vessel에 담고, 설정시간 동안, 온도, 압력, 교반 속도를 제어하며 ZnO로 이루어진 나노로드(400)를 성장시킬 수 있다.For example, to form the nanorods 400 made of ZnO, which is a conductive oxide, by hydrothermal synthesis, Zinc nitrate hexahydrate [Zn(NO 3 ) 2 .6H 2 O] and Hexamethylenetetramine [(CH 2 ) 6 N 4 ] is placed in the vessel, and the nanorods 400 made of ZnO can be grown while controlling the temperature, pressure, and stirring speed for a set time.

여기서 더욱 구체적인 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치의 제조방법은, ZnO로 이루어진 도전성 산화물 나노로드를 형성하기 위한 수열합성법은, 합성하고자 하는 물질의 수용액을 담는 Vessel에서 (CH2)6N4·6H2O를 DI water에 용해시켜, 상기 (CH2)6N4·6H2O가 포름알데히드(HCHO)와 암모니아(NH3)로 분해되고, 상기 암모니아(NH3)가 암모늄이온(NH4+)과 수산화 이온(OH-)으로 분해되는 과정; 상기 Vessel에 Zn(NO3)2·6H2O을 첨가하여 상기 Zn(NO3)2·6H2O로 부터 Zn2 +가 분해되고, 상기 암모늄이온(NH4+)과 수산화 이온(OH-)으로 분해되는 과정에서 발생한 OH-와 상기 Zn2 + 이온 결합을 하여 Zn(OH)2가 합성되는 과정; 및 상기 합성된 Zn(OH)2에서 ZnO(S)가 석출되며, ZnO로 이루어진 도전성 산화물 나노로드가 형성되는 과정;을 포함할 수 있다.Here, in a more specific method of manufacturing a micro light emitting device according to an embodiment of the present invention, the hydrothermal synthesis method for forming a conductive oxide nanorod made of ZnO is performed in a vessel containing an aqueous solution of a material to be synthesized (CH 2 ) 6 N 4 ·6H 2 O is dissolved in DI water, the (CH 2 ) 6 N 4 ·6H 2 O is decomposed into formaldehyde (HCHO) and ammonia (NH 3 ), and the ammonia (NH 3 ) is an ammonium ion (NH4 + ) and the process of decomposition into hydroxide ions (OH - ); By the addition of Zn (NO 3) 2 · 6H 2 O to the Vessel The Zn (NO 3) 2 · Zn 2 + is decomposed from the 6H 2 O, the ammonium ion (NH4 +) and hydroxide ions (OH -) OH - and Zn 2 + generated in the process of decomposition into A process in which Zn(OH) 2 is synthesized by ionic bonding; and a process in which ZnO(S) is precipitated from the synthesized Zn(OH) 2 , and a conductive oxide nanorod made of ZnO is formed.

반면, 금속 나노로드(400)를 제조하기 위해서는, 예를 들어, 상기 설명한 수열합성법으로 형성된 ZnO 나노로드 상에 PR(Photo resist)을 증착하고, HCl(염산) 기반의 용액으로 ZnO 나노로드를 식각(Etching)하여 제거한다. 그리고, ZnO가 제거된 빈 공간이 제공되는 PR을 나노로드 몰드로 사용할 수 있다. 그 후 상기 PR(즉, 나노로드 몰드)에 Ni(니켈) 등의 금속물질을 전기 도금(electro deposition)하고, PR을 제거하여 최종적으로 Ni로 이루어진 금속 나노로드를 제작할 수 있다. 상기 도전성 산화물 나노로드 또는 금속 나노로드는 필요에 따라 선택적으로 사용될 수 있지만, 금속 나노로드를 제작하기 위해서는 도전성 산화물로 이루어진 나노로드에 비해 번거로운 추가 공정이 필요할 수 있는 문제점이 발생할 수 있다. On the other hand, in order to manufacture the metal nanorods 400, for example, a photo resist (PR) is deposited on the ZnO nanorods formed by the hydrothermal synthesis method described above, and the ZnO nanorods are etched with a solution based on HCl (hydrochloric acid). (Etching) to remove. In addition, a PR provided with an empty space from which ZnO is removed may be used as a nanorod mold. Thereafter, a metal material such as Ni (nickel) is electro-deposited on the PR (ie, the nanorod mold), and the PR is removed to finally manufacture a metal nanorod made of Ni. The conductive oxide nanorods or metal nanorods may be selectively used as needed, but there may be a problem in that a cumbersome additional process may be required to manufacture the metal nanorods compared to the nanorods made of conductive oxide.

이에, 바람직하게는 상기 나노로드(400)는 산화물을 재료로 사용할 수 있으며, 금속 나노로드에 비해 제조공정의 용이할 수 있고, 강도 또한 금속물질에 비해 높게 제공될 수 있으므로, 상기 도전성 접합층(300)에 삽입되기에 더욱 적합한 강도를 나타낼 수 있으며, 마이크로 발광장치의 접합 특성을 더욱 향상시킬 수 있다.Accordingly, preferably, the nanorods 400 can use oxide as a material, and can be manufactured more easily than metal nanorods, and can provide higher strength than metal materials, so that the conductive bonding layer ( 300) may exhibit more suitable strength for insertion, and the bonding characteristics of the micro light emitting device may be further improved.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 발광부(200)를 나타낸 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a light emitting unit 200 according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 상기 복수의 나노로드 각각은, 나노로드의 몸체를 제공하는 나노로드 몸체부; 및 상기 나노로드 몸체부의 표면을 도포하는 금속 코팅층;을 포함할 수 있다. 상기 나노로드(400)가 산화물로 제공되는 경우 상기 나노로드(400)는 전극부 사이의 전기적 연결을 제공하기에 부족한 전기 전도도를 나타낼 수 있으며, 이에, 복수의 나노로드(400) 각각은 나노로드 몸체부(410)와 상기 나노로드 몸체부(410)의 표면에 전도성의 금속물질을 도포한 금속 코팅층(420)이 제공되어 충분한 전도성이 제공될 수 있으며, 전기적 접속의 신뢰성 향상과 충분한 강도 및 제조의 용이성이 제공될 수 있다. Referring to FIG. 4 , each of the plurality of nanorods may include a nanorod body providing a body of the nanorod; and a metal coating layer for coating the surface of the nanorod body. When the nanorods 400 are provided as an oxide, the nanorods 400 may exhibit insufficient electrical conductivity to provide an electrical connection between the electrode parts, and thus, each of the plurality of nanorods 400 is a nanorod 400 . A metal coating layer 420 coated with a conductive metal material is provided on the body portion 410 and the surface of the nanorod body portion 410 so that sufficient conductivity can be provided. The ease of can be provided.

한편, 상기 복수의 나노로드(400)가 제공되는 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중 어느 하나의 전극부 상에 형성되어, 상기 복수의 나노로드(400)의 핵생성 위치를 제공하는 시드층(500)을 더 포함할 수 있다.On the other hand, the plurality of nanorods 400 are formed on any one of the first electrode part 120 or the second electrode part 220 provided with the plurality of nanorods 400 . It may further include a seed layer 500 providing a nucleation site.

이와 같이 상기 나노로드(400)를 제공하기 위해서는 상기 전극부 상에 예를 들어, 수열합성법으로 나노로드(400)를 형성시킬 수 있다. 이때, 상기 전극부는 일반적으로 Au(금) 등의 금속일 수 있고, 상기 나노로드(400)는 도전성 산화물일 수 있으므로, 이러한 이종 물질 간의 비 친밀성에 의해 상기 나노로드(400)가 상기 전극부의 상에 형성되기 어려울 수 있다.In order to provide the nanorods 400 as described above, the nanorods 400 may be formed on the electrode part by, for example, a hydrothermal synthesis method. In this case, since the electrode part may be generally a metal such as Au (gold), and the nanorod 400 may be a conductive oxide, the nanorod 400 may be formed on the electrode part due to intimacy between these dissimilar materials. may be difficult to form in

따라서, 전극부와 나노로드 사이의 친밀성을 높히기 위해, 상기 나노로드(400)와 동종의 금속물질을 포함하는 도전성 금속산화물 또는 금속물질로 이루어진 시드층(500)을 제공하며, 상기 시드층(500) 상에 나노로드 핵(400`)이 흡착되어 상기 나노로드(400)를 생성할 수 있는 핵생성 위치를 제공할 수 있다. 여기서 상기 나노로드와 동종의 금속물질을 포함하는 도전성 금속산화물 시드층(500)은 예를 들어, 상기 나노로드(400)가 금속물질인 Zn을 포함하는 ZnO로 제공될 경우, 동일한 금속물질인 Zn을 포함하는 AZO(Al-Zn 산화물)로 제공될 수 있으나, 이에 특별히 한정하지 않는다.Accordingly, in order to increase the intimacy between the electrode part and the nanorods, a seed layer 500 made of a conductive metal oxide or a metal material including the same metal material as the nanorods 400 is provided, and the seed layer ( The nanorod nuclei 400 ′ may be adsorbed on 500 ) to provide a nucleation location capable of generating the nanorods 400 . Here, the conductive metal oxide seed layer 500 including the metal material of the same kind as the nanorods is, for example, when the nanorods 400 are provided as ZnO including the metal material Zn, the same metal material Zn It may be provided as AZO (Al-Zn oxide) containing, but is not particularly limited thereto.

이때, 상기 복수의 나노로드(400)가 제공되는 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중 어느 하나의 전극부 상에 제공되어, 상기 복수의 나노로드(400)의 형성면을 정의하는 커버층(600)을 더 포함할 수 있다. 상기 나노로드(400)가 상기 시드층(500) 상에 제공될 때, 상기 시드층(500)이 아닌 다른 면 상에도 나노로드의 핵(400`)이 제공될 수 있으며, 이에, 필요로 하지 않는 곳에도 상기 나노로드(400)가 제공되며, 같은 층에 제공되는 인접한 전극부와 전기적으로 연결되며 오류가 발생할 수 있다.At this time, the plurality of nanorods 400 are provided on any one of the first electrode part 120 and the second electrode part 220 to which the plurality of nanorods 400 are provided. A cover layer 600 defining a formation surface may be further included. When the nanorods 400 are provided on the seed layer 500 , the nuclei 400 ′ of the nanorods may be provided on a surface other than the seed layer 500 , and thus, it is not required. The nanorods 400 are provided even where they are not, and are electrically connected to the adjacent electrode units provided on the same layer, and errors may occur.

그러므로, 원하는 곳에만 상기 나노로드(400)를 제공할 수 있도록, 전극부에 상기 나노로드(400)와 비 친밀성을 나타낼 수 있도록 상기 나노로드에 포함되는 금속물질과 동일하지 않은 금속물질로 이루어진 커버층(600)을 상기 나노로드(400)를 형성하고자 하는 형성면의 가장자리를 둘러싸며 제공함으로써 상기 형성면을 정의할 수 있다. 커버층(600)은 예를 들어, SiO2 등을 사용할 수 있으나, 특별히 한정하지 않는다.Therefore, a cover made of a metal material that is not the same as the metal material included in the nanorod so as to provide the nanorods 400 only where desired and to exhibit intimacy with the nanorods 400 in the electrode part. The formation surface may be defined by providing the layer 600 surrounding the edge of the formation surface on which the nanorods 400 are to be formed. The cover layer 600 may be, for example, SiO 2 , but is not particularly limited.

또한, 상기 커버층(600)은 상기 도전성인 나노로드(400)와의 비 친밀성을 나타내는 물질이므로 즉 절연체일 수 있고, 이에, 상기 전극부와 인접한 다른 전극부 사이에 제공됨으로써 절연체 역할을 수행할 수 있으며, 전기적 접속을 더욱 안정적으로 제공할 수 있다.In addition, since the cover layer 600 is a material that exhibits intimacy with the conductive nanorods 400, it may be an insulator, and thus, it is provided between the electrode part and other adjacent electrode parts to serve as an insulator. and it is possible to provide a more stable electrical connection.

한편, 상기 도전성 접합층(300)은 땜납물질 또는 액체금속으로 이루어질 수 있다. 상기 도전성 접합층(300)은 상기 전극부 사이의 전기적으로 접속시킬 수 있어야 하므로, 높은 도전성을 나타낼 수 있는 금속물질을 사용해야 하며, 솔더링할 수 있도록 무른 성질을 나타내는 금속물질을 사용해야 할 수 있다. 예를 들어, Sn, Ag, Cu, In, Pb 중 하나라도 포함하는 물질 등을 사용할 수 있다.Meanwhile, the conductive bonding layer 300 may be made of a solder material or a liquid metal. Since the conductive bonding layer 300 must be able to electrically connect the electrodes, a metal material capable of exhibiting high conductivity must be used, and a metal material having a soft property for soldering may be used. For example, a material including at least one of Sn, Ag, Cu, In, and Pb may be used.

이때, 상기 도전성 접합층(300)은 Sn을 포함하는 땜납물질로 이루어질 수 있다. 더욱 바람직하게는 상기 도전성 접합층(300)은 Sn(주석)을 포함하면서 Au(금) 또는 Ag(은)를 포함하는 물질로 이루어질 수 있다. 전기전도성이 높고 안정한 물질로 땜납물질에 사용될 수 있는 Au(금) 또는 Ag(은) 등의 금속물질에 Sn을 첨가하면 합금의 녹는점이 낮아지고 주조성이 좋아져 단단하면서도 가공하기 쉬워질 수 있다. 이에, 상기 도전성 접합층(300)은 Sn을 포함하며, 회로부(100)와 발광부(200)를 플립칩 본딩하기 위한 솔더링 공정에서 더욱 우수한 가공성을 나타낼 수 있고, 마이크로 발광장치의 수율을 더욱 향상시킬 수 있다.In this case, the conductive bonding layer 300 may be made of a solder material including Sn. More preferably, the conductive bonding layer 300 may be made of a material including Au (gold) or Ag (silver) while including Sn (tin). When Sn is added to a metal material such as Au (gold) or Ag (silver) that can be used as a solder material as a material with high electrical conductivity and stability, the melting point of the alloy is lowered and castability is improved, making it hard and easy to process. Accordingly, the conductive bonding layer 300 includes Sn, and can exhibit better workability in a soldering process for flip-chip bonding the circuit unit 100 and the light emitting unit 200, and further improve the yield of the micro light emitting device. can do it

이때, 상기 도전성 접합층(300)은 Ga를 포함하는 액체금속으로 이루어질 수 있다. 플립칩 본딩을 위한 솔더링의 도전성 접합층(300)의 재료로 사용되는 금속물질로, 액체금속은 사용온도에서 액체상태로 존재하며, 고온에서 성형이 자유롭고 강도 대비 두께가 얇아 다양한 분야에 적용할 수 있는 액체금속이 제시될 수 있다. 이에, 더욱 바람직하게는 충분한 전도성과 적합한 무르기를 나타낼 수 있도록 액체금속 중에서도 예를 들어, 갈륨-인듐의 공정합금 또는 갈륨-인듐-주석의 공정합금 등이 사용될 수 있고, 플립칩 본딩의 접합성을 향상시킬 수 있으며 상기 복수의 나노로드(400)가 삽입될 수 있는 적절한 무르기를 나타낼 수 있으므로, 마이크로 발광장치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.In this case, the conductive bonding layer 300 may be made of a liquid metal containing Ga. A metal material used as a material for the conductive bonding layer 300 of soldering for flip-chip bonding. Liquid metal exists in a liquid state at the operating temperature, and is free to form at high temperatures and has a thin thickness compared to strength, so it can be applied to various fields. Liquid metals may be presented. Accordingly, more preferably, among liquid metals, eutectic alloy of gallium-indium or eutectic alloy of gallium-indium-tin may be used, and the bonding property of flip-chip bonding is improved so as to more preferably exhibit sufficient conductivity and suitable softness. Since it can exhibit an appropriate softness into which the plurality of nanorods 400 can be inserted, the reliability of the micro light emitting device can be improved.

상기 발광부(200)는 상기 반도체 적층구조물(210)에 적층면을 제공하는 기판(230)을 더 구비할 수 있다. 이때, 기판(230)은 반도체 적층구조물(210)이 성장하며 적층될 수 있는 성장기판이거나, 플립칩 본딩을 위해 반도체 적층구조물(210)이 전사될 수 있도록 반도체 적층구조물(210)을 임시적으로 지지하는 임시기판일 수 있다. 이때, 임시 기판은 유리, 규소, 산화규소, PI, PET, PES 등의 다양한 유무기 소재로 조성될 수 있다. 상기 성장기판 및 임시기판은 공정과정 중에 제거될 수도 있으나, 제거되지 않아도 무방하도록 투명하게 제공될 수도 있다.The light emitting unit 200 may further include a substrate 230 providing a laminated surface to the semiconductor laminated structure 210 . In this case, the substrate 230 is a growth substrate on which the semiconductor stacked structure 210 can be grown and stacked, or the semiconductor stacked structure 210 is temporarily supported so that the semiconductor stacked structure 210 can be transferred for flip-chip bonding. It may be a temporary substrate. In this case, the temporary substrate may be made of various organic/inorganic materials such as glass, silicon, silicon oxide, PI, PET, and PES. The growth substrate and the temporary substrate may be removed during the process, but may be provided transparently so as not to be removed.

이에, 상기 성장기판은 격자정합을 이루는 반도체 단결정을 성장시키는데 적합한 기판(230)으로서, 예를 들어, 사파이어를 포함하는 투명한 재료를 이용하여 형성될 수 있는데, 사파이어 이외에도 산화아연(ZnO), 질화갈륨(GaN), 탄화규소(SiC), 질화알루미늄(AlN), 실리콘(Silicon; Si), 실리콘 산화물(Silicon Oxide) 등으로 형성될 수 있다.Accordingly, the growth substrate is a substrate 230 suitable for growing a semiconductor single crystal having lattice matching, and may be formed using, for example, a transparent material including sapphire. In addition to sapphire, zinc oxide (ZnO), gallium nitride, It may be formed of (GaN), silicon carbide (SiC), aluminum nitride (AlN), silicon (Si), silicon oxide (Silicon Oxide), or the like.

이때, 상기 성장기판 상에 선택적으로 제거될 수 있는 희생층을 형성하고, 형성된 희생층 상에 반도체 적층구조물(210)을 적층한 후에, 상기 희생층을 제거하여 상기 성장기판과 상기 반도체 적층구조물(210)을 분리시킬 수도 있다. 이에, 발광부(200)는 더욱 소형화될 수 있으며, 반도체 적층구조물(210)로부터 발광한 빛을 더욱 효과적으로 외부로 전달할 수 있다. 여기서, 희생층은 용매, 열 또는 광 에너지를 이용하여 제거 가능한 유기물질로 조성되는 층으로서, 물리적으로는 열 및 광 에너지를 이용하여 제거될 수 있는 다양한 물질이 사용될 수 있다.In this case, a selectively removable sacrificial layer is formed on the growth substrate and the semiconductor laminate structure 210 is stacked on the formed sacrificial layer, and then the sacrificial layer is removed to form the growth substrate and the semiconductor laminate structure ( 210) may be separated. Accordingly, the light emitting unit 200 may be further miniaturized, and the light emitted from the semiconductor stacked structure 210 may be more effectively transmitted to the outside. Here, the sacrificial layer is a layer composed of an organic material that can be removed using a solvent, heat, or light energy, and various materials that can be physically removed using heat and light energy may be used.

그리고, 상기 스위칭소자(110)는 이차원적으로 배열되도록 복수개 제공되고, 상기 반도체 적층구조물(210)은 복수개의 상기 스위칭소자(110)에 대응하여, 이차원적으로 배열되도록 복수개 제공되어 마이크로 엘이디 어레이를 이루며, 복수개의 상기 반도체 적층구조물(210) 각각은, 대응하는 스위칭소자(110)에 의해 개별적으로 점멸될 수 있는 마이크로 엘이디 어레이의 발광셀일 수 있다.In addition, a plurality of the switching elements 110 are provided to be two-dimensionally arranged, and the semiconductor stacked structure 210 is provided in plurality to be two-dimensionally arranged to correspond to the plurality of the switching elements 110 to form a micro LED array. Each of the plurality of semiconductor stack structures 210 may be light emitting cells of a micro LED array that can be individually flickered by a corresponding switching device 110 .

본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치는 복수개의 스위칭소자(110) 및 복수개의 반도체 적층구조물(210)이 이차원적으로 배열되어 각각의 어레이를 이루고 각각 개별적으로 연결된 마이크로 어레이 발광장치일 수 있다. 이러한 마이크로 엘이디 어레이에서는 하나의 반도체 적층구조물(210)이 하나의 발광셀로서 기능할 수 있고, 복수개의 스위칭소자(110)에 의해 개별적으로 점멸됨에 따라 원하는 발광 패턴을 형성할 수 있다.The micro light emitting device according to the embodiment of the present invention may be a micro array light emitting device in which a plurality of switching elements 110 and a plurality of semiconductor stack structures 210 are two-dimensionally arranged to form respective arrays and are individually connected to each other. In such a micro LED array, one semiconductor stacked structure 210 can function as one light emitting cell, and a desired light emitting pattern can be formed by individually flickering by the plurality of switching elements 110 .

특히 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치에서는 복수개의 스위칭소자(110) 및 복수개의 반도체 적층구조물(210) 사이에 복수의 나노로드(400)를 추가적으로 더 제공함으로써, 복수개의 스위칭소자(110) 및 복수개의 반도체 적층구조물(210)이 각각 복수개 제공되는 도전성 접합층(300)에 의해 접합되고, 제1 전극부(120) 또는 제2 전극부(220) 중 어느 하나의 전극부 상에 형성되어 상기 도전성 접합층(300)에 삽입되는 복수의 나노로드(400)를 제공하여, 각각의 도전성 접합층(300)의 접합 특성을 더욱 향상시킬 수 있다. In particular, in the micro light emitting device according to an embodiment of the present invention, by additionally providing a plurality of nanorods 400 between the plurality of switching devices 110 and the plurality of semiconductor stack structures 210, the plurality of switching devices 110 and a plurality of semiconductor laminate structures 210 are joined by a plurality of conductive bonding layers 300 provided, respectively, and are formed on any one electrode portion of the first electrode portion 120 or the second electrode portion 220 , By providing a plurality of nanorods 400 inserted into the conductive bonding layer 300 , bonding characteristics of each conductive bonding layer 300 may be further improved.

그리고, 복수개 제공되는 상기 복수개의 스위칭소자(110) 및 복수개의 반도체 적층구조물(210) 사이의 접합 특성을 향상시키기 위해 복수개의 도전성 접합층(400) 각각을 제어하지 않고도, 각각의 제1 전극부(120) 또는 제2 전극부(220) 중 어느 하나의 전극부 상에 복수의 나노로드(400)를 각각 제공하며, 상기 복수개의 스위칭소자(110) 및 복수개의 반도체 적층구조물(210) 사이의 접합 특성을 일괄적으로 향상시킬 수 있도록 제공함으로써 더욱 편리한 제조방법으로 접합 특성이 향상된 마이크로 발광장치를 제공할 수 있다.In order to improve bonding characteristics between the plurality of switching devices 110 and the plurality of semiconductor stack structures 210 provided in plurality, each of the first electrode units does not need to be controlled for each of the plurality of conductive bonding layers 400 . A plurality of nanorods 400 are respectively provided on any one electrode part of the 120 or the second electrode part 220 , and between the plurality of switching elements 110 and the plurality of semiconductor stack structures 210 . By providing such that bonding characteristics can be improved at once, it is possible to provide a micro light emitting device with improved bonding characteristics through a more convenient manufacturing method.

여기서 마이크로 어레이된 복수개의 발광셀, 즉, 복수개의 반도체 적층구조물(210) 각각은, 예를 들어, n형 반도체층(211)이 각각 존재하며, 각 단위 반도체 적층 구조물(210)을 전기적으로 분리할 수 있게 되어, 효율적인 전류 주입을 통한 우수한 전기적 특성 및 균일한 발광을 얻을 수 있다. 또는, 하나의 단에 나열배치된 복수개의 반도체 적층구조물(210)이 하나의 n형 반도체층(211)을 공유하며 반도체 적층구조물(210) 간의 간격을 최소화할 수도 있으나, 이에 특별히 한정하지 않는다.Here, in each of the plurality of microarrayed light emitting cells, that is, each of the plurality of semiconductor stacked structures 210 , for example, an n-type semiconductor layer 211 is present, respectively, and each unit semiconductor stacked structure 210 is electrically separated from each other. Thus, excellent electrical properties and uniform light emission can be obtained through efficient current injection. Alternatively, the plurality of semiconductor stacked structures 210 arranged in a row at one stage may share one n-type semiconductor layer 211 and minimize the spacing between the semiconductor stacked structures 210 , but is not particularly limited thereto.

본 발명의 다른 실시예에 따른 마이크로 발광장치 제조방법은, 선택적으로 전기신호를 전달하는 스위칭소자(110)와, 상기 스위칭소자(110)와 전기적으로 연결되는 제1 전극부(120)를 구비하는 회로부(100)를 준비하는 과정; n형 반도체층(211), 활성층(212), p형 반도체층(213)을 포함하는 반도체 적층구조물(210)과, 상기 반도체 적층구조물(210)과 전기적으로 연결되는 제2 전극부(220)를 구비하는 발광부(200)를 준비하는 과정; 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중에 선택된 어느 하나의 전극부 상에 도전성 접합층(300)을 형성하는 과정; 상기 제1 전극부(120)와 상기 제2 전극부(220) 중에 선택되지 않은 나머지 하나의 전극부 상에 복수의 나노로드(400)를 형성하는 과정;을 포함할 수 있다.A method for manufacturing a micro light emitting device according to another embodiment of the present invention includes a switching device 110 for selectively transmitting an electrical signal, and a first electrode unit 120 electrically connected to the switching device 110 . The process of preparing the circuit unit 100; A semiconductor stacked structure 210 including an n-type semiconductor layer 211 , an active layer 212 , and a p-type semiconductor layer 213 , and a second electrode part 220 electrically connected to the semiconductor stacked structure 210 . The process of preparing the light emitting unit 200 having a; forming a conductive bonding layer 300 on any one of the first electrode part 120 and the second electrode part 220; and forming a plurality of nanorods 400 on the remaining one of the first electrode part 120 and the second electrode part 220 that is not selected.

그리고, 상기 제1 전극부(120)와 상기 제2 전극부(220)가 서로 대향하도록 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200)를 정렬시키는 과정; 및 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200) 사이의 간격을 좁혀, 상기 복수의 나노로드(400)를 적어도 부분적으로 상기 도전성 접합층(300)에 삽입시키는 과정;을 포함할 수 있다.and aligning the circuit part 100 and the light emitting part 200 so that the first electrode part 120 and the second electrode part 220 face each other; and narrowing the gap between the circuit part 100 and the light emitting part 200 to at least partially insert the plurality of nanorods 400 into the conductive bonding layer 300 .

본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치는 선택적으로 전기신호를 전달하는 스위칭소자(110)와, 상기 스위칭소자(110)와 전기적으로 연결되는 제1 전극부(120)를 구비하는 회로부(100), n형 반도체층(211), 활성층(212), p형 반도체층(213)을 포함하는 반도체 적층구조물(210)과, 상기 반도체 적층구조물(210)과 전기적으로 연결되는 제2 전극부(220)를 구비하는 발광부(200), 상기 제1 전극부(120)와 상기 제2 전극부(220)의 사이에 제공되는 도전성 접합층(300)을 포함할 수 있다. A micro light emitting device according to an embodiment of the present invention includes a circuit unit 100 including a switching element 110 selectively transmitting an electric signal, and a first electrode unit 120 electrically connected to the switching element 110 . , an n-type semiconductor layer 211 , an active layer 212 , and a semiconductor stacked structure 210 including a p-type semiconductor layer 213 , and a second electrode part 220 electrically connected to the semiconductor stacked structure 210 . ) and a conductive bonding layer 300 provided between the first electrode part 120 and the second electrode part 220 .

그리고, 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중 어느 하나의 전극부 상에 제공되어, 상기 도전성 접합층(300)에 적어도 부분적으로 삽입되는 복수의 나노로드(400)를 포함할 수 있다.In addition, a plurality of nanorods 400 are provided on any one of the first electrode part 120 and the second electrode part 220 and are at least partially inserted into the conductive bonding layer 300 . may include

이후 설명할 내용 중, 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치를 설명하면서, 앞서 설명한 내용과 중복되는 내용은 생략될 수 있다.Among the content to be described later, while describing the micro light emitting device according to the embodiment of the present invention, content overlapping with the content described above may be omitted.

상기 회로부(100)를 준비하는 과정 및 발광부(200)를 준비하는 과정은 예를 들어, 화학기상 증착법 및 전자빔 증착법과 같은 공지의 증착방법 또는 스퍼터링 등의 공정에 의해 형성될 수 있다. 여기서, 리프트 오프방식이란 포토레지스트(PR)를 도포하고 증착 영역에 스폿 모양의 자외선을 조사하여 현상함으로써 포토레지스트(PR)를 제거한 후에 크롬 등의 증착막(또는 차광막)을 증착하여 포토레지스트(PR)와 함께 비증착 영역의 증착막(예를 들어, 크롬, Cr 등)을 제거하는 것을 말한다. 여기서 상기 회로부(100)를 준비하는 과정 및 발광부(200)를 준비하는 과정은 반드시 순차적으로 이루어져야 하는 것은 아니며, 동시에 수행되더라도 무방하다.The process of preparing the circuit part 100 and the process of preparing the light emitting part 200 may be formed by, for example, a known deposition method such as chemical vapor deposition and electron beam deposition, or a process such as sputtering. Here, the lift-off method is to remove the photoresist (PR) by applying photoresist (PR), irradiating spot-shaped ultraviolet rays to the deposition area, and developing the photoresist (PR) by depositing a deposition film (or light-shielding film) such as chromium. together with the removal of the deposited film (eg, chromium, Cr, etc.) in the non-deposition area. Here, the process of preparing the circuit part 100 and the process of preparing the light emitting part 200 do not necessarily have to be sequentially performed, and may be performed simultaneously.

상기 도전성 접합층(300)을 형성하는 과정은 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중 어느 하나의 전극부 상에, 예를 들어, 땜납물질 등의 Melt에 의해 이루어진 도전성 범프층을 제공하고 그 후 상기 도전성 범프층을 가열 또는 가압하는 솔더링에 의해 상기 도전성 접합층(300)이 형성될 수 있다.The process of forming the conductive bonding layer 300 is performed on one of the first electrode part 120 and the second electrode part 220 by, for example, melt of a solder material. The conductive bonding layer 300 may be formed by providing a conductive bump layer and then soldering to heat or pressurize the conductive bump layer.

복수의 나노로드(400)를 형성하는 과정 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중 나머지 하나의 전극부 상에 나노로드의 핵(400`)을 흡착시키고, 예를 들어, 수열합성법 등에 의해 상기 나노로드 핵(400`)을 성장시키며 상기 복수의 나노로드(400)를 형성시킬 수 있다.In the process of forming the plurality of nanorods 400 , the nuclei 400 ′ of the nanorods are adsorbed on the other one of the first electrode part 120 or the second electrode part 220 , and, for example, For example, the plurality of nanorods 400 may be formed by growing the nanorod nuclei 400 ′ by a hydrothermal synthesis method or the like.

상기 회로부(100)와 상기 발광부(200)를 정렬시키는 과정은 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200)를 플립칩 본딩으로 접합할 수 있도록 정위치에 배치시키는 과정으로, 예를 들어, 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200) 각각에 제공된 얼라인 마크가 일치하도록 비젼 카메라(vision camera) 등으로 센싱하는 과정에 의해 수행될 수 있다. 이에, 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200)는 서로 대향하도록 정위치에 정렬(align)될 수 있다.The process of aligning the circuit part 100 and the light emitting part 200 is a process of arranging the circuit part 100 and the light emitting part 200 in a fixed position so that they can be bonded by flip-chip bonding, for example, It may be performed by a process of sensing with a vision camera or the like so that the alignment marks provided on each of the circuit unit 100 and the light emitting unit 200 coincide. Accordingly, the circuit unit 100 and the light emitting unit 200 may be aligned to face each other.

상기 복수의 나노로드(400)를 적어도 부분적으로 상기 도전성 접합층(300)에 삽입시키는 과정은 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200)를 플립칩 본딩으로 접합할 수 있도록 상기 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200)의 간격을 좁히는 것에 의해 상기 도전성 접합층(300)이 가압될 수 있고, 이때, 상기 도전성 접합층(300)의 접합성을 향상시키기 위해 가열이 제공될 수 있다. 이에, 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중 나머지 하나의 전극부 상에 형성된 복수의 나노로드(400)는 가압에 의해 상기 도전성 접합층(300)에 삽입될 수 있고, 상기 도전성 접합층(300)과 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 사이의 접합성을 더욱 향상시킬 수 있다.In the process of at least partially inserting the plurality of nanorods 400 into the conductive bonding layer 300 , the circuit unit 100 may be bonded to the circuit unit 100 and the light emitting unit 200 by flip-chip bonding. ) and the conductive bonding layer 300 may be pressed by narrowing the gap between the light emitting part 200 , and in this case, heating may be provided to improve bonding properties of the conductive bonding layer 300 . Accordingly, the plurality of nanorods 400 formed on the other one of the first electrode part 120 or the second electrode part 220 may be inserted into the conductive bonding layer 300 by pressing. In addition, the bonding property between the conductive bonding layer 300 and the first electrode unit 120 or the second electrode unit 220 may be further improved.

이때, 상기 복수의 나노로드(400)를 적어도 부분적으로 상기 도전성 접합층(300)에 삽입시키는 과정에서, 상기 도전성 접합층을 가압하는 과정과 상기 복수의 나노로드를 상기 도전성 접합층에 삽입시키는 과정은 반드시 시계열적으로 이루어져야 하는 것은 아니며, 동시에 수행되더라도 무방하다.At this time, in the process of at least partially inserting the plurality of nanorods 400 into the conductive bonding layer 300 , the process of pressing the conductive bonding layer and the process of inserting the plurality of nanorods into the conductive bonding layer does not necessarily have to be performed in time series, and may be performed simultaneously.

또한, 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200) 사이에, 상기 도전성 접합층(300)이 제공되지 못한 간극이 발생하더라도, 상기 간극을 보상할 수 있도록 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중 어느 하나의 전극부 상에 복수의 나노로드(400)를 제공함으로써, 복수의 나노로드(400)에 의해 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200) 사이의 전기적 연결이 유지될 수 있고, 상기 회로부(100)와 상기 발광부(200) 사이의 전기적 연결을 더욱 신뢰성 있게 제공할 수 있으며, 마이크로 발광장치의 품질을 더욱 향상시킬 수 있다.In addition, even if a gap occurs between the circuit part 100 and the light emitting part 200 in which the conductive bonding layer 300 is not provided, the first electrode part 120 or the first electrode part 120 or the By providing a plurality of nanorods 400 on any one electrode part of the second electrode part 220 , an electrical connection between the circuit part 100 and the light emitting part 200 is generated by the plurality of nanorods 400 . The connection can be maintained, the electrical connection between the circuit part 100 and the light emitting part 200 can be provided more reliably, and the quality of the micro light emitting device can be further improved.

도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 시드층(500) 및 커버층(600)을 사용하여 복수의 나노로드(400)를 형성하는 과정을 나타낸 도면이다.5 is a diagram illustrating a process of forming a plurality of nanorods 400 using the seed layer 500 and the cover layer 600 according to another embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 상기 복수의 나노로드(400)를 형성하는 과정은, 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중 선택되지 않은 나머지 하나의 전극부 상에 복수의 나노로드(400)의 핵생성 위치를 제공하는 시드층(500)을 형성하는 과정; 및 상기 시드층(500) 상에 복수의 나노로드(400)를 성장시키는 과정;을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 5 , in the process of forming the plurality of nanorods 400 , the plurality of nanorods 400 are formed on the other electrode part that is not selected among the first electrode part 120 and the second electrode part 220 . forming a seed layer 500 providing a nucleation location of the nanorods 400; and growing a plurality of nanorods 400 on the seed layer 500 .

이와 같이 상기 나노로드(400)를 제공하기 위해서는 상기 전극부 상에 예를 들어, 수열합성법으로 나노로드(400)를 형성시킬 수 있다. 이때, 상기 전극부는 일반적으로 Au(금) 등의 금속일 수 있고, 상기 나노로드(400)는 도전성 산화물일 수 있으므로, 이러한 이종 물질 간의 비 친밀성에 의해 상기 나노로드(400)가 상기 전극부의 상에 형성되기 어려울 수 있다.In order to provide the nanorods 400 as described above, the nanorods 400 may be formed on the electrode part by, for example, a hydrothermal synthesis method. In this case, since the electrode part may be generally a metal such as Au (gold), and the nanorod 400 may be a conductive oxide, the nanorod 400 may be formed on the electrode part due to intimacy between these dissimilar materials. may be difficult to form in

따라서, 전극부와 나노로드 사이의 친밀성을 높히기 위해, 상기 나노로드(400)와 동종의 금속물질을 포함하는 시드층(500)을 제공하며, 상기 시드층(500) 상에 나노로드 핵(400`)이 흡착되어 상기 나노로드(400)를 생성할 수 있는 핵생성 위치를 제공할 수 있다. 여기서 상기 나노로드와 동종의 금속물질을 포함하는 시드층(500)은 예를 들어, 상기 나노로드(400)가 ZnO로 제공될 경우, AZO(Al-Zn 산화물)의 물질로 제공될 수 있으나, 이에 특별히 한정하지 않는다.Therefore, in order to increase the intimacy between the electrode part and the nanorods, a seed layer 500 including a metal material of the same kind as the nanorods 400 is provided, and the nanorod nuclei ( 400 ′) may be adsorbed to provide a nucleation site capable of generating the nanorods 400 . Here, the seed layer 500 including a metal material of the same kind as the nanorods may be provided as a material of AZO (Al-Zn oxide), for example, when the nanorods 400 are provided as ZnO, This is not particularly limited.

상기 복수의 나노로드(400)를 형성하는 과정은, 상기 제1 전극부(120) 또는 상기 제2 전극부(220) 중 선택되지 않은 나머지 하나의 전극부 상에 부분적으로 제공되어, 복수의 나노로드(400)의 형성면을 정의하는 커버층(600)을 형성하는 과정; 및 상기 형성면에 복수의 나노로드(400)를 성장시키는 과정;을 포함할 수 있다.The process of forming the plurality of nanorods 400 is partially provided on the remaining one electrode part that is not selected among the first electrode part 120 or the second electrode part 220, so that the plurality of nanorods 400 is formed. forming a cover layer 600 defining a formation surface of the rod 400; and growing a plurality of nanorods 400 on the formation surface.

상기 나노로드(400)가 상기 시드층(500) 상에 제공될 때, 상기 시드층(500)이 아닌 다른 면 상에도 나노로드 핵(400`)이 제공될 수 있으며, 이에, 필요로 하지않는 곳에도 상기 나노로드(400)가 제공되며, 같은 층에 제공되는 인접한 전극부와 전기적으로 연결되며 오류가 발생할 수 있다. 이에, 원하는 곳에만 상기 나노로드(400)를 제공할 수 있도록, 전극부에 상기 나노로드(400)와 이종인 물질로 이루어진 커버층(600)을 제공함으로써 상기 형성면을 정의할 수 있다. 예를 들어, SiO2 등을 사용할 수 있으나, 특별히 한정하지 않는다.When the nanorods 400 are provided on the seed layer 500 , the nanorod nuclei 400 ′ may be provided on a surface other than the seed layer 500 . The nanorods 400 are also provided there, and they are electrically connected to the adjacent electrode units provided on the same layer, and errors may occur. Accordingly, the formation surface may be defined by providing a cover layer 600 made of a material different from that of the nanorods 400 in the electrode part so that the nanorods 400 can be provided only where desired. For example, SiO 2 etc. can be used, but is not particularly limited.

이에, 원하는 곳에만 상기 나노로드(400)를 제공할 수 있도록, 전극부에 상기 나노로드(400)와 비 친밀성을 나타낼 수 있도록 상기 나노로드에 포함되는 금속물질과 상이한 물질로 이루어진 커버층(600)을 상기 나노로드(400)를 형성하고자 하는 형성면의 가장자리를 둘러싸며 제공함으로써 상기 형성면을 정의할 수 있다. 커버층(600)은 예를 들어, SiO2 등을 사용할 수 있으나, 특별히 한정하지 않는다.Accordingly, the cover layer 600 made of a material different from the metal material included in the nanorods so as to provide the nanorods 400 only where desired, and to exhibit intimacy with the nanorods 400 in the electrode part. ) to surround the edge of the formation surface on which the nanorods 400 are to be formed, thereby defining the formation surface. The cover layer 600 may be, for example, SiO 2 , but is not particularly limited.

또한, 상기 커버층(600)은 상기 도전성인 나노로드(400)와의 비 친밀성을 나타내는 물질이므로 즉 절연체일 수 있고, 이에, 상기 전극부와 인접한 다른 전극부 사이에 제공됨으로써 절연체 역할을 수행할 수 있으며, 전기적 접속을 더욱 안정적으로 제공할 수 있다.In addition, since the cover layer 600 is a material that exhibits intimacy with the conductive nanorods 400, it may be an insulator, and thus, it is provided between the electrode part and other adjacent electrode parts to serve as an insulator. and it is possible to provide a more stable electrical connection.

상기 복수의 나노로드(400)를 형성하는 과정 동안에, 상기 복수의 나노로드(400) 각각은, 상기 나머지 하나의 전극부 상에서 전방으로 연장되며, 직경보다 길이가 더 긴 막대형상으로 형성될 수 있다. 상기 나노로드(400)는 직경이 작을수록 단위면적 당 가해지는 응력이 높아지며 상기 도전성 접합층(300)에 삽입되기 용이할 수 있다. 하지만 상기 나노로드(400)의 직경이 너무 작아질 경우 나노로드(400)는 가해지는 하중을 버티기 어려워질 수 있고, 이에 상기 도전성 접합층(300)에 삽입되기 어려워질 수 있다. 또한 상기 나노로드(400)는 전기적 접속을 위해 전자를 전달할 수 있어야 하므로 직경이 너무 얇게 제공되면 이러한 전자의 전달 기능을 수행하기 어려워질 수 있다.During the process of forming the plurality of nanorods 400 , each of the plurality of nanorods 400 may be formed in a rod shape extending forward on the other electrode part and having a length longer than a diameter. . The smaller the diameter of the nanorods 400 is, the higher the stress applied per unit area, and the easier it is to be inserted into the conductive bonding layer 300 . However, when the diameter of the nanorods 400 is too small, it may be difficult for the nanorods 400 to withstand the applied load, which may make it difficult to be inserted into the conductive bonding layer 300 . In addition, since the nanorods 400 must be able to transfer electrons for electrical connection, if the diameter is too thin, it may be difficult to perform the electron transfer function.

이때, 상기 복수의 나노로드(400)가 전극부 상에서 전방으로 연장된다는 것의 의미는 상기 전극부의 일표면을 가로지르는 어느 일방향을 따라 상기 나노로드(400)가 연장되는 것을 의미하는 것은 아니며, 상기 나노로드(400)는 바람직하게는 상기 전극부의 상에서 상방향으로 성장할 수 있으나, 모두 동일한 방향으로 성장하지 않을 수 있음을 고려하여 전방으로 연장된다고 기재한 것으로 이에 상기 복수의 나노로드(400)가 성장하는 방향은 일부 차이가 있더라도 유사한 범위내에서는 동일한 것으로 간주될 수 있다.In this case, the meaning that the plurality of nanorods 400 extend forward on the electrode part does not mean that the nanorods 400 extend along any one direction crossing one surface of the electrode part, and the nanorods 400 are extended forward. The rod 400 may preferably grow upward on the electrode part, but considering that they may not all grow in the same direction, it is described as extending forward. Although there are some differences, the directions may be regarded as the same within a similar range.

그리고, 상기 복수의 나노로드(400)를 형성하는 과정 동안에, 단위평면적 당 상기 복수의 나노로드(400)의 유효 평면적 밀도는 0%보다는 크고 80% 이하일 수 있다. 이때, 상기 복수의 나노로드(400)는 전체면적에서 유효 면적이 너무 증가할 경우, 즉, 상기 복수의 나노로드(400)의 단면에서의 밀도가 80%보다 높으면 상기 나노로드(400)는 하나의 벌크(Bulk)와 같은 상태가 되어 각각이 독립적으로 작용하기 어려울 수 있다. 반면, 상기 나노로드(400)가 너무 적게 제공될 경우 전기 전도성이 필요량보다 부족해질 수 있다.In addition, during the process of forming the plurality of nanorods 400 , the effective planar density of the plurality of nanorods 400 per unit area may be greater than 0% and less than or equal to 80%. At this time, when the effective area of the plurality of nanorods 400 in the total area increases too much, that is, if the density in the cross section of the plurality of nanorods 400 is higher than 80%, the nanorods 400 are one It may be difficult to act independently of each other because it is in the same state as the bulk of On the other hand, when too little of the nanorods 400 are provided, electrical conductivity may be insufficient than a required amount.

이에, 상기 나노로드(400)의 유효면적밀도는 바람직하게는 80 % 이하일 수 있고, 더욱 바람직하게는 10 % 내지 50 %를 나타낼 수 있다. 이에, 상기 복수의 나노로드(400) 각각이 독립적으로 기능할 수 있으며, 상기 도전성 접합층(300)에 용이하게 삽입될 수 있고, 전극간의 전기적 접속을 위해 필요한 전기 전도성을 충분히 제공할 수 있음으로서 접속의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.Accordingly, the effective areal density of the nanorods 400 may be preferably 80% or less, and more preferably 10% to 50%. Accordingly, each of the plurality of nanorods 400 can function independently, can be easily inserted into the conductive bonding layer 300, and can sufficiently provide electrical conductivity necessary for electrical connection between electrodes. The reliability of the connection can be improved.

여기서, 상기 평면적이란 앞서 설명한 내용과 같이, 상기 복수의 나노로드(400)를 상면에서 바라본 평면도에서의 면적을 말하는 것이며, 단위 평면적이란 상기 평면적을 단위적으로 나타낸 것으로, 이때, 상기 단위 평면적에서 상기 복수의 나노로드(400)가 차지하는 총 면적이 유효단위 평면적이다.Here, the planar area refers to the area in a plan view of the plurality of nanorods 400 viewed from the top as described above, and the unit planar area represents the planar area as a unit. The total area occupied by the plurality of nanorods 400 is an effective unit planar area.

상기 복수의 나노로드(400)를 형성하는 과정은, 상기 복수의 나노로드(400) 각각의 표면을 도포하는 금속 코팅층(410)을 상기 복수의 나노로드(400) 각각에 코팅하는 과정;을 포함할 수 있다. 상기 나노로드(400)가 산화물로 제공되는 경우 상기 나노로드(400)는 전극부 사이의 전기적 연결을 제공하기에 부족한 전기 전도도를 나타낼 수 있으며, 이에, 상기 나노로드(400)부는 표면에 전도성의 금속물질을 도포하여 충분한 전도성이 제공될 수 있으며, 전기적 접속의 신뢰성 향상과 충분한 강도 및 제조의 용이성이 제공될 수 있다. The process of forming the plurality of nanorods 400 includes a process of coating a metal coating layer 410 for applying a surface of each of the plurality of nanorods 400 to each of the plurality of nanorods 400 ; can do. When the nanorods 400 are provided as oxides, the nanorods 400 may exhibit insufficient electrical conductivity to provide an electrical connection between the electrode parts. Sufficient conductivity may be provided by applying a metallic material, and reliability improvement of electrical connection, sufficient strength, and ease of manufacture may be provided.

본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치 제조 방법에 의해 제조된 마이크로 발광장치는, 상기 스위칭소자(110)는 이차원적으로 배열되도록 복수개가 제공되고, 상기 반도체 적층구조물(210)는 복수개의 상기 스위칭소자(110)에 대응하여, 이차원적으로 배열되도록 복수개 제공되어 마이크로 엘이디 어레이를 이루며, 복수개의 상기 반도체 적층구조물(210) 각각은, 대응하는 스위칭소자(110)에 의해 개별적으로 점멸될 수 있는 마이크로 엘이디 어레이의 발광셀일 수 있다. In the micro light emitting device manufactured by the method of manufacturing a micro light emitting device according to an embodiment of the present invention, a plurality of the switching elements 110 are provided so as to be two-dimensionally arranged, and the semiconductor laminate structure 210 includes a plurality of the switching elements. Corresponding to the device 110, a plurality of are provided to be two-dimensionally arranged to form a micro LED array, and each of the plurality of semiconductor stack structures 210 is a micro that can be individually flickered by a corresponding switching device 110. It may be a light emitting cell of an LED array.

상기 마이크로 발광장치는 복수개의 스위칭소자(110) 및 복수개의 반도체 적층구조물(210)이 이차원적으로 배열되어 각각의 어레이를 이루고 각각 개별적으로 연결된 마이크로 어레이 발광장치일 수 있다. 이러한 마이크로 어레이 발광장치에서는 하나의 반도체 적층구조물(210)이 하나의 발광셀로서 기능할 수 있고, 복수개의 스위칭소자(110)에 의해 개별적으로 점멸됨에 따라 원하는 발광 패턴을 형성할 수 있다.The micro light emitting device may be a micro array light emitting device in which a plurality of switching elements 110 and a plurality of semiconductor stack structures 210 are two-dimensionally arranged to form respective arrays and are individually connected to each other. In such a microarray light emitting device, one semiconductor stacked structure 210 can function as one light emitting cell, and a desired light emitting pattern can be formed by individually flickering by the plurality of switching elements 110 .

특히 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 발광장치에서는 복수개의 스위칭소자(110) 및 복수개의 반도체 적층구조물(210) 사이에 복수의 나노로드(400)를 제공함으로써, 스위칭소자(110) 및 반도체 적층구조물(210)이 복수개의 접속되고 복수개의 접속 각각에 접속 특성을 더욱 향상시킬 수 있고, 이러한 접속 특성을 복수개를 각각 제어하지 않고도 용이하게 제어하도록 제공함으로써 더욱 편리한 마이크로 발광장치 제조방법을 제공할 수 있다.In particular, in the micro light emitting device according to an embodiment of the present invention, by providing a plurality of nanorods 400 between the plurality of switching devices 110 and the plurality of semiconductor stack structures 210, the switching device 110 and the semiconductor laminate structure 210 is connected to a plurality of connections, it is possible to further improve the connection characteristics in each of the plurality of connections, and by providing such connection characteristics to be easily controlled without controlling the plurality of each, it is possible to provide a more convenient method of manufacturing a micro light emitting device .

상기 설명에서 사용한 “~ 상” 또는 “~ 하”라는 의미는 직접 접촉하는 경우와 직접 접촉하지는 않지만 상부 또는 하부에 대향하여 위치하는 경우를 포함하고, 상부면 또는 하부면 전체에 대향하여 위치하는 것뿐만 아니라 부분적으로 대향하여 위치하는 것도 가능하며, 위치상 떨어져 대향하거나 상부면 또는 하부면에 직접 접촉한다는 의미로 사용하였다.The meaning of "upper" or "below" used in the above description includes cases in direct contact and cases in which direct contact is not made, but is located opposite to the upper or lower portion, and is located opposite to the entire upper surface or lower surface Not only that, it is also possible to partially face each other, and it is used to mean that they face away from each other or directly contact the upper surface or the lower surface.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.Although preferred embodiments of the present invention have been illustrated and described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and common knowledge in the field to which the present invention pertains without departing from the gist of the present invention as claimed in the claims It will be understood by those having the above that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Accordingly, the technical protection scope of the present invention should be defined by the following claims.

100: 회로부 110: 스위칭소자
120: 제1 전극부 200: 발광부
210: 반도체 적층구조물 211: n형 반도체층
212: 활성층 213: p형 반도체층
220: 제2 전극부 230: 기판
300: 도전성 접합층 400: 나노로드
400`: 나노로드 핵 410: 나노로드 몸체부
420 : 금속 코팅층 500: 시드층
600 : 커버층 700: 언더필층
100: circuit unit 110: switching element
120: first electrode part 200: light emitting part
210: semiconductor stacked structure 211: n-type semiconductor layer
212: active layer 213: p-type semiconductor layer
220: second electrode part 230: substrate
300: conductive bonding layer 400: nanorods
400`: nanorod nucleus 410: nanorod body
420: metal coating layer 500: seed layer
600: cover layer 700: underfill layer

Claims (18)

선택적으로 전기신호를 전달하는 스위칭소자와, 상기 스위칭소자와 전기적으로 연결되는 제1 전극부를 구비하는 회로부;
n형 반도체층, 활성층, p형 반도체층을 포함하는 반도체 적층구조물과, 상기 반도체 적층구조물과 전기적으로 연결되는 제2 전극부를 구비하는 발광부;
상기 제1 전극부와 상기 제2 전극부의 사이에 제공되는 도전성 접합층; 및
상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중 어느 하나의 전극부 상에 제공되어, 상기 도전성 접합층에 적어도 부분적으로 삽입되는 복수의 나노로드;를 포함하는 마이크로 발광장치.
a circuit part having a switching element selectively transmitting an electric signal, and a first electrode part electrically connected to the switching element;
a light emitting unit having a semiconductor laminate structure including an n-type semiconductor layer, an active layer, and a p-type semiconductor layer, and a second electrode unit electrically connected to the semiconductor laminate;
a conductive bonding layer provided between the first electrode part and the second electrode part; and
and a plurality of nanorods provided on any one electrode part of the first electrode part or the second electrode part and inserted at least partially into the conductive bonding layer.
청구항 1에 있어서,
상기 복수의 나노로드 각각의 강도는 상기 도전성 접합층의 강도보다 같거나 큰 마이크로 발광장치.
The method according to claim 1,
The strength of each of the plurality of nanorods is equal to or greater than the strength of the conductive bonding layer.
청구항 1에 있어서,
상기 복수의 나노로드 각각은, 직경보다 길이가 더 긴 막대형상인 마이크로 발광장치.
The method according to claim 1,
Each of the plurality of nanorods is a micro light emitting device having a length longer than a diameter.
청구항 1에 있어서,
단위평면적 당 상기 복수의 나노로드의 유효 평면적 밀도는 0%보다는 크고 80% 이하인 마이크로 발광장치.
The method according to claim 1,
An effective planar density of the plurality of nanorods per unit area is greater than 0% and 80% or less.
청구항 1에 있어서,
상기 복수의 나노로드는 금속물질 또는 도전성 산화물로 이루어진 마이크로 발광장치.
The method according to claim 1,
The plurality of nanorods is a micro light emitting device made of a metal material or a conductive oxide.
청구항 1에 있어서,
상기 복수의 나노로드 각각은,
나노로드의 몸체를 제공하는 나노로드 몸체부; 및
상기 나노로드 몸체부의 표면을 도포하는 금속 코팅층;을 포함하는 마이크로 발광장치.
The method according to claim 1,
Each of the plurality of nanorods,
a nanorod body providing a body of the nanorod; and
A micro light emitting device comprising a; a metal coating layer for applying the surface of the nanorod body portion.
청구항 1에 있어서,
상기 복수의 나노로드가 제공되는 상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중 어느 하나의 전극부 상에 형성되어, 상기 복수의 나노로드의 핵생성 위치를 제공하는 시드층을 더 포함하는 마이크로 발광장치.
The method according to claim 1,
The micro light emission further comprising a seed layer formed on one of the first electrode part and the second electrode part to which the plurality of nanorods are provided, and providing a nucleation location of the plurality of nanorods. Device.
청구항 1에 있어서,
상기 복수의 나노로드가 제공되는 상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중 어느 하나의 전극부 상에 제공되어, 상기 복수의 나노로드의 형성면을 정의하는 커버층을 더 포함하는 마이크로 발광장치.
The method according to claim 1,
The micro light emitting device further comprising a cover layer provided on any one electrode part of the first electrode part or the second electrode part on which the plurality of nanorods are provided, and defining a surface on which the plurality of nanorods are formed. .
청구항 1에 있어서,
상기 도전성 접합층은 땜납물질 또는 액체금속으로 이루어진 마이크로 발광장치.
The method according to claim 1,
The conductive bonding layer is a micro light emitting device made of a solder material or liquid metal.
청구항 1에 있어서,
상기 발광부는 상기 반도체 적층구조물에 적층면을 제공하는 기판을 더 구비하는 마이크로 발광장치.
The method according to claim 1,
The light emitting unit further comprises a substrate providing a laminated surface to the semiconductor laminated structure.
청구항 1에 있어서,
상기 스위칭소자는 이차원적으로 배열되도록 복수개 제공되고,
상기 반도체 적층구조물은 복수개의 상기 스위칭소자에 대응하도록, 이차원적으로 배열되도록 복수개 제공되어 마이크로 엘이디 어레이를 이루며,
복수개의 상기 반도체 적층구조물 각각은, 대응하는 스위칭소자에 의해 개별적으로 점멸될 수 있는 마이크로 엘이디 어레이의 단위 발광셀인 마이크로 발광장치.
The method according to claim 1,
A plurality of the switching elements are provided to be two-dimensionally arranged,
The semiconductor stacked structure is provided in plurality to correspond to the plurality of switching elements and arranged two-dimensionally to form a micro LED array,
Each of the plurality of semiconductor laminate structures is a micro light emitting device that is a unit light emitting cell of a micro LED array that can be individually flickered by a corresponding switching element.
선택적으로 전기신호를 전달하는 스위칭소자와, 상기 스위칭소자와 전기적으로 연결되는 제1 전극부를 구비하는 회로부를 준비하는 과정;
n형 반도체층, 활성층, P형 반도체층을 포함하는 반도체 적층구조물과, 상기 반도체 적층구조물과 전기적으로 연결되는 제2 전극부를 구비하는 발광부를 준비하는 과정;
상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중에 선택된 어느 하나의 전극부 상에 도전성 접합층을 형성하는 과정;
상기 제1 전극부와 상기 제2 전극부 중에 선택되지 않은 나머지 하나의 전극부 상에 복수의 나노로드를 형성하는 과정;
상기 제1 전극부와 상기 제2 전극부가 서로 대향하도록 상기 회로부와 상기 발광부를 정렬시키는 과정; 및
상기 회로부와 상기 발광부 사이의 간격을 좁혀, 상기 복수의 나노로드를 적어도 부분적으로 상기 도전성 접합층에 삽입시키면서 상기 제1 전극부와 상기 제2 전극부를 접합시키는 과정;을 포함하는 마이크로 발광장치 제조방법.
preparing a circuit unit including a switching element selectively transmitting an electrical signal and a first electrode electrically connected to the switching element;
preparing a light emitting unit having a semiconductor laminated structure including an n-type semiconductor layer, an active layer, and a P-type semiconductor layer, and a second electrode unit electrically connected to the semiconductor laminated structure;
forming a conductive bonding layer on any one of the first electrode part and the second electrode part;
forming a plurality of nanorods on the other electrode part that is not selected among the first electrode part and the second electrode part;
aligning the circuit part and the light emitting part so that the first electrode part and the second electrode part face each other; and
manufacturing a micro-light emitting device comprising a step of narrowing a gap between the circuit part and the light emitting part and bonding the first electrode part and the second electrode part while at least partially inserting the plurality of nanorods into the conductive bonding layer Way.
청구항 12에 있어서,
상기 복수의 나노로드를 형성하는 과정은,
상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중 선택되지 않은 나머지 하나의 전극부 상에 복수의 나노로드의 핵생성 위치를 제공하는 시드층을 형성하는 과정; 및
상기 시드층 상에 복수의 나노로드를 성장시키는 과정;을 포함하는 마이크로 발광장치 제조방법.
13. The method of claim 12,
The process of forming the plurality of nanorods,
forming a seed layer providing nucleation positions of a plurality of nanorods on the remaining one of the first electrode part and the second electrode part which is not selected; and
and growing a plurality of nanorods on the seed layer.
청구항 12에 있어서,
상기 복수의 나노로드를 형성하는 과정은,
상기 제1 전극부 또는 상기 제2 전극부 중 선택되지 않은 나머지 하나의 전극부 상에 부분적으로 제공되어, 복수의 나노로드의 형성면을 정의하는 커버층을 형성하는 과정; 및
상기 형성면에 복수의 나노로드를 성장시키는 과정;을 포함하는 마이크로 발광장치 제조방법.
13. The method of claim 12,
The process of forming the plurality of nanorods,
forming a cover layer that is partially provided on the remaining one of the first electrode part and the second electrode part that is not selected among the first electrode part and the second electrode part and defines a surface for forming a plurality of nanorods; and
and growing a plurality of nanorods on the formation surface.
청구항 12에 있어서,
상기 복수의 나노로드를 형성하는 과정 동안에,
상기 복수의 나노로드 각각은, 상기 나머지 하나의 전극부 상에서 전방으로 연장되며, 직경보다 길이가 더 긴 막대형상으로 형성되는 마이크로 발광장치 제조방법.
13. The method of claim 12,
During the process of forming the plurality of nanorods,
Each of the plurality of nanorods extends forward on the other electrode part and is formed in a rod shape having a length longer than a diameter.
청구항 12에 있어서,
상기 복수의 나노로드를 형성하는 과정 동안에,
단위평면적 당 상기 복수의 나노로드의 유효 평면적 밀도는 0%보다는 크고 80% 이하인 마이크로 발광장치 제조방법.
13. The method of claim 12,
During the process of forming the plurality of nanorods,
An effective planar density of the plurality of nanorods per unit area is greater than 0% and 80% or less.
청구항 12에 있어서,
상기 복수의 나노로드를 형성하는 과정은,
상기 복수의 나노로드 각각의 표면을 도포하는 금속 코팅층을 상기 복수의 나노로드 각각에 코팅하는 과정;을 포함하는 마이크로 발광장치 제조방법.
13. The method of claim 12,
The process of forming the plurality of nanorods,
A method of manufacturing a micro light emitting device comprising a; a process of coating a metal coating layer for applying a surface of each of the plurality of nanorods to each of the plurality of nanorods.
청구항 12에 있어서,
상기 스위칭소자는 이차원적으로 배열되도록 복수개가 제공되고,
상기 반도체 적층구조물는 복수개의 상기 스위칭소자에 대응하여, 이차원적으로 배열되도록 복수개 제공되어 마이크로 엘이디 어레이를 이루며,
복수개의 상기 반도체 적층구조물 각각은, 대응하는 스위칭소자에 의해 개별적으로 점멸될 수 있는 마이크로 엘이디 어레이의 발광셀인 마이크로 발광장치 제조방법.
13. The method of claim 12,
A plurality of the switching elements are provided to be two-dimensionally arranged,
A plurality of the semiconductor stack structure is provided so as to be two-dimensionally arranged in correspondence with the plurality of switching elements to form a micro LED array,
Each of the plurality of semiconductor laminate structures is a light emitting cell of a micro LED array that can be individually flickered by a corresponding switching element.
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