KR102183968B1

KR102183968B1 - 계전기 테스트기

Info

Publication number: KR102183968B1
Application number: KR1020190048638A
Authority: KR
Inventors: 백성열
Original assignee: 옵티멀에너지서비스 주식회사
Priority date: 2019-04-25
Filing date: 2019-04-25
Publication date: 2020-11-27
Also published as: KR20200125020A

Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기에 따르면, 계전기 - 상기 계전기는 외형을 이루며 내부에 소정의 공간을 제공하는 하우징부, 상기 하우징부 내부에 배치되는 전자 부품 및 상기 전자 부품과 전기적으로 연결되며 외부에서부터 상기 전자 부품으로 전기가 이동되기 위하여 외부에 노출되도록 상기 하우징부에 연결되는 계전 단자부를 구비함 - 의 양부 판정을 위한 계전기 테스트기에 있어서, 테스트 본체부; 상기 테스트 본체부에 배치되어 상기 계전 단자부와 전기적으로 연결되는 테스트 단자부; 상기 테스트 본체부에 배치되어 상기 테스트 단자부에 소정의 전압을 제공하는 전원부; 상기 테스트 본체부에 배치되어 상기 단자부와 상기 전원부를 전기적으로 서로 연결시키는 회로부; 상기 테스트 본체부에 배치되며, 상기 회로부에 연결되어 상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 연결되는 경우, 상기 테스트 단자부에 연결된 상기 계전 단자부와 대응되는 상기 전자 부품의 저항, 상기 전자 부품에 유동되는 전류 및 상기 전자 부품에 인가되는 전압 중 적어도 하나의 요소를 측정하는 계측부; 상기 테스트 본체부에 배치되며, 상기 계측부에서 전달되는 계측 데이터를 기초로 산출된 계측 정보를 표시하는 계측 디스플레이부; 및 상기 계측부 또는 상기 계측 디스플레이부를 제어하는 제어부;를 포함할 수 있다.

Description

계전기 테스트기 {RALAY TESTER}

본 발명은 계전기 테스트기에 관한 것으로서, 계전기의 양부 판정을 위한 테스트기에 관한 것이다.

발전소는 우리 생활에서 꼭 필요한 전기를 생산하고 있어, 우리 사회에서 꼭 필요한 설비이다. 발전소는 복수의 발전기로 이루어져 있으며, 하나의 발전기도 많은 수 많은 부품으로 이루어져, 각 각의 부품 간의 상호 결합 적인 동작 과정으로 인해 전기를 생산하고 있다. 다만. 발전기는 하나의 부품이라도 고장날 경우, 정상적으로 작동하지 못할 만큼 매우 정교한 설비이다.

상기 발전기를 효과적으로 제어하기 위해서는 여러 개의 계전기가 활용되고 있다. 일례로, 한 호기당 15 핀의 계전기가 약 100개 정도 설치되며 8핀의 계전기도 약 100개 정도 설치되고 있다. 여기서, 경상 정비 또는 계획 예방 정비 공사 시에 계전기를 교체하기 위해 계전기에 대해서 전 방위적으로 양부 판정을 실시한다.

다만, 지금까지의 계전기의 양부 판정은 기존의 테스터기(한국실용신안공보 제1994-0006504호, 1992. 11. 17, 공개)를 이용하여, 미리 정해진 방법에 의해 상기 계전기의 단자를 각각의 저항, 전류 혹은 전압을 측정하여 실시하였다. 이러한 방법은 하나의 계전기를 측정하는데 많은 시간이 소요되는 문제점이 있었다.

본 발명의 해결하고자 하는 과제는 상기 문제점을 해결하기 위하여, 한번에 계전기의 양부 판정을 할 수 있는 계전기 테스트기를 제공하고자 한다.

다만, 본 발명이 해결하고자 하는 과제가 상술한 과제로 제한되는 것은 아니며, 언급되지 아니한 과제들은 본 명세서 및 첨부된 도면으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

또한, 상기 제어부는, 상기 계측부에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 미리 정해진 기준이 만족되는 경우, 상기 계측 디스플레이부가 비 이상적인 상황을 전달할 수 있는 정보인 알림 정보를 제공할 수 있도록 상기 계측 디스플레이부를 제어할 수 있다.

또한, 상기 미리 정해진 기준은, 상기 계측 정보가 소정의 기준 정보를 기준으로 소정의 범위 이상의 값을 가지는 조건일 수 있다.

또한, 상기 테스트 본체부에 배치되어 소정의 빛을 발광하는 레이저부;를 더 포함하고, 상기 제어부는, 상기 계측부에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 상기 미리 정해진 기준이 만족되는 경우, 상기 계전기가 이상 있다는 것과 관련된 정보인 계전기 이상 정보가 상기 하우징부에 각인되도록 상기 레이저부가 소정의 빛을 방출하게 상기 레이저부를 제어할 수 있다.

또한, 상기 제어부는, 임의의 계전기가 계측되는 경우 기준 시점 이후로 몇 번째로 계측된 것 인지와 관련된 데이터인 계측 순서 데이터를 저장하고, 상기 계측부에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 상기 미리 정해진 기준이 만족되는 경우, 상기 계측 순서 데이터를 기초로 산출된 상기 기준 시점 이후 계전기가 계측된 순서와 관련된 정보인 순서 정보가 상기 하우징부에 각인되도록 상기 레이저부가 소정의 빛을 방출하게 상기 레이저부를 제어할 수 있다.

또한, 상기 제어부로 소정의 신호를 전달하는 스위치부;를 더 포함하고, 상기 제어부는, 상기 스위치부가 제1 상태일 경우, 소정의 시간 동안 상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 접촉되지 않는다면, 상기 계측 디스플레이부가 소정의 정보를 더 이상 표시하지 않도록 상기 계측 디스플레이부를 제어하고, 상기 스위치부가 제2 상태일 경우, 상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 접촉되더라도 상기 계측 디스플레이부가 소정의 정보를 더 이상 표시하지 않도록 상기 계측 디스플레이부를 제어할 수 있다.

또한, 상기 제어부는 상기 계측부에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 미리 정해진 조건이 만족되는 경우, 상기 계측 디스플레이부가 상기 회로부의 이상이 의심된다는 것과 관련된 정보인 회로부 이상 정보를 제공할 수 있도록 상기 계측 디스플레이부를 제어할 수 있다.

또한, 상기 전자 부품은, 제1 전자 부품 및 상기 제1 전자 부품과 전기적으로 연결되지 않는 제2 전자 부품을 구비하고, 상기 테스트 단자부는, 상기 회로부에 의해 상기 전원부와 전기적으로 연결되는 제1 테스트 단자, 상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 연결되는 경우 상기 제1 전자 부품에 의해 상기 제1 테스트 단자와 함께 전기적으로 연결되는 제2 테스트 단자, 상기 회로부에 의해 상기 전원부와 전기적으로 연결되지만 상기 제1 테스트 단자와 상기 제2 테스트 단자와 전기적으로 연결되지 않는 제3 테스트 단자 및 상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 연결되는 경우 상기 제2 전자 부품에 의해 상기 제3 테스트 단자와 함께 전기적으로 연결되는 제4 테스트 단자를 구비하고, 상기 계측부는, 상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 연결되는 경우, 상기 제1 테스트 단자와 상기 제2 테스트 단자에 연결된 상기 제1 전자 부품의 제1 계측 데이터와 상기 제3 테스트 단자와 상기 제3 테스트 단자에 연결된 상기 제2 전자 부품의 제2 계측 데이터를 제공하고, 상기 제어부는 상기 기준 시점 이후로 계측되는 복수의 상기 계전기에 대해서 상기 제1 계측 데이터 및 상기 제2 계측 데이터를 시계열적으로 저장하며, 상기 미리 정해진 조건은, 상기 스위치부가 제1 상태에서 제2 상태로 상태 변화된 때, 임의의 시점부터 상기 스위치부가 제2 상태로 된 때까지 상기 계측부로부터 제공된 모든 상기 제1 계측 데이터들을 기초로 상기 미리 정해진 기준이 만족되는 조건일 수 있다.

본 발명에 따른 계전기 테스트기는 빠른 시간 안에 양부 판정을 할 수 있다.

또한, 이상이 있는 계전기를 쉽게 파악할 수 있다.

또한, 계전기 테스트기의 이상으로 인한 부정확한 판정을 예방할 수 있다.

다만, 본 발명의 효과가 상술한 효과들로 제한되는 것은 아니며, 언급되지 아니한 효과들은 본 명세서 및 첨부된 도면으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확히 이해될 수 있을 것이다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기의 전체 사시도
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기가 구비하는 회로부를 개략적으로 설명하기 위한 도면
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기의 블록도
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기에 계전기가 연결되어 양부 판정을 설명하기 위한 도면
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기에 의해 계전기에 제1 표식과 제2 표식이 각인된 예시를 설명하기 위한 도면
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기에 회로부 이상 정보가 표시된 예시를 설명하기 위한 도면

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시예를 상세하게 설명한다. 다만, 본 발명의 사상은 제시되는 실시예에 제한되지 아니하고, 본 발명의 사상을 이해하는 당업자는 동일한 사상의 범위 내에서 다른 구성요소를 추가, 변경, 삭제 등을 통하여, 퇴보적인 다른 발명이나 본 발명 사상의 범위 내에 포함되는 다른 실시예를 용이하게 제안할 수 있을 것이나, 이 또한 본원 발명 사상 범위 내에 포함된다고 할 것이다.

또한, 각 실시예의 도면에 나타나는 동일한 사상의 범위 내의 기능이 동일한 구성요소는 동일한 참조부호를 사용하여 설명한다.

본 명세서에서 본 발명에 관련된 공지의 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에 이에 관한 자세한 설명은 생략하기로 한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기의 전체 사시도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기가 구비하는 회로부를 개략적으로 설명하기 위한 도면이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기의 블록도이다.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기는 계전기(1, 도 4 참조) - 상기 계전기(1)는 외형을 이루며 내부에 소정의 공간을 제공하는 하우징부(1a, 도 4 참조), 상기 하우징부(1a) 내부에 배치되는 전자 부품(1b, 도 4 참조) 및 상기 전자 부품(1b)과 전기적으로 연결되며 외부에서부터 상기 전자 부품(1b)으로 전기가 이동되기 위하여 외부에 노출되도록 상기 하우징부(1a)에 연결되는 계전 단자부(1c, 도 4 참조)를 구비함 - 의 양부 판정을 위한 계전기 테스트기에 있어서, 테스트 본체부(10), 상기 테스트 본체부(10)에 배치되어 상기 계전 단자부(1c)와 전기적으로 연결되는 테스트 단자부(20), 상기 테스트 본체부(10)에 배치되어 상기 테스트 단자부(20)에 소정의 전압을 제공하는 전원부(30), 상기 테스트 본체부(10)에 배치되어 상기 단자부와 상기 전원부(30)를 전기적으로 서로 연결시키는 회로부(40), 상기 테스트 본체부(10)에 배치되며, 상기 회로부(40)에 연결되어 상기 테스트 단자부(20)에 상기 계전 단자부(1c)가 연결되는 경우, 상기 테스트 단자부(20)에 연결된 상기 계전 단자부(1c)와 대응되는 상기 전자 부품(1b)의 저항, 상기 전자 부품(1b)에 유동되는 전류 및 상기 전자 부품(1b)에 인가되는 전압 중 적어도 하나의 요소를 측정하는 계측부(50), 상기 테스트 본체부(10)에 배치되며, 상기 계측부(50)에서 전달되는 계측 데이터를 기초로 산출된 계측 정보를 표시하는 계측 디스플레이부(61, 62) 및 상기 계측부(50) 또는 상기 계측 디스플레이부(61, 62)를 제어하는 제어부(70)를 포함할 수 있다.

또한, 상기 계전기 테스트기는 상기 테스트 본체부(10)에 배치되어 소정의 빛을 발광하는 레이저부(80)를 더 포함할 수 있다.

또한, 상기 계전기 테스트기는 외력에 의해 동작되어 소정의 신호를 상기 제어부(70)로 전달하는 입력부(91a, 91b)를 더 포함할 수 있다.

또한, 상기 계전기 테스트기는 상기 제어부(70)로 소정의 신호를 전달하는 스위치부(92)를 더 포함할 수 있다.

계전 단자부(1c)는 복 수개의 계전 단자로 이루어질 수 있다

하나의 계전 단자는 하나의 테스트 단자에 접촉되어 전기적으로 연결될 수 있다.

전자 부품(1b)은 복 수개일 수 있다.

테스트 본체부(10)는 상기 테스트 본체부(10)의 일면에 상기 계측 디스플레이부(61, 62) 및 상기 테스트 단자부(20)가 외부로 노출될 수 있게 상기 계측 디스플레이부(61, 62)와 상기 테스트 단자부(20)가 연결될 수 있도록 소정의 영역을 제공할 수 있다.

상기 테스트 단자부(20)는 상기 계전 단자부(1c)에 접촉되어 전기적으로 연결될 수 있다.

이를 위해 상기 테스트 단자부(20)는 도체로 이루어질 수 있다.

상기 테스트 단자부(20)는 복 수개의 단자로 이루어질 수 있다.

일례로, 상기 테스트 단자부(20)는 제1 테스트 단자(21) 내지 제15 테스트 단자로서 이루어질 수 있다.

상기 전원부(30)는 소정의 전력을 상기 회로부(40)를 통해 상기 테스트 단자로 전달할 수 있다.

일례로, 상기 전원부(30)는 직류 전류를 제공할 수 있다.

일례로, 상기 전원부(30)의 일측은 +극 일 수 있고, 상기 전원부(30)의 타측은 -극 일 수 있다.

상기 회로부(40)는 상기 전원부(30)와 상기 테스트 단자부(20)를 전기적으로 연결시킬 수 있다.

여기서, 상기 전원부(30)와 상기 테스트 단자부(20)를 연결시키는 방법으로는 상기 전원부(30)의 일측과 임의의 한 테스트 단자에 연결시키고, 상기 전원부(30)의 타측과 다른 하나의 한 테스트 단자에 연결시킬 수 있다.

일례로, 도 2를 참조하면, 상기 회로부(40)는 상기 전원부(30)의 일측과 상기 제1 테스트 단자(21)를 서로 연결시킬 수 있고, 또한 상기 회로부(40)는 상기 전원부(30)의 타측과 제2 테스트 단자(22)를 서로 연결시킬 수 있다.

상기 테스트 단자부(20)에 상기 계전 단자부(1c)가 접촉되면, 상기 전원부(30)에서 이동되는 전류는 상기 회로부(40)를 따라 상기 제1 테스트 단자(21), 상기 전자 부품(1b) 및 상기 제2 테스트 단자(22)를 통해 상기 전원부(30)로 유동될 수 있다.

이 때, 상기 회로부(40)에 연결된 상기 계측부(50)는 상기 전자 부품(1b)의 저항, 상기 전자 부품(1b)에 유동되는 전류 및 상기 전자 부품(1b)에 인가되는 전압 중 적어도 하나의 요소를 측정할 수 있다.

다만, 이에 한정하지 않고, 상기 회로부(40)가 각 각의 테스트 단자를 연결하는 방법은 복수의 계전 단자가 각 각의 전자 부품(1b)과 연결되어 있는 방법에 따라, 통상의 기술자에게 자명한 수준에서 다양하게 변형 될 수 있다.

상술한 방법과 같이 상기 전원부(30)는 상기 회로부(40)에 의해 복수의 테스트 단자 쌍 각각에 병렬적으로 연결될 수 있고, 이는 통상의 기술자에게 용이하게 도출될 수 있는 범위의 한도에서 자세한 설명은 생략될 수 있다.

이에 따라, 상기 계측기도 복 수개일 수 있으며, 이에 대한 자세한 설명은 통상의 기술자에게 용이하게 도출될 수 있는 범위의 한도에서 생략될 수 있다.

계측 디스플레이부(61, 62)는 소정의 정보를 표시할 수 있다.

상기 계측 디스플레이부(61, 62)는 상기 계측부(50)로부터 전달되는 계측 데이터를 기초로 계측 정보(저항, 전류 및 전압 중 적어도 하나)를 전달하는 주요 디스플레이부(61) 및 후술하는 상기 회로부(40)의 이상이 의심된다는 것과 관련된 정보인 회로부 이상 정보를 제공하는 서브 디스플레이부(62)를 구비할 수 있다.

상기 레이저부(80)는 상기 테스트 본체부(10)에 배치되어 상기 제어부(70)에 의해 상기 계전기 테스트기로 소정의 빛을 방출할 수 있다.

상기 제어부(70)는 상기 전원부(30), 상기 레이저부(80), 상기 계측부(50) 및 상기 계측 디스플레이부(61, 62)를 제어할 수 있다.

상기 제어부(70)는 소정의 데이터를 저장하는 저장부(71), 소정의 데이터를 기초로 소정의 연산 과정을 수행하는 연산부(72) 및 소정의 데이터를 송수신 하거나 소정의 신호를 송수신하는 송수신부(73)를 구비할 수 있다.

상기 제어부(70)는 상기 전원부(30), 상기 레이저부(80), 상기 계측부(50), 상기 입력부(91a, 91b) 및 상기 계측 디스플레이부(61, 62)와 유/무선으로 연결될 수 있다.

상기 제어부(70)는 상기 전원부(30), 상기 레이저부(80), 상기 계측부(50), 상기 입력부(91a, 91b) 및 상기 계측 디스플레이부(61, 62)와 소정의 데이터 혹은 소정의 신호를 전달 받거나 송신할 수 있다.

입력부(91a, 91b)는 제1 신호를 발생시키는 제1 버튼부(91a) 및 제2 신호를 발생시키는 제2 버튼부(91b)를 구비할 수 있다.

일례로, 사용자가 상기 제1 버튼부(91a)를 누를 경우 상기 제1 버튼부(91a)를 제1 신호를 발생시킬 수 있고, 상기 제1 신호는 상기 제어부(70)로 전달될 수 있다.

또한, 사용자가 상기 제2 버튼부(91b)를 누를 경우 상기 제2 버튼부(91b)를 제2 신호를 발생시킬 수 있고, 상기 제2 신호는 상기 제어부(70)로 전달될 수 있다.

일례로, 상기 제1 버튼부(91a)는 기준이 되는 계측 정보(I10)를 상기 저장부(71)에 저장하기 위한 기준 계전기의 계측을 실시하는 것과 관련된 버튼일 수 있다.

또한, 상기 제2 버튼부(91b)는 검사를 해야 하는 계전기의 계측을 실시하는 것과 관련된 버튼일 수 있다.

상기 스위치부(92)는 상태 변화될 수 있다.

일례로, 상기 스위치부(92)는 상기 테스트 본체부(10)에 배치되어 상기 테스트 본체부(10) 상에서 위치 이동되어 상태 변화될 수 있다.

상기 스위치부(92)가 제1 상태일 경우, 상기 스위치부(92)는 소정의 신호인 가동 신호를 상기 제어부(70)로 전달할 수 있다.

상기 스위치부(92)가 제1 상태일 경우, 상기 계측부(50)로부터 상기 계측 데이터가 제공되는 경우, 상기 제어부(70)는 상기 계측 정보(I10, 도 4 참조)를 상기 주요 디스플레이부(61) 상에 표시할 수 있다.

상기 제어부(70)는 상기 스위치부(92)가 제1 상태일 경우, 소정의 시간 동안 상기 테스트 단자부(20)에 상기 계전 단자부(1c)가 접촉되지 않는다면, 상기 계측 디스플레이부(61, 62)가 소정의 정보를 더 이상 표시하지 않도록 상기 계측 디스플레이부(61, 62)(일례로, 주요 디스플레이부(61))를 제어할 수 있다.

상기 스위치부(92)가 제2 상태일 경우, 상기 스위치부(92)는 소정의 신호인 정지 신호를 상기 제어부(70)로 전달할 수 있다.

상기 스위치부(92)가 제2 상태일 경우, 상기 계측부(50)로부터 상기 계측 데이터가 제공되는 경우, 상기 제어부(70)는 상기 계측 정보(I10)를 상기 주요 디스플레이부(61) 상에 표시하지 않을 수 있다.

또는, 상기 스위치부(92)가 제2 상태일 경우, 상기 계전 단자부(1c)가 상기 테스트 단자부(20)에 접촉되더라도 상기 계측부(50)는 상기 계측 데이터를 제공하지 않을 수 있다.

상기 제어부(70)는 상기 스위치부(92)가 제2 상태일 경우, 상기 테스트 단자부(20)에 상기 계전 단자부(1c)가 접촉되더라도 상기 계측 디스플레이부(61, 62)가 소정의 정보를 더 이상 표시하지 않도록 상기 계측 디스플레이부(61, 62)(일례로, 주요 디스플레이부(61))를 제어할 수 있다.

이하, 상기 제어부(70)가 각 각의 구성을 제어하는 방법에 대해서 자세하게 서술하도록 한다.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기에 계전기가 연결되어 양부 판정을 설명하기 위한 도면이다.

작업자는 상기 스위치부(92)를 제1 상태로 한 뒤에 계전기의 양부판정을 시행할 수 있다.

작업자는 상기 제1 버튼부(91a)를 눌러 제1 신호를 발생시킬 수 있다.

상기 제1 신호는 상기 제어부(70)로 전달될 수 있다.

상기 제어부(70)에 상기 제1 신호가 전달되는 경우, 상기 제어부(70)는 상기 계측부(50)에서 전달되는 계측 데이터를 기준 계측 데이터로서 저장할 수 있다.

작업자를 기준으로 설명하자면, 작업자는 제1 버튼부(91a)를 누른 뒤에, 기준이 되는 계전기의 계전 단자부(1c)를 상기 테스트 단자부(20)에 접촉시켜, 계전기의 상기 전자 부품(1b)의 저항, 상기 전자 부품(1b)에 유동되는 전류 및 상기 전자 부품(1b)에 인가되는 전압 중 적어도 하나의 요소를 측정할 수 있다.

상기 제어부(70)는 상기 기준 계측 데이터를 기준으로 검사해야 하는 계전기의 이상 유무를 판단할 수 있다.

다음으로, 상기 작업자는 상기 제2 버튼부(91b)를 누른 뒤에 양부 판정을 하여야 하는 계측기에 대해서 계측 과정을 실시할 수 있다.

상기 작업자가 상기 제2 버튼부(91b)를 누른 경우, 상기 제2 신호를 상기 제어부(70)로 전달될 수 있다.

상기 제어부(70)에 제2 신호가 전달되는 경우, 상기 제어부(70)는 상기 계측부(50)로부터 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 미리 정해진 기준이 만족되는지 여부를 판단할 수 있다.

이를 위해, 작업자는 제2 버튼부(91b)를 누른 후에 검사 대상 계전기의 계전 단자부(1c)를 상기 테스트 단자부(20)에 접촉시킬 수 있다.

상기 제어부(70)는 상기 계측부(50)에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 계측 정보(I10)를 산출할 수 있다.

상기 계측 정보(I10)는 전자 부품(1b)의 전류 값, 전압 값 또는 상기 전자 부품(1b)의 저항 값 중의 하나일 수 있다.

상기 주요 디스플레이부(61)는 상기 계측 정보(I10)를 표시할 수 있다.

일례로, 복 수의 전자 부품(1b)에 대한 상기 계측 정보(I10)가 산출되기에 상기 주요 디스플레이부(61)는 복 수개로 이루어질 수 있다.

다만, 이에 한정하는 것은 아니고 통상의 기술자에게 자명한 수준에서 다양하게 변형 가능하다.

작업자는 상기 주요 디스플레이부(61)에 표시되는 상기 계측 정보(I10)를 한번에 파악할 수 있다.

상기 제어부(70)는 상기 계측부(50)에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 산출된 계측 정보(I10)가 미리 정해진 기준이 만족되는 경우, 상기 계측 디스플레이부(61, 62)가 비 이상적인 상황을 전달할 수 있는 정보인 알림 정보(B10)를 제공할 수 있도록 상기 계측 디스플레이부(61, 62)를 제어할 수 있다.

여기서, 상기 미리 정해진 기준은 상기 계측 정보(I10)가 소정의 기준 정보를 기준으로 소정의 범위 이상의 값을 가지는 조건일 수 있다.

여기서, 기준 정보는 상기 기준 계측 데이터를 기초로 산출될 수 있다.

상기 기준 정보는 기준이 되는 계전기의 전자 부품(1b)의 전류 값, 전압 값 또는 상기 전자 부품(1b)의 저항 값 중의 하나일 수 있다.

상기 제어부(70)는 상기 계측 정보(I10)가 상기 기준 정보로부터 소정 값 이상 벗어나는지 여부를 판단할 수 있다.

일례로, 상기 계측 정보(I10)가 10A이고, 상기 기준 정보가 12A이며, 소정 값이 1A일 경우, 상기 제어부(70)는 상기 계측 정보(I10)가 상기 미리 정해진 기준이 만족된다고 판단할 수 있다.

이 때, 상기 제어부(70)는 상기 계측 디스플레이부(61, 62)(일례로, 주요 디스플레이부(61))가 상기 알림 정보를 제공할 수 있도록 상기 계측 디스플레이부(61, 62)를 제어할 수 있다.

여기서, 상기 알림 정보(B10)는 소정의 색깔의 이미지일 수도 있고, 소리 경보일 수 도 있다.

이는, 통상의 기술자에게 자명한 수준에서 다양하게 변형 가능하다.

하나의 발전기에 대해서 계전기의 양부판정을 할 경우, 한번에 대략 100개 정도 하고 있다.

따라서, 잘못된 계전기에 대해서 한번에 파악할 수 있다면, 작업자는 대량의 계전기의 양부 판정을 빠른 시간 안에 완수할 수 있다.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기에 의해 계전기에 제1 표식과 제2 표식이 각인된 예시를 설명하기 위한 도면이다.

도 5를 참조하면, 상기 제어부(70)는 상기 계측부(50)에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 상기 미리 정해진 기준이 만족되는 경우, 상기 계전기가 이상 있다는 것과 관련된 정보인 계전기 이상 정보(I20)가 상기 하우징부(1a)에 각인되도록 상기 레이저부(80)가 소정의 빛을 방출하게 상기 레이저부(80)를 제어할 수 있다.

상기 계측 단자부가 상기 테스트 단자부(20)에 접촉된 상태에서, 상기 계측 데이터를 기초로 상기 미리 정해진 기준이 만족되는 경우, 상기 제어부(70)는 상기 레이저부(80)를 제어하여 상기 레이저부(80)는 소정의 빛을 발산할 수 있다.

이로 인해, 상기 하우징부(1a) 하단에는 상기 계전기 이상 정보(I20)가 각인될 수 있다.

일례로, 상기 계전기 이상 정보(I20)는 도 5에 도시된 것과 같이 "이상"이라는 문자일 수 있다.

다만, 이에 한정하지 않고 상기 계전기 이상 정보(I20)는 통상의 기술자에게 자명한 수준에서 다양하게 변형 가능하다.

이로 인해, 작업자는 많은 양의 계전기의 양부 판정 뒤에, 이상이 있는 계전기를 용이하게 파악할 수 있다.

상기 제어부(70)는 임의의 계전기가 계측되는 경우 기준 시점 이후로 몇 번째로 계측된 것 인지와 관련된 데이터인 계측 순서 데이터를 저장할 수 있다.

기준 시점은 상기 기준 계측 데이터가 상기 제어부(70)에 저장된 시점을 의미할 수 있다.

상기 제어부(70)는 상기 계측부(50)에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 상기 미리 정해진 기준이 만족되는 경우, 상기 계측 순서 데이터를 기초로 산출된 상기 기준 시점 이후 계전기가 계측된 순서와 관련된 정보인 순서 정보(I30)가 상기 하우징부(1a)에 각인되도록 상기 레이저부(80)가 소정의 빛을 방출하게 상기 레이저부(80)를 제어할 수 있다.

일례로, 도 5를 참조하면, 상기 순서 정보(I30)는 아라비아 숫자일 수 있다.

다만, 이에 한정되지 않고 상기 순서 정보(I30)는 통상의 기술자에게 자명한 수준에서 다양하게 변형 가능하다.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 계전기 테스트기에 회로부 이상 정보가 표시된 예시를 설명하기 위한 도면이다.

상기 제어부(70)는 상기 계측부(50)에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 미리 정해진 조건이 만족되는 경우, 상기 계측 디스플레이부(61, 62)가 상기 회로부(40)의 이상이 의심된다는 것과 관련된 정보인 회로부 이상 정보(I40)를 제공할 수 있도록 상기 계측 디스플레이부(61, 62)(일례로, 서브 디스플레이부(62))를 제어할 수 있다.

또한, 상기 제어부(70)는 상기 계측부(50)에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 미리 정해진 조건이 만족되는 경우, 상기 계측 디스플레이부(61, 62)가 재 검사가 필요하는 것과 관련된 정보인 재검사 필요 정보(I50)를 제공할 수 있도록, 상기 계측 디스플레이부(61, 62)(일례로, 서브 디스플레이부(62))를 제어할 수 있다.

이하, 상기 미리 정해진 조건에 대해서 자세하게 서술하도록 한다.

상기 전자 부품(1b)은 제1 전자 부품(1b-1, 도 4 참조) 및 상기 제1 전자 부품(1b-1)과 전기적으로 연결되지 않는 제2 전자 부품(1b-2, 도 4 참조)을 구비할 수 있다.

다만, 이에 한정하지 않고 상기 전자 부품(1b)의 개수는 통상의 기술자에게 자명한 수준에서 다양하게 변형 가능하다.

일례로, 상기 전자 부품(1b)은 제3 전자 부품을 더 구비할 수 있다.

상기 테스트 단자부(20)는 상기 회로부(40)에 의해 상기 전원부(30)와 전기적으로 연결되는 제1 테스트 단자(21, 도 2 참조), 상기 테스트 단자부(20)에 상기 계전 단자부(1c)가 연결되는 경우 상기 제1 전자 부품(1b-1)에 의해 상기 제1 테스트 단자(21)와 함께 전기적으로 연결되는 제2 테스트 단자(22, 도 2 참조), 상기 회로부(40)에 의해 상기 전원부(30)와 전기적으로 연결되지만 상기 제1 테스트 단자(21)와 상기 제2 테스트 단자(22)와 전기적으로 연결되지 않는 제3 테스트 단자 및 상기 테스트 단자부(20)에 상기 계전 단자부(1c)가 연결되는 경우 상기 제2 전자 부품(1b-2)에 의해 상기 제3 테스트 단자와 함께 전기적으로 연결되는 제4 테스트 단자를 구비할 수 있다.

다만, 이에 한정하지 않고 상기 테스트 단자의 개수는 통상의 기술자에게 자명한 수준에서 다양하게 변형 가능하다.

일례로, 상기 테스트 단자부(20)는 제5 테스트 단자를 더 구비할 수 잇다.

이하, 상기 제1 전자 부품(1b-1)과 상기 제2 전자 부품(1b-2)을 기준으로 서술을 하나 이에 본 발명이 한정되는 것이 아닐 수 있다.

상기 계측부(50)는 상기 테스트 단자부(20)에 상기 계전 단자부(1c)가 연결되는 경우, 상기 제1 테스트 단자(21)와 상기 제2 테스트 단자(22)에 연결된 상기 제1 전자 부품(1b-1)의 제1 계측 데이터와 상기 제3 테스트 단자와 상기 제3 테스트 단자에 연결된 상기 제2 전자 부품(1b-2)의 제2 계측 데이터를 제공할 수 있다.

상기 제어부(70)는 상기 기준 시점 이후로 계측되는 복수의 상기 계전기에 대해서 상기 제1 계측 데이터 및 상기 제2 계측 데이터를 시계열적으로 저장할 수 있다.

상기 미리 정해진 조건은 상기 스위치부(92)가 제1 상태에서 제2 상태로 상태 변화된 때, 임의의 시점부터 상기 스위치부(92)가 제2 상태로 된 때까지 상기 계측부(50)로부터 제공된 모든 상기 제1 계측 데이터들을 기초로 상기 미리 정해진 기준이 만족되는 조건일 수 있다.

이는, 어느 순간부터 복수의 계전기의 일 전자 부품(1b)에 대해서 전부 고장 났다고 판단되는 조건을 의미하는 것일 수 있다.

이는, 계전기 테스트기의 회로부(40)의 단선을 의심할 수 있는 상황일 수 있다.

따라서, 작업자가 모든 계전기에 대해서 양부 판정 완료 후에 상기 스위치부(92)는 제1 상태에서 제2 상태로 변화 시킨 경우(장치 가동을 종료시킨 경우), 미리 정해진 조건이 만족된 다면, 상기 제어부(70)는 상기 서브 디스플레이부(62) 상에서 추가정인 표시 정보를 제공할 수 있다.

일례로, 상기 회로부(40) 이상 정보는 도 6에 도시된 것에서 "고장 여부 확인"과 같은 문자일 수 있다.

다만, 이에 한정하지 않고 상기 회로부(40) 이상 정보는 통상의 기술자에게 자명한 수준에서 다양하게 변형 가능하다.

일례로, 상기 재검사 필요 정보(I50)는 도 6에 도시된 것에서 "85 ~ 100 재검사"와 같은 문자일 수 있다.

즉, 상기 재검사 필요 정보(I50)는 상기 미리 정해진 조건이 만족되는데 판단이 된 임의의 시점부가 상기 스위치부(92)가 제1 상태에서 제2 상태로 변화된 때까지의 순서 정보(I30)를 포함할 수 있다.

일례로, 기준 시점 이후로 총 100 개의 계전기에 대해서 양부 판단을 했다고 가정할 수 있다.

이 때, 상기 제1 테스트 단자(21)와 상기 제2 테스트 단자(22)와 연결된 전자 부품(1b)에 대한 계측 데이터를 기초로 미리 정해진 기준이 만족된 경우가 3번째 계전기, 43번째 계전기, 85번째 계전기 내지 100번째 계전기라고 가정할 수 있다.

이 때, 상기 미리 정해진 조건이 만족되는데 판단이 된 임의의 시점부가 상기 스위치부(92)가 제1 상태에서 제2 상태로 변화된 때까지의 순서 정보(I30)는 85 내지 100일 수 있다.

이로 인해, 작업자는 회로부(40)의 이상여부를 손쉽게 판단할 수 있고, 계측이 잘 이루이지 않은 계전기를 용이하게 파악하여 재 검사를 할 수 있다.

첨부된 도면은 본 발명의 기술적 사상을 보다 명확하게 표현하기 위해, 본 발명의 기술적 사상과 관련성이 없거나 떨어지는 구성에 대해서는 간략하게 표현하거나 생략하였다.

상기에서는 본 발명에 따른 실시예를 기준으로 본 발명의 구성과 특징을 설명하였으나 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 사상과 범위 내에서 다양하게 변경 또는 변형할 수 있음은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게 명백한 것이며, 따라서 이와 같은 변경 또는 변형은 첨부된 특허청구범위에 속함을 밝혀둔다.

1 : 계전기 10 : 테스트 본체부
20 : 테스트 단자부 30 : 전원부

Claims

계전기 - 상기 계전기는 외형을 이루며 내부에 소정의 공간을 제공하는 하우징부, 상기 하우징부 내부에 배치되는 전자 부품 및 상기 전자 부품과 전기적으로 연결되며 외부에서부터 상기 전자 부품으로 전기가 이동되기 위하여 외부에 노출되도록 상기 하우징부에 연결되는 계전 단자부를 구비함 - 의 양부 판정을 위한 계전기 테스트기에 있어서,
테스트 본체부;
상기 테스트 본체부에 배치되어 상기 계전 단자부와 전기적으로 연결되는 테스트 단자부;
상기 테스트 본체부에 배치되어 상기 테스트 단자부에 소정의 전압을 제공하는 전원부;
상기 테스트 본체부에 배치되어 상기 테스트 단자부와 상기 전원부를 전기적으로 서로 연결시키는 회로부;
상기 테스트 본체부에 배치되며, 상기 회로부에 연결되어 상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 연결되는 경우, 상기 테스트 단자부에 연결된 상기 계전 단자부와 대응되는 상기 전자 부품의 저항, 상기 전자 부품에 유동되는 전류 및 상기 전자 부품에 인가되는 전압 중 적어도 하나의 요소를 측정하는 계측부;
상기 테스트 본체부에 배치되며, 상기 계측부에서 전달되는 계측 데이터를 기초로 산출된 계측 정보를 표시하는 계측 디스플레이부;
상기 계측부 또는 상기 계측 디스플레이부를 제어하는 제어부; 및
상기 제어부로 소정의 신호를 전달하는 스위치부;를 포함하고,
상기 제어부는,
상기 스위치부가 제1 상태일 경우, 소정의 시간 동안 상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 접촉되지 않는다면, 상기 계측 디스플레이부가 소정의 정보를 더 이상 표시하지 않도록 상기 계측 디스플레이부를 제어하고,
상기 스위치부가 제2 상태일 경우, 상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 접촉되더라도 상기 계측 디스플레이부가 소정의 정보를 더 이상 표시하지 않도록 상기 계측 디스플레이부를 제어하는,
계전기 테스트기.
제1항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 계측부에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 미리 정해진 기준이 만족되는 경우, 상기 계측 디스플레이부가 비 이상적인 상황을 전달할 수 있는 정보인 알림 정보를 제공할 수 있도록 상기 계측 디스플레이부를 제어하는,
계전기 테스트기.
제2항에 있어서,
상기 미리 정해진 기준은,
상기 계측 정보가 소정의 기준 정보를 기준으로 소정의 범위 이상의 값을 가지는 조건인,
계전기 테스트기.
제2항에 있어서,
상기 테스트 본체부에 배치되어 소정의 빛을 발광하는 레이저부;를 더 포함하고,
상기 제어부는,
상기 계측부에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 상기 미리 정해진 기준이 만족되는 경우, 상기 계전기가 이상 있다는 것과 관련된 정보인 계전기 이상 정보가 상기 하우징부에 각인되도록 상기 레이저부가 소정의 빛을 방출하게 상기 레이저부를 제어하는,
계전기 테스트기.
제4항에 있어서,
상기 제어부는,
임의의 계전기가 계측되는 경우 기준 시점 이후로 몇 번째로 계측된 것 인지와 관련된 데이터인 계측 순서 데이터를 저장하고,
상기 계측부에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 상기 미리 정해진 기준이 만족되는 경우, 상기 계측 순서 데이터를 기초로 산출된 상기 기준 시점 이후 계전기가 계측된 순서와 관련된 정보인 순서 정보가 상기 하우징부에 각인되도록 상기 레이저부가 소정의 빛을 방출하게 상기 레이저부를 제어하는,
계전기 테스트기.
삭제
제1항에 있어서,
상기 제어부는
상기 계측부에서 전달되는 상기 계측 데이터를 기초로 미리 정해진 조건이 만족되는 경우, 상기 계측 디스플레이부가 상기 회로부의 이상이 의심된다는 것과 관련된 정보인 회로부 이상 정보를 제공할 수 있도록 상기 계측 디스플레이부를 제어하는,
계전기 테스트기.
제7항에 있어서,
상기 전자 부품은,
제1 전자 부품 및 상기 제1 전자 부품과 전기적으로 연결되지 않는 제2 전자 부품을 구비하고,
상기 테스트 단자부는,
상기 회로부에 의해 상기 전원부와 전기적으로 연결되는 제1 테스트 단자, 상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 연결되는 경우 상기 제1 전자 부품에 의해 상기 제1 테스트 단자와 함께 전기적으로 연결되는 제2 테스트 단자, 상기 회로부에 의해 상기 전원부와 전기적으로 연결되지만 상기 제1 테스트 단자와 상기 제2 테스트 단자와 전기적으로 연결되지 않는 제3 테스트 단자 및 상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 연결되는 경우 상기 제2 전자 부품에 의해 상기 제3 테스트 단자와 함께 전기적으로 연결되는 제4 테스트 단자를 구비하고,
상기 계측부는,
상기 테스트 단자부에 상기 계전 단자부가 연결되는 경우, 상기 제1 테스트 단자와 상기 제2 테스트 단자에 연결된 상기 제1 전자 부품의 제1 계측 데이터와 상기 제3 테스트 단자와 상기 제3 테스트 단자에 연결된 상기 제2 전자 부품의 제2 계측 데이터를 제공하고,
상기 제어부는,
기준 시점 이후로 계측되는 복수의 상기 계전기에 대해서 상기 제1 계측 데이터 및 상기 제2 계측 데이터를 시계열적으로 저장하며,
상기 미리 정해진 조건은,
상기 스위치부가 제1 상태에서 제2 상태로 상태 변화된 때, 임의의 시점부터 상기 스위치부가 제2 상태로 된 때까지 상기 계측부로부터 제공된 모든 상기 제1 계측 데이터들을 기초로 미리 정해진 기준이 만족되는 조건이며,
상기 미리 정해진 기준은,
상기 계측 정보가 소정의 기준 정보를 기준으로 소정의 범위 이상의 값을 가지는 조건인,
계전기 테스트기.