KR102121685B1 - Defect part inspection apparatus - Google Patents

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KR102121685B1
KR102121685B1 KR1020190011899A KR20190011899A KR102121685B1 KR 102121685 B1 KR102121685 B1 KR 102121685B1 KR 1020190011899 A KR1020190011899 A KR 1020190011899A KR 20190011899 A KR20190011899 A KR 20190011899A KR 102121685 B1 KR102121685 B1 KR 102121685B1
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Abstract

The present invention provides a part defect inspection apparatus. According to embodiments of the present invention, the part defect inspection apparatus comprises: an object insertion unit into which a part for defect inspection is inserted; an inspection unit to use inspection light generated by an interaction with the part to inspect whether the part inserted into the object insertion unit is defective; a first light source unit which is formed on a lower side of the inspection unit, emits first light to discharge the first light to the object insertion unit, and transfers the inspection light transferred in the direction of the object insertion unit to the inspection unit; a second light source unit which is formed on a lower portion of the first light source unit, transfers the first light to the object insertion unit or emits second light to discharge the second light to the object insertion unit, and transfers the inspection light to the first light source unit; and a third light source unit which is formed on a lower portion of the object insertion unit, and emits third light towards the object insertion unit.

Description

부품 불량 검사 장치{Defect part inspection apparatus}Defect part inspection apparatus

본 발명은 부품 불량 검사 장치에 관한 것으로, 특히, 인서트와 같은 작은 부품의 불량 여부를 빛을 이용하여 검사할 수 있는 검사 장치에 관한 것이다. The present invention relates to an inspection device for defective parts, and more particularly, to an inspection device capable of inspecting whether a small part such as an insert is defective using light.

일반적으로 입체 구조를 갖는 산업용 부품에는 절삭 공구, 페라이트 마그넷, 엔디 마그넷, 특수 볼트, 특수 너트, 오링 제품, 자동차 부품, 가전 부품, 단조 가공 부품, 코팅 부품 등 다양한 종류가 있을 수 있다. 이러한 산업용 부품의 품질 관리는 제조 공정상에서 매우 중요한 것이며, 특히 정밀 부품의 경우 생산되어 유통 및 수출 전에 더욱 엄격한 품질 관리 및 분석이 요구된다.In general, industrial components having a three-dimensional structure may include various types of cutting tools, ferrite magnets, end magnets, special bolts, special nuts, O-ring products, automobile parts, home appliance parts, forging parts, and coating parts. The quality control of these industrial parts is very important in the manufacturing process, and especially in the case of precision parts, more stringent quality control and analysis is required before distribution and export.

정밀 부품의 결함을 검사함으로써 부품 제조사는 정밀 부품의 유통 및 수출 전에 이러한 결함을 제거하거나 수정/보완할 수 있다. 정밀 부품의 품질 및 높은 정밀도의 요구가 증가함에 따라, 부품 전체 제조 공정에서 정밀 부품의 검사의 중요도는 점점 높아지고 있다.By inspecting defects in precision components, component manufacturers can eliminate, correct, or compensate for these defects prior to distribution and export of precision components. As the demand for high quality and high precision parts increases, the importance of inspecting precision parts in the entire manufacturing process of parts increases.

대한민국 등록특허 제10-1733300호Republic of Korea Registered Patent No. 10-1733300

상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해, 본 발명의 일 실시예는 빛을 이용하여 부품의 불량 여부를 검사할 수 있는 부품 불량 검사 장치를 제공하고자 한다.In order to solve the problems of the prior art as described above, an embodiment of the present invention is to provide a component defect inspection apparatus that can inspect whether a component is defective using light.

위와 같은 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 측면에 따르면, 부품 불량 검사 장치가 제공된다. 상기 부품 불량 검사 장치는, 불량 검사를 위한 부품이 삽입되는 물체 삽입부; 상기 부품과의 상호작용을 통해 생성된 검사광을 이용하여 상기 물체 삽입부에 삽입된 상기 부품의 불량 여부를 검사하는 검사부; 상기 검사부의 하부측에 형성되고, 제 1광을 발광하여 상기 물체 삽입부로 상기 제 1광을 방출하고, 상기 물체 삽입부 방향에서 전달되는 상기 검사광을 상기 검사부로 전달하는 제 1광원부; 상기 제 1광원부의 하부에 형성되고, 상기 제 1광을 상기 물체 삽입부로 전달하거나 제 2광을 발광하여 상기 물체 삽입부로 상기 제 2광을 방출하고, 상기 검사광을 상기 제 1광원부로 전달하는 제 2 광원부; 및 상기 물체 삽입부의 하부에 형성되며, 상기 물체 삽입부를 향해 제 3광을 발광하는 제 3 광원부;를 포함한다.According to an aspect of the present invention for solving the above problems, a component defect inspection apparatus is provided. The component defect inspection apparatus includes: an object insertion unit into which a component for defect inspection is inserted; An inspection unit for inspecting whether the component inserted into the object insertion unit is defective by using inspection light generated through interaction with the component; A first light source unit formed on a lower side of the inspection unit, emitting the first light to emit the first light to the object insertion unit, and transmitting the inspection light transmitted in the direction of the object insertion unit to the inspection unit; It is formed on the lower portion of the first light source portion, transmits the first light to the object insertion portion or emits a second light to emit the second light to the object insertion portion, and transmits the inspection light to the first light source portion A second light source unit; And a third light source unit formed under the object insertion unit and emitting third light toward the object insertion unit.

상기 제 1광 및 제 2광은 적색 LED를 이용하여 형성되며, 상기 제 3광은 청색 LED를 이용하여 형성될 수 있다.The first light and the second light are formed using a red LED, and the third light can be formed using a blue LED.

상기 검사광은, 상기 제 1광 및 제 2광이 상기 부품에서 반사되어 상기 부품의 면을 검사할 수 있도록 형성되는 제 1검사광; 및 상기 제 3광이 상기 부품에 의해 일부 차단되어 상기 부품의 경계면을 검사할 수 있도록 형성되는 제 2검사광;으로 형성될 수 있다.The inspection light may include: a first inspection light formed such that the first light and the second light are reflected from the part to inspect a surface of the part; And a second inspection light that is partially blocked by the part to inspect the interface of the part.

상기 제 1광원부는, 상기 제 1광원부의 일 측면에 형성되어 상기 제 1광을 생성하는 제 1광원 모듈; 상기 제 1광의 진행 방향을 일정하게 정리하는 제 1편광 모듈; 상기 제 1편광 모듈을 통과한 상기 제 1광의 진행 방향을 상기 물체 삽입부 방향으로 변경하는 반투과 모듈; 및 상기 제 1광원 모듈, 상기 제 1편광 모듈 및 상기 반투과 모듈을 내부에 포함하여 보호하도록 형성되는 제 1하우징;을 포함하며, 상기 제 1하우징은, 상기 제 1하우징의 하부에 형성되어 상기 제 1광을 상기 물체 삽입부 방향으로 방출하거나 상기 검사광을 상기 제 1하우징의 내부로 전달 받는 제 1-1광방출 모듈; 및 상기 제 1하우징의 상부에 형성되어 상기 검사광을 상기 검사부 방향으로 방출하는 제 1-2광 방출 모듈;을 포함할 수 있다.The first light source unit may include a first light source module formed on one side of the first light source unit to generate the first light; A first polarization module that regularly arranges a traveling direction of the first light; A transflective module that changes the direction of travel of the first light passing through the first polarization module in the direction of the object insertion unit; And a first housing formed to protect the first light source module, the first polarization module, and the semi-transmissive module therein, wherein the first housing is formed under the first housing and A 1-1 light emission module that emits first light in the direction of the object insertion unit or receives the inspection light into the first housing; And a first or second light emission module formed on the first housing to emit the inspection light toward the inspection unit.

상기 제 2광원부는, 상기 제 2광원부의 내부에 형성되어 상기 제 2광을 생성하는 복수개의 제 2광원 모듈; 및 상기 복수개의 제 2광원 모듈을 보호하도록 상기 제 2광원 모듈을 내부에 포함하도록 형성되는 제 2하우징;을 포함하며, 상기 제 2하우징은, 상기 제 2하우징의 하부에 형성되어 상기 제 1광 및 제 2광을 상기 물체 삽입부 방향으로 방출하거나, 상기 검사광을 상기 제 2하우징의 내부로 전달받는 제 2-1 광방출 모듈; 및 상기 제 2하우징의 상부에 형성되어 상기 제 1광을 상기 제 2하우징의 내부로 전달 받거나, 상기 검사광을 상기 제 2광원부 방향으로 방출하는 제 2-2광 방출 모듈;을 포함할 수 있다.The second light source unit may include a plurality of second light source modules formed inside the second light source unit to generate the second light; And a second housing formed to include the second light source module therein to protect the plurality of second light source modules, wherein the second housing is formed under the second housing to form the first light. And a 2-1 light emitting module that emits a second light in the direction of the object insertion unit, or receives the inspection light into the interior of the second housing. And a 2-2 light emission module formed on an upper portion of the second housing to receive the first light into the second housing or to emit the inspection light in the direction of the second light source unit. .

상기 복수개의 제 2광원 모듈은 적층되어 층 구조를 형성하고, 각 층이 서로 다른 각도로 상기 제 2광을 발광하도록 형성될 수 있다.The plurality of second light source modules may be stacked to form a layer structure, and each layer may be formed to emit the second light at different angles.

상기 복수개의 제 2광원 모듈은 적어도 4층 구조를 형성하며, 가장 하부에 형성되는 1층의 상기 제 2광원 모듈은 원기둥 형태로 형성되며, 층이 증가할수록 지면과 이루는 경사도가 감소하도록 형성될 수 있다.The plurality of second light source modules form at least a four-layer structure, and the second light source module of the first layer formed at the bottom is formed in a columnar shape, and may be formed to decrease inclination with the ground as the number of layers increases. have.

상기 제 2광원부는, 상기 제 2광의 진행 방향을 일정하게 정리하기 위한 제 2편광 모듈;을 더 포함할 수 있다.The second light source unit may further include a second polarization module for regularly arranging the traveling direction of the second light.

상기 제 3광원부는, 상기 제 3광원부의 내부에 형성되어 상기 제 3광을 생성하는 제 3광원 모듈; 및 상기 제 3광원 모듈을 보호하도록 상기 제 3광원 모듈을 내부에 포함하도록 형성되는 제 3하우징;을 포함하며, 상기 제 3하우징은, 상기 제 3하우징의 상부에 형성되어 상기 제 3광을 상기 물체 삽입부 방향으로 방출하도록 형성되는 제 3광방출 모듈;을 포함할 수 있다.The third light source unit may include a third light source module formed inside the third light source unit to generate the third light; And a third housing formed to include the third light source module therein to protect the third light source module, wherein the third housing is formed on an upper portion of the third housing to receive the third light. It may include a; third light emitting module formed to emit in the direction of the object insertion portion.

상기 제 3하우징은, 상기 제 3광방출 모듈의 일 측에 형성되어 상기 제 3광의 진행 방향을 일정하게 정하는 제 2편광 모듈;을 더 포함할 수 있다.The third housing may further include a second polarization module formed on one side of the third light emitting module to uniformly determine a direction in which the third light travels.

본 발명의 일 실시예에 따른 부품 불량 검사 장치는 복수개의 광원을 사용함으로써, 다양한 각도에서 생성되는 검사광을 이용하여 부품의 불량 여부를 검사할 수 있는 효과가 있다.Part defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, by using a plurality of light sources, by using the inspection light generated from various angles, there is an effect that can inspect the defect of the parts.

또, 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 불량 검사 장치는 빛의 진행 방향을 정렬함으로써 부품 불량 검사의 정확도를 증가시킬 수 있는 효과가 있다. In addition, the component defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention has an effect of increasing the accuracy of the component defect inspection by aligning the direction of light travel.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 부품 불량 검사 장치의 구조를 나타낸 도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 제 1광원부의 (a) 구조 및 (b) 빛의 진행 방향을 나타낸 도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 제 2광원부의 (a) 구조 및 (b) 빛의 진행 방향을 나타낸 도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 제 2광원 모듈의 (a) 적층 구조, (b) 경사가 존재하는 제 2광원 모듈 및 (c) 경사가 존재하지 않는 제 2광원 모듈의 형태를 나타낸 도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 제 3광원부의 (a) 구조 및 (b) 빛의 진행 방향을 나타낸 도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 편광 모듈을 빛이 통과한 결과를 나타낸 도이다.
도 7은 파장에 따른 금속면 분광 반사율을 나타낸 그래프이다.
1 is a view showing the structure of a component defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a view showing a (a) structure of the first light source unit and (b) a light traveling direction according to an embodiment of the present invention.
3 is a view showing the structure (a) and (b) the direction of light travel of the second light source unit according to an embodiment of the present invention.
4 is a view showing the form of (a) a stacked structure of a second light source module according to an embodiment of the present invention, (b) a second light source module having a slope, and (c) a second light source module having no slope. to be.
5 is a view showing a (a) structure and (b) a light traveling direction of a third light source unit according to an embodiment of the present invention.
6 is a view showing a result of light passing through a polarization module according to an embodiment of the present invention.
7 is a graph showing the metal surface spectral reflectance according to wavelength.

이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 붙였다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art to which the present invention pertains can easily practice. The present invention can be implemented in many different forms and is not limited to the embodiments described herein. In the drawings, parts not related to the description are omitted in order to clearly describe the present invention, and the same reference numerals are attached to the same or similar elements throughout the specification.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 부품 불량 검사 장치의 구조를 나타낸 도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 제 1광원부의 (a) 구조 및 (b) 빛의 진행 방향을 나타낸 도이며, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 제 2광원부의 (a) 구조 및 (b) 빛의 진행 방향을 나타낸 도이고, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 제 2광원 모듈의 (a) 적층 구조, (b) 경사가 존재하는 제 2광원 모듈 및 (c) 경사가 존재하지 않는 제 2광원 모듈의 형태를 나타낸 도이며, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 제 3광원부의 (a) 구조 및 (b) 빛의 진행 방향을 나타낸 도이고, 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 편광 모듈을 빛이 통과한 결과를 나타낸 도이며, 도 7은 파장에 따른 금속면 분광 반사율을 나타낸 그래프이다.1 is a view showing the structure of a component defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a view showing a (a) structure of the first light source unit and (b) the direction of light travel according to an embodiment of the present invention 3 is a view showing the structure (a) of the second light source unit and (b) the direction in which light travels, and FIG. 4 shows (a) of the second light source module according to the embodiment of the present invention. ) Stacked structure, (b) a second light source module having a slope and (c) a second light source module having no slope, and FIG. 5 is a third light source unit according to an embodiment of the present invention. a) Structure and (b) is a diagram showing the direction of light travel, Figure 6 is a diagram showing the results of light passing through the polarization module according to an embodiment of the present invention, Figure 7 is a metal surface spectral reflectance according to the wavelength It is the graph shown.

이하에서는 도 1 내지 도 7을 이용하여 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 불량 검사 장치에 대해 상세히 설명하도록 한다.Hereinafter, a component defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 7.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 불량 검사 장치(100)는, 검사부(110), 제 1광원부(120), 제 2광원부(130), 물체 삽입부(140) 및 제 3광원부(150)를 포함하여 형성된다.Referring to Figure 1, the component defect inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention, the inspection unit 110, the first light source unit 120, the second light source unit 130, the object insertion unit 140 and the first It is formed including a three light source unit 150.

검사부(110)는 검사하고자 하는 부품과의 상호작용을 통해 생성된 검사광을 이용하여 부품의 불량 여부를 검사한다. 이때, 검사하고자 하는 부품은 물체 삽입부(140)에 삽입된 부품일 수 있다. 또, 물체 삽입부(140)는 도 1에 도시된 바와 같이 후술되는 제 2광원부(130)와 제 3광원부(150) 사이에 형성될 수 있다.The inspection unit 110 checks whether the parts are defective by using inspection light generated through interaction with the parts to be inspected. At this time, the component to be inspected may be a component inserted into the object insertion unit 140. In addition, the object insertion unit 140 may be formed between the second light source unit 130 and the third light source unit 150, which will be described later, as illustrated in FIG. 1.

검사광은 후술되는 제 1광원부(120), 제 2광원부(130) 및 제 3광원부(150)에서 각각 생성되는 제 1광, 제2광 및 제3광을 이용하여 부품의 일 면을 검사하거나 경계를 검사하도록 형성된다.The inspection light inspects one surface of the component by using the first light, the second light, and the third light generated by the first light source part 120, the second light source part 130, and the third light source part 150, respectively, which will be described later. It is formed to check boundaries.

이때, 제 1광 및 제 2광이 부품에서 반사되어 부품의 면을 검사할 수 있도록 형성되는 검사광은 제 1검사광으로, 제 3광이 부품에 의해 일부 차단되어 부품의 경계면을 검사할 수 있도록 형성되는 검사광은 제 2검사광으로 정의될 수 있다.At this time, the first light and the second light is reflected from the part, the inspection light formed to inspect the surface of the part is the first inspection light, and the third light is partially blocked by the part to inspect the interface of the part. The inspection light formed so as to be defined as the second inspection light.

도 2에는 본 발명의 실시예에 따른 제 1광원부의 (a) 구조 및 (b) 빛의 진행 방향이 도시되고 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 제 1광원부(120)는 검사부(110)의 하부측에 형성되며, 제 1광을 발광하여 물체 삽입부(140) 방향으로 제 1광을 방출하고, 물체 삽입부(140) 방향에서 전달되는 검사광을 검사부(110)로 전달하도록 형성된다.FIG. 2 shows the structure (a) of the first light source unit and the direction (b) of light traveling according to an embodiment of the present invention. The first light source unit 120 according to an embodiment of the present invention is formed on the lower side of the inspection unit 110, emits the first light to emit the first light in the direction of the object insertion unit 140, the object insertion unit It is formed to transmit the inspection light transmitted in the (140) direction to the inspection unit 110.

도 2a를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 제 1광원부(120)는, 제 1하우징(210), 제 1광원 모듈(220), 제 1편광 모듈(230) 및 반투과 모듈(240)을 포함하여 형성된다.Referring to Figure 2a, the first light source unit 120 according to an embodiment of the present invention, the first housing 210, the first light source module 220, the first polarization module 230 and the semi-transmissive module 240 ).

제 1하우징(210)은 후술되는 제 1광원 모듈(220), 제 1편광 모듈(230) 및 반투과 모듈(240)을 보호하기 위해 내부에 포함하도록 형성된다. 이때, 제 1하우징(210)은 제 1광을 물체 삽입부(140) 방향으로 방출하거나 검사광을 제 1하우징(210)의 내부로 전달받기 위해 하부에 형성되는 제 1-1광방출 모듈(250) 및 검사광을 검사부(110) 방향으로 방출하기 위해 제 1하우징(210)의 상부에 형성되는 제 1-2광방출 모듈(260)을 더 포함할 수 있다.The first housing 210 is formed to be included therein to protect the first light source module 220, the first polarization module 230, and the transflective module 240, which will be described later. At this time, the first housing 210 is a 1-1 light emitting module formed at the bottom to emit the first light in the direction of the object insertion unit 140 or to receive the inspection light into the interior of the first housing 210 ( 250) and a first or second light emission module 260 formed on the first housing 210 to emit the inspection light in the direction of the inspection unit 110.

제 1광원 모듈(220)은 제 1광을 생성하여 제 1하우징(210)의 내부로 진행하도록 구비된다. 이때, 제 1광원 모듈(220)은 바람직하게는 제 1하우징(210)의 일 측면에 구비될 수 있으며, 면 광원으로 형성될 수도 있고, 이를 위해 복수개의 LED를 포함할 수 있다.The first light source module 220 is provided to generate the first light and proceed to the interior of the first housing 210. At this time, the first light source module 220 may be preferably provided on one side of the first housing 210, may be formed of a surface light source, and may include a plurality of LEDs for this purpose.

제 1편광 모듈(230)은 제 1광의 진행 방향을 일정하게 정리하기 위해 구비된다. 제 1편광 모듈(230)은 바람직하게는 제 1광원 모듈(220)에서 제 1광을 생성하는 방향에 형성되어 제 1광이 제 1편광 모듈(230)을 통과하도록 구비된다. 따라서, 제 1편광 모듈(230)을 통과하는 제 1광은 일정한 방향으로 직진성을 가지도록 배열될 수 있다.The first polarization module 230 is provided to regularly arrange the traveling direction of the first light. The first polarization module 230 is preferably formed in a direction in which the first light source module 220 generates the first light so that the first light passes through the first polarization module 230. Therefore, the first light passing through the first polarization module 230 may be arranged to have straightness in a certain direction.

반투과 모듈(240)은 제 1편광 모듈(230)의 타측에 구비된다. 반투과 모듈(240)은 제 1편광 모듈(230)을 통과하여 일정한 방향으로 직진성을 가지는 제 1광의 진행 방향을 제 1-1광방출 모듈(250) 방향으로 변경하거나, 제 1-1광방출 모듈(250)을 통해 제 1광원부(120) 내부로 전달된 검사광을 투과시켜 제 1-2광방출 모듈(260)을 통해 검사광이 검사부(110)로 방출되도록 형성될 수 있다.The transflective module 240 is provided on the other side of the first polarization module 230. The semi-transmissive module 240 passes the first polarization module 230 to change the traveling direction of the first light having a straightness in a certain direction to the 1-1 light emission module 250 direction, or to emit the 1-1 light emission The inspection light transmitted to the inside of the first light source unit 120 through the module 250 may be transmitted so that the inspection light is emitted to the inspection unit 110 through the first and second light emission modules 260.

도 2b에는 본 발명의 일 실시예에 따른 제 1광 및 검사광이 제 1광원부(120) 내부를 진행하는 형태가 도시되고 있다. 도 2b를 참조하면, 제 1광(A)은 제 1광원 모듈(220)에서 생성되어 제 1편광 모듈(230)을 통과한다. 제 1편광 모듈(230)을 통과하며 형성된 재배열된 제 1광(B)은, 반투과 모듈(240)의 빗변에서 반사되어 제 1-1광방출 모듈(250) 방향으로 진행 방향이 변경되어 제 1-1광방출 모듈(250)을 이용하여 제 1광원부(120)에서 방출된다.2B illustrates a form in which the first light and the inspection light according to an embodiment of the present invention proceed inside the first light source unit 120. Referring to FIG. 2B, the first light A is generated in the first light source module 220 and passes through the first polarization module 230. The rearranged first light B formed while passing through the first polarization module 230 is reflected from the hypotenuse of the semi-transmissive module 240, and the traveling direction is changed in the direction of the 1-1 light emission module 250. It is emitted from the first light source unit 120 using the 1-1 light emission module 250.

또, 물체 삽입부(140)에서 생성된 검사광(C)은 제 1-1광방출 모듈(250)을 통해 제 1광원부(120) 내부로 진행하고, 반투과 모듈(240)을 투과하여 제 1-2광방출 모듈(260)을 통해 검사부(110)로 방출된다.In addition, the inspection light (C) generated by the object insertion unit 140 proceeds to the inside of the first light source unit 120 through the 1-1 light emission module 250, and transmits the semi-transmissive module 240 to remove the inspection light C. It is discharged to the inspection unit 110 through the 1-2 light emitting module 260.

한편, 도 3에는 본 발명의 실시예에 따른 제 2광원부의 (a) 구조 및 (b) 빛의 진행 방향이 도시되고 있으며, 도 4에는 본 발명의 실시예에 따른 제 2광원 모듈의 (a) 적층 구조, (b) 경사가 존재하는 제 2광원 모듈 및 (c) 경사가 존재하지 않는 제 2광원 모듈의 형태가 나타나고 있다. Meanwhile, FIG. 3 shows (a) a structure of a second light source unit and (b) a direction of light travel according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 shows (a) of the second light source module according to an embodiment of the present invention. ) A stacked structure, (b) a second light source module having an inclination and (c) a second light source module without an inclination are shown.

본 발명의 일 실시예에 따른 제 2광원부(130)는 제 1광원부(120)의 하부에 형성되고, 제 1광을 물체 삽입부로 통과시키거나 제 2광을 발광하여 물체 삽입부로 제 2광을 방출하며, 검사광을 제 1광원부 방향으로 통과시키도록 형성된다. 이를 위해 제 2광원부(130)는, 제 2하우징(310) 및 제 2광원 모듈(320)을 포함하여 형성된다.The second light source unit 130 according to an embodiment of the present invention is formed under the first light source unit 120 and passes the first light through the object insertion unit or emits the second light to transmit the second light to the object insertion unit. It emits and is formed to pass the inspection light in the direction of the first light source. To this end, the second light source unit 130 is formed to include a second housing 310 and a second light source module 320.

제 2하우징(310)은 후술되는 제 2광원 모듈(320)을 보호하기 위해 내부에 포함하도록 형성된다. 이때, 제 2하우징(310)은 일 예로 원기둥 형태로 형성될 수도 있다. The second housing 310 is formed to be included therein to protect the second light source module 320 to be described later. In this case, the second housing 310 may be formed in a cylindrical shape, for example.

또, 제 2하우징(310)은 제 1광 및 제 2광을 물체 삽입부(140) 방향으로 방출하거나 물체 삽입부(140)로부터 검사광을 제 2하우징(310) 내부로 전달받기 위해 제 2하우징(310)의 하부에 형성되는 제 2-1광방출 모듈(311) 및 제 1광을 제 1광원부(120)로부터 제 2하우징(310) 내부로 전달받거나 검사광을 검사광을 제 1광방원부(120) 방향으로 방출하기 위해 상부에 형성되는 제 2-2광방출 모듈(313)을 더 포함할 수 있다.Also, the second housing 310 emits the first light and the second light in the direction of the object insertion unit 140 or receives the inspection light from the object insertion unit 140 into the second housing 310. The 2-1 light emission module 311 and the first light formed on the lower portion of the housing 310 are transferred from the first light source unit 120 into the second housing 310 or the inspection light is transmitted to the first light beam. To emit in the direction of the original portion 120 may further include a 2-2 light emitting module 313 formed on the top.

제 2광원 모듈(320)은 제 2광이 제 2하우징(310) 내부를 지나 제 2-1광방출 모듈(311)을 통해 물체 삽입부(140) 방향으로 진행하도록 제 2광을 생성하기 위해 구비된다. 이때, 일 예로 제 2광원 모듈(320)은 복수개가 구비되어 적층되는 형태로 형성될 수 있다.The second light source module 320 generates second light so that the second light passes inside the second housing 310 and proceeds toward the object insertion unit 140 through the 2-1 light emitting module 311. It is provided. In this case, as an example, the second light source module 320 may be formed in a plurality of stacked form.

도 4a를 참고하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 복수개의 제 2광원 모듈(320)은 4개의 제 2광원 모듈(410 내지 440)이 적층되도록 구비된다. 제 2광원 모듈(410 내지 440)은 도 4b에 도시된 바와 같이 경사가 있는 제 2광원 모듈(410 내지 430) 및 도 4c에 도시된 바와 같이 원기둥 형태의 제 2광원 모듈(440)로 구분될 수 있다. Referring to FIG. 4A, a plurality of second light source modules 320 according to an embodiment of the present invention are provided so that four second light source modules 410 to 440 are stacked. The second light source modules 410 to 440 may be divided into second inclined second light source modules 410 to 430 and second cylindrical light source modules 440 as shown in FIG. 4C. Can be.

복수개의 제 2광원 모듈(410 내지 440)은 도 3b에 도시된 바와 같이 제 2광(D)을 각각 발광한다. 이때, 복수개의 제 2광원 모듈(410 내지 440) 중 원기둥 형태의 제 2광원 모듈(440)은 가장 하부에 1층으로 형성되며, 이후 1층의 제 2광원 모듈(440)의 상부에 누적되어 적층되는 복수개의 제 2광원 모듈(410 내지 430)은 층이 올라갈수록 지면과 이루는 경사도가 감소하도록 형성될 수 있다.The plurality of second light source modules 410 to 440 respectively emit the second light D as illustrated in FIG. 3B. At this time, among the plurality of second light source modules 410 to 440, the second light source module 440 in the form of a cylinder is formed as one layer at the bottom, and then accumulated at the top of the second light source module 440 on the first floor. The plurality of stacked second light source modules 410 to 430 may be formed to decrease inclination with the ground as the layer rises.

이때, 본 발명의 일 실시예에 따른 복수개의 제 2광원 모듈(410 내지 440)은 내부에 제 1광, 제2광 및 검사광이 통과할 수 있는 공간을 가지도록 형성된다. 즉, 도 4b 및 도 4c에 도시된 바와 같이, 복수개의 제 2광원 모듈(410 내지 440)은 일정한 두께로 복수개의 광원(411 내지 441)이 내벽에 구비되고, 관통홀(413 내지 443)이 형성되어 관통홀(413 내지 443)을 통해 제 1광, 제 2광 및 검사광이 제 2광원부 내부를 진행할 수 있다.At this time, the plurality of second light source modules 410 to 440 according to an embodiment of the present invention are formed to have a space through which the first light, the second light and the inspection light can pass. That is, as shown in FIGS. 4B and 4C, the plurality of second light source modules 410 to 440 are provided with a plurality of light sources 411 to 441 on the inner wall, and through holes 413 to 443 are provided. The first light, the second light, and the inspection light may pass through the through-holes 413 to 443 to progress inside the second light source unit.

한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 제 2광원 모듈(320)은 그 하부에 추가적인 광원을 더 구비할 수 있다. 더 구비되는 추가 광원(도면 미도시)은 지면과 수직하도록 제 2광을 발광하며, 이때 생성되는 제 2광의 방향은 제 2광원부의 하부에서 상부 방향일 수 있다. 또, 복수개의 제 2광원 모듈(320)은 내벽 중 광원이 존재하지 않는 위치가 반사가 용이한 물질로 코팅 또는 제작됨으로써 추가 광원에서 발광하는 제 2광이 내벽에 반사되어 제 2-1광방출 모듈(311)을 통해 물체 삽입부(140)로 전달되도록 형성될 수 있다.Meanwhile, the second light source module 320 according to an embodiment of the present invention may further include an additional light source under the second light source module 320. The additional light source (not shown) that is further provided emits the second light to be perpendicular to the ground, and the direction of the generated second light may be an upper direction from a lower portion of the second light source unit. In addition, the plurality of second light source modules 320 are coated or manufactured in a position where the light source does not exist in the inner wall with an easily reflective material, so that the second light emitted from the additional light source is reflected on the inner wall and emits 2-1 light. It may be formed to be transferred to the object insertion unit 140 through the module 311.

또, 본 발명의 일 실시예에 따른 제 2광원 모듈(320)은, 적층된 각각의 제 2광원 모듈(410 내지 440)의 발광 여부를 사용자의 설정에 따라 제어할 수 있다. 다시 말해, 사용자는 1층 내지 4층의 제 2광원 모듈(410 내지 440)중 원하는 층의 제 2광원 모듈을 작동 또는 정지함으로써 물체 삽입부(140)에 삽입된 물체에 사용자가 원하는 각도의 제 2광을 전달하도록 할 수 있다.In addition, the second light source module 320 according to an embodiment of the present invention may control whether the stacked second light source modules 410 to 440 emit light according to a user's setting. In other words, by operating or stopping the second light source module of the desired layer among the second light source modules 410 to 440 of the first to fourth floors, the user can control the object inserted in the object insertion unit 140 at an angle desired by the user. 2 Can transmit light.

또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 제 2광원 모듈(320)은 제 2광의 진행 방향을 일정하게 정리하기 위한 제 2편광 모듈(도면 미도시)을 제 2-1광방출 모듈(311)의 일 측에 더 구비할 수도 있다. 제 2편광 모듈이 더 구비되는 경우, 사용자는 제 2광의 방향을 일정하게 재배열함으로써 제 2광원부(130)에서 발생하는 제 2광으로 인해 생성되는 검사광의 품질을 양호하게 유지할 수도 있다.In addition, the second light source module 320 according to an embodiment of the present invention is a second polarization module (not shown) for arranging the traveling direction of the second light uniformly of the 2-1 light emission module 311 It may be further provided on one side. When the second polarization module is further provided, the user may keep the quality of the inspection light generated due to the second light generated from the second light source unit 130 by rearranging the direction of the second light constant.

도 3b의 광 진행 경로를 참조하면, 재배열된 제 1광(B)은 제 2-2광방출 모듈(313)을 통해 제 2광원부(130) 내부로 진행하고, 제 2-1광방출 모듈(311)을 통해 물체 삽입부(140)로 방출된다. Referring to the light propagation path of FIG. 3B, the rearranged first light B proceeds inside the second light source unit 130 through the second-second light-emitting module 313, and the second-first light-emitting module It is discharged to the object insertion unit 140 through (311).

또, 물체 삽입부(140)에서 생성된 검사광(C)은 제 2-1광방출 모듈(311)을 통해 제 2광원부(130) 내부로 진행하고, 제 2-2광방출 모듈(313)을 통해 제 1광원부(120)로 방출된다.In addition, the inspection light C generated by the object insertion unit 140 proceeds into the second light source unit 130 through the 2-1 light emission module 311, and the 2-2 light emission module 313 It is discharged to the first light source unit 120 through.

또한, 복수개의 제 2광원 모듈(320)에서 생성되는 제 2광(D)은 제2-1광방출 모듈(311)을 통해 물체 삽입부(140)로 전달될 수 있다.Also, the second light D generated in the plurality of second light source modules 320 may be transmitted to the object insertion unit 140 through the 2-1 light emission module 311.

한편, 도 5에는 본 발명의 실시예에 따른 제 3광원부의 (a) 구조 및 (b) 빛의 진행 방향이 도시되고 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 제 3광원부(150)는 물체 삽입부(140)의 하부에 형성되며, 물체 삽입부를 향해 제 3광을 발광하도록 형성된다.Meanwhile, FIG. 5 illustrates the structure (a) and the direction in which light (b) travels in the third light source unit according to an embodiment of the present invention. The third light source unit 150 according to an embodiment of the present invention is formed under the object insertion unit 140 and is formed to emit third light toward the object insertion unit.

도 5a를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 제 3광원부(150)는, 제 3하우징(510), 제 3광원 모듈(520) 및 제 3광방출 모듈(530)을 포함한다.5A, the third light source unit 150 according to an embodiment of the present invention includes a third housing 510, a third light source module 520, and a third light emission module 530.

제 3하우징(510)은 제 3광원 모듈(520)을 보호하기 위해 내부에 제 3광원 모듈(520)을 포함하도록 형성되며, 상부에는 제 3광을 물체 삽입부(140) 방향으로 방출하도록 제 3광방출 모듈(530)이 형성된다.The third housing 510 is formed to include a third light source module 520 therein to protect the third light source module 520, and the third housing 510 is configured to emit the third light in the direction of the object insertion unit 140. A three-light emitting module 530 is formed.

제 3광원 모듈(520)은 제 3광을 생성하여 제 3광이 제 3하우징(510)의 내부를 진행하도록 구비된다. 이때, 제 3광원 모듈(520)은 바람직하게는 제 3하우징(510)의 하부에 구비될 수 있으며, 면 광원으로 형성될 수도 있고, 이를 위해 복수개의 LED를 포함할 수 있다.The third light source module 520 is provided to generate the third light so that the third light travels inside the third housing 510. At this time, the third light source module 520 may be preferably provided below the third housing 510, may be formed as a surface light source, and may include a plurality of LEDs for this purpose.

제 3광방출 모듈(530)은 제 3광원 모듈(520)에서 생성된 제 3광을 물체 삽입부(140) 방향으로 방출하도록 형성된다. 이때, 제 3광방출 모듈(530)의 일 측에는 제 3광의 진행 방향을 일정하게 정리하여 재배열하기 위한 제 3편광 모듈(도면 미도시)이 구비될 수도 있다.The third light emission module 530 is formed to emit the third light generated by the third light source module 520 in the direction of the object insertion unit 140. At this time, a third polarization module (not shown) may be provided on one side of the third light emission module 530 to rearrange and rearrange the travel direction of the third light.

도 5b의 광 진행 경로를 참조하면, 제 3광(E)은 제 3광방출 모듈(530)을 통해 제 3광원부(150)의 외부로 방출되어 물체 삽입부(140)로 진행한다. 이때, 제 3광(E)은 제 3광방출 모듈(530)을 통과할 때, 제 3편광 모듈(도면 미도시)을 함께 통과하며 제 3편광 모듈을 통해 제 3광(E)의 진행 방향이 일정하게 재배열될 수 있다.5B, the third light E is emitted to the outside of the third light source unit 150 through the third light emission module 530 and proceeds to the object insertion unit 140. At this time, when the third light (E) passes through the third light emitting module 530, it passes through the third polarization module (not shown), and the third light (E) travels through the third polarization module. This can be constantly rearranged.

한편, 도 6에는 본 발명의 실시예에 따른 편광 모듈을 빛이 통과한 결과가 나타나고 있다.On the other hand, Figure 6 shows the result of the light passing through the polarization module according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 편광 모듈(600)은 도 6에 도시된 바와 같이 빛이 배열되지 않고 무작위로 진행하는 경우, 일정한 진행 방향으로 정리하여 재배열하도록 구비된다. 빛이 무작위로 진행하는 경우, 다시 말해 제 1광 내지 제 3광의 품질이 좋지 않은 경우, 제 1광 내지 제 3광으로 인해 생성되는 검사광 역시 그 품질이 좋지 않게 나타나므로, 검사의 정확도가 감소할 수 있는 문제점이 존재한다.The polarization module 600 according to an embodiment of the present invention is provided to arrange and rearrange in a certain progress direction when light is not randomly arranged and proceeds randomly as illustrated in FIG. 6. When the light proceeds randomly, that is, when the quality of the first light to the third light is poor, the inspection light generated by the first light to the third light also shows poor quality, so the inspection accuracy is reduced. There are problems that can be done.

따라서, 본 발명에서는 제 1 내지 제 3편광 모듈을 선택적으로 사용함으로써 검사광의 품질을 증가시키고, 이로 인해 검사의 정확도 역시 함께 증가할 수 있다.Therefore, in the present invention, the quality of the inspection light is increased by selectively using the first to third polarization modules, and accordingly, the inspection accuracy can also be increased.

한편, 도 7에는 파장에 따른 금속면 분광 반사율이 나타나고 있다.On the other hand, Figure 7 shows the metal surface spectral reflectance according to the wavelength.

도 7을 참조하면, 금과 은의 경우, 입사되는 빛의 파장이 길어질수록 반사율이 증가하는 것을 확인할 수 있으며, 알루미늄은 적외선 영역에서 반사율이 감소한 후 다시 증가하고, 동의 경우 거의 일정한 반사율을 나타낸다.Referring to FIG. 7, in the case of gold and silver, it can be confirmed that the reflectance increases as the wavelength of the incident light increases, and aluminum increases again after the reflectance decreases in the infrared region, and in the case of consent, shows almost constant reflectance.

따라서, 반사광을 검사광으로 생성하는 제 1광 및 제 2광의 경우, 적색 LED를 광원으로 사용하는 것이 바람직하고, 경계면을 측정하기 위해 빛의 회절이 작게 나타나야 하는 제 3광의 경우 청색 LED를 광원으로 사용하는 것이 바람직한 것을 확인할 수 있다.Therefore, in the case of the first light and the second light generating reflected light as the inspection light, it is preferable to use a red LED as a light source, and in the case of the third light whose diffraction of light must appear small to measure the interface, the blue LED is used as the light source It can be confirmed that it is preferable to use.

이상에서 본 발명의 일 실시예에 대하여 설명하였으나, 본 발명의 사상은 본 명세서에 제시되는 실시 예에 제한되지 아니하며, 본 발명의 사상을 이해하는 당업자는 동일한 사상의 범위 내에서, 구성요소의 부가, 변경, 삭제, 추가 등에 의해서 다른 실시 예를 용이하게 제안할 수 있을 것이나, 이 또한 본 발명의 사상범위 내에 든다고 할 것이다.Although one embodiment of the present invention has been described above, the spirit of the present invention is not limited to the embodiments presented herein, and those skilled in the art to understand the spirit of the present invention can add elements within the scope of the same spirit. However, other embodiments may be easily proposed by changing, deleting, adding, or the like, but this will also be considered to be within the scope of the present invention.

100 : 부품 불량 검사 장치 110 : 검사부
120 : 제 1광원부 130 : 제 2광원부
140 : 물체 삽입부 150 : 제 3광원부
210 : 제 1하우징 220 : 제 1광원 모듈
230 : 제 1편광 모듈 240 : 반투과 모듈
250 : 제 1-1광방출 모듈 260 : 제 1-2광방출 모듈
310 : 제 2하우징 311 : 제 2-1광방출 모듈
313 : 제 2-2광방출 모듈 320 : 복수개의 제 2광원 모듈
410, 420, 430, 440 : 제 2광원 모듈
411, 421, 431, 441 : 복수개의 광원
413, 423, 433, 443 : 관통홀
510 : 제 3하우징 520 : 제 3광원 모듈
530 : 제 3광방출 모듈 600 : 편광 모듈
100: parts defect inspection device 110: inspection unit
120: first light source unit 130: second light source unit
140: object insertion section 150: third light source section
210: first housing 220: first light source module
230: first polarization module 240: transflective module
250: 1-1 light emitting module 260: 1-2 light emitting module
310: second housing 311: 2-1 light emitting module
313: 2-2 light emitting module 320: a plurality of second light source module
410, 420, 430, 440: second light source module
411, 421, 431, 441: multiple light sources
413, 423, 433, 443: through hole
510: 3rd housing 520: 3rd light source module
530: third light emitting module 600: polarization module

Claims (10)

불량 검사를 위한 부품이 삽입되는 물체 삽입부;
상기 부품과의 상호작용을 통해 생성된 검사광을 이용하여 상기 물체 삽입부에 삽입된 상기 부품의 불량 여부를 검사하는 검사부;
상기 검사부의 하부측에 형성되고, 제 1광을 발광하여 상기 물체 삽입부로 상기 제 1광을 방출하고, 상기 물체 삽입부 방향에서 전달되는 상기 검사광을 상기 검사부로 전달하는 제 1광원부;
상기 제 1광원부의 하부에 형성되고, 상기 제 1광을 상기 물체 삽입부로 전달하거나 제 2광을 발광하여 상기 물체 삽입부로 상기 제 2광을 방출하고, 상기 검사광을 상기 제 1광원부로 전달하는 제 2 광원부; 및
상기 물체 삽입부의 하부에 형성되며, 상기 물체 삽입부를 향해 제 3광을 발광하는 제 3 광원부;를 포함하고,
상기 제 1광 및 제 2광은 적색 LED를 이용하여 형성되며, 상기 제 3광은 청색 LED를 이용하여 형성되고,
상기 검사광은,
상기 제 1광 및 제 2광이 상기 부품에서 반사되어 상기 부품의 면을 검사할 수 있도록 형성되는 제 1검사광; 및
상기 제 3광이 상기 부품에 의해 일부 차단되어 상기 부품의 경계면을 검사할 수 있도록 형성되는 제 2검사광;으로 형성되며,
상기 제 1광원부는,
상기 제 1광원부의 일 측면에 형성되어 상기 제 1광을 생성하는 제 1광원 모듈;
상기 제 1광의 진행 방향을 일정하게 정리하는 제 1편광 모듈;
상기 제 1편광 모듈을 통과한 상기 제 1광의 진행 방향을 상기 물체 삽입부 방향으로 변경하는 반투과 모듈; 및
상기 제 1광원 모듈, 상기 제 1편광 모듈 및 상기 반투과 모듈을 내부에 포함하여 보호하도록 형성되는 제 1하우징;을 포함하며,
상기 제 1하우징은,
상기 제 1하우징의 하부에 형성되어 상기 제 1광을 상기 물체 삽입부 방향으로 방출하거나 상기 검사광을 상기 제 1하우징의 내부로 전달 받는 제 1-1광방출 모듈; 및
상기 제 1하우징의 상부에 형성되어 상기 검사광을 상기 검사부 방향으로 방출하는 제 1-2광 방출 모듈;을 포함하고,
상기 제 2광원부는,
상기 제 2광원부의 내부에 형성되어 상기 제 2광을 생성하는 복수개의 제 2광원 모듈; 및
상기 복수개의 제 2광원 모듈을 보호하도록 상기 제 2광원 모듈을 내부에 포함하도록 형성되는 제 2하우징;을 포함하며,
상기 제 2하우징은,
상기 제 2하우징의 하부에 형성되어 상기 제 1광 및 제 2광을 상기 물체 삽입부 방향으로 방출하거나, 상기 검사광을 상기 제 2하우징의 내부로 전달받는 제 2-1 광방출 모듈; 및
상기 제 2하우징의 상부에 형성되어 상기 제 1광을 상기 제 2하우징의 내부로 전달 받거나, 상기 검사광을 상기 제 2광원부 방향으로 방출하는 제 2-2광 방출 모듈;을 포함하고,
상기 복수개의 제 2광원 모듈은 적층되어 층 구조를 형성하고, 각 층이 서로 다른 각도로 상기 제 2광을 발광하도록 형성되는 부품 불량 검사 장치.
An object insertion unit into which parts for defect inspection are inserted;
An inspection unit for inspecting whether the component inserted into the object insertion unit is defective by using inspection light generated through interaction with the component;
A first light source unit formed on a lower side of the inspection unit, emitting the first light to emit the first light to the object insertion unit, and transmitting the inspection light transmitted in the direction of the object insertion unit to the inspection unit;
It is formed on the lower portion of the first light source portion, transmits the first light to the object insertion portion or emits a second light to emit the second light to the object insertion portion, and transmits the inspection light to the first light source portion A second light source unit; And
It is formed on the lower portion of the object insertion portion, a third light source unit for emitting a third light toward the object insertion portion; includes,
The first light and the second light are formed using a red LED, and the third light is formed using a blue LED,
The inspection light,
A first inspection light formed so that the first light and the second light are reflected from the part to inspect the surface of the part; And
The third light is partially blocked by the part, and the second inspection light is formed to inspect the interface of the part.
The first light source unit,
A first light source module formed on one side of the first light source unit to generate the first light;
A first polarization module that regularly arranges a traveling direction of the first light;
A transflective module that changes the direction of travel of the first light passing through the first polarization module in the direction of the object insertion unit; And
It includes; a first housing formed to protect the first light source module, the first polarization module, and the transflective module therein.
The first housing,
A 1-1 light emitting module formed on a lower portion of the first housing to emit the first light toward the object insertion portion or to receive the inspection light into the first housing; And
It is formed on the upper portion of the first housing to emit the inspection light in the direction of the inspection unit 1-2 light emitting module; includes,
The second light source unit,
A plurality of second light source modules formed inside the second light source unit to generate the second light; And
And a second housing formed to include the second light source module therein to protect the plurality of second light source modules.
The second housing,
A 2-1 light emitting module formed on a lower portion of the second housing to emit the first light and the second light in the direction of the object insertion unit, or to receive the inspection light into the interior of the second housing; And
It is formed on the upper portion of the second housing to receive the first light into the interior of the second housing, or a 2-2 light emitting module for emitting the inspection light in the direction of the second light source portion; includes,
The plurality of second light source modules are stacked to form a layer structure, and each layer is a component defect inspection device formed to emit the second light at different angles.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제 1항에 있어서,
상기 복수개의 제 2광원 모듈은 적어도 4층 구조를 형성하며, 가장 하부에 형성되는 1층의 상기 제 2광원 모듈은 원기둥 형태로 형성되며, 층이 증가할수록 지면과 이루는 경사도가 감소하도록 형성되는 부품 불량 검사 장치.
According to claim 1,
The plurality of second light source modules form at least a four-layer structure, and the second light source module of the first layer, which is formed at the bottom, is formed in a cylindrical shape, and parts formed to decrease inclination with the ground as the number of layers increases Bad inspection device.
제 7항에 있어서,
상기 제 2광원부는,
상기 제 2광의 진행 방향을 일정하게 정리하기 위한 제 2편광 모듈;을 더 포함하는 부품 불량 검사 장치.
The method of claim 7,
The second light source unit,
And a second polarization module for regularly arranging the direction in which the second light travels.
제 7항에 있어서,
상기 제 3광원부는,
상기 제 3광원부의 내부에 형성되어 상기 제 3광을 생성하는 제 3광원 모듈; 및
상기 제 3광원 모듈을 보호하도록 상기 제 3광원 모듈을 내부에 포함하도록 형성되는 제 3하우징;을 포함하며,
상기 제 3하우징은,
상기 제 3하우징의 상부에 형성되어 상기 제 3광을 상기 물체 삽입부 방향으로 방출하도록 형성되는 제 3광방출 모듈;을 포함하는 부품 불량 검사 장치.
The method of claim 7,
The third light source unit,
A third light source module formed inside the third light source unit to generate the third light; And
And a third housing formed to include the third light source module therein to protect the third light source module.
The third housing,
And a third light emitting module formed on an upper portion of the third housing to emit the third light toward the object insertion unit.
제 9항에 있어서,
상기 제 3하우징은,
상기 제 3광방출 모듈의 일 측에 형성되어 상기 제 3광의 진행 방향을 일정하게 정하는 제 3편광 모듈;을 더 포함하는 부품 불량 검사 장치.
The method of claim 9,
The third housing,
And a third polarization module formed on one side of the third light emission module to uniformly determine the direction of the third light.
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