KR102325377B1 - Rocket launch checking system and rocket launch checking method using the same - Google Patents

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KR102325377B1
KR102325377B1 KR1020200123962A KR20200123962A KR102325377B1 KR 102325377 B1 KR102325377 B1 KR 102325377B1 KR 1020200123962 A KR1020200123962 A KR 1020200123962A KR 20200123962 A KR20200123962 A KR 20200123962A KR 102325377 B1 KR102325377 B1 KR 102325377B1
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rocket
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김도형
전현기
정희영
김보성
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국방과학연구소
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Abstract

The present invention relates to a rocket launch inspection system and a rocket launch inspection method using the same. According to an embodiment of the present invention, a rocket launch inspection system comprises: a launch tube having a plurality of launch holes; a launch device connected to the launch tube through a cable; and an inspection device inserted into the launch hole and receiving a squib from the launch device. The inspection device receives a squib from the launch device, measures the current and voltage of the supplied squib, and displays the measurements.

Description

로켓 발사 점검 시스템 및 이를 이용하는 로켓 발사 점검 방법{ROCKET LAUNCH CHECKING SYSTEM AND ROCKET LAUNCH CHECKING METHOD USING THE SAME}Rocket launch inspection system and rocket launch inspection method using the same

본 발명은 로켓 발사 점검 시스템 및 이를 이용하는 로켓 발사 점검 방법에 관한 발명이다. 본 발명은 로켓 발사 과정을 통합 점검할 수 있는 로켓 발사 점검 시스템 및 이를 이용하는 로켓 발사 점검 방법에 관한 발명이다.The present invention relates to a rocket launch inspection system and a rocket launch inspection method using the same. The present invention relates to a rocket launch inspection system capable of integrally inspecting a rocket launch process, and a rocket launch inspection method using the same.

일반적인 로켓 발사 과정은 로켓을 발사 장치의 발사관에 장착하고, 미세 저항 측정기를 발사 장치에 연결하여 점화기, 케이블 및 디텐트(detent)의 접점 저항을 측정한 다음, 발사 장치에서 점화기가 요구하는 스퀴브(squib)를 공급하면 추진제가 연소되어 로켓이 추진된다. A typical rocket launch process is to mount the rocket on the launch tube of the launch device, connect a micro-resistance meter to the launch device to measure the contact resistance of the igniter, cable, and detent, and then use the launch device to squib the igniter required. When (squib) is supplied, the propellant is burned and the rocket is propelled.

점화기의 저항과 스퀴브로 공급되는 전류는 로켓의 사양에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어, 70 mm(2.75 inch) 신형 로켓은 점화기의 내부 저항이 1.0 Ω 내외이며, 1.5 A 이상의 전류가 공급되어야 모터를 안정적으로 점화할 수 있다. 따라서 로켓의 발사 장치는 점화기, 케이블 및 디텐트의 접점 저항을 고려하여 충분한 전류를 공급해야 한다.The resistance of the igniter and the current supplied to the squib may vary depending on the specifications of the rocket. For example, in a 70 mm (2.75 inch) new rocket, the internal resistance of the igniter is around 1.0 Ω, and a current of 1.5 A or more must be supplied to stably ignite the motor. Therefore, the launch device of the rocket must supply sufficient current considering the contact resistance of the igniter, the cable and the detent.

그러나 실제 로켓 발사 시에는 발사관에 침착되는 연소 물질과 모터의 점화특성, 공급되는 전류의 불안정 및 접점 불량 등으로 인하여 저항값이 증가하여 로켓이 비정상 발사될 수 있다. 특히, 발사 장치와 로켓 사이에는 케이블, 커넥터 및 디텐트 등 연결 부위가 많고, 추진제의 연소로 인해 발사관 내부에 탄매 등이 침착될 수 있다. 그리고 이로 인해 접점 불량이 발생하여 점화 불능 상태가 될 수 있다.However, during actual rocket launch, the resistance value increases due to combustion materials deposited on the launch tube, ignition characteristics of the motor, instability of the supplied current, and poor contact, and the rocket may be launched abnormally. In particular, there are many connection parts such as cables, connectors, and detents between the launch device and the rocket, and bullets may be deposited inside the launch tube due to combustion of the propellant. In addition, due to this, contact failure may occur and the ignition may not be possible.

또한, 로켓 발사로 가열된 발사관에 저온 처리된 로켓을 장착할 경우, 결로 현상으로 인하여 저항값이 기준을 초과할 수 있다. 이로 인해 로켓의 지발(hang fire) 또는 불발이 발생할 수 있다.In addition, when a low-temperature treated rocket is mounted on a launch tube heated by rocket launch, the resistance value may exceed the standard due to condensation. This may result in a hang fire or misfire of the rocket.

그러나 종래에는 로켓을 발사관에 장착한 후 점화기, 케이블 및 디텐트 접점 저항이 기준을 초과하면, 로켓을 발사관에서 제거한 후 발사관 디텐트를 청소하거나, 로켓을 발사관의 다른 홀에 장착하여 사격을 실시했다. 또한, 발사 장치에서 적절한 스퀴브를 공급하는지 확인할 수 있는 방법이 없어, 로켓 발사를 통합 점검할 수 있는 시스템이 요구되는 실정이다.However, in the prior art, if the igniter, cable, and detent contact resistance exceed the standard after the rocket is mounted on the launch tube, the rocket is removed from the launch tube and the launch tube detent is cleaned, or the rocket is mounted in another hole of the launch tube and fired. . In addition, since there is no way to check whether the launch device supplies an appropriate squib, a system capable of integrally checking rocket launch is required.

전술한 배경 기술은 발명자가 본 발명의 도출을 위해 보유하고 있었거나, 본 발명의 도출 과정에서 습득한 기술 정보로서, 반드시 본 발명의 출원 전에 일반 공중에게 공개된 공지 기술이라 할 수는 없다.The above-mentioned background art is technical information that the inventor possessed for the purpose of derivation of the present invention or acquired during the derivation of the present invention, and cannot necessarily be said to be a known technique disclosed to the general public prior to the filing of the present invention.

등록특허 제10-1894243호Registered Patent No. 10-1894243

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 발사 장치, 발사관 및 케이블 등 로켓 발사를 통합 점검할 수 있는 로켓 발사 점검 시스템 및 이를 이용하는 로켓 발사 점검 방법을 제공한다.The present invention is to solve the above problems, and provides a rocket launch inspection system capable of integrally inspecting rocket launch, such as a launch device, a launch tube, and a cable, and a rocket launch inspection method using the same.

다만 이러한 과제는 예시적인 것으로, 본 발명의 해결하고자 하는 과제는 이에 한정되지 않는다.However, these problems are exemplary, and the problems to be solved by the present invention are not limited thereto.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템은 복수 개의 발사홀을 구비하는 발사관, 케이블을 통해 상기 발사관과 연결되는 발사 장치 및 상기 발사홀에 삽입되며, 상기 발사 장치로부터 스퀴브(squib)를 공급받는 점검 장치를 포함하고, 상기 점검 장치는 상기 발사 장치로부터 공급된 스퀴브의 전압 및 전류와, 상기 발사관과 상기 발사 장치 사이의 접점 저항과, 상기 발사관과 상기 점검 장치 사이의 접점 저항 중 적어도 어느 하나를 측정한다.A rocket launch inspection system according to an embodiment of the present invention is inserted into a launch tube having a plurality of launch holes, a launch device connected to the launch tube through a cable, and the launch hole, and removes a squib from the launch device. a checking device supplied, wherein the checking device comprises at least one of a voltage and a current of a squib supplied from the firing device, a contact resistance between the firing tube and the firing device, and a contact resistance between the firing tube and the checking device. measure either one

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템에 있어서, 상기 점검 장치는 상기 발사홀의 내부에 삽입되어 상기 발사관의 디텐트(detent)와 접촉하여 상기 발사 장치로부터 스퀴브를 공급받고, 공급된 스퀴브의 전류 및 전압을 표시하는 모의 로켓 및 공급된 스퀴브의 전류 및 전압을 측정하는 점검 회로를 포함할 수 있다.In the rocket launch inspection system according to an embodiment of the present invention, the inspection device is inserted into the launch hole to contact a detent of the launch tube to receive a squib from the launch device, and to receive the supplied squib. It may include a simulated rocket that displays the current and voltage of the quib and a check circuit that measures the current and voltage of the supplied squib.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템에 있어서, 상기 모의 로켓은 적어도 일부가 상기 발사홀의 내부에 삽입되는 하우징, 상기 하우징의 일측에 배치되며, 상기 발사관의 디텐트와 접촉하여 상기 발사 장치로부터 스퀴브를 공급받는 스퀴브 접점부 및 상기 하우징의 일측에 배치되어, 상기 점검 회로가 측정한 상기 스퀴브의 전류 및 전압을 표시하는 인디케이터를 포함할 수 있다.In the rocket launch inspection system according to an embodiment of the present invention, the simulated rocket is at least partially disposed in a housing inserted into the launch hole, one side of the housing, and in contact with the detent of the launch tube, the launch device The squib contact portion receiving the squib from the squib and an indicator disposed on one side of the housing to display the current and voltage of the squib measured by the inspection circuit may be included.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템에 있어서, 상기 하우징의 일단은 상기 발사홀의 내부에 삽입되며, 상기 하우징의 타단은 상기 발사홀의 외부로 돌출되고, 상기 인디케이터는 상기 하우징의 타단에 배치되어, 상기 점검 회로가 측정한 상기 스퀴브의 전류 및 전압을 표시할 수 있다.In the rocket launch inspection system according to an embodiment of the present invention, one end of the housing is inserted into the launch hole, the other end of the housing protrudes to the outside of the launch hole, and the indicator is disposed at the other end of the housing to display the current and voltage of the squib measured by the inspection circuit.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템에 있어서, 상기 스퀴브 접점부는 각각 상기 발사관의 디텐트와 접촉하며, 상기 하우징의 서로 다른 위치에 배치되는 제1 접점, 제2 접점 및 제3 접점을 포함하고, 상기 점검 회로는 상기 제1 접점과 상기 제2 접점 사이 또는 상기 제1 접점과 상기 제3 접점 사이에 인가되는 전압과 그에 따른 전류를 측정하고, 상기 인디케이터는 상기 점검 회로가 측정한 상기 전압 및 전류를 상기 인디케이터에 표시할 수 있다.In the rocket launch inspection system according to an embodiment of the present invention, the squib contact portion is in contact with the detent of the launch tube, respectively, and a first contact point, a second contact point, and a third contact point are disposed at different positions of the housing. Including, wherein the check circuit measures a voltage and a corresponding current applied between the first contact point and the second contact point or between the first contact point and the third contact point, and the indicator is measured by the check circuit The voltage and current may be displayed on the indicator.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템에 있어서, 상기 모의 로켓은 절연체로 구성되며, 상기 발사 장치에서 공급되는 스퀴브와 상기 점검 회로의 전기적 간섭을 줄이기 위한 점화 회로 절연부를 더 포함할 수 있다.In the rocket launch inspection system according to an embodiment of the present invention, the simulated rocket is composed of an insulator, and may further include an ignition circuit insulation unit for reducing electrical interference between the squib supplied from the launch device and the inspection circuit. .

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템에 있어서, 상기 모의 로켓은 상기 하우징과 상기 인디케이터를 연결하며, 상기 하우징에 대해 탈착 가능하고, 손잡이를 구비하는 연결부를 더 포함할 수 있다.In the rocket launch inspection system according to an embodiment of the present invention, the simulated rocket connects the housing and the indicator, and may further include a connection part detachable from the housing and having a handle.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템에 있어서, 상기 점검 회로는 상기 모의 로켓이 상기 발사 장치로부터 스퀴브를 공급받으면, 소리 또는 광을 방출하는 표시부를 더 포함할 수 있다.In the rocket launch inspection system according to an embodiment of the present invention, the inspection circuit may further include a display unit that emits sound or light when the simulated rocket receives a squib from the launch device.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템에 있어서, 상기 점검 회로는 가변 저항인 내부 저항부 및 상기 내부 저항부를 상기 점검 회로에 대해 선택적으로 연결하여, 상기 점검 회로의 내부 저항을 제어하는 저항 스위칭부를 더 포함할 수 있다.In the rocket launch inspection system according to an embodiment of the present invention, the inspection circuit selectively connects an internal resistance part that is a variable resistor and the internal resistance part to the inspection circuit, and a resistor for controlling the internal resistance of the inspection circuit It may further include a switching unit.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템에 있어서, 상기 저항 스위칭부가 상기 내부 저항부를 상기 점검 회로와 연결하면, 상기 점검 회로는 공급되는 스퀴브의 전류 및 전압을 측정하고, 상기 저항 스위칭부가 상기 내부 저항부를 상기 점검 회로와 연결하지 않으면, 상기 점검 회로는 상기 발사관과 상기 모의 로켓 간의 접점 저항 및 상기 발사관과 상기 발사 장치 간의 접점 저항을 측정할 수 있다.In the rocket launch inspection system according to an embodiment of the present invention, when the resistance switching unit connects the internal resistance unit with the inspection circuit, the inspection circuit measures the current and voltage of the supplied squib, and the resistance switching unit If the internal resistance unit is not connected to the check circuit, the check circuit may measure a contact resistance between the launch tube and the simulated rocket and a contact resistance between the launch tube and the launch device.

본 발명의 다른 실시예에 따른 로켓 발사 점검 방법은 모의 로켓과 점검 회로를 구비하는 점검 장치를 이용해 로켓의 발사를 점검하는 방법으로서, 발사관의 발사홀에 상기 모의 로켓을 삽입하는 단계, 상기 발사관과 연결되는 발사 장치로 상기 모의 로켓에 스퀴브를 공급하는 단계 및 상기 점검 장치로 상기 발사 장치로부터 공급된 스퀴브의 전압 및 전류와, 상가 발사관과 상기 발사 장치 사이의 접점 저항과, 상기 발사관과 상기 점검 장치 사이의 접점 저항 중 적어도 어느 하나를 측정하는 단계를 포함한다.A rocket launch check method according to another embodiment of the present invention is a method of checking the launch of a rocket using a check device having a simulation rocket and a check circuit, the method comprising the steps of inserting the simulation rocket into a launch hole of a launch tube, the launch tube and supplying a squib to the simulated rocket with a launch device to which it is connected; and voltage and current of the squib supplied from the launch device to the inspection device; a contact resistance between the launch device and the launch tube; and measuring at least one of the contact resistances between the inspection devices.

본 발명의 다른 실시예에 따른 로켓 발사 점검 방법에 있어서, 상기 모의 로켓을 삽입하는 단계는 상기 모의 로켓의 스퀴브 접점부를 상기 발사관의 디텐트와 연결하되, 점검하고자 하는 로켓에 따라 상기 스퀴브 접점부와 상기 발사관의 연결 위치를 다르게 할 수 있다.In the rocket launch check method according to another embodiment of the present invention, the inserting of the simulated rocket includes connecting the squib contact portion of the simulated rocket with the detent of the launch tube, but depending on the rocket to be checked, the squib contact The connection position of the part and the launch tube may be different.

본 발명의 다른 실시예에 따른 로켓 발사 점검 방법에 있어서, 상기 모의 로켓을 삽입하는 단계 후에, 상기 점검 회로의 저항 스위칭부를 작동시켜, 상기 점검 회로의 내부 저항부를 상기 점검 회로와 연결하는 단계 및 상기 점검 회로의 내부 저항부의 저항값을 조절하는 단계를 포함할 수 있다.In the rocket launch inspection method according to another embodiment of the present invention, after inserting the simulated rocket, operating a resistance switching unit of the inspection circuit to connect the internal resistance unit of the inspection circuit to the inspection circuit, and the It may include adjusting the resistance value of the internal resistance part of the check circuit.

본 발명의 다른 실시예에 따른 로켓 발사 점검 방법에 있어서, 상기 모의 로켓을 삽입하는 단계 후에 상기 점검 회로의 저항 스위칭부를 작동시켜, 상기 점검 회로의 내부 저항부를 상기 점검 회로와 연결하지 않는 단계 및 상기 점검 장치로 상기 모의 로켓과 상기 발사관의 접점 저항을 측정하는 단계를 포함할 수 있다.In the rocket launch check method according to another embodiment of the present invention, after the step of inserting the simulated rocket, by operating the resistance switching unit of the check circuit, not connecting the internal resistance part of the check circuit with the check circuit, and It may include measuring a contact resistance between the simulated rocket and the launch tube with an inspection device.

전술한 것 외의 다른 측면, 특징, 이점은 이하의 발명을 실시하기 위한 구체적인 내용, 청구범위 및 도면으로부터 명확해질 것이다.Other aspects, features and advantages other than those described above will become apparent from the following detailed description, claims and drawings for carrying out the invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템 및 이를 이용하는 로켓 발사 점검 방법은 공급되는 스퀴브의 전압 및 전류를 측정하고 이를 표시하여, 발사 장치가 적절한 스퀴브를 공급하는지 즉시 확인할 수 있다. 또한, 검사 장치와 발사관의 접점 저항 및 케이블 저항 등을 측정할 수 있어, 로켓 발사를 통합 점검할 수 있다.A rocket launch inspection system and a rocket launch inspection method using the same according to an embodiment of the present invention measure and display the voltage and current of the supplied squib, so that it can be immediately confirmed whether the launch device supplies the appropriate squib. In addition, it is possible to measure the contact resistance and cable resistance of the inspection device and the launch tube, so that the rocket launch can be checked in an integrated manner.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템 및 이를 이용하는 로켓 발사 점검 방법은 다양한 크기와 형상의 로켓에 대응할 수 있다.A rocket launch inspection system and a rocket launch inspection method using the same according to an embodiment of the present invention may correspond to rockets of various sizes and shapes.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템 및 이를 이용하는 로켓 발사 점검 방법은 실제 로켓에 포함된 점화기의 저항값과 동일한 값을 용이하게 모사할 수 있다.The rocket launch inspection system and the rocket launch inspection method using the same according to an embodiment of the present invention can easily simulate the same value as the resistance value of the igniter included in the actual rocket.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템 및 이를 이용하는 로켓 발사 점검 방법은 점검 회로에 소모되는 전류가 매우 작고, 외부에서 공급되는 스퀴브로 작동할 수 있다. 따라서 별도의 전력 공급부가 필요하지 않으며, 구조를 간단하게 설계할 수 있으며 무게를 줄일 수 있다.The rocket launch inspection system and the rocket launch inspection method using the same according to an embodiment of the present invention consume very little current in the inspection circuit and may operate with a squib supplied from the outside. Therefore, a separate power supply is not required, the structure can be simply designed, and the weight can be reduced.

도 1은 로켓 발사 과정을 개략적으로 나타낸다.
도 2는 다양한 형상의 로켓을 나타낸다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템을 나타낸다.
도 4는 발사관에 장착된 점검 장치를 나타낸다.
도 5는 도 4의 인디케이터를 나타낸다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 절차를 나타낸다.
1 schematically shows a rocket launch process.
2 shows rockets of various shapes.
3 shows a rocket launch check system according to an embodiment of the present invention.
4 shows an inspection device mounted on a launch tube.
Fig. 5 shows the indicator of Fig. 4;
6 shows a rocket launch check procedure according to an embodiment of the present invention.

본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 발명의 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시예로 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 다른 실시예에 도시되어 있다 하더라도, 동일한 구성요소에 대하여서는 동일한 식별부호를 사용한다.Since the present invention can apply various transformations and can have various embodiments, specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the description of the invention. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and it should be understood to include all modifications, equivalents and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. In the description of the present invention, even though illustrated in other embodiments, the same identification numbers are used for the same components.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 도면을 참조하여 설명할 때 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, and when described with reference to the drawings, the same or corresponding components are given the same reference numerals, and the overlapping description thereof will be omitted. .

이하의 실시예에서, 제1, 제2 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용되었다. In the following embodiments, terms such as first, second, etc. are used for the purpose of distinguishing one component from another, not in a limiting sense.

이하의 실시예에서, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. In the following examples, the singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise.

이하의 실시예에서, 포함하다 또는 가지다 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 또는 구성요소가 존재함을 의미하는 것이고, 하나 이상의 다른 특징들 또는 구성요소가 부가될 가능성을 미리 배제하는 것은 아니다. In the following embodiments, terms such as include or have means that the features or components described in the specification are present, and the possibility of adding one or more other features or components is not excluded in advance.

도면에서는 설명의 편의를 위하여 구성 요소들이 그 크기가 과장 또는 축소될 수 있다. 예컨대, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다. In the drawings, the size of the components may be exaggerated or reduced for convenience of description. For example, since the size and thickness of each component shown in the drawings are arbitrarily indicated for convenience of description, the present invention is not necessarily limited to the illustrated bar.

이하의 실시예에서, x축, y축 및 z축은 직교 좌표계 상의 세 축으로 한정되지 않고, 이를 포함하는 넓은 의미로 해석될 수 있다. 예를 들어, x축, y축 및 z축은 서로 직교할 수도 있지만, 서로 직교하지 않는 서로 다른 방향을 지칭할 수도 있다. In the following embodiments, the x-axis, the y-axis, and the z-axis are not limited to three axes on a Cartesian coordinate system, and may be interpreted in a broad sense including them. For example, the x-axis, y-axis, and z-axis may be orthogonal to each other, but may refer to different directions that are not orthogonal to each other.

어떤 실시예가 달리 구현 가능한 경우에 특정한 공정 순서는 설명되는 순서와 다르게 수행될 수도 있다. 예를 들어, 연속하여 설명되는 두 공정이 실질적으로 동시에 수행될 수도 있고, 설명되는 순서와 반대의 순서로 진행될 수 있다.Where certain embodiments are otherwise feasible, a specific process sequence may be performed different from the described sequence. For example, two processes described in succession may be performed substantially simultaneously, or may be performed in an order opposite to the order described.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in the present application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. In the present application, terms such as “comprise” or “have” are intended to designate that a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification exists, but one or more other features It should be understood that this does not preclude the existence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

도 1은 로켓 발사 과정을 개략적으로 나타내고, 도 2는 다양한 형상의 로켓을 나타내고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템(10)을 나타내고, 도 4는 발사관에 장착된 점검 장치(300)를 나타내고, 도 5는 도 4의 인디케이터(315)를 나타낸다.Figure 1 schematically shows a rocket launch process, Figure 2 shows a rocket of various shapes, Figure 3 shows a rocket launch inspection system 10 according to an embodiment of the present invention, Figure 4 is a check mounted on the launch tube device 300 , and FIG. 5 shows the indicator 315 of FIG. 4 .

도 1 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템(10)은 발사관(100), 발사 장치(200) 및 점검 장치(300)를 포함할 수 있다.1 to 5 , the rocket launch inspection system 10 according to an embodiment of the present invention may include a launch tube 100 , a launch device 200 , and an inspection device 300 .

도 1에 나타낸 바와 같이, 발사관(100)은 복수 개의 발사홀(110)을 구비할 수 있다. 각각의 발사홀(110)에는 로켓(R)이 삽입 및 장착되어 발사될 수 있다. 본 발명에서는 로켓(R) 대신 점검 장치(300)가 발사홀(110)에 삽입될 수 있다.As shown in FIG. 1 , the launch tube 100 may include a plurality of launch holes 110 . A rocket R is inserted and mounted in each launch hole 110 to be launched. In the present invention, instead of the rocket R, the inspection device 300 may be inserted into the launch hole 110 .

발사관(100)의 종류는 특별히 한정하지 않는다. 도 1에는 발사관(100)이 11개의 발사홀(110)을 갖는 것으로 나타냈으나, 발사홀(110)의 개수는 19개 또는 7개일 수 있다. 또는, 발사관(100)은 1개의 발사홀(110)을 갖는 시험용 발사관일 수 있다.The type of the launch tube 100 is not particularly limited. Although it is shown in FIG. 1 that the launch tube 100 has 11 launch holes 110 , the number of launch holes 110 may be 19 or 7 . Alternatively, the canister 100 may be a test tube having one firing hole 110 .

또한, 발사관(100)의 크기 및 형상은 특별히 한정하지 않는다. 예를 들어, 발사관(100)은 70 mm(2.75 inch) 로켓에 대응되는 형상 및 크기를 가질 수 있다. 또는, 발사관(100)은 130 mm, 227 mm 등 다양한 로켓 또는 미사일에 대응되는 형상 및 크기를 가질 수 있다.In addition, the size and shape of the launch tube 100 are not particularly limited. For example, the launch tube 100 may have a shape and size corresponding to a 70 mm (2.75 inch) rocket. Alternatively, the launch tube 100 may have a shape and size corresponding to various rockets or missiles such as 130 mm and 227 mm.

도 2에 나타낸 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 발사관(100)의 발사홀(110)에 삽입 및 장착되는 로켓(R)은 다양한 제원과 형상 및 크기를 가질 수 있다. 예를 들어, 로켓(R)은 70 mm 신형 로켓 또는 구형 로켓일 수 있으며, 발사관(100)은 이들 로켓(R)에 모두 대응되는 형상 및 크기를 가질 수 있다. 마찬가지로, 후술하는 점검 장치(300)의 모의 로켓(310)도 이들 로켓(R)에 대응될 수 있다. 이에 대해서는 후술한다.As shown in FIG. 2 , the rocket R inserted and mounted in the launch hole 110 of the launch tube 100 according to an embodiment of the present invention may have various specifications, shapes, and sizes. For example, the rocket R may be a 70 mm new rocket or an old rocket, and the launch tube 100 may have a shape and size corresponding to all of these rockets R. Similarly, the simulation rocket 310 of the inspection device 300 to be described later may also correspond to these rockets (R). This will be described later.

도 4를 참조하면, 발사관(100)의 각각의 발사홀(110)은 디텐트(detent; 111)를 구비할 수 있다. 디텐트(111)는 모의 로켓(310)의 접점과 발사관(100)의 접점을 연결하는 장치이다. 일 실시예로, 디텐트(111)는 모의 로켓(310)과 발사관(100)을 접촉시켜, 발사 장치(200)에서 공급되는 스퀴브(squib)를 모의 로켓(310)으로 공급할 수 있다.Referring to FIG. 4 , each of the firing holes 110 of the firing tube 100 may include a detent 111 . The detent 111 is a device that connects the contact point of the simulation rocket 310 and the contact point of the launch tube 100 . In one embodiment, the detent 111 may supply the squib supplied from the launch device 200 to the simulated rocket 310 by making the simulated rocket 310 and the launch tube 100 contact.

발사 장치(200)는 발사관(100)과 유선 또는 무선으로 연결되어, 발사관(100)의 작동을 제어한다. 예를 들어, 발사 장치(200)는 케이블(C)을 통해 발사관(100)과 연결될 수 있다. 케이블(C)은 핀을 통해 발사관(100)과 발사 장치(200)에 연결되며, 케이블(C)의 각각의 핀은 발사관(100)의 발사홀(110)에 대응될 수 있다.The launch device 200 is connected to the launch tube 100 by wire or wirelessly, and controls the operation of the launch tube 100 . For example, the launch device 200 may be connected to the launch tube 100 through a cable (C). The cable C is connected to the launch tube 100 and the launch device 200 through pins, and each pin of the cable C may correspond to the launch hole 110 of the launch tube 100 .

일 실시예로, 발사 장치(200)는 스퀴브를 발사관(100)으로 공급할 수 있다. 스퀴브는 발사관(100)에 장착된 로켓(R)의 점화기를 점화하기 위한 전원으로서, 본 발명의 일 실시예에서 스퀴브는 발사관(100)의 디텐트(111)를 통해 모의 로켓(310)으로 공급될 수 있다.In one embodiment, the launch device 200 may supply a squib to the launch tube 100 . The squib is a power source for igniting the igniter of the rocket R mounted on the launch tube 100, and in an embodiment of the present invention, the squib is a simulated rocket 310 through the detent 111 of the launch tube 100. can be supplied as

도 3 및 도 4를 참조하면, 점검 장치(300)는 발사관(100)의 발사홀(110)에 삽입될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 점검 장치(300)는 발사 장치(200)에서 적절한 스퀴브가 공급되는지를 점검하고, 점검 장치(300)와 발사관(100) 및/또는 발사 장치(200) 간의 저항을 측정하여, 접촉 상태가 양호한지 점검할 수 있다.3 and 4 , the inspection device 300 may be inserted into the firing hole 110 of the firing tube 100 . The inspection device 300 according to an embodiment of the present invention checks whether an appropriate squib is supplied from the firing device 200 , and the resistance between the checking device 300 and the firing tube 100 and/or the firing device 200 . can be measured to check whether the contact state is good.

일 실시예로, 점검 장치(300)는 모의 로켓(310)과 점검 회로(320)를 포함할 수 있다.In one embodiment, the inspection device 300 may include a simulation rocket 310 and the inspection circuit 320 .

모의 로켓(310)은 발사관(100)의 발사홀(110)에 삽입되며, 실제 로켓(R)을 모사할 수 있다. 예를 들어, 도 4에 나타낸 바와 같이, 모의 로켓(310)은 발사관(100)의 후방에 삽입될 수 있다.The simulated rocket 310 is inserted into the launch hole 110 of the launch tube 100 , and can simulate the real rocket (R). For example, as shown in FIG. 4 , the simulation rocket 310 may be inserted into the rear of the launch tube 100 .

일 실시예로, 모의 로켓(310)은 하우징(311)과, 스퀴브 접점부(312)와, 연결부(313)와, 점화 회로 절연부(314)와, 인디케이터(315)를 포함할 수 있다.In one embodiment, the simulation rocket 310 may include a housing 311 , a squib contact part 312 , a connection part 313 , an ignition circuit insulation part 314 , and an indicator 315 . .

하우징(311)은 모의 로켓(310)의 프레임을 구성하며, 모의 로켓(310)의 다른 구성을 지지한다. 일 실시예로, 도 4에 나타낸 바와 같이, 하우징(311)은 적어도 일부가 발사홀(110)의 내부에 삽입되며, 원통 형상 또는 다면체 형상의 부재가 복수 개 연결되어 구성될 수 있다. 다만, 하우징(311)의 형상 및 크기는 특별히 한정하지 않으며, 발사홀(110)에 대응될 수 있으면 충분하다.The housing 311 constitutes a frame of the simulation rocket 310 and supports other components of the simulation rocket 310 . In one embodiment, as shown in FIG. 4 , at least a portion of the housing 311 may be inserted into the firing hole 110 , and a plurality of cylindrical or polyhedral members may be connected to each other. However, the shape and size of the housing 311 are not particularly limited, and it is sufficient if it can correspond to the launch hole 110 .

스퀴브 접점부(312)는 하우징(311)의 일측에 배치되어, 발사홀(110)의 디텐트(111)와 접촉한다. 전술한 바와 같이, 디텐트(111)는 케이블(C)을 통해 발사 장치(200)와 연결되며, 이에 따라 발사 장치(200)에서 공급된 스퀴브는 디텐트(111)를 거쳐 스퀴브 접점부(312)로 공급된다.The squib contact part 312 is disposed on one side of the housing 311 and contacts the detent 111 of the firing hole 110 . As described above, the detent 111 is connected to the launch device 200 through the cable C, and accordingly, the squib supplied from the launch device 200 passes through the detent 111 to the squib contact portion. (312).

일 실시예로, 스퀴브 접점부(312)는 제1 접점(312a)과, 제2 접점(312b)과, 제3 접점(312c)을 포함할 수 있다.In one embodiment, the squib contact unit 312 may include a first contact point 312a, a second contact point 312b, and a third contact point 312c.

제1 접점(312a)은 하우징(311)의 일측에 배치되며, 발사 장치(200)로부터 스퀴브가 공급되는 회로의 그라운드(GND)일 수 있다. 일 실시예로, 제1 접점(312a)은 하우징(311)의 외주면의 일단부에 배치되며, 디텐트(111)와 접촉하는 포인트 또는 링 형상의 부재일 수 있다.The first contact 312a is disposed on one side of the housing 311 , and may be a ground GND of a circuit to which the squib is supplied from the launch device 200 . In one embodiment, the first contact point 312a is disposed at one end of the outer circumferential surface of the housing 311 , and may be a point or a ring-shaped member in contact with the detent 111 .

제2 접점(312b)은 하우징(311)의 타측에 배치되며, 발사 장치(200)로부터 모의 로켓(310)으로 스퀴브가 공급되는 어느 한 통로일 수 있다. 일 실시예로, 제2 접점(312b)은 하우징(311)의 외주면의 일측에 배치되며, 디텐트(111)와 접촉하는 포인트 또는 링 형상의 부재일 수 있다.The second contact point 312b is disposed on the other side of the housing 311 , and may be any one passage through which the squib is supplied from the launch device 200 to the simulated rocket 310 . In one embodiment, the second contact point 312b is disposed on one side of the outer circumferential surface of the housing 311 , and may be a point or a ring-shaped member in contact with the detent 111 .

제3 접점(312c)은 하우징(311)의 타측에 배치되며, 발사 장치(200)로부터 모의 로켓(310)으로 스퀴브가 공급되는 다른 통로일 수 있다. 일 실시예로, 제3 접점(312c)은 하우징(311)의 타단부에 배치되며, 디텐트(111)와 접촉하는 포인트일 수 있다.The third contact 312c is disposed on the other side of the housing 311 , and may be another passage through which the squib is supplied from the launch device 200 to the simulated rocket 310 . In an embodiment, the third contact 312c is disposed at the other end of the housing 311 and may be a point in contact with the detent 111 .

일 실시예로, 제2 접점(312b)과 제3 접점(312c)은 모의 로켓(310)의 하우징(311)의 서로 다른 위치에 배치되며, 각각 제1 접점(312a)과 전위차를 형성할 수 있다. 이에 따라, 발사 장치(200)로부터 스퀴브가 공급되는 회로는 제1 접점(312a)과 제2 접점(312b) 사이 또는 제1 접점(312a)과 제3 접점(312c) 사이에서 구성될 수 있다. 여기서 제2 접점(312b)과 제3 접점(312c)의 위치는 점검하고자 하는 로켓(R)의 종류에 따라 달라질 수 있다.In one embodiment, the second contact point 312b and the third contact point 312c are disposed at different positions of the housing 311 of the simulation rocket 310, and may form a potential difference with the first contact point 312a, respectively. have. Accordingly, the circuit to which the squib is supplied from the launch device 200 may be configured between the first contact 312a and the second contact 312b or between the first contact 312a and the third contact 312c. . Here, the positions of the second contact point 312b and the third contact point 312c may vary depending on the type of the rocket R to be checked.

즉, 본 발명의 일 실시예에 따른 모의 로켓(310)은 서로 다른 종류의 실제 로켓(R)이 발사관(100)과 접촉하는 스퀴브 접촉부를 구현할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템(10)은 발사관(100)에 장착된 점검 장치(300)를 교체하지 않고도 서로 다른 종류의 실제 로켓(R)에 대한 점검을 실시할 수 있다.That is, the simulated rocket 310 according to an embodiment of the present invention may implement a squib contact portion in which different types of real rockets R come into contact with the launch tube 100 . Accordingly, the rocket launch inspection system 10 according to an embodiment of the present invention performs inspection on different types of actual rockets R without replacing the inspection device 300 mounted on the launch tube 100 . can

도 4에는 그라운드로서 기능하는 제1 접점(312a)을 제외하고 제2 접점(312b) 및 제3 접점(312c) 두 개의 접점만을 나타냈으나, 그 개수는 특별히 한정하지 않는다. 예를 들어, 모사하고자 하는 실제 로켓(R)의 종류가 3개 이상인 경우, 그에 대응되는 접점도 3개 이상일 수 있다.In FIG. 4, only two contacts of the second contact 312b and the third contact 312c are shown except for the first contact 312a functioning as a ground, but the number is not particularly limited. For example, if there are three or more types of the actual rocket R to be simulated, the corresponding contact points may also be three or more.

일 실시예로, 스퀴브 접점부(312)는 하우징(311)에 대해 탈착 가능하도록 배치될 수 있다. 즉, 스퀴브 접점부(312)의 제1 접점(312a)과, 제2 접점(312b)과, 제3 접점(312c)은 교체 가능할 수 있다. 이에 따라, 모의 로켓(310)을 발사관(100)에 반복하여 장착하는 과정에서 스퀴브 접점부(312)가 마모 또는 파손되는 경우, 해당 접점만을 교체할 수 있다.In an embodiment, the squib contact part 312 may be detachably disposed with respect to the housing 311 . That is, the first contact 312a, the second contact 312b, and the third contact 312c of the squib contact unit 312 may be interchangeable. Accordingly, when the squib contact part 312 is worn or damaged in the process of repeatedly mounting the simulation rocket 310 to the launch tube 100 , only the corresponding contact point may be replaced.

연결부(313)는 하우징(311)의 일측에 배치되어, 하우징(311)과 인디케이터(315)를 연결할 수 있다. 예를 들어, 도 4에 나타낸 바와 같이, 연결부(313)는 하우징(311)의 단부에 배치되어, 발사관(100)의 외측으로 돌출되는 막대 형상의 부재일 수 있다. 일 실시예로, 연결부(313)는 외측에 손잡이(미도시)를 구비할 수 있다. 이에 따라, 사용자는 연결부(313)를 파지하여 발사관(100)에 대해 모의 로켓(310)을 용이하게 삽입하거나 제거할 수 있다.The connection part 313 may be disposed on one side of the housing 311 to connect the housing 311 and the indicator 315 . For example, as shown in FIG. 4 , the connection part 313 may be a rod-shaped member disposed at an end of the housing 311 and protruding to the outside of the firing tube 100 . In one embodiment, the connection part 313 may be provided with a handle (not shown) on the outside. Accordingly, the user can easily insert or remove the simulation rocket 310 with respect to the launch tube 100 by gripping the connection part 313 .

일 실시예로, 연결부(313)는 하우징(311)에 대해 탈착 가능하도록 구성될 수 있다.In one embodiment, the connection part 313 may be configured to be detachable from the housing 311 .

점화 회로 절연부(314)는 발사 장치(200)에서 공급하는 스퀴브가 후술하는 점검 회로(320)와 전기적으로 간섭하는 것을 방지한다. 이를 위해 점화 회로 절연부(314)는 절연체로 구성될 수 있다.The ignition circuit insulation unit 314 prevents the squib supplied from the launch device 200 from electrically interfering with the check circuit 320 to be described later. To this end, the ignition circuit insulating part 314 may be formed of an insulator.

인디케이터(315)는 모의 로켓(310)의 단부에 배치되어, 공급되는 스퀴브의 전압 및 전류를 표시할 수 있다. 예를 들어, 도 4에 나타낸 바와 같이, 인디케이터(315)는 연결부(313)를 통해 하우징(311)의 단부와 연결될 수 있다. 일 실시예로, 인디케이터(315)는 발사홀(110)의 외측으로 돌출된 상태일 수 있다.The indicator 315 may be disposed at the end of the simulation rocket 310 to indicate the voltage and current of the supplied squib. For example, as shown in FIG. 4 , the indicator 315 may be connected to an end of the housing 311 through a connection part 313 . In one embodiment, the indicator 315 may be in a state protruding to the outside of the firing hole (110).

도 5에 나타낸 바와 같이, 인디케이터(315)는 발사 장치(200)에서 스퀴브가 공급되면, 후술하는 점검 회로(320)가 측정한 전압 및 전류를 표시할 수 있다. 사용자는 인디케이터(315)를 통해 표시된 전압 및 전류를 확인하고, 발사 장치(200)에 적절한 스퀴브를 공급하는지 확인할 수 있다. 또는, 인디케이터(315)는 점검 회로(320)가 측정한 저항을 표시할 수 있다.As shown in FIG. 5 , when the squib is supplied from the launch device 200 , the indicator 315 may display the voltage and current measured by the check circuit 320 to be described later. The user may check the displayed voltage and current through the indicator 315 and check whether an appropriate squib is supplied to the launch device 200 . Alternatively, the indicator 315 may display the resistance measured by the check circuit 320 .

도 4 및 도 5에는 인디케이터(315)가 원통 형상을 갖는 것으로 나타냈으나, 그 형상과 크기는 특별히 한정하지 않는다.4 and 5, the indicator 315 has a cylindrical shape, but the shape and size are not particularly limited.

점검 회로(320)는 발사 장치(200)로부터 스퀴브가 공급되는 회로와 연결되며, 발사 장치(200)에서 공급되는 스퀴브의 전류와 전압을 측정하고, 발사관(100)과 점검 장치(300) 사이의 저항 또는 발사관(100)과 발사 장치(200) 사이의 저항 등을 측정할 수 있다. 여기서 발사관(100)과 점검 장치(300) 사이의 저항은 발사관(100) 점검 장치(300)의 스퀴브 접점부(312) 간의 접점 저항을 포함할 수 있다. 여기서 발사관(100)과 발사 장치(200) 사이의 저항은 발사관(100)과 발사 장치(200)를 연결하는 케이블(C)의 저항을 포함할 수 있다.The check circuit 320 is connected to a circuit to which the squib is supplied from the launch device 200 , measures the current and voltage of the squib supplied from the launch device 200 , and the launch tube 100 and the check device 300 . It is possible to measure the resistance or the like between the launch tube 100 and the launch device 200 . Here, the resistance between the firing tube 100 and the inspection device 300 may include a contact resistance between the squib contact portion 312 of the firing tube 100 inspection device 300 . Here, the resistance between the launch tube 100 and the launch device 200 may include the resistance of the cable C connecting the launch tube 100 and the launch device 200 .

점검 회로(320)는 모의 로켓(310)의 내부, 보다 구체적으로 하우징(311)의 내부에 배치될 수 있다. 또는, 점검 회로(320)는 모의 로켓(310)의 외부에 배치되어, 모의 로켓(310)과 유무선으로 통신할 수 있다. 이하에서는 점검 회로(320)가 하우징(311)의 내부에 배치되는 것을 중심으로 설명한다.The check circuit 320 may be disposed inside the simulation rocket 310 , more specifically, inside the housing 311 . Alternatively, the check circuit 320 may be disposed outside the simulation rocket 310 to communicate with the simulation rocket 310 by wire or wireless. Hereinafter, the inspection circuit 320 will be mainly described as being disposed inside the housing 311 .

일 실시예로, 점검 회로(320)는 저항 스위칭부(321)와, 내부 저항부(322)와, 표시부와, 측정부(325)를 포함할 수 있다.In an embodiment, the check circuit 320 may include a resistance switching unit 321 , an internal resistance unit 322 , a display unit, and a measurement unit 325 .

저항 스위칭부(321)는 점검 장치(300)의 저항을 제어한다. 예를 들어, 저항 스위칭부(321)는 후술하는 내부 저항부(322)를 점검 회로(320)에 대해 선택적으로 연결하도록 동작할 수 있다.The resistance switching unit 321 controls the resistance of the inspection device 300 . For example, the resistance switching unit 321 may operate to selectively connect an internal resistance unit 322 to be described later to the check circuit 320 .

보다 구체적으로, 예를 들어, 저항 스위칭부(321)는 점검 회로(320)가 후술하는 내부 저항부(322)와 연결되도록 동작할 수 있다. 이 상태에서 스퀴브가 공급되면, 후술하는 측정부(325)는 공급되는 스퀴브의 전압과 전류를 측정하고, 인디케이터(315)가 측정된 스퀴브의 전압 및 전류를 표시할 수 있다.More specifically, for example, the resistance switching unit 321 may operate such that the check circuit 320 is connected to an internal resistance unit 322 to be described later. When the squib is supplied in this state, the measuring unit 325 to be described later may measure the voltage and current of the supplied squib, and the indicator 315 may display the measured voltage and current of the squib.

또는, 저항 스위칭부(321)는 점검 회로(320)가 내부 저항부(322)와 연결되지 않도록 동작할 수 있다. 이 경우, 점검 장치(300)의 저항은 실질적으로 0일 수 있다. 여기서 "실질적으로 0"의 의미는 저항값이 엄밀한 의미의 0인 경우뿐만 아니라, 저항값이 측정 결과에 영향을 거의 주지 않는 미소한 크기를 갖는 경우도 포함한다. 이 상태에서 측정부(325)는 발사관(100)과 발사 장치(200)의 접점 저항 또는 케이블(C)의 저항 등을 측정할 수 있다.Alternatively, the resistance switching unit 321 may operate so that the check circuit 320 is not connected to the internal resistance unit 322 . In this case, the resistance of the inspection device 300 may be substantially zero. Here, the meaning of "substantially 0" includes not only the case where the resistance value is 0 in the strict sense, but also the case where the resistance value has a microscopic size that hardly affects the measurement result. In this state, the measuring unit 325 may measure the contact resistance between the launch tube 100 and the launch device 200 or the resistance of the cable C.

즉, 본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템(10)은 저항 스위칭부(321)를 이용해 점검 장치(300)의 저항값을 변경하여, 스퀴브의 전압 및 전류뿐만 아니라 로켓 발사 점검 시스템(10)의 저항을 측정할 수 있다.That is, the rocket launch inspection system 10 according to an embodiment of the present invention changes the resistance value of the inspection device 300 using the resistance switching unit 321, and not only the voltage and current of the squib, but also the rocket launch inspection system The resistance of (10) can be measured.

내부 저항부(322)는 모의 로켓(310)이 모사하고자 하는 실제 로켓(R)의 점화기의 저항에 대응되는 값을 가질 수 있다. 일 실시예로, 내부 저항부(322)는 가변 저항으로서, 실제 로켓(R)의 점화기의 저항에 대응되는 값을 갖도록 저항값이 변경될 수 있다.The internal resistance unit 322 may have a value corresponding to the resistance of the igniter of the actual rocket R to be simulated by the simulation rocket 310 . In one embodiment, the internal resistance unit 322 is a variable resistor, and the resistance value may be changed to have a value corresponding to the resistance of the igniter of the actual rocket (R).

표시부는 발사 장치(200)에서 스퀴브가 공급되면 소리 또는 광을 방출한다. 일 실시예로, 표시부는 부저부(323)와 LED부(324)를 구비할 수 있다.The display unit emits sound or light when the squib is supplied from the launch device 200 . In an embodiment, the display unit may include a buzzer unit 323 and an LED unit 324 .

부저부(323)는 발사 장치(200)에서 스퀴브가 공급되면 소리를 방출한다. 일 실시예로, 부저부(323)는 발사 장치(200)에서 스퀴브가 공급되었을 때, 공급된 스퀴브의 전압 및 전류가 기 설정된 값을 만족하면 제1 음을 방출하고, 공급된 스퀴브의 전압 및 전류가 기 설정된 값(또는 그 범위)을 벗어나는 경우, 소리를 방출하지 않거나 제1 음과 다른 제2 음을 방출할 수 있다.The buzzer 323 emits a sound when the squib is supplied from the launch device 200 . In one embodiment, when the squib is supplied from the launch device 200 , the buzzer 323 emits a first sound when the voltage and current of the supplied squib satisfy preset values, and the supplied squib When the voltage and current of ' ' are out of a preset value (or a range thereof), no sound is emitted or a second sound different from the first sound may be emitted.

LED부(324)는 발사 장치(200)에서 스퀴브가 공급되면 광을 방출한다. 일 실시예로, LED부(324)는 발사 장치(200)에서 스퀴브가 공급되었을 때, 공급된 스퀴브의 전압 및 전류가 기 설정된 값을 만족하면 제1 광을 방출하고, 공급된 스퀴브의 전압 및 전류가 기 설정된 값(또는 그 범위)을 벗어나는 경우, 광을 방출하지 않거나, 제1 광과 다른 파장의 제2 광을 방출할 수 있다.The LED unit 324 emits light when the squib is supplied from the launch device 200 . In one embodiment, when the squib is supplied from the launch device 200 , the LED unit 324 emits a first light when the voltage and current of the supplied squib satisfy preset values, and the supplied squib When the voltage and current of are out of a preset value (or a range thereof), the light may not be emitted or the second light having a wavelength different from that of the first light may be emitted.

또한, 부저부(323) 및 LED부(324)는 측정된 발사관(100)과 점검 장치(300) 간의 접점 저항 또는 발사관(100)과 발사 장치(200) 간의 접점 저항이 기 설정된 값을 벗어나는 경우에도, 이를 표시하도록 소리 또는 광을 방출할 수 있다.In addition, the buzzer unit 323 and the LED unit 324 are measured when the contact resistance between the canister 100 and the inspection device 300 or the contact resistance between the canister 100 and the launch device 200 is out of a preset value. Also, sound or light may be emitted to indicate this.

일 실시예로, LED부(324)는 사용자가 용이하게 확인할 수 있도록 인디케이터(315)에 배치될 수 있다.In one embodiment, the LED unit 324 may be disposed on the indicator 315 so that a user can easily check it.

측정부(325)는 공급되는 스퀴브의 전압 및 전류를 측정하여, 인디케이터(315)를 통해 표시할 수 있다. 또는 측정부(325)는 발사관(100)과 점검 장치(300) 간의 접점 저항 또는 발사관(100)과 발사 장치(200) 간의 접점 저항(케이블(C) 저항)을 측정하여, 인디케이터(315)를 통해 표시할 수 있다.The measuring unit 325 may measure the voltage and current of the supplied squib and display it through the indicator 315 . Alternatively, the measuring unit 325 measures the contact resistance between the canister 100 and the inspection device 300 or the contact resistance (cable (C) resistance) between the canister 100 and the launch device 200 to measure the indicator 315 . can be displayed through

일 실시예로, 점검 회로(320)의 전원은 공급되는 스퀴브에 의해 동작될 수 있다. 즉, 점검 회로(320)는 별도의 전원을 필요로 하지 않기 때문에, 추가 배터리를 장착하거나 이를 충전할 필요가 없어, 구조를 단순하게 할 수 있고 무게를 저감할 수 있다.In an embodiment, the power of the check circuit 320 may be operated by a supplied squib. That is, since the check circuit 320 does not require a separate power source, there is no need to install an additional battery or charge it, so that the structure can be simplified and the weight can be reduced.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 절차를 나타낸다.6 shows a rocket launch check procedure according to an embodiment of the present invention.

도 1 내지 도 6을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 방법을 설명한다.1 to 6, a rocket launch check method according to an embodiment of the present invention will be described.

일 실시예로, 본 발명에 따른 로켓 발사 점검 방법은 적절한 스퀴브가 공급되는지 확인할 수 있다.In one embodiment, the rocket launch check method according to the present invention may check whether an appropriate squib is supplied.

먼저, 발사관(100)의 발사홀(110)에 점검 장치(300)를 삽입 및 장착한다. 여기서 점검 장치(300)의 모의 로켓(310)이 모사하고자 하는 실제 로켓(R)은 제1 로켓일 수 있다. 점검 장치(300)의 모의 로켓(310)은 발사홀(110)에 삽입된 상태에서 디텐트(111)와 접촉한다. 그리고 모의 로켓(310)의 스퀴브 접점부(312)의 제1 접점(312a)과 제2 접점(312b)이 디텐트(111)와 접촉할 수 있다.First, the inspection device 300 is inserted and mounted in the firing hole 110 of the firing tube 100 . Here, the actual rocket R to be simulated by the simulation rocket 310 of the inspection device 300 may be the first rocket. The simulation rocket 310 of the inspection device 300 is in contact with the detent 111 in a state inserted into the launch hole (110). In addition, the first contact 312a and the second contact 312b of the squib contact portion 312 of the simulation rocket 310 may contact the detent 111 .

다음, 저항 스위칭부(321)를 이용해 내부 저항부(322)를 점검 회로(320)와 연결한다.Next, the internal resistance unit 322 is connected to the check circuit 320 using the resistance switching unit 321 .

다음, 내부 저항부(322)의 저항값을 제1 로켓에 포함된 점화기의 저항에 대응되는 값으로 설정한다. 여기서 내부 저항부(322)는 가변 저항이며, 모의 로켓(310)이 모사하고자 하는 실제 로켓(예를 들어, 제1 로켓)에 포함된 점화기의 저항과 동일한 값을 갖도록 조절될 수 있다.Next, the resistance value of the internal resistance unit 322 is set to a value corresponding to the resistance of the igniter included in the first rocket. Here, the internal resistance unit 322 is a variable resistance and may be adjusted to have the same value as the resistance of the igniter included in the actual rocket (eg, the first rocket) to be simulated by the simulation rocket 310 .

다음, 발사 장치(200)를 이용해 점검 장치(300)로 스퀴브를 공급한다. 여기서 스퀴브는 모사하고자 하는 실제 로켓을 고려하여 적절한 전류 및 전압의 스퀴브가 공급될 수 있다.Next, the squib is supplied to the inspection device 300 using the firing device 200 . Here, the squib of an appropriate current and voltage may be supplied in consideration of the actual rocket to be simulated.

다음, 점검 회로(320)의 측정부(325)는 공급된 스퀴브의 전압 및 전류를 측정한다.Next, the measuring unit 325 of the check circuit 320 measures the voltage and current of the supplied squib.

다음, 인디케이터(315)는 측정된 스퀴브의 전압 및 전류를 표시한다.Next, the indicator 315 displays the measured voltage and current of the squib.

다른 실시예로, 본 발명에 따른 로켓 발사 점검 방법은 발사관(100)과, 발사 장치(200)와, 모의 로켓(310)의 접점 저항을 측정할 수 있다.In another embodiment, the rocket launch check method according to the present invention may measure the contact resistance of the launch tube 100 , the launch device 200 , and the simulation rocket 310 .

먼저, 모의 로켓(310)이 발사관(100)의 발사홀(110)에 삽입된 상태에서, 저항 스위칭부(321)를 작동시켜, 내부 저항부(322)가 점검 회로(320)와 연결되지 않도록 한다. 즉, 점검 회로(320)의 저항이 실질적으로 0이 되도록 설정한다.First, in a state in which the simulation rocket 310 is inserted into the launch hole 110 of the launch tube 100 , the resistance switching unit 321 is operated so that the internal resistance unit 322 is not connected to the check circuit 320 . do. That is, the resistance of the check circuit 320 is set to be substantially zero.

다음, 발사관(100)과 모의 로켓(310) 간의 접점 저항, 보다 구체적으로는 디텐트(111)와 스퀴브 접점부(312) 간의 접점 저항을 측정하고, 이를 인디케이터(315)를 통해 표시한다. 또는, 발사관(100)과 발사 장치(200) 간의 접점 저항, 보다 구체적으로는 발사관(100)과 발사 장치(200)를 연결하는 케이블(C)의 저항을 측정하고, 이를 인디케이터(315)를 통해 표시한다.Next, the contact resistance between the launch tube 100 and the simulation rocket 310 , more specifically, the contact resistance between the detent 111 and the squib contact portion 312 is measured, and this is displayed through the indicator 315 . Alternatively, the contact resistance between the launch tube 100 and the launch device 200, more specifically, the resistance of the cable C connecting the launch tube 100 and the launch device 200 is measured, and this is measured through the indicator 315. indicate

다른 실시예로, 본 발명에 따른 로켓 발사 점검 방법은 제2 로켓에 대해서도 적절한 스퀴브가 공급되는지 또는 발사관(100)과, 발사 장치(200)와, 모의 로켓(310)의 접점 저항을 측정할 수 있다.In another embodiment, the rocket launch check method according to the present invention measures whether an appropriate squib is supplied to the second rocket or the contact resistance of the launch tube 100 , the launch device 200 , and the simulation rocket 310 . can

먼저, 제1 로켓에 대한 점검이 완료된 후, 모의 로켓(310)이 발사관(100)에 장착된 상태에서, 스퀴브 접점부(312)의 제1 접점(312a)과 제3 접점(312c)이 디텐트(111)와 접촉하도록 위치를 수정한다.First, after the inspection of the first rocket is completed, the first contact 312a and the third contact 312c of the squib contact unit 312 in the state in which the simulation rocket 310 is mounted on the launch tube 100 are The position is modified so as to be in contact with the detent 111 .

다음, 저항 스위칭부(321)를 이용해 내부 저항부(322)를 점검 회로(320)와 연결한다.Next, the internal resistance unit 322 is connected to the check circuit 320 using the resistance switching unit 321 .

다음, 내부 저항부(322)의 저항값을 제2 로켓에 포함된 점화기의 저항에 대응되는 값으로 설정한다.Next, the resistance value of the internal resistance unit 322 is set to a value corresponding to the resistance of the igniter included in the second rocket.

다음, 발사 장치(200)를 이용해 점검 장치(300)로 스퀴브를 공급한다.Next, the squib is supplied to the inspection device 300 using the firing device 200 .

다음, 점검 회로(320)의 측정부(325)는 공급된 스퀴브의 전압 및 전류를 측정한다.Next, the measuring unit 325 of the check circuit 320 measures the voltage and current of the supplied squib.

다음, 인디케이터(315)는 측정된 스퀴브의 전압 및 전류를 표시한다.Next, the indicator 315 displays the measured voltage and current of the squib.

마찬가지로, 본 발명에 따른 로켓 발사 점검 방법은 제2 로켓에 대해서도 발사관(100)과, 발사 장치(200)와, 모의 로켓(310)의 접점 저항을 측정할 수 있다.Similarly, the rocket launch check method according to the present invention may measure the contact resistance of the launch tube 100 , the launch device 200 , and the simulation rocket 310 for the second rocket.

도 6에는 제1 로켓의 점검이 완료된 후, 제2 로켓의 점검을 실시하는 것으로 나타냈으나, 그 순서는 특별히 한정하지 않는다. 또한, 도 6에는 적절한 스퀴브가 공급되는지 점검 후 접점 저항을 측정하는 것으로 나타냈으나, 그 순서는 특별히 한정하지 않는다.6 shows that after the inspection of the first rocket is completed, the inspection of the second rocket is performed, but the order is not particularly limited. In addition, although FIG. 6 shows that the contact resistance is measured after checking whether an appropriate squib is supplied, the order is not particularly limited.

예를 들어, 모의 로켓(310)을 이용해 제1 로켓에 대해 접점 저항을 측정한 후에, 제1 로켓에 대해 적절한 스퀴브가 공급되는지 점검할 수 있다. 또는, 모의 로켓(310)을 이용해 제2 로켓에 대해 적절한 스퀴브가 공급되는지 점감한 후에, 제2 로켓에 대해 접점 저항을 측정할 수 있다.For example, after measuring the contact resistance for the first rocket using the simulated rocket 310 , it may be checked whether an appropriate squib is supplied for the first rocket. Alternatively, the contact resistance may be measured for the second rocket after the simulation rocket 310 is used to decrease whether an appropriate squib is supplied to the second rocket.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템(10) 및 이를 이용하는 로켓 발사 점검 방법은 다양한 제원, 형상 및 크기를 갖는 로켓을 모사할 수 있다.The rocket launch inspection system 10 and the rocket launch inspection method using the same according to an embodiment of the present invention can simulate a rocket having various specifications, shapes and sizes.

본 발명의 일 실시예에 따른 로켓 발사 점검 시스템(10) 및 이를 이용하는 로켓 발사 점검 방법은 공급되는 스퀴브의 전압 및 전류를 측정할 수 있고, 발사관(100)과 발사 장치(200), 모의 로켓(310) 사이의 접점 저항을 측정할 수 있다. 이를 통해 로켓 발사를 통합적으로 점검할 수 있다.The rocket launch inspection system 10 and the rocket launch inspection method using the same according to an embodiment of the present invention can measure the voltage and current of the supplied squib, and the launch tube 100 and the launch device 200, the simulation rocket The contact resistance between 310 can be measured. This allows an integrated check of the rocket launch.

이와 같이 도면에 도시된 실시예를 참고로 본 발명을 설명하였으나, 이는 예시에 불과하다. 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 갖는 자라면 실시예로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 충분히 이해할 수 있다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 청구범위에 기초하여 정해져야 한다.As described above, the present invention has been described with reference to the embodiment shown in the drawings, but this is only an example. Those of ordinary skill in the art can fully understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible from the embodiments. Therefore, the true technical protection scope of the present invention should be determined based on the appended claims.

실시예에서 설명하는 특정 기술 내용은 일 실시예들로서, 실시예의 기술 범위를 한정하는 것은 아니다. 발명의 설명을 간결하고 명확하게 기재하기 위해, 종래의 일반적인 기술과 구성에 대한 기재는 생략될 수 있다. 또한, 도면에 도시된 구성 요소들 간의 선들의 연결 또는 연결 부재는 기능적인 연결 및/또는 물리적 또는 회로적 연결들을 예시적으로 나타낸 것으로서, 실제 장치에서는 대체 가능하거나 추가의 다양한 기능적인 연결, 물리적인 연결, 또는 회로 연결들로 표현될 수 있다. 또한, "필수적인", "중요하게" 등과 같이 구체적인 언급이 없다면 본 발명의 적용을 위하여 반드시 필요한 구성 요소가 아닐 수 있다.Specific technical content described in the embodiment is an embodiment and does not limit the technical scope of the embodiment. In order to concisely and clearly describe the description of the invention, descriptions of conventional general techniques and configurations may be omitted. In addition, the connection or connection member of the lines between the components shown in the drawings illustratively shows functional connections and/or physical or circuit connections, and in an actual device, various functional connections, physical connections that are replaceable or additional It may be expressed as a connection, or circuit connections. In addition, unless there is a specific reference such as "essential", "importantly", etc., it may not be a necessary component for the application of the present invention.

발명의 설명 및 청구범위에 기재된 "상기" 또는 이와 유사한 지시어는 특별히 한정하지 않는 한, 단수 및 복수 모두를 지칭할 수 있다. 또한, 실시 예에서 범위(range)를 기재한 경우 상기 범위에 속하는 개별적인 값을 적용한 발명을 포함하는 것으로서(이에 반하는 기재가 없다면), 발명의 설명에 상기 범위를 구성하는 각 개별적인 값을 기재한 것과 같다. 또한, 실시예에 따른 방법을 구성하는 단계들에 대하여 명백하게 순서를 기재하거나 반하는 기재가 없다면, 상기 단계들은 적당한 순서로 행해질 수 있다. 반드시 상기 단계들의 기재 순서에 따라 실시예들이 한정되는 것은 아니다. 실시예에서 모든 예들 또는 예시적인 용어(예들 들어, 등등)의 사용은 단순히 실시예를 상세히 설명하기 위한 것으로서 청구범위에 의해 한정되지 않는 이상, 상기 예들 또는 예시적인 용어로 인해 실시예의 범위가 한정되는 것은 아니다. 또한, 통상의 기술자는 다양한 수정, 조합 및 변경이 부가된 청구범위 또는 그 균등물의 범주 내에서 설계 조건 및 팩터에 따라 구성될 수 있음을 알 수 있다.In the description and claims, "above" or similar referents may refer to both the singular and the plural unless otherwise specified. In addition, when a range is described in the embodiment, it includes the invention to which individual values belonging to the range are applied (if there is no description to the contrary), and each individual value constituting the range is described in the description of the invention. same. In addition, the steps constituting the method according to the embodiment may be performed in an appropriate order unless the order is explicitly stated or there is no description to the contrary. The embodiments are not necessarily limited according to the order of description of the above steps. The use of all examples or exemplary terms (eg, etc.) in the embodiments is merely for describing the embodiments in detail, and unless limited by the claims, the scope of the embodiments is limited by the examples or illustrative terms. it is not In addition, those skilled in the art will recognize that various modifications, combinations, and changes may be made in accordance with design conditions and factors within the scope of the appended claims or their equivalents.

10: 로켓 발사 점검 시스템
100: 발사관
200: 발사 장치
300: 점검 장치
10: Rocket launch check system
100: launch tube
200: launch device
300: check device

Claims (14)

복수 개의 발사홀을 구비하는 발사관;
케이블을 통해 상기 발사관과 연결되는 발사 장치; 및
상기 발사홀에 삽입되며, 상기 발사 장치로부터 스퀴브(squib)를 공급받는 점검 장치;를 포함하고,
상기 점검 장치는 상기 발사 장치로부터 공급된 스퀴브의 전압 및 전류와, 상기 발사관과 상기 발사 장치 사이의 접점 저항과, 상기 발사관과 상기 점검 장치 사이의 접점 저항 중 적어도 어느 하나를 측정하고,
상기 점검 장치는
상기 발사홀의 내부에 삽입되어 상기 발사관의 디텐트(detent)와 접촉하여 상기 발사 장치로부터 스퀴브를 공급받고, 공급된 스퀴브의 전류 및 전압을 표시하는 모의 로켓; 및
공급된 스퀴브의 전류 및 전압을 측정하는 점검 회로;를 포함하는, 로켓 발사 점검 시스템.
a launch tube having a plurality of launch holes;
a launch device connected to the launch tube through a cable; and
a check device inserted into the firing hole and receiving a squib from the firing device; and
The checking device measures at least one of a voltage and a current of a squib supplied from the firing device, a contact resistance between the firing tube and the firing device, and a contact resistance between the firing tube and the checking device,
The inspection device is
a simulation rocket inserted into the launch hole to receive a squib from the launch device in contact with a detent of the launch tube, and display the current and voltage of the supplied squib; and
A check circuit for measuring the current and voltage of the supplied squib; including a rocket launch check system.
삭제delete 제1 항에 있어서,
상기 모의 로켓은
적어도 일부가 상기 발사홀의 내부에 삽입되는 하우징;
상기 하우징의 일측에 배치되며, 상기 발사관의 디텐트와 접촉하여 상기 발사 장치로부터 스퀴브를 공급받는 스퀴브 접점부; 및
상기 하우징의 일측에 배치되어, 상기 점검 회로가 측정한 상기 스퀴브의 전류 및 전압을 표시하는 인디케이터;를 포함하는, 로켓 발사 점검 시스템.
According to claim 1,
The simulated rocket
at least a portion of the housing is inserted into the firing hole;
a squib contact portion disposed on one side of the housing and receiving a squib from the launch device in contact with the detent of the launch tube; and
An indicator disposed on one side of the housing to display the current and voltage of the squib measured by the inspection circuit; and a rocket launch inspection system.
제3 항에 있어서,
상기 하우징의 일단은 상기 발사홀의 내부에 삽입되며, 상기 하우징의 타단은 상기 발사홀의 외부로 돌출되고,
상기 인디케이터는 상기 하우징의 타단에 배치되어, 상기 점검 회로가 측정한 상기 스퀴브의 전류 및 전압을 표시하는, 로켓 발사 점검 시스템.
4. The method of claim 3,
One end of the housing is inserted into the firing hole, and the other end of the housing protrudes to the outside of the firing hole,
The indicator is disposed at the other end of the housing to display the current and voltage of the squib measured by the inspection circuit, rocket launch inspection system.
제3 항에 있어서,
상기 스퀴브 접점부는 각각 상기 발사관의 디텐트와 접촉하며, 상기 하우징의 서로 다른 위치에 배치되는 제1 접점, 제2 접점 및 제3 접점을 포함하고,
상기 점검 회로는 상기 제1 접점과 상기 제2 접점 사이 또는 상기 제1 접점과 상기 제3 접점 사이에 인가되는 전압과 그에 따른 전류를 측정하고,
상기 인디케이터는 상기 점검 회로가 측정한 상기 전압 및 전류를 상기 인디케이터에 표시하는, 로켓 발사 점검 시스템.
4. The method of claim 3,
The squib contact portion is in contact with the detent of the firing tube, respectively, and includes a first contact, a second contact, and a third contact disposed at different positions of the housing,
The check circuit measures a voltage applied between the first contact point and the second contact point or between the first contact point and the third contact point, and a corresponding current,
The indicator displays the voltage and current measured by the inspection circuit on the indicator, rocket launch inspection system.
제1 항에 있어서,
상기 모의 로켓은
절연체로 구성되며, 상기 발사 장치에서 공급되는 스퀴브와 상기 점검 회로의 전기적 간섭을 줄이기 위한 점화 회로 절연부를 더 포함하는, 로켓 발사 점검 시스템.
According to claim 1,
The simulated rocket
Consisting of an insulator, the rocket launch inspection system further comprising an ignition circuit insulation for reducing electrical interference between the inspection circuit and the squib supplied from the launch device.
제3 항에 있어서,
상기 모의 로켓은
상기 하우징과 상기 인디케이터를 연결하며, 상기 하우징에 대해 탈착 가능하고, 손잡이를 구비하는 연결부를 더 포함하는, 로켓 발사 점검 시스템.
4. The method of claim 3,
The simulated rocket
Connecting the housing and the indicator, the rocket launch inspection system further comprising a connection portion detachable from the housing and having a handle.
제1 항에 있어서,
상기 점검 회로는
상기 모의 로켓이 상기 발사 장치로부터 스퀴브를 공급받으면, 소리 또는 광을 방출하는 표시부를 더 포함하는, 로켓 발사 점검 시스템.
According to claim 1,
The check circuit is
When the simulation rocket is supplied with a squib from the launch device, further comprising a display unit that emits a sound or light, rocket launch check system.
제1 항에 있어서,
상기 점검 회로는
가변 저항인 내부 저항부; 및
상기 내부 저항부를 상기 점검 회로에 대해 선택적으로 연결하여, 상기 점검 회로의 내부 저항을 제어하는 저항 스위칭부;를 더 포함하는, 로켓 발사 점검 시스템.
According to claim 1,
The check circuit is
an internal resistance part that is a variable resistor; and
A resistance switching unit configured to selectively connect the internal resistance unit to the inspection circuit to control the internal resistance of the inspection circuit; further comprising a rocket launch inspection system.
제9 항에 있어서,
상기 저항 스위칭부가 상기 내부 저항부를 상기 점검 회로와 연결하면, 상기 점검 회로는 공급되는 스퀴브의 전류 및 전압을 측정하고, 상기 저항 스위칭부가 상기 내부 저항부를 상기 점검 회로와 연결하지 않으면, 상기 점검 회로는 상기 발사관과 상기 모의 로켓 간의 접점 저항 및 상기 발사관과 상기 발사 장치 간의 접점 저항을 측정하는, 로켓 발사 점검 시스템.
10. The method of claim 9,
When the resistance switching unit connects the internal resistance unit with the inspection circuit, the inspection circuit measures the current and voltage of the supplied squib, and if the resistance switching unit does not connect the internal resistance unit with the inspection circuit, the inspection circuit is to measure the contact resistance between the launch tube and the simulated rocket and the contact resistance between the launch tube and the launch device.
모의 로켓과 점검 회로를 구비하는 점검 장치를 이용해 로켓의 발사를 점검하는 방법으로서,
발사관의 발사홀에 상기 모의 로켓을 삽입하는 단계;
상기 발사관과 연결되는 발사 장치로 상기 모의 로켓에 스퀴브를 공급하는 단계; 및
상기 점검 장치로 상기 발사 장치로부터 공급된 스퀴브의 전압 및 전류와, 상기 발사관과 상기 발사 장치 사이의 접점 저항과, 상기 발사관과 상기 점검 장치 사이의 접점 저항 중 적어도 어느 하나를 측정하는 단계;를 포함하고,
상기 모의 로켓을 삽입하는 단계는
상기 모의 로켓의 스퀴브 접점부를 상기 발사관의 디텐트와 연결하되, 점검하고자 하는 로켓에 따라 상기 스퀴브 접점부와 상기 발사관의 연결 위치를 다르게 하는, 로켓 발사 점검 방법.
A method of checking the launch of a rocket using a check device having a simulation rocket and a check circuit, the method comprising:
inserting the simulation rocket into the launch hole of the launch tube;
supplying a squib to the simulation rocket with a launch device connected to the launch tube; and
Measuring at least one of the voltage and current of the squib supplied from the firing device to the inspection device, the contact resistance between the firing tube and the firing device, and the contact resistance between the firing tube and the checking device; including,
The step of inserting the simulated rocket is
A rocket launch inspection method, wherein the squib contact portion of the simulated rocket is connected to the detent of the launch tube, and a connection position between the squib contact portion and the launch tube is different depending on the rocket to be checked.
삭제delete 제11 항에 있어서,
상기 모의 로켓을 삽입하는 단계 후에,
상기 점검 회로의 저항 스위칭부를 작동시켜, 상기 점검 회로의 내부 저항부를 상기 점검 회로와 연결하는 단계; 및
상기 점검 회로의 내부 저항부의 저항값을 조절하는 단계;를 포함하는, 로켓 발사 점검 방법.
12. The method of claim 11,
After inserting the simulated rocket,
activating the resistance switching unit of the inspection circuit to connect the internal resistance unit of the inspection circuit to the inspection circuit; and
Controlling the resistance value of the internal resistance part of the inspection circuit; including; rocket launch inspection method.
제11 항에 있어서,
상기 모의 로켓을 삽입하는 단계 후에
상기 점검 회로의 저항 스위칭부를 작동시켜, 상기 점검 회로의 내부 저항부를 상기 점검 회로와 연결하지 않는 단계; 및
상기 점검 장치로 상기 모의 로켓과 상기 발사관의 접점 저항을 측정하는 단계;를 포함하는, 로켓 발사 점검 방법.
12. The method of claim 11,
After the step of inserting the simulation rocket
activating the resistance switching unit of the inspection circuit so as not to connect the internal resistance unit of the inspection circuit with the inspection circuit; and
Measuring the contact resistance of the simulation rocket and the launch tube with the inspection device; Containing, rocket launch inspection method.
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