KR102175209B1 - Inner Diameter Chip Detecting System - Google Patents

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KR102175209B1
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권양국
서영석
도인찬
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주식회사지코
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Abstract

본 발명은, 일측에 오링홈을 갖는 피검사체를 착탈 가능하게 지지하는 지그프레임과; 상기 오링홈에 근접하는 위치인 검출위치와 상기 검출위치로부터 이격되어 대기하는 대기위치 사이를 이동 가능하게 마련된 검출작동부와; 상기 검출작동부를 회전 가능하게 상기 지그프레임의 타측에 결합된 턴테이블과; 상기 피검사체와 상기 검출작동부에 상호 절연 가능하게 각각 전기적으로 연결된 접지부와; 상기 검출작동부가 상기 검출위치에서 상기 오링홈을 따라 회전하면서 상기 접지부가 전기적으로 연결되는지를 감지하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이에, 본 발명은, 보다 효과적으로 육안으로 확인이 어려운 내경 부위의 가공 후 가공에 따른 칩의 존재여부를 간단하고 편리하게 검사, 확인할 수 있고, 조립 후 가공 부위에 칩이 존재하여 결합된 오일이 손상되어 발생될 수 있는 누유 등의 불량을 미연에 예방할 수 있는 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법을 제공할 수 있다.
The present invention, a jig frame for detachably supporting an object to be inspected having an O-ring groove on one side; A detection operation unit provided to be movable between a detection position that is a position close to the O-ring groove and a standby position that is separated from the detection position to wait; A turntable coupled to the other side of the jig frame so as to rotate the detection operation unit; A grounding part electrically connected to the test object and the detection operation part so as to be mutually insulated; And a control unit that detects whether the ground unit is electrically connected while the detection operation unit rotates along the O-ring groove at the detection position.
Accordingly, in the present invention, it is possible to simply and conveniently inspect and confirm the presence of chips due to processing after processing of an inner diameter portion that is difficult to check with the naked eye. It is possible to provide an inner diameter chip detection system and a detection method thereof capable of preventing defects such as leakage oil that may occur in advance.

Description

내경 칩 검출 시스템 {Inner Diameter Chip Detecting System}Inner Diameter Chip Detecting System

본 발명은 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법과 관련된 것으로, 보다 구체적으로 특히 오링이 결합되는 내경 가공 부위에 가공에 따라 발생한 칩의 존재 유무를 검사, 확인할 수 있도록 구조를 개선한 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an inner diameter chip detection system and a detection method thereof, and more specifically, an inner diameter chip detection system having an improved structure to inspect and confirm the presence or absence of chips generated by processing in an inner diameter processing portion to which an O-ring is coupled, and It relates to the detection method.

인간의 생활에 도움이 되거나 산업 설비 등에는 다양한 종류의 기계가 존재하고 있다.There are various kinds of machines that are helpful in human life or in industrial facilities.

이러한 기계 중에서 실생활에 밀접한 관련이 있는 자동차는 많은 구성품으로 이루어진다. Among these machines, automobiles, which are closely related to real life, consist of many components.

기계를 구성하는 구성품은 그 기능이 매우 다양하다. The components that make up the machine have a wide variety of functions.

볼트, 너트와 같이 각 기계 부품을 상호 체결하는 기능, 체인, 벨트와 같이 동력을 전달하는 기능, 오링이나 패킹과 같이 기밀을 유지하는 기능 등이 이에 포함된다. This includes a function of mutually fastening each mechanical part such as a bolt and a nut, a function of transmitting power such as a chain and a belt, and a function of maintaining airtightness such as an O-ring or packing.

이러한 기능을 유지하기 위하여 각 기계 부품은 볼트가 결합되기 위해서는 나사가 가공되어야 하고, 체인이 결합되기 위해서는 스프로킷이 가공되어야 하며, 오링이 결합되기 위해서는 오링홈이 가공되어야 한다.In order to maintain this function, each machine part needs to have a screw machined in order for the bolt to be coupled, a sprocket needs to be machined for the chain to be coupled, and an O-ring groove for the O-ring to be joined.

이러한 가공이 이루어지고 난 후 가공 부위가 올바르게 가공되었는지 등에 대한 검사, 확인 작업이 이루어져 후 공정에서 문제나 조립 후 문제를 야기시키지 않아야 한다.After such processing is performed, inspection and confirmation of whether or not the processing area is correctly processed should not cause problems in the post process or after assembly.

여기서, 예를 들면, 오링을 포함하는 기밀수단이 결합되는 오링홈을 가공하고 난 후에 오링홈 내부에 가공시 발생한 칩이 존재하는지를 파악하는 것이 바람직하다. 그 이유는 오링홈 내부에 가공시 발생한 칩이 존재한다면 칩의 존재로 인해 오링홈에 결합된 오링이 칩에 의해 손상을 입고 가해는 지속적인 압력이나 반복적인 압력에 의하여 끊어지거나 손상을 입어 본래의 기능을 상실하기 때문이다.Here, for example, after processing the O-ring groove to which the airtight means including the O-ring is coupled, it is desirable to determine whether chips generated during processing are present in the O-ring groove. The reason is that if there is a chip generated during processing inside the O-ring groove, the O-ring bonded to the O-ring groove is damaged by the chip due to the presence of the chip, and the original function is broken or damaged by continuous or repeated pressure applied. Because you lose.

특히, 오링홈 중에서 내경측에 가공되는 오링홈은 확인을 내측에 오목하게 가공되어 있으므로 검사자나 확인자가 육안으로 파악하기도 어려우므로 특수한 지그를 사용하는 것이 매우 바람직하다.In particular, the O-ring groove processed on the inner diameter side of the O-ring grooves is processed to be concave on the inside, so it is difficult for an inspector or confirmer to grasp with the naked eye, so it is very desirable to use a special jig.

[참고문헌][references]

공개특허공보 제10-2008-0068984호 (2008.07.25. 공개)Unexamined Patent Publication No. 10-2008-0068984 (published on 25 July 2008)

등록특허공보 제10-1033208호 (2011.05.06. 공고)Registered Patent Publication No. 10-1033208 (2011.05.06. Announcement)

본 발명의 목적은, 보다 효과적으로 육안으로 확인이 어려운 내경 부위의 가공 후 가공에 따른 칩의 존재여부를 간단하고 편리하게 검사, 확인할 수 있는 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법을 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide an inner diameter chip detection system and a detection method that can more effectively and conveniently inspect and confirm the presence of chips due to processing after processing of an inner diameter portion that is difficult to check with the naked eye.

또한, 본 발명의 다른 목적은, 조립 후 가공 부위에 칩이 존재하여 결합된 오일이 손상되어 발생될 수 있는 누유 등의 불량을 미연에 예방할 수 있는 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법을 제공하는 것이다.In addition, another object of the present invention is to provide an inner diameter chip detection system and a detection method that can prevent in advance defects such as leaks that may occur due to damage to the combined oil due to the presence of chips in the processing area after assembly. .

또한, 본 발명의 또 다른 목적은, 제품에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있는 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법을 제공하는 것이다.In addition, another object of the present invention is to provide an inner diameter chip detection system and a detection method thereof capable of improving the reliability of a product.

본 발명의 목적은, 일측에 오링홈을 갖는 피검사체를 착탈 가능하게 지지하는 지그프레임과; 상기 오링홈에 근접하는 위치인 검출위치와 상기 검출위치로부터 이격되어 대기하는 대기위치 사이를 이동 가능하게 마련된 검출작동부와; 상기 검출작동부를 회전 가능하게 상기 지그프레임의 타측에 결합된 턴테이블과; 상기 피검사체와 상기 검출작동부에 상호 절연 가능하게 각각 전기적으로 연결된 접지부와; 상기 검출작동부가 상기 검출위치에서 상기 오링홈을 따라 회전하면서 상기 접지부가 전기적으로 연결되는지를 감지하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 내경 칩 검출 시스템에 의하여 달성된다.An object of the present invention is a jig frame for detachably supporting an object to be inspected having an O-ring groove on one side; A detection operation unit provided to be movable between a detection position that is a position close to the O-ring groove and a standby position that is separated from the detection position and waits; A turntable coupled to the other side of the jig frame so as to rotate the detection operation unit; A grounding part electrically connected to the test object and the detection operation part so as to be mutually insulated; And a control unit that detects whether the ground unit is electrically connected while the detection operation unit rotates along the O-ring groove at the detection position, and is achieved by the inner diameter chip detection system.

또한, 상기 오링홈은 상기 피검사체의 내측에 형성되고, 상기 제어부에서는 상기 접지부가 통전되는 경우 상기 오링홈 내측에 가공시 발생한 칩을 포함하는 이물질이 존재하는 것으로 판단하는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the O-ring groove is formed inside the object to be inspected, and the control unit determines that foreign matter including chips generated during processing exists inside the O-ring groove when the ground portion is energized.

또한, 상기 피검사체는 자동차 변속기용 부품을 포함하고, 상기 피검사체의 재질은 알루미늄을 포함하는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the object to be inspected includes parts for a vehicle transmission, and the material of the object to be inspected includes aluminum.

또한, 상기 제어부는 상기 접지부가 통전하는 경우 소리, 광을 포함하는 경보신호를 발생시키는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the control unit generates an alarm signal including sound and light when the ground unit is energized.

한편, 본 발명의 목적은, 지그프레임의 일측에 오링홈을 갖는 피검사체를 착탈 가능하게 안착시키는 과정과; 상기 오링홈에 근접하는 위치인 검출위치와 상기 검출위치로부터 이동하여 대기하는 대기위치 사이를 작동 가능하게 마련된 검출작동부를 상기 검출위치에서 회전 가능하게 상기 지그프레임의 타측에 턴테이블을 결합하는 과정과; 접지부를 상기 피검사체와 상기 검출작동부에 상호 절연 가능하게 각각 전기적으로 연결시키는 과정과; 제어부에서 상기 검출작동부가 상기 검출위치에서 상기 오링홈을 따라 회전하면서 상기 접지부가 전기적으로 연결되는지를 감지하는 과정;을 포함하는 것을 특징으로 내경 칩 검출 방법에 의해서도 달성된다.On the other hand, the object of the present invention, and the process of detachably seating a test object having an O-ring groove on one side of the jig frame; Coupling a turntable to the other side of the jig frame so as to be rotatable at the detection position between a detection position that is a position close to the O-ring groove and a standby position moving from the detection position to wait; Electrically connecting a ground part to the test object and the detection operation part so as to be mutually insulated; A process in which the detection operation part rotates along the O-ring groove at the detection position and detects whether the ground part is electrically connected. It is also achieved by the inner diameter chip detection method.

이에, 본 발명에 따르면, 보다 효과적으로 육안으로 확인이 어려운 내경 부위의 가공 후 가공에 따른 칩의 존재여부를 간단하고 편리하게 검사, 확인할 수 있는 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법을 제공할 수 있다.Accordingly, according to the present invention, it is possible to provide an inner diameter chip detection system and a detection method thereof that can more effectively and conveniently inspect and confirm the presence of chips due to processing after processing of an inner diameter portion that is difficult to visually check.

또한, 조립 후 가공 부위에 칩이 존재하여 결합된 오일이 손상되어 발생될 수 있는 누유 등의 불량을 미연에 예방할 수 있는 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법을 제공할 수 있다.In addition, it is possible to provide an inner diameter chip detection system and a detection method thereof capable of preventing in advance defects such as leakage that may occur due to damage to the bonded oil due to the presence of chips in the processing area after assembly.

또한, 제품에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있는 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법을 제공할 수 있다.In addition, it is possible to provide an inner diameter chip detection system and a detection method thereof capable of improving the reliability of a product.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 내경 칩 검출 시스템의 개략도,
도 2a 내지 도 2c는 내경 칩 검출 시스템의 작동 과정을 설명하기 개념도 및 부분 확대 단면도,
도 3은 내경칩 검출 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
1 is a schematic diagram of an inner diameter chip detection system according to an embodiment of the present invention,
2A to 2C are a conceptual diagram and a partially enlarged cross-sectional view illustrating an operation process of the inner diameter chip detection system;
3 is a flow chart for explaining a method for detecting an inner diameter chip.

본 발명의 일실시예에 따른 내경 칩 검출 시스템(1000, 이하에서 '칩 검출 시스템'이라 함) 및 그 방법에 대하여 이하에서 도 1 내지 도 3을 참조하여 구체적으로 설명하면 다음과 같다.An inner diameter chip detection system 1000 (hereinafter referred to as a'chip detection system') and a method thereof according to an embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to FIGS. 1 to 3.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 내경 칩 검출 시스템의 개략도이고, 도 2a 내지 도 2c는 내경 칩 검출 시스템의 작동 과정을 설명하기 개념도 및 부분 확대 단면도이며, 도 3은 내경칩 검출 방법을 설명하기 위한 순서도이다.1 is a schematic diagram of an inner diameter chip detection system according to an embodiment of the present invention, FIGS. 2A to 2C are conceptual diagrams and partially enlarged cross-sectional views illustrating an operation process of an inner diameter chip detection system, and FIG. 3 is a method for detecting an inner diameter chip. This is a flow chart for explanation.

칩 검출 시스템(1000)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 일측에 오링홈(110)을 갖는 피검사체(100)를 착탈 가능하게 지지하는 지그프레임(1330)과; 상기 오링홈(110)에 근접하는 위치인 검출위치(도 2a의 "B" 위치, 도 2b 및 도 1 참조)와 상기 검출위치로부터 이격되어 대기하는 대기위치(도 2b의 "A" 위치 참조) 사이를 이동 가능하게 마련된 검출작동부(1350)와; 상기 검출작동부(1350)를 상기 검출위치에서 회전 가능하게 상기 지그프레임(1330)의 타측에 결합된 턴테이블(1351)과; 상기 피검사체(100)와 상기 검출작동부(1350)에 상호 절연 가능하게 각각 전기적으로 연결된 접지부(1370)와; 상기 검출작동부(1350)가 상기 검출위치에서 상기 오링홈을 따라 회전하면서 상기 접지부(1370)가 전기적으로 연결되는지를 감지하는 제어부(1500);를 구비하는 것이 바람직하다.The chip detection system 1000 includes a jig frame 1330 for detachably supporting the test object 100 having an O-ring groove 110 on one side, as shown in FIG. 1; A detection position that is a position close to the O-ring groove 110 (refer to position "B" in Fig. 2A, Fig. 2B and Fig. 1) and a standby position separated from the detecting position (refer to position "A" in Fig. 2B) A detection operation unit 1350 provided to be movable therebetween; A turntable 1351 coupled to the other side of the jig frame 1330 so as to rotate the detection operation unit 1350 at the detection position; A grounding part 1370 electrically connected to the test object 100 and the detection operation part 1350 so as to be mutually insulated; It is preferable to include a control unit 1500 which detects whether the ground unit 1370 is electrically connected while the detection operation unit 1350 rotates along the O-ring groove at the detection position.

지그프레임(1330)은 본 발명의 구성을 지지하는 구조물로 판재를 절곡하거나 각종 다양한 소재로 이루어질 수 있으며, 본 발명의 일실시예인 도 1에 도시된 바와 같은 자동차 자동변속기용 부품을 착탈 가능하게 안착시키는 피검사체 안착부(1333)를 갖는 것이 바람직하다. 피검사체 안착부(1333)는 피검사체(100)를 검출작동부(1350)가 오링홈(110)의 상태를 검출하는 과정에서 움직이지 않도록 견고하게 고정시키는 미도시된 척과 같은 결합수단을 더 포함할 수 있다.The jig frame 1330 is a structure supporting the configuration of the present invention, and may be made of a variety of materials or bent a plate, and attachable and detachable parts for an automobile automatic transmission as shown in FIG. 1, which is an embodiment of the present invention. It is preferable to have the test subject seating portion (1333). The test subject seating unit 1333 further includes a coupling means such as a chuck, not shown, to firmly fix the test subject 100 so that the detection operation unit 1350 does not move in the process of detecting the state of the O-ring groove 110 can do.

본 발명의 피검사체(100)는 자동차용 자동변속기용 부품을 예로 들었지만, 본 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 피검사체(100)는 전기가 통할 수 있는 재질로 이루어진 것이 바람직하고, 피검사체(100)의 재질이 철이나 알루미늄 등의 전기가 통할 수 있다.Although the subject 100 of the present invention is a component for an automatic transmission for a vehicle, it is not limited to this embodiment. It is preferable that the test object 100 is made of a material capable of passing electricity, and the material of the test object 100 may pass electricity such as iron or aluminum.

검출 대상이 되는 피검사체(100)의 오링홈(110)은 검사자 등이 육안으로 확인이 용이한 피검사체(100)의 외측에 형성된 것보다 특히 구조가 복잡하면서도 내측에 형성된 것을 그 일예로 들 수 있다. 그러나, 오링홈(110)은 반드시 내측에 형성된 것만을 포함하는 것은 아니고 외측에 형성된 것도 포함할 수 있으며 이러한 경우에는 후술하는 핀작동부(1353)의 구조가 변형될 수 있다.For example, the O-ring groove 110 of the object to be detected 100 is formed on the inside while having a particularly complex structure than that formed on the outside of the object to be inspected 100, which can be easily checked with the naked eye. have. However, the O-ring groove 110 does not necessarily include only those formed on the inner side, but may include those formed on the outside, and in this case, the structure of the pin operation unit 1351 to be described later may be modified.

여기서, 오링홈(110)에 가공시에 발생한 칩 등이 존재하는 경우 오링홈(110)에 결합된 오링이 가해지는 압력과 반복되는 가압력 등에 의하여 끊어지거나 손상을 일으켜 기밀을 유지하는 본래의 기능을 상실할 우려가 높다. 이에 본 발명을 도출하여 미연에 이러한 우려를 예방할 수 있다.Here, when chips generated during processing are present in the O-ring groove 110, the original function of maintaining airtightness by causing breakage or damage due to the pressure applied to the O-ring coupled to the O-ring groove 110 and repeated pressing force, etc. There is a high risk of loss. Accordingly, by deriving the present invention, such concerns can be prevented in advance.

절연부(1380)는 각 접지부(1373 및 1375, 도 1 내지 도 2b의 '접지 A' 및 '접지 B' 참조)가 상호 전기적으로 연결되지 않도록 하는 기능을 하며 다양한 절연재를 포함하며, 예를 들면, MC 나일론이 그 예이다. 이러한 절연부(1380)의 위치는 본 실시예와 달리 본 발명의 기술적 사상을 해치지 않은 범위 내에서 변경할 수 있다.The insulating part 1380 functions to prevent the respective ground parts 1373 and 1375 (refer to'Ground A'and'Ground B'in FIGS. 1 to 2B) from being electrically connected to each other, and includes various insulating materials. For example, MC nylon is an example. Unlike the present embodiment, the position of the insulating part 1380 may be changed within a range that does not impair the technical spirit of the present invention.

검출작동부(1350)는, 단부에 오링홈(110)의 형상에 대응한 형상으로 오링홈(110)에 근접되는 검출핀(1355)과, 검출핀(1355)을 대기위치와 검출위치 사이로 이동시킬 수 있도록 예를 들면 압축공기의 공급에 의하여 작동하는 에어척과 같은 핀작동부(1353)를 포함한다. 핀작동부(1353)는 압축공기에 의하여 작동하는 수단뿐만 아니라 검출핀(1355)을 대기위치와 검출위치 사이로 이동시킬 수 있는 유압 타입, 리니어가이드 및 리니어모터 타입 등의 다양한 공지의 수단을 적용할 수 있다.The detection operation unit 1350 moves the detection pin 1355 and the detection pin 1355 between the standby position and the detection position in a shape corresponding to the shape of the O-ring groove 110 at the end. For example, it includes a pin operation unit 1353 such as an air chuck that is operated by supply of compressed air. The pin operation unit 1352 may apply various known means such as a hydraulic type, a linear guide, and a linear motor type capable of moving the detection pin 1355 between the standby position and the detection position, as well as a means operated by compressed air. I can.

검출핀(1355)이 대기위치에 있는 경우 사용자가 피검사체(100)를 지그프레임의 피검사체 안착부(1333)에 착탈할 수 있고, 검출핀(1355)이 검출위치에 있는 경우 검출핀(1355)이 회전하여 오링홈(110)에 칩 등이 존재하는지를 파악할 수 있다.When the detection pin 1355 is in the standby position, the user can attach and detach the test object 100 to the test object seating part 1333 of the jig frame, and when the detection pin 1355 is in the detection position, the detection pin 1355 ) Is rotated to determine whether a chip or the like exists in the O-ring groove 110.

여기서, 홈근접아암(1355a)의 형상은 오목하게 형성된 오링홈(110)에 대응한 형상으로 구비되어 있고, 오링홈(110)과의 간격이 회전하면서 설정된 공차 이내에 존재할 수 있도록 하는 것이 바람직하다.Here, the shape of the groove proximity arm 1355a is provided in a shape corresponding to the concave O-ring groove 110, and it is preferable that the gap with the O-ring groove 110 rotates and exists within a set tolerance.

턴테이블(1351)은 검출핀(1355)이 검출위치에 위치한 상태에서 검출작동부(1350)를 회전시킨다. 턴테이블(1351)은 로터리 액츄에이터를 포함하여 공지된 다양한 종류의 회전 수단을 포함할 수 있다.The turntable 1351 rotates the detection operation unit 1350 with the detection pin 1355 located at the detection position. The turntable 1351 may include various types of known rotating means including a rotary actuator.

이에, 검출핀(1355)이 오링홈(110)을 따라 회전하면서 오링홈(110) 내의 칩과 같은 이물질의 존재여부를 후술하는 바와 같이 접지부(1370)의 통전 내지 설정된 전류치의 변화 등으로 판단할 수 있다.Accordingly, as the detection pin 1355 rotates along the O-ring groove 110, the presence of foreign substances such as chips in the O-ring groove 110 is determined by energization of the ground part 1370 or a change in the set current value, as described later. can do.

접지부(1370)는 오링홈(110) 내부에 전기적으로 통하는 물질, 예를 들면, 가공시에 발생한 칩 등이 존재하는지를 파악하기 위한 수단으로, 피검사체(100)와 전기적으로 연결된 프레임접지부(1375)와, 검출핀(1355)과 전기적으로 연결된 아암접지부(1373)를 포함한다.The ground part 1370 is a means for determining whether there is a material electrically communicating inside the O-ring groove 110, for example, a chip generated during processing, and a frame grounding part electrically connected to the test object 100 ( 1375) and an arm grounding portion 1373 electrically connected to the detection pin 1355.

즉, 접지부(1370)는 오링홈(110)와 홈근접아암(1355a) 사이의 간격에 의하여 전기적으로 연결이 되지 않고 단절된 상태인 것이 바람직하다.That is, it is preferable that the ground part 1370 is in a disconnected state without being electrically connected due to the gap between the O-ring groove 110 and the groove proximity arm 1355a.

여기서, 필요에 따라 제어부(1500)에서 오링홈(110)과 홈근접아암(1355a) 사이의 간격에 간격보다 더 작은 칩이 존재하는 경우 미세한 전류가 흐르도록 제어부(1500)에서 설정을 할 수 있다. 이러한 경우에는 간격보다 큰 칩뿐만 아니라 간격보다 다소 작은 칩도 검출할 수 있다. 또한, 경우에 따라 피검사체(100)가 주조품 등의 경우 오링홈(110)에 존재하는 캐비티(cavity)도 검출할 수 있을 것이다. 예를 들면, 오링홈(110) 사이의 간격에 설정된 전류가 발생하도록 접지부(1370)에 전류 등을 공급하고 검출핀(1355)을 회전시키는 경우 오링홈(110)에 캐비티가 있는 경우에 오링홈(110)과 검출핀(1355) 사이의 간격보다 더 멀어지는 영역이 존재하므로 이 영역에서는 정상적인 경우보다 작은 전류가 흐를 것을 제어부(1500)가 감지할 수 있어 이러한 영역에 제어부(1500)에서는 캐비티가 있다고 판단하여 그 결과를 경보신호 등으로 알려줄 수 있다.Here, if necessary, when a chip smaller than the gap exists in the gap between the O-ring groove 110 and the groove proximity arm 1355a in the controller 1500, the controller 1500 may set a fine current to flow. . In this case, not only chips larger than the interval but also chips slightly smaller than the interval can be detected. In addition, in some cases, when the subject 100 is a cast product, a cavity existing in the O-ring groove 110 may also be detected. For example, when a current is supplied to the ground part 1370 and the detection pin 1355 is rotated so that a current set in the gap between the O-ring grooves 110 is generated, the O-ring when there is a cavity in the O-ring groove 110 Since there is an area farther than the distance between the groove 110 and the detection pin 1355, the control unit 1500 can detect that a smaller current flows in this area than the normal case, and the control unit 1500 can detect the cavity. It is determined that there is, and the result can be informed by an alarm signal or the like.

즉, 제어부(1500)는 접지부(1370)가 상호 전기적으로 연결되는지 또는 설정된 전류량을 벗어나는지를 판단하여 오링홈(110)에 칩을 포함하는 이물질의 존재여부를 판단하는 것이 바람직하다.That is, it is preferable that the controller 1500 determines whether or not a foreign substance including a chip exists in the O-ring groove 110 by determining whether the ground portions 1370 are electrically connected to each other or out of a set amount of current.

제어부(1500)는 전원을 공급하는 수단(미도시), 사용자가 피검사체(100)를 안착시킨 후 작동 버튼을 누르면 자동으로 검출핀(1355)이 대기위치에서 검출위치로 이동한 후 턴테이블이 1회전을 하고 원래의 자리로 검출핀(1355)을 위치시키도록 할 수 있는 조작버튼(미도시), 검출결과를 알려주는 수단(도 1 내지 도 2b의 '양품' 및 '불량' 표시 참조), 불량인 경우 사용자에게 빛, 소리 등으로 알려주는 경보수단(미도시), 검출작동부(1350), 턴테이블(1351)을 작동시키고, 접지부(1370)에서 감지한 결과에 기초하여 이를 관련 구성으로 송수신하는 수단과 자동수동 운전 등을 제어하는 PLC 등을 포함하는 것이 바람직하다.The control unit 1500 is a means for supplying power (not shown), and when the user presses the operation button after seating the test object 100, the detection pin 1355 automatically moves from the standby position to the detection position, and then the turntable turns 1 An operation button (not shown) capable of rotating and placing the detection pin 1355 in its original position, a means for informing the detection result (refer to the'good product' and'defective' indications in FIGS. 1 to 2B), In case of failure, an alarm means (not shown) that notifies the user with light, sound, etc., operates the detection operation unit 1350, and the turntable 1351, and based on the result detected by the ground unit 1370, this is made into a related configuration. It is preferable to include a means for transmitting and receiving and a PLC that controls automatic and manual operation, and the like.

물론 이 과정에서 사용자가 검출핀(1355)을 이동시키는 과정과 턴테이블(1351)를 회전시키는 과정을 각각 수동으로도 제어부(1500)에서 제어할 수도 있다.Of course, in this process, the process of moving the detection pin 1355 and the process of rotating the turntable 1351 by the user may be manually controlled by the controller 1500, respectively.

이러한 구성을 갖는 본 발명에 따른 칩 검출 시스템(1000)은, 도 2a 내지 도 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The chip detection system 1000 according to the present invention having such a configuration will be described below with reference to FIGS. 2A to 3.

먼저, 외부에서 제어부(1500)로 전원을 공급하면 제어부(1500), 접지부(1370), 검출작동부(1350), 턴테이블(1351)에 전원이 공급되어 작동 준비상태가 된다.First, when power is supplied to the control unit 1500 from the outside, power is supplied to the control unit 1500, the ground unit 1370, the detection operation unit 1350, and the turntable 1351 to be ready for operation.

사용자는 피검사체(100)를 지그프레임(1330)의 피검사체 안착부(1333)에 안착(S120)시켜 견고하게 지그프레임(1330)에 결합시킨다.The user mounts the test subject 100 on the test subject seating portion 1333 of the jig frame 1330 (S120) and is firmly coupled to the jig frame 1330.

물론 이 과정에서 지그프레임(1330)에 안착된 피검사체(100)와 검출핀(1355)은 각각 접지('접지 A' '접지 B' 참조)되어 접지부(1370)를 형성한다(S110).Of course, in this process, the test object 100 and the detection pin 1355 mounted on the jig frame 1330 are grounded (see “Ground A” and “Ground B”) to form a ground part 1370 (S110).

다음, 사용자가 핀작동부(1353)를 작동시켜 검출핀(1355)을 대기위치(도 2a의 'A' 위치 참조)에서 오링홈(110)에 근접된 검출위치(도 2a의 'B' 위치 참조)로 이동시킨다(S130). 이러한 이동에 의하여 오링홈(110)에 대응하는 형상으로 구비된 홈근접아암(1355a)이 상호 설정된 간격(도 2c 참조)을 사이에 두고 위치할 수 있다.Next, the user operates the pin operation unit 1352 to place the detection pin 1355 in the standby position (refer to the position'A' in FIG. 2A) and the detection position close to the O-ring groove 110 (position'B' in FIG. 2A). Reference) (S130). By this movement, the groove proximity arm 1355a provided in a shape corresponding to the O-ring groove 110 may be positioned with a mutually set interval (see FIG. 2C) therebetween.

다음, 핀작동부(1353)의 검출핀(1355)을 턴테이블(1351)을 이용하여 회전시킨다(S140). 이러한 턴테이블(1351)의 회전에 의해 오링홈(110)을 따라 홈근접아암(1355a)이 회전하면서 오링홈(110) 내부에 칩이 존재하는지를 아암접지부(1373, '접지 A' 참조) 및 프레임접지부(1375, '접지 B' 참조)가 상호 전기적으로 연결되는지를 제어부(1500)에서 감지하여 판단한다(S150). Next, the detection pin 1355 of the pin operation unit 1352 is rotated using the turntable 1351 (S140). As the groove proximity arm 1355a rotates along the O-ring groove 110 by the rotation of the turntable 1351, it is determined whether or not a chip is present in the O-ring groove 110 (see'Ground A') and a frame. The controller 1500 detects and determines whether the ground parts 1375 (refer to “Ground B”) are electrically connected to each other (S150).

S150 단계에서 오링홈(110) 내부에 별도의 칩, 이물질 등이 존재하지 않는다고 판단(S153)하면(도 2c의 (1) 참조, 접지부(1370)에 전기적인 연결이 없음), 사용자가 검사하고자 하는 피검사체(100)의 설정된 갯수를 완료하였지를 다음 과정에서 판단한다(S180). 설정된 갯수를 만족하지 못하면(S183) 다른 피검사체를 피검사체 안착부(1333)에 안착시키고, 설정된 갯수를 만족하면(S185) 작업을 종료된다.In step S150, if it is determined that there are no separate chips or foreign substances in the O-ring groove 110 (S153) (see (1) in FIG. 2C, there is no electrical connection to the ground part 1370), the user inspects It is determined in the next process whether or not the set number of objects to be tested 100 has been completed (S180). If the set number is not satisfied (S183), another test object is seated on the test subject seating unit 1333, and when the set number is satisfied (S185), the operation is terminated.

다른 한편, S150 단계에서 오링홈(110) 내부에 별도의 칩, 이물질 등이 존재한다고 판단(S153)하면(도 2c의 (2) 참조, 접지부(1370)의 전기적 연결이 있음), 사용자는 피검사체(100)를 지그프레임(1330)으로부터 분리하여 칩을 제거하는 수정작업을 실시(S160)하고 재확인을 할 수 있다. 칩 등의 존재하면 제어부(1500)의 경보수단이 작동하여 사용자가 이를 용이하게 알 수 있다.On the other hand, if it is determined that there is a separate chip or foreign material in the O-ring groove 110 in step S150 (S153) (see (2) in FIG. 2C, there is an electrical connection of the ground part 1370), the user The test object 100 may be separated from the jig frame 1330 and corrected to remove the chip (S160) and reconfirmed. If there is a chip or the like, the alarm means of the control unit 1500 is activated so that the user can easily know this.

물론 이 과정에서 턴테이블(1351)이 1회전하여 오링홈(110)을 따라 검출핀(1355)이 회전하고 난 후 설정된 시간이 경과하면 검출핀(1355)은 검출위치에서 대기위치로 이동한다(S170).Of course, in this process, after the turntable 1351 rotates once and the detection pin 1355 rotates along the O-ring groove 110, after a set time elapses, the detection pin 1355 moves from the detection position to the standby position (S170). ).

여기서, 검출핀(1355)이 두 개인 경우이므로 턴테이블(1351)을 1/2회전만 하여도 오링홈(110)의 전체를 따라 검출핀(1355)이 회전할 것으로 되므로 턴테이블(1351)은 1/2회전만 하여도 될 것이다.Here, since there are two detection pins 1355, the detection pin 1355 will rotate along the entire O-ring groove 110 even if the turntable 1351 is rotated 1/2, so the turntable 1351 is 1/ You may only need to do two rounds.

이러한 턴테이블(1351)의 회전이 완료된 후에 검출핀(1355)은 검출위치에서 대기위치로 이동하게 된다(S170).After the rotation of the turntable 1351 is completed, the detection pin 1355 is moved from the detection position to the standby position (S170).

피검사체 안착부(1333)에 새롭게 고정된 피검사체(100)는 전술한 S130, S140, S150, S170, S180 (또는 S160) 등의 과정을 반복하여 거치게 된다.The test subject 100 newly fixed to the test subject seating unit 1333 undergoes the above-described processes such as S130, S140, S150, S170, S180 (or S160) repeatedly.

이에, 본 발명에 따르면, 보다 효과적으로 육안으로 확인이 어려운 내경 부위의 가공 후 가공에 따른 칩의 존재여부를 간단하고 편리하게 검사, 확인할 수 있는 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법을 제공할 수 있다.Accordingly, according to the present invention, it is possible to provide an inner diameter chip detection system and a detection method thereof that can more effectively and conveniently inspect and confirm the presence of chips due to processing after processing of an inner diameter portion that is difficult to visually check.

또한, 조립 후 가공 부위에 칩이 존재하여 결합된 오일이 손상되어 발생될 수 있는 누유 등의 불량을 미연에 예방할 수 있는 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법을 제공할 수 있다.In addition, it is possible to provide an inner diameter chip detection system and a detection method thereof capable of preventing in advance defects such as leakage that may occur due to damage to the bonded oil due to the presence of chips in the processing area after assembly.

또한, 제품에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있는 내경 칩 검출 시스템 및 그 검출 방법을 제공할 수 있다.In addition, it is possible to provide an inner diameter chip detection system and a detection method thereof capable of improving the reliability of a product.

여기서, 본 발명의 일 실시예를 도시하여 설명하였지만, 본 발명의 속하는 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 원칙이나 정신에서 벗어나지 않으면서 본 실시예를 변형할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 발명의 범위는 첨부된 청구항과 그 균등물에 의해 정해질 것이다.Here, although one embodiment of the present invention has been illustrated and described, it will be appreciated that those of ordinary skill in the technical field to which the present invention belongs can modify the present embodiment without departing from the principles or spirit of the present invention. will be. The scope of the invention will be determined by the appended claims and their equivalents.

1000 : 칩 검출 시스템 1330 : 지그프레임
1333 : 피검사체 안착부 1350 : 검출작동부
1351 : 턴테이블 1353 : 핀작동부
1355 : 검출핀 1355a : 홈근접아암
1370 : 접지부 1373 : 아암접지부
1375 : 프레임접지부 1380 : 절연부
1500 : 제어부
100 : 피검사체 110 : 오링홈
130 : 칩
1000: chip detection system 1330: jig frame
1333: subject seating portion 1350: detection operation portion
1351: turntable 1353: pin operating part
1355: detection pin 1355a: groove proximity arm
1370: ground part 1373: arm ground part
1375: frame ground part 1380: insulation part
1500: control unit
100: subject 110: O-ring groove
130: chip

Claims (5)

내측에 오링홈을 갖는 피검사체를 착탈 가능하게 지지하는 지그프레임과;
상기 피검사체의 중심축선으로부터 반경방향으로 벌어져 상기 오링홈에 근접하는 위치인 검출위치와 상기 피검사체의 중심축선으로부터 반경방향으로 오므라들어 상기 검출위치로부터 이격되어 대기하는 대기위치 사이를 이동 가능하고, 상기 지그프레임의 내측에 위치하고, 상기 오링홈과 대응한 형상을 갖는 홈근접아암을 구비한 검출작동부와;
상기 검출작동부를 회전 가능하게 상기 지그프레임의 타측에 결합된 턴테이블과;
상기 피검사체와 상기 검출작동부에 상호 절연 가능하게 각각 전기적으로 연결된 접지부와;
상기 검출작동부가 상기 검출위치에서 상기 오링홈을 따라 회전하면서 상기 접지부가 전기적으로 연결되는지를 감지하는 제어부;를 포함하되,
상기 검출위치에서는 상기 오링홈 내측을 따라 상기 홈근접아암이 회전하더라도 상기 오링홈의 가공시 발생하는 칩을 포함하는 이물질이 없는 경우 상기 접지부가 통전되지 않도록 상기 오링홈 내측과 상기 홈근접아암이 위치되고, 상기 제어부에서는 상기 검출위치에서 상기 홈근접아암이 회전하는 과정에서 상기 접지부가 통전되는 경우 상기 이물질이 존재하는 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 내경 칩 검출 시스템.
A jig frame for detachably supporting an object to be inspected having an O-ring groove therein;
It is possible to move between a detection position, which is a position extending radially from the center axis of the test object and proximate to the O-ring groove, and a standby position which is separated from the detection position and waits by being constricted in a radial direction from the central axis of the test object, A detection operation unit located inside the jig frame and having a groove proximity arm having a shape corresponding to the O-ring groove;
A turntable coupled to the other side of the jig frame so as to rotate the detection operation unit;
A grounding part electrically connected to the test object and the detection operation part so as to be mutually insulated;
Including; wherein the detection operation unit rotates along the O-ring groove at the detection position to detect whether the ground portion is electrically connected;
In the detection position, even if the groove proximity arm rotates along the inside of the O-ring groove, when there is no foreign matter including chips generated when the O-ring groove is processed, the inside of the O-ring groove and the groove proximity arm are positioned so that the grounding portion is not energized. And, when the ground portion is energized while the groove proximity arm rotates at the detection position, the control unit determines that the foreign material is present.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 피검사체는 자동차 변속기용 부품을 포함하고, 상기 피검사체의 재질은 알루미늄을 포함하는 것을 특징으로 하는 내경 칩 검출 시스템.
The method of claim 1,
The test object includes parts for a transmission of an automobile, and the material of the test object includes aluminum.
제1항 또는 제3항에 있어서,
상기 제어부는 상기 접지부가 통전하는 경우 소리, 광을 포함하는 경보신호를 발생시키는 것을 특징으로 하는 내경 칩 검출 시스템.
The method of claim 1 or 3,
The control unit generates an alarm signal including sound and light when the ground unit is energized.
삭제delete
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