KR102127629B1 - 포매용 포셉 가열 거치대 - Google Patents

포매용 포셉 가열 거치대 Download PDF

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KR102127629B1
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홍진주
박혜원
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한상희
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신성대학교 산학협력단
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Abstract

본 발명은 포매용 포셉 가열 거치대에 관한 것이다. 본 발명의 포매용 포셉 가열 거치대는 포매 작업 시, 파라핀 베스에 복수 개의 포매용 포셉을 일정한 온도로 가열하도록 삽입, 거치되는 복수 개의 포셉 히팅 홀들과, 포매용 포셉에 잔존하는 이물질을 제거하는 이물질 제거용 스펀지 및 파라핀 베스를 일정 온도로 가열하는 히터를 포함한다. 본 발명에 의하면, 포매 과정에서 포셉의 온도에 의한 검체 손상을 방지하고, 청결을 유지하게 하여, 빠른 시간에 이전 검체를 취급하면서 잔존해 있는 이물질을 제거할 수 있도록 하여 검체 간의 오염을 방지하고, 포매 작업을 쉽고 빠르게 처리 가능하여, 미숙련 작업자도 포매 작업에서 균일한 작업 결과를 얻을 수 있다.

Description

포매용 포셉 가열 거치대{FORCEP HEATER FOR EMBEDDING}
본 발명은 포매용 포셉 가열 거치대에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로 포매 과정에서 포셉의 온도에 의한 검체 손상을 방지하고, 청결을 유지하게 하기 위하여, 포매 작업 시, 파라핀 베스에 복수 개의 포매용 포셉을 일정한 온도로 가열하도록 삽입, 거치되는 복수 개의 포셉 히팅 홀들과, 포매용 포셉에 잔존하는 이물질을 제거하는 이물질 제거용 스펀지 및 파라핀 베스를 일정 온도로 가열하는 히터를 구비하여 포매용 포셉을 가열 및 세정하는 포매용 포셉 가열 거치대에 관한 것이다.
조직 병리 검사는 검체가 접수되면 고정(fixation), 탈회(decalcification), 육안 검색(gross examination), 투명 및 침투(clearing), 포매(embedding), 박절(microtoming) 및 염색(stain) 과정을 거쳐 현미경으로 판독이 이루어지는 검사이다. 이 과정 중 포매(embedding)는 검체의 크기 및 형태, 표면 및 할면 상태, 박절(microtoming) 과정에서 잘려질 병소 부분 등을 감안하여 병소 부위와 정상 부분이 대조적으로 현미경 상에서 관찰될 수 있도록 파라핀으로 검체를 감싸 파라핀 블록을 만드는 과정이다.
이러한 포매는 조직을 파라핀 블록으로 만드는 과정에서 포셉(forcep)으로 조직을 집어서 베이스 몰드(base mold) 위에 올려놓고 엠베딩 링(Embedding Ring)이나 카세트를 덮어서 파라핀 블록을 만든다. 이 과정에서 파라핀과 조직 절편의 온도는 약 60℃ 정도이므로 포셉의 온도 또한 약 60℃ 이상이 유지되어야 파라핀이 달라붙지 않게 되어 작업이 용이하나, 포셉의 온도가 너무 뜨거우면 조직에 손상을 주므로 약 65℃ 내외가 적당하다.
그러나 금속 재질의 포셉은 빨리 식는 성질로 인하여 조직 검체 한 개를 포매하고 나서 매번 다시 가열해 주어야 하며, 포셉에 이전 검체의 이물질이 묻어 잔존해 있을 수 있으므로, 포셉의 이물질을 제거한 다음 이어서 다른 조직 검체의 포매 작업을 해야 한다.
이러한 포매 작업에 있어서 포셉의 온도를 높이는 일반적인 방법은 예를 들어, 알콜 램프를 이용해서 포셉을 가열하여 온도를 올리는 방법, 포셋에 전기적으로 히터를 부착하여 온도를 올리는 방법, 조직 포매 장치에 별도로 부착되어 있는 포셉 히팅홀을 이용하는 방법 등이 있다.
그러나 이러한 기존의 방법은 포셉의 온도를 올리는 것에만 치중하여 작업 시 불편함을 초래하고, 특히 미숙련자가 조직을 정위치에 올려놓는데 미숙하여 이러한 과정에서 포셉의 온도가 내려가서 시간 내에 포매 작업이 완료되기 힘든 실정이다.
이러한 포매는 검사 과정에서 가장 조심스러운 과정이며, 신속하고 정확하게 이루어져야 하는 과정이다. 이를 위하여 사용되는 보통 엠베딩 센터(embedding center)라고 불리우는 조직 포매 장치가 사용되고 있지만, 포매 과정에서 사용되는 포셉을 사용이 편리하게 거치하는 부분이 미흡한 실정이다.
또 대학의 실습실 등에서는 많은 인원이 짧은 시간에 실습을 하기에는 한 대의 조직 포매 장치로는 운용이 어렵고, 많은 인원들이 순서를 기다리며 실습을 하므로 시간 낭비가 아닐 수 없다. 또한 대형 병원이나 검사실 등에서는 여러 대의 조직 포매 장치를 사용하여 검사가 진행되고 있지만, 많은 검체를 취급하고 있는 실정에서 빠른 시간에 포매를 완성하기 위하여 매번 포셉의 청결 상태를 확인해야하는 것을 간과하고 있는 실정이다.
한국 등록특허공보 제10-0980757호(공고일 2010년 09월 10일) 한국 등록특허공보 제10-1855816호(공고일 2018년 05월 10일) 한국 공개특허공보 제10-2012-0039522호(공개일 2012년 04월 25일) 한국 등록특허공보 제10-1059462호(공고일 2011년 08월 25일)
본 발명의 목적은 포매 작업 시, 포매용 포셉의 온도를 일정하게 유지하도록 가열하기 위한 포매용 포셉 가열 거치대를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 포매 작업 시, 포매용 포셉에 잔존하는 이물질을 제거하기 위한 포매용 포셉 가열 거치대를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 저렴한 비용으로 구현 가능한 포매용 포셉 가열 거치대를 제공하는 것이다.
상기 목적들을 달성하기 위한, 본 발명의 포매용 포셉 가열 거치대는 포매 작업 시, 복수 개의 포매용 포셉을 일정한 온도로 가열하도록 구비하고, 포매용 포셉에 잔존하는 이물질을 제거하도록 하는데 그 한 특징이 있다. 이와 같은 포매용 포셉 가열 거치대는 포매 과정에서 포셉의 온도에 의한 검체 손상을 방지하고, 청결을 유지하게 하여, 빠른 시간에 이전 검체를 취급하면서 잔존해 있을 수 있는 이물질을 완벽하게 제거할 수 있도록 하여 검체 간의 오염을 방지할 수 있다.
이 특징에 따른 본 발명의 포매용 포셉 가열 거치대는, 내부에 수용 공간을 형성하고 상부면이 평평한 하부 케이스; 하부면이 밀폐되고 상부면이 개방되어 내부에 파라핀이 수용되는 저장 공간을 형성하고, 상기 상부면의 가장자리가 일정 두께를 갖도록 형성되며, 상기 상부면의 가장자리에 포셉을 삽입, 거치하는 복수 개의 포셉 히팅 홀이 형성되어 상기 하부 케이스의 상부에 결합되는 파라핀 베스; 상기 파라핀 베스의 하부면에 설치되어 상기 파라핀 베스 및 상기 포셉 히팅 홀을 가열하여 상기 포셉 히팅 홀에 삽입, 거치된 포셉의 단부를 일정한 온도로 유지시키는 히터; 상기 파라핀 베스의 외부를 감싸도록 결합되어 상기 파라핀 베스를 단열시키는 단열 링; 상기 파라핀 베스의 상부면이 노출되게 상기 단열 링의 상부 가장자리와 측면을 덮도록 상기 단열 링이 결합된 상기 파라핀 베스의 외부에 결합되는 상부 케이스; 및 전면부가 상기 하부 케이스의 전면에 노출되게 상기 하부 케이스의 상기 수용 공간에 설치되고, 상기 히터의 가열 온도를 설정하고, 상기 파라핀 베스의 온도를 실시간으로 측정하는 온도 센서로부터 측정된 온도 정보를 표시하는 온도 조절기를 포함한다.
이 특징에 있어서, 상기 포매용 포셉 가열 거치대는; 상기 파라핀 베스의 상기 저장 공간에 수용되고, 포셉의 단부를 세정하여 포셉에 부착된 이물질을 제거하는 이물질 제거용 스펀지를 더 포함한다.
이 특징에 있어서, 상기 히터에는; 일측에 상기 히터의 과열을 방지하기 위한 과열 방지 장치가 구비된다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 포매용 포셉 가열 거치대는 포매 작업 시, 파라핀 베스에 복수 개의 포매용 포셉을 일정한 온도로 가열하도록 삽입 거치되는 복수 개의 포셉 히팅 홀들과 포매용 포셉에 잔존하는 이물질을 제거하는 이물질 제거용 스펀지를 구비함으로써, 포매 과정에서 포셉의 온도에 의한 검체 손상을 방지하고, 청결을 유지하게 하여, 빠른 시간에 이전 검체를 취급하면서 잔존해 있을 수 있는 이물질을 완벽하게 제거할 수 있도록 하여 검체 간의 오염을 방지할 수 있다.
또 본 발명의 포매용 포셉 가열 거치대는 포셉의 온도를 일정하게 유지시키고, 이전의 검체에서 작업하였던 파라핀 및 이물질을 제거하도록 구비함으로써, 포매 작업을 쉽고 빠르게 처리 가능하여, 미숙련 작업자도 포매 작업에서 균일한 작업 결과를 얻을 수 있다.
또한 본 발명의 포매용 포셉 가열 거치대는 저렴한 비용으로 대형 검사실에서의 조직 포매 장치의 보조 장비로 활용될 수 있으며, 대학의 임상 병리과 실습실에서 효과적으로 사용할 수 있으며 포매 작업 및 실습 대기 시간 등을 줄일 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 포매용 포셉 가열 거치대의 개략적인 구성을 나타내는 도면,
도 2는 도 1에 도시된 포매용 포셉 가열 거치대의 일부 구성을 나타내는 블럭도,
도 3은 도 1에 도시된 온도 조절기의 표시 패널을 나타내는 도면,
도 4는 도 1에 도시된 파라핀 베스의 구성을 나타내는 도면,
도 5는 도 2에 도시된 히터의 구성을 나타내는 도면,
도 6은 도 1에 도시된 이물질 제거용 스펀지의 구성을 나타내는 도면, 그리고
도 7은 도 1에 도시된 파라핀 베스와 상부 케이스 사이에 구비되는 단열 링의 구성을 나타내는 도면이다.
본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 서술하는 실시예로 인해 한정되어지는 것으로 해석되어서는 안된다. 본 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서 도면에서의 구성 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이다.
이하 첨부된 도 1 내지 도 7을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 포매용 포셉 가열 거치대의 개략적인 구성을 나타내는 도면이고, 도 2는 도 1에 도시된 포매용 포셉 가열 거치대의 일부 구성을 나타내는 블럭도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 포매용 포셉 가열 거치대(100)는 조직 병리 검사 시, 고정, 탈수, 투명 및 파라핀 침투 과정을 마친 조직 검체를 블록으로 만들기 위하여, 파라핀이 주입된 일정한 정형틀(몰드)에 검체를 안착시킬 때 사용되는 포매용 포셉을 일정 온도로 가열하여 온도를 일정하게 유지하도록 하고, 포셉에 잔존하는 이물질을 제거하도록 구비된다.
이러한 본 발명의 포매용 포셉 가열 거치대(100)는 포셉을 약 65℃ 내외의 일정한 온도로 유지시켜서 거치하고, 포셉에 잔존하는 파라핀 등의 이물질을 제거하도록 구비함으로써, 포매 과정에서 포셉의 온도에 의한 검체 손상을 방지하고, 청결을 유지하게 하여, 빠른 시간에 이전 검체를 취급하면서 잔존해 있을 수 있는 이물질을 완벽하게 제거할 수 있도록 하여 검체 간의 오염을 방지할 수 있다.
이를 위해 본 발명의 포매용 포셉 가열 거치대(100)는 하부 케이스(102), 파라핀 베스(120), 히터(도 2의 130), 이물질 제거용 스펀지(140), 단열 링(도 7의 150), 상부 케이스(160) 및 온도 조절기(110)를 포함한다.
하부 케이스(102)는 상부면이 평평한 형상 예컨대, 직육면체 형상의 스테인레스 박스로 구비되어 포매용 포셉 가열 거치대(100)의 하부에 배치되고 내부에 수용 공간을 형성한다. 하부 케이스(102)는 수용 공간에 온도 조절기(110), 전원 커넥터, 전원 스위치 등 전자적인 구성 요소들을 전기적으로 연결되도록 설치된다. 하부 케이스(102)는 전면의 일부가 개방되어 온도 조절기(110)의 전면부가 외부로 노출되게 구비된다. 하부 케이스(102)는 상부면에 파라핀 베스(120)가 설치된다.
파라핀 베스(120)는 내부에 파라핀을 담을 수 있는 저장 공간(도 4의 124)이 형성되고, 상부면의 가장자리가 일정 두께를 갖도록 형성되어 포셉을 삽입하고, 삽입된 포셉을 일정 온도로 가열시키는 복수 개의 포셉 히팅 홀(122)을 구비한다. 포셉 히팅 홀(122)들 각각은 포셉을 삽입, 거치하도록 구비된다. 파라핀 베스(120)는 저장 공간(124)에 파라핀을 저장하고, 이물질 제거용 스펀지(140)가 수납된다.
히터(130)는 원형의 히팅 플레이트로 구비되어 파라핀 베스(120)의 하부면에 장착된다. 히터(130)는 온도 조절기(110)의 전원 공급부(119)로부터 전원을 공급받고 온도 조절기(110)의 제어를 받아서 파라핀 베스(120)를 일정 온도(예컨대, 65℃ 정도)로 가열한다. 이에 가열된 파라핀 베스(120)에 의해 포셉 히팅 홀(122)에 삽입, 거치된 포셉의 단부를 일정한 온도로 유지시키게 된다.
이물질 제거용 스펀지(140)는 파라핀 베스(120)의 저장 공간(124)에 수용된다. 이물질 제거용 스펀지(140)는 포셉의 단부를 세정하여 포셉에 부착된 이물질을 제거한다.
단열 링(150)은 파라핀 베스(120)의 외부를 감싸는 원통 형상으로 구비되고, 파라핀 베스(120)의 외측면에 밀착 결합되어 외부로의 열 방출을 차단시킨다.
상부 케이스(160)는 일정 두께의 원형 플레이트 형상으로 구비되어 단열 링(150)이 결합된 파라핀 베스(120)의 외부에 결합된다. 상부 케이스(160)는 파라핀 베스(120)의 상부가 노출되게 단열 링(150)의 상부 가장자리와 측면을 덮는다. 상부 케이스(160)는 단열 링(150)과 파라핀 베스(120)의 측면들에 나사 결합되어 고정된다. 상부 케이스(160)는 파라핀 베스(120)의 열이 외부로 전달되지 않도록 하여 작업자의 안전을 도모할 수 있다.
그리고 온도 조절기(110)는 예를 들어, 온도 조절을 위한 컨트롤 패널, 컨트롤러 모듈 등으로 구비된다. 온도 조절기(110)는 전면부가 하부 케이스(102)의 전면에 노출되도록 하부 케이스(102)의 내부에 설치된다. 온도 조절기(110)는 히터(130)의 가열 온도 설정, 재접점 딜레이 타임 조정, 온도 보정 및 편차 조절 등의 기능을 처리한다. 이를 위해 온도 조절기(110)는 온도 센서(114), 온도 표시 장치(116), 동작 표시등(117), 복수 개의 입력 버튼(118), 전원 공급부(119) 및 컨트롤러(112)를 포함한다. 또 온도 조절기(110)는 도면에는 도시되지 않았지만, 예를 들어, 전원 커넥터, 전원 스위치, 휴즈 등이 더 구비된다.
온도 센서(114)는 예를 들어, 다이오드 형 센서로 파라핀 베스(120)의 일측에 구비되어 파라핀 베스(120)의 온도를 실시간으로 측정한다. 온도 센서(114)는 측정된 온도 정보를 컨트롤러(112)로 전송한다. 온도 표시 장치(116)는 예를 들어, LED 표시 패널, LCD 표시 패널 등으로 구비되고, 컨트롤러(112)의 제어를 받아서 온도 정보를 실시간 표시한다. 동작 표시등(117)은 예를 들어, LED로 구비되어 컨트롤러(112)의 제어를 받아서 전원 온, 오프 상태와, 히터 동작 상태를 표시한다. 입력 버튼(118)은 온도 조절 버튼, 설정 버튼 등을 포함하여, 히터(130)의 온도를 설정하도록 조절하거나, 온도 설정, 재접점 딜레이 타임 조정, 온도 보정 및 편차 조절 등의 기능을 설정하도록 컨트롤러(112)로 입력 신호를 전송한다. 전원 공급부(119)는 외부의 교류 전원을 공급받고 컨트롤러(112)의 제어를 받아서 포매용 포셉 가열 거치대(100)의 구동 전원을 공급한다. 즉, 전원 공급부(119)는 히터(130), 온도 조절기(110)의 전원을 공급한다. 그리고 컨트롤러(112)는 온도 센서(114), 온도 표시 장치(116), 동작 표시등(117), 입력 버튼(118) 및 전원 공급부(119)를 제어하여 온도 조절기(110)의 제반 동작을 처리하도록 제어한다.
이러한 본 발명의 포매용 포셉 가열 거치대(100)는 파라핀 베스(120)의 하단에 히터(130)를 부착하고, 그 둘레를 단열 처리한 후, 온도 조절기(110)를 통해 원하는 온도(예컨대, 약 65℃)를 설정하여 파라핀 베스(120)를 가열한다. 이에 파라핀 베스(120)의 상부에 구비되는 포셉 히팅 홀(122)에 삽입 거치된 포셉을 일정 온도로 가열하여 포매 작업을 신속하고 용이하게 할 수 있도록 한다. 또 포셉을 이물질 제거용 스펀지(140)를 이용하여 이물질을 제거한다.
다음은 구체적으로 도 3 내지 도 7을 이용하여 본 발명의 실시예에 따른 포매용 포셉 가열 거치대의 구성을 상세히 설명한다.
도 3은 도 1에 도시된 온도 조절기의 표시 패널을 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하면, 온도 조절기(110)의 표시 패널(111)은 하부 케이스(102)의 전면에 노출된다. 이 표시 패널(111)에는 온도 표시 장치(116), 동작 표시등(117 : 117a, 117b) 및 복수 개의 입력 버튼(118 : 118a ~ 118c)들이 구비된다.
온도 표시 장치(116)는 컨트롤러(112)의 제어를 받아서 온도 센서(114)로부터 실시간으로 측정된 히터(130)의 온도 정보를 표시한다. 동작 표시등(117)에는 전원 공급 상태 표시등(117a)과 히터 동작 표시등(117b)이 포함되며, 컨트롤러(112)의 제어를 받아서 점등된다. 또 입력 버튼(118)에는 히터(130)의 설정 온도를 증가 및 감소시키는 온도 조절 버튼(118b, 118c)과, 온도 설정, 재접점 딜레이 타임 조정, 온도 보정 및 편차 조절 등의 기능을 설정하는 기능 설정 버튼(118a)이 포함된다.
여기서 재접점 딜레이 타임 조정 기능은 포매용 포셉 가열 거치대(100)의 온, 오프 동작을 자주 반복하는 경우, 장비 고장, 오동작 등의 문제가 발생할 수 있으므로, 온(ON) 제어와 오프(OFF) 제어 간에 일정한 간격이 요구된다. 따라서 재접점 딜레이 타임 조정 기능은 출력 표시 동작을 지연시키는 지연 시간을 설정하는 기능이다. 이는 순간적인 정전이나 전원 재공급 시, 온도 조절기(110) 및 히터(130) 등을 보호할 수 있다. 온도 보정 기능은 온도 센서(114)에 의해 발생되는 측정 온도의 오차 및 기준 온도와 온도 표시 장치(116)에 표시되는 온도가 상이할 때, 이를 보정하는 기능이다. 그리고 편차 조절 기능은 온, 오프가 너무 자주 동작하게 되면, 온도 조절기(110)의 릴레이나 이외의 출력 접점이 빨리 손상되거나 외부의 노이즈 등에 의하여 발진 현상, 체터링 등의 헌팅이 발생되므로, 이러한 현상을 방지하기 위하여 편차 온도를 설정하여 기기의 접점이나 릴레이 등을 보호하기 위한 기능이다.
이 실시예에서 온도 조절기(110)의 설정 온도 범위는 약 -40℃ 내지 90℃ 이고, 지연 시간은 약 0 내지 20분 이고, 편차 온도는 약 0.1℃ 내지 19.9℃ 이며, 그리고 온도 보정은 ±5.0℃ 이다.
도 4는 도 1에 도시된 파라핀 베스의 구성을 나타내는 도면이다.
도 4를 참조하면, 파라핀 베스(120)는 상부면의 가장자리가 일정 두께를 갖도록 개방된다. 파라핀 베스(120)는 하부면이 밀폐되어 개방된 내부에 파라핀을 저장하는 저장 공간(124)을 형성한다. 파라핀 베스(120)는 상부면의 가장자리에 포셉을 삽입 거치하고, 삽입된 포셉을 일정 온도로 가열 및 유지시키는 복수 개의 포셉 히팅 홀(122)이 형성된다. 이러한 파라핀 베스(120)는 열전도율이 높은 재질 예컨대, 알루미늄 재질 또는 스테인레스 재질의 원통 형상으로 구비되고, 부식 및 변색을 방지하기 위하여 아노다이징 도금 처리된다.
파라핀 베스(120)는 저장 공간(124)의 중앙에 원기둥 형상으로 돌출되는 돌출 기둥(126)이 형성되어, 이를 통해 히터(130)로부터 가열되는 열을 저장 공간(124)의 내부 전체로 균일하게 전달시킨다.
또 파라핀 베스(120)는 저장 공간(124)에 파라핀을 저장하고, 이물질 제거용 스펀지(140)가 수납된다. 이러한 파라핀 베스(120)는 저장 공간(124)에 수용된 파라핀이 모세관 현상으로 일부가 이물질 제거용 스펀지(140)의 상부에 머금을 수 있고, 파라핀이 많은 양일 경우, 하중에 의해서 저장 공간(124)의 하부에 고이게 함으로서, 상부에 파라핀이 일정 온도를 포셉 히팅 홀(122)로 전달하는 매개체가 될 수 있다.
도 5는 도 2에 도시된 히터의 구성을 나타내는 도면이다.
도 5를 참조하면, 히터(130)는 파라핀 베스(120)의 하부면에 대응하여 원형의 히팅 플레이트로 구비된다. 히터(130)는 예컨대, 루비 히터로 구비되고, 일측에 과열(예컨대, 100℃ 이상)을 방지하기 위한 안전 장치 즉, 과열 방지 장치(132)가 내장 또는 부착된다. 이 실시예에서 과열 방지 장치(132)는 바이메탈로 구비된다.
따라서 히터(130)는 온도 조절기(110)에 의해 설정된 일정 온도로 파라핀 베스(120)를 가열한다.
도 6은 도 1에 도시된 이물질 제거용 스펀지의 구성을 나타내는 도면이다.
도 6을 참조하면, 이물질 제거용 스펀지(140)는 일정 두께의 원형 플레이트 형상으로 구비되고, 중앙에 관통홀(142)이 형성되고, 가장자리에 복수 개의 홈(144)이 형성된다. 이물질 제거용 스펀지(140)는 관통홀(142)이 파라핀 베스(120)의 돌출 기둥(126)에 삽입되어 고정되고, 홈(144)들에 의해 파라핀 베스(120)의 저장 공간(124)에 수납이 용이하도록 제공된다.
이러한 이물질 제거용 스펀지(140)는 예를 들어, 원상 회복이 빠르고 내구성이 좋은 하드 스펀지 등으로 구비되어 파라핀 베스(120)의 저장 공간(124)에 저장된 파라핀을 흡수하고, 포셉으로 뚫거나 문지르는 세정 작업을 반복하여 포셉에 잔존하는 이물질 즉, 이전의 검체에서 작업하였던 파라핀 및 검체 찌꺼기 등을 제거하여 양질의 표본을 제작할 수 있도록 한다.
그리고 도 7은 도 1에 도시된 파라핀 베스와 상부 케이스 사이에 구비되는 단열 링의 구성을 나타내는 도면이다.
도 7을 참조하면, 단열 링(150)은 파라핀 베스(120)와 상부 케이스(160) 사이에 구비된다. 단열 링(150)은 열에 강하고 가공이 용이한 재질 예컨대, PC 재질로 구비되어 파라핀 베스(120)의 측면 및 상부의 가장자리와 외부를 단열시켜서 열 효율을 향상시키고, 작업 중 화상을 방지할 수 있다. 이 실시예에서 파라핀 베스(120)와 단열 링(150) 사이, 히터(130)와 하부 케이스(102) 사이 등에는 단열재(미도시됨)가 더 구비된다. 단열재에는 열전도성이 낮고 단열성이 우수한 재질 예를 들어, 세라믹 화이버(Ceramic Fiber) 등으로 구비된다.
이상에서, 본 발명에 따른 포매용 포셉 가열 거치대의 구성 및 작용을 상세한 설명과 도면에 따라 도시하였지만, 이는 실시예를 들어 설명한 것에 불과하며, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화 및 변경이 가능하다.
100 : 포매용 포셉 가열 거치대
102 : 하부 케이스
110 : 온도 조절기
112 : 컨트롤러
114 : 온도 센서
116 : 온도 표시 장치
120 : 파라핀 베스
122 : 포셉 히팅 홀
124 : 저장 공간
126 : 돌출 기둥
130 : 히터
132 : 과열 방지 장치
140 : 이물질 제거용 스펀지
150 : 단열 링
160 : 상부 케이스

Claims (3)

  1. 포매용 포셉 가열 거치대에 있어서:
    내부에 수용 공간을 형성하고 상부면이 평평한 하부 케이스;
    하부면이 밀폐되고 상부면이 개방되어 내부에 파라핀이 수용되는 저장 공간을 형성하고, 상기 상부면의 가장자리가 일정 두께를 갖도록 형성되며, 상기 상부면의 가장자리에 포셉을 삽입, 거치하는 복수 개의 포셉 히팅 홀이 형성되어 상기 하부 케이스의 상부에 결합되는 파라핀 베스;
    상기 파라핀 베스의 하부면에 설치되어 상기 파라핀 베스 및 상기 포셉 히팅 홀을 가열하여 상기 포셉 히팅 홀에 삽입, 거치된 포셉의 단부를 일정한 온도로 유지시키는 히터;
    상기 파라핀 베스의 외부를 감싸도록 결합되어 상기 파라핀 베스를 단열시키는 단열 링;
    상기 파라핀 베스의 상부면이 노출되게 상기 단열 링의 상부 가장자리와 측면을 덮도록 상기 단열 링이 결합된 상기 파라핀 베스의 외부에 결합되는 상부 케이스;
    전면부가 상기 하부 케이스의 전면에 노출되게 상기 하부 케이스의 상기 수용 공간에 설치되고, 상기 히터의 가열 온도를 설정하고, 상기 파라핀 베스의 온도를 실시간으로 측정하는 온도 센서로부터 측정된 온도 정보를 표시하는 온도 조절기; 및
    상기 파라핀 베스의 상기 저장 공간에 수용되고, 포셉의 단부를 세정하여 포셉에 부착된 이물질을 제거하는 이물질 제거용 스펀지를 포함하는 것을 특징으로 하는 포매용 포셉 가열 거치대.
  2. 삭제
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 히터에는;
    일측에 상기 히터의 과열을 방지하기 위한 과열 방지 장치가 구비되는 것을 특징으로 하는 포매용 포셉 가열 거치대.
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3877213B2 (ja) * 2003-02-07 2007-02-07 康彦 北山 アレイブロック作成方法とこれに使用される組織くりぬき装置
KR100741713B1 (ko) * 2006-05-01 2007-07-23 에이스메디칼 주식회사 의료용 가온기
KR100980757B1 (ko) 2010-03-23 2010-09-10 주식회사 무한기업 의료용 가온기
KR101059462B1 (ko) 2009-08-13 2011-08-25 타임시스템(주) 전자태그를 이용한 지능형 병리조직 포매용 카세트 인지 시스템
KR20120039522A (ko) 2009-04-17 2012-04-25 도메인 서지컬, 인크. 유도가열된 외과용 기구
KR101437732B1 (ko) * 2012-09-27 2014-09-03 동국대학교 산학협력단 냉, 온각 검사 기능을 가지는 의료기기
KR101586565B1 (ko) * 2014-05-12 2016-01-18 기호윤 의료용 가온 시스템
KR101855816B1 (ko) 2016-05-13 2018-05-10 주식회사 고영테크놀러지 생체 조직 검사 장치 및 그 방법

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3877213B2 (ja) * 2003-02-07 2007-02-07 康彦 北山 アレイブロック作成方法とこれに使用される組織くりぬき装置
KR100741713B1 (ko) * 2006-05-01 2007-07-23 에이스메디칼 주식회사 의료용 가온기
KR20120039522A (ko) 2009-04-17 2012-04-25 도메인 서지컬, 인크. 유도가열된 외과용 기구
KR101059462B1 (ko) 2009-08-13 2011-08-25 타임시스템(주) 전자태그를 이용한 지능형 병리조직 포매용 카세트 인지 시스템
KR100980757B1 (ko) 2010-03-23 2010-09-10 주식회사 무한기업 의료용 가온기
KR101437732B1 (ko) * 2012-09-27 2014-09-03 동국대학교 산학협력단 냉, 온각 검사 기능을 가지는 의료기기
KR101586565B1 (ko) * 2014-05-12 2016-01-18 기호윤 의료용 가온 시스템
KR101855816B1 (ko) 2016-05-13 2018-05-10 주식회사 고영테크놀러지 생체 조직 검사 장치 및 그 방법

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