KR102183315B1 - Liquid crystal display panel and manufacturing method of the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 기판 상에 일방향으로 형성된 게이트라인 및 일방향에 수직 방향으로 교차 형성된 데이터라인의 교차부에 위치하고, 게이트라인에 연결된 게이트 상에 위치하는 다층구조의 게이트절연막과 다층구조의 게이트절연막 상에 위치하는 소스전극 및 드레인전극을 포함하는 트랜지스터, 트랜지스터 상에 위치하는 다층구조의 보호층, 다층구조의 보호층 중 적어도 어느 한층 상에 위치하는 색변환층, 색변환층 상에 위치하는 감광성 물질층, 다층구조의 보호층과 색변환층과 감광성 물질층에 형성되어 소스전극 또는 드레인전극의 일부를 노출시키는 제1컨택홀 및 제1컨택홀을 통해 소스전극 또는 드레인전극에 연결된 화소전극을 포함하는 액정표시패널과 그 제조방법을 제공한다.The present invention is located at the intersection of a gate line formed in one direction on a substrate and a data line cross formed in a direction perpendicular to one direction, and is located on a multilayered gate insulating film and a multilayered gate insulating film located on a gate connected to the gate line. A transistor including a source electrode and a drain electrode, a multilayered protective layer on the transistor, a color conversion layer on at least one of a multilayered protective layer, a photosensitive material layer on the color conversion layer, Liquid crystal including a first contact hole formed on a multilayered protective layer, a color conversion layer, and a photosensitive material layer to expose a part of the source electrode or the drain electrode, and a pixel electrode connected to the source electrode or the drain electrode through the first contact hole A display panel and its manufacturing method are provided.

Figure R1020140098765
Figure R1020140098765

Description

액정표시패널 및 그 제조방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME}Liquid crystal display panel and its manufacturing method {LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME}

본 발명은 액정표시장치 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same.

액정표시장치 기술은, 지속적인 발전을 거듭하여, 기존의 CRT(Cathode-Ray Tube)을 이용한 고착형 디스플레이 시장을 대체하고 있으며, 노트북용 표시소자, 컴퓨터 모니터, TV 등 점점 대형화하여 DID(Digital Information Display) 또는 PID(Public Information Display)시장으로도 확대되고 있다. 또한 모바일 영역에서도 자리를 지키고 있다. Liquid crystal display technology continues to develop and is replacing the existing fixed-type display market using CRT (Cathode-Ray Tube), and the display device for laptops, computer monitors, TVs, etc. are gradually becoming larger and DID (Digital Information Display). ) Or PID (Public Information Display) market. It also holds its place in the mobile field.

액정표시장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이러한 액정표시장치는 수직전계형과 수평전계형으로 나눠질 수 있다. 여기서 수직전계형 액정표시장치는 상부기판 상에 형성된 공통전극과 하부기판 상에 형성된 화소전극이 서로 대향되게 배치되어 이들 사이에 형성되는 수직전계에 의해 TN(Twisted Nemastic; 이하 TN이라 함) 모드의 액정을 구동하게 된다. 한편 수평전계형 액정표시장치는 하부기판에 나란하게 배치된 화소전극과 공통전극 간의 수평전계에 의해 인 플레인 스위치(In Plane Switch; 이하, IPS라 함) 모드의 액정을 구동하게 된다.A liquid crystal display device displays an image by adjusting the light transmittance of a liquid crystal using an electric field. Such a liquid crystal display can be divided into a vertical electric field type and a horizontal electric field type. Here, in the vertical electric field type liquid crystal display device, the common electrode formed on the upper substrate and the pixel electrode formed on the lower substrate are disposed to face each other, and the liquid crystal in TN (Twisted Nemastic; hereinafter referred to as TN) mode by a vertical electric field formed therebetween. Will drive. Meanwhile, the horizontal electric field type liquid crystal display drives the liquid crystal in an in plane switch (hereinafter referred to as IPS) mode by a horizontal electric field between a pixel electrode and a common electrode arranged in parallel on a lower substrate.

액정표시장치는 박막 트랜지스터 등을 포함하는 하부기판과, 칼라필터 블랙매트릭스 등을 포함하는 상부기판, 두 기판 사이에서 셀갭을 일정하게 유지시키기 위한 스페이서 및 스페이서에 의해 마련된 공간에 채워진 액정 등을 포함한다.The liquid crystal display device includes a lower substrate including a thin film transistor, an upper substrate including a color filter black matrix, etc., a spacer for maintaining a constant cell gap between the two substrates, and a liquid crystal filled in the space provided by the spacer. .

액정표시장치를 제조하는 데 있어서, 식각 공정을 통해 형성되는 컨택홀의 높이가 높을수록 컨택홀의 크기(size)가 지나치게 커지게 되고, 또한 다수의 마스크 공정을 필요로 하여 그 제조공정이 복잡해지는 문제가 발생한다.
In manufacturing a liquid crystal display, as the height of the contact hole formed through the etching process increases, the size of the contact hole becomes too large, and a number of mask processes are required, which complicates the manufacturing process. Occurs.

본 발명의 목적은 컨택홀의 크기를 개선하고, 제조공정을 단순화한 액정표시패널을 제공함에 있다.
An object of the present invention is to provide a liquid crystal display panel in which the size of a contact hole is improved and the manufacturing process is simplified.

전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 측면에서, 본 발명은, 기판 상에 일방향으로 형성된 게이트라인 및 상기 일방향에 수직 방향으로 교차 형성된 데이터라인의 교차부에 위치하고, 상기 게이트라인에 연결된 게이트 상에 위치하는 다층구조의 게이트절연막과 상기 다층구조의 게이트절연막 상에 위치하는 소스전극 및 드레인전극을 포함하는 트랜지스터; 상기 트랜지스터 상에 위치하는 다층구조의 보호층; 상기 다층구조의 보호층 중 적어도 어느 한층 상에 위치하는 색변환층; 상기 색변환층 상에 위치하는 감광성 물질층; 상기 다층구조의 보호층과 상기 색변환층과 상기 감광성 물질층에 형성되어 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극의 일부를 노출시키는 제1컨택홀; 및 상기 제1컨택홀을 통해 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극에 연결된 화소전극을 포함하는 액정표시패널을 제공한다.In order to achieve the above object, in one aspect, the present invention is located at an intersection of a gate line formed in one direction on a substrate and a data line formed in a direction perpendicular to the one direction, and located on a gate connected to the gate line. A transistor including a multilayered gate insulating layer and a source electrode and a drain electrode disposed on the multilayered gate insulating layer; A multi-layered protective layer on the transistor; A color conversion layer positioned on at least one of the multilayered protective layers; A photosensitive material layer on the color conversion layer; A first contact hole formed in the multilayered protective layer, the color conversion layer, and the photosensitive material layer to expose a portion of the source electrode or the drain electrode; And a pixel electrode connected to the source electrode or the drain electrode through the first contact hole.

다른 측면에서, 본 발명은, 기판 상에 게이트와 제1게이트절연막을 형성하고, 제2게이트절연막 물질층, 반도체 물질층 및 소스/드레인 물질층을 순차적으로 적층하는 단계;In another aspect, the present invention provides the steps of forming a gate and a first gate insulating layer on a substrate, and sequentially stacking a second gate insulating layer material layer, a semiconductor material layer, and a source/drain material layer;

상기 소스/드레인 물질층 상에 포토레지스트 물질을 도포하고, 하프톤(halftone) 마스크를 통해 포토레지스트 패턴을 형성하며, 상기 포토레지스트 패턴이 도포되지 않은 영역의 상기 반도체 물질층과 상기 소스/드레인 물질층을 제거하는 제1식각 단계; 상기 포토레지스트 패턴이 도포되지 않은 영역의 상기 제2게이트절연막 물질층을 제거하여 제2게이트절연막을 형성하는 제2식각 단계; 상기 포토레지스트 패턴의 일부를 제거하여 상기 소스/드레인 물질층의 일부를 노출시키는 에싱(ashing) 단계; 및 상기 노출된 소스/드레인 물질층을 제거하여 소스전극 및 드레인전극을 형성하는 제3식각 단계를 포함하는 액정표시패널의 제조방법을 제공한다.
A photoresist material is applied on the source/drain material layer, a photoresist pattern is formed through a halftone mask, and the semiconductor material layer and the source/drain material in a region where the photoresist pattern is not applied A first etching step of removing the layer; A second etching step of forming a second gate insulating layer by removing the material layer of the second gate insulating layer in a region where the photoresist pattern is not applied; An ashing step of removing a portion of the photoresist pattern to expose a portion of the source/drain material layer; And a third etching step of forming a source electrode and a drain electrode by removing the exposed source/drain material layer.

본 발명은 액정표시패널 내의 컨택홀의 크기를 개선시키고, 제조공정을 단순화시키는 효과가 있다.
The present invention has an effect of improving the size of a contact hole in a liquid crystal display panel and simplifying a manufacturing process.

도 1은 실시예들이 적용되는 액정표시장치의 시스템 구성도이다.
도 2는 실시예들에 따른 액정표시패널의 개략적인 평면도이다.
도 3은 일실시예에 따라 도 2의 I-I', II-II', III-III', IV-IV'를 절단한 액정표시패널의 일예의 개략적인 단면도이다.
도 4는 다른 실시예에 따라 도 2의 I-I', II-II', III-III', IV-IV'를 절단한 액정표시패널의 일예의 개략적인 단면도이다.
도 5a 내지 도 5k는 또다른 실시예에 따른 액정표시패널의 제조방법을 나타내는 도면들이다.
1 is a system configuration diagram of a liquid crystal display to which embodiments are applied.
2 is a schematic plan view of a liquid crystal display panel according to embodiments.
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of an example of a liquid crystal display panel cut along lines II', II-II', III-III', and IV-IV' of FIG. 2 according to an exemplary embodiment.
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of an example of a liquid crystal display panel cut along lines I-I', II-II', III-III', and IV-IV' of FIG. 2 according to another embodiment.
5A to 5K are diagrams illustrating a method of manufacturing a liquid crystal display panel according to another exemplary embodiment.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명의 실시예들을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail through exemplary drawings. In adding reference numerals to elements of each drawing, it should be noted that the same elements are assigned the same numerals as possible even if they are indicated on different drawings. In addition, in describing embodiments of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

또한, 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 같은 맥락에서, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소의 "상"에 또는 "아래"에 형성된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접 또는 또 다른 구성 요소를 개재하여 간접적으로 형성되는 것을 모두 포함하는 것으로 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the constituent elements of the invention, terms such as first, second, A, B, (a), (b) may be used. These terms are only used to distinguish the component from other components, and the nature, order, or order of the component is not limited by the term. When a component is described as being "connected", "coupled" or "connected" to another component, the component may be directly connected or connected to that other component, but another component between each component It should be understood that elements may be “connected”, “coupled” or “connected”. In the same context, if a component is described as being formed "above" or "below" another component, the component is all formed directly on the other component or indirectly through another component. It should be understood as including.

도 1은 실시예들이 적용되는 액정표시장치에 관한 시스템 구성도이다.1 is a system configuration diagram of a liquid crystal display to which embodiments are applied.

도 1을 참조하면, 액정표시장치(100)는 액정표시패널(140), 데이터 구동부(120), 게이트 구동부(130), 타이밍 콘트롤러(110) 등을 포함한다. Referring to FIG. 1, the liquid crystal display device 100 includes a liquid crystal display panel 140, a data driver 120, a gate driver 130, a timing controller 110, and the like.

우선, 타이밍 컨트롤러(110)는 호스트 시스템으로부터 입력되는 수직/수평 동기신호(Vsync, Hsync)와 영상신호(RGB), 클럭신호(CLK) 등의 외부 타이밍 신호에 기초하여 데이터 구동부(120)를 제어하기 위한 데이터 제어신호(DCS)와 게이트 구동부(130)를 제어하기 위한 게이트 제어신호(GCS)를 출력한다. 또한, 타이밍 컨트롤러(110)는 호스트 시스템로부터 입력되는 영상신호(RGB)를 데이터 구동부(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식으로 변환하고 변환된 영상신호(R'G'B')를 데이터 구동부(120)로 공급할 수 있다.First, the timing controller 110 controls the data driver 120 based on external timing signals such as vertical/horizontal synchronization signals (Vsync, Hsync) and video signals (RGB) and clock signals (CLK) input from the host system. A data control signal DCS for controlling the gate driver 130 and a gate control signal GCS for controlling the gate driver 130 are output. In addition, the timing controller 110 converts the image signal RGB input from the host system into a data signal format used by the data driver 120 and converts the converted image signal R'G'B' to the data driver 120 ) Can be supplied.

데이터 구동부(120)는 타이밍 컨트롤러(110)로부터 입력되는 데이터 제어신호(DCS) 및 변환된 영상신호(R'G'B')에 응답하여, 변환된 영상신호(R'G'B')를 계조 값에 대응하는 전압 값인 데이터 신호(아날로그 화소신호 혹은 데이터 전압)로 변환하여 데이터 라인에 공급한다.The data driver 120 receives the converted image signal R'G'B' in response to the data control signal DCS input from the timing controller 110 and the converted image signal R'G'B'. It is converted into a data signal (analog pixel signal or data voltage), which is a voltage value corresponding to the gradation value, and supplied to the data line.

게이트 구동부(130)는 타이밍 컨트롤러(110)로부터 입력되는 게이트 제어신호(GCS)에 응답하여 게이트 라인에 스캔신호(게이트 펄스 또는 스캔펄스, 게이트 온신호)를 순차적으로 공급한다.The gate driver 130 sequentially supplies scan signals (gate pulses, scan pulses, and gate-on signals) to the gate lines in response to the gate control signal GCS input from the timing controller 110.

한편 액정표시패널(140)은, 트랜지스터, 다층구조의 보호층, 두 장의 기판들과 그 사이에 위치하는 액정층, 배향막, 칼라필터, 블랙매트릭스 및 감광성 물질층 등을 포함할 수 있다.Meanwhile, the liquid crystal display panel 140 may include a transistor, a multilayered protective layer, two substrates and a liquid crystal layer positioned therebetween, an alignment layer, a color filter, a black matrix, and a photosensitive material layer.

액정표시패널(140)의 제 1 기판(하부 기판)은 COT(Color filter On TFT) 구조로 구현될 수 있고, 이 경우에, 블랙매트릭스와 컬러필터는 제 1 기판에 형성될 수도 있다.The first substrate (lower substrate) of the liquid crystal display panel 140 may be implemented in a color filter on TFT (COT) structure, and in this case, a black matrix and a color filter may be formed on the first substrate.

여기서 트랜지스터는 반도체층을 포함하고, 반도체층을 보호하기 위한 다층구조의 보호층이 구비될 수 있다.Here, the transistor includes a semiconductor layer, and a protective layer having a multilayer structure for protecting the semiconductor layer may be provided.

한편 액정표시패널(140)의 제조공정에 있어서, 식각공정에 있어 다수의 컨택홀들의 높이(또는 두께)를 낮추어 컨택홀의 크기(size)가 제어될 수 있고, 제조공정 중에 감광성 물질층을 마스크로 사용함으로써, 마스크의 수와 공정의 수가 축소될 수 있다.Meanwhile, in the manufacturing process of the liquid crystal display panel 140, the size of the contact holes can be controlled by lowering the height (or thickness) of the plurality of contact holes in the etching process, and the photosensitive material layer is used as a mask during the manufacturing process. By using it, the number of masks and the number of processes can be reduced.

또한 액정표시패널(140)의 제 1 기판(하부 기판)에는 다수의 데이터라인들(D1~Dm, m은 자연수), 데이터라인들(D1~Dm)과 교차되는 다수의 게이트라인들(또는 스캔라인들)(G1~Gn, n은자연수), 데이터라인들(D1~Dm)과 게이트라인들(G1~Gn)의 교차부들에 형성되는 다수의 트랜지스터들, 액정셀들에 데이터전압을 충전시키기 위한 다수의 화소전극, 화소전극에 접속되어 액정셀의 전압을 유지시키기 위한 스토리지 캐패시터(Storage Capacitor) 등을 포함할 수 있다.In addition, the first substrate (lower substrate) of the liquid crystal display panel 140 includes a plurality of data lines (D1 to Dm, m is a natural number), and a plurality of gate lines (or scans) intersecting the data lines D1 to Dm. Lines) (G1 to Gn, n is a natural number), a plurality of transistors formed at intersections of the data lines D1 to Dm and the gate lines G1 to Gn, charging a data voltage to the liquid crystal cells It may include a plurality of pixel electrodes and a storage capacitor connected to the pixel electrodes to maintain the voltage of the liquid crystal cell.

액정표시패널(140)의 제 2 기판(상부 기판)에는 블랙매트릭스, 컬러필터 등을 포함할 수 있다. The second substrate (upper substrate) of the liquid crystal display panel 140 may include a black matrix and a color filter.

한편, 액정표시패널(140)의 화소(P)들은 데이터라인들(D1~Dm)과 게이트라인들(G1~Gn)에 의해 정의된 화소 영역에 형성되어 매트릭스 형태로 배치된다. 화소들 각각의 액정셀은 화소전극에 인가되는 데이터전압과 공통전극에 인가되는 공통전압의 전압차에 따라 인가되는 전계에 의해 구동되어 입사광의 투과량을 조절한다.Meanwhile, the pixels P of the liquid crystal display panel 140 are formed in a pixel region defined by the data lines D1 to Dm and the gate lines G1 to Gn and are arranged in a matrix form. The liquid crystal cell of each of the pixels is driven by an electric field applied according to a voltage difference between the data voltage applied to the pixel electrode and the common voltage applied to the common electrode to adjust the transmission amount of incident light.

이러한 액정표시패널(140)은 IPS(In Plane Switching) 모드, FFS(Fringe Field Switching)모드 등 다른 액정 모드로도 구현될 수 있다.The liquid crystal display panel 140 may be implemented in other liquid crystal modes, such as an IPS (In Plane Switching) mode and a FFS (Fringe Field Switching) mode.

이 때 공통전극은 TN 모드와 VA 모드와 같은 수직전계 구동방식에서는 제 2 기판에 형성될 수 있고, IPS 모드와 FFS 모드와 같은 수평전계 구동방식에서 화소전극과 함께 제 1 기판에 형성될 수 있다.In this case, the common electrode may be formed on the second substrate in a vertical electric field driving method such as TN mode and VA mode, and may be formed on the first substrate together with the pixel electrode in a horizontal electric field driving method such as IPS mode and FFS mode. .

이하에서는, 도 1에서 설명한 액정표시패널(140)에 관한 실시예들에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the liquid crystal display panel 140 described in FIG. 1 will be described in detail.

도 2는 실시예들에 따른 액정표시패널의 개략적인 평면도이다.2 is a schematic plan view of a liquid crystal display panel according to embodiments.

도 2를 참조하면, 액정표시패널(200)은 기판(미도시) 상에 일방향(도 2에서 가로방향)으로 형성된 게이트라인(GL, 212) 및 일방향에 수직방향(도 2에서 세로방향)으로 교차 형성된 데이터라인(220)의 교차부에 위치하고, 게이트라인(212)에 연결된 게이트(212a) 상에 위치하는 다층구조의 게이트절연막(미도시)과 다층구조의 게이트절연막(미도시) 상에 위치하는 반도체층(218a)과 소스전극 및 드레인전극(220a, 220b)을 포함하는 트랜지스터, 트랜지스터 상에 위치하는 다층구조의 보호층(미도시), 보호층(미도시) 상에 위치하는 색변환층(미도시), 색변환층(미도시) 상에 위치하는 감광성 물질층(미도시), 다층구조의 보호층(미도시)과 색변환층(미도시)과 감광성 물질층(미도시)에 형성되어 소스전극 또는 상기 드레인전극(220a, 220b)의 일부를 노출시키는 제1컨택홀(230) 및 제1컨택홀(230)을 통해 소스전극 또는 드레인전극(220a, 220b)에 연결된 화소전극(232)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, the liquid crystal display panel 200 is formed on a substrate (not shown) in one direction (a horizontal direction in FIG. 2) and a gate line (GL, 212) formed in a direction perpendicular to one direction (a vertical direction in FIG. 2). Located at the intersection of the cross-formed data lines 220 and on the multilayered gate insulating film (not shown) and the multilayered gate insulating film (not shown) on the gate 212a connected to the gate line 212 Transistor including the semiconductor layer 218a and source and drain electrodes 220a and 220b, a multi-layered protective layer (not shown) positioned on the transistor, and a color conversion layer positioned on the protective layer (not shown) (Not shown), a photosensitive material layer (not shown) located on a color conversion layer (not shown), a multi-layered protective layer (not shown), a color conversion layer (not shown) and a photosensitive material layer (not shown) A pixel electrode connected to the source or drain electrodes 220a and 220b through the first contact hole 230 and the first contact hole 230 which is formed to expose a part of the source electrode or the drain electrodes 220a and 220b ( 232) may be included.

또한 액정표시패널(200)은, 게이트라인(212)과 이격하여 위치하고 게이트(212a)와 같은 물질로 이루어진 공통라인(212b), 다층구조의 게이트절연막(미도시)과 다층구조의 보호층(미도시)과 색변환층(미도시)과 감광성 물질층(미도시)에 형성되어 공통라인(212b)의 일부를 노출시키는 제2컨택홀(234) 및 제2컨택홀(234)을 통해 공통라인(212b)에 연결되는 공통전극(236)을 추가로 포함할 수 있다.In addition, the liquid crystal display panel 200 is positioned apart from the gate line 212 and includes a common line 212b made of the same material as the gate 212a, a multilayered gate insulating layer (not shown), and a multilayered protective layer (not shown). A common line through the second contact hole 234 and the second contact hole 234 which are formed on the color conversion layer (not shown) and the photosensitive material layer (not shown) to expose a part of the common line 212b. It may further include a common electrode 236 connected to (212b).

한편 액정표시패널(200)은, 데이터라인(220)에 연결되어 데이터신호를 공급하는 데이터패드(237)와, 다층구조의 보호층(미도시)에 형성되어 데이터패드(237)의 데이터패드 하부전극(220c)의 일부를 노출시키는 제3컨택홀(238)과, 제3컨택홀(238)을 통해 데이터패드 하부전극(220c)에 연결되는 데이터패드 상부전극(240)을 추가로 포함할 수 있다.Meanwhile, the liquid crystal display panel 200 is formed on a data pad 237 connected to the data line 220 to supply a data signal, and a protective layer (not shown) having a multilayer structure, and is formed under the data pad of the data pad 237. A third contact hole 238 exposing a portion of the electrode 220c, and a data pad upper electrode 240 connected to the data pad lower electrode 220c through the third contact hole 238 may be additionally included. have.

또한 액정표시패널(200)은, 게이트라인(212)에 연결되어 게이트신호를 공급하고 게이트패드(241)와, 제1게이트절연막(미도시)과 다층구조의 보호층(미도시)에 형성되어 게이트패드(241)의 게이트패드 하부전극(212c)의 일부를 노출시키는 제4컨택홀(242)과, 제4컨택홀(242)을 통해 게이트패드 하부전극(212c)에 연결되는 게이트패드 상부전극(244)을 포함할 수 있다.In addition, the liquid crystal display panel 200 is connected to the gate line 212 to supply a gate signal, and is formed on the gate pad 241, a first gate insulating film (not shown), and a multilayered protective layer (not shown). A fourth contact hole 242 exposing a portion of the gate pad lower electrode 212c of the gate pad 241 and a gate pad upper electrode connected to the gate pad lower electrode 212c through the fourth contact hole 242 (244) may be included.

도 2의 액정표시패널(200)은 일예로서, 액정이 2개의 도메인(two domain) 배향 구조를 이루는 S-IPS(Super In-Plane Switching) 모드를 도시하였으나, 실시예들은 이에 제한되지 않고, 한 개의 도메인 배향구조를 갖는 IPS(In-Plane Switching) 모드, 화소전극과 공통전극이 동일 평면 상에 있지 않은 FFS(Fringe Field Switching) 모드일 수 있다. As an example, the liquid crystal display panel 200 of FIG. 2 illustrates an S-IPS (Super In-Plane Switching) mode in which a liquid crystal forms a two domain alignment structure, but embodiments are not limited thereto. An IPS (In-Plane Switching) mode having a domain alignment structure, and a FFS (Fringe Field Switching) mode in which the pixel electrode and the common electrode are not on the same plane may be used.

액정표시패널(200)은 다수의 배선 라인을 포함할 수 있고, 다수의 배선 라인은 제1방향(도 2에서 가로방향)으로 스캔 신호(또는 게이트 신호)를 전달하는 게이트라인(212)과 제2방향(도 2에서 세로방향)으로 서로 이격하여 데이터 신호 전달용 데이터라인(220), 게이트라인(212)과 이격하여 형성된 공통라인(212b)을 포함할 수 있다. 이때 게이트라인(212)과 공통라인(212b)은 나란히 형성될 수 있다. 게이트라인(212)은 가로방향으로 게이트패드(241)까지 길게 연장되어 있고, 데이터라인(220)은 세로방향으로 데이터패드(237)까지 길게 연장되어 있다.The liquid crystal display panel 200 may include a plurality of wiring lines, and the plurality of wiring lines include a gate line 212 and a gate line 212 transmitting a scan signal (or gate signal) in a first direction (a horizontal direction in FIG. 2). A data line 220 for transmitting a data signal and a common line 212b formed to be spaced apart from the gate line 212 may be separated from each other in two directions (vertical direction in FIG. 2). At this time, the gate line 212 and the common line 212b may be formed side by side. The gate line 212 extends long to the gate pad 241 in the horizontal direction, and the data line 220 extends to the data pad 237 in the vertical direction.

게이트라인(212), 공통라인(212b) 및 데이터라인(220)은 저저항 특성을 갖는 금속물질, 예를 들어 구리(Cu), 구리 합금, 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 몰리브덴(Mo) 및 몰리브덴 합금(MoTi) 중 선택된 하나 또는 둘 이상의 물질의 단일층 또는 다층 구조를 가질 수 있다.The gate line 212, the common line 212b, and the data line 220 are metal materials having low resistance characteristics, such as copper (Cu), copper alloy, aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), molybdenum ( Mo) and molybdenum alloy (MoTi) may have a single-layer or multi-layered structure of one or more materials selected from.

전기적 연결관계에 있어서, 게이트라인(212)과 일단이 연결된 게이트(212a), 반도체층(218a), 데이터라인(220)과 일단이 연결된 소스 또는 드레인전극(220a), 제1컨택홀(230)을 통해 화소전극(232)과 연결된 드레인 또는 소스전극(220b)이 트랜지스터를 구성한다. 한편, 공통전극(236)은 제2컨택홀(234)을 통해 공통라인(212b)과 연결된다.In the electrical connection relationship, a gate 212a having one end connected to the gate line 212, a semiconductor layer 218a, a source or drain electrode 220a having one end connected to the data line 220, and a first contact hole 230 The drain or source electrode 220b connected to the pixel electrode 232 through the transistor constitutes a transistor. Meanwhile, the common electrode 236 is connected to the common line 212b through the second contact hole 234.

액정표시패널(200)의 전기적 기능을 살펴보면, 먼저, 게이트라인(212)은 트랜지스터의 게이트전극(212a)에 게이트신호를 공급한다. 데이터라인(220)은 트랜지스터의 드레인 또는 소스전극(220b)을 통해 화소전극(232)에 화소신호를 공급한다. 한편 게이트라인(212)과 데이터라인(220)은 교차구조로 형성되어 화소영역을 정의한다. 공통라인(212b)은 액정 구동을 위한 기준전압을 공통전극(236)에 공급한다. Looking at the electrical function of the liquid crystal display panel 200, first, the gate line 212 supplies a gate signal to the gate electrode 212a of the transistor. The data line 220 supplies a pixel signal to the pixel electrode 232 through the drain or source electrode 220b of the transistor. Meanwhile, the gate line 212 and the data line 220 are formed in an intersecting structure to define a pixel region. The common line 212b supplies a reference voltage for driving the liquid crystal to the common electrode 236.

이에 따라, 트랜지스터를 통해 화소신호가 공급된 화소전극(232)과 공통라인(212b)을 통해 기준전압이 공급된 공통전극(236) 사이에는 수평전계가 형성된다. 수평전계에 의해 트랜지스터가 형성된 기판과 상부기판 사이에서 수평방향으로 배열된 액정 분자들이 유전 이방성에 의해 회전하게 된다. 액정 분자들의 회전 정도에 따라 화소 영역을 투과하는 광 투과율이 달라지게 됨으로써 화상을 구현하게 된다.Accordingly, a horizontal electric field is formed between the pixel electrode 232 supplied with the pixel signal through the transistor and the common electrode 236 supplied with the reference voltage through the common line 212b. Liquid crystal molecules arranged in a horizontal direction between the substrate on which the transistor is formed and the upper substrate by the horizontal electric field are rotated by dielectric anisotropy. An image is realized by changing the light transmittance through the pixel region according to the degree of rotation of the liquid crystal molecules.

이하에서는 실시예들에 따라 도 2의 I-I', II-II', III-III', IV-IV'를 절단한 부분에 해당하는 단면도들을 통해 액정표시패널(200)의 구조를 설명한다.Hereinafter, the structure of the liquid crystal display panel 200 will be described through cross-sectional views corresponding to portions cut along lines I-I', II-II', III-III', and IV-IV' of FIG. 2 according to embodiments. .

도 3은 일실시예에 따라 도 2의 I-I', II-II', III-III', IV-IV'를 절단한 액정표시패널의 일예의 개략적인 단면도이다.FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of an example of a liquid crystal display panel cut along lines II', II-II', III-III', and IV-IV' of FIG. 2 according to an exemplary embodiment.

도 2 및 도 3의 I-I' 부분을 참조하면, 액정표시패널(300)은 기판(310) 상에 일방향(도 2에서 가로방향)으로 형성된 게이트라인(GL, 212) 및 일방향에 수직방향(도 2에서 세로방향)으로 교차 형성된 데이터라인(220)의 교차부에 위치하는 트랜지스터를 포함할 수 있다. 여기서 트랜지스터는 게이트라인(212)에 연결된 게이트(312a) 상에 기판(310)의 전면에 형성되고 게이트(312a)를 덮는 제1게이트절연막(314), 제1게이트절연막(314) 상에 형성되고 게이트(312a)와 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)에 대응하여 위치하는 제2게이트절연막(316a), 제1게이트절연막(314)과 제2게이트절연막(316a) 상에 위치하는 반도체층(318a)과 소스전극 및 드레인전극(320a, 320b)을 포함할 수 있다. 2 and 3, the liquid crystal display panel 300 includes gate lines GL and 212 formed on the substrate 310 in one direction (horizontal direction in FIG. 2) and a direction perpendicular to one direction (FIG. 2) may include a transistor positioned at an intersection of the data lines 220 intersected in the vertical direction. Here, the transistor is formed on the front surface of the substrate 310 on the gate 312a connected to the gate line 212 and is formed on the first gate insulating layer 314 and the first gate insulating layer 314 covering the gate 312a. The second gate insulating layer 316a positioned to correspond to the gate 312a and the source or drain electrodes 320a and 320b, and a semiconductor layer positioned on the first gate insulating layer 314 and the second gate insulating layer 316a. 318a) and source and drain electrodes 320a and 320b.

한편, 액정표시패널(300)은 트랜지스터 상에 위치하고 산화실리콘 계열의 물질로 이루어진 제1보호층(322), 제1보호층(322) 상에 위치하고 질화실리콘 계열의 물질로 이루어진 제2보호층(324), 제2보호층(324) 상에 위치하는 색변환층(326), 색변환층(326) 상에 위치하는 감광성 물질층(328), 제1보호층(322)과 제2보호층(324)과 색변환층(326)과 감광성 물질층(328)에 관통하여 형성되어 소스전극 또는 상기 드레인전극(320a, 320b)의 일부를 노출시키는 제1컨택홀(330) 및 제1컨택홀(330)을 통해 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)에 연결된 화소전극(332)을 포함할 수 있다.Meanwhile, the liquid crystal display panel 300 includes a first protective layer 322 positioned on a transistor and made of a silicon oxide-based material, and a second protective layer 322 positioned on the first protective layer 322 and made of a silicon nitride-based material ( 324), a color conversion layer 326 disposed on the second passivation layer 324, a photosensitive material layer 328 disposed on the color conversion layer 326, a first passivation layer 322 and a second passivation layer A first contact hole 330 and a first contact hole formed through the color conversion layer 326 and the photosensitive material layer 328 to expose a portion of the source electrode or the drain electrodes 320a and 320b A pixel electrode 332 connected to the source or drain electrodes 320a and 320b through 330 may be included.

기판(310)은 글래스(Glass) 기판뿐만 아니라, PET(Polyethylen terephthalate), PEN(Polyethylen naphthalate), 폴리이미드(Polyimide) 등을 포함하는 플라스틱 기판 등일 수 있다. 또한, 제 1 기판(310) 상에는 불순원소의 침투를 차단하기 위한 버퍼층(buffering layer)이 더 구비될 수 있다. 버퍼층은 예를 들어 질화실리콘 또는 산화실리콘의 단일층 또는 다수층으로 형성될 수 있다.The substrate 310 may be not only a glass substrate, but also a plastic substrate including polyethylen terephthalate (PET), polyethylen naphthalate (PEN), polyimide, or the like. In addition, a buffering layer for blocking penetration of impurity elements may be further provided on the first substrate 310. The buffer layer may be formed of, for example, a single layer or multiple layers of silicon nitride or silicon oxide.

게이트라인(212)에 연결된 게이트(312a)는 Al, Pt, Pd, Ag, Mg, Au, Ni, Nd, Ir, Cr, Li, Ca, Mo, Ti, W, Cu 중 적어도 하나 이상의 금속 또는 합금으로, 단일층 또는 다수층으로 형성될 수 있다.The gate 312a connected to the gate line 212 is at least one metal or alloy among Al, Pt, Pd, Ag, Mg, Au, Ni, Nd, Ir, Cr, Li, Ca, Mo, Ti, W, and Cu. As such, it may be formed as a single layer or multiple layers.

한편, 제1게이트절연막(314)과 제2게이트절연막(316)은 SiOx, SiNx, SiON, Al2O3, TiO2, Ta2O5, HfO2, ZrO2, BST, PZT와 같은 무기절연물질 또는 예를 들어 벤조사이클로부텐(BCB)과 아크릴(acryl)계 수지(resin)를 포함하는 유기절연물질, 또는 이들의 조합으로 이루어질 수 있다. 또한 제1게이트절연막(314)과 제2게이트절연막(316)은 같은 물질일 수도 있고, 상이한 물질로 이루어질 수도 있다.On the other hand, the first gate insulating layer 314 and the second gate insulating layer 316 are SiOx, SiNx, SiON, Al2O3, TiO2, Ta2O5, HfO2, ZrO2, BST, inorganic insulating material such as PZT or, for example, benzocyclobutene ( BCB) and an organic insulating material including an acrylic (acryl) resin, or a combination thereof. Also, the first gate insulating layer 314 and the second gate insulating layer 316 may be made of the same material or different materials.

반도체층(318a)은, 예를 들어, IGZO(Indium Galium Zinc Oxide), ZTO(Zinc Tin Oxide), ZIO(Zinc Indium Oxide) 중 어느 하나의 징크옥사이드계 산화물일 수 있으나 이에 제한되지 않는다.The semiconductor layer 318a may be, for example, a zinc oxide-based oxide of any one of IGZO (Indium Galium Zinc Oxide), ZTO (Zinc Tin Oxide), and ZIO (Zinc Indium Oxide), but is not limited thereto.

한편, 화소전극(332)에 전기적으로 연결되는 소스전극 및 드레인전극(320a, 320b)은, 예를 들어, Al, Pt, Pd, Ag, Mg, Au, Ni, Nd, Ir, Cr, Li, Ca, Mo, Ti, W, Cu 중 어느 하나의 금속 또는 이들의 합금으로, 단일층 또는 다수층으로 형성될 수 있다.Meanwhile, the source and drain electrodes 320a and 320b electrically connected to the pixel electrode 332 are, for example, Al, Pt, Pd, Ag, Mg, Au, Ni, Nd, Ir, Cr, Li, Ca, Mo, Ti, W, Cu, any one metal or an alloy thereof, may be formed in a single layer or multiple layers.

소스전극 및 드레인전극(320a, 320b) 사이에는 에치 스토퍼(etch stopper)가 형성될 수 있으나, 도 3의 경우, 설명의 편의를 위하여 BCE(Back Channel Etch) 방식의 트랜지스터를 도시하였다. 또한 설명의 편의를 위하여 산화물 트랜지스터(Oxide TFT)를 도시하였다. 실시예들은 이에 제한되지 않는다.An etch stopper may be formed between the source electrode and the drain electrodes 320a and 320b, but in the case of FIG. 3, a BCE (Back Channel Etch) type transistor is illustrated for convenience of description. Also, for convenience of explanation, an oxide transistor (Oxide TFT) is illustrated. The embodiments are not limited thereto.

소스전극 및 드레인전극(320a, 320b)과 노출된 반도체층(318a) 상에는 제1보호층(322)과 제2보호층(324)이 형성될 수 있다. 구체적으로, 일실시예에 따른 액정표시패널(300)의 제1보호층(322)은 산화실리콘(SiOx) 계열의 물질로 형성될 수 있고, 제2보호층(324)은 질화실리콘(SiNx) 계열의 물질로 형성될 수 있으나 이에 제한되지 않는다. 질화실리콘 계열의 물질을 노출된 반도체층(318a) 상에 형성할 경우, 공정 중의 SiH4 가스로 인한 수소 생성으로 인해 반도체층(318a)의 물성이 변동될 수 있기 때문에, 제1보호층(322)을 산화실리콘으로 형성할 수 있다.A first protective layer 322 and a second protective layer 324 may be formed on the source and drain electrodes 320a and 320b and the exposed semiconductor layer 318a. Specifically, the first protective layer 322 of the liquid crystal display panel 300 according to the exemplary embodiment may be formed of a silicon oxide (SiOx)-based material, and the second protective layer 324 is silicon nitride (SiNx). It may be formed of a series of materials, but is not limited thereto. When a silicon nitride-based material is formed on the exposed semiconductor layer 318a, since the physical properties of the semiconductor layer 318a may change due to hydrogen generation due to SiH4 gas during the process, the first protective layer 322 It can be formed of silicon oxide.

제1보호층(322)과 제2보호층(324)은 수소와 수분 등의 외부 환경으로부터 반도체층을 보호하기 위한 층들로서, 일반적인 액정표시패널이 하나의 층으로 이루어진 보호층을 구비하는 것에 비하여, 트랜지스터를 효과적으로 보호할 수 있다. 또한 제1보호층(322)과 제2보호층(324)은 설명의 편의를 위한 것이고, 3층 이상의 다수층으로 형성될 수도 있다.The first protective layer 322 and the second protective layer 324 are layers for protecting the semiconductor layer from external environments such as hydrogen and moisture, compared with a general liquid crystal display panel having a protective layer composed of one layer. , The transistor can be effectively protected. In addition, the first protective layer 322 and the second protective layer 324 are for convenience of description, and may be formed of three or more layers.

한편, 제2보호층(324) 상에는 색변환층(326)이 형성된다. 도면에 표시되지는 않았지만, 색변환층(326)은 각 화소영역에 대응하여 적색, 녹색, 청색의 색변환층(326)이 순차적으로 반복되는 형태로 구비된다. Meanwhile, a color conversion layer 326 is formed on the second protective layer 324. Although not shown in the drawing, the color conversion layer 326 is provided in a form in which red, green, and blue color conversion layers 326 are sequentially repeated corresponding to each pixel area.

색변환층(326) 상의 감광성 물질층(328)이 형성된다. 일예로서 감광성 물질층(328) 포토아크릴 계열의 감광성 물질일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 감광성 물질층(328)은 하부층들을 보호하고, 후에 설명할 식각 공정 상에서 마스크로서 역할을 하여 공정을 단순화시킨다.A photosensitive material layer 328 on the color conversion layer 326 is formed. As an example, the photosensitive material layer 328 may be a photoacrylic photosensitive material, but is not limited thereto. The photosensitive material layer 328 protects the lower layers and serves as a mask in an etching process to be described later to simplify the process.

도 2와 도 3의 II-II'를 참조하면, 액정표시패널(300)은, 게이트라인(212)과 이격하여 위치하고 게이트(312a)와 같은 물질로 이루어진 공통라인(312b), 제1게이트절연막(314)과 제1보호층(322)과 제2보호층(324)과 색변환층(326)과 감광성 물질층(328)에 형성되어 공통라인(312b)의 일부를 노출시키는 제2컨택홀(334) 및 제2컨택홀(334)을 통해 공통라인(312b)에 연결되는 공통전극(336)을 추가로 포함할 수 있다.Referring to II-II' of FIGS. 2 and 3, the liquid crystal display panel 300 is positioned apart from the gate line 212 and includes a common line 312b made of the same material as the gate 312a, and a first gate insulating layer. A second contact hole formed on the 314, the first protective layer 322, the second protective layer 324, the color conversion layer 326, and the photosensitive material layer 328 to expose a part of the common line 312b A common electrode 336 connected to the common line 312b through 334 and the second contact hole 334 may be additionally included.

여기서, II-II'에는 I-I'의 단면과 달리 제2게이트절연막(316a)이 존재하지 않는다. 따라서 후술하겠지만, 식각 공정을 통해 제거될 부분의 두께가 작기 때문에, 식각 시간에 따라 컨택홀의 크기(size)가 지나치게 커지는 문제를 방지할 수 있게 된다.Here, in II-II', unlike the cross section of I-I', the second gate insulating layer 316a does not exist. Therefore, as will be described later, since the thickness of the portion to be removed through the etching process is small, it is possible to prevent the problem that the size of the contact hole becomes too large according to the etching time.

한편, 도 2와 도 3의 III-III'와 IV-IV'를 참조하면, 액정표시패널(300)은, 데이터라인(220)에 연결되어 데이터신호를 공급하는 데이터패드(237)와, 제1보호층(322)에 형성되어 데이터패드(237)의 데이터패드 하부전극(320c)의 일부를 노출시키는 제3컨택홀(338)과, 제3컨택홀(338)을 통해 데이터패드 하부전극(320c)에 연결되는 데이터패드 상부전극(340)을 추가로 포함할 수 있다. 또한 게이트라인(212)에 연결되어 게이트신호를 공급하는 게이트패드(241)와, 제1게이트절연막(314)과 제1보호층(322)에 형성되어 게이트패드(241)의 게이트패드 하부전극(312c)의 일부를 노출시키는 제4컨택홀(342)과, 제4컨택홀(342)을 통해 게이트패드 하부전극(312c)에 연결되는 게이트패드 상부전극(344)을 포함할 수 있다.Meanwhile, referring to III-III' and IV-IV' of FIGS. 2 and 3, the liquid crystal display panel 300 includes a data pad 237 connected to a data line 220 to supply a data signal, and 1 The data pad lower electrode is formed on the protective layer 322 to expose a part of the data pad lower electrode 320c of the data pad 237 through the third contact hole 338 and the third contact hole 338. A data pad upper electrode 340 connected to 320c) may be additionally included. In addition, the gate pad 241 connected to the gate line 212 to supply a gate signal, and the gate pad lower electrode of the gate pad 241 are formed on the first gate insulating layer 314 and the first protective layer 322. A fourth contact hole 342 exposing a portion of the 312c) and a gate pad upper electrode 344 connected to the gate pad lower electrode 312c through the fourth contact hole 342 may be included.

여기서 제4컨택홀(342)의 경우, 전술한 것과 같이 일반적인 액정표시패널에 비해 식각 공정으로 제거될 부분의 두께가 작아짐으로 인해, 제4컨택홀(342)의 크기가 제어될 수 있다는 이점이 있다.Here, in the case of the fourth contact hole 342, as described above, the size of the fourth contact hole 342 can be controlled because the thickness of the portion to be removed by the etching process is smaller than that of a general liquid crystal display panel. have.

도 4는 다른 실시예에 따라 도 2의 I-I', II-II', III-III', IV-IV'를 절단한 액정표시패널의 일예의 개략적인 단면도이다.FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of an example of a liquid crystal display panel cut along lines I-I', II-II', III-III', and IV-IV' of FIG. 2 according to another embodiment.

다른 실시예에 따른 액정표시패널(400)은 일실시예와 비교하면, 제2게이트절연막(416)이 기판(310)의 전면에 형성되고, 제2보호층(424)이 I-I'와 II-II'에 걸쳐 감광성 물질층(328) 상에 위치한다. 나머지 구성요소의 경우, 일실시예와 동일하기 때문에 설명을 생략한다.In the liquid crystal display panel 400 according to another exemplary embodiment, compared to the exemplary embodiment, the second gate insulating layer 416 is formed on the entire surface of the substrate 310, and the second protective layer 424 is formed with I-I′. It is located on the photosensitive material layer 328 over II-II'. In the case of the remaining components, descriptions are omitted because they are the same as in the embodiment.

다른 실시예에 따른 액정표시패널(400)은 제1보호층(322)이 수분과 수소 등의 외부환경으로부터 트랜지스터의 반도체층(318a), 게이트패드 하부전극(312c), 데이터패드 하부전극(320c)을 보호하고, 이에 더하여 제2보호층(424)이 이차적인 보호층의 역할을 함으로써, 액정표시패널의 수명이 증대될 수 있다.In the liquid crystal display panel 400 according to another exemplary embodiment, the first protective layer 322 is provided with the semiconductor layer 318a, the gate pad lower electrode 312c, and the data pad lower electrode 320c from an external environment such as moisture and hydrogen. ), and in addition, the second protective layer 424 serves as a secondary protective layer, so that the life of the liquid crystal display panel may be increased.

도 5a 내지 도 5k는 또다른 실시예에 따른 액정표시패널의 제조방법을 나타내는 도면들이다. 도 5a 내지 도 5k는 설명의 편의를 위하여 도 2의 I-I' 부분만의 제조방법을 도시하였지만, II-II', III-III', IV-IV' 부분에도 같은 공정이 적용됨을 유의하여야 한다.5A to 5K are diagrams illustrating a method of manufacturing a liquid crystal display panel according to another exemplary embodiment. 5A to 5K illustrate the manufacturing method of only the part I-I' of FIG. 2 for convenience of explanation, but it should be noted that the same process is applied to the parts II-II', III-III', and IV-IV'.

도 2, 도 3, 도 5a 내지 도 5k를 참조하면, 우선 기판(310) 상에 게이트(312a)와 제1게이트절연막(314)을 형성하고, 제2게이트절연막 물질층(316a'), 반도체 물질층(318a') 및 소스/드레인 물질층(320a')을 순차적으로 적층하는 단계가 수행된다.2, 3, and 5A to 5K, first, a gate 312a and a first gate insulating layer 314 are formed on a substrate 310, and a second gate insulating layer material layer 316a', a semiconductor A step of sequentially stacking the material layer 318a' and the source/drain material layer 320a' is performed.

다시 말해서, 물리적 세정이나 화학적 세정방법을 통해 기판을 세정하고, 스퍼터링(sputtering) 등으로 증착을 한 후, 첫번째 마스크를 통해 포토리소그래피 공정으로 게이트(312a), 공통라인(312b), 게이트패드 하부전극(312c)을 패터닝(patterning)한다. 이후 스퍼터링 또는 기상증착 방식으로 제1게이트절연막(314)을 형성하고, 제2게이트절연막 물질층(316a'), 반도체 물질층(318a'), 소스/드레인 물질층(320a'), 데이터패드(237)의 데이터패드 하부전극(320c) 등을 순차적으로 적층한다.In other words, after cleaning the substrate through a physical or chemical cleaning method, depositing by sputtering, etc., the gate 312a, the common line 312b, and the lower electrode of the gate pad are photolithographic through the first mask. (312c) is patterned. Thereafter, the first gate insulating layer 314 is formed by sputtering or vapor deposition, and the second gate insulating layer material layer 316a', the semiconductor material layer 318a', the source/drain material layer 320a', and the data pad ( The data pad lower electrode 320c of 237 is sequentially stacked.

도 5b와 도 5c는 소스/드레인 물질층(320a') 상에 포토레지스트 물질을 도포하고, 하프톤(halftone) 마스크(550)를 통해 포토레지스트 패턴(548)을 형성하며, 포토레지스트 패턴(548)이 도포되지 않은 영역의 반도체 물질층(318a')과 소스/드레인 물질층(320a')을 제거하는 제1식각 단계를 도시한다.5B and 5C, a photoresist material is applied on the source/drain material layer 320a', a photoresist pattern 548 is formed through a halftone mask 550, and the photoresist pattern 548 A first etching step of removing the semiconductor material layer 318a' and the source/drain material layer 320a' in a region to which) is not applied is shown.

이하에서는 광이 투과된 영역의 포토레지스트 물질이 제거되는 포지티브(positive) 방식을 설명하지만, 네거티브(negative) 방식에 의할 수도 있다.Hereinafter, a positive method in which the photoresist material in a light-transmitting region is removed will be described, but a negative method may also be used.

여기서 하프톤 마스크(550)는 투과영역(550a), 차단영역(550b), 반투과영역(550c)을 포함하고, 감광성 물질로 이루어진 포토레지스트 물질에 노광하고 현상(development)함으로써, 반투과영역(550c)에 대응되는 영역의 포토레지스트 패턴(528)의 높이(h2)가 차단영역(550b)의 포토레지스트 패턴(548)의 높이(h1)보다 낮을 수 있다(h2<h1). Here, the halftone mask 550 includes a transmissive region 550a, a blocking region 550b, and a transflective region 550c, and is exposed to a photoresist material made of a photosensitive material and developed by developing the transmissive region ( The height h2 of the photoresist pattern 528 in the region corresponding to 550c) may be lower than the height h1 of the photoresist pattern 548 in the blocking region 550b (h2<h1).

제1식각 단계는 습식 식각(wet etching) 방식일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.The first etching step may be a wet etching method, but is not limited thereto.

도 5d를 참조하면, 포토레지스트 패턴(548)이 도포되지 않은 영역의 제2게이트절연막 물질층(316a')을 제거하여 제2게이트절연막을 형성하는 제2식각 단계를 도시한다.Referring to FIG. 5D, a second etching step of forming a second gate insulating layer by removing the second gate insulating layer material layer 316a' in a region where the photoresist pattern 548 is not applied is illustrated.

제2식각 단계는 플라즈마 식각 또는 반응성 이온 식각(reactive ion etching) 등의 건식 식각(dry etching) 방식일 수 있고, 산화 실리콘 계열의 물질과 질화 실리콘 계열의 물질의 선택비를 활용하여 제1게이트절연막(314)은 남기고, 제2게이트절연막 물질층(316a')만을 식각할 수 있다. 여기서 제2식각 단계는 제1식각 단계에서 사용한 포토레지스트 패턴(548)을 그대로 활용하여 제2게이트절연막(316a)을 형성할 수 있어, 공정이 간편해지고, 제조원가를 절감할 수 있게 된다.The second etching step may be a dry etching method such as plasma etching or reactive ion etching, and the first gate insulating layer is formed using a selectivity ratio between a silicon oxide-based material and a silicon nitride-based material. Leaving the 314, only the second gate insulating layer material layer 316a' may be etched. Here, in the second etching step, the second gate insulating layer 316a may be formed by using the photoresist pattern 548 used in the first etching step as it is, thereby simplifying the process and reducing the manufacturing cost.

도 5e는 포토레지스트 패턴(548)의 일부를 제거하여 소스/드레인 물질층(320a")의 일부를 노출시키는 에싱(ashing) 단계를 도시한다.5E illustrates an ashing step of removing a portion of the photoresist pattern 548 to expose a portion of the source/drain material layer 320a".

에싱 가스를 통한 에싱 공정으로 포토레지스트 패턴(548)의 높이를 h2 만큼 낮추어 h2-h1의 높이를 갖는 포토레지스트 패턴(548)이 잔류하게 된다.The height of the photoresist pattern 548 is lowered by h2 by an ashing process using an ashing gas, so that the photoresist pattern 548 having a height of h2-h1 remains.

도 5f는 노출된 소스/드레인 물질층(320a")을 제거하여 소스전극 및 드레인전극(320a, 320b)을 형성하는 제3식각 단계를 도시한다.5F illustrates a third etching step of forming the source and drain electrodes 320a and 320b by removing the exposed source/drain material layer 320a".

제3식각은 습식 식각일 수 있고, 식각 비율 내지 식각 시간의 조절을 통해, 최소한의 반도체층(318a)을 잔류시킬 수 있다(Etch Back 방식).The third etching may be wet etching, and a minimum amount of the semiconductor layer 318a may be left by adjusting an etching rate or an etching time (Etch Back method).

제3식각 단계에서, 도시되지 않았지만, 데이터패드(237)의 제2게이트절연막(316b)과 반도체층(318b)와 데이터패드 하부전극(320c)이 동시에 패터닝(patterning)된다. In the third etching step, although not shown, the second gate insulating layer 316b, the semiconductor layer 318b, and the data pad lower electrode 320c of the data pad 237 are simultaneously patterned.

도 5g는 소스전극 및 드레인전극(320a, 320b) 상에 제1보호층(322)과 제2보호층(324)을 순차적으로 적층하는 단계를 도시한다.5G shows a step of sequentially stacking the first protective layer 322 and the second protective layer 324 on the source and drain electrodes 320a and 320b.

여기서 제1보호층(322)과 제2보호층(324)은 기판(310)의 전면에 걸쳐 증착되어 소스전극 및 드레인전극(320a, 320b), 공통라인(312b), 데이터패드 하부전극(320c), 게이트패드 하부전극(312c)을 덮을 수 있다. Here, the first protective layer 322 and the second protective layer 324 are deposited over the entire surface of the substrate 310 to form the source and drain electrodes 320a and 320b, the common line 312b, and the data pad lower electrode 320c. ), the lower electrode 312c of the gate pad may be covered.

제1보호층(322)과 제2보호층(324)을 통해 액정표시패널(300)의 반도체층(318a)을 외부환경으로부터 보호하여 패널의 수명을 증대시키고, 기생 캐패시턴스(parasitic capacitance) 등을 효과적으로 방지할 수 있다.The semiconductor layer 318a of the liquid crystal display panel 300 is protected from the external environment through the first protective layer 322 and the second protective layer 324 to increase the lifespan of the panel and reduce parasitic capacitance, etc. It can be effectively prevented.

도 5h는 제2보호층(324) 상에 색변환 물질층을 형성하고 소스전극 또는 상기 드레인전극(320a, 320b)의 일부가 노출되도록 패터닝(patterning)하여 색변환층(326)을 형성하는 단계를 도시한다.5H is a step of forming a color conversion layer 326 by forming a color conversion material layer on the second protective layer 324 and patterning a portion of the source electrode or the drain electrodes 320a and 320b to be exposed. Shows.

색변환층(326)은 안료(pigment)에 의한 포토리소그래피 공정으로 형성될 수 있으나, 이에 제한되지 않고 인쇄(printing), 증착(deposition) 등의 방식으로 형성될 수도 있다. 또한 색변환층(326) 형성시 광중합 개시제, 단량체, 바인더(binder) 등이 포함될 수 있다. The color conversion layer 326 may be formed by a photolithography process using a pigment, but is not limited thereto and may be formed by a method such as printing or deposition. In addition, when the color conversion layer 326 is formed, a photopolymerization initiator, a monomer, a binder, and the like may be included.

색변환 물질층이 도포된 후 마스크를 통해 노광하면, 광중합 개시제가 빛을 받아 라디칼에 의한 광중합 반응을 통해 고분자 화합물을 생성하게 된다. 이후 현상(development) 과정을 거치면, 고분자 화합물이 생성되지 않은 영역에 제1컨택홀(330)의 제2영역(330b)가 형성될 수 있다. When the color conversion material layer is applied and exposed through a mask, a photopolymerization initiator receives light and generates a polymer compound through a photopolymerization reaction by radicals. Thereafter, through a development process, a second region 330b of the first contact hole 330 may be formed in a region where the polymer compound is not generated.

도시되지는 않았지만, II-II' 부분의 색변환층(326)도 동시에 형성되며, 제2컨택홀(334)의 제2영역(미도시)도 형성된다.Although not shown, the color conversion layer 326 of the portion II-II' is also formed at the same time, and a second region (not shown) of the second contact hole 334 is also formed.

도 5i는 색변환층(326) 상에 감광성 물질을 도포하고 소스전극 또는 상기 드레인전극(320a, 320b)의 일부가 노출되도록 패터닝하여 감광성 물질층(328)을 형성하는 단계를 도시한다. 구체적으로 감광성 물질은 포토아크릴(photoacryl) 계열의 물질을 포함하는 감광성 수지일 수 있으나 이에 제한되지 않는다.5I illustrates a step of forming the photosensitive material layer 328 by applying a photosensitive material on the color conversion layer 326 and patterning the source electrode or the drain electrodes 320a and 320b to expose portions of the photosensitive material. Specifically, the photosensitive material may be a photosensitive resin including a photoacryl-based material, but is not limited thereto.

감광성 물질을 색변환층(326) 상에 도포한 후 마스크를 통해 노광, 현상하여 제1컨택홀(330)의 제3영역(330c)을 형성한다. 또한 도시되지는 않았지만, II-II' 의 제2컨택홀(334)의 제3영역(미도시) 또한 동시에 형성된다.A photosensitive material is applied on the color conversion layer 326 and then exposed and developed through a mask to form a third region 330c of the first contact hole 330. Further, although not shown, a third area (not shown) of the second contact hole 334 of II-II' is also formed at the same time.

도 5j는 감광성 물질층(328)을 마스크로 하여 제1보호층(322)과 제2보호층(324)을 제거하여 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)의 일부를 노출시키는 제4식각 단계를 도시한다.5J is a fourth etching step of exposing a portion of the source or drain electrodes 320a and 320b by removing the first and second protective layers 322 and 324 using the photosensitive material layer 328 as a mask. Shows.

여기서 제4식각은 건식 식각일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 제4식각 단계에서는, 별도의 마스크를 사용하지 않고, 감광성 수지로 이루어진 감광성 물질층을 마스크로 대체함으로써, 공정 수를 줄일 수 있게 된다. 즉, 포토레지스트를 도포하고 패터닝하는 공정과, 포토레지스트물질을 스트립(strip)하는 공정을 생략할 수 있다. Here, the fourth etching may be dry etching, but is not limited thereto. In the fourth etching step, the number of processes can be reduced by replacing the photosensitive material layer made of a photosensitive resin with a mask without using a separate mask. That is, a process of applying and patterning a photoresist and a process of stripping a photoresist material may be omitted.

식각에 따라 노출된 제1보호층(322)과 제2보호층(324)은 식각되어 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)의 일부가 노출된다. 따라서, 제1컨택홀(330)의 제1영역(330a)가 형성되어 제1컨택홀(330)이 완성된다. The first protective layer 322 and the second protective layer 324 exposed according to the etching are etched to expose a portion of the source or drain electrodes 320a and 320b. Accordingly, the first region 330a of the first contact hole 330 is formed to complete the first contact hole 330.

한편, 제1컨택홀(330)과 같은 방식으로 제2컨택홀(334)가 형성되는데, 또다른 실시예에 따르면, 제2컨택홀(334) 주변에는 제2게이트절연막(316a)이 제거되었으므로, 식각 공정으로 제거되어야할 층들의 두께가 상대적으로 얇을 수 있다. Meanwhile, the second contact hole 334 is formed in the same manner as the first contact hole 330. According to another embodiment, the second gate insulating layer 316a is removed around the second contact hole 334. , The thickness of the layers to be removed by the etching process may be relatively thin.

다시 말해서 식각 공정을 거쳐 제거해야할 구조의 두께가 두꺼울 경우, 식각 시간이 길어져 컨택홀의 크기(size)가 지나치게 커지고, 이로 인해 개구율이 줄어드는 문제가 발생할 수 있는데, 또다른 실시예에 따른 액정표시패널(300)의 제2컨택홀(316a)의 경우에는, 식각 공정 시간이 상대적으로 짧아 홀의 크기를 제어할 수 있는 이점이 있다.In other words, if the thickness of the structure to be removed through the etching process is thick, the etching time is lengthened and the size of the contact hole becomes excessively large, which may cause a problem of reducing the aperture ratio. The liquid crystal display panel according to another embodiment ( In the case of the second contact hole 316a of 300), the etching process time is relatively short, so that the size of the hole can be controlled.

마찬가지로, IV-IV' 부분의 제4컨택홀(342)의 경우에도, 식곡 공정 시간이 짧아 컨택홀의 크기가 지나치게 커지는 것을 방지할 수 있다.Likewise, in the case of the fourth contact hole 342 in the portion IV-IV', the planting process time is short, so that the size of the contact hole may be prevented from becoming too large.

도 5k는 제1컨택홀(330)을 통해 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)에 접촉되는 화소전극(332)을 형성하는 단계를 도시한다.5K illustrates a step of forming the pixel electrode 332 in contact with the source or drain electrodes 320a and 320b through the first contact hole 330.

화소전극(332)은 물리적기상증착이나 화학적기상증착 방식으로 형성될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 또한 화소전극(332)은 소스전극 또는 드레인전극(320a, 320b)에 접촉되어 구동된다.The pixel electrode 332 may be formed by physical vapor deposition or chemical vapor deposition, but is not limited thereto. Further, the pixel electrode 332 is driven by contacting the source or drain electrodes 320a and 320b.

II-II' 영역에는 화소전극(332)과 동시에 공통전극(336)이 형성되어 공통라인(312b)과 연결되고, III-III' 영역에는 데이터패드 상부전극(340)이 형성되어 데이터패드 하부전극(320c)와 연결되며, IV-IV' 영역에는 게이트패드 상부전극(344)이 형성되어 게이트패드 하부전극(312c)와 연결된다.In the area II-II', a common electrode 336 is formed simultaneously with the pixel electrode 332 to be connected to the common line 312b, and in the area III-III', an upper electrode 340 of the data pad is formed to form a lower electrode of the data pad. It is connected to 320c, and a gate pad upper electrode 344 is formed in the region IV-IV' to be connected to the gate pad lower electrode 312c.

또다른 실시예에 따른 액정표시패널(300)의 제조방법은 제2식각 단계에서 제1식각단계에서 형성된 포토레지스트 패턴을 그대로 활용하여 식각 공정을 진행할 수 있고, 제4식각 단계에서 감광성 물질층(328) 마스크로 활용하므로 제조 공정이 간편해지고, 제조 원가가 절감되며, 제조 수율이 향상될 수 있는 이점을 갖는다. 또한 실시예들에서, 컨택홀들(334, 342)의 두께를 최소화하여 컨택홀들(334, 342)의 크기가 지나치게 커지는 문제를 방지하므로, 개구율이 향상될 수 있다. 또한 다층구조의 보호층(322, 324)을 형성하여 트랜지스터 및 공통라인(312b), 데이터패드 하부전극(320c), 게이트패드 하부전극(312c) 등을 외부환경으로부터 효과적으로 보호할 수 있다.In the manufacturing method of the liquid crystal display panel 300 according to another embodiment, the etching process may be performed by using the photoresist pattern formed in the first etching step in the second etching step as it is, and the photosensitive material layer ( 328) Since it is used as a mask, the manufacturing process becomes simple, the manufacturing cost is reduced, and the manufacturing yield can be improved. In addition, in embodiments, since the thickness of the contact holes 334 and 342 is minimized to prevent a problem that the size of the contact holes 334 and 342 becomes excessively large, the aperture ratio may be improved. In addition, by forming the multilayered protective layers 322 and 324, the transistor, the common line 312b, the data pad lower electrode 320c, the gate pad lower electrode 312c, and the like can be effectively protected from an external environment.

이상 도면을 참조하여 실시예들을 설명하였으나 본 발명은 이에 제한되지 않는다.The embodiments have been described above with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto.

이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재될 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥 상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Terms such as "include", "consist of", or "have" described above, unless otherwise stated, mean that the corresponding component may be included, and thus other components are not excluded. It should be interpreted as being able to further include other components. All terms, including technical or scientific terms, unless otherwise defined, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which the present invention belongs. Terms generally used, such as terms defined in the dictionary, should be interpreted as being consistent with the meaning in the context of the related technology, and are not interpreted as ideal or excessively formal meanings unless explicitly defined in the present invention.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
The above description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains will be able to make various modifications and variations without departing from the essential characteristics of the present invention. Accordingly, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical idea of the present invention, but to explain the technical idea, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the scope equivalent thereto should be interpreted as being included in the scope of the present invention.

310: 기판 314: 제1게이트절연막
316a, 316b: 제2게이트절연막 318a: 반도체층
320a, 320b: 소스전극 또는 드레인전극
310: substrate 314: first gate insulating film
316a, 316b: second gate insulating layer 318a: semiconductor layer
320a, 320b: source electrode or drain electrode

Claims (12)

트랜지스터가 형성되는 제1영역, 공통전극이 공통라인과 연결되는 제2영역, 데이터패드 상부전극과 데이터패드 하부전극이 연결되는 제3영역, 및 게이트패드 상부 전극과 게이트패드 하부전극이 연결되는 제4영역을 포함하는 액정표시패널에 있어서,
기판 상에 일방향으로 형성된 게이트라인 및 상기 일방향에 수직 방향으로 교차 형성된 데이터라인의 교차부에 위치하고, 상기 게이트라인에 연결된 게이트 상에 위치하는 게이트절연막과 상기 게이트절연막 상에 위치하는 소스전극 및 드레인전극을 포함하는 상기 트랜지스터;
상기 트랜지스터 상에 위치하는 다층구조의 보호층;
상기 다층구조의 보호층 중 적어도 어느 한층 상에 위치하는 색변환층;
상기 색변환층 상에 위치하는 감광성 물질층;
상기 다층구조의 보호층과 상기 색변환층과 상기 감광성 물질층에 형성되어 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극의 일부를 노출시키는 제1컨택홀; 및
상기 제1컨택홀을 통해 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극에 연결된 화소전극을 포함하되,
상기 게이트절연막은 상기 제1영역에 형성된 다층구조의 게이트절연막과 상기 제2영역 또는 상기 제4영역에 형성된 단층구조의 게이트절연막으로 이루어지는 액정표시패널.
A first region in which a transistor is formed, a second region in which the common electrode is connected to the common line, a third region in which the upper data pad electrode and the lower data pad electrode are connected, and a third region in which the upper electrode of the gate pad and the lower electrode of the gate pad are connected. In the liquid crystal display panel including four areas,
A gate insulating layer positioned on a gate connected to the gate line and a source electrode and a drain electrode positioned on the gate insulating layer, positioned at an intersection of a gate line formed in one direction on a substrate and a data line formed crossing in a direction perpendicular to the one direction The transistor including a;
A multi-layered protective layer on the transistor;
A color conversion layer positioned on at least one of the multilayered protective layers;
A photosensitive material layer on the color conversion layer;
A first contact hole formed in the multilayered protective layer, the color conversion layer, and the photosensitive material layer to expose a portion of the source electrode or the drain electrode; And
A pixel electrode connected to the source electrode or the drain electrode through the first contact hole,
The gate insulating layer includes a multi-layered gate insulating layer formed in the first region and a single-layered gate insulating layer formed in the second region or the fourth region.
제 1항에 있어서,
상기 제2영역은 상기 게이트라인과 이격하여 위치하고 상기 게이트와 같은 물질로 이루어진 공통라인,
상기 단층구조의 게이트절연막과 상기 다층구조의 보호층과 상기 색변환층과 상기 감광성 물질층에 형성되어 상기 공통라인의 일부를 노출시키는 제2컨택홀, 및
상기 제2컨택홀을 통해 상기 공통라인에 연결되는 공통전극을 포함하는 액정표시패널.
The method of claim 1,
The second region is located apart from the gate line and is a common line made of the same material as the gate,
A second contact hole formed in the single-layered gate insulating layer, the multi-layered protective layer, the color conversion layer, and the photosensitive material layer to expose a part of the common line, and
A liquid crystal display panel including a common electrode connected to the common line through the second contact hole.
제 1항에 있어서,
상기 제1영역에 형성된 상기 다층구조의 게이트절연막은 산화실리콘 계열의 물질로 이루어져서 상기 기판의 전면에 형성되고 상기 게이트를 덮는 제1게이트절연막과, 질화실리콘 계열의 물질로 이루어져서 상기 제1게이트절연막 상에 형성되고 상기 게이트와 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극에 대응하여 위치하는 제2게이트절연막으로 이루어지는 액정표시패널.
The method of claim 1,
The multi-layered gate insulating layer formed in the first region is formed of a silicon oxide-based material, is formed on the entire surface of the substrate, and is formed of a silicon nitride-based material, and is formed on the first gate insulating layer. A liquid crystal display panel comprising a second gate insulating layer formed on the gate and corresponding to the source electrode or the drain electrode.
제 1항에 있어서,
상기 다층구조의 보호층은 상기 트랜지스터 상에 위치하고 산화실리콘 계열의 물질로 이루어진 제1보호층과, 상기 제1보호층 상에 위치하고 질화실리콘 계열의 물질로 이루어진 제2보호층으로 이루어지는 액정표시패널.
The method of claim 1,
The multilayered protective layer is a liquid crystal display panel including a first protective layer disposed on the transistor and made of a silicon oxide-based material, and a second protective layer disposed on the first protective layer and made of a silicon nitride-based material.
삭제delete 제 1항에 있어서,
상기 제3영역은 상기 데이터라인에 연결되어 데이터신호를 공급하는 데이터패드,
상기 다층구조의 게이트절연막과 상기 다층구조의 보호층에 형성되어 상기 데이터패드를 구성하는 상기 데이터패드 하부전극의 일부를 노출시키는 제3컨택홀, 및
상기 제3컨택홀을 통해 상기 데이터패드 하부전극에 연결되는 상기 데이터패드 상부전극을 포함하는 액정표시패널.
The method of claim 1,
The third area is a data pad connected to the data line to supply a data signal;
A third contact hole formed in the multilayered gate insulating layer and the multilayered protective layer to expose a portion of the lower electrode of the data pad constituting the data pad, and
A liquid crystal display panel including an upper electrode of the data pad connected to a lower electrode of the data pad through the third contact hole.
제 1항에 있어서,
상기 제4영역은 상기 게이트라인에 연결되어 게이트신호를 공급하는 게이트패드,
상기 단층구조의 게이트절연막과 상기 다층구조의 보호층에 형성되어 상기 게이트패드를 구성하는 상기 게이트패드 하부전극의 일부를 노출시키는 제4컨택홀, 및
상기 제4컨택홀을 통해 상기 게이트패드 하부전극에 연결되는 상기 게이트패드 상부전극을 포함하는 액정표시패널.
The method of claim 1,
A gate pad connected to the gate line to supply a gate signal in the fourth region;
A fourth contact hole formed in the single-layered gate insulating layer and the multi-layered protective layer to expose a portion of the lower electrode of the gate pad constituting the gate pad, and
A liquid crystal display panel including the gate pad upper electrode connected to the gate pad lower electrode through the fourth contact hole.
제 1항에 있어서,
상기 다층구조의 보호층은, 상기 트랜지스터와 상기 색변환층 사이에 위치하는 제1보호층과, 상기 감광성 물질층 상에 위치하는 제2보호층을 포함하고,
상기 제1컨택홀은 상기 제1보호층과 상기 색변환층과 상기 감광성 물질층과 상기 제2보호층에 형성되어 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극을 노출시키는 액정표시패널.
The method of claim 1,
The protective layer of the multilayer structure includes a first protective layer positioned between the transistor and the color conversion layer, and a second protective layer positioned on the photosensitive material layer,
The first contact hole is formed in the first protective layer, the color conversion layer, the photosensitive material layer, and the second protective layer to expose the source electrode or the drain electrode.
트랜지스터가 형성되는 제1영역, 공통전극이 공통라인과 연결되는 제2영역, 데이터패드 상부전극과 데이터패드 하부전극이 연결되는 제3영역, 및 게이트패드 상부 전극과 게이트패드 하부전극이 연결되는 제4영역을 포함하는 액정표시패널의 제조방법에 있어서,
기판 상에 게이트와 제1게이트절연막을 형성하고, 제2게이트절연막 물질층, 반도체 물질층 및 소스/드레인 물질층을 순차적으로 적층하는 단계;
상기 소스/드레인 물질층 상에 포토레지스트 물질을 도포하고, 하프톤(halftone) 마스크를 통해 포토레지스트 패턴을 형성하며, 상기 포토레지스트 패턴이 도포되지 않은 영역의 상기 반도체 물질층과 상기 소스/드레인 물질층을 제거하는 제1식각 단계;
상기 포토레지스트 패턴이 도포되지 않은 상기 제2영역 또는 상기 제4영역에서 상기 제2게이트절연막 물질층을 제거하여 제2게이트절연막을 형성하는 제2식각 단계;
상기 포토레지스트 패턴의 일부를 제거하여 상기 소스/드레인 물질층의 일부를 노출시키는 에싱(ashing) 단계; 및
상기 노출된 소스/드레인 물질층을 제거하여 소스전극 및 드레인전극을 형성하는 제3식각 단계를 포함하는 액정표시패널의 제조방법.
A first region in which a transistor is formed, a second region in which the common electrode is connected to the common line, a third region in which the upper data pad electrode and the lower data pad electrode are connected, and a third region in which the upper electrode of the gate pad and the lower electrode of the gate pad are connected. In the manufacturing method of a liquid crystal display panel including four regions,
Forming a gate and a first gate insulating layer on a substrate, and sequentially stacking a second gate insulating layer material layer, a semiconductor material layer, and a source/drain material layer;
A photoresist material is applied on the source/drain material layer, a photoresist pattern is formed through a halftone mask, and the semiconductor material layer and the source/drain material in a region where the photoresist pattern is not applied A first etching step of removing the layer;
A second etching step of forming a second gate insulating layer by removing the second gate insulating layer material layer from the second area or the fourth area to which the photoresist pattern is not applied;
An ashing step of removing a portion of the photoresist pattern to expose a portion of the source/drain material layer; And
And a third etching step of removing the exposed source/drain material layer to form a source electrode and a drain electrode.
제 9항에 있어서,
상기 제3식각 단계 이후,
상기 소스전극 및 상기 드레인전극 상에 제1보호층과 제2보호층을 순차적으로 적층하는 단계;
상기 제2보호층 상에 색변환 물질층을 형성하고 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극의 일부가 노출되도록 패터닝(patterning)하여 색변환층을 형성하는 단계;
상기 색변환층 상에 감광성 물질을 도포하고 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극의 일부가 노출되도록 패터닝하여 감광성 물질층을 형성하는 단계; 및
상기 감광성 물질층을 마스크(mask)로 하여 상기 제1보호층과 상기 제2보호층을 제거하여 상기 소스전극 또는 상기 드레인전극의 일부를 노출시키는 제4식각 단계를 추가로 포함하는 액정표시패널의 제조방법.
The method of claim 9,
After the third etching step,
Sequentially laminating a first protective layer and a second protective layer on the source electrode and the drain electrode;
Forming a color conversion layer by forming a color conversion material layer on the second protective layer and patterning a portion of the source electrode or the drain electrode to be exposed;
Forming a photosensitive material layer by coating a photosensitive material on the color conversion layer and patterning a portion of the source electrode or the drain electrode to be exposed; And
The liquid crystal display panel further comprising a fourth etching step of exposing a part of the source electrode or the drain electrode by removing the first protective layer and the second protective layer using the photosensitive material layer as a mask. Manufacturing method.
제 9항에 있어서,
상기 제1식각 단계에 사용되는 포토레지스터 패턴 및 상기 제2식각 단계에 사용되는 포토레지스터 패턴은 동일한 포토레지스터 패턴인 액정표시패널의 제조방법.
The method of claim 9,
A method of manufacturing a liquid crystal display panel in which the photoresist pattern used in the first etching step and the photoresist pattern used in the second etching step are the same photoresist pattern.
제 1항에 있어서,
상기 제2영역 또는 상기 제4영역에 형성된 단층구조의 게이트절연막은 산화실리콘 계열의 물질로 이루어진 제1게이트절연막인 액정표시패널.
The method of claim 1,
A single-layered gate insulating layer formed in the second region or the fourth region is a first gate insulating film made of a silicon oxide-based material.
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