KR102057715B1 - Light emitting device - Google Patents

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KR102057715B1
KR102057715B1 KR1020130011289A KR20130011289A KR102057715B1 KR 102057715 B1 KR102057715 B1 KR 102057715B1 KR 1020130011289 A KR1020130011289 A KR 1020130011289A KR 20130011289 A KR20130011289 A KR 20130011289A KR 102057715 B1 KR102057715 B1 KR 102057715B1
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최병균
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엘지이노텍 주식회사
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Abstract

실시예는 발광소자에 관한 것이다. 실시예에 따른 발광소자는 제1 도전형 반도체층, 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 순차적으로 포함하는 발광구조물, 상기 발광구조물 상에 배치되고, 오목부를 포함하는 제1 투명전도층, 상기 제1 투명전도층을 관통하여, 상기 발광구조물에 접하도록 배치되는 전극패드 및 상기 전극패드와 연결되고, 오목부에 배치되는 가지전극을 포함할 수 있다.The embodiment relates to a light emitting device. The light emitting device according to the embodiment includes a light emitting structure sequentially comprising a first conductivity type semiconductor layer, an active layer and a second conductivity type semiconductor layer, a first transparent conductive layer disposed on the light emitting structure and including a concave portion. 1 may include an electrode pad disposed through the transparent conductive layer and in contact with the light emitting structure, and a branch electrode connected to the electrode pad and disposed in a recess.

Description

발광소자{Light emitting device}Light emitting device

실시예는 발광소자에 관한 것이다.The embodiment relates to a light emitting device.

발광 다이오드(Light Emitting Diode, LED)는 화합물 반도체의 특성을 이용해 전기 신호를 광의 형태로 변환시키는 소자로, 가정용 가전제품, 리모컨, 전광판, 표시기, 각종 자동화 기기 등에 사용되고 있으며, 점차 사용 영역이 넓어지고 있는 추세이다.Light Emitting Diode (LED) is a device that converts an electric signal into a light form using the characteristics of a compound semiconductor, and is used for home appliances, remote controllers, electronic displays, indicators, and various automation devices. There is a trend.

보통, 소형화된 LED는 PCB(Printed Circuit Board) 기판에 직접 장착하기 위해서 표면실장소자(Surface Mount Device)형으로 만들어지고 있고, 이에 따라 표시소자로 사용되고 있는 LED 램프도 표면실장소자 형으로 개발되고 있다. 이러한 표면실장소자는 기존의 단순한 점등 램프를 대체할 수 있으며, 이것은 다양한 칼라를 내는 점등표시기용, 문자표시기 및 영상표시기 등으로 사용된다.In general, miniaturized LEDs are made of a surface mount device type for direct mounting on a printed circuit board (PCB) board. Accordingly, LED lamps, which are used as display elements, are also being developed as surface mount device types. . Such a surface mounting element can replace a conventional simple lighting lamp, which is used as a lighting display for various colors, a character display and an image display.

이와 같이 LED의 사용 영역이 넓어지면서, 생활에 사용되는 전등, 구조 신호용 전등 등에 요구되는 휘도가 높아지는 바, LED의 발광휘도를 증가시키기 위해서는 발광효율을 증가시키는 것이 필요하다.As the usage area of the LED is widened as described above, the luminance required for a lamp used for living, a lamp for rescue signals, etc. increases, and thus, it is necessary to increase the luminous efficiency in order to increase the luminous luminance of the LED.

이와 같은 LED는 투명전도층 상에 전극을 포함하는데, 외부 수분이나 미세 먼지에 의하여 투명전도층과 전극의 결합력이 작아지게 되고, 외부에서 가해지는 압력에 대한 저항성이 작아져, 전극이 필링(peeling)되는 현상이 발생된다.Such an LED includes an electrode on the transparent conductive layer, and the bonding force between the transparent conductive layer and the electrode is reduced by external moisture or fine dust, and the resistance to external pressure is reduced, so that the electrode is peeled. A phenomenon occurs.

이에 대해, 한국 등록특허 10-1067964는 제1 전극패드의 일부를 식각하여, 제1 도전형 반도체층을 노출시키고, 전극패드가 반도체층과 접하는 면적을 줄여 필링 현상을 감소시키는 기술적 특징을 개시하고 있다.On the other hand, Korean Patent No. 10-1067964 discloses a technical feature of etching part of the first electrode pad to expose the first conductive semiconductor layer, and reducing the peeling phenomenon by reducing the area where the electrode pad is in contact with the semiconductor layer. have.

투명전도층의 일부를 소정깊이까지 식각하여, 상기 식각된 오목부에 전극을형성하거나, 투명전도층과 전극이 접촉하는 면적을 크게 함으로써, 투명전도층 및 전극 사이의 결합력을 증가시킬 수 있는 발광소자를 제공하고자 한다.Part of the transparent conductive layer is etched to a predetermined depth to form an electrode in the etched concave, or to increase the contact area between the transparent conductive layer and the electrode, thereby increasing the bonding force between the transparent conductive layer and the electrode To provide a device.

실시예에 따른 발광소자는 제1 도전형 반도체층, 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 순차적으로 포함하는 발광구조물, 상기 발광구조물 상에 배치되고, 오목부를 포함하는 제1 투명전도층, 상기 제1 투명전도층을 관통하여, 상기 발광구조물에 접하도록 배치되는 전극패드 및 상기 전극패드와 연결되고, 오목부에 배치되는 가지전극을 포함할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment includes a light emitting structure sequentially comprising a first conductivity type semiconductor layer, an active layer and a second conductivity type semiconductor layer, a first transparent conductive layer disposed on the light emitting structure and including a concave portion. 1 may include an electrode pad disposed through the transparent conductive layer and in contact with the light emitting structure, and a branch electrode connected to the electrode pad and disposed in a recess.

실시예에 따른 발광소자는 투명전극층을 소정깊이까지 식각하여, 전극을 형성하여 투명전도층 및 전극 사이의 결합력을 증가시킬 수 있다.In the light emitting device according to the embodiment, the transparent electrode layer may be etched to a predetermined depth to form an electrode, thereby increasing the bonding force between the transparent conductive layer and the electrode.

또한, 상기 전극의 일부를 덮도록 배치되는 투명전도층을 더 포함하여, 전극 필링현상을 방지할 수 있으며, 전극 상면에서의 광 흡수를 방지하여, 광추출효율을 향상시킬 수 있다.In addition, further comprising a transparent conductive layer disposed to cover a portion of the electrode, it is possible to prevent the electrode peeling phenomenon, to prevent light absorption on the upper surface of the electrode, it is possible to improve the light extraction efficiency.

도 1a는 실시예에 따른 발광소자의 평면을 나타내는 도이고, 도 1b는 도 1a의 A-A' 단면을 나타내는 도이다.
도 2는 도 1b의 A부분의 다양한 실시예를 나타내는 도이다.
도 3 및 4는 실시예에 따른 발광소자의 단면을 나타내는 도이다.
도 5 내지 도 10은 실시예에 따른 발광소자의 제조공정을 나타내는 도이다.
도 11은 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 발광소자 패키지의 단면도이다.
도 12a는 실시예에 따른 발광소자 모듈을 포함하는 조명장치를 도시한 사시도이며, 도 12b는 도 12a의 조명장치의 C - C'를 도시한 단면도이다.
도 13 및 도 14는 실시예에 따른 광학시트를 포함하는 액정표시장치의 분해 사시도이다.
FIG. 1A is a view showing a plane of a light emitting device according to an embodiment, and FIG. 1B is a view showing an AA ′ section of FIG.
FIG. 2 is a diagram illustrating various embodiments of portion A of FIG. 1B.
3 and 4 are cross-sectional views of light emitting devices according to embodiments.
5 to 10 are views showing a manufacturing process of the light emitting device according to the embodiment.
11 is a cross-sectional view of a light emitting device package including a light emitting device according to the embodiment.
12A is a perspective view illustrating a lighting apparatus including a light emitting device module according to an embodiment, and FIG. 12B is a cross-sectional view illustrating C-C ′ of the lighting apparatus of FIG. 12A.
13 and 14 are exploded perspective views of a liquid crystal display including an optical sheet according to an embodiment.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but can be implemented in various different forms, and only the embodiments make the disclosure of the present invention complete, and the general knowledge in the art to which the present invention belongs. It is provided to fully inform the person having the scope of the invention, which is defined only by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout.

공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below)", "아래(beneath)", "하부(lower)", "위(above)", "상부(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 소자 또는 구성 요소들과 다른 소자 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작 시 소자의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 소자를 뒤집을 경우, 다른 소자의 "아래(below)"또는 "아래(beneath)"로 기술된 소자는 다른 소자의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 소자는 다른 방향으로도 배향될 수 있고, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.The spatially relative terms " below ", " beneath ", " lower ", " above ", " upper " It may be used to easily describe the correlation of a device or components with other devices or components. Spatially relative terms are to be understood as terms that include different directions of the device in use or operation in addition to the directions shown in the figures. For example, when flipping a device shown in the figure, a device described as "below" or "beneath" of another device may be placed "above" of another device. Thus, the exemplary term "below" can encompass both an orientation of above and below. The device can also be oriented in other directions, so that spatially relative terms can be interpreted according to orientation.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. In this specification, the singular also includes the plural unless specifically stated otherwise in the phrase. As used herein, “comprises” and / or “comprising” refers to the presence of one or more other components, steps, operations and / or elements. Or does not exclude additions.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않은 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used in the present specification may be used in a sense that can be commonly understood by those skilled in the art. In addition, the terms defined in the commonly used dictionaries are not ideally or excessively interpreted unless they are specifically defined clearly.

도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한 각 구성요소의 크기와 면적은 실제크기나 면적을 전적으로 반영하는 것은 아니다. In the drawings, the thickness or size of each layer is exaggerated, omitted, or schematically illustrated for convenience and clarity of description. In addition, the size and area of each component does not necessarily reflect the actual size or area.

또한, 실시예에서 발광소자의 구조를 설명하는 과정에서 언급하는 각도와 방향은 도면에 기재된 것을 기준으로 한다. 명세서에서 발광소자를 이루는 구조에 대한 설명에서, 각도에 대한 기준점과 위치관계를 명확히 언급하지 않은 경우, 관련 도면을 참조하도록 한다.In addition, the angle and direction mentioned in the process of describing the structure of the light emitting device in the embodiment are based on those described in the drawings. In the description of the structure constituting the light emitting device in the specification, if the reference point and the positional relationship with respect to the angle is not clearly mentioned, reference is made to related drawings.

도 1a는 실시예에 따른 수평형 발광소자의 평면을 나타내는 평면도이고, 도1b는 도 1a의 A-A'단면을 나타내는 단면도이다.FIG. 1A is a plan view showing a plane of a horizontal light emitting device according to the embodiment, and FIG. 1B is a cross-sectional view showing a cross-sectional view along the line AA ′ of FIG.

도 1a 및 도 1b를 참조하면, 실시예에 따른 발광소자(100)는 성장기판(110), 버퍼층(120), 제1 도전형 반도체층(131), 활성층(132), 제2 도전형 반도체층(133), 투명전도층(140), 제1전극(160), 제2 전극(150)을 포함할 수 있으며, 제2 전극(150)은 전극패드(151) 및 가지전극(152)을 포함할 수 있다.1A and 1B, the light emitting device 100 according to the embodiment may include a growth substrate 110, a buffer layer 120, a first conductive semiconductor layer 131, an active layer 132, and a second conductive semiconductor. The layer 133, the transparent conductive layer 140, the first electrode 160, and the second electrode 150 may be included. The second electrode 150 may include the electrode pad 151 and the branch electrode 152. It may include.

성장기판(110)은 전도성 기판 또는 절연성 기판으로 이루어질 수 있으며, 예를 들어, 사파이어(Al2O3), SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge, 및 Ga203 중 적어도 어느 하나로 형성될 수 있다. 이러한 성장기판(110)은 습식세척을 하여 표면의 불순물을 제거할 수 있고, 성장기판(110)은 광추출효율을 향상시키기 위해 표면이 패터닝(Patterned SubStrate, PSS)될 수 있으나, 이에 한정하지는 않는다.The growth substrate 110 may be formed of a conductive substrate or an insulating substrate. For example, sapphire (Al 2 O 3 ), SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge, and Ga 2 0 It may be formed of at least one of three . The growth substrate 110 may be wet-washed to remove impurities from the surface, and the growth substrate 110 may be patterned (Ptterned SubStrate, PSS) to improve light extraction efficiency, but is not limited thereto. .

성장기판(110) 상에는 성장기판(110)과 제1 도전형 반도체층(131)간의 격자 부정합을 완화하고 도전형 반도체층들이 용이하게 성장될 수 있도록 버퍼층(120)을 형성할 수 있다.The buffer layer 120 may be formed on the growth substrate 110 to mitigate lattice mismatch between the growth substrate 110 and the first conductive semiconductor layer 131 and to easily grow the conductive semiconductor layers.

버퍼층(120)은 AlN, GaN를 포함하여 AlInN/GaN 적층 구조, InGaN/GaN 적층 구조, AlInGaN/InGaN/GaN의 적층 구조 등의 구조로 형성될 수 있다.The buffer layer 120 may be formed of AlInN / GaN stacked structure including AlN and GaN, InGaN / GaN stacked structure, and AlInGaN / InGaN / GaN stacked structure.

발광구조물(130)은 성장기판(110) 상에 위치하며, 제1 도전형 반도체층(131), 활성층(132), 제2 도전형 반도체층(133)을 포함할 수 있고, 제1 도전형 반도체층(131)과 제2 도전형 반도체층(133) 사이에 활성층(132)이 개재된 구성으로 이루어질 수 있다.The light emitting structure 130 is positioned on the growth substrate 110 and may include a first conductivity type semiconductor layer 131, an active layer 132, and a second conductivity type semiconductor layer 133. The active layer 132 may be interposed between the semiconductor layer 131 and the second conductive semiconductor layer 133.

제1 도전형 반도체층(131)은 AlxInyGa(1-x-y)N (0=x=1, 0=y=1, 0=x+y=1)의 조성식을 갖는 반도체 물질, 예를 들어, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN 중 어느 하나 이상으로 형성될 수 있다. 또한 N를 대신하여 다른 5족 원소를 이용하여 형성될 수 있다. 예를 들어, AlGaAs, InGaAs, AlInGaAs, GaP, AlGaP, InGaP, AlInGaP 및 InP 중 어느 하나 이상으로 형성될 수 있다. 또한, 제1 도전형 반도체층(231)이 일 예로, n형 반도체층인 경우는, n형 불순물로서, Si, Ge, Sn, Se, Te 등을 포함할 수 있다. The first conductive semiconductor layer 131 is a semiconductor material having a compositional formula of Al x In y Ga (1-xy) N (0 = x = 1, 0 = y = 1, 0 = x + y = 1), for example For example, it may be formed of any one or more of GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN. It may also be formed using other Group 5 elements instead of N. For example, it may be formed of any one or more of AlGaAs, InGaAs, AlInGaAs, GaP, AlGaP, InGaP, AlInGaP, and InP. In addition, when the first conductivity-type semiconductor layer 231 is an n-type semiconductor layer, for example, Si, Ge, Sn, Se, Te, or the like may be included as the n-type impurity.

제1 도전형 반도체층(131)상에는 활성층(132)이 형성될 수 있다. 활성층(132)은 전자와 정공이 재결합되는 영역으로, 전자와 정공이 재결합함에 따라 낮은 에너지 준위로 천이하며, 그에 상응하는 파장을 가지는 빛을 생성할 수 있다.The active layer 132 may be formed on the first conductive semiconductor layer 131. The active layer 132 is a region where electrons and holes are recombined. The active layer 132 transitions to a low energy level as the electrons and holes recombine, and may generate light having a corresponding wavelength.

활성층(132)은 예를 들어, InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 가지는 반도체 재료를 포함하여 형성할 수 있으며, 단일 양자 우물 구조 또는 다중 양자 우물 구조(MQW: Multi Quantum Well)로 형성될 수 있다. The active layer 132 is, for example, including a semiconductor material having a compositional formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1) It may be formed, and may be formed of a single quantum well structure or a multi quantum well structure (MQW).

따라서, 더 많은 전자가 양자우물층의 낮은 에너지 준위로 모이게 되며, 그 결과 전자와 정공의 재결합 확률이 증가 되어 발광효과가 향상될 수 있다. 또한, 양자선(Quantum wire)구조 또는 양자점(Quantum dot)구조를 포함할 수도 있다. Therefore, more electrons are collected at the lower energy level of the quantum well layer, and as a result, the probability of recombination of electrons and holes can be increased, thereby improving the light emitting effect. In addition, a quantum wire structure or a quantum dot structure may be included.

활성층(132)상에는 제2 도전형 반도체층(133)이 형성될 수 있다. 제2 도전형 반도체층(133)은 p형 반도체층으로 구현되어, 활성층(132)에 정공을 주입할 수 있다. 예를 들어 p형 반도체층은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN 등에서 선택될 수 있으며, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등의 p형 불순물로 도핑될 수 있다. The second conductivity type semiconductor layer 133 may be formed on the active layer 132. The second conductive semiconductor layer 133 may be implemented as a p-type semiconductor layer to inject holes into the active layer 132. For example, the p-type semiconductor layer is a semiconductor material having a compositional formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1), for example It may be selected from GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, and the like, and may be doped with p-type impurities such as Mg, Zn, Ca, Sr, and Ba.

한편, 상술한 제1 도전형 반도체층(131), 활성층(132), 제2 도전형 반도체층(133)은 유기금속 화학 증착법(MOCVD; Metal Organic Chemical Vapor Deposition), 화학 증착법(CVD; Chemical Vapor Deposition), 플라즈마 화학 증착법(PECVD; Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition), 분자선 성장법(MBE; Molecular Beam Epitaxy), 수소화물 기상 성장법(HVPE; Hydride Vapor Phase Epitaxy), 스퍼터링(Sputtering) 등의 방법을 이용하여 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first conductive semiconductor layer 131, the active layer 132, and the second conductive semiconductor layer 133 may be formed of metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) or chemical vapor deposition (CVD). Deposition), Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD), Molecular Beam Epitaxy (MBE), Hydride Vapor Phase Epitaxy (HVPE), Sputtering It may be formed using, but is not limited thereto.

제2 도전형 반도체층(133) 상에는 투명전도층(140)이 형성될 수 있다.The transparent conductive layer 140 may be formed on the second conductive semiconductor layer 133.

투명전도층(140)은 제2 도전형 반도체층(133) 상에 형성되어, 전류가 제2 도전형 반도체층(133) 상에 균일하게 확산되도록 한다. 전류가 제2 도전형 반도체층(133) 상에 균일하게 분포되면 활성층(132)에서도 균일하게 광발생이 가능하여 광발생효율이 증가하게 된다. The transparent conductive layer 140 is formed on the second conductive semiconductor layer 133 so that the current is uniformly diffused on the second conductive semiconductor layer 133. When the current is uniformly distributed on the second conductivity type semiconductor layer 133, light may be generated uniformly in the active layer 132, thereby increasing the light generation efficiency.

투명전도층(140)은 전류를 확산시킬 수 있도록 도전성이 있으면서 투명한 물질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 산화인듐주석(ITO, Indium Tin Oxide), 알루미늄산화아연(AZO, aluminum zinc oxide), 인듐 아연 산화물(IZO, Indium Zinc Oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 또는 Ni/IrOx/Au/ITO 중 적어도 하나로 형성될 수 있다. 다만 이에 한정되는 것은 아니다.The transparent conductive layer 140 may be formed of a transparent material while being conductive to diffuse current. For example, indium tin oxide (ITO), aluminum zinc oxide (AZO), indium zinc oxide (IZO), indium zinc tin oxide (IZTO), and indium aluminum zinc (AZO) oxide), indium gallium zinc oxide (IGZO), indium gallium tin oxide (IGTO), antimony tin oxide (ATO), gallium zinc oxide (GZO), IrOx, RuOx, RuOx / ITO, Ni / IrOx / Au, or Ni / It may be formed of at least one of IrOx / Au / ITO. However, it is not limited thereto.

투명전도층(140)의 두께는 600 내지 2500Å일 수 있다. 투명전도층(140)의 두께가 600Å보다 얇으면, 전류 확산 효율이 떨어지며, 투명전도층(140)의 두께가 2500Å보다 두꺼우면, 활성층에서 발생한 빛의 투과율을 저하시킨다.The thickness of the transparent conductive layer 140 may be 600 to 2500 kPa. If the thickness of the transparent conductive layer 140 is thinner than 600 mA, the current diffusion efficiency is lowered. If the thickness of the transparent conductive layer 140 is thicker than 2500 kV, the transmittance of light generated in the active layer is reduced.

또한, 투명전도층(140)은 소정깊이로 식각된 오목부(145)를 포함할 수 있다. 상기 오목부(145)에는 가지전극(152)이 배치될 수 있으며, 이에 대해서는 후술하기로 한다.In addition, the transparent conductive layer 140 may include a recess 145 etched to a predetermined depth. The branch electrode 152 may be disposed in the recess 145, which will be described later.

다시, 도 1a를 참조하면, 제1 도전형 반도체층(131) 상에는 제1 전극(160)이 형성될 수 있고, 투명전도층(140) 상에는 제2 전극(150)이 형성될 수 있으며, 제2 전극(150)은 전극패드(151) 및 가지전극(152)을 포함할 수 있다.Referring again to FIG. 1A, a first electrode 160 may be formed on the first conductive semiconductor layer 131, and a second electrode 150 may be formed on the transparent conductive layer 140. The second electrode 150 may include an electrode pad 151 and a branch electrode 152.

또한, 제2 도전형 반도체층(133)부터 제1 도전형 반도체층(131)의 일부분까지 메사 식각함으로써, 제1 전극(160)을 형성할 수 있는 공간을 확보할 수 있으며, 제1 도전형 반도체층(131) 표면의 식각되어 노출된 영역에 제1 전극(160)을 형성할 수 있다. Further, by mesa etching from the second conductive semiconductor layer 133 to a part of the first conductive semiconductor layer 131, a space for forming the first electrode 160 can be secured, and the first conductive type can be secured. The first electrode 160 may be formed in an etched and exposed area of the surface of the semiconductor layer 131.

제2 전극(150)은 외부 전원과 연결되는 전극패드(151) 및 전류 분산을 위한 가지전극(152)을 포함하고, 전극패드(151) 및 가지전극(152)은 투명전극층(140) 상에 형성될 수 있다.The second electrode 150 includes an electrode pad 151 connected to an external power source and a branch electrode 152 for dispersing current, and the electrode pad 151 and the branch electrode 152 are formed on the transparent electrode layer 140. Can be formed.

전극패드(151)는 투명전도층(140)을 관통하여, 제2 도전형 반도체층(133)에 접하도록 배치될 수 있으며, 가지전극(152)은 투명전도층(140)의 오목부(145)에 배치될 수 있다.The electrode pad 151 may be disposed to contact the second conductive semiconductor layer 133 by penetrating the transparent conductive layer 140, and the branch electrode 152 may have a recess 145 of the transparent conductive layer 140. ) May be disposed.

이때, 오목부(145)의 깊이는 500 내지 2000Å일 수 있다. 오목부(145)의 깊이가 500Å보다 얕으면, 가지전극(152)이 오목부(145)에 배치될 때, 가지전극(152)이 투명전도층(140)과 분리되지 않도록 결합하는 힘이 약해지고, 반면에, 오목부(145)의 깊이가 2000Å보다 깊으면, 투명전도층(140)의 두께를 고려할 때, 오목부(145)가 투명전도층을 관통하여, 가지전극(152)이 제2 도전형 반도체층(133)과 접할 수 있다.At this time, the depth of the recess 145 may be 500 to 2000 500. If the depth of the recess 145 is shallower than 500 mm, when the branch electrode 152 is disposed in the recess 145, the force for coupling the branch electrode 152 so as not to be separated from the transparent conductive layer 140 is weakened. On the other hand, when the depth of the concave portion 145 is deeper than 2000 mm, considering the thickness of the transparent conductive layer 140, the concave portion 145 penetrates through the transparent conductive layer, so that the branch electrode 152 has a second thickness. It may be in contact with the conductive semiconductor layer 133.

또한, 도시하지는 않았지만, 도 1a의 제1 전극(160)도 상기에서 설명한 제2 전극(150)과 같이, 전극패드(미도시) 및 가지전극(미도시)을 포함하도록 형성될 수 있음은 물론이다. In addition, although not shown, the first electrode 160 of FIG. 1A may also be formed to include an electrode pad (not shown) and a branch electrode (not shown), like the second electrode 150 described above. to be.

한편, 제1 전극(160), 전극패드(151) 및 가지전극(152)은 전도성 물질로 형성될 수 있으며, 예를 들어 인듐(In), 코발트(Co), 실리콘(Si), 게르마늄(Ge), 금(Au), 팔라듐(Pd), 백금(Pt), 루테늄(Ru), 레늄(Re), 마그네슘(Mg), 아연(Zn), 하프늄(Hf), 탄탈(Ta), 로듐(Rh), 이리듐(Ir), 텅스텐(W), 티타늄(Ti), 은(Ag), 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo), 니오브(Nb), 알루미늄(Al), 니켈(Ni) 및 구리(Cu) 중에서 선택된 어느 하나로 형성하거나 둘 이상의 합금으로 형성할 수 있으며, 서로 다른 둘 이상의 물질을 적층하여 형성할 수 있다.The first electrode 160, the electrode pad 151, and the branch electrode 152 may be formed of a conductive material, for example, indium (In), cobalt (Co), silicon (Si), and germanium (Ge). ), Gold (Au), palladium (Pd), platinum (Pt), ruthenium (Ru), rhenium (Re), magnesium (Mg), zinc (Zn), hafnium (Hf), tantalum (Ta), rhodium (Rh) ), Iridium (Ir), tungsten (W), titanium (Ti), silver (Ag), chromium (Cr), molybdenum (Mo), niobium (Nb), aluminum (Al), nickel (Ni) and copper (Cu) It may be formed of any one selected from) or two or more alloys, it may be formed by stacking two or more different materials.

도 2는 도 1의 발광소자의 제2 전극의 다양한 실시예를 나타내는 도이다.2 is a diagram illustrating various embodiments of a second electrode of the light emitting device of FIG. 1.

도 2의 (a) 및 (b)를 참조하면, 가지전극(152)이 배치되는 오목부(145)의 단면형상은 다각형 또는 반구형일 수 있다. 예를 들어, 도 2의 (a)와 같이, 오목부(145)의 폭이 상부로 갈수록 넓어지도록 형성하면, 투명전도층(140)과 가지전극(152)이 접하는 면적이 증가하여, 투명전도층(140)과 가지전극(152) 사이의 결합력을 증가시킬 수 있다. Referring to FIGS. 2A and 2B, the cross-sectional shape of the recess 145 in which the branch electrode 152 is disposed may be polygonal or hemispherical. For example, as shown in FIG. 2A, when the width of the concave portion 145 is formed to become wider toward the upper portion, an area in which the transparent conductive layer 140 and the branch electrode 152 are in contact with each other increases, thereby providing transparent conductivity. Cohesion between the layer 140 and the branch electrode 152 may be increased.

또한, 도 2의 (b)와 같이, 오목부(145)의 표면이 곡면인 경우에도, 상기와 같은 이유로 투명전도층(140)과 가지전극(152) 사이의 결합력을 증가시킬 수 있다.In addition, as shown in FIG. 2B, even when the surface of the recess 145 is curved, the bonding force between the transparent conductive layer 140 and the branch electrode 152 may be increased for the same reason as described above.

한편, 전극패드(151)도 도 2의 (a) 및 (b)와 같이, 투명전극층(140)과 접하는 전극 영역의 폭을 상부로 갈수록 넓어지도록 형성하여, 결합력을 증가시킬 수 있다.Meanwhile, as shown in FIGS. 2A and 2B, the electrode pad 151 may be formed to increase the width of the electrode region in contact with the transparent electrode layer 140 toward the upper portion, thereby increasing the bonding force.

도 3은 실시예에 따른 발광소자의 단면을 나타내는 도이다.3 is a cross-sectional view of a light emitting device according to an embodiment.

도 3을 참조하면, 발광소자(200)는 성장기판(210), 버퍼층(220), 제1 도전형 반도체층(231), 활성층(232), 제2 도전형 반도체층(233), 제1 투명전도층(241), 전극(250)을 포함할 수 있으며, 전극(250)은 전극패드(251) 및 가지전극(252)을 포함할 수 있다. 한편, 도 1의 (b)와 비교하여, 제2 투명전도층(242)을 더 포함할 수 있다. 이하, 동일한 구성에 대해서는 설명을 생략하고, 차이점을 중심으로 설명하기로 한다.Referring to FIG. 3, the light emitting device 200 may include a growth substrate 210, a buffer layer 220, a first conductive semiconductor layer 231, an active layer 232, a second conductive semiconductor layer 233, and a first substrate. The transparent conductive layer 241 and the electrode 250 may be included, and the electrode 250 may include an electrode pad 251 and a branch electrode 252. On the other hand, as compared to Figure 1 (b), it may further include a second transparent conductive layer 242. Hereinafter, the description of the same configuration will be omitted, and will be described mainly for the difference.

제2 투명전도층(242)은 제1 투명전도층(241), 가지전극(252) 및 전극패드(251) 상에 배치될 수 있다.The second transparent conductive layer 242 may be disposed on the first transparent conductive layer 241, the branch electrode 252, and the electrode pad 251.

제2 투명전도층(242)은 가지전극(252)의 상면 전체를 덮도록 형성할 수 있으며, 전극패드(251)의 상면 일부를 노출시키는 개구부를 포함할 수 있다. 이때, 상기 개구부를 통하여, 외부 전원으로부터 전원을 공급받을 수 있다.The second transparent conductive layer 242 may be formed to cover the entire upper surface of the branch electrode 252, and may include an opening that exposes a part of the upper surface of the electrode pad 251. In this case, power may be supplied from an external power source through the opening.

제2 투명전극층(242)은 제1 투명전극층(241)보다 얇게 형성될 수 있으며, 제1 투명전극층(241)과 동일한 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 산화인듐주석(ITO, Indium Tin Oxide), 알루미늄산화아연(AZO, aluminum zinc oxide), 인듐 아연 산화물(IZO, Indium Zinc Oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 또는 Ni/IrOx/Au/ITO 중 적어도 하나로 형성될 수 있다. 다만 이에 한정되는 것은 아니다.The second transparent electrode layer 242 may be formed thinner than the first transparent electrode layer 241 and may include the same material as the first transparent electrode layer 241. For example, indium tin oxide (ITO), aluminum zinc oxide (AZO), indium zinc oxide (IZO), indium zinc tin oxide (IZTO), and indium aluminum zinc (AZO) oxide), indium gallium zinc oxide (IGZO), indium gallium tin oxide (IGTO), antimony tin oxide (ATO), gallium zinc oxide (GZO), IrOx, RuOx, RuOx / ITO, Ni / IrOx / Au, or Ni / It may be formed of at least one of IrOx / Au / ITO. However, it is not limited thereto.

상기와 같이, 제2 투명전극층(242)을 형성하면, 가지전극(252) 및 전극패드(251)와 제1 투명전극층(241) 사이의 결합력을 증가시켜, 필링 현상을 방지할 수 있다. 또한, 제2 투명전극층(242)을 유전물질로 형성하게 되면, 전극(250)에 의해 빛이 흡수되는 것을 방지할 수 있어, 발광소자의 발광효율을 향상시킬 수 있다.As described above, when the second transparent electrode layer 242 is formed, the bonding force between the branch electrode 252 and the electrode pad 251 and the first transparent electrode layer 241 may be increased to prevent the peeling phenomenon. In addition, when the second transparent electrode layer 242 is formed of a dielectric material, light may be prevented from being absorbed by the electrode 250, thereby improving luminous efficiency of the light emitting device.

도 4는 실시예에 따른 수직형 발광소자의 단면을 나타내는 도이다.4 is a view showing a cross section of a vertical light emitting device according to the embodiment.

도 4를 참조하면, 실시예에 따른 발광소자(300)는 지지기판(310), 전도층(370), 제1 도전형 반도체층(331), 활성층(332), 제2 도전형 반도체층(333), 제2 전극층(360), 제1 전극(350) 및 투명전도층(340)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 4, the light emitting device 300 according to the embodiment includes a support substrate 310, a conductive layer 370, a first conductive semiconductor layer 331, an active layer 332, and a second conductive semiconductor layer ( 333, the second electrode layer 360, the first electrode 350, and the transparent conductive layer 340.

도 1의 실시예와 비교하면, 지지기판(310), 전도층(370), 제2 전극층(360)을 더 포함하는 차이가 있다. 이하 동일한 구성요소에 대한 설명은 생략한다.Compared with the embodiment of FIG. 1, there is a difference that further includes a support substrate 310, a conductive layer 370, and a second electrode layer 360. Description of the same components will be omitted below.

지지기판(310)은 전도성 물질로 형성 될 수 있으며, 예를 들어, 금(Au), 니켈(Ni), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo), 구리(Cu), 알루미늄(Al), 탄탈(Ta), 은(Ag), 백금(Pt), 크롬(Cr), Si, Ge, GaAs, ZnO, GaN, Ga2O3 또는 SiC, SiGe, CuW 중에서 선택된 어느 하나로 형성하거나 둘 이상의 합금으로 형성할 수 있으며, 서로 다른 둘 이상의 물질을 적층하여 형성할 수 있다.Support substrate 310 may be formed of a conductive material, for example, gold (Au), nickel (Ni), tungsten (W), molybdenum (Mo), copper (Cu), aluminum (Al), tantalum ( Ta), silver (Ag), platinum (Pt), chromium (Cr), Si, Ge, GaAs, ZnO, GaN, Ga 2 O 3 or SiC, SiGe, CuW, or any one of two or more alloys It may be formed by stacking two or more different materials.

이와 같은 지지기판(310)은 발광소자(300)에서 발생하는 열의 방출을 용이하게 하여 발광소자(300)의 열적 안정성을 향상시킬 수 있다.The support substrate 310 may facilitate the emission of heat generated from the light emitting device 300 to improve the thermal stability of the light emitting device 300.

지지기판(310) 상으로는 지지기판(310)과 전도층(370)의 결합을 위하여 결합층(미도시)을 형성할 수 있다. 결합층(미도시)은 예를 들어, 금(Au), 주석(Sn), 인듐(In), 은(Ag), 니켈(Ni), 나이오븀(Nb) 및 구리(Cu)로 구성되는 군으로부터 선택되는 물질 또는 이들의 합금으로 형성될 수 있다.A coupling layer (not shown) may be formed on the support substrate 310 to couple the support substrate 310 to the conductive layer 370. The bonding layer (not shown) is, for example, a group consisting of gold (Au), tin (Sn), indium (In), silver (Ag), nickel (Ni), niobium (Nb), and copper (Cu). It may be formed of a material selected from or alloys thereof.

전도층(370)은 니켈(Ni-nickel), 백금(Pt), 티탄(Ti), 텅스텐(W), 바나듐(V), 철(Fe), 몰리브덴(Mo)로 구성되는 군으로부터 선택되는 물질 또는 이들이 선택적으로 포함된 합금으로 이루어질 수 있다. The conductive layer 370 is a material selected from the group consisting of nickel (Ni-nickel), platinum (Pt), titanium (Ti), tungsten (W), vanadium (V), iron (Fe), and molybdenum (Mo). Or they may be made of an alloy optionally included.

전도층(370)은 스퍼터링 증착 방법을 사용하여 형성할 수 있다. 스퍼터링 증착 방법을 사용할 경우, 이온화된 원자를 전기장에 의해 가속시켜, 전도층(370)의 소스 재료(source material)에 충돌시키면, 소스 재료의 원자들이 튀어나와 증착된다. 또한, 실시예에 따라 전기 화학적인 금속 증착 방법이나, 유테틱 메탈을 이용한 본딩 방법 등을 사용할 수도 있다. 실시예에 따라 전도층(370)은 복수의 레이어로 형성될 수도 있다. The conductive layer 370 can be formed using a sputter deposition method. When using a sputtering deposition method, when ionized atoms are accelerated by an electric field and collide with the source material of the conductive layer 370, atoms of the source material are ejected and deposited. In addition, according to the embodiment, an electrochemical metal deposition method, a bonding method using a eutectic metal, or the like may be used. In some embodiments, the conductive layer 370 may be formed of a plurality of layers.

전도층(370)은 발광 소자의 제조 공정상 발생할 수 있는 기계적 손상(깨짐 또는 박리 등)을 최소화할 수 있는 효과가 있다. The conductive layer 370 has an effect of minimizing mechanical damage (breaking or peeling, etc.) that may occur in the manufacturing process of the light emitting device.

또한, 전도층(370)은 지지기판(310) 또는 결합층(미도시)을 구성하는 금속 물질이 발광 구조물(330)으로 확산되는 것을 방지하는 효과가 있다.In addition, the conductive layer 370 has an effect of preventing the metal material constituting the support substrate 310 or the bonding layer (not shown) from being diffused into the light emitting structure 330.

다시 도 4를 참조하면, 제2 전극층(360) 은 금속과 투광성 전도층을 선택적으로 사용할 수 있으며, 발광구조물(330)에 전원을 제공한다. 제2 전극층(360)은 전도성 재질을 포함하여 형성될 수 있다. 예를 들면, 니켈(Ni), 백금(Pt), 루테늄(Ru), 이리듐(Ir), 로듐(Rh), 탄탈(Ta), 몰리브덴(Mo), 티탄(Ti), 은(Ag), 텅스텐(W), 구리(Cu), 크롬(Cr), 팔라듐(Pd), 바나듐(V), 코발트(Co), 니오브(Nb), 지르코늄(Zr), 산화인듐주석(ITO, Indium Tin Oxide), 알루미늄산화아연(AZO, aluminum zinc oxide), 인듐 아연 산화물(IZO, Indium Zinc Oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide) ), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 또는 Ni/IrOx/Au/ITO 중 적어도 하나로 형성될 수 있다. 다만 이에 한정되는 것은 아니다.Referring back to FIG. 4, the second electrode layer 360 may selectively use a metal and a transparent conductive layer, and provide power to the light emitting structure 330. The second electrode layer 360 may include a conductive material. For example, nickel (Ni), platinum (Pt), ruthenium (Ru), iridium (Ir), rhodium (Rh), tantalum (Ta), molybdenum (Mo), titanium (Ti), silver (Ag), tungsten (W), copper (Cu), chromium (Cr), palladium (Pd), vanadium (V), cobalt (Co), niobium (Nb), zirconium (Zr), indium tin oxide (ITO), Aluminum zinc oxide (AZO), indium zinc oxide (IZO), indium zinc tin oxide (IZTO), indium aluminum zinc oxide (IAZO), indium gallium zinc oxide (IGZO), indium gallium (IGTO) tin oxide), antimony tin oxide (ATO), gallium zinc oxide (GZO), IrO x , RuO x , RuO x / ITO, Ni / IrO x / Au, or Ni / IrO x / Au / ITO Can be. However, it is not limited thereto.

또한, 제2 전극층(360)은 오믹 특성을 갖는 반사 전극 재료로 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다. In addition, the second electrode layer 360 may be formed of a single layer or multiple layers of a reflective electrode material having ohmic characteristics.

제2 전극층(360)은 오믹층(361)/반사층(362)/본딩층(미도시)의 구조이거나, 오믹층(361)/반사층(362)의 적층 구조이거나, 반사층(오믹 포함)(362)/본딩층(미도시)의 구조일 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. The second electrode layer 360 is a structure of an ohmic layer 361 / reflection layer 362 / bonding layer (not shown), a laminated structure of the ohmic layer 361 / reflection layer 362, or a reflective layer (including ohmic) 362. ) / Bonding layer (not shown), but is not limited thereto.

오믹층(361)은 발광 구조물(예컨대, 제2 도전형 반도체층(333))의 하면에 오믹 접촉되며, 층 또는 복수의 패턴으로 형성될 수 있다. 상기 오믹층(361)은 투광성 전도층과 금속을 선택적으로 사용할 수 있으며, 예를 들어, ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IZON(IZO Nitride), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 및 Ni/IrOx/Au/ITO, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Sn, In, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하여 형성될 수 있으며, 이러한 재료에 한정되는 않는다. 그리고, 상기 오믹층(361)은 스퍼터링법이나 전자빔 증착법에 의하여 형성될 수 있다. 반사층(362)은 발광구조물(330)의 활성층(332)에서 발생된 광 중 일부가 지지기판(310) 방향으로 향하는 경우, 발광소자(300)의 상부 방향으로 향하도록 광을 반사시켜 발광소자(300)의 광 추출 효율을 향상시킬 수 있다.The ohmic layer 361 is in ohmic contact with a lower surface of the light emitting structure (eg, the second conductivity-type semiconductor layer 333), and may be formed in a layer or a plurality of patterns. The ohmic layer 361 may selectively use a light-transmitting conductive layer and a metal. For example, indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), indium zinc tin oxide (IZTO), and indium aluminum zinc (AZO) oxide), IGZO (indium gallium zinc oxide), IGTO (indium gallium tin oxide), AZO (aluminum zinc oxide), ATO (antimony tin oxide), GZO (gallium zinc oxide), IZON (IZO Nitride), AGZO (Al- Ga ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx / ITO, Ni / IrOx / Au, and Ni / IrOx / Au / ITO, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh , Pd, Ir, Sn, In, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, can be formed including at least one of Hf, and is not limited to these materials. The ohmic layer 361 may be formed by sputtering or electron beam deposition. The reflective layer 362 reflects the light toward the upper direction of the light emitting device 300 when some of the light generated from the active layer 332 of the light emitting structure 330 is directed toward the support substrate 310. The light extraction efficiency of 300 may be improved.

반사층(362)은 알루미늄(Al), 은(Ag), 니켈(Ni), 백금(Pt), 로듐(Rh), 혹은 Al이나 Ag이나 Pt나 Rh를 포함하는 합금을 포함하는 금속층으로 이루어지거나, 상기 금속 물질과 IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO 등의 투광성 전도성 물질을 이용하여 다층으로 형성할 수 있다. 또한 반사층(362)은 IZO/Ni, AZO/Ag, IZO/Ag/Ni, AZO/Ag/Ni 등으로 적층할 수 있다. 또한 반사층(362)을 발광 구조물(예컨대, 제2 도전형 반도체층(333))과 오믹 접촉하는 물질로 형성할 경우, 오믹층(361)은 별도로 형성하지 않을 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The reflective layer 362 may be formed of a metal layer including aluminum (Al), silver (Ag), nickel (Ni), platinum (Pt), rhodium (Rh), or an alloy containing Al, Ag, Pt, or Rh, It may be formed in multiple layers using the metal material and light transmitting conductive materials such as IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, and ATO. In addition, the reflective layer 362 may be laminated with IZO / Ni, AZO / Ag, IZO / Ag / Ni, AZO / Ag / Ni, or the like. In addition, when the reflective layer 362 is formed of a material in ohmic contact with the light emitting structure (eg, the second conductivity type semiconductor layer 333), the ohmic layer 361 may not be separately formed, but is not limited thereto.

반사층(362)과 오믹층(361)은 폭 및 길이가 동일한 것으로 설명하지만, 폭 및 길이 중 적어도 하나가 상이할 수 있으며 이에 한정을 두지 않는다.Although the reflective layer 362 and the ohmic layer 361 are described as having the same width and length, at least one of the width and the length may be different, but is not limited thereto.

본딩층(미도시)은 배리어 금속(barrier metal), 또는 본딩 금속, 예를 들어, 티탄(Ti), 금(Au), 주석(Sn), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 갈륨(Ga), 인듐(In), 비스무트(Bi), 구리(Cu), 은(Ag) 또는 탄탈(Ta) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The bonding layer (not shown) may be a barrier metal or a bonding metal, for example, titanium (Ti), gold (Au), tin (Sn), nickel (Ni), chromium (Cr), and gallium (Ga). ), Indium (In), bismuth (Bi), copper (Cu), silver (Ag) or tantalum (Ta).

제1 투명전도층(341)은 제1 도전형 반도체층(331) 상에 형성될 수 있으며, 제1 전극(350)은 제1 투명전도층(341)을 관통하여, 제1 도전형 반도체층(331)에 접하도록 형성될 수 있다.The first transparent conductive layer 341 may be formed on the first conductive semiconductor layer 331, and the first electrode 350 penetrates through the first transparent conductive layer 341 to form the first conductive semiconductor layer. It may be formed to contact the 331.

또한, 제2 투명전도층(342)은 제1 전극(350)을 덮도록 형성할 수 있으며, 제1 전극(350) 상면 일부가 노출되도록 개구부를 포함할 수 있다.In addition, the second transparent conductive layer 342 may be formed to cover the first electrode 350, and may include an opening to expose a portion of the upper surface of the first electrode 350.

도 5 내지 도 10은 실시예에 따른 발광소자의 제조공정을 나타내는 도이다.5 to 10 are views showing a manufacturing process of the light emitting device according to the embodiment.

도 5를 참조하면, 먼저, 성장기판(110) 상에 순차적으로 버퍼층(120), 제 1도전형 반도체층(131), 활성층(132) 및 제2 도전형 반도체층(133)이 형성된다.Referring to FIG. 5, first, the buffer layer 120, the first conductive semiconductor layer 131, the active layer 132, and the second conductive semiconductor layer 133 are sequentially formed on the growth substrate 110.

성장기판(110)은 사파이어 기판(Al203), GaN, SiC, ZnO, Si, GaP, InP, 그리고 GaAs 등으로 이루어진 군에서 선택될 수 있다.The growth substrate 110 may be selected from the group consisting of sapphire substrate (Al 2 O 3 ), GaN, SiC, ZnO, Si, GaP, InP, and GaAs.

버퍼층(120)은 3족과 5족 원소가 결합된 형태이거나 GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN 중에서 어느 하나로 이루어질 수 있으며, 도펀트가 도핑될 수도 있다. The buffer layer 120 may be formed of a combination of Group 3 and Group 5 elements, or may be formed of any one of GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, and AlInN, and dopants may be doped.

이러한 성장기판(110) 또는 버퍼층(120) 위에는 언도프드 반도체(미도시)층이 형성될 수 있으며, 버퍼층(120)과 언도프드 도전형 반도체층(미도시) 중 어느 한 층 또는 두 층 모두 형성하거나 형성하지 않을 수도 있으며, 이러한 구조에 대해 한정되지는 않는다.An undoped semiconductor layer may be formed on the growth substrate 110 or the buffer layer 120, and either or both of the buffer layer 120 and the undoped conductive semiconductor layer (not shown) are formed. It may or may not be formed and is not limited to this structure.

성장기판(110)상에 제1 도전형 반도체층(131), 활성층(132) 및 제2 도전형 반도체층(133)을 순차적으로 형성할 수 있다.The first conductive semiconductor layer 131, the active layer 132, and the second conductive semiconductor layer 133 may be sequentially formed on the growth substrate 110.

제1 도전형 반도체층(131)은 챔버에 트리메틸 갈륨 가스(TMGa), 암모니아 가스(NH3), 질소 가스(N2) 및 실리콘(Si)과 같은 N형 불순물을 포함하는 실란 가스(SiH4)를 주입하여 형성할 수 있다.The first conductive semiconductor layer 131 injects silane gas (SiH4) containing N-type impurities such as trimethyl gallium gas (TMGa), ammonia gas (NH3), nitrogen gas (N2), and silicon (Si) into the chamber. Can be formed.

활성층(132)은 트리메틸 갈륨 가스(TMGa) 및 트리메틸 인듐 가스(TMIn)를 주입하면서 질소 분위기에서 성장시킬 수 있으며, 단일 양자 우물 구조, 다중 양자 우물 구조(MQW: Multi Quantum Well), 양자 선(Quantum-Wire) 구조, 또는 양자 점(Quantum Dot) 구조 중 적어도 어느 하나로 형성될 수 있다.The active layer 132 may be grown in a nitrogen atmosphere while injecting trimethyl gallium gas (TMGa) and trimethyl indium gas (TMIn), and a single quantum well structure, a multi quantum well structure (MQW), and a quantum line It may be formed of at least one of a wire structure or a quantum dot structure.

제2 도전형 반도체층(133)은 챔버에 960? 이상의 고온에서 수소를 캐리어 가스로 하여 트리메틸 갈륨 가스(TMGa), 트리메틸 알루미늄 가스(TMAl), 비세틸 사이클로 펜타디에닐 마그네슘(EtCp2Mg){Mg(C2H5C5H4)2} 등을 주입하여 성장시킬 수 있으나, 이에 한정하는 것은 아니다.The second conductivity-type semiconductor layer 133 is formed in a chamber of 960? At high temperatures, hydrogen may be used as a carrier gas to inject trimethyl gallium gas (TMGa), trimethyl aluminum gas (TMAl), bicetyl cyclopentadienyl magnesium (EtCp2Mg) {Mg (C2H5C5H4) 2}, or the like. It is not limited.

이후, 수평형 발광소자와 수직형 발광소자의 제조공정이 달라진다.Then, the manufacturing process of the horizontal light emitting device and the vertical light emitting device is different.

도 6 및 7은 도 5에 나타낸 공정이후에 수평형 발광소자의 제조공정을 나타내는 도이다.6 and 7 illustrate a manufacturing process of the horizontal light emitting device after the process shown in FIG. 5.

도 6 및 7을 참조하면, 제2 도전형 반도체층(133) 상에 투명전도층(140)을 형성할 수 있으며, 투명전도층(140)을 500 내지 2000Å 깊이만큼 식각하여, 오목부를 형성할 수 있다. 상기 오목부(145)에는 가지전극(152)을 형성할 수 있고, 투명전도층(140)을 관통하는 전극패드(151)를 형성할 수 있다.6 and 7, the transparent conductive layer 140 may be formed on the second conductive semiconductor layer 133, and the transparent conductive layer 140 may be etched by a depth of 500 to 2000 μs to form a recess. Can be. A branch electrode 152 may be formed in the concave portion 145, and an electrode pad 151 may pass through the transparent conductive layer 140.

한편, 도면에는 도시하지 않았지만, 제2 도전형 반도체층(133)에서 제1 도전형 반도체층(131)의 일부분까지 RIE(Reactive Ion Etching)방식으로 메사(Mesa) 식각하여, 제1 전극을 형성할 수 있다. Although not shown in the drawings, a first electrode is formed by etching a mesa from the second conductive semiconductor layer 133 to a portion of the first conductive semiconductor layer 131 by a reactive ion etching (RIE) method. can do.

도 8 내지 도 10은 도 5에 나타낸 공정이후에 수직형 발광소자의 제조공정을 나타내는 도이다.8 to 10 are views showing a manufacturing process of the vertical light emitting device after the process shown in FIG.

도 8을 참조하면, 제2 도전형 반도체층(133)상에는 제2 전극층(360)이 형성될 수 있으며, 전도층(370)이 배치된 지지기판(310)이 본딩 접착될 수 있다. 이때 제1 도전형 반도체층(131) 상에 배치된 성장기판(110)을 분리시킬 수 있다.Referring to FIG. 8, a second electrode layer 360 may be formed on the second conductive semiconductor layer 133, and a support substrate 310 on which the conductive layer 370 is disposed may be bonded and bonded. In this case, the growth substrate 110 disposed on the first conductivity type semiconductor layer 131 may be separated.

이때, 성장기판(110)은 물리적 또는/및 화학적 방법으로 제거할 수 있으며, 물리적 방법은 일 예로 LLO(laser lift off) 방식으로 제거할 수 있다.In this case, the growth substrate 110 may be removed by a physical or / and chemical method, and the physical method may be removed by, for example, a laser lift off (LLO) method.

한편, 성장기판(110)의 제거 후 버퍼층(120)을 제거해 줄 수 있다. 이 때 버퍼층(120)은 건식 또는 습식 식각 방법, 또는 연마 공정을 통해 제거할 수 있다.Meanwhile, the buffer layer 120 may be removed after the growth substrate 110 is removed. In this case, the buffer layer 120 may be removed through a dry or wet etching method or a polishing process.

또한, 도시하지는 않았으나, 발광 구조물(130)의 외곽부 영역에 대해 에칭을 수행하여 경사를 가지게 할 수 있으며, 발광구조물(130)의 외주면 일부 또는 전체 영역에 패시베이션(미도시)이 형성될 수 있고, 패시베이션(미도시)은 절연성 재질로 형성될 수 있다.In addition, although not shown, the outer area of the light emitting structure 130 may be etched to have an inclination, and a passivation (not shown) may be formed on a part or the entire area of the outer circumferential surface of the light emitting structure 130. The passivation may be made of an insulating material.

도 9 및 10을 참조하면, 제1 도전형 반도체층(131) 상에는 제1 투명전극층(341)을 형성할 수 있으며, 제1 투명전극층(341)을 관통하여, 제1 도전형 반도체층(131)과 접하도록, 제1 전극(350)을 형성할 수 있다.9 and 10, a first transparent electrode layer 341 may be formed on the first conductive semiconductor layer 131, penetrating through the first transparent electrode layer 341, and forming a first conductive semiconductor layer 131. ), The first electrode 350 may be formed.

또한, 제1 투명전도층(341) 및 제1 전극(350)을 덮도록 제2 투명전도층(342)을 형성할 수 있으며, 제2 투명전도층(342)은 제1 전극(350) 상면 일부가 노출되도록 개구부를 포함할 수 있다.In addition, a second transparent conductive layer 342 may be formed to cover the first transparent conductive layer 341 and the first electrode 350, and the second transparent conductive layer 342 may have an upper surface of the first electrode 350. It may include an opening to expose a portion.

도 5 내지 도 10에 나타낸 공정 순서에서 적어도 하나의 공정은 순서가 바뀔 수 있으며 이에 한정을 두지 않는다.At least one process in the process sequence illustrated in FIGS. 5 to 10 may be reversed, but is not limited thereto.

도 11는 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 발광소자패키지의 단면을 도시한 단면도이다.11 is a cross-sectional view showing a cross section of a light emitting device package including a light emitting device according to the embodiment.

도 11을 참조하면, 실시예에 따른 발광소자패키지(400)는 캐비티가 형성된 몸체(410), 몸체(410)의 캐비티에 실장된 광원부(420) 및 캐비티에 충진되는 봉지재(450)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 11, the light emitting device package 400 according to the embodiment includes a body 410 in which a cavity is formed, a light source unit 420 mounted in a cavity of the body 410, and an encapsulant 450 filled in the cavity. can do.

몸체(410)는 폴리프탈아미드(PPA:Polyphthalamide)와 같은 수지 재질, 실리콘(Si), 알루미늄(Al), 알루미늄 나이트라이드(AlN), 액정폴리머(PSG, photo sensitive glass), 폴리아미드9T(PA9T), 신지오택틱폴리스티렌(SPS), 금속 재질, 사파이어(Al2O3), 베릴륨 옥사이드(BeO), 인쇄회로기판(PCB, Printed Circuit Board), 세라믹 중 적어도 하나로 형성될 수 있다. 몸체(410)는 사출 성형, 에칭 공정 등에 의해 형성될 수 있으나 이에 대해 한정하지는 않는다.The body 410 is made of a resin material such as polyphthalamide (PPA), silicon (Si), aluminum (Al), aluminum nitride (AlN), photosensitive glass (PSG), polyamide 9T (PA9T) ), Neo geotactic polystyrene (SPS), a metal material, sapphire (Al2O3), beryllium oxide (BeO), a printed circuit board (PCB, Printed Circuit Board), it may be formed of at least one. The body 410 may be formed by injection molding, etching, or the like, but is not limited thereto.

광원부(420)는 몸체(410)의 바닥면에 실장되며, 일 예로 광원부(420)는 도 1a 내지 도 10에서 도시하고 설명한 발광소자 중 어느 하나일 수 있다. 발광소자는 예를 들어, 적색, 녹색, 청색, 백색 등의 빛을 방출하는 유색 발광 소자 또는 자외선을 방출하는 UV(Ultra Violet) 발광 소자일 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. 또한, 발광 소자는 한 개 이상 실장될 수 있다.The light source unit 420 may be mounted on the bottom surface of the body 410. For example, the light source unit 420 may be any one of the light emitting devices illustrated and described with reference to FIGS. 1A to 10. The light emitting device may be, for example, a colored light emitting device emitting light of red, green, blue, white, or the like, or an ultraviolet (UV) light emitting device emitting ultraviolet light, but is not limited thereto. In addition, one or more light emitting devices may be mounted.

몸체(410)는 제1 리드프레임(430) 및 제2 리드프레임(440)을 포함할 수 있다. 제1 리드프레임(430) 및 제2 리드프레임(440)은 광원부(420)와 전기적으로 연결되어 광원부(420)에 전원을 공급할 수 있다.The body 410 may include a first lead frame 430 and a second lead frame 440. The first lead frame 430 and the second lead frame 440 may be electrically connected to the light source unit 420 to supply power to the light source unit 420.

또한, 제1 리드프레임(430) 및 제2 리드프레임(440)은 서로 전기적으로 분리되며, 광원부(420)에서 발생된 빛을 반사시켜 광 효율을 증가시킬 수 있고, 또한 광원부(420)에서 발생된 열을 외부로 배출시킬 수 있다.In addition, the first lead frame 430 and the second lead frame 440 may be electrically separated from each other, and may reflect light generated from the light source unit 420 to increase light efficiency, and may also be generated in the light source unit 420. The waste heat to the outside.

도 11에는 제1 리드프레임(430)과 제2 리드프레임(440) 모두가 와이어(460)에 의해 광원부(420)와 본딩된 것을 도시하나, 이에 한정하지 않으며, 특히 수직형 발광소자의 경우는 제1 리드프레임(430) 및 제2 리드프레임(440) 중 어느 하나가 와이어(460)에 의해 광원부(420)와 본딩될 수 있으며, 플립칩 방식에 의해 와이어(460) 없이 광원부(420)와 전기적으로 연결될 수도 있다.11 illustrates that both the first lead frame 430 and the second lead frame 440 are bonded to the light source unit 420 by the wire 460, but is not limited thereto. In particular, in the case of a vertical light emitting device Any one of the first lead frame 430 and the second lead frame 440 may be bonded to the light source unit 420 by the wire 460, and may be connected to the light source unit 420 without the wire 460 by a flip chip method. It may be electrically connected.

이러한 제1 리드프레임(430) 및 제2 리드프레임(440)은 금속 재질, 예를 들어, 티타늄(Ti), 구리(Cu), 니켈(Ni), 금(Au), 크롬(Cr), 탄탈늄(Ta), 백금(Pt), 주석(Sn), 은(Ag), 인(P), 알루미늄(Al), 인듐(In), 팔라듐(Pd), 코발트(Co), 실리콘(Si), 게르마늄(Ge), 하프늄(Hf), 루테늄(Ru), 철(Fe) 중에서 하나 이상의 물질 또는 합금을 포함할 수 있다. 또한, 제1 리드프레임(430) 및 제2 리드프레임(440)은 단층 또는 다층 구조를 가지도록 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first lead frame 430 and the second lead frame 440 is a metal material, for example, titanium (Ti), copper (Cu), nickel (Ni), gold (Au), chromium (Cr), tantalum Aluminum (Ta), Platinum (Pt), Tin (Sn), Silver (Ag), Phosphorus (P), Aluminum (Al), Indium (In), Palladium (Pd), Cobalt (Co), Silicon (Si), It may include one or more materials or alloys of germanium (Ge), hafnium (Hf), ruthenium (Ru), iron (Fe). In addition, the first lead frame 430 and the second lead frame 440 may be formed to have a single layer or a multilayer structure, but is not limited thereto.

봉지재(450)는 캐비티에 충진될 수 있으며, 형광체(미도시)를 포함할 수 있다. 봉지재(450)는 투명한 실리콘, 에폭시, 및 기타 수지 재질로 형성될 수 있으며, 캐비티 내에 충진한 후, 이를 자외선 또는 열 경화하는 방식으로 형성될 수 있다. The encapsulant 450 may be filled in the cavity, and may include a phosphor (not shown). The encapsulant 450 may be formed of transparent silicone, epoxy, and other resin materials, and may be formed by filling in a cavity and then ultraviolet or thermal curing.

형광체(미도시)는 광원부(420)에서 방출되는 광의 파장에 따라 종류가 선택되어 발광소자패키지(400)가 백색광을 구현하도록 할 수 있다.The phosphor (not shown) may be selected according to the wavelength of light emitted from the light source unit 420 so that the light emitting device package 400 may implement white light.

봉지재(450)에 포함되어 있는 형광체(미도시)는 광원부(420)에서 방출되는 광의 파장에 따라 청색 발광 형광체, 청록색 발광 형광체, 녹색 발광 형광체, 황녹색 발광 형광체, 황색 발광 형광체, 황적색 발광 형광체, 오렌지색 발광 형광체, 및 적색 발광 형광체중 하나가 적용될 수 있다. Phosphors (not shown) included in the encapsulant 450 may include blue light emitting phosphors, cyan light emitting phosphors, green light emitting phosphors, yellow green light emitting phosphors, yellow light emitting phosphors, and yellow red light emitting phosphors according to wavelengths of light emitted from the light source unit 420. One of orange luminescent phosphor, and red luminescent phosphor can be applied.

즉, 형광체(미도시)는 광원부(420)에서 방출되는 제1 빛을 가지는 광에 의해 여기 되어 제2 빛을 생성할 수 있다. 예를 들어, 광원부(420)가 청색 발광 다이오드이고 형광체(미도시)가 황색 형광체인 경우, 황색 형광체는 청색 빛에 의해 여기되어 황색 빛을 방출할 수 있으며, 청색 발광 다이오드에서 발생한 청색 빛 및 청색 빛에 의해 여기 되어 발생한 황색 빛이 혼색됨에 따라 발광소자패키지(400)는 백색 빛을 제공할 수 있다. That is, the phosphor (not shown) may be excited by the light having the first light emitted from the light source unit 420 to generate the second light. For example, when the light source unit 420 is a blue light emitting diode and the phosphor (not shown) is a yellow phosphor, the yellow phosphor may be excited by blue light to emit yellow light, and blue light and blue generated from the blue light emitting diode As the yellow light generated by being excited by the light is mixed, the light emitting device package 400 may provide white light.

도 12a는 실시예에 따른 발광소자 모듈을 포함하는 조명장치를 도시한 사시도이며, 도 12b는 도 12a의 조명장치의 C -C'단면을 도시한 단면도이다.12A is a perspective view illustrating a lighting apparatus including a light emitting device module according to an embodiment, and FIG. 12B is a cross-sectional view illustrating a cross-sectional view taken along line C-C 'of the lighting apparatus of FIG. 12A.

즉, 도 12b는 도 12a의 조명장치(500)를 길이방향(Z)과 높이방향(X)의 면으로 자르고, 수평방향(Y)으로 바라본 단면도이다.That is, FIG. 12B is a cross-sectional view of the lighting apparatus 500 of FIG. 12A cut in the plane of the longitudinal direction Z and the height direction X, and viewed in the horizontal direction Y.

도 12a 및 도 12b를 참조하면, 조명장치(500)는 몸체(510), 몸체(510)와 체결되는 커버(530) 및 몸체(510)의 양단에 위치하는 마감캡(550)을 포함할 수 있다.12A and 12B, the lighting apparatus 500 may include a body 510, a cover 530 fastened to the body 510, and a closing cap 550 positioned at both ends of the body 510. have.

몸체(510)의 하부면에는 발광소자 모듈(540)이 체결되며, 몸체(510)는 발광소자 패키지(544)에서 발생한 열이 몸체(510)의 상부면을 통해 외부로 방출할 수 있도록 전도성 및 열발산 효과가 우수한 금속재질로 형성될 수 있고, 이에 한정하지 아니한다.The light emitting device module 540 is fastened to the lower surface of the body 510, and the body 510 is electrically conductive so that heat generated from the light emitting device package 544 can be discharged to the outside through the upper surface of the body 510. The heat dissipation effect may be formed of an excellent metal material, but is not limited thereto.

특히, 발광소자 모듈(540)는 발광소자 패키지(544)를 둘러싸는 밀봉부(미도시)를 포함하여 이물질의 침투가 방지될 수 있어서 신뢰성이 향상될 수 있고, 아울러 신뢰성 있는 조명장치(500)의 구현이 가능해진다.In particular, the light emitting device module 540 may include a sealing part (not shown) surrounding the light emitting device package 544, so that the infiltration of foreign matters may be prevented, so that the reliability may be improved. Implementation of.

발광소자 패키지(544)는 기판(542) 상에 다색, 다열로 실장되어 모듈을 이룰 수 있으며, 동일한 간격으로 실장되거나 또는 필요에 따라서 다양한 이격 거리를 가지고 실장될 수 있어 밝기 등을 조절할 수 있다. 이러한 기판(542)으로 MCPCB(Metal Core PCB) 또는 FR4 재질의 PCB 를 사용할 수 있다.The light emitting device package 544 may be mounted on the substrate 542 in multiple colors and in multiple rows to form a module. The light emitting device package 544 may be mounted at the same interval or may be mounted with various separation distances as necessary to adjust brightness. As the substrate 542, a PCB made of a metal core PCB (MCPCB) or a FR4 material may be used.

커버(530)는 몸체(510)의 하부면을 감싸도록 원형의 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않음은 물론이다.The cover 530 may be formed in a circular shape to surround the lower surface of the body 510, but is not limited thereto.

커버(530)는 내부의 발광소자 모듈(540)을 외부의 이물질 등으로부터 보호한다. 또한, 커버(530)는 발광소자 패키지(544)에서 발생한 광의 눈부심을 방지하고, 외부로 광을 균일하게 방출할 수 있도록 확산입자를 포함할 수 있으며, 또한 커버(530)의 내면 및 외면 중 적어도 어느 한 면에는 프리즘 패턴 등이 형성될 수 있다. 또한 커버(530)의 내면 및 외면 중 적어도 어느 한 면에는 형광체가 도포될 수도 있다. The cover 530 protects the internal light emitting device module 540 from external foreign matters. In addition, the cover 530 may include diffusing particles to prevent glare of the light generated from the light emitting device package 544 and to uniformly emit light to the outside, and may also include at least one of an inner surface and an outer surface of the cover 530. A prism pattern or the like may be formed on either side. In addition, a phosphor may be applied to at least one of an inner surface and an outer surface of the cover 530.

한편, 발광소자 패키지(544)에서 발생하는 광은 커버(530)를 통해 외부로 방출되므로, 커버(530)는 광투과율이 우수하여야 하며, 발광소자 패키지(544)에서 발생하는 열에 견딜 수 있도록 충분한 내열성을 구비하고 있어야 하는 바, 커버(530)는 폴리에틸렌 테레프탈레이트(Polyethylen?Terephthalate;?PET), 폴리카보네이트(Polycarbonate;?PC), 또는 폴리메틸 메타크릴레이트(Polymethyl Methacrylate; PMMA) 등을 포함하는 재질로 형성되는 것이 바람직하다.On the other hand, since the light emitted from the light emitting device package 544 is emitted to the outside through the cover 530, the cover 530 should be excellent in light transmittance, and sufficient to withstand the heat generated in the light emitting device package 544 The cover 530 should include heat resistance, and the cover 530 may include polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), polymethyl methacrylate (PMMA), or the like. It is preferably formed of a material.

마감캡(550)은 몸체(510)의 양단에 위치하며 전원장치(미도시)를 밀폐하는 용도로 사용될 수 있다. 또한 마감캡(550)에는 전원 핀(552)이 형성되어 있어, 실시예에 따른 조명장치(500)는 기존의 형광등을 제거한 단자에 별도의 장치 없이 곧바로 사용할 수 있게 된다.The closing cap 550 is located at both ends of the body 510 and may be used for sealing a power supply (not shown). In addition, the closing cap 550 is formed with a power pin 552, the lighting device 500 according to the embodiment can be used immediately without a separate device in the terminal from which the existing fluorescent lamps are removed.

도 13 및 도 14는 실시예에 따른 광학시트를 포함하는 액정표시장치의 분해 사시도이다.13 and 14 are exploded perspective views of a liquid crystal display including an optical sheet according to an embodiment.

도 13은 에지-라이트 방식으로, 액정 표시 장치(600)는 액정표시패널(610)과 액정표시패널(610)로 빛을 제공하기 위한 백라이트 유닛(670)을 포함할 수 있다.FIG. 13 illustrates an edge-light method, and the liquid crystal display 600 may include a liquid crystal display panel 610 and a backlight unit 670 for providing light to the liquid crystal display panel 610.

액정표시패널(610)은 백라이트 유닛(670)으로부터 제공되는 광을 이용하여 화상을 표시할 수 있다. 액정표시패널(610)은 액정을 사이에 두고 서로 대향하는 컬러 필터 기판(612) 및 박막 트랜지스터 기판(614)을 포함할 수 있다.The liquid crystal display panel 610 may display an image using light provided from the backlight unit 670. The liquid crystal display panel 610 may include a color filter substrate 612 and a thin film transistor substrate 614 facing each other with a liquid crystal interposed therebetween.

컬러 필터 기판(612)은 액정표시패널(610)을 통해 디스플레이되는 화상의 색을 구현할 수 있다.The color filter substrate 612 may implement a color of an image displayed through the liquid crystal display panel 610.

박막 트랜지스터 기판(614)은 구동 필름(617)을 통해 다수의 회로부품이 실장되는 인쇄회로기판(618)과 전기적으로 접속되어 있다. 박막 트랜지스터 기판(614)은 인쇄회로기판(618)으로부터 제공되는 구동 신호에 응답하여 인쇄회로기판(618)으로부터 제공되는 구동 전압을 액정에 인가할 수 있다.The thin film transistor substrate 614 is electrically connected to the printed circuit board 618 on which a plurality of circuit components are mounted through the driving film 617. The thin film transistor substrate 614 may apply a driving voltage provided from the printed circuit board 618 to the liquid crystal in response to a driving signal provided from the printed circuit board 618.

박막 트랜지스터 기판(614)은 유리나 플라스틱 등과 같은 투명한 재질의 다른 기판상에 박막으로 형성된 박막 트랜지스터 및 화소 전극을 포함할 수 있다. The thin film transistor substrate 614 may include a thin film transistor and a pixel electrode formed of a thin film on another transparent material such as glass or plastic.

백라이트 유닛(670)은 빛을 출력하는 발광소자 모듈(620), 발광소자 모듈(620)로부터 제공되는 빛을 면광원 형태로 변경시켜 액정표시패널(610)로 제공하는 도광판(630), 도광판(630)으로부터 제공된 빛의 휘도 분포를 균일하게 하고 수직 입사성을 향상시키는 다수의 필름(650, 666, 664) 및 도광판(630)의 후방으로 방출되는 빛을 도광판(630)으로 반사시키는 반사 시트(640)로 구성된다.The backlight unit 670 may include a light emitting device module 620 for outputting light, a light guide plate 630 for changing the light provided from the light emitting device module 620 into a surface light source, and providing the light to the liquid crystal display panel 610. Reflective sheet for reflecting the light emitted to the light guide plate 630 to the plurality of films 650, 666, 664 and the light guide plate 630 to uniform the luminance distribution of the light provided from the 630 and improve the vertical incidence ( 640).

발광소자 모듈(620)은 복수의 발광소자 패키지(624)와 복수의 발광소자 패키지(624)가 실장되어 모듈을 이룰 수 있도록 PCB기판(622)을 포함할 수 있다.The light emitting device module 620 may include a PCB substrate 622 such that a plurality of light emitting device packages 624 and a plurality of light emitting device packages 624 may be mounted to form a module.

특히, 발광소자 모듈(620)는 발광소자 패키지(624)를 둘러싸는 밀봉부(미도시)를 포함하여 이물질의 침투가 방지될 수 있어서 신뢰성이 향상될 수 있고, 아울러 신뢰성 있는 백라이트 유닛(670)의 구현이 가능해진다.In particular, the light emitting device module 620 may include a seal (not shown) surrounding the light emitting device package 624 to prevent foreign matter from penetrating, thereby improving reliability, and also providing reliable backlight unit 670. Implementation of.

한편, 백라이트유닛(670)은 도광판(630)으로부터 입사되는 빛을 액정 표시 패널(610) 방향으로 확산시키는 확산필름(666)과, 확산된 빛을 집광하여 수직 입사성을 향상시키는 프리즘필름(650)으로 구성될 수 있으며, 프리즘필름(650)를 보호하기 위한 보호필름(664)을 포함할 수 있다.On the other hand, the backlight unit 670 is a diffusion film 666 for diffusing the light incident from the light guide plate 630 toward the liquid crystal display panel 610, and a prism film 650 for condensing the diffused light to improve vertical incidence. ), And may include a protective film 664 to protect the prism film 650.

도 14는 실시예에 따른 광학시트를 포함하는 액정표시장치의 분해 사시도이다. 다만, 도 13에서 도시하고 설명한 부분에 대해서는 반복하여 상세히 설명하지 않는다.14 is an exploded perspective view of a liquid crystal display device including the optical sheet according to the embodiment. However, the parts shown and described in FIG. 13 will not be repeatedly described in detail.

도 14는 직하 방식으로, 액정 표시 장치(700)는 액정표시패널(710)과 액정표시패널(710)로 빛을 제공하기 위한 백라이트 유닛(770)을 포함할 수 있다.14 is a direct view, the liquid crystal display 700 may include a liquid crystal display panel 710 and a backlight unit 770 for providing light to the liquid crystal display panel 710.

액정표시패널(710)은 도 13에서 설명한 바와 동일하므로, 상세한 설명은 생략한다.Since the liquid crystal display panel 710 is the same as that described with reference to FIG. 13, a detailed description thereof will be omitted.

백라이트 유닛(770)은 복수의 발광소자 모듈(723), 반사시트(724), 발광소자 모듈(723)과 반사시트(724)가 수납되는 하부 섀시(730), 발광소자 모듈(723)의 상부에 배치되는 확산판(740) 및 다수의 광학필름(760)을 포함할 수 있다.The backlight unit 770 includes a plurality of light emitting device modules 723, a reflective sheet 724, a lower chassis 730 in which the light emitting device modules 723 and the reflective sheet 724 are accommodated, and an upper portion of the light emitting device module 723. It may include a diffusion plate 740 and a plurality of optical film 760 disposed in the.

발광소자 모듈(723) 복수의 발광소자 패키지(722)와 복수의 발광소자 패키지(722)가 실장되어 모듈을 이룰 수 있도록 PCB기판(721)을 포함할 수 있다.LED Module 723 A plurality of light emitting device packages 722 and a plurality of light emitting device packages 722 may be mounted to include a PCB substrate 721 to form a module.

특히, 발광소자 모듈(723)는 발광소자 패키지(722)를 둘러싸는 밀봉부(미도시)를 포함하여 이물질의 침투가 방지될 수 있어서 신뢰성이 향상될 수 있고, 아울러 신뢰성 있는 백라이트 유닛(770)의 구현이 가능해진다.In particular, the light emitting device module 723 may include a sealing part (not shown) surrounding the light emitting device package 722 to prevent foreign matter from penetrating, thereby improving reliability, and also providing reliable backlight unit 770. Implementation of.

반사 시트(724)는 발광소자 패키지(722)에서 발생한 빛을 액정표시패널(710)이 위치한 방향으로 반사시켜 빛의 이용 효율을 향상시킨다.The reflective sheet 724 reflects the light generated from the light emitting device package 722 in the direction in which the liquid crystal display panel 710 is located to improve light utilization efficiency.

한편, 발광소자 모듈(723)에서 발생한 빛은 확산판(740)에 입사하며, 확산판(740)의 상부에는 광학 필름(760)이 배치된다. 광학 필름(760)은 확산 필름(766), 프리즘필름(750) 및 보호필름(764)를 포함하여 구성된다.Meanwhile, light generated by the light emitting device module 723 is incident on the diffuser plate 740, and the optical film 760 is disposed on the diffuser plate 740. The optical film 760 includes a diffusion film 766, a prism film 750, and a protective film 764.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어서는 안될 것이다.Although the above has been illustrated and described with respect to preferred embodiments of the present invention, the present invention is not limited to the specific embodiments described above, but in the art to which the invention pertains without departing from the spirit of the invention as claimed in the claims. Various modifications can be made by those skilled in the art, and these modifications should not be individually understood from the technical spirit or the prospect of the present invention.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어서는 안될 것이다.Although the above has been illustrated and described with respect to preferred embodiments of the present invention, the present invention is not limited to the specific embodiments described above, but in the art to which the invention pertains without departing from the spirit of the invention as claimed in the claims. Various modifications can be made by those skilled in the art, and these modifications should not be individually understood from the technical spirit or the prospect of the present invention.

110: 성장기판 120: 버퍼층
131: 제1 도전형 반도체층 132: 활성층
133: 제2 도전형 반도체층 140: 투명전도층
151: 전극패드 152: 가지전극
110: growth substrate 120: buffer layer
131: first conductive semiconductor layer 132: active layer
133: second conductive semiconductor layer 140: transparent conductive layer
151: electrode pad 152: branch electrode

Claims (11)

제1 도전형 반도체층, 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 순차적으로 포함하는 발광구조물;
상기 발광구조물 상에 배치되고, 오목부를 포함하는 제1 투명전도층;
상기 제1 투명전도층을 관통하여, 상기 발광구조물에 접하도록 배치되는 전극패드;
상기 전극패드와 연결되고, 오목부에 배치되는 가지전극;
상기 제1 투명전도층, 상기 가지전극 및 전극패드 상에 배치되는 제2 투명전도층;
상기 제2 투명전도층은 상기 전극패드 상면 일부를 노출시키는 개구부를 포함하는 발광소자.
A light emitting structure sequentially comprising a first conductive semiconductor layer, an active layer, and a second conductive semiconductor layer;
A first transparent conductive layer disposed on the light emitting structure and including a concave portion;
An electrode pad penetrating the first transparent conductive layer to be in contact with the light emitting structure;
A branch electrode connected to the electrode pad and disposed in the recess;
A second transparent conductive layer disposed on the first transparent conductive layer, the branch electrode and the electrode pad;
The second transparent conductive layer has a light emitting device including an opening that exposes a portion of the upper surface of the electrode pad.
삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 제1 투명전도층 및 제2 투명전도층은 동일한 물질을 포함하는 발광소자.
The method of claim 1,
The first transparent conductive layer and the second transparent conductive layer is a light emitting device comprising the same material.
제1항에 있어서,
상기 제2 투명전도층의 두께는 상기 제1 투명전도층의 두께보다 얇은 발광소자.
The method of claim 1,
The thickness of the second transparent conductive layer is thinner than the thickness of the first transparent conductive layer.
제1항에 있어서,
상기 제1 투명전도층 및 제2 투명전도층은 ITO, IZO, ITZO 및 ZnO 중 적어도 어느 하나를 포함하는 발광소자.
The method of claim 1,
The first transparent conductive layer and the second transparent conductive layer is a light emitting device comprising at least one of ITO, IZO, ITZO and ZnO.
제1항에 있어서,
상기 오목부의 깊이는 500 내지 2000Å인 발광소자.
The method of claim 1,
The concave portion has a depth of 500 to 2000 500.
제1항에 있어서,
상기 제1 투명전도층의 두께는 600 내지 2500Å인 발광소자.
The method of claim 1,
The first transparent conductive layer has a thickness of 600 to 2500Å light emitting device.
제1항에 있어서,
상기 오목부의 폭은 상부로 갈수록 넓어지는 발광소자.
The method of claim 1,
The concave portion of the light emitting device is wider toward the top.
삭제delete 삭제delete
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