KR102068161B1 - Optical sensor package and method for manufacturig the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 광학 센서 패키지에 관한 것으로서, 상기 광학 센서 패키지는 제1 기판 부분, 제2 기판 부분 및 제3 기판 부분을 구비한 기판, 상기 제1 기판 부분 위에 위치하는 광을 출력하는 발광부, 상기 제2 기판 부분 위에 상기 발광부와 이격되게 위치하고 외부로부터 입사되는 광을 수공하는 수광부, 상기 발광부와 상기 수광부 사이의 상기 제3 기판 부분 위에 위치하는 격벽, 노출된 제1 기판 부분의 상부면과 상기 발광부 위에 위치하여 상기 발광부를 밀봉하고 있는 제1 몰딩부, 및 노출된 제2 기판 부분 상부면과 상기 발광부 위에 위치하여 상기 발광부를 밀봉하고 있는 제2 몰딩부를 포함하고, 상기 제1 및 제2 기판 부분의 높이는 서로 동일하고, 상기 제3 기판 부분의 높이는 상기 제1 및 제2 기판 부분의 높이보다 낮다.The present invention relates to an optical sensor package, wherein the optical sensor package includes a substrate having a first substrate portion, a second substrate portion, and a third substrate portion, a light emitting portion for outputting light positioned on the first substrate portion; A light receiving part spaced apart from the light emitting part on a second substrate part to receive light incident from the outside, a partition wall disposed on the third substrate part between the light emitting part and the light receiving part, and an upper surface of the exposed first substrate part; A first molding part positioned on the light emitting part to seal the light emitting part, and an exposed upper surface of the second substrate portion and a second molding part positioned on the light emitting part to seal the light emitting part, The heights of the second substrate portions are equal to each other, and the heights of the third substrate portions are lower than the heights of the first and second substrate portions.

Description

광학 센서 패키지 및 그 제조 방법{OPTICAL SENSOR PACKAGE AND METHOD FOR MANUFACTURIG THE SAME}Optical sensor package and its manufacturing method {OPTICAL SENSOR PACKAGE AND METHOD FOR MANUFACTURIG THE SAME}

본 발명은 광학 센서 패키지 및 그 제조 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 근조도 센서 패키지에 관한 것이다.The present invention relates to an optical sensor package and a method of manufacturing the same, and more particularly, to a roughness sensor package.

최근 스마트폰(smart phone) 및 태블릿 컴퓨터(tablet computer) 등의 전자 장치는 통화 기능과 문자 메시지 송수신 기능뿐만 아니라, 카메라 기능, GPS(global positioning system)와 같은 위성 항법 시스템을 이용한 위치탐색 기능 및 헬스 케어(health care) 기능 등과 같은 복합적인 기능을 수행할 수 있는 전자 장치로 발전되었다. Recently, electronic devices such as smart phones and tablet computers have not only call functions and text message transmission / reception functions, but also camera functions and location navigation functions using satellite navigation systems such as global positioning systems (GPS). It has been developed into an electronic device capable of performing complex functions such as a health care function.

이러한 복합적인 기능을 구현하기 위해, 다양한 주변 환경의 변화를 감지하기 위해, 광학 센서(optical sensor)와 같은 여러 종류의 센서가 요구된다.In order to implement such a complex function, various types of sensors such as optical sensors are required to detect changes in various surrounding environments.

광학 센서는 주변의 가시광선, 자외선 등과 같은 특정된 파장 대역의 광량을 측정하는 조도 감지부와 발광부에서 발광된 광에 대한 발사광을 수광부에서 수광하여 물체의 움직임이나 근접 여부를 측정하는 근접 감지부 등을 포함할 수 있다.The optical sensor detects the illumination or the proximity of the object by receiving an illuminance detector for measuring the amount of light in a specific wavelength band, such as visible light and ultraviolet light, and emission light for the light emitted from the emitter. And the like.

대한민국 공개특허공보 10-2010-0069531(공개일자: 2010년 06월 24일)에는 근접 센서가 포함된 휴대 단말기가 개시되어 있다.Korean Unexamined Patent Publication No. 10-2010-0069531 (published date: June 24, 2010) discloses a portable terminal including a proximity sensor.

광학 센서는 그 특성 상 외부의 광이 수광되거나 외부로 광이 조사되도록 해당 전자 장치의 외부에 장착되어야 하는데, 이러한 이유로 외부 충격이나 물과 같은 이물질 등에 취약할 수 있다. Due to its characteristics, the optical sensor should be mounted on the outside of the electronic device so that external light is received or the light is irradiated to the outside. For this reason, the optical sensor may be vulnerable to an external impact or a foreign material such as water.

또한, 광학 센서는 이용되는 파장 대역의 광 투과량을 고려해야 하므로, 내구성이 높으면서 단가가 저렴한 재질의 선택에 제한이 있었다.In addition, the optical sensor has to consider the amount of light transmission in the wavelength band used, there was a limit to the selection of a material with high durability and low cost.

본 발명이 해결하려는 과제는 광학 센서의 제조 공정을 간소화하기 위한 것이다.The problem to be solved by the present invention is to simplify the manufacturing process of the optical sensor.

본 발명이 해결하려는 다른 과제는 광학 센서의 수율을 향상시키기 위한 것이다.Another object of the present invention is to improve the yield of the optical sensor.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 한 특징에 따른 광학 센서 패키지는 제1 기판 부분, 제2 기판 부분 및 제3 기판 부분을 구비한 기판, 상기 제1 기판 부분 위에 위치하는 광을 출력하는 발광부, 상기 제2 기판 부분 위에 상기 발광부와 이격되게 위치하고 외부로부터 입사되는 광을 수공하는 수광부, 상기 발광부와 상기 수광부 사이의 상기 제3 기판 부분 위에 위치하는 격벽, 노출된 제1 기판 부분의 상부면과 상기 발광부 위에 위치하여 상기 발광부를 밀봉하고 있는 제1 몰딩부, 및 노출된 제2 기판 부분 상부면과 상기 발광부 위에 위치하여 상기 발광부를 밀봉하고 있는 제2 몰딩부를 포함하고, 상기 제1 및 제2 기판 부분의 높이는 서로 동일하고, 상기 제3 기판 부분의 높이는 상기 제1 및 제2 기판 부분의 높이보다 낮다.According to an aspect of the present invention, there is provided an optical sensor package including a substrate having a first substrate portion, a second substrate portion, and a third substrate portion, and a light emitting unit configured to output light positioned on the first substrate portion. And a light receiving part spaced apart from the light emitting part on the second substrate part to receive light incident from the outside, a partition wall disposed on the third substrate part between the light emitting part and the light receiving part, and an upper portion of the exposed first substrate part. A first molding part positioned on a surface and the light emitting part to seal the light emitting part, and a second molding part positioned on the exposed upper surface of the second substrate portion and the light emitting part to seal the light emitting part. The heights of the first and second substrate portions are equal to each other, and the heights of the third substrate portions are lower than the heights of the first and second substrate portions.

상기 제1 몰딩부의 상부면, 제2 몰딩부의 상부면과 상기 격벽의 상부면은 서로 평면 상에 위치할 수 있다.An upper surface of the first molding part, an upper surface of the second molding part, and an upper surface of the partition wall may be disposed on a plane with each other.

상기 제1 몰딩부의 상부면과 상기 제2 몰딩부의 상부면은 연마면을 가질 수 있다.An upper surface of the first molding part and an upper surface of the second molding part may have a polishing surface.

상기 제1 몰딩부와 상기 제2 몰딩부는 투명한 EMC로 이루어질 수 있다.The first molding part and the second molding part may be made of transparent EMC.

상기 격벽은 검은색의 EMC로 이루어질 수 있다.The partition wall may be made of black EMC.

상기 격벽은 상기 제1 몰딩부의 측면과 상기 제2 몰딩부의 측면에 추가로 위치할 수 있다.The partition wall may be further disposed on side surfaces of the first molding part and side surfaces of the second molding part.

상기 격벽은 상기 기판의 측면에 추가로 위치할 수 있다.The partition wall may be further located on the side of the substrate.

본 발명의 다른 특징에 따른 광학 센서 패키지 제조 방법은 기판 위에 발광부와 수광부를 실장하는 단계, 노출된 상기 기판 위, 상기 발광부 및 상기 수광부 위에 제1 두께의 몰딩층을 형성하는 단계, 상기 발광부와 상기 수광부 사이에 위치한 상기 몰딩층의 부분을 제거하여 격벽 형성홈을 형성하고 상기 격벽 형성홈에 의해 서로 분리되어 있는 제1 예비 몰딩부와 제2 예비 몰딩부를 형성하는 단계, 상기 제1 및 제2 예비 몰딩부 위와 상기 격벽 형성홈에 격벽층을 형성하는 단계, 및 상기 격벽층의 일부와 상기 격벽층 하부에 위치한 제1 예비 몰딩부와 상기 제2 예비 몰딩부의 일부를 제거하여 상부면이 노출된 제1 몰딩부, 제2 몰딩부 및 격벽을 형성하는 단계를 포함한다. According to another aspect of the present invention, a method of manufacturing an optical sensor package includes mounting a light emitting part and a light receiving part on a substrate, and forming a molding layer having a first thickness on the exposed substrate, on the light emitting part, and the light receiving part. Removing a portion of the molding layer positioned between the light receiving part and the light receiving part to form a partition forming groove, and forming a first pre-molding part and a second pre-molding part separated from each other by the partition forming groove. Forming a partition layer on a second pre-molding portion and in the barrier rib forming groove, and removing a portion of the partition layer and a portion of the first pre-molding portion and the second pre-molding portion located below the partition wall, thereby forming an upper surface thereof. Forming an exposed first molding portion, a second molding portion, and a partition wall.

상기 몰딩층은 투명한 EMC로 이루어질 수 있다.The molding layer may be made of transparent EMC.

상기 격벽 형성홈이 위치한 기판의 두께는 제1 및 제2 예비 몰딩부가 위치한 기판의 두께보다 얇을 수 있다.The thickness of the substrate on which the barrier rib forming groove is positioned may be thinner than the thickness of the substrate on which the first and second preliminary molding parts are disposed.

상기 격벽층 형성 단계는 이중 사출 방식으로 상기 격벽층을 형성할 수 있다.The partition layer forming step may form the partition layer by a double injection method.

상기 격벽층은 검은색의 EMC로 이루어질 수 있다.The partition layer may be made of black EMC.

상기 격벽층과 상기 제1 및 제2 예비 몰딩부의 제거 단계는 연삭(grinding) 공정을 통해 상기 격벽층과 상기 제1 및 제2 예비 몰딩부를 제거하는 연삭 단계, 및 연마(polishing) 공정을 통해 상기 제1 몰딩부 및 제2 몰딩부의 상부면을 매끄럽게 가공하는 연마 단계를 포함할 수 있다.The removing of the partition layer and the first and second preliminary molding parts may include a grinding step of removing the partition layer and the first and second preliminary molding parts through a grinding process, and a polishing process. The method may include a polishing step of smoothly processing the upper surfaces of the first molding part and the second molding part.

이러한 특징에 따르면, 제1 및 제2 몰딩부와 격벽의 형성 단계가 한번의 연삭 및 연마 공정에 의해 이루어지므로, 광학 센서 패키지의 제조 공정이 단순화되어 광학 센서 패키지의 제조 비용과 제조 시간이 크게 줄어들고, 광학 센서 패키지의 수율이 향상된다.According to this feature, since the step of forming the first and second molding parts and the partition wall is performed by one grinding and polishing process, the manufacturing process of the optical sensor package is simplified, which greatly reduces the manufacturing cost and manufacturing time of the optical sensor package. , The yield of the optical sensor package is improved.

또한, 별도의 덮개가 불필요하므로, 광학 센서 패키지의 구조가 간단해진다.In addition, since a separate cover is unnecessary, the structure of the optical sensor package is simplified.

도 1는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 센서 패키지의 단면도이다.
도 2 및 도 3은 각각 본 발명의 다른 실시예에 따른 광학 센서 패키지의 단면도이다.
도 4a 내지 도 4d는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 센서 패키지의 제조 공정을 순차적으로 도시한 단면도이다. 1 is a cross-sectional view of an optical sensor package according to an embodiment of the present invention.
2 and 3 are cross-sectional views of optical sensor packages according to other embodiments of the present invention, respectively.
4A through 4D are cross-sectional views sequentially illustrating a manufacturing process of an optical sensor package according to an exemplary embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명한다. 본 발명을 설명하는데 있어서, 해당 분야에 이미 공지된 기술 또는 구성에 대한 구체적인 설명을 부가하는 것이 본 발명의 요지를 불분명하게 할 수 있다고 판단되는 경우에는 상세한 설명에서 이를 일부 생략하도록 한다. 또한, 본 명세서에서 사용되는 용어들은 본 발명의 실시예들을 적절히 표현하기 위해 사용된 용어들로서, 이는 해당 분야의 관련된 사람 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 따라서, 본 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described embodiments of the present invention; In the following description of the present invention, if it is determined that adding a detailed description of the technology or configuration already known in the art may make the gist of the present invention unclear, a part thereof will be omitted. In addition, terms used in the present specification are terms used to properly express the embodiments of the present invention, which may vary according to related persons or customs in the art. Therefore, the definitions of the terms should be made based on the contents throughout the specification.

여기서 사용되는 전문용어는 단지 특정 실시예를 언급하기 위한 것이며, 본 발명을 한정하는 것을 의도하지 않는다. 여기서 사용되는 단수 형태들은 문구들이 이와 명백히 반대의 의미를 나타내지 않는 한 복수 형태들도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함하는'의 의미는 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소 및/또는 성분을 구체화하며, 다른 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소, 성분 및/또는 군의 존재나 부가를 제외시키는 것은 아니다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. As used herein, the singular forms “a,” “an,” and “the” include plural forms as well, unless the phrases clearly indicate the opposite. As used herein, the meaning of “comprising” embodies a particular characteristic, region, integer, step, operation, element and / or component, and other specific characteristics, region, integer, step, operation, element, component and / or group. It does not exclude the presence or addition of.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 센서 패키지 및 그 제조 방법에 대해서 설명하도록 한다.Hereinafter, an optical sensor package and a manufacturing method thereof according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

먼저, 도 1을 참고로 하여 본 발명의 일 실시예에 따른 광학 센서 패키지를 설명한다.First, an optical sensor package according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1.

도 1을 참고로 하면, 본 예의 광학 센서 패키지(1)는 기판(100), 기판(100) 위에 서로 이격되게 위치하는 발광부(110)와 수광부(120), 발광부(110)와 수광부(120) 사이의 기판(100)에 위치하는 격벽(200), 그리고 노출된 기판(100)과 발광부(110)를 덮고 있는 제1 몰딩부(310) 및 노출된 기판(100)과 수광 발광부(120)를 덮고 있는 제2 몰딩부(320)를 구비한다.Referring to FIG. 1, the optical sensor package 1 of the present example includes a light emitting unit 110, a light receiving unit 120, a light emitting unit 110, and a light receiving unit 100 disposed on the substrate 100 and spaced apart from each other. The barrier rib 200 positioned between the substrates 100 and the first molding part 310 covering the exposed substrate 100 and the light emitting part 110, and the exposed substrate 100 and the light receiving light emitting part. A second molding part 320 covering the 120 is provided.

기판(100)은 발광부(110)와 수광부(120)가 실장되는 회로 기판의 형태로 이루어져 있고, 광학 센서 패키지(1)의 하부면을 이룬다.The substrate 100 is in the form of a circuit board on which the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 are mounted, and forms a lower surface of the optical sensor package 1.

따라서, 기판(100)은 그 상부와 하부에 위치한 도전성 패드나 배선 등을 통해 그 위에 위치하는 발광부(110)와 수광부(120) 등과 같은 소자와 전기적으로 연결되어 있어, 전기 신호에 대한 해당 소자와의 입출력 동작이 이루어질 수 있도록 한다.Accordingly, the substrate 100 is electrically connected to devices such as the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 positioned thereon through conductive pads or wirings disposed on the upper and lower portions thereof, thereby providing a corresponding device for an electric signal. I / O operation with

이러한 기판(100)은 연성 인쇄회로기판(flexible printed circuit board)이나 경성 인쇄회로기판(rigid printed circuit board) 등으로 이루어질 수 있다.The substrate 100 may be made of a flexible printed circuit board, a rigid printed circuit board, or the like.

발광부(110)는 정해진 파장 범위의 광을 발광하는 광학 소자로서, 발광 다이오드(LED; Light emitting diode) 등으로 이루어질 수 있다.The light emitting unit 110 is an optical device emitting light of a predetermined wavelength range, and may be formed of a light emitting diode (LED) or the like.

이때, 넓은 파장 범위나 여러 파장 범위의 광을 발광할 수 있도록 본 예의 발광부(110)는 적어도 하나의 발광 다이오드를 구비할 수 있다.In this case, the light emitting unit 110 of the present example may include at least one light emitting diode to emit light of a wide wavelength range or several wavelength ranges.

이러한 발광부(110)에서 출력되는 광은 광학 센서 패키지(1)의 상부 쪽으로 조사되어 제1 몰딩부(310)을 통과해 광학 센서 패키지(1) 외부로 출력된다.The light output from the light emitting unit 110 is irradiated toward the upper portion of the optical sensor package 1 and then output through the first molding unit 310 to the outside of the optical sensor package 1.

따라서, 발광부(110)에서 발광된 광은 광학 센서 패키지(1)의 상부면에 위치한 피감지체에 반사되어 수광부(120) 쪽으로 입사된다.Therefore, the light emitted from the light emitting unit 110 is reflected by the sensing object located on the upper surface of the optical sensor package 1 and is incident toward the light receiving unit 120.

수광부(120)는 정해진 파장 범위의 광을 수광하고 수광된 광의 세기나 양에 따라 해당 상태의 전기 신호를 출력하는 광학 소자로서, 광학 센서 패키지(1)의 상부에 위치한 피감지체의 반사 동작에 의해 입사되는 광의 수광 여부나 세기에 따라 피감지체의 근접 여부(즉, 설정 범위 내로의 접근 여부)나 움직임의 종류 등을 감지할 수 있도록 한다.The light receiving unit 120 is an optical element that receives light of a predetermined wavelength range and outputs an electric signal in a corresponding state according to the intensity or quantity of the received light. The light receiving unit 120 may be formed by a reflective operation of the sensing object located above the optical sensor package 1. According to whether or not the intensity of the incident light is received, it is possible to detect whether the sensing object is near (ie, approaching within a set range) or the type of motion.

이러한 수광부(120)는 적어도 하나의 포토 다이오드(photo diode) 등으로 이루어질 수 있고, 이때, 포토 다이오드의 개수는 수광되는 광의 파장 범위나 수광하고자 하는 광의 종류 즉, 파장 대역의 개수에 따라 정해질 수 있다.The light receiver 120 may include at least one photo diode, and the number of photo diodes may be determined according to the wavelength range of the received light or the type of light to be received, that is, the number of wavelength bands. have.

이로 인해, 수광부(120)는 발광부(110)에서 출력되는 파장 대역의 광뿐만 아니라 다른 파장 대역의 광도 수광할 수 있다.For this reason, the light receiving unit 120 may receive not only light in a wavelength band output from the light emitting unit 110 but also light in another wavelength band.

이러한 발광부(110)와 수광부(120)의 파장 대역 광학 센서 패키지의 종류와 설계에 따라 다양하게 변경된다. The light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 are changed in various ways depending on the type and design of the wavelength band optical sensor package.

예를 들어, 광학 센서 패키지(1)가 근접 감지용으로 사용될 경우 발광부(110)와 수광부(120)에 의해 발광되고 수광되는 광은 700nm 내지 1100nm의 적외선 대역을 포함하는 파장 대역의 광일 수 있다.For example, when the optical sensor package 1 is used for proximity sensing, the light emitted and received by the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 may be light of a wavelength band including an infrared band of 700 nm to 1100 nm. .

또한, 광학 센서 패키지(1)가 조도 감지용으로 사용될 경우 발광부(110)와 수광부(120)에 의해 발광되고 수광되는 광은 350nm 내지 750nm의 가시광선 대역을 포함하는 파장 대역에 속한 광일 수 있다.In addition, when the optical sensor package 1 is used for illuminance sensing, the light emitted and received by the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 may be light belonging to a wavelength band including a visible light band of 350 nm to 750 nm. .

광학 센서 패키지(1)가 자외선(UV)을 감지할 경우, 수광부(120)는 400nm이하의 자외선 대역을 포함하는 광의 파장 대역에 속하는 광을 수광할 수 있다.  When the optical sensor package 1 detects ultraviolet (UV) light, the light receiver 120 may receive light belonging to a wavelength band of light including an ultraviolet band of 400 nm or less.

격벽(200)은 발광부(110)와 수광부(120) 사이에 위치하여 발광부(110)에서 출력되는 광이 수광부(120)로 입사되는 것을 방지한다.The partition wall 200 is positioned between the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 to prevent the light output from the light emitting unit 110 from entering the light receiving unit 120.

이때, 도 1에 도시한 것처럼, 격벽(200)이 위치하는 기판(100)의 부분에는 격벽(200)이 설치되는 홈이 형성되어 그 홈 속에 격벽(200)이 삽입되어 위치한다. In this case, as shown in FIG. 1, a groove in which the barrier rib 200 is installed is formed in a portion of the substrate 100 on which the barrier rib 200 is located, and the barrier rib 200 is inserted into the groove.

따라서, 기판(100)은 발광부(110)가 위치하는 제1 기판 부분(101), 수광부(110)가 위치하는 제2 기판 부분(101), 그리고 격벽(200)이 위치하는 제3 기판 부분(103)을 구비한다.Accordingly, the substrate 100 may include a first substrate portion 101 where the light emitting unit 110 is located, a second substrate portion 101 where the light receiving unit 110 is located, and a third substrate portion where the partition wall 200 is located. 103 is provided.

제1 기판 부분(101)과 제2 기판 부분(102)의 상부면 높이는 서로 동일하며, 제3 기판 부분(103)의 상부면 높이는 제1 및 제2 기판 부분(101, 102)의 상부면 높이보다 낮다.The top surface height of the first substrate portion 101 and the second substrate portion 102 are the same, and the top surface height of the third substrate portion 103 is the top surface height of the first and second substrate portions 101, 102. Lower than

이러한 기판(100)의 제3 기판 부분(103)에 의해 격벽(200)은 해당 위치에서 기판(100) 속까지 위치하여 발광부(110)와 수광부(120) 사이를 확실하게 차단하므로, 발광부(110)에서 출력되어 수광부(120) 쪽을 입사되는 광은 격벽(200)에 의해 확실하게 차단된다. By the third substrate portion 103 of the substrate 100, the partition wall 200 is positioned in the substrate 100 at the corresponding position to reliably block between the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120. The light output from the 110 and incident on the light receiving unit 120 is reliably blocked by the partition wall 200.

따라서, 격벽(200)은 발광부(110)에서 출력되는 광의 수광부 입사율을 줄이기 위해, 발광부(110)로부터 발광되는 광에 대한 광 투과성이 낮은 재질로 형성되는 것이 좋다.Therefore, the partition wall 200 may be formed of a material having low light transmittance with respect to light emitted from the light emitting unit 110 in order to reduce the incident rate of the light receiving unit of the light output from the light emitting unit 110.

또한, 격벽(200)은 기판(100)과 결합되기 때문에 기판(100)과 열팽창 계수가 유사한 재질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 격벽(200)은 기판(100)의 열팽창 계수보다 0.8배 내지 1.2배의 열팽창계수를 가질 수 있다. 이런 경우, 기판(100)과 격벽(200) 간의 결합력이 증가하고 격벽(200)의 뒤틀림 현상이 감소하여, 격벽(200)은 기판(100)과의 결합 상태를 안정하게 유지할 수 있다. In addition, since the partition wall 200 is coupled to the substrate 100, the partition wall 200 may be formed of a material having a similar coefficient of thermal expansion to the substrate 100. For example, the partition wall 200 may have a coefficient of thermal expansion of 0.8 to 1.2 times the thermal expansion coefficient of the substrate 100. In this case, the bonding force between the substrate 100 and the partition wall 200 increases and the warpage phenomenon of the partition wall 200 decreases, so that the partition wall 200 can maintain the bonding state with the substrate 100 in a stable manner.

이러한 격벽(200)은, 도 1에 도시한 것처럼, 수광부(110)와 발광부(120) 사이에만 위치하지만, 다른 예에 따른 광학 센서 패키지(1a)에서 격벽(200a)은, 도 2에 도시한 것처럼, 수광부(110)와 발광부(120) 사이의 제3 기판 부분(103) 이외에 외부로 각각 노출되어 있는 제1 몰딩부(310)의 측면과 제2 몰딩부(320)의 측면에 추가적으로 위치한다.Although the partition wall 200 is positioned only between the light receiving unit 110 and the light emitting unit 120 as illustrated in FIG. 1, the partition wall 200a of the optical sensor package 1a according to another example is illustrated in FIG. 2. As described above, in addition to the side of the first molding part 310 and the side of the second molding part 320 which are exposed to the outside, in addition to the third substrate portion 103 between the light receiving part 110 and the light emitting part 120. Located.

이 경우, 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)의 측면을 통해 외부 광이 발광부(110)와 수광부(120)로 입사되는 것이 방지되므로, 발광부(110)와 수광부(120)의 수명이 증가하고, 수광부(120)는 원하는 파장 대역의 광 즉, 상부 쪽으로부터 입사되는 광만을 수광할 수 있어, 광학 센서 패키지(1)에 대한 동작의 신뢰성은 더욱 향상된다.In this case, since external light is prevented from entering the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 through the side surfaces of the first and second molding units 310 and 320, the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 may be formed. The lifespan is increased, and the light receiving unit 120 can receive only light having a desired wavelength band, that is, light incident from the upper side, so that the reliability of the operation of the optical sensor package 1 is further improved.

도 3에 도시한 또 다른 예의 광학 센서 패키지(1b)에서, 격벽(200b)은 수광부(110)와 발광부(120) 사이의 제3 기판 부분(103) 및 외부로 노출된 제1 몰딩부(310)의 측면과 제2 몰딩부(320)의 측면뿐만 아니라 외부로 노출된 기판(100)의 측면에 추가적으로 위치한다.In another example of the optical sensor package 1b illustrated in FIG. 3, the partition wall 200b may include a third substrate portion 103 between the light receiving portion 110 and the light emitting portion 120 and a first molding portion exposed to the outside. In addition to the side of the 310 and the side of the second molding portion 320 is located on the side of the substrate 100 exposed to the outside.

이런 경우에는 격벽(200b)의 접합 면적이 증가하여 격벽(200b)은 보다 안정적으로 광학 센서 패키지(1b)에 부착되며, 외부로 노출되는 모서리 부분이 감소하여 광학 센서 패키지(1b)는 외부 충격 등에 좀더 안정적이고 심미성이 향상된다.In this case, the junction area of the barrier rib 200b is increased, so that the barrier rib 200b is more stably attached to the optical sensor package 1b, and the edge portion exposed to the outside is reduced so that the optical sensor package 1b is exposed to an external impact or the like. It is more stable and improves aesthetics.

이러한 격벽(200, 200a, 200b)은 빛의 투과가 이루어지지 않거나 용이하지 않은 검은색의 EMC(epoxy mold compound)로 이루어져 있다.The barrier ribs 200, 200a, and 200b are made of a black epoxy mold compound (EMC), which is not easily transmitted or easily transmitted.

제1 및 제2 몰딩부(310, 320)는 그 내부에 위치하는 발광부(110)와 수광부(120)를 각각 밀봉하는 부분이다The first and second molding parts 310 and 320 are parts for sealing the light emitting part 110 and the light receiving part 120 positioned therein, respectively.

제1 몰딩부(310)는 발광부(110)가 위치하지 않고 외부로 노출된 기판(100)의 제1 기판 부분(101)의 상부면과 발광부(110)의 노출된 면(즉, 측면과 상부면)에 위치하여, 내부에 위치한 발광부(110)와 노출된 제1 기판 부분(101)의 상부면을 완전히 덮고 있다.The first molding part 310 may have an upper surface of the first substrate portion 101 and an exposed surface (ie, side surface) of the first substrate portion 101 of the substrate 100 that is not exposed to the light emitting portion 110. And the upper surface), and completely cover the upper surface of the light emitting unit 110 and the exposed first substrate portion 101 located therein.

또한, 제2 몰딩부(320)는 수광부(120)가 위치하지 않고 외부로 노출된 기판(100)의 제2 기판 부분(102)의 상부면과 수광부(120)의 노출된 면인 측면과 상부면에 위치한다. 따라서, 제2 몰딩부(320)는 내부에 위치한 수광부(120)와 노출된 제2 기판 부분(102)의 상부면을 완전히 덮는다.In addition, the second molding part 320 is an upper surface of the second substrate portion 102 of the substrate 100 exposed to the outside without the light receiving portion 120 and the side and the upper surface of the light receiving portion 120 are exposed. Located in Accordingly, the second molding part 320 completely covers the light receiving part 120 located inside and the upper surface of the exposed second substrate portion 102.

이러한 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)는 각각 빛을 발광하고 수광하는 발광부(110)와 수광부(120) 위에 각각 위치하므로, 이들 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)는 해당 광을 투과하는 투명한 재질로 이루어져 있다. 이때, 투명한 재질은 해당 파장 대역의 광[예를 들어, 발광부(110)에서 발광된 광]에 대한 광 투광성이 좋은 재질이 바람직하다.Since the first and second molding parts 310 and 320 are respectively positioned on the light emitting part 110 and the light receiving part 120 which emit and receive light, respectively, the first and second molding parts 310 and 320 may be formed. It is made of a transparent material that transmits the light. In this case, the transparent material is preferably a material having good light transmissivity with respect to light of the wavelength band (for example, light emitted from the light emitting unit 110).

또한, 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)는 노출된 기판(100)의 상부면에 위치하여 기판(100)의 해당 부분과 격벽(200)과 결합되므로, 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)는 이들 기판(100)과 격벽(200)과의 결합력이 좋은 재질로 이루어지는 것이 좋다.In addition, since the first and second molding parts 310 and 320 are disposed on the upper surface of the exposed substrate 100 and are coupled to the corresponding part of the substrate 100 and the partition wall 200, the first and second molding parts are formed. The 310 and 320 may be made of a material having a good bonding force between the substrate 100 and the partition wall 200.

한 예로, 본 예의 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)는 광 투광성이 양호하여 빛의 투과가 용이하게 이루어지는 열경화성 복합 재료인 투명한(clear) EMC(epoxy mold compound)로 이루어지지만, 이에 한정되지 않고 투명하며 광 투광성이 좋은 재질, 예를 들어, 실리콘 재질과 같은 다른 재질로도 이루어질 수 있다.For example, the first and second molding parts 310 and 320 of the present example may be made of a clear epoxy mold compound (EMC), which is a thermosetting composite material having good light transmissivity to facilitate light transmission, but is not limited thereto. It may be made of another material such as a transparent material and a light-transmissive material, for example, a silicon material.

이러한 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)에 의해, 기판(100) 위에 각각 위치하는 발광부(110)와 수광부(120)는 열, 수분, 충격 등과 같은 외부 요인으로부터 보호되며 기판(100)의 해당 위치에 안정적으로 위치한다.By the first and second molding parts 310 and 320, the light emitting part 110 and the light receiving part 120 respectively positioned on the substrate 100 are protected from external factors such as heat, moisture, impact, and the like. Stable position in the corresponding position of).

제1 몰딩부(310)와 제2 몰딩부(320)의 상부면은 서로 동일한 높이를 갖고 있다. 따라서, 제1 몰딩부(310)와 제2 몰딩부(320)의 상부면은 설치면에 평행한 가상의 동일 평면 상에 위치한다.Upper surfaces of the first molding part 310 and the second molding part 320 have the same height. Therefore, the upper surfaces of the first molding part 310 and the second molding part 320 are located on a virtual coplanar surface parallel to the installation surface.

또한, 제1 몰딩부(310)와 제2 몰딩부(320)의 상부면 표면은 연마면을 갖고 있다. 구체적으로, 제1 몰딩부(310)와 제2 몰딩부(320)의 상부면 표면에는 미세한 요철 등으로 형성되는 연마흔이 형성되어 있다. 더욱 구체적으로, 연마흔은 정해진 정도로 연마되어 형성된 표면의 요철일 수 있다.In addition, upper surface surfaces of the first molding part 310 and the second molding part 320 have a polishing surface. Specifically, grinding marks are formed on the upper surface of the first molding part 310 and the second molding part 320 by minute unevenness. More specifically, the polishing trace may be irregularities of the surface formed by grinding to a predetermined degree.

다음, 도 4a 내지 도 4d를 참고로 하여, 이러한 구조를 갖는 광학 센서 패키지의 제조 방법에 대하여 설명한다.Next, a method of manufacturing an optical sensor package having such a structure will be described with reference to FIGS. 4A to 4D.

먼저, 도 4a에 도시한 것처럼, 기판(100)의 해당 위치에 발광부(110)와 수광부(120)를 위치시킨 후, 다양한 본딩(bonding) 방식을 통해 기판(100)과 발광부(110) 및 수광부(120) 간의 전기적인 연결을 실시하여 기판(100)에 발광부(110)와 수광부(120)의 실장 동작을 실시한다.First, as shown in FIG. 4A, the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 are positioned at corresponding positions of the substrate 100, and then the substrate 100 and the light emitting unit 110 are formed through various bonding methods. And mounting the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 on the substrate 100 by performing electrical connection between the light receiving units 120.

다음, 도 4b에 도시한 것처럼, 발광부(110)와 수광부(120)가 실장된 기판(100) 위에 인서트 사출 방식(insert molding)으로 몰딩층(300)을 정해진 두께(T30)로 형성한다.Next, as illustrated in FIG. 4B, the molding layer 300 is formed to have a predetermined thickness T30 by insert molding on the substrate 100 on which the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 are mounted.

이때, 몰딩층(300)은 투명한 EMC로 이루어진다.In this case, the molding layer 300 is made of transparent EMC.

다음, 도 4c에 도시한 것처럼, 몰딩층(300)은 CNC 커팅기(computer number control cutter)나 커팅 블레이드(cutting blade)를 이용하여 발광부(110)와 수광부(120) 사이의 해당 위치에 위치하는 몰딩층 부분을 원하는 폭과 깊이로 제거하는 몰딩층 제거 동작을 실시하여, 몰딩층(300)의 해당 위치에 격벽 형성홈(H300)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 4C, the molding layer 300 is positioned at a corresponding position between the light emitting unit 110 and the light receiving unit 120 by using a computer number control cutter or a cutting blade. The molding layer removing operation of removing the molding layer portion to a desired width and depth is performed to form the barrier rib forming groove H300 at a corresponding position of the molding layer 300.

이로 인해, 격벽 형성홈(H300)을 사이에 두고 서로 마주보고 있는 제1 예비 몰딩부(311)와 제2 예비 몰딩부(321)가 형성되고, 제1 예비 몰딩부(311)에는 발광부(110)가 밀봉되어 있으며 제2 예비 몰딩부(321)에는 수광부(120)가 밀봉되어 있다. As a result, the first preliminary molding part 311 and the second preliminary molding part 321 are formed to face each other with the partition wall forming groove H300 interposed therebetween, and the light emitting part may be formed in the first preliminary molding part 311. 110 is sealed, and the light receiving part 120 is sealed in the second preliminary molding part 321.

몰딩층 제거 동작은 해당 위치의 몰딩층 부분과 접해 있는 기판 부분도 상부면에서부터 정해진 두께만큼 함께 제거한다.The molding layer removing operation also removes a portion of the substrate in contact with the molding layer portion at the corresponding position by a predetermined thickness from the upper surface.

따라서, 몰딩층 제거 동작에 의해, 기판(110)은 몰딩층 제거 동작에 무관하게 초기 두께를 유지하여 기판 손실이 이루어지지 않아 동일한 상부면 높이를 갖는 제1 및 제2 기판 부분(101, 102)과 기판 일부가 손실되어 제1 및 제2 기판 부분(101, 102)보다 낮은 높이의 상부면을 갖는 제3 기판 부분(103)을 갖는다. 이로 인해, 격벽 형성홈이 위치한 기판(100)의 부분인 제3 기판 부분(103)의 두께는 당연히 제1 및 제2 예비 몰딩부가 위치한 기판(100)의 부분인 제1 및 제2 기판 부분(101, 102)의 두께보다 얇다.Therefore, by the molding layer removing operation, the substrate 110 maintains the initial thickness regardless of the molding layer removing operation, so that no substrate loss occurs, and thus, the first and second substrate portions 101 and 102 having the same upper surface height. And a portion of the substrate is lost to have a third substrate portion 103 having an upper surface having a lower height than the first and second substrate portions 101, 102. As a result, the thickness of the third substrate portion 103, which is a portion of the substrate 100 on which the barrier rib forming groove is located, is, of course, the first and second substrate portions, which are portions of the substrate 100 on which the first and second preliminary molding portions are located. 101, 102) is thinner than the thickness.

그런 다음, 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321)의 상부면 위와 격벽 형성홈(H300) 속에 이중 사출 방식을 이용하여 격벽층(20)을 형성한다. Then, the barrier rib layer 20 is formed on the upper surfaces of the first and second preliminary molding parts 311 and 321 and in the barrier rib forming groove H300 by using a double injection method.

이때, 격벽층(200)의 재료는 빛의 투과를 방지하는 검은색의 EMC로 이루어져 있고, 형성 위치는 광학 센서 패키지(1, 1a, 1b)의 형태에 따라 도 4d에 도시한 것처럼, 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321) 상부면 위와 격벽 형성홈(H300)에만 형성되거나, 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321) 상부면 위와 격벽 형성홈(H300) 및 노출된 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321)의 측면에 추가적으로 형성되거나, 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321) 상부면 위, 격벽 형성홈(H300), 노출된 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321) 그리고 노출된 기판(100)의 측면까지 형성될 수 있다.At this time, the material of the barrier layer 200 is made of black EMC to prevent the transmission of light, the formation position is shown in Figure 4d, according to the shape of the optical sensor package (1, 1a, 1b), the first And formed only on the upper surfaces of the second preliminary molding parts 311 and 321 and the partition wall forming grooves H300, or on the upper surfaces of the first and second preliminary molding parts 311 and 321 and the partition wall forming grooves H300 and the exposed first material. Further formed on the side surfaces of the first and second preliminary molding parts 311 and 321, on the upper surfaces of the first and second preliminary molding parts 311 and 321, and the partition wall forming groove H300 and the exposed first and second parts. The preliminary molding parts 311 and 321 and the exposed side surfaces of the substrate 100 may be formed.

이때, 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321) 상부면 위에 형성된 격벽층(200)의 높이와 격벽 형성홈(H300)에 형성된 격벽층(20)의 높이는 서로 동일하다. 따라서, 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321) 위에 위치한 격벽층(20)의 두께(T21)는 격벽 형성홈(H300)에 형성된 격벽층(20)의 두께(T22)보다 훨씬 얇다.In this case, the height of the barrier layer 200 formed on the upper surfaces of the first and second preliminary molding parts 311 and 321 and the height of the barrier layer 20 formed in the barrier rib forming groove H300 are the same. Therefore, the thickness T21 of the barrier layer 20 positioned on the first and second preliminary molding parts 311 and 321 is much thinner than the thickness T22 of the barrier layer 20 formed in the barrier rib forming groove H300.

다음, 연삭(grinding) 및 연마(polishing) 공정을 실시한다. 구체적으로, 연삭 공정을 통해 격벽층과 제1 및 제2 예비 몰딩부를 제거한다. 그리고, 연마 공정을 통해 제1 몰딩부 및 제2 몰딩부의 상부면을 매끄럽게 가공한다. 여기서, 연삭 공정은 제거하는 것에 초점을 맞춘 공정이고, 연마 공정은 표면을 매끄럽게 가공하는 것에 초점을 맞춘 공정이다.Next, grinding and polishing processes are performed. Specifically, the partition layer and the first and second preliminary molding parts are removed through the grinding process. Then, the upper surfaces of the first molding part and the second molding part are smoothly processed through the polishing process. Here, the grinding process is a process focused on removing, and the polishing process is a process focused on smoothing the surface.

연삭 공정과 연마 공정은 연마 강도 또는 연마 입자의 정도 및 종류의 차이에 불과할 수 있다. 그러나 분명한 것은 연삭 공정에서는 연마 공정에 비해서 동일한 시간 동안에 더 많은 제1 및 제2 예비 몰딩부가 제거된다는 것이다.The grinding process and the polishing process may be merely a difference in the polishing strength or the degree and kind of the abrasive particles. However, it is clear that in the grinding process, more first and second pre-molded parts are removed in the same time period as compared to the polishing process.

이를 통해 상부면이 노출되어 있는 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)와 격벽 형성홈(H300)에 위치한 격벽(200)을 구비한 광학 센서 패키지(1, 1a, 1b)를 완성한다(도 1, 도 2 또는 도 3 참고).Through this, the optical sensor packages 1, 1a and 1b having the first and second molding parts 310 and 320 and the partition wall 200 located in the partition wall forming groove H300 having the upper surface exposed are completed ( 1, 2 or 3).

즉, 1차적으로 연삭 공정을 실시하여 격벽층(20)의 상부면에서부터 원하는 두께만큼 격벽층(20)과 그 하부에 위치한 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321)의 부분을 제거하여, 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321) 위에 위치한 격벽층(20)을 모두 제거하고 격벽 형성홈(H300)에 위치한 격벽층(20)의 일부를 제거하여 제1 및 제 몰딩부(310, 320)와 격벽(200)을 형성한다.That is, the grinding process is first performed to remove portions of the partition layer 20 and the first and second preliminary molding parts 311 and 321 disposed below the partition wall 20 by a desired thickness from the upper surface of the partition layer 20. The first and second molding parts may be removed by removing all of the barrier rib layer 20 positioned on the first and second preliminary molding parts 311 and 321 and removing a part of the barrier rib layer 20 located in the barrier rib forming groove H300. 310 and 320 and the partition wall 200 are formed.

연삭 공정 시 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321)의 두께가 감소하므로, 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)의 두께는 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321)의 초기 두게(T30)보다 얇은 두께(T31)를 갖는다. Since the thicknesses of the first and second preliminary molding parts 311 and 321 are reduced during the grinding process, the thicknesses of the first and second preliminary molding parts 310 and 320 are the first and second preliminary molding parts 311 and 321. It has a thickness T31 that is thinner than the initial thickness T30 of.

그런 다음, 2차적으로 연마 공정을 통해 노출된 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)의 상부면과 격벽(200)의 상부면을 표면 처리하여 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)와 격벽(200)을 완성한다. 이로 인해, 광학 센서 패키지(1)가 완성된다.Then, the first and second molding parts 310 and 320 are surface treated by treating the upper surface of the first and second molding parts 310 and 320 and the upper surface of the partition wall 200 which are exposed through the polishing process. ) And the partition 200 is completed. As a result, the optical sensor package 1 is completed.

연삭 공정과 연마 공정은 동일한 장치(machine)에 의해 수행될 수도 있고, 경우에 따라서 서로 다른 2개의 장치에서 수행될 수도 있다.The grinding process and the polishing process may be performed by the same machine, or in some cases, two different apparatuses.

제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321)의 측면에도 격벽층(20)이 위치한 경우에도, 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321)의 측면에 위치한 격벽층(20) 역시 그라이딩 공정에 의해 정해진 격벽층(20)의 상부면에서부터 원하는 두께만큼 격벽층(20)의 제1 및 제2 예비 몰딩부(311, 321)의 제거 동작이 이루어진 후 폴리싱 공정이 이루어져 광학 센서 패키지(1a, 1b)가 완성된다.Even when the partition layer 20 is located on the side surfaces of the first and second preliminary molding parts 311 and 321, the partition layer 20 located on the side surfaces of the first and second preliminary molding parts 311 and 321 is also the same. After the removal operation of the first and second preliminary molding parts 311 and 321 of the barrier layer 20 is performed from the upper surface of the barrier layer 20 determined by the riding process to a desired thickness, the polishing process is performed. 1a and 1b) are completed.

이러한 공정을 통해, 제1 및 제2 몰딩부(310, 320)와 격벽(300)의 형성 단계가 한번의 연삭 및 연마 공정에 의해 이루어진다. Through this process, the step of forming the first and second molding parts 310 and 320 and the partition wall 300 is performed by one grinding and polishing process.

이로 인해, 광학 센서 패키지의 제조 공정이 단순화되어 광학 센서 패키지의 제조 비용과 제조 시간이 크게 줄어들고, 광학 센서 패키지의 수율이 향상된다.This simplifies the manufacturing process of the optical sensor package, greatly reducing the manufacturing cost and manufacturing time of the optical sensor package, and improving the yield of the optical sensor package.

이상, 본 발명의 광학 센서 패키지 및 그 제조 방법의 실시예들에 대해 설명하였다. 본 발명은 상술한 실시예 및 첨부한 도면에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자의 관점에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서 본 발명의 범위는 본 명세서의 청구범위뿐만 아니라 이 청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다. In the above, embodiments of the optical sensor package and a method of manufacturing the same have been described. The present invention is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and various modifications and variations will be possible in light of those skilled in the art to which the present invention pertains. Therefore, the scope of the present invention should be defined not only by the claims of the present specification but also by the equivalents of the claims.

1, 1a, 1B: 광학 센서 패키지 100: 기판
110: 발광부 120: 수광부
200: 격벽 310: 제1 몰딩부
320: 제2 몰딩부 311: 제1 예비 몰딩부
321: 제2 예비 몰딩부 20: 격벽층
300: 몰딩층 101: 제1 기판 부분
102: 제2 기판 부분 103: 제3 기분 부분
H300: 격벽 형성홈1, 1a, 1B: optical sensor package 100: substrate
110: light emitting unit 120: light receiving unit
200: partition 310: first molding part
320: second molding part 311: first preliminary molding part
321: second preliminary molding part 20: partition wall
300: molding layer 101: first substrate portion
102: second substrate portion 103: third mood portion
H300: bulkhead forming groove

Claims (13)

제1 기판 부분, 제2 기판 부분 및 제3 기판 부분을 구비한 기판;
상기 제1 기판 부분 위에 위치하는 광을 출력하는 발광부;
상기 제2 기판 부분 위에 위치하고, 상기 발광부와 이격되게 위치하고 외부로부터 입사되는 광을 수광하는 수광부;
상기 발광부와 상기 수광부 사이의 상기 제3 기판 부분 위에 위치하는 격벽;
노출된 제1 기판 부분의 상부면과 상기 발광부 위에 위치하여 상기 발광부를 밀봉하고 있는 제1 몰딩부; 및
노출된 제2 기판 부분 상부면과 상기 수광부 위에 위치하여 상기 수광부를 밀봉하고 있는 제2 몰딩부
를 포함하고,
상기 격벽은 상기 제1 몰딩부의 측면과 상기 제1 몰딩부의 측면에서 연속되는 상기 기판의 측면 및 상기 제2 몰딩부의 측면과 상기 제2 몰딩부의 측면에서 연속되는 상기 기판의 측면에 추가로 위치하고,
상기 제1 및 제2 기판 부분의 높이는 서로 동일하고, 상기 제3 기판 부분의 높이는 상기 제1 및 제2 기판 부분의 높이보다 낮으며,
상기 격벽은 상기 기판의 열팽창 계수보다 0.8배 내지 1.2배의 열팽창계수를 가지는
광학 센서 패키지.A substrate having a first substrate portion, a second substrate portion, and a third substrate portion;
A light emitting part configured to output light positioned on the first substrate portion;
A light receiving unit positioned on the second substrate and spaced apart from the light emitting unit to receive light incident from the outside;
Barrier ribs positioned on the third substrate portion between the light emitting portion and the light receiving portion;
A first molding part positioned on an upper surface of the exposed first substrate part and the light emitting part to seal the light emitting part; And
A second molding part positioned on the exposed second substrate portion upper surface and the light receiving part to seal the light receiving part
Including,
The partition wall is further located on the side of the substrate continuous at the side of the first molding portion and the side of the first molding portion and the side of the substrate continuous at the side of the second molding portion and the side of the second molding portion,
The heights of the first and second substrate portions are the same, and the heights of the third substrate portions are lower than the heights of the first and second substrate portions,
The barrier rib has a coefficient of thermal expansion of 0.8 to 1.2 times that of the substrate.
Optical sensor package. 제1항에서,
상기 제1 몰딩부의 상부면, 제2 몰딩부의 상부면과 상기 격벽의 상부면은 서로 평면 상에 위치하는 광학 센서 패키지.In claim 1,
And an upper surface of the first molding part, an upper surface of the second molding part, and an upper surface of the partition wall are disposed on a plane with each other. 제1항에서,
상기 제1 몰딩부의 상부면과 상기 제2 몰딩부의 상부면은 연마면을 갖고 있는 광학 센서 패키지.In claim 1,
And an upper surface of the first molding portion and an upper surface of the second molding portion have a polishing surface. 제1항에서,
상기 제1 몰딩부와 상기 제2 몰딩부는 투명한 EMC로 이루어져 있는 광학 센서 패키지.In claim 1,
And the first molding part and the second molding part are made of transparent EMC. 제1항에서,
상기 격벽은 검은색의 EMC로 이루어져 있는 광학 센서 패키지.In claim 1,
The partition wall is an optical sensor package consisting of a black EMC. 삭제delete 제1항에서,
상기 격벽은 상기 기판의 측면에 추가로 위치하는 광학 센서 패키지.In claim 1,
The barrier rib is further positioned on the side of the substrate. 기판 위에 발광부와 수광부를 실장하는 단계;
노출된 상기 기판 위, 상기 발광부 및 상기 수광부 위에 제1 두께의 몰딩층을 형성하는 단계;
상기 발광부와 상기 수광부 사이에 위치한 상기 몰딩층의 부분을 제거하여 격벽 형성홈을 형성하고 상기 격벽 형성홈에 의해 서로 분리되어 있는 제1 예비 몰딩부와 제2 예비 몰딩부를 형성하는 단계;
상기 제1 및 제2 예비 몰딩부 위와 상기 격벽 형성홈에 격벽층을 형성하는 단계; 및
상기 격벽층의 일부와 상기 격벽층 하부에 위치한 제1 예비 몰딩부와 상기 제2 예비 몰딩부의 일부를 제거하여 상부면이 노출된 제1 몰딩부, 제2 몰딩부 및
상기 제1 몰딩부의 측면과 상기 제2 몰딩부의 측면에 추가로 위치하는 격벽을 형성하는 단계
를 포함하고,
상기 격벽은 상기 제1 몰딩부의 측면과 상기 제1 몰딩부의 측면에서 연속되는 상기 기판의 측면 및 상기 제2 몰딩부의 측면과 상기 제2 몰딩부의 측면에서 연속되는 상기 기판의 측면에 추가로 위치하고,
상기 격벽은 상기 기판의 열팽창 계수보다 0.8배 내지 1.2배의 열팽창계수를 가지는 광학 센서 패키지 제조 방법.Mounting a light emitting unit and a light receiving unit on a substrate;
Forming a molding layer having a first thickness on the exposed substrate and on the light emitting part and the light receiving part;
Removing a portion of the molding layer positioned between the light emitting part and the light receiving part to form a partition forming groove and forming a first pre-molding part and a second pre-molding part separated from each other by the partition forming groove;
Forming a partition layer on the first and second preliminary molding parts and in the partition formation groove; And
A first molding part, a second molding part, the upper surface of which is exposed by removing a part of the partition wall layer, a first preliminary molding part positioned below the partition wall layer, and a part of the second preliminary molding part;
Forming a partition wall further positioned on a side of the first molding part and a side of the second molding part;
Including,
The partition wall is further located on the side of the substrate continuous at the side of the first molding portion and the side of the first molding portion and the side of the substrate continuous at the side of the second molding portion and the side of the second molding portion,
The barrier rib has a thermal expansion coefficient of 0.8 to 1.2 times the thermal expansion coefficient of the substrate. 제8항에서,
상기 몰딩층은 투명한 EMC로 이루어져 있는 광학 센서 패키지 제조 방법.In claim 8,
The molding layer is made of a transparent EMC optical sensor package manufacturing method. 제8항에서,
상기 격벽 형성홈이 위치한 기판의 두께는 제1 및 제2 예비 몰딩부가 위치한 기판의 두께보다 얇은 광학 센서 패키지 제조 방법.In claim 8,
And a thickness of a substrate on which the barrier rib forming groove is located is smaller than a thickness of the substrate on which the first and second preliminary molding parts are disposed. 제8항에서,
상기 격벽층 형성 단계는 이중 사출 방식으로 상기 격벽층을 형성하는 광학 센서 패키지 제조 방법. In claim 8,
The barrier layer forming step of forming the barrier rib layer in a double injection method. 제8항에서,
상기 격벽층은 검은색의 EMC로 이루어지는 광학 센서 패키지 제조 방법.In claim 8,
The barrier layer is made of a black EMC optical sensor package manufacturing method. 제8항에서,
상기 격벽층과 상기 제1 및 제2 예비 몰딩부의 제거 단계는,
연삭(grinding) 공정을 통해 상기 격벽층과 상기 제1 및 제2 예비 몰딩부를 제거하는 연삭 단계; 및
연마(polishing) 공정을 통해 상기 제1 몰딩부 및 제2 몰딩부의 상부면을 매끄럽게 가공하는 연마 단계를 포함하는
광학 센서 패키지 제조 방법.
In claim 8,
Removing the partition layer and the first and second preliminary molding portion,
A grinding step of removing the partition layer and the first and second preliminary molding parts through a grinding process; And
And a polishing step of smoothly processing the upper surfaces of the first molding part and the second molding part through a polishing process.
Method for manufacturing optical sensor package.
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