KR102086864B1 - 검사 장치, 검사 방법 및 전지 검사용 챔버 - Google Patents

Abstract

검사 장치는 챔버 및 가압부를 포함한다. 챔버는 전지의 밀봉부를 적어도 수용하도록 구성된 공간부와, 밀봉부 이외의 전지의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함한다. 가압부는 공간부를 가압 상태로 하도록 구성되어 있다.

Description

검사 장치, 검사 방법 및 전지 검사용 챔버{INSPECTION APPARATUS, INSPECTION METHOD, AND BATTERY-INSPECTING CHAMBER}

관련 출원에의 상호 참조

본 출원은, 2013년 4월 19일 출원된 일본 특허 출원 제2013-088917호의 이익을 주장하며, 그 전체 내용은 본 명세서에서 참조로서 원용된다.

본 발명은 밀봉부를 포함하는 검사 대상을 검사하기 위한 검사 장치, 검사 방법 및 전지 검사용 챔버에 관한 것이다.

관련 기술에서는, 라미네이트 필름 등의 외장 재료로 피복된 전지 소자를 각각 포함하는 전지가 널리 이용되고 있다. 이러한 전지의 제조 공정에서는, 완성된 전지에 밀봉 불량이 있는지 여부를 확인하기 위해서 전지의 밀봉 상태를 검사한다.

전지의 밀봉 상태를 검사하는 검사 장치로서는, 예를 들면, 가압 또는 감압된 밀폐 용기에 전지를 수용하고, 가압 또는 감압 전의 상태로부터의 압력 변화를 측정하고, 미리 정해둔 임계치보다 큰 압력 변화가 측정된 경우에 누설이 존재하는 것으로 판정하는 것이 제안되었다(예를 들면, 일본 특허 제3983479호 공보 참조). 최근에는, 전지의 밀봉 상태를 단시간에 검사할 수 있는 검사 장치를 제공하는 것이 바람직하다.

일본 특허 제3983479호 공보

따라서, 전지 밀봉 상태를 단시간에 검사할 수 있는 검사 장치, 검사 방법 및 전지 검사용 챔버를 제공하는 것이 바람직하다.

본 발명의 제1 실시 형태에 따르면, 전지의 밀봉부를 적어도 수용하도록 구성된 공간부, 및 상기 밀봉부 이외의 전지의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함하는 챔버와, 상기 공간부를 가압 상태로 하도록 구성된 가압부를 포함하는 검사 장치가 제공된다.

본 발명의 제2 실시 형태에 따르면, 전지의 밀봉부를 적어도 챔버의 공간부에 수용시키는 단계와, 상기 공간부를 가압 상태로 하고, 상기 밀봉부 이외의 전지의 일부분을 대기에 개방하는 단계를 포함하는 검사 방법이 제공된다.

본 발명의 제3 실시 형태에 따르면, 전지의 밀봉부를 적어도 수용하도록 구성된 공간부, 및 상기 밀봉부 이외의 전지의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함하는 전지 검사용 챔버가 제공된다.

본 발명의 제4 실시 형태에 따르면, 검사 대상의 밀봉부를 적어도 수용하도록 구성된 공간부, 및 상기 밀봉부 이외의 검사 대상의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함하는 챔버와, 상기 공간부를 가압 상태로 하도록 구성된 가압부를 포함하는 검사 장치가 제공된다.

제1 내지 제3 실시 형태에서는, 전지의 밀봉부를 적어도 챔버의 공간부에 수용한다. 공간부를 가압 상태로 하고, 밀봉부 이외의 전지의 일부분을 대기에 개방한다. 따라서, 전지에 밀봉 불량이 있을 경우에는, 개방부에서 전지의 내측의 기압이 외측의 기압보다 높아서 개방부에서 전지에 팽창이 발생한다. 이 팽창을 작업자 등이 시각적으로 확인하거나, 혹은 이 팽창을 위치 센서 등의 측정 장치로 측정함으로써, 전지의 밀봉 불량의 유무를 확인할 수 있다. 또한, 챔버 내의 분위기로서 가압 분위기를 이용하고 있으므로, 챔버 내의 분위기로서 진공 분위기를 이용하는 검사 방법에 비해 검사 시간을 단축할 수 있다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시 형태에 따르면, 전지의 밀봉 상태를 단시간에 검사할 수 있다.

본 발명의 이러한 목적, 특징 및 장점과, 기타 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면을 참조하여 아래의 최적의 형태의 실시 형태에 대한 상세한 설명을 고려하면 더욱 명확해질 것이다.

도 1a는 검사 대상인 전지를 한쪽의 주면 측에서 보았을 때의 외관의 일례를 도시하는 사시도이고, 도 1b는 검사 대상인 전지를 다른 쪽의 주면 측에서 보았을 때의 외관의 일례를 도시하는 사시도.
도 2는 검사 대상인 전지의 구성의 일례를 도시하는 분해 사시도.
도 3은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 검사 장치의 구성의 일례를 도시하는 개략도.
도 4a는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 챔버의 외관의 일례를 도시하는 평면도이고, 도 4b는 도 4a의 A-A 선을 따른 단면도.
도 5는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 검사 방법의 일례를 설명하기 위한 플로우차트.
도 6a는 외장 재료에 밀봉 불량, 핀 홀 등이 있는 검사 후의 전지의 외관의 일례를 도시하는 평면도이고, 도 6b는 외장 재료에 밀봉 불량, 핀 홀 등이 있는 검사 후의 전지의 외관의 일례를 도시하는 측면도.
도 7a는 외장 재료에 밀봉 불량, 핀 홀 등이 없는 검사 후의 전지의 외관의 일례를 도시하는 평면도이고, 도 7b는 외장 재료에 밀봉 불량, 핀 홀 등이 없는 검사 후의 전지의 외관의 일례를 도시하는 측면도.
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 챔버의 일 변형예를 도시하는 평면도.
도 9는 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 검사 장치의 구성의 일례를 도시하는 개략도.
도 10a는 도 9에 도시된 검사 장치의 변위 센서 및 챔버의 일례를 도시하는 단면도이고, 도 10b는 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 검사 장치의 일 변형예를 도시하는 단면도.
도 11은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 검사 방법의 일례를 설명하기 위한 플로우차트.
도 12a는 본 발명의 제3 실시 형태에 따른 챔버의 구성의 일례를 도시하는 단면도이고, 도 12b는 본 발명의 제3 실시 형태에 따른 챔버의 일 변형예를 도시하는 단면도.

아래에서는 본 발명의 실시 형태에 대해서 도면을 참조하면서 이하의 순서로 설명한다. 이하의 실시 형태와 관련된 전체 도면에서는 동일하거나 대응하는 부분은 동일한 참조 부호로 표시한다.

1 제1 실시 형태(검사 장치의 제1 예)

1.1 전지의 구성

1.2 검사 장치의 구성

1.3 챔버의 구성

1.4 검사 방법

1.5 효과

1.6 변형예

2 제2 실시 형태(검사 장치의 제2 예)

2.1 검사 장치의 구성

2.2 검사 방법

2.3 효과

2.4 변형예

3 제3 실시 형태(챔버의 예)

3.1 챔버의 구성

3.2 검사 방법

3.3 효과

3.4 변형예

<1. 제1 실시 형태>

[1.1 전지의 구성]

우선, 도 1a, 도 1b, 도 2를 참조하여, 검사 대상인 전지(1)의 구성에 대해서 설명한다. 전지(1)는 2개의 주면(S1, S2)을 포함하는 편평한 전지이다. 전지(1)는 정극 리드(13) 및 부극 리드(14)가 제공된 전지 소자(11)를 외장 재료(12)로 피복하여 제조된다. 따라서, 소형화, 경량화 및 박형화가 가능하다. 이하에서는, 정극 리드(13) 및 부극 리드(14)가 도출되는 전지 소자(11)의 단부면 측을 탑(top) 측이라고 칭한다. 또한, 상기 단부면 측과는 반대의 단부면 측을 보텀(bottom) 측이라고 칭한다. 또한, 탑 측과 보텀 측의 양 단부의 사이의 변부(side portion)의 측을 미들(middle) 측이라고 칭한다.

각각의 정극 리드(13) 및 부극 리드(14)는 외장 재료(12)의 내부에서 외부를 향해 연장하고, 예를 들면, 동일한 방향으로 도출된다. 정극 리드(13) 및 부극 리드(14)는, 예를 들면, 알루미늄, 구리, 니켈 및 스테인레스 강 등의 금속 재료로 구성되며, 박판 형상 또는 메쉬 형상으로 형성된다.

전지(1)는 그 모든 변부 또는 일부 변부에 밀봉부를 포함한다. 도 1a, 도 1b, 도 2에서는, 전지(1)의 변부 중 탑 측 및 미들 측의 변부에 밀봉부를 포함하는 예가 나타나 있다. 밀봉부는 아래와 같은 방식으로 형성된다. 구체적으로, 예를 들면, 1개의 사각 형상의 외장 재료(12)를 그 중앙부에서 뒤집어 접고, 전지 소자(11)를 사이에 개재하여 뒤집어 접은 변부끼리 서로 겹치게 한 채, 열 융착 등에 의해 접착한다. 혹은, 2개의 사각 형상의 외장 재료(12) 사이에 전지(1)를 개재하고, 변부끼리 서로 겹치게 한 채, 열 융착에 의해 접착한다.

외장 재료(12)는, 예를 들면, 유연성을 가지는 라미네이트 필름이다. 외장 재료(12)는, 예를 들면, 열 융착 수지층, 금속층, 표면 보호층을 순차 적층한 구성을 가진다. 열 융착 수지층 측의 면이 전지 소자(11)를 수용하는 측의 면이다. 열 융착 수지층의 예는, 폴리프로필렌(PP), 폴리에틸렌(PE) 등의 고분자 재료를 포함한다. 금속층의 재료의 예는, 알루미늄(Al) 또는 그 합금 등의 금속 재료를 포함한다. 표면 보호층의 재료의 예는, 나일론(Ny) 등의 고분자 재료를 포함한다. 구체적으로는, 예를 들면, 외장 재료(12)는, 예를 들면, 나일론 필름, 알루미늄 필름 및 폴리에틸렌 필름을 이 순서대로 접착한 사각 형상의 알루미늄 라미네이트 필름으로 형성된다. 외장 재료(12)는, 예를 들면, 폴리에틸렌 필름 측과 전지 소자(11)가 서로 대향하도록 배치되고, 각각의 변부가 융착 또는 접착제에 의해 서로 접착된다. 외장 재료(12)와 정극 리드(13) 및 부극 리드(14)의 사이에는, 밀봉성을 향상시키기 위한 밀착 필름(15)이 삽입된다. 각각의 밀착 필름(15)은 정극 리드(13) 및 부극 리드(14)에 대하여 밀착성을 가지는 재료, 예를 들면, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 변성 폴리에틸렌 및 변성 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀 수지로 구성된다.

외장 재료(12)로서는, 상술한 구조를 가지는 라미네이트 필름 대신에, 다른 구조를 가지는 라미네이트 필름, 폴리프로필렌 등의 고분자 필름, 금속 필름 등을 이용해도 된다.

전지 소자(11)의 구조는 특히 한정되지는 않지만, 전지 소자(11)의 구성의 예는, 권회 전극 구조, 스택 전극 구조를 포함할 수 있다. 전지 소자(11)의 전해질로서, 예를 들면, 전해액, 겔 형상의 전해질 또는 고체 전해질을 이용할 수 있다.

[1.2 검사 장치의 구성]

다음으로, 도 3을 참조하여, 상술한 구성을 가지는 전지(1)의 밀봉 상태를 검사하는 검사 장치의 구성에 대해서 설명한다. 이 검사 장치는, 가압기(21), 압력 제어기(22), 챔버(23), 제어 장치(24) 및 표시 장치(25)를 포함한다. 가압기(21)와 압력 제어기(22)는 연통 관(26)을 통해 서로 접속된다. 압력 제어기(22)와 챔버(23)는 연통 관(27)을 통해 서로 접속된다.

가압기(21)는 챔버(23)를 가압 상태로 한다. 가압기(21)는, 예를 들면, 압축기이며, 공기 등의 기체를 압축해서, 이 기체를 압축 기체로서 압력 제어기(22)를 통해서 챔버(23) 내에 공급한다.

압력 제어기(22)는 레귤레이터를 포함한다. 압력 제어기(22)는 이 레귤레이터에 의해 가압기(21)로부터 공급되는 압축 기체의 압력을 소정의 압력으로 조정하고, 이 조정된 압축 기체를 챔버(23) 내에 공급한다. 압력 제어기(22)는 필요에 따라서 에어 필터를 더 포함할 수 있을 것이다. 압력 제어기(22)는 이 에어 필터에 의해 압축 기체 내의 수분 및 이물이 압력 제어기(22) 내에 침입하는 것을 막을 수 있을 것이다. 압력 제어기(22)는 필요에 따라 압력계를 더 포함할 수도 있을 것이다. 압력 제어기(22)는 이 압력계에 의해 압력 제어기(22)에서의 조정 압력을 확인할 수 있을 것이다.

챔버(23) 내에는 가압기(21)로부터 압력 제어기(22)를 통해서 압축 기체가 공급된다. 챔버(23)는 전지(1)의 밀봉부를 적어도 수용하고, 전지(1)의 주면(S1, S2) 각각의 일부분을 챔버(23)로부터 노출시킨다. 따라서, 챔버(23)는 가압 상태에서 전지(1)의 주면(S1, S2) 각각의 일부분이 대기에 개방된다.

제어 장치(24)는 가압기(21) 및 압력 제어기(22)를 제어한다. 구체적으로는, 제어 장치(24)는 가압기(21)에 제어 신호를 출력하고, 가압기(21)의 기체 압축의 동작을 제어한다. 또한, 제어 장치(24)는 압력 제어기(22)에 제어 신호를 출력하고, 가압기(21)로부터 챔버(23)에 공급되는 압축 기체의 압력을 소정의 압력으로 조정한다. 이에 의해, 챔버(23)는 소정의 압력을 가지도록 제어된다. 또한, 제어 장치(24)는 압력 제어기(22)로부터 공급되는 공급 신호에 기초하여, 압력 제어기(22)의 제어 상태 등의 정보를 표시 장치(25)에 표시한다.

표시 장치(25)는 출력 유닛의 일례이며, 제어 장치(24)로부터 공급되는 신호에 기초하여, 가압기(21) 및 압력 제어기(22)의 제어 상태 등의 정보를 표시한다. 표시 장치(25)로는, 예를 들면, 액정 디스플레이 또는 전계 발광(EL) 디스플레이를 이용할 수 있다.

[1.3 챔버의 구성]

다음으로, 도 4a, 도 4b를 참조하여, 상술한 챔버(23)의 구성에 대해서 상세하게 설명한다. 전지 검사용 챔버인 챔버(23)는 원반 형상을 가지고, 그 내부에 전지(1)의 밀봉부를 적어도 수용하기 위한 공간부(23a)를 포함한다. 챔버(23)의 하부면 및 상부면에는 각각 구멍부(32, 42)가 마련된다. 챔버(23) 내의 소정 위치에 전지(1)를 수용한 상태에서, 전지(1)의 주면(S1, S2)의 일부분(예를 들면, 주면(S1, S2)의 중앙 부분)이 구멍부(32, 42)를 통해서 챔버(23)로부터 노출된다. 이에 의해, 공간부(23a)의 가압 상태에서는, 전지(1)의 주면(S1, S2)의 일부분이 구멍부(32, 42)를 통해서 대기에 개방된다. 이 예에서, 전지(1)의 주면(S1, S2)의 일부분이 밀봉부 이외의 전지(1)의 일부분이다. 구멍부(32, 42)의 형상은 특히 한정되지는 않지만, 구멍부(32, 42)의 형상의 예는, 원 형상, 타원 형상, 사각 형상과 육각 형상 등의 다각 형상을 포함할 수 있을 것이다. 여기서, 구멍부(32, 42)의 형상은 하부면 및 상부면에 수직한 방향에서 구멍부(32, 42)를 보았을 때의 형상을 의미한다.

챔버(23)는 서로 분리가능하게 구성된 챔버 하부(31)와 챔버 상부(41)를 포함한다. 이들 챔버 하부(31)와 챔버 상부(41)를 조합함으로써, 전지(1)를 수용하는 공간부(23a)가 형성된다. 구멍부(42, 32)는 각각 챔버 상부(41)와 챔버 하부(31)의 중앙에 배치된다. 구멍부(32, 42)의 배치는 이 예에 한정되지 않고, 구멍부(32, 42)는 챔버 하부(31)와 챔버 상부(41)를 조합시킨 상태로, 챔버(23)의 두께 방향에서 서로 겹칠 필요없이, 서로에 대해 오프셋되어 있을 수 있다.

구멍부(32, 42)의 공간부(23a) 측의 주연에는 각각 구멍부(32, 42)에 따른 형상의 패킹(33, 43)이 마련된다. 전지(1)를 공간부(23a)에 수용한 상태에서, 구멍부(32)의 공간부(23a) 측의 주연과 전지(1)의 주면(S2)의 사이에 패킹(33)이 마련되고, 구멍부(42)의 공간부(23a) 측의 주연과 전지(1)의 주면(S1)의 사이에 패킹(43)이 마련된다. 이 패킹(33, 43)에 의해 공간부(23a)가 폐쇄되어서, 공간부(23a)로부터 외부로의 압축 기체의 누설이 방지된다. 패킹(33, 43)의 재료는 압축 기체의 누설을 방지할 수 있는 것이면 되고, 특히 한정되지는 않는다. 패킹(33, 43)의 재료의 예는, 니트릴 고무, 불소 고무, 우레탄 고무, 실리콘 고무, 아크릴 고무, 에틸렌 프로필렌 고무, 스티렌 부타티엔 고무 등의 고무계 재료를 포함할 수 있을 것이다.

챔버 하부(31)는 전지(1)를 수용하는 수용부이며, 예를 들면, 원 형상을 가지는 본체부(31a)와, 본체부(31a)의 주연에 마련되는 주벽부(31b)를 포함한다. 본체부(31a)의 중앙부에는 한쪽의 주면으로부터 다른 쪽의 주면을 향해서 관통하는 구멍부(32)가 마련된다. 이 구멍부(32)를 통하여, 챔버(23) 내에 수용된 전지(1)의 주면(S2)의 일부분이 노출된다.

챔버 상부(41)는, 예를 들면, 챔버 하부(31) 위에 배치된 원 형상 등의 덮개부이다. 챔버 상부(41)의 중앙부에는, 한쪽의 주면으로부터 다른 쪽의 주면을 향해서 관통하는 구멍부(42)가 마련된다. 이 구멍부(42)를 통하여, 챔버(23) 내에 수용된 전지(1)의 주면(S1)의 일부분이 노출된다. 또한, 챔버 상부(41)의 중앙으로부터 변위된 위치에 공급구(45)가 마련된다. 이 공급구(45)를 통해서 가압기(21)로부터 챔버(23) 내로 압축 기체가 공급된다. 공급구(45)에는 접속부(46)가 마련된다. 이 접속부(46)를 통해서 연통 관(27)이 공급구(45)에 접속된다.

챔버 상부(41)가 패킹(43)을 유지하기 위한 패킹 유지부(44)를 포함할 수도 있다. 또한, 이 패킹 유지부(44)는 공간부(23a) 내의 소정 위치에 수용된 전지(1)의 주면(S1)에 대하여 접근 또는 이간하는 방향으로 이동가능하도록 구성될 수도 있을 것이다. 이러한 구성을 채용할 경우, 패킹 유지부(44)의 이동에 의해, 패킹(43)의 선단부와 전지의 주면(S1) 사이의 밀착성을 보다 향상시킬 수 있다. 패킹 유지부(44)는 패킹(43)을 유지가능하게 구성되기만 하면 되고, 그 형상은 특별히 한정되지 않는다. 여기에서는 챔버 상부(41) 만이 패킹 유지부(44)를 포함하는 구성을 예로서 설명하지만, 챔버 하부(31)도 패킹 유지부를 포함할 수 있을 것이다.

챔버(23) 내에는 전지(1)를 지지하기 위한 지지부(36, 37)가 마련된다. 지지부(36)는 전지(1)의 탑 측의 부분을 지지한다. 지지부(37)는 전지(1)의 보텀 측의 부분을 지지한다. 이렇게 전지(1)를 지지함으로써, 공간부(23a) 내에 압축 기체를 공급했을 때에, 이 압축 기체에 의해 전지(1)가 변위되는 것을 막을 수 있다. 또한, 전지(1)의 지지에 의해, 본체부(31a)의 내측면과 전지(1)의 주면(S1, S2)의 사이에 공간을 형성할 수 있다. 이렇게 공간을 형성함으로써, 전지(1)의 주면(S1, S2)에도 압축 기체가 흐를 수 있으므로, 전지(1)의 주면(S1, S2)의 핀 홀도 검사할 수 있다.

지지부(36)는 지지 부재(36a, 36b)와 위치 조정부(36c)를 포함한다. 지지 부재(36a)는 챔버 하부(31)의 본체부(31a)의 내측면에 마련된다. 이 지지 부재(36a) 위로 전지(1)의 주면(S2) 중 탑 측의 부분이 배치된다. 지지 부재(36b)는 위치 조정부(36c)에 접속된다. 이 위치 조정부(36c)에 의해 지지 부재(36b)의 위치가 조정된다. 전지(1)의 주면(S2) 중 탑 측의 부분을 지지 부재(36a) 위에 배치하고, 위치 조정부(36c)에 의해 지지 부재(36b)의 위치를 조정한다. 따라서, 전지(1)의 탑 측의 부분이 지지 부재(36a, 36b)에 의해 개재되어 지지된다.

지지부(37)는 지지 부재(37a, 37b)와 위치 조정부(37c)를 포함한다. 지지 부재(37a)는 챔버 하부(31)의 본체부(31a)의 내측면에 마련된다. 이 지지 부재(37a) 위로 전지(1)의 주면(S2) 중 보텀 측의 부분이 배치된다. 지지 부재(37b)는 위치 조정부(37c)에 접속되고, 이 위치 조정부(37c)에 의해 지지 부재(37b)의 위치가 조정된다. 전지(1)의 주면(S2) 중 보텀 측의 부분을 지지 부재(37a) 위에 배치하고, 위치 조정부(37c)에 의해 지지 부재(37b)의 위치를 조정한다. 이와 같이, 전지(1)의 보텀 측의 부분이 지지 부재(37a, 37b)에 의해 개재되어 지지된다.

지지 부재(36a, 37a)는 챔버 하부(31)의 본체부(31a)의 내측면에 고정되어도 되고, 지지 부재(37a, 37a)가 챔버 하부(31)의 일부이어도 된다.

[1.4 검사 방법]

다음으로, 도 5를 참조하여, 상술한 구성을 가지는 검사 장치를 이용한 전지의 검사 방법에 대해서 설명한다. 우선, S11에서, 검사 대상인 전지(1)를 챔버 하부(31)에 반입한다. 지지 부재(36a, 36b)에 의해 전지(1)의 탑 측의 부분을 개재하여 지지하고, 지지 부재(37a, 37b)에 의해 전지(1)의 보텀 측의 부분을 개재하여 지지한다. 다음으로, 단계 S12에서, 챔버 상부(41)를 하강시켜서, 챔버 하부(31)의 주벽부(31b) 위에 챔버 상부(41)의 주연부를 배치한다. 챔버 하부(31)의 주벽부(31b)의 상단과, 챔버 상부(41)의 주연부를 서로 밀착시킨다. 이에 의해, 챔버(23) 내에 공간부(23a)가 형성되고, 이 공간부(23a)에 전지(1)의 밀봉부가 적어도 수용되는 반면, 전지(1)의 주면(S1, S2)의 일부분이 구멍부(42, 32) 각각을 통해 노출된다.

다음으로, 단계 S13에서, 챔버(23)를 폐쇄한다. 다음으로, 단계 S14에서, 챔버(23)의 공간부(23a)에 압축 공기 등의 압축 기체를 공급하고, 공간부(23a)를 압축 상태로 한다. 이때, 공간부(23a)의 압축 분위기는, 예를 들면, 0.3MPa 내지 0.5MPa 정도로 설정된다.

이와 같이 공간부(23a)를 압축 상태로 하기 때문에, 전지(1) 중 공간부(23a) 내에 위치하는 부분은 압축 기체에 의해 압축되는 반면에, 구멍부(32, 42)를 통해 노출된 부분은 대기에 개방된다. 따라서, 공간부(23a) 내에 위치하는 외장 재료(12)의 부분에 밀봉 불량, 핀 홀 등이 있을 경우에는, 그 부분을 통해 압축 기체가 전지에 들어가고, 구멍부(32, 42)를 통해 대기에 개방된 부분의 외장 재료(12)가 부풀어 올라 팽창 변형(12a)을 발생시킨다(도 6a, 도 6b 참조). 이 팽창 변형(12a)은 소성 변형이기 때문에, 챔버(23)를 대기에 개방 후에도 유지된다. 한편, 공간부(23a) 내에 위치하는 외장 재료(12)의 부분에 밀봉 불량이나 핀 홀 등이 없을 경우에는, 그 부분을 통해 압축 기체가 전지에 들어가지 않기 때문에, 구멍부(32, 42)를 통해 대기에 개방된 부분의 외장 재료(12)에 가압 전후에 변화가 생기지 않는다(도 7a, 도 7b 참조).

다음으로, 단계 S15에서, 챔버(23)를 대기에 개방한다. 다음으로, 단계 S16에서, 챔버(23)의 폐쇄를 해제한다. 다음으로, 단계 S17에서, 챔버 상부(41)를 상승시킨 후, 지지 부재(36a, 36b)에 의한 전지(1)의 탑 측의 부분의 지지를 해제하고, 지지 부재(37a, 37b)에 의한 전지(1)의 보텀 측의 부분의 지지를 해제한다. 다음으로, 단계 S18에서, 전지(1)를 챔버 하부(31)에서 반출한다. 다음으로, 단계 S19에서, 전지(1)의 주면(S1, S2)을 시각적으로 관찰한다. 시각적인 관찰에서 주면(S1, S2) 내에 팽창 변형(12a)이 관찰된 경우에는(도 6a, 도 6b 참조), 전지(1)에 밀봉 불량, 핀 홀 등이 있다고 판단할 수 있다. 한편, 시각적인 관찰에서 주면(S1, S2)에 팽창 변형(12a)이 관찰되지 않은 경우에는(도 7a, 도 7b 참조), 전지(1)에 밀봉 불량, 핀 홀 등이 없다고 판단할 수 있다. 상술한 방식으로, 전지(1)의 검사가 완료된다.

S11 내지 S18의 동작을 제어 장치(24)의 자동 제어 하에 행하여도 된다. 그 경우, 전지(1)의 반송 및 반출의 조작은 반송 아암 및 반출 아암 등을 이용해서 행하기만 하면 된다.

[1.5 효과]

제1 실시 형태에 따른 검사 장치에서, 챔버(23)는 전지(1) 전체 중 적어도 밀봉 부분을 수용하는 공간부(23a)와, 밀봉 부분 이외의 전지(1)의 일부분(전지(1)의 주면(S1, S2)의 일부분)을 노출시키는 구멍부(32, 42)를 포함한다. 따라서, 챔버(23)의 공간부(23a)에 압축 기체를 공급하면, 공간부(23a)에 수용된 밀봉 부분 등은 가압되는 반면에, 밀봉 부분 이외의 전지(1)의 일부분은 구멍부(32, 42)를 통해서 대기에 개방된 상태로 유지된다. 이에 의해, 외장 재료(12)에 밀봉 불량이나 핀 홀이 있어, 그 부분을 통해 전지에 압축 기체가 들어가는 경우에는, 구멍부(32, 42)의 위치에서는 외장 재료(12)의 내측의 기압이 외측의 대기압보다 높다. 따라서, 구멍부(32, 42)의 위치에서는 외장 재료(12) 내에 팽창 변형(12a)이 발생한다. 이 팽창 변형(12a)을 작업자 등이 시각적으로 확인함으로써, 검사 대상인 전지(1)의 외장 재료(12)에 밀봉 불량이나 핀 홀이 발생된 것을 판별할 수 있다.

진공 상태를 이용해서 전지(1)의 밀봉 상태를 검사하는 방법 (이하 "진공 방식의 검사 방법"이라고 한다.)에서는, 외장 재료(12)에 밀봉 불량이나 핀 홀이 없고, 전지(1)가 양품일 경우에는, 전지(1)의 외장 재료(12)는 부풀어 오른다. 이렇게 외장 재료(12)가 부풀어 오른 전지(1)는 양품이기 때문에, 대기에 개방된 후에는 외장 재료(12)가 원래의 상태로 되돌아올 필요가 있다. 따라서, 상술한 외장 재료(12)의 팽창 변형은 탄성 변형일 필요가 있다. 한편, 외장 재료(12)에 밀봉 불량이나 핀 홀이 있을 경우에는, 전지(1)의 외장 재료(12)에는 거의 변화가 없다. 진공 방식의 검사 방법으로는, 상태의 차이 등을 시각적으로 관찰함으로써, 전지(1)의 밀봉 상태를 확인할 수 있다. 그러나, 이 진공 방식의 검사 방법으로는, 외장 재료(12)의 팽창 변형이 탄성 변형이기 때문에, 진공 상태를 유지한 상태에서만 전지(1)의 밀봉 불량이나 핀 홀의 유무를 확인할 수 있다. 이와 대조적으로, 제1 실시 형태에 따른 검사에서는, 외장 재료(12)의 팽창 변형(12a)이 소성 변형이기 때문에, 대기에 개방된 후에도 팽창 변형(12a)이 유지된다. 따라서, 팽창 변형(12a)의 확인을 가압 상태에서 반드시 행할 필요는 없고, 대기에 개방된 후에 행할 수도 있을 것이다. 따라서, 제1 실시 형태에 따른 검사 방법으로는, 진공 방식의 검사 방법과 비교해서 전지(1)의 밀봉 불량이나 핀 홀의 유무를 용이하게 확인할 수 있다.

[1.6 변형예]

상술한 제1 실시 형태에서는, 챔버(23)가 원반 형상을 가졌지만, 챔버(23)의 형상은 이 예에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 도 8a에 도시한 바와 같이, 챔버(23)가 입방체 형상을 가져도 된다. 또한, 챔버(23)가 공간부(23a)에서 전지(1)의 위치 결정을 하기 위한 위치 결정부(38)를 더 포함해도 된다.

또한, 상술한 제1 실시 형태에서는 챔버(23)가 1개의 전지(1)를 수용하지만, 도 8b에 도시한 바와 같이 챔버(23)가 복수의 전지(1)를 수용하여도 된다. 이 경우, 수용가능한 전지(1)의 수에 대응하는 구멍부(32, 42)의 쌍이 마련되어져, 전지(1)의 주면(S1, S2)의 일부분이 구멍부(32, 42)를 통해 챔버(23)로부터 노출된다.

또한, 상술한 제1 실시 형태에서는 검사 장치가 1개의 챔버(23)를 포함하지만, 검사 장치가 복수의 챔버(23)를 포함하여도 된다. 이 경우, 챔버(23)는 전술한 바와 같이 복수의 전지(1)를 수용하도록 구성될 수도 있다.

또한, 상술한 제1 실시 형태에서는 챔버 하부(31) 및 챔버 상부(41)가 각각 구멍부(32, 42)를 포함하지만, 챔버(23)의 구성은 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 챔버 하부(31) 및 챔버 상부(41) 중 적어도 한쪽에 구멍부를 마련하여도 된다.

또한, 상술한 제1 실시 형태에서는 전지(1)를 가압 상태에 한 번만 유지하지만, 구멍부(32, 42)를 통해 전지(1)의 상부면이 노출되는 위치를 바꿈으로써, 전지(1)를 가압 상태에 2회 유지하도록 하여도 된다. 구체적으로는, 구멍부(32, 42)를 통해서 전지(1)의 상부면이 노출하는 위치를 바꿈으로써, 도 5에 나타낸 단계 S11 내지 S18의 조작을 2회 되풀이하여도 된다. 이에 의해, 1회째의 가압 상태에서 구멍부(32, 42)를 통해서 노출하는 위치에 핀 홀 등이 존재하고, 전지 표면에 팽창 변형(12a)이 발생하지 않고, 핀 홀 등의 존재를 확인할 수 없을 경우에도, 2회째의 가압 상태에서 전지 표면에 팽창 변형(12a)이 발생하기 때문에, 핀 홀 등의 존재를 확인할 수 있다. 따라서, 핀 홀 등의 검출 정밀도를 향상시킬 수 있다.

또한, 상술한 제1 실시 형태에서, 검사 장치가 진공 펌프 등의 배기부를 더 포함하여도 된다. 이 배기부는 챔버(23)를 진공 상태로 한 후에, 가압 상태로 하도록 하여도 된다. 이와 같이 함으로써, 전지(1)의 밀봉부에 불충분한 밀봉 개소가 있을 경우, 진공 상태에 의해 불충분한 밀봉 개소를 개방할 수 있다. 따라서, 가압 상태에서, 개방된 밀봉 개소를 통해 전지 내에 압축 기체가 흐를 수 있다. 따라서, 불충분한 밀봉 개소를 확인할 수도 있다.

<2. 제2 실시 형태>

[2.1 검사 장치의 구성]

도 9에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 검사 장치가 변위 센서(측정 유닛)(51)를 더 포함하는 점에서, 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 검사 장치는 제1 실시 형태에 따른 검사 장치와는 상이하다. 변위 센서(51)는, 도 10a에 도시한 바와 같이, 챔버(23)의 구멍부(42)의 근방에 마련된다. 이 구멍부(42)를 통하여, 변위 센서(51)는 챔버(23)의 가압 시에서 전지(1)의 상부면의 변위량을 측정한다. 변위 센서(51)로서는, 예를 들면, 접촉식 및 비접촉식 중 한쪽의 변위 센서를 이용해도 된다. 도 9 및 도 10에는, 레이저 포커스 센서 등의 광학 센서를 이용한 예가 나타나 있다. 변위 센서(51)는 제어 장치(24)로부터의 제어 신호에 근거해서 제어된다. 또한, 변위 센서(51)는 챔버(23)의 가압 시에 측정한 변위량을 제어 장치(24)에 공급한다. 제어 장치(24)는 변위 센서(51)로부터 공급된 변위량에 기초하여, 검사 대상인 전지(1)에 밀봉 불량이 있는지 여부를 판별하고, 그 결과를 시각 정보로서 표시 장치(25)에 표시한다.

검사 장치가 램프(28)를 더 포함하고, 이 램프(28)의 점등 등에 의해 작업자에게 검사 결과를 시각 정보로서 통지하여도 된다. 램프(28)의 예는, 전구, LED(발광 다이오드) 등의 발광 소자를 포함한다. 또한, 검사 장치가 스피커 등의 음성 출력부(29)를 포함하고, 이 음성 출력부(29)에 의해 작업자에게 검사 결과를 경고음 등의 청각 정보로서 통지하여도 된다.

[2.2 검사 방법]

다음으로, 도 11을 참조하여 상술한 구성을 가지는 검사 장치를 이용한 전지의 검사 방법에 대해서 설명한다. 이 검사 방법은, 도 5에 나타낸 단계 S14와 S15의 사이에서, 제2 실시 형태에 따른 검사 장치가 이하의 동작을 더 행하는 점에서 제1 실시 형태에 따른 검사 방법과는 상이하다.

우선, 단계 S21에서, 변위 센서(51)는 전지(1)의 주면(S1) 중 구멍부(32)를 통해 노출된 부분의 변위량을 측정하고, 측정한 변위량을 제어 장치(24)에 공급한다. 다음으로, 단계 S22에서, 제어 장치(24)는 변위 센서(51)로부터 공급된 변위량에 기초하여, 변위량이 규정치를 초과하였는지의 여부를 판별한다. 변위량의 규정치는, 외장 재료(12)의 재료 등을 고려해서 선택되는 것이 바람직하다. 예를 들면, 규정치는 수십 마이크론 정도로 설정된다.

단계 S22에서 변위량이 규정치를 넘는다고 판정한 경우에는, 단계 S23에서, 제어 장치(24)는 검사 대상인 전지(1)가 불량품인 것을 나타내는 정보를 표시 장치(25)에 표시하고, 작업자에게 경고한다. 그 후, 표시 장치(25)는 도 5에 나타낸 단계 S15의 조작을 행한다. 한편, 단계 S22에서 변위량이 규정치를 넘지 않는다고 판정한 경우에는, 단계 S24에서, 제어 장치(24)는 검사 대상인 전지(1)가 양품인 것을 나타내는 정보를 표시 장치(25)에 표시한다. 그 후, 도 5에 나타낸 단계 S15의 조작을 행한다.

[2.3 효과]

제2 실시 형태에 따른 검사 장치에서는, 제어 장치(24)가 변위 센서(51)로부터 공급되는 변위량에 기초하여, 검사 대상인 전지(1)가 양품인지의 여부를 판단한다. 따라서, 시각적인 관찰에 비하여, 전지(1)가 양품인지의 여부에 관한 판단이 보다 정확하게 행해질 수 있다.

또한, 검사 분위기를 가압 분위기로 변경하는 데에 필요한 시간은, 검사 분위기를 진공 분위기로 변경하는 데에 필요한 시간보다 짧을 수 있다. 따라서, 진공 방식의 검사 방법과 비교해서 검사 시간을 단축할 수 있다.

[2.4 변형예]

상술한 제2 실시 형태에서는, 검사 장치가 구멍부(42)를 통해서 전지(1)의 주면(S1)의 변위량을 측정하는 변위 센서(51)를 포함하였지만, 검사 장치의 구성은 이에 한정되지 않는다. 예를 들면, 도 10b에 도시한 바와 같이, 검사 장치가 구멍부(32)를 통해서 전지(1)의 주면(S2)의 변위량을 측정하는 변위 센서(52)를 더 포함하여도 된다. 또한, 검사 장치가 변위 센서(51, 52) 중 변위 센서(52)만을 포함하여도 된다.

검사 장치가 2개의 변위 센서(51, 52)를 포함할 경우에는, 제어 장치(24)에는 변위 센서(51)에 의해 제1 변위량이 공급되고, 변위 센서(52)에 의해 제2 변위량이 공급된다. 제어 장치(24)는 이들 제1 변위량 및 제2 변위량 중의 적어도 한쪽이 규정값을 초과할 경우, 전지(1)가 불량품이라고 판별한다. 이렇게 검사 장치가 2개의 변위 센서(51, 52)를 포함하는 경우에는, 전지(1)의 불량 검출 정밀도를 더욱 향상시킬 수 있다.

또한, 상술한 제2 실시 형태에서는 챔버(23)의 가압 상태에서 변위 센서(51)가 전지 표면의 변위량을 측정하였지만, 변위 센서(51)는 챔버(23)의 개방 후에 전지 표면의 변위량을 측정할 수도 있다.

<3 제3 실시 형태>

[3.1 챔버의 구성]

도 12a에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제3 실시 형태에 따른 챔버(23)가 구멍부(42) 대신 패드부(61)를 포함하는 점에서, 본 발명의 제3 실시 형태는 제1 실시 형태와는 상이하다. 패드부(61)는 공간부(23a) 안에서 전지(1)의 주면(S1)의 일부분을 공간적으로 격리시키는 격리 공간 형성부의 일례이다. 패드부(61)는 챔버(23) 밖의 대기와 연통한다.

패드부(61)는 패드 본체(61a)와, 연통부(61b)를 포함한다. 패드 본체(61a)는 그 내부에 중공 형상의 공간을 가진다. 이 공간의 형상의 예는, 반원구 형상, 원주 형상, 원추대 형상을 포함한다. 이러한 형상의 저면이 챔버 하부(31)의 본체부(31a)에 대향하도록 패드 본체(61a)가 배치된다. 중공 형상의 공간의 형상은 이들의 형상으로 특별히 한정되는 것은 아니다. 패드 본체(61a)의 재료로서는, 전지(1)의 주면(S1)과의 밀착성의 관점에서, 니트릴 고무, 불소 고무, 우레탄 고무, 실리콘 고무, 아크릴 고무, 에틸렌프로필렌 고무, 스티렌부타디엔 고무 등의 고무계 재료를 이용하는 것이 바람직하다.

패드부(61)의 중공 형상의 공간 중 챔버 하부(31)의 본체부(31a)에 대향하는 측은 개방되고, 그것과는 반대의 측은 연통부(61b)의 일 단부에 접속된다. 연통부(61b)의 타 단부는 챔버(23)로부터 도출된다. 연통부(61b)를 통하여, 패드 본체(61a)의 중공 형상의 공간과 챔버(23)의 외부의 대기가 서로 연통한다. 패드 본체(61a)의 개방된 측을 전지(1)의 주면(S1)의 일부분(예를 들면, 중앙 부분)에 가압하여 밀착시킨다. 이러한 방식으로, 공간부(23a) 안에서 전지(1)의 주면(S1)의 일부분을 격리하는 격리 공간이 형성된다. 연통부(61b)는 패드 본체(61a)가 전지(1)의 주면(S1)에 대하여 접근 또는 이간하는 방향으로 이동가능하도록 챔버 상부(41)의 중앙에 유지된다.

[3.2 검사 방법]

상술한 구성을 가지는 챔버(23)를 이용한 전지의 검사 방법은 챔버(23)의 폐쇄(도 5에서 단계 S13) 후에, 챔버(23)의 가압(도 5에서 단계 S14) 전에, 이하에 기재하는 단계를 더 포함한다. 구체적으로, 전지의 검사 방법은 아래의 단계를 더 포함한다. 이 단계에서, 패드 본체(61a)의 개방 측을 전지(1)의 주면(S1)의 일부분(예를 들면, 중앙 부분)에 가압해서 밀착시키는 방식으로, 공간부(23a) 안에서 전지(1)의 주면(S1)의 일부분을 격리하는 격리 공간을 형성한다. 이 단계 후에, 압축 공기 등의 압축 기체를 챔버(23)에 공급한다. 공간부(23a) 중 격리 공간 이외의 부분은 가압 분위기가 된다. 반면에, 격리 공간은 대기 개방 상태로 유지된다.

[3.3 효과]

제3 실시 형태에서는, 챔버(23)의 가압 상태에서, 전지(1)의 주면(S1)의 일부분을 패드부(61)에 의해 대기에 개방할 수 있다. 따라서, 제1 실시 형태와 동일한 효과를 얻을 수 있다.

[3.4 변형예]

상술한 제3 실시 형태에서는 검사 장치가 구멍부(42) 대신에 패드부(61)를 포함하였지만, 검사 장치의 구성은 이에 한정되지 않는다. 예를 들면, 도 12b에 도시한 바와 같이, 검사 장치가 구멍부(32) 대신에 패드부(62)를 더 포함해도 된다.

이상, 본 발명의 제1 내지 제3 실시 형태에 대해서 구체적으로 설명했지만, 본 발명은 상술한 제1 내지 제3 실시 형태에 한정되지 않고, 본 발명의 기술적 사상에 근거하는 각종의 변형이 가능하다.

예를 들면, 상술한 제1 내지 제3 실시 형태에서 예시한 구성, 방법, 공정, 형상, 재료 및 수치 등은 어디까지나 예에 지나치지 않고, 필요에 따라서 상이한 구성, 방법, 공정, 형상, 재료 및 수치 등을 이용해도 된다.

또한, 상술한 제1 내지 제3 실시 형태의 구성, 방법, 공정, 형상, 재료 및 수치 등은 본 발명의 요지를 일탈하지 않는 한, 서로 조합될 수도 있을 것이다.

또한, 상술한 제1 내지 제3 실시 형태에서는 검사 장치가 전지를 검사하지만, 검사 대상물은, 라미네이트 필름 등의 외장 재료에 의해 밀봉된 밀봉 구조를 가지기만 하면 되고, 전지에 한정되지 않는다. 전지 이외의 검사 대상물은, 의료용품, 전자 부품 등을 밀봉한 밀봉품, 의약품, 과자류, 레토르트 식품을 밀봉한 밀봉품을 포함한다.

또한, 본 발명은 이하의 구성을 취할 수도 있다.

(1) 전지의 밀봉부를 적어도 수용하도록 구성된 공간부, 및 상기 밀봉부 이외의 전지의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함하는 챔버와,

상기 공간부를 가압 상태로 하도록 구성된 가압부를 포함하는 검사 장치.

(2) (1)에 있어서, 상기 개방부는 구멍부인 검사 장치.

(3) (1)에 있어서, 상기 개방부는 상기 공간부 내에서 상기 전지의 일부분을 공간적으로 격리하도록 구성된 격리 공간 형성부이며,

상기 격리 공간 형성부는 대기와 연통하는 검사 장치.

(4) (1) 내지 (3) 중 어느 하나에 있어서, 상기 전지의 일부분의 변위량을 측정하도록 구성된 측정 유닛을 더 포함하는 검사 장치.

(5) (4)에 있어서, 상기 측정 유닛에 의해 측정된 변위량이 규정치를 초과하는 경우, 밀봉 불량이 발생된 것을 출력 유닛을 통해서 나타내도록 구성된 제어 유닛을 더 포함하는 검사 장치.

(6) (1) 내지 (5) 중 어느 하나에 있어서, 상기 전지는, 전지 소자 및 상기 전지 소자를 피복하는 라미네이트 필름을 포함하는 검사 장치.

(7) 전지의 밀봉부를 적어도 챔버의 공간부에 수용시키는 단계와,

상기 공간부를 가압 상태로 하고, 상기 밀봉부 이외의 전지의 일부분을 대기에 개방하는 단계를 포함하는 검사 방법.

(8) 전지의 밀봉부를 적어도 수용하도록 구성된 공간부, 및 상기 밀봉부 이외의 전지의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함하는 전지 검사용 챔버.

(9) 검사 대상의 밀봉부를 적어도 수용하도록 구성된 공간부, 및 상기 밀봉부 이외의 검사 대상의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함하는 챔버와,

상기 공간부를 가압 상태로 하도록 구성된 가압부를 포함하는 검사 장치.

본 기술 분야의 당업자는 첨부된 특허청구범위 또는 그 등가물의 범위 내에 속하는 한, 설계 요건 및 기타 요인에 따라 다양한 변경, 조합, 하위 조합 및 변형이 가능함을 이해하여야 한다.

Claims (25)

1. 필름 외장 전지의 검사 장치로서,
   필름 외장 전지를 수용하도록 구성된 공간부, 및 밀봉부 이외의 상기 필름 외장 전지의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 구멍부를 포함하는 챔버와,
   상기 공간부를 가압 상태로 하도록 구성된 가압부를 포함하고,
   상기 필름 외장 전지의 일부분은 상기 필름 외장 전지의 주면의 일부분인, 검사 장치.
2. 필름 외장 전지의 검사 장치로서,
   필름 외장 전지를 수용하도록 구성된 공간부, 및 밀봉부 이외의 상기 필름 외장 전지의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함하는 챔버와,
   상기 공간부를 가압 상태로 하도록 구성된 가압부를 포함하고,
   상기 개방부는 상기 공간부 내에서 상기 필름 외장 전지의 일부분을 공간적으로 격리하도록 구성된 격리 공간 형성부이며,
   상기 격리 공간 형성부는 대기와 연통하는, 검사 장치.
3. 필름 외장 전지의 검사 장치로서,
   필름 외장 전지의 밀봉부를 적어도 수용하도록 구성된 공간부, 및 상기 밀봉부 이외의 상기 필름 외장 전지의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함하는 챔버와,
   상기 공간부를 가압 상태로 하도록 구성된 가압부와,
   상기 필름 외장 전지의 일부분의 변위량을 측정하도록 구성된 측정부를 포함하는, 검사 장치.
4. 제3항에 있어서, 상기 개방부는 구멍부인, 검사 장치.
5. 제2항에 있어서, 상기 격리 공간 형성부는 패드부인, 검사 장치.
6. 제5항에 있어서, 상기 패드부는 그 내부에 공간을 갖는 패드 본체와 연통부를 갖는, 검사장치.
7. 제6항에 있어서, 상기 연통부는 일 단부가 상기 패드 본체에 접속되고, 타 단부는 챔버로부터 외부로 도출되는, 검사장치.
8. 제6항 또는 제7항에 있어서,
   상기 패드 본체는 상기 필름 외장 전지의 주면의 일부분에 밀착시킬 수 있고, 상기 챔버의 공간부 안에서 상기 필름 외장 전지의 주면의 일부분을 격리하는 격리 공간이 형성되는, 검사장치.
9. 제6항 또는 제7항에 있어서,
   상기 연통부는 상기 패드 본체가 상기 필름 외장 전지의 주면에 대하여 접근 또는 이간하는 방향으로 이동 가능하도록 상기 챔버에 유지되는, 검사장치.
10. 제8항에 있어서,
    상기 필름 외장 전지의 주면의 일부분은, 상기 필름 외장 전지의 주면의 중앙 부분인, 검사장치.
11. 제6항 또는 제7항에 있어서,
    상기 패드 본체의 공간은 반원구 형상, 원주 형상 또는 원추대 형상인, 검사장치.
12. 제6항 또는 제7항에 있어서,
    상기 패드 본체의 재료는 니트릴 고무, 불소 고무, 우레탄 고무, 실리콘 고무, 아크릴 고무, 에틸렌프로필렌 고무 또는 스티렌부타디엔 고무인, 검사장치.
13. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 필름 외장 전지의 일부분의 변위량을 측정하도록 구성된 측정부를 더 포함하는, 검사 장치.
14. 제3항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 측정부에 의해 측정된 변위량이 규정치를 초과하는 경우, 밀봉 불량이 발생된 것을 출력부를 통해서 나타내도록 구성된 제어부를 더 포함하는, 검사 장치.
15. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 필름 외장 전지는, 전지 소자 및 상기 전지 소자를 피복하는 라미네이트 필름을 포함하는, 검사 장치.
16. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 필름 외장 전지는 편평 형상을 갖는, 검사 장치.
17. 검사 방법으로서,
    필름 외장 전지를 챔버의 공간부에 수용시키는 단계와,
    상기 공간부를 가압 상태로 하고, 밀봉부 이외의 상기 필름 외장 전지의 일부분을 상기 챔버에 마련되어 있는 구멍부를 통하여 대기에 개방하는 단계를 포함하고,
    상기 필름 외장 전지의 일부분은 상기 필름 외장 전지의 주면의 일부분인, 검사 방법.
18. 검사 방법으로서,
    필름 외장 전지를 챔버의 공간부에 수용시키는 단계와,
    상기 공간부를 가압 상태로 하고, 밀봉부 이외의 상기 필름 외장 전지의 일부분을 대기에 개방하는 단계를 포함하고,
    상기 대기에 개방하는 것은 상기 챔버의 공간부 안에서 상기 필름 외장 전지의 일부분을 공간적으로 격리하는 격리 공간 형성부를 통해 이루어지는, 검사 방법.
19. 검사 방법으로서,
    필름 외장 전지의 밀봉부를 적어도 챔버의 공간부에 수용시키는 단계와,
    상기 공간부를 가압 상태로 하고, 상기 밀봉부 이외의 상기 필름 외장 전지의 일부분을 대기에 개방하는 단계와,
    상기 필름 외장 전지의 일부분의 변위량을 측정하는 단계를 포함하는, 검사 방법.
20. 제18항에 있어서, 상기 격리 공간 형성부는 패드부인, 검사방법.
21. 필름 외장 전지 검사용 챔버로서,
    필름 외장 전지를 수용하도록 구성된 공간부, 및 밀봉부 이외의 상기 필름 외장 전지의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 구멍부를 포함하고
    상기 필름 외장 전지의 일부분은 상기 필름 외장 전지의 주면의 일부분인, 전지 검사용 챔버.
22. 필름 외장 전지 검사용 챔버로서,
    필름 외장 전지를 수용하도록 구성된 공간부, 및 밀봉부 이외의 상기 필름 외장 전지의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함하고,
    상기 개방부는 상기 공간부 내에서 상기 필름 외장 전지의 일부분을 공간적으로 격리하도록 구성된 격리 공간 형성부이며,
    상기 격리 공간 형성부는 대기와 연통하는, 전지 검사용 챔버.
23. 검사 장치로서,
    필름에 의해 밀봉된 검사 대상을 수용하도록 구성된 공간부, 및 밀봉부 이외의 상기 검사 대상의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 구멍부를 포함하는 챔버와,
    상기 공간부를 가압 상태로 하도록 구성된 가압부를 포함하고,
    상기 검사 대상의 일부분은 상기 검사 대상의 주면의 일부분인, 검사 장치.
24. 검사 장치로서,
    필름에 의해 밀봉된 검사 대상을 수용하도록 구성된 공간부, 및 밀봉부 이외의 상기 검사 대상의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함하는 챔버와,
    상기 공간부를 가압 상태로 하도록 구성된 가압부를 포함하고,
    상기 개방부는 상기 공간부 내에서 필름 외장 전지의 일부분을 공간적으로 격리하도록 구성된 격리 공간 형성부이며,
    상기 격리 공간 형성부는 대기와 연통하는, 검사 장치.
25. 검사 장치로서,
    필름에 의해 밀봉된 검사 대상의 밀봉부를 적어도 수용하도록 구성된 공간부, 및 상기 밀봉부 이외의 상기 검사 대상의 일부분을 대기에 개방하도록 구성된 개방부를 포함하는 챔버와,
    상기 공간부를 가압 상태로 하도록 구성된 가압부와,
    상기 검사 대상의 일부분의 변위량을 측정하는 측정부를 포함하는, 검사 장치.

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