KR102552599B1 - Apparatus for squib line interface test - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 76
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 74
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims abstract description 20
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 4
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000452 restraining effect Effects 0.000 description 1
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- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
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- H02G3/00—Installations of electric cables or lines or protective tubing therefor in or on buildings, equivalent structures or vehicles
- H02G3/30—Installations of cables or lines on walls, floors or ceilings
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- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B3/00—Ohmic-resistance heating
- H05B3/40—Heating elements having the shape of rods or tubes
- H05B3/54—Heating elements having the shape of rods or tubes flexible
- H05B3/56—Heating cables
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
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- Civil Engineering (AREA)
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Abstract
착화라인 인터페이스 시험용 장치는 발광램프, 및 발열선이 단락되어 있는 초기 상태에서 상기 발열선을 통해 발사통제장치의 접지에 연결되어 동작하는 발광소자 및 상기 발광소자에서 방출되는 빛에 의해 턴 온되어 상기 발광램프에 전류를 흘려보내는 광검출소자를 포함하는 이산신호 회로부를 포함하고, 상기 발사통제장치의 착화신호에 의해 상기 발열선이 단선되면 상기 발광램프가 오프 상태가 된다.The device for testing the ignition line interface is turned on by a light emitting element connected to the ground of the firing control device through the heating wire in an initial state in which a light emitting lamp and a heating wire are short-circuited, and light emitted from the light emitting element, and the light emitting lamp and a discrete signal circuit including a photodetection element for sending a current, and when the heating line is disconnected by an ignition signal of the firing control device, the light emitting lamp is turned off.
Description
본 발명은 착화라인 인터페이스 시험용 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 일회성으로 사용하는 전기식 착화기를 대체할 수 있는 착화라인 인터페이스 시험용 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an ignition line interface test device, and more particularly, to an ignition line interface test device that can replace an electric ignition device used once.
일반적으로 유도탄에는 열전지, 점화장치, 구속장치 등 폭약을 사용하는 파이로테크닉스(pyrotechnics) 구성품이 탑재되어 있으며, 이를 착화시키기 위한 전기식 착화기가 사용된다. 전기식 착화기는 입력된 전기적 에너지를 열에너지로 변화시켜 구성품을 동작시키는 일회성 구성품으로, 작동 후에는 재사용이 불가하다. 따라서 전기식 착화기는 높은 안전성과 신뢰성이 요구된다. 이와 동시에 전기식 착화기에 전기적 에너지를 인가하는 통제장치 및 배선장치의 경우에도 높은 신뢰성이 요구된다. 일회성 구성품의 인터페이스가 정상인지 확인하려면 실제 구성품을 적용하여 작동여부를 확인한 후 새로운 구성품으로 대체하여야 한다. In general, a guided missile is equipped with pyrotechnics components that use explosives, such as a thermal battery, an ignition device, and a restraining device, and an electric igniter is used to ignite them. The electric igniter is a one-time component that operates components by converting input electrical energy into thermal energy, and cannot be reused after operation. Therefore, electric igniters require high safety and reliability. At the same time, high reliability is required even in the case of a control device and a wiring device that applies electrical energy to the electric ignition. To check if the interface of a one-time component is normal, replace it with a new component after confirming its operation by applying the actual component.
일회성 구성품 자체에 대한 신뢰성은 별도 시험 등을 통해 확보하는 것이 일반적이며, 시스템을 구성하는 통제장치 및 배선장치의 인터페이스가 정상인지를 확인하기 위해서는 실제 구성품 또는 이를 대체할 수 있는 경제적인 점검용 장치 및 방법이 필요하다. 종래의 경우에는 실제 비행시험 전에 준비된 시험용 유도탄을 이용하여 지상에서 통제장치와 배선장치의 건전성을 확인한다. 이때, 사용하는 전기식 착화기는 활성과 비활성의 두 종류가 있고, 그 중 하나를 선택하여 사용할 수 있다. 폭약이 탑재된 활성 전기식 착화기를 사용하게 되면, 시험시 육안 및 소리로 정상 착화됨을 확인할 수 있고, 작동 후 형상이 변경되어 누구나 구분이 가능하다. 실제 구성품에 폭약이 탑재되지 않는 비활성 전기식 착화기는 활성 전기식 착화기보다 안전하지만 시험시 또는 시험 후 정상 작동 여부를 육안으로 확인할 수 없기 때문에 작동 후 디지털 멀티미터 등의 장비를 이용하여 한 라인씩 확인하여 정상 작동 여부를 확인하는 절차 및 시간이 필요하다. It is common to secure the reliability of the one-time component itself through a separate test, etc., and to check whether the interface of the control device and wiring device constituting the system is normal, the actual component or an economical inspection device that can replace it We need a way. In the conventional case, the integrity of the control device and the wiring device is checked on the ground using a test guided missile prepared before the actual flight test. At this time, there are two types of electric igniter, active and inactive, and one of them can be selected and used. When an active electric igniter loaded with explosives is used, it can be confirmed that it is normally ignited visually and by sound during the test, and after operation, the shape is changed so that anyone can distinguish it. The inactive electric ignition system, in which explosives are not loaded into the actual components, is safer than the active electric ignition system. Procedures and time are required to check whether it works normally.
여기서 발생하는 문제점은 다음과 같다. 활성 전기식 착화기는 보관, 이동, 안전 측면에서 절차가 많이 필요하며, 비활성 전기식 착화기는 시험 후 발열선이 정상적으로 단선되었는지 계측장치를 이용한 확인이 필요하여 시간이 소요된다는 단점이 있다. 또한, 전기식 착화기는 일회성 장치로 통제장치 및 배선장치의 신뢰성 확인을 위해 몇 번의 시험을 수행한다고 하였을 때, 신뢰도 만족에 요구되는 횟수의 시험을 수행할 수 있는 수량의 착화기가 있어야 시험이 가능하다. 활성 착화기와 비활성 착화기는 모두 일회성 부품으로 비용적인 측면에서도 부담이 될 수 있다. The problems that arise here are: The active electric igniter requires a lot of procedures in terms of storage, movement, and safety, and the inactive electric igniter takes time because it is necessary to check whether the heating wire is normally disconnected after the test using a measuring device. In addition, the electric igniter is a one-time device, and when it is assumed that several tests are performed to check the reliability of the control device and wiring device, the test can be performed only when there is a number of igniters capable of performing the number of tests required to satisfy the reliability. Both the active igniter and the inactive igniter are one-time parts and can be burdensome in terms of cost.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 착화라인 인터페이스를 확인하기 위한 시험에서 일회성으로 사용하는 전기식 착화기를 대체할 수 있고, 안전하고 경제적으로 시험을 수행할 수 있는 착화라인 인터페이스 시험용 장치를 제공함에 있다. A technical problem to be solved by the present invention is to provide an ignition line interface test device that can replace an electric igniter that is used once in a test to confirm an ignition line interface and can safely and economically perform the test.
본 발명의 일 실시예에 따른 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 발광램프, 및 발열선이 단락되어 있는 초기 상태에서 상기 발열선을 통해 발사통제장치의 접지에 연결되어 동작하는 발광소자 및 상기 발광소자에서 방출되는 빛에 의해 턴 온되어 상기 발광램프에 전류를 흘려보내는 광검출소자를 포함하는 이산신호 회로부를 포함하고, 상기 발사통제장치의 착화신호에 의해 상기 발열선이 단선되면 상기 발광램프가 오프 상태가 된다. An apparatus for testing an ignition line interface according to an embodiment of the present invention is a light emitting element operating by being connected to the ground of an emission control device through a heating wire in an initial state in which a light emitting lamp and a heating wire are short-circuited, and light emitted from the light emitting element. and a discrete signal circuit unit including a photodetection element that is turned on by and sending current to the light emitting lamp, and when the heating line is disconnected by the ignition signal of the emission control device, the light emitting lamp is turned off.
상기 발광소자는 제1 전원에 연결되어 있는 애노드 전극 및 상기 발열선의 일단에 연결되어 있는 캐소드 전극을 포함하는 발광 다이오드이고, 상기 광검출소자는 상기 발광 다이오드에서 방출되는 빛을 수신하는 게이트 전극, 제2 전원에 연결되어 있는 제1 전극 및 상기 발광램프에 연결되어 있는 제2 전극을 포함하는 포토트랜지스터일 수 있다. The light emitting element is a light emitting diode including an anode electrode connected to a first power source and a cathode electrode connected to one end of the heating line, and the photodetector element includes a gate electrode for receiving light emitted from the light emitting diode, a second It may be a phototransistor including a first electrode connected to a power source and a second electrode connected to the light emitting lamp.
착화라인 인터페이스 시험용 장치는 상기 발사통제장치의 착화전원에 연결되어 있는 착화전원라인을 상기 발열선의 일단에 연결시키고, 상기 발사통제장치의 접지에 연결되어 있는 착화귀환라인을 상기 발열선의 타단에 연결시키는 커넥터를 더 포함할 수 있다. The device for testing the ignition line interface connects the ignition power line connected to the ignition power source of the firing control device to one end of the heating wire, and connects the ignition return line connected to the ground of the firing control device to the other end of the heating wire. It may further include connectors.
상기 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 착화전원라인과 상기 발열선의 일단 사이에 연결되어 있고, 상기 제1 전원으로부터 상기 발사통제장치의 착화전원으로 전류 흐름을 방지하는 제1 다이오드를 더 포함할 수 있다.The device for testing the ignition line interface may further include a first diode connected between an ignition power line and one end of the heating wire and preventing current flow from the first power source to the ignition power source of the firing control device.
상기 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 상기 발광 다이오드의 캐소드 전극과 상기 발열선의 일단 사이에 연결되어 있고, 상기 발사통제장치의 착화전원으로부터 상기 이산신호 회로부로 전류 흐름을 방지하는 제2 다이오드를 더 포함할 수 있다. The device for testing the ignition line interface may further include a second diode connected between the cathode electrode of the light emitting diode and one end of the heating line and preventing current flow from the ignition power source of the firing control device to the discrete signal circuit unit. there is.
상기 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제1 커패시터, 및 상기 제1 전원과 상기 발광 다이오드의 애노드 전극 사이에 연결되어 있는 제1 저항을 더 포함할 수 있다. The ignition line interface test apparatus may further include a first capacitor connected in parallel with the light emitting diode, and a first resistor connected between the first power source and the anode electrode of the light emitting diode.
상기 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제2 저항을 더 포함할 수 있다. The ignition line interface test device may further include a second resistor connected in parallel with the light emitting diode.
상기 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 상기 발열선만을 교체하여 여러 번 착화 시험을 수행할 수 있다. The device for testing the ignition line interface may perform the ignition test several times by replacing only the heating wire.
상기 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 상기 발열선의 일측을 고정하는 제1 퓨즈 고정 나사, 상기 발열선의 타측을 고정하는 제2 퓨즈 고정 나사, 상기 제2 퓨즈 고정 나사가 설치되고, 상기 제2 퓨즈 고정 나사가 상기 제1 퓨즈 고정 나사를 향하는 방향으로 이동될 수 있도록 설치되는 브래킷, 및 상기 브래킷의 위치를 고정하는 브래킷 고정 나사를 더 포함할 수 있다. The device for testing the ignition line interface includes a first fuse fixing screw fixing one side of the heating wire, a second fuse fixing screw fixing the other side of the heating wire, and the second fuse fixing screw, and the second fuse fixing screw The apparatus may further include a bracket installed to be movable in a direction toward the first fuse fixing screw, and a bracket fixing screw fixing a position of the bracket.
상기 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 상기 제1 퓨즈 고정 나사와 상기 제2 퓨즈 고정 나사 사이의 간격을 측정하기 위한 눈금자를 더 포함할 수 있다.The device for testing the ignition line interface may further include a ruler for measuring a distance between the first fuse fixing screw and the second fuse fixing screw.
본 발명의 다른 실시예에 따른 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 접지에 연결되어 있는 발열선과 제1 전원 사이에 연결되어 있는 발광 다이오드, 상기 발광 다이오드에서 방출되는 빛에 의해 턴 온되는 포토트랜지스터, 및 상기 포토트랜지스터가 턴 온됨에 따라 제2 전원으로부터 흐르는 전류에 의해 발광하는 발광램프를 포함한다. An apparatus for testing an ignition line interface according to another embodiment of the present invention includes a light emitting diode connected between a heating line connected to ground and a first power source, a phototransistor turned on by light emitted from the light emitting diode, and the phototransistor. and a light emitting lamp that emits light by current flowing from the second power source when the transistor is turned on.
상기 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제1 커패시터, 및 상기 제1 전원과 상기 발광 다이오드 사이에 연결되어 있는 제1 저항을 더 포함할 수 있다. The ignition line interface test apparatus may further include a first capacitor connected in parallel with the light emitting diode, and a first resistor connected between the first power source and the light emitting diode.
상기 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제2 저항을 더 포함할 수 있다.The ignition line interface test device may further include a second resistor connected in parallel with the light emitting diode.
상기 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 착화전원으로부터 상기 발열선으로 착화신호를 도통시키고, 상기 제1 전원으로부터 상기 착화전원으로 전류 흐름을 방지하는 제1 다이오드를 더 포함할 수 있다. The apparatus for testing the ignition line interface may further include a first diode for conducting an ignition signal from the ignition power source to the heating line and preventing a current flow from the first power source to the ignition power source.
상기 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 상기 제1 전원으로부터 상기 발열선으로 전류를 도통시키고, 상기 착화전원으로부터 상기 제1 전원으로 전류 흐름을 방지하는 제2 다이오드를 더 포함할 수 있다.The device for testing the ignition line interface may further include a second diode for conducting current from the first power source to the heating line and preventing a flow of current from the ignition power source to the first power source.
유도탄의 착화라인의 인터페이스 확인을 위해 설계된 본 발명의 실시예에 따른 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 일회성으로 사용하는 전기식 착화기를 대체할 수 있다. The device for testing the interface of the ignition line according to the embodiment of the present invention designed to check the interface of the ignition line of a guided missile can replace an electric igniter used once.
본 발명의 실시예에 따른 착화라인 인터페이스 시험용 장치는 여러 번의 시험 때마다 발열선만을 소모하면 되기 때문에 비용 측면에서 유리하고, 활성이 아니기 때문에 안전치구 제작을 하지 않아도 되고 관리 측면에서도 유리하다. 또한, 착화 시험을 수행하는 과정에서 시험 결과를 육안으로 확인할 수 있는 발광램프가 있기 때문에 시험 확인 절차가 간단하다.The device for testing the ignition line interface according to an embodiment of the present invention is advantageous in terms of cost because only the heating wire needs to be consumed for each test several times, and because it is not active, it is not necessary to manufacture safety equipment and is advantageous in terms of management. In addition, the test confirmation procedure is simple because there is a light emitting lamp that can check the test result with the naked eye in the process of performing the ignition test.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 착화라인 인터페이스 시험용 장치를 나타내는 회로 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 착화라인 인터페이스 시험용 장치의 발광램프가 OFF 상태인 회로 구성도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 발열선을 고정하기 위한 고정 기구물을 위에서 바라본 평면도이다.
도 4는 도 3의 고정 기구물을 측면에서 바라본 측면도이다.
도 5는 도 3의 고정 기구물이 다른 길이의 발열선을 고정하는 경우를 나타내는 평면도이다.
도 6은 도 5의 고정 기구물을 측면에서 바라본 측면도이다.1 is a circuit configuration diagram showing an apparatus for testing an ignition line interface according to an embodiment of the present invention.
2 is a circuit configuration diagram in which a light emitting lamp of an ignition line interface test device according to an embodiment of the present invention is in an OFF state.
3 is a plan view of a fixing mechanism for fixing a heating wire according to an embodiment of the present invention viewed from above.
Figure 4 is a side view of the fixing mechanism of Figure 3 viewed from the side.
FIG. 5 is a plan view illustrating a case in which the fixing mechanism of FIG. 3 fixes heating wires having different lengths.
6 is a side view of the fixture of FIG. 5 viewed from the side.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, embodiments of the present invention will be described in detail so that those skilled in the art can easily carry out the present invention. This invention may be embodied in many different forms and is not limited to the embodiments set forth herein.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.In order to clearly describe the present invention, parts irrelevant to the description are omitted, and the same reference numerals are assigned to the same or similar components throughout the specification.
또한, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.In addition, throughout the specification, when a certain component is said to "include", it means that it may further include other components without excluding other components unless otherwise stated.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 착화라인 인터페이스 시험용 장치를 나타내는 회로 구성도이다. 1 is a circuit configuration diagram showing an apparatus for testing an ignition line interface according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)는 배선장치(111, 112)를 통해 발사통제장치(100)와 연결될 수 있다. Referring to FIG. 1 , the ignition line
배선장치(111, 112)는 착화전원라인(111)과 착화귀환라인(112)을 포함할 수 있다. 착화전원라인(111)은 발열선(F)에 착화신호를 인가하기 위한 배선이고, 착화귀환라인(112)은 발열선(F)을 경유한 착화신호를 발사통제장치(100)의 접지(GND)로 귀환시키기 위한 배선이다. The
발사통제장치(100)는 착화전원(Vs11), 제1 저항(R11) 및 제2 저항(R12)을 포함할 수 있다. 착화전원(Vs11)은 착화전원라인(111)에 착화신호를 인가하기 위한 전원이다. 제1 저항(R11)은 착화전원라인(111)과 섀시접지(chassis ground)(CGND) 사이에 연결되어 있으며, 제2 저항(R12)은 착화귀환라인(112)과 섀시접지(CGND) 사이에 연결되어 있다. 제1 저항(R11)과 제2 저항(R12)은 착화전원(Vs11) 또는 접지(GND)에 인가될 수 있는 노이즈 전원 값을 섀시접지(CGND)를 통해 지상 접지로 연결시키기 위한 것이다. 발사통제장치(100)는 특정 저항 범위에 한해 정전류원을 공급하도록 설계될 수 있다.The
착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)는 제1 전원(Vs21), 제2 전원(Vs22), 이산신호 회로부(210), 커넥터(CNT), 발열선(F), 제1 다이오드(D21), 제2 다이오드(D22), 제1 커패시터(C21), 제1 저항(R21), 제2 저항(R22), 제3 저항(R23) 및 발광램프(LED)를 포함할 수 있다.The ignition line
이산신호 회로부(210)는 착화신호가 인가되지 않고 발열선(F)이 단락되어 있는 초기 상태에서 동작하여 발광램프(LED)에 전류가 흐르도록 하고, 착화신호가 인가되어 발열선(F)이 단선된 상태에서 동작하지 않아 발광램프(LED)로 전류가 흐르지 않도록 구성된다. 이산신호 회로부(210)는 발광소자 및 광검출소자를 포함하는 옵토 커플러(opto coupler)로 구성될 수 있다. 이산신호 회로부(210)는 발광소자로써 발광 다이오드(LD)를 포함하고, 광검출소자로써 포토트랜지스터(phototransistor)(TR)를 포함할 수 있다. 발광 다이오드(LD)와 포토트랜지스터(TR)는 전기적으로 분리되어 있다. The discrete
발광 다이오드(LD)의 애노드 전극은 제1 전원(Vs21)에 연결되어 있다. 초기 상태에서, 발광 다이오드(LD)의 캐소드 전극은 제2 다이오드(D22)를 통해 발열선(F)에 연결되고, 발열선(F)을 통해 착화귀환라인(112)에 연결되며, 착화귀환라인(112)을 통해 발사통제장치(100)의 접지(GND)에 연결될 수 있다. The anode electrode of the light emitting diode LD is connected to the first power source Vs21. In an initial state, the cathode electrode of the light emitting diode LD is connected to the heating line F through the second diode D22, connected to the
포토트랜지스터(TR)의 게이트 전극은 발광 다이오드(LD)에서 방출되는 빛을 수신하고, 포토트랜지스터(TR)의 제1 전극은 제2 전원(Vs22)에 연결되어 있고, 포토트랜지스터(TR)의 제2 전극은 발광램프(LED)에 연결되어 있다. 제1 전원(Vs21)으로부터 발광 다이오드(LD)로 전류가 흐르면, 발광 다이오드(LD)가 발광하게 되고, 포토트랜지스터(TR)는 발광 다이오드(LD)로부터 방출되는 빛에 의해 턴 온되어 제2 전원(Vs22)으로부터 발광램프(LED)로 전류를 흘려보내 발광램프(LED)가 빛을 방출하도록 한다. The gate electrode of the phototransistor TR receives light emitted from the light emitting diode LD, the first electrode of the phototransistor TR is connected to the second power source Vs22, and the phototransistor TR receives light. The two electrodes are connected to a light emitting lamp (LED). When a current flows from the first power source Vs21 to the light emitting diode LD, the light emitting diode LD emits light, and the phototransistor TR is turned on by the light emitted from the light emitting diode LD to the second power source. A current flows from (Vs22) to the light emitting lamp (LED) so that the light emitting lamp (LED) emits light.
커넥터(CNT)는 발사통제장치(100)에 연결되어 있는 착화전원라인(111)과 착화귀환라인(112)을 착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)에 연결시키기 위한 것이다. 커넥터(CNT)를 통해 착화전원라인(111)이 발열선(F)의 일단에 연결되고, 착화귀환라인(112)이 발열선(F)의 타단에 연결될 수 있다. The connector (CNT) is for connecting the ignition
제1 다이오드(D21)는 착화전원라인(111)과 발열선(F)의 일단 사이에 연결되어 있으며, 착화전원(Vs11)으로부터 발열선(F)으로 전류(착화신호)를 도통시키고, 제1 전원(Vs21)으로부터 발사통제장치(100)의 착화전원(Vs11)으로 전류 흐름을 방지하는 역할을 한다. 제1 다이오드(D21)는 발사통제장치(100)의 정전류에 영향을 미치지 않는 저항값을 갖도록 선정될 수 있다.The first diode D21 is connected between the
제2 다이오드(D22)는 이산신호 회로부(210)와 발열선(F)의 일단 사이에 연결되어 있으며, 발사통제장치(100)의 착화전원(Vs11)으로부터 이산신호 회로부(210)로 전류 흐름을 방지하는 역할을 한다. 다시 말해, 제2 다이오드(D22)는 발광 다이오드(LD)의 캐소드 전극과 발열선(F)의 일단 사이에 연결되어 있으며, 제1 전원(Vs21)으로부터 발열선(F)으로 전류를 도통시키고, 착화전원(Vs11)으로부터 제1 전원(Vs21)으로 전류 흐름을 방지하는 역할을 할 수 있다. The second diode D22 is connected between the discrete
제1 커패시터(C21)의 제1 전극은 발광 다이오드(LD)의 애노드 전극에 연결되어 있고, 제1 커패시터(C21)의 제2 전극은 발광 다이오드(LD)의 캐소드 전극에 연결되어 있다. 즉, 제1 커패시터(C21)는 발광 다이오드(LD)와 병렬 연결될 수 있다.The first electrode of the first capacitor C21 is connected to the anode electrode of the light emitting diode LD, and the second electrode of the first capacitor C21 is connected to the cathode electrode of the light emitting diode LD. That is, the first capacitor C21 may be connected in parallel with the light emitting diode LD.
제1 저항(R21)은 제1 전원(Vs21)과 발광 다이오드(LD)의 애노드 전극 사이에 연결되어 있다. 제1 커패시터(C21)와 제1 저항(R21)은 저역 통과 필터(low pass filter)로서 동작하여 발광 다이오드(LD)로 인가될 수 있는 노이즈 전원을 제거할 수 있다. The first resistor R21 is connected between the first power source Vs21 and the anode electrode of the light emitting diode LD. The first capacitor C21 and the first resistor R21 operate as a low pass filter to remove noise power that may be applied to the light emitting diode LD.
제2 저항(R22)의 일단은 발광 다이오드(LD)의 애노드 전극에 연결되어 있고, 제2 저항(R22)의 타단은 발광 다이오드(LD)의 캐소드 전극에 연결되어 있다. 즉, 제2 저항(R22)은 발광 다이오드(LD)와 병렬 연결될 수 있다. 제2 저항(R22)은 이산신호 회로부(210)를 보호하기 위한 것으로 제1 전원(Vs21)에 인가될 수 있는 노이즈를 발사통제장치(100)의 접지(GND)로 연결시키는 역할을 할 수 있다. One end of the second resistor R22 is connected to the anode electrode of the light emitting diode LD, and the other end of the second resistor R22 is connected to the cathode electrode of the light emitting diode LD. That is, the second resistor R22 may be connected in parallel with the light emitting diode LD. The second resistor R22 is for protecting the discrete
제3 저항(R23)은 제2 전원(Vs22)과 포토트랜지스터(TR) 사이에 연결되어 있다. 제3 저항(R23)은 포토트랜지스터(TR)의 동작에 적합한 전류가 제2 전원(Vs22)으로부터 포토트랜지스터(TR)로 흐를 수 있도록 하는 저항값을 가질 수 있다. The third resistor R23 is connected between the second power source Vs22 and the phototransistor TR. The third resistor R23 may have a resistance value that allows a current appropriate for the operation of the phototransistor to flow from the second power source Vs22 to the phototransistor TR.
발광램프(LED)는 포토트랜지스터(TR)의 제2 전극에 연결되어 있으며, 포토트랜지스터(TR)가 턴 온되어 제2 전원(Vs22)으로부터 전류가 흐를 때 발광한다.The light emitting lamp LED is connected to the second electrode of the phototransistor TR, and emits light when the phototransistor TR is turned on and current flows from the second power source Vs22.
이하, 착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)의 동작에 대하여 설명한다. Hereinafter, the operation of the ignition line
발사통제장치(100)가 착화신호를 인가하지 않는 상태에서 배선장치(111, 112)를 통해 착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)의 커넥터(CNT)에 연결되면, 발광 다이오드(LD)의 캐소드 전극이 착화귀환라인(112)을 통해 발사통제장치(100)의 접지(GND)에 연결되어 제1 전원(Vs21)으로부터 발광 다이오드(LD)로 전류가 흐르게 되고, 발광 다이오드(LD)가 발광하게 된다. 포토트랜지스터(TR)는 발광 다이오드(LD)로부터 방출되는 빛에 의해 턴 온되어 제2 전원(Vs22)으로부터 발광램프(LED)로 전류를 흘려보내고, 발광램프(LED)는 빛을 방출하는 ON 상태가 된다. 즉, 발사통제장치(100)가 배선장치(111, 112)를 통해 착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)에 연결되는 초기 상태에서 발광램프(LED)가 ON 상태가 되어 발열선(F)의 단락 상태를 표시한다. 사용자는 발광램프(LED)의 ON 상태를 육안으로 확인함으로써 발사통제장치(100)와 착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)가 정상적으로 연결되어 시험 준비되었음을 확인할 수 있다. When the
다음으로, 발사통제장치(100)가 착화신호를 인가한다. 이에 대하여 도 2를 참조하여 설명한다. Next, the
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 착화라인 인터페이스 시험용 장치의 발광램프가 OFF 상태인 회로 구성도이다.2 is a circuit configuration diagram in which a light emitting lamp of an ignition line interface test device according to an embodiment of the present invention is in an OFF state.
도 2를 참조하면, 발사통제장치(100)가 착화전원라인(111)에 착화신호를 인가하면, 발열선(F)이 착화신호에 의해 단선되게 된다. 발열선(F)이 단선되면 제1 다이오드(D21)에서 의해 발광 다이오드(LD)의 캐소드 전극은 플로팅 상태가 되므로 발광 다이오드(LD)로 전류가 흐르지 않게 되고 발광 다이오드(LD)는 동작하지 않는 OFF 상태가 된다. 발광 다이오드(LD)가 OFF 상태가 되면, 포토트랜지스터(TR)도 턴 오프되어 동작하지 않게 되고 발광램프(LED)로 전류가 흐르지 않게 된다. 즉, 발광램프(LED)는 빛을 방출하지 않는 OFF 상태가 되어 발열선(F)의 단선 상태를 표시한다. 사용자는 착화신호를 인가한 후 발광램프(LED)의 OFF 상태를 육안으로 확인함으로써 착화가 정상적으로 되었음을 저항값 등의 확인 없이 직관적으로 확인할 수 있다.Referring to FIG. 2 , when the
한편, 착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)는 발열선(F)만을 교체하여 여러 번의 착화 시험을 수행할 수 있고, 길이가 서로 다른 발열선(F)들을 연결 및 고정하여 사용할 수 있는 고정 기구물을 포함할 수 있다. 이에 대하여 도 3 내지 6을 참조하여 설명한다.On the other hand, the ignition line
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 발열선을 고정하기 위한 고정 기구물을 위에서 바라본 평면도이다. 도 4는 도 3의 고정 기구물을 측면에서 바라본 측면도이다. 도 5는 도 3의 고정 기구물이 다른 길이의 발열선을 고정하는 경우를 나타내는 평면도이다. 도 6은 도 5의 고정 기구물을 측면에서 바라본 측면도이다.3 is a plan view of a fixing mechanism for fixing a heating wire according to an embodiment of the present invention viewed from above. Figure 4 is a side view of the fixing mechanism of Figure 3 viewed from the side. FIG. 5 is a plan view illustrating a case in which the fixing mechanism of FIG. 3 fixes heating wires having different lengths. 6 is a side view of the fixture of FIG. 5 viewed from the side.
도 3 내지 6을 참조하면, 착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)는 길이가 서로 다른 발열선(F)을 고정할 수 있도록 제1 퓨즈 고정 나사(211), 제2 퓨즈 고정 나사(212), 브래킷 고정 나사(213) 및 브래킷(215)을 포함할 수 있다. 3 to 6, the
발열선(F)의 일측을 제1 퓨즈 고정 나사(211)의 아래에 놓고 제1 퓨즈 고정 나사(211)를 조여서 고정하고, 발열선(F)의 타측을 제2 퓨즈 고정 나사(212)의 아래에 놓고 제2 퓨즈 고정 나사(212)를 조여서 고정함으로써, 상기 발열선(F)이 고정될 수 있다. One side of the heating wire (F) is placed under the first
제2 퓨즈 고정 나사(212)는 브래킷(215)의 끝단에 설치되어 있으며, 브래킷(215)은 제2 퓨즈 고정 나사(212)가 제1 퓨즈 고정 나사(211)를 향하는 방향으로 가까워지거나 멀어지도록 이동될 수 있도록 설치되며, 브래킷(215)의 위치는 브래킷 고정 나사(213)에 의해 고정될 수 있다. The second
발열선(F)의 길이에 대응하여 제1 퓨즈 고정 나사(211)와 제2 퓨즈 고정 나사(212) 사이의 간격이 조절될 수 있다. 제1 퓨즈 고정 나사(211)와 제2 퓨즈 고정 나사(212) 사이의 간격을 측정하기 위한 눈금자(230)가 브래킷(215)의 이동 방향으로 설치될 수 있다. 눈금자(230)를 이용하여 발열선(F)의 길이에 적절한 간격으로 제1 퓨즈 고정 나사(211)와 제2 퓨즈 고정 나사(212) 사이의 간격을 조절한 후 브래킷 고정 나사(213)로 브래킷(215)을 고정할 수 있다.A distance between the first
예를 들어, 도 3 및 4에서와 같이 짧은 길이의 발열선(F)에 대해 제1 퓨즈 고정 나사(211)와 제2 퓨즈 고정 나사(212) 사이의 간격을 좁게 조절한 후 브래킷 고정 나사(213)로 브래킷(215)을 고정하고, 제1 퓨즈 고정 나사(211)와 제2 퓨즈 고정 나사(212)로 발열선(F)을 고정할 수 있다. 그리고 도 5 및 6에서와 같이 긴 길이의 발열선(F)에 대해 제1 퓨즈 고정 나사(211)와 제2 퓨즈 고정 나사(212) 사이의 간격을 넓게 조절한 후 브래킷 고정 나사(213)로 브래킷(215)을 고정하고, 제1 퓨즈 고정 나사(211)와 제2 퓨즈 고정 나사(212)로 발열선(F)을 고정할 수 있다.For example, as shown in FIGS. 3 and 4, after narrowing the gap between the first
착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)는 인쇄 회로 기판(220)이 설치될 수 있으며, 인쇄 회로 기판(220)에 도 1 및 2에서 상술한 이산신호 회로부(210), 제1 다이오드(D21), 제2 다이오드(D22), 제1 커패시터(C21), 제1 저항(R21), 제2 저항(R22), 제3 저항(R23) 등의 회로 소자가 배치될 수 있다. 인쇄 회로 기판(220)에는 제1 전원(Vs21)에 전력을 공급하는 제1 전원라인(LVs21)과 제2 전원(Vs22)에 전력을 공급하는 제2 전원라인(LVs22)이 연결될 수 있다.The ignition line
발광램프(LED)는 착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)에서 육안으로 쉽게 확인될 수 있는 위치에 배치될 수 있다. The light emitting lamp (LED) may be disposed in a position that can be easily confirmed with the naked eye in the ignition line
기존의 전기식 착화기에는 활성 전기식 착화기와 비활성 전기식 착화기가 있다. 활성 전기식 착화기의 경우에는 소량의 폭약을 사용하기 때문에 착화 시험을 위한 안전치구의 제작이 필요하고 관리 절차를 세워 안전을 위한 관리가 요구된다. 비활성 전기식 착화기의 경우에는 착화 시험 수행 후 발열선이 단선되었는지 확인하기 위해 계측장치로 추가적인 확인이 필요하다. 그리고 전기식 착화기는 일회성 장치로 시험 횟수를 미리 예측하여 여러개의 전기식 착화기를 준비해야 되므로, 비용 측면을 고려할 때에도 많은 착화 시험을 수행하기에 부담이 된다. Conventional electric igniters include active electric igniters and inactive electric igniters. In the case of an active electric igniter, since a small amount of explosives are used, it is necessary to manufacture safety equipment for ignition tests and to establish management procedures to ensure safety. In the case of an inactive electric igniter, additional confirmation with a measuring device is required to check whether the heating wire is disconnected after the ignition test is performed. In addition, since the electric igniter is a one-time device and several electric igniters must be prepared by predicting the number of tests in advance, it is burdensome to perform many ignition tests even when considering the cost aspect.
하지만, 본 발명의 실시예에 따른 착화라인 인터페이스 시험용 장치(200)는 착화 시험 때마다 발열선(F)만을 소모하기 때문에 비용 측면에서 유리하고, 활성이 아니기 때문에 안전치구 제작이 필요하지 않고 관리 측면에서 유리하다. 또한, 착화 시험을 수행하는 과정에서 육안으로 확인할 수 있는 발광램프(LED)에 의해 시험 확인 절차가 간단하다. However, the
지금까지 참조한 도면과 기재된 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.The drawings and detailed description of the present invention referred to so far are only examples of the present invention, which are only used for the purpose of explaining the present invention, and are used to limit the scope of the present invention described in the meaning or claims. It is not. Therefore, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the true technical protection scope of the present invention should be determined by the technical spirit of the appended claims.
100: 발사통제장치
111, 112: 배선장치
200: 착화라인 인터페이스 시험용 장치
210: 이산신호 회로부
211: 제1 퓨즈 고정 나사
212: 제2 퓨즈 고정 나사
213: 브래킷 고정 나사
215: 브래킷
220: 인쇄 회로 기판
230: 눈금자100: launch control device
111, 112: wiring device
200: Ignition line interface test device
210: discrete signal circuit unit
211: first fuse fixing screw
212: second fuse fixing screw
213: bracket fixing screw
215: bracket
220: printed circuit board
230: ruler
Claims (15)
발열선이 단락되어 있는 초기 상태에서 상기 발열선을 통해 발사통제장치의 접지에 연결되어 동작하는 발광소자 및 상기 발광소자에서 방출되는 빛에 의해 턴 온되어 상기 발광램프에 전류를 흘려보내는 광검출소자를 포함하는 이산신호 회로부;
상기 발열선의 일측을 고정하는 제1 퓨즈 고정 나사;
상기 발열선의 타측을 고정하는 제2 퓨즈 고정 나사;
상기 제2 퓨즈 고정 나사가 설치되고, 상기 제2 퓨즈 고정 나사가 상기 제1 퓨즈 고정 나사를 향하는 방향으로 이동될 수 있도록 설치되는 브래킷; 및
상기 브래킷의 위치를 고정하는 브래킷 고정 나사를 포함하고,
상기 발광소자는 제1 전원에 연결되어 있는 애노드 전극 및 상기 발열선의 일단에 연결되어 있는 캐소드 전극을 포함하는 발광 다이오드이고,
상기 광검출소자는 상기 발광 다이오드에서 방출되는 빛을 수신하는 게이트 전극, 제2 전원에 연결되어 있는 제1 전극 및 상기 발광램프에 연결되어 있는 제2 전극을 포함하는 포토트랜지스터이고,
상기 발광램프는 상기 초기 상태에서 온 상태가 되어 상기 발사통제장치에 정상적으로 연결됨을 표시하고, 상기 발사통제장치의 착화신호에 의해 상기 발열선이 단선되어 상기 발광소자에 전류가 흐르지 않으면 오프 상태가 되어 착화가 정상적으로 되었음를 표시하고,
상기 발열선만을 교체하여 여러 번 착화 시험을 수행할 수 있는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.luminous lamp;
In an initial state in which the heating wire is short-circuited, a light emitting element operating by being connected to the ground of the emission control device through the heating wire and a photodetector element turning on by light emitted from the light emitting element and sending current to the light emitting lamp. discrete signal circuit;
a first fuse fixing screw fixing one side of the heating wire;
a second fuse fixing screw fixing the other side of the heating wire;
a bracket on which the second fuse fixing screw is installed, the second fuse fixing screw being movable in a direction toward the first fuse fixing screw; and
Including a bracket fixing screw for fixing the position of the bracket,
The light emitting element is a light emitting diode including an anode electrode connected to a first power source and a cathode electrode connected to one end of the heating line,
The photodetector is a phototransistor including a gate electrode receiving light emitted from the light emitting diode, a first electrode connected to a second power source, and a second electrode connected to the light emitting lamp;
The light emitting lamp is turned on from the initial state to indicate that it is normally connected to the firing control device, and when the heating wire is disconnected by the ignition signal of the firing control device and current does not flow to the light emitting element, it is turned off and ignited. indicates that it has been normal,
An ignition line interface test device capable of performing an ignition test several times by replacing only the heating wire.
상기 발사통제장치의 착화전원에 연결되어 있는 착화전원라인을 상기 발열선의 일단에 연결시키고, 상기 발사통제장치의 접지에 연결되어 있는 착화귀환라인을 상기 발열선의 타단에 연결시키는 커넥터를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.According to claim 1,
Further comprising a connector for connecting an ignition power line connected to the ignition power source of the firing control device to one end of the heating wire, and connecting an ignition return line connected to the ground of the firing control device to the other end of the heating wire. Device for line interface test.
상기 착화전원라인과 상기 발열선의 일단 사이에 연결되어 있고, 상기 제1 전원으로부터 상기 발사통제장치의 착화전원으로 전류 흐름을 방지하는 제1 다이오드를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.According to claim 3,
A device for testing an ignition line interface further comprising a first diode connected between the ignition power supply line and one end of the heating line and preventing current flow from the first power source to the ignition power source of the firing control device.
상기 발광 다이오드의 캐소드 전극과 상기 발열선의 일단 사이에 연결되어 있고, 상기 발사통제장치의 착화전원으로부터 상기 이산신호 회로부로 전류 흐름을 방지하는 제2 다이오드를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.According to claim 3,
Ignition line interface test device further comprising a second diode connected between the cathode electrode of the light emitting diode and one end of the heating line and preventing current flow from the ignition power source of the firing control device to the discrete signal circuit unit.
상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제1 커패시터; 및
상기 제1 전원과 상기 발광 다이오드의 애노드 전극 사이에 연결되어 있는 제1 저항을 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.According to claim 1,
a first capacitor connected in parallel with the light emitting diode; and
Ignition line interface test device further comprising a first resistor connected between the first power supply and the anode electrode of the light emitting diode.
상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제2 저항을 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.According to claim 6,
Ignition line interface test device further comprising a second resistor connected in parallel with the light emitting diode.
상기 제1 퓨즈 고정 나사와 상기 제2 퓨즈 고정 나사 사이의 간격을 측정하기 위한 눈금자를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.According to claim 1,
The ignition line interface test apparatus further comprising a ruler for measuring a distance between the first fuse fixing screw and the second fuse fixing screw.
상기 발광 다이오드에서 방출되는 빛에 의해 턴 온되는 포토트랜지스터;
상기 포토트랜지스터가 턴 온됨에 따라 제2 전원으로부터 흐르는 전류에 의해 발광하는 발광램프;
상기 발열선의 일측을 고정하는 제1 퓨즈 고정 나사;
상기 발열선의 타측을 고정하는 제2 퓨즈 고정 나사;
상기 제2 퓨즈 고정 나사가 설치되고, 상기 제2 퓨즈 고정 나사가 상기 제1 퓨즈 고정 나사를 향하는 방향으로 이동될 수 있도록 설치되는 브래킷; 및
상기 브래킷의 위치를 고정하는 브래킷 고정 나사를 포함하고,
상기 포토트랜지스터는 상기 발광 다이오드에서 방출되는 빛을 수신하는 게이트 전극, 상기 제2 전원에 연결되어 있는 제1 전극 및 상기 발광램프에 연결되어 있는 제2 전극을 포함하고,
상기 발광램프는 상기 발열선이 단락되어 있는 초기 상태에서 온 상태가 되어 상기 발사통제장치에 정상적으로 연결됨을 표시하고, 상기 발사통제장치의 착화신호에 의해 상기 발열선이 단선되어 상기 발광 다이오드에 전류가 흐르지 않으면 오프 상태가 되어 착화가 정상적으로 되었음을 표시하고,
상기 발열선만을 교체하여 여러 번 착화 시험을 수행할 수 있는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.A light emitting diode connected between a heating line connected to the ground of the launch control device and a first power source;
a phototransistor turned on by light emitted from the light emitting diode;
a light emitting lamp that emits light by current flowing from a second power supply when the phototransistor is turned on;
a first fuse fixing screw fixing one side of the heating wire;
a second fuse fixing screw fixing the other side of the heating wire;
a bracket on which the second fuse fixing screw is installed, the second fuse fixing screw being movable in a direction toward the first fuse fixing screw; and
Including a bracket fixing screw for fixing the position of the bracket,
The phototransistor includes a gate electrode receiving light emitted from the light emitting diode, a first electrode connected to the second power source, and a second electrode connected to the light emitting lamp;
The light emitting lamp is turned on from the initial state in which the heating wire is short-circuited to indicate that it is normally connected to the firing control device, and when the heating wire is disconnected by the ignition signal of the firing control device and current does not flow through the light emitting diode It turns off to indicate normal ignition,
An ignition line interface test device capable of performing an ignition test several times by replacing only the heating wire.
상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제1 커패시터; 및
상기 제1 전원과 상기 발광 다이오드 사이에 연결되어 있는 제1 저항을 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.According to claim 11,
a first capacitor connected in parallel with the light emitting diode; and
Ignition line interface test device further comprising a first resistor connected between the first power source and the light emitting diode.
상기 발광 다이오드와 병렬 연결되어 있는 제2 저항을 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.According to claim 12,
Ignition line interface test device further comprising a second resistor connected in parallel with the light emitting diode.
착화전원으로부터 상기 발열선으로 착화신호를 도통시키고, 상기 제1 전원으로부터 상기 착화전원으로 전류 흐름을 방지하는 제1 다이오드를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.According to claim 11,
An ignition line interface test apparatus further comprising a first diode for conducting an ignition signal from the ignition power source to the heating line and preventing a current flow from the first power source to the ignition power source.
상기 제1 전원으로부터 상기 발열선으로 전류를 도통시키고, 상기 착화전원으로부터 상기 제1 전원으로 전류 흐름을 방지하는 제2 다이오드를 더 포함하는 착화라인 인터페이스 시험용 장치.According to claim 14,
The ignition line interface test apparatus further comprising a second diode for conducting current from the first power source to the heating line and preventing current flow from the ignition power source to the first power source.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020210074914A KR102552599B1 (en) | 2021-06-09 | 2021-06-09 | Apparatus for squib line interface test |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20220166064A KR20220166064A (en) | 2022-12-16 |
KR102552599B1 true KR102552599B1 (en) | 2023-07-05 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020210074914A KR102552599B1 (en) | 2021-06-09 | 2021-06-09 | Apparatus for squib line interface test |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102552599B1 (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101551703B1 (en) * | 2015-01-21 | 2015-09-10 | 국방과학연구소 | Missile Firing Procedures Inspection System Based on Missile Real Feature Imitation |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04105068A (en) * | 1990-08-27 | 1992-04-07 | Suzuki Motor Corp | Ignition pulse detection circuit |
JPH1174058A (en) * | 1997-08-29 | 1999-03-16 | Ichiro Egawa | Examination instrument for electrical system down to spark plug, and examination method for electrical system down to spark plug using same |
-
2021
- 2021-06-09 KR KR1020210074914A patent/KR102552599B1/en active IP Right Grant
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101551703B1 (en) * | 2015-01-21 | 2015-09-10 | 국방과학연구소 | Missile Firing Procedures Inspection System Based on Missile Real Feature Imitation |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20220166064A (en) | 2022-12-16 |
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