KR102228631B1 - 표시장치, 표시패널 및 타이밍 컨트롤러 - Google Patents

Abstract

본 실시예들은, 화이트 서브픽셀이 오프(Off)가 되고, 레드 서브픽셀, 그린 서브픽셀 및 블루 서브픽셀이 동시에 온(On)이 되는 적어도 하나의 픽셀이 존재하는 표시패널과, 이를 구동하기 위한 타이밍 컨트롤러와, 그 표시장치에 관한 것이다.

Description

표시장치, 표시패널 및 타이밍 컨트롤러{DISPLAY DEVICE, DISPLAY PANEL, AND TIMING CONTROLLER}

본 발명은 표시장치, 표시패널 및 타이밍 컨트롤러에 관한 것이다.

정보화 사회가 발전함에 따라 화상을 표시하기 위한 표시장치에 대한 요구가 다양한 형태로 증가하고 있으며, 액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display Device), 플라즈마표시장치(Plasma Display Device), 유기발광표시장치(OLED: Organic Light Emitting Display Device) 등과 같은 여러 가지 타입의 표시장치가 활용되고 있다.

이러한 표시장치를 출하하기 전, 표시패널의 제작 시, 공정 상의 이물 등의 원인에 의해, 서브픽셀 내 회로소자(예: 트랜지스터, 유기발광다이오드 등)의 단락(Short)이 발생할 수 있으며, 이러한 서브픽셀 내 회로소자의 단락은 해당 서브픽셀을 암점화시킬 수 있다.

이러한 서브픽셀의 암점화는 표시패널의 화질을 저하시키고, 심한 경우, 표시패널 자체를 폐기시켜야 할 정도로 심각한 문제가 되어, 패널 수율을 크게 떨어뜨리는 주요한 요인이 된다.

이러한 문제를 발생시키는 서브픽셀의 암점화는, 제품 출하 후에도, 장시간의 구동에 따른 회로소자의 열화(Degradation) 또는 외부 충격 등으로 인해 발생하기도 한다.

따라서, 제품 출하 이전은 물론, 출하 이후에도, 서브픽셀의 암점화에 대한 적절한 대응 조치가 필요한 실정이다. 하지만, 현재, 표시패널 내 서브픽셀의 암점화에 대한 적절한 대응 조치가 이루어지지 못하고 있는 실정이다.

이러한 배경에서, 본 실시예들의 목적은, 표시패널 내 서브픽셀의 암점화에 대한 적절한 대응 조치를 해주는 데 있다. 특히, 화이트 서브픽셀의 암점화에 대한 효과적인 대응 조치를 해주는 데 있다.

또한, 본 실시예들의 다른 목적은, 표시패널 내 서브픽셀의 진행성 암점화를 검출하여, 이에 대한 적절한 대응 조치를 해주는 데 있다. 특히, 화이트 서브픽셀의 진행성 암점화를 검출하여 이에 대한 효과적인 대응 조치를 해주는 데 있다.

일 실시예는, 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인이 형성되고, 다수의 픽셀이 형성되며, 각 픽셀은 레드(Red) 서브픽셀, 화이트(White) 서브픽셀, 그린(Green) 서브픽셀 및 블루(Blue) 서브픽셀로 구성된 표시패널과, 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동부와, 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동부와, 데이터 구동부 및 게이트 구동부를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함하되, 다수의 픽셀 중 화이트 서브픽셀이 오프(Off)가 되고, 레드 서브픽셀, 그린 서브픽셀 및 블루 서브픽셀이 동시에 온(On)이 되는 적어도 하나의 화이트 오프 픽셀이 존재하는 표시장치를 제공한다.

다른 실시예는, 데이터 전압을 공급하는 다수의 데이터 라인과, 스캔 신호를 공급하는 다수의 게이트 라인과, 제1색상 서브픽셀, 제2색상 서브픽셀, 제3색상 서브픽셀 및 제4색상 서브픽셀로 구성된 다수의 픽셀을 포함하되, 다수의 픽셀 중, 제2색상 서브픽셀이 오프(Off)가 되고, 나머지 3가지 색상의 서브픽셀이 동시에 온(On)이 되는 적어도 하나의 픽셀이 존재하는 표시패널을 제공한다.

또 다른 실시예는, 미리 저장된 화이트 암점 위치정보 리스트에 화이트(White) 서브픽셀의 위치정보가 포함되어 있는지를 확인하여, 확인 결과, 포함되어 있는 경우, 화이트 서브픽셀을 화이트 암점으로 판단하는 암점 판단부와, 화이트 서브픽셀이 화이트 암점으로 판단된 경우, 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 화이트 서브픽셀이 속한 픽셀에 대하여, 레드(Red) 서브픽셀, 그린(Green) 서브픽셀 및 블루(Blue) 서브픽셀이 동시에 온(On)이 되도록 제어하는 암점 보상부를 포함하는 타이밍 컨트롤러를 제공한다.

또 다른 실시예는, 하나의 픽셀을 구성하는 3개 또는 4개의 서브픽셀과 공유적으로 연결된 센싱 라인과, 센싱 라인의 일 단부에 연결되며 전류를 공급하는 전류 소스와, 센싱 라인에 연결되고, 센싱 라인과 연결된 센싱 노드의 전압을 센싱하는 센싱 유닛과, 센싱된 전압을 토대로 각 서브픽셀의 암점 여부를 검출하는 암점 검출부를 포함하는 표시장치를 제공한다.

여기서, 센싱 유닛은, 전류 소스에 의해 전류가 흐르는 경로 상에서, 암점 여부를 확인하고자 하는 서브픽셀에서 센싱 라인까지 각 서브픽셀에 존재하는 임피던스 성분과 센싱 라인의 임피던스 성분에 의해 발생한 전압 강하에 따라, 센싱 라인과 센싱 유닛이 연결된 센싱 노드에 걸리는 전압을 센싱하고, 암점 검출부는, 센싱 노드의 센싱된 전압을 토대로, 암점 여부를 확인하고자 하는 서브픽셀의 암점 여부를 검출한다.

이상에서 설명한 바와 같은 본 실시예들에 의하면, 표시패널 내 서브픽셀의 암점화에 대한 적절한 대응 조치를 해주는 데 있다. 특히, 화이트 서브픽셀의 암점화에 대한 효과적인 대응 조치를 해주는 효과가 있다.

또한, 본 실시예들에 의하면, 표시패널 내 서브픽셀의 진행성 암점화를 검출하여, 이에 대한 적절한 대응 조치를 해주는 데 있다. 특히, 화이트 서브픽셀의 진행성 암점화를 검출하여 이에 대한 효과적인 대응 조치를 해주는 효과가 있다.

도 1은 실시예들에 따른 표시장치의 개략적인 시스템 구성도이다.
도 2는 실시예들에 따른 표시패널의 픽셀 구조를 나타낸 도면이다.
도 3은 실시예들에 따른 표시패널에서 화이트 암점이 존재하는 일부분을 나타낸 도면이다.
도 4는 실시예들에 따른 표시패널에서, 화이트 정상 픽셀과 화이트 암점 픽셀을 나타낸 도면이다.
도 5는 실시예들에 따른 표시장치(100)에 적용된 화이트 암점(White Dark Spot) 보상 기술을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 6은 실시예들에 따른 표시장치의 타이밍 컨트롤러의 개략적인 블록도이다.
도 7은 실시예들에 따른 표시장치의 화이트 암점 보상 방법의 흐름도이다.
도 8은 실시예들에 따른 표시장치의 화이트 암점 보상 방법의 다른 흐름도이다.
도 9는 실시예들에 따른 표시장치의 화이트 암점 보상 방법의 또 다른 흐름도이다.
도 10은 실시예들에 따른 표시장치의 화이트 암점 보상 방법의 또 다른 흐름도이다.
도 11은 실시예들에 따른 표시장치에서, 화이트 정상 픽셀의 구동 방식을 나타낸 도면이다.
도 12는 실시예들에 따른 표시장치에서, 화이트 정상 픽셀의 구동 시, 데이터 출력의 예시도이다.
도 13은 실시예들에 따른 표시장치에서, 화이트 암점 보상을 위한 화이트 암점 픽셀의 구동 방식을 나타낸 도면이다.
도 14는 실시예들에 따른 표시장치에서, 화이트 암점 보상을 위한 화이트 암점 픽셀의 구동 시, 데이터 출력의 예시도이다.
도 15는 실시예들에 따른 표시장치에서, 진행성 화이트 암점이 발생한 경우와, 진행성 화이트 암점 보상을 위한 화이트 암점 픽셀의 구동 방식을 나타낸 도면이다.
도 16은 실시예들에 따른 표시장치에서, 진행성 화이트 암점 보상을 위한 화이트 암점 픽셀의 구동 시, 데이터 출력의 예시도이다.
도 17은 실시예들에 따른 표시장치에서, 진행성 화이트 암점 보상을 위한 화이트 암점 픽셀의 구동 시, 데이터 출력의 다른 예시도이다.
도 18은 실시예들에 따른 표시패널에서, 각 서브픽셀의 등가회로도에 대한 예시도이다.
도 19는 실시예들에 따른 표시패널에서, 한 픽셀의 개략적인 등가회로도이다.
도 20은 실시예들에 따른 표시패널에서, 임피던스 비교 방식을 통한 진행성 화이트 암점을 검출하기 위한 픽셀 등가회로도이다.
도 21은 실시예들에 따른 표시패널에서, 화이트 암점이 없는 화이트 정상 픽셀에 대한 화이트 암점 검출을 나타낸 도면이다.
도 22는 실시예들에 따른 표시패널에서, 화이트 암점이 있는 화이트 암점 픽셀에 대한 화이트 암점 검출을 나타낸 도면이다.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.

도 1은 실시예들에 따른 표시장치(100)의 개략적인 시스템 구성도이다.

도 1을 참조하면, 실시예들에 따른 표시장치(100)는, m개의 데이터 라인(DL1, ... , DLm, m: 자연수) 및 n개의 게이트 라인(GL1, ... , GLn, n: 자연수)이 형성된 표시패널(110)과, m개의 데이터 라인(DL1, ... , DLm)을 구동하는 데이터 구동부(120)와, n개의 게이트 라인(GL1, ... , GLn)을 순차적으로 구동하는 게이트 구동부(130)와, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하는 타이밍 컨트롤러(140) 등을 포함한다.

표시패널(110)에는, m개의 데이터 라인(DL1, ... , DLm) 및 n개의 게이트 라인(GL1, ... , GLn)이 서로 교차되는 지점마다 서브픽셀(SP: Sub Pixel)이 형성된다.

타이밍 컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 인터페이스에서 입력되는 영상 데이터를 데이터 구동부(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터(Data)를 출력하고, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 통제한다.

이러한 타이밍 컨트롤러(140)는 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하기 위하여, 데이터 제어 신호(DCS: Data Control Signal), 게이트 제어 신호(GCS: Gate Control Signal) 등의 각종 제어 신호를 출력할 수 있다.

게이트 구동부(130)는, 타이밍 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 온(On) 전압 또는 오프(Off) 전압의 스캔 신호를 n개의 게이트 라인(GL1, ... , GLn)으로 순차적으로 공급하여 n개의 게이트 라인(GL1, ... , GLn)을 순차적으로 구동한다.

데이터 구동부(120)는, 타이밍 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 입력된 영상 데이터(Data)를 메모리(미도시)에 저장해두고, 특정 게이트 라인이 열리면, 해당 영상 데이터(Data)를 아날로그 형태의 데이터 전압(Vdata)으로 변환하여 m개의 데이터 라인(DL1, ... , DLm)으로 공급함으로써, m개의 데이터 라인(DL1, ... , DLm)을 구동한다.

데이터 구동부(120)는 다수의 데이터 구동 집적회로(Data Driver IC, 소스 구동 집적회로(Source Driver IC)라고도 함)를 포함할 수 있는데, 이러한 다수의 데이터 구동 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, 표시패널(110)에 직접 형성될 수도 있으며, 경우에 따라서, 표시패널(110)에 집적화되어 형성될 수도 있다.

게이트 구동부(130)는, 구동 방식에 따라서, 도 1에서와 같이 표시패널(110)의 한 측에만 위치할 수도 있고, 2개로 나누어져 표시패널(110)의 양측에 위치할 수도 있다.

또한, 게이트 구동부(130)는, 다수의 게이트 구동 집적회로(Gate Driver IC)를 포함할 수 있는데, 이러한 다수의 게이트 구동 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, GIP(Gate In Panel) 타입으로 구현되어 표시패널(110)에 직접 형성될 수도 있으며, 경우에 따라서, 표시패널(110)에 집적화되어 형성될 수도 있다.

본 실시예들에 따른 표시장치(100)는, 액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display), 플라즈마표시장치(PDP: Plasma Display Panel), 유기발광표시장치(OLED: Organic Light Emitting Display Device) 등 중 그 어떠한 것일 수도 있다.

도 2는 실시예들에 따른 표시패널(110)의 픽셀 구조를 나타낸 도면이다.

도 2를 참조하면, 실시예들에 따른 표시패널(110)에 형성된 다수의 서브픽셀(SP)은, 4가지의 서브픽셀(제1색상 서브픽셀, 제2색상 서브픽셀, 제3색상 서브픽셀 및 제4색상 서브픽셀)이다.

도 2를 참조하면, 4가지의 서브픽셀(제1색상 서브픽셀, 제2색상 서브픽셀, 제3색상 서브픽셀 및 제4색상 서브픽셀)은, 하나의 픽셀(P: Pixel)을 구성한다. 즉, 하나의 픽셀(P)은 4개의 서브픽셀(제1색상 서브픽셀, 제2색상 서브픽셀, 제3색상 서브픽셀 및 제4색상 서브픽셀)로 구성된다.

도 2를 참조하면, 4가지의 서브픽셀(제1색상 서브픽셀, 제2색상 서브픽셀, 제3색상 서브픽셀 및 제4색상 서브픽셀)은 레드 서브픽셀(R: Red Sub Pixel), 화이트 서브픽셀(W: White Sub Pixel), 그린 서브픽셀(G: Green Sub Pixel) 및 블루 서브픽셀(B: Blue Sub Pixel)일 수 있다.

예를 들어, 제1색상 서브픽셀은 레드 서브픽셀(R)이고, 제2색상 서브픽셀은 화이트 서브픽셀(W)이며, 제3색상 서브픽셀은 그린 서브픽셀(G)이고, 제4색상 서브픽셀은 블루 서브픽셀(B)일 수 있다.

아래에서는, 설명의 편의를 위해, 제1색상 서브픽셀은 레드 서브픽셀(R)이고, 제2색상 서브픽셀은 화이트 서브픽셀(W)이며, 제3색상 서브픽셀은 그린 서브픽셀(G)이고, 제4색상 서브픽셀은 블루 서브픽셀(B)인 것으로 가정하여 설명한다.

한편, 제품 출하 전, 표시패널(110)의 제작 시, 공정 상의 이물 등의 원인에 의해, 서브픽셀 내 회로소자(예: 트랜지스터, 유기발광다이오드 등)의 단락(Short)이 발생할 수 있으며, 이러한 서브픽셀 내 회로소자의 단락은 해당 서브픽셀을 암점화시킬 수 있다. 이러한 서브픽셀의 암점화는 표시패널(110)의 화질을 저하시키고, 심한 경우, 표시패널(110) 자체를 폐기시켜야 할 정도로 심각한 문제가 되어, 패널 수율을 크게 떨어뜨리는 주요한 요인이 된다. 이러한 서브픽셀의 암점화는, 제품 출하 후에도, 장시간의 구동에 따른 회로소자의 열화(Degradation) 또는 외부 충격 등으로 인해 발생하기도 한다.

도 3은 실시예들에 따른 표시패널(110)에서 화이트 암점이 있는 일 부분을 나타낸 도면이다. 도 4는 실시예들에 따른 표시패널(110)에 형성된 2가지 타입의 픽셀(화이트 정상 픽셀, 화이트 암점 픽셀)을 나타낸 도면이다.

도 3 및 도 4를 참조하면, 실시예들에 따른 표시패널(110)에는, 화이트 서브픽셀(W)이 암점인 픽셀이 적어도 하나 존재할 수 있다. 즉, 표시패널(110)에 존재하는 대부분의 픽셀은 화이트 서브픽셀(W)이 암점이 아닌 정상적인 픽셀(이를 “화이트 정상 픽셀”이라 함)에 해당하고, 화이트 서브픽셀(W)이 암점인 픽셀(이를 “화이트 암점 픽셀”이라 함)이 적어도 하나 존재한다.

화이트 정상 픽셀인 경우, 기본적으로, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 중 2개의 서브픽셀(예: R과 G, 또는 G와 B)과 화이트 서브픽셀(W)을 구동하는 "W + 2 Color 구동 방식"에 따라 구동된다.

더 구체적으로는, 1개의 픽셀(P)에서, 한 프레임(Frame) 구간 동안, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 중 2개의 서브픽셀과 화이트 서브픽셀(W)이 온(On)이 된다.

즉, "W + 2 Color 구동 방식"에 따르면, 1개의 픽셀(P)은, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B)을 온 시켜 화이트를 표현하는 것이 아니라, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 중 2개의 서브픽셀(예: R과 G, 또는 G와 B)과, 화이트 서브픽셀(W)를 포함하는 3개의 서브픽셀(예: R, W 및 G, 또는 W, G 및 B)을 온 시켜 화이트를 표현한다. 여기서, "W + 2 Color 구동 방식"에 따르면, 화이트 서브픽셀(W)이 온이 되기 때문에, 본 명세서에서는, "W + 2 Color 구동 방식"을 "화이트 컬러 구동 방식"이라고도 기재한다.

이를 위해, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 중 2개의 서브픽셀과 화이트 서브픽셀(W) 각각으로는, 해당 데이터가 미리 설정된 화이트 색좌표 보정 수식에 따라 변환된 변환 데이터에 대응되는 데이터 전압이 인가된다.

전술한 바와 같이, R/W/G/B 픽셀 구조를 갖는 픽셀은 "W + 2 Color 구동 방식"으로 구동되기 때문에, 화이트 서브픽셀이 암점화가 된 픽셀, 즉, 화이트 암점 픽셀 또한, “W + 2 Color 구동 방식"으로 구동하게 되면, 암점화가 된 화이트 서브픽셀(W)이 포함된 픽셀 전체가 암점화가 되어, 암점화 현상이 더욱 심해지고, 표시패널(110)의 화질이 더욱 심각하게 저하될 수 있다.

따라서, 다른 색상의 서브픽셀의 암점화에 대한 대응 조치도 필요하지만, 화이트 서브픽셀(W)의 암점화에 대한 적절한 대응 조치가 매우 절실하다.

이에, 본 실시예에 따른 표시장치(100)에는 암점 보상 기능, 특히, 화이트 암점 보상 기능이 적용되어 있으며, 경우에 따라서, 암점에 해당하는 서브픽셀에 대한 리페어(Repair) 처리 및 기능이 추가로 적용되어 있을 수도 있다.

아래에서는, 위에서 언급한 암점 보상 기능에 대하여, 도 5를 참조하여 간략하게 설명한다.

도 5는 실시예들에 따른 표시장치(100)에 적용된 화이트 암점(White Dark Spot) 보상 기술을 개략적으로 나타낸 도면이다.

도 5를 참조하면, 실시예들에 따른 표시장치(100)는, 적어도 하나의 화이트 서브픽셀의 위치정보(예: x, y 좌표값)를 포함하는 화이트 암점 위치정보 리스트(500)를 참조하여, 해당 픽셀이 화이트 암점 픽셀인지 아닌지를 확인하고, 확인 결과에 맞게, 해당 픽셀에 대한 화이트 변환 알고리즘을 수행할 수 있다.

이러한 화이트 변환 알고리즘은, 일 예로, 타이밍 컨트롤러(140)에서 수행될 수 있으며, 경우에 따라서, 타이밍 컨트롤러(140)가 아닌 별도의 화이트 암점 보상 처리 유닛에 의해 수행될 수도 있다. 다만, 본 명세서에서는, 설명의 편의를 위해, 타이밍 컨트롤러(140)가 화이트 변환 알고리즘(화이트 암점 보상 기능 포함)을 수행하는 것으로 설명한다.

도 5를 참조하면, 화이트 변환 알고리즘은 화이트 암점을 판단하는 화이트 암점 판단 기능과, 화이트 암점의 판단 결과에 따른 픽셀 구동 기능으로 나뉜다.

화이트 변환 알고리즘의 화이트 암점 판단 기능은 다음과 같다.

타이밍 컨트롤러(140)는, 해당 픽셀에서의 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보가 미리 저장된 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 포함되어 있는지를 확인하여, 확인 결과, 해당 픽셀의 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보가 미리 저장된 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 포함되어 있으면, 해당 픽셀을 화이트 암점 픽셀(White Dark Spot Pixel)로 판단하고, 해당 픽셀의 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보가 미리 저장된 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 포함되어 있지 않으면, 해당 픽셀을 화이트 정상 픽셀(White Normal Pixel)로 판단한다.

화이트 변환 알고리즘의 픽셀 구동 기능은 다음과 같다.

타이밍 컨트롤러(140)는, 해당 픽셀이 화이트 정상 픽셀로 판단된 경우, 해당 픽셀을 "W + 2 Color 구동 방식(화이트 컬러 구동 방식)"으로 구동한다. 타이밍 컨트롤러(140)는, 해당 픽셀이 화이트 암점 픽셀로 판단된 경우, 해당 픽셀을 "only RGB 구동 방식"으로 구동한다.

화이트 변환 알고리즘의 픽셀 구동 기능 중에서 해당 픽셀이 화이트 암점 픽셀로 판단된 경우 해당 픽셀을 "only RGB 구동 방식"으로 구동하는 것이, "화이트 암점 보상 처리"에 해당한다.

해당 픽셀이 화이트 암점 픽셀로 판단되어, 해당 픽셀을 "only RGB 구동 방식"으로 구동하게 되면, 해당 픽셀에서 화이트 서브픽셀(W)은 오프가 되고, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B)이 동시에 온(On)이 되는 상태이다.

따라서, 화이트 암점 픽셀로 판단되어, "only RGB 구동 방식"으로 구동된 픽셀을 "화이트 오프 픽셀(White Off Pixel)"이라고 한다. 여기서, "화이트 오프 픽셀(White Off Pixel)"은, "only RGB 구동 방식"을 구동되기 전의 화이트 암점 픽셀과 개념적으로 구분하기 위한 것일 뿐, 동일한 의미를 가질 수 있다.

한편, 위에서 언급한 화이트 암점 위치정보 리스트(500)는, 표시장치(100)가 출하되기 전에, 공정 단계에서, 화이트 암점이 검출되어 최초 입력된 화이트 서브픽셀의 위치정보를 포함할 수도 있고, 표시장치(100)가 출하된 이후, 표시장치(100)가 사용되는 동안, 화이트 암점이 검출되어 업데이트 형태로 입력된 화이트 서브픽셀의 위치정보를 포함할 수도 있다.

만약, 화이트 변환 알고리즘의 화이트 암점 확인 기능에 의해 화이트 암점 픽셀로 판단된 픽셀에서의 화이트 서브픽셀의 위치정보가, 출하 직후의 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 포함된 경우, 이때의 화이트 서브픽셀은, 공정 단계에서 화이트 암점으로 검출되었던 화이트 서브픽셀이다.

공정 단계에서 화이트 암점으로 검출되었던 화이트 서브픽셀은, 리페어(Repair) 처리가 되어 있을 수 있다. 여기서, 리페어 처리가 된 화이트 서브픽셀에서는, 화이트 서브픽셀에서의 트랜지스터의 전극(예: 소스, 게이트, 드레인 중 적어도 하나), 유기발광다이오드의 전극(예: 애노드 또는 캐소드), 신호라인 등의 패턴 중 적어도 하나 지점이 레이저 커팅(Laser Cutting) 되어 있을 수 있다.

만약, 화이트 변환 알고리즘의 화이트 암점 확인 기능에 의해 화이트 암점 픽셀로 판단된 픽셀에서의 화이트 서브픽셀의 위치정보가, 출하 직후의 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에는 포함되어 있지 않고, 출하 후, 업데이트된 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 포함된 경우, 이때의 화이트 서브픽셀은, 출하 후, 표시장치(100)가 사용되는 동안, 새롭게 발생한 화이트 암점에 해당하는 화이트 서브픽셀이다.

여기서, 본 명세서에서는, 출하 후, 표시장치(100)가 사용되는 동안, 새롭게 발생한 화이트 암점을, "진행성 화이트 암점"이라고 한다. 이러한 진행성 화이트 암점에 해당하는 화이트 서브픽셀은, 리페어 처리가 되지 않은 화이트 서브픽셀로서, 화이트 서브픽셀에서의 트랜지스터의 전극(예: 소스, 게이트, 드레인 중 적어도 하나), 유기발광다이오드의 전극(예: 애노드 또는 캐소드), 신호라인 등의 패턴 이 레이저 커팅(Laser Cutting) 되지 않은 상태로 되어 있다.

전술한 바와 같이, 본 실시예들에 따른 표시장치(100)는, 화이트 변환 알고리즘이 적용되어 있음에 따라, 표시패널(110)에 형성된 다수의 픽셀 중에는, 화이트 서브픽셀(W)이 오프(Off)가 되고, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B)이 동시에 온(On)이 되는 적어도 하나의 "화이트 오프 픽셀"이 존재할 수 있다.

화이트 오프 픽셀에 속한 화이트 서브 픽셀은, 출하 전 공정 단계에서 화이트 암점으로 검출된 이력이 있는 화이트 서브 픽셀이거나, 출하 후, 진행성 화이트 암점으로 검출된 화이트 서브픽셀일 수 있다.

출하 전 공정 단계에서 화이트 암점으로 검출된 이력이 있는 화이트 서브 픽셀은, 리페어 처리가 되어 있을 수도 있으며, 이 경우, 화이트 서브픽셀에서의 트랜지스터의 전극(예: 소스, 게이트, 드레인 중 적어도 하나), 유기발광다이오드의 전극(예: 애노드 또는 캐소드), 신호라인 등의 패턴 이 레이저 커팅(Laser Cutting) 된 상태일 수 있다.

전술한 바와 같이, 본 실시예들에 따른 표시장치(100)에 암점 보상 기능이 적용됨으로써, 표시패널(110)의 제작 시 발생한 암점에 대한 적절한 조치에 따라, 암점에 따른 화질 저하를 방지할 수 있으며, 패널 수율을 향상시킬 수 있다.

특히, 본 실시예들에 따른 표시장치(100)는, 화이트 변환 알고리즘을 통한 화이트 암점 보상 기능을 제공함으로써, 표시패널(110)의 제작 시 발생한 화이트 암점에 대한 적절한 조치에 따라, 화이트 암점에 따른 심각한 화질 저하를 방지할 수 있으며, 패널 수율을 향상시킬 수 있다.

또한, 본 실시예들에 따른 표시장치(100)에 진행성 암점에 대한 보상 기능이 적용됨으로써, 표시패널(110)의 사용 중에 발생하는 진행성 암점에 대한 대응이 가능해져, 진행성 암점에 따른 화질 저하를 방지할 수 있다.

특히, 본 실시예들에 따른 표시장치(100)는, 화이트 변환 알고리즘을 통해, 제품 출하 후에 발생하는 진행성 화이트 암점에 대한 보상 기능을 제공함으로써, 진행성 화이트 암점에 따른 심각한 화질 저하를 방지할 수 있다.

아래에서는, 본 실시예들에 따른 표시장치(100)에 적용된 암점 보상 기능(특히, 화이트 암점 보상 기능)에 대하여, 더욱 상세하게 설명한다.

도 6은 실시예들에 따른 표시장치(100)의 타이밍 컨트롤러(140)의 개략적인 블록도이다.

도 6을 참조하면, 실시예들에 따른 표시장치(100)는, 오프(Off)가 되는 화이트 서브픽셀(W), 즉, 화이트 암점으로 검출된 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보가 포함된 "화이트 암점 위치정보 리스트(500)"를 저장하는 메모리(600)를 더 포함한다.

도 6을 참조하면, 타이밍 컨트롤러(140)는, 화이트 암점(진행성 화이트 암점)에 해당하는 화이트 서브픽셀(W)을 검출하고, 화이트 암점으로 검출된 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보를 메모리(600)에 저장된 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 추가로 포함시켜, 화이트 암점 위치정보 리스트(500)를 업데이트한다.

전술한 바와 같이, 메모리(600)에 화이트 암점 위치정보 리스트(500)를 저장시켜 관리함으로써, 화이트 암점에 대한 신속하고 효율적인 조치가 가능해질 수 있다.

또한, 타이밍 컨트롤러(140)가, 화이트 암점(진행성 화이트 암점)에 해당하는 화이트 서브픽셀(W)을 검출하고, 그 결과에 따라, 화이트 암점 위치정보 리스트(500)를 업데이트함으로써, 제품 출하 후, 새롭게 발생한 진행성 화이트 암점에 대한 대응 조치가 가능해질 수 있다.

도 6을 참조하면, 전술한 타이밍 컨트롤러(140)는, 암점 판단부(610)는, 미리 저장된 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 구동할 픽셀에 속한 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보가 포함되어 있는지를 확인하여, 확인 결과, 포함되어 있는 경우, 화이트 서브픽셀(W)을 화이트 암점으로 판단하는 암점 판단부(610)와, 암점 보상부(620)는, 화이트 서브픽셀(W)이 화이트 암점으로 판단된 경우, 화이트 암점으로 판단되어 오프(Off)가 되는 화이트 서브픽셀(W)이 속한 화이트 오프 픽셀에 대하여, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B)이 동시에 온(On)이 되도록 제어하는 암점 보상부(620) 등을 포함한다.

전술한 암점 보상부(620)는, 화이트 변환 알고리즘을 수행함에 있어서, "only RGB 구동 방식"을 이용하여, 화이트 암점에 해당하는 화이트 서브픽셀이 속한 픽셀이 화이트 오프 픽셀(W: Off, R/G/B: On)로 구동되도록 제어한다.

이러한 타이밍 컨트롤러(140)에 의하면, 화이트 암점에 해당하는 화이트 서브픽셀을 사용하지 않고, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B)만으로 화상 표현이 가능해질 수 있다.

전술한 암점 보상부(620)의 화이트 변환 알고리즘에 대하여 아래에서 더욱 상세하게 설명한다.

암점 보상부(620)는, 화이트 오프 픽셀에서, 동시에 온이 되는 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B)에 대하여, 레드 서브픽셀(R)로는 레드 서브픽셀(R)의 데이터를 그대로 출력하고, 그린 서브픽셀(G)로는 그린 서브픽셀(G)의 데이터를 그대로 출력하며, 블루 서브픽셀(B)로는 블루 서브픽셀(B)의 데이터를 그대로 출력할 수 있다.

전술한 바와 같이, 화이트 암점에 해당하는 화이트 서브픽셀이 속한 픽셀을 "only RGB 구동 방식"으로 구동함으로써, 화이트 암점에 해당하는 화이트 서브픽셀이 속한 픽셀이 정상 픽셀(화이트 정상 픽셀)처럼 동작할 수 있게 된다.

한편, 암점 판단부(610)는, 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보가 포함되지 않은 경우, 일단은, 해당 픽셀을 화이트 정상 픽셀로 간주하고, "W + 2 Color 구동 방식"으로 구동한다.

이때, 암점 판단부(610)는, 화이트 서브픽셀(W)에 대한 진행성 화이트 암점 여부를 더 판단할 수 있다.

암점 보상부(620)는, 암점 판단부(610)에 의해, 화이트 서브픽셀(W)이 새로운 진행성 화이트 암점으로 판단된 경우, 최초 화이트 암점으로 판단된 경우와 마찬가지로, 새로운 진행성 화이트 암점에 해당하는 화이트 서브픽셀(W)이 속한 ㅍ피픽셀(즉, 화이트 암점 픽셀)을 "only RGB 구동 방식"으로 구동한다.

이때, 암점 보상부(620)는, 진행성 화이트 암점으로 판단되어 오프(Off)가 된 화이트 서브픽셀(W)이 속한 화이트 오프 픽셀(화이트 암점 픽셀)에 대하여, 진행성 화이트 암점으로 판단된 화이트 서브픽셀(W)의 데이터를 토대로, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 각각으로 출력될 데이터를 만들어 출력할 수 있다.

전술한 바에 따르면, 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보가 포함되지 않았지만, 새로운 화이트 암점(진행성 화이트 암점)이 발생한 경우에도, 새로운 화이트 암점(진행성 화이트 암점)으로 판단된 화이트 서브픽셀(W)이 속한 픽셀(화이트 오프 픽셀)이 정상적인 픽셀(화이트 정상 픽셀)처럼 동작할 수 있게 해준다.

진행성 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 화이트 서브픽셀(W)이 속한 화이트 오프 픽셀에 대하여, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 각각으로 출력되는 데이터는, 진행성 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 화이트 서브픽셀(W)의 데이터(이전 데이터)와 모두 동일할 수 있다.

전술한 바와 같이, 진행성 화이트 암점이 발생한 픽셀(화이트 암점 픽셀)에 대해서, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 각각으로 색좌표 보정값보다 큰 값에 해당하는 화이트 서브픽셀(W)의 데이터를 출력함으로써, 진행성 화이트 암점이 발생한 픽셀(화이트 암점 픽셀)은, 1개의 서브픽셀(화이트 서브픽셀)이 암점이 되더라도, 다른 나머지의 3개의 서브픽셀(R, G, B)이 색좌표 보정값보다 큰 값으로 발광할 수 있게 됨으로써, 암점이 없는 주변의 픽셀(화이트 정상 픽셀)과 거의 비슷한 수준의 휘도를 낼 수 있다.

이 경우, 진행성 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 화이트 서브픽셀(W)이 속한 화이트 오프 픽셀에 대하여, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 각각으로 출력되는 데이터는, 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보가 포함된 것으로 판단되어, "only RGB 구동 방식"으로 구동된 화이트 오프 픽셀에서의 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 각각으로 출력되는 데이터보다 작은 값일 수 있어, 화이트 암점에 대한 화질 개선 효과가 다소 떨어질 수 있다.

이러한 점을 보완해주기 위하여, 진행성 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 화이트 서브픽셀(W)이 속한 화이트 오프 픽셀에 대하여, 레드 서브픽셀(R)으로 출력되는 데이터는, 진행성 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 화이트 서브픽셀(W)의 데이터에 레드 개인(Red Gain, Gr)을 곱한 데이터(Gr×W data)일 수 있다. 그린 서브픽셀(G)으로 출력되는 데이터는, 진행성 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 화이트 서브픽셀(W)의 데이터에 그린 개인(Green Gain)을 곱한 데이터(Gg×W data)일 수 있으며, 블루 서브픽셀(B)으로 출력되는 데이터는, 진행성 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 화이트 서브픽셀(W)의 데이터에 블루 개인(Blue Gain)을 곱한 데이터(Gb×W data)일 수 있다.

진행성 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 화이트 서브픽셀(W)이 속한 화이트 오프 픽셀에 대하여, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 각각으로 데이터를 출력할 때, 화이트 서브픽셀의 데이터에 각 색상별 개인을 곱하여 출력함으로써, 진행성 화이트 암점이 발생한 픽셀(진행성 화이트 암점 픽셀)은, 진행성 화이트 암점이 아닌 화이트 암점(화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보가 포함된 경우)이 발생하였던 픽셀(비진행성 화이트 암점 픽셀)이 내는 휘도와 거의 비슷한 수준의 휘도를 낼 수 있다.

한편, 타이밍 컨트롤러(140)은, 진행성 화이트 암점을 검출하는 암점 검출부(630)를 더 포함할 수 있다.

이러한 암점 검출부(630)는, 암점 판단부(610)가 화이트 서브픽셀(W)에 대한 진행성 화이트 암점 여부를 더 판단할 수 있도록, 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 위치정보가 포함되지 않은 화이트 서브픽셀(W)의 진행성 화이트 암점 여부를 확인하거나, 표시패널(110)에서의 모든 화이트 서브픽셀(W) 각각에 대한 진행성 화이트 암점 여부를 확인할 수 있다.

타이밍 컨트롤러(1400의 암출 검출부(630)를 이용함으로써, 진행성 화이트 암점을 검출할 수 있게 됨으로써, 제품 출하 후, 새롭게 발생하는 화이트 암점에 대한 대응 조치를 할 수 있게 된다.

이러한 암점 검출부(630)가 진행성 화이트 암점을 검출하는 방식으로서, 아래에서, 몇 가지 방식을 설명한다.

먼저, 암점 검출부(630)는, 임피던스 비교 방식으로서 진행성 화이트 암점을 검출할 수 있다.

더욱 구체적으로, 암점 검출부(630)는, 진행성 화이트 암점 여부를 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀(W)에 대한 임피던스(Impedance, 예: 저항값)를 해당 기준 임피던스(Reference Impedance)와 비교하여, 비교 결과를 토대로, 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀(W)의 진행성 화이트 암점 여부를 확인할 수 있다.

전술한 임피던스 비교 방식에 따르면, 회로소자(예: 유기발광다이오드)의 단락(Short)에 따른 진행성 화이트 암점을 효율적으로 검출할 수 있다.

특히, 전술한 임피던스 비교 방식의 경우, 서브픽셀별로 단락 여부를 확인할 수 있음으로써, 서브픽셀별로 진행성 암점을 효울적으로 검출할 수 있다.

더욱 구체적으로 설명하면, 전술한 임피던스 방식으로 진행성 화이트 암점을 검출하는 경우, 하나의 픽셀을 구성하는 4개의 서브픽셀(R, W, G, B)과 공유적으로 연결된 1개의 센싱 라인과, 이 센싱 라인에 연결된 센싱 유닛(예: ADC(Analog Digital Converter))과, 이 센싱 라인의 일 단부에 연결된 전류 소스(Current Source)를 이용한다. 여기서, 센싱 유닛은, 데이터 구동 집적회로 내에 포함되는 모듈일 수 있다.

전류 소스(Current Source)를 이용하여, 센싱 라인(Sensing Line)을 통해, 전류를 흘려주고, 이 전류가 센싱 라인을 통해 흐르면서, 전류가 흐르는 경로 상에서, 암점 여부를 확인하고자 하는 서브픽셀에서 센싱 라인까지 각 서브픽셀에 존재하는 임피던스 성분(예: 도 21의 Rint)과 센싱 라인의 임피던스 성분(예: 도 21의 Rline)에 의해 전압 강하가 발생하면, 이렇게 발생한 전압 강하에 의해, 센싱 라인과 센싱 유닛이 연결된 지점(센싱 노드)에 일정 전압이 걸리게 된다.

이에 따라, 센싱 유닛은 센싱 라인과 연결된 센싱 노드의 전압을 센싱하고, 센싱된 전압을 디지털 값으로 변환하여 센싱 데이터를 생성하고, 이를 타이밍 컨트롤러(140)의 암점 검출부(630)로 전송해준다.

센싱 라인(Sensing Line)을 통해, 전류가 흐르면서 발생하는 전압 강하에 의해, 센싱 라인과 센싱 유닛이 연결된 지점(센싱 노드)에 걸리는 전압은, 진행성 화이트 암점 여부를 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀(W)의 단락(Short) 여부에 따라, 달라진다.

따라서, 타이밍 컨트롤러(140)의 암점 검출부(630)는, 화이트 서브픽셀(W)의 단락이 없는 경우의 전압을 센싱 유닛에 의해 센싱된 전압과 비교하여, 비교 결과에 따라, 진행성 화이트 암점을 검출할 수 있다.

전술한 임피던스 비교 방식의 경우, 1개의 픽셀 내 각 서브픽셀의 온-오프를 제어하여, 서브픽셀 별로 단락 여부를 확인할 수 있고, 이를 통해, 서브픽셀별로 진행성 암점을 검출할 수 있다.

다음으로, 암점 검출부(630)는, 트랜지스터의 고유 특성치(예: 문턱전압)를 센싱하는 트랜지스터 고유 특성치 센싱 방식으로, 진행성 화이트 암점을 검출할 수 있다.

더 구체적으로, 암점 검출부(630)는, 진행성 화이트 암점 여부를 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀(W)에서의 구동 트랜지스터(DT: Driving Transistor)의 문턱 전압(Vth: Threshold Voltage)에 대한 센싱 데이터를 토대로, 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀(W)의 진행성 화이트 암점 여부를 확인할 수 있다.

이러한 트랜지스터 문턱전압 센싱을 통한 진행성 화이트 암점 검출 방식의 경우, 표시장치(100)에 적용된 트랜지스터의 고유 특성치에 대한 센싱 및 보상 기능과 그 구조(예: ADC(Analog Digital Converter) 등)를 그대로 이용할 수 있는 장점이 있다.

진행성 화이트 암점 검출을 위한 전술한 두 가지 방식(임피던스 비교 방식, 트랜지스터 고유 특성치 센싱 방식) 모두는, 기본적으로는, 암점 검출부(630)가, 진행성 화이트 암점 여부를 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀(W)에서의 유기발광다이오드의 제1전극(예: 애노드 전극 또는 캐소드 전극) 또는 유기발광다이오드 및 구동 트랜지스터 간의 연결 지점에 대한 센싱 전압을 토대로, 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀(W)의 진행성 화이트 암점 여부를 확인하는 방식이라는 점에서, 유사한 방식이다.

확인하고자 하는 화이트 서브픽셀(W)에서의 특정 지점에 대한 전압 센싱을 통해, 진행성 화이트 암점을 쉽게 검출할 수 있다.

한편, 암점 검출부(630)는, 전술한 화이트 암점 검출 방식에 따라 진행성 화이트 암점을 검출한 이후, 진행성 화이트 암점으로 확인된 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보를 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 추가로 포함시켜, 화이트 암점 위치정보 리스트(500)를 업데이트시킬 수 있다.

전술한 바와 같이, 암점 검출부(630)가 진행성 화이트 암점이 새롭게 검출되면, 메모리(600)에 저장된 화이트 암점 위치정보 리스트(500)를 업데이트시킴으로써, 화이트 암점에 대한 신속한 보상이 이루어질 수 있다.

아래에서는, 이상에서 설명한 화이트 암점 보상 방법에 대하여, 도 7 내지 도 17을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다.

도 7은 기본적인 화이트 암점 보상 방법의 흐름도이고, 도 8 및 도 9는 진행성 화이트 암점 검출 기능이 추가된 화이트 암점 보상 방법의 흐름도이며, 도 10은 진행성 화이트 암점 검출 및 화이트 암점 위치정보 업데이트 기능이 추가된 화이트 암점 보상 방법의 흐름도이다.

도 11 및 도 12는 화이트 정상 픽셀의 구동 방식과 데이터 출력의 예시도이고, 도 13 및 도 14는 화이트 암점 픽셀의 구동 방식과 데이터 출력의 예시도이며, 도 15 내지 도 17은 진행성 화이트 암점이 발생한 경우, 화이트 암점 픽셀의 구동 방식과, 데이터 출력의 예시도이다.

먼저, 도 7, 도 11 내지 도 14를 참조하여, 가장 기본적인 화이트 암점 보상 방법을 설명한다.

도 7을 참조하면, 정상 픽셀(화이트 정상 픽셀)에 대한 구동(W+2 Color 구동)을 위하여, 메모리(600)가 화이트 색좌표 보정 수식을 저장한다(S710).

도 7을 참조하면, 화이트 암점 픽셀의 구동 및 판단을 위해, 정해진 화이트 암점 검출 방식을 이용하여 화이트 암점을 검출하고(S720), 화이트 암점으로 검출된 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보를 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 포함시켜 메모리(600)에 저장한다(S730).

전술한 S710, S720 및 S730 단계는, 제품 출하 이전, 패널 제작 공정 단계에서 수행될 수도 있다. S720 및 S730 단계는 제품 출하 후, 수행될 수도 있다.

전술한 S710, S720 및 S730 단계 이후, 표시패널(110)을 구동해야 하는 타이밍이 되면, 타이밍 컨트롤러(140)는, 메모리(600)에 저장된 화이트 암점 위치정보 리스트(500)를 읽어온다(S740).

그리고, 타이밍 컨트롤러(140)는, 읽어온 화이트 암점 위치정보 리스트(500)를 참조하여, 픽셀 구동 시, 해당 픽셀에 속한 화이트 서브픽셀이 화이트 암점인지를 판단한다(S750). 즉, 타이밍 컨트롤러(140)는, 해당 픽셀에 속한 화이트 서브픽셀의 위치정보가 읽어온 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 포함되어 있는지를 확인하여, 포함되어 있으면, 해당 화이트 서브픽셀을 화이트 암점으로 판단함으로써 해당 픽셀을 화이트 암점 픽셀로 판단하고, 포함되어 있지 않으면, 해당 화이트 서브픽셀을 화이트 암점이 아닌 것으로 판단하여 해당 픽셀을 화이트 정상 픽셀로 판단한다.

S750 단계에서, 타이밍 컨트롤러(140)는, 화이트 서브픽셀이 화이트 암점이 아닌 것으로 판단된 경우, 즉, 해당 픽셀이 화이트 정상 픽셀로 판단된 경우, 해당 픽셀을 “W+2 Color 구동 방식”으로 구동한다(S760).

S750 단계에서, 타이밍 컨트롤러(140)는, 화이트 서브픽셀이 화이트 암점인 것으로 판단된 경우, 즉, 해당 픽셀이 화이트 암점 픽셀로 판단된 경우, 해당 픽셀을 “only RGB 구동 방식”으로 구동한다(S770).

도 11을 참조하면, S760 단계에서, 타이밍 컨트롤러(140)는, 화이트 서브픽셀이 암점이 아닌 화이트 정상 픽셀로 판단된 경우, 해당 픽셀이 “W+2Color 구동 방식”으로 구동되도록 제어한다.

이에 따라, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 중 2개 색상의 서브픽셀(예: R과 G, 또는 G와 B)과 화이트 서브픽셀(W)은 한 프레임 구간에서 온이 된다.

도 12에서와 같이, 타이밍 컨트롤러(140)가 외부 인터페이스로부터 수신한 영상 데이터에서, 레드 서브픽셀(R)의 데이터(R Data), 그린 서브픽셀(G)의 데이터(G Data) 및 블루 서브픽셀(B)의 데이터(B Data) 모두가, 127 그래이(Gray)를 나타내는 데이터인 것으로 가정하고, “W+2 Color 구동 방식”에 따라 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B)과, 화이트 서브픽셀(W)이 구동된다고 가정할 때, 타이밍 컨트롤러(140)는, S710 단계에서 미리 저장된 화이트 색좌표 보정 수식을 이용하여, RGB 데이터에 대한 변환 처리를 통해, 화이트 서브픽셀(W)로 출력할 데이터(120 Gray), 그린 서브픽셀(G)로 출력할 데이터(20 Gray), 블루 서브픽셀(B)로 출력할 데이터(70 Gray)를 생성하여 출력한다.

한편, 도 13을 참조하면, S770 단계에서, 타이밍 컨트롤러(140)는 화이트 서브픽셀이 화이트 암점으로 판단된 픽셀(화이트 암점 픽셀)이 “only RGB 구동 방식”으로 구동되도록 제어함으로써, 화이트 암점을 보상한다.

도 13에 도시된 바와 같이, 이러한 타이밍 컨트롤러(140)의 화이트 암점 보상에 따라, 화이트 서브픽셀이 암점인 화이트 암점 픽셀은, 화이트 서브픽셀(W)이 오프가 되고, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B)이 동시에 온이 되는 “화이트 오프 픽셀”이 된다.

이에 따라, 화이트 서브픽셀이 암점인 화이트 암점 픽셀은, 화이트 서브픽셀이 발광되지 않는 대신, 3가지 색상의 서브픽셀(R, G, B)로 모든 색상을 표현할 수 있게 된다.

S770 단계에서, 타이밍 컨트롤러(140)는, “only RGB 구동 방식”으로 화이트 암점 픽셀을 구동하기 위하여, 도 14에 도시된 바와 같이, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 각각에 대한 출력 데이터로서, 각 서브픽셀의 데이터를 그대로 데이터 구동부(120)로 출력할 수 있다.

도 14를 참조하면, 타이밍 컨트롤러(140)는, 레드 서브픽셀(R)의 출력 데이터로서 레드 서브픽셀(R)의 데이터(R Data=127 Gray)를 그대로 출력하고, 그린 서브픽셀(G)의 출려 데이터로서 그린 서브픽셀(G)의 데이터(G Data=127 Gray)를 그대로 출력하며, 블루 서브픽셀(B)의 출력 데이터로서 블루 서브픽셀(B)의 데이터(B Data=127 Gray)를 그대로 출력한다.

즉, 화이트 서브픽셀이 오프가 되고 레드 서브픽셀, 그린 서브픽셀 및 블루 서브픽셀이 동시에 온이 된 화이트 오프 픽셀에서, 데이터 구동부(120)는, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 각각으로 해당 데이터(R Data, G Data, B Data)에 대응되는 데이터 전압을 인가한다.

이에 따라, 화이트 암점이 발생한 픽셀이 정상적인 픽셀처럼 색 표현이 가능해질 수 있다.

다음으로, 도 8 및 도 9의 흐름도와, 도 15 내지 도 17의 구동 관련 도면을 참조하여, 진행성 화이트 암점이 발생한 경우, 해당 화이트 암점 픽셀에 대한 화이트 암점 보상 방법을 설명한다.

도 8의 흐름도는, 진행성 화이트 암점 검출과 관련된 단계(S810, S820, S830)를 더 포함한다는 점만 도 7과 다를 뿐, 나머지는 동일하다. 즉, 도 8의 흐름도는, 도 7의 S710 내지 S770 단계를 동일하게 포함한다.

도 8은, S760 단계 이후, 즉, 화이트 서브픽셀의 위치정보가 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 포함되지 않은 것으로 판단되어, 해당 픽셀을 “W+2Color 구동 방식”으로 구동한 이후, 진행성 화이트 암점에 대한 추가적인 판단 단계(S810)와 그 판단 결과에 따른 구동 단계(S820, S830)를 더 포함한다.

S810 단계에서, 타이밍 컨트롤러(140)는, 위치정보가 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 포함되어 있지 않은 화이트 서브픽셀이 진행성 화이트 암점이 되었는지를 판단하는 단계이다.

S8210 단계에서의 판단 결과, 화이트 서브픽셀이 진행성 화이트 암점이 아닌 것으로 판단된 경우, “W+2Color 구동 방식”에 따라 해당 픽셀이 구동되도록 제어한다(S820).

S8210 단계에서의 판단 결과, 화이트 서브픽셀이 진행성 화이트 암점인 것으로 판단된 경우, “only RGB 구동 방식”에 따라 해당 픽셀이 구동되도록 제어한다(S830).

도 15에 도시된 바와 같이, S750 단계에서 화이트 정상 픽셀로 판단되어 S760 단계에서 W+2Color 구동 방식으로 구동되었던 픽셀이, S810 단계에서 화이트 암점 픽셀로 판단되면, S830 단계에서는, S770 단계에서와 마찬가지로, 진행성 화이트 암점이 발생한 화이트 서브픽셀이 오프가 되고 나머지 3가지 색상의 서브픽셀(R, G, B)이 동시에 온이 되도록 구동 제어된다.

하지만, S830 단계에서는, S770 단계에서와는 다른 데이터 출력 특성을 보인다.

S770 단계에서는, 동시에 온이 되는 3가지 색상의 서브픽셀(R, G, B) 각각으로 해당 데이터(R Data(예: 127 Gray), G Data(예: 127 Gray), B Data(예: 127 Gray))에 대응되는 데이터 전압이 인가되지만(도 14 참조), S830 단계에서는, 도 16에 도시된 바와 같이, 동시에 온이 되는 3가지 색상의 서브픽셀(R, G, B) 모두로, 화이트 서브픽셀의 데이터(W Data(예: 120 Gray))에 대응되는 데이터 전압이 동일하게 인가된다.

즉, 진행성 화이트 암점이 발생한 픽셀에서, 동시에 온이 되는 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 모두로 동일한 데이터 전압(화이트 서브픽셀의 데이터에 대응되는 데이터 전압)이 인가될 수 있다.

진행성 화이트 암점이 발생한 픽셀(화이트 암점 픽셀)에 대해서, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 각각으로 색좌표 보정값보다 큰 값에 해당하는 화이트 서브픽셀(W)의 데이터(W Data)를 출력함으로써, 진행성 화이트 암점이 발생한 픽셀(화이트 암점 픽셀)은, 1개의 서브픽셀(화이트 서브픽셀)이 암점이 되더라도, 다른 나머지의 3개의 서브픽셀(R, G, B)이 색좌표 보정값보다 큰 값으로 발광할 수 있게 됨으로써, 암점이 없는 주변의 픽셀(화이트 정상 픽셀)과 거의 비슷한 수준의 휘도를 낼 수 있다.

한편, 도 9는 화이트 암점 보상 방법의 또 다른 흐름도로서, 도 8의 S830 단계에서, 데이터 출력 특성만 조금 변경되었을 뿐, 나머지는 모두 동일하다.

도 8의 S830 단계에 대응되는 도 9의 S830' 단계에서는, 도 17에 도시된 바와 같이, 진행성 화이트 암점으로 판단된 화이트 서브픽셀을 포함하는 화이트 암점 픽셀에서, 동시에 온이 되는 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 각각으로, 해당 색상의 개인(Gain)과 화이트 서브픽셀(W)의 데이터를 곱한 데이터에 대응되는 데이터 전압이 인가된다(Gr×W Data→R, Gg×W Data→G, Gb×W Data→B).

진행성 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 화이트 서브픽셀(W)이 속한 화이트 오프 픽셀에 대하여, 레드 서브픽셀(R), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 각각으로 데이터를 출력할 때, 화이트 서브픽셀의 데이터에 각 색상별 개인(Gr, Gg, Gb)을 곱하여 출력함으로써, 진행성 화이트 암점이 발생한 픽셀(진행성 화이트 암점 픽셀)은, 진행성 화이트 암점이 아닌 화이트 암점(화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 화이트 서브픽셀(W)의 위치정보가 포함된 경우)이 발생하였던 픽셀(비진행성 화이트 암점 픽셀)이 내는 휘도와 거의 비슷한 수준의 휘도를 낼 수 있다.

한편, 도 10은, 화이트 암점 보상 방법의 또 다른 흐름도로서, 진행성 화이트 암점 검출과 관련된 단계(S1010, S1020, S1030)를 더 포함한다는 점만 도 7과 다를 뿐, 나머지는 동일하다. 즉, 도 8의 흐름도는, 도 7의 S710 내지 S770 단계를 동일하게 포함한다.

도 10을 참조하면, 표시장치(1000)의 전원이 켜지면(S1010), 타이밍 컨트롤러(140)는, 기존에 없었던 화이트 암점을 다시 검출한다(S1020).

S1020 단계에서, 타이밍 컨트롤러(140)는, 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 포함된 화이트 암점 위치정보(화이트 서프픽셀의 위치정보)이외에 새롭게 발생한 진행성 화이트 암점이 있는지를 검출한다.

S1020 단계의 진행성 화이트 암점 검출 결과, 진행성 화이트 암점이 검출되면, 타이밍 컨트롤러(140)는, 진행성 화이트 암점으로 검출된 해당 화이트 서브픽셀의 위치정보를 메모리(600)에 저장된 화이트 암점 위치정보 리스트(500)에 추가로 포함시킨다(S1030).

이후, 업데이트 된 화이트 암점 위치정보 리스트(500)를 읽어(S740), S750 단계 이후를 수행한다.

이상에서는, 서브픽셀의 암점, 특히, 화이트 암점에 대한 보상 방법과, 이에 따른 표시패널(110)의 구동 방법에 대하여 설명하였다. 아래에서는, 암점 보상을 위한 암점 검출 방법에 대하여 더욱 상세하게 설명한다.

암점 검출 방법을 설명하기에 앞서, 표시패널(110)에 형성된 서브픽셀의 구조에 대하여 먼저 설명한다. 단, 본 실시예들에 따른 표시장치(100)가 유기발광표시장치(Organic Light Emitting Display Device)인 것으로 예를 들어 설명한다.

도 18은 실시예들에 따른 표시패널(110)에서, 각 서브픽셀의 등가회로도에 대한 예시도이다.

유기발광표시패널인 표시패널(110)에 형성된 각 서브픽셀은, 기본적으로, 1개의 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)와, 2개 이상의 트랜지스터 및 1개 이상의 캐패시터를 포함하여 구성된다.

도 18에서는, 각 서브픽셀이 1개의 유기발광다이오드, 3개의 트랜지스터(DT, T1, T2), 1개의 캐패시터(Cstg)를 포함하여 구성된 것으로 예로 든다.

도 18을 참조하면, 구동 트랜지스터(DT)는, 구동전압 라인(DVL: Driving Voltage Line) 또는 그 연결 패턴을 통해 공급된 구동전압(EVDD)이 인가되는 제3노드(N3)과 유기발광다이오드(OLED)의 제1전극(예: 애노드 전극 또는 캐소드 전극) 사이에 연결되어, 유기발광다이오드(OLED)를 구동한다.

제1트랜지스터(T1)은, 제1게이트 라인(GL1)을 통해 공급되는 제1스캔신호(SCAN)에 의해 제어되며, 데이터 전압(Vdata)을 공급하는 데이터 라인(DL)과 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1, 게이트 노드) 사이에 연결된다.

제2트랜지스터(T2)는, 제2게이트 라인(GL2)을 통해 공급되는 제2스캔신호(SENSE)에 의해 제어되며, 기준전압 라인(RVL: Reference Voltage Line) 또는 그 연결 패턴을 통해 기준전압(Vref: Reference Voltage)이 인가되는 지점과, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2, 소스 노드 또는 드레인 노드) 사이에 연결된다.

스토리지 캐패시터(Cstg)는 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 연결된다.

도 18을 참조하면, 제1트랜지스터(T1)는, 턴 온 된 경우, 데이터 구동부(120)를 통해 공급된 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)로 인가해준다.

이러한 제1트랜지스터(T1)는 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전압을 스위칭하는 스위칭 트랜지스터(Switching Transistor)로서 역할을 한다.

도 18을 참조하면, 제2트랜지스터(T2)은, 턴 온 되어, 기준전압 라인(RVL)_을 통해 공급된 기준전압(Vref)을 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(소스 또는 드레인 노드)로 인가해준다.

도 19는 실시예들에 따른 표시패널(110)에서, 한 픽셀의 개략적인 등가회로도이다.

도 19를 참조하면, 실시예들에 따른 표시패널(110)에서, 레드 서브픽셀(R), 화이트 서브픽셀(W), 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B)로 구성된 1개의 픽셀이 형성된 영역에는, 4개의 데이터 라인(DL1~DL4), 2개의 구동전압 라인(DVL1, DVL2), 1개의 기준전압 라인(RVL)이 형성될 수 있다.

도 19를 참조하면, 4개의 데이터 라인(DL1~DL4) 중 DL1 및 DL2는, 레드 서브픽셀(R)과 화이트 서브픽셀(W) 사이에 형성되고, DL3 및 DL4는, 그린 서브픽셀(G) 및 블루 서브픽셀(B) 사이에 형성된다.

도 19를 참조하면, 2개의 구동전압 라인(DVL1, DVL2)이 레드 서브픽셀(R) 및 블루 서브픽셀(B)의 외 측에 각각 형성된다.

도 19를 참조하면, 2개의 구동전압 라인(DVL1, DVL2) 중 DVL1은, 레드 서브픽셀(R)로 구동전압(EVDD)을 공급하고 연결 패턴(CP)을 통해 화이트 서브픽셀(W)로 구동전압(EVDD)을 공급한다. 2개의 구동전압 라인(DVL1, DVL2) 중 DVL2는 블루 서브픽셀(B)로 구동전압(EVDD)을 공급하고 연결 패턴(CP)을 통해 그린 서브픽셀(G)로 구동전압(EVDD)을 공급한다.

도 19를 참조하면, 1개의 기준전압 라인(RVL)은, 화이트 서브픽셀(W) 및 그린 서브픽셀(G) 사이에 형성되어, 화이트 서브픽셀(W) 및 그린 서브픽셀(G)으로 기준전압(Vref)을 공급하고, 레드 서브픽셀(R) 및 블루 서브픽셀(B)으로도 연결 패턴(CP)을 통해 기준전압(Vref)를 공급한다.

도 19에 도시된 바와 같이, 한 픽셀을 구성하는 4개의 서브픽셀(R, W, G, B)은, 1개의 기준전압 라인(RVL)을 공유하는 구조로 기준전압을 공급받는다.

이러한 공유 구조로 된 기준전압 라인(RVL)은, 스위치(SW)의 동작에 따라, 기준전압(Vref)이 인가될 수도 있고, 아날로그 디지털 컨버터(ADC: Analog Digital Converter, 1900)와 연결될 수도 있다.

아날로그 디지털 컨버터(1900)는, 각 서브픽셀의 구동 트랜지스터(DT)의 고유 특성치(예: 문턱전압, 이동도)를 보상하기 위하여, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(예: 소스 노드 또는 드레인 노드)의 전압을 기준전압 라인(1900)을 통해 센상할 수 있다.

즉, 기준전압 라인(RVL)은, 기준전압(Vref)을 공급하는 신호 라인 역할 이외에, 구동 트랜지스터(DT)의 고유 특성치(예: 문턱전압, 이동도)를 센싱하기 위한 센싱 라인(Sensing Line) 역할을 할 수 있다.

아날로그 디지털 컨버터(1900)는, 각 서브픽셀에 대하여 센싱된 전압을 디지털 값으로 변환한 센싱 데이터를 타이밍 컨트롤러(140)로 전송해준다.

타이밍 컨트롤러(140)의 암점 검출부(630)는, 수신한 센싱 데이터를 토대로, 각 서브픽셀의 트랜지스터의 고유 특성치(예: 문턱전압)를 분석하여, 각 서브픽셀에서 진행성 화이트 암점이 발생하였는지를 검출할 수 있다.

암점 검출부(630)는, 다른 서브픽셀에 비해, 즉, 트랜지스터의 고유 특성치가 정상 범위를 벗어나 다른 서브픽셀이 존재하면, 이 서브픽셀은 진행성 화이트 암점이 발생한 서브픽셀로 검출할 수 있다.

전술한 트랜지스터 문턱전압 센싱을 통한 진행성 화이트 암점 검출 방식뿐 아니라, 임피던스 비교를 통한 진행성 화이트 암점 검출 방식도 있다. 이에 대해서는, 도 20 내지 도 23을 참조하여, 설명한다.

도 20은 임피던스 비교 방식을 통한 진행성 화이트 암점을 검출하기 위한 픽셀 등가회로도이다. 도 21은 실시예들에 따른 표시패널(110)에서, 화이트 암점이 없는 화이트 정상 픽셀에 대한 화이트 암점 검출을 나타낸 도면이다. 도 22는 실시예들에 따른 표시패널(110)에서, 화이트 암점이 있는 화이트 암점 픽셀에 대한 화이트 암점 검출을 나타낸 도면이다.

도 20은, 도 18의 서브픽셀의 구조와 도 19의 신호 라인 구조를 간략하여 등가적으로 나타낸 도면이다.

전술한 바와 같이, 타이밍 컨트롤러(140)의 암점 검출부(630)는, 진행성 화이트 암점 여부를 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀(W)에 대한 임피던스(Impedance, 예: 저항값)를 해당 기준 임피던스(Reference Impedance)와 비교하여, 비교 결과를 토대로, 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀(W)의 진행성 화이트 암점 여부를 확인할 수 있다.

도 20을 참조하면, 임피던스 방식으로 진행성 화이트 암점을 검출하기 위해, 표시장치(100)는, 하나의 픽셀을 구성하는 4개의 서브픽셀(R, W, G, B)과 공유적으로 연결된 1개의 센싱 라인(SL: Sensing Line, 기준전압 라인(RVL)에 해당함)과, 이 센싱 라인(SL)에 연결된 센싱 유닛에 해당하는 아날로그 디지털 컨버터(1900)과, 센싱 라인(SL)의 일 단부에 연결된 전류 소스(Current Source, 2000)를 포함하는 구성을 갖는다. 여기서, 센싱 유닛에 해당하는 아날로그 디지털 컨버터(1900)은, 데이터 구동 집적회로 내에 포함되는 모듈일 수 있다.

도 20을 참조하면, 4개의 서브픽셀(R, W, G, B) 각각에는, 센싱 라인(SL)과 연결되는 지점에 내부 저항 성분(Rint)이 존재한다. 그리고, 센싱 라인(SL)에도 라인 저항 성분(Rlin)이 존재한다.

도 20에서, 트랜지스터 TR은 4개의 서브픽셀(R, W, G, B) 각각의 센싱 트랜지스터(Sensing Transistor)에 해당하는 제2트랜지스터(T2)를 하나로 등가적으로 나타낸 것이다.

도 20을 참조하면, 4개의 서브픽셀(R, W, G, B) 중 암점 여부를 확인하고자 하는 서브픽셀의 구동 트랜지스터(DT) 만을 온 시키기 위하여, 암점 여부를 확인하고자 하는 서브픽셀의 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 노드(N1)에만 온 전압(Von)을 인가하고, 나머지 서브픽셀의 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 노드(N1)로는 그라운드 전압(GND)을 인가해준다.

이와 같이, 각 서브픽셀의 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 노드 전압을 제어하여, 각 서브픽셀의 암점 여부를 확인할 수 있는 상태로 만든다.

특정 서브픽셀의 암점 여부를 확인하고자 하는 상태로 만든 후, 전류 소스(2000)를 이용하여, 센싱 라인(Sensing Line)을 통해, 전류를 흘려주고, 이 전류가 센싱 라인(SL)을 통해 흐르면서, 각 서브픽셀에 존재하는 임피던스 성분(예: Rint)과 암점 여부를 확인하고자 하는 서브픽셀에 연결된 센싱 라인(SL)의 임피던스 성분(예: Rline)에 의해 전압 강하가 발생하면, 이렇게 발생한 전압 강하에 의해, 센싱 라인(SL)과 아날로그 디지털 컨버터(1900)가 연결된 지점(센싱 노드, Ns)에 일정 전압이 걸리게 된다.

이에 따라, 아날로그 디지털 컨버터(1900)은 센싱 라인(SL)과 연결된 센싱 노드(Ns)의 전압을 센싱하고, 센싱된 전압을 디지털 값으로 변환하여 센싱 데이터를 생성하고, 이를 타이밍 컨트롤러(140)의 암점 검출부(630)로 전송해준다.

센싱 라인(SL)을 통해, 전류가 흐르면서 발생하는 전압 강하에 의해, 센싱 라인(SL)과 아날로그 디지털 컨버터(1900)가 연결된 지점(Ns)에 걸리는 전압은, 진행성 화이트 암점 여부를 확인하고자 하는 서브픽셀의 단락(Short) 여부에 따라, 달라진다.

따라서, 타이밍 컨트롤러(140)의 암점 검출부(630)는, 서브픽셀의 단락이 없는 경우의 전압(기준이 되는 전압)을 아날로그 디지털 컨버터(1900)에 의해 센싱된 전압과 비교하여, 비교 결과에 따라, 진행성 암점을 검출할 수 있다.

도 21 및 도 22는, 화이트 서브픽셀(W)에서 진행성 화이트 암점이 발생하지 않은 경우와 발생한 경우 각각에 대한 센싱 동작을 나타낸 도면이다. 단, 각 서브픽셀(R, W, G, B)의 유기발광다이오드(OLED)의 제2전극(예: 캐소드 전극 또는 애노드 전극)에 Vn 정전압이 인가된다.

여기서, Vn 정전압은 암점 여부를 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀의 구동 트랜지스터(DT)를 온 시키고자 하는 온 전압(Von)보다 높은 전압이다.

도 21을 참조하면, 화이트 서브픽셀(W)의 암점 여부를 확인하고자 하는 상태로 만든 후, 전류 소스(2000)를 이용하여, 센싱 라인(Sensing Line)을 통해, 전류(I)를 흘려주고, 이 전류(I)가 센싱 라인(SL)을 통해 흐르면서, 전류 경로 상에 존재하는 각 서브픽셀(W, G, B)의 임피던스 성분(3×Rint)과 센싱 라인(SL)의 임피던스 성분(Rline)에 의해 전압 강하가 발생하면, 이렇게 발생한 전압 강하에 의해, 센싱 라인(SL)과 아날로그 디지털 컨버터(1900)가 연결된 지점(센싱 노드, Ns)에 일정 전압이 걸리게 된다.

도 21은 화이트 서브픽셀(W)이 암점이 아닌 경우를 가정한 것이므로, 화이트 서브픽셀(W)에서 구동 트랜지스터(DT)와 유기발광다이오드(OLED)가 연결된 지점(Nw)의 전압이 "Vx"가 된다. 여기서, Vx는 화이트 서브픽셀의 구동 트랜지스터(DT)를 온 시키고자 하는 온 전압(Von)보다 낮은 전압이다.

도 21을 참조하면, 트랜지스터 TR과 센싱 라인(SL)이 연결된 지점(Nsl)은, 각 서브픽셀의 내부 저항 성분(Rint)만큼 전압 강하가 일어나, "Vx-I×3×Rint"의 전압이 된다.

도 21을 참조하면, 센싱 라인(SL)과 아날로그 디지털 컨버터(1900)가 연결된 지점(Ns)은, 센싱 라인(SL)의 라인 저항 성분(Rlin) 만큼 전압 강하가 일어나, "Vx-I×3×Rint-I×Rline"의 전압이 된다.

도 21을 참조하면, 아날로그 디지털 컨버터(1900)는, 화이트 서브픽셀(W)에 대하여, "Vx-I×3×Rint-I×Rline"의 전압을 디지털 값으로 변환하고, 이를 포함하는 센싱 데이터를 타이밍 컨트롤러(140)의 암점 검출부(630)로 전송해준다.

타이밍 컨트롤러(140)의 암점 검출부(630)는, 암점이 발생하지 않은 경우의 해당 화이트 서브픽셀에 대한 센싱 전압의 디지털 값을 미리 저장하고 있고, 이를 아날로그 디지털 컨버터(1900)로부터 수신한 센싱 데이터에 포함된 디지털 값과 비교하여, 그 차이값이 일정 범위를 벗어나지 않으면, 해당 화이트 서브픽셀이 암점이 발생하지 않은 것으로 판단한다.

도 22를 참조하면, 화이트 서브픽셀(W)이 암점이 아닌 경우를 가정한 것이므로, 화이트 서브픽셀(W)에서 유기발광다이오드(OLED)가 단락되어, 구동 트랜지스터(DT)와 유기발광다이오드(OLED)가 연결된 지점(Nw)의 전압이 "Vn"이 된다.

도 22를 참조하면, 트랜지스터 TR과 센싱 라인(SL)이 연결된 지점(Nsl)은, 각 서브픽셀의 내부 저항 성분(Rint)만큼 전압 강하가 일어나, "Vn-I×3×Rint"의 전압이 된다.

도 22를 참조하면, 센싱 라인(SL)과 아날로그 디지털 컨버터(1900)가 연결된 지점(Ns)은, 센싱 라인(SL)의 라인 저항 성분(Rlin) 만큼 전압 강하가 일어나, "Vn-I×3×Rint-I×Rline"의 전압이 된다.

도 22를 참조하면, 아날로그 디지털 컨버터(1900)는, 화이트 서브픽셀(W)에 대하여, "Vn-I×3×Rint-I×Rline"의 전압을 디지털 값으로 변환하고, 이를 포함하는 센싱 데이터를 타이밍 컨트롤러(140)의 암점 검출부(630)로 전송해준다.

타이밍 컨트롤러(140)의 암점 검출부(630)는, 암점이 발생하지 않은 경우의 해당 화이트 서브픽셀에 대한 센싱 전압의 디지털 값("Vx-I×3×Rint-I×Rline"의 디지털 값 또는 이와 유사한 값)을 미리 저장하고 있고, 이를 아날로그 디지털 컨버터(1900)로부터 수신한 센싱 데이터에 포함된 디지털 값("Vn-I×3×Rint-I×Rline"의 디지털 값)과 비교하여, 그 차이값이 일정 범위를 벗어나면, 해당 화이트 서브픽셀이 암점이 발생한 것으로 판단한다.

이상에서는, 암점 보상 처리(암점화 대응 조치)를 화이트 서브픽셀 관점에서 설명하였으나, 이는 4가지 색상의 서브픽셀(R, W, G, B) 중 하나에 대한 예시적인 설명일 뿐, 다른 색상의 서브픽셀(R, G, B)에 대해서도 동일하게 적용될 수 있을 것이다.

이상에서 설명한 바와 같은 본 실시예들에 의하면, 표시패널 내 서브픽셀의 암점화에 대한 적절한 대응 조치를 해주는 데 있다. 특히, 화이트 서브픽셀의 암점화에 대한 효과적인 대응 조치를 해주는 효과가 있다.

또한, 본 실시예들에 의하면, 표시패널 내 서브픽셀의 진행성 암점화를 검출하여, 이에 대한 적절한 대응 조치를 해주는 데 있다. 특히, 화이트 서브픽셀의 진행성 암점화를 검출하여 이에 대한 효과적인 대응 조치를 해주는 효과가 있다.

이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

100: 표시장치
110: 표시패널
120: 데이터 구동부
130: 게이트 구동부
140: 타이밍 컨트롤러
500: 화이트 암점 위치정보 리스트
600: 메모리
610: 암점 판단부
620: 암점 보상부
630: 암점 검출부

Claims (17)

1. 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인이 형성되고, 다수의 픽셀이 형성되며, 각 픽셀은 레드(Red) 서브픽셀, 화이트(White) 서브픽셀, 그린(Green) 서브픽셀 및 블루(Blue) 서브픽셀로 구성된 표시패널;
   상기 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동부;
   상기 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동부; 및
   상기 데이터 구동부 및 상기 게이트 구동부를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함하되,
   상기 표시패널에 형성된 상기 다수의 픽셀은 상기 화이트 서브픽셀의 암점 여부에 따라,
   상기 화이트 서브픽셀이 오프(Off)가 되고, 상기 레드 서브픽셀, 상기 그린 서브픽셀 및 상기 블루 서브픽셀이 동시에 온(On)이 되는 적어도 하나의 화이트 오프 픽셀과,
   상기 화이트 서브픽셀이 온(On)이 되고, 상기 레드 서브픽셀, 상기 그린 서브픽셀 및 상기 블루 서브픽셀 중 2개의 서브픽셀이 온(On)이 되는 적어도 하나의 화이트 정상 픽셀이 존재하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
2. 제1항에 있어서,
   상기 화이트 오프 픽셀에서, 동시에 온이 되는 상기 레드 서브픽셀, 상기 그린 서브픽셀 및 상기 블루 서브픽셀 각각으로, 상기 레드 서브픽셀, 상기 그린 서브픽셀 및 상기 블루 서브픽셀 각각의 데이터에 대응되는 데이터 전압이 인가되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
3. 제1항에 있어서,
   상기 화이트 오프 픽셀에서, 동시에 온이 되는 상기 레드 서브픽셀, 상기 그린 서브픽셀 및 상기 블루 서브픽셀 모두로, 동일한 데이터 전압이 인가되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
4. 제1항에 있어서,
   상기 화이트 오프 픽셀에서, 동시에 온이 되는 상기 레드 서브픽셀, 상기 그린 서브픽셀 및 상기 블루 서브픽셀 모두로, 상기 화이트 서브픽셀의 데이터에 대응되는 데이터 전압이 인가되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
5. 제1항에 있어서,
   상기 화이트 오프 픽셀에서, 동시에 온이 되는 상기 레드 서브픽셀, 상기 그린 서브픽셀 및 상기 블루 서브픽셀 각각으로,
   해당 색상의 개인(Gain)과 상기 화이트 서브픽셀의 데이터를 곱한 데이터에 대응되는 데이터 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
6. 제1항에 있어서,
   오프가 되는 화이트 서브픽셀의 위치정보가 포함된 화이트 암점 위치정보 리스트를 저장하는 메모리를 더 포함하는 표시장치.
7. 제1항에 있어서,
   상기 타이밍 컨트롤러는, 화이트 암점에 해당하는 화이트 서브픽셀을 검출하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
8. 제7항에 있어서,
   상기 타이밍 컨트롤러는,
   상기 화이트 암점으로 검출된 화이트 서브픽셀의 위치정보를 메모리에 저장된 화이트 암점 위치정보 리스트에 추가로 포함시키는 것을 특징으로 하는 표시장치.
9. 데이터 전압을 공급하는 다수의 데이터 라인;
   스캔 신호를 공급하는 다수의 게이트 라인; 및
   제1색상 서브픽셀, 제2색상 서브픽셀, 제3색상 서브픽셀 및 화이트 서브픽셀로 구성된 다수의 픽셀을 포함하되,
   상기 다수의 픽셀은 상기 화이트 서브픽셀의 암점 여부에 따라,
   상기 화이트 서브픽셀이 오프(Off)가 되고, 나머지 3가지 색상의 서브픽셀이 동시에 온(On)이 되는 적어도 하나의 화이트 오프 픽셀과,
   상기 화이트 서브픽셀이 온(ON)이 되고, 나머지 3가지 색상의 서브픽셀 중 2가지 색상의 서브픽셀이 동시에 온(On)이 되는 적어도 하나의 화이트 정상 픽셀이 존재하는 것을 특징으로 하는 표시패널.
10. 미리 저장된 화이트 암점 위치정보 리스트에 화이트(White) 서브픽셀의 위치정보가 포함되어 있는지를 확인하여, 확인 결과, 포함되어 있는 경우, 상기 화이트 서브픽셀을 화이트 암점으로 판단하는 암점 판단부; 및
    상기 화이트 서브픽셀이 화이트 암점으로 판단된 경우, 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 상기 화이트 서브픽셀이 속한 픽셀에 대하여, 레드(Red) 서브픽셀, 그린(Green) 서브픽셀 및 블루(Blue) 서브픽셀이 동시에 온(On)이 되도록 제어하고,
    상기 화이트 서브픽셀이 정상으로 판단된 경우, 상기 화이트 서브픽셀이 속하는 픽셀에 대하여, 상기 레드(Red) 서브픽셀, 상기 그린(Green) 서브픽셀 및 상기 블루(Blue) 서브픽셀 중 2개의 서브픽셀과 상기 화이트 서브픽셀이 동시에 온(On)이 되도록 제어하는 암점 보상부를 포함하는 타이밍 컨트롤러.
11. 제10항에 있어서,
    상기 암점 보상부는,
    동시에 온이 되는 상기 레드 서브픽셀, 상기 그린 서브픽셀 및 상기 블루 서브픽셀에 대하여,
    상기 레드 서브픽셀로는 상기 레드 서브픽셀의 데이터를 그대로 출력하고, 상기 그린 서브픽셀로는 상기 그린 서브픽셀의 데이터를 그대로 출력하며, 상기 블루 서브픽셀로는 상기 블루 서브픽셀의 데이터를 그대로 출력하는 것을 특징으로 하는 타이밍 컨트롤러.
12. 제10항에 있어서,
    상기 암점 판단부는,
    상기 화이트 암점 위치정보 리스트에 상기 화이트 서브픽셀의 위치정보가 포함되지 않아, 상기 화이트 서브픽셀이 구동된 이후, 상기 화이트 서브픽셀에 대한 진행성 화이트 암점 여부를 판단하고,
    상기 암점 보상부는,
    상기 화이트 서브픽셀이 진행성 화이트 암점으로 판단된 경우,
    진행성 화이트 암점으로 판단되어 오프가 되는 상기 화이트 서브픽셀이 속한 픽셀에 대하여, 진행성 화이트 암점으로 판단된 상기 화이트 서브픽셀의 데이터를 토대로, 상기 레드 서브픽셀, 상기 그린 서브픽셀 및 상기 블루 서브픽셀 각각으로 출력될 데이터를 만들어 출력하고,
    상기 화이트 서브픽셀이 정상으로 판단된 경우,
    상기 화이트 서브픽셀이 속한 픽셀에 대하여, 상기 레드 서브픽셀, 상기 그린 서브픽셀 및 상기 블루 서브픽셀 중 2개의 서브픽셀과 상기 화이트 서브픽셀로 출력될 데이터를 만들어 출력하는 것을 특징으로 하는 타이밍 컨트롤러.
13. 제12항에 있어서,
    상기 암점 판단부가 상기 화이트 서브픽셀에 대한 진행성 화이트 암점 여부를 더 판단할 수 있도록, 상기 화이트 암점 위치정보 리스트에 위치정보가 포함되지 않은 상기 화이트 서브픽셀의 진행성 화이트 암점 여부를 확인하거나, 표시패널에서의 모든 화이트 서브픽셀 각각에 대한 진행성 화이트 암점 여부를 확인하는 암점 검출부를 더 포함하는 타이밍 컨트롤러.
14. 제13항에 있어서,
    상기 암점 검출부는,
    진행성 화이트 암점 여부를 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀에 대한 임피던스(Impedance)를 해당 기준 임피던스(Reference Impedance)와 비교하여, 비교 결과를 토대로, 상기 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀의 진행성 화이트 암점 여부를 확인하는 것을 특징으로 하는 타이밍 컨트롤러.
15. 제13항에 있어서,
    상기 암점 검출부는,
    진행성 화이트 암점 여부를 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀에서의 구동 트랜지스터의 문턱 전압에 대한 센싱 데이터를 토대로, 상기 확인하고자 하는 화이트 서브픽셀의 진행성 화이트 암점 여부를 하는 것을 특징으로 하는 타이밍 컨트롤러.
16. 제13항에 있어서,
    상기 암점 검출부는,
    진행성 화이트 암점으로 확인된 화이트 서브픽셀의 위치정보를 상기 화이트 암점 위치정보 리스트에 추가로 포함시키는 것을 특징으로 하는 타이밍 컨트롤러.
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