KR102285390B1 - Organic light emitting display apparatus - Google Patents

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Abstract

본 발명의 실시예는 표시 영역에 배치되는 복수의 화소들, 더미 영역에 배치되는 복수의 더미 화소들, 및 상기 복수의 더미 화소들에 연결될 수 있고, 상기 복수의 화소들에 연결 가능하게 배치된 복수의 리페어선들을 포함하고, 상기 복수의 더미 화소들 각각은, 보상 용량성 소자, 게이트 전극에 인가되는 데이터 신호에 대응하는 구동 전류를 출력하는 구동 트랜지스터, 및 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극 사이에 연결될 수 있고, 가해지는 물리량에 따라서 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극을 전기적으로 연결하거나 전기적으로 단절하는 연결부를 포함하는, 유기 발광 표시 장치를 개시한다.According to an embodiment of the present invention, a plurality of pixels disposed in the display area, a plurality of dummy pixels disposed in the dummy area, and the plurality of dummy pixels may be connected to, and disposed connectably to the plurality of pixels. a plurality of repair lines, wherein each of the plurality of dummy pixels includes a compensating capacitive element, a driving transistor outputting a driving current corresponding to a data signal applied to a gate electrode, and a first electrode of the compensating capacitive element and a connection part connected between the gate electrode of the driving transistor and electrically connecting or disconnecting the first electrode of the compensation capacitive element and the gate electrode of the driving transistor according to an applied physical amount. A display device is disclosed.

Figure R1020150013548
Figure R1020150013548

Description

유기 발광 표시 장치{Organic light emitting display apparatus}Organic light emitting display apparatus

본 발명의 실시예는 유기 발광 표시 장치, 특히 더미 화소를 통한 리페어 공정을 적용할 수 있는 유기 발광 표시 장치에 관한 것이다.An embodiment of the present invention relates to an organic light emitting diode display, particularly to an organic light emitting display to which a repair process through a dummy pixel may be applied.

유기 발광 표시 장치의 제조 공정 중에 특정 화소의 화소 회로에서 불량이 발생할 수 있다. 이 경우, 불량이 발생한 해당 화소는 스캔 신호 및 데이터 신호와 무관하게 항상 빛을 발생하거나, 검은색으로 표시될 수 있다. 이와 같이 화소에서 항상 빛이 발생되는 화소는 관찰자에게 명점(또는 휘점)으로 인식되고, 검은색으로 표시되는 화소는 관찰자에게 암점(또는 흑점)으로 인식된다. 또한, 화소 내 회로가 복잡해짐에 따라 이러한 불량이 발생한 화소의 화소 회로를 수리하여 명점 또는 암점을 극복하는 것은 어려워졌다.A defect may occur in a pixel circuit of a specific pixel during a manufacturing process of an organic light emitting diode display. In this case, the pixel in which the defect has occurred may always emit light regardless of the scan signal and the data signal, or may be displayed in black. As described above, a pixel in which light is always emitted from a pixel is recognized as a bright spot (or a bright spot) by an observer, and a pixel displayed in black is recognized as a dark spot (or a dark spot) by the observer. In addition, as the circuit within the pixel becomes more complex, it becomes difficult to overcome the bright or dark spots by repairing the pixel circuit of the pixel having such a defect.

본 발명의 실시예들은 불량이 발생한 화소에 대한 리페어를 통해 불량 화소를 정상 구동할 수 있도록 하고, 리페어 공정 후 사용되는 더미 화소의 회로 구조를 일정 부분 변경할 수 있도록 하여 화질이 개선된 유기 발광 표시 장치를 제공하고자 한다.Embodiments of the present invention provide an organic light emitting diode display with improved image quality by allowing the defective pixel to be normally driven by repairing the defective pixel and by partially changing the circuit structure of the dummy pixel used after the repair process. would like to provide

본 발명의 일 실시예는 표시 영역에 배치되는 복수의 화소들, 더미 영역에 배치되는 복수의 더미 화소들, 및 상기 복수의 더미 화소들에 연결될 수 있고, 상기 복수의 화소들에 연결 가능하게 배치된 복수의 리페어선들을 포함하고, 상기 복수의 더미 화소들 각각은, 보상 용량성 소자, 게이트 전극에 인가되는 데이터 신호에 대응하는 구동 전류를 출력하는 구동 트랜지스터, 및 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극 사이에 연결될 수 있고, 가해지는 물리량에 따라서 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극을 전기적으로 연결하거나 전기적으로 단절하는 연결부를 포함하는, 유기 발광 표시 장치를 개시한다.According to an embodiment of the present invention, a plurality of pixels disposed in the display area, a plurality of dummy pixels disposed in the dummy area, and the plurality of dummy pixels may be connected to, and disposed to be connectable to the plurality of pixels. each of the plurality of repair lines, wherein each of the plurality of dummy pixels includes a compensation capacitive element, a driving transistor outputting a driving current corresponding to a data signal applied to a gate electrode, and a first of the compensation capacitive element and a connection part that can be connected between an electrode and the gate electrode of the driving transistor and electrically connects or disconnects the first electrode of the compensating capacitive element and the gate electrode of the driving transistor according to an applied physical amount Disclosed is a light emitting display device.

상기 복수의 더미 화소들 각각은, 상기 복수의 리페어선들 중 대응하는 리페어선에 연결된 출력 노드 및 상기 구동 트랜지스터 사이에 연결될 수 있고, 발광 제어 신호에 의해 제어되는 발광 제어 트랜지스터, 상기 출력 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극 사이에 연결될 수 있고, 상기 발광 제어 신호에 의해 제어되는 용량 제어 트랜지스터, 및 상기 용량 제어 트랜지스터 및 초기화 전압선 사이에 연결될 수 있고, 초기화 제어 신호에 의해 제어되는 용량성 소자 초기화 트랜지스터를 더 포함할 수 있다.Each of the plurality of dummy pixels may be connected between an output node connected to a corresponding one of the plurality of repair lines and the driving transistor, and a light emission control transistor controlled by a light emission control signal, the output node, and the compensation Capacitive element initialization, which may be connected between the second electrode of the capacitive element, and which may be connected between a capacitance control transistor controlled by the light emission control signal, and between the capacitance control transistor and an initialization voltage line, and which is controlled by an initialization control signal. It may further include a transistor.

상기 연결부는, 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극에 연결되는 제1 영역 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 연결되는 제2 영역을 포함하고, 상기 제1 및 제2 영역은 서로 전기적으로 단절되어있고, 상기 제1 및 제2 영역은 레이저에 의해 전기적으로 연결될 수 있다.The connection part includes a first region connected to the first electrode of the compensation capacitive element and a second region connected to the gate electrode of the driving transistor, wherein the first region and the second region are electrically isolated from each other; , the first and second regions may be electrically connected by a laser.

상기 연결부는, 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극에 연결되는 제1 영역 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 연결되는 제2 영역을 포함하고, 상기 제1 및 제2 영역은 서로 전기적으로 연결되어있고, 상기 제1 및 제2 영역은 레이저에 의해 전기적으로 단절될 수 있다.The connection part includes a first region connected to the first electrode of the compensating capacitive element and a second region connected to the gate electrode of the driving transistor, wherein the first region and the second region are electrically connected to each other, , the first and second regions may be electrically cut off by a laser.

상기 복수의 화소들 각각은 화소 회로 및 상기 화소 회로에 분리 가능하게 연결되는 발광 소자를 포함하고, 상기 복수의 더미 화소들 각각은 더미 회로를 포함할 수 있다.Each of the plurality of pixels may include a pixel circuit and a light emitting device detachably connected to the pixel circuit, and each of the plurality of dummy pixels may include a dummy circuit.

상기 복수의 화소들 중 어느 하나는 리페어 화소를 포함하고, 상기 리페어 화소는 상기 리페어 화소의 화소 회로로부터 분리되고 상기 복수의 리페어선들 중 대응하는 리페어선을 통해 상기 복수의 더미 화소들 중 대응하는 더미 화소의 더미 회로와 연결된 발광 소자를 포함할 수 있다.any one of the plurality of pixels includes a repair pixel, the repair pixel is separated from the pixel circuit of the repair pixel and a corresponding dummy of the plurality of dummy pixels is separated from the pixel circuit of the repair pixel through a corresponding repair line of the plurality of repair lines It may include a light emitting device connected to the dummy circuit of the pixel.

상기 복수의 화소들은 제1 화소 및 제2 화소를 포함하고, 상기 연결부는, 상기 복수의 리페어선들 중 대응하는 리페어선에 연결된 출력 노드 및 상기 구동 트랜지스터 사이에 연결될 수 있고, 발광 제어 신호에 의해 제어되는 발광 제어 트랜지스터, 상기 출력 노드 및 보상 제어 노드에 연결될 수 있고, 상기 발광 제어 신호에 의해 제어되는 제1 용량 제어 트랜지스터, 상기 보상 제어 노드 및 초기화 전압선 사이에 연결될 수 있고, 초기화 신호에 의해 제어되는 용량성 소자 초기화 트랜지스터, 및 상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극 사이에 연결될 수 있고, 상기 리페어 화소가 상기 제1 화소인 경우에는 상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극을 전기적으로 연결하고, 상기 리페어 화소가 상기 제2 화소인 경우에는 상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극을 전기적으로 단절하는 제2 용량 제어 트랜지스터를 포함 할 수 있다.The plurality of pixels may include a first pixel and a second pixel, and the connection unit may be connected between an output node connected to a corresponding one of the plurality of repair lines and the driving transistor and controlled by an emission control signal. a first capacitance control transistor controlled by the light emission control signal, the first capacitance control transistor controlled by the light emission control signal, the compensation control node, and an initialization voltage line, and controlled by an initialization signal a capacitive element initialization transistor, and may be connected between the compensation control node and the second electrode of the compensation capacitive element, and when the repair pixel is the first pixel, the compensation control node and the second electrode of the compensation capacitive element and a second capacitance control transistor electrically connecting two electrodes and electrically disconnecting the compensation control node and the second electrode of the compensation capacitive element when the repair pixel is the second pixel.

상기 대응하는 더미 화소의 더미 회로는 상기 대응하는 리페어선을 통해 상기 리페어 화소의 발광 소자로 구동 전류를 제공할 수 있다.The dummy circuit of the corresponding dummy pixel may provide a driving current to the light emitting device of the repair pixel through the corresponding repair line.

본 발명의 다른 실시예는 표시 영역에 배치되는 제1 및 제2 화소, 더미 영역에 배치되고 보상 용량성 소자를 포함하는 더미 화소, 및 상기 더미 화소에 연결될 수 있고 상기 제1 및 제2 화소에 연결 가능하게 배치되는 리페어선을 포함하고, 상기 더미 화소는, 게이트 전극에 인가되는 데이터 신호에 대응하는 구동 전류를 출력하는 구동 트랜지스터 및 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극 사이에 연결될 수 있고, 가해지는 물리량에 따라서 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극을 전기적으로 연결하거나 전기적으로 단절하는 연결부를 포함하는, 유기 발광 표시 장치를 개시한다.Another embodiment of the present invention provides first and second pixels disposed in a display area, a dummy pixel disposed in the dummy area and including a compensation capacitive element, and may be connected to the dummy pixel and may be connected to the first and second pixels. a repair line arranged to be connectable; Disclosed is an organic light emitting diode display including a connection part connected between the electrodes and electrically connecting or electrically disconnecting a first electrode of the compensation capacitive element and a gate electrode of the driving transistor according to an applied physical amount.

상기 더미 화소는, 상기 리페어선에 연결된 출력 노드 및 상기 구동 트랜지스터 사이에 연결될 수 있고, 발광 제어 신호에 의해 제어되는 발광 제어 트랜지스터, 상기 출력 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극 사이에 연결될 수 있고, 상기 발광 제어 신호에 의해 제어되는 용량 제어 트랜지스터, 및 상기 용량 제어 트랜지스터 및 초기화 전압선 사이에 연결될 수 있고, 초기화 신호에 의해 제어되는 용량성 소자 초기화 트랜지스터를 더 포함할 수 있다.The dummy pixel may be connected between an output node connected to the repair line and the driving transistor, and may be connected between an emission control transistor controlled by an emission control signal, the output node, and the second electrode of the compensation capacitive element. and a capacitance control transistor controlled by the light emission control signal, and a capacitive element initialization transistor connected between the capacitance control transistor and the initialization voltage line and controlled by the initialization signal.

상기 연결부는, 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극에 연결되는 제1 영역 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 연결되는 제2 영역을 포함하고, 상기 제1 및 제2 영역은 서로 전기적으로 단절되어있고, 상기 제1 및 제2 영역은 레이저에 의해 전기적으로 연결될 수 있다.The connection part includes a first region connected to the first electrode of the compensation capacitive element and a second region connected to the gate electrode of the driving transistor, wherein the first region and the second region are electrically isolated from each other; , the first and second regions may be electrically connected by a laser.

상기 연결부는, 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극에 연결되는 제1 영역 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 연결되는 제2 영역을 포함하고, 상기 제1 및 제2 영역은 서로 전기적으로 연결되어있고, 상기 제1 및 제2 영역은 레이저에 의해 전기적으로 단절될 수 있다.The connection part includes a first region connected to the first electrode of the compensating capacitive element and a second region connected to the gate electrode of the driving transistor, wherein the first region and the second region are electrically connected to each other, , the first and second regions may be electrically cut off by a laser.

상기 제1 및 제2 화소는 화소 회로 및 상기 화소 회로에 분리 가능하게 연결되는 발광 소자를 포함하고, 상기 더미 화소는 더미 회로를 포함할 수 있다.The first and second pixels may include a pixel circuit and a light emitting device detachably connected to the pixel circuit, and the dummy pixel may include a dummy circuit.

상기 제1 및 제2 화소 중 어느 하나는 리페어 화소를 포함하고, 상기 리페어 화소의 발광 소자는 상기 리페어 화소의 화소 회로로부터 분리되고 상기 리페어선을 통해 상기 더미 화소의 더미 회로와 연결될 수 있다.Any one of the first and second pixels may include a repair pixel, and the light emitting device of the repair pixel may be separated from the pixel circuit of the repair pixel and connected to the dummy circuit of the dummy pixel through the repair line.

상기 연결부는, 상기 리페어선에 연결된 출력 노드 및 상기 구동 트랜지스터 사이에 연결될 수 있고, 발광 제어 신호에 의해 제어되는 발광 제어 트랜지스터, 상기 출력 노드 및 보상 제어 노드에 연결될 수 있고, 상기 발광 제어 신호에 의해 제어되는 제1 용량 제어 트랜지스터, 상기 보상 제어 노드 및 초기화 전압선 사이에 연결될 수 있고, 초기화 신호에 의해 제어되는 용량성 소자 초기화 트랜지스터, 및 상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극 사이에 연결될 수 있고, 상기 제1 화소가 상기 리페어 화소인 경우에는 상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극을 전기적으로 연결하고, 상기 제2 화소가 리페어 화소인 경우에는 상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극을 전기적으로 단절하는 제2 용량 제어 트랜지스터를 포함할 수 있다.The connection part may be connected between an output node connected to the repair line and the driving transistor, and may be connected to a light emission control transistor controlled by a light emission control signal, the output node, and a compensation control node, and may be connected by the light emission control signal a first capacitive control transistor to be controlled, a capacitive element initialization transistor connected between the compensation control node and an initialization voltage line and controlled by an initialization signal, and between the compensation control node and the second electrode of the compensation capacitive element and electrically connecting the compensation control node and the second electrode of the compensation capacitive element when the first pixel is the repair pixel, and the compensation control node and the second electrode when the second pixel is the repair pixel; and a second capacitance control transistor electrically disconnecting the second electrode of the compensating capacitive element.

상기 더미 화소의 더미 회로는 상기 리페어선을 통해 상기 리페어 화소의 발광 소자로 구동 전류를 제공할 수 있다.The dummy circuit of the dummy pixel may provide a driving current to the light emitting device of the repair pixel through the repair line.

전술한 것 외의 다른 측면, 특징, 이점이 이하의 도면, 특허청구범위 및 발명의 상세한 설명으로부터 명확해 질 것이다.Other aspects, features and advantages other than those described above will become apparent from the following drawings, claims, and detailed description of the invention.

본 발명의 실시예들에 따르면, 불량이 발생한 화소에 대한 리페어를 통해 불량 화소를 정상 구동할 수 있고, 리페어 공정 후 사용되는 더미 화소의 회로 구조를 일정 부분 변경할 수 있도록 하여 화질이 개선된 유기 발광 표시 장치를 제공할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the defective pixel can be normally driven by repairing the defective pixel, and the circuit structure of the dummy pixel used after the repair process can be partially changed to improve image quality. A display device may be provided.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 표시부의 일 예를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 도 2에 도시된 표시부에서 리페어선을 이용하여 불량이 발생한 화소를 리페어하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 도 1에 도시된 표시부의 또 다른 예를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소를 나타낸 회로도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 더미 화소를 나타낸 회로도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 더미 화소를 나타낸 회로도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 더미 화소를 나타낸 회로도이다.
도 9은 본 발명의 다른 실시예에 따른 더미 화소를 나타낸 회로도이다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 더미 화소에 의한 동작을 나타낸 타이밍도이다.
1 is a diagram schematically illustrating an organic light emitting diode display according to an exemplary embodiment.
FIG. 2 is a diagram schematically illustrating an example of the display unit shown in FIG. 1 .
FIG. 3 is a view for explaining a method of repairing a defective pixel by using a repair line in the display unit shown in FIG. 2 .
FIG. 4 is a diagram schematically illustrating another example of the display unit shown in FIG. 1 .
5 is a circuit diagram illustrating a pixel according to an embodiment of the present invention.
6 is a circuit diagram illustrating a dummy pixel according to an embodiment of the present invention.
7 is a circuit diagram illustrating a dummy pixel according to another embodiment of the present invention.
8 is a circuit diagram illustrating a dummy pixel according to another exemplary embodiment of the present invention.
9 is a circuit diagram illustrating a dummy pixel according to another embodiment of the present invention.
10 is a timing diagram illustrating an operation by a dummy pixel according to another embodiment of the present invention.

본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 본 발명의 효과 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 다양한 형태로 구현될 수 있다.Since the present invention can apply various transformations and can have various embodiments, specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description. Effects and features of the present invention, and a method of achieving them, will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below and may be implemented in various forms.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 도면을 참조하여 설명할 때 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, and when described with reference to the drawings, the same or corresponding components are given the same reference numerals, and the overlapping description thereof will be omitted. .

이하의 실시예에서, 제1, 제2 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용된다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 포함하다 또는 가지다 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 또는 구성요소가 존재함을 의미하는 것이고, 하나 이상의 다른 특징들 또는 구성요소가 부가될 가능성을 미리 배제하는 것은 아니다.In the following embodiments, terms such as first, second, etc. are used for the purpose of distinguishing one component from another without limiting meaning. The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. The terms include or have means that a feature or element described in the specification is present, and does not preclude the possibility that one or more other features or elements will be added.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치를 개략적으로 도시한 블록도이다.1 is a block diagram schematically illustrating an organic light emitting diode display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 유기 발광 표시 장치(100)는 표시부(110), 게이트 드라이버(120), 소스 드라이버(130), 제어부(140), 및 전원 공급부(150)를 포함할 수 있다. 게이트 드라이버(120), 소스 드라이버(130), 제어부(140), 및 전원 공급부(150)는 각각 별개의 반도체 칩에 형성될 수도 있고, 하나의 반도체 칩에 집적될 수도 있다. 또한, 게이트 드라이버(120) 및/또는 소스 드라이버(130)는 표시부(110)와 동일한 기판 상에 형성될 수 있다. 유기 발광 표시 장치(100)는 예컨대, 스마트 폰, 태블릿 PC, 노트북 PC, 모니터, TV 등과 같은 전자 장치의 영상 표시를 위한 부품일 수 있다.Referring to FIG. 1 , the organic light emitting diode display 100 may include a display unit 110 , a gate driver 120 , a source driver 130 , a control unit 140 , and a power supply unit 150 . The gate driver 120 , the source driver 130 , the control unit 140 , and the power supply unit 150 may be formed on separate semiconductor chips or integrated into one semiconductor chip. Also, the gate driver 120 and/or the source driver 130 may be formed on the same substrate as the display unit 110 . The organic light emitting diode display 100 may be, for example, a component for displaying an image of an electronic device such as a smart phone, a tablet PC, a notebook PC, a monitor, or a TV.

표시부(110)에는 활성 영역(표시 영역)(AA)과 더미 영역(DA)이 정의될 수 있다. 더미 영역(DA)은 활성 영역(AA)에 인접하게 비표시 영역에 배치될 수 있다. 더미 영역(DA)은 활성 영역(AA)의 좌측 및/또는 우측에 배치될 수 있다. 또 다른 예에 따르면, 더미 영역(DA)은 활성 영역(AA)의 상측 및/또는 하측에 배치될 수 있다.An active area (display area) AA and a dummy area DA may be defined in the display unit 110 . The dummy area DA may be disposed in the non-display area adjacent to the active area AA. The dummy area DA may be disposed on the left and/or right of the active area AA. According to another example, the dummy area DA may be disposed above and/or below the active area AA.

활성 영역(AA)에는 제1 방향(예를 들어, 행 방향)을 따라 연장된 복수의 제어선들(CL1 내지 CLn) 및 제2 방향(예를 들어, 열 방향)을 따라 연장된 복수의 데이터선들(DL1 내지 DLm)에 연결된 화소(P)가 복수 배열될 수 있다. 더미 영역(DA)에는 더미 데이터선(DDL) 및 복수의 제어선들(CL1 내지 CLn) 중에서 대응되는 제어선(예컨대, CLi)에 각각 연결된 더미 화소(DP)가 복수 배열될 수 있다. 더미 화소(DP)는 더미 영역(DA)에서 제2방향을 따라 배열될 수 있다.In the active area AA, a plurality of control lines CL1 to CLn extending in a first direction (eg, a row direction) and a plurality of data lines extending along a second direction (eg, a column direction) are provided in the active area AA. A plurality of pixels P connected to DL1 to DLm may be arranged. A plurality of dummy pixels DP each connected to a corresponding control line (eg, CLi) among the dummy data line DDL and the plurality of control lines CL1 to CLn may be arranged in the dummy area DA. The dummy pixels DP may be arranged along the second direction in the dummy area DA.

도 1에서 제어선들(CL1 내지 CLn)은 편의상 하나의 신호선으로 도시되었으나, 제어선들(CL1 내지 CLn) 각각은 다수의 신호선들로 구성될 수 있다. 예를 들어, 제1 제어선(CL1)은 스캔 신호(GW), 초기화 제어 신호(GI) 및 발광 제어 신호(EM)를 인가하는 세 개의 라인들로 구성될 수 있다.In FIG. 1 , the control lines CL1 to CLn are illustrated as one signal line for convenience, but each of the control lines CL1 to CLn may include a plurality of signal lines. For example, the first control line CL1 may include three lines to which the scan signal GW, the initialization control signal GI, and the emission control signal EM are applied.

표시부(110)는 복수의 제어선들(CL1 내지 CLn)과 평행하게 연장되는 복수의 리페어선들(RL1 내지 RLn)을 포함할 수 있다. 리페어선들(RL1 내지 RLn)은 더미 화소(DP)들에 연결될 수 있고, 화소(P)들에 연결 가능하게 배치될 수 있다.The display unit 110 may include a plurality of repair lines RL1 to RLn extending parallel to the plurality of control lines CL1 to CLn. The repair lines RL1 to RLn may be connected to the dummy pixels DP and may be disposed to be connectable to the pixels P.

단위 화소는 다양한 색상을 표시하기 위해 복수의 색상들을 각각 표시하는 복수의 서브 화소들을 포함할 수 있다. 본 명세서에서, 화소(P)는 주로 하나의 서브 화소를 의미한다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 화소(P)는 복수의 서브 화소들을 포함하는 하나의 단위 화소를 의미할 수도 있다. 즉, 본 명세서에서 하나의 화소(P)가 존재한다고 기재되어 있더라도, 이는 하나의 서브 화소가 존재하는 것으로 해석될 수도 있고, 하나의 단위 화소를 구성하는 복수의 서브 화소들이 존재한다고 해석될 수도 있다. 더미 화소(DP)에 대해서도 마찬가지이다. 예컨대, 하나의 더미 화소가 존재한다고 기재되어 있더라도, 이는 하나의 더미 화소가 존재하는 것으로 해석될 수도 있고, 하나의 단위 화소를 구성하는 서브 화소들의 개수만큼 더미 서브 화소들이 존재하는 것으로 해석될 수도 있다. 하나의 더미 화소가 존재한다는 것이 복수의 더미 서브 화소들이 존재하는 것으로 해석되는 경우, 더미 화소에 연결된 더미 데이터선도 역시 복수의 더미 서브 화소들에 각각 연결된 복수의 더미 데이터선들을 포함하는 것으로 해석되어야 할 것이다.The unit pixel may include a plurality of sub-pixels each displaying a plurality of colors in order to display various colors. In this specification, the pixel P mainly means one sub-pixel. However, the present invention is not limited thereto, and the pixel P may mean one unit pixel including a plurality of sub-pixels. That is, although it is described herein that one pixel P exists, this may be interpreted as one sub-pixel being present, or a plurality of sub-pixels constituting one unit pixel may exist. . The same applies to the dummy pixel DP. For example, even though it is described that there is one dummy pixel, it may be interpreted that one dummy pixel exists, or that dummy sub-pixels exist as many as the number of sub-pixels constituting one unit pixel. . When the existence of one dummy pixel is interpreted as the existence of a plurality of dummy sub-pixels, the dummy data line connected to the dummy pixel should also be interpreted as including a plurality of dummy data lines respectively connected to the plurality of dummy sub-pixels. will be.

본 명세서에서, "연결 가능한" 또는 "연결 가능하게"라는 용어는 리페어 공정에서 레이저 등을 이용하여 연결될 수 있는 상태라는 것을 의미할 수 있다. 예컨대, 제1 부재와 제2 부재가 연결 가능하게 배치된다는 것은 제1 부재와 제2 부재가 실제로는 연결되어 있지 않지만, 리페어 공정에서 서로 연결될 수 있는 상태에 놓여 있다는 것을 의미할 수 있다. 구조적인 관점에서, 서로 "연결 가능한" 제1 부재와 제2 부재는 중첩 영역에서 절연막을 사이에 두고 서로 교차하도록 배치될 수 있다. 리페어 공정에서 상기 중첩 영역에 레이저가 조사되면, 상기 중첩 영역 내의 상기 절연막이 파괴되면서, 제1 부재와 제2 부재는 서로 전기적으로 연결될 수 있다.In this specification, the term "connectable" or "connectable" may mean a state that can be connected using a laser or the like in a repair process. For example, when the first member and the second member are arranged to be connectable, it may mean that the first member and the second member are not actually connected, but are in a state in which they can be connected to each other in the repair process. From a structural point of view, the first member and the second member "connectable" to each other may be disposed to cross each other with an insulating film therebetween in the overlapping region. When a laser is irradiated to the overlapping area in the repair process, the insulating layer in the overlapping area is destroyed, and the first member and the second member may be electrically connected to each other.

또한, 본 명세서에서, "분리 가능한" 또는 "분리 가능하게"라는 용어는 리페어 공정에서 레이저 등을 이용하여 분리될 수 있는 상태라는 것을 의미할 수 있다. 예컨대, 제1 부재와 제2 부재가 분리 가능하게 연결된다는 것은 제1 부재와 제2 부재가 실제로는 연결되어 있지만, 리페어 공정에서 분리될 수 있는 상태에 놓여 있다는 것을 의미할 수 있다. 구조적인 관점에서, 분리 가능하게 연결된 제1 부재와 제2 부재는 도전성 연결 부재를 통해 서로 연결되도록 배치될 수 있다. 리페어 공정에서 상기 도전성 연결 부재에 레이저가 조사되면, 상기 도전성 연결 부재는 레이저가 조사된 부분이 녹으면서 절단되며, 제1 부재와 제2 부재는 서로 전기적으로 절연될 수 있다. 예시적으로 상기 도전성 연결 부재는 레이저에 의해 용융될 수 있는 실리콘층을 포함할 수 있다. 다른 예에 따르면, 상기 도전성 연결 부재는 전류에 의한 줄열에 의해 용융되면서 절단될 수 있다.In addition, in this specification, the term "separable" or "separably" may mean a state that can be separated using a laser or the like in a repair process. For example, when the first member and the second member are detachably connected, it may mean that the first member and the second member are actually connected, but are in a state in which they can be separated in a repair process. From a structural point of view, the detachably connected first member and the second member may be arranged to be connected to each other through a conductive connecting member. When a laser is irradiated to the conductive connection member in the repair process, the conductive connection member may be cut while the laser-irradiated portion is melted, and the first member and the second member may be electrically insulated from each other. For example, the conductive connection member may include a silicon layer that can be melted by a laser. According to another example, the conductive connecting member may be cut while being melted by Joule heat caused by an electric current.

표시부(110)는 더미 데이터선(DDL)에 연결될 수 있고 복수의 데이터선들(DL1 내지 DLm)에 연결 가능하게 배치되는 연결선(GL)을 포함할 수 있다. 연결선(GL)은 제1 방향을 따라 연장될 수 있다. 연결선(GL)은 활성 영역(AA)과 더미 영역(DA)의 외곽의 데드 스페이스(dead space)에 배치될 수 있다. 데드 스페이스는 표시부(110) 내에서 화소(P)들 및 더미 화소(DP)들이 배치되지 않는 영역을 의미할 수 있다. 연결선(GL)이 데드 스페이스에 배치되기 때문에, 연결선(GL)은 큰 설계 마진을 가지며 형성될 수 있다. 예컨대, 연결선(GL)은 저항을 낮추기 위해 더 넓은 폭 및/또는 두께를 가질 수 있다. 표시부(110)에는 복수의 연결선(GL)들이 배치될 수 있다.The display unit 110 may be connected to the dummy data line DDL and may include a connection line GL that is connected to the plurality of data lines DL1 to DLm. The connecting line GL may extend in the first direction. The connecting line GL may be disposed in a dead space outside the active area AA and the dummy area DA. The dead space may refer to an area in the display unit 110 in which the pixels P and the dummy pixels DP are not disposed. Since the connecting line GL is disposed in the dead space, the connecting line GL can be formed with a large design margin. For example, the connection line GL may have a wider width and/or thickness to lower resistance. A plurality of connecting lines GL may be disposed on the display unit 110 .

게이트 드라이버(120)는 제어선들(CL1 내지 CLn)을 통해 복수의 제어 신호를 화소(P)들 및 더미 화소(DP)들에 제공하고, 소스 드라이버(130)는 데이터선들(DL1 내지 DLm)을 통해 데이터 신호를 화소(P)들에 제공할 수 있다. 도 1에 도시된 바와 같이 소스 드라이버(130)는 더미 데이터선(DDL)에 직접 연결되지 않을 수 있다. 다른 예에 따르면, 소스 드라이버(130)는 더미 데이터선(DDL)에 직접 연결되어, 더미 화소(DP)들에 데이터 신호를 직접 제공할 수도 있다.The gate driver 120 provides a plurality of control signals to the pixels P and the dummy pixels DP through the control lines CL1 to CLn, and the source driver 130 provides the data lines DL1 to DLm. A data signal may be provided to the pixels P through the 1 , the source driver 130 may not be directly connected to the dummy data line DDL. According to another example, the source driver 130 may be directly connected to the dummy data line DDL to directly provide a data signal to the dummy pixels DP.

제어부(140)는 게이트 드라이버(120), 소스 드라이버(130) 및 전원 공급부(150)를 제어할 수 있다. 제어부(140)는 수평 동기 신호 및 수직 동기 신호에 기초하여 게이트 드라이버(120), 소스 드라이버(130) 및/또는 전원 공급부(150)를 제어하기 위한 제어 신호 및 영상 데이터를 게이트 드라이버(120), 소스 드라이버(130), 및/또는 전원 공급부(150)로 출력할 수 있다. 전원 공급부(150)는 제1 구동 전압(EVLDD), 제2 구동 전압(ELVSS), 제1 초기화 전압(VINIT1), 및 제2 초기화 전압(VINIT2)을 화소(P)들 및/또는 더미 화소(DP)들에 인가할 수 있다. 이 때, 제1 초기화 전압(VINIT1)은 화소(P)들에 공급될 수 있고, 제2 초기화 전압(VINIT2)은 더미 화소(DP)들에 공급될 수 있다. 제1 초기화 전압(VINIT1) 및 제2 초기화 전압(VINIT2)은 서로 동일한 전압일 수도 있고 상이한 전압일 수도 있다.The controller 140 may control the gate driver 120 , the source driver 130 , and the power supply unit 150 . The control unit 140 transmits a control signal and image data for controlling the gate driver 120 , the source driver 130 and/or the power supply unit 150 based on the horizontal synchronization signal and the vertical synchronization signal to the gate driver 120 , It may output to the source driver 130 and/or the power supply unit 150 . The power supply unit 150 applies the first driving voltage EVLDD, the second driving voltage ELVSS, the first initialization voltage VINIT1, and the second initialization voltage VINIT2 to the pixels P and/or the dummy pixel (P). DP) can be authorized. In this case, the first initialization voltage VINIT1 may be supplied to the pixels P, and the second initialization voltage VINIT2 may be supplied to the dummy pixels DP. The first initialization voltage VINIT1 and the second initialization voltage VINIT2 may be the same or different voltages.

화소(P)는 발광 소자 및 발광 소자에 분리 가능하게 연결된 화소 회로를 포함할 수 있다. 더미 화소(DP)는 더미 회로를 포함할 수 있다. 예컨대, 도 1에 도시된 화소(P)가 불량 화소인 경우, 불량 화소의 발광 소자는 불량 화소의 화소 회로와 분리되고, 리페어선들(RL1 내지 RLn) 중 대응하는 리페어선(RLi)을 통해 더미 화소(DP)들 중 대응하는 더미 화소(DP)에 연결될 수 있다. 또한, 데이터선들(DL1 내지 DLm) 중에서 불량 화소에 연결된 데이터선(DLj)은 연결선(GL)을 통해 더미 데이터선(DDL)에 연결될 수 있다. 불량 화소에 인가되는 데이터 신호는 데이터선(DLj), 데이터선(DLj)에 연결된 연결선(GL), 및 연결선(GL)에 연결된 더미 데이터선(DDL)을 통해 더미 화소(DP)에 인가된다. 더미 화소(DP)는 데이터 신호에 대응하는 구동 전류를 생성하고, 구동 전류를 리페어선(RLi)을 통해 불량 화소의 발광 소자에 공급한다. 발광 소자는 데이터 신호에 대응하는 밝기의 빛을 방출한다. 따라서, 불량 화소의 발광 소자는 더미 화소(DP)에 의해 정상적으로 동작하게 된다.The pixel P may include a light emitting device and a pixel circuit detachably connected to the light emitting device. The dummy pixel DP may include a dummy circuit. For example, when the pixel P shown in FIG. 1 is a bad pixel, the light emitting device of the bad pixel is separated from the pixel circuit of the bad pixel, and is a dummy through the corresponding repair line RLi among the repair lines RL1 to RLn. It may be connected to a corresponding dummy pixel DP among the pixels DP. Also, among the data lines DL1 to DLm, the data line DLj connected to the bad pixel may be connected to the dummy data line DDL through the connection line GL. The data signal applied to the bad pixel is applied to the dummy pixel DP through the data line DLj, the connection line GL connected to the data line DLj, and the dummy data line DDL connected to the connection line GL. The dummy pixel DP generates a driving current corresponding to the data signal and supplies the driving current to the light emitting device of the defective pixel through the repair line RLi. The light emitting element emits light having a brightness corresponding to the data signal. Accordingly, the light emitting device of the bad pixel operates normally by the dummy pixel DP.

본 명세서에서, "대응하는" 또는 "대응하게"라는 용어는 문맥에 따라서 동일한 열 또는 행에 배치된다는 것을 의미할 수 있다. 예컨대, 제1 부재가 복수의 제2 부재들 중에서 "대응하는" 제2 부재에 연결된다는 것은 제1 부재와 동일 열 또는 동일 행에 배치된 제2 부재에 연결된다는 것을 의미한다.As used herein, the terms “corresponding” or “correspondingly” may mean disposed in the same column or row, depending on the context. For example, when a first member is connected to a “corresponding” second member of the plurality of second members, it is meant to be connected to a second member disposed in the same column or same row as the first member.

도 2는 도 1에 도시된 표시부의 일 예를 개략적으로 나타낸 도면이다.FIG. 2 is a diagram schematically illustrating an example of the display unit shown in FIG. 1 .

도 2를 참조하면, 표시부(110)는 발광에 의해 영상을 표시하는 활성 영역(AA) 및 활성 영역(AA) 주변의 더미 영역(DA)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2 , the display unit 110 may include an active area AA that displays an image by light emission and a dummy area DA around the active area AA.

활성 영역(AA)에 배열된 화소(P)는 화소 회로(C) 및 화소 회로(C)로부터 구동 전류를 공급받아 발광하는 발광 소자(E)를 포함할 수 있다. 발광 소자(E)와 화소 회로(C)는 서로 분리 가능하게 연결될 수 있다. 화소 회로(C)는 하나 이상의 박막 트랜지스터 및 용량성 소자를 포함할 수 있다. 본 명세서에서, 용량성 소자는 커패시터를 의미할 수 있다. 화소(P)는 하나의 색의 광을 방출하며, 예를 들어, 적색, 청색, 녹색, 백색 중 하나의 색의 광을 방출할 수 있다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 적색, 청색, 녹색, 백색 외의 다른 색의 광을 방출할 수도 있다.The pixels P arranged in the active area AA may include a pixel circuit C and a light emitting device E that emits light by receiving a driving current from the pixel circuit C. The light emitting device E and the pixel circuit C may be detachably connected to each other. The pixel circuit C may include one or more thin film transistors and a capacitive element. In this specification, the capacitive element may mean a capacitor. The pixel P may emit light of one color, for example, light of one color among red, blue, green, and white. However, the present invention is not limited thereto, and light of colors other than red, blue, green, and white may be emitted.

화소(P)의 발광 소자(E)는 동일 행의 리페어선과 절연되고, 추후 리페어 공정에서, 리페어선과 전기적으로 연결될 수 있다. 즉, 화소(P)의 발광 소자(E)는 동일 행의 리페어선과 연결 가능하게 배치될 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(E)는 제1 연결 부재(11)와 전기적으로 연결될 수 있고, 제1 연결 부재(11)는 절연막을 사이에 두고 리페어선과 일부 중첩되도록 형성될 수 있다. 제1 연결 부재(11)는 도전성 물질로 형성된 하나 이상의 도전층을 포함할 수 있다. 리페어 공정에서, 제1 연결 부재(11)와 리페어선의 중첩 영역으로 레이저가 조사되면, 절연막이 파괴되면서 제1 연결 부재(11)와 리페어선이 쇼트되어 전기적으로 연결될 수 있다. 이에 따라, 발광 소자(E)는 리페어선과 전기적으로 연결될 수 있다.The light emitting device E of the pixel P may be insulated from the repair line in the same row, and may be electrically connected to the repair line in a subsequent repair process. That is, the light emitting device E of the pixel P may be disposed to be connectable to the repair line in the same row. For example, the light emitting device E may be electrically connected to the first connecting member 11 , and the first connecting member 11 may be formed to partially overlap the repair line with an insulating layer interposed therebetween. The first connection member 11 may include one or more conductive layers formed of a conductive material. In the repair process, when the laser is irradiated to the overlapping region of the first connecting member 11 and the repair line, the insulating layer is destroyed and the first connecting member 11 and the repair line are short-circuited to be electrically connected. Accordingly, the light emitting device E may be electrically connected to the repair line.

도 2의 실시예에서는 활성 영역(AA)의 좌측에 더미 영역(DA)이 배치되고, 각 행에 하나의 더미 화소(DP)가 배치된 예를 도시하고 있다. 더미 영역(DA)에는 더미 화소(DP)들에 연결된 더미 데이터선(DDL)이 배치될 수 있다. 더미 데이터선(DDL)은 데이터선들(DL1 내지 DLm)과 평행하게 배치될 수 있다. 리페어선들(RL1 내지 RLn)과 제어선들(CL1 내지 CLn)은 더미 영역(DA)에도 연장될 수 있다.2 illustrates an example in which the dummy area DA is disposed on the left side of the active area AA and one dummy pixel DP is disposed in each row. A dummy data line DDL connected to the dummy pixels DP may be disposed in the dummy area DA. The dummy data line DDL may be disposed parallel to the data lines DL1 to DLm. The repair lines RL1 to RLn and the control lines CL1 to CLn may also extend to the dummy area DA.

더미 화소(DP)는 더미 회로(DC)를 포함하고 발광 소자를 포함하지 않는다. 더미 회로(DC)는 화소 회로(C)와 동일할 수 있다. 다른 예에 따르면, 더미 회로(DC)는 화소 회로(C)와 상이할 수 있다. 예를 들어, 더미 회로(DC)는 화소 회로(C)의 트랜지스터 및/또는 용량성 소자가 생략 및/또는 추가되거나, 트랜지스터와 용량성 소자의 사이즈 및 특성이 상이할 수 있다.The dummy pixel DP includes a dummy circuit DC and does not include a light emitting device. The dummy circuit DC may be the same as the pixel circuit C. According to another example, the dummy circuit DC may be different from the pixel circuit C. For example, in the dummy circuit DC, the transistor and/or the capacitive element of the pixel circuit C may be omitted and/or added, or the size and characteristics of the transistor and the capacitive element may be different from each other.

연결선(GL)은 활성 영역(AA)과 더미 영역(DA)의 외곽에 배치될 수 있다. 연결선(GL)과 데이터선(DL1 내지 DLm)은 서로 절연되고, 리페어 공정에서, 연결선(GL)과 데이터선들(DL1 내지 DLm) 중 하나는 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 예컨대, 데이터선들(DL1 내지 DLm)은 절연막을 사이에 두고 연결선(GL)과 일부 중첩하도록 배치될 수 있다. 리페어 공정에서, 불량 화소에 연결된 데이터선과 연결선(GL)의 중첩 영역으로 레이저가 조사되면, 절연막이 파괴되면서 데이터선과 연결선(GL)이 쇼트되어 불량 화소에 연결된 데이터선과 연결선(GL)은 서로 전기적으로 연결될 수 있다.The connection line GL may be disposed outside the active area AA and the dummy area DA. The connection line GL and the data lines DL1 to DLm may be insulated from each other, and in a repair process, one of the connection line GL and the data lines DL1 to DLm may be electrically connected to each other. For example, the data lines DL1 to DLm may be disposed to partially overlap the connection line GL with an insulating layer interposed therebetween. In the repair process, when the laser is irradiated to the overlapping area of the data line and the connecting line GL connected to the bad pixel, the insulating layer is destroyed and the data line and the connecting line GL are shorted, so that the data line and the connecting line GL connected to the bad pixel are electrically connected to each other. can be connected

도 3은 도 2에 도시된 표시부에서 리페어선을 이용하여 불량이 발생한 화소를 리페어하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 3 is a view for explaining a method of repairing a defective pixel by using a repair line in the display unit shown in FIG. 2 .

아래에서는, 활성 영역(AA)에 형성된 화소(P)들 중 i번째 제어선(CLi)과 j번째 데이터선(DLj)에 연결된 화소(Pij)에서 불량이 발생한 경우, 예를 들어, 화소(Pij)의 화소 회로(C)가 불량인 경우를 예로서 설명한다. 본 예에서, 화소(Pij)는 불량 화소(Pij)로 지칭한다.Below, when a defect occurs in the pixel Pij connected to the i-th control line CLi and the j-th data line DLj among the pixels P formed in the active area AA, for example, the pixel Pij A case in which the pixel circuit C of ) is defective will be described as an example. In this example, the pixel Pij is referred to as a bad pixel Pij.

도 3을 참조하면, 불량 화소(Pij)의 발광 소자(E)는 화소 회로(C)로부터 분리될 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(E)와 화소 회로(C)의 연결 영역에 레이저를 조사하여 절단(CUT)함으로써 불량 화소(Pij)의 발광 소자(E)는 화소 회로(C)로부터 분리될 수 있다.Referring to FIG. 3 , the light emitting device E of the bad pixel Pij may be separated from the pixel circuit C. As shown in FIG. For example, the light emitting device E of the bad pixel Pij may be separated from the pixel circuit C by irradiating a laser to the connection region between the light emitting device E and the pixel circuit C and cutting (CUT) it. .

다음으로, 불량 화소(Pij)의 발광 소자(E)와 더미 화소(DPi)의 더미 회로(DC)가 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 이를 위하여, 불량 화소(Pij)의 발광 소자(E)는 동일 행의 리페어선(RLi)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 불량 화소(Pij)의 발광 소자(E)에 연결된 제1 연결 부재(11)와 동일 행의 리페어선(RLi)의 중첩 영역에 레이저를 조사함으로써, 발광 소자(E)는 리페어선(RLi)에 전기적으로 연결될 수 있다. 리페어선(RLi)은 더미 회로(DC)에 연결되어 있으므로, 불량 화소(Pij)의 발광 소자(E)는 더미 화소(DPi)의 더미 회로(DC)에 연결될 수 있다.Next, the light emitting device E of the bad pixel Pij and the dummy circuit DC of the dummy pixel DPi may be electrically connected to each other. To this end, the light emitting device E of the bad pixel Pij may be connected to the repair line RLi in the same row. For example, by irradiating a laser to the overlapping area of the repair line RLi in the same row with the first connection member 11 connected to the light emitting element E of the bad pixel Pij, the light emitting element E is formed with the repair line (RLi) may be electrically connected. Since the repair line RLi is connected to the dummy circuit DC, the light emitting device E of the bad pixel Pij may be connected to the dummy circuit DC of the dummy pixel DPi.

다음으로, 불량 화소(Pij)에 연결된 데이터선(DLj)과 더미 데이터선(DDL)이 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 이를 위하여, 데이터선(DLj)은 연결선(GL)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 데이터선(DLj)과 연결선(GL)의 중첩 영역에 레이저를 조사함으로써, 데이터선(DLj)과 연결선(GL)은 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 연결선(GL)은 더미 데이터선(DDL)에 연결되어 있으므로, 데이터선(DLj)과 더미 데이터선(DDL)은 서로 연결될 수 있다.Next, the data line DLj connected to the bad pixel Pij and the dummy data line DDL may be electrically connected to each other. To this end, the data line DLj may be connected to the connection line GL. For example, the data line DLj and the connection line GL may be electrically connected to each other by irradiating a laser to the overlapping area of the data line DLj and the connection line GL. Since the connection line GL is connected to the dummy data line DDL, the data line DLj and the dummy data line DDL may be connected to each other.

불량 화소(Pij)의 화소 회로(C)와 더미 화소(DPi)의 더미 회로(DC)는 제어선(CLi) 중 동일한 스캔선으로 인가되는 스캔 신호에 동시 응답할 수 있다. 불량 화소(Pij)의 화소 회로(C)에 연결된 데이터선(DLj)은 연결선(GL)을 통해 더미 데이터선(DDL)에 연결되므로, 불량 화소(Pij)의 화소 회로(C)에 인가되는 데이터 신호(Dj)는 더미 화소(DPi)의 더미 회로(DC)에도 인가될 수 있다. 더미 회로(DC)는 데이터 신호(Dj)에 대응하는 구동 전류(Iij)를 생성할 수 있고, 리페어선(RLi)을 통해 구동 전류(Iij)를 불량 화소(Pij)의 발광 소자(E)에 제공할 수 있다. 불량 화소(Pij)의 발광 소자(E)는 구동 전류(Iij)에 의해 데이터 신호(Dj)에 대응하는 밝기로 발광할 수 있다. 이를 통하여, 불량 화소(Pij)는 정상 화소로 리페어될 수 있다.The pixel circuit C of the bad pixel Pij and the dummy circuit DC of the dummy pixel DPi may simultaneously respond to a scan signal applied to the same scan line among the control lines CLi. Since the data line DLj connected to the pixel circuit C of the bad pixel Pij is connected to the dummy data line DDL through the connection line GL, data applied to the pixel circuit C of the bad pixel Pij is The signal Dj may also be applied to the dummy circuit DC of the dummy pixel DPi. The dummy circuit DC may generate a driving current Iij corresponding to the data signal Dj, and transmit the driving current Iij to the light emitting device E of the bad pixel Pij through the repair line RLi. can provide The light emitting device E of the bad pixel Pij may emit light with a brightness corresponding to the data signal Dj by the driving current Iij. Through this, the bad pixel Pij may be repaired into a normal pixel.

본 예에서, 더미 데이터선(DDL)은 연결선(GL)을 통해 데이터선(DLj)에 연결되기 때문에, 더미 데이터선(DDL)을 별도로 구동할 필요가 없다. 따라서, 별도의 타이밍이나 더미 데이터선(DDL)을 구동하기 위해 소스 드라이버를 변형할 필요가 없으며, 기존의 구동부를 그대로 사용할 수 있다.In this example, since the dummy data line DDL is connected to the data line DLj through the connection line GL, there is no need to separately drive the dummy data line DDL. Accordingly, there is no need to modify the source driver to drive the separate timing or dummy data line DDL, and the existing driver can be used as it is.

도 4는 도 1에 도시된 표시부의 또 다른 예를 개략적으로 나타낸 도면이다.FIG. 4 is a diagram schematically illustrating another example of the display unit shown in FIG. 1 .

도 4를 참조하면, 표시부(210)는 일부의 차이점들을 제외하고는 도 2에 도시된 표시부(110)와 실질적으로 동일하다. 이하 동일한 설명은 생략하고 차이점을 중심으로 설명한다. 또한, 본 실시예의 용이한 이해를 위해, 도 4에는 정상인 화소(P)는 도시되지 않고 불량 화소들(BPa, BPb)만이 도시되며, 제어선들도 생략하였다.Referring to FIG. 4 , the display unit 210 is substantially the same as the display unit 110 illustrated in FIG. 2 , except for some differences. Hereinafter, the same description will be omitted and the differences will be mainly described. In addition, for easy understanding of the present embodiment, FIG. 4 shows only the bad pixels BPa and BPb without showing the normal pixel P, and also omits the control lines.

표시부(210)는 활성 영역(AA)의 좌측에 배치되는 제1 더미 영역(DA1) 및 활성 영역(AA)의 우측에 배치되는 제2 더미 영역(DA2)을 포함할 수 있다. 제1 더미 영역(DA1)에는 제1 더미 데이터선(DDL1)과 이에 연결되는 복수의 제1 더미 화소들(예컨대, DPa)이 배치될 수 있다. 제2 더미 영역(DA2)에는 제2 더미 데이터선(DDL2)과 이에 연결되는 복수의 제2 더미 화소(예컨대, DPb)들이 배치될 수 있다. 제1 더미 영역(DA1)과 제2 더미 영역(DA2)은 도 1의 더미 영역(DA)에 대응할 수 있다.The display unit 210 may include a first dummy area DA1 disposed on the left side of the active area AA and a second dummy area DA2 disposed on the right side of the active area AA. A first dummy data line DDL1 and a plurality of first dummy pixels (eg, DPa) connected thereto may be disposed in the first dummy area DA1 . A second dummy data line DDL2 and a plurality of second dummy pixels (eg, DPb) connected thereto may be disposed in the second dummy area DA2 . The first dummy area DA1 and the second dummy area DA2 may correspond to the dummy area DA of FIG. 1 .

활성 영역(AA)은 제1 활성 영역(AA1)과 제2 활성 영역(AA2)으로 구분될 수 있다. 제1 활성 영역(AA1)의 상측에는 제1 더미 데이터선(DDL1)에 연결되는 제1 연결선(GL1)이 배치될 수 있고, 제2 활성 영역(AA2)의 상측에는 제2 더미 데이터선(DDL2)에 연결되는 제2 연결선(GL2)이 배치될 수 있다. 제1 연결선(GL1)과 제2 연결선(GL2)은 서로 절연될 수 있다. 제1 연결선(GL1)과 제2 연결선(GL2)은 제1 활성 영역(AA1)과 제2 활성 영역(AA2)의 하측에 배치될 수도 있다. 제1 활성 영역(AA1) 상의 데이터선(DLa)들은 제1 연결선(GL1)에 연결 가능하게 배치될 수 있다. 제2 활성 영역(AA2) 상의 데이터선(DLb)들은 제2 연결선(GLW2)에 연결 가능하게 배치될 수 있다.The active area AA may be divided into a first active area AA1 and a second active area AA2 . A first connection line GL1 connected to the first dummy data line DDL1 may be disposed above the first active area AA1 , and a second dummy data line DDL2 may be disposed above the second active area AA2 . A second connection line GL2 connected to ) may be disposed. The first connection line GL1 and the second connection line GL2 may be insulated from each other. The first connecting line GL1 and the second connecting line GL2 may be disposed below the first active area AA1 and the second active area AA2 . The data lines DLa on the first active area AA1 may be connected to the first connection line GL1 . The data lines DLb on the second active area AA2 may be connected to the second connection line GLW2 .

표시부(210)는 제1 더미 영역(DA1)의 제1 더미 화소(DPa)들로부터 제1 활성 영역(AA1) 상으로 연장되는 제1 리페어선들(예컨대, RLa), 및 제2 더미 영역(DA2)의 제2 더미 화소들(DPb)로부터 제2 활성 영역(AA2) 상으로 연장되는 제2 리페어선들(예컨대, RLb)을 포함할 수 있다. 제1 리페어선(RLa)들과 제2 리페어선(RLb)들은 서로 절연될 수 있다.The display unit 210 includes first repair lines (eg, RLa) extending from the first dummy pixels DPa of the first dummy area DA1 onto the first active area AA1, and the second dummy area DA2 ) may include second repair lines (eg, RLb) extending from the second dummy pixels DPb onto the second active area AA2. The first repair lines RLa and the second repair lines RLb may be insulated from each other.

제1 리페어선(RLa)들, 제1 연결선(GL1)들, 및 제1 더미 데이터선(DDL1)을 이용하여 제1 활성 영역(AA1) 상의 적어도 하나의 불량 화소(BPa)가 리페어될 수 있다. 동일 열에 위치한 복수의 불량 화소(BPa)들은 추가 연결선 및 추가 더미 데이터선이 없더라도 서로 함께 리페어될 수 있다. 제1 활성 영역(AA1) 상의 불량 화소(BPa)의 발광 소자(E)는 화소 회로(C)와 분리되고 동일 행의 제1 더미 화소(DPa)의 더미 회로(DC)에 제1 리페어선(RLa)을 통해 연결될 수 있다. 불량 화소(BPa)에 연결된 데이터선(DLa)은 제1 연결선(GL1)과 연결될 수 있으며, 데이터선(DLa)에 인가되는 데이터 신호는 더미 회로(DC)에도 인가될 수 있다. 더미 회로(DC)는 데이터 신호에 대응하는 구동 전류를 생성할 수 있고, 제1 리페어선(RLa)을 통해 불량 화소(BPa)의 발광 소자(E)에 제공할 수 있고, 발광 소자(E)는 상기 구동 전류에 따라 발광할 수 있다.At least one bad pixel BPa on the first active area AA1 may be repaired using the first repair lines RLa, the first connection lines GL1 , and the first dummy data line DDL1 . . The plurality of bad pixels BPa positioned in the same column may be repaired together even if there are no additional connection lines and additional dummy data lines. The light emitting device E of the bad pixel BPa on the first active area AA1 is separated from the pixel circuit C and connected to the dummy circuit DC of the first dummy pixel DPa in the same row as the first repair line ( RLa) can be connected. The data line DLa connected to the bad pixel BPa may be connected to the first connection line GL1 , and the data signal applied to the data line DLa may also be applied to the dummy circuit DC. The dummy circuit DC may generate a driving current corresponding to the data signal, and may provide the driving current to the light emitting device E of the bad pixel BPa through the first repair line RLa, and the light emitting device E may emit light according to the driving current.

제2 리페어선(RLb)들, 제2 연결선(GL2)들, 및 제2 더미 데이터선(DDL2)을 이용하여 제2 활성 영역(AA2) 상의 적어도 하나의 불량 화소(BPb)가 리페어될 수 있다. 제2 활성 영역(AA2) 상의 불량 화소(BPb)의 발광 소자(E)는 화소 회로(C)와 분리될 수 있고, 동일 행의 제2 더미 화소(DP2)의 더미 회로(DC)에 제2 리페어선(RLb)을 통해 연결될 수 있다. 불량 화소(BPb)에 연결된 데이터선(DLb)은 제2 연결선(GL2)과 연결될 수 있고, 데이터선(DLb)에 인가되는 데이터 신호는 더미 회로(DC)에도 인가될 수 있다. 더미 회로(DC)는 데이터 신호에 대응하는 구동 전류를 생성할 수 있고, 제2 리페어선(RLb)을 통해 불량 화소(BPb)의 발광 소자(E)에 제공할 수 있고, 발광 소자(E)는 상기 구동 전류에 따라 발광할 수 있다.At least one bad pixel BPb on the second active area AA2 may be repaired using the second repair lines RLb, the second connection lines GL2 , and the second dummy data line DDL2 . . The light emitting device E of the bad pixel BPb on the second active area AA2 may be separated from the pixel circuit C, and may be connected to the second dummy circuit DC of the second dummy pixel DP2 in the same row. It may be connected through the repair line RLb. The data line DLb connected to the bad pixel BPb may be connected to the second connection line GL2 , and the data signal applied to the data line DLb may also be applied to the dummy circuit DC. The dummy circuit DC may generate a driving current corresponding to the data signal, and may provide the driving current to the light emitting device E of the bad pixel BPb through the second repair line RLb, and the light emitting device E may emit light according to the driving current.

본 실시예에 따르면, 제1 활성 영역(AA1) 상의 적어도 하나의 불량 화소(BPa) 및 제2 활성 영역(AA2) 상의 적어도 하나의 불량 화소(BPb)가 리페어될 수 있다. 뿐만 아니라, 본 실시예에 따르면, 동일 행에서 두 개의 불량 화소가 발생하더라도 리페어될 수 있다.According to the present exemplary embodiment, at least one bad pixel BPa on the first active area AA1 and at least one bad pixel BPb on the second active area AA2 may be repaired. In addition, according to the present embodiment, even if two bad pixels occur in the same row, repair can be performed.

전술된 실시예들은 동일 행의 불량 화소와 더미 화소(DP)가 동일 행의 리페어선에 의해 연결되는 리페어를 예로서 설명하였다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 불량 화소가 다른 행에 위치한 더미 화소(DP)와 불량 화소와 동일 행에 위치한 리페어선에 연결되는 경우에도 동일하게 적용할 수 있다.The above-described embodiments have been described as an example of repair in which a bad pixel and a dummy pixel DP in the same row are connected by a repair line in the same row. However, the present invention is not limited thereto, and the same may be applied to a case in which a bad pixel is connected to a dummy pixel DP located in a different row and a repair line located in the same row as the bad pixel.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소를 나타낸 회로도이다.5 is a circuit diagram illustrating a pixel according to an embodiment of the present invention.

도 5에 도시된 화소(P)는 n번째 행에 포함된 복수의 화소(P)들 중 하나로서, n번째 행에 대응하는 스캔선(GWLn), 제1 초기화 제어선(GILn), 및 발광 제어선(EMLn)에 각각 연결되어, 스캔 신호(GW[n]), 제1 초기화 제어 신호(GI[n]), 및 발광 제어 신호(EM[n])를 공급받을 수 있다. 화소(P)는 n번째 행에 대응하는 제2 초기화 제어선을 통하여 제2 초기화 제어 신호(GB[n])를 공급받을 수도 있다.A pixel P illustrated in FIG. 5 is one of a plurality of pixels P included in an n-th row, and includes a scan line GWLn corresponding to the n-th row, a first initialization control line GILn, and light emission. They may be respectively connected to the control line EMLn to receive the scan signal GW[n], the first initialization control signal GI[n], and the emission control signal EM[n]. The pixel P may receive the second initialization control signal GB[n] through the second initialization control line corresponding to the n-th row.

본 실시예에 따른 표시 장치의 화소(P)는 화소 회로(C) 및 발광 소자(E)로서 화소 회로(C)와 연결되어 발광하는 유기 발광 소자를 포함할 수 있다. 유기 발광 소자는 화소전극(애노드), 대향전극(캐소드), 및 애노드와 캐소드 사이의 발광층을 포함할 수 있다.The pixel P of the display device according to the present exemplary embodiment may include a pixel circuit C and an organic light emitting device that is connected to the pixel circuit C as a light emitting device E and emits light. The organic light emitting diode may include a pixel electrode (anode), a counter electrode (cathode), and a light emitting layer between the anode and the cathode.

화소 회로(C)는 구동 트랜지스터(T1), 스위칭 트랜지스터(T2), 보상 트랜지스터(T3), 초기화 트랜지스터(T4), 동작 제어 트랜지스터(T5), 발광 제어 트랜지스터(T6), 바이패스 트랜지스터(T7) 및 저장 용량성 소자를 포함할 수 있다. 저장 용량성 소자는 커패시터일 수 있고, 본 명세서에서 저장 용량성 소자는 저장 커패시터(Cst1)로 표현될 수 있다.The pixel circuit C includes a driving transistor T1, a switching transistor T2, a compensation transistor T3, an initialization transistor T4, an operation control transistor T5, a light emission control transistor T6, and a bypass transistor T7. and a storage capacitive element. The storage capacitive element may be a capacitor, and in this specification, the storage capacitive element may be expressed as a storage capacitor Cst1.

구동 트랜지스터(T1)의 게이트 전극은 게이트 노드(Ng)에 연결될 수 있다. 구동 트랜지스터(T1)의 소스 전극은 소스 노드(Ns)를 통하여, 동작 제어 트랜지스터(T5)를 경유하여 구동 전압선(ELVDDL)과 연결될 수 있다. 구동 트랜지스터(T1)의 드레인 전극은 드레인 노드(Nd)를 통하여, 발광 제어 트랜지스터(T6)를 경유하여 유기 발광 소자(OLED)의 애노드와 전기적으로 연결될 수 있다. 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 전극과 소스 전극의 전압 차에 의해 유기 발광 소자(OLED)로 흐르는 전류가 결정된다. 유기 발광 소자(OLED)로 흐르는 전류량에 의하여 유기 발광 소자(OLED)의 발광 정도가 결정될 수 있다.A gate electrode of the driving transistor T1 may be connected to the gate node Ng. The source electrode of the driving transistor T1 may be connected to the driving voltage line ELVDDL through the source node Ns and the operation control transistor T5 . The drain electrode of the driving transistor T1 may be electrically connected to the anode of the organic light emitting diode OLED through the drain node Nd and the emission control transistor T6 . A current flowing to the organic light emitting diode OLED is determined by a voltage difference between the gate electrode and the source electrode of the driving transistor T1 . The degree of light emission of the organic light emitting diode OLED may be determined by the amount of current flowing into the organic light emitting diode OLED.

스위칭 트랜지스터(T2)의 게이트 전극은 스캔선(GWLn)과 연결될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(T2)의 제1 전극은 데이터선(DL)과 연결될 수 있고, 제2 전극은 구동 트랜지스터(T1)의 소스 전극과 연결될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(T2)는 스캔선(GWLn)을 통해 전달받은 스캔 신호(GW[n])에 따라 턴-온되어 데이터선(DL)으로 전달된 데이터 신호(DATA)를 구동 트랜지스터(T1)의 소스 전극으로 전달할 수 있고, 동시에 턴-온되는 보상 트랜지스터(T3)에 의해 데이터 신호(DATA)는 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 전극으로 전달될 수 있다.A gate electrode of the switching transistor T2 may be connected to the scan line GWLn. A first electrode of the switching transistor T2 may be connected to the data line DL, and a second electrode of the switching transistor T2 may be connected to a source electrode of the driving transistor T1 . The switching transistor T2 is turned on according to the scan signal GW[n] transmitted through the scan line GWLn and transmits the data signal DATA transmitted through the data line DL to the source of the driving transistor T1 . The data signal DATA may be transmitted to the electrode and may be transmitted to the gate electrode of the driving transistor T1 by the compensation transistor T3 that is turned on at the same time.

보상 트랜지스터(T3)의 게이트 전극은 스캔선(GWLn)에 연결될 수 있다. 보상 트랜지스터(T3)의 제1 전극은 구동 트랜지스터(T1)의 드레인 전극과 연결될 수 있고, 제2 전극은 게이트 노드(Ng)에 연결될 수 있다. 보상 트랜지스터(T3)는 스캔선(GWLn)을 통해 전달받은 스캔 신호(GW[n])에 따라 턴-온되어 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 전극과 드레인 전극을 서로 연결하여 구동 트랜지스터(T1)를 다이오드 연결시켜 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(Vth)을 보상할 수 있다.A gate electrode of the compensation transistor T3 may be connected to the scan line GWLn. A first electrode of the compensation transistor T3 may be connected to a drain electrode of the driving transistor T1 , and a second electrode may be connected to the gate node Ng. The compensation transistor T3 is turned on according to the scan signal GW[n] received through the scan line GWLn to connect the gate electrode and the drain electrode of the driving transistor T1 to each other to connect the driving transistor T1. By diode-connecting, the threshold voltage Vth of the driving transistor T1 may be compensated.

초기화 트랜지스터(T4)의 게이트 전극은 제1 초기화 제어선(GILn)과 연결될 수 있다. 초기화 트랜지스터(T4)의 제1 전극은 초기화 전압선(IL)과 연결될 수 있고, 제2 전극은 게이트 노드(Ng)에 연결될 수 있다. 초기화 트랜지스터(T4)는 제1 초기화 제어선(GILn)으로부터 인가되는 제1 초기화 제어 신호(GI[n])에 따라 턴-온되어 초기화 전압(VINIT)을 게이트 노드(Ng)에 전달하여 게이트 노드(Ng)를 초기화할 수 있다. 초기화 전압(VINIT)은 제2 전원 전압(ELVSS)보다 높은 전압 또는 제2 전원 전압(ELVSS)으로 설정될 수 있다.A gate electrode of the initialization transistor T4 may be connected to the first initialization control line GILn. The first electrode of the initialization transistor T4 may be connected to the initialization voltage line IL, and the second electrode may be connected to the gate node Ng. The initialization transistor T4 is turned on according to the first initialization control signal GI[n] applied from the first initialization control line GILn to transmit the initialization voltage VINIT to the gate node Ng to the gate node (Ng) can be initialized. The initialization voltage VINIT may be set to a voltage higher than the second power voltage ELVSS or the second power voltage ELVSS.

동작 제어 트랜지스터(T5)의 게이트 전극은 발광 제어선(EMLn)과 연결될 수 있다. 동작 제어 트랜지스터(T5)의 제1 전극은 구동 전압선(ELVDDL)과 연결될 수 있고, 제2 전극은 구동 트랜지스터(T1)의 소스 전극과 연결될 수 있다.A gate electrode of the operation control transistor T5 may be connected to the emission control line EMLn. A first electrode of the operation control transistor T5 may be connected to the driving voltage line ELVDDL, and a second electrode of the operation control transistor T5 may be connected to a source electrode of the driving transistor T1 .

발광 제어 트랜지스터(T6)의 게이트 전극은 발광 제어선(EMLn)과 연결될 수 있다. 발광 제어 트랜지스터(T6)의 제1 전극은 구동 트랜지스터(T1)의 드레인 전극과 연결될 수 있고, 제2 전극은 출력 노드(No)를 통하여 유기 발광 소자(OLED)의 애노드와 전기적으로 연결될 수 있다. 동작 제어 트랜지스터(T5) 및 발광 제어 트랜지스터(T6)는 발광 제어선(EMLn)으로부터 인가되는 발광 제어 신호(EM[n])에 따라 동시에 턴-온되어 제1 전원 전압(ELVDD)이 구동 트랜지스터(T1)에 인가되어, 유기 발광 소자(OLED)에 구동 전류가 흐를 수 있다.A gate electrode of the emission control transistor T6 may be connected to the emission control line EMLn. A first electrode of the emission control transistor T6 may be connected to a drain electrode of the driving transistor T1 , and a second electrode may be electrically connected to the anode of the organic light emitting diode OLED through an output node No. The operation control transistor T5 and the emission control transistor T6 are simultaneously turned on according to the emission control signal EM[n] applied from the emission control line EMLn, so that the first power voltage ELVDD is applied to the driving transistor ( T1), a driving current may flow in the organic light emitting diode (OLED).

바이패스 트랜지스터(T7)의 게이트 전극은 제2 초기화 제어선과 연결될 수 있다. 바이패스 트랜지스터(T7)의 제1 전극은 출력 노드(No)를 통하여 유기 발광 소자(OLED)의 애노드에 연결될 수 있고, 제2 전극은 초기화 전압선(IL)에 연결될 수 있다. 바이패스 트랜지스터(T7)는 제2 초기화 제어선으로부터 인가되는 제2 초기화 제어 신호(GB[n])에 의해 턴-온되어 유기 발광 소자(OLED)의 애노드를 초기화할 수 있다. 제2 초기화 제어 신호(GB[n])는 제1 초기화 제어 신호(GI[n])와 동일한 신호일 수도 있고, 상이한 신호일 수도 있다.A gate electrode of the bypass transistor T7 may be connected to the second initialization control line. The first electrode of the bypass transistor T7 may be connected to the anode of the organic light emitting diode OLED through the output node No, and the second electrode may be connected to the initialization voltage line IL. The bypass transistor T7 may be turned on by the second initialization control signal GB[n] applied from the second initialization control line to initialize the anode of the organic light emitting diode OLED. The second initialization control signal GB[n] may be the same as or different from the first initialization control signal GI[n].

저장 커패시터(Cst1)는 구동 전압선(ELVDDL)과 게이트 노드(Ng) 사이에 연결될 수 있다. 저장 커패시터(Cst1)에는 제1 전원 전압(ELVDD)과 게이트 노드(Ng) 간의 전압이 저장될 수 있다.The storage capacitor Cst1 may be connected between the driving voltage line ELVDDL and the gate node Ng. A voltage between the first power voltage ELVDD and the gate node Ng may be stored in the storage capacitor Cst1 .

유기 발광 소자(OLED)의 애노드는 리페어선(RLn)과 연결가능하고, 화소 회로(C)와 분리가능하다. 유기 발광 소자(OLED)의 캐소드는 제2 전원 전압(ELVSS)을 인가하는 제2 전원과 연결될 수 있다. 유기 발광 소자(OLED)는 구동 트랜지스터(T1)로부터 구동 전류를 전달받아 발광함으로써 영상을 표시할 수 있다. 제1 전원 전압(ELVDD)은 소정의 하이 레벨 전압일 수 있고, 제2 전원 전압(ELVSS)은 제1 전원 전압(ELVDD)보다 낮은 전압이거나 접지 전압일 수 있다.The anode of the organic light emitting diode OLED is connectable to the repair line RLn and is detachable from the pixel circuit C. The cathode of the organic light emitting diode OLED may be connected to a second power supply to which the second power voltage ELVSS is applied. The organic light emitting diode OLED receives a driving current from the driving transistor T1 and emits light to display an image. The first power voltage ELVDD may be a predetermined high level voltage, and the second power voltage ELVSS may be a voltage lower than the first power voltage ELVDD or a ground voltage.

이하에서 화소(P)의 동작 과정을 설명한다. 초기화 기간 동안, 제1 초기화 제어선(GILn)을 통해 로우 레벨의 제1 초기화 제어 신호(GI[n])가 초기화 트랜지스터(T4) 공급될 수 있고, 제2 초기화 제어선을 통해 로우 레벨의 제2 초기화 제어 신호(GB[n])가 바이패스 트랜지스터(T7)에 공급될 수 있다. 그 결과, 초기화 트랜지스터(T4) 및 바이패스 트랜지스터(T7)가 각각 턴-온될 수 있다. 초기화 전압선(IL)으로부터 인가되는 초기화 전압(VINIT)은 초기화 트랜지스터(T4)를 통해 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 전극에 전달될 수 있고, 바이패스 트랜지스터(T7)를 통해 애노드에 전달될 수 있다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 전극과 애노드의 전압이 초기화될 수 있다.Hereinafter, an operation process of the pixel P will be described. During the initialization period, the low-level first initialization control signal GI[n] may be supplied to the initialization transistor T4 through the first initialization control line GILn, and the low-level first initialization control signal GI[n] may be supplied through the second initialization control line. 2 The initialization control signal GB[n] may be supplied to the bypass transistor T7. As a result, the initialization transistor T4 and the bypass transistor T7 may be turned on, respectively. The initialization voltage VINIT applied from the initialization voltage line IL may be transmitted to the gate electrode of the driving transistor T1 through the initialization transistor T4 and may be transmitted to the anode through the bypass transistor T7 . Accordingly, the voltages of the gate electrode and the anode of the driving transistor T1 may be initialized.

이후, 데이터 기입 기간 동안, 스캔선(GWLn)을 통해 로우 레벨의 스캔 신호(GW[n])가 공급될 수 있고, 스위칭 트랜지스터(T2) 및 보상 트랜지스터(T3)가 턴-온될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(T2)는 데이터선(DL)으로부터의 데이터 신호(DATA)를 구동 트랜지스터(T1)의 소스 전극으로 전달할 수 있고, 구동 트랜지스터(T1)는 보상 트랜지스터(T3)에 의해 다이오드 연결될 수 있다. 그러면, 데이터 신호(DATA)에서 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압만큼 감소한 보상 전압이 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 전극에 인가될 수 있다.Thereafter, during the data writing period, the low-level scan signal GW[n] may be supplied through the scan line GWLn, and the switching transistor T2 and the compensation transistor T3 may be turned on. The switching transistor T2 may transfer the data signal DATA from the data line DL to the source electrode of the driving transistor T1 , and the driving transistor T1 may be diode-connected by the compensation transistor T3 . Then, a compensation voltage that is reduced by the threshold voltage of the driving transistor T1 in the data signal DATA may be applied to the gate electrode of the driving transistor T1 .

저장 커패시터(Cst1)의 양단에는 제1 전원 전압(ELVDD)과 보상 전압이 인가될 수 있고, 저장 커패시터(Cst1)에는 양단 전압 차에 대응하는 전하가 저장될 수 있다.A first power voltage ELVDD and a compensation voltage may be applied to both ends of the storage capacitor Cst1 , and a charge corresponding to a voltage difference between both ends may be stored in the storage capacitor Cst1 .

이후, 발광 기간 동안, 발광 제어선(EMLn)로부터 공급되는 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변경될 수 있고, 동작 제어 트랜지스터(T5) 및 발광 제어 트랜지스터(T6)가 턴-온될 수 있다. 그러면, 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 전극의 전압과 제1 전원 전압(ELVDD) 간의 전압 차에 따르는 구동 전류가 발생할 수 있고, 발광 제어 트랜지스터(T6)를 통해 구동 전류가 유기 발광 소자(OLED)에 공급되어 발광할 수 있다.Thereafter, during the light emission period, the light emission control signal EM[n] supplied from the light emission control line EMLn may be changed from a high level to a low level, and the operation control transistor T5 and the light emission control transistor T6 are can be turned on. Then, a driving current may be generated according to a voltage difference between the voltage of the gate electrode of the driving transistor T1 and the first power voltage ELVDD, and the driving current may be transmitted to the organic light emitting diode OLED through the emission control transistor T6. supplied and can emit light.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 더미 화소를 나타낸 회로도이다.6 is a circuit diagram illustrating a dummy pixel according to an embodiment of the present invention.

도 6에 도시된 더미 화소(DP1)는 n번째 행에 위치한 더미 화소일 수 있다. 더미 화소(DP1)는 n번째 행에 대응하는 스캔선(GWLn), 제1 초기화 제어선(GILn), 발광 제어선(EMLn)에 각각 연결되어, n번째 스캔 신호(GW[n]), n번째 제1 초기화 제어 신호(GI[n]), n번째 발광 제어 신호(EM[n])를 공급받을 수 있다.The dummy pixel DP1 illustrated in FIG. 6 may be a dummy pixel located in the n-th row. The dummy pixel DP1 is connected to the scan line GWLn, the first initialization control line GILn, and the emission control line EMLn corresponding to the n-th row, respectively, to obtain the n-th scan signal GW[n], n A th first initialization control signal GI[n] and an nth emission control signal EM[n] may be supplied.

더미 화소(DP1)는 더미 회로(DC1)를 포함할 수 있고, 더미 회로(DC1)는 구동 트랜지스터(DT1), 스위칭 트랜지스터(DT2), 보상 트랜지스터(DT3), 초기화 트랜지스터(DT4), 동작 제어 트랜지스터(DT5), 발광 제어 트랜지스터(DT6), 용량 제어 트랜지스터(DT7), 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8), 저장 용량성 소자, 및 보상 용량성 소자를 포함할 수 있다. 저장 용량성 소자 및 보상 용량성 소자는 커패시터일 수 있고, 본 명세서에서 저장 용량성 소자는 저장 커패시터(Cst2)로, 보상 용량성 소자는 보상 커패시터(Ccomp)로 표현될 수 있다. 더미 회로(DC1)의 소자들은 화소 회로(C)의 소자들과 사이즈 및 용량이 상이할 수 있다.The dummy pixel DP1 may include a dummy circuit DC1 , and the dummy circuit DC1 includes a driving transistor DT1 , a switching transistor DT2 , a compensation transistor DT3 , an initialization transistor DT4 , and an operation control transistor. DT5 , a light emission control transistor DT6 , a capacitance control transistor DT7 , a capacitive element initialization transistor DT8 , a storage capacitive element, and a compensation capacitive element. The storage capacitive element and the compensating capacitive element may be capacitors, and in this specification, the storage capacitive element may be expressed as a storage capacitor Cst2 and the compensating capacitive element may be expressed as a compensating capacitor Ccomp. The elements of the dummy circuit DC1 may have different sizes and capacities from those of the pixel circuit C.

더미 화소(DP1)의 더미 회로(DC1)는 일부의 차이점들을 제외하고는 도 5에 도시된 화소(P)의 화소 회로(C)와 대부분 동일하다. 이하 동일한 설명은 생략하고 차이점을 중심으로 설명한다.The dummy circuit DC1 of the dummy pixel DP1 is mostly the same as the pixel circuit C of the pixel P shown in FIG. 5 except for some differences. Hereinafter, the same description will be omitted and the differences will be mainly described.

용량 제어 트랜지스터(DT7)의 게이트 전극은 발광 제어선(EMln)과 연결되어 발광 제어 신호(EM[n])를 공급받을 수 있다. 용량 제어 트랜지스터(DT7)의 제1 전극은 출력 노드(DNo)를 통하여 리페어선(RLn)과 연결될 수 있고, 제2 전극은 보상 노드(DNc)와 연결될 수 있다. 용량 제어 트랜지스터(DT7)는 발광 제어 신호(EM[n])에 따라 턴-온되어 리페어선(RLn)에 보상 커패시터(Ccomp)에 저장된 에너지를 공급할 수 있다.The gate electrode of the capacitance control transistor DT7 may be connected to the emission control line EMln to receive the emission control signal EM[n]. The first electrode of the capacitance control transistor DT7 may be connected to the repair line RLn through the output node DNo, and the second electrode may be connected to the compensation node DNc. The capacitance control transistor DT7 is turned on according to the emission control signal EM[n] to supply energy stored in the compensation capacitor Ccomp to the repair line RLn.

용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8)의 게이트 전극은 제2 초기화 제어선과 연결되어 제2 초기화 제어 신호(GB[n])를 공급받을 수 있다. 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8)의 제1 전극은 보상 노드(DNc)와 연결될 수 있고, 제2 전극은 초기화 전압선(IL)과 연결될 수 있다. 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8)는 제2 초기화 제어 신호(GB[n])에 따라 턴-온되어 보상 커패시터(Ccomp)에 제1 전원 전압(ELVDD)과 초기화 전압(VINIT)의 차이에 대응하는 전하량이 충전될 수 있도록, 보상 커패시터(Ccomp)에 초기화 전압(VINIT)을 공급할 수 있다.The gate electrode of the capacitive element initialization transistor DT8 may be connected to the second initialization control line to receive the second initialization control signal GB[n]. A first electrode of the capacitive element initialization transistor DT8 may be connected to the compensation node DNc, and a second electrode may be connected to the initialization voltage line IL. The capacitive element initialization transistor DT8 is turned on according to the second initialization control signal GB[n] to correspond to the difference between the first power supply voltage ELVDD and the initialization voltage VINIT in the compensation capacitor Ccomp. An initialization voltage VINIT may be supplied to the compensation capacitor Ccomp so that the amount of charge may be charged.

보상 커패시터(Ccomp)의 양단에는 제1 전원 전압(ELVDD)과 보상 노드(DNc)의 전압이 인가될 수 있고, 보상 커패시터(Ccomp)에는 양단 전압 차에 대응하는 전하가 저장될 수 있다.The first power voltage ELVDD and the voltage of the compensation node DNc may be applied to both ends of the compensation capacitor Ccomp, and a charge corresponding to the voltage difference between both ends may be stored in the compensation capacitor Ccomp.

더미 화소(DP1)는 발광 소자(E)를 포함하지 않을 수 있다. 그러나, 더미 화소(DP1)는 설계에 따라서 발광 소자를 구비할 수도 있다. 더미 화소(DP1)가 발광 소자를 포함하는 경우, 발광 소자는 실제로 발광하지 않고 회로 소자로써 기능할 수 있다. 예를 들어, 발광 소자는 더미 화소에 포함되는 커패시터 중 하나로써 기능할 수 있다.The dummy pixel DP1 may not include the light emitting device E. However, the dummy pixel DP1 may include a light emitting device according to design. When the dummy pixel DP1 includes a light emitting element, the light emitting element may function as a circuit element without actually emitting light. For example, the light emitting device may function as one of capacitors included in the dummy pixel.

이하에서 더미 화소(DP1)의 동작 과정을 설명한다. 초기화 기간 동안, 제1 초기화 제어선(GILn)을 통해 로우 레벨의 제1 초기화 제어 신호(GI[n])가 초기화 트랜지스터(DT4) 공급될 수 있고, 제2 초기화 제어선을 통해 로우 레벨의 제2 초기화 제어 신호(GB[n])가 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8)에 공급될 수 있다. 그 결과, 초기화 트랜지스터(DT4) 및 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8)가 각각 턴-온될 수 있다. 초기화 전압선(IL)으로부터 인가되는 초기화 전압(VINIT)은 초기화 트랜지스터(DT4)를 통해 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극에 전달될 수 있고, 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8)를 통해 애노드에 전달될 수 있다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극이 초기화될 수 있고, 보상 커패시터(Ccomp)에 제1 전원 전압(ELVDD)과 초기화 전압(VINIT)의 차이에 대응하는 전하량이 충전될 수 있다.Hereinafter, an operation process of the dummy pixel DP1 will be described. During the initialization period, the low-level first initialization control signal GI[n] may be supplied to the initialization transistor DT4 through the first initialization control line GILn, and the low-level first initialization control signal GI[n] may be supplied through the second initialization control line. 2 The initialization control signal GB[n] may be supplied to the capacitive device initialization transistor DT8. As a result, the initialization transistor DT4 and the capacitive element initialization transistor DT8 may be turned on, respectively. The initialization voltage VINIT applied from the initialization voltage line IL may be transmitted to the gate electrode of the driving transistor DT1 through the initialization transistor DT4 and may be transmitted to the anode through the capacitive device initialization transistor DT8. there is. Accordingly, the gate electrode of the driving transistor DT1 may be initialized, and an amount of charge corresponding to the difference between the first power voltage ELVDD and the initialization voltage VINIT may be charged in the compensation capacitor Ccomp.

이후, 데이터 기입 기간 동안, 스캔선(GWLn)을 통해 로우 레벨의 스캔 신호(GW[n])가 공급될 수 있고, 스위칭 트랜지스터(DT2) 및 보상 트랜지스터(DT3)가 턴-온될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(DT2)는 데이터선(DL)으로부터의 데이터 신호(DATA)를 구동 트랜지스터(DT1)의 소스 전극으로 전달할 수 있고, 구동 트랜지스터(DT1)는 보상 트랜지스터(DT3)에 의해 다이오드 연결될 수 있다. 그러면, 데이터 신호(DATA)에서 구동 트랜지스터(DT1)의 문턱 전압만큼 감소한 보상 전압이 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극에 인가될 수 있다.Thereafter, during the data writing period, the low-level scan signal GW[n] may be supplied through the scan line GWLn, and the switching transistor DT2 and the compensation transistor DT3 may be turned on. The switching transistor DT2 may transfer the data signal DATA from the data line DL to the source electrode of the driving transistor DT1 , and the driving transistor DT1 may be diode-connected by the compensation transistor DT3 . Then, a compensation voltage that is reduced by the threshold voltage of the driving transistor DT1 in the data signal DATA may be applied to the gate electrode of the driving transistor DT1 .

저장 커패시터(Cst2)의 양단에는 제1 전원 전압(ELVDD)과 보상 전압이 인가될 수 있고, 저장 커패시터(Cst2)에는 양단 전압 차에 대응하는 전하가 저장될 수 있다.A first power voltage ELVDD and a compensation voltage may be applied to both ends of the storage capacitor Cst2 , and a charge corresponding to a voltage difference between both ends may be stored in the storage capacitor Cst2 .

이후, 발광 기간 동안, 발광 제어선(EMLn)로부터 공급되는 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변경될 수 있고, 동작 제어 트랜지스터(DT5) 및 발광 제어 트랜지스터(DT6)가 턴-온될 수 있다. 그러면, 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극의 전압과 제1 전원 전압(ELVDD) 간의 전압 차에 따르는 구동 전류가 발생할 수 있고, 발광 제어 트랜지스터(DT6)를 통해 구동 전류가 리페어선(RLn)을 따라서 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)로 공급될 수 있다. 이 때, 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)로 공급되는 전류는 보상 커패시터(Ccomp)에 충전되어 있던 에너지에 의해 증감될 수 있다. 즉, 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변경되면 용량 제어 트랜지스터(DT7)가 턴-온될 수 있고, 보상 커패시터(Ccomp)에 충전되어 있던 전하량에 의한 에너지가 출력 노드(DNo)로 공급될 수 있고, 이에 의한 출력 노드(DNo)의 전위 변화로 인하여 리페어선(RLn)을 통하여 공급되는 전류량이 변화될 수 있다.Thereafter, during the light emission period, the light emission control signal EM[n] supplied from the light emission control line EMLn may be changed from a high level to a low level, and the operation control transistor DT5 and the light emission control transistor DT6 are can be turned on. Then, a driving current may be generated according to a voltage difference between the voltage of the gate electrode of the driving transistor DT1 and the first power voltage ELVDD, and the driving current may flow along the repair line RLn through the emission control transistor DT6 . It may be supplied to the organic light emitting diode (OLED) of the repair pixel. In this case, the current supplied to the organic light emitting diode OLED of the repair pixel may be increased or decreased by the energy charged in the compensation capacitor Ccomp. That is, when the light emission control signal EM[n] is changed from the high level to the low level, the capacitance control transistor DT7 may be turned on, and energy due to the amount of charge charged in the compensation capacitor Ccomp is transferred to the output node ( DNo), and the amount of current supplied through the repair line RLn may be changed due to a change in the potential of the output node DNo.

활성 영역(AA)에 형성된 화소(P)들은 화소의 종류에 따라서 전기적 특성이 상이할 수 있다. 예를 들어, 화소(P)들이 제1 및 제2 화소들을 포함하는 경우를 생각할 수 있다. 이 때, 제1 화소들은 각 화소의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드가 물리적으로 먼 거리에 형성되어, 게이트 노드(Ng)와 애노드 사이에 커패시턴스가 발생하지 않거나 상대적으로 작은 값의 커패시턴스만 발생될 수 있고, 제2 화소들은 각 화소의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드가 물리적으로 가까운 거리에 형성되어, 게이트 노드(Ng)와 애노드 사이에 상대적으로 큰 값의 커패시턴스가 발생될 수 있다. 이 경우, 제1 화소들 중 하나의 화소가 리페어 화소가 된 경우에는 해당 화소의 화소 회로(C)를 통하여 공급되는 구동 전류의 크기와 리페어 후에 더미 회로(DC)를 통하여 공급되는 구동 전류의 크기가 거의 동일할 수 있으나, 제2 화소들 중 하나의 화소가 리페어 화소가 된 경우에는 해당 화소의 화소 회로(C)를 통하여 공급되는 구동 전류의 크기와 리페어 후에 더미 회로(DC)를 통하여 공급되는 구동 전류의 크기에 차이가 발생할 수 있다. 그 결과, 제2 화소들에 포함되는 화소에 리페어 공정을 실시하면, 고계조 영상에서 명점이 발생하는 문제가 발생할 수 있다.The pixels P formed in the active area AA may have different electrical characteristics depending on the type of the pixel. For example, a case in which the pixels P include first and second pixels may be considered. In this case, in the first pixels, the gate node Ng of each pixel and the anode of the organic light emitting diode OLED are formed at a physically long distance, so that a capacitance between the gate node Ng and the anode does not occur or is relatively small. Only a value capacitance may be generated, and in the second pixels, the gate node Ng of each pixel and the anode of the organic light emitting diode OLED are formed at a physically close distance, so that the second pixels are relatively disposed between the gate node Ng and the anode. A large value of capacitance may be generated. In this case, when one of the first pixels becomes a repair pixel, the magnitude of the driving current supplied through the pixel circuit C of the corresponding pixel and the magnitude of the driving current supplied through the dummy circuit DC after the repair may be almost the same, but when one of the second pixels becomes a repair pixel, the magnitude of the driving current supplied through the pixel circuit C of the corresponding pixel and the amount of the driving current supplied through the dummy circuit DC after repair A difference may occur in the magnitude of the driving current. As a result, when the repair process is performed on the pixels included in the second pixels, a problem in which bright spots are generated in a high grayscale image may occur.

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 더미 화소를 나타낸 회로도이다.7 is a circuit diagram illustrating a dummy pixel according to another embodiment of the present invention.

도 7에 도시된 더미 화소(DP2)의 더미 회로(DC2)는 일부의 차이점들을 제외하고는 도 6에 도시된 더미 화소(DP1)의 더미 회로(DC1)와 대부분 동일하다. 이하 동일한 설명은 생략하고 차이점을 중심으로 설명한다.The dummy circuit DC2 of the dummy pixel DP2 illustrated in FIG. 7 is mostly the same as the dummy circuit DC1 of the dummy pixel DP1 illustrated in FIG. 6 except for some differences. Hereinafter, the same description will be omitted and the differences will be mainly described.

더미 회로(DC2)는 구동 트랜지스터(DT1), 스위칭 트랜지스터(DT2), 보상 트랜지스터(DT3), 초기화 트랜지스터(DT4), 동작 제어 트랜지스터(DT5), 발광 제어 트랜지스터(DT6), 용량 제어 트랜지스터(DT7), 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8), 저장 용량성 소자, 제2 보상 용량성 소자, 및 연결부를 포함할 수 있다.The dummy circuit DC2 includes a driving transistor DT1, a switching transistor DT2, a compensation transistor DT3, an initialization transistor DT4, an operation control transistor DT5, a light emission control transistor DT6, and a capacitance control transistor DT7. , a capacitive element initialization transistor DT8, a storage capacitive element, a second compensation capacitive element, and a connection part.

저장 용량성 소자 및 제2 보상 용량성 소자는 커패시터일 수 있고, 본 명세서에서 저장 용량성 소자는 저장 커패시터(Cst2)로, 제2 보상 용량성 소자는 제2 보상 커패시터(Ccomp2)로 표현될 수 있다. 제2 보상 커패시터(Ccomp2) 및 연결부는 게이트 노드(DNg) 및 보상 노드(DNc) 사이에 직렬로 연결될 수 있다. 예를 들어, 연결부의 제1 전극은 게이트 노드(DNg)에 연결될 수 있고, 연결부의 제2 전극이 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 제1 전극과 연결될 수 있고, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 제2 전극이 보상 노드(DNc)에 연결될 수 있다. 이 경우, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 용량은 활성 영역(AA)에 형성된 화소(P)들의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드 사이에서 발생되는 커패시턴스에 대응할 수 있다.The storage capacitive element and the second compensating capacitive element may be capacitors. In this specification, the storage capacitive element may be expressed as a storage capacitor Cst2 and the second compensating capacitive element may be expressed as a second compensating capacitor Ccomp2. there is. The second compensation capacitor Ccomp2 and the connection part may be connected in series between the gate node DNg and the compensation node DNc. For example, the first electrode of the connection part may be connected to the gate node DNg, the second electrode of the connection part may be connected to the first electrode of the second compensation capacitor Ccomp2, and the second compensation capacitor Ccomp2 The second electrode may be connected to the compensation node DNc. In this case, the capacitance of the second compensation capacitor Ccomp2 may correspond to the capacitance generated between the gate node Ng of the pixels P formed in the active area AA and the anode of the organic light emitting diode OLED.

더미 회로(DC2)는 제1 보상 용량성 소자를 포함할 수 있다. 제1 및 제2 보상 용량성 소자는 커패시터일 수 있고, 본 명세서에서 제1 보상 용량성 소자는 제1 보상 커패시터(Ccomp1)로 표현될 수 있다. 제1 보상 커패시터(Ccomp1)의 양단에는 제1 전원 전압(ELVDD)과 보상 노드(DNc)의 전압이 인가될 수 있고, 제1 보상 커패시터(Ccomp1)에는 양단 전압 차에 대응하는 전하가 저장될 수 있다.The dummy circuit DC2 may include a first compensation capacitive element. The first and second compensation capacitive elements may be capacitors, and in this specification, the first compensation capacitive element may be expressed as a first compensation capacitor Ccomp1. The first power voltage ELVDD and the voltage of the compensation node DNc may be applied to both ends of the first compensation capacitor Ccomp1 , and a charge corresponding to the voltage difference between both ends may be stored in the first compensation capacitor Ccomp1 . there is.

연결부는 가해지는 물리량에 따라서 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 제1 전극 및 게이트 노드(DNg)를 전기적으로 연결하거나 전기적으로 단절할 수 있다. 예를 들어, 연결부의 제1 전극과 제2 전극은 서로 전기적으로 단절되어 있고, 레이저 등으로 물리량을 가할 경우에 서로 연결될 수 있는 연결 소자(SO)일 수 있다.The connection part may electrically connect or disconnect the first electrode of the second compensation capacitor Ccomp2 and the gate node DNg according to an applied physical amount. For example, the first electrode and the second electrode of the connection part may be electrically disconnected from each other, and may be a connection element SO that can be connected to each other when a physical quantity is applied with a laser or the like.

이하에서 더미 화소(DP2)의 동작 과정을 설명한다. 초기화 기간 동안, 제1 초기화 제어선(GILn)을 통해 로우 레벨의 제1 초기화 제어 신호(GI[n])가 초기화 트랜지스터(DT4) 공급될 수 있고, 제2 초기화 제어선을 통해 로우 레벨의 제2 초기화 제어 신호(GB[n])가 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8)에 공급될 수 있다. 그 결과, 초기화 트랜지스터(DT4) 및 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8)가 각각 턴-온될 수 있다. 초기화 전압선(IL)으로부터 인가되는 초기화 전압(VINIT)은 초기화 트랜지스터(DT4)를 통해 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극에 전달될 수 있고, 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8)를 통해 애노드에 전달될 수 있다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극이 초기화될 수 있고, 제1 보상 커패시터(Ccomp1)에 제1 전원 전압(ELVDD)과 초기화 전압(VINIT)의 차이에 대응하는 전하량이 충전될 수 있다.Hereinafter, an operation process of the dummy pixel DP2 will be described. During the initialization period, the low-level first initialization control signal GI[n] may be supplied to the initialization transistor DT4 through the first initialization control line GILn, and the low-level first initialization control signal GI[n] may be supplied through the second initialization control line. 2 The initialization control signal GB[n] may be supplied to the capacitive device initialization transistor DT8. As a result, the initialization transistor DT4 and the capacitive element initialization transistor DT8 may be turned on, respectively. The initialization voltage VINIT applied from the initialization voltage line IL may be transmitted to the gate electrode of the driving transistor DT1 through the initialization transistor DT4 and may be transmitted to the anode through the capacitive device initialization transistor DT8. there is. Accordingly, the gate electrode of the driving transistor DT1 may be initialized, and an amount of charge corresponding to the difference between the first power voltage ELVDD and the initialization voltage VINIT may be charged in the first compensation capacitor Ccomp1 .

이후, 데이터 기입 기간 동안, 스캔선(GWLn)을 통해 로우 레벨의 스캔 신호(GW[n])가 공급될 수 있고, 스위칭 트랜지스터(DT2) 및 보상 트랜지스터(DT3)가 턴-온될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(DT2)는 데이터선(DL)으로부터의 데이터 신호(DATA)를 구동 트랜지스터(DT1)의 소스 전극으로 전달할 수 있고, 구동 트랜지스터(DT1)는 보상 트랜지스터(DT3)에 의해 다이오드 연결될 수 있다. 그러면, 데이터 신호(DATA)에서 구동 트랜지스터(DT1)의 문턱 전압만큼 감소한 보상 전압이 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극에 인가될 수 있다.Thereafter, during the data writing period, the low-level scan signal GW[n] may be supplied through the scan line GWLn, and the switching transistor DT2 and the compensation transistor DT3 may be turned on. The switching transistor DT2 may transfer the data signal DATA from the data line DL to the source electrode of the driving transistor DT1 , and the driving transistor DT1 may be diode-connected by the compensation transistor DT3 . Then, a compensation voltage that is reduced by the threshold voltage of the driving transistor DT1 in the data signal DATA may be applied to the gate electrode of the driving transistor DT1 .

저장 커패시터(Cst2)의 양단에는 제1 전원 전압(ELVDD)과 보상 전압이 인가될 수 있고, 저장 커패시터(Cst2)에는 양단 전압 차에 대응하는 전하가 저장될 수 있다.A first power voltage ELVDD and a compensation voltage may be applied to both ends of the storage capacitor Cst2 , and a charge corresponding to a voltage difference between both ends may be stored in the storage capacitor Cst2 .

이후, 발광 기간 동안, 발광 제어선(EMLn)로부터 공급되는 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변경될 수 있고, 동작 제어 트랜지스터(DT5) 및 발광 제어 트랜지스터(DT6)가 턴-온될 수 있다. 그러면, 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극의 전압과 제1 전원 전압(ELVDD) 간의 전압 차에 따르는 구동 전류가 발생할 수 있고, 발광 제어 트랜지스터(DT6)를 통해 구동 전류가 리페어선(RLn)을 따라서 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)로 공급될 수 있다. 이 때, 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)로 공급되는 전류는 제1 보상 커패시터(Ccomp1) 에 충전되어 있던 에너지에 의해 증감될 수 있다. 즉, 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변경되면 용량 제어 트랜지스터(DT7)가 턴-온될 수 있고, 제1 보상 커패시터(Ccomp1)에 충전되어 있던 전하량에 의한 에너지가 출력 노드(DNo)로 공급될 수 있고, 이에 의한 출력 노드(DNo)의 전위 변화로 인하여 리페어선(RLn)을 통하여 공급되는 전류량이 변화될 수 있다. 또한, 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)로 공급되는 전류는 연결 소자(SO)의 상태에 따라서 제2 보상 커패시터(Ccomp2)에 충전되어 있던 에너지에 의해 증감될 수 있다. 연결 소자(SO)에 특별한 물리량이 가해지지 않아서 연결 소자(SO)의 제1 및 제2 전극이 서로 전기적으로 단절되어 있는 경우에는, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)가 리페어선(RLn)을 통하여 공급되는 전류량에 영향을 주지 않을 수 있다. 반면, 연결 소자(SO)의 제1 및 제2 전극에 레이저를 가하여 서로 전기적으로 연결시킨 경우에는, 용량 제어 트랜지스터(DT7)가 턴-온될 때 제2 보상 커패시터(Ccomp2)에 충전되어 있던 전하량에 의한 에너지가 출력 노드(DNo)로 공급될 수 있고, 이에 의한 출력 노드(DNo)의 전위 변화로 인하여 리페어선(RLn)을 통하여 공급되는 전류량이 변화될 수 있다.Thereafter, during the light emission period, the light emission control signal EM[n] supplied from the light emission control line EMLn may be changed from a high level to a low level, and the operation control transistor DT5 and the light emission control transistor DT6 are can be turned on. Then, a driving current may be generated according to a voltage difference between the voltage of the gate electrode of the driving transistor DT1 and the first power voltage ELVDD, and the driving current may flow along the repair line RLn through the emission control transistor DT6 . It may be supplied to the organic light emitting diode (OLED) of the repair pixel. In this case, the current supplied to the organic light emitting diode OLED of the repair pixel may be increased or decreased by the energy charged in the first compensation capacitor Ccomp1. That is, when the emission control signal EM[n] is changed from the high level to the low level, the capacitance control transistor DT7 may be turned on, and energy by the amount of charge charged in the first compensation capacitor Ccomp1 is output. It may be supplied to the node DNo, and the amount of current supplied through the repair line RLn may be changed due to a change in the potential of the output node DNo. Also, the current supplied to the organic light emitting diode OLED of the repair pixel may be increased or decreased by the energy charged in the second compensation capacitor Ccomp2 according to the state of the connection element SO. When the first and second electrodes of the connection element SO are electrically disconnected from each other because a special physical quantity is not applied to the connection element SO, the second compensation capacitor Ccomp2 is supplied through the repair line RLn. It may not affect the amount of current. On the other hand, when a laser is applied to the first and second electrodes of the connection element SO to be electrically connected to each other, when the capacitance control transistor DT7 is turned on, the amount of charge charged in the second compensation capacitor Ccomp2 is Energy may be supplied to the output node DNo, and the amount of current supplied through the repair line RLn may be changed due to a potential change of the output node DNo.

도 7에 개시된 더미 회로(DC2)를 사용하여, 연결부의 형태 또는 리페어 신호를 변화시켜서 리페어 공정 후에 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)에 흐르는 전류량을 조절할 수 있다. 예를 들어, 화소(P)들이 제1 및 제2 화소들을 포함하는 경우를 생각할 수 있다. 이 때, 제1 화소들은 각 화소의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드가 물리적으로 먼 거리에 형성되어, 게이트 노드(Ng)와 애노드 사이에 커패시턴스가 발생하지 않거나 상대적으로 작은 값의 커패시턴스만 발생될 수 있고, 제2 화소들은 각 화소의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드가 물리적으로 가까운 거리에 형성되어, 게이트 노드(Ng)와 애노드 사이에 상대적으로 큰 값의 커패시턴스가 발생될 수 있다. 이 때, 제1 화소들 중 하나의 화소가 리페어 화소가 된 경우에는 연결 소자(SO)의 제1 및 제2 단자가 개방되도록 더미 회로(DC2)를 구성할 수 있다. 또한, 제2 화소들 중 하나의 화소가 리페어 화소가 된 경우에는 연결 소자(SO)의 제1 및 제2 단자가 단락되도록 더미 회로(DC2)를 구성할 수 있다. 그 결과, 리페어 공정이 적용되는 화소가 제1 및 제2 화소들 중 어떤 화소인 경우에도, 해당 화소의 화소 회로(C)를 통하여 공급되는 구동 전류의 크기와 리페어 후에 더미 회로(DC)를 통하여 공급되는 구동 전류의 크기가 거의 동일할 수 있다.The amount of current flowing through the organic light emitting diode OLED of the repair pixel may be adjusted after the repair process by changing the shape of the connection part or the repair signal by using the dummy circuit DC2 illustrated in FIG. 7 . For example, a case in which the pixels P include first and second pixels may be considered. In this case, in the first pixels, the gate node Ng of each pixel and the anode of the organic light emitting diode OLED are formed at a physically long distance, so that a capacitance between the gate node Ng and the anode does not occur or is relatively small. Only a value capacitance may be generated, and in the second pixels, the gate node Ng of each pixel and the anode of the organic light emitting diode OLED are formed at a physically close distance, so that the second pixels are relatively disposed between the gate node Ng and the anode. A large value of capacitance may be generated. In this case, when one of the first pixels becomes the repair pixel, the dummy circuit DC2 may be configured such that the first and second terminals of the connection element SO are opened. Also, when one of the second pixels becomes a repair pixel, the dummy circuit DC2 may be configured such that the first and second terminals of the connection element SO are short-circuited. As a result, even when the pixel to which the repair process is applied is any of the first and second pixels, the amount of the driving current supplied through the pixel circuit C of the corresponding pixel and the dummy circuit DC after the repair The magnitude of the supplied driving current may be substantially the same.

도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 더미 화소를 나타낸 회로도이다.8 is a circuit diagram illustrating a dummy pixel according to another exemplary embodiment of the present invention.

도 8에 도시된 더미 화소(DP3)의 더미 회로(DC3)는 일부의 차이점들을 제외하고는 도 7에 도시된 더미 화소(DP2)의 더미 회로(DC2)와 대부분 동일하다. 이하 동일한 설명은 생략하고 차이점을 중심으로 설명한다The dummy circuit DC3 of the dummy pixel DP3 shown in FIG. 8 is mostly the same as the dummy circuit DC2 of the dummy pixel DP2 shown in FIG. 7 except for some differences. Hereinafter, the same description will be omitted and the differences will be mainly described.

더미 회로(DC3)는 구동 트랜지스터(DT1), 스위칭 트랜지스터(DT2), 보상 트랜지스터(DT3), 초기화 트랜지스터(DT4), 동작 제어 트랜지스터(DT5), 발광 제어 트랜지스터(DT6), 용량 제어 트랜지스터(DT7), 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8), 저장 용량성 소자, 제1 보상 용량성 소자, 제2 보상 용량성 소자, 및 연결부를 포함할 수 있다. 저장 용량성 소자, 제1 보상 용량성 소자, 및 제2 보상 용량성 소자는 커패시터일 수 있고, 본 명세서에서 저장 용량성 소자는 저장 커패시터(Cst2)로, 제1 보상 용량성 소자는 제1 보상 커패시터(Ccomp1)로, 제2 보상 용량성 소자는 제2 보상 커패시터(Ccomp2)로 표현될 수 있다. 이 경우, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 용량은 활성 영역(AA)에 형성된 화소(P)들의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드 사이에서 발생되는 커패시턴스에 대응할 수 있다.The dummy circuit DC3 includes a driving transistor DT1 , a switching transistor DT2 , a compensation transistor DT3 , an initialization transistor DT4 , an operation control transistor DT5 , a light emission control transistor DT6 , and a capacitance control transistor DT7 . , a capacitive element initialization transistor DT8 , a storage capacitive element, a first compensation capacitive element, a second compensation capacitive element, and a connection part. The storage capacitive element, the first compensating capacitive element, and the second compensating capacitive element may be capacitors, wherein the storage capacitive element is the storage capacitor Cst2 and the first compensating capacitive element is the first compensation As the capacitor Ccomp1 , the second compensation capacitive element may be represented by a second compensation capacitor Ccomp2 . In this case, the capacitance of the second compensation capacitor Ccomp2 may correspond to the capacitance generated between the gate node Ng of the pixels P formed in the active area AA and the anode of the organic light emitting diode OLED.

연결부는 가해지는 물리량에 따라서 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 제1 전극 및 게이트 노드(DNg)를 전기적으로 연결하거나 전기적으로 단절할 수 있다. 연결부의 제1 전극과 제2 전극은 서로 전기적으로 연결되어 있고, 레이저 등으로 물리량을 가할 경우에 서로 단절될 수 있는 연결 소자(SO)일 수 있다. 예를 들어, 연결부는 폴리실리콘 레지스터(PR)일 수 있다. 이 경우, 특별한 물리량이 가해지지 않은 경우의 폴리실리콘 레지스터(PR)의 양단인 제1 전극과 제2 전극은 서로 전기적으로 연결되어 있으나, 레이저로 가열하여 폴리실리콘 레지스터(PR)를 단절시켜서 폴리실리콘 레지스터(PR)의 제1 전극과 제2 전극을 서로 전기적으로 단절시킬 수 있다.The connection part may electrically connect or disconnect the first electrode of the second compensation capacitor Ccomp2 and the gate node DNg according to an applied physical amount. The first electrode and the second electrode of the connection part may be electrically connected to each other, and may be a connection element SO that may be disconnected from each other when a physical quantity is applied with a laser or the like. For example, the connection part may be a polysilicon resistor PR. In this case, the first electrode and the second electrode that are both ends of the polysilicon resistor PR when no special physical quantity is applied are electrically connected to each other, but the polysilicon resistor PR is cut by heating with a laser to cut the polysilicon resistor. The first electrode and the second electrode of the resistor PR may be electrically disconnected from each other.

도 8의 더미 화소(DP3)의 동작 과정 중 발광 제어선(EMLn)로부터 공급되는 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변경되기 이전까지는 도 7의 더미 화소(P2)의 동작 과정과 동일하므로, 그 이후의 단계부터 설명한다. 발광 기간 동안, 발광 제어선(EMLn)로부터 공급되는 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변경될 수 있고, 동작 제어 트랜지스터(DT5) 및 발광 제어 트랜지스터(DT6)가 턴-온될 수 있다. 그러면, 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극의 전압과 제1 전원 전압(ELVDD) 간의 전압 차에 따르는 구동 전류가 발생할 수 있고, 발광 제어 트랜지스터(DT6)를 통해 구동 전류가 리페어선(RLn)을 따라서 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)로 공급될 수 있다. 이 때, 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)로 공급되는 전류는 제1 보상 커패시터(Ccomp1) 에 충전되어 있던 에너지에 의해 증감될 수 있다. 즉, 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변경되면 용량 제어 트랜지스터(DT7)가 턴-온될 수 있고, 제1 보상 커패시터(Ccomp1)에 충전되어 있던 전하량에 의한 에너지가 출력 노드(DNo)로 공급될 수 있고, 이에 의한 출력 노드(DNo)의 전위 변화로 인하여 리페어선(RLn)을 통하여 공급되는 전류량이 변화될 수 있다. 또한, 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)로 공급되는 전류는 폴리실리콘 레지스터(PR)의 연결 상태에 따라서 제2 보상 커패시터(Ccomp2)에 충전되어 있던 에너지에 의해 증감될 수 있다. 폴리실리콘 레지스터(PR)에 특별한 물리량이 가해지지 않아서 연결 소자(SO)의 제1 및 제2 전극이 서로 전기적으로 연결되어 있는 경우에는, 용량 제어 트랜지스터(DT7)가 턴-온될 때 제2 보상 커패시터(Ccomp2)에 충전되어 있던 전하량에 의한 에너지가 출력 노드(DNo)로 공급될 수 있고, 이에 의한 출력 노드(DNo)의 전위 변화로 인하여 리페어선(RLn)을 통하여 공급되는 전류량이 변화될 수 있다. 반면, 연결 소자(SO)의 제1 및 제2 전극에 레이저를 가하여 서로 전기적으로 단절시킨 경우에는, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)가 리페어선(RLn)을 통하여 공급되는 전류량에 영향을 주지 않을 수 있다.Before the emission control signal EM[n] supplied from the emission control line EMLn is changed from the high level to the low level during the operation of the dummy pixel DP3 of FIG. 8 , the dummy pixel P2 of FIG. Since the operation process is the same, the subsequent steps will be described. During the light emission period, the light emission control signal EM[n] supplied from the light emission control line EMLn may change from a high level to a low level, and the operation control transistor DT5 and the light emission control transistor DT6 turn- can be turned on Then, a driving current may be generated according to a voltage difference between the voltage of the gate electrode of the driving transistor DT1 and the first power voltage ELVDD, and the driving current may flow along the repair line RLn through the emission control transistor DT6 . It may be supplied to the organic light emitting diode (OLED) of the repair pixel. In this case, the current supplied to the organic light emitting diode OLED of the repair pixel may be increased or decreased by the energy charged in the first compensation capacitor Ccomp1. That is, when the emission control signal EM[n] is changed from the high level to the low level, the capacitance control transistor DT7 may be turned on, and energy by the amount of charge charged in the first compensation capacitor Ccomp1 is output. It may be supplied to the node DNo, and the amount of current supplied through the repair line RLn may be changed due to a change in the potential of the output node DNo. Also, the current supplied to the organic light emitting diode OLED of the repair pixel may be increased or decreased by the energy charged in the second compensation capacitor Ccomp2 according to the connection state of the polysilicon resistor PR. When the first and second electrodes of the connection element SO are electrically connected to each other because a special physical quantity is not applied to the polysilicon resistor PR, when the capacitance control transistor DT7 is turned on, the second compensation capacitor Energy by the amount of charge charged in Ccomp2 may be supplied to the output node DNo, and the amount of current supplied through the repair line RLn may be changed due to a change in potential of the output node DNo. . On the other hand, when the laser is applied to the first and second electrodes of the connection element SO to electrically disconnect them from each other, the second compensation capacitor Ccomp2 may not affect the amount of current supplied through the repair line RLn. there is.

도 8에 개시된 더미 회로(DC3)를 사용하여, 연결부의 형태 또는 리페어 신호를 변화시켜서 리페어 공정 후에 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)에 흐르는 전류량을 조절할 수 있다. 예를 들어, 화소(P)들이 제1 및 제2 화소들을 포함하는 경우를 생각할 수 있다. 이 때, 제1 화소들은 각 화소의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드가 물리적으로 먼 거리에 형성되어, 게이트 노드(Ng)와 애노드 사이에 커패시턴스가 발생하지 않거나 상대적으로 작은 값의 커패시턴스만 발생될 수 있고, 제2 화소들은 각 화소의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드가 물리적으로 가까운 거리에 형성되어, 게이트 노드(Ng)와 애노드 사이에 상대적으로 큰 값의 커패시턴스가 발생될 수 있다. 이 때, 제1 화소들 중 하나의 화소가 리페어 화소가 된 경우에는 폴리실리콘 레지스터(PR)의 제1 및 제2 단자가 개방되도록 더미 회로(DC3)를 구성할 수 있다. 또한, 제2 화소들 중 하나의 화소가 리페어 화소가 된 경우에는 폴리실리콘 레지스터(PR)의 제1 및 제2 단자가 단락되도록 더미 회로(DC3)를 구성할 수 있다. 그 결과, 리페어 공정이 적용되는 화소가 제1 및 제2 화소들 중 어떤 화소인 경우에도, 해당 화소의 화소 회로(C)를 통하여 공급되는 구동 전류의 크기와 리페어 후에 더미 회로(DC)를 통하여 공급되는 구동 전류의 크기가 거의 동일할 수 있다.The amount of current flowing through the organic light emitting diode OLED of the repair pixel may be adjusted after the repair process by changing the shape of the connection part or the repair signal by using the dummy circuit DC3 illustrated in FIG. 8 . For example, a case in which the pixels P include first and second pixels may be considered. In this case, in the first pixels, the gate node Ng of each pixel and the anode of the organic light emitting diode OLED are formed at a physically long distance, so that a capacitance between the gate node Ng and the anode does not occur or is relatively small. Only a value capacitance may be generated, and in the second pixels, the gate node Ng of each pixel and the anode of the organic light emitting diode OLED are formed at a physically close distance, so that the second pixels are relatively disposed between the gate node Ng and the anode. A large value of capacitance may be generated. In this case, when one of the first pixels becomes a repair pixel, the dummy circuit DC3 may be configured such that the first and second terminals of the polysilicon resistor PR are opened. Also, when one of the second pixels becomes a repair pixel, the dummy circuit DC3 may be configured such that the first and second terminals of the polysilicon resistor PR are short-circuited. As a result, even when the pixel to which the repair process is applied is any of the first and second pixels, the amount of the driving current supplied through the pixel circuit C of the corresponding pixel and the dummy circuit DC after the repair The magnitude of the supplied driving current may be substantially the same.

도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 더미 화소를 나타낸 회로도이다.9 is a circuit diagram illustrating a dummy pixel according to another exemplary embodiment of the present invention.

도 9에 도시된 더미 화소(DP4)의 더미 회로(DC4)는 일부의 차이점들을 제외하고는 도 7에 도시된 더미 화소(DP2)의 더미 회로(DC2)와 대부분 동일하다. 이하 동일한 설명은 생략하고 차이점을 중심으로 설명한다The dummy circuit DC4 of the dummy pixel DP4 shown in FIG. 9 is mostly the same as the dummy circuit DC2 of the dummy pixel DP2 shown in FIG. 7 except for some differences. Hereinafter, the same description will be omitted and the differences will be mainly described.

더미 회로(DC4)는 구동 트랜지스터(DT1), 스위칭 트랜지스터(DT2), 보상 트랜지스터(DT3), 초기화 트랜지스터(DT4), 동작 제어 트랜지스터(DT5), 발광 제어 트랜지스터(DT6), 제1 용량 제어 트랜지스터(DT7), 용량성 소자 초기화 트랜지스터(DT8), 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9), 제3 용량 제어 트랜지스터(DT10), 저장 용량성 소자, 제1 보상 용량성 소자, 제2 보상 용량성 소자, 유지(holding) 용량성 소자를 포함할 수 있다. 저장 용량성 소자, 제1 보상 용량성 소자, 제2 보상 용량성 소자, 및 유지 용량성 소자는 커패시터일 수 있고, 본 명세서에서 저장 용량성 소자는 저장 커패시터(Cst2)로, 제1 보상 용량성 소자는 제1 보상 커패시터(Ccomp1)로, 제2 보상 용량성 소자는 제2 보상 커패시터(Ccomp2)로, 유지 용량성 소자는 유지 커패시터(Chold)로 표현될 수 있다. 이 경우, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 용량은 활성 영역(AA)에 형성된 화소(P)들의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드 사이에서 발생되는 커패시턴스에 대응할 수 있다.The dummy circuit DC4 includes a driving transistor DT1 , a switching transistor DT2 , a compensation transistor DT3 , an initialization transistor DT4 , an operation control transistor DT5 , a light emission control transistor DT6 , and a first capacitance control transistor DT7), capacitive element initialization transistor DT8, second capacity control transistor DT9, third capacity control transistor DT10, storage capacitive element, first compensating capacitive element, second compensating capacitive element, holding (holding) may include a capacitive element. The storage capacitive element, the first compensating capacitive element, the second compensating capacitive element, and the holding capacitive element may be capacitors, wherein the storage capacitive element is the storage capacitor Cst2, and the first compensating capacitive element The device may be represented by a first compensation capacitor Ccomp1 , the second compensation capacitive device may be represented by a second compensation capacitor Ccomp2 , and the storage capacitive device may be represented by a storage capacitor Chold. In this case, the capacitance of the second compensation capacitor Ccomp2 may correspond to the capacitance generated between the gate node Ng of the pixels P formed in the active area AA and the anode of the organic light emitting diode OLED.

제2 보상 커패시터(Ccomp2) 및 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9)는 게이트 노드(DNg) 및 보상 노드(DNc) 사이에 직렬로 연결될 수 있다. 예를 들어, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 제1 전극은 게이트 노드(DNg)에 연결될 수 있고, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 제2 전극이 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9)의 제1 전극과 연결될 수 있고, 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9)의 제2 전극이 제1 보상 노드(DNc1)에 연결될 수 있다. 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9)의 게이트 전극은 제2 보상 노드(DNc2)의 전압을 공급받을 수 있다.The second compensation capacitor Ccomp2 and the second capacitance control transistor DT9 may be connected in series between the gate node DNg and the compensation node DNc. For example, the first electrode of the second compensation capacitor Ccomp2 may be connected to the gate node DNg, and the second electrode of the second compensation capacitor Ccomp2 is the first electrode of the second capacitance control transistor DT9. may be connected to , and a second electrode of the second capacitance control transistor DT9 may be connected to the first compensation node DNc1 . The gate electrode of the second capacitance control transistor DT9 may be supplied with the voltage of the second compensation node DNc2 .

제3 용량 제어 트랜지스터(DT10)의 게이트 전극은 스캔선(GWLn)과 연결되어 스캔 신호(GW[n])를 공급받을 수 있다. 제3 용량 제어 트랜지스터(DT10)의 제1 전극은 리페어 신호(REP)가 공급되는 라인에 연결될 수 있고, 제2 전극은 제2 보상 노드(DNc2)에 연결될 수 있다.The gate electrode of the third capacitance control transistor DT10 may be connected to the scan line GWLn to receive the scan signal GW[n]. A first electrode of the third capacitance control transistor DT10 may be connected to a line to which the repair signal REP is supplied, and a second electrode of the third capacitance control transistor DT10 may be connected to the second compensation node DNc2 .

유지 커패시터(Chold)의 양단에는 제1 전원 전압(ELVDD)과 제2 보상 노드(DNc2)의 전압이 인가될 수 있고, 유지 커패시터(Ccomp)에는 양단 전압 차에 대응하는 전하가 저장될 수 있다.The first power supply voltage ELVDD and the voltage of the second compensation node DNc2 may be applied to both ends of the holding capacitor Chold, and a charge corresponding to the voltage difference between both ends may be stored in the holding capacitor Ccomp.

도 9의 더미 화소(DP4)의 동작 과정 중 발광 제어선(EMLn)로부터 공급되는 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변경되기 이전까지는 도 7의 더미 화소(P2)의 동작 과정과 동일하므로, 그 이후의 단계부터 설명한다. 발광 기간 동안, 발광 제어선(EMLn)로부터 공급되는 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변경될 수 있고, 동작 제어 트랜지스터(DT5) 및 발광 제어 트랜지스터(DT6)가 턴-온될 수 있다. 그러면, 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극의 전압과 제1 전원 전압(ELVDD) 간의 전압 차에 따르는 구동 전류가 발생할 수 있고, 발광 제어 트랜지스터(DT6)를 통해 구동 전류가 리페어선(RLn)을 따라서 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)로 공급될 수 있다. 이 때, 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)로 공급되는 전류는 제1 보상 커패시터(Ccomp1) 에 충전되어 있던 에너지에 의해 증감될 수 있다. 즉, 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 변경되면 제1 용량 제어 트랜지스터(DT7)가 턴-온될 수 있고, 제1 보상 커패시터(Ccomp1)에 충전되어 있던 전하량에 의한 에너지가 출력 노드(DNo)로 공급될 수 있고, 이에 의한 출력 노드(DNo)의 전위 변화로 인하여 리페어선(RLn)을 통하여 공급되는 전류량이 변화될 수 있다. 또한, 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)로 공급되는 전류는 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9)의 상태에 따라서 제2 보상 커패시터(Ccomp2)에 충전되어 있던 에너지에 의해 증감될 수 있다. 즉, 제2 보상 노드(DNc2)의 전압의 레벨이 하이 레벨인 경우에는 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9)의 게이트 단자에 하이 레벨의 전압이 공급될 수 있고, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)가 리페어선(RLn)을 통하여 공급되는 전류량에 영향을 주지 않을 수 있다. 반면, 제2 보상 노드(DNc2)의 전압의 레벨이 로우 레벨인 경우에는 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9)의 게이트 단자에 로우 레벨의 전압이 공급될 수 있고, 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9)가 턴-온될 수 있다. 그 결과, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)에 충전되어 있던 전하량에 의한 에너지가 출력 노드(DNo)로 공급될 수 있고, 이에 의한 출력 노드(DNo)의 전위 변화로 인하여 리페어선(RLn)을 통하여 공급되는 전류량이 변화될 수 있다. 이 때, 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9)의 턴-온에 영향을 주는 제2 보상 노드(DNc2)의 전압의 레벨은 리페어 신호(REP)에 의하여 결정될 수 있다.Until the emission control signal EM[n] supplied from the emission control line EMLn is changed from the high level to the low level during the operation of the dummy pixel DP4 of FIG. 9 , the dummy pixel P2 of FIG. Since the operation process is the same, the subsequent steps will be described. During the light emission period, the light emission control signal EM[n] supplied from the light emission control line EMLn may change from a high level to a low level, and the operation control transistor DT5 and the light emission control transistor DT6 turn- can be turned on Then, a driving current may be generated according to a voltage difference between the voltage of the gate electrode of the driving transistor DT1 and the first power voltage ELVDD, and the driving current may flow along the repair line RLn through the emission control transistor DT6 . It may be supplied to the organic light emitting diode (OLED) of the repair pixel. In this case, the current supplied to the organic light emitting diode OLED of the repair pixel may be increased or decreased by the energy charged in the first compensation capacitor Ccomp1. That is, when the emission control signal EM[n] is changed from the high level to the low level, the first capacitance control transistor DT7 may be turned on, and energy by the amount of charge charged in the first compensation capacitor Ccomp1 may be supplied to the output node DNo, and the amount of current supplied through the repair line RLn may change due to a change in the potential of the output node DNo. Also, the current supplied to the organic light emitting diode OLED of the repair pixel may be increased or decreased by the energy charged in the second compensation capacitor Ccomp2 according to the state of the second capacitance control transistor DT9 . That is, when the level of the voltage of the second compensation node DNc2 is the high level, the high level voltage may be supplied to the gate terminal of the second capacitance control transistor DT9 and the second compensation capacitor Ccomp2 is repaired. The amount of current supplied through the line RLn may not be affected. On the other hand, when the level of the voltage of the second compensation node DNc2 is the low level, the low level voltage may be supplied to the gate terminal of the second capacitance control transistor DT9 and the second capacitance control transistor DT9 is can be turned on. As a result, energy due to the amount of charge charged in the second compensation capacitor Ccomp2 can be supplied to the output node DNo, and is supplied through the repair line RLn due to a potential change of the output node DNo. The amount of current can be changed. In this case, the level of the voltage of the second compensation node DNc2 that affects the turn-on of the second capacitance control transistor DT9 may be determined by the repair signal REP.

도 9에 개시된 더미 회로(DC4)를 사용하여, 연결부의 형태 또는 리페어 신호를 변화시켜서 리페어 공정 후에 리페어 화소의 유기 발광 소자(OLED)에 흐르는 전류량을 조절할 수 있다. 예를 들어, 화소(P)들이 제1 및 제2 화소들을 포함하는 경우를 생각할 수 있다. 이 때, 제1 화소들은 각 화소의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드가 물리적으로 먼 거리에 형성되어, 게이트 노드(Ng)와 애노드 사이에 커패시턴스가 발생하지 않거나 상대적으로 작은 값의 커패시턴스만 발생될 수 있고, 제2 화소들은 각 화소의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드가 물리적으로 가까운 거리에 형성되어, 게이트 노드(Ng)와 애노드 사이에 상대적으로 큰 값의 커패시턴스가 발생될 수 있다. 이 때, 제1 화소들 중 하나의 화소가 리페어 화소가 된 경우에는 리페어 신호(REP)가 하이 레벨을 가지는 신호로 설정할 수 있고, 이에 따라 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9)가 항상 턴-오프되도록 리페어 신호(REP)를 설정할 수 있다. 또한, 제2 화소들 중 하나의 화소가 리페어 화소가 된 경우에는 리페어 화소에 대응하는 영상 데이터가 출력될 때마다 리페어 신호(REP)가 로우 레벨을 가지도록 하여, 제2 용량 제어 트랜지스터(DT9)가 해당 순간마다 턴-온되도록 리페어 신호(REP)를 설정할 수 있다. 그 결과, 리페어 공정이 적용되는 화소가 제1 및 제2 화소들 중 어떤 화소인 경우에도, 해당 화소의 화소 회로(C)를 통하여 공급되는 구동 전류의 크기와 리페어 후에 더미 회로(DC)를 통하여 공급되는 구동 전류의 크기가 거의 동일할 수 있다.The amount of current flowing through the organic light emitting diode OLED of the repair pixel may be adjusted after the repair process by changing the shape of the connection part or the repair signal by using the dummy circuit DC4 illustrated in FIG. 9 . For example, a case in which the pixels P include first and second pixels may be considered. In this case, in the first pixels, the gate node Ng of each pixel and the anode of the organic light emitting diode OLED are formed at a physically long distance, so that a capacitance between the gate node Ng and the anode does not occur or is relatively small. Only a value capacitance may be generated, and in the second pixels, the gate node Ng of each pixel and the anode of the organic light emitting diode OLED are formed at a physically close distance, so that the second pixels are relatively disposed between the gate node Ng and the anode. A large value of capacitance may be generated. At this time, when one of the first pixels becomes the repair pixel, the repair signal REP may be set to a signal having a high level, so that the second capacitance control transistor DT9 is always turned off. A repair signal REP may be set. Also, when one of the second pixels becomes a repair pixel, the repair signal REP is set to have a low level whenever image data corresponding to the repair pixel is output, so that the second capacitance control transistor DT9 may set the repair signal REP to be turned on at every corresponding moment. As a result, even when the pixel to which the repair process is applied is any of the first and second pixels, the amount of the driving current supplied through the pixel circuit C of the corresponding pixel and the dummy circuit DC after the repair The magnitude of the supplied driving current may be substantially the same.

도 10은 도 7 내지 도 9의 실시예에 따른 더미 화소에 의한 동작을 나타낸 타이밍도이다.10 is a timing diagram illustrating an operation by a dummy pixel according to the exemplary embodiment of FIGS. 7 to 9 .

도 10을 참조하면, 발광 제어 신호(EM[n])가 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하는 제1 시간(TM1)에서부터 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하는 제5 시간(TM5) 사이에 스캔 신호(EM[n]), 제1 초기화 제어 신호(GI[n]), 제2 초기화 제어 신호(GB[n])가 수 차례 천이할 수 있고, 이에 의하여 리페어 화소의 애노드(Active Anode), 리페어선(RLn)이 연결된 출력 노드(DNo), 보상 노드(DNc), 및 게이트 노드(DNg)의 전압의 레벨이 변화할 수 있다.Referring to FIG. 10 , from a first time TM1 when the emission control signal EM[n] transitions from the low level to the high level, the emission control signal EM[n] transitions from the high level to the low level first time TM1 . The scan signal EM[n], the first initialization control signal GI[n], and the second initialization control signal GB[n] may transition several times during 5 times TM5, whereby the repair Voltage levels of the active anode of the pixel, the output node DNo to which the repair line RLn is connected, the compensation node DNc, and the gate node DNg may change.

먼저, 제1 시간(TM1)에 발광 제어 신호(EM[n])가 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이하여, 유기 발광 소자(OLED)가 발광하지 않는 기간이 시작될 수 있다.First, the light emission control signal EM[n] transitions from the low level to the high level at the first time TM1 , and a period in which the organic light emitting diode OLED does not emit light may start.

이후, 제2 시간(TM2)에 제1 초기화 제어 신호(GI[n]) 및 제2 초기화 제어 신호(GB[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이하여, 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극과 보상 노드(DNc)가 초기화 전압(VINIT)으로 초기화될 수 있다. 이후, 제3 시간(TM3)에 제1 초기화 제어 신호(GI[n]) 및 제2 초기화 제어 신호(GB[n])가 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이할 수 있다. 제2 시간(TM2) 및 제3 시간(TM3)에서와 같은 제1 초기화 제어 신호(GI[n]) 및 제2 초기화 제어 신호(GB[n])의 변화가 수 차례 반복하여 발생될 수 있다. 예를 들어, 제2 시간(TM2)에서와 같은 제1 초기화 제어 신호(GI[n]) 및 제2 초기화 제어 신호(GB[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이가 제4 시간(TM4)에서도 동일하게 발생할 수 있다. 이 때, 리페어 화소의 애노드(Active Anode)의 전압의 레벨의 하강에 의한 커플링 효과로 리페어선(RLn)의 전압의 레벨의 하강(-ΔBoostV)이 발생할 수 있다. 또한, 제2 초기화 제어 신호(GB[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이할 때, 제2 초기화 제어선의 전압의 레벨의 하강에 의한 커플링 효과로 인하여 리페어선(RLn)의 전압의 레벨의 하강(-ΔGBC)이 발생할 수 있고, 제2 초기화 제어 신호(GB[n])가 로우 레벨에서 하이 레벨로 천이할 때, 제2 초기화 제어선의 전압의 레벨의 상승에 의한 커플링 효과로 인하여 리페어선(RLn)의 전압의 레벨의 상승(ΔGBC)이 발생할 수 있다.Thereafter, at a second time TM2 , the first initialization control signal GI[n] and the second initialization control signal GB[n] transition from the high level to the low level, and thus the gate electrode of the driving transistor DT1 The over-compensation node DNc may be initialized to the initialization voltage VINIT. Thereafter, at a third time TM3 , the first initialization control signal GI[n] and the second initialization control signal GB[n] may transition from the low level to the high level. The change of the first initialization control signal GI[n] and the second initialization control signal GB[n] as in the second time TM2 and the third time TM3 may be repeatedly generated several times. . For example, the first initialization control signal GI[n] and the second initialization control signal GB[n] as in the second time TM2 transition from the high level to the low level at the fourth time TM4 ) can occur in the same way. In this case, a drop (-ΔBoostV) of the voltage level of the repair line RLn may occur due to a coupling effect due to a drop of the voltage level of the active anode of the repair pixel. Also, when the second initialization control signal GB[n] transitions from the high level to the low level, the level of the voltage of the repair line RLn due to a coupling effect caused by the drop of the level of the voltage of the second initialization control line may occur, and when the second initialization control signal GB[n] transitions from a low level to a high level, due to a coupling effect caused by a rise in the level of the voltage of the second initialization control line A rise ΔGBC of the level of the voltage of the repair line RLn may occur.

이후, 제5 시간(TM5)에 발광 제어 신호(EM[n])가 하이 레벨에서 로우 레벨로 천이할 수 있고, 발광 기간이 시작될 수 있다. 이 때, 리페어 화소의 애노드(Active Anode)의 전위가 데이터 전압에 상응하는 전압만큼 상승할 수 있다. 이 때, 제1 보상 커패시터(Ccomp1)에 충전되어 있던 전하량에 의한 에너지가 출력 노드(DNo)로 공급될 수 있고, 이에 따라 리페어선(RLn)의 전압의 레벨의 상승(ΔComp1)이 발생할 수 있다. 또한, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 제1 전극 및 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극이 전기적으로 연결되어 있는 경우, 제2 보상 커패시터(Ccomp2)에 충전되어 있던 전하량에 의한 에너지가 출력 노드(DNo)로 공급될 수 있고, 이에 따라 리페어선(RLn)의 전압의 레벨의 상승(ΔComp2)이 발생할 수 있다.Thereafter, at a fifth time TM5 , the light emission control signal EM[n] may transition from the high level to the low level, and a light emission period may start. In this case, the potential of the active anode of the repair pixel may increase by a voltage corresponding to the data voltage. At this time, energy due to the amount of charge charged in the first compensation capacitor Ccomp1 may be supplied to the output node DNo, and accordingly, an increase ΔComp1 of the voltage of the repair line RLn may occur. . In addition, when the first electrode of the second compensation capacitor Ccomp2 and the gate electrode of the driving transistor DT1 are electrically connected, energy by the charge amount charged in the second compensation capacitor Ccomp2 is transferred to the output node DNo ), and accordingly, an increase ΔComp2 of the voltage of the repair line RLn may occur.

이를 통하여, 리페어 공정이 적용되는 화소의 회로 후에 리페어 화소의 회로적 구조에 따라서, 리페어선(RLn)을 통해 출력되는 전류량을 조절할 수 있다. 예를 들어, 화소(P)들에 제1 및 제2 화소들이 포함되고, 제1 화소들은 각 화소의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드가 물리적으로 먼 거리에 형성되어 게이트 노드(Ng)와 애노드 사이에 커패시턴스가 발생하지 않거나 상대적으로 작은 값의 커패시턴스만 발생되는 화소들이고, 제2 화소들은 각 화소의 게이트 노드(Ng) 및 유기 발광 소자(OLED)의 애노드가 물리적으로 가까운 거리에 형성되어 게이트 노드(Ng)와 애노드 사이에 상대적으로 큰 값의 커패시턴스가 발생되는 화소들인 경우를 생각할 수 있다. 이 때, 제1 화소들 중 하나의 화소가 리페어 화소가 된 경우에는 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 제1 전극 및 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극이 전기적으로 단절되도록 설정할 수 있고, 이에 따라 제2 보상 커패시터(Ccomp2)가 리페어선(RLn)의 전압의 레벨에 영향을 주지 않게할 수 있다. 또한, 제2 화소들 중 하나의 화소가 리페어 화소가 된 경우에는 제2 보상 커패시터(Ccomp2)의 제1 전극 및 구동 트랜지스터(DT1)의 게이트 전극이 전기적으로 연결되도록 설정할 수 있고, 이에 따라 제2 보상 커패시터(Ccomp2)에 충전되어 있던 전하량에 의한 에너지가 출력 노드(DNo)로 공급되도록 하여 리페어선(RLn)의 전압의 레벨의 상승(ΔComp2)이 발생되게 할 수 있다. 그 결과, 본 발명에 의한 더미 화소(DP)가 배치된 유기 발광 표시 장치(100)는, 리페어 공정이 적용되지 않은 경우, 제1 화소들 중 하나의 화소에 리페어 공정이 적용된 경우, 또는 제2 화소들 중 하나의 화소에 리페어 공정이 적용된 경우 중 어떤 경우에도, 영상 데이터가 동일한 경우에 유기 발광 소자(OLED)로 출력되는 전류량을 거의 동일한 수준으로 유지할 수 있다.Through this, after the circuit of the pixel to which the repair process is applied, the amount of current output through the repair line RLn may be adjusted according to the circuit structure of the repair pixel. For example, the pixels P include first and second pixels, and in the first pixels, the gate node Ng of each pixel and the anode of the organic light emitting diode OLED are formed at a physically long distance from each other to form gates. These are pixels in which no capacitance or only a relatively small capacitance is generated between the node Ng and the anode, and the second pixels are physically close to the gate node Ng of each pixel and the anode of the organic light emitting diode OLED. A case in which the pixels are formed at a distance and generate a relatively large capacitance between the gate node Ng and the anode may be considered. At this time, when one of the first pixels becomes the repair pixel, the first electrode of the second compensation capacitor Ccomp2 and the gate electrode of the driving transistor DT1 may be electrically disconnected, and accordingly, 2 It is possible to prevent the compensation capacitor Ccomp2 from affecting the level of the voltage of the repair line RLn. Also, when one of the second pixels becomes a repair pixel, the first electrode of the second compensation capacitor Ccomp2 and the gate electrode of the driving transistor DT1 may be electrically connected to each other, and accordingly, the second Energy by the amount of charge charged in the compensation capacitor Ccomp2 is supplied to the output node DNo, so that the level of the voltage of the repair line RLn is increased ΔComp2 . As a result, in the organic light emitting diode display 100 on which the dummy pixel DP is disposed according to the present invention, when the repair process is not applied, when the repair process is applied to one of the first pixels, or the second In any case in which the repair process is applied to one of the pixels, when the image data is the same, the amount of current output to the organic light emitting diode (OLED) may be maintained at substantially the same level.

본 발명의 명세서(특히 특허청구범위에서)에서 "상기"의 용어 및 이와 유사한 지시 용어의 사용은 단수 및 복수 모두에 해당하는 것일 수 있다. 또한, 본 발명에서 범위(range)를 기재한 경우 상기 범위에 속하는 개별적인 값을 적용한 발명을 포함하는 것으로서(이에 반하는 기재가 없다면), 발명의 상세한 설명에 상기 범위를 구성하는 각 개별적인 값을 기재한 것과 같다.In the specification of the present invention (especially in the claims), the use of the term "above" and similar referential terms may be used in both the singular and the plural. In addition, when a range is described in the present invention, each individual value constituting the range is described in the detailed description of the invention as including the invention to which individual values belonging to the range are applied (unless there is a description to the contrary). same as

본 발명에 따른 방법을 구성하는 단계들에 대하여 명백하게 순서를 기재하거나 반하는 기재가 없다면, 상기 단계들은 적당한 순서로 행해질 수 있다. 반드시 상기 단계들의 기재 순서에 따라 본 발명이 한정되는 것은 아니다. 본 발명에서 모든 예들 또는 예시적인 용어(예들 들어, 등등)의 사용은 단순히 본 발명을 상세히 설명하기 위한 것으로서 특허청구범위에 의해 한정되지 않는 이상 상기 예들 또는 예시적인 용어로 인해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다. 또한, 당업자는 다양한 수정, 조합 및 변경이 부가된 특허청구범위 또는 그 균등물의 범주 내에서 설계 조건 및 팩터에 따라 구성될 수 있음을 알 수 있다.The steps constituting the method according to the present invention may be performed in an appropriate order, unless there is an explicit order or description to the contrary. The present invention is not necessarily limited to the order in which the steps are described. The use of all examples or exemplary terms (eg, etc.) in the present invention is merely for the purpose of describing the present invention in detail, and the scope of the present invention is limited by the examples or exemplary terms unless defined by the claims. it's not going to be In addition, those skilled in the art will appreciate that various modifications, combinations, and changes may be made in accordance with design conditions and factors within the scope of the appended claims or their equivalents.

본 명세서에서는 본 발명을 한정된 실시예를 중심으로 설명하였으나, 본 발명의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능하다. 또한 설명되지는 않았으나, 균등한 수단도 또한 본 발명에 그대로 결합되는 것이라 할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의하여 정해져야 할 것이다.In the present specification, the present invention has been described with reference to limited embodiments, but various embodiments are possible within the scope of the present invention. In addition, although not described, it will be said that equivalent means are also combined with the present invention as it is. Therefore, the true scope of protection of the present invention should be defined by the following claims.

100: 유기 발광 표시 장치
110: 표시부
120: 게이트 드라이버
130: 소스 드라이버
140: 제어부
150: 전원 공급부
100: organic light emitting display device
110: display unit
120: gate driver
130: source driver
140: control unit
150: power supply

Claims (16)

표시 영역에 배치되는 복수의 화소들;
더미 영역에 배치되는 복수의 더미 화소들; 및
상기 복수의 더미 화소들에 연결될 수 있고, 상기 복수의 화소들에 연결 가능하게 배치된 복수의 리페어선들;을 포함하고,
상기 복수의 더미 화소들 각각은,
보상 용량성 소자;
게이트 전극에 인가되는 데이터 신호에 대응하는 구동 전류를 출력하는 구동 트랜지스터; 및
상기 보상 용량성 소자의 제1 전극 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극 사이에 연결될 수 있고, 가해지는 물리량에 따라서 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극을 전기적으로 연결하거나 전기적으로 단절하는 연결부;를 포함하는, 유기 발광 표시 장치.
a plurality of pixels disposed in the display area;
a plurality of dummy pixels disposed in the dummy area; and
a plurality of repair lines connected to the plurality of dummy pixels and arranged to be connectable to the plurality of pixels;
Each of the plurality of dummy pixels,
compensating capacitive element;
a driving transistor outputting a driving current corresponding to a data signal applied to the gate electrode; and
may be connected between the first electrode of the compensating capacitive element and the gate electrode of the driving transistor, and may electrically connect or electrically connect the first electrode of the compensating capacitive element and the gate electrode of the driving transistor according to an applied physical amount An organic light emitting diode display including; a disconnecting part.
제1 항에 있어서, 상기 복수의 더미 화소들 각각은,
상기 복수의 리페어선들 중 대응하는 리페어선에 연결된 출력 노드 및 상기 구동 트랜지스터 사이에 연결될 수 있고, 발광 제어 신호에 의해 제어되는 발광 제어 트랜지스터;
상기 출력 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극 사이에 연결될 수 있고, 상기 발광 제어 신호에 의해 제어되는 용량 제어 트랜지스터; 및
상기 용량 제어 트랜지스터 및 초기화 전압선 사이에 연결될 수 있고, 초기화 제어 신호에 의해 제어되는 용량성 소자 초기화 트랜지스터;를 더 포함하는, 유기 발광 표시 장치.
The method of claim 1 , wherein each of the plurality of dummy pixels comprises:
a light emission control transistor connected between an output node connected to a corresponding one of the plurality of repair lines and the driving transistor and controlled by a light emission control signal;
a capacitance control transistor connected between the output node and the second electrode of the compensation capacitive element and controlled by the light emission control signal; and
and a capacitive element initialization transistor connected between the capacitance control transistor and an initialization voltage line and controlled by an initialization control signal.
제1 항에 있어서, 상기 연결부는,
상기 보상 용량성 소자의 제1 전극에 연결되는 제1 영역; 및
상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 연결되는 제2 영역;을 포함하고,
상기 제1 및 제2 영역은 서로 전기적으로 단절되어있고, 상기 제1 및 제2 영역은 레이저에 의해 전기적으로 연결될 수 있는, 유기 발광 표시 장치.
According to claim 1, wherein the connection portion,
a first region connected to a first electrode of the compensating capacitive element; and
a second region connected to the gate electrode of the driving transistor;
The first and second regions may be electrically isolated from each other, and the first and second regions may be electrically connected to each other by a laser.
제1 항에 있어서, 상기 연결부는,
상기 보상 용량성 소자의 제1 전극에 연결되는 제1 영역; 및
상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 연결되는 제2 영역;을 포함하고,
상기 제1 및 제2 영역은 서로 전기적으로 연결되어있고, 상기 제1 및 제2 영역은 레이저에 의해 전기적으로 단절될 수 있는, 유기 발광 표시 장치.
According to claim 1, wherein the connection portion,
a first region connected to a first electrode of the compensating capacitive element; and
a second region connected to the gate electrode of the driving transistor;
The first and second regions may be electrically connected to each other, and the first and second regions may be electrically disconnected by a laser.
제1 항에 있어서,
상기 복수의 화소들 각각은 화소 회로 및 상기 화소 회로에 분리 가능하게 연결되는 발광 소자를 포함하고,
상기 복수의 더미 화소들 각각은 더미 회로를 포함하는, 유기 발광 표시 장치.
According to claim 1,
Each of the plurality of pixels includes a pixel circuit and a light emitting device detachably connected to the pixel circuit,
Each of the plurality of dummy pixels includes a dummy circuit.
제 5항에 있어서,
상기 복수의 화소들 중 어느 하나는 리페어 화소를 포함하고,
상기 리페어 화소는 상기 리페어 화소의 화소 회로로부터 분리되고 상기 복수의 리페어선들 중 대응하는 리페어선을 통해 상기 복수의 더미 화소들 중 대응하는 더미 화소의 더미 회로와 연결된 발광 소자를 포함하는, 유기 발광 표시 장치.
6. The method of claim 5,
any one of the plurality of pixels includes a repair pixel,
and the repair pixel includes a light emitting element separated from a pixel circuit of the repair pixel and connected to a dummy circuit of a corresponding one of the plurality of dummy pixels through a corresponding one of the plurality of repair lines. Device.
제6 항에 있어서,
상기 복수의 화소들은 제1 화소 및 제2 화소를 포함하고,
상기 연결부는,
상기 복수의 리페어선들 중 대응하는 리페어선에 연결된 출력 노드 및 상기 구동 트랜지스터 사이에 연결될 수 있고, 발광 제어 신호에 의해 제어되는 발광 제어 트랜지스터;
상기 출력 노드 및 보상 제어 노드에 연결될 수 있고, 상기 발광 제어 신호에 의해 제어되는 제1 용량 제어 트랜지스터;
상기 보상 제어 노드 및 초기화 전압선 사이에 연결될 수 있고, 초기화 신호에 의해 제어되는 용량성 소자 초기화 트랜지스터; 및
상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극 사이에 연결될 수 있고, 상기 리페어 화소가 상기 제1 화소인 경우에는 상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극을 전기적으로 연결하고, 상기 리페어 화소가 상기 제2 화소인 경우에는 상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극을 전기적으로 단절하는 제2 용량 제어 트랜지스터;를 포함하는, 유기 발광 표시 장치.
7. The method of claim 6,
The plurality of pixels includes a first pixel and a second pixel,
The connection part,
a light emission control transistor connected between an output node connected to a corresponding one of the plurality of repair lines and the driving transistor and controlled by a light emission control signal;
a first capacitance control transistor connected to the output node and the compensation control node and controlled by the emission control signal;
a capacitive element initialization transistor connected between the compensation control node and an initialization voltage line and controlled by an initialization signal; and
may be connected between the compensation control node and the second electrode of the compensation capacitive element, and when the repair pixel is the first pixel, electrically connect the compensation control node and the second electrode of the compensation capacitive element; and a second capacitance control transistor electrically disconnecting the compensation control node and the second electrode of the compensation capacitive element when the repair pixel is the second pixel.
제 6항에 있어서,
상기 대응하는 더미 화소의 더미 회로는 상기 대응하는 리페어선을 통해 상기 리페어 화소의 발광 소자로 구동 전류를 제공하는, 유기 발광 표시 장치.
7. The method of claim 6,
and the dummy circuit of the corresponding dummy pixel provides a driving current to the light emitting element of the repair pixel through the corresponding repair line.
표시 영역에 배치되는 제1 및 제2 화소;
더미 영역에 배치되고 보상 용량성 소자를 포함하는 더미 화소; 및
상기 더미 화소에 연결될 수 있고 상기 제1 및 제2 화소에 연결 가능하게 배치되는 리페어선;을 포함하고,
상기 더미 화소는,
게이트 전극에 인가되는 데이터 신호에 대응하는 구동 전류를 출력하는 구동 트랜지스터; 및
상기 보상 용량성 소자의 제1 전극 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극 사이에 연결될 수 있고, 가해지는 물리량에 따라서 상기 보상 용량성 소자의 제1 전극 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극을 전기적으로 연결하거나 전기적으로 단절하는 연결부;를 포함하는, 유기 발광 표시 장치.
first and second pixels disposed in the display area;
a dummy pixel disposed in the dummy region and including a compensating capacitive element; and
a repair line connected to the dummy pixel and arranged to be connectable to the first and second pixels;
The dummy pixel is
a driving transistor outputting a driving current corresponding to a data signal applied to the gate electrode; and
may be connected between the first electrode of the compensating capacitive element and the gate electrode of the driving transistor, and may electrically connect or electrically connect the first electrode of the compensating capacitive element and the gate electrode of the driving transistor according to an applied physical amount An organic light emitting diode display including; a disconnecting part.
제9 항에 있어서, 상기 더미 화소는,
상기 리페어선에 연결된 출력 노드 및 상기 구동 트랜지스터 사이에 연결될 수 있고, 발광 제어 신호에 의해 제어되는 발광 제어 트랜지스터;
상기 출력 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극 사이에 연결될 수 있고, 상기 발광 제어 신호에 의해 제어되는 용량 제어 트랜지스터; 및
상기 용량 제어 트랜지스터 및 초기화 전압선 사이에 연결될 수 있고, 초기화 신호에 의해 제어되는 용량성 소자 초기화 트랜지스터;를 더 포함하는, 유기 발광 표시 장치.
10. The method of claim 9, wherein the dummy pixel,
a light emission control transistor connected between an output node connected to the repair line and the driving transistor, the light emission control transistor being controlled by a light emission control signal;
a capacitance control transistor connected between the output node and the second electrode of the compensation capacitive element and controlled by the light emission control signal; and
and a capacitive element initialization transistor connected between the capacitance control transistor and an initialization voltage line and controlled by an initialization signal.
제9 항에 있어서, 상기 연결부는,
상기 보상 용량성 소자의 제1 전극에 연결되는 제1 영역; 및
상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 연결되는 제2 영역;을 포함하고,
상기 제1 및 제2 영역은 서로 전기적으로 단절되어있고, 상기 제1 및 제2 영역은 레이저에 의해 전기적으로 연결될 수 있는, 유기 발광 표시 장치.
10. The method of claim 9, wherein the connecting portion,
a first region connected to a first electrode of the compensating capacitive element; and
a second region connected to the gate electrode of the driving transistor;
The first and second regions may be electrically isolated from each other, and the first and second regions may be electrically connected to each other by a laser.
제9 항에 있어서, 상기 연결부는,
상기 보상 용량성 소자의 제1 전극에 연결되는 제1 영역; 및
상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 연결되는 제2 영역;을 포함하고,
상기 제1 및 제2 영역은 서로 전기적으로 연결되어있고, 상기 제1 및 제2 영역은 레이저에 의해 전기적으로 단절될 수 있는, 유기 발광 표시 장치.
10. The method of claim 9, wherein the connecting portion,
a first region connected to a first electrode of the compensating capacitive element; and
a second region connected to the gate electrode of the driving transistor;
The first and second regions may be electrically connected to each other, and the first and second regions may be electrically disconnected by a laser.
제9 항에 있어서,
상기 제1 및 제2 화소는 화소 회로 및 상기 화소 회로에 분리 가능하게 연결되는 발광 소자를 포함하고,
상기 더미 화소는 더미 회로를 포함하는, 유기 발광 표시 장치.
10. The method of claim 9,
The first and second pixels include a pixel circuit and a light emitting device detachably connected to the pixel circuit,
and the dummy pixel includes a dummy circuit.
제 13항에 있어서,
상기 제1 및 제2 화소 중 어느 하나는 리페어 화소를 포함하고,
상기 리페어 화소의 발광 소자는 상기 리페어 화소의 화소 회로로부터 분리되고 상기 리페어선을 통해 상기 더미 화소의 더미 회로와 연결되는, 유기 발광 표시 장치.
14. The method of claim 13,
any one of the first and second pixels includes a repair pixel;
The light emitting device of the repair pixel is separated from the pixel circuit of the repair pixel and connected to the dummy circuit of the dummy pixel through the repair line.
제14 항에 있어서, 상기 연결부는,
상기 리페어선에 연결된 출력 노드 및 상기 구동 트랜지스터 사이에 연결될 수 있고, 발광 제어 신호에 의해 제어되는 발광 제어 트랜지스터;
상기 출력 노드 및 보상 제어 노드에 연결될 수 있고, 상기 발광 제어 신호에 의해 제어되는 제1 용량 제어 트랜지스터;
상기 보상 제어 노드 및 초기화 전압선 사이에 연결될 수 있고, 초기화 신호에 의해 제어되는 용량성 소자 초기화 트랜지스터; 및
상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극 사이에 연결될 수 있고, 상기 제1 화소가 상기 리페어 화소인 경우에는 상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극을 전기적으로 연결하고, 상기 제2 화소가 리페어 화소인 경우에는 상기 보상 제어 노드 및 상기 보상 용량성 소자의 제2 전극을 전기적으로 단절하는 제2 용량 제어 트랜지스터;를 포함하는, 유기 발광 표시 장치.
15. The method of claim 14, wherein the connecting portion,
a light emission control transistor connected between an output node connected to the repair line and the driving transistor, the light emission control transistor being controlled by a light emission control signal;
a first capacitance control transistor connected to the output node and the compensation control node and controlled by the emission control signal;
a capacitive element initialization transistor connected between the compensation control node and an initialization voltage line and controlled by an initialization signal; and
may be connected between the compensation control node and the second electrode of the compensation capacitive element, and when the first pixel is the repair pixel, electrically connect the compensation control node and the second electrode of the compensation capacitive element; and a second capacitance control transistor electrically disconnecting the compensation control node and the second electrode of the compensation capacitive element when the second pixel is a repair pixel.
제 14항에 있어서,
상기 더미 화소의 더미 회로는 상기 리페어선을 통해 상기 리페어 화소의 발광 소자로 구동 전류를 제공하는, 유기 발광 표시 장치.
15. The method of claim 14,
The dummy circuit of the dummy pixel provides a driving current to the light emitting element of the repair pixel through the repair line.
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