KR102283451B1

KR102283451B1 - Radioactive inspection apparatus

Info

Publication number: KR102283451B1
Application number: KR1020180056006A
Authority: KR
Inventors: 박순욱; 김현도; 노재훈; 신종근; 이준성; 하려선
Original assignee: 삼성중공업(주)
Priority date: 2018-05-16
Filing date: 2018-05-16
Publication date: 2021-07-30
Also published as: KR20190131301A

Abstract

방사선 시편 검사 장치가 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치는 원형의 테이블; 테이블의 둘레를 따라 배열되는 복수개의 시편 지지대; 테이블의 중심에 배치되고, 복수개의 시편 지지대에 지지된 복수개의 시편에 방사선을 조사하는 방사선원; 테이블 상에 설치되고, 복수개의 시편의 후방에 배치되고, 방사선 검사용 필름을 지지하는 필름 지지대; 및 테이블 상에 설치되고, 복수개의 시편 지지대의 높이를 조절하는 높이 조절부;를 포함한다.A radiation specimen inspection apparatus is disclosed. A radiation specimen inspection apparatus according to an embodiment of the present invention includes a circular table; a plurality of specimen supports arranged along the perimeter of the table; a radiation source disposed in the center of the table and irradiating radiation to a plurality of specimens supported on a plurality of specimen supports; a film support installed on a table, disposed behind a plurality of specimens, and supporting a film for radiographic inspection; and a height adjusting unit installed on the table and adjusting the heights of the plurality of specimen supports.

Description

Radiation specimen inspection apparatus {RADIOACTIVE INSPECTION APPARATUS}

본 발명은 방사선 시편 검사 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 복수개의 시편에 대한 방사선 검사를 효율적으로 수행할 수 있는 방사선 시편 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a radiation specimen inspection apparatus, and more particularly, to a radiation specimen inspection apparatus capable of efficiently performing a radiation inspection on a plurality of specimens.

선박, 해양플랜트 등의 제조 과정 중에 파이프, 판재 등의 다양한 부재들을 용접하는 작업이 빈번하게 수행된다. 이러한 부재들의 용접 품질을 검사하거나, 용접공의 기량을 측정하는 등의 목적으로, 부재의 용접부에 대해 방사선 영상을 촬영하여 용접 상태를 검사하는 작업이 수행된다. 방사선 검사는 시편의 후면에 방사선 필름을 붙인 후, 시편의 전면으로 방사선을 조사하여 필름을 통해 방사선 영상을 획득하는 과정으로 수행된다. 이때, 방사선 검사를 수행해야 하는 부재의 개수가 많을수록 방사선 촬영에 많은 시간이 소요되고, 건조 일정이 지연될 뿐 아니라 방사선 촬영을 수행하는 작업자가 장시간 방사선에 노출될 수 있다.During the manufacturing process of ships and offshore plants, welding of various members such as pipes and plates is frequently performed. For the purpose of inspecting the welding quality of these members, measuring the skill of a welder, etc., an operation of inspecting the welding state by taking a radiographic image of the welding part of the member is performed. Radiation inspection is performed by attaching a radiation film to the back side of the specimen, and then irradiating radiation to the front side of the specimen to obtain a radiographic image through the film. In this case, as the number of members to be radiographically inspected increases, more time is required for radiographic imaging, the drying schedule is delayed, and the operator performing radiographic imaging may be exposed to radiation for a long time.

본 발명은 다수의 시편에 대해 효율적으로 방사선 검사를 수행할 수 있는 방사선 시편 검사 장치를 제공하기 위한 것이다.An object of the present invention is to provide a radiation specimen inspection apparatus capable of efficiently performing a radiation inspection on a plurality of specimens.

또한, 본 발명은 시편의 용접선 위치를 방사선 조사 위치에 효율적으로 정렬시킬 수 있는 방사선 시편 검사 장치를 제공하기 위한 것이다.In addition, the present invention is to provide a radiation specimen inspection apparatus that can efficiently align the position of the weld line of the specimen to the irradiation position.

또한, 본 발명은 시편을 둘레 방향으로 일정 각도만큼 회전시키면서 방사선 검사를 수행할 수 있는 방사선 시편 검사 장치를 제공하기 위한 것이다.Another object of the present invention is to provide a radiation specimen inspection apparatus capable of performing a radiation inspection while rotating the specimen by a predetermined angle in a circumferential direction.

또한, 본 발명은 보관, 이동 및 설치가 용이한 방사선 시편 검사 장치를 제공하기 위한 것이다.In addition, the present invention is to provide a radiation specimen inspection apparatus that is easy to store, move and install.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급된 과제로 제한되지 않는다. 언급되지 않은 다른 기술적 과제들은 이하의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems to be solved by the present invention are not limited to the problems mentioned above. Other technical problems not mentioned will be clearly understood by those of ordinary skill in the art to which the present invention belongs from the following description.

본 발명의 일 측면에 따른 방사선 시편 검사 장치는 원형의 테이블; 상기 테이블의 둘레를 따라 배열되는 복수개의 시편 지지대; 상기 테이블의 중심에 배치되고, 상기 복수개의 시편 지지대에 지지된 복수개의 시편에 방사선을 조사하는 방사선원; 상기 테이블 상에 설치되고, 상기 방사선원을 기준으로 상기 복수개의 시편의 후방에 배치되고, 방사선 검사용 필름을 지지하는 필름 지지대; 및 상기 테이블 상에 설치되고, 상기 복수개의 시편 지지대의 높이를 조절하는 높이 조절부;를 포함한다.A radiation specimen inspection apparatus according to an aspect of the present invention includes a circular table; a plurality of specimen supports arranged along the circumference of the table; a radiation source disposed in the center of the table and irradiating radiation to a plurality of specimens supported by the plurality of specimen supports; a film support installed on the table, disposed behind the plurality of specimens with respect to the radiation source, and supporting a film for radiation inspection; and a height adjusting unit installed on the table and adjusting the heights of the plurality of specimen supports.

상기 방사선 시편 검사 장치는, 상기 방사선원의 방사선 조사 위치를 나타내는 레이저를 상기 시편 상에 조사하는 레이저 지시기;를 더 포함할 수 있다.The radiation specimen inspection apparatus may further include a laser indicator for irradiating a laser indicating a radiation location of the radiation source on the specimen.

상기 방사선 시편 검사 장치는, 상기 테이블 상에 설치되고, 상기 시편 지지대 상의 상기 시편을 소정 간격으로 회전시키는 시편 각도 조절부;를 더 포함할 수 있다.The radiation specimen inspection apparatus may further include a specimen angle adjusting unit installed on the table and rotating the specimen on the specimen support at a predetermined interval.

상기 시편 각도 조절부는, 상기 테이블 상에 고정되는 고정 플레이트; 상기 고정 플레이트의 상면 둘레를 따라 상기 소정 간격으로 장착되는 복수개의 볼 플런저; 및 상기 고정 플레이트의 상부에 회전 가능하게 결합되고, 하면에 상기 복수개의 볼 플런저에 계합되는 복수개의 홈부가 상기 소정 간격으로 형성되는 회전 플레이트;를 포함할 수 있다.The specimen angle adjusting unit may include: a fixing plate fixed on the table; a plurality of ball plungers mounted at the predetermined intervals along the periphery of the upper surface of the fixing plate; and a rotation plate rotatably coupled to an upper portion of the fixing plate and having a plurality of groove portions engaged with the plurality of ball plungers on a lower surface of the fixing plate at a predetermined interval.

상기 테이블은 반원 형태의 제1 테이블과 제2 테이블로 분리된 구조로 제공되고, 상기 방사선 시편 검사 장치는, 상기 제1 테이블과 상기 제2 테이블을 이동시키도록 결합되는 이동휠;을 더 포함할 수 있다.The table is provided in a structure separated into a first table and a second table having a semicircular shape, and the radiation specimen inspection apparatus further includes a moving wheel coupled to move the first table and the second table. can

상기 방사선 시편 검사 장치는, 상기 테이블을 지지하는 테이블 지지대에 수직으로 설치되고, 상기 방사선원을 지지하는 수직 지지대;를 더 포함하고, 상기 수직 지지대는 상기 제1 테이블 및 상기 제2 테이블 중 어느 하나에 접을 수 있게 제공될 수 있다.The radiation test apparatus may further include a vertical support installed vertically on a table support for supporting the table, and for supporting the radiation source, wherein the vertical support is mounted on any one of the first table and the second table. It may be provided to be collapsible.

상기 방사선 시편 검사 장치는, 상기 테이블 상에 설치되고, 상기 방사선 검사용 필름이 상기 시편의 후면에 밀착되도록, 상기 필름 지지대를 상기 시편을 향하여 이동시키는 필름 밀착부;를 더 포함할 수 있다.The radiation test apparatus may further include a film adhesion part installed on the table and configured to move the film supporter toward the specimen so that the radiation test film is closely adhered to the rear surface of the specimen.

상기 시편 지지대는, 상기 시편의 위치를 제한하기 위한 스토퍼와, 상기 시편을 상기 스토퍼에 밀착시키도록 상기 시편의 후면을 가압하는 고정 바이스를 포함할 수 있다.The specimen support may include a stopper for limiting the position of the specimen, and a fixing vise for pressing the rear surface of the specimen to bring the specimen into close contact with the stopper.

본 발명의 실시예에 의하면, 다수의 시편에 대해 효율적으로 방사선 검사를 수행할 수 있는 방사선 시편 검사 장치가 제공된다.According to an embodiment of the present invention, there is provided a radiation specimen inspection apparatus capable of efficiently performing a radiation inspection on a plurality of specimens.

또한, 본 발명의 실시예에 의하면, 시편의 용접선 위치를 방사선 조사 위치에 효율적으로 정렬시킬 수 있는 방사선 시편 검사 장치가 제공된다.In addition, according to an embodiment of the present invention, there is provided a radiation specimen inspection apparatus capable of efficiently aligning the welding line position of the specimen to the radiation irradiation position.

또한, 본 발명의 실시예에 의하면, 시편을 둘레 방향으로 일정 각도만큼 회전시키면서 방사선 검사를 수행할 수 있는 방사선 시편 검사 장치가 제공된다.Further, according to an embodiment of the present invention, there is provided a radiation test apparatus capable of performing a radiation test while rotating a test piece by a predetermined angle in a circumferential direction.

또한, 본 발명의 실시예에 의하면, 보관, 이동 및 설치가 용이한 방사선 시편 검사 장치가 제공된다.In addition, according to an embodiment of the present invention, there is provided a radiation specimen inspection apparatus that is easy to store, move and install.

본 발명의 효과는 상술한 효과들로 제한되지 않는다. 언급되지 않은 효과들은 본 명세서 및 첨부된 도면으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확히 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present invention are not limited to the effects described above. Effects not mentioned will be clearly understood by those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains from this specification and the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 평면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 측면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 부분 확대도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치를 구성하는 높이 조절부를 개략적으로 나타낸 단면도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치를 구성하는 시편 각도 조절부의 단면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치를 구성하는 회전 플레이트의 저면도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 평면도이다.
도 9는 도 8에 도시된 방사선 시편 검사 장치의 측면도이다.1 is a perspective view of a radiation specimen inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a plan view of an apparatus for inspecting a radiation specimen according to an embodiment of the present invention.
3 is a side view of an apparatus for inspecting a radiation specimen according to an embodiment of the present invention.
4 is a partially enlarged view of an apparatus for inspecting a radiation specimen according to an embodiment of the present invention.
5 is a cross-sectional view schematically showing a height adjusting unit constituting a radiation specimen inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
6 is a cross-sectional view of a specimen angle adjusting unit constituting a radiation specimen inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
7 is a bottom view of a rotating plate constituting an apparatus for inspecting a radiation specimen according to an embodiment of the present invention.
8 is a plan view of an apparatus for inspecting a radiation specimen according to another embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a side view of the apparatus for inspecting a radiation specimen shown in FIG. 8 .

본 발명의 다른 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술하는 실시예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 만일 정의되지 않더라도, 여기서 사용되는 모든 용어들(기술 혹은 과학 용어들을 포함)은 이 발명이 속한 종래 기술에서 보편적 기술에 의해 일반적으로 수용되는 것과 동일한 의미를 갖는다. 공지된 구성에 대한 일반적인 설명은 본 발명의 요지를 흐리지 않기 위해 생략될 수 있다. 본 발명의 도면에서 동일하거나 상응하는 구성에 대하여는 가급적 동일한 도면부호가 사용된다. 본 발명의 이해를 돕기 위하여, 도면에서 일부 구성은 다소 과장되거나 축소되어 도시될 수 있다.Other advantages and features of the present invention, and a method of achieving them, will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, and the present invention is only defined by the scope of the claims. Unless defined, all terms (including technical or scientific terms) used herein have the same meaning as commonly accepted by common skill in the prior art to which this invention belongs. A general description of known configurations may be omitted so as not to obscure the gist of the present invention. In the drawings of the present invention, the same reference numerals are used as far as possible for the same or corresponding components. In order to help the understanding of the present invention, some components in the drawings may be shown exaggerated or reduced to some extent.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다", "가지다" 또는 "구비하다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in the present application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, terms such as "comprise", "have" or "have" are intended to designate that a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification exists, but one It should be understood that it does not preclude the possibility of the presence or addition of or more other features or numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 사시도이다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 평면도이다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 측면도이다. 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 부분 확대도이다.1 is a perspective view of a radiation specimen inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. 2 is a plan view of an apparatus for inspecting a radiation specimen according to an embodiment of the present invention. 3 is a side view of an apparatus for inspecting a radiation specimen according to an embodiment of the present invention. 4 is a partially enlarged view of an apparatus for inspecting a radiation specimen according to an embodiment of the present invention.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치(100)는 테이블(110), 이동휠(120), 시편 지지대(130), 방사선원(140), 필름 지지대(150), 필름 밀착부(160), 높이 조절부(170), 레이저 지시기(도 4의 도면부호 180) 및 시편 각도 조절부(190)를 포함할 수 있다.1 to 4 , the apparatus 100 for inspecting a radiation specimen according to an embodiment of the present invention includes a table 110 , a moving wheel 120 , a specimen support 130 , a radiation source 140 , and a film support 150 . ), a film adhesion unit 160 , a height adjustment unit 170 , a laser indicator (reference numeral 180 in FIG. 4 ) and a specimen angle adjustment unit 190 .

복수개의 시편(10)을 테이블(110)의 중심에 위치한 방사선원(140)으로부터 일정한 거리에 배치시키기 위하여, 테이블(110)은 원형으로 제공될 수 있다. 테이블(110)은 테이블 지지대(110a) 상에 지지될 수 있다.In order to arrange the plurality of specimens 10 at a predetermined distance from the radiation source 140 located at the center of the table 110 , the table 110 may be provided in a circular shape. The table 110 may be supported on the table supporter 110a.

방사선 시편 검사 장치(100)를 보관 위치에서 작업 위치(방사선 촬영 작업 공간)로 용이하게 이동시키기 위하여, 테이블 지지대(110a)의 하부에는 다수의 이동휠(120)이 장착될 수 있다.In order to easily move the radiation specimen inspection apparatus 100 from the storage position to the work position (radiography work space), a plurality of moving wheels 120 may be mounted under the table support 110a.

한번에 여러 개의 시편(10)에 대해 방사선 검사를 동시에 수행하기 위하여, 테이블(110)의 둘레를 따라 복수개의 시편 지지대(130)가 일정 간격으로 배열될 수 있다.In order to simultaneously perform a radiation test on a plurality of specimens 10 at once, a plurality of specimen supports 130 may be arranged at regular intervals along the circumference of the table 110 .

도시에서, 시편 지지대(130)는 테이블(110)의 둘레를 따라 45°간격으로 8개가 배치되어 있으나, 시편 지지대(130)의 개수 및 배열 간격은 다양하게 변형될 수 있다.In the illustration, eight specimen supports 130 are arranged at intervals of 45° along the circumference of the table 110 , but the number and arrangement interval of the specimen supports 130 may be variously modified.

복수개의 시편 지지대(130)는 테이블(110)의 중심에 배치되는 방사선원(140)으로부터 같은 거리에 설치되고, 방사상으로 대칭되게 설치될 수 있다.The plurality of specimen supports 130 may be installed at the same distance from the radiation source 140 disposed at the center of the table 110 and may be installed symmetrically in a radial direction.

각 시편 지지대(130)는 시편(10)을 지지할 수 있게 제공된다. 시편(10)은 기둥 형상의 파이프, 판 형상의 부재 등으로 제공될 수 있다. 시편 지지대(130)는 다양한 크기의 시편(10)을 고정할 수 있도록 제공될 수 있다.Each specimen support 130 is provided to support the specimen 10 . The specimen 10 may be provided as a column-shaped pipe, a plate-shaped member, or the like. The specimen support 130 may be provided to fix the specimen 10 of various sizes.

일 실시예에서, 시편(10)은 용접선을 가지는 부재일 수 있으나, 본 발명의 방사선 시편 검사 장치는 용접선을 갖지 않는 시편의 품질을 검사하는데 활용될 수도 있다.In one embodiment, the specimen 10 may be a member having a welding line, but the radiation specimen inspection apparatus of the present invention may be used to inspect the quality of a specimen having no welding line.

시편 지지대(130)는 시편(10)의 위치를 제한하기 위한 스토퍼(131)와, 시편(10)을 스토퍼(131)에 밀착시키도록 시편(10)의 후면을 가압하는 고정 바이스를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 고정 바이스는 밀착부재(132), 핸들(133), 스크류축(134) 및 고정부재(135)를 포함할 수 있다.The specimen support 130 may include a stopper 131 for limiting the position of the specimen 10, and a fixing vise for pressing the rear surface of the specimen 10 so that the specimen 10 is in close contact with the stopper 131. there is. In one embodiment, the fixing vise may include a contact member 132 , a handle 133 , a screw shaft 134 , and a fixing member 135 .

밀착부재(132)는 스토퍼(131)의 후방 측에 배치될 수 있다. 스크류축(134)은 고정부재(135)에 나사 결합될 수 있다. 스크류축(134)의 말단은 밀착부재(132)에 회전 가능하게 결합될 수 있다. 핸들(133)은 스크류축(134)의 후단에 결합될 수 있다.The contact member 132 may be disposed on the rear side of the stopper 131 . The screw shaft 134 may be screw-coupled to the fixing member 135 . An end of the screw shaft 134 may be rotatably coupled to the contact member 132 . The handle 133 may be coupled to the rear end of the screw shaft 134 .

작업자가 핸들(133)을 일 방향으로 회전시키는 경우, 스크류축(134)이 회전하면서 시편(10)을 향해 전진하여 밀착부재(132)를 전방으로 이동시키게 된다. 그에 따라 밀착부재(132)가 시편(10)의 후면을 가압하여 시편(10)을 스토퍼(131) 측에 밀착시키게 된다.When the operator rotates the handle 133 in one direction, the screw shaft 134 rotates and moves forward toward the specimen 10 to move the contact member 132 forward. Accordingly, the adhesion member 132 presses the back surface of the specimen 10 to bring the specimen 10 into close contact with the stopper 131 side.

반대로, 작업자가 핸들(133)을 다른 방향으로 회전시키는 경우, 스크류축(134)이 시편(10)으로부터 후진하여 밀착부재(132)를 후방으로 이동시키게 된다. 그에 따라 밀착부재(132)가 시편(10)으로부터 멀어져, 시편(10)의 고정 상태를 해제할 수 있다.Conversely, when the operator rotates the handle 133 in a different direction, the screw shaft 134 moves backward from the specimen 10 to move the adhesion member 132 rearward. As a result, the adhesion member 132 moves away from the specimen 10 to release the fixed state of the specimen 10 .

복수개의 시편(10)에 대해 균등한 방사선을 조사하여 동일한 품질의 방사선 영상을 획득할 수 있도록, 방사선원(140)은 테이블(110)의 중심부에 배치된다. 방사선원(140)은 복수개의 시편 지지대(130)에 지지된 복수개의 시편(10)에 방사선을 조사한다.The radiation source 140 is disposed at the center of the table 110 so as to obtain a radiation image of the same quality by irradiating uniform radiation to the plurality of specimens 10 . The radiation source 140 irradiates radiation to the plurality of specimens 10 supported by the plurality of specimen supports 130 .

방사선원(140)은 피드라인(141)을 통해 방사성 물질을 공급받도록 연결되어 테이블(110)의 중심 측에 배치될 수 있다. 방사선원(140)은 방사선 소스가 원하지 않는 방향으로 방사선이 조사되지 않게 텅스텐 등의 콜리메이터에 의해 차폐시키도록 구성될 수 있다.The radiation source 140 is connected to receive a radioactive material through the feed line 141 and may be disposed on the center side of the table 110 . The radiation source 140 may be configured to be shielded by a collimator such as tungsten so that the radiation source is not irradiated in an unwanted direction.

테이블 지지대(110a)에는 방사선원(140)을 소정의 위치(높이)에 지지하기 위해 수직 지지대(142)가 수직하게 설치될 수 있다. 수직 지지대(142)는 테이블 지지대(110a) 상에 설치된 지지판(144) 상에 고정될 수 있다.A vertical support 142 may be vertically installed on the table support 110a to support the radiation source 140 at a predetermined position (height). The vertical support 142 may be fixed on the support plate 144 installed on the table support 110a.

필름 지지대(150)는 테이블(110) 상의 각 시편(10)과 대응되는 위치 마다 설치되고, 방사선원(140)의 위치를 기준으로 시편(10)의 후방에 배치된다. 필름 지지대(150)는 방사선 검사용 필름(20)을 지지할 수 있게 제공된다.The film support 150 is installed at each position corresponding to each specimen 10 on the table 110 , and is disposed at the rear of the specimen 10 based on the position of the radiation source 140 . The film support 150 is provided to support the film 20 for radiation inspection.

일 실시예에서, 필름 지지대(150)는 방사선 검사용 필름(20)이 지지되는 필름 지지판(152)과, 필름 지지판(152)의 전면에 방사선 검사용 필름(20)을 고정시키는 클램프(154)로 구성될 수 있다.In one embodiment, the film support 150 is a film support plate 152 on which the film 20 for radiation inspection is supported, and a clamp 154 for fixing the film 20 for radiation inspection on the front surface of the film support plate 152 . can be composed of

필름 밀착부(160)는 각 필름 지지대(150) 마다 설치되고, 방사선 검사용 필름(20)이 시편(10)의 후면에 밀착되도록 필름 지지대(150)를 이동시키도록 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 필름 밀착부(160)는 지지프레임(161), 작동축(162), 작동핸들(163) 및 가이드바(164)를 포함할 수 있다.The film adhesion part 160 may be installed for each film support 150 , and may be configured to move the film support 150 so that the film for radiation inspection 20 is in close contact with the back surface of the specimen 10 . In an embodiment, the film adhesion part 160 may include a support frame 161 , an operation shaft 162 , an operation handle 163 , and a guide bar 164 .

지지프레임(161)은 테이블(110) 상에 수직 방향으로 설치될 수 있다. 지지프레임(161)에는 작동축(162)이 나사 결합되는 나사홀(161a)이 형성될 수 있다. 작동축(162)은 외주면에 나사부가 형성되어 있으며, 나사홀(161a)에 삽입될 수 있다.The support frame 161 may be installed on the table 110 in a vertical direction. A screw hole 161a to which the operating shaft 162 is screwed may be formed in the support frame 161 . The operating shaft 162 has a screw portion formed on its outer circumferential surface, and may be inserted into the screw hole 161a.

작동축(162)의 전단은 필름 지지판(152)의 후면에 베어링 등을 매개로 회전 가능하게 결합될 수 있다. 작동핸들(163)은 작동축(162)의 후단에 결합될 수 있다. 필름 지지판(152)의 후면에는 가이드바(164)가 수직하게 결합될 수 있다. 가이드바(164)는 지지프레임(161)의 가이드홀(도면부호 미표시)에 삽입된다.The front end of the operating shaft 162 may be rotatably coupled to the rear surface of the film support plate 152 through a bearing or the like. The operation handle 163 may be coupled to the rear end of the operation shaft 162 . A guide bar 164 may be vertically coupled to the rear surface of the film support plate 152 . The guide bar 164 is inserted into the guide hole (reference numeral not shown) of the support frame 161 .

작업자가 작동핸들(163)을 일 방향으로 회전시키면, 지지프레임(161)의 나사홀(161a)에 결합된 작동축(162)이 회전하면서 전방으로 이동하게 되고, 그에 따라 작동축(162)에 결합된 필름 지지판(152)이 시편(10)의 후면으로 밀착된다. 이때, 필름 지지판(152)은 가이드바(164)에 의해 직선 방향으로 이동되도록 가이드된다.When the operator rotates the operation handle 163 in one direction, the operation shaft 162 coupled to the screw hole 161a of the support frame 161 rotates and moves forward, and accordingly, the operation shaft 162 The combined film support plate 152 is in close contact with the back surface of the specimen 10 . At this time, the film support plate 152 is guided to move in a straight direction by the guide bar 164 .

반대로, 작업자가 작동핸들(163)을 다른 방향으로 회전시키면, 작동축(162)이 회전하면서 후방으로 이동하게 되고, 그에 따라 작동축(162)에 결합된 필름 지지판(152)이 시편(10)으로부터 멀어지게 된다.Conversely, when the operator rotates the operation handle 163 in a different direction, the operation shaft 162 rotates and moves backward, and accordingly, the film support plate 152 coupled to the operation shaft 162 moves the specimen 10. goes away from

높이 조절부(170)는 테이블(110) 상에 각 시편 지지대(130) 마다 설치될 수 있다. 높이 조절부(170)는 시편 지지대(130) 및 시편(10)의 높이를 조절하도록 구성될 수 있다.The height adjustment unit 170 may be installed on the table 110 for each specimen support 130 . The height adjustment unit 170 may be configured to adjust the heights of the specimen support 130 and the specimen 10 .

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치를 구성하는 높이 조절부를 개략적으로 나타낸 단면도이다. 도 4 및 도 5를 참조하면, 높이 조절부(170)는 승강 작동부(171)와, 핸들부(172) 및 높이 조절대(173)를 포함할 수 있다.5 is a cross-sectional view schematically showing a height adjusting unit constituting a radiation specimen inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. 4 and 5 , the height adjustment unit 170 may include a lifting operation unit 171 , a handle unit 172 , and a height adjustment bar 173 .

승강 작동부(171)는 테이블(110) 상에 고정될 수 있다. 핸들부(172)는 승강 작동부(171)에 결합될 수 있다. 높이 조절대(173)는 승강 작동부(171)에 의해 상하로 이동될 수 있다.The lifting operation unit 171 may be fixed on the table 110 . The handle unit 172 may be coupled to the lifting operation unit 171 . The height adjustment bar 173 may be moved up and down by the lifting operation unit 171 .

일 실시예에서, 승강 작동부(171)는 핸들부(172)에 결합된 피니언 기어(171a)와, 높이 조절대(173)의 하단 측면부에 형성되어 피니언 기어(171a)에 결합되는 랙기어(171b)를 포함할 수 있다.In one embodiment, the lifting operation unit 171 includes a pinion gear 171a coupled to the handle unit 172, and a rack gear formed on the lower side surface of the height adjustment bar 173 and coupled to the pinion gear 171a ( 171b).

작업자가 핸들부(172)를 일 방향으로 회전시키면, 피니언 기어(171a)가 회전되고, 그에 따라 피니언 기어(171a)에 결합된 높이 조절대(173)가 상승하고, 높이 조절대(173) 상에 설치된 시편 지지대(130) 및 이에 지지된 시편(10)의 높이가 상승하게 된다.When the operator rotates the handle portion 172 in one direction, the pinion gear 171a is rotated, and accordingly, the height adjustment bar 173 coupled to the pinion gear 171a rises, and the height adjustment bar 173 is on the The height of the specimen support 130 and the specimen 10 supported thereon is increased.

반대로, 작업자가 핸들부(172)를 다른 방향으로 회전시키는 경우, 피니언 기어(171a)가 반대 방향으로 회전되어 높이 조절대(173)가 하강하고, 높이 조절대(173) 상에 설치된 시편 지지대(130) 및 이에 지지된 시편(10)의 높이가 하강하게 된다.Conversely, when the operator rotates the handle portion 172 in a different direction, the pinion gear 171a is rotated in the opposite direction to lower the height adjustment bar 173, and the specimen support installed on the height adjustment bar 173 ( 130) and the height of the specimen 10 supported thereon is lowered.

따라서, 높이 조절부(170)에 의해 시편 지지대(130) 및 시편(10)을 승강시킬 수 있으며, 시편(10)의 용접선 위치(높이)를 방사선원(140)의 높이에 일치시킬 수 있게 된다.Accordingly, the specimen support 130 and the specimen 10 can be raised and lowered by the height adjusting unit 170 , and the position (height) of the welding line of the specimen 10 can be matched to the height of the radiation source 140 .

레이저 지시기(180)는 테이블(110) 또는 테이블 지지대(110a)에 설치되어, 방사선원(140)의 방사선 조사 위치를 나타내는 레이저를 시편(10) 상에 조사할 수 있다. 일 실시예에서, 레이저 지시기(180)는 방사선원(140)의 높이에 해당하는 라인 레이저를 발생하도록 제공될 수 있다.The laser indicator 180 may be installed on the table 110 or the table support 110a to irradiate a laser indicating a radiation location of the radiation source 140 on the specimen 10 . In one embodiment, the laser indicator 180 may be provided to generate a line laser corresponding to the height of the radiation source 140 .

레이저 지시기(180)는 테이블 지지대(110a)에 설치되는 지지부재(181)와, 지지부재(181)에 의해 방사선원(140)의 높이에서 라인 레이저를 발생하도록 배치되는 레이저 발생부(182)를 포함할 수 있다.The laser indicator 180 includes a support member 181 installed on the table support 110a, and a laser generator 182 disposed to generate a line laser at the height of the radiation source 140 by the support member 181 . can do.

레이저 발생부(182)는 지지부재(181) 상에 고정되거나, 레이저 조사 범위를 수평 방향으로 확장하기 위하여 베어링 등에 의해 지지부재(181)에 회전 가능하게 결합될 수 있다. 또한, 레이저 지시기(180)는 레이저 발생부(182)의 높이 조절이 가능하게 제공될 수 있다.The laser generator 182 may be fixed on the support member 181 or may be rotatably coupled to the support member 181 by a bearing or the like to expand the laser irradiation range in the horizontal direction. In addition, the laser indicator 180 may be provided to enable the height adjustment of the laser generator 182 .

작업자는 레이저 지시기(180)로부터 발생되어 시편(10) 상에 표시되는 라인 레이저를 통해 방사선원(140)의 높이를 인식하고, 높이 조절부(170)에 의해 시편(10)의 용접선 높이가 방사선원(140)의 높이와 일치되도록 시편(10)의 높이를 조절할 수 있다.The operator recognizes the height of the radiation source 140 through the line laser generated from the laser indicator 180 and displayed on the specimen 10, and the height of the welding line of the specimen 10 is adjusted by the height adjustment unit 170 to the radiation source ( 140), it is possible to adjust the height of the specimen 10 to match the height.

시편 각도 조절부(190)는 시편 지지대(130) 마다 구비되고, 시편 지지대(130) 상의 시편(10)을 소정 간격으로 회전시킬 수 있다. 예를 들어, 시편(10)이 두 개의 파이프를 용접시킨 부재인 경우, 시편(10)의 둘레 전체를 따라 용접선이 형성된다.The specimen angle adjusting unit 190 is provided for each specimen support 130 , and may rotate the specimen 10 on the specimen support 130 at predetermined intervals. For example, when the specimen 10 is a member obtained by welding two pipes, a weld line is formed along the entire circumference of the specimen 10 .

시편(10)의 외둘레에 형성된 전체 용접선을 효율적으로 검사하기 위해, 시편 각도 조절부(190)는 시편(10)을 일정 각도(예를 들면, 120°) 마다 회전시키도록 구성될 수 있다.In order to efficiently inspect the entire weld line formed on the outer periphery of the specimen 10 , the specimen angle adjusting unit 190 may be configured to rotate the specimen 10 at a predetermined angle (eg, 120°).

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치를 구성하는 시편 각도 조절부의 단면도이다. 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치를 구성하는 회전 플레이트의 저면도이다. 도 6 및 도 7을 참조하면, 시편 각도 조절부(190)는 고정 플레이트(191), 복수개의 볼 플런저(192) 및 회전 플레이트(193)를 포함할 수 있다.6 is a cross-sectional view of a specimen angle adjusting unit constituting a radiation specimen inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. 7 is a bottom view of a rotating plate constituting an apparatus for inspecting a radiation specimen according to an embodiment of the present invention. 6 and 7 , the specimen angle adjusting unit 190 may include a fixing plate 191 , a plurality of ball plungers 192 , and a rotating plate 193 .

고정 플레이트(191)는 테이블(110) 상에 고정 설치된다. 복수개의 볼 플런저(192)는 고정 플레이트(191)의 상면에 둘레를 따라 소정 간격(예를 들면, 120°)으로 장착될 수 있다.The fixing plate 191 is fixedly installed on the table 110 . The plurality of ball plungers 192 may be mounted on the upper surface of the fixing plate 191 at predetermined intervals (eg, 120°) along the circumference.

회전 플레이트(193)는 베어링 등을 매개로 고정 플레이트(191)의 상부에 회전 가능하게 결합된다. 회전 플레이트(193)의 하면에는 복수개의 볼 플런저(192)에 각각 계합되는 복수개의 홈부(194)가 반구 형상으로 이루어져 볼 플런저(192)와 동일한 배열 간격으로 형성될 수 있다.The rotating plate 193 is rotatably coupled to the upper portion of the fixed plate 191 via a bearing or the like. On the lower surface of the rotation plate 193 , a plurality of grooves 194 engaged with the plurality of ball plungers 192 may be formed in a hemispherical shape, and may be formed at the same spacing as the ball plungers 192 .

도 6 및 도 7의 실시예에 의하면, 회전 플레이트(193)를 120° 간격으로 회전시킬 수 있으며, 시편(10)의 둘레 방향을 따라 3장의 방사선 영상을 연속적으로 촬영하여 시편(10)의 전체 용접선에 대해 방사선 검사를 수행할 수 있게 된다. 볼 플런저(192)의 개수, 배열 각도에 따라 시편(10)의 회전 각도는 다양하게 조절될 수 있다.6 and 7 , the rotation plate 193 can be rotated at 120° intervals, and three radiographic images are continuously taken along the circumferential direction of the specimen 10 to obtain the entire specimen 10 . It becomes possible to perform radiographic inspection of the weld seam. The rotation angle of the specimen 10 may be variously adjusted according to the number and arrangement angle of the ball plungers 192 .

이하에서, 도 1 내지 도 4를 참조하여, 상술한 바와 같은 본 발명의 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 동작에 대해 설명한다. 먼저, 작업자는 방사선 시편 검사 장치(100)를 방사선 촬영 작업 위치로 이동시킨 후, 각 필름 지지대(150)에 필름(20)을 고정시킨다.Hereinafter, an operation of the radiation specimen inspection apparatus according to the embodiment of the present invention as described above will be described with reference to FIGS. 1 to 4 . First, the operator moves the radiation specimen inspection apparatus 100 to a radiographic work position, and then fixes the film 20 to each film support 150 .

다음으로, 핸들(133)을 이용하여 각 시편 지지대(130)의 스토퍼(131)에 밀착되도록 시편(10)을 고정시키고, 레이저 지시기(180)와 높이 조절부(170)를 이용하여 시편(10)의 용접선(12) 높이가 방사선원(140)의 높이와 일치되도록 각 시편(10)의 높이를 조절한다.Next, the specimen 10 is fixed in close contact with the stopper 131 of each specimen support 130 using the handle 133 , and the specimen 10 is fixed using the laser indicator 180 and the height adjustment unit 170 . ) Adjust the height of each specimen 10 so that the height of the welding line 12 matches the height of the radiation source 140 .

이어서, 필름 밀착부(160)를 이용하여 각 필름(20)을 각 시편(10)의 후면에 밀착시킨 후, 방사선원(140)으로부터 방사선을 각 시편(10)에 조사하여, 복수개의 시편(10)에 대해 동시에 방사선 영상을 촬영한다. 이 과정에서, 시편 각도 조절부(190)에 의해 모든 시편(10)을 일정한 각도 만큼 회전시키면서 방사선 영상을 촬영할 수 있다.Then, each film 20 is adhered to the rear surface of each specimen 10 using the film adhesion unit 160 , and then radiation from the radiation source 140 is irradiated to each specimen 10 , and a plurality of specimens 10 ) at the same time to take radiographic images. In this process, a radiographic image may be taken while all the specimens 10 are rotated by a predetermined angle by the specimen angle adjusting unit 190 .

상술한 바와 같은 본 발명의 실시예에 의하면, 한번에 여러 장의 시편(10)을 동시에 검사할 수 있어, 방사선 검사 시간을 획기적으로 단축시킬 수 있다. 또한, 시편(10)의 용접선 위치를 방사선원(140)의 높이와 정확하게 일치시키고, 각 시편(10)과 방사선원(140) 간의 거리를 동일하게 설정한 상태에서 방사선 검사를 수행할 수 있다.According to the embodiment of the present invention as described above, it is possible to simultaneously inspect several sheets of the specimen 10 at once, thereby remarkably shortening the radiation inspection time. In addition, the radiation inspection may be performed in a state in which the position of the weld line of the specimen 10 is exactly matched with the height of the radiation source 140 , and the distance between each specimen 10 and the radiation source 140 is set to be the same.

또한, 시편(10)을 일정 각도 만큼 회전시키면서 방사선 검사를 수행하므로, 시편(10)의 용접선 중 일부에 대해 검사가 누락되는 것을 방지할 수 있으며, 일부 용접선에 대해 중복하여 검사가 수행되는 것 또한 방지하여 시편(10)의 전체 용접선을 효율적으로 검사할 수 있다.In addition, since the radiographic inspection is performed while rotating the specimen 10 by a certain angle, it is possible to prevent omission of inspection for some of the welding lines of the specimen 10, and overlapping inspection for some welding lines is also performed. By preventing it, it is possible to efficiently inspect the entire weld line of the specimen 10 .

도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 평면도이다. 도 9는 도 8에 도시된 방사선 시편 검사 장치의 측면도이다. 도 8 및 도 9의 실시예를 설명함에 있어서, 앞서 설명한 실시예와 동일하거나 상응하는 구성요소에 대한 중복설명은 생략하기로 한다.8 is a plan view of an apparatus for inspecting a radiation specimen according to another embodiment of the present invention. FIG. 9 is a side view of the apparatus for inspecting a radiation specimen shown in FIG. 8 . In the description of the embodiments of FIGS. 8 and 9 , redundant descriptions of the same or corresponding components as those of the above-described embodiments will be omitted.

도 8 및 도 9의 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치(100)는 테이블(110)이 반원 형태의 제1 테이블(112)과 제2 테이블(114)로 분리된 구조로 제공되고, 제1 테이블(112)과 제2 테이블(114)에 각각 이동휠(120)이 장착되고, 수직 지지대(142)는 경첩 등의 절첩부재(146)에 의해 제1 테이블(112)로 접을 수 있게 제공되는 점에서 앞서 설명한 실시예와 차이가 있다.The radiation specimen inspection apparatus 100 according to the embodiment of FIGS. 8 and 9 is provided in a structure in which the table 110 is divided into a first table 112 and a second table 114 in a semicircular shape, and the first table The moving wheel 120 is mounted on the 112 and the second table 114, respectively, and the vertical support 142 is provided to be foldable to the first table 112 by a folding member 146 such as a hinge. There is a difference from the embodiment described above.

도 8 및 도 9의 실시예에 의하면, 테이블(110)이 분리 구조로 제공되고, 수직 지지대(142) 또한 테이블 측으로 접을 수 있게 제공되므로, 방사선 시편 검사 장치(100)의 보관에 필요한 공간을 줄일 수 있다. 또한, 방사선 시편 검사 장치가 2개로 분할되므로, 작업자가 용이하게 방사선 시편 검사 장치를 이동시킬 수 있다.According to the embodiment of FIGS. 8 and 9 , the table 110 is provided in a separate structure, and the vertical support 142 is also provided to be foldable toward the table side, thereby reducing the space required for storage of the radiation specimen inspection apparatus 100 . can In addition, since the radiation specimen inspection apparatus is divided into two, the operator can easily move the radiation specimen inspection apparatus.

이상의 실시예들은 본 발명의 이해를 돕기 위하여 제시된 것으로, 본 발명의 범위를 제한하지 않으며, 이로부터 다양한 변형 가능한 실시예들도 본 발명의 범위에 속하는 것임을 이해하여야 한다. 본 발명의 기술적 보호범위는 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이며, 본 발명의 기술적 보호범위는 특허청구범위의 문언적 기재 그 자체로 한정되는 것이 아니라 실질적으로는 기술적 가치가 균등한 범주의 발명까지 미치는 것임을 이해하여야 한다.The above embodiments are presented to help the understanding of the present invention, and do not limit the scope of the present invention, and it should be understood that various modifications are also included in the scope of the present invention. The technical protection scope of the present invention should be determined by the technical idea of the claims, and the technical protection scope of the present invention is not limited to the literal description of the claims itself, but is substantially equivalent to the technical value. It should be understood that it extends to the invention of

10: 시편 12: 용접선
20: 방사선 검사용 필름 100: 방사선 시편 검사 장치
110: 테이블 110a: 테이블 지지대
112: 제1 테이블 114: 제2 테이블
120: 이동휠 130: 시편 지지대
131: 스토퍼 132: 밀착부재
133: 핸들 134: 스크류축
135: 고정부재 140: 방사선원
141: 피드라인 142: 수직 지지대
144: 지지판 146: 절첩부재
150: 필름 지지대 160: 필름 밀착부
161: 지지프레임 162: 작동축
163: 작동핸들 164: 가이드바
170: 높이 조절부 171: 승강 작동부
172: 핸들부 173: 높이 조절대
180: 레이저 지시기 190: 시편 각도 조절부
191: 고정 플레이트 192: 볼 플런저
193: 회전 플레이트 194: 홈부10: Specimen 12: Welding line
20: radiation inspection film 100: radiation specimen inspection device
110: table 110a: table support
112: first table 114: second table
120: moving wheel 130: specimen support
131: stopper 132: adhesion member
133: handle 134: screw shaft
135: fixing member 140: radiation source
141: feedline 142: vertical support
144: support plate 146: folding member
150: film support 160: film adhesion part
161: support frame 162: operating shaft
163: operating handle 164: guide bar
170: height adjustment unit 171: lifting operation unit
172: handle portion 173: height adjustment bar
180: laser indicator 190: specimen angle adjustment unit
191: fixing plate 192: ball plunger
193: rotation plate 194: groove portion

Claims

round table;
a plurality of specimen supports arranged along the circumference of the table;
a radiation source disposed in the center of the table and irradiating radiation to a plurality of specimens supported by the plurality of specimen supports;
a film support installed on the table, disposed behind the plurality of specimens with respect to the radiation source, and supporting a film for radiation inspection;
a plurality of height adjustment units installed on the table and configured to adjust the height of each of the plurality of specimen supports;
a laser indicator for irradiating a laser indicating a radiation position of the radiation source on the specimen; and
and a specimen angle adjusting unit installed on the table and rotating the specimen on the specimen support at a predetermined interval;
The laser indicator,
a support member installed on the table support; and
and a laser generator disposed to generate a line laser at a height of the radiation source by the support member.

delete

According to claim 1,
The specimen angle adjustment unit,
a fixing plate fixed on the table;
a plurality of ball plungers mounted at the predetermined intervals along the periphery of the upper surface of the fixing plate; and
and a rotation plate rotatably coupled to an upper portion of the fixed plate and having a plurality of grooves engaged with the plurality of ball plungers on a lower surface thereof at the predetermined intervals.

According to claim 1,
The table is provided in a structure separated into a first table and a second table in the form of a semicircle,
Radiation specimen inspection apparatus further comprising; a moving wheel coupled to move the first table and the second table.

6. The method of claim 5,
It is installed vertically on the table support for supporting the table, the vertical support for supporting the radiation source; further comprising,
The vertical support is provided to be foldable on any one of the first table and the second table radiation specimen inspection apparatus.

According to claim 1,
and a film adhesion part installed on the table and moving the film supporter toward the specimen so that the radiation inspection film is closely adhered to the rear surface of the specimen.

According to claim 1,
The specimen support includes a stopper for limiting the position of the specimen, and a fixing vise for pressing the back surface of the specimen to bring the specimen into close contact with the stopper.