KR102093860B1 - Test connector and manufacturing method of the test connector - Google Patents

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KR102093860B1
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Abstract

According to an embodiment of the present invention, provided is a connector for inspection which is disposed between a device under test and test equipment to electrically connect the device under test with the test equipment. The connector for inspection comprises: a sheet formed by mixing silicone rubber and an iron oxide; and a conductive portion extending in a vertical direction in the sheet to enable conductivity in the vertical direction.

Description

검사용 커넥터 및 검사용 커넥터의 제조방법 {TEST CONNECTOR AND MANUFACTURING METHOD OF THE TEST CONNECTOR}Inspection connector and manufacturing method of inspection connector {TEST CONNECTOR AND MANUFACTURING METHOD OF THE TEST CONNECTOR}

본 개시는 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이에 배치되는 검사용 커넥터 및 검사용 커넥터의 제조방법에 관한 것이다.The present disclosure relates to an inspection connector disposed between the device under test and the test equipment, and a method for manufacturing the inspection connector.

제조된 반도체 디바이스와 같은 피검사 디바이스의 불량여부를 판단하기 위한 검사 공정에서, 피검사 디바이스와 테스트(test) 장비의 사이에 검사용 커넥터가 배치된다. 검사용 커넥터는 피검사 디바이스와 테스트 장비를 전기적으로 연결시켜, 피검사 디바이스와 테스트 장비의 통전 여부를 기초로 피검사 디바이스의 불량 여부를 판단하는 검사방법이 알려져 있다.In an inspection process for determining whether a device under test, such as a manufactured semiconductor device, is defective, an inspection connector is disposed between the device under test and test equipment. It is known that an inspection connector electrically connects the device under test and the test equipment to determine whether the device under test is defective based on whether the device under test and the test equipment are energized.

만약 검사용 커넥터가 없이 피검사 디바이스의 단자가 테스트 장비의 단자에 직접 접촉하게 되면, 반복적인 검사 과정에서 테스트 장비의 단자가 마모 또는 파손되어 테스트 장비 전체를 교체해야 하는 소요가 발생할 수 있다. 종래에는, 검사용 커넥터를 이용하여 테스트 장비 전체를 교체하는 소요의 발생을 막는다. 구체적으로, 피검사 디바이스의 단자와의 반복적인 접촉으로 검사용 커넥터가 마모 또는 파손될 때, 해당하는 검사용 커넥터만 교체할 수 있다.If the terminal of the device under test is directly in contact with the terminal of the test equipment without the connector for inspection, it may occur that the terminal of the test equipment is worn or damaged in the repetitive inspection process and the entire test equipment needs to be replaced. Conventionally, the occurrence of the need to replace the entire test equipment is prevented by using an inspection connector. Specifically, when the connector for inspection is worn or damaged by repeated contact with the terminal of the device under test, only the corresponding connector for inspection can be replaced.

종래의 검사용 커넥터는, 피검사 디바이스의 단자 및 테스트 장비의 단자 사이를 전기적으로 연결시키는 도전체와, 상기 도전체가 배열된 절연체의 시트를 포함한다. 피검사 디바이스의 복수의 단자 사이의 간격이나 피치(pitch)에 대응되도록 검사용 커넥터의 복수의 상기 도전체가 배열되어, 피검사 디바이스의 복수의 단자와 테스트 장비의 대응하는 복수의 단자를 전기적으로 연결시킨다.The conventional inspection connector includes a conductor electrically connecting the terminal of the device under test and the terminal of the test equipment, and a sheet of insulator on which the conductor is arranged. A plurality of the conductors of the connector for inspection are arranged to correspond to the spacing or pitch between a plurality of terminals of the device under test, thereby electrically connecting a plurality of terminals of the device under test and corresponding terminals of the test equipment. Order.

상기 시트의 재질로서 실리콘 고무(Silicone rubber) 소재가 알려져 있다. 검사용 커넥터는 열적 환경에 놓일 수 있는데, 통상적인 실리콘 고무의 열 안정성은 -40℃ ~ 130℃ 정도에서는 적용이 가능하다고 알려져 있다. 미세 피치의 검사용 커넥터의 경우 사용 온도의 범위가 대략 -25℃ ~ 120℃ 일 수 있다. 특히, 검사용 커넥터의 열적 환경 안정성을 위한 완성품 테스트의 하나인 번인테스트(Burn-In Test)에서, 120~170˚C의 온도 범위의 환경에 검사용 커넥터를 장시간(예를 들어, 최소 연속적인 온도 노출 시간으로서 10 시간 이상) 노출시킬 수 있다.As the material of the sheet, a silicone rubber material is known. The test connector can be placed in a thermal environment, and it is known that the thermal stability of conventional silicone rubber can be applied at about -40 ° C to 130 ° C. In the case of the connector for inspection of a fine pitch, the range of use temperature may be approximately -25 ° C to 120 ° C. In particular, in the burn-in test, which is one of the finished product tests for the thermal environmental stability of the test connector, the test connector is tested for a long time in a temperature range of 120 to 170 ° C (for example, at least continuous Temperature exposure time of 10 hours or more).

본 개시의 실시예들은 향상된 내열성을 가진 검사용 커넥터를 제공한다.Embodiments of the present disclosure provide an inspection connector with improved heat resistance.

본 개시의 실시예들은 내열성을 향상시키면서도, 제조 편의성 및 도전부의 정확한 형성이 가능한 검사용 커넥터 및 그 제조방법을 제공한다.Embodiments of the present disclosure, while improving the heat resistance, provides a connector for inspection and a method for manufacturing the same, which enables manufacturing convenience and accurate formation of a conductive portion.

검사용 커넥터의 실리콘 재질로 형성된 시트가 열에 따라 팽창 및 수축할 경우, 상기 도전체의 배열 간격이 달라지거나 상기 도전체의 변형(예를 들어, 도전체 입자들 사이가 벌어지는 변형)으로 전기 저항이 증가하는 문제가 발생할 수 있다. 특히, 미세 피치의 검사용 커넥터에 있어서 이러한 문제는 더욱 커질 수 있다. 본 개시의 실시예들은 이러한 문제를 해결한다.When a sheet formed of a silicone material for an inspection connector expands and contracts with heat, the electrical spacing may change or the electrical resistance may be changed due to deformation of the conductor (for example, a deformation between conductor particles). Increasing problems can occur. Particularly, in the case of a fine-pitch inspection connector, this problem may be further increased. Embodiments of the present disclosure solve this problem.

시트의 실리콘 재질로 폴리디메틸메틸페닐실록산(PMPS)을 사용하는 경우 시트의 내열성이 향상될 수 있으나, 실리콘 재질로서 페닐기를 부가할 경우 함량의 증가에 따라 플라스틱 특성이 증가하여, 탄성 특성을 통해 단자의 파손을 방지하는 검사용 커넥터의 기능이 저감되는 문제가 있다. 본 개시의 실시예들은 이러한 문제를 해결하여, 검사용 커넥터의 탄성 특징을 유지하면서도 내열성을 향상시키는 것이다.When polydimethylmethylphenylsiloxane (PMPS) is used as the silicone material of the sheet, the heat resistance of the sheet may be improved, but when a phenyl group is added as a silicone material, the plastic properties increase as the content increases, so that the terminal may There is a problem that the function of the inspection connector to prevent damage is reduced. Embodiments of the present disclosure solve this problem, and improve heat resistance while maintaining the elastic characteristics of the connector for inspection.

본 개시의 일 측면은 검사용 커넥터의 실시예들을 제공한다. 대표적 실시예에 따른 검사용 커넥터는, 실리콘 고무 및 산화철이 혼합되어 형성되는 시트; 및 상기 시트 내에서 상하 방향으로 연장되어 상하 방향으로 통전을 가능하게 하는 도전부를 포함한다.One aspect of the present disclosure provides embodiments of an inspection connector. A connector for inspection according to a representative embodiment includes a sheet formed by mixing silicon rubber and iron oxide; And a conductive portion extending in the vertical direction in the sheet to enable energization in the vertical direction.

상기 실리콘 고무는 액상 실리콘 고무(LSR)일 수 있다.The silicone rubber may be liquid silicone rubber (LSR).

상기 시트는 100 중량부의 상기 실리콘 고무 및 50 중량부 이하의 상기 산화철을 포함할 수 있다.The sheet may include 100 parts by weight of the silicone rubber and 50 parts by weight or less of the iron oxide.

상기 시트는 26 중량부 이하의 상기 산화철을 포함할 수 있다.The sheet may include up to 26 parts by weight of the iron oxide.

상기 도전부는 상하 방향으로 배열된 자화 가능한 복수의 도전성 입자를 포함할 수 있다.The conductive portion may include a plurality of magnetizable conductive particles arranged in the vertical direction.

상기 도전부는, 액상 실리콘 고무(LSR), 산화철 및 자화 가능한 복수의 도전성 입자를 혼합한 상태에서, 자기장을 발생시킴으로써 상기 복수의 도전성 입자가 기설정된 위치들에 정렬되어 형성될 수 있다. 상기 시트는, 상기 액상 실리콘 고무 및 상기 산화철의 혼합물이 경화되어 형성될 수 있다.The conductive portion may be formed by aligning liquid silicone rubber (LSR), iron oxide, and a plurality of magnetizable conductive particles in a state where the plurality of conductive particles are aligned at predetermined positions by generating a magnetic field. The sheet may be formed by curing the mixture of the liquid silicone rubber and the iron oxide.

본 개시의 다른 측면은 검사용 커넥터의 제조방법의 실시예들을 제공한다. 대표적 실시예에 따른 검사용 커넥터의 제조방법은, 액상 실리콘 고무(LSR), 산화철 및 자화 가능한 복수의 도전성 입자를 혼합하는 혼합 단계; 및 상기 복수의 도전성 입자가 기설정된 위치들에 정렬되도록 자기장을 발생시킴으로써, 상기 복수의 도전성 입자가 상하 방향으로 연장되고 상하 방향으로 통전을 가능하게 하는 도전부를 형성하는 정렬 단계를 포함한다.Another aspect of the present disclosure provides embodiments of a method of manufacturing a connector for inspection. A method of manufacturing a connector for inspection according to a representative embodiment includes a mixing step of mixing liquid silicone rubber (LSR), iron oxide, and a plurality of magnetizable conductive particles; And an alignment step of generating a magnetic field so that the plurality of conductive particles are aligned at predetermined positions, thereby forming a conductive portion in which the plurality of conductive particles extend in the vertical direction and enable electric current in the vertical direction.

상기 혼합 단계에서, 100 중량부의 상기 액상 실리콘 고무 및 50 중량부 이하의 상기 산화철을 혼합할 수 있다.In the mixing step, 100 parts by weight of the liquid silicone rubber and 50 parts by weight or less of the iron oxide may be mixed.

상기 혼합 단계에서, 100 중량부의 상기 액상 실리콘 고무 및 26 중량부 이하의 상기 산화철을 혼합할 수 있다.In the mixing step, 100 parts by weight of the liquid silicone rubber and 26 parts by weight or less of the iron oxide may be mixed.

본 개시의 실시예들에 의하면, 검사용 커넥터의 내열성을 향상시킬 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, it is possible to improve the heat resistance of the connector for inspection.

본 개시의 실시예들에 의하면, 내열성을 향상시키면서도, 제조 편의성 및 도전부의 정확한 형성이 가능하다.According to the embodiments of the present disclosure, while improving the heat resistance, it is possible to easily manufacture and accurately form the conductive portion.

본 개시의 실시예들에 의하면, 고온 환경에서 도전성을 향상시킬 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, conductivity may be improved in a high temperature environment.

본 개시의 실시예들에 의하면, 검사용 커넥터의 시트의 열 수축율 및 열 팽창율을 감소시킬 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, it is possible to reduce the thermal shrinkage and thermal expansion of the sheet of the connector for inspection.

본 개시의 실시예들에 의하면, 검사용 커넥터의 시트의 가열감량 온도를 높일 수 있다.According to the embodiments of the present disclosure, the heating loss temperature of the sheet of the inspection connector can be increased.

도 1은 일 실시예에 따른 검사용 커넥터(100)의 부분 단면도로서, 검사용 커넥터(100)가 피검사 디바이스(10)와 테스트 장비(20) 사이에 배치된 모습을 보여준다.
도 2a 및 도 2b는, 산화철을 포함하는 시트를 가진 일 실시예에 따른 검사용 커넥터(Q)와 산화철을 포함하지 않는 시트를 가진 비교예에 따른 검사용 커넥터(O)에서, 검사용 커넥터의 누름 깊이(stroke)에 따른 검사용 커넥터의 저항(R) 변화를 보여주는 그래프이다.
도 3은, 실리콘 고무와 산화철이 혼합되어 형성된 시편(TQ) 및 실리콘 고무만으로 형성된 시편(TO)의 열 팽창 및 수축 실험예에서 사용된 시편의 평면도이다.
도 4a 내지 도 4c는 시트에 포함된 산화철의 함량을 달리한 가열감량 결과 그래프로서, 온도(Temperature)에 따른 중량 퍼센트(Weight percent)를 보여준다.
도 5a 내지 도 5c는 실리콘 고무 중량 대비 9% 중량의 산화철을 포함하는 시트에서 실리콘 고무의 성분 배합을 달리한 가열감량 결과 그래프로서, 온도(Temperature)에 따른 중량 퍼센트(Weight percent)를 보여준다.
도 6a는, 도 4a 내지 도 5c의 각 실험군(A, B, C, B1, B2, B3)의 1% 중량감소 온도를 보여주는 막대 그래프이다.
도 6b는, 도 4a 내지 도 5c의 각 실험군(A, B, C, B1, B2, B3)의 2% 중량감소 온도를 보여주는 막대 그래프이다.
도 7은 산화철의 함량(RW)에 따른 산화철 및 액상 실리콘의 혼합물의 경화 전 점도(Viscosity)를 측정한 그래프이다.
도 8a 및 도 8b는 산화철을 포함하는 액상 실리콘 내에서 자기장을 이용하여 도전성 입자를 배열시킴으로써 도전부가 형성된 모습을 보여주는 단면 사진으로서, 도 8a 및 도 8b는 각각 30% 및 60% 중량의 산화철을 가진 시트를 이용하여 실험한 결과이다.
1 is a partial cross-sectional view of an inspection connector 100 according to an embodiment, and shows an inspection connector 100 disposed between the device 10 to be tested and the test equipment 20.
2A and 2B show an inspection connector (Q) according to an embodiment having a sheet containing iron oxide and an inspection connector (O) according to a comparative example having a sheet not containing iron oxide, of an inspection connector This graph shows the change in resistance (R) of the test connector according to the pressing depth.
3 is a plan view of a specimen used in a thermal expansion and contraction test example of a specimen (TQ) formed by mixing silicon rubber and iron oxide and a specimen (TO) formed only of silicone rubber.
4A to 4C are graphs of heating loss results with different contents of iron oxide contained in a sheet, and show weight percent according to temperature.
5A to 5C are graphs of heat loss results obtained by varying the composition of silicone rubber in a sheet containing 9% by weight of iron oxide compared to silicone rubber, and show weight percent according to temperature.
6A is a bar graph showing the 1% weight loss temperature of each experimental group (A, B, C, B1, B2, B3) of FIGS. 4A to 5C.
6B is a bar graph showing the 2% weight loss temperature of each experimental group (A, B, C, B1, B2, B3) of FIGS. 4A to 5C.
7 is a graph measuring viscosity before curing of a mixture of iron oxide and liquid silicone according to the content of iron oxide (RW).
8A and 8B are cross-sectional photographs showing a state in which conductive parts are formed by arranging conductive particles using a magnetic field in liquid silicon containing iron oxide, and FIGS. 8A and 8B have 30% and 60% by weight of iron oxide, respectively. It is the result of the experiment using the sheet.

본 개시의 실시예들은 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것이다. 본 개시에 따른 권리범위가 이하에 제시되는 실시예들이나 이들 실시예들에 대한 구체적 설명으로 한정되는 것은 아니다.The embodiments of the present disclosure are exemplified for the purpose of illustrating the technical spirit of the present disclosure. The scope of rights according to the present disclosure is not limited to the embodiments presented below or to specific descriptions of these embodiments.

본 개시에 사용되는 모든 기술적 용어들 및 과학적 용어들은, 달리 정의되지 않는 한, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해되는 의미를 갖는다. 본 개시에 사용되는 모든 용어들은 본 개시를 더욱 명확히 설명하기 위한 목적으로 선택된 것이며 본 개시에 따른 권리범위를 제한하기 위해 선택된 것이 아니다.All technical terms and scientific terms used in the present disclosure, unless defined otherwise, have a meaning generally understood by a person skilled in the art to which this disclosure belongs. All terms used in the present disclosure are selected for the purpose of more clearly describing the present disclosure and are not selected to limit the scope of the rights according to the present disclosure.

본 개시에서 사용되는 "포함하는", "구비하는", "갖는" 등과 같은 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 달리 언급되지 않는 한, 다른 실시예를 포함할 가능성을 내포하는 개방형 용어(open-ended terms)로 이해되어야 한다.As used in this disclosure, expressions such as “comprising”, “having”, “having,” etc., are open terms that imply the possibility of including other embodiments, unless otherwise stated in the phrase or sentence in which the expression is included. (open-ended terms).

본 개시에서 사용되는 해당 구성 "만으로 구성되는" 등과 같은 표현은, 해당 구성 외에 다른 구성을 포함할 가능성을 배제하는 폐쇄형 용어(closed-ended terms)로 이해되어야 한다.Expressions such as “consisting of only” used in the present disclosure should be understood as closed-ended terms that exclude the possibility of including other configurations in addition to the corresponding configuration.

본 개시에서 기술된 단수형의 표현은 달리 언급하지 않는 한 복수형의 의미를 포함할 수 있으며, 이는 청구범위에 기재된 단수형의 표현에도 마찬가지로 적용된다.The expressions of the singular forms described in this disclosure may include the meaning of the plural forms unless otherwise stated, and the same applies to the expressions of the singular forms described in the claims.

본 개시에서 사용되는 "제1", "제2" 등의 표현들은 복수의 구성요소들을 상호 구분하기 위해 사용되며, 해당 구성요소들의 순서 또는 중요도를 한정하는 것은 아니다.Expressions such as “first” and “second” used in the present disclosure are used to distinguish a plurality of components from each other, and do not limit the order or importance of the components.

본 개시에서 사용되는 "상방", "상" 등의 방향지시어는 검사용 커넥터(100)를 기준으로 피검사 디바이스(10)의 단자(11)가 배치되는 방향을 의미하고, "하방", "하" 등의 방향지시어는 검사용 커넥터(100)를 기준으로 테스트 장비(20)의 단자(21)가 배치되는 방향을 의미한다. 본 개시에서 언급하는 검사용 커넥터(100)의 "두께 방향'은 상하 방향을 의미한다. 이는 어디까지나 본 개시가 명확하게 이해될 수 있도록 설명하기 위한 기준이며, 기준을 어디에 두느냐에 따라 상방 및 하방을 다르게 정의할 수도 있음은 물론이다.As used in the present disclosure, "direction", "up", and the like, refer to the direction in which the terminal 11 of the device under test 10 is disposed based on the connector 100 for inspection, and "down", " The direction directives such as "lower" means the direction in which the terminals 21 of the test equipment 20 are disposed based on the connector 100 for inspection. The "thickness direction" of the connector 100 for inspection referred to in the present disclosure means an up-down direction. This is a reference for explaining the present disclosure so that it can be clearly understood, and depending on where the standard is placed, the up and down direction Of course, it can be defined differently.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 개시의 실시예들을 설명한다. 첨부된 도면에서, 동일하거나 대응하는 구성요소에는 동일한 참조부호가 부여되어 있다. 또한, 이하의 실시예들의 설명에 있어서, 동일하거나 대응하는 구성요소를 중복하여 기술하는 것이 생략될 수 있다. 그러나, 구성요소에 관한 기술이 생략되어도, 그러한 구성요소가 어떤 실시예에 포함되지 않는 것으로 의도되지는 않는다.Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described with reference to the accompanying drawings. In the accompanying drawings, identical or corresponding elements are given the same reference numerals. In addition, in the following description of the embodiments, the same or corresponding elements may be omitted. However, although descriptions of components are omitted, it is not intended that such components are not included in any embodiment.

도 1을 참고하여, 피검사 디바이스(10)는 반도체 디바이스 등이 될 수 있다. 피검사 디바이스(10)는 복수의 단자(11)를 포함한다. 복수의 단자(11)는 피검사 디바이스(10)의 하측면에 배치된다. 피검사 디바이스(10)를 검사할 때, 복수의 단자(11)는 검사용 커넥터(100)의 상측 면에 접촉할 수 있다.Referring to FIG. 1, the device 10 to be inspected may be a semiconductor device or the like. The device 10 to be inspected includes a plurality of terminals 11. The plurality of terminals 11 are arranged on the lower surface of the device under test 10. When inspecting the device under test 10, the plurality of terminals 11 may contact the upper surface of the connector 100 for inspection.

테스트 장비(20)는 복수의 단자(21)를 포함한다. 복수의 단자(21)는 복수의 단자(11)와 대응된다. 복수의 단자(21)는 피검사 디바이스(10)의 상측면에 배치된다. 피검사 디바이스(10)를 검사할 때, 복수의 단자(21)는 검사용 커넥터(100)의 하측 면에 접촉할 수 있다.The test equipment 20 includes a plurality of terminals 21. The plurality of terminals 21 corresponds to the plurality of terminals 11. The plurality of terminals 21 are arranged on the upper side of the device under test 10. When inspecting the device under test 10, the plurality of terminals 21 may contact the lower surface of the connector 100 for inspection.

본 실시예에서, 각각의 복수의 단자(21)는 각각의 복수의 단자(11)를 상하 방향으로 마주보는 위치에 배치된다. 도시되지는 않았으나, 복수의 도전부(130)가 상하 방향에 대해 기울어진 다른 실시예에서, 각각의 복수의 단자(21)는 각각의 복수의 단자(11)를 복수의 도전부(130)의 기울어진 방향으로 마주보는 위치에 배치될 수 있다.In this embodiment, each of the plurality of terminals 21 is arranged at a position facing each of the plurality of terminals 11 in the vertical direction. Although not shown, in another embodiment in which the plurality of conductive parts 130 are inclined with respect to the up and down direction, each of the plurality of terminals 21 may include each of the plurality of terminals 11 of the plurality of conductive parts 130. It may be arranged in a position facing the inclined direction.

검사용 커넥터(100)는 피검사 디바이스(10)와 테스트 장비(20) 사이에 배치되어 피검사 디바이스(10)와 테스트 장비(20)를 서로 전기적으로 연결시키기 위해 구성된다. 검사용 커넥터(100)는 절연성 재질의 시트(110)와, 피검사 디바이스(10)의 단자(11) 및 테스트 장비(20)의 단자(21)를 전기적으로 연결시키기 위해 구성되는 도전부(130)를 포함한다.The test connector 100 is disposed between the device under test 10 and the test equipment 20 and is configured to electrically connect the device under test 10 and the test equipment 20 to each other. The test connector 100 is a conductive portion 130 configured to electrically connect the sheet 110 of an insulating material, the terminal 11 of the device 10 to be tested, and the terminal 21 of the test equipment 20. ).

도전부(130)는 상하 방향으로 연장될 수 있다. 도전부(130)는 시트(110) 내에서 상하 방향으로 연장되어 상하 방향으로 통전을 가능하게 한다.The conductive portion 130 may extend in the vertical direction. The conductive portion 130 extends in the vertical direction within the sheet 110 to enable energization in the vertical direction.

도전부(130)는 시트(110)에 배치된다. 도전부(130)는 시트(110)에 의해 지지될 수 있다.The conductive portion 130 is disposed on the sheet 110. The conductive portion 130 may be supported by the sheet 110.

복수의 도전부(130)는 상하 방향에 수직한 방향으로 서로 이격된다. 복수의 도전부(130)는 서로 실질적으로 일정 간격 이격되어 배열될 수 있다.The plurality of conductive parts 130 are spaced apart from each other in a direction perpendicular to the vertical direction. The plurality of conductive parts 130 may be arranged to be substantially spaced apart from each other.

도전부(130)의 상하 방향 양단은 시트(110)의 상하 방향 표면에 노출된다. 도전부(130)의 상단은 시트(110)의 상측 표면에 노출되고, 도전부(130)의 하단은 시트(110)의 하측 표면에 노출된다. 도전부(130)의 상단은 피검사 디바이스(10)의 단자(11)에 접촉 가능하도록 구성되고, 도전부(130)의 하단은 테스트 장비(20)의 단자(21)에 접촉 가능하도록 구성된다.Both ends of the conductive portion 130 in the vertical direction are exposed on the vertical surface of the sheet 110. The upper end of the conductive portion 130 is exposed to the upper surface of the sheet 110, and the lower end of the conductive portion 130 is exposed to the lower surface of the sheet 110. The upper end of the conductive portion 130 is configured to be able to contact the terminal 11 of the device under test 10, and the lower end of the conductive portion 130 is configured to be able to contact the terminal 21 of the test equipment 20. .

도전부(130)는 시트(110)의 표면에 노출된 노출부(미도시)를 포함한다. 상기 노출부는 도전부(130)의 양단에 위치한다. 시트(110)는 상기 노출부를 제외한 도전부(130)를 둘러싸도록 구성될 수 있다.The conductive portion 130 includes an exposed portion (not shown) exposed on the surface of the sheet 110. The exposed portion is located at both ends of the conductive portion 130. The sheet 110 may be configured to surround the conductive portion 130 excluding the exposed portion.

도전부(130)는 도전성 재질로 형성된다. 상하로 연장된 하나의 도전부(130)는 복수의 도전성 입자를 포함할 수 있다. 여기서, 도전부(130)는 상기 복수의 도전성 입자외에도 다른 성분을 포함할 수 있음은 물론이다.The conductive portion 130 is formed of a conductive material. One conductive portion 130 extending up and down may include a plurality of conductive particles. Here, it is needless to say that the conductive part 130 may include other components in addition to the plurality of conductive particles.

시트(110)는 상하 방향으로 두께를 가진다. 시트(110)의 두께(두께 방향의 길이)는 시트(110)의 두께 방향에 수직한 방향으로의 길이보다 작다.The sheet 110 has a thickness in the vertical direction. The thickness of the sheet 110 (length in the thickness direction) is smaller than the length in the direction perpendicular to the thickness direction of the sheet 110.

시트(110)는 전기적 절연성의 재질로 형성된다. 시트(110)는 탄성 변형 가능한 재질로 형성될 수 있다.The sheet 110 is formed of an electrically insulating material. The sheet 110 may be formed of an elastically deformable material.

예를 들어, 시트(110)는 절연성을 가진 탄성 고분자 물질로 이루어질 수 있다. 상기 탄성 고분자 물질은 가교 구조를 갖는 고분자 물질일 수 있다. 상기 가교 고분자 물질을 얻기 위해서 사용할 수 있는 경화성의 고분자 물질 형성 재료의 예로서는, 폴리부타디엔 고무, 천연 고무, 폴리이소프렌 고무, 스티렌-부타디엔 공중 합체 고무, 아크릴로니트릴-부타디엔 공중합체 고무 등의 공액 디엔계 고무 및 이들의 수소 첨가물, 스티렌-부타디엔-디엔 블록 공중합체 고무, 스티렌-이소프렌 블록 공중합체 등의 블록 공중합체 고무 및 이들의 수소 첨가물, 클로로프렌, 우레탄 고무, 폴리에스테르계 고무, 에피크롤히드린 고무, 실리콘 고무, 에틸렌-프로필렌 공중합체 고무, 에틸렌-프로필렌-디엔 공중합체 고무 등을 들 수 있다.For example, the sheet 110 may be made of an insulating elastic polymer material. The elastic polymer material may be a polymer material having a crosslinked structure. Examples of the curable polymer material forming material that can be used to obtain the crosslinked polymer material include conjugated diene systems such as polybutadiene rubber, natural rubber, polyisoprene rubber, styrene-butadiene copolymer rubber, and acrylonitrile-butadiene copolymer rubber. Block copolymer rubbers such as rubbers and hydrogenated products thereof, styrene-butadiene-diene block copolymer rubbers, styrene-isoprene block copolymers, and hydrogenated products thereof, chloroprene, urethane rubbers, polyester rubbers, epichlorohydrin rubbers , Silicone rubber, ethylene-propylene copolymer rubber, ethylene-propylene-diene copolymer rubber, and the like.

시트(110)는 실리콘 고무를 포함한다. 시트(110)는 실리콘 고무 및 산화철을 포함할 수 있다. 시트(110)는 실리콘 고무 및 산화철이 혼합되어 형성될 수 있다. 시트(110)는 실리콘 고무 및 산화철만으로 구성될 수 있다.The sheet 110 includes silicone rubber. The sheet 110 may include silicon rubber and iron oxide. The sheet 110 may be formed by mixing silicon rubber and iron oxide. The sheet 110 may be composed of only silicone rubber and iron oxide.

예를 들어, 상기 실리콘 고무는 폴리실록산 재질일 수 있다. 상기 실리콘 고무는 액상 실리콘 고무(LSR; Liquid Silicone Rubber)일 수 있다. 상기 산화철은 Fe2O3일 수 있다.For example, the silicone rubber may be a polysiloxane material. The silicone rubber may be liquid silicone rubber (LSR). The iron oxide may be Fe 2 O 3 .

실리콘 고무의 소정 중량의 산화철 분말을 혼합되어 시트(110)가 형성될 수 있다. 본 개시에서 산화철의 중량부 또는 중량 비율로 표기한 것은, 시트(110)의 실리콘 고무의 중량을 100으로 볼 때 실리콘 고무의 중량 대비 산화철의 중량을 나타낸 것이다.The sheet 110 may be formed by mixing iron oxide powder having a predetermined weight of silicone rubber. In the present disclosure, the weight part or weight ratio of iron oxide indicates the weight of iron oxide compared to the weight of silicone rubber when the weight of silicone rubber of sheet 110 is 100.

도 2a 및 도 2b는, 산화철을 포함하는 시트를 가진 일 실시예에 따른 검사용 커넥터(Q)와 산화철을 포함하지 않는 시트를 가진 비교예에 따른 검사용 커넥터(O)에서, 검사용 커넥터의 누름 깊이(stroke)에 따른 검사용 커넥터의 저항(R) 변화를 보여주는 그래프이다. 도 2a는 상온(Room temperature)에서 실험을 한 결과이고, 도 2b는 상온 보다 높은 150˚C의 온도에서 실험을 한 결과이다. 이하, 도 2a 및 도 2b를 참고하여 본 실험예에 대해 설명한다.2A and 2B show an inspection connector (Q) according to an embodiment having a sheet containing iron oxide and an inspection connector (O) according to a comparative example having a sheet not containing iron oxide, of an inspection connector This graph shows the change in resistance (R) of the test connector according to the pressing depth. Figure 2a is the result of the experiment at room temperature (room temperature), Figure 2b is the result of the experiment at a temperature of 150 ° C higher than room temperature. Hereinafter, this experimental example will be described with reference to FIGS. 2A and 2B.

본 실험예에 사용된 실리콘 고무는 부가 반응형의 이액형 액상 실리콘 고무이다. 상기 부가 반응형의 이액형은 Part A와 Part B를 혼합하여 제조하는 것을 말한다. 여기서, 상기 Part A는 주재를 의미하고, 상기 Part B는 경화재를 의미한다. 예를 들어, 상기 경화재는 백금일 수 있다.The silicone rubber used in this experimental example is an addition reaction type two-liquid liquid silicone rubber. The two-part form of the addition reaction type refers to a mixture of Part A and Part B. Here, Part A means a main material, and Part B means a cured material. For example, the curing material may be platinum.

본 실험예에서, 일 실시예에 따른 검사용 커넥터(Q)의 시트는 위의 실리콘 고무와 6% 중량 비율의 산화철이 혼합되어 형성된 것이고, 비교예에 따른 검사용 커넥터(O)의 시트는 위의 실리콘 고무만으로 형성된 것이다. 여기서, 누름 깊이(stroke)는 검사용 커넥터의 상측면이 눌린 깊이로서 mm 단위이며, 측정된 저항(R)의 값의 단위는 mΩ이다.In this experimental example, the sheet of the inspection connector (Q) according to an embodiment is formed by mixing the above silicon rubber and iron oxide in a weight ratio of 6%, and the sheet of the inspection connector (O) according to the comparative example is It is formed of only silicone rubber. Here, the pressing depth (stroke) is the depth at which the upper surface of the connector for inspection is pressed, and is in mm, and the unit of the value of the measured resistance R is mΩ.

아래 표 1은 도 2a의 실험 결과를 테이블(table)로 나타낸 것이고, 아래 표 2는 도 2b의 실험 결과를 테이블로 나타낸 것이다.Table 1 below shows the experimental results of FIG. 2A as a table, and Table 2 below shows the experimental results of FIG. 2B as a table.

Stroke
(mm)
Stroke
(mm)
00 0.020.02 0.040.04 0.060.06 0.080.08 0.10.1 0.120.12 0.140.14 0.160.16 0.180.18 0.20.2
QQ R(mΩ) R (mΩ) 28771.028771.0 265.5265.5 130.9130.9 69.269.2 56.556.5 47.247.2 43.143.1 41.241.2 39.439.4 38.538.5 36.936.9 OO R(mΩ) R (mΩ) 671.5671.5 215.4215.4 162.2162.2 116.3116.3 96.096.0 84.984.9 80.880.8 75.375.3 70.170.1 68.168.1 66.766.7

Stroke
(mm)
Stroke
(mm)
00 0.020.02 0.040.04 0.060.06 0.080.08 0.10.1 0.120.12 0.140.14 0.160.16 0.180.18 0.20.2
QQ R(mΩ) R (mΩ) 72372.572372.5 44180.544180.5 586.8586.8 236.1236.1 175.5175.5 150.4150.4 142.1142.1 135.4135.4 131.7131.7 129.3129.3 124.8124.8 OO R(mΩ) R (mΩ) 3969.83969.8 2368.52368.5 1105.21105.2 601.2601.2 432.5432.5 398.2398.2 321.9321.9 292.8292.8 279.7279.7 268.9268.9 295.4295.4

단자에 의해 검사용 커넥터의 상측면이 눌리는 일반적인 상황에서 누름 깊이가 0.08 내지 0.14 mm 범위인 점을 참고하여, 실험 결과를 분석하면 다음과 같다.Referring to the point in which the pressing depth is in the range of 0.08 to 0.14 mm in the general situation in which the upper side of the connector for inspection by the terminal is pressed, analysis of the experimental results is as follows.

일반적으로 검사용 커넥터는 300 mΩ 이하의 저항이 요구된다. 도 2a 및 표 1을 참고하면 상온에서는 검사용 검사용 커넥터(Q)와 검사용 커넥터(O)의 누름 깊이에 따른 저항이 모두 충분히 낮아 사양으로 요구되는 저항값을 만족한다. 구체적으로, 상온에서는 검사용 커넥터(Q)와 검사용 커넥터(O)의 누름 깊이 0.02 내지 0.2 mm 범위에서 모두 300 mΩ 이하의 저항이 측정된다.In general, the test connector requires a resistance of 300 mΩ or less. Referring to Figure 2a and Table 1, at room temperature, both the resistance according to the pressing depth of the inspection connector Q for inspection and the connector O for inspection is sufficiently low to satisfy the resistance value required by the specification. Specifically, at room temperature, a resistance of 300 mΩ or less is measured in a range of 0.02 to 0.2 mm in pressing depth of the connector Q for inspection and the connector O for inspection.

그러나, 도 2b 및 표 2를 참고하여, 검사용 커넥터의 사용 환경이 150˚C의 고온 환경인 경우, 같은 누름 깊이 조건에서 검사용 커넥터(Q)의 저항(R)은 상온에서의 저항보다 높아지긴 하였지만, 여전히 300 mΩ 이하의 값으로 측정되어 사양으로 요구되는 조건을 만족하고 있다. 반면, 검사용 커넥터의 사용 환경이 150˚C의 고온 환경인 경우, 검사용 커넥터(O)의 저항(R)은 300 mΩ 을 초과하여 요구되는 사양의 범위를 벗어나 있거나, 300 mΩ 이하이더라도 상대적으로 300 mΩ에 상당히 가까운 값으로 측정된다. 이를 통해, 산화철을 혼합한 시트를 가진 검사용 커넥터(Q)는 고온 환경에서도 우수한 도전성을 가지는 효과가 있음을 알 수 있다.However, referring to FIG. 2B and Table 2, when the use environment of the inspection connector is a high temperature environment of 150 ° C, the resistance R of the inspection connector Q under the same pressing depth condition is higher than that at room temperature. Although it was long, it is still measured at a value of 300 mΩ or less, and satisfies the conditions required by the specification. On the other hand, when the use environment of the test connector is a high temperature environment of 150 ° C, the resistance R of the test connector O exceeds 300 mΩ or is out of the range of required specifications or is relatively less than 300 mΩ. It is measured at a value close to 300 mΩ. Through this, it can be seen that the inspection connector Q having a sheet in which iron oxide is mixed has an effect of having excellent conductivity even in a high temperature environment.

도 3은, 실리콘 고무와 산화철이 혼합되어 형성된 시편(TQ) 및 실리콘 고무만으로 형성된 시편(TO)의 열 팽창 및 수축 실험예에서 사용된 시편의 평면도이다. 상기 시편의 길이(dy)는 150mm이고, 상기 시편의 폭(dx)는 20mm이며, 상기 시편의 두께는 2mm이다. 이하, 도 3 및 아래 표 3을 참고하여 본 실험예에 대해 설명한다.3 is a plan view of a specimen used in a thermal expansion and contraction test example of a specimen (TQ) formed by mixing silicon rubber and iron oxide and a specimen (TO) formed only of silicone rubber. The length (dy) of the specimen is 150 mm, the width (dx) of the specimen is 20 mm, and the thickness of the specimen is 2 mm. Hereinafter, this experimental example will be described with reference to FIG. 3 and Table 3 below.

아래 표 3은 본 실험예에 따른 실험 결과를 나타낸 표이다. 본 실험예에서, 시편(TQ)은 위의 실리콘 고무와 6% 중량 비율의 산화철이 혼합되어 형성된 것이고, 시편(TO)은 위의 실리콘 고무만으로 형성된 것이다. 상기 시편(TQ, TO)을 형성하는 상기 실리콘 고무는 상술한 도 2a 및 도 2b의 실험예에 사용된 실리콘 고무와 같다.Table 3 below is a table showing the experimental results according to the present experimental example. In this experimental example, the specimen (TQ) is formed by mixing the above silicon rubber and iron oxide in a weight ratio of 6%, and the specimen (TO) is formed only of the above silicon rubber. The silicone rubber forming the specimens (TQ, TO) is the same as the silicone rubber used in the experimental examples of FIGS. 2A and 2B described above.

구 분division D1 (mm)D1 (mm) D2 (mm)D2 (mm) 수축/팽창율 (%)Shrinkage / expansion rate (%) TQTQ 126.6030126.6030 126.5128126.5128 -0.0712-0.0712 TOTO 126.7746126.7746 126.5752126.5752 -0.1572-0.1572

위에서 시편(TQ) 및 시편(TO)에 대한 각각의 실험 결과값은 각각 6개의 시편을 통해 측정한 실험 결과값의 평균값이다. 측정 거리(D1) 및 측정 거리(D2)는 도 3의 시편에서 표시 부분 사이의 거리(Dm)를 소수점 4자리까지 mm 단위로 측정한 것이다. 측정 거리(D1)은, 시편(TQ, TO)을 150˚C의 핫 프레스(Hot Press)에서 10분동안 1차 경화하고 150˚C의 오븐(oven)에서 240분 동안 2차 경화를 하고 상온으로 식힌 후, 측정한 값이다. 측정 거리(D2)는, 거리(D1)을 측정한 시편(TQ, TO)을 180˚C의 오븐에서 360분 노출하고 상온으로 식힌 후, 측정한 값이다. 수축/팽창율은 측정 거리(D1) 대비 측정 거리(D2)의 변화율(%)로서,

Figure 112018102988731-pat00001
으로 계산된 값이다. 측정 거리(D1) 대비 측정 거리(D2)가 짧아진다.본 실험예에서 시편(TQ) 및 시편(TO)의 실험 결과를 비교할 때, 시편(TO) 대비 시편(TQ)의 수축율의 절대값이 약 45.3% 수준으로 현저하게 낮아졌음을 알 수 있다. 즉, 산화철을 함유한 시편(TQ)가 산화철을 함유하지 않은 시편(TO) 대비 열 안정성이 향상된 것을 알 수 있다. 검사용 커넥터의 상술한 번인테스트(Burn-In Test)에서 120~170˚C의 환경에 시트(110)가 놓여지기 때문에, 이와 비슷한 180˚C의 온도로 가열 후 식힘 과정에서 수축율이 감소하는 시편(TQ)의 재질은, 검사용 커넥터의 시트의 재질로서 유리하다.In the above, each test result value for the specimen TQ and the specimen TO is an average value of the test results measured through six specimens. Measurement distance (D1) and measurement distance (D2) is a distance (Dm) between the display portion in the specimen of FIG. 3 is measured in mm to the nearest four decimal places. Measurement distance (D1), the specimen (TQ, TO) 150 ° C hot press (Hot Press) for 10 minutes primary curing, 150 ° C oven (oven) for 240 minutes secondary curing and room temperature After cooling, it is the measured value. The measurement distance D2 is a value measured after exposing the specimens (TQ, TO) measuring the distance D1 in an oven at 180 ° C for 360 minutes and cooling to room temperature. The contraction / expansion rate is the change rate (%) of the measurement distance (D2) compared to the measurement distance (D1),
Figure 112018102988731-pat00001
Is the calculated value. The measured distance (D2) is shorter compared to the measured distance (D1) .When comparing the experimental results of the specimen (TQ) and the specimen (TO) in this example, the absolute value of the shrinkage of the specimen (TQ) compared to the specimen (TO) is It can be seen that it was significantly lowered to about 45.3%. That is, it can be seen that the thermal stability of the specimen (TQ) containing iron oxide was improved compared to that of the specimen (TO) containing no iron oxide. Since the sheet 110 is placed in an environment of 120 to 170 ° C in the burn-in test described above for the test connector, a test piece having a shrinkage reduction rate during cooling after heating to a temperature of 180 ° C similar thereto The material of (TQ) is advantageous as the material of the sheet of the inspection connector.

또한, 산화철은 실리콘 고무의 실록산의 Si-O-Si 결합의 열 분해를 방지함으로써, 시트(110)의 열 안정성을 향상시킬 수 있다.In addition, the iron oxide can improve thermal stability of the sheet 110 by preventing thermal decomposition of Si-O-Si bonds of siloxane of silicone rubber.

도 4a 내지 도 4c는 시트에 포함된 산화철의 함량을 달리한 가열감량 결과 그래프로서, 온도(Temperature)에 따른 중량 퍼센트(Weight percent)를 보여준다. 도 4a는 실리콘 고무 중량 대비 5.0% 중량의 산화철이 함유된 시트(A)의 가열감량 결과 그래프이고, 도 4b는 실리콘 고무 중량 대비 9.0% 중량의 산화철이 함유된 시트(B)의 가열감량 결과 그래프이고, 도 4c는 실리콘 고무 중량 대비 13.0% 중량의 산화철이 함유된 시트(C)의 가열감량 결과 그래프이다.4A to 4C are graphs of heating loss results with different contents of iron oxide contained in a sheet, and show weight percent according to temperature. FIG. 4A is a graph showing the result of heating loss of a sheet (A) containing 5.0% by weight of silicon rubber, and FIG. 4B is a graph showing results of loss of heat of a sheet (B) containing 9.0% by weight of silicon rubber. , Figure 4c is a graph showing the result of heating loss of a sheet (C) containing 13.0% by weight of iron oxide compared to the weight of silicone rubber.

도 5a 내지 도 5c는 실리콘 고무 중량 대비 9% 중량의 산화철을 포함하는 시트에서 실리콘 고무의 성분 배합을 달리한 가열감량 결과 그래프로서, 온도(Temperature)에 따른 중량 퍼센트(Weight percent)를 보여준다. 도 5a는 일 실시예에 따른 성분 배합을 가진 실리콘 고무를 포함하는 시트(B1)의 가열감량 결과 그래프이고, 도 5b는 다른 실시예에 따른 성분 배합을 가진 실리콘 고무를 포함하는 시트(B2)의 가열감량 결과 그래프이고, 도 5c는 또 다른 실시예에 따른 성분 배합을 가진 실리콘 고무를 포함하는 시트(B3)의 가열감량 결과 그래프이다.5A to 5C are graphs of heat loss results obtained by varying the composition of silicone rubber in a sheet containing 9% by weight of iron oxide compared to silicone rubber, and show weight percent according to temperature. Figure 5a is a graph showing the result of heat loss of a sheet (B1) containing a silicone rubber with a composition according to one embodiment, Figure 5b is a sheet (B2) containing a silicone rubber with a composition according to another embodiment It is a graph of the result of the heat loss, and FIG. 5C is a graph of the result of the heat loss of the sheet B3 including the silicone rubber having the ingredient combination according to another embodiment.

도 6a는, 도 4a 내지 도 5c의 각 실험군(A, B, C, B1, B2, B3)의 1% 중량감소 온도를 보여주는 막대 그래프이다. 도 6b는, 도 4a 내지 도 5c의 각 실험군(A, B, C, B1, B2, B3)의 2% 중량감소 온도를 보여주는 막대 그래프이다.6A is a bar graph showing the 1% weight loss temperature of each experimental group (A, B, C, B1, B2, B3) of FIGS. 4A to 5C. 6B is a bar graph showing the 2% weight loss temperature of each experimental group (A, B, C, B1, B2, B3) of FIGS. 4A to 5C.

도 4a 내지 도 5c의 실험예 및 도 6a 및 도 6b의 그래프를 참고할 때, 산화철의 중량 비율이 커질수록 가열감량 온도가 높아지는 경향이 있음을 알 수 있다. 구체적으로, 중량비율이 커질수록 1% 중량감소(1% loss)의 온도 및 2% 중량감소(2% loss)의 온도가 높아지는 경향이 있음이 실험 결과를 통해 확인된다. 소정치 이상의 중량감소는 시트의 물성 변화를 야기해 검사용 커넥터의 품질 변화를 야기할 수 있으므로, 상기 소정치 미만의 중량감소가 되는 온도 환경에서 검사용 커넥터를 사용하는 것이 바람직하다. 구체적으로, 1% 미만의 중량감소가 되는 온도 환경에서 검사용 커넥터를 사용하는 것이 바람직하다.Referring to the experimental examples of FIGS. 4A to 5C and the graphs of FIGS. 6A and 6B, it can be seen that the heating loss temperature tends to increase as the weight ratio of iron oxide increases. Specifically, it is confirmed through experiment results that the temperature of 1% weight loss (1% loss) and the temperature of 2% weight loss (2% loss) tend to increase as the weight ratio increases. It is preferable to use the test connector in a temperature environment in which the weight decreases below the predetermined value, since a weight loss of a predetermined value or more may cause a change in the physical properties of the sheet and cause a quality change of the test connector. Specifically, it is preferable to use a connector for inspection in a temperature environment in which weight loss is less than 1%.

도 7은 산화철의 함량(RW)에 따른 산화철 및 액상 실리콘 고무(LSR)의 혼합물의 경화 전 점도(Viscosity)를 측정한 그래프이다. 여기서, 점도는 cSt.(centi-stroke) 단위로 측정된 것이다. 도 7의 점도 관련 실험예에서 사용된 액상 실리콘 고무는 상술한 도 2a 및 도 2b의 실험예에 사용된 실리콘 고무와 같다. 여기서, 함량(RW)은 상술한 중량 비율을 의미한다.7 is a graph measuring viscosity before curing of a mixture of iron oxide and liquid silicone rubber (LSR) according to the content of iron oxide (RW). Here, the viscosity is measured in cSt. (Centi-stroke). The liquid silicone rubber used in the viscosity-related experimental example of FIG. 7 is the same as the silicone rubber used in the experimental examples of FIGS. 2A and 2B described above. Here, the content (RW) means the weight ratio described above.

도 7의 실험예를 통해, 산화철 및 액상 실리콘 고무(LSR)의 혼합물의 산화철 함량(RW)이 커질수록, 상기 혼합물의 경화 전 점도(Viscosity)가 커짐을 확인할 수 있다. 경화 전 상기 혼합물 내의 복수의 도전성 입자가 자기장에 의해 특정 위치에서 상하 방향으로 배열됨으로써 도전부(130)가 형성되는 실시예에 있어서, 복수의 도전성 입자가 경화 전 상기 혼합물 내에서 이동을 하기 위해서, 경화 전 상기 혼합물의 점도가 낮을수록 유리하다. 상기 혼합물의 점도가 소정치 이상 상승하면, 자기장을 이용하여 복수의 도전성 입자를 기설정된 위치에 정확히 배열시키는 것이 어렵거나 불가능하게 된다. 따라서, 시트(110)의 산화철 중량 비율은 소정치 이하인 것이 바람직하다. 상기 도전성 입자는 자성을 가진 코어에 전도성을 가진 재료를 도금하여 형성될 수 있다.7, it can be seen that as the iron oxide content (RW) of the mixture of iron oxide and liquid silicone rubber (LSR) increases, the viscosity before curing of the mixture increases. In an embodiment in which the conductive portion 130 is formed by arranging a plurality of conductive particles in the mixture in a vertical position at a specific position by a magnetic field before curing, in order to move the plurality of conductive particles in the mixture before curing, The lower the viscosity of the mixture before curing, the better. When the viscosity of the mixture rises above a predetermined value, it is difficult or impossible to accurately arrange a plurality of conductive particles in a predetermined position using a magnetic field. Therefore, it is preferable that the weight ratio of the iron oxide of the sheet 110 is equal to or less than a predetermined value. The conductive particles may be formed by plating a conductive material on a magnetic core.

또한, 시트(110)의 산화철 중량 비율이 소정치 이상 상승하면, 검사용 커넥터의 사용 시 피검사 디바이스가 검사용 커넥터를 눌렀을 때 피검사 디바이스가 받게 되는 힘이 상승하는 문제가 있다. 따라서, 시트(110)의 산화철 중량 비율은 소정치 이하인 것이 바람직하다.In addition, when the weight ratio of the iron oxide in the sheet 110 rises above a predetermined value, there is a problem in that the force received by the device under test when the device under test depresses the connector for inspection when using the connector for inspection increases. Therefore, it is preferable that the weight ratio of the iron oxide of the sheet 110 is equal to or less than a predetermined value.

도 7에서, 박스(LA)는 시트(110)에 일반적으로 사용되는 저점도용 실리콘 고무의 점도 범위를 도시하며, 박스(LA)는 시트(110)에 일반적으로 사용되는 고점도용 실리콘 고무의 점도 범위를 도시한다. 본 실험예에서, 0% 중량 비율의 산화철 및 액상 실리콘 고무의 혼합물의 경화 전 점도는 263,000cSt.로 측정되고, 10% 중량 비율의 산화철을 혼합한 경우 점도는 402,400cSt.로 측정되며, 20% 중량 비율의 산화철을 혼합한 경우 점도는 473,600cSt.로 측정되고, 30% 중량 비율의 산화철을 혼합한 경우 점도는 645,000cSt.로 측정된다. 또한, 40% 중량 비율의 산화철을 혼합한 경우 점도는 870,700cSt.로 측정되고, 50% 중량 비율의 산화철을 혼합한 경우 점도는 1,232,000cSt.로 측정되며, 60% 중량 비율의 산화철을 혼합한 경우 점도는 2,452,000cSt.로 측정된다.In FIG. 7, the box LA shows the viscosity range of the silicone rubber for low viscosity generally used for the sheet 110, and the box LA shows the viscosity range of the silicone rubber for high viscosity commonly used for the sheet 110. It shows. In this example, the viscosity before curing of the mixture of 0% weight ratio of iron oxide and liquid silicone rubber is measured to be 263,000 cSt., And when 10% weight ratio of iron oxide is mixed, viscosity is measured to be 402,400 cSt., 20%. When mixing iron oxide in a weight ratio, the viscosity is measured at 473,600 cSt., And when mixing iron oxide in a 30% weight ratio, the viscosity is measured at 645,000 cSt. In addition, when 40% by weight of iron oxide is mixed, viscosity is measured at 870,700cSt., When 50% by weight iron is mixed, viscosity is measured at 1,232,000cSt., When 60% by weight iron is mixed. The viscosity is measured at 2,452,000 cSt.

도 7의 실험 결과를 참고하여, 검사용 커넥터(100)의 시트(110)는 100 중량부의 액상 실리콘 고무 및 50 중량부 이하의 산화철을 포함하는 것이 바람직하다. 도 7을 참고하여, 50 중량부의 산화철을 경계로 산화철 중량 증가 비율 대비 점도 증가 비율이 급격히 상승하는 것을 알 수 있는데, 시트(110)가 50 중량부의 산화철보다 많은 산화철을 포함하는 경우 경화 전 상기 혼합물의 점도가 급격히 증가하여 제조성이 급격히 떨어지게 된다. 시트(110)가 50 중량부 이하의 산화철을 포함함으로써, 시트(110)의 내열 성능을 향상하면서도, 자기장을 이용하여 자화 가능한 복수의 도전성 입자를 상하 방향으로 배열하여 기설정된 위치에 정확히 도전부(130)를 형성시킬 수 있다.Referring to the experimental results in FIG. 7, it is preferable that the sheet 110 of the connector 100 for inspection includes 100 parts by weight of liquid silicone rubber and 50 parts by weight or less of iron oxide. Referring to FIG. 7, it can be seen that the viscosity increase ratio rapidly increases compared to the weight increase ratio of iron oxide with respect to 50 parts by weight of iron oxide. When the sheet 110 contains more iron oxide than 50 parts by weight of iron oxide, the mixture before curing The viscosity of the product increases rapidly and the manufacturability decreases rapidly. The sheet 110 includes 50 parts by weight or less of iron oxide, thereby improving heat resistance of the sheet 110, while arranging a plurality of conductive particles magnetizable using a magnetic field in the vertical direction to accurately conduct the conductive portion ( 130).

경화 전 상기 혼합물 내에서 보다 원할하게 상기 복수의 도전성 입자가 이동하기 위해서, 상기 시트는 26 중량부 이하의 상기 산화철을 포함하는 것이 보다 바람직하다. 도 7을 참고하여, 시트(110)가 26 중량부 이하의 산화철을 포함하는 경우 경화 전 상기 혼합물의 점도 수준은 상기 저점도용 실리콘 고무의 점도 범위가 되어, 자기장을 이용하여 상기 혼합물 내에서 보다 원할하게 복수의 도전성 입자를 이동시킬 수 있다. 이를 통해, 복수의 도전성 입자가 보다 정확하게 기설정된 위치에 배열될 수 있고, 상하 방향으로 배열된 복수의 도전성 입자가 서로 더욱 조밀하게 접촉될 수 있다.In order for the plurality of conductive particles to move more smoothly in the mixture before curing, the sheet preferably contains 26 parts by weight or less of the iron oxide. Referring to FIG. 7, when the sheet 110 contains 26 parts by weight or less of iron oxide, the viscosity level of the mixture before curing becomes a viscosity range of the silicone rubber for low viscosity, and is more desirable in the mixture using a magnetic field. It is possible to move a plurality of conductive particles. Through this, a plurality of conductive particles can be more accurately arranged at a predetermined position, and a plurality of conductive particles arranged in the vertical direction can be in close contact with each other.

도 8a 및 도 8b는 산화철을 포함하는 액상 실리콘 내에서 자기장을 이용하여 도전성 입자를 배열시킴으로써 도전부가 형성된 모습을 보여주는 단면 사진이다. 도 8a는 50% 이하인 30% 중량 비율의 산화철과 100% 중량 비율의 액상 실리콘 고무의 경화 전 혼합물을 이용한 결과이고, 도 8b는 50% 초과인 60% 중량 비율의 산화철과 100% 중량 비율의 액상 실리콘 고무의 경화 전 혼합물을 이용한 결과이다. 도 8의 점도 관련 실험예에서 사용된 액상 실리콘 고무는 상술한 도 7의 실험예에 사용된 실리콘 고무와 같다. 본 실험예에서 복수의 도전부는 0.3mm의 피치(pitch) 설계에 따라 제조된 것이다.8A and 8B are cross-sectional photographs showing a state in which conductive parts are formed by arranging conductive particles using a magnetic field in liquid silicon containing iron oxide. Figure 8a is a result of using a mixture of less than 50% 30% by weight of iron oxide and 100% by weight of liquid silicone rubber, Figure 8b is more than 50% 60% by weight of iron oxide and 100% by weight of liquid This is the result of using a mixture of silicone rubber before curing. The liquid silicone rubber used in the viscosity-related experimental example of FIG. 8 is the same as the silicone rubber used in the experimental example of FIG. 7 described above. In this experimental example, a plurality of conductive parts are manufactured according to a pitch design of 0.3 mm.

도 8a을 참고하여, 50% 이하인 30% 중량 비율의 산화철 및 액상 실리콘 고무를 이용한 경우, 복수의 도전성 입자가 도전부를 정확한 위치에 형성함이 확인된다. 도 8b를 참고하여, 50% 초과인 60% 중량 비율의 산화철 및 액상 실리콘 고무를 이용한 경우, 도전부의 형태가 제대로 형성되기 않고, 간격을 유지해야 할 복수의 도전부 사이에 도전성 입자가 잔존함에 따라, 복수의 도전부 사이가 절연을 유지하지 않은 상태(Shrot / Bridge 불량)가 될 수 있음이 확인된다.Referring to Figure 8a, when using a 30% weight ratio of iron oxide and liquid silicone rubber of 50% or less, it is confirmed that a plurality of conductive particles form a conductive portion in the correct position. Referring to FIG. 8B, when using iron oxide and liquid silicone rubber having a weight ratio of more than 50% and 60%, the shape of the conductive portion is not properly formed, and as the conductive particles remain between the plurality of conductive portions to be spaced , It is confirmed that the insulation between the plurality of conductive parts may not be maintained (bad Shrot / Bridge).

한편, 검사용 커넥터(100)의 시트(110)는 3 중량부 이상의 산화철을 포함하는 것이 바람직하다.On the other hand, it is preferable that the sheet 110 of the connector 100 for inspection includes at least 3 parts by weight of iron oxide.

이하, 검사용 커넥터의 제조방법을 설명한다. 상기 제조방법은 액상 실리콘 고무, 산화철 및 복수의 도전성 입자를 혼합하는 혼합 단계를 포함한다. 상기 혼합 단계에서, 상기 복수의 도전성 입자는 자화 가능한 입자이다. 상기 혼합 단계에서, 먼저 액상 실리콘 고무 및 산화철 분말을 혼합한 후, 액상 실리콘 고무 및 산화철의 혼합물에 복수의 도전성 입자를 첨가할 수 있다.Hereinafter, a method of manufacturing the connector for inspection will be described. The manufacturing method includes a mixing step of mixing liquid silicone rubber, iron oxide, and a plurality of conductive particles. In the mixing step, the plurality of conductive particles are magnetizable particles. In the mixing step, the liquid silicone rubber and the iron oxide powder are first mixed, and then a plurality of conductive particles may be added to the mixture of the liquid silicone rubber and the iron oxide.

액상 실리콘 고무 및 산화철 분말을 혼합하는 예시들은 다음과 같다. 일 예로, 산화철 분말의 입자를 선별하여 액상 실리콘 고무에 직접 첨가할 수 있다. 다른 예로, 산화철을 실리콘 고분자에 혼합하여 액상 실리콘 고무에 첨가할 수 있다. 또 다른 예로, 산화철을 액상 실리콘 고무에 혼합한 후 밀링(Milling)할 수 있다. 예를 들어, 산화철 분말을 액상 실리콘 고무의 상기 B Part에 첨가하여 혼합기계(예를 들어, 3본롤(3-roll))에서 1회 이상 20회 이하, 바람직하게는 2 ~ 15회, 더욱 바람직하게는 3 ~ 10회 혼합할 수 있다.Examples of mixing the liquid silicone rubber and iron oxide powder are as follows. As an example, the particles of iron oxide powder can be selected and added directly to the liquid silicone rubber. As another example, iron oxide may be mixed with a silicone polymer and added to the liquid silicone rubber. As another example, iron oxide may be mixed in a liquid silicone rubber and then milled. For example, iron oxide powder is added to the B Part of the liquid silicone rubber to be mixed in a mixing machine (eg, 3-roll) at least once or less than 20 times, preferably 2 to 15 times, more preferably It can be mixed 3 to 10 times.

상기 혼합 단계에서, 100 중량부의 상기 액상 실리콘 고무 및 50 중량부 이하의 상기 산화철을 혼합할 수 있다. 상기 혼합 단계에서, 100 중량부의 상기 액상 실리콘 고무 및 26 중량부 이하의 상기 산화철을 혼합할 수 있다. 상기 혼합 단계에서, 상기 산화철은 3 중량부 이상일 수 있다.In the mixing step, 100 parts by weight of the liquid silicone rubber and 50 parts by weight or less of the iron oxide may be mixed. In the mixing step, 100 parts by weight of the liquid silicone rubber and 26 parts by weight or less of the iron oxide may be mixed. In the mixing step, the iron oxide may be 3 parts by weight or more.

상기 제조방법은, 상기 혼합 단계 후, 상기 복수의 도전성 입자가 기설정된 위치들에 정렬되도록 자기장을 발생시킴으로써, 상기 복수의 도전성 입자가 도전부(130)를 형성하는 정렬 단계를 포함한다. 상기 정렬 단계에서, 상기 복수의 도전부가 상하 방향으로 연장되고 상하 방향으로 통전을 가능하게 하는 도전부(130)를 형성한다. 상기 정렬 단계에서, 상하 방향으로 연장된 하나의 도전부(130)의 상기 복수의 도전부 사이에는 상기 산화철이 개재(介在)될 수 있다. 구체적으로, 제조공정 상 복수의 도전부 사이의 틈은 상기 산화철 분말 또는 액상 실리콘 고무의 입자 등이 끼어들어 갈 수 있다. 도전부(130)의 복수의 도전성 입자 사이에 끼어들어간 상기 산화철도 검사용 커넥터(100)의 내열 성능을 향상시키는 역할을 수행할 수 있다.The manufacturing method includes an alignment step in which the plurality of conductive particles form the conductive portion 130 by generating a magnetic field so that the plurality of conductive particles are aligned at predetermined positions after the mixing step. In the alignment step, the plurality of conductive parts extend in the vertical direction and form a conductive part 130 that enables energization in the vertical direction. In the alignment step, the iron oxide may be interposed between the plurality of conductive parts of one conductive part 130 extending in the vertical direction. Specifically, in the manufacturing process, a gap between the plurality of conductive parts may be interposed with particles of the iron oxide powder or liquid silicone rubber. It may serve to improve the heat resistance performance of the connector 100 for the iron oxide inspection interposed between a plurality of conductive particles of the conductive portion 130.

도전부(130)는, 액상 실리콘 고무(LSR), 산화철 및 자화 가능한 복수의 도전성 입자를 혼합한 상태에서, 자기장을 발생시킴으로써 상기 복수의 도전성 입자가 기설정된 위치들에 정렬되어 형성될 수 있다. 시트(110)는, 액상 실리콘 고무 및 산화철의 혼합물이 경화되어 형성될 수 있다.The conductive portion 130 may be formed by aligning liquid silicone rubber (LSR), iron oxide, and a plurality of magnetizable conductive particles in a state where the plurality of conductive particles are aligned at predetermined positions by generating a magnetic field. The sheet 110 may be formed by curing a mixture of liquid silicone rubber and iron oxide.

이상 일부 실시예들과 첨부된 도면에 도시된 예에 의해 본 개시의 기술적 사상이 설명되었지만, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이해할 수 있는 본 개시의 기술적 사상 및 범위를 벗어나지 않는 범위에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 이루어질 수 있다는 점을 알아야 할 것이다. 또한, 그러한 치환, 변형 및 변경은 첨부된 청구범위 내에 속하는 것으로 생각되어야 한다.Although the technical spirit of the present disclosure has been described by the examples shown in the accompanying drawings and some embodiments, the technical spirit and scope of the present disclosure can be understood by those skilled in the art to which the present disclosure pertains. It will be appreciated that various substitutions, modifications and changes can be made in the range. In addition, such substitutions, modifications and variations should be considered within the scope of the appended claims.

10: 피검사 디바이스, 20: 테스트 장비, 100: 검사용 커넥터,
110: 시트, 130: 도전부
10: device under test, 20: test equipment, 100: connector for inspection,
110: sheet, 130: conductive portion

Claims (9)

피검사 디바이스와 테스트 장비 사이에 배치되어 피검사 디바이스와 테스트 장비를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 검사용 커넥터에 있어서,
액상 실리콘 고무 및 산화철의 혼합물이 경화되어 형성되는 시트; 및
상기 시트 내에서 상하 방향으로 연장되어 상하 방향으로 통전을 가능하게 하고, 상하 방향으로 배열된 자화 가능한 복수의 도전성 입자를 포함하는 도전부를 포함하고,
상기 복수의 도전성 입자 사이에 상기 산화철의 분말이 끼어들어 있고,
상기 시트는,
100 중량부의 상기 실리콘 고무; 및
26 중량부 이하 3 중량부 이상의 상기 산화철을 포함하는,
검사용 커넥터.
In the test connector is disposed between the device under test and the test equipment to electrically connect the device under test and the test equipment,
A sheet formed by curing a mixture of liquid silicone rubber and iron oxide; And
It includes a conductive portion extending in the vertical direction in the sheet to enable energization in the vertical direction, and includes a plurality of magnetizable conductive particles arranged in the vertical direction,
The iron oxide powder is interposed between the plurality of conductive particles,
The sheet,
100 parts by weight of the silicone rubber; And
26 parts by weight or less containing 3 parts by weight or more of the iron oxide,
Inspection connector.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 도전부는, 상기 액상 실리콘 고무, 상기 산화철 및 상기 복수의 도전성 입자를 혼합한 상태에서, 자기장을 발생시킴으로써 상기 복수의 도전성 입자가 기설정된 위치들에 정렬되어 형성되는,
검사용 커넥터.
According to claim 1,
The conductive portion is formed by aligning the liquid silicone rubber, the iron oxide, and the plurality of conductive particles in a state where the plurality of conductive particles are aligned at predetermined positions by generating a magnetic field.
Inspection connector.
피검사 디바이스와 테스트 장비 사이에 배치되어 피검사 디바이스와 테스트 장비를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 검사용 커넥터의 제조방법에 있어서,
100 중량부의 액상 실리콘 고무, 26 중량부 이하 3 중량부 이상의 산화철 및 자화 가능한 복수의 도전성 입자를 혼합하는 혼합 단계; 및
상기 복수의 도전성 입자가 기설정된 위치들에 정렬되도록 자기장을 발생시킴으로써, 상기 복수의 도전성 입자가 상하 방향으로 연장되고 상하 방향으로 통전을 가능하게 하는 도전부를 형성하고, 상기 복수의 도전성 입자 사이에 상기 산화철의 분말이 끼어들어 가는 정렬 단계를 포함하는,
검사용 커넥터의 제조방법.
In the manufacturing method of the test connector for arranging between the device under test and the test equipment to electrically connect the device under test and the test equipment,
A mixing step of mixing 100 parts by weight of liquid silicone rubber, 26 parts by weight or less and 3 parts by weight or more of iron oxide and a plurality of magnetizable conductive particles; And
By generating a magnetic field so that the plurality of conductive particles are aligned at predetermined positions, a conductive portion that extends in the vertical direction and enables energization in the vertical direction is formed, and the conductive particles are interposed between the plurality of conductive particles. Including an alignment step in which the powder of iron oxide is interrupted,
Manufacturing method of inspection connector.
삭제delete 삭제delete
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