KR102201500B1 - Ceramic housing and plating method of ceramic material - Google Patents

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Abstract

본 발명은 세라믹 기재, 금속화층, 제1 도금층, 제2 도금층 및 제3 도금층이 순차적으로 적층된 형태를 포함하고, 상기 금속화층은 몰리브덴 및 망간을 포함하고, 상기 제1 도금층은 니켈을 포함하며, 상기 제2 도금층 및 제3 도금층은 각각 은을 포함하고, 상기 제2 도금층은 두께가 0.5 내지 3 ㎛이며, 상기 제2 도금층은 제3 도금층보다 은 농도가 낮은 도금액을 사용하고, 제3 도금층보다 높은 전류에서 제조되는, 세라믹 하우징을 제공한다.The present invention includes a form in which a ceramic substrate, a metallization layer, a first plating layer, a second plating layer, and a third plating layer are sequentially stacked, the metallization layer includes molybdenum and manganese, and the first plating layer includes nickel, , The second plating layer and the third plating layer each contain silver, the second plating layer has a thickness of 0.5 to 3 µm, the second plating layer is a plating solution having a lower silver concentration than the third plating layer, and the third plating layer It provides a ceramic housing that is manufactured at a higher current.

Description

세라믹 하우징 및 세라믹 기재의 도금 방법{CERAMIC HOUSING AND PLATING METHOD OF CERAMIC MATERIAL}Ceramic housing and ceramic substrate plating method {CERAMIC HOUSING AND PLATING METHOD OF CERAMIC MATERIAL}

본 발명은 세라믹 하우징 및 세라믹 기재의 도금 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a ceramic housing and a method for plating a ceramic substrate.

자동차 산업에서 세라믹과 같은 내화 재료는 금속 부품류에 결합되는 마모 패드를 포함하여 많은 부분에 적용되고 있다. 또한, 세라믹은 전력 그리드 튜브, 진공 차단기, 반도체 패키징, 다중층 기판, 볼 그리드 어레이, 파워 손실 패키징 및 센서 패키징과 같은 다양한 전기 및 전자 부품에 사용되고 있다. 그러나, 세라믹과 금속은 접합이 어려운 단점이 있었다. 따라서, 종래에는 세라믹의 표면을 금속화 처리한 후 금속과 접합하는 것이 일반적이었다.In the automotive industry, refractory materials such as ceramics are applied in many areas, including wear pads that are bonded to metal parts. In addition, ceramics are used in various electrical and electronic components such as power grid tubes, vacuum circuit breakers, semiconductor packaging, multilayer substrates, ball grid arrays, power loss packaging, and sensor packaging. However, ceramics and metals have a disadvantage in that bonding is difficult. Therefore, conventionally, it is common to metallize the surface of a ceramic and then bond it with a metal.

구체적으로, 미국 등록특허 제6,840,429호(특허문헌 1)에는 소재의 표면을 4B족 전이 금속, 탄화수소 수지 및 스티렌 블록 공중합체를 포함하는 바인더, 및 유체 캐리어를 포함하는 코팅 조성물로 코팅하는 단계; 코팅된 표면을 건조하는 단계; 건조된 코팅 표면에 납땜 충진 소재를 바르는 단계; 및 상기 납땜 충진 소재를 가열하는 단계;를 포함하는 비금속 내화 소재의 처리방법이 개시되어 있다. 그러나, 특허문헌 1과 같이 세라믹 소재의 표면을 코팅 조성물로 코팅하고, 무전해 도금이나 전해 도금을 이용하여 니켈 도금층을 형성하고, 납땜 충진 소재를 바른 후 가열하여 처리할 경우, 세라믹 소재와 금속 소재를 접합하기 위한 공정이 길어지는 문제가 있었다.Specifically, US Patent No. 6,840,429 (Patent Document 1) includes the steps of coating a surface of a material with a coating composition including a binder including a group 4B transition metal, a hydrocarbon resin and a styrene block copolymer, and a fluid carrier; Drying the coated surface; Applying a solder filling material to the dried coating surface; And heating the solder-filled material. A method of treating a non-metallic refractory material is disclosed. However, as in Patent Document 1, when the surface of a ceramic material is coated with a coating composition, a nickel plated layer is formed using electroless plating or electrolytic plating, and then treated by heating after applying a solder filling material, ceramic materials and metal materials There was a problem that the process for joining the was lengthened.

또한, 한국 공개특허 제2015-0135155호(특허문헌 2)에는 알루미나 구성요소 부분 상에 몰리브덴을 포함하는 금속화층을 배치하는 단계; 스크린 인쇄에 의해 금속화층 상에 니켈과 용융점 억제제를 포함하는 금속층을 배치하는 단계; 1,000℃보다 낮은 온도에서 금속층을 소결하여 금속 배리어층을 형성하는 단계; 및 금속화층과 금속 배리어층을 통해 브레이징에 의해 알루미나 구성요소의 부분을 니켈 함유 금속 구성요소에 결합하는 단계를 포함하는 밀봉 방법이 개시되어 있다. 그러나, 상기 특허문헌 2와 같이 세라믹 기재 상에 금속화층을 배치하고, 상기 금속화층 상에 니켈을 포함하는 금속층을 배치할 때, 금속화층과 금속층 사이에 이물질이 존재할 경우, 브레이징 시 상기 이물질로 인해 금속층이 금속화층으로부터 박리되는 블러스터(blaster) 현상이 발생하는 문제가 있었다.In addition, Korean Patent Application Publication No. 2015-0135155 (Patent Document 2) includes the steps of disposing a metallization layer containing molybdenum on the alumina component portion; Disposing a metal layer comprising nickel and a melting point inhibitor on the metallization layer by screen printing; Sintering the metal layer at a temperature lower than 1,000° C. to form a metal barrier layer; And bonding a portion of the alumina component to the nickel-containing metal component by brazing through a metallization layer and a metal barrier layer. However, as in Patent Document 2, when a metallization layer is disposed on a ceramic substrate and a metal layer containing nickel is disposed on the metallization layer, when a foreign material exists between the metallization layer and the metal layer, the foreign material is caused during brazing. There is a problem in that the metal layer is peeled off from the metallization layer, resulting in a blaster phenomenon.

따라서, 브레이징 시 금속화층과 금속층 사이의 블러스터 현상 발생이 적고, 금속화층과 금속층 사이의 접합강도가 우수한 세라믹 기재의 도금 방법에 대한 연구개발이 필요한 실정이다.Accordingly, there is a need for research and development on a plating method for a ceramic substrate having less occurrence of a blasting phenomenon between the metallization layer and the metal layer during brazing and excellent bonding strength between the metallization layer and the metal layer.

미국 등록특허 제6,840,429호 (공개일: 2004. 6. 17.)US Patent No. 6,840,429 (published on June 17, 2004) 한국 공개특허 제2015-0135155호 (공개일: 2015. 12. 2.)Korean Patent Application Publication No. 2015-0135155 (published date: 2015. 12. 2)

이에, 본 발명은 금속화층과 금속층 사이의 접합강도가 강해 금속층이 박리되는 블러스터 현상 발생이 적고, 금속층을 균일한 두께로 도금할 수 있는 세라믹 기재의 도금 방법 및 이를 이용하여 제조된 세라믹 하우징을 제공하고자 한다.Accordingly, the present invention provides a method of plating a ceramic substrate capable of plating a metal layer with a uniform thickness, and a ceramic housing manufactured using the same. I want to.

본 발명은 세라믹 기재, 금속화층, 제1 도금층, 제2 도금층 및 제3 도금층이 순차적으로 적층된 형태를 포함하고, 상기 금속화층은 몰리브덴 및 망간을 포함하고, 상기 제1 도금층은 니켈을 포함하며, 상기 제2 도금층 및 제3 도금층은 각각 은을 포함하고, 상기 제2 도금층은 두께가 0.5 내지 3 ㎛이며, 상기 제2 도금층은 제3 도금층보다 은 농도가 낮은 도금액을 사용하고, 제3 도금층보다 높은 전류에서 제조되는, 세라믹 하우징을 제공한다.The present invention includes a form in which a ceramic substrate, a metallization layer, a first plating layer, a second plating layer, and a third plating layer are sequentially stacked, the metallization layer includes molybdenum and manganese, and the first plating layer includes nickel, , The second plating layer and the third plating layer each contain silver, the second plating layer has a thickness of 0.5 to 3 µm, the second plating layer is a plating solution having a lower silver concentration than the third plating layer, and the third plating layer It provides a ceramic housing that is manufactured at a higher current.

또한, 본 발명은 세라믹 기재 상에 몰리브덴 및 망간을 포함하는 금속화층을 형성하는 단계; 상기 금속화층 상에 니켈을 포함하는 제1 도금층을 형성하는 제1 도금단계; 상기 제1 도금층 상에 은을 포함하는 제2 도금층을 형성하는 제2 도금단계; 및 상기 제2 도금층 상에 은을 포함하는 제3 도금층을 형성하는 제3 도금단계;를 포함하고, 상기 제2 도금단계는 상기 제3 도금단계보다 높은 전류에서 수행되고, 상기 제2 도금단계의 도금액은 상기 제3 도금단계의 도금액보다 은 농도가 낮은, 세라믹 기재의 도금 방법을 제공한다.In addition, the present invention comprises forming a metallization layer containing molybdenum and manganese on a ceramic substrate; A first plating step of forming a first plating layer containing nickel on the metallization layer; A second plating step of forming a second plating layer containing silver on the first plating layer; And a third plating step of forming a third plating layer containing silver on the second plating layer, wherein the second plating step is performed at a higher current than the third plating step, and the second plating step The plating solution provides a method of plating a ceramic substrate in which the silver concentration is lower than that of the plating solution in the third plating step.

본 발명에 따른 세라믹 기재의 도금 방법은 금속화층과 도금층 사이에서 발생하는 블러스터 발생을 억제하고, 도금층을 균일한 두께로 형성할 수 있다.The plating method of a ceramic substrate according to the present invention can suppress the occurrence of a blast occurring between the metallization layer and the plating layer, and form the plating layer with a uniform thickness.

또한, 본 발명에 따른 세라믹 하우징은 균일한 두께의 도금층을 포함하고, 금속화층과 도금층 사이의 접합강도가 강해 도금층이 박리되는 현상의 발생이 적은 장점이 있다.In addition, the ceramic housing according to the present invention includes a plating layer having a uniform thickness, and the bonding strength between the metallization layer and the plating layer is strong, so that the occurrence of peeling of the plating layer is reduced.

이하 본 발명을 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail.

세라믹 하우징Ceramic housing

본 발명에 따른 세라믹 하우징은 세라믹 기재, 금속화층, 제1 도금층, 제2 도금층 및 제3 도금층이 순차적으로 적층된 형태를 포함한다.The ceramic housing according to the present invention includes a ceramic substrate, a metallization layer, a first plating layer, a second plating layer, and a third plating layer sequentially stacked.

세라믹 기재Ceramic substrate

상기 세라믹 기재는 통상적으로 하우징의 소재로 사용하는 것이라면 특별히 제한하지 않는다. 구체적으로, 상기 세라믹 기재는 전기 절연성 세라믹을 포함할 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 세라믹 기재는 알루미나, 이트리아, 지르코니아, 이트리아 안정화 지르코니아, 이트륨 알루미늄 가넷, 마그네시아 알루미나 스피넬, 또는 이트륨 알루미네이트 페로브스카이트를 포함할 수 있다.The ceramic substrate is not particularly limited as long as it is commonly used as a material for the housing. Specifically, the ceramic substrate may include an electrically insulating ceramic. More specifically, the ceramic substrate may include alumina, yttria, zirconia, yttria stabilized zirconia, yttrium aluminum garnet, magnesia alumina spinel, or yttrium aluminate perovskite.

금속화층Metallization layer

상기 금속화층은 세라믹 기재 상에 형성되어 세라믹과 금속의 중간 가교 역할을 하며, 전도성 특성을 가지기 때문에 도금이 가능하게 만드는 효과가 있다.The metallization layer is formed on a ceramic substrate, serves as an intermediate crosslinking between ceramic and metal, and has conductive properties, so that plating is possible.

상기 금속화층은 몰리브덴 및 망간을 포함한다. 또한, 상기 금속화층은 텅스텐, 니오븀 및 탄탈로 이루어진 군으로부터 선택된 1종 이상의 금속을 추가로 포함할 수 있다. The metallization layer includes molybdenum and manganese. In addition, the metallization layer may further include at least one metal selected from the group consisting of tungsten, niobium, and tantalum.

상기 금속화층은 두께가 10 내지 50 ㎛일 수 있고, 예를 들어, 15 내지 40 ㎛일 수 있다. 상기 금속화층의 두께가 상기 범위 내일 경우, 세라믹 기재와 이종 재료의 결합이 가능하게 도와주며, 적절한 결합력, 진공도, 및 도전성을 갖는 효과가 있다.The metallization layer may have a thickness of 10 to 50 μm, for example, 15 to 40 μm. When the thickness of the metallization layer is within the above range, it is possible to combine the ceramic substrate with a different material, and there is an effect of having an appropriate bonding force, vacuum degree, and conductivity.

제1 도금층1st plating layer

제1 도금층은 금속화층 상에 형성되어 금속화층 및 제2 도금층 사이의 접합강도를 높이는 역할, 및 금속화층과 제2 도금층의 열팽창계수(CTE)가 불일치되는 문제를 저감시키는 역할을 한다. The first plating layer is formed on the metallization layer to increase the bonding strength between the metallization layer and the second plating layer, and serves to reduce the problem that the thermal expansion coefficient (CTE) of the metallization layer and the second plating layer is inconsistent.

상기 제1 도금층은 니켈을 포함한다. 또한, 상기 제1 도금층은 코발트, 크롬, 붕소, 인, 아연, 주석 및 철로 이루어진 군으로부터 선택된 금속을 추가로 포함할 수 있다.The first plating layer contains nickel. In addition, the first plating layer may further include a metal selected from the group consisting of cobalt, chromium, boron, phosphorus, zinc, tin, and iron.

상기 제1 도금층은 두께가 1 내지 20 ㎛일 수 있고, 예를 들어, 2 내지 10 ㎛일 수 있다. 상기 제1 도금층의 두께가 상기 범위 내일 경우, 우수한 접합강도를 가지며 외관 불량이 없는 건전한 니켈 도금층(제1 도금층)을 형성하며, 금속화층의 부식을 방지하는 효과가 있다.The first plating layer may have a thickness of 1 to 20 µm, for example, 2 to 10 µm. When the thickness of the first plating layer is within the above range, a healthy nickel plating layer (first plating layer) having excellent bonding strength and no appearance defect is formed, and corrosion of the metallization layer is prevented.

제2 도금층2nd plating layer

제2 도금층은 제1 도금층 상에 형성되어 제1 도금층과 제3 도금층 간의 접합강도를 높이는 역할을 한다.The second plating layer is formed on the first plating layer and serves to increase the bonding strength between the first plating layer and the third plating layer.

상기 제2 도금층은 은을 포함한다. 또한, 상기 제2 도금층은 금, 백금, 비스무트, 코발트, 니켈, 인듐 및 주석으로 이루어진 군으로부터 선택된 금속을 추가로 포함할 수 있다.The second plating layer contains silver. In addition, the second plating layer may further include a metal selected from the group consisting of gold, platinum, bismuth, cobalt, nickel, indium, and tin.

상기 제2 도금층은 두께가 0.5 내지 3 ㎛일 수 있고, 예를 들어, 1 내지 3 ㎛일 수 있다. 상기 제2 도금층의 두께가 상기 범위 내일 경우, 균일한 두께의 도금층을 형성하여 제1 도금층 상에 블러스터가 없는 건전한 제3 도금층을 형성할 수 있다. The second plating layer may have a thickness of 0.5 to 3 µm, for example, 1 to 3 µm. When the thickness of the second plating layer is within the above range, a plating layer having a uniform thickness may be formed to form a sound third plating layer without a blaster on the first plating layer.

또한, 상기 제2 도금층은 제3 도금층보다 은 농도가 낮은 도금액을 사용하고, 제3 도금층보다 높은 전류에서 제조된다. 이로 인해, 제2 도금층은 제3 도금층보다 평균 두께가 얇을 수 있다. 상술한 바와 같이, 제2 도금층이 제3 도금층보다 은 농도가 낮은 도금액을 사용하고 제3 도금층보다 높은 전류에서 제조되어 제2 도금층이 제3 도금층보다 평균 두께가 얇을 경우, 제2 도금층이 제3 도금층과 제1 도금층 간의 접합강도를 높일 수 있다.Further, the second plating layer is made of a plating solution having a lower silver concentration than the third plating layer, and is manufactured at a higher current than that of the third plating layer. For this reason, the second plating layer may have an average thickness thinner than that of the third plating layer. As described above, when the second plating layer uses a plating solution having a lower silver concentration than the third plating layer and is manufactured at a higher current than the third plating layer, so that the second plating layer has a thinner average thickness than the third plating layer, the second plating layer is formed into the third plating layer. It is possible to increase the bonding strength between the plating layer and the first plating layer.

제3 도금층3rd plating layer

제3 도금층은 제2 도금층 상에 형성되어 이후 공정에서 솔더(solder) 재료 없이 금속 하우징 부분과 결합이 되도록 하는 역할을 한다.The third plating layer is formed on the second plating layer and serves to be bonded to the metal housing portion without a solder material in a subsequent process.

상기 제3 도금층은 은을 포함한다. 또한, 상기 제3 도금층은 금, 백금, 비스무트, 코발트, 니켈, 인듐 및 주석으로 이루어진 군으로부터 선택된 금속을 추가로 포함할 수 있다.The third plating layer contains silver. In addition, the third plating layer may further include a metal selected from the group consisting of gold, platinum, bismuth, cobalt, nickel, indium, and tin.

상기 제3 도금층의 두께는 세라믹 하우징의 적용 대상 및 크기 등에 따라 적절하게 조절할 수 있다. 예를 들어, 상기 제3 도금층은 두께가 20 내지 50 ㎛, 또는 25 내지 50 ㎛일 수 있다. 제3 도금층의 두께가 상기 범위 내일 경우, 브레이징 시 세라믹 하우징과 금속 간의 필렛(fillet) 형성이 잘 이루어져 우수한 접합강도를 갖는 효과가 있다.The thickness of the third plating layer may be appropriately adjusted according to the target and size of the ceramic housing. For example, the third plating layer may have a thickness of 20 to 50 µm, or 25 to 50 µm. When the thickness of the third plating layer is within the above range, a fillet between the ceramic housing and the metal is well formed during brazing, thereby having excellent bonding strength.

상기 세라믹 하우징은 표면조도가 2.0 내지 6.5 ㎛일 수 있다. 구체적으로, 상기 세라믹 하우징은 표면조도가 2.0 내지 5.0 ㎛일 수 있다. 세라믹 하우징의 표면조도가 상기 범위 내일 경우, 브레이징 시 접합 불량을 방지할 수 있다.The ceramic housing may have a surface roughness of 2.0 to 6.5 μm. Specifically, the ceramic housing may have a surface roughness of 2.0 to 5.0 μm. When the surface roughness of the ceramic housing is within the above range, it is possible to prevent bonding failure during brazing.

또한, 세라믹 하우징은 금속에 대한 접합강도가 2,000 내지 3,000 kgf/㎠일 수 있다. 구체적으로, 세라믹 하우징은 금속에 대한 접합강도가 2,500 내지 2,800 kgf/㎠일 수 있다.In addition, the ceramic housing may have a bonding strength of 2,000 to 3,000 kgf/cm 2 to metal. Specifically, the ceramic housing may have a bonding strength of 2,500 to 2,800 kgf/cm 2 to metal.

상술한 바와 같은 본 발명에 따른 세라믹 하우징은 균일한 두께의 도금층을 포함하고, 금속화층과 도금층 사이의 접합강도가 강해 도금층이 박리되는 현상의 발생이 적은 장점이 있다. 또한, 상기 세라믹 하우징은 통상적으로 세라믹과 금속을 접합하기 위해 사용되는 은 및 구리를 포함하는 솔더 층을 형성하지 않을 수 있다.As described above, the ceramic housing according to the present invention includes a plating layer having a uniform thickness, and the bonding strength between the metallization layer and the plating layer is strong, so that the occurrence of peeling of the plating layer is reduced. In addition, the ceramic housing may not form a solder layer including silver and copper, which is typically used to bond a ceramic and a metal.

세라믹 기재의 도금 방법Ceramic substrate plating method

본 발명에 따른 세라믹 기재의 도금 방법은 세라믹 기재 상에 몰리브덴 및 망간을 포함하는 금속화층을 형성하는 단계; 상기 금속화층 상에 니켈을 포함하는 제1 도금층을 형성하는 제1 도금단계; 상기 제1 도금층 상에 은을 포함하는 제2 도금층을 형성하는 제2 도금단계; 및 상기 제2 도금층 상에 은을 포함하는 제3 도금층을 형성하는 제3 도금단계;를 포함한다.The method of plating a ceramic substrate according to the present invention comprises the steps of forming a metallization layer containing molybdenum and manganese on the ceramic substrate; A first plating step of forming a first plating layer containing nickel on the metallization layer; A second plating step of forming a second plating layer containing silver on the first plating layer; And a third plating step of forming a third plating layer containing silver on the second plating layer.

금속화층을 형성하는 단계Forming a metallization layer

상기 금속화층을 형성하는 단계에서는 세라믹 기재 상에 몰리브덴 및 망간을 포함하는 금속화층을 형성한다.In the step of forming the metallization layer, a metallization layer including molybdenum and manganese is formed on the ceramic substrate.

상기 세라믹 기재 및 금속화층의 소재, 및 상기 금속화층의 두께는 상기 세라믹 하우징에서 정의한 바와 같다.The material of the ceramic substrate and the metallization layer, and the thickness of the metallization layer are as defined in the ceramic housing.

금속화층의 형성은 통상적으로 세라믹 기재의 표면에 금속층을 적층하기 위해 사용되는 방법을 사용할 수 있다. 예를 들어, 상기 금속화층의 형성은 몰리브덴 및 망간을 포함하는 금속 페이스트를 세라믹 기재 상에 증착 또는 도포함으로써 수행될 수 있다. 상기 증착은 예를 들어, 물리적 기상 증착 기법, 스크린 인쇄 및 스퍼터링 등을 들 수 있다. 또한, 상기 도포는 예를 들어, 침지, 분무, 잉크 인쇄, 주사기 또는 노즐 브러싱, 또는 테이프 전사 등을 들 수 있다.The formation of the metallization layer may use a method commonly used to laminate a metal layer on the surface of a ceramic substrate. For example, the formation of the metallization layer may be performed by depositing or applying a metal paste containing molybdenum and manganese on a ceramic substrate. The deposition may include, for example, a physical vapor deposition technique, screen printing, and sputtering. Further, the application may include, for example, immersion, spraying, ink printing, syringe or nozzle brushing, or tape transfer.

상기 세라믹 기재의 표면은 금속화층 형성 전에 제조시 형성된 표면 손상을 제거하고 표면 평탄도를 향상시키기 위해 폴리싱 처리될 수 있다. 또한, 상기 세라믹 기재의 표면은 금속화층 접합에 영향을 미칠 수 있는 오염물을 제거하기 위하여 금속화층 형성 전에 화학적으로 세척될 수 있다. 나아가, 상기 세라믹 기재는 금속화층 형성 전에 어닐링하여, 오염물을 감소시키고 잔류 응력을 감소시킬 수 있다. 즉, 상기 세라믹 기재는 금속화층 형성 전에 폴리싱, 화학적 세척, 어닐링 등의 전처리 단계를 거칠 수 있다.The surface of the ceramic substrate may be polished to remove surface damage formed during manufacturing and improve surface flatness before forming the metallization layer. In addition, the surface of the ceramic substrate may be chemically cleaned before the metallization layer is formed in order to remove contaminants that may affect the bonding of the metallization layer. Furthermore, the ceramic substrate may be annealed prior to formation of the metallization layer, thereby reducing contaminants and reducing residual stress. That is, the ceramic substrate may be subjected to pretreatment steps such as polishing, chemical cleaning, annealing, etc. before forming the metallization layer.

또한, 상기 금속화층이 형성된 세라믹 기재는 탕세, 탈지, 초음파 세척, 산세 및 수세하는 단계를 거칠 수 있다. 상기 탈지 및 산세는 예를 들어, 산성 용액을 이용하여 수행할 수 있으며, 상기 탕세, 초음파 세척 및 수세는 물을 이용하여 수행할 수 있다. 상술한 바와 같이, 상기 금속화층이 형성된 세라믹 기재는 제1 도금단계 이전에 세척하는 단계를 거칠 수 있으며, 이로 인해, 이후 진행되는 제1 도금층의 형성을 보다 용이하게 할 수 있다.In addition, the ceramic substrate on which the metallization layer is formed may be subjected to steps of hot water washing, degreasing, ultrasonic washing, pickling, and water washing. The degreasing and pickling may be performed using, for example, an acidic solution, and the hot water washing, ultrasonic washing, and water washing may be performed using water. As described above, the ceramic substrate on which the metallization layer is formed may be subjected to a washing step before the first plating step, and thus, it is possible to more easily form the first plating layer to proceed thereafter.

제1 도금단계1st plating step

제1 도금단계에서는 상기 금속화층 상에 니켈을 포함하는 제1 도금층을 형성한다. 이때, 상기 제1 도금층의 소재 및 두께는 상기 세라믹 하우징에서 정의한 바와 같다.In the first plating step, a first plating layer containing nickel is formed on the metallization layer. In this case, the material and thickness of the first plating layer are as defined in the ceramic housing.

상기 제1 도금은 니켈을 포함하는 제1 도금액에 상기 금속화층이 형성된 세라믹 기재를 침지하고 전류를 인가하여 수행할 수 있다. 이때, 상기 제1 도금액은 니켈 및 붕산을 포함할 수 있다. 구체적으로, 상기 제1 도금액은 50 내지 75 g/ℓ, 또는 55 내지 70 g/ℓ의 니켈, 및 10 내지 40 g/ℓ, 또는 10 내지 35 g/ℓ의 붕산을 포함할 수 있다. 상기 제1 도금액의 니켈 농도가 상기 범위 내일 경우, 니켈 도금층을 균일하게 생성할 수 있으며, 붕산 농도가 상기 범위 내일 경우, 도금액의 pH의 변동을 완화시키는 완충제 역할 및 도금액의 내부응력을 완화하는 효과가 있다.The first plating may be performed by immersing the ceramic substrate on which the metallization layer is formed in a first plating solution containing nickel and applying a current. In this case, the first plating solution may include nickel and boric acid. Specifically, the first plating solution may contain 50 to 75 g/l, or 55 to 70 g/l of nickel, and 10 to 40 g/l, or 10 to 35 g/l of boric acid. When the nickel concentration of the first plating solution is within the above range, a nickel plating layer can be uniformly formed, and when the boric acid concentration is within the above range, acts as a buffer to alleviate fluctuations in the pH of the plating solution and the effect of alleviating internal stress of the plating solution There is.

또한, 상기 제1 도금액의 pH는 3.0 내지 5.5, 또는 3.0 내지 5.0일 수 있다. 상기 제1 도금액의 pH가 상기 범위 내일 경우, 제1 도금층 표면의 외관 불량이 방지되고 효과가 있다.In addition, the pH of the first plating solution may be 3.0 to 5.5, or 3.0 to 5.0. When the pH of the first plating solution is within the above range, appearance defects on the surface of the first plating layer are prevented and there is an effect.

상기 제1 도금은 40 내지 60 ℃에서 1 내지 5 A/d㎡의 전류 하에서 수행할 수 있다. 구체적으로, 상기 제1 도금은 40 내지 55 ℃에서 1.5 내지 4 A/d㎡의 전류 하에서 수행할 수 있다. 상기 제1 도금시 온도가 상기 범위 내일 경우, 도금 속도가 균일하게 유지되며, 전류가 상기 범위 내일 경우, 제1 도금층의 두께를 균일하게 생성할 수 있고, 표면이 건전한 니켈 도금층을 형성할 수 있다.The first plating may be performed at 40 to 60° C. under a current of 1 to 5 A/dm 2. Specifically, the first plating may be performed at 40 to 55 °C under a current of 1.5 to 4 A/dm 2. When the temperature during the first plating is within the above range, the plating speed is uniformly maintained, and when the current is within the above range, the thickness of the first plating layer can be uniformly generated, and a nickel plating layer having a sound surface can be formed. .

제2 도금단계2nd plating step

제2 도금단계에서는 상기 제1 도금층 상에 은을 포함하는 제2 도금층을 형성한다. 본 단계는 제1 도금층 상에 제2 도금층으로 은 도금층을 얇게 형성시킴으로써 다음 단계인 제3 도금시 제3 도금층과 제1 도금층 사이의 접합강도를 향상시키기 위해 수행한다.In the second plating step, a second plating layer containing silver is formed on the first plating layer. This step is performed to improve the bonding strength between the third plating layer and the first plating layer during the next step, the third plating, by forming a thin silver plating layer as the second plating layer on the first plating layer.

상기 제2 도금층의 소재 및 두께는 상기 세라믹 하우징에서 정의한 바와 같다.The material and thickness of the second plating layer are as defined in the ceramic housing.

상기 제2 도금은 은을 포함하는 제2 도금액에 상기 제1 도금층 및 금속화층이 형성된 세라믹 기재를 침지하고 전류를 인가하여 수행할 수 있다. 이때, 상기 제2 도금액은 은 및 시안(CN)을 포함할 수 있다. 구체적으로, 상기 제2 도금액은 1 내지 15 g/ℓ, 또는 1.5 내지 10 g/ℓ의 은 및 45 내지 160 g/ℓ, 또는 50 내지 100 g/ℓ의 시안을 포함할 수 있다. 상기 제2 도금액의 은 농도가 상기 범위 내일 경우, 은 도금 시 도금 속도를 빠르게 하며, 전류 밀도를 높이는 효과가 있고, 시안 농도가 상기 범위 내일 경우, 은 도금시 금속 착이온을 효과적으로 형성하며 양극을 용해시켜 은 도금 효율을 높일 수 있다. The second plating may be performed by immersing the ceramic substrate on which the first plating layer and the metallization layer are formed in a second plating solution containing silver and applying a current. In this case, the second plating solution may contain silver and cyan (CN). Specifically, the second plating solution may contain 1 to 15 g/l, or 1.5 to 10 g/l of silver and 45 to 160 g/l, or 50 to 100 g/l of cyanide. When the silver concentration of the second plating solution is within the above range, the plating speed is increased during silver plating and the current density is increased. When the cyan concentration is within the above range, metal complex ions are effectively formed during silver plating, and the anode is formed. By dissolving, silver plating efficiency can be improved.

상기 제2 도금은 15 내지 30 ℃에서 3 내지 6 A/d㎡의 전류 하에서 10 내지 60 초 동안 수행할 수 있다. 구체적으로, 상기 제2 도금은 18 내지 28 ℃에서 3 내지 5.5 A/d㎡의 전류 하에서 10 내지 50 초 동안 수행할 수 있다. 상기 제2 도금시 온도가 상기 범위 내일 경우, 균일한 도금 속도를 유지할 수 있고, 전류가 상기 범위 내일 경우, 균일한 두께의 제2 도금층을 형성할 수 있다.The second plating may be performed at 15 to 30° C. under a current of 3 to 6 A/dm 2 for 10 to 60 seconds. Specifically, the second plating may be performed for 10 to 50 seconds under a current of 3 to 5.5 A/dm 2 at 18 to 28 °C. When the temperature during the second plating is within the above range, a uniform plating speed can be maintained, and when the current is within the above range, a second plating layer having a uniform thickness can be formed.

상기 제2 도금단계는 상기 제3 도금단계보다 높은 전류에서 수행된다. 구체적으로, 상기 제2 도금단계에서 사용하는 전류는 상기 제3 도금단계에서 사용하는 전류의 1.1 내지 3 배, 또는 1.3 내지 2.5 배 클 수 있다. 제2 도금단계의 전류가 제3 도금단계의 전류보다 높을 경우, 제1 도금층 전면에 얇은 두께의 제2 도금층이 형성됨으로써 다음 단계인 제3 도금시 제1 도금층과 제3 도금층의 접합강도가 좋아져 블러스터 발생이 적은 세라믹 하우징를 제조할 수 있다.The second plating step is performed at a higher current than the third plating step. Specifically, the current used in the second plating step may be 1.1 to 3 times, or 1.3 to 2.5 times greater than the current used in the third plating step. When the current in the second plating step is higher than the current in the third plating step, a thin second plating layer is formed on the entire surface of the first plating layer, thereby improving the bonding strength between the first plating layer and the third plating layer during the next step, the third plating. It is possible to manufacture a ceramic housing with less blister generation.

상기 제2 도금단계의 도금액(제2 도금액)은 상기 제3 도금단계의 도금액(제3 도금액)보다 은 농도가 낮다. 구체적으로, 상기 제3 도금단계에서 도금액의 은 농도는 상기 제2 도금단계에서 도금액의 은 농도의 5 내지 25 배, 또는 8 내지 20 배 클 수 있다. 상술한 바와 같이, 제2 도금액의 은 농도가 제3 도금액의 은 농도보다 낮은 경우, 제1 도금층 전면에 얇은 두께의 제2 도금층이 형성됨으로써 다음 단계인 제3 도금시 제1 도금층과 제3 도금층의 접합강도가 좋아져 블러스터 발생이 적은 세라믹 하우징를 제조할 수 있다. The plating solution in the second plating step (the second plating solution) has a lower silver concentration than the plating solution in the third plating step (the third plating solution). Specifically, the silver concentration of the plating solution in the third plating step may be 5 to 25 times, or 8 to 20 times greater than the silver concentration of the plating solution in the second plating step. As described above, when the silver concentration of the second plating solution is lower than the silver concentration of the third plating solution, a thin second plating layer is formed on the entire surface of the first plating layer, so that the first plating layer and the third plating layer are formed in the next step of the third plating. It is possible to manufacture a ceramic housing with less blister generation due to improved bonding strength.

제3 도금단계3rd plating step

제3 도금단계에서는 상기 제2 도금층 상에 은을 포함하는 제3 도금층을 형성한다. 구체적으로, 본 단계에서는 은 도금층을 목표 두께로 형성할 수 있다.In the third plating step, a third plating layer containing silver is formed on the second plating layer. Specifically, in this step, a silver plating layer may be formed to a target thickness.

상기 제3 도금층의 소재 및 두께는 상기 세라믹 하우징의 은 도금층에서 정의한 바와 같다.The material and thickness of the third plating layer are as defined in the silver plating layer of the ceramic housing.

상기 제3 도금은 은을 포함하는 제3 도금액에 상기 제2 도금층, 제1 도금층 및 금속화층이 형성된 세라믹 기재를 침지하고 전류를 인가하여 수행할 수 있다. 이때, 상기 제3 도금액은 은 및 시안(CN)을 포함할 수 있다. 구체적으로, 상기 제3 도금액은 20 내지 150 g/ℓ, 또는 20 내지 100 g/ℓ 의 은 및 30 내지 150 g/ℓ, 또는 35 내지 145 g/ℓ 의 시안을 포함할 수 있다. 상기 제3 도금액의 은 농도가 상기 범위 내일 경우, 도금 속도를 향상시키며, 전류 밀도를 높이는 효과가 있으며, 시안 농도가 상기 범위 내일 경우, 도금 시 금속 착 이온을 만들고 양극 용해하여 도금 효율을 향상시키는 효과가 있다. The third plating may be performed by immersing the ceramic substrate on which the second plating layer, the first plating layer, and the metallization layer are formed in a third plating solution containing silver and applying a current. In this case, the third plating solution may include silver and cyan (CN). Specifically, the third plating solution may contain 20 to 150 g/l, or 20 to 100 g/l of silver and 30 to 150 g/l, or 35 to 145 g/l of cyanide. When the silver concentration of the third plating solution is within the above range, the plating speed is improved and the current density is increased, and when the cyan concentration is within the above range, metal complex ions are formed during plating and the anode is dissolved to improve plating efficiency. It works.

상기 제3 도금은 29 내지 45 ℃에서 0.5 내지 3.5 A/d㎡의 전류 하에서 10 내지 60 분 동안 수행할 수 있다. 구체적으로, 상기 제3 도금은 29 내지 40 ℃에서 1 내지 3.3 A/d㎡의 전류 하에서 20 내지 55 분 동안 수행할 수 있다. 상기 제3 도금시 온도가 상기 범위 내일 경우, 균일한 도금 속도를 유지하는 효과가 있으며, 전류가 상기 범위 내일 경우, 균일한 두께의 도금층을 형성하며, 도금층의 표면조도를 적절하게 조절할 수 있다. The third plating may be performed at 29 to 45° C. under a current of 0.5 to 3.5 A/dm 2 for 10 to 60 minutes. Specifically, the third plating may be performed at 29 to 40 °C for 20 to 55 minutes under a current of 1 to 3.3 A/dm 2. When the temperature during the third plating is within the above range, there is an effect of maintaining a uniform plating speed. When the current is within the above range, a plating layer having a uniform thickness is formed, and the surface roughness of the plating layer can be appropriately adjusted.

제3 도금층이 형성된 세라믹 기재는 이후 수세, 탕세 및 건조될 수 있다. 상기 수세는 물을 이용하여 수행할 수 있으며, 상기 탕세는 70 내지 90 ℃의 물을 이용하여 수행할 수 있다.The ceramic substrate on which the third plating layer is formed may then be washed with water, hot water, and dried. The water washing may be performed using water, and the hot water washing may be performed using water at 70 to 90°C.

상술한 바와 같은 본 발명에 따른 세라믹 기재의 도금 방법은 금속화층과 금속화층 상의 도금층 사이에서 발생하는 블러스터 발생을 억제하고, 도금층을 균일한 두께로 형성할 수 있다. 또한, 상기 도금 방법은 통상적으로 세라믹과 금속을 접합하기 위해 사용되는 은 및 구리를 포함하는 솔더 층을 형성하지 않을 수 있다.As described above, the plating method of a ceramic substrate according to the present invention can suppress the occurrence of blisters occurring between the metallization layer and the plated layer on the metallization layer, and form the plated layer with a uniform thickness. In addition, the plating method may not form a solder layer including silver and copper, which is typically used to bond a ceramic and a metal.

이하, 실시예를 통해 본 발명을 보다 구체적으로 설명한다. 그러나 이들 실시예는 본 발명의 이해를 돕기 위한 것일 뿐 어떠한 의미로든 본 발명의 범위가 이들 실시예로 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail through examples. However, these examples are only intended to aid understanding of the present invention, and the scope of the present invention is not limited to these examples in any sense.

[실시예][Example]

실시예 1. 세라믹 기재의 도금Example 1. Plating of ceramic substrate

세라믹 기재 상에 몰리브덴, 망간 및 알파-알루미나로 이루어진 금속화층이 형성된 샘플을 75 ℃의 물로 탕세하였다. 이후, 샘플을 10중량%의 산성 수용액으로 탈지한 후 물 및 초음파 세척기를 이용하여 초음파 세척하고, 수세하였다. 이후, 니켈 70 g/ℓ 및 붕산 35 g/ℓ를 포함하고 pH 4.0인 제1 도금액을 이용하여 45 ℃에서 2.5 A/d㎡의 전류 하에서 10 분 동안 제1 도금하여 제1 도금층을 형성하였다.A sample in which a metallization layer made of molybdenum, manganese and alpha-alumina was formed on a ceramic substrate was washed with water at 75°C. Thereafter, the sample was degreased with 10% by weight of an acidic aqueous solution, and then ultrasonically washed with water and an ultrasonic cleaner, and washed with water. Thereafter, a first plating layer was formed at 45° C. for 10 minutes under a current of 2.5 A/dm 2 using a first plating solution containing 70 g/L of nickel and 35 g/L of boric acid and having a pH of 4.0.

이후, 상기 제1 도금층이 형성된 샘플을 수세하고, 은 2 g/ℓ 및 시안(CN) 80 g/ℓ를 포함하는 제2 도금액을 이용하여 25 ℃에서 4 A/d㎡의 전류 하에서 55 초 동안 제2 도금하여 제2 도금층을 형성하였다.Thereafter, the sample on which the first plating layer was formed was washed with water, and a second plating solution containing 2 g/ℓ of silver and 80 g/ℓ of cyanide (CN) was used for 55 seconds under a current of 4 A/dm 2 at 25 °C. The second plating was performed to form a second plating layer.

이후, 상기 제2 도금층이 형성된 샘플을 수세하고, 은 40 g/ℓ 및 시안(CN) 100 g/ℓ를 포함하는 제3 도금액을 이용하여 30 ℃에서 2.0 A/d㎡의 전류 하에서 40 분 동안 제3 도금하여 제3 도금층을 형성하였다. 이후, 수세하고, 75 ℃의 물로 탕세한 후 건조하여 세라믹 하우징을 제조하였다.Thereafter, the sample on which the second plating layer was formed was washed with water, and a third plating solution containing 40 g/ℓ of silver and 100 g/ℓ of cyanide (CN) was used for 40 minutes under a current of 2.0 A/dm2 at 30°C. The third plating was performed to form a third plating layer. Then, it was washed with water, washed with water at 75° C., and dried to prepare a ceramic housing.

실시예 2 내지 4 및 비교예 1 내지 4.Examples 2 to 4 and Comparative Examples 1 to 4.

하기 표 1에 나타낸 바와 같이, 제2 도금액의 은 및 시안 농도, 제2 도금시 도금 조건, 제3 도금액의 은 및 시안 농도, 및 제3 도금시 도금 조건을 조절한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 세라믹 기재를 도금하여 세라믹 하우징을 제조하였다.As shown in Table 1 below, except that the silver and cyan concentrations of the second plating solution, the plating conditions during the second plating, the silver and cyan concentrations of the third plating solution, and the plating conditions during the third plating were adjusted, Examples The ceramic substrate was plated in the same manner as in 1 to prepare a ceramic housing.

실시예 1Example 1 실시예 2Example 2 실시예 3Example 3 실시예 4Example 4 비교예 1Comparative Example 1 비교예 2Comparative Example 2 비교예 3Comparative Example 3 비교예 4Comparative Example 4 제2
도금액
Second
Plating amount
은 농도(g/ℓ)Silver concentration (g/ℓ) 22 77 1010 1212 -- 2020 0.50.5 1010
시안 농도
(g/ℓ)
Cyanide concentration
(g/ℓ)
8080 130130 9595 110110 -- 6060 8080 130130
제2
도금
Second
Plated
전류(A/d㎡)Current (A/d㎡) 44 3.53.5 4.54.5 4.04.0 -- 44 33 77
시간time 50 초50 seconds 40 초40 seconds 30 초30 seconds 15 초15 seconds -- 50 초50 seconds 20 초20 seconds 70 초70 seconds 온도Temperature 25 ℃25 ℃ 20 ℃20 ℃ 25 ℃25 ℃ 23 ℃23 ℃ -- 25 ℃25 ℃ 25 ℃25 ℃ 25 ℃25 ℃ 제3
도금액
Third
Plating amount
은 농도(g/ℓ)Silver concentration (g/ℓ) 4040 6060 5050 6060 4040 4040 4040 5050
시안 농도
(g/ℓ)
Cyanide concentration
(g/ℓ)
100100 8080 125125 130130 100100 100100 100100 100100
제3
도금
Third
Plated
전류(A/d㎡)Current (A/d㎡) 2.02.0 3.03.0 2.02.0 2.02.0 2.02.0 2.02.0 2.02.0 2.02.0
시간time 40 분40 minutes 25 분25 minutes 40 분40 minutes 40 분40 minutes 40 분40 minutes 40 분40 minutes 40 분40 minutes 40 분40 minutes 온도Temperature 30 ℃30 ℃ 40 ℃40 ℃ 32 ℃32 ℃ 30 ℃30 ℃ 30 ℃30 ℃ 30 ℃30 ℃ 30 ℃30 ℃ 40 ℃40 ℃

시험예 1. 블러스터 발생 측정Test Example 1. Measurement of Bluster Generation

실시예 1 및 비교예 1에서 생산한 200 개의 세라믹 하우징을 대상으로 블러스터 발생량을 측정하고, 이로부터 발생률을 계산하였으며, 그 결과를 표 2에 나타냈다.The amount of blister generation was measured for 200 ceramic housings produced in Example 1 and Comparative Example 1, and the incidence rate was calculated from this, and the results are shown in Table 2.

구체적으로, 블러스터 발생량은 세라믹 하우징을 600 ℃에서 3시간 동안 열처리한 후 세라믹 하우징의 표면을 육안으로 관찰하였다.Specifically, for the amount of blasting generated, the ceramic housing was heat-treated at 600° C. for 3 hours, and then the surface of the ceramic housing was visually observed.

제2 도금 수행여부Whether to perform the second plating 생산량output 블러스터 발생량Bluster generation amount 블러스터 발생률Bluster rate 실시예 1Example 1 U 200개200 pcs 10개10 things 5%5% 비교예 1Comparative Example 1 radish 200개200 pcs 186개186 pcs 93%93%

표 2에서 보는 바와 같이, 제2 도금을 수행한 실시예 1은 블러스터 발생량 및 발생률이 낮았다. 반면, 제2 도금을 수행하지 않은 비교예 1은 블러스터 발생량 및 발생률이 높았다. 이를 통해, 제2 도금층이 제1 도금층(니켈 도금층)과 제3 도금층 사이의 접합강도를 향상시키는 것을 알 수 있었다.As shown in Table 2, Example 1, in which the second plating was performed, had a low amount and rate of blasting. On the other hand, Comparative Example 1, in which the second plating was not performed, had a high amount and rate of blasting. Through this, it was found that the second plating layer improves the bonding strength between the first plating layer (nickel plating layer) and the third plating layer.

시험예 2. 세라믹 하우징의 물성 측정Test Example 2. Measurement of physical properties of ceramic housing

실시예 1 내지 4 및 비교예 1 내지 4의 세라믹 하우징 100개를 대상으로 은 도금층(제2 도금층 + 제3 도금층)의 평균 두께, 표면조도 및 접합강도를 측정 및 계산하였으며, 그 결과를 하기 표 3에 나타냈다.The average thickness, surface roughness, and bonding strength of the silver plating layer (the second plating layer + the third plating layer) were measured and calculated for 100 ceramic housings of Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 4, and the results are shown in the following table. It is shown in 3.

구체적으로, 상기 은 도금층의 두께는 XRF(X-ray-Fluorescence)를 이용하여 측정하였으며, 표면조도는 간이 표면조도 측정기를 사용하여 접촉식으로 측정하였다. 또한, 접합강도는 실시예 및 비교예의 세라믹 하우징에 구리 핀을 접합시킨 후 만능시험기(Universal Testing machine)을 이용하여 구리 핀을 떼어내면서 접합강도를 측정하였다. Specifically, the thickness of the silver plating layer was measured using XRF (X-ray-Fluorescence), and the surface roughness was measured by a contact method using a simple surface roughness meter. In addition, the bonding strength was measured by bonding the copper pins to the ceramic housings of Examples and Comparative Examples, and then removing the copper pins using a universal testing machine.

은 도금층의 평균 두께(㎛)Average thickness of silver plating layer (㎛) 표면조도(㎛)Surface roughness (㎛) 접합강도(kgf/㎠)Bonding strength (kgf/㎠) 제2 도금층2nd plating layer 제3 도금층3rd plating layer 실시예 1Example 1 1.01.0 35.735.7 3.23.2 2,7802,780 실시예 2Example 2 1.51.5 35.935.9 3.53.5 2,5102,510 실시예 3 Example 3 2.12.1 37.237.2 3.83.8 2,6002,600 실시예 4Example 4 2.82.8 45.845.8 4.04.0 2,2502,250 비교예 1Comparative Example 1 0.00.0 35.535.5 3.83.8 560560 비교예 2Comparative Example 2 4.34.3 36.036.0 7.67.6 1,1101,110 비교예 3Comparative Example 3 0.30.3 34.134.1 5.25.2 730730 비교예 4Comparative Example 4 3.53.5 36.336.3 8.28.2 1,4201,420

표 3에서 보는 바와 같이, 실시예 1 내지 4의 세라믹 하우징은 표면조도가 적절하고 접합강도가 우수하여 통상적으로 세라믹과 금속을 접합하기 위해 사용되는 은 및 구리를 포함하는 솔더 층을 형성하지 않을 수 있다.As shown in Table 3, the ceramic housings of Examples 1 to 4 have appropriate surface roughness and excellent bonding strength, so that a solder layer containing silver and copper, which is commonly used to bond ceramics and metals, may not be formed. have.

반면, 제2 도금층을 형성하지 않은 비교예 1은 실시예 1 내지 4와 비교하여 접합강도가 현저히 저하됨을 확인할 수 있었다. 또한, 비교예 2 및 4는 제2 도금층의 평균 두께가 3 ㎛를 초과하여 표면조도가 불량함과 동시에 접합강도도 저하됨을 확인할 수 있었다. 나아가, 제2 도금층이 너무 얇은 비교예 3은 접합강도가 현저히 낮았다.On the other hand, it was confirmed that Comparative Example 1 in which the second plating layer was not formed significantly decreased the bonding strength compared to Examples 1 to 4. In addition, in Comparative Examples 2 and 4, it was confirmed that the average thickness of the second plating layer exceeded 3 µm, so that the surface roughness was poor and the bonding strength was also reduced. Further, Comparative Example 3 in which the second plating layer was too thin had a remarkably low bonding strength.

Claims (7)

세라믹 기재, 금속화층, 제1 도금층, 제2 도금층 및 제3 도금층이 순차적으로 적층된 형태를 포함하고,
상기 금속화층은 몰리브덴 및 망간을 포함하고,
상기 제1 도금층은 니켈을 포함하며,
상기 제2 도금층 및 제3 도금층은 각각 은을 포함하고,
상기 제2 도금층은 두께가 0.5 내지 3 ㎛이며,
상기 제2 도금층은 제3 도금층보다 은 농도가 낮은 도금액을 사용하고, 제3 도금층보다 높은 전류에서 제조되는 것이며,
상기 제2 도금층은 은 농도가 1 내지 15 g/ℓ인 도금액을 이용하여 15 내지 30℃, 3 내지 6 A/dm2의 전류에서 도금을 수행하여 제조된 것인, 세라믹 하우징.
A ceramic substrate, a metallization layer, a first plating layer, a second plating layer, and a third plating layer are sequentially stacked, and
The metallization layer contains molybdenum and manganese,
The first plating layer includes nickel,
The second plating layer and the third plating layer each contain silver,
The second plating layer has a thickness of 0.5 to 3 µm,
The second plating layer is made of a plating solution having a lower silver concentration than the third plating layer, and is manufactured at a higher current than the third plating layer,
The second plating layer is manufactured by performing plating at a current of 15 to 30° C. and 3 to 6 A/dm 2 using a plating solution having a silver concentration of 1 to 15 g/ℓ.
청구항 1에 있어서,
상기 금속화층은 두께가 10 내지 50 ㎛이고,
상기 제1 도금층은 두께가 1 내지 20 ㎛이며,
상기 제3 도금층은 두께가 20 내지 50 ㎛인, 세라믹 하우징.
The method according to claim 1,
The metallization layer has a thickness of 10 to 50 μm,
The first plating layer has a thickness of 1 to 20 μm,
The third plating layer has a thickness of 20 to 50 μm, a ceramic housing.
세라믹 기재 상에 몰리브덴 및 망간을 포함하는 금속화층을 형성하는 단계;
상기 금속화층 상에 니켈을 포함하는 제1 도금층을 형성하는 제1 도금단계;
상기 제1 도금층 상에 은을 포함하는 제2 도금층을 형성하는 제2 도금단계; 및
상기 제2 도금층 상에 은을 포함하는 제3 도금층을 형성하는 제3 도금단계;를 포함하고,
상기 제2 도금단계는 상기 제3 도금단계보다 높은 전류에서 수행되고, 상기 제2 도금단계의 도금액은 상기 제3 도금단계의 도금액보다 은 농도가 낮은 것이며,
상기 제2 도금단계에서 도금액은 은 농도가 1 내지 15 g/ℓ이고, 15 내지 30℃, 3 내지 6 A/dm2의 전류에서 도금을 수행하는 것인, 세라믹 기재의 도금 방법.
Forming a metallization layer containing molybdenum and manganese on a ceramic substrate;
A first plating step of forming a first plating layer containing nickel on the metallization layer;
A second plating step of forming a second plating layer containing silver on the first plating layer; And
Including; a third plating step of forming a third plating layer containing silver on the second plating layer,
The second plating step is performed at a higher current than the third plating step, and the plating solution in the second plating step has a lower silver concentration than the plating solution in the third plating step,
In the second plating step, the plating solution has a silver concentration of 1 to 15 g/ℓ, and plating is performed at a current of 15 to 30° C. and 3 to 6 A/dm 2 .
청구항 3에 있어서,
상기 제3 도금단계의 도금액의 은 농도는 상기 제2 도금단계의 도금액의 은 농도의 5 내지 25 배 큰, 세라믹 기재의 도금 방법.
The method of claim 3,
The plating method of a ceramic substrate, wherein the silver concentration of the plating solution in the third plating step is 5 to 25 times greater than that of the plating solution in the second plating step.
청구항 3에 있어서,
상기 제2 도금단계는 10 내지 60 초 동안 수행되는, 세라믹 기재의 도금 방법.
The method of claim 3,
The second plating step is performed for 10 to 60 seconds, a method of plating a ceramic substrate.
청구항 3에 있어서,
상기 제3 도금단계에서 도금액은 은 농도가 20 내지 150 g/ℓ이고, 10 내지 60 분 동안 수행되는, 세라믹 기재의 도금 방법.
The method of claim 3,
In the third plating step, the plating solution has a silver concentration of 20 to 150 g/ℓ, and is performed for 10 to 60 minutes.
청구항 3에 있어서,
상기 제2 도금단계에서 사용하는 전류는 상기 제3 도금단계에서 사용하는 전류의 1.1 내지 3 배 큰, 세라믹 기재의 도금 방법.
The method of claim 3,
The current used in the second plating step is 1.1 to 3 times larger than the current used in the third plating step, a method of plating a ceramic substrate.
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