KR102250828B1 - Photosensitive laminate, preparation method of photosensitive laminate, and preparation method of circuit board - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 감광성 적층체, 감광성 적층체 제조 방법, 및 회로 기판 제조방법에 관한 것이다. The present invention relates to a photosensitive laminate, a method for producing a photosensitive laminate, and a method for producing a circuit board.
감광성 수지 조성물은 인쇄회로기판(Printed Circuit Board; PCB)이나 리드 프레임(Lead Frame)에 사용되고 있는 드라이 필름 포토레지스트(Dry Film Photoresist, DFR), 액상 포토 레지스트(Liquid Photoresist Ink) 등의 형태로 사용되고 있다.The photosensitive resin composition is used in the form of dry film photoresist (DFR), liquid photoresist ink, etc., which are used for printed circuit boards (PCBs) or lead frames. .
최근 반도체 소자의 경박단소화 경향이다 다단 패키징에 따라서 회로 기판의 고밀도화가 요구되고 있으며, 초고압 수은 등이나 레이저 다이렉트(Laser Direct) 노광 등이 적용되는 공정이나 지지 필름과 감광성 수지층을 포함한 감광성 적층체를 이용한 회로 기판의 제조 공정 등도 널리 사용되고 있다. In recent years, semiconductor devices tend to be light, thin, and short. According to multi-stage packaging, high-density of circuit boards is required, a process in which ultra-high pressure mercury or laser direct exposure is applied, or a photosensitive laminate including a support film and a photosensitive resin layer. The manufacturing process of a circuit board using the method is also widely used.
이에 따라, 보다 높은 신뢰성을 확보하면서도 높은 밀도 및 감도를 구현하고 보다 미세한 배선의 형성을 가능하게 하는 방법 및 공정의 개발에 대한 요구가 계속 이어지고 있다. Accordingly, there continues to be a demand for the development of a method and a process that realizes high density and sensitivity while securing higher reliability and enables the formation of finer wiring.
본 발명은 미세한 배선의 형성에서 결손을 저감할 수 있으며, 현상시 높은 신뢰성을 확보하여 고밀도의 회로 형성이 가능한 감광성 적층체를 제공하기 위한 것이다. An object of the present invention is to provide a photosensitive laminate capable of forming a high-density circuit by reducing defects in the formation of fine wiring and securing high reliability during development.
또한 본 발명은, 상기 감광성 적층체의 제조 방법을 제공하기 위한 것이다. Further, the present invention is to provide a method for producing the photosensitive laminate.
또한 본 발명은, 상기 감광성 적층체를 이용하는 회로 기판의 제조 방법에 관한 것이다. Further, the present invention relates to a method of manufacturing a circuit board using the photosensitive laminate.
본 명세서에서는, 지지 기재; 및 상기 지재 기재 상에 형성된 감광성 수지층을 포함하고, 상기 감광성 수지층 내에 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 5개/mm2 이하로 존재하는, 감광성 적층체가 제공될 수 있다. In this specification, the supporting substrate; And a photosensitive resin layer formed on the paper substrate, wherein 5 cells/mm 2 or less of bubbles having a diameter of 1 μm or less are present in the photosensitive resin layer.
또한, 본 명세서에서는, 상기 감광성 적층체를 이용하는, 회로 기판의 제조 방법이 제공될 수 있다. In addition, in the present specification, a method of manufacturing a circuit board using the photosensitive laminate may be provided.
또한, 본 명세서에서는, 상기 감광성 적층체의 제조 방법이 제공될 수 있다. In addition, in the present specification, a method of manufacturing the photosensitive laminate may be provided.
이하 발명의 구체적인 구현예의 따른 감광성 적층체, 감광성 적층체 제조 방법, 및 회로 기판 제조방법에 관하여 보다 상세하게 설명하기로 한다. Hereinafter, a photosensitive laminate, a method for manufacturing a photosensitive laminate, and a method for manufacturing a circuit board according to specific embodiments of the present invention will be described in more detail.
본 명세서에서, 본 명세서에서, 중량 평균 분자량은 GPC법에 의해 측정한 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량을 의미한다. 상기 GPC법에 의해 측정한 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량을 측정하는 과정에서는, 통상적으로 알려진 분석 장치와 시차 굴절 검출기(Refractive Index Detector) 등의 검출기 및 분석용 컬럼을 사용할 수 있으며, 통상적으로 적용되는 온도 조건, 용매, flow rate를 적용할 수 있다. In this specification, in this specification, the weight average molecular weight means the weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by the GPC method. In the process of measuring the weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by the GPC method, a commonly known analysis device, a detector such as a Refractive Index Detector, and a column for analysis may be used. Conditions, solvents, and flow rates can be applied.
상기 측정 조건의 구체적인 예로, 알칼리 현상성 바인더 수지는 1.0 (w/w)% in THF (고형분 기준 약 0.5 (w/w)%)의 농도가 되도록 테트라히드로푸란에 용해시켜 0.45㎛ Pore Size의 Syringe Filter를 이용하여 여과 후 GPC에 20㎕를 주입하고, GPC의 이동상은 테트라히드로푸란(Tetrahydrofuran, THF)을 사용하고, 1.0mL/분의 유속으로 유입하였으며, 컬럼은 Agilent PLgel 5㎛ Guard (7.5 x 50 mm) 1개와 Agilent PLgel 5㎛ Mixed D (7.5 x 300 mm) 2개를 직렬로 연결하고, 검출기로는 Agilent 1260 Infinity Ⅱ System, RI Detector를 이용하여 40℃에서 측정하였다.As a specific example of the measurement conditions, the alkali developable binder resin is dissolved in tetrahydrofuran to a concentration of 1.0 (w/w)% in THF (about 0.5 (w/w)% based on solid content), and a 0.45 μm pore size syringe After filtration using a filter, 20 µl was injected into GPC, and tetrahydrofuran (THF) was used as the mobile phase of the GPC, and flow rate was 1.0 mL/min, and the column was Agilent PLgel 5µm Guard (7.5 x 50 mm) and two Agilent PLgel 5㎛ Mixed D (7.5 x 300 mm) were connected in series and measured at 40℃ using an Agilent 1260 Infinity II System and RI Detector as a detector.
이를, 테트라히드로푸란에 0.1 (w/w)% 농도로 아래와 같이 다양한 분자량을 갖는 폴리스티렌을 용해시킨 폴리스티렌 표준품 시료(STD A, B, C, D)를 0.45㎛ Pore Size의 Syringe Filter로 여과 후 GPC에 주입하여 형성된 검정 곡선을 이용하여 알칼리 현상성 바인더 수지의 중량평균분자량(Mw)의 값을 구하였다. The polystyrene standard sample (STD A, B, C, D) in which polystyrene having various molecular weights is dissolved in tetrahydrofuran at a concentration of 0.1 (w/w)% as follows is filtered through a 0.45 μm pore size syringe filter and then GPC The value of the weight average molecular weight (Mw) of the alkali developable binder resin was calculated using the calibration curve formed by injecting into.
STD A (Mp) : 791,000 / 27,810 / 945STD A (Mp): 791,000 / 27,810 / 945
STD B (Mp) : 282,000 / 10,700 / 580STD B (Mp): 282,000 / 10,700 / 580
STD C (Mp) : 126,000 / 4,430 / 370STD C (Mp): 126,000 / 4,430 / 370
STD D (Mp) : 51,200 / 1,920 / 162STD D (Mp): 51,200 / 1,920 / 162
본 명세서에서, "(광)경화물" 또는 "(광)경화"되었다 함은, 화학 구조 중에 경화 또는 가교 가능한 불포화기를 갖는 구성 성분이 전부 경화, 가교 또는 중합된 경우뿐만 아니라, 이의 일부가 경화, 가교 또는 중합된 경우까지 포괄할 수 있다.In the present specification, “(photo) cured product” or “(photo) cured” means not only when all constituents having a curable or crosslinkable unsaturated group in the chemical structure are cured, crosslinked or polymerized, but also partially cured. , Crosslinked or polymerized.
발명의 일 구현예에 따르면, 지지 기재; 및 상기 지재 기재 상에 형성된 감광성 수지층을 포함하고, 상기 감광성 수지층 내에 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 5개/mm2 이하로 존재하는, 감광성 적층체가 제공될 수 있다. According to one embodiment of the invention, the support substrate; And a photosensitive resin layer formed on the paper substrate, wherein 5 cells/mm 2 or less of bubbles having a diameter of 1 μm or less are present in the photosensitive resin layer.
또한, 발명의 일 구현예에 따르면, 지지 기재; 및 상기 지재 기재 상에 형성된 감광성 수지층;을 포함하고, 상기 지지 기재과 상기 감광성 수지층 간의 계면의 반대면으로부터 상기 감광성 수지층의 전체 두께의 50% 이내에, 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 3개/mm2 이하로 존재하고, 상기 감광성 수지층은 1㎛ 초과 5 ㎛이하의 직경을 갖는 기포를 포함하지 않으며, 상기 감광성 수지층은 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지와 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물 간의 가교 공중합체를 포함하는, 감광성 적층체도 제공될 수 있다. In addition, according to one embodiment of the invention, the support substrate; And a photosensitive resin layer formed on the support base material, wherein 3 bubbles having a diameter of 1 μm or less within 50% of the total thickness of the photosensitive resin layer from the opposite surface of the interface between the support base material and the photosensitive resin layer. pieces / mm 2 present at up to, and the photosensitive resin layer does not contain any air bubbles with a diameter of less than 5 1㎛ ㎛, the photosensitive resin layer is an alkali developability, a binder resin and a (meth) acrylate monomer containing the carboxyl group Alternatively, a photosensitive laminate including a crosslinked copolymer between photopolymerizable compounds including oligomers may be provided.
본 발명자들은, 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 5개/mm2 이하로 존재하는 감광성 수지층을 포함한 감광성 적층체를 새로이 개발하였고, 이러한 감광성 적층체를 이용하면 회로 기판의 제조 과정에서 노광에 대한 높은 감도를 구현할 수 있으며, 현상시 신뢰성이 높아져서, 높은 신뢰성을 확보하면서도 높은 밀도 및 감도를 구현하고 보다 미세한 배선의 형성을 가능하는 점을 실험을 통하여 확인하고 발명을 완성하였다. The present inventors have newly developed a photosensitive laminate including a photosensitive resin layer in which 5 cells/mm 2 or less of bubbles having a diameter of 1 μm or less exist, and using such a photosensitive laminate allows exposure to light in the manufacturing process of a circuit board. It has been confirmed through experiments that it is possible to achieve high sensitivity for the product, and the reliability is increased during development, thereby realizing high density and sensitivity while securing high reliability, and enabling the formation of finer wiring.
본 발명자들은, 제조 공정에서 다양한 이유로 발생할 수 있는 미세 기포 또는 미세 부산물의 흔적 등을 제거하기 위한 연구 개발을 계속 진행하였으며, 후술하는 감광성 적층체의 제조 방법에서 상술하는 바와 같이 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매 및 100℃이하의 비점을 갖는 저비점 용매를 포함한 혼합 용매를 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지 및 광개시제를 함께 포함하는 수지 조성물을 이용하여, 상기 감광성 수지층 내에 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 5개/mm2 이하, 또는 3개/mm2 이하로 존재할 수 있도록 하였다. The present inventors have continued research and development to remove traces of fine bubbles or fine by-products that may occur for various reasons in the manufacturing process, and have a boiling point of 115° C. or higher as described above in the method of manufacturing a photosensitive laminate to be described later. Using a resin composition including a high boiling point solvent and a low boiling point solvent having a boiling point of 100° C. or less and an alkali developable binder resin including a carboxyl group and a photoinitiator together, the photosensitive resin layer has a diameter of 1 μm or less. Air bubbles were made to be present in 5 / mm 2 or less, or 3 / mm 2 or less.
또한, 상기 감광성 적층체의 제조 방법에서, 상기 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매 및 100℃이하의 비점을 갖는 저비점 용매를 포함한 혼합 용매를 사용하는 것 이외로도, 건조 속도 및/또는 건조 온도의 조정을 통하여 상기 감광성 수지층 내에 형성되는 미세 기포의 양을 크게 줄이거나 실질적으로 존재하지 않게 할 수 있다.In addition, in the method of manufacturing the photosensitive laminate, in addition to using a mixed solvent including a high boiling point solvent having a boiling point of 115°C or higher and a low boiling point solvent having a boiling point of 100°C or lower, drying speed and/or drying temperature Through the adjustment of, the amount of fine bubbles formed in the photosensitive resin layer may be greatly reduced or may not be substantially present.
한편, 상기 감광성 수지층 내에 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 5개/mm2 이하, 또는 3개/mm2 이하로 존재할 수 있는데, 특히 상기 지지 기재과 상기 감광성 수지층 간의 계면의 반대면, 또는 감광성 수지층이 외부면 쪽으로 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 미량으로 존재하거나 실질적으로 존재하지 않을 수 있으며, 보다 구체적으로 상기 지지 기재과 상기 감광성 수지층 간의 계면의 반대면으로부터 상기 감광성 수지층의 전체 두께의 50% 이내에, 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 3개/mm2 이하로 존재할 수 있다. Meanwhile, bubbles having a diameter of 1 μm or less may be present in the photosensitive resin layer in 5 / mm 2 or less, or 3 / mm 2 or less, in particular, the opposite side of the interface between the supporting substrate and the photosensitive resin layer, or The photosensitive resin layer may have a small amount or substantially no air bubbles having a diameter of 1 μm or less toward the outer surface, and more specifically, the entire photosensitive resin layer from the opposite surface of the interface between the supporting substrate and the photosensitive resin layer. Within 50% of the thickness, bubbles having a diameter of 1 μm or less may be present at 3/mm 2 or less.
상기 지지 기재과 상기 감광성 수지층 간의 계면의 반대면, 또는 감광성 수지층이 외부면 쪽으로 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 미량으로 존재하거나 실질적으로 존재하지 않음에 따라서, 현상시 신뢰성이 높아져서 고밀도의 회로 형성이 가능 하고 미세한 배선의 형성에서 결손을 저감 할 수 있으며, 이에 따라 상기 감광성 적층체를 이용하는 경우 노광에 대한 높은 감도를 구현할 수 있으며, 고밀도의 인쇄회로기판의 제조 수율을 향상 할 수 있다. As the opposite surface of the interface between the supporting substrate and the photosensitive resin layer, or the photosensitive resin layer toward the outer surface thereof, bubbles having a diameter of 1 μm or less are present in a trace amount or are substantially absent, High reliability during development makes it possible to form high-density circuits and reduce defects in the formation of fine wiring. Accordingly, when the photosensitive laminate is used, high sensitivity to exposure can be realized, and high-density printed circuit boards are manufactured. The yield can be improved.
또한, 상기 감광성 적층체는 상술한 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포를 극미량 포함하거나 실질적으로 포함하지 않을 뿐만 아니라, 1㎛ 초과 5 ㎛이하의 직경을 갖는 기포를 포함하지 않을 수 있다. In addition, the photosensitive laminate may not include a very small amount or substantially not include bubbles having a diameter of 1 μm or less, and may not include bubbles having a diameter of more than 1 μm and 5 μm or less.
이와 같이, 상기 감광성 수지층 내에 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 미량으로 존재하는 상기 감광성 적층체를 이용하여 회로 기판 제조시 높은 신뢰성을 확보하면서도 높은 밀도 및 감도를 구현하고 보다 미세한 배선의 형성을 할 수 있다.In this way, by using the photosensitive laminate in which bubbles having a diameter of 1 μm or less exist in a trace amount in the photosensitive resin layer, high density and sensitivity are achieved while securing high reliability when manufacturing a circuit board, and formation of finer wiring is possible. can do.
보다 구체적으로, 상기 감광성 수지층을 자외선으로 노광하고 알카리 용액으로 현상하여도 전체 영역에 걸쳐 결함 (Defect)가 발생하지 않거나 발생하여 극미량 발생할 수 있으며, 특히 감광성 수지층의 상면에는 결함 (Defect)이 실질적으로 존재하지 않고 현상 이후 감광성 수지층의 하면이나 내측에 미세 크기의 결함 (Defect)이 극미량 존재할 수 있다. More specifically, even if the photosensitive resin layer is exposed to ultraviolet rays and developed with an alkali solution, defects may not occur or occur in a very small amount over the entire area, and in particular, defects may occur on the upper surface of the photosensitive resin layer. It does not exist substantially, and microscopic defects may exist on the lower surface or the inner side of the photosensitive resin layer after development.
구체적으로, 상기 감광성 수지층을 자외선으로 노광하고 알카리 용액으로 현상한 이후에 0.3㎛ 내지 4㎛, 또는 0.5㎛ 이상 3㎛ 이하의 단면 직경을 갖는 결함 (Defect)이 3개/mm2 이하, 또는 1개/mm2 이하로 관찰될 수 있으며, 실질적으로 존재하지 않을 수도 있다. 상기 결함의 단면 직경은 상기 감광성 수지층 상의 일방향으로의 단면에서 정의되는 상기 결합의 직경 중 가장 큰 직경으로 정의할 수 있다. Specifically, after exposing the photosensitive resin layer to ultraviolet rays and developing with an alkali solution, defects having a cross-sectional diameter of 0.3 μm to 4 μm, or 0.5 μm or more and 3 μm or less are 3/mm 2 or less, or It may be observed to be less than 1/mm 2, and may not be substantially present. The cross-sectional diameter of the defect may be defined as the largest diameter among the diameters of the bonding defined in the cross-section in one direction on the photosensitive resin layer.
상기 노광 및 현상의 조건이 크게 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 상기 노광은 상기 감광성 적층체에 대하여 조사하는 광선의 파장이 340nm 내지 420nm의 범위에서 Stouffer Graphic Arts Equipment 사의 41단 스텝 tablet을 사용하여 측정한 잔존 스텝 단수가 15 단으로 되는 에너지량으로 1분 내지 60분 진행할 수 있다. 또한, 상기 현상은 0.1 내지 3.0wt%의 농도를 갖는 Na2CO3 등의 알카리 수용액으로 스프레이 분사방식 등의 방법을 통하여 수행할 수 있다. The exposure and development conditions are not largely limited. For example, the exposure is an energy amount of 15 remaining steps measured using a 41 step step tablet manufactured by Stouffer Graphic Arts Equipment in the range of 340 nm to 420 nm in the wavelength of the light irradiated to the photosensitive laminate. It can proceed from 1 minute to 60 minutes. In addition, the above phenomenon may be performed through a method such as a spray spray method with an alkaline aqueous solution such as Na 2 CO 3 having a concentration of 0.1 to 3.0 wt %.
또한, 상기 감광성 적층체를 이용하면 보다 낮은 에너지를 사용하면서도 보다 높은 밀도 및 감도를 구현할 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 감광성 적층체에 대하여 조사하는 광선의 파장이 340nm 내지 420nm의 범위에서 Stouffer Graphic Arts Equipment 사의 41단 스텝 tablet을 사용하여 측정한 잔존 스텝 단수가 15 단으로 되는 에너지량이 300 mJ/㎠ 이하, 또는 100 mJ/㎠ 이하일 수 있으며, 현상 후 해상도가 15㎛이하, 또는 10㎛이하로 구현 될 수 있다. In addition, when the photosensitive laminate is used, a higher density and sensitivity can be realized while using lower energy. More specifically, when the wavelength of the light irradiated to the photosensitive laminate is in the range of 340 nm to 420 nm, the amount of energy that the remaining step number is 15 steps measured using a 41 step step tablet manufactured by Stouffer Graphic Arts Equipment is 300 mJ/cm 2 It may be less than or equal to 100 mJ/cm 2, and the resolution after development may be less than or equal to 15 μm or less than or equal to 10 μm.
상기 감광성 적층체에서 상기 지지 기재 및 상기 감광성 수지층의 두께는 크게 한정되지 않지만, 구체적인 예로 상기 지지 기재의 두께는 1 ㎛ 내지 100㎛, 또는 5 ㎛ 내지 50㎛일 수 있고, 상기 감광성 수지층의 두께는 1 ㎛ 내지 100㎛, 또는 5 ㎛ 내지 50㎛일 수 있다. The thickness of the supporting substrate and the photosensitive resin layer in the photosensitive laminate is not limited, but a specific example may have a thickness of 1 µm to 100 µm, or 5 µm to 50 µm. The thickness may be 1 μm to 100 μm, or 5 μm to 50 μm.
한편, 상기 감광성 적층체의 특징이나 상기 감광성 수지층 내에 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 5개/mm2 이하로 존재하는 구성 상의 특징은 상술한 제조 방법에 기인할 것일 수 있으며, 상기 감광성 수지층의 특징에 따른 것일 수도 있다. On the other hand, the characteristics of the photosensitive layered product or the constitutional feature in which 5 bubbles/mm 2 or less having a diameter of 1 μm or less exist in the photosensitive resin layer may be due to the above-described manufacturing method, and the photosensitive resin layer It may be due to the characteristics of the stratum.
구체적으로, 상기 감광성 수지층은 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지를 포함할 수 있다. 상기 알카리 현상성 바인더는 분자 내에 카르복실기를 적어도 1개 이상 포함하여 현상 과정에서 알카리와 반응할 수 있다. Specifically, the photosensitive resin layer may include an alkali developable binder resin including a carboxyl group. The alkali developable binder may include at least one carboxyl group in a molecule and react with alkali during development.
상기 알카리 현상성 바인더의 구체적인 예가 한정되는 것은 아니지만, 하기 화학식 3으로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 4로 표시되는 반복단위, 하기 화학식 5로 표시되는 반복단위, 및 하기 화학식 6로 표시되는 반복단위로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 반복 단위를 포함한 중합체이거나 공중합체일 수 있다. Although a specific example of the alkali developable binder is not limited, a repeating unit represented by the following formula (3), a repeating unit represented by the following formula (4), a repeating unit represented by the following formula (5), and a repeating unit represented by the following formula (6) It may be a polymer or a copolymer including one or more repeating units selected from the group consisting of.
[화학식 4][Formula 4]
상기 화학식 4에서, R3는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,In Formula 4, R 3 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
[화학식 5][Formula 5]
상기 화학식 5에서, R4는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고,In Formula 5, R 4 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R 5 is alkyl having 1 to 10 carbon atoms,
[화학식 6][Formula 6]
상기 화학식 6에서, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다.In Formula 6, Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms.
상기 화학식4 내지 6에서, R3 및 R4는 서로 동일하거나 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다.In Formulas 4 to 6, R 3 and R 4 are the same as or different from each other, and each independently hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, R 5 is alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and Ar is 6 to 20 carbon atoms Is aryl of.
상기 화학식2 내지 4에서, R3 및 R4는 서로 동일하거나 상이하며, 각각 독립적으로 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬 중 어느 하나일 수 있으며, 상기 탄소수 1 내지 10의 알킬의 구체적인 예로는 메틸을 들 수 있다.In Formulas 2 to 4, R 3 and R 4 are the same as or different from each other, and each independently hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and specific examples of the alkyl having 1 to 10 carbon atoms are methyl Can be mentioned.
R5는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, 상기 탄소수 1 내지 10의 알킬의 구체적인 예로는 메틸을 들 수 있다.R 5 is alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and specific examples of the alkyl having 1 to 10 carbon atoms include methyl.
Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이고, 상기 탄소수 6 내지 20의 아릴의 구체적인 예로는 페닐을 들 수 있다.Ar is a C6-C20 aryl, and a specific example of the C6-C20 aryl includes phenyl.
상기 화학식4로 표시되는 반복단위는 하기 화학식4-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 4 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 4-1 below.
[화학식4-1][Chemical Formula 4-1]
상기 화학식4-1에서, R3은 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이다. 상기 화학식4-1에서, R3 에 관한 내용은 상기 화학식4에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식4-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 아크릴산(Acrylic acid, AA), 메타크릴산(Methacrylic acid, MAA)을 들 수 있다.In Formula 4-1, R 3 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms. In Chemical Formula 4-1, R 3 is the same as described above in Chemical Formula 4. Specific examples of the monomer represented by Formula 4-1 include acrylic acid (AA) and methacrylic acid (MAA).
상기 화학식5로 표시되는 반복단위는 하기 화학식5-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 5 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 5-1 below.
[화학식5-1][Chemical Formula 5-1]
상기 화학식5-1에서, R4는 수소, 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬이고, R5는 탄소수 1 내지 10의 알킬이다. 상기 화학식3-1에서, R4 및 R5에 관한 내용은 상기 화학식3에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식3-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 메틸메타크릴레이트(Methylmethacrylate, MMA), 부틸아크릴레이트(Butyl acrylate, BA)를 들 수 있다.In Formula 5-1, R 4 is hydrogen or alkyl having 1 to 10 carbon atoms, and R 5 is alkyl having 1 to 10 carbon atoms. In Chemical Formula 3-1, the contents of R 4 and R 5 are the same as those described in Chemical Formula 3. Specific examples of the monomer represented by Chemical Formula 3-1 include methylmethacrylate (MMA) and butyl acrylate (BA).
상기 화학식 6으로 표시되는 반복단위는 하기 화학식6-1로 표시되는 단량체로부터 유래된 반복단위일 수 있다.The repeating unit represented by Formula 6 may be a repeating unit derived from a monomer represented by Formula 6-1 below.
[화학식6-1][Chemical Formula 6-1]
상기 화학식6-1에서, Ar은 탄소수 6 내지 20의 아릴이다. 상기 화학식6-1에서, Ar에 관한 내용은 상기 화학식4에서 상술한 내용과 같다. 상기 화학식6-1로 표시되는 단량체의 구체적인 예로, 스티렌(Styrene, SM)을 들 수 있다.In Formula 6-1, Ar is an aryl having 6 to 20 carbon atoms. In Chemical Formula 6-1, the contents of Ar are the same as those described in Chemical Formula 4. A specific example of the monomer represented by Formula 6-1 may include styrene (SM).
한편, 상기 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지는 상기 감광성 수지층의 기재 역할을 할 수 있으며, 이에 따라 최소한의 분자량을 가져야 하며, 예를 들어 20,000 g/mol 내지 300,000 g/mol, 또는 30,000 g/mol 내지 150,000 g/mol 의 중량평균분자량을 가질 수 있다. On the other hand, the alkali developable binder resin including the carboxyl group may serve as a base material for the photosensitive resin layer, and thus must have a minimum molecular weight, for example, 20,000 g/mol to 300,000 g/mol, or 30,000 g/ mol to 150,000 g/mol may have a weight average molecular weight.
또한, 상기 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지는 일정 수준 이상의 내열성을 가져야 하는데, 이에 따라 20 ℃ 이상 150 ℃ 이하의 유리전이온도를 가질 수 있다. In addition, the alkali developable binder resin including the carboxyl group must have heat resistance of a certain level or higher, and thus may have a glass transition temperature of 20° C. or more and 150° C. or less.
또한, 상기 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지는 상기 감광성 수지층의 현상성 등을 고려하여, 100 mgKOH/g 이상 300 mgKOH/g 의 산가를 가질 수 있다. In addition, the alkali developable binder resin including a carboxyl group may have an acid value of 100 mgKOH/g or more and 300 mgKOH/g in consideration of developability of the photosensitive resin layer.
한편, 상기 감광성 수지층은 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지와 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물 간의 가교 공중합체를 포함할 수도 있다. Meanwhile, the photosensitive resin layer may include a crosslinked copolymer between an alkali developable binder resin containing a carboxyl group and a photopolymerizable compound containing a (meth)acrylate monomer or oligomer.
상기 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물은 상기 감광성 수지층의 기계적 강도 등을 높여주는 가교제 역할이나 현상액에 대한 내성을 높여주고 경화막의 유연성을 부여하는 역할을 할 수 있다. The photopolymerizable compound including the (meth)acrylate monomer or oligomer may serve as a crosslinking agent to increase the mechanical strength of the photosensitive resin layer, or to increase resistance to a developer and provide flexibility of the cured film.
상기 감광성 수지층의 구체적인 용도나 특성에 따라서, 상기 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물의 함량을 조절할 수 있으며, 예를 들어 상기 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지 100중량부 대비 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물 1 내지 80중량부를 포함할 수 있다. 즉, 상기 감광성 수지층은 상기 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지 100중량부와 상기 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물 1 내지 80중량부 간의 가교 공중합체를 포함할 수 있다. According to the specific use or characteristics of the photosensitive resin layer, the content of the photopolymerizable compound including the (meth)acrylate monomer or oligomer may be adjusted, for example, compared to 100 parts by weight of the alkali developable binder resin including the carboxyl group. It may contain 1 to 80 parts by weight of a photopolymerizable compound including a (meth)acrylate monomer or oligomer. That is, the photosensitive resin layer may include a crosslinked copolymer between 100 parts by weight of the alkali developable binder resin including the carboxyl group and 1 to 80 parts by weight of the photopolymerizable compound including the (meth)acrylate monomer or oligomer.
상기 광중합성 화합물은 단관능 또는 다관능의 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머일 수 있다. The photopolymerizable compound may be a monofunctional or polyfunctional (meth)acrylate monomer or oligomer.
상기 광중합성 화합물은 통상적으로 알려진 단관능 또는 다관능의 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 사용할 수 있으나, 상술한 특성을 만족하기 위하여 상기 단관능 또는 다관능의 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머로 방향족 작용기를 분자 내부에 포함하는 2 내지 10관능의 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 사용할 수 있다. The photopolymerizable compound may be a commonly known monofunctional or polyfunctional (meth)acrylate monomer or oligomer, but in order to satisfy the above-described characteristics, the monofunctional or polyfunctional (meth)acrylate monomer or oligomer may be used. It is possible to use a 2 to 10 functional (meth)acrylate monomer or oligomer containing an aromatic functional group in the molecule.
구체적으로, 상기 광중합성 화합물은 하기 화학식 1로 표시되는 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 들 수 있다. Specifically, the photopolymerizable compound may include a difunctional (meth)acrylate compound represented by the following formula (1).
[화학식1][Formula 1]
상기 화학식 1에서, R1 및 R2는 서로 같거나 다르며, H 또는 CH3이고, j 및 k는 각각 1 내지 20의 정수이다. In Formula 1, R 1 and R 2 are the same as or different from each other, H or CH 3 , and j and k are each an integer of 1 to 20.
보다 구체적으로, 상기 화학식 1의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 하기 화학식11의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물 및 하기 화학식12의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함할 수 있다. More specifically, the difunctional (meth)acrylate compound of Formula 1 may include a difunctional (meth)acrylate compound of Formula 11 below and a difunctional (meth)acrylate compound of Formula 12 below.
[화학식 11][Formula 11]
상기 화학식 11에서, R11 및 R12는 서로 같거나 다르며, H 또는 CH3이고, J1 및 K1는 각각 1 내지 8의 정수이다. In Formula 11, R 11 and R 12 are the same as or different from each other, H or CH 3 , and J1 and K1 are each an integer of 1 to 8.
[화학식 12][Formula 12]
상기 화학식 12에서, R21 및 R22는 서로 같거나 다르며, H 또는 CH3이고, J2 및 K2는 각각 10 내지 20의 정수이다. In Formula 12, R 21 and R 22 are the same as or different from each other, H or CH 3 , and J2 and K2 are each an integer of 10 to 20.
보다 구체적으로, 상기 화학식 1의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 상기 화학식11의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물 : 화학식12의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 1:1 내지 1:30의 중량비로 포함할 수 있다. More specifically, the difunctional (meth)acrylate compound of Formula 1 is the difunctional (meth)acrylate compound of Formula 11: The difunctional (meth)acrylate compound of Formula 12 is 1:1 to 1:30. It can be included in a weight ratio.
상기 화학식11의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물에 비하여 상기 화학식12의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 동등 중량이나 그 이상의 중량으로 사용함에 따라서, 기판에 대한 밀착력을 높이고 현상액에 대한 내성이 개선되어 우수한 세선 밀착력 및 해상도를 확보할 수 있다. Compared to the difunctional (meth)acrylate compound of Chemical Formula 11, the difunctional (meth)acrylate compound of Chemical Formula 12 is used in an equivalent weight or more than that of the difunctional (meth)acrylate compound, thereby increasing the adhesion to the substrate and improving the resistance to the developer. As a result, excellent fine wire adhesion and resolution can be secured.
한편, 상기 광중합성 화합물은 상기 화학식 1의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물 이외로도 단관능 또는 다관능의 (메트)아크릴레이트 화합물을 더 포함할 수 있다. 이때, 사용 가능한 단관능 또는 다관능의 (메트)아크릴레이트 화합물은 상기 화학식 1의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물에 포함되는 화합물을 제외한다. Meanwhile, the photopolymerizable compound may further include a monofunctional or polyfunctional (meth)acrylate compound in addition to the difunctional (meth)acrylate compound of Formula 1 above. In this case, the monofunctional or polyfunctional (meth)acrylate compound that can be used excludes the compound contained in the difunctional (meth)acrylate compound of Formula 1 above.
추가적으로 사용 가능한 광중합성 화합물의 예가 크게 한정되는 것은 아니지만, 에틸렌글리콜디메타크릴레이트(ethylene glycol dimethacrylate), 디에틸렌글리콜디메타크릴레이트(diethylene glycol dimethacrylate), 테트라에틸렌글리콜디메타크릴레이트(tetraethylene glycol dimethacrylate), 프로필렌글리콜디메타크릴레이트(propylene glycol dimethacrylate), 폴리에틸렌글리콜 디메타크릴레이트, 폴리프로필렌글리콜 디메타크릴레이트(polypropylene glycol dimethacrylate), 부틸렌글리콜디메타크릴레이트(butylene glycol dimethacrylate), 네오펜틸글리콜디메타크릴레이트(neopentyl glycol dimethacrylate), 1,6-헥산글리콜디메타크릴레이트(1,6-hexane glycol dimethacrylate), 트리메틸올프로판 트리메타크릴레이트(trimethyolpropane trimethacrylate), 트리메틸올프로판 트리아크릴레이트(trimethyolpropane triacrylate), 글리세린 디메타크릴레이트(glycerin dimethacrylate), 펜타에리트리톨 디메타크릴레이트(pentaerythritol dimethacrylate), 펜타에리트리톨 트리메타크릴레이트(pentaerythritol trimethacrylate), 디펜타에리트리톨 펜타메타크릴레이트(dipentaerythritol pentamethacrylate), 2,2-비스(4-메타크릴옥시디에톡시페닐)프로판(2,2-bis(4-methacryloxydiethoxyphenyl)propane), 2,2-비스(4-메타크릴옥시폴리에톡시페닐)프로판(2,2-bis(4-methacryloxypolyethoxyphenyl)propane), 2-히드록시-3-메타크릴로일옥시프로필 메타크릴레이트(2-hydroxy-3-methacryloyloxypropyl methacrylate), 에틸렌글리콜 디글리시딜에테르 디메타크릴레이트(ethylene glycol diglycidyl ether dimethacrylate), 디에틸렌글리콜 디글리시딜에테르 디메타크릴레이트(diethylene glycol diglycidyl ether dimethacrylate), 프탈산 디글리시딜에스테르 디메타크릴레이트(phthalic acid diglycidyl ester dimethacrylate), 글리세린 폴리글리시딜에테르 폴리메타크릴레이트(glycerin polyglycidyl ether polymethacrylate) 및 우레탄기를 함유한 다관능 (메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. Examples of additionally usable photopolymerizable compounds are not limited, but ethylene glycol dimethacrylate, diethylene glycol dimethacrylate, tetraethylene glycol dimethacrylate ), propylene glycol dimethacrylate, polyethylene glycol dimethacrylate, polypropylene glycol dimethacrylate, butylene glycol dimethacrylate, neopentyl glycol Dimethacrylate (neopentyl glycol dimethacrylate), 1,6-hexane glycol dimethacrylate (1,6-hexane glycol dimethacrylate), trimethylolpropane trimethacrylate (trimethyolpropane trimethacrylate), trimethylolpropane triacrylate (trimethyolpropane) triacrylate), glycerin dimethacrylate, pentaerythritol dimethacrylate, pentaerythritol trimethacrylate, dipentaerythritol pentamethacrylate, 2,2-bis(4-methacryloxydiethoxyphenyl)propane (2,2-bis(4-methacryloxydiethoxyphenyl)propane), 2,2-bis(4-methacryloxypolyethoxyphenyl)propane (2, 2-bis(4-methacryloxypolyethoxyphenyl)propane), 2-hydroxy-3-methacryloyloxypropyl methacryl ate), ethylene glycol diglycidyl ether dimethacrylate, diethylene glycol diglycidyl ether dimethacrylate, phthalic diglycidyl ether dimethacrylate Acrylate (phthalic acid diglycidyl ester dimethacrylate), glycerin polyglycidyl ether polymethacrylate, and a polyfunctional (meth)acrylate containing a urethane group.
한편, 상기 지지 기재는 상기 감광성 적층체의 지지체 역할을 할 수 있으며, 점착력을 갖고 있는 감광성 수지층의 노광시 취급이 용이하게 할 수 있다. On the other hand, the support substrate can serve as a support for the photosensitive laminate, and can be easily handled when the photosensitive resin layer having adhesive strength is exposed to light.
상기 기재필름은 각종 플라스틱 필름이 사용가능하며, 예를 들어, 아크릴계 필름, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET) 필름, 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름, 폴리노르보넨(PNB) 필름, 싸이클로올레핀폴리머(COP) 필름, 및 폴리카보네이트(PC) 필름으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 플라스틱 필름을 포함할 수 있다. Various plastic films can be used as the base film, for example, an acrylic film, a polyethylene terephthalate (PET) film, a triacetyl cellulose (TAC) film, a polynorbornene (PNB) film, a cycloolefin polymer (COP) film. , And at least one plastic film selected from the group consisting of a polycarbonate (PC) film.
한편, 상기 감광성 적층체는 상기 감광성 수지층을 중심으로 지지 기재와 대향하도록 형성되는 보호 필름을 더 포함할 수도 있다. 상기 보호 필름은 취급시 레지스트의 손상을 방지해 주고, 먼지와 같은 이물질로부터 감광성 수지층을 보호하는 보호 덮게 역할을 하는 것으로서, 감광성 수지층의 기재 필름이 형성되지 않은 이면에 적층될 수 있다. Meanwhile, the photosensitive laminate may further include a protective film formed to face the supporting substrate with the photosensitive resin layer as the center. The protective film prevents damage to the resist during handling and serves as a protective covering to protect the photosensitive resin layer from foreign substances such as dust, and may be laminated on the back surface of the photosensitive resin layer on which the base film is not formed.
상기 보호 필름은 감광성 수지층을 외부로부터 보호하는 역할을 하는 것으로서, 드라이 필름 포토레지스트를 후공정에 적용할 때는 용이하게 이탈되면서, 보관 및 유통할 때에는 이형되지 않도록 적당한 이형성과 점착성을 필요로 한다.The protective film serves to protect the photosensitive resin layer from the outside, and requires proper releasability and adhesion so that it is easily released when applying a dry film photoresist to a post process, and is not released when stored and distributed.
상기 보호필름은 각종 플라스틱 필름이 사용가능하며, 예를 들어, 아크릴계 필름, 폴리에틸렌(PE) 필름, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET) 필름, 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름, 폴리노르보넨(PNB) 필름, 싸이클로올레핀폴리머(COP) 필름, 및 폴리카보네이트(PC) 필름으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 플라스틱 필름을 포함할 수 있다. 상기 보호필름의 두께가 크게 한정되는 것은 아니나, 예를 들어, 0.01 ㎛ 내지 1 m 범위내에서 자유롭게 조절 가능하다.Various plastic films can be used as the protective film, for example, an acrylic film, a polyethylene (PE) film, a polyethylene terephthalate (PET) film, a triacetylcellulose (TAC) film, a polynorbornene (PNB) film, and a cyclo It may include at least one plastic film selected from the group consisting of an olefin polymer (COP) film, and a polycarbonate (PC) film. Although the thickness of the protective film is not largely limited, for example, it can be freely adjusted within the range of 0.01 μm to 1 m.
발명의 또 다른 구현예에 따르면, 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매 및 100℃이하의 비점을 갖는 저비점 용매를 포함한 혼합 용매; 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지; 및 광개시제;를 포함한 수지 조성물을 지지 기재 상에 도포 및 건조하는 단계를 포함하는, 감광성 적층체의 제조 방법이 제공될 수 있다. According to another embodiment of the present invention, a mixed solvent including a high boiling point solvent having a boiling point of 115°C or higher and a low boiling point solvent having a boiling point of 100°C or lower; Alkali developable binder resin containing a carboxyl group; And a photoinitiator; comprising the step of applying and drying a resin composition including a support substrate, it may be provided a method of manufacturing a photosensitive laminate.
상기 제조 방법에 따라서 상기 일 구현예에서 상술한 감광성 적층체가 제공될 수 있다. According to the manufacturing method, the photosensitive laminate described above in the embodiment may be provided.
상술한 바와 같이, 상기 감광성 적층체는, 지지 기재; 및 상기 지재 기재 상에 형성된 감광성 수지층을 포함하고, 상기 감광성 수지층 내에 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 5개/mm2 이하로 존재할 수 있다. As described above, the photosensitive laminate includes: a supporting substrate; And a photosensitive resin layer formed on the paper substrate, and bubbles having a diameter of 1 μm or less may be present in the photosensitive resin layer in an amount of 5 /mm 2 or less.
상기 감광성 수지층의 형성 과정에서, 감광성 수지 조성물의 용액 제조 과정이나 상기 조성물의 용액 건조 공정 중에 발생하는 기포 등의 이유로 1㎛ 이하의 직경이 감광성 수지층 내에 형성될 수 있는데, 상기 감광성 적층체의 제조 방법에서는, 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매 및 100℃이하의 비점을 갖는 저비점 용매를 포함한 혼합 용매를 사용함에 따라서, 감광성 수지 조성물의 용액의 증발되는 시간을 늦춰서 기포가 수치층에 갇히지 않게 할 수 있으며, 이에 따라 상기 감광성 수지층 내에 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 5개/mm2 이하로 존재할 수 있다. In the process of forming the photosensitive resin layer, a diameter of 1 μm or less may be formed in the photosensitive resin layer due to bubbles generated during the process of preparing a solution of the photosensitive resin composition or drying the solution of the composition. In the manufacturing method, by using a mixed solvent including a high boiling point solvent having a boiling point of 115°C or higher and a low boiling point solvent having a boiling point of 100°C or lower, the evaporation time of the solution of the photosensitive resin composition is delayed so that bubbles are not trapped in the numerical layer. Accordingly, there may be 5 bubbles/mm 2 or less in the photosensitive resin layer having a diameter of 1 μm or less.
보다 구체적으로, 상기 감광성 수지층 내에 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 5개/mm2 이하, 또는 3개/mm2 이하로 존재할 수 있다. More specifically, bubbles having a diameter of 1 μm or less may be present in the photosensitive resin layer in an amount of 5 / mm 2 or less, or 3 / mm 2 or less.
또한, 상기 지지 기재과 상기 감광성 수지층 간의 계면의 반대면으로부터 상기 감광성 수지층의 전체 두께의 50% 이내에, 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 3개/mm2 이하로 존재할 수 있다. In addition, within 50% of the total thickness of the photosensitive resin layer from the opposite surface of the interface between the supporting substrate and the photosensitive resin layer, 3 bubbles/mm 2 or less having a diameter of 1 μm or less may be present.
상기 지지 기재과 상기 감광성 수지층 간의 계면의 반대면, 또는 감광성 수지층이 외부면 쪽으로 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 미량으로 존재하거나 실질적으로 존재하지 않음에 따라서, 현상시 신뢰성이 높아져서 고밀도의 회로 형성이 가능 하고 미세한 배선의 형성에서 결손을 저감 할 수 있으며, 이에 따라 상기 감광성 적층체를 이용하는 경우 노광에 대한 높은 감도를 구현할 수 있으며, 고밀도의 인쇄회로기판의 제조 수율을 향상 할 수 있다.As the opposite side of the interface between the supporting substrate and the photosensitive resin layer, or the photosensitive resin layer toward the outer side of the outer surface, there is no air bubbles having a diameter of 1 μm or less exist in a small amount or substantially, so that the reliability during development is increased, and thus a high-density circuit Formation is possible and defects in the formation of fine wiring can be reduced. Accordingly, when the photosensitive laminate is used, high sensitivity to exposure can be realized, and the manufacturing yield of a high-density printed circuit board can be improved.
상술한 바와 같이, 상기 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매는 감광성 수지 조성물의 액상 성분이 증발되는 시간을 늦춰서 기포가 수치층에 갇히지 않게 하는 역할을 할 수 있다. 이에 따라 상기 감광성 수지층 내에 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 5개/㎟ 이하로 존재할 수 있다.As described above, the high boiling point solvent having a boiling point of 115° C. or higher may play a role of delaying the evaporation time of the liquid component of the photosensitive resin composition to prevent air bubbles from being trapped in the numerical layer. Accordingly, 5 or less air bubbles having a diameter of 1 μm or less may exist in the photosensitive resin layer.
상기 혼합 용매는 상기 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매를 일정 이상의 함량으로 포함할 수 있으며, 예를 들어 상기 혼합 용매 100중량부 대비 상기 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점의 함량이 3중량부 이상, 또는 5중량부 이상, 또는 3 내지 50중량부, 또는 5 내지 40중량부 일수 있다. The mixed solvent may include a high boiling point solvent having a boiling point of 115°C or higher in a predetermined amount or more, and for example, the content of a high boiling point having a boiling point of 115°C or higher relative to 100 parts by weight of the mixed solvent is 3 parts by weight or more , Or 5 parts by weight or more, or 3 to 50 parts by weight, or 5 to 40 parts by weight.
상기 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매에 함께 상기 100℃이하의 비점을 갖는 저비점 용매를 사용함에 따라서, 상기 감광성 수지 조성물의 용해력을 높일 수 있다. By using the low boiling point solvent having a boiling point of 100° C. or less together with the high boiling point solvent having a boiling point of 115° C. or higher, the solubility of the photosensitive resin composition may be increased.
상기 혼합 용매는 상기 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매 대비 상기 100℃이하의 비점을 갖는 저비점 용매를 보다 높은 함량으로 포함할수 있다. The mixed solvent may include a lower boiling point solvent having a boiling point of 100° C. or lower than the high boiling point solvent having a boiling point of 115° C. or higher in a higher content.
보다 구체적으로, 상기 혼합 용매는 상기 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매 : 상기 100℃이하의 비점을 갖는 저비점 용매를 1:2 내지 1:20, 또는 1:3 내지 1:15의 중량비로 포함할 수 있다. 상기 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매 : 상기 100℃이하의 비점을 갖는 저비점 용매를 상술한 함량으로 포함함에 따라서, 감광성 수지 조성물의 용해력을 크게 할 수 있다.More specifically, the mixed solvent includes the high boiling point solvent having a boiling point of 115° C. or higher: the low boiling point solvent having a boiling point of 100° C. or lower in a weight ratio of 1:2 to 1:20, or 1:3 to 1:15 can do. The high boiling point solvent having a boiling point of 115° C. or higher: By including the low boiling point solvent having a boiling point of 100° C. or less in the amount described above, the dissolving power of the photosensitive resin composition can be increased.
상기 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매의 예로는 부탄올, 디메틸포름아미드, N-메틸-2-피롤리돈, 감마부티로락톤, 부틸카피톨, 부틸셀로솔브, 메틸셀로솔브, 부틸아세테이트, 디에틸렌글리콜 메틸에틸에테르, 디에틸렌글리콜 디메틸에테르, 디에틸렌글리콜 디에틸에테르, 디프로필렌글리콜 디메틸에테르, 메틸 3-메톡시 프로피오네이트, 에틸 3-에톡시 프로피오네이트, 프로필렌글리콜 메틸에테르 프로피오네이트, 디프로피렌글리콜 디메틸에테르, 사이클로헥사논, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트(PGMEA) 및 이들의 1 이상의 혼합 용매를 들 수 있다. Examples of the high boiling point solvent having a boiling point of 115°C or higher include butanol, dimethylformamide, N-methyl-2-pyrrolidone, gamma butyrolactone, butylcapitol, butyl cellosolve, methyl cellosolve, butyl acetate , Diethylene glycol methyl ethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, dipropylene glycol dimethyl ether, methyl 3-methoxy propionate, ethyl 3-ethoxy propionate, propylene glycol methyl ether pro Cyanate, dipropyrene glycol dimethyl ether, cyclohexanone, propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), and one or more mixed solvents thereof.
상기 100℃이하의 비점을 갖는 저비점 용매 의 예로는 메틸에틸케톤, 메탄올, 에탄올, 아세톤, 테트라하이드로퓨란, 에틸아세테이트, 이소프로필알콜 및 이들의 1 이상의 혼합 용매를 들 수 있다. Examples of the low boiling point solvent having a boiling point of 100° C. or less include methyl ethyl ketone, methanol, ethanol, acetone, tetrahydrofuran, ethyl acetate, isopropyl alcohol, and one or more mixed solvents thereof.
상기 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매 및 100℃이하의 비점을 갖는 저비점 용매를 포함한 혼합 용매; 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지; 및 광개시제;를 포함한 수지 조성물은 구체적인 용도나 적용 분야 등을 고려하여 고형분 함량을 조절할 수 있으며, 예를 들어 상기 수지 조성물은 상기 혼합 용매 10 내지 99중량%를 포함할 수 있다. A mixed solvent including the high boiling point solvent having a boiling point of 115°C or higher and a low boiling point solvent having a boiling point of 100°C or lower; Alkali developable binder resin containing a carboxyl group; And a photoinitiator; in consideration of specific uses or fields of application, the solid content may be adjusted, and for example, the resin composition may contain 10 to 99% by weight of the mixed solvent.
한편, 상기 수지 조성물을 지지 기재 상에 도포 및 건조하는 단계에서 사용 가능한 방법이나 장치가 크게 한정되는 것은 아니며, 예를 들어 폴리에틸렌테레프탈레이트와 같은 통상의 기재 필름 위에 통상의 코팅 방법을 이용하여 상기 성 수지 조성물을 코팅시킨 다음, 건조시켜서 드라이 필름으로 제조할 수 있다. On the other hand, the method or apparatus that can be used in the step of applying and drying the resin composition on a supporting substrate is not largely limited For example, the resin composition may be coated on a conventional base film such as polyethylene terephthalate using a conventional coating method, and then dried to prepare a dry film.
상기 수지 조성물을 코팅하는 방법은 특별히 제한되지 않으며, 예컨대 코팅 바 등의 방법이 이용될 수 있다.A method of coating the resin composition is not particularly limited, and, for example, a method such as a coating bar may be used.
상기 감광성 적층체의 제조 방법에서, 상기 115℃ 이상의 비점을 갖는 고비점 용매 및 100℃이하의 비점을 갖는 저비점 용매를 포함한 혼합 용매를 사용하는 것 이외로도, 건조 속도 및/또는 건조 온도의 조정을 통하여 상기 감광성 수지층 내에 형성되는 미세 기포의 양을 크게 줄이거나 실질적으로 존재하지 않게 할 수 있다.In the method of manufacturing the photosensitive laminate, in addition to using a mixed solvent including a high boiling point solvent having a boiling point of 115°C or higher and a low boiling point solvent having a boiling point of 100°C or lower, adjustment of the drying rate and/or drying temperature Through this, the amount of fine bubbles formed in the photosensitive resin layer may be greatly reduced or may not be substantially present.
보다 구체적으로, 상기 코팅된 수지 조성물을 건조시키는 단계는 열풍오븐, 핫 플레이트, 열풍 순환로, 적외선로 등의 가열 수단에 의해 실시될 수 있고, 50 ℃ 내지 100 ℃의 온도, 또는 60 ℃ 내지 90 ℃의 온도, 70 ℃ 내지 85 ℃의 온도로 수행할 수 있다.More specifically, the step of drying the coated resin composition may be carried out by a heating means such as a hot air oven, hot plate, hot air circulation furnace, infrared furnace, etc., at a temperature of 50° C. to 100° C., or 60° C. to 90° C. It can be carried out at a temperature of 70 ℃ to 85 ℃.
상기 건조가 수행되는 시간은 상기 건조 온도에 따라 달리질 수 있으며, 예를 들어 30초 내지 20분일 수 있고, 보다 구체적으로 1분 내지 10분, 도는 3분 내지 7분일 수 있다. The time at which the drying is performed may vary depending on the drying temperature, and may be, for example, 30 seconds to 20 minutes, more specifically 1 minute to 10 minutes, or 3 minutes to 7 minutes.
상기 수지 조성물에 포함되는 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지에 관한 내용은 상기 일 구현예의 감광성 적층체에서 상술한 내용을 포함한다. The content of the alkali developable binder resin including a carboxyl group included in the resin composition includes the above-described content in the photosensitive laminate of the embodiment.
상기 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지는 20,000 g/mol 내지 300,000 g/mol, 또는 30,000 g/mol 내지 150,000 g/mol 의 중량평균분자량 및 20 ℃ 이상 150 ℃ 이하의 유리전이온도를 가질 수 있다. The alkali developable binder resin including the carboxyl group may have a weight average molecular weight of 20,000 g/mol to 300,000 g/mol, or 30,000 g/mol to 150,000 g/mol, and a glass transition temperature of 20° C. or more and 150° C. or less.
상기 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지는 100 mgKOH/g 이상 300 mgKOH/g 의 산가를 가질 수 있다. The alkali developable binder resin including the carboxyl group may have an acid value of 100 mgKOH/g or more and 300 mgKOH/g.
상기 수지 조성물은 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지와 함께 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물을 더 포함할 수 있다. The resin composition may further include a photopolymerizable compound including a (meth)acrylate monomer or oligomer together with an alkali developable binder resin including a carboxyl group.
상기 수지 조성물은 상기 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지 100중량부 대비 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물 1 내지 80중량부를 포함할 수 있다. The resin composition may include 1 to 80 parts by weight of a photopolymerizable compound including a (meth)acrylate monomer or oligomer relative to 100 parts by weight of the alkali developable binder resin including the carboxyl group.
상기 광중합성 화합물은 통상적으로 알려진 단관능 또는 다관능의 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 사용할 수 있으나, 상술한 특성을 만족하기 위하여 상기 단관능 또는 다관능의 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머로 방향족 작용기를 분자 내부에 포함하는 2 내지 10관능의 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 사용할 수 있다. The photopolymerizable compound may be a commonly known monofunctional or polyfunctional (meth)acrylate monomer or oligomer, but in order to satisfy the above-described characteristics, the monofunctional or polyfunctional (meth)acrylate monomer or oligomer may be used. It is possible to use a 2 to 10 functional (meth)acrylate monomer or oligomer containing an aromatic functional group in the molecule.
구체적으로, 상기 광중합성 화합물은 하기 화학식 1로 표시되는 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 들 수 있다. Specifically, the photopolymerizable compound may include a difunctional (meth)acrylate compound represented by the following formula (1).
[화학식1][Formula 1]
상기 화학식 1에서, R1 및 R2는 서로 같거나 다르며, H 또는 CH3이고, j 및 k는 각각 1 내지 20의 정수이다. In Formula 1, R 1 and R 2 are the same as or different from each other, H or CH 3 , and j and k are each an integer of 1 to 20.
보다 구체적으로, 상기 화학식 1의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 하기 화학식11의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물 및 하기 화학식12의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함할 수 있다. More specifically, the difunctional (meth)acrylate compound of Formula 1 may include a difunctional (meth)acrylate compound of Formula 11 below and a difunctional (meth)acrylate compound of Formula 12 below.
[화학식 11][Formula 11]
상기 화학식 11에서, R11 및 R12는 서로 같거나 다르며, H 또는 CH3이고, J1 및 K1는 각각 1 내지 8의 정수이다. In Formula 11, R 11 and R 12 are the same as or different from each other, H or CH 3 , and J1 and K1 are each an integer of 1 to 8.
[화학식 12][Formula 12]
상기 화학식 12에서, R21 및 R22는 서로 같거나 다르며, H 또는 CH3이고, J2 및 K2는 각각 10 내지 20의 정수이다. In Formula 12, R 21 and R 22 are the same as or different from each other, H or CH 3 , and J2 and K2 are each an integer of 10 to 20.
보다 구체적으로, 상기 화학식 1의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 상기 화학식11의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물 : 화학식12의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 1:1 내지 1:30의 중량비로 포함할 수 있다. More specifically, the difunctional (meth)acrylate compound of Formula 1 is the difunctional (meth)acrylate compound of Formula 11: The difunctional (meth)acrylate compound of Formula 12 is 1:1 to 1:30. It can be included in a weight ratio.
상기 화학식11의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물에 비하여 상기 화학식12의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 동등 중량이나 그 이상의 중량으로 사용함에 따라서, 기판에 대한 밀착력을 높이고 현상액에 대한 내성이 개선되어 우수한 세선 밀착력 및 해상도를 확보할 수 있다. Compared to the difunctional (meth)acrylate compound of Chemical Formula 11, the difunctional (meth)acrylate compound of Chemical Formula 12 is used in an equivalent weight or more than that of the difunctional (meth)acrylate compound, thereby increasing the adhesion to the substrate and improving the resistance to the developer. As a result, excellent fine wire adhesion and resolution can be secured.
상기 광개시제는 UV 및 기타 radiation에 의해서 광중합성 모노머의 연쇄반응을 개시시키는 물질로서, 상기 수지 조성물 및 상기 감광성 적층체의 감광성 수지층의 경화에 중요한 역할을 한다.The photoinitiator is a substance that initiates a chain reaction of a photopolymerizable monomer by UV and other radiation, and plays an important role in curing the resin composition and the photosensitive resin layer of the photosensitive laminate.
상기 광개시제로 사용할 수 있는 화합물로는 2-메틸 안트라퀴논, 2-에틸 안트라퀴논 등의 안트라퀴논 유도체; 벤조인 메틸 에테르, 벤조페논, 페난트렌 퀴논, 4,4'-비스-(디메틸아미노)벤조페논 등의 벤조인 유도체를 들 수 있다.Compounds that can be used as the photoinitiator include anthraquinone derivatives such as 2-methyl anthraquinone and 2-ethyl anthraquinone; Benzoin derivatives, such as benzoin methyl ether, benzophenone, phenanthrene quinone, and 4,4'-bis-(dimethylamino)benzophenone, are mentioned.
이외에도 2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4'-5,5'-테트라페닐비스이미다졸, 1-히드록시시클로헥실페닐케톤, 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-온, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로판-1-온, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-[4-모르폴리노페닐] 부탄-1-온, 2-히드록시-2-메틸-1-페닐프로판-1-온, 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드, 1-[4-(2-히드록시메톡시)페닐]-2-히드록시-2-메틸프로판-1-온, 2,4-디에틸티옥산톤, 2-클로로티옥산톤, 2,4-디메틸티옥산톤, 3,3-디메틸-4-메톡시벤조페논, 벤조페논, 1-클로로-4-프로폭시티옥산톤, 1-(4-이소프로필페닐)2-히드록시-2-메틸프로판-1-온, 1-(4-도데실페닐)-2하이드록시-2-메틸프로판-1-온, 4-벤조일-4'-메틸디메틸설파이드, 4-디메틸아미노벤조산, 메틸 4-디메틸아미노벤조에이트, 에틸 4-디메틸아미노벤조에이트, 부틸 4-디메틸아미노벤조에이트, 2-에틸헥실 4-디메틸아미노벤조에이트, 2-이소아밀 4-디메틸아미노벤조에이트, 2,2-디에톡시아세토페논, 벤질케톤 디메틸아세탈, 벤질케톤 β-메톡시 디에틸아세탈, 1-페닐-1,2-프로필디옥심-o,o'-(2-카르보닐)에톡시에테르, 메틸 o-벤조일벤조에이트, 비스[4-디메틸아미노페닐)케톤, 4,4'-비스(디에틸아미노)벤조페논, 4,4'-디클로로벤조페논, 벤질, 벤조인, 메톡시벤조인, 에톡시벤조인, 이소프로폭시벤조인, n-부톡시벤조인, 이소부톡시벤조인, tert-부톡시벤조인, p-디메틸아미노아세토페논, p-tert-부틸트리클로로아세토페논, p-tert-부틸디클로로아세토페논, 티옥산톤, 2-메틸티옥산톤, 2-이소프로필티옥산톤, 디벤조수베론, α,α-디클로로-4-페녹시아세토페논, 펜틸 4-디메틸아미노벤조에이트 중에서 선택된 화합물을 광개시제로 사용할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.In addition, 2,2'-bis(2-chlorophenyl)-4,4'-5,5'-tetraphenylbisimidazole, 1-hydroxycyclohexylphenylketone, 2,2-dimethoxy-1,2- Diphenylethan-1-one, 2-methyl-1-[4-(methylthio)phenyl]-2-morpholinopropan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1-[4-morph Polynophenyl] butan-1-one, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one, 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, 1-[4-(2- Hydroxymethoxy)phenyl]-2-hydroxy-2-methylpropan-1-one, 2,4-diethyl thioxanthone, 2-chloro thioxanthone, 2,4-dimethyl thioxanthone, 3, 3-dimethyl-4-methoxybenzophenone, benzophenone, 1-chloro-4-propoxyoxanthone, 1-(4-isopropylphenyl)2-hydroxy-2-methylpropan-1-one, 1 -(4-Dodecylphenyl)-2hydroxy-2-methylpropan-1-one, 4-benzoyl-4'-methyldimethylsulfide, 4-dimethylaminobenzoic acid, methyl 4-dimethylaminobenzoate, ethyl 4- Dimethylaminobenzoate, butyl 4-dimethylaminobenzoate, 2-ethylhexyl 4-dimethylaminobenzoate, 2-isoamyl 4-dimethylaminobenzoate, 2,2-diethoxyacetophenone, benzyl ketone dimethylacetal, benzyl Ketone β-methoxy diethylacetal, 1-phenyl-1,2-propyldioxime-o,o'-(2-carbonyl)ethoxyether, methyl o-benzoylbenzoate, bis[4-dimethylaminophenyl ) Ketone, 4,4'-bis(diethylamino)benzophenone, 4,4'-dichlorobenzophenone, benzyl, benzoin, methoxybenzoin, ethoxybenzoin, isopropoxybenzoin, n-part Toxicbenzoin, isobutoxybenzoin, tert-butoxybenzoin, p-dimethylaminoacetophenone, p-tert-butyltrichloroacetophenone, p-tert-butyldichloroacetophenone, thioxanthone, 2-methylti A compound selected from oxantone, 2-isopropylthioxanthone, dibenzosuberone, α,α-dichloro-4-phenoxyacetophenone, and pentyl 4-dimethylaminobenzoate may be used as a photoinitiator, but is limited thereto. no.
상기 광개시제의 함량은 고형분 기준으로, 상기 수지 조성물 총 중량에 대하여 0.1 내지 20중량% 또는 1 중량% 이상 10 중량% 이하로 포함된다. 상기 광개시제의 함량이 상기 범위 내에 있는 경우 충분한 감도를 얻을 수 있다.The content of the photoinitiator is contained in an amount of 0.1 to 20% by weight or 1% by weight or more and 10% by weight or less based on the total weight of the resin composition. When the content of the photoinitiator is within the above range, sufficient sensitivity can be obtained.
상기 광개시제의 함량이 너무 낮은 경우, 광효율이 낮아 노광량이 많이 들어가야 하기 때문에 생산효율성이 극히 저하될 수 있다. 상기 광개시제의 함량이 너무 높은 경우 필름이 부서지기 쉬운(brittle) 단점과 현상액 오염성이 높아져 단락 등의 불량을 초래할 수 있다. If the content of the photoinitiator is too low, the light efficiency is low and the exposure amount must be large, so that the production efficiency may be extremely reduced. If the content of the photoinitiator is too high, the film may be brittle and contaminated with the developer may be increased, resulting in defects such as a short circuit.
또한, 상기 수지 조성물은 필요에 따라 기타 첨가제를 더 포함할 수 있다.기타 첨가제로는 가소제로서 프탈산 에스테르 형태의 디부틸 프탈레이트, 디헵틸 프탈레이트, 디옥틸 프탈레이트, 디알릴 프탈레이트; 글리콜 에스테르 형태인 트리에틸렌 글리콜 디아세테이트, 테트라에틸렌 글리콜 디아세테이트; 산 아미드 형태인 p-톨루엔 설폰아미드, 벤젠설폰아미드, n-부틸벤젠설폰아미드; 트리페닐 포스페이트 등을 사용할 수 있다.In addition, the resin composition may further include other additives as necessary. Other additives include dibutyl phthalate, diheptyl phthalate, dioctyl phthalate, and diallyl phthalate in the form of phthalic acid esters as plasticizers; Triethylene glycol diacetate, tetraethylene glycol diacetate in the form of glycol esters; P-toluene sulfonamide, benzenesulfonamide, n-butylbenzenesulfonamide in the form of acid amide; Triphenyl phosphate and the like can be used.
상기 수지 조성물의 취급성을 향상시키기 위해서 루이코 염료나 착색 물질을 넣을 수도 있다. 상기 루이코 염료로는, 트리스(4-디메틸아미노-2-메틸페닐)메탄, 트리스(4-디메틸아미노-2메틸페닐)메탄, 플루오란 염료 등을 들 수 있다. 그중에서도, 루이코 크리스탈 바이올렛을 사용한 경우, 콘트라스트가 양호하여 바람직하다. 루이코 염료를 함유하는 경우의 함유량은 감광성 수지 조성물 중에 0.1 중량% 이상 10 중량% 이하 일 수 있다. 콘트라스트의 발현이라는 관점에서, 0.1중량% 이상이 바람직하고, 보존 안정성을 유지한다는 관점에서는 10 중량% 이하가 바람직하다.In order to improve the handling properties of the resin composition, a Leuco dye or a colored substance may be added. Examples of the Leuico dye include tris(4-dimethylamino-2-methylphenyl)methane, tris(4-dimethylamino-2methylphenyl)methane, and fluorane dyes. Among them, in the case of using a Ruiko crystal violet, the contrast is good, which is preferable. In the case of containing a Leuco dye, the content may be 0.1% by weight or more and 10% by weight or less in the photosensitive resin composition. From the viewpoint of expression of contrast, 0.1% by weight or more is preferable, and from the viewpoint of maintaining storage stability, 10% by weight or less is preferable.
착색 물질로는, 예를 들어 톨루엔술폰산1수화물, 푸크신, 프탈로시아닌 그린, 오라민 염기, 파라마젠타, 크리스탈 바이올렛, 메틸 오렌지, 나일 블루 2B, 빅토리아 블루, 말라카이트 그린, 다이아몬드 그린, 베이직 블루 20 등을 들 수 있다. 상기 착색 물질을 함유하는 경우의 첨가량은 감광성 수지 조성물 중에 0.001 중량% 이상 1중량% 이하일 수 있다. 0.001중량% 이상의 함량에서는 취급성 향상이라는 효과가 있고, 1중량% 이하의 함량에서는 보존 안정성을 유지한다는 효과가 있다.As a coloring substance, for example, toluenesulfonic acid monohydrate, fuxine, phthalocyanine green, oramine base, paramagenta, crystal violet, methyl orange, Nile blue 2B, Victoria blue, malachite green, diamond green, basic blue 20, etc. Can be lifted. When the colored material is included, the amount added may be 0.001% by weight or more and 1% by weight or less in the photosensitive resin composition. When the content is 0.001% by weight or more, there is an effect of improving handling properties, and when the content is less than 1% by weight, storage stability is maintained.
그 외에 기타 첨가제로는 열중합 방지제, 염료, 변색제(discoloring agent), 밀착력 촉진제 등을 더 포함할 수 있다.Other additives may further include a thermal polymerization inhibitor, a dye, a discoloring agent, an adhesion promoter, and the like.
한편, 발명의 또 다른 구현에 따르면, 상기 일 구현예의 감광성 적층체를 이용하는, 회로 기판의 제조 방법이 제공될 수 있다. Meanwhile, according to another embodiment of the present invention, a method of manufacturing a circuit board using the photosensitive laminate of the embodiment may be provided.
상기 일 구현예의 감광성 적층체는 동장적층판(Copper Clad Laminates) 상에 적층되는 용도로 사용될 수 있다. The photosensitive laminate of the embodiment may be used for lamination on copper clad laminates.
회로 기판 또는 인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB)의 제조과정의 일 예로는, PCB의 원판소재인 동장적층판을 라미네이션하기 위해 먼저 전처리 공정을 거친다. 전처리공정은 외층공정에서는 드릴링, 디버링(deburing), 정면 등의 순이며, 내층공정에서는 정면 또는 산세를 거친다. 정면공정에서는 bristle brush 및 jet pumice 공정이 주로 사용되며, 산세는 soft etching 및 황산 산세를 거칠 수 있다.As an example of the manufacturing process of a circuit board or a printed circuit board (PCB), a pre-treatment process is first performed in order to laminate the copper clad laminate, which is the original material of the PCB. The pretreatment process is in the order of drilling, deburing, and front in the outer layer process, and the front or pickling in the inner layer process. In the frontal process, bristle brush and jet pumice processes are mainly used, and the pickling can be subjected to soft etching and sulfuric acid pickling.
전처리 공정을 거친 동장적층판에 회로를 형성시키기 위해서는 일반적으로 동장적층판의 구리층 위에 상기 감광성 적층체 또는 드라이 필름 포토레지스트(이하, DFR이라 함)을 라미네이션 할 수 있다. 이 공정에서는 라미네이터를 이용하여 DFR의 보호 필름을 벗겨내면서 DFR의 포토레지스트층을 구리 표면 위에 라미네이션시킨다. 일반적으로 라미네이션 속도 0.5∼3.5m/min, 온도 100∼130℃, 로울러 압력 가열롤압력 10∼90psi에서 진행할 수 있다. In order to form a circuit on the copper clad laminate that has undergone the pretreatment process, in general, the photosensitive laminate or dry film photoresist (hereinafter referred to as DFR) may be laminated on the copper layer of the copper clad laminate. In this process, a photoresist layer of DFR is laminated on the copper surface while peeling off the protective film of DFR using a laminator. In general, it can be carried out at a lamination rate of 0.5 to 3.5 m/min, a temperature of 100 to 130°C, and a roller pressure heating roll pressure of 10 to 90 psi.
라미네이션 공정을 거친 인쇄회로기판은 기판의 안정화를 위하여 15분 이상 방치한 후 원하는 회로패턴이 형성된 포토마스크를 이용하여 DFR의 포토레지스트에 대해 노광을 진행할 수 있다. 이 과정에서 포토마스크에 자외선을 조사하면 자외선이 조사된 포토레지스트는 조사된 부위에서 함유된 광개지제에 의해 중합이 개시될 수 있다. 먼저 초기에는 포토레지스트내의 산소가 소모되고, 다음 활성화된 모노머가 중합되어 가교반응이 일어나고 그 후 많은 양의 모노머가 소모되면서 중합반응이 진행될 수 있고, 미노광부위는 가교 반응이 진행되지 않은 상태로 존재할 수 있다. The printed circuit board that has undergone the lamination process may be left for 15 minutes or more for stabilization of the substrate, and then exposure to the photoresist of DFR may be performed using a photomask having a desired circuit pattern formed thereon. In this process, when ultraviolet rays are irradiated to the photomask, polymerization of the photoresist to which ultraviolet rays are irradiated may be initiated by the photomodifier contained in the irradiated region. Initially, oxygen in the photoresist is consumed, and then the activated monomer is polymerized to cause a crosslinking reaction. After that, a large amount of monomer is consumed and the polymerization reaction may proceed. Can exist.
다음 포토레지스트의 미노광 부분을 제거하는 현상공정을 진행하는데, 알카리 현상성 DFR인 경우 현상액으로 0.8∼1.2wt%의 포타슘카보네이트 및 소듐카보네이트 수용액이 사용될 수 있다. 이 공정에서 미노광 부분의 포토레지스트는 현상액내에서 결합제 고분자의 카르복시산과 현상액의 비누화 반응에 의해서 씻겨나가고, 경화된 포토레지스트는 구리표면 위에 잔류할 수 있다. Next, a developing process is performed to remove the unexposed portion of the photoresist. In the case of alkali developable DFR, 0.8 to 1.2 wt% of potassium carbonate and sodium carbonate aqueous solution may be used as a developer. In this process, the photoresist of the unexposed portion is washed away by the saponification reaction between the carboxylic acid of the binder polymer and the developer in the developer, and the cured photoresist may remain on the copper surface.
다음 내층 및 외층 공정에 따라 다른 공정을 거쳐 회로가 형성될 수 있다. 내층공정에서는 부식과 박리공정을 통하여 기판상에 회로가 형성될 수 있고, 외층공정에서는 도금 및 텐팅공정을 거친 후 에칭과 솔더 박리를 진행하고 소정의 회로를 형성시킬 수 있다. The circuit may be formed through different processes depending on the next inner and outer layer processes. In the inner layer process, a circuit may be formed on the substrate through corrosion and peeling processes, and in the outer layer process, after plating and tenting processes, etching and solder peeling may be performed, and a predetermined circuit may be formed.
상기 노광에는 통상적으로 알려진 광원, 보다 구체적으로 초고압 수은등이나 레이저 다이렉트(Laser Direct) 노광 장비 등을 사용할 수도 있다. For the exposure, a commonly known light source, more specifically, an ultra-high pressure mercury lamp or laser direct exposure equipment may be used.
본 발명에 따르면, 미세한 배선의 형성에서 결손을 저감할 수 있으며, 현상시 신뢰성이 높아져서 고밀도의 회로 형성이 가능한 감광성 적층체와, 상기 감광성 적층체의 제조 방법과, 상기 감광성 적층체를 이용하는 회로 기판의 제조 방법이 제공될 수 있다. According to the present invention, a photosensitive laminate capable of reducing defects in the formation of fine wiring and capable of forming a high-density circuit due to increased reliability during development, a method of manufacturing the photosensitive laminate, and a circuit board using the photosensitive laminate A manufacturing method of may be provided.
도1는 편광 현미경을 이용하여 실시예1의 감광성 수지층의 표면 및 단면을 전계방출형 주사전자현미경(FE-SEM, 3000배)로 확인한 사진이다.
도2는 편광 현미경을 이용하여 비교예2의 감광성 수지층의 표면 및 단면을 전계방출형 주사전자현미경(FE-SEM, 3000배)로 확인한 사진이다.
도3은 비교예1의 감광성 수지층을 자외선 노광 및 알카리 현상하고 형성된 결함 (Defect)를 전계방출형 주사전자현미경(FE-SEM, 3000배)로 확인한 사진이다.
도4은 비교예1의 감광성 수지층을 자외선 노광 및 알카리 현상하고 형성된 결함 (Defect)를 전계방출형 주사전자현미경(FE-SEM, 3000배)로 확인한 사진이다.
1 is a photograph obtained by confirming the surface and cross section of the photosensitive resin layer of Example 1 with a field emission scanning electron microscope (FE-SEM, 3000 times) using a polarizing microscope.
FIG. 2 is a photograph obtained by confirming the surface and cross section of the photosensitive resin layer of Comparative Example 2 with a field emission scanning electron microscope (FE-SEM, 3000 times) using a polarization microscope.
3 is a photograph of a photosensitive resin layer of Comparative Example 1 being exposed to ultraviolet rays and alkali developed, and a defect formed by a field emission scanning electron microscope (FE-SEM, 3000 times).
4 is a photograph of a photosensitive resin layer of Comparative Example 1 that was exposed to ultraviolet rays and alkali developed, and the defects formed were confirmed with a field emission scanning electron microscope (FE-SEM, 3000 times).
발명을 하기의 실시예에서 보다 상세하게 설명한다. 단, 하기의 실시예는 본 발명을 예시하는 것일 뿐, 본 발명의 내용이 하기의 실시예에 의하여 한정되는 것은 아니다.The invention will be described in more detail in the following examples. However, the following examples are merely illustrative of the present invention, and the contents of the present invention are not limited by the following examples.
<제조예: 알칼리 현상성 바인더 수지의 제조><Production Example: Preparation of alkali developable binder resin>
제조예1Manufacturing Example 1
4구 둥근바닥 플라스크에 기계식 교반기(mechanical stirrer)와 환류장치를 장착한 다음, 질소로 플라스크 내부를 퍼지하였다. 상기 질소로 퍼지된 플라스크에 메틸에틸케톤(Methyl Ethyl Ketone, MEK) 170g 및 메탄올(Methanol, MeOH) 12.5g를 투입한 다음, 아조비스이소부티로니트릴(azobisisobutyronitrile, AIBN) 2.25g을 투입하여 완전히 용해시켰다. 여기에 단량체로 메타크릴산(Methacrylic acid, MAA) 60g, 벤질메타크릴산(Benzyl methacylrate, BzMA) 100g, 메틸메타크릴레이트(Methyl methacrylate, MMA) 15g, 및 스티렌(Styrene, SM) 75g의 단량체 혼합물을 투입하고, 80 ℃까지 승온한 다음 6시간 동안 중합하여 알칼리 현상성 바인더 수지 2(중량평균분자량 40,000 g/mol, 유리전이온도 102 ℃, 고형분함량 50 중량%, 산가 156 mgKOH/g)를 제조하였다.A mechanical stirrer and a reflux device were attached to a four-necked round bottom flask, and then the inside of the flask was purged with nitrogen. In the flask purged with nitrogen, 170 g of methyl ethyl ketone (MEK) and 12.5 g of methanol (Methanol, MeOH) were added, and then 2.25 g of azobisisobutyronitrile (AIBN) was added to completely dissolve. Made it. Here, a monomer mixture of 60 g of methacrylic acid (MAA), 100 g of benzyl methacylrate (BzMA), 15 g of methyl methacrylate (MMA), and 75 g of styrene (SM) as monomers Was added, the temperature was raised to 80 °C, and then polymerized for 6 hours to prepare an alkali developable binder resin 2 (weight average molecular weight of 40,000 g/mol, glass transition temperature of 102 °C, solid content 50% by weight, acid value 156 mgKOH/g). I did.
상기 제조예에서 제조된 알칼리 현상성 바인더 수지는 1.0 (w/w)% in THF (고형분 기준 약 0.5 (w/w)%)의 농도가 되도록 테트라히드로푸란에 용해시켜 0.45㎛ Pore Size의 Syringe Filter를 이용하여 여과 후 GPC에 20㎕를 주입하였다. GPC의 이동상은 테트라히드로푸란(Tetrahydrofuran, THF)을 사용하고, 1.0mL/분의 유속으로 유입하였으며, 분석은 40℃에서 수행하였다. 컬럼은 Agilent PLgel 5㎛ Guard (7.5 x 50 mm) 1개와 Agilent PLgel 5㎛ Mixed D (7.5 x 300 mm) 2개를 직렬로 연결하였다. 검출기로는 Agilent 1260 Infinity Ⅱ System, RI Detector를 이용하여 40℃에서 측정하였다.The alkali developable binder resin prepared in the above Preparation Example was dissolved in tetrahydrofuran to a concentration of 1.0 (w/w)% in THF (about 0.5 (w/w)% based on solid content), and a 0.45㎛ Pore Size Syringe Filter After filtration using, 20 µl was injected into the GPC. Tetrahydrofuran (THF) was used as the mobile phase of GPC, and flow rate was 1.0 mL/min, and analysis was performed at 40°C. As for the column, one Agilent PLgel 5㎛ Guard (7.5 x 50 mm) and two Agilent PLgel 5㎛ Mixed D (7.5 x 300 mm) were connected in series. As a detector, an Agilent 1260 Infinity II System, RI Detector was used to measure at 40°C.
이를, 테트라히드로푸란에 0.1 (w/w)% 농도로 아래와 같이 다양한 분자량을 갖는 폴리스티렌을 용해시킨 폴리스티렌 표준품 시료(STD A, B, C, D)를 0.45㎛ Pore Size의 Syringe Filter로 여과 후 GPC에 주입하여 형성된 검정 곡선을 이용하여 알칼리 현상성 바인더 수지의 중량평균분자량(Mw)의 값을 구하였다. The polystyrene standard sample (STD A, B, C, D) in which polystyrene having various molecular weights is dissolved in tetrahydrofuran at a concentration of 0.1 (w/w)% as follows is filtered through a 0.45 μm pore size syringe filter and then GPC The value of the weight average molecular weight (Mw) of the alkali developable binder resin was calculated using the calibration curve formed by injecting into.
STD A (Mp) : 791,000 / 27,810 / 945STD A (Mp): 791,000 / 27,810 / 945
STD B (Mp) : 282,000 / 10,700 / 580STD B (Mp): 282,000 / 10,700 / 580
STD C (Mp) : 126,000 / 4,430 / 370STD C (Mp): 126,000 / 4,430 / 370
STD D (Mp) : 51,200 / 1,920 / 162STD D (Mp): 51,200 / 1,920 / 162
<실시예 및 비교예 : 감광성 수지 조성물 및 드라이 필름 포토레지스트 제조><Examples and Comparative Examples: Preparation of photosensitive resin composition and dry film photoresist>
하기 표1에 기재된 조성에 따라, 광개시제를 유기 용매에 녹인 후, 광중합성 화합물과 알칼리 현상성 바인더 수지를 첨가하여 기계적 교반기를 이용하여 약 1시간 정도 혼합하여 감광성 수지 조성물을 제조하였다. According to the composition shown in Table 1 below, after dissolving a photoinitiator in an organic solvent, a photopolymerizable compound and an alkali developable binder resin were added and mixed for about 1 hour using a mechanical stirrer to prepare a photosensitive resin composition.
상기 수득된 감광성 수지 조성물을 25 ㎛의 PET 필름 위에 코팅 바(bar)를 이용하여 코팅시켰다. 코팅된 감광성 수지 조성물층은 열풍오븐을 이용하여 건조시키는데, 이때 건조 온도는 80 ℃이고, 건조 시간은 5분이며, 건조 후 감광성 수지층의 두께는 25 ㎛이였다. The obtained photosensitive resin composition was coated on a 25 µm PET film using a coating bar. The coated photosensitive resin composition layer was dried using a hot air oven, at which time the drying temperature was 80° C., the drying time was 5 minutes, and the thickness of the photosensitive resin layer after drying was 25 μm.
건조가 완료된 감광성 수지 조성물층 위에 보호필름(폴리에틸렌)를 이용하여 라미네이션하여 감광성 적층체(드라이 필름 포토레지스트)를 제조하였다.A photosensitive laminate (dry film photoresist) was prepared by laminating the dried photosensitive resin composition layer using a protective film (polyethylene).
(중량%)ingredient
(weight%)
(또는 성분명)product name
(Or ingredient name)
(일본 Hodogaya Co.)Ruiko Crystal Violet
(Japan Hodogaya Co.)
(일본 Hodogaya Co.)Diamond Green GH
(Japan Hodogaya Co.)
(Methyl Ethyl Ketone, 비점 약 80 ℃)MEK
(Methyl Ethyl Ketone, boiling point about 80 ℃)
(Methanol, 약 64.7 ℃)Methanol
(Methanol, about 64.7 ℃)
(PGMEA, 비점 약 120℃)Propylene glycol monomethyl ether acetate
(PGMEA, boiling point about 120℃)
(1) M2101 : Bisphenol A (EO)10 dimethacrylate (미원스페셜티케미칼)(2) M281: 폴리에틸렌글리콜 디메타크릴레이트 (미원스페셜티케미칼)(3) M241 : 비스페놀 A (에톡시레이트)4 디메타크릴레이트 (미원스페셜티케미칼)(1) M2101: Bisphenol A (EO) 10 dimethacrylate (Miwon Specialty Chemical) (2) M281: Polyethylene glycol dimethacrylate (Miwon Specialty Chemical) (3) M241: Bisphenol A (ethoxylate) 4 Dimethacrylate (Miwon Specialty Chemical)
(4)BCIM : 2,2'-Bis-(2-chlorophenyl-4,5,4',5'-tetraphenylbisimidazole, Aldrich Chemical(4)BCIM: 2,2'-Bis-(2-chlorophenyl-4,5,4',5'-tetraphenylbisimidazole, Aldrich Chemical
(중량%)ingredient
(weight%)
(또는 성분명)product name
(Or ingredient name)
(일본 Hodogaya Co.)Ruiko Crystal Violet
(Japan Hodogaya Co.)
<실험예><Experimental Example>
상기 실시예 및 비교예에서 제조된 드라이 필름 포토레지스트에 대하여, 하기 방법으로 물성을 측정하였으며, 그 결과를 표 3에 나타내었다.For the dry film photoresist prepared in Examples and Comparative Examples, physical properties were measured by the following method, and the results are shown in Table 3.
1. 노광량 (단위: mJ/cm1. Exposure amount (unit: mJ/cm 22 )의 측정) Of the measurement
상기 실시예 및 비교예에서 제조된 드라이필름 포토레지스트를 브러시(Brush) 연마처리된 1.6mm 두께의 동장적층판에 라미네이션 하였다. 이때 상기 라미네이션은 HAKUTO MACH 610i를 이용하여, 기판 예열 롤 온도 120 ℃, 라미네이터 롤 온도 115 ℃, 롤 압력 4.0kgf/㎠ 및 롤 속도 2.0min/m를 적용하였다. The dry film photoresist prepared in Examples and Comparative Examples was laminated on a copper clad laminate having a thickness of 1.6 mm subjected to brush polishing treatment. At this time, the lamination was performed using HAKUTO MACH 610i, the substrate preheating roll temperature 120 ℃, the laminator roll temperature 115 ℃, the roll pressure 4.0kgf/㎠ And a roll speed of 2.0 min/m was applied.
동장적층판에 라미네이션한 드라이 필름 포토레지스트를 ORC사의 FDi-3을 이용하여 Stouffer Graphic Arts Equipment 사의 41단 스텝 tablet을 사용하여 잔존 스텝 단수가 15 단으로 되는 노광량으로 405nm파장의 자외선을 조사한 후 15분 방치하였다. 그 후 Na2CO3 1.0wt% 수용액으로 스프레이 분사방식의 현상조건으로 현상을 실시하였다. 이때, 정한 잔존 스텝 단수가 15 단으로 되는 에너지량을 측정하였다.Dry film photoresist laminated on a copper clad laminate is irradiated with ultraviolet rays at a wavelength of 405nm using a 41-step step tablet of Stouffer Graphic Arts Equipment Co., Ltd. using ORC's FDi-3, and allowed to stand for 15 minutes after irradiating UV rays with a wavelength of 405nm with an exposure amount of 15 steps remaining by Stouffer Graphic Arts Equipment Co., Ltd. I did. After that, development was carried out under the development conditions of a spray spray method with a 1.0 wt% aqueous solution of Na 2 CO 3. At this time, the amount of energy at which the determined number of remaining steps becomes 15 steps was measured.
2. 1:1 해상도(단위: ㎛)의 측정2. Measurement of 1:1 resolution (unit: ㎛)
상기 실시예 및 비교예에서 제조된 드라이필름 포토레지스트를 브러시(Brush) 연마처리된 1.6mm 두께의 동장적층판에 라미네이션 하였다. 이때 상기 라미네이션은 HAKUTO MACH 610i를 이용하여, 기판 예열 롤 온도 120 ℃, 라미네이터 롤 온도 115 ℃, 롤 압력 4.0kgf/㎠ 및 롤 속도 2.0min/m를 적용하였다. The dry film photoresist prepared in Examples and Comparative Examples was laminated on a copper clad laminate having a thickness of 1.6 mm subjected to brush polishing treatment. At this time, the lamination was performed using HAKUTO MACH 610i, the substrate preheating roll temperature 120 ℃, the laminator roll temperature 115 ℃, the roll pressure 4.0kgf/㎠ And a roll speed of 2.0 min/m was applied.
상기 적층체에 현상이후 회로라인(line) 폭과 회로라인 사이의 공간(space) 간격이 1:1이 될 수 있도록 4 내지 20㎛까지 0.5㎛의 간격으로 형성되어 있는 data를 사용하여, ORC사의 FDi-3을 통해 Stouffer Graphic Arts Equipment 사의 41단 스텝 tablet을 사용하여 잔존 스텝 단수가 15 단으로 되는 노광량으로 405nm파장의 자외선을 조사한 후 15분 방치하였다. 그 후 Na2CO3 1.0wt% 수용액으로 스프레이 분사방식의 현상조건으로 현상을 실시하였다.Using the data formed at intervals of 0.5 μm from 4 to 20 μm so that the width of the circuit line and the space between the circuit lines after development on the stacked body become 1:1, ORC's Through FDi-3, a 41-step step tablet of Stouffer Graphic Arts Equipment was used, and the remaining step was irradiated with ultraviolet rays at a wavelength of 405 nm with an exposure amount of 15 steps and left for 15 minutes. After that, development was performed under the development conditions of a spray spray method with 1.0 wt% Na2CO3 aqueous solution.
이후, ZEISS AXIOPHOT Microscope이용하여 회로라인과 비회로라인 사이의 공간을 1:1로 하여 측정한 값으로 해상도를 결정하였다. After that, the resolution was determined by using a ZEISS AXIOPHOT Microscope to measure the space between the circuit line and the non-circuit line as 1:1.
3. 기포(단위 : 개수/mm3. Air bubbles (unit: number/mm 22 ) 확인) Confirm
상기 실시예 및 비교예에서 제조된 드라이 필름 포토레지스트에 대하여, PET필름과 PE 필름을 제거하고 난 후, 편광 현미경을 이용하여 감광성 수지층(단위 면적(1mm*1mm)) 에서 내에 존재하는 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포의 개수(개수/mm2)를 확인하였다. With respect to the dry film photoresist prepared in the above Examples and Comparative Examples, after removing the PET film and the PE film, 1㎛ existing in the photosensitive resin layer (unit area (1mm*1mm)) using a polarizing microscope The number of bubbles (number/mm 2 ) having the following diameter was confirmed.
3. 노광/현상후 하지 Defect (단위 : 개수/mm3. Defect after exposure/development (unit: number/mm 22 ) 확인) Confirm
상기 실시예 및 비교예에서 제조된 드라이필름 포토레지스트를 브러시(Brush) 연마처리된 1.6mm 두께의 동장적층판에 라미네이션 하였다. 이때 상기 라미네이션은 HAKUTO MACH 610i를 이용하여, 기판 예열 롤 온도 120 ℃, 라미네이터 롤 온도 115 ℃, 롤 압력 4.0kgf/㎠ 및 롤 속도 2.0min/m를 적용하였다. The dry film photoresist prepared in Examples and Comparative Examples was laminated on a copper clad laminate having a thickness of 1.6 mm subjected to brush polishing treatment. At this time, the lamination was performed using HAKUTO MACH 610i, the substrate preheating roll temperature 120 ℃, the laminator roll temperature 115 ℃, the roll pressure 4.0kgf/㎠ And a roll speed of 2.0 min/m was applied.
상기 적층체에 현상이후 회로라인(line) 폭과 회로라인 사이의 공간(space) 간격이 14㎛:14㎛이 될 수 있도록 ORC사의 FDi-3을 통해 Stouffer Graphic Arts Equipment 사의 41단 스텝 tablet을 사용하여 잔존 스텝 단수가 15 단으로 되는 노광량으로 405nm파장의 자외선을 조사한 후 15분 방치하였다. 그 후 Na2CO3 1.0wt% 수용액으로 스프레이 분사방식의 현상조건으로 현상을 실시하였다.A 41-step step tablet from Stouffer Graphic Arts Equipment is used through ORC's FDi-3 so that the width of the circuit line and the space between the circuit lines after development can be 14㎛:14㎛ on the laminate. Thus, after irradiating ultraviolet rays with a wavelength of 405 nm at an exposure amount of 15 remaining steps, it was allowed to stand for 15 minutes. After that, development was carried out under the development conditions of a spray spray method with a 1.0 wt% aqueous solution of Na 2 CO 3.
상기 현상된 상기 실시예 및 비교예에서 제조된 드라이필름 포토레지스트 각각에 대하여 전자 현미경을 이용하여 단위 면적(1mm*1mm) 내에 레지스트의 상면 및 하면을 관찰하여 0.5㎛이상 3㎛이하의 결함 (Defect)가 존재하는 개수(개수/㎟)를 확인하였고, 실시예 및 비교예 각각에서 얻어진 감광성 수지층의 표면 및 단면을 전계방출형 주사전자현미경 (FE-SEM, Hitachi사 제품, 확대 배율 3000배)을 이용하여 관찰하였다. For each of the developed dry film photoresists prepared in the above Examples and Comparative Examples, by observing the upper and lower surfaces of the resist within a unit area (1mm*1mm) using an electron microscope, defects of 0.5㎛ or more and 3㎛ or less. ) Is present, and the surface and cross section of the photosensitive resin layer obtained in each of the Examples and Comparative Examples were examined with a field emission scanning electron microscope (FE-SEM, manufactured by Hitachi, magnification of 3000 times). It was observed using.
[mJ/cm2]Exposure amount
[mJ/cm 2 ]
[㎛]1:1 resolution
[㎛]
직경의 기포
[개수/㎟]1㎛ or less
Bubbles of diameter
[Number/㎟]
[개수/㎟]Defect after exposure/development
[Number/㎟]
상기 표1 및 도1에서 확인되는 바와 같이, 실시예들의 감광성 적층체의 감광성 수지층 내에는 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 1개/mm2 이하로 존재하며, 또한 1㎛ 초과 5 ㎛이하의 직경을 갖는 거대 기포 또한 존재하지 않는다는 점이 확인되었다. 또한, 상기 실시예들의 감광성 수지층은 자외선으로 노광하고 알카리 용액으로 현상한 이후에도 상기0.5㎛이상 3㎛이하의 직경을 갖는 결함 (Defect)이 실질적으로 발생하지 않거나, 또는 1개/mm2 이하로 발생한다는 점이 확인되었다. As can be seen in Table 1 and Fig. 1, in the photosensitive resin layer of the photosensitive laminate of the examples, there are 1 /mm 2 or less bubbles having a diameter of 1 µm or less, and more than 1 µm and 5 µm or less. It was confirmed that there were also no giant bubbles having a diameter of. In addition, even after the photosensitive resin layer of the above embodiments is exposed to ultraviolet rays and developed with an alkali solution, defects having a diameter of 0.5 µm or more and 3 µm or less do not substantially occur, or 1 piece/mm 2 or less. It has been confirmed that it occurs.
즉, 상기 실시예들의 감광성 수지층 내에 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 미량으로 존재함에 따라서, 상기 감광성 적층체를 이용하여 회로 기판 제조시 높은 신뢰성을 확보하면서도 높은 밀도 및 감도를 구현하고 보다 미세한 배선의 형성을 할 수 있다는 점 또한 관찰 되었다. That is, since a small amount of air bubbles having a diameter of 1 μm or less exist in the photosensitive resin layer of the above embodiments, a high density and sensitivity are achieved while securing high reliability when manufacturing a circuit board using the photosensitive laminate. It was also observed that wiring could be formed.
이에 반하여, 비교예의 감광성 수지 적층체에서는 실시예와 동등 수준의 에너지를 이용하여도 실시예 수준의 해상도 구현이 어려울 뿐만 아니라, 감광성 수지층 내에는 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 10개/mm2 이상 존재하였다. On the other hand, in the photosensitive resin laminate of the comparative example, it is difficult to achieve the resolution of the example level even when using the same level of energy as the example, and in the photosensitive resin layer, 10 bubbles having a diameter of 1 μm or less are present/mm. There were 2 or more.
또한, 도 3 및 도4에서 확인되는 바와 같이, 비교예 1 및 2에서 각각 얻어진 감광성 수지층을 노광하고 알카리 용액으로 현상한 이후에 0.5㎛이상 3㎛이하의 직경을 갖는 결함 (Defect)이 다수 나타난다는 점이 확인되었다.In addition, as shown in FIGS. 3 and 4, after exposing the photosensitive resin layers obtained in Comparative Examples 1 and 2, respectively, and developing with an alkali solution, a number of defects having a diameter of 0.5 μm or more and 3 μm or less were observed. It was confirmed that it appeared.
Claims (10)
상기 지지 기재과 상기 감광성 수지층 간의 계면의 반대면으로부터 상기 감광성 수지층의 전체 두께의 50% 이내에, 1㎛ 이하의 직경을 갖는 기포가 3개/mm2 이하로 존재하고,
상기 감광성 수지층은 1㎛ 초과 5 ㎛이하의 직경을 갖는 기포를 포함하지 않으며,
상기 감광성 수지층은 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지와 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물 간의 가교 공중합체를 포함하며,
상기 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물은 방향족 작용기를 분자 내부에 포함하는 2 내지 10관능의 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는,
감광성 적층체.
Supporting substrate; And a photosensitive resin layer formed on the supporting substrate,
Within 50% of the total thickness of the photosensitive resin layer from the opposite surface of the interface between the supporting substrate and the photosensitive resin layer, there are 3 bubbles/mm 2 or less having a diameter of 1 μm or less,
The photosensitive resin layer does not contain bubbles having a diameter of more than 1 µm and less than 5 µm,
The photosensitive resin layer includes a crosslinked copolymer between an alkali developable binder resin containing a carboxyl group and a photopolymerizable compound containing a (meth)acrylate monomer or oligomer,
The photopolymerizable compound containing the (meth)acrylate monomer or oligomer comprises a 2 to 10 functional (meth)acrylate monomer or oligomer containing an aromatic functional group in the molecule,
Photosensitive laminate.
상기 지지 기재의 두께는 1 ㎛ 내지 100㎛이고,
상기 감광성 수지층의 두께는 1 ㎛ 내지 100㎛인, 감광성 적층체.
The method of claim 1,
The thickness of the supporting substrate is 1 μm to 100 μm,
The photosensitive resin layer has a thickness of 1 µm to 100 µm.
상기 감광성 수지층은 자외선 노광 및 알카리 현상 이후, 0.3㎛ 내지 4㎛의 단면 직경을 갖는 결함 (Defect)이 3개/mm2 이하로 존재하는, 감광성 적층체.
The method of claim 1,
The photosensitive resin layer has a defect having a cross-sectional diameter of 0.3 µm to 4 µm at 3 /mm 2 or less after UV exposure and alkali development.
상기 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물은 하기 화학식 1의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 포함하는, 감광성 적층체:
[화학식1]
상기 화학식 1에서,
R1 및 R2는 서로 같거나 다르며, H 또는 CH3이고,
j 및 k는 각각 1 내지 20의 정수이다.
The method of claim 1,
The photopolymerizable compound comprising the (meth)acrylate monomer or oligomer is a photosensitive laminate comprising a difunctional (meth)acrylate compound of Formula 1 below:
[Formula 1]
In Formula 1,
R 1 and R 2 are the same as or different from each other and are H or CH 3 ,
j and k are each an integer of 1 to 20.
상기 화학식 1의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물은 하기 화학식11의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물 : 하기 화학식12의 이관능 (메트)아크릴레이트 화합물을 1:1 내지 1:30의 중량비로 포함하는, 감광성 적층체:
[화학식 11]
상기 화학식 11에서,
R11 및 R12는 서로 같거나 다르며, H 또는 CH3이고,
J1 및 K1는 각각 1 내지 8의 정수이다.
[화학식 12]
상기 화학식 12에서,
R21 및 R22는 서로 같거나 다르며, H 또는 CH3이고,
J2 및 K2는 각각 10 내지 20의 정수이다.
The method of claim 5,
The bifunctional (meth)acrylate compound of Formula 1 includes a difunctional (meth)acrylate compound of Formula 11 below: a difunctional (meth)acrylate compound of Formula 12 below in a weight ratio of 1:1 to 1:30 Which is a photosensitive laminate:
[Formula 11]
In Formula 11,
R 11 and R 12 are the same as or different from each other and are H or CH 3 ,
J1 and K1 are each an integer of 1 to 8.
[Formula 12]
In Formula 12,
R 21 and R 22 are the same as or different from each other and are H or CH 3 ,
J2 and K2 are each an integer of 10 to 20.
상기 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지는 20,000 g/mol 내지 300,000 g/mol의 중량평균분자량 및 20 ℃ 이상 150 ℃ 이하의 유리전이온도를 갖는,
감광성 적층체.
The method of claim 1,
The alkali developable binder resin including the carboxyl group has a weight average molecular weight of 20,000 g/mol to 300,000 g/mol and a glass transition temperature of 20° C. or more and 150° C. or less,
Photosensitive laminate.
상기 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지는 100 mgKOH/g 이상 300 mgKOH/g 의 산가를 갖는, 감광성 적층체.
The method of claim 1,
The alkali developable binder resin containing a carboxyl group has an acid value of 100 mgKOH/g or more and 300 mgKOH/g, a photosensitive laminate.
상기 감광성 수지층은 상기 카르복실기를 포함한 알칼리 현상성 바인더 수지 100중량부와 상기 (메트)아크릴레이트 단량체 또는 올리고머를 포함하는 광중합성 화합물 1 내지 80중량부 간의 가교 공중합체를 포함하는, 감광성 적층체.
The method of claim 1,
The photosensitive resin layer comprises a crosslinked copolymer between 100 parts by weight of the alkali developable binder resin including the carboxyl group and 1 to 80 parts by weight of the photopolymerizable compound including the (meth)acrylate monomer or oligomer.
상기 지지 기재는 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET) 필름, 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름, 폴리노르보넨(PNB) 필름, 싸이클로올레핀폴리머(COP) 필름, 및 폴리카보네이트(PC) 필름으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 플라스틱 필름을 포함하는, 감광성 적층체.
The method of claim 1,
The supporting substrate is one selected from the group consisting of a polyethylene terephthalate (PET) film, a triacetylcellulose (TAC) film, a polynorbornene (PNB) film, a cycloolefin polymer (COP) film, and a polycarbonate (PC) film. A photosensitive laminate comprising the above plastic film.
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200099130A KR102250828B1 (en) | 2020-08-07 | 2020-08-07 | Photosensitive laminate, preparation method of photosensitive laminate, and preparation method of circuit board |
CN202080088801.1A CN114846404A (en) | 2019-12-31 | 2020-11-27 | Photosensitive laminate, method for manufacturing photosensitive laminate, and method for manufacturing circuit board |
PCT/KR2020/017150 WO2021137443A1 (en) | 2019-12-31 | 2020-11-27 | Photosensitive laminate, method for manufacturing photosensitive laminate, and method for manufacturing circuit board |
PCT/KR2020/017155 WO2021137444A1 (en) | 2019-12-31 | 2020-11-27 | Photosensitive laminate, method for manufacturing photosensitive laminate, and method for manufacturing circuit board |
CN202080085647.2A CN114787712A (en) | 2019-12-31 | 2020-11-27 | Photosensitive laminate, method for producing photosensitive laminate, and method for producing circuit board |
JP2022538873A JP7535585B2 (en) | 2019-12-31 | 2020-11-27 | Photosensitive laminate, method for manufacturing photosensitive laminate, and method for manufacturing circuit board |
JP2022538875A JP7526267B2 (en) | 2019-12-31 | 2020-11-27 | Photosensitive laminate, method for manufacturing photosensitive laminate, and method for manufacturing circuit board |
TW109142528A TWI780533B (en) | 2019-12-31 | 2020-12-03 | Photosensitive laminate, preparation method of photosensitive laminate, and preparation method of circuit board |
TW109142836A TWI778466B (en) | 2019-12-31 | 2020-12-04 | Photosensitive laminate, preparation method of photosensitive laminate, and preparation method of circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200099130A KR102250828B1 (en) | 2020-08-07 | 2020-08-07 | Photosensitive laminate, preparation method of photosensitive laminate, and preparation method of circuit board |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020190179860A Division KR102237567B1 (en) | 2019-12-31 | 2019-12-31 | Photosensitive laminate, preparation method of photosensitive laminate, and preparation method of circuit board |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR102250828B1 true KR102250828B1 (en) | 2021-05-10 |
Family
ID=75917059
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020200099130A KR102250828B1 (en) | 2019-12-31 | 2020-08-07 | Photosensitive laminate, preparation method of photosensitive laminate, and preparation method of circuit board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102250828B1 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006030999A (en) * | 2005-07-11 | 2006-02-02 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Photosensitive resin laminate |
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KR20170079445A (en) * | 2015-12-30 | 2017-07-10 | 코오롱인더스트리 주식회사 | Photosensitive Resin Composition and Dry Film Photoresist Comprising the same |
KR20180077722A (en) * | 2016-12-29 | 2018-07-09 | 코오롱인더스트리 주식회사 | Photosensitive resin composition for dry film photoresist |
-
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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