KR102247265B1 - 터치 회로 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 검출 회로 및 에뮬레이션 회로를 포함하는, 터치 회로를 제공한다. 검출 회로는 검출 신호를 검출하고; 에뮬레이션 회로는 기준 부하를 포함하고 신호를 수신한다. 에뮬레이션 회로는 기준 부하 및 신호에 따라 에뮬레이션 신호를 생성한다. 터치 회로는 검출 신호 및 에뮬레이션 신호에 따라 터치 신호를 출력한다.

Description

터치 회로{TOUCH CIRCUIT}
본 발명은 일반적으로 구동 회로에 관한 것이고, 특히 터치 회로에 관한 것이다.
셀프-커패시턴스 및 상호-커패시턴스 패널들을 포함하는, 투사형 용량성 패널들에 대한 2가지 설계 타입이 존재한다. 유리 표면 상에, 수평 구동 전극 어레이 및 수직 감지 전극 어레이가 투명 전도성 재료(인듐 주석 산화물, ITO)를 사용하여 제조된다. 구동 전극들 및 감지 전극들은, 각자, 커패시턴스들을 형성하는데, 이는 단지 소위 셀프-커패시턴스들이며, 전극들과 접지 사이의 커패시턴스들을 나타낸다. 손가락이 터치 패널을 터치할 때, 손가락의 커패시턴스가 셀프-커패시턴스들에 중첩되고, 따라서 커패시턴스를 증가시킬 것이다. 셀프-커패시턴스 패널에 대한 터치 테스트에서, 구동 전극 어레이 및 감지 전극 어레이는 개별적으로 테스트된다. 터치 전후의 커패시턴스의 변경에 따라, 수평 좌표 및 수직 좌표가 각자 결정되고, 이후 조합되어 평면 상의 터치 좌표들을 제공한다. 셀프-커패시턴스 패널에 대한 스캐닝 방법은 각자, x- 및 y- 축 방향들로 터치 포인트를 등가적으로 투사시키고, 이후 각자 x- 및 y- 축 방향들을 따르는 좌표들을 계산하는 것이다. 마지막으로, 좌표들이 조합되어 터치 포인트의 좌표들을 형성한다.
상호-커패시턴스 패널에 대해, 구동 전극들 및 감지 전극들은 ITO를 사용하여 유리 위에 제조된다. 상호-커패시턴스 패널과 셀프-커패시턴스 패널 사이의 차이는 상호 커패시턴스들이 2개 전극의 교점들에서 형성된다는 것인데, 이는 2개 전극이 상호 커패시턴스의 2개 단자를 형성하는 것을 의미한다. 손가락이 터치 패널을 터치함에 따라, 터치 포인트 근처의 2개 전극 사이의 커플링이 영향을 받을 것이며, 이에 의해 그 사이의 커패시턴스를 변경할 것이다. 상호 커패시턴스의 값을 테스트하는 동안, 수평 구동 전극들은 구동 신호를 순차적으로 전송하고, 모든 수직 감지 전극은 동시에 신호들을 수신한다. 이에 의해, 수평 및 수직 전극들의 모든 교점들에서의 커패시턴스 값들, 소위, 전체 터치 패널의 2-차원 면의 커패시턴스들이 주어질 수 있다. 터치 패널의 2-차원 커패시턴스들의 변형에 따라, 각각의 터치 포인트의 좌표들이 계산될 수 있다. 그에 따라, 패널 상에 다수의 터치 포인트가 존재할 수 있더라도, 각각의 터치 포인트의 실제 좌표들이 계산될 수 있다.
불행히도, 셀프 커패시턴스 및 상호 커패시턴스와의 비교 시, 손가락의 커패시턴스는 작아서, 감지 신호에 대해 더 작은 레벨 변형을 초래한다. 이에 의해, 손가락의 터치 포인트는 정확하게 판단될 수 없다. 일반적으로, 감지 신호들의 변형을 용이하게 판단하기 위해, 터치 전후의 감지 신호들은 변형을 보다 명백하게 하기 위해 증폭된다. 그럼에도, 증폭된 감지 신호들이 전압의 동작 범위를 초과하는 것이 일반적으로 발생한다. 도 1은 종래 기술에 따른 감지 신호들의 파형들을 도시한다. 터치 전후의 감지 신호는 증폭 이후 전압 VDD을 초과한다.
그에 따라, 본 발명은 신호들에 대한 증폭 범위를 넓히기 위한 터치 회로를 제공한다.
본 발명의 목적은 신호 증폭에 대한 범위를 넓히기 위한 터치 회로를 제공하는 것이다.
본 발명은 검출 회로 및 에뮬레이션 회로를 포함하는, 터치 회로를 개시한다. 검출 회로는 검출 신호를 검출하고; 에뮬레이션 회로는 기준 부하를 포함하고 신호를 수신한다. 에뮬레이션 회로는 기준 부하 및 신호에 따라 에뮬레이션 신호를 생성한다. 터치 회로는 검출 신호 및 에뮬레이션 신호에 따라 터치 신호를 출력한다.
에뮬레이션 회로는, 기준 부하에 커플링되어 신호를 기준 부하에 전송하는, 전송 디바이스를 포함한다. 기준 부하는 터치 패널의 부하에 대응한다.
검출 회로는 연산 회로를 포함한다. 연산 회로는 터치 패널 및 에뮬레이션 회로에 커플링되고, 검출 신호 및 에뮬레이션 신호를 수신하고 연산하여 연산 신호를 생성한다. 대안적으로, 연산 회로는 에뮬레이션 회로에 커플링되고, 에뮬레이션 신호 및 기준 신호를 수신하고 연산하여 연산 신호를 생성한다. 대안적으로, 연산 회로는 임피던스 디바이스를 통해 터치 패널에 그리고 에뮬레이션 신호를 수신하기 위해 에뮬레이션 회로에 커플링된다. 연산 회로는 검출 신호 및 에뮬레이션 신호에 따라 연산 신호를 생성한다.
도 1은 종래 기술에 따른 감지 신호들의 파형들을 도시한다.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 디바이스의 개략도를 도시한다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 회로에 적용되는 에뮬레이션 회로의 개략도를 도시한다.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 터치 회로에 적용되는 에뮬레이션 회로의 개략도를 도시한다.
도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 터치 회로에 적용되는 에뮬레이션 회로의 개략도를 도시한다.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 터치 디바이스의 개략도를 도시한다.
도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 터치 디바이스에 적용되는 에뮬레이션 회로의 개략도를 도시한다.
도 8은 본 발명의 제3 실시예에 따른 터치 디바이스에 적용되는 에뮬레이션 회로의 개략도를 도시한다.
도 9는 본 발명의 제4 실시예에 따른 터치 디바이스에 적용되는 에뮬레이션 회로의 개략도를 도시한다.
명세서 및 후속하는 청구항들에서, 특정 단어들은 특정 디바이스들을 나타내기 위해 사용된다. 본 기술분야의 통상의 기술자는 하드웨어 제조자들이 상이한 명사들을 사용하여 동일한 디바이스를 명명할 수 있음을 알아야 한다. 명세서 및 후속하는 청구항들에서, 명칭에서의 차이들은 디바이스들을 구별하기 위해 사용되지 않는다. 대신, 기능에서의 차이들이 구별을 위한 가이드라인들이다. 전체 명세서 및 후속하는 청구항들에서, 단어 "포함하는"은 개방 언어이며, "~를 포함하지만 이에 제한되지 않는"으로서 설명되어야 한다. 더욱이, 단어 "커플링"은 임의의 직접적인 또는 간접적인 전기 접속을 포함한다. 이에 의해, 기재가 제1 디바이스가 제2 디바이스에 커플링된다는 것인 경우, 이는 제1 디바이스가 직접적으로 제2 디바이스에 전기적으로 접속되거나, 또는 제1 디바이스가 다른 디바이스 또는 접속 수단을 통해 간접적으로 제2 디바이스에 전기적으로 접속됨을 의미한다.
본 발명의 구조 및 특성 뿐만 아니라 효과가 더 이해되고 인지되도록 하기 위해, 본 발명의 상세한 설명이 다음과 같이 실시예들 및 첨부 도면들과 함께 제공된다.
본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 디바이스의 개략도를 도시하는 도 2를 참조하라. 도면에 도시된 바와 같이, 터치 디바이스는 터치 패널(10) 및 터치 회로를 포함한다. 터치 회로는 검출 회로(20) 및 에뮬레이션 회로(30)를 포함한다. 터치 회로는 터치 패널(10)과 검출 회로(20) 사이의 회로 노드에 커플링되는 신호 소스(TX1)를 더 포함할 수 있다. 신호 소스(TX1)는 신호(STX1)를 생성하는데, 이는 손가락의 터치를 검출하기 위해 사용된다. 이에 의해, 신호(STX1)는 터치 구동 신호라 명명될 수 있다. 신호 소스(TX1)는 구동 회로로 대체될 수 있다. 이에 의해, 본 발명은 컴포넌트들 및 신호들의 명명에 제한되지 않는다. 터치 패널(10)은 복수의 구동 전극 및 복수의 감지 전극을 포함하는, 터치 감지 영역을 포함한다. 신호(STX1)는 회로 노드를 통해 터치 패널(10) 내의 구동 전극 또는 감지 전극에 전송된다. 검출 회로(20)는 손가락의 터치 위치를 검출하기 위해 구동 전극 및 감지 전극 상의 신호들의 변형을 검출한다. 추가로, 신호 소스(TX1) 및 검출 회로(20)가 회로 내에 통합될 수 있다. 이 회로는 신호(STX1)를 출력하고, 도 3에서 단지 신호(VIN)인, 검출 신호를 검출한다.
검출 회로(20)는 증폭 회로(21), 필터링 회로(22), 아날로그-대-디지털 전환 회로(23), 및 디지털 프로세싱 회로(24)를 포함한다. 디지털 프로세싱 회로(24)는 아날로그-대-디지털 회로(23)에 커플링되고, 아날로그-대-디지털 회로(23)에 의해 출력되는 디지털 신호에 따라 터치 신호(Raw_data)를 생성한다. 아날로그-대-디지털 회로(23)는 필터링 회로(22)에 커플링되고, 필터링 회로(22)에 의해 출력되는 필터링 신호에 따라 디지털 신호를 생성한다. 필터링 회로(22)는 증폭 회로(21)에 커플링되고, 증폭 회로(21)에 의해 출력되는 증폭 신호(S21)에 따라 필터링 신호를 생성한다. 검출 회로(20)는 연산 회로(40)를 더 포함할 수 있는데, 이는 연산 신호(S40)를 증폭 회로(21)에 출력하기 위해 증폭 회로(21)에 커플링된다. 이에 의해, 증폭 회로(21)는 연산 신호(S40)에 따라 증폭 신호(S21)를 생성한다. 더욱이, 연산 회로(40)는 검출 신호를 수신하기 위해 터치 패널(10)의 감지 전극들에 커플링되고, 검출 신호에 따라 연산 신호(S40)를 생성한다.
도 2의 실시예에 따르면, 연산 회로(40)는 검출 회로(20) 내에 배치된다. 대안적으로, 연산 회로(40)는 에뮬레이션 회로(30)와 같이, 검출 회로(20)의 외부에 배치될 수 있다. 다시 말해, 연산 회로(40)는 또한 에뮬레이션 회로(30) 내에 배치될 수 있다. 대안적으로, 연산 회로(40) 및 에뮬레이션 회로(30) 둘 모두가 검출 회로(20) 내에 배치된다. 연산 회로(40) 및 에뮬레이션 회로(30)의 다양한 위치들은 본 발명의 실시예에 영향을 주지 않을 것이다. 추가로, 연산 회로(40)는 가산기 또는 감산기일 수 있다.
다시 도 2를 참조하라. 에뮬레이션 회로(30) 및 터치 패널(10)은 각자, 신호(STX2) 및 신호(STX1)를 수신한다. 신호들(STX2, STX1)은 동일한 또는 상이한 신호들일 수 있다. 추가로, 이들 2개 신호는 동일한 신호 소스 또는 상이한 신호 소스들에 의해 생성될 수 있다. 본 발명은 선택들에 제한되지 않는다. 에뮬레이션 회로(30)는 검출 회로(20)의 연산 회로(40)에 커플링되고, 신호(STX2)에 따라 연산 회로(40)에 에뮬레이션 신호(VCM)를 출력한다. 연산 회로(40)는 에뮬레이션 신호(VCM) 및 검출 신호에 따라 연산 신호(S40)를 생성한다. 더욱이, 도 2에서의 연산 회로(40) 모두는 동일한 에뮬레이션 신호(VCM)를 수신한다. 대안적으로, 에뮬레이션 신호(VCM)는 터치 패널(10)의 각각의 전극(구동 전극 또는 감지 전극)의 등가 부하에 따라 변경될 수 있다. 말하자면, 에뮬레이션 신호(VCM)는 상이한 전극들에 전송되는 신호(STX1)의 전기 상태들, 예를 들어, 전압 레벨을 에뮬레이트할 수 있다. 다시 말해, 도 2에서의 각각의 연산 회로(40)는 전극들의 상이한 등가 부하에 따라 상이한 에뮬레이션 신호(VCM)를 또한 수신할 수 있다. 이에 의해, 터치 회로는 에뮬레이션 신호(VCM)에 따라 전극들 상의 전기 상태들의 일부를 소거시키고, 따라서, 터치 회로의 증폭 회로(21)의 이득이 증가할 수 있다. 또한, 증폭 회로(21)에 의해 증폭되는 연산 신호(S40)는 여전히 전압의 동작 범위를 초과하지 않을 것이다.
그에 따라, 에뮬레이션 신호(VCM)는 전극들(터치 패널(10)의 구동 전극 또는 감지 전극)에 전송된 이후 신호(STX1)의 전기 상태를 완전히 또는 부분적으로 소거할 수 있다. 예를 들어, 신호(STX1)가 전극에 전송된 이후, 전극의 초기 전압 레벨은 5V이다. 에뮬레이션 신호(VCM)의 전압 레벨 역시 5V일 수 있다. 연산 회로(40)가 동작할 때, 에뮬레이션 신호(VCM)는 전극의 초기 전압 레벨을 완전히 소거할 수 있다. 대안적으로, 신호(STX1)가 전극에 전송된 이후, 전극의 전압은 5V인 반면 에뮬레이션 신호(VCM)의 전압 레벨은 2.5V일 수 있다. 연산 회로(40)가 동작할 때, 에뮬레이션 신호(VCM)는 오직 전극 상의 초기 전압의 절반만 소거한다. 이에 의해, 에뮬레이션 신호(VCM) 및 신호(STX2)의 전압 레벨들은 증폭 회로(21)의 이득, 신호(STX1)의 전압 레벨, 전극의 초기 전압 레벨, 또는 전압의 동작 범위에 따라 조정될 수 있다. 그에 따라, 본 발명은 에뮬레이션 신호(VCM) 및 신호(STX2)의 전압 레벨(넌제로)을 제한하지 않는다. 에뮬레이션 신호(VCM) 및 신호(STX2)의 상이한 전압 레벨들은 증폭 범위의 상이한 정도들을 용이하게 한다. 그것은 전압 레벨들을 설계하는 회로 설계자들에 달려 있다.
본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 회로에 적용되는 에뮬레이션 회로의 개략도를 도시하는 도 3을 참조하라. 도면에 도시된 바와 같이, 터치 패널(10) 내의 모든 전극들, 구동 전극, 또는 감지 전극은 터치-패널 부하(12)에 의해 표현될 수 있다. 신호(STX1)는 신호 소스(TX1)에 의해 생성되어 전송 디바이스에 의해 터치 패널(10)의 전극들에 전송될 수 있다. 이 전송 디바이스는 커패시터(C1), 인덕터 또는 저항기와 같은 수동 디바이스일 수 있다. 대안적으로, 전송 디바이스는 트랜지스터(능동 디바이스)의 다이오드-접속에 의해 형성되는 커패시터일 수 있다. 본 발명은 전송 디바이스의 타입들을 제한하지 않는다.
도 3에 도시된 에뮬레이션 회로(30)는 전송 디바이스(커패시터(C2))에 커플링되는, 기준 부하(32)를 포함한다. 전송 디바이스는 기준 부하(32)에 신호(STX2)를 전송한다. 마찬가지로, 기준 부하(32)는 터치-패널 부하(12)와 동일하거나 또는 상이할 수 있다. 이에 의해, 기준 부하(32)는 터치-패널 부하(12)에 대응한다. 기준 부하(32)를 조정함으로써, 에뮬레이션 신호(VCM)의 전압 레벨이 변경될 수 있다. 추가로, 도 3에서의 실시예에 따른 에뮬레이션 회로(30)는 커패시터(C2) 및 신호 소스(TX2)를 포함할 수 있다. 신호 소스(TX2)는 신호(STX2)를 생성하는데, 이는 커패시터(C2)에 의해 기준 부하(32)에 전송된다. 신호 소스(TX2)에 의해 생성되는 신호(STX2)는 신호 소스(TX1)에 의해 생성되는 신호(STX1)와 동일하거나 또는 상이할 수 있다. 커패시터(C2)의 커패시턴스는 커패시터(C1)의 커패시턴스와 동일하거나 또는 상이하다. 이에 의해, 기준 부하(32), 커패시터(C2), 및 신호 소스(TX2)는 각자, 터치-패널 부하(12), 커패시터(C1), 및 신호 소스(TX1)를 에뮬레이트한다. 따라서, 에뮬레이션 회로(30)에 의해 출력되는 에뮬레이션 신호(VCM)는 터치-패널 부하(12)에 전송된 이후 신호(STX1)의 부분적인 또는 모든 전기 상태들을 에뮬레이트할 수 있다.
도 3을 다시 참조하면, 연산 회로(40)는 입력 신호(VIN)를 수신한다. 도 3의 실시예에 따르면, 입력 신호(VIN)는 검출 신호이다. 이에 의해, 연산 회로(40)는 입력 신호(VIN) 및 에뮬레이션 신호(VCM)를 연산하여 연산 신호(S40)를 생성한다. 소위, 연산 동안, 연산 회로(40)는 입력 신호(VIN)로부터 에뮬레이션 신호(VCM)를 차감하여 연산 신호(S40)를 제공한다. 결과적으로, 본 실시예에 따른 연산 회로(40)는 감산기이다. 더욱이, 전술된 바와 같이, 에뮬레이션 회로(30), 연산 회로(40), 증폭 회로(21), 저항기(R1) 및 저항기(R2)는 검출 회로(20)의 내부에 위치되든 외부에 위치되든, 모두 본 발명의 실시예이다. 도 3에서의 실시예에 따르면, 증폭 회로(21)는 전압 증폭기이다. 증폭 회로(21)는 임피던스 디바이스(저항기(R1))를 통해 연산 회로(40)에 커플링되고, 기준 신호(VREF)를 수신하고, 연산 신호(S40) 및 기준 신호(VREF)에 따라 증폭 신호(S21)를 생성한다.
본 발명의 제2 실시예에 따른 터치 회로에 적용되는 에뮬레이션 회로의 개략도를 도시하는, 도 4를 참조하라. 도면에 도시된 바와 같이, 에뮬레이션 회로(30)의 출력은 증폭 회로(21)의 양의 단자에 대안적으로 커플링될 수 있다. 추가로, 연산 회로(40)는 증폭 회로(21)의 양의 단자에 대해 배치된다. 이에 의해, 연산 동안, 연산 회로(40)는 기준 신호(VREF)를 에뮬레이션 신호(VCM)에 더하여 연산 신호(S40)를 생성한다. 증폭 회로(21)는 연산 신호(S40)에 의해 차감되는 입력 신호(VIN)의 전압 레벨을 단지 증폭시킨다. 따라서, 증폭 신호(S21)의 전압 레벨은 전압의 동작 범위를 초과하지 않을 것이다. 또한, 도 4에서의 실시예에 따른 연산 회로(40)는 증폭 회로(21)의 양의 단자의 전압 레벨을 상승시키기 위해 충전 커패시터 또는 풀-업 저항기에 의해 대안적으로 대체될 수 있다. 소위, 증폭 회로(21)의 양의 단자의 전압 레벨은 기준 신호(VREF)의 레벨로부터 기준 신호(VREF)와 에뮬레이션 신호(VCM)의 합산의 레벨로 상승할 수 있다. 이에 의해, 증폭 회로(21)는 연산 신호(S40)를 수신하고 연산 신호(S40)와 검출 신호(입력 신호(VIN))에 따라 증폭 신호(S21)를 생성하기 위해 연산 회로(40)에 커플링된다.
본 발명의 제3 실시예에 따른 터치 회로에 적용되는 에뮬레이션 회로의 개략도를 도시하는, 도 5를 참조하라. 도면에 도시된 바와 같이, 증폭 회로(21)는 연산 신호(S40)를 수신하기 위해 연산 회로(40)에 커플링된다. 더욱이, 증폭 회로(21)는 기준 신호(VREF)에 커플링되고, 연산 신호(S40) 및 기준 신호(VREF)에 따라 증폭 신호(S21)를 생성한다. 에뮬레이션 회로(30)에 의해 출력되는 에뮬레이션 신호(VCM)는 임피던스 디바이스(예를 들어, 저항기(R3))를 통해 에뮬레이션 전류(ICM)로 전환된다. 추가로, 연산 회로(40)는 임피던스 디바이스(저항기(R1))와 증폭 회로(21) 사이에 배치된다. 이에 의해, 검출 신호는 저항기(R1)를 통해 입력 전류(IIN)로 전환된다. 연산 동안, 연산 회로(40)는 입력 전류(IIN)로부터 에뮬레이션 전류(ICM)를 차감하여 연산 신호(S40)를 생성한다. 이에 의해, 도 3 내지 5의 실시예들에 따라, 연산 신호(S40)가 전압 신호 또는 전류 신호일 수 있다는 것이 알려진다.
본 발명의 제2 실시예에 따른 터치 디바이스의 개략도를 도시하는 도 6을 참조하라. 도면에 도시된 바와 같이, 터치 디바이스의 터치 패널(10)은 상호-커패시턴스 패널일 수 있다. 신호(STX1)는 터치 패널(10) 내의 구동 전극들에 전송된다. 구동 전극들은 추가적인 전극일 수 있다. 대안적으로, 공통 전극이 터치에 대한 구동 전극으로서 채택될 수 있다. 어떤 식으로든, 모두 본 발명의 실시예이다. 도 6에서의 실시예에 따른 나머지 기술적 내용은 도 2에서의 기술적 내용과 동일하다. 따라서, 상세항목이 다시 기술되지 않을 것이다.
본 발명의 제2 실시예에 따른 터치 디바이스에 적용되는 에뮬레이션 회로의 개략도를 도시하는 도 7을 참조하라. 도면에 도시된 바와 같이, 신호 소스(TX1)는 전송 디바이스(커패시터(C1))에 대한 신호(STX1)를 생성한다. 전송 디바이스는 신호(STX1)를 터치 패널(10) 내의 구동 전극들에 전송한다. 구동 전극과 감지 전극 사이의 커플링에 의해 형성되는 등가 부하(14)는 커패시터 및 저항기를 포함할 수 있다. 이에 의해, 에뮬레이션 회로(30) 내의 기준 부하(32)는 터치 패널(10) 내의 등가 부하들에 매치할 수 있다. 추가로, 도 3, 4 및 7에서의 연산 회로(40)는 전압 형태인 에뮬레이션 신호(VCM)를 수신하는 반면, 도 5에서의 연산 회로(40)는 전류 형태인 에뮬레이션 전류(ICM)를 수신한다. 에뮬레이션 회로들(30)의 위치들은 완전히 동일하지는 않다. 다시 말해, 도 3, 4, 5 및 7에서의 실시예들에 따른 에뮬레이션 회로(30)는 도 2 및 6에서의 터치 디바이스에 적용될 수 있다. 상세항목들은 다시 기술되지는 않을 것이다.
추가로, 본 발명의 제3 실시예에 따른 터치 디바이스의 개략도를 도시하는 도 8을 참조하라. 도 8은 도 2 및 6에서의 또다른 실시예를 도시하고, 증폭 회로(25)는 필터링 기능들을 포함할 수 있다. 실시예에 따르면, 도 2 및 6의 필터링 회로(22)가 요구되지 않는다. 또한, 본 발명의 제4 실시예에 따른 터치 디바이스의 개략도를 도시하는 도 9를 참조하라. 도 9는 도 2 및 6의 추가적인 또다른 실시예를 도시하고, 증폭 회로(21)는 아날로그-대-디지털 전환 회로(23)에 커플링되고, 아날로그-대-디지털 전환 회로(23)는 필터링 회로(22)에 커플링된다.
요약하면, 본 발명은 검출 회로 및 에뮬레이션 회로를 포함하는, 터치 회로를 개시한다. 검출 회로는 검출 신호를 검출하고; 에뮬레이션 회로는 기준 부하를 포함하고 신호를 수신한다. 에뮬레이션 회로는 기준 부하 및 신호에 따라 에뮬레이션 신호를 생성한다. 터치 회로는 검출 신호 및 에뮬레이션 신호에 따라 터치 신호를 출력한다.
에뮬레이션 회로는 기준 부하에 커플링되고 신호를 기준 부하에 전송하는, 전송 디바이스를 포함한다. 기준 부하는 터치 패널의 부하에 대응한다.
검출 회로는 연산 회로를 포함한다. 연산 회로는 터치 패널 및 에뮬레이션 회로에 커플링되고, 검출 신호 및 에뮬레이션 신호를 수신하고 연산하여 연산 신호를 생성한다. 대안적으로, 연산 회로는 에뮬레이션 회로에 커플링되고, 에뮬레이션 신호 및 기준 신호를 수신하고 연산하여 연산 신호를 생성한다. 대안적으로, 연산 회로는 임피던스 디바이스를 통해 터치 패널에 그리고 에뮬레이션 신호를 수신하기 위해 에뮬레이션 회로에 커플링된다. 연산 회로는 검출 신호 및 에뮬레이션 신호에 따라 연산 신호를 생성한다.

Claims (11)

  1. 터치 회로로서,
    기준 부하를 포함하고, 신호를 수신하고, 상기 기준 부하 및 상기 신호에 따라 에뮬레이션 신호를 생성하는, 에뮬레이션 회로; 및
    검출 신호를 검출하는, 검출 회로
    를 포함하고, 상기 검출 회로는:
    터치 패널 및 상기 에뮬레이션 회로에 커플링되고, 상기 검출 신호 및 상기 에뮬레이션 신호를 수신하고 연산하여 연산 신호를 생성하는, 연산 회로; 및
    임피던스 디바이스를 통해 상기 연산 회로에 커플링되고, 기준 신호를 수신하고, 상기 연산 신호 및 상기 기준 신호에 따라 증폭 신호를 생성하는, 증폭 회로를 포함하고,
    상기 터치 회로는 상기 검출 신호 및 상기 에뮬레이션 신호에 따라 터치 신호를 출력하는 터치 회로.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 에뮬레이션 회로는, 상기 기준 부하에 커플링되고, 상기 신호를 상기 기준 부하에 전송하는, 전송 디바이스를 포함하고, 상기 기준 부하는 터치-패널 부하에 대응하는 터치 회로.
  3. 제2항에 있어서,
    터치 감지 영역은 복수의 구동 전극 및 복수의 감지 전극을 포함하고;
    상기 복수의 구동 전극 중 하나와 상기 복수의 감지 전극 중 하나 사이의 커플링에 의해 형성되는 등가 부하는 상기 터치-패널 부하인 터치 회로.
  4. 제2항에 있어서,
    터치 감지 영역은 복수의 구동 전극 및 복수의 감지 전극을 포함하고;
    상기 복수의 구동 전극 중 하나 또는 상기 복수의 감지 전극 중 하나에 의해 형성되는 등가 부하는 상기 터치-패널 부하인 터치 회로.
  5. 제2항에 있어서,
    터치 감지 영역은 복수의 구동 전극 및 복수의 감지 전극을 포함하고;
    상기 복수의 구동 전극 및 상기 복수의 감지 전극에 의해 형성되는 등가 부하는 상기 터치-패널 부하인 터치 회로.
  6. 터치 회로로서,
    기준 부하를 포함하고, 신호를 수신하고, 상기 기준 부하 및 상기 신호에 따라 에뮬레이션 신호를 생성하는, 에뮬레이션 회로; 및
    검출 신호를 검출하는, 검출 회로
    를 포함하고, 상기 검출 회로는:
    상기 에뮬레이션 회로에 커플링되고, 상기 에뮬레이션 신호 및 기준 신호를 수신하고 연산하여 연산 신호를 생성하는, 연산 회로를 포함하고,
    상기 터치 회로는 상기 검출 신호 및 상기 에뮬레이션 신호에 따라 터치 신호를 출력하는 터치 회로.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 검출 회로는, 상기 연산 신호를 수신하기 위해 상기 연산 회로에 커플링되고, 상기 연산 신호 및 상기 검출 신호에 따라 증폭 신호를 생성하는, 증폭 회로를 포함하는 터치 회로.
  8. 터치 회로로서,
    기준 부하를 포함하고, 신호를 수신하고, 상기 기준 부하 및 상기 신호에 따라 에뮬레이션 신호를 생성하는, 에뮬레이션 회로; 및
    검출 신호를 검출하는, 검출 회로
    를 포함하고, 상기 검출 회로는:
    임피던스 디바이스를 통해 터치 패널에 커플링되고, 상기 에뮬레이션 신호를 수신하기 위해 상기 에뮬레이션 회로에 커플링되는 연산 회로 - 상기 검출 신호는 상기 임피던스 디바이스를 통해 입력 전류로 전환되고, 상기 연산 회로는 상기 입력 전류 및 상기 에뮬레이션 신호에 따라 연산 신호를 생성함 - 를 포함하고,
    상기 터치 회로는 상기 검출 신호 및 상기 에뮬레이션 신호에 따라 터치 신호를 출력하는 터치 회로.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 검출 회로는, 상기 연산 신호를 수신하기 위해 상기 연산 회로에 커플링되고, 기준 신호에 커플링되고, 상기 연산 신호 및 상기 기준 신호에 따라 증폭 신호를 생성하는, 증폭 회로를 포함하는 터치 회로.
  10. 삭제
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