KR102183315B1 - Liquid crystal display panel and manufacturing method of the same - Google Patents
Liquid crystal display panel and manufacturing method of the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR102183315B1 KR102183315B1 KR1020140098765A KR20140098765A KR102183315B1 KR 102183315 B1 KR102183315 B1 KR 102183315B1 KR 1020140098765 A KR1020140098765 A KR 1020140098765A KR 20140098765 A KR20140098765 A KR 20140098765A KR 102183315 B1 KR102183315 B1 KR 102183315B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- layer
- electrode
- gate
- gate insulating
- protective layer
- Prior art date
Links
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 75
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 168
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 93
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims abstract description 67
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 36
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 40
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 38
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 28
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 22
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 11
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 7
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 238000004380 ashing Methods 0.000 claims description 5
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 12
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 3
- -1 polyethylen terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910004205 SiNX Inorganic materials 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 241001101998 Galium Species 0.000 description 1
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910016027 MoTi Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052454 barium strontium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N hafnium(IV) oxide Inorganic materials O=[Hf]=O CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- KYKLWYKWCAYAJY-UHFFFAOYSA-N oxotin;zinc Chemical compound [Zn].[Sn]=O KYKLWYKWCAYAJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1343—Electrodes
- G02F1/13439—Electrodes characterised by their electrical, optical, physical properties; materials therefor; method of making
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/1368—Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
본 발명은 기판 상에 일방향으로 형성된 게이트라인 및 일방향에 수직 방향으로 교차 형성된 데이터라인의 교차부에 위치하고, 게이트라인에 연결된 게이트 상에 위치하는 다층구조의 게이트절연막과 다층구조의 게이트절연막 상에 위치하는 소스전극 및 드레인전극을 포함하는 트랜지스터, 트랜지스터 상에 위치하는 다층구조의 보호층, 다층구조의 보호층 중 적어도 어느 한층 상에 위치하는 색변환층, 색변환층 상에 위치하는 감광성 물질층, 다층구조의 보호층과 색변환층과 감광성 물질층에 형성되어 소스전극 또는 드레인전극의 일부를 노출시키는 제1컨택홀 및 제1컨택홀을 통해 소스전극 또는 드레인전극에 연결된 화소전극을 포함하는 액정표시패널과 그 제조방법을 제공한다.The present invention is located at the intersection of a gate line formed in one direction on a substrate and a data line cross formed in a direction perpendicular to one direction, and is located on a multilayered gate insulating film and a multilayered gate insulating film located on a gate connected to the gate line. A transistor including a source electrode and a drain electrode, a multilayered protective layer on the transistor, a color conversion layer on at least one of a multilayered protective layer, a photosensitive material layer on the color conversion layer, Liquid crystal including a first contact hole formed on a multilayered protective layer, a color conversion layer, and a photosensitive material layer to expose a part of the source electrode or the drain electrode, and a pixel electrode connected to the source electrode or the drain electrode through the first contact hole A display panel and its manufacturing method are provided.
Description
본 발명은 액정표시장치 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same.
액정표시장치 기술은, 지속적인 발전을 거듭하여, 기존의 CRT(Cathode-Ray Tube)을 이용한 고착형 디스플레이 시장을 대체하고 있으며, 노트북용 표시소자, 컴퓨터 모니터, TV 등 점점 대형화하여 DID(Digital Information Display) 또는 PID(Public Information Display)시장으로도 확대되고 있다. 또한 모바일 영역에서도 자리를 지키고 있다. Liquid crystal display technology continues to develop and is replacing the existing fixed-type display market using CRT (Cathode-Ray Tube), and the display device for laptops, computer monitors, TVs, etc. are gradually becoming larger and DID (Digital Information Display). ) Or PID (Public Information Display) market. It also holds its place in the mobile field.
액정표시장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이러한 액정표시장치는 수직전계형과 수평전계형으로 나눠질 수 있다. 여기서 수직전계형 액정표시장치는 상부기판 상에 형성된 공통전극과 하부기판 상에 형성된 화소전극이 서로 대향되게 배치되어 이들 사이에 형성되는 수직전계에 의해 TN(Twisted Nemastic; 이하 TN이라 함) 모드의 액정을 구동하게 된다. 한편 수평전계형 액정표시장치는 하부기판에 나란하게 배치된 화소전극과 공통전극 간의 수평전계에 의해 인 플레인 스위치(In Plane Switch; 이하, IPS라 함) 모드의 액정을 구동하게 된다.A liquid crystal display device displays an image by adjusting the light transmittance of a liquid crystal using an electric field. Such a liquid crystal display can be divided into a vertical electric field type and a horizontal electric field type. Here, in the vertical electric field type liquid crystal display device, the common electrode formed on the upper substrate and the pixel electrode formed on the lower substrate are disposed to face each other, and the liquid crystal in TN (Twisted Nemastic; hereinafter referred to as TN) mode by a vertical electric field formed therebetween. Will drive. Meanwhile, the horizontal electric field type liquid crystal display drives the liquid crystal in an in plane switch (hereinafter referred to as IPS) mode by a horizontal electric field between a pixel electrode and a common electrode arranged in parallel on a lower substrate.
액정표시장치는 박막 트랜지스터 등을 포함하는 하부기판과, 칼라필터 블랙매트릭스 등을 포함하는 상부기판, 두 기판 사이에서 셀갭을 일정하게 유지시키기 위한 스페이서 및 스페이서에 의해 마련된 공간에 채워진 액정 등을 포함한다.The liquid crystal display device includes a lower substrate including a thin film transistor, an upper substrate including a color filter black matrix, etc., a spacer for maintaining a constant cell gap between the two substrates, and a liquid crystal filled in the space provided by the spacer. .
액정표시장치를 제조하는 데 있어서, 식각 공정을 통해 형성되는 컨택홀의 높이가 높을수록 컨택홀의 크기(size)가 지나치게 커지게 되고, 또한 다수의 마스크 공정을 필요로 하여 그 제조공정이 복잡해지는 문제가 발생한다.
In manufacturing a liquid crystal display, as the height of the contact hole formed through the etching process increases, the size of the contact hole becomes too large, and a number of mask processes are required, which complicates the manufacturing process. Occurs.
본 발명의 목적은 컨택홀의 크기를 개선하고, 제조공정을 단순화한 액정표시패널을 제공함에 있다.
An object of the present invention is to provide a liquid crystal display panel in which the size of a contact hole is improved and the manufacturing process is simplified.
전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 측면에서, 본 발명은, 기판 상에 일방향으로 형성된 게이트라인 및 상기 일방향에 수직 방향으로 교차 형성된 데이터라인의 교차부에 위치하고, 상기 게이트라인에 연결된 게이트 상에 위치하는 다층구조의 게이트절연막과 상기 다층구조의 게이트절연막 상에 위치하는 소스전극 및 드레인전극을 포함하는 트랜지스터; 상기 트랜지스터 상에 위치하는 다층구조의 보호층; 상기 다층구조의 보호층 중 적어도 어느 한층 상에 위치하는 색변환층; 상기 색변환층 상에 위치하는 감광성 물질층; 상기 다층구조의 보호층과 상기 색변환층과 상기 감광성 물질층에 형성되어 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극의 일부를 노출시키는 제1컨택홀; 및 상기 제1컨택홀을 통해 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극에 연결된 화소전극을 포함하는 액정표시패널을 제공한다.In order to achieve the above object, in one aspect, the present invention is located at an intersection of a gate line formed in one direction on a substrate and a data line formed in a direction perpendicular to the one direction, and located on a gate connected to the gate line. A transistor including a multilayered gate insulating layer and a source electrode and a drain electrode disposed on the multilayered gate insulating layer; A multi-layered protective layer on the transistor; A color conversion layer positioned on at least one of the multilayered protective layers; A photosensitive material layer on the color conversion layer; A first contact hole formed in the multilayered protective layer, the color conversion layer, and the photosensitive material layer to expose a portion of the source electrode or the drain electrode; And a pixel electrode connected to the source electrode or the drain electrode through the first contact hole.
다른 측면에서, 본 발명은, 기판 상에 게이트와 제1게이트절연막을 형성하고, 제2게이트절연막 물질층, 반도체 물질층 및 소스/드레인 물질층을 순차적으로 적층하는 단계;In another aspect, the present invention provides the steps of forming a gate and a first gate insulating layer on a substrate, and sequentially stacking a second gate insulating layer material layer, a semiconductor material layer, and a source/drain material layer;
상기 소스/드레인 물질층 상에 포토레지스트 물질을 도포하고, 하프톤(halftone) 마스크를 통해 포토레지스트 패턴을 형성하며, 상기 포토레지스트 패턴이 도포되지 않은 영역의 상기 반도체 물질층과 상기 소스/드레인 물질층을 제거하는 제1식각 단계; 상기 포토레지스트 패턴이 도포되지 않은 영역의 상기 제2게이트절연막 물질층을 제거하여 제2게이트절연막을 형성하는 제2식각 단계; 상기 포토레지스트 패턴의 일부를 제거하여 상기 소스/드레인 물질층의 일부를 노출시키는 에싱(ashing) 단계; 및 상기 노출된 소스/드레인 물질층을 제거하여 소스전극 및 드레인전극을 형성하는 제3식각 단계를 포함하는 액정표시패널의 제조방법을 제공한다.
A photoresist material is applied on the source/drain material layer, a photoresist pattern is formed through a halftone mask, and the semiconductor material layer and the source/drain material in a region where the photoresist pattern is not applied A first etching step of removing the layer; A second etching step of forming a second gate insulating layer by removing the material layer of the second gate insulating layer in a region where the photoresist pattern is not applied; An ashing step of removing a portion of the photoresist pattern to expose a portion of the source/drain material layer; And a third etching step of forming a source electrode and a drain electrode by removing the exposed source/drain material layer.
본 발명은 액정표시패널 내의 컨택홀의 크기를 개선시키고, 제조공정을 단순화시키는 효과가 있다.
The present invention has an effect of improving the size of a contact hole in a liquid crystal display panel and simplifying a manufacturing process.
도 1은 실시예들이 적용되는 액정표시장치의 시스템 구성도이다.
도 2는 실시예들에 따른 액정표시패널의 개략적인 평면도이다.
도 3은 일실시예에 따라 도 2의 I-I', II-II', III-III', IV-IV'를 절단한 액정표시패널의 일예의 개략적인 단면도이다.
도 4는 다른 실시예에 따라 도 2의 I-I', II-II', III-III', IV-IV'를 절단한 액정표시패널의 일예의 개략적인 단면도이다.
도 5a 내지 도 5k는 또다른 실시예에 따른 액정표시패널의 제조방법을 나타내는 도면들이다.1 is a system configuration diagram of a liquid crystal display to which embodiments are applied.
2 is a schematic plan view of a liquid crystal display panel according to embodiments.
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of an example of a liquid crystal display panel cut along lines II', II-II', III-III', and IV-IV' of FIG. 2 according to an exemplary embodiment.
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of an example of a liquid crystal display panel cut along lines I-I', II-II', III-III', and IV-IV' of FIG. 2 according to another embodiment.
5A to 5K are diagrams illustrating a method of manufacturing a liquid crystal display panel according to another exemplary embodiment.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명의 실시예들을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail through exemplary drawings. In adding reference numerals to elements of each drawing, it should be noted that the same elements are assigned the same numerals as possible even if they are indicated on different drawings. In addition, in describing embodiments of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.
또한, 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 같은 맥락에서, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소의 "상"에 또는 "아래"에 형성된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접 또는 또 다른 구성 요소를 개재하여 간접적으로 형성되는 것을 모두 포함하는 것으로 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the constituent elements of the invention, terms such as first, second, A, B, (a), (b) may be used. These terms are only used to distinguish the component from other components, and the nature, order, or order of the component is not limited by the term. When a component is described as being "connected", "coupled" or "connected" to another component, the component may be directly connected or connected to that other component, but another component between each component It should be understood that elements may be “connected”, “coupled” or “connected”. In the same context, if a component is described as being formed "above" or "below" another component, the component is all formed directly on the other component or indirectly through another component. It should be understood as including.
도 1은 실시예들이 적용되는 액정표시장치에 관한 시스템 구성도이다.1 is a system configuration diagram of a liquid crystal display to which embodiments are applied.
도 1을 참조하면, 액정표시장치(100)는 액정표시패널(140), 데이터 구동부(120), 게이트 구동부(130), 타이밍 콘트롤러(110) 등을 포함한다. Referring to FIG. 1, the liquid
우선, 타이밍 컨트롤러(110)는 호스트 시스템으로부터 입력되는 수직/수평 동기신호(Vsync, Hsync)와 영상신호(RGB), 클럭신호(CLK) 등의 외부 타이밍 신호에 기초하여 데이터 구동부(120)를 제어하기 위한 데이터 제어신호(DCS)와 게이트 구동부(130)를 제어하기 위한 게이트 제어신호(GCS)를 출력한다. 또한, 타이밍 컨트롤러(110)는 호스트 시스템로부터 입력되는 영상신호(RGB)를 데이터 구동부(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식으로 변환하고 변환된 영상신호(R'G'B')를 데이터 구동부(120)로 공급할 수 있다.First, the
데이터 구동부(120)는 타이밍 컨트롤러(110)로부터 입력되는 데이터 제어신호(DCS) 및 변환된 영상신호(R'G'B')에 응답하여, 변환된 영상신호(R'G'B')를 계조 값에 대응하는 전압 값인 데이터 신호(아날로그 화소신호 혹은 데이터 전압)로 변환하여 데이터 라인에 공급한다.The
게이트 구동부(130)는 타이밍 컨트롤러(110)로부터 입력되는 게이트 제어신호(GCS)에 응답하여 게이트 라인에 스캔신호(게이트 펄스 또는 스캔펄스, 게이트 온신호)를 순차적으로 공급한다.The
한편 액정표시패널(140)은, 트랜지스터, 다층구조의 보호층, 두 장의 기판들과 그 사이에 위치하는 액정층, 배향막, 칼라필터, 블랙매트릭스 및 감광성 물질층 등을 포함할 수 있다.Meanwhile, the liquid
액정표시패널(140)의 제 1 기판(하부 기판)은 COT(Color filter On TFT) 구조로 구현될 수 있고, 이 경우에, 블랙매트릭스와 컬러필터는 제 1 기판에 형성될 수도 있다.The first substrate (lower substrate) of the liquid
여기서 트랜지스터는 반도체층을 포함하고, 반도체층을 보호하기 위한 다층구조의 보호층이 구비될 수 있다.Here, the transistor includes a semiconductor layer, and a protective layer having a multilayer structure for protecting the semiconductor layer may be provided.
한편 액정표시패널(140)의 제조공정에 있어서, 식각공정에 있어 다수의 컨택홀들의 높이(또는 두께)를 낮추어 컨택홀의 크기(size)가 제어될 수 있고, 제조공정 중에 감광성 물질층을 마스크로 사용함으로써, 마스크의 수와 공정의 수가 축소될 수 있다.Meanwhile, in the manufacturing process of the liquid
또한 액정표시패널(140)의 제 1 기판(하부 기판)에는 다수의 데이터라인들(D1~Dm, m은 자연수), 데이터라인들(D1~Dm)과 교차되는 다수의 게이트라인들(또는 스캔라인들)(G1~Gn, n은자연수), 데이터라인들(D1~Dm)과 게이트라인들(G1~Gn)의 교차부들에 형성되는 다수의 트랜지스터들, 액정셀들에 데이터전압을 충전시키기 위한 다수의 화소전극, 화소전극에 접속되어 액정셀의 전압을 유지시키기 위한 스토리지 캐패시터(Storage Capacitor) 등을 포함할 수 있다.In addition, the first substrate (lower substrate) of the liquid
액정표시패널(140)의 제 2 기판(상부 기판)에는 블랙매트릭스, 컬러필터 등을 포함할 수 있다. The second substrate (upper substrate) of the liquid
한편, 액정표시패널(140)의 화소(P)들은 데이터라인들(D1~Dm)과 게이트라인들(G1~Gn)에 의해 정의된 화소 영역에 형성되어 매트릭스 형태로 배치된다. 화소들 각각의 액정셀은 화소전극에 인가되는 데이터전압과 공통전극에 인가되는 공통전압의 전압차에 따라 인가되는 전계에 의해 구동되어 입사광의 투과량을 조절한다.Meanwhile, the pixels P of the liquid
이러한 액정표시패널(140)은 IPS(In Plane Switching) 모드, FFS(Fringe Field Switching)모드 등 다른 액정 모드로도 구현될 수 있다.The liquid
이 때 공통전극은 TN 모드와 VA 모드와 같은 수직전계 구동방식에서는 제 2 기판에 형성될 수 있고, IPS 모드와 FFS 모드와 같은 수평전계 구동방식에서 화소전극과 함께 제 1 기판에 형성될 수 있다.In this case, the common electrode may be formed on the second substrate in a vertical electric field driving method such as TN mode and VA mode, and may be formed on the first substrate together with the pixel electrode in a horizontal electric field driving method such as IPS mode and FFS mode. .
이하에서는, 도 1에서 설명한 액정표시패널(140)에 관한 실시예들에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the liquid
도 2는 실시예들에 따른 액정표시패널의 개략적인 평면도이다.2 is a schematic plan view of a liquid crystal display panel according to embodiments.
도 2를 참조하면, 액정표시패널(200)은 기판(미도시) 상에 일방향(도 2에서 가로방향)으로 형성된 게이트라인(GL, 212) 및 일방향에 수직방향(도 2에서 세로방향)으로 교차 형성된 데이터라인(220)의 교차부에 위치하고, 게이트라인(212)에 연결된 게이트(212a) 상에 위치하는 다층구조의 게이트절연막(미도시)과 다층구조의 게이트절연막(미도시) 상에 위치하는 반도체층(218a)과 소스전극 및 드레인전극(220a, 220b)을 포함하는 트랜지스터, 트랜지스터 상에 위치하는 다층구조의 보호층(미도시), 보호층(미도시) 상에 위치하는 색변환층(미도시), 색변환층(미도시) 상에 위치하는 감광성 물질층(미도시), 다층구조의 보호층(미도시)과 색변환층(미도시)과 감광성 물질층(미도시)에 형성되어 소스전극 또는 상기 드레인전극(220a, 220b)의 일부를 노출시키는 제1컨택홀(230) 및 제1컨택홀(230)을 통해 소스전극 또는 드레인전극(220a, 220b)에 연결된 화소전극(232)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, the liquid
또한 액정표시패널(200)은, 게이트라인(212)과 이격하여 위치하고 게이트(212a)와 같은 물질로 이루어진 공통라인(212b), 다층구조의 게이트절연막(미도시)과 다층구조의 보호층(미도시)과 색변환층(미도시)과 감광성 물질층(미도시)에 형성되어 공통라인(212b)의 일부를 노출시키는 제2컨택홀(234) 및 제2컨택홀(234)을 통해 공통라인(212b)에 연결되는 공통전극(236)을 추가로 포함할 수 있다.In addition, the liquid
한편 액정표시패널(200)은, 데이터라인(220)에 연결되어 데이터신호를 공급하는 데이터패드(237)와, 다층구조의 보호층(미도시)에 형성되어 데이터패드(237)의 데이터패드 하부전극(220c)의 일부를 노출시키는 제3컨택홀(238)과, 제3컨택홀(238)을 통해 데이터패드 하부전극(220c)에 연결되는 데이터패드 상부전극(240)을 추가로 포함할 수 있다.Meanwhile, the liquid
또한 액정표시패널(200)은, 게이트라인(212)에 연결되어 게이트신호를 공급하고 게이트패드(241)와, 제1게이트절연막(미도시)과 다층구조의 보호층(미도시)에 형성되어 게이트패드(241)의 게이트패드 하부전극(212c)의 일부를 노출시키는 제4컨택홀(242)과, 제4컨택홀(242)을 통해 게이트패드 하부전극(212c)에 연결되는 게이트패드 상부전극(244)을 포함할 수 있다.In addition, the liquid
도 2의 액정표시패널(200)은 일예로서, 액정이 2개의 도메인(two domain) 배향 구조를 이루는 S-IPS(Super In-Plane Switching) 모드를 도시하였으나, 실시예들은 이에 제한되지 않고, 한 개의 도메인 배향구조를 갖는 IPS(In-Plane Switching) 모드, 화소전극과 공통전극이 동일 평면 상에 있지 않은 FFS(Fringe Field Switching) 모드일 수 있다. As an example, the liquid
액정표시패널(200)은 다수의 배선 라인을 포함할 수 있고, 다수의 배선 라인은 제1방향(도 2에서 가로방향)으로 스캔 신호(또는 게이트 신호)를 전달하는 게이트라인(212)과 제2방향(도 2에서 세로방향)으로 서로 이격하여 데이터 신호 전달용 데이터라인(220), 게이트라인(212)과 이격하여 형성된 공통라인(212b)을 포함할 수 있다. 이때 게이트라인(212)과 공통라인(212b)은 나란히 형성될 수 있다. 게이트라인(212)은 가로방향으로 게이트패드(241)까지 길게 연장되어 있고, 데이터라인(220)은 세로방향으로 데이터패드(237)까지 길게 연장되어 있다.The liquid
게이트라인(212), 공통라인(212b) 및 데이터라인(220)은 저저항 특성을 갖는 금속물질, 예를 들어 구리(Cu), 구리 합금, 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 몰리브덴(Mo) 및 몰리브덴 합금(MoTi) 중 선택된 하나 또는 둘 이상의 물질의 단일층 또는 다층 구조를 가질 수 있다.The
전기적 연결관계에 있어서, 게이트라인(212)과 일단이 연결된 게이트(212a), 반도체층(218a), 데이터라인(220)과 일단이 연결된 소스 또는 드레인전극(220a), 제1컨택홀(230)을 통해 화소전극(232)과 연결된 드레인 또는 소스전극(220b)이 트랜지스터를 구성한다. 한편, 공통전극(236)은 제2컨택홀(234)을 통해 공통라인(212b)과 연결된다.In the electrical connection relationship, a
액정표시패널(200)의 전기적 기능을 살펴보면, 먼저, 게이트라인(212)은 트랜지스터의 게이트전극(212a)에 게이트신호를 공급한다. 데이터라인(220)은 트랜지스터의 드레인 또는 소스전극(220b)을 통해 화소전극(232)에 화소신호를 공급한다. 한편 게이트라인(212)과 데이터라인(220)은 교차구조로 형성되어 화소영역을 정의한다. 공통라인(212b)은 액정 구동을 위한 기준전압을 공통전극(236)에 공급한다. Looking at the electrical function of the liquid
이에 따라, 트랜지스터를 통해 화소신호가 공급된 화소전극(232)과 공통라인(212b)을 통해 기준전압이 공급된 공통전극(236) 사이에는 수평전계가 형성된다. 수평전계에 의해 트랜지스터가 형성된 기판과 상부기판 사이에서 수평방향으로 배열된 액정 분자들이 유전 이방성에 의해 회전하게 된다. 액정 분자들의 회전 정도에 따라 화소 영역을 투과하는 광 투과율이 달라지게 됨으로써 화상을 구현하게 된다.Accordingly, a horizontal electric field is formed between the
이하에서는 실시예들에 따라 도 2의 I-I', II-II', III-III', IV-IV'를 절단한 부분에 해당하는 단면도들을 통해 액정표시패널(200)의 구조를 설명한다.Hereinafter, the structure of the liquid
도 3은 일실시예에 따라 도 2의 I-I', II-II', III-III', IV-IV'를 절단한 액정표시패널의 일예의 개략적인 단면도이다.FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of an example of a liquid crystal display panel cut along lines II', II-II', III-III', and IV-IV' of FIG. 2 according to an exemplary embodiment.
도 2 및 도 3의 I-I' 부분을 참조하면, 액정표시패널(300)은 기판(310) 상에 일방향(도 2에서 가로방향)으로 형성된 게이트라인(GL, 212) 및 일방향에 수직방향(도 2에서 세로방향)으로 교차 형성된 데이터라인(220)의 교차부에 위치하는 트랜지스터를 포함할 수 있다. 여기서 트랜지스터는 게이트라인(212)에 연결된 게이트(312a) 상에 기판(310)의 전면에 형성되고 게이트(312a)를 덮는 제1게이트절연막(314), 제1게이트절연막(314) 상에 형성되고 게이트(312a)와 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)에 대응하여 위치하는 제2게이트절연막(316a), 제1게이트절연막(314)과 제2게이트절연막(316a) 상에 위치하는 반도체층(318a)과 소스전극 및 드레인전극(320a, 320b)을 포함할 수 있다. 2 and 3, the liquid
한편, 액정표시패널(300)은 트랜지스터 상에 위치하고 산화실리콘 계열의 물질로 이루어진 제1보호층(322), 제1보호층(322) 상에 위치하고 질화실리콘 계열의 물질로 이루어진 제2보호층(324), 제2보호층(324) 상에 위치하는 색변환층(326), 색변환층(326) 상에 위치하는 감광성 물질층(328), 제1보호층(322)과 제2보호층(324)과 색변환층(326)과 감광성 물질층(328)에 관통하여 형성되어 소스전극 또는 상기 드레인전극(320a, 320b)의 일부를 노출시키는 제1컨택홀(330) 및 제1컨택홀(330)을 통해 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)에 연결된 화소전극(332)을 포함할 수 있다.Meanwhile, the liquid
기판(310)은 글래스(Glass) 기판뿐만 아니라, PET(Polyethylen terephthalate), PEN(Polyethylen naphthalate), 폴리이미드(Polyimide) 등을 포함하는 플라스틱 기판 등일 수 있다. 또한, 제 1 기판(310) 상에는 불순원소의 침투를 차단하기 위한 버퍼층(buffering layer)이 더 구비될 수 있다. 버퍼층은 예를 들어 질화실리콘 또는 산화실리콘의 단일층 또는 다수층으로 형성될 수 있다.The
게이트라인(212)에 연결된 게이트(312a)는 Al, Pt, Pd, Ag, Mg, Au, Ni, Nd, Ir, Cr, Li, Ca, Mo, Ti, W, Cu 중 적어도 하나 이상의 금속 또는 합금으로, 단일층 또는 다수층으로 형성될 수 있다.The
한편, 제1게이트절연막(314)과 제2게이트절연막(316)은 SiOx, SiNx, SiON, Al2O3, TiO2, Ta2O5, HfO2, ZrO2, BST, PZT와 같은 무기절연물질 또는 예를 들어 벤조사이클로부텐(BCB)과 아크릴(acryl)계 수지(resin)를 포함하는 유기절연물질, 또는 이들의 조합으로 이루어질 수 있다. 또한 제1게이트절연막(314)과 제2게이트절연막(316)은 같은 물질일 수도 있고, 상이한 물질로 이루어질 수도 있다.On the other hand, the first
반도체층(318a)은, 예를 들어, IGZO(Indium Galium Zinc Oxide), ZTO(Zinc Tin Oxide), ZIO(Zinc Indium Oxide) 중 어느 하나의 징크옥사이드계 산화물일 수 있으나 이에 제한되지 않는다.The
한편, 화소전극(332)에 전기적으로 연결되는 소스전극 및 드레인전극(320a, 320b)은, 예를 들어, Al, Pt, Pd, Ag, Mg, Au, Ni, Nd, Ir, Cr, Li, Ca, Mo, Ti, W, Cu 중 어느 하나의 금속 또는 이들의 합금으로, 단일층 또는 다수층으로 형성될 수 있다.Meanwhile, the source and
소스전극 및 드레인전극(320a, 320b) 사이에는 에치 스토퍼(etch stopper)가 형성될 수 있으나, 도 3의 경우, 설명의 편의를 위하여 BCE(Back Channel Etch) 방식의 트랜지스터를 도시하였다. 또한 설명의 편의를 위하여 산화물 트랜지스터(Oxide TFT)를 도시하였다. 실시예들은 이에 제한되지 않는다.An etch stopper may be formed between the source electrode and the
소스전극 및 드레인전극(320a, 320b)과 노출된 반도체층(318a) 상에는 제1보호층(322)과 제2보호층(324)이 형성될 수 있다. 구체적으로, 일실시예에 따른 액정표시패널(300)의 제1보호층(322)은 산화실리콘(SiOx) 계열의 물질로 형성될 수 있고, 제2보호층(324)은 질화실리콘(SiNx) 계열의 물질로 형성될 수 있으나 이에 제한되지 않는다. 질화실리콘 계열의 물질을 노출된 반도체층(318a) 상에 형성할 경우, 공정 중의 SiH4 가스로 인한 수소 생성으로 인해 반도체층(318a)의 물성이 변동될 수 있기 때문에, 제1보호층(322)을 산화실리콘으로 형성할 수 있다.A first
제1보호층(322)과 제2보호층(324)은 수소와 수분 등의 외부 환경으로부터 반도체층을 보호하기 위한 층들로서, 일반적인 액정표시패널이 하나의 층으로 이루어진 보호층을 구비하는 것에 비하여, 트랜지스터를 효과적으로 보호할 수 있다. 또한 제1보호층(322)과 제2보호층(324)은 설명의 편의를 위한 것이고, 3층 이상의 다수층으로 형성될 수도 있다.The first
한편, 제2보호층(324) 상에는 색변환층(326)이 형성된다. 도면에 표시되지는 않았지만, 색변환층(326)은 각 화소영역에 대응하여 적색, 녹색, 청색의 색변환층(326)이 순차적으로 반복되는 형태로 구비된다. Meanwhile, a
색변환층(326) 상의 감광성 물질층(328)이 형성된다. 일예로서 감광성 물질층(328) 포토아크릴 계열의 감광성 물질일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 감광성 물질층(328)은 하부층들을 보호하고, 후에 설명할 식각 공정 상에서 마스크로서 역할을 하여 공정을 단순화시킨다.A
도 2와 도 3의 II-II'를 참조하면, 액정표시패널(300)은, 게이트라인(212)과 이격하여 위치하고 게이트(312a)와 같은 물질로 이루어진 공통라인(312b), 제1게이트절연막(314)과 제1보호층(322)과 제2보호층(324)과 색변환층(326)과 감광성 물질층(328)에 형성되어 공통라인(312b)의 일부를 노출시키는 제2컨택홀(334) 및 제2컨택홀(334)을 통해 공통라인(312b)에 연결되는 공통전극(336)을 추가로 포함할 수 있다.Referring to II-II' of FIGS. 2 and 3, the liquid
여기서, II-II'에는 I-I'의 단면과 달리 제2게이트절연막(316a)이 존재하지 않는다. 따라서 후술하겠지만, 식각 공정을 통해 제거될 부분의 두께가 작기 때문에, 식각 시간에 따라 컨택홀의 크기(size)가 지나치게 커지는 문제를 방지할 수 있게 된다.Here, in II-II', unlike the cross section of I-I', the second
한편, 도 2와 도 3의 III-III'와 IV-IV'를 참조하면, 액정표시패널(300)은, 데이터라인(220)에 연결되어 데이터신호를 공급하는 데이터패드(237)와, 제1보호층(322)에 형성되어 데이터패드(237)의 데이터패드 하부전극(320c)의 일부를 노출시키는 제3컨택홀(338)과, 제3컨택홀(338)을 통해 데이터패드 하부전극(320c)에 연결되는 데이터패드 상부전극(340)을 추가로 포함할 수 있다. 또한 게이트라인(212)에 연결되어 게이트신호를 공급하는 게이트패드(241)와, 제1게이트절연막(314)과 제1보호층(322)에 형성되어 게이트패드(241)의 게이트패드 하부전극(312c)의 일부를 노출시키는 제4컨택홀(342)과, 제4컨택홀(342)을 통해 게이트패드 하부전극(312c)에 연결되는 게이트패드 상부전극(344)을 포함할 수 있다.Meanwhile, referring to III-III' and IV-IV' of FIGS. 2 and 3, the liquid
여기서 제4컨택홀(342)의 경우, 전술한 것과 같이 일반적인 액정표시패널에 비해 식각 공정으로 제거될 부분의 두께가 작아짐으로 인해, 제4컨택홀(342)의 크기가 제어될 수 있다는 이점이 있다.Here, in the case of the
도 4는 다른 실시예에 따라 도 2의 I-I', II-II', III-III', IV-IV'를 절단한 액정표시패널의 일예의 개략적인 단면도이다.FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of an example of a liquid crystal display panel cut along lines I-I', II-II', III-III', and IV-IV' of FIG. 2 according to another embodiment.
다른 실시예에 따른 액정표시패널(400)은 일실시예와 비교하면, 제2게이트절연막(416)이 기판(310)의 전면에 형성되고, 제2보호층(424)이 I-I'와 II-II'에 걸쳐 감광성 물질층(328) 상에 위치한다. 나머지 구성요소의 경우, 일실시예와 동일하기 때문에 설명을 생략한다.In the liquid
다른 실시예에 따른 액정표시패널(400)은 제1보호층(322)이 수분과 수소 등의 외부환경으로부터 트랜지스터의 반도체층(318a), 게이트패드 하부전극(312c), 데이터패드 하부전극(320c)을 보호하고, 이에 더하여 제2보호층(424)이 이차적인 보호층의 역할을 함으로써, 액정표시패널의 수명이 증대될 수 있다.In the liquid
도 5a 내지 도 5k는 또다른 실시예에 따른 액정표시패널의 제조방법을 나타내는 도면들이다. 도 5a 내지 도 5k는 설명의 편의를 위하여 도 2의 I-I' 부분만의 제조방법을 도시하였지만, II-II', III-III', IV-IV' 부분에도 같은 공정이 적용됨을 유의하여야 한다.5A to 5K are diagrams illustrating a method of manufacturing a liquid crystal display panel according to another exemplary embodiment. 5A to 5K illustrate the manufacturing method of only the part I-I' of FIG. 2 for convenience of explanation, but it should be noted that the same process is applied to the parts II-II', III-III', and IV-IV'.
도 2, 도 3, 도 5a 내지 도 5k를 참조하면, 우선 기판(310) 상에 게이트(312a)와 제1게이트절연막(314)을 형성하고, 제2게이트절연막 물질층(316a'), 반도체 물질층(318a') 및 소스/드레인 물질층(320a')을 순차적으로 적층하는 단계가 수행된다.2, 3, and 5A to 5K, first, a
다시 말해서, 물리적 세정이나 화학적 세정방법을 통해 기판을 세정하고, 스퍼터링(sputtering) 등으로 증착을 한 후, 첫번째 마스크를 통해 포토리소그래피 공정으로 게이트(312a), 공통라인(312b), 게이트패드 하부전극(312c)을 패터닝(patterning)한다. 이후 스퍼터링 또는 기상증착 방식으로 제1게이트절연막(314)을 형성하고, 제2게이트절연막 물질층(316a'), 반도체 물질층(318a'), 소스/드레인 물질층(320a'), 데이터패드(237)의 데이터패드 하부전극(320c) 등을 순차적으로 적층한다.In other words, after cleaning the substrate through a physical or chemical cleaning method, depositing by sputtering, etc., the
도 5b와 도 5c는 소스/드레인 물질층(320a') 상에 포토레지스트 물질을 도포하고, 하프톤(halftone) 마스크(550)를 통해 포토레지스트 패턴(548)을 형성하며, 포토레지스트 패턴(548)이 도포되지 않은 영역의 반도체 물질층(318a')과 소스/드레인 물질층(320a')을 제거하는 제1식각 단계를 도시한다.5B and 5C, a photoresist material is applied on the source/
이하에서는 광이 투과된 영역의 포토레지스트 물질이 제거되는 포지티브(positive) 방식을 설명하지만, 네거티브(negative) 방식에 의할 수도 있다.Hereinafter, a positive method in which the photoresist material in a light-transmitting region is removed will be described, but a negative method may also be used.
여기서 하프톤 마스크(550)는 투과영역(550a), 차단영역(550b), 반투과영역(550c)을 포함하고, 감광성 물질로 이루어진 포토레지스트 물질에 노광하고 현상(development)함으로써, 반투과영역(550c)에 대응되는 영역의 포토레지스트 패턴(528)의 높이(h2)가 차단영역(550b)의 포토레지스트 패턴(548)의 높이(h1)보다 낮을 수 있다(h2<h1). Here, the
제1식각 단계는 습식 식각(wet etching) 방식일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.The first etching step may be a wet etching method, but is not limited thereto.
도 5d를 참조하면, 포토레지스트 패턴(548)이 도포되지 않은 영역의 제2게이트절연막 물질층(316a')을 제거하여 제2게이트절연막을 형성하는 제2식각 단계를 도시한다.Referring to FIG. 5D, a second etching step of forming a second gate insulating layer by removing the second gate insulating
제2식각 단계는 플라즈마 식각 또는 반응성 이온 식각(reactive ion etching) 등의 건식 식각(dry etching) 방식일 수 있고, 산화 실리콘 계열의 물질과 질화 실리콘 계열의 물질의 선택비를 활용하여 제1게이트절연막(314)은 남기고, 제2게이트절연막 물질층(316a')만을 식각할 수 있다. 여기서 제2식각 단계는 제1식각 단계에서 사용한 포토레지스트 패턴(548)을 그대로 활용하여 제2게이트절연막(316a)을 형성할 수 있어, 공정이 간편해지고, 제조원가를 절감할 수 있게 된다.The second etching step may be a dry etching method such as plasma etching or reactive ion etching, and the first gate insulating layer is formed using a selectivity ratio between a silicon oxide-based material and a silicon nitride-based material. Leaving the 314, only the second gate insulating
도 5e는 포토레지스트 패턴(548)의 일부를 제거하여 소스/드레인 물질층(320a")의 일부를 노출시키는 에싱(ashing) 단계를 도시한다.5E illustrates an ashing step of removing a portion of the
에싱 가스를 통한 에싱 공정으로 포토레지스트 패턴(548)의 높이를 h2 만큼 낮추어 h2-h1의 높이를 갖는 포토레지스트 패턴(548)이 잔류하게 된다.The height of the
도 5f는 노출된 소스/드레인 물질층(320a")을 제거하여 소스전극 및 드레인전극(320a, 320b)을 형성하는 제3식각 단계를 도시한다.5F illustrates a third etching step of forming the source and
제3식각은 습식 식각일 수 있고, 식각 비율 내지 식각 시간의 조절을 통해, 최소한의 반도체층(318a)을 잔류시킬 수 있다(Etch Back 방식).The third etching may be wet etching, and a minimum amount of the
제3식각 단계에서, 도시되지 않았지만, 데이터패드(237)의 제2게이트절연막(316b)과 반도체층(318b)와 데이터패드 하부전극(320c)이 동시에 패터닝(patterning)된다. In the third etching step, although not shown, the second
도 5g는 소스전극 및 드레인전극(320a, 320b) 상에 제1보호층(322)과 제2보호층(324)을 순차적으로 적층하는 단계를 도시한다.5G shows a step of sequentially stacking the first
여기서 제1보호층(322)과 제2보호층(324)은 기판(310)의 전면에 걸쳐 증착되어 소스전극 및 드레인전극(320a, 320b), 공통라인(312b), 데이터패드 하부전극(320c), 게이트패드 하부전극(312c)을 덮을 수 있다. Here, the first
제1보호층(322)과 제2보호층(324)을 통해 액정표시패널(300)의 반도체층(318a)을 외부환경으로부터 보호하여 패널의 수명을 증대시키고, 기생 캐패시턴스(parasitic capacitance) 등을 효과적으로 방지할 수 있다.The
도 5h는 제2보호층(324) 상에 색변환 물질층을 형성하고 소스전극 또는 상기 드레인전극(320a, 320b)의 일부가 노출되도록 패터닝(patterning)하여 색변환층(326)을 형성하는 단계를 도시한다.5H is a step of forming a
색변환층(326)은 안료(pigment)에 의한 포토리소그래피 공정으로 형성될 수 있으나, 이에 제한되지 않고 인쇄(printing), 증착(deposition) 등의 방식으로 형성될 수도 있다. 또한 색변환층(326) 형성시 광중합 개시제, 단량체, 바인더(binder) 등이 포함될 수 있다. The
색변환 물질층이 도포된 후 마스크를 통해 노광하면, 광중합 개시제가 빛을 받아 라디칼에 의한 광중합 반응을 통해 고분자 화합물을 생성하게 된다. 이후 현상(development) 과정을 거치면, 고분자 화합물이 생성되지 않은 영역에 제1컨택홀(330)의 제2영역(330b)가 형성될 수 있다. When the color conversion material layer is applied and exposed through a mask, a photopolymerization initiator receives light and generates a polymer compound through a photopolymerization reaction by radicals. Thereafter, through a development process, a
도시되지는 않았지만, II-II' 부분의 색변환층(326)도 동시에 형성되며, 제2컨택홀(334)의 제2영역(미도시)도 형성된다.Although not shown, the
도 5i는 색변환층(326) 상에 감광성 물질을 도포하고 소스전극 또는 상기 드레인전극(320a, 320b)의 일부가 노출되도록 패터닝하여 감광성 물질층(328)을 형성하는 단계를 도시한다. 구체적으로 감광성 물질은 포토아크릴(photoacryl) 계열의 물질을 포함하는 감광성 수지일 수 있으나 이에 제한되지 않는다.5I illustrates a step of forming the
감광성 물질을 색변환층(326) 상에 도포한 후 마스크를 통해 노광, 현상하여 제1컨택홀(330)의 제3영역(330c)을 형성한다. 또한 도시되지는 않았지만, II-II' 의 제2컨택홀(334)의 제3영역(미도시) 또한 동시에 형성된다.A photosensitive material is applied on the
도 5j는 감광성 물질층(328)을 마스크로 하여 제1보호층(322)과 제2보호층(324)을 제거하여 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)의 일부를 노출시키는 제4식각 단계를 도시한다.5J is a fourth etching step of exposing a portion of the source or
여기서 제4식각은 건식 식각일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 제4식각 단계에서는, 별도의 마스크를 사용하지 않고, 감광성 수지로 이루어진 감광성 물질층을 마스크로 대체함으로써, 공정 수를 줄일 수 있게 된다. 즉, 포토레지스트를 도포하고 패터닝하는 공정과, 포토레지스트물질을 스트립(strip)하는 공정을 생략할 수 있다. Here, the fourth etching may be dry etching, but is not limited thereto. In the fourth etching step, the number of processes can be reduced by replacing the photosensitive material layer made of a photosensitive resin with a mask without using a separate mask. That is, a process of applying and patterning a photoresist and a process of stripping a photoresist material may be omitted.
식각에 따라 노출된 제1보호층(322)과 제2보호층(324)은 식각되어 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)의 일부가 노출된다. 따라서, 제1컨택홀(330)의 제1영역(330a)가 형성되어 제1컨택홀(330)이 완성된다. The first
한편, 제1컨택홀(330)과 같은 방식으로 제2컨택홀(334)가 형성되는데, 또다른 실시예에 따르면, 제2컨택홀(334) 주변에는 제2게이트절연막(316a)이 제거되었으므로, 식각 공정으로 제거되어야할 층들의 두께가 상대적으로 얇을 수 있다. Meanwhile, the
다시 말해서 식각 공정을 거쳐 제거해야할 구조의 두께가 두꺼울 경우, 식각 시간이 길어져 컨택홀의 크기(size)가 지나치게 커지고, 이로 인해 개구율이 줄어드는 문제가 발생할 수 있는데, 또다른 실시예에 따른 액정표시패널(300)의 제2컨택홀(316a)의 경우에는, 식각 공정 시간이 상대적으로 짧아 홀의 크기를 제어할 수 있는 이점이 있다.In other words, if the thickness of the structure to be removed through the etching process is thick, the etching time is lengthened and the size of the contact hole becomes excessively large, which may cause a problem of reducing the aperture ratio. The liquid crystal display panel according to another embodiment ( In the case of the
마찬가지로, IV-IV' 부분의 제4컨택홀(342)의 경우에도, 식곡 공정 시간이 짧아 컨택홀의 크기가 지나치게 커지는 것을 방지할 수 있다.Likewise, in the case of the
도 5k는 제1컨택홀(330)을 통해 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)에 접촉되는 화소전극(332)을 형성하는 단계를 도시한다.5K illustrates a step of forming the
화소전극(332)은 물리적기상증착이나 화학적기상증착 방식으로 형성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 또한 화소전극(332)은 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)에 접촉되어 구동된다.The
II-II' 영역에는 화소전극(332)과 동시에 공통전극(336)이 형성되어 공통라인(312b)과 연결되고, III-III' 영역에는 데이터패드 상부전극(340)이 형성되어 데이터패드 하부전극(320c)와 연결되며, IV-IV' 영역에는 게이트패드 상부전극(344)이 형성되어 게이트패드 하부전극(312c)와 연결된다.In the area II-II', a
또다른 실시예에 따른 액정표시패널(300)의 제조방법은 제2식각 단계에서 제1식각단계에서 형성된 포토레지스트 패턴을 그대로 활용하여 식각 공정을 진행할 수 있고, 제4식각 단계에서 감광성 물질층(328) 마스크로 활용하므로 제조 공정이 간편해지고, 제조 원가가 절감되며, 제조 수율이 향상될 수 있는 이점을 갖는다. 또한 실시예들에서, 컨택홀들(334, 342)의 두께를 최소화하여 컨택홀들(334, 342)의 크기가 지나치게 커지는 문제를 방지하므로, 개구율이 향상될 수 있다. 또한 다층구조의 보호층(322, 324)을 형성하여 트랜지스터 및 공통라인(312b), 데이터패드 하부전극(320c), 게이트패드 하부전극(312c) 등을 외부환경으로부터 효과적으로 보호할 수 있다.In the manufacturing method of the liquid
이상 도면을 참조하여 실시예들을 설명하였으나 본 발명은 이에 제한되지 않는다.The embodiments have been described above with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto.
이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재될 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥 상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Terms such as "include", "consist of", or "have" described above, unless otherwise stated, mean that the corresponding component may be included, and thus other components are not excluded. It should be interpreted as being able to further include other components. All terms, including technical or scientific terms, unless otherwise defined, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which the present invention belongs. Terms generally used, such as terms defined in the dictionary, should be interpreted as being consistent with the meaning in the context of the related technology, and are not interpreted as ideal or excessively formal meanings unless explicitly defined in the present invention.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
The above description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains will be able to make various modifications and variations without departing from the essential characteristics of the present invention. Accordingly, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical idea of the present invention, but to explain the technical idea, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the scope equivalent thereto should be interpreted as being included in the scope of the present invention.
310: 기판 314: 제1게이트절연막
316a, 316b: 제2게이트절연막 318a: 반도체층
320a, 320b: 소스전극 또는 드레인전극310: substrate 314: first gate insulating film
316a, 316b: second
320a, 320b: source electrode or drain electrode
Claims (12)
기판 상에 일방향으로 형성된 게이트라인 및 상기 일방향에 수직 방향으로 교차 형성된 데이터라인의 교차부에 위치하고, 상기 게이트라인에 연결된 게이트 상에 위치하는 게이트절연막과 상기 게이트절연막 상에 위치하는 소스전극 및 드레인전극을 포함하는 상기 트랜지스터;
상기 트랜지스터 상에 위치하는 다층구조의 보호층;
상기 다층구조의 보호층 중 적어도 어느 한층 상에 위치하는 색변환층;
상기 색변환층 상에 위치하는 감광성 물질층;
상기 다층구조의 보호층과 상기 색변환층과 상기 감광성 물질층에 형성되어 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극의 일부를 노출시키는 제1컨택홀; 및
상기 제1컨택홀을 통해 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극에 연결된 화소전극을 포함하되,
상기 게이트절연막은 상기 제1영역에 형성된 다층구조의 게이트절연막과 상기 제2영역 또는 상기 제4영역에 형성된 단층구조의 게이트절연막으로 이루어지는 액정표시패널.A first region in which a transistor is formed, a second region in which the common electrode is connected to the common line, a third region in which the upper data pad electrode and the lower data pad electrode are connected, and a third region in which the upper electrode of the gate pad and the lower electrode of the gate pad are connected. In the liquid crystal display panel including four areas,
A gate insulating layer positioned on a gate connected to the gate line and a source electrode and a drain electrode positioned on the gate insulating layer, positioned at an intersection of a gate line formed in one direction on a substrate and a data line formed crossing in a direction perpendicular to the one direction The transistor including a;
A multi-layered protective layer on the transistor;
A color conversion layer positioned on at least one of the multilayered protective layers;
A photosensitive material layer on the color conversion layer;
A first contact hole formed in the multilayered protective layer, the color conversion layer, and the photosensitive material layer to expose a portion of the source electrode or the drain electrode; And
A pixel electrode connected to the source electrode or the drain electrode through the first contact hole,
The gate insulating layer includes a multi-layered gate insulating layer formed in the first region and a single-layered gate insulating layer formed in the second region or the fourth region.
상기 제2영역은 상기 게이트라인과 이격하여 위치하고 상기 게이트와 같은 물질로 이루어진 공통라인,
상기 단층구조의 게이트절연막과 상기 다층구조의 보호층과 상기 색변환층과 상기 감광성 물질층에 형성되어 상기 공통라인의 일부를 노출시키는 제2컨택홀, 및
상기 제2컨택홀을 통해 상기 공통라인에 연결되는 공통전극을 포함하는 액정표시패널.The method of claim 1,
The second region is located apart from the gate line and is a common line made of the same material as the gate,
A second contact hole formed in the single-layered gate insulating layer, the multi-layered protective layer, the color conversion layer, and the photosensitive material layer to expose a part of the common line, and
A liquid crystal display panel including a common electrode connected to the common line through the second contact hole.
상기 제1영역에 형성된 상기 다층구조의 게이트절연막은 산화실리콘 계열의 물질로 이루어져서 상기 기판의 전면에 형성되고 상기 게이트를 덮는 제1게이트절연막과, 질화실리콘 계열의 물질로 이루어져서 상기 제1게이트절연막 상에 형성되고 상기 게이트와 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극에 대응하여 위치하는 제2게이트절연막으로 이루어지는 액정표시패널.The method of claim 1,
The multi-layered gate insulating layer formed in the first region is formed of a silicon oxide-based material, is formed on the entire surface of the substrate, and is formed of a silicon nitride-based material, and is formed on the first gate insulating layer. A liquid crystal display panel comprising a second gate insulating layer formed on the gate and corresponding to the source electrode or the drain electrode.
상기 다층구조의 보호층은 상기 트랜지스터 상에 위치하고 산화실리콘 계열의 물질로 이루어진 제1보호층과, 상기 제1보호층 상에 위치하고 질화실리콘 계열의 물질로 이루어진 제2보호층으로 이루어지는 액정표시패널.The method of claim 1,
The multilayered protective layer is a liquid crystal display panel including a first protective layer disposed on the transistor and made of a silicon oxide-based material, and a second protective layer disposed on the first protective layer and made of a silicon nitride-based material.
상기 제3영역은 상기 데이터라인에 연결되어 데이터신호를 공급하는 데이터패드,
상기 다층구조의 게이트절연막과 상기 다층구조의 보호층에 형성되어 상기 데이터패드를 구성하는 상기 데이터패드 하부전극의 일부를 노출시키는 제3컨택홀, 및
상기 제3컨택홀을 통해 상기 데이터패드 하부전극에 연결되는 상기 데이터패드 상부전극을 포함하는 액정표시패널.The method of claim 1,
The third area is a data pad connected to the data line to supply a data signal;
A third contact hole formed in the multilayered gate insulating layer and the multilayered protective layer to expose a portion of the lower electrode of the data pad constituting the data pad, and
A liquid crystal display panel including an upper electrode of the data pad connected to a lower electrode of the data pad through the third contact hole.
상기 제4영역은 상기 게이트라인에 연결되어 게이트신호를 공급하는 게이트패드,
상기 단층구조의 게이트절연막과 상기 다층구조의 보호층에 형성되어 상기 게이트패드를 구성하는 상기 게이트패드 하부전극의 일부를 노출시키는 제4컨택홀, 및
상기 제4컨택홀을 통해 상기 게이트패드 하부전극에 연결되는 상기 게이트패드 상부전극을 포함하는 액정표시패널.The method of claim 1,
A gate pad connected to the gate line to supply a gate signal in the fourth region;
A fourth contact hole formed in the single-layered gate insulating layer and the multi-layered protective layer to expose a portion of the lower electrode of the gate pad constituting the gate pad, and
A liquid crystal display panel including the gate pad upper electrode connected to the gate pad lower electrode through the fourth contact hole.
상기 다층구조의 보호층은, 상기 트랜지스터와 상기 색변환층 사이에 위치하는 제1보호층과, 상기 감광성 물질층 상에 위치하는 제2보호층을 포함하고,
상기 제1컨택홀은 상기 제1보호층과 상기 색변환층과 상기 감광성 물질층과 상기 제2보호층에 형성되어 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극을 노출시키는 액정표시패널.The method of claim 1,
The protective layer of the multilayer structure includes a first protective layer positioned between the transistor and the color conversion layer, and a second protective layer positioned on the photosensitive material layer,
The first contact hole is formed in the first protective layer, the color conversion layer, the photosensitive material layer, and the second protective layer to expose the source electrode or the drain electrode.
기판 상에 게이트와 제1게이트절연막을 형성하고, 제2게이트절연막 물질층, 반도체 물질층 및 소스/드레인 물질층을 순차적으로 적층하는 단계;
상기 소스/드레인 물질층 상에 포토레지스트 물질을 도포하고, 하프톤(halftone) 마스크를 통해 포토레지스트 패턴을 형성하며, 상기 포토레지스트 패턴이 도포되지 않은 영역의 상기 반도체 물질층과 상기 소스/드레인 물질층을 제거하는 제1식각 단계;
상기 포토레지스트 패턴이 도포되지 않은 상기 제2영역 또는 상기 제4영역에서 상기 제2게이트절연막 물질층을 제거하여 제2게이트절연막을 형성하는 제2식각 단계;
상기 포토레지스트 패턴의 일부를 제거하여 상기 소스/드레인 물질층의 일부를 노출시키는 에싱(ashing) 단계; 및
상기 노출된 소스/드레인 물질층을 제거하여 소스전극 및 드레인전극을 형성하는 제3식각 단계를 포함하는 액정표시패널의 제조방법.A first region in which a transistor is formed, a second region in which the common electrode is connected to the common line, a third region in which the upper data pad electrode and the lower data pad electrode are connected, and a third region in which the upper electrode of the gate pad and the lower electrode of the gate pad are connected. In the manufacturing method of a liquid crystal display panel including four regions,
Forming a gate and a first gate insulating layer on a substrate, and sequentially stacking a second gate insulating layer material layer, a semiconductor material layer, and a source/drain material layer;
A photoresist material is applied on the source/drain material layer, a photoresist pattern is formed through a halftone mask, and the semiconductor material layer and the source/drain material in a region where the photoresist pattern is not applied A first etching step of removing the layer;
A second etching step of forming a second gate insulating layer by removing the second gate insulating layer material layer from the second area or the fourth area to which the photoresist pattern is not applied;
An ashing step of removing a portion of the photoresist pattern to expose a portion of the source/drain material layer; And
And a third etching step of removing the exposed source/drain material layer to form a source electrode and a drain electrode.
상기 제3식각 단계 이후,
상기 소스전극 및 상기 드레인전극 상에 제1보호층과 제2보호층을 순차적으로 적층하는 단계;
상기 제2보호층 상에 색변환 물질층을 형성하고 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극의 일부가 노출되도록 패터닝(patterning)하여 색변환층을 형성하는 단계;
상기 색변환층 상에 감광성 물질을 도포하고 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극의 일부가 노출되도록 패터닝하여 감광성 물질층을 형성하는 단계; 및
상기 감광성 물질층을 마스크(mask)로 하여 상기 제1보호층과 상기 제2보호층을 제거하여 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극의 일부를 노출시키는 제4식각 단계를 추가로 포함하는 액정표시패널의 제조방법.
The method of claim 9,
After the third etching step,
Sequentially laminating a first protective layer and a second protective layer on the source electrode and the drain electrode;
Forming a color conversion layer by forming a color conversion material layer on the second protective layer and patterning a portion of the source electrode or the drain electrode to be exposed;
Forming a photosensitive material layer by coating a photosensitive material on the color conversion layer and patterning a portion of the source electrode or the drain electrode to be exposed; And
The liquid crystal display panel further comprising a fourth etching step of exposing a part of the source electrode or the drain electrode by removing the first protective layer and the second protective layer using the photosensitive material layer as a mask. Manufacturing method.
상기 제1식각 단계에 사용되는 포토레지스터 패턴 및 상기 제2식각 단계에 사용되는 포토레지스터 패턴은 동일한 포토레지스터 패턴인 액정표시패널의 제조방법.The method of claim 9,
A method of manufacturing a liquid crystal display panel in which the photoresist pattern used in the first etching step and the photoresist pattern used in the second etching step are the same photoresist pattern.
상기 제2영역 또는 상기 제4영역에 형성된 단층구조의 게이트절연막은 산화실리콘 계열의 물질로 이루어진 제1게이트절연막인 액정표시패널.The method of claim 1,
A single-layered gate insulating layer formed in the second region or the fourth region is a first gate insulating film made of a silicon oxide-based material.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140098765A KR102183315B1 (en) | 2014-08-01 | 2014-08-01 | Liquid crystal display panel and manufacturing method of the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140098765A KR102183315B1 (en) | 2014-08-01 | 2014-08-01 | Liquid crystal display panel and manufacturing method of the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20160017705A KR20160017705A (en) | 2016-02-17 |
KR102183315B1 true KR102183315B1 (en) | 2020-11-27 |
Family
ID=55457109
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140098765A KR102183315B1 (en) | 2014-08-01 | 2014-08-01 | Liquid crystal display panel and manufacturing method of the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102183315B1 (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014039019A (en) * | 2012-07-20 | 2014-02-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Semiconductor device and manufacturing method for semiconductor device |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101964088B1 (en) * | 2012-03-09 | 2019-04-01 | 엘지디스플레이 주식회사 | Fringe field switching liquid crystal display device and method of fabricating the same |
KR101987405B1 (en) * | 2013-01-11 | 2019-09-30 | 엘지디스플레이 주식회사 | Array substrate of liquid crystal display and method of fabricating thereof |
-
2014
- 2014-08-01 KR KR1020140098765A patent/KR102183315B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014039019A (en) * | 2012-07-20 | 2014-02-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Semiconductor device and manufacturing method for semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20160017705A (en) | 2016-02-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9201276B2 (en) | Process architecture for color filter array in active matrix liquid crystal display | |
US9443886B2 (en) | Thin film transistor substrate and method of fabricating the same | |
KR102248645B1 (en) | Thin Film Transistor Substrate Having Metal Oxide Semiconductor and Manufacturing Method Thereof | |
US10948789B2 (en) | Display apparatus comprising a bridge portion formed of a same material as a second color filter and connecting adjacent second color filters of adjacent pixel areas | |
US10608052B2 (en) | Display substrate and method of manufacturing the same | |
TWI553837B (en) | Method for fabricating display panel | |
EP2747138A1 (en) | Thin film transistor array substrate | |
US9853060B2 (en) | Thin film transistor substrate and method of manufacturing the same | |
TWI532154B (en) | Display panel and display device | |
US10303020B2 (en) | Display device and manufacturing method of the same | |
KR20170124428A (en) | Array substrate, liquid crystal display having the same, method of manufacturing the array substrate | |
US20190219858A1 (en) | Manufacturing method of a tft substrate and structure | |
US9081243B2 (en) | TFT substrate, method for producing same, and display device | |
TWI581317B (en) | Thin film transistor substrate and displaypanel having the thin film transistor substrate | |
US10396105B2 (en) | Display substrate and method of manufacturing the same | |
KR102183315B1 (en) | Liquid crystal display panel and manufacturing method of the same | |
JP2016180972A (en) | Display panel | |
KR102426498B1 (en) | Array Substrate For Touch Display Device And Method Of Fabricating The Same | |
KR102481182B1 (en) | Liquid display device | |
US9035364B2 (en) | Active device and fabricating method thereof | |
WO2012042824A1 (en) | Thin film transistor substrate, method for manufacturing same, and display device | |
KR102426497B1 (en) | Array Substrate For Touch Display Device And Method Of Fabricating The Same | |
KR102358041B1 (en) | Substrate including thin film transistor for touch display and method of fabricating the smae | |
US9589986B2 (en) | Array substrate, display device and method for fabricating array substrate | |
KR102219668B1 (en) | Thin film transistor substrate and touch device of using the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right |