KR102160090B1 - 터치패널 구동방법 - Google Patents

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KR102160090B1
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Abstract

본 발명은, 내부에 다수의 터치전극을 포함하는 터치패널의 구동방법에 있어서, 터치영역의 중심점을 검출하는 단계와; 상기 터치영역의 중심점이 상기 터치패널 외각에서 검출되는지 판단하는 단계와; 상기 터치영역의 중심점이 상기 터치패널 외각에서 검출되면, 상기 터치패널의 최외각(Edge)에서 상기 터치영역의 원 데이터 값의 최대값이 검출되는지 판단하는 단계와; 상기 터치영역의 원 데이터 값의 최대값이 상기 터치패널의 최외각(Edge)에서 검출될 경우, 상기 터치영역이 3*3 터치 전극을 갖는 3*3영역이 되도록 가상터치전극을 할당하는 단계와; 상기 터치영역 내부의 상기 터치전극 각각의 원 데이터 값의 합을 산출하는 단계와; 상기 터치영역 내부의 상기 터치전극 각각의 원 데이터 값의 비율을 산출하는 단계와; 미리 설정한 터치 원 데이터 값에서 상기 산출된 원 데이터 값의 합의 차이를 연산하여, 상기 가상터치전극에 할당하고, 상기 산출된 원 데이터 값의 비율을 이용하여 상기 가상터치전극에 가상 원 데이터 값을 설정하는 단계와; 상기 3*3영역의 중심점을 검출하여 상기 터치영역의 터치좌표를 추출하는 단계를 포함하는 터치패널의 구동방법을 제공한다.

Description

터치패널 구동방법{Method of Driving touch panel}
본 발명은 터치패널에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 터치패널의 구동방법에 관한 것이다.
정보화 시대에 발맞추어 디스플레이(display) 분야 또한 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응해서 박형화, 경량화, 저소비 전력화 장점을 지닌 평판표시장치(flat panel display device: FPD)로서 액정표시장치(liquid crystal display device: LCD), 플라즈마표시장치(plasma display panel device: PDP), 유기발광다이오드 표시장치(organic light emitting diode display device: OLED), 전계방출표시장치(field emission display device: FED) 등이 소개되어 기존의 브라운관(cathode ray tube: CRT)을 빠르게 대체하고 있다.
최근에는, 이러한 표시패널(display panel) 상에 터치패널(touch panel)을 부착한 표시장치인 터치스크린이 각광받고 있다.
터치스크린은, 영상을 표시하는 출력수단으로 사용되는 동시에, 표시된 영상의 특정부위를 터치하여 사용자의 명령을 입력 받는 입력수단으로 사용되는 것으로, 터치패널은 위치정보 검출방식에 따라 저항막 방식(Resistive type), 정전용량방식(Capacitive type), 전자유도 방식(Electro Magnetic type) 등으로 구분된다.
즉, 사용자가 표시패널에 표시되는 영상을 보면서 터치패널을 터치하면, 터치패널은 해당 터치부위의 위치정보를 검출하고 검출된 위치정보를 영상의 위치정보와 비교하여 사용자의 명령을 인식할 수 있다.
이러한 터치스크린은, 별도의 터치패널을 표시패널에 부착하거나, 터치패널을 표시패널의 기판에 형성하여 일체화하는 형태로 제조될 수 있다.
특히, 스마트폰과 같이 휴대용 단말기의 경우에는, 표시장치에 터치스크린을 적용함에 있어서, 슬림(Slim)화를 위해 표시패널의 기판에 터치패널을 형성하여 일체화하는 인셀 터치(In-Cell Touch) 표시장치가 개발되고 있다.
이하 도면을 참조하여 일반적인 인셀 터치 표시장치를 설명한다.
도 1은 일반적인 터치패널을 도시한 도면이고, 도 2a 내지 도 2c는 일반적인 터치패널의 터치 좌표추출 방법을 개략적으로 도시한 도면이다.
도시한 바와 같이, 일반적인 인셀 터치 표시장치는 터치패널(10) 내부에 영상이 표시되는 표시영역(AA)과, 표시영역(AA)을 둘러싸는 비표시영역(NAA)을 포함하고, 표시영역(AA)은 내부에 다수의 터치 전극(12)과, 서로 교차하여 화소를 정의하는 게이트 및 데이터 배선(미도시)이 형성된다.
도시하지 않았지만, 각 화소에는 게이트 및 데이터 배선과 전기적으로 연결되는 스위칭 소자가 형성되고, 스위칭 소자에 전기적으로 연결되는 스토리지 캐패시터와 액정층 또는 구동 박막트랜지스터 및 유기발광 다이오드가 형성되어 액정표시장치 또는 유기발광디스플레이장치를 구성한다.
한편, 인셀 터치 표시장치는 표시영역(AA) 내부에 터치 센싱이 가능한 터치영역(TA)과, 터치 영역을 둘러싸는 비터치영역(NTA)을 포함한다.
이때, 비터치영역(NTA)은 터치센싱이 불가능한 영역으로 추후에 상세히 설명하겠다.
이와 같은, 터치패널(10)는 각 터치 전극(12)의 원 데이터(Raw data) 무게중심에 따라 터치 좌표를 추출한다. 원 데이터는 터치전극(12)의 전압 또는 전류 신호로 각 터치전극(12)의 원 데이터를 추출하여 터치 좌표를 추출한다.
따라서, 정확한 터치 좌표 추출을 위해서는 적어도 두 개 이상의 터치 전극(12)이 필요하다.
도 2a 내지 도 2c를 참조하면, 터치패널 내부의 터치전극(12)은 제1 내지 제9 터치전극(S1 내지 S9)로 구성되며, 터치 부위의 원 데이터를 센싱 하여 터치 좌표를 추출한다.
즉, 각 터치전극(12)의 터치에 따른 원 데이터의 신호크기가 상이함을 이용하여, 원 데이터 신호크기가 가장 큰 터치 좌표를 추출하여 정확한 터치좌표를 유추한다.
즉, 도 2a에 도시한 바와 같이, 제5 전극(S5)를 터치하면, x, y축 좌표에 따른 원 데이터 신호크기를 센싱 하여 원 데이터 신호의 세기가 큰 지점인 x축의 제2 전극(S2)과, y축의 제4 전극(S4)의 교점인 제5 전극(S5)을 터치한 것으로 판단한다.
그리고, 도 2b에 도시한 바와 같이, 제4 전극(S4)과 제5 전극(S5) 사이를 터치하면, x, y축 좌표에 따른 신호크기를 센싱 하여 신호의 세기가 큰 지점인 x축의 제1 전극(S1)과 제2 전극(S2)의 중간부분과, y축의 제4 전극(S4)의 교점인 제4 전극(S4)과 제5 전극(S5) 사이를 터치한 것으로 판단한다.
이와 같이, x, y축 좌표에 따른 센싱 신호의 크기에 따라 터치 좌표를 추출하여 실제로 터치한 부분을 정확하게 추출한다.
그런데, 표시영역(AA) 가장자리에 위치한 터치전극(12)에서는 터치가 제대로 이루어지지 않는다.
도 2c에 도시한 바와 같이, 제4 터치전극(S4)과 제4 터치전극(S4) 외부의 경계를 터치하면, 터치 센싱을 위한 신호의 크기가 충분하지 않아 터치 좌표를 추출할 수 없는 문제가 발생하며, 이와 같이 표시영역(AA)의 가장자리의 터치 센싱이 불가능한 영역을 비터치영역(NTA)이라 한다.
이때, 비터치영역(NTA)은 표시영역(AA)에서 0.2mm의 유격(d)을 가지며 이로 인해 표시영역(AA)의 외곽에서는 터치가 불가능한 문제가 발생한다.
이와 같은 비터치영역(NTA)을 개선하기 위해 터치전극(12)을 비표시영역(NAA)에 형성고자 하는 구조가 제안되었으나, 터치전극(12)을 비표시영역(NAA)에 형성하는 것은 네로우 베젤(Narrow)을 구현하기 어렵기 때문에 네로우 베젤을 요하는 표시장치에서는 비터치영역(NTA)을 개선하기 어려운 문제가 발생한다.
본 발명은, 이러한 문제점을 해결하기 위하여 제시된 것으로, 네로우 베젤화된 터치패널의 표시영역에서 비터치영역을 개선하는 것을 목적으로 한다.
상기한 문제를 해결하기 위해 본 발명은, 내부에 다수의 터치전극을 포함하는 터치패널의 구동방법에 있어서, 터치영역의 중심점을 검출하는 단계와; 상기 터치영역의 중심점이 상기 터치패널 외곽에서 검출되는지 판단하는 단계와; 상기 터치영역의 중심점이 상기 터치패널 외곽에서 검출되면, 상기 터치패널의 최외곽(Edge)에서 상기 터치영역의 원 데이터 값의 최대값이 검출되는지 판단하는 단계와; 상기 터치영역의 원 데이터 값의 최대값이 상기 터치패널의 최외곽(Edge)에서 검출될 경우, 상기 터치영역이 3*3 터치 전극을 갖는 3*3영역이 되도록 가상터치전극을 할당하는 단계와; 상기 터치영역 내부의 상기 터치전극 각각의 원 데이터 값의 합을 산출하는 단계와; 상기 터치영역 내부의 상기 터치전극 각각의 원 데이터 값의 비율을 산출하는 단계와; 미리 설정한 터치 원 데이터 값에서 상기 산출된 원 데이터 값의 합의 차이를 연산하여, 상기 가상터치전극에 할당하고, 상기 산출된 원 데이터 값의 비율을 이용하여 상기 가상터치전극에 가상 원 데이터 값을 설정하는 단계와; 상기 3*3영역의 중심점을 검출하여 상기 터치영역의 터치좌표를 추출하는 단계를 포함하는 터치패널의 구동방법을 제공한다.
이때, 상기 터치전극의 원 데이터 값의 변화를 검출하는 단계와; 상기 검출된 원 데이터 값을 오프셋 하는 단계와; 상기 오프셋한 원 데이터 값을 기 설정된 기준 원 데이터 값과 비교하여 상기 오프셋 된 원 데이터 값이 기준 원 데이터 값 보다 클 경우, 상기 터치패널에 터치가 발생한 것으로 판단하는 단계와; 상기 터치가 발생한 영역을 제1 터치영역 및 제2 터치영역으로 구분하는 단계와; 상기 제1 및 제2 터치영역의 중심점을 검출하는 단계와; 상기 중심점을 검출하는 단계 이후에 상기 제1 내지 제5 단계를 통해 제3 및 제4 터치영역의 중심점을 검출하여 상기 제1 및 제2 터치영역과 상기 제3 및 제4 터치영역 각각의 중심점의 연관관계를 구분하는 단계와; 상기 제1 및 제2 터치영역과 상기 제3 및 제4 터치영역 각각의 중심점 중 연결되는 상기 제1 및 제2 터치영역과 상기 제3 및 제4 터치영역 각각의 중심점 사이를 필터링하는 단계와; 상기 필터링하여 연결된 상기 제1 및 제2 터치영역의 중심점과, 상기 제3 및 제4 터치영역의 중심점을 터치패널로 출력하는 단계를 더 포함한다.
그리고, 상기 터치영역의 최외곽(Edge)에서 상기 터치영역의 원 데이터 값의 최대값이 검출되는지 판단하는 단계에서, 상기 제1 및 제2 터치영역이 상기 터치영역 외곽에서 이격하여 검출되면, 상기 가상터치전극을 할당하는 단계 내지 가상터치전극에 가상 원 데이터 값을 설정하는 단계를 생략하는 것을 포함한다.
또한, 상기 터치영역이 3*3 터치 전극을 갖는 3*3영역이 되도록 가상터치전극을 할당하는 단계에서, 상기 터치영역에서 검출된 원 데이터 값의 최대값이 상기 터치영역의 최외곽에서 이격하여 검출되면, 상기 가상터치전극을 할당하는 단계 내지 가상터치전극에 가상 원 데이터 값을 설정하는 단계를 생략하는 것을 포함한다.
본 발명은, 표시영역 상부의 터치전극의 원 데이터를 이용하여 비표시영역에 가상의 터치 전극을 설정함으로 인해, 비표시영역을 좁게 형성할 수 있는 효과를 갖는다.
도 1은 일반적인 터치패널을 도시한 도면이다.
도 2a 내지 도 2c는 일반적인 터치패널의 터치 좌표추출 방법을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 원 데이터를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 터치 좌표 추출 단계를 도시한 흐름도이다.
도 6은 도 5의 제5 단계를 도시한 흐름도이다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널을 개략적으로 도시한 평면도이다.
도시한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널(110)은 내부에 영상이 표시되는 표시영역(AA)과, 표시영역(AA)을 둘러싸는 비표시영역(NAA)을 포함하고, 표시영역(AA)은 내부에 다수의 터치 전극(112)이 형성되는 터치 영역(TA)을 포함하며, 서로 교차하여 화소를 정의하는 게이트 및 데이터 배선(미도시)이 형성된다.
도시하지 않았지만, 각 화소에는 게이트 배선에 게이트 전극이 연결되고, 데이터 배선에 소스 전극이 연결되는 스위칭 박막트랜지스터가 형성되며, 터치패널(110) 일측에는 터치패널의 구동을 위한 터치구동회로와 게이트 및 데이터 배선에 제어신호 및 데이터 신호를 인가하기 위한 게이트 및 데이터 드라이버가 형성된다.
이때, 스위칭 박막트랜지스터의 드레인 전극에 연결되는 액정층을 형성하여 액정표시장치를 구성할 수 있으며, 스위칭 박막트랜지스터의 드레인 전극에 게이트 전극이 연결되는 구동 박막트랜지스터가 형성되고, 구동 박막트랜지스터의 드레인 전극에 연결되는 유기발광 다이오드를 형성하여 유기발광 디스플레이 장치를 구성할 수 있다.
한편, 터치영역(TA)은 내부에 터치전극(112)를 포함하고, 터치전극(112) 각각의 원 데이터(Raw data)를 검출하여 터치 센싱이 가능하다.
이와 같은 터치패널(110)은 비표시영역(AA)에 가상 터치 전극(미도시)이 형성된다. 가상 터치 전극(미도시)은 터치구동회로(미도시)에서 인식하는 것으로, 사용자가 터치구동회로(미도시)의 터치 영역(TA) 가장자리 부분을 터치하였을 때, 터치된 터치전극(112)의 중심과 그 주변 터치전극(112)의 원 데이터(Raw data)를 연산하여 비표시영역(AA)의 가상 터치 전극(미도시)의 원 데이터를 산출한다.
이를 통해 전체 터치영역(TA)을 터치할 수 있는 효과가 있다.
이하, 도 4를 참조하여 가상 터치 전극(미도시)의 가상 원 데이터 값 산출과정을 도면을 참조하여 설명한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 원 데이터를 도시한 도면이다.
이때, 도 4 내부의 수치는 각각의 터치전극(도 3의 112)의 원 데이터 값으로 터치가 발생하였을 때의 변화량을 나타낸 값이다.
도시한 바와 같이, 터치패널(도 3의 110)을 사용자가 터치하게 되면, 터치가 발생한 터치전극(도 3의 112)의 원 데이터 값이 변경된다.
이때, 터치가 일어나는 부분 외에 주변 터치전극(도 3의 112)의 원 데이터 값 또한 변화가 발생하는데, 이는 터치전극(도 3의 112)이 작기 때문에 발생하는 것으로 이를 이용하여 정확한 터치좌표를 얻을 수 있다.
좀 더 상세하게 설명하면, 터치패널(도 3의 110)은 터치부위의 원 데이터 값이 주변의 원 데이터 값보다 크게 발생한다.
이때, 원 데이터 값이 변하는 터치전극(도 3의 112)는 3*3개의 터치전극을 3*3의 영역이라 하는데, 3*3영역은 터치 좌표를 정확하게 추출하기 위한 영역으로 4*4 영역 또는 5*5 영역으로 형성될 수 있으며, 3*3 영역으로 터치된 부분을 나누는 것이 터치좌표를 추출하기 바람직하다.
한편, 터치영역(TA) 상부의 제1 및 제2 터치전극(115, 117)은 터치영역(TA)에서 실제로 터치된 부분으로 예를들어 제1 터치전극(115)의 원 데이터 값이 512이고, 제2 터치전극(117)의 원 데이터 값이 각각 325, 118, 231 43, 103일 수 있다.
이때, 터치구동회로(미도시)는 터치영역(도 3의 TA)의 외곽에서 터치가 발생하면, 제1 및 제2 터치전극(115, 117)의 원 데이터 값을 연산하여 제3 터치전극(119)을 산출한다.
좀 더 상세하게 설명하면, 터치구동회로(미도시)는 터치영역(도 3의 TA)의 외곽에서 터치가 발생하면, 검출된 원 데이터 값을 미리 설정한 3*3영역의 원 데이터 기준값과 비교한다. 즉, 기 설정된 원 데이터 기준값과 3*3영역에서 검출된 원 데이터 값의 합을 연산한다.
예를들어, 원 데이터 기준값을 1700으로 설정하면, 제1 및 제2 터치전극(115, 117)에서 검출된 원 데이터 값과 제3 터치전극(119)의 가상 원 데이터 값의 합이 1700이 되도록 제3 터치전극(119)의 가상 원 데이터 값을 설정한다.
이때, 제3 터치전극(119)에 설정되는 가상 원 데이터 값은 제1 및 제2 터치전극(115, 117)의 원 데이터 값 비율에 따라 정해지며, 제1 터치전극(115)의 원 데이터 값이 521이고, 제2 터치전극(117)의 원 데이터 값이 시계방향으로 325, 118, 231 43, 103이면, 제3 터치전극(119)의 가상 원 데이터 값은 123, 197 39를 갖도록 설정된다.
즉, 터치영역(TA) 외곽에 위치한 제1 전극(115)과 제1 전극(115) 양측에 위치한 제2 전극(117)의 원 데이터 값의 비율에 따라 비터치영역(NTA) 상부의 제3 전극(119)에 원데이터 값을 설정한다.
이와 같은 연산을 통해 비표시영역(NAA) 상부에 가상의 터치전극을 형성할 수 있으며, 이를 통해 터치영역(TA) 외곽의 터치좌표를 추출할 수 있는 효과와, 터치패널(도 3의 110)의 네로우 베젤을 이룰 수 있는 효과가 있다.
이와 같은 과정은 터치영역(도 3의 TA) 외곽에서 터치가 발생하였을 때의 터치 좌표 추출과정으로 터치영역(도 3의 TA) 내부에서 터치가 발생한 경우도 외곽에서 터치가 발생하였을 때와 동일하게 3*3영역을 이루는 터치전극(도 3의 112)의 원 데이터 값을 검출하여 터치좌표를 추출한다.
이와 같은, 터치 좌표 추출은 여러 단계를 거쳐 이루어진다.
이하, 도면을 참조하여 터치패널(도 3의 110)의 터치 좌표 추출 단계를 설명한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 터치 좌표 추출 단계를 도시한 흐름도이고, 도 6은 도 5의 제5 단계를 도시한 흐름도이다.
도 5에 도시한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널은 구동모드 변환에 따른 알고리즘을 토대로 구동된다.
제 1 단계(st1)로, 터치패널(도 3의 110)의 터치를 터치구동회로에서 검출한다.
이때, 터치패널(도 3의 110) 내부에 형성된 터치전극(도 3의 112)의 원 데이터 값의 변화로 터치 유무를 감지하여 이루어진다.
그 다음 제2 단계(st2)로, 검출된 원 데이터를 오프셋(offset)한다.
예를 들어, 정전용량방식 터치패널(도 3의 110)은 터치전극(도 3의 112) 각각에서 검출된 커패시터 값을 0을 기준으로 오프셋하여, 오프셋된 각각의 커패시터 값의 편차를 연산할 수 있다.
그 다음 제3 단계(st3)로, 터치된 영역을 검출한다.
이때, 오프셋된 원 데이터 값을 미리 설정한 기준 원 데이터 값과 비교하여 터치영역을 검출한다.
이때, 터치구동회로(미도시)는 기준 원 데이터 값 보다 오프셋 된 원 데이터 값이 큰 경우 터치가 발생한 것으로 판단하고, 기준 원 데이터 값 보다 오프셋 된 원 데이터 값이 작은 경우 터치가 발생하지 않은 것으로 판단한다.
그 다음 제 4단계(st4)로 검출된 터치영역을 구분한다.
검출된 터치영역이 하나 또는 그 이상인 경우 터치구동회로(미도시)는 각각의 터치영역을 구분하며, 예를들어 제1 터치영역, 제2 터치영역으로 구분할 수 있다.
그 다음 제5 단계(st5)로, 제1 및 제2 터치영역 각각의 중심점을 검출한다.
이때, 각 터치영역의 무게중심점을 검출하여 터치좌표를 추출하며, 제5 단계에서 제1 및 제2 터치영역이 터치영역(TA)외곽에 위치하는지 판단하여 가상 터치 전극의 형성 유무를 결정한다.
그 다음 제6 단계(st6)에서 저장된 터치좌표 각각의 구분된 영역에 따라 제1 터치영역과 제2 터치영역에서 이어지는 제3 및 제4 터치영역을 구분한다.
이때, 제3 및 제4 터치영역은 제 4단계(st4)에서 검출된 터치영역으로, 제1및 제2 터치영역 이후에 검출된 터치영역이다.
즉, 제6 단계(st6)는 터치구동회로에서 제1 및 제2 터치영역과 제3 및 제4 터치영역의 연관관계를 구분하는 단계이다.
그 다음 제7 단계(st7)에서는, 제1 및 제2 터치영역과 제3 및 제4 터치영역중 이어지는 터치영역을 연결하는 단계이다.
예를 들어, 제1 터치영역과 제3 터치영역이 연결되고, 제2 터치영역과 제4 터치영역이 연결되면, 제7 단계(st7)는 제1 및 제3 터치영역과 제2 및 제4 터치영역 각각을 부드럽게 이어지도록 필터링하는 단계이다.
그 다음 제8 단계(st8)는 추출된 터치좌표와, 각 터치좌표를 연결하여 터치구동회로(미도시)에서 터치패널(도 3의 110)로 출력하는 단계이다.
이때, 제 5 단계는 세부적으로 7단계로 나눠진다.
도 6에 도시한 바와 같이, 제5-1 단계(st5-1)에서는 제1 및 제2 터치영역이 터치영역(도 3의 TA)의 외곽에서 검출되는지 판단한다.
이때, 제1 및 제2 터치영역이 터치영역(도 3의 TA)의 외곽에서 검출되지 않고, 터치영역(도 3의 TA)의 외곽에서 이격하여 검출될 경우, 바로 제1 및 제2 터치영역의 무게중심점 또는 최대 원 데이터 값을 검출하여 터치좌표를 추출하는 제5-7단계(st5-7)로 넘어간다.
하지만, 제1 및 제2 터치영역 중 어느 하나가 터치영역(도 3의 TA) 외곽에서 검출되면, 제5-2 단계(st5-2)로 넘어간다.
제5-2 단계(st5-2)는 검출된 제1 또는 제2 터치영역 내부의 터치전극 각각의 원 데이터 값을 비교하여 터치영역(도 3의 TA) 외곽에 최대 원 데이터 값이 위치하는지 판단한다.
예를 들어, 제1 터치영역이 터치영역(도 3의 TA) 외곽에서 검출되면, 제5-2 단계(st5-2)에서 터치영역(도 3의 TA)의 최외곽(Edge)에서 제1 터치영역의 원 데이터 값의 최대값이 검출되는지 판단한다.
이때, 제1 터치영역에서 검출된 원 데이터 값의 최대값이 터치영역(도 3의 TA)의 최외곽에 위치하지 않고 터치영역(도 3의 TA)의 최외곽에서 이격하여 검출되면, 제1 터치영역의 무게중심점을 검출하여 터치좌표를 추출하는 제5-7단계(st5-7)로 넘어간다.
그리고, 제1 터치영역에서 검출된 원 데이터 값의 최대값이 터치영역(도 3의 TA)의 최외곽에 위치하면, 제5-3 단계(st5-3)으로 넘어간다.
그 다음 제5-3 단계(st5-3)는, 가상전극을 형성하는 단계로, 제1 터치영역이 3*3 터치 전극을 갖는 3*3영역이 되도록 가상전극을 할당한다.
그 다음 제5-4 단계(st5-4)는 제1 터치영역에서 검출된 최대 원 데이터 값을 중심으로 3*3영역의 원 데이터 값의 합(A)을 산출한다.
이때, 가상전극을 제외한 제1 터치영역 내부의 터치전극(도 3의 112)의 원 데이터 값을 합한다.
그 다음 제5-5 단계(st5-5)는 3*3영역에서 터치영역(도 3의 TA)의 최외곽에 위치한 터치전극(도 3의 112)의 원 데이터 값 비율을 산출한다.
이때, 최대 원 데이터 값을 중심으로 원 데이터 값의 비율이 산출된다.
그 다음 제5-6 단계(st5-6)는 산출된 원 데이터 값의 비율을 이용하여 가상터치 전극에 가상 원 데이터 값을 설정한다.
좀 더 상세하게 설명하면, 미리 설정된 원 데이터 기준값에서 3*3영역에서 검출된 원 데이터 값의 합(A)을 연산하고, 출력된 값이 가상 원 데이터 값으로 설정되며, 가상 원 데이터 값은 제5-5 단계(st5-5)에서 산출된 원 데이터 값의 비율에 따라 각각의 가상 원 데이터 전극에 할당된다.
예를들어, 원 데이터 기준값을 1700으로 설정하면, 1700에서 제1 터치영역의 원 데이터 값의 합(A)을 연산한다.
즉, 제1 터치영역의 원 데이터 값의 합(A)과 가상 터치전극에 할당되는 가상 원 데이터 값의 합이 1700이 되도록 가상 원 데이터 값을 할당할 수 있다.
그 다음 제5-7 단계(st5-7)는 제1 및 제2 터치영역의 무게중심점을 검출하여 터치좌표를 추출하는 단계로, 가상 터치 전극을 터치영역(TA)에 형성된 터치전극(도 3의 112)과 동일하게 취급하여 3*3영역을 갖는 제1 터치영역에서 무게중심점 또는 최대 원 데이터 값을 이용하여 제1 터치영역의 터치 좌표와 제2 터치영역의 터치좌표를 추출한다.
이와 같은 7단계를 거쳐 추출된 터치 좌표는 터치구동회로에 저장된다.
이와 같은 알고리즘을 통하여 구동하는 본 발명의 실시예에 따른 터치패널(도 3의 110)은, 비표시영역(도 3의 NAA)에 터치전극을 형성하여 베젤부를 축소시키는 것이 한정되는 종래와 달리, 비표시영역(도 3의 NAA)에 터치전극(도 3의 112)각각의 원 데이터 값을 연산하여 가상 터치 전극을 형성함으로 인해 네로우 베젤을 갖는 터치패널(도 3의 110)을 구현할 수 있는 효과가 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 통상의 기술자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
TA : 터치영역 VTA : 가상 터치 영역
NAA : 비표시영역 115 : 제1 터치전극
117 : 제2 터치전극 119 : 제3 터치전극

Claims (4)

  1. 내부에 다수의 터치전극을 포함하는 터치패널의 구동방법에 있어서,
    터치영역의 중심점을 검출하는 단계와;
    상기 터치영역의 중심점이 상기 터치패널 외곽에서 검출되는지 판단하는 단계와;
    상기 터치영역의 중심점이 상기 터치패널 외곽에서 검출되면, 상기 터치패널의 최외곽(Edge)에서 상기 터치영역의 전압 또는 전류 신호인 원 데이터 값의 최대값이 검출되는지 판단하는 단계와;
    상기 터치영역의 원 데이터 값의 최대값이 상기 터치패널의 최외곽(Edge)에서 검출될 경우, 상기 터치영역이 3*3 터치 전극을 갖는 3*3영역이 되도록 가상터치전극을 할당하는 단계와;
    상기 터치영역 내부의 상기 터치전극 각각의 원 데이터 값의 합을 산출하는 단계와;
    상기 터치영역 내부의 상기 터치전극 각각의 원 데이터 값의 비율을 산출하는 단계와;
    미리 설정한 터치 원 데이터 값에서 상기 산출된 원 데이터 값의 합의 차이를 연산하여, 상기 가상터치전극에 할당하고, 상기 산출된 원 데이터 값의 비율을 이용하여 상기 가상터치전극에 가상 원 데이터 값을 설정하는 단계와;
    상기 3*3영역의 중심점을 검출하여 상기 터치영역의 터치좌표를 추출하는 단계
    를 포함하는 터치패널의 구동방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 터치전극의 원 데이터 값의 변화를 검출하는 제1 단계와;
    상기 검출된 원 데이터 값을 오프셋 하는 제2 단계와;
    상기 오프셋한 원 데이터 값을 기 설정된 기준 원 데이터 값과 비교하여 상기 오프셋 된 원 데이터 값이 기준 원 데이터 값 보다 클 경우, 상기 터치패널에 터치가 발생한 것으로 판단하는 제3 단계와;
    상기 터치가 발생한 영역을 제1 터치영역 및 제2 터치영역으로 구분하는 단계와;
    상기 제1 및 제2 터치영역의 중심점을 검출하는 단계와;
    상기 제1 및 제2 터치영역의 중심점을 검출하는 단계 이후에, 상기 제1 내지 제3 단계와 상기 터치가 발생한 영역을 제3 및 제4 터치영역으로 구분하는 단계와 상기 제3 및 제4 터치영역의 중심점을 검출하는 단계를 통해 상기 제3 및 제4 터치영역의 중심점을 검출하여 상기 제1 및 제2 터치영역과 상기 제3 및 제4 터치영역 각각의 중심점의 연관관계를 구분하는 단계와;
    상기 제1 및 제2 터치영역과 상기 제3 및 제4 터치영역 각각의 중심점 중 연결되는 상기 제1 및 제2 터치영역과 상기 제3 및 제4 터치영역 각각의 중심점 사이를 필터링하는 단계와;
    상기 필터링하여 연결된 상기 제1 및 제2 터치영역의 중심점과, 상기 제3 및 제4 터치영역의 중심점을 터치패널로 출력하는 단계를 더 포함하는 터치패널의 구동방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 터치영역의 최외곽(Edge)에서 상기 터치영역의 원 데이터 값의 최대값이 검출되는지 판단하는 단계에서, 상기 제1 및 제2 터치영역이 상기 터치영역 외곽에서 이격하여 검출되면, 상기 가상터치전극을 할당하는 단계 내지 가상터치전극에 가상 원 데이터 값을 설정하는 단계를 생략하는 것을 포함하는 터치패널의 구동방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 터치영역이 3*3 터치 전극을 갖는 3*3영역이 되도록 가상터치전극을 할당하는 단계에서, 상기 터치영역에서 검출된 원 데이터 값의 최대값이 상기 터치영역의 최외곽에서 이격하여 검출되면, 상기 가상터치전극을 할당하는 단계 내지 가상터치전극에 가상 원 데이터 값을 설정하는 단계를 생략하는 것을 포함하는 터치패널의 구동방법.
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