KR102029020B1 - Die bonding apparatus and method of manufacturing semiconductor device - Google Patents

Die bonding apparatus and method of manufacturing semiconductor device Download PDF

Info

Publication number
KR102029020B1
KR102029020B1 KR1020170150576A KR20170150576A KR102029020B1 KR 102029020 B1 KR102029020 B1 KR 102029020B1 KR 1020170150576 A KR1020170150576 A KR 1020170150576A KR 20170150576 A KR20170150576 A KR 20170150576A KR 102029020 B1 KR102029020 B1 KR 102029020B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
acceleration
command
waveform
regenerated
die
Prior art date
Application number
KR1020170150576A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20180106834A (en
Inventor
미쯔아끼 다떼
유지 고다까미네
야스따까 다끼무라
유스께 아오끼
Original Assignee
파스포드 테크놀로지 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 파스포드 테크놀로지 주식회사 filed Critical 파스포드 테크놀로지 주식회사
Publication of KR20180106834A publication Critical patent/KR20180106834A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102029020B1 publication Critical patent/KR102029020B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67092Apparatus for mechanical treatment
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/416Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control of velocity, acceleration or deceleration
    • G05B19/4163Adaptive control of feed or cutting velocity
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67132Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67712Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/36Nc in input of data, input key till input tape
    • G05B2219/36521Select by combination of detected force, acceleration, speed, work rate

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)
  • Control Of Electric Motors In General (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

본 발명의 과제는 동작 중의 진행 방향에 대한 진동이나 편차를 억제함으로써, 정정 시간을 짧게 하는 것이 가능한 모터 제어 장치 및 모터 제어 방법을 제공하는 데 있다.
다이 본딩 장치는 피구동체를 구동하여 실위치를 인코드 신호로서 출력하는 모터와, 상기 모터를 제어하여 상기 피구동체를 목표 위치로 제어하고 다이를 기판에 실장하는 모터 제어 장치를 구비한다. 상기 모터 제어 장치는, 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 이상적인 명령 파형을 생성하는 이상 파형 생성부와, 상기 이상적인 명령 파형을 판독하고, 목표 명령 위치 및 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형을 재생성하고, 재생성된 속도의 명령 파형을 출력하는 명령 파형 생성부와, 상기 재생성된 속도의 명령 파형을 아날로그 데이터로 변환하는 DAC를 구비한다.
An object of the present invention is to provide a motor control apparatus and a motor control method which can shorten a settling time by suppressing vibration and a deviation with respect to the advancing direction during operation.
The die bonding apparatus includes a motor for driving a driven object to output a real position as an encoded signal, and a motor control device for controlling the motor to control the driven object to a target position and mounting the die on a substrate. The motor control apparatus includes: an abnormal waveform generator for generating an ideal command waveform of acceleration acceleration value, acceleration, acceleration, speed, and position; and reading the ideal command waveform, the target command position and acceleration differential value, and acceleration And a command waveform generator for regenerating command waveforms of speed, acceleration, speed, and position, and outputting command waveforms of regenerated speed, and a DAC for converting command waveforms of the regenerated speed into analog data.

Figure R1020170150576
Figure R1020170150576

Description

다이 본딩 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 {DIE BONDING APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE}DIE BONDING APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE

본 개시는 다이 본딩 장치에 관한 것으로, 예를 들어 모터 제어 장치를 구비하는 다이 본딩 장치에 적용 가능하다.The present disclosure relates to a die bonding apparatus, and is applicable to, for example, a die bonding apparatus having a motor control apparatus.

반도체 장치의 제조 공정의 일부에 반도체 칩(이하, 간단히 다이라고 함)을 배선 기판이나 리드 프레임 등(이하, 간단히 기판이라고 함)에 탑재하여 패키지를 조립하는 공정이 있고, 패키지를 조립하는 공정의 일부에, 반도체 웨이퍼(이하, 간단히 웨이퍼라고 함)로부터 다이를 분할하는 공정과, 분할한 다이를 기판 상에 탑재하는 본딩 공정이 있다. 본딩 공정에 사용되는 제조 장치가 다이 본더 등의 다이 본딩 장치이다.A part of the manufacturing process of a semiconductor device includes a step of assembling a package by mounting a semiconductor chip (hereinafter simply referred to as die) on a wiring board or lead frame (hereinafter simply referred to as a substrate). There exist a process of dividing a die from a semiconductor wafer (henceforth a wafer hereafter), and the bonding process which mounts the dividing die on a board | substrate in a part. The manufacturing apparatus used for a bonding process is die bonding apparatuses, such as a die bonder.

다이 본더는 땜납, 금 도금, 수지를 접합 재료로 하여, 다이를 기판 또는 이미 본딩된 다이 상에 본딩(탑재하여 접착)하는 장치이다. 다이를, 예를 들어 기판의 표면에 본딩하는 다이 본더에 있어서는, 콜릿이라고 불리는 흡착 노즐을 사용하여 다이를 웨이퍼로부터 흡착하여 픽업하고, 기판 상으로 반송하고, 압박력을 부여함과 함께, 접합재를 가열함으로써 본딩을 행한다는 동작(작업)이 반복해서 행해진다. 콜릿은 본딩 헤드의 선단에 설치된다. 본딩 헤드는 ZY 구동축 등의 구동부(서보 모터)로 구동되고, 서보 모터는 모터 제어 장치에 의해 제어된다.A die bonder is a device which bonds (mounts and bonds) a die on a board | substrate or an already bonded die using solder, gold plating, and resin as a joining material. In the die bonder which bonds a die to the surface of a board | substrate, for example, it adsorbs and picks up a die from a wafer using an adsorption nozzle called a collet, conveys it on a board | substrate, gives a pressing force, and heats a bonding material. By doing this, the operation (work) of performing bonding is repeatedly performed. The collet is installed at the tip of the bonding head. The bonding head is driven by a drive unit (servo motor) such as a ZY drive shaft, and the servo motor is controlled by a motor control device.

서보 모터 제어에 있어서는, 워크나 워크를 지지하는 유닛에 기계적 충격을 부여하지 않도록 매끄럽게 가감속하여, 워크를 이동할 필요가 있다.In servo motor control, it is necessary to smoothly decelerate and move a workpiece | work so that a mechanical shock may not be given to a workpiece | work or the unit which supports a workpiece | work.

일본 특허 공개 제2012-175768호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 2012-175768

특허문헌 1에서는 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 이상적인 명령 파형을 생성하고, 가가속도를 제한한 명령 파형으로 저진동의 모터 제어를 실현하고 있지만, 다이 본딩 장치 등의 반도체 제조 장치에서는 더욱 고정밀도의 모터 제어가 요구되고 있다.Although Patent Document 1 generates ideal command waveforms of acceleration, acceleration, speed, and position, and realizes low vibration motor control with command waveforms with limited acceleration, a semiconductor manufacturing apparatus such as a die bonding device has a higher precision. Motor control is required.

본 개시의 과제는 더 진동을 억제하는 다이 본딩 장치를 제공하는 데 있다.An object of the present disclosure is to provide a die bonding apparatus that further suppresses vibration.

그 밖의 과제와 신규의 특징은 본 명세서의 기술 및 첨부 도면으로부터 명확해질 것이다.Other objects and novel features will be apparent from the description and the accompanying drawings.

본 개시 중 대표적인 것의 개요를 간단하게 설명하면 하기와 같다.Brief descriptions of representative ones of the present disclosure will be given below.

즉, 다이 본딩 장치는 피구동체를 구동하여 실위치를 인코드 신호로서 출력하는 모터와, 상기 모터를 제어하여 상기 피구동체를 목표 위치로 제어하고 다이를 기판에 실장하는 모터 제어 장치를 구비한다. 상기 모터 제어 장치는, 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 이상적인 명령 파형을 생성하는 이상 파형 생성부와, 상기 이상적인 명령 파형을 판독하고, 목표 명령 위치 및 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형을 재생성하고, 재생성된 속도의 명령 파형을 출력하는 명령 파형 생성부와, 상기 재생성된 속도의 명령 파형을 아날로그 데이터로 변환하는 DAC를 구비한다.That is, the die bonding apparatus is provided with a motor which drives a driven object and outputs a real position as an encoded signal, and the motor control apparatus which controls the said motor, controls the driven object to a target position, and mounts a die on a board | substrate. The motor control apparatus includes: an abnormal waveform generator for generating an ideal command waveform of acceleration acceleration value, acceleration, acceleration, speed, and position; and reading the ideal command waveform, the target command position and acceleration differential value, and acceleration And a command waveform generator for regenerating command waveforms of speed, acceleration, speed, and position, and outputting command waveforms of regenerated speed, and a DAC for converting command waveforms of the regenerated speed into analog data.

상기 다이 본딩 장치에 의하면, 진동을 저감할 수 있다.According to the die bonding apparatus, vibration can be reduced.

도 1은 실시예에 관한 다이 본더의 구성을 나타내는 개략 상면도이다.
도 2는 도 1의 다이 본더의 개략 구성과 그 동작을 설명하는 도면이다.
도 3은 도 1의 다이 본더의 제어계의 개략 구성을 나타내는 블록도이다.
도 4는 도 3의 모터 제어 장치의 기본적인 원리를 설명하기 위한 블록 구성도이다.
도 5는 도 4의 이상 파형 생성부의 제1 파형 생성부에서 생성되는 명령 파형을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 이동 평균 처리를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 이동 평균 처리를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 이동 평균 처리를 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 이동 평균 처리를 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 이동 평균 시간을 변화시킨 경우의 각 명령 파형의 형상을 나타내는 도면이다.
도 11은 도 4의 이상 파형 생성부의 제2 파형 생성부에서 생성되는 이상적인 명령 파형을 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 도 4의 명령 제어부의 구성 및 명령 파형 생성부로의 입출력 신호를 나타내는 블록도이다.
도 13은 도 12의 명령 파형 입출력부와 명령 파형 재생성 처리부의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 14는 도 13의 가가속도 미분값 가산 파형 생성부에서 생성되는 가가속도 미분값 가산 파형을 설명하기 위한 도면이다.
도 15는 편차량이 1펄스, 2펄스, 4펄스, 8펄스 및 16펄스인 경우 각각의, 보상용으로 가산되는 가가속도 미분값 파형, 가가속도 파형, 가속도 파형 및 속도 파형을 나타내는 도면이다.
도 16은 실시예에 관한 모터 제어 장치에 있어서의 가가속도 미분값 상한 하한 확인 처리 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 17은 실시예에 관한 모터 제어 장치에 있어서의 보상용의 가가속도 미분값 파형 산출 후의 재생성된 명령 파형을 나타내는 도면이다.
도 18은 실시예에 관한 모터 제어 방법의 동작의 수순을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 19는 실시예에 관한 모터 제어 방법의 동작의 수순을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 20은 실시예에 관한 다이 본딩 장치를 사용한 반도체 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 21은 변형예 1에 관한 명령 파형 입출력부와 명령 파형 재생성 처리부의 구성을 나타내는 블록도이다.
1 is a schematic top view showing the configuration of a die bonder according to an embodiment.
FIG. 2 is a diagram illustrating a schematic configuration and operation of the die bonder of FIG. 1.
3 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a control system of the die bonder of FIG. 1.
4 is a block diagram illustrating a basic principle of the motor control apparatus of FIG. 3.
FIG. 5 is a diagram for describing a command waveform generated by the first waveform generator of FIG. 4.
6 is a diagram for explaining a moving average process.
7 is a diagram for explaining a moving average process.
8 is a diagram for explaining a moving average process.
9 is a diagram for explaining a moving average process.
10 is a diagram illustrating the shape of each command waveform when the moving average time is changed.
FIG. 11 is a diagram for describing an ideal command waveform generated by the second waveform generator of the abnormal waveform generator of FIG. 4.
FIG. 12 is a block diagram illustrating a configuration of the command controller of FIG. 4 and an input / output signal to the command waveform generator.
FIG. 13 is a block diagram illustrating the configuration of a command waveform input / output unit and a command waveform regeneration processing unit of FIG. 12.
FIG. 14 is a diagram for describing an acceleration differential value addition waveform generated by the acceleration differential value addition waveform generator of FIG. 13.
FIG. 15 is a diagram showing acceleration acceleration value waveforms, acceleration waveforms, acceleration waveforms, and velocity waveforms added for compensation when the deviation amounts are 1 pulse, 2 pulses, 4 pulses, 8 pulses and 16 pulses.
It is a figure for demonstrating the acceleration acceleration derivative value upper limit lower limit confirmation processing operation in the motor control apparatus which concerns on an Example.
17 is a diagram showing a regenerated command waveform after calculation of an acceleration acceleration differential value waveform for compensation in the motor control apparatus according to the embodiment.
18 is a flowchart for explaining the procedure of the motor control method according to the embodiment.
19 is a flowchart for explaining the procedure of the motor control method according to the embodiment.
20 is a flowchart for explaining a method for manufacturing a semiconductor device using the die bonding apparatus according to the embodiment.
21 is a block diagram showing the configuration of a command waveform input / output unit and a command waveform regeneration processing unit according to Modification Example 1. FIG.

본원 발명자는 진동을 억제하기 위해, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 이상적인 명령 파형에 더하여, 가가속도의 미분값을 명령값으로 하여, 단위 시간당의 변화량을 억제하는 제어를 검토했다. 그러나, 상기와 같은 명령 파형을 생성하기 위해서는, 위치ㆍ속도ㆍ가속도ㆍ가가속도와, 가가속도의 미분 파형의 총 5종류의 이상적인 명령 파형을 더 생성해 둘 필요가 있고, 복잡한 계산식이 되기 때문에 방대한 산출 시간이 필요해진다.In order to suppress the vibration, the inventors of the present invention have studied a control to suppress the amount of change per unit time by using the derivative value of the acceleration as a command value in addition to the ideal command waveforms of acceleration, acceleration, speed, and position. However, in order to generate the command waveforms as described above, it is necessary to further generate five kinds of ideal command waveforms including position, velocity, acceleration, acceleration, and derivative waveforms of acceleration and acceleration. Calculation time is needed.

실시 형태에 관한 다이 본딩 장치는 가가속도의 명령 파형을 생성하고, 가가속도의 명령 파형으로부터 순차 가속도ㆍ속도ㆍ위치의 각 명령 파형을 생성한다. 생성된 위치의 명령 파형을 이동 평균법(일정한 시간을 정하고, 범위를 어긋나게 하면서 평균을 취해 가는 것)에 의해, 이동 평균 후의 위치의 명령 파형을 생성한다. 이동 평균 후의 위치의 명령 파형으로부터 순차 속도ㆍ가속도ㆍ가가속도ㆍ가가속도 미분값의 이동 평균 후의 각 명령 파형을 생성한다.The die bonding apparatus which concerns on embodiment produces | generates the command waveform of acceleration, and produces | generates each command waveform of acceleration, speed, and position sequentially from the command waveform of acceleration. A command waveform of the position after the moving average is generated by the moving average method (averaging a predetermined time and taking the average while shifting the range). Each command waveform after the moving average of the sequential speed, acceleration, acceleration, and acceleration derivative values is generated from the command waveform at the position after the moving average.

상기에 의해 얻어진 이동 평균 후의 명령 파형을 사용하여 모터를 제어함으로써, 보다 저진동의 모터 구동이 실현 가능해진다.By controlling the motor by using the command waveform after the moving average obtained by the above, lower vibration motor driving can be realized.

또한, 명령 파형의 이동 평균 처리에 의해 전체의 명령 파형 길이가 신장되고, 동작 시간이 길어지기 때문에, 사이클 타임, 본딩 정밀도 등, 장치의 요구 사양에 따라, 이동 평균 시간을 조정하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 고정밀도 본딩에서는 이동 평균 시간을 크게 설정하고, 매끄럽게 동작시켜 저진동 구동한다. 고속 본딩에서는 이동 평균 시간을 작게 설정하고, 동작 시간을 짧게 함으로써 고속 구동한다.In addition, since the entire command waveform length is extended by the moving average processing of the command waveform and the operation time becomes long, it is preferable to adjust the moving average time according to the requirements of the device such as cycle time and bonding accuracy. For example, in high precision bonding, a moving average time is set large, it operates smoothly, and it drives low vibration. In high-speed bonding, high speed driving is performed by setting the moving average time small and shortening the operation time.

실시 형태에 따르면, 고속으로 모터가 동작할 때의 진행 방향에 대한 진동이나 편차를 억제하여, 정정 시간 단축을 실현할 수 있다. 또한, 이상적인 궤적에서 모터를 동작시킬 수 있고, 또한 현재의 위치를 항상 모니터링할 수 있기 때문에, 복수의 축을 동기시켜 동작시키는 것이 용이해진다.According to the embodiment, it is possible to suppress the vibration and the deviation with respect to the advancing direction when the motor operates at a high speed, thereby realizing the reduction of the correction time. In addition, since the motor can be operated in the ideal trajectory and the current position can be monitored at all times, it becomes easy to operate in synchronization with a plurality of axes.

이하, 실시예 및 변형예에 대하여, 도면을 사용하여 설명한다. 단, 이하의 설명에 있어서, 동일 구성 요소에는 동일 부호를 붙여 반복의 설명을 생략하는 경우가 있다. 또한, 도면은 설명을 보다 명확하게 하기 위해, 실제의 형태에 비해, 각 부의 폭, 두께, 형상 등에 대하여 모식적으로 표현되는 경우가 있지만, 어디까지나 일례이며, 본 발명의 해석을 한정하는 것은 아니다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, an Example and a modification are demonstrated using drawing. However, in the following description, the same code | symbol is attached | subjected to the same component, and description of repetition may be abbreviate | omitted. In addition, although drawing may be typically represented with respect to the width | variety, thickness, shape, etc. of each part compared with an actual form, in order to make description clearer, it is an example to the last and does not limit the interpretation of this invention. .

[실시예]EXAMPLE

도 1은 실시예에 관한 다이 본더의 개략을 나타내는 상면도이다. 도 2는 도 1에 있어서 화살표 A 방향에서 보았을 때에, 픽업 헤드 및 본딩 헤드의 동작을 설명하는 도면이다.1 is a top view showing an outline of a die bonder according to an embodiment. FIG. 2 is a view for explaining the operation of the pickup head and the bonding head when viewed from the arrow A direction in FIG. 1.

다이 본더(10)는 크게 구별하여, 다이 공급부(1)와, 픽업부(2), 중간 스테이지부(3)와, 본딩부(4)와, 반송부(5), 기판 공급부(6)와, 기판 반출부(7)와, 각 부의 동작을 감시하여 제어하는 제어부(8)를 갖는다. Y축 방향이 다이 본더(10)의 전후 방향이고, X축 방향이 좌우 방향이다. 다이 공급부(1)가 다이 본더(10)의 전방측에 배치되고, 본딩부(4)가 안측에 배치된다.The die bonder 10 is largely divided into a die supply unit 1, a pickup unit 2, an intermediate stage unit 3, a bonding unit 4, a transfer unit 5, and a substrate supply unit 6. The board | substrate carrying out part 7 and the control part 8 which monitor and control the operation | movement of each part are provided. The Y-axis direction is the front-rear direction of the die bonder 10, and the X-axis direction is the left-right direction. The die supply part 1 is arrange | positioned at the front side of the die bonder 10, and the bonding part 4 is arrange | positioned at the inner side.

먼저, 다이 공급부(1)는 기판(P)에 실장하는 다이(D)를 공급한다. 다이 공급부(1)는 웨이퍼(11)를 유지하는 웨이퍼 유지대(12)와, 웨이퍼(11)로부터 다이(D)를 밀어 올리는 점선으로 나타내는 밀어 올림 유닛(13)을 갖는다. 다이 공급부(1)는 도시하지 않은 구동 수단에 의해 XY 방향으로 이동하고, 픽업하는 다이(D)를 밀어 올림 유닛(13)의 위치로 이동시킨다.First, the die supply part 1 supplies the die D mounted on the board | substrate P. As shown in FIG. The die supply part 1 has the wafer holder 12 which hold | maintains the wafer 11, and the pushing-up unit 13 shown by the dotted line which pushes the die | dye D from the wafer 11. As shown in FIG. The die supply part 1 moves to XY direction by the drive means which is not shown in figure, and moves the die | dye D which picks up to the position of the raising unit 13.

픽업부(2)는 다이(D)를 픽업하는 픽업 헤드(21)와, 픽업 헤드(21)를 Y방향으로 이동시키는 픽업 헤드의 Y구동부(23)와, 콜릿(22)을 승강, 회전 및 X방향으로 이동시키는 도시하지 않은 각 구동부를 갖는다. 픽업 헤드(21)는 밀어 올려진 다이(D)를 선단에 흡착 유지하는 콜릿(22)(도 2도 참조)을 갖고, 다이 공급부(1)로부터 다이(D)를 픽업하고, 중간 스테이지(31)에 적재한다. 픽업 헤드(21)는 콜릿(22)을 승강, 회전 및 X방향 이동시키는 도시하지 않은 각 구동부를 갖는다.The pickup section 2 lifts, rotates, and rotates the pickup head 21 for picking up the die D, the Y driving section 23 of the pickup head for moving the pickup head 21 in the Y direction, and the collet 22. Each drive part which is not shown to move to an X direction is provided. The pickup head 21 has a collet 22 (see also FIG. 2) for adsorbing and holding the pushed up die D at the tip, picks up the die D from the die supply 1, and the intermediate stage 31. )). The pickup head 21 has each drive part which is not shown in the figure which raises, rotates, and moves X direction the collet 22. As shown in FIG.

중간 스테이지부(3)는 다이(D)를 일시적으로 적재하는 중간 스테이지(31)와, 중간 스테이지(31) 상의 다이(D)를 인식하기 위한 스테이지 인식 카메라(32)를 갖는다.The intermediate stage part 3 has an intermediate stage 31 which temporarily loads the die D, and a stage recognition camera 32 for recognizing the die D on the intermediate stage 31.

본딩부(4)는 중간 스테이지(31)로부터 다이(D)를 픽업하고, 반송되어 오는 기판(P) 상에 본딩하거나, 또는 이미 기판(P) 상에 본딩된 다이 상에 적층하는 형태로 본딩한다. 본딩부(4)는 픽업 헤드(21)와 마찬가지로 다이(D)를 선단에 흡착 유지하는 콜릿(42)(도 2도 참조)을 구비하는 본딩 헤드(41)와, 본딩 헤드(41)를 Y방향으로 이동시키는 Y구동부(43)와, 본딩 헤드(41)를 승강(Z방향으로 이동)시키는 Z구동부(도시하지 않음)와, 기판(P)의 위치 인식 마크(도시하지 않음)를 촬상하여, 본딩 위치를 인식하는 기판 인식 카메라(44)를 갖는다.The bonding part 4 picks up the die D from the intermediate stage 31 and bonds it on the board | substrate P which is conveyed, or bonds in the form which is laminated | stacked on the die already bonded on the board | substrate P. FIG. do. The bonding section 4, like the pickup head 21, has a bonding head 41 having a collet 42 (see FIG. 2) for adsorbing and holding the die D at its tip, and the bonding head 41 Y. The Y driving unit 43 moving in the direction, the Z driving unit (not shown) for raising and lowering (moving in the Z direction) the bonding head 41, and the position recognition mark (not shown) of the substrate P. And a substrate recognition camera 44 for recognizing the bonding position.

이와 같은 구성에 의해, 본딩 헤드(41)는 스테이지 인식 카메라(32)의 촬상 데이터에 기초하여 픽업 위치ㆍ자세를 보정하고, 중간 스테이지(31)로부터 다이(D)를 픽업하고, 기판 인식 카메라(44)의 촬상 데이터에 기초하여 기판(P)에 다이(D)를 본딩한다.With such a configuration, the bonding head 41 corrects the pickup position and posture based on the imaging data of the stage recognition camera 32, picks up the die D from the intermediate stage 31, and the substrate recognition camera ( The die D is bonded to the substrate P based on the imaging data of 44.

반송부(5)는 1매 또는 복수매의 기판(P)(도 1에서는 4매)을 적재한 기판 반송 팔레트(51)와, 기판 반송 팔레트(51)가 이동하는 팔레트 레일(52)을 구비하고, 병행하여 설치된 동일 구조의 제1, 제2 반송부를 갖는다. 기판 반송 팔레트(51)는 기판 반송 팔레트(51)에 설치된 도시하지 않은 너트를 팔레트 레일(52)을 따라 설치된 도시하지 않은 볼 나사로 구동함으로써 이동한다.The conveyance part 5 is equipped with the board | substrate conveyance pallet 51 which loaded one or several board | substrate P (4 sheets in FIG. 1), and the pallet rail 52 which the board | substrate conveyance pallet 51 moves. And the 1st, 2nd conveyance part of the same structure provided in parallel. The board | substrate conveyance pallet 51 moves by driving the not-shown nut provided in the board | substrate conveyance pallet 51 with the ball screw which is not shown provided along the pallet rail 52. FIG.

이와 같은 구성에 의해, 기판 반송 팔레트(51)는 기판 공급부(6)에서 기판(P)을 적재하고, 팔레트 레일(52)을 따라 본딩 위치까지 이동하고, 본딩 후, 기판 반출부(7)까지 이동하여, 기판 반출부(7)에 기판(P)을 전달한다. 제1, 제2 반송부는 서로 독립하여 구동되고, 한쪽의 기판 반송 팔레트(51)에 적재된 기판(P)에 다이(D)를 본딩 중에, 다른 쪽의 기판 반송 팔레트(51)는 기판(P)을 반출하고, 기판 공급부(6)로 복귀되고, 새로운 기판(P)을 적재하는 등의 준비를 행한다.By this structure, the board | substrate conveyance pallet 51 loads the board | substrate P in the board | substrate supply part 6, moves to the bonding position along the pallet rail 52, and after bonding, to the board | substrate carrying out part 7 is carried out. It moves and delivers the board | substrate P to the board | substrate carrying part 7. The 1st, 2nd conveyance part is driven independently from each other, and the other board | substrate conveyance pallet 51 is a board | substrate P, while bonding the die | dye D to the board | substrate P mounted in one board | substrate conveyance pallet 51. FIG. ) Is returned to the board | substrate supply part 6, and preparation, such as loading a new board | substrate P, is prepared.

제어계에 대하여 도 3을 사용하여 설명한다. 도 3은 도 1의 다이 본더의 제어계의 개략 구성을 나타내는 블록도이다. 제어계(80)는 제어부(8)와 구동부(86)와 신호부(87)와 광학계(88)를 구비한다. 제어부(8)는 크게 구별하여, 주로 CPU(Central Processor Unit)로 구성되는 제어ㆍ연산 장치(81)와, 기억 장치(82)와, 입출력 장치(83)와, 버스 라인(84)과, 전원부(85)를 갖는다. 기억 장치(82)는 처리 프로그램 등을 기억하고 있는 RAM으로 구성되어 있는 주기억 장치(82a)와, 제어에 필요한 제어 데이터나 화상 데이터 등을 기억하고 있는 HDD로 구성되어 있는 보조 기억 장치(82b)를 갖는다. 입출력 장치(83)는 장치 상태나 정보 등을 표시하는 모니터(83a)와, 오퍼레이터의 지시를 입력하는 터치 패널(83b)과, 모니터를 조작하는 마우스(83c)와, 광학계(88)로부터의 화상 데이터를 도입하는 화상 도입 장치(83d)를 갖는다. 또한, 입출력 장치(83)는 다이 공급부(1)의 XY 테이블(도시하지 않음)이나 본딩 헤드 테이블의 Y구동부(43), Z축 구동부 등의 구동부(86)를 제어하는 모터 제어 장치(83e)와, 다양한 센서 신호나 조명 장치 등의 스위치 등의 신호부(87)로부터 신호를 도입하거나 또는 제어하는 I/O 신호 제어 장치(83f)를 갖는다. 광학계(88)에는 웨이퍼 인식 카메라(24), 스테이지 인식 카메라(32), 기판 인식 카메라(44)가 포함된다. 제어ㆍ연산 장치(81)는 버스 라인(84)을 통해 필요한 데이터를 도입하여, 연산하고, 픽업 헤드(21) 등의 제어나, 모니터(83a) 등으로 정보를 보낸다.The control system will be described with reference to FIG. 3. 3 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a control system of the die bonder of FIG. 1. The control system 80 includes a control unit 8, a driving unit 86, a signal unit 87, and an optical system 88. The control unit 8 is largely divided into a control and a computing device 81 mainly composed of a CPU (Central Processor Unit), a storage device 82, an input / output device 83, a bus line 84, and a power supply unit. Has 85. The storage device 82 includes a main memory device 82a, which is composed of a RAM that stores processing programs, and an auxiliary storage device 82b, which is composed of an HDD that stores control data, image data, and the like necessary for control. Have The input / output device 83 includes a monitor 83a for displaying device status and information, a touch panel 83b for inputting an operator's instruction, a mouse 83c for operating the monitor, and an image from the optical system 88. It has an image introduction apparatus 83d which introduces data. In addition, the input / output device 83 controls the motor control device 83e that controls the driving unit 86 such as the XY table (not shown) of the die supply unit 1, the Y driving unit 43 of the bonding head table, the Z-axis driving unit, or the like. And an I / O signal control device 83f for introducing or controlling signals from signal sections 87 such as switches such as various sensor signals and lighting devices. The optical system 88 includes a wafer recognition camera 24, a stage recognition camera 32, and a substrate recognition camera 44. The control and computing device 81 introduces and calculates necessary data via the bus line 84 and sends information to the control of the pickup head 21 and the like, the monitor 83a and the like.

도 4는 도 3의 모터 제어 장치의 기본적인 원리를 설명하기 위한 블록 구성도이다. 모터 제어 장치(83e)는 모션 컨트롤러(210)와 서보 앰프(220)를 구비하여, 서보 모터(130)를 제어한다. 모션 컨트롤러(210)는 이상적인 명령 파형의 생성 처리를 행하는 이상 파형 생성부(211)와, 명령 파형 생성부(212)와, DAC(Digital to Analog Converter)(213)를 구비한다. 서보 앰프(220)는 속도 루프 제어부(221)를 구비한다. 이상 파형 생성부(211)는 제1 파형 생성부(214)와 이동 평균 처리를 행하는 이동 평균 처리부(215)와 제2 파형 생성부(216)를 구비한다.4 is a block diagram illustrating a basic principle of the motor control apparatus of FIG. 3. The motor control device 83e includes a motion controller 210 and a servo amplifier 220 to control the servo motor 130. The motion controller 210 includes an abnormal waveform generator 211 that performs an ideal command waveform generation process, a command waveform generator 212, and a digital to analog converter (DAC) 213. The servo amplifier 220 includes a speed loop control unit 221. The abnormal waveform generator 211 includes a first waveform generator 214, a moving average processor 215 and a second waveform generator 216 that perform moving average processing.

도 4에 나타낸 바와 같이, 모터 제어 장치(83e)는 모션 컨트롤러(210)와 서보 앰프(220)가 폐루프 제어되어 있다. 따라서, 현재의 명령 위치와, 서보 모터(130)로부터 얻어지는 실위치 및 실속도를 사용하여, 서보 앰프(220)의 속도 루프 제어부(221)에 의해 속도 제어를 행한다. 단, 속도 루프 제어부(221)는 그 속도 제어를, 모션 컨트롤러(210)가 서보 모터(130)로부터의 실속도 및 실위치를 얻어 가가속도 미분값 및 가가속도를 제한하면서, 명령 파형을 재생성함으로써 행하고 있다. 또한, 이상 파형 생성부(211) 및 명령 파형 생성부(212)는, 예를 들어 CPU(Central Processing Unit)와 CPU가 실행하는 프로그램을 저장하는 메모리로 구성된다.As shown in FIG. 4, in the motor control device 83e, the motion controller 210 and the servo amplifier 220 are closed loop controlled. Therefore, speed control is performed by the speed loop control unit 221 of the servo amplifier 220 using the current command position, the real position obtained from the servo motor 130, and the real speed. However, the speed loop control unit 221 controls the speed by regenerating the command waveform while the motion controller 210 obtains the actual speed and the actual position from the servo motor 130 and limits the acceleration acceleration derivative value and the acceleration speed. Doing. The abnormal waveform generator 211 and the command waveform generator 212 include, for example, a CPU (Central Processing Unit) and a memory for storing a program executed by the CPU.

예를 들어, 도 4에 있어서, 목표 위치, 목표 속도, 목표 가속도, 목표 가가속도 및 이동 평균 시간은 모션 컨트롤러(210)에 부여된다. 그리고, 명령 파형 생성부(212)에는 서보 앰프(220)를 통해, 또는 서보 모터(130)로부터 직접, 실위치 및 실속도가 인코더 신호로서 순차 입력된다.For example, in FIG. 4, the target position, target speed, target acceleration, target acceleration and moving average time are given to the motion controller 210. The command waveform generation unit 212 is sequentially inputted as an encoder signal through the servo amplifier 220 or directly from the servo motor 130 as the encoder signal.

모션 컨트롤러(210)의 이상 파형 생성부(211)의 제1 파형 생성부(214)는 제어ㆍ연산 장치(81)로부터 입력된 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 목표값으로부터, (a) 명령 가가속도 파형(가가속도의 제1 명령 파형), (b) 명령 가속도 파형(가속도의 제1 명령 파형), (c) 명령 속도 파형(속도의 제1 명령 파형), (d) 명령 위치 파형(위치의 제1 명령 파형)을 각각 생성하고, (d) 명령 위치 파형을 이동 평균 처리부(215)에 출력한다.The first waveform generating unit 214 of the abnormal waveform generating unit 211 of the motion controller 210 receives the command (a) from the target values of the acceleration, acceleration, velocity, and position input from the control / operation device 81. Acceleration waveform (first command waveform of acceleration), (b) command acceleration waveform (first command waveform of acceleration), (c) command speed waveform (first command waveform of speed), (d) command position waveform ( The first command waveform of the position) is generated, respectively, and (d) The command position waveform is output to the moving average processor 215.

이동 평균 처리부(215)는 제1 파형 생성부(214)로부터 출력되는 명령 위치 파형을 이동 평균 처리하고, (d') 이동 평균 후의 명령 위치 파형(이상적인 위치의 명령 파형)을 제2 파형 생성부(216)에 출력한다.The moving average processing unit 215 performs a moving average processing of the command position waveform output from the first waveform generating unit 214, and (d ') the second waveform generating unit for the command position waveform (command waveform at an ideal position) after the moving average. Output to (216).

제2 파형 생성부(216)는 (d') 이상적인 위치의 명령 파형으로부터, (c') 이동 평균 후의 명령 속도 파형(이상적인 명령 속도 파형), (b') 이동 평균 후의 명령 가속도 파형(이상적인 가속도의 명령 파형), (a') 이동 평균 후의 명령 가가속도 파형(이상적인 가가속도의 명령 파형), (e') 이동 평균 후의 명령 가가속도 미분값 파형(이상적인 가가속도 미분값의 명령 파형)을 순차 생성하여 명령 파형 생성부(212)에 출력한다. 「이상적」이란, 가가속도 미분값을 제한하면서 피제어 대상의 진동을 억제하고, 소정의 처리 시간에 매끄럽게 피제어 대상을 제어한다는 의미에서 사용한다.The second waveform generating unit 216 is a command speed waveform (ideal command speed waveform) after a moving average (c ') and a command acceleration waveform after a moving average (ideal acceleration) from a command waveform at (d') an ideal position. Command waveform), (a ') command acceleration waveform after moving average (ideal acceleration command waveform), and (e') command acceleration differential value waveform after ideal moving average (command waveform of ideal acceleration differential value) A command waveform generator 212 is generated and output to the command waveform generator 212. The term "ideal" is used in the sense of restricting the acceleration differentiation value, suppressing the vibration of the controlled object, and controlling the controlled object smoothly at a predetermined processing time.

명령 파형 생성부(212)는 제2 파형 생성부(216)로부터 출력되는 출력 신호 파형(이상적인 위치의 명령 파형으로부터 얻어지는 현재의 명령 위치)과, 서보 모터(130)로부터 입력되는 인코더 신호(실위치)에 기초하여, 가가속도 미분값을 제한하면서, 금후의 명령 속도 파형을 순차 재생성하고, DAC(213)에 순차 출력한다. 예를 들어, 명령 파형 생성부(212)는 (1) 명령 파형 입출력 처리, (2) 인코더 신호 카운트 처리 및 (3) 명령 파형 재생 처리를 행한다.The command waveform generation unit 212 includes an output signal waveform (current command position obtained from the command waveform of the ideal position) output from the second waveform generation unit 216 and an encoder signal (real position) input from the servo motor 130. On the basis of), the future command velocity waveform is sequentially regenerated and output to the DAC 213 sequentially while limiting the acceleration differential value. For example, the command waveform generation unit 212 performs (1) command waveform input / output processing, (2) encoder signal count processing, and (3) command waveform reproduction processing.

DAC(213)는 입력된 디지털의 명령값을 아날로그 신호의 속도 명령값으로 변환하고, 서보 앰프(220)의 속도 루프 제어부(221)에 출력한다. 또한, 인코더 신호는 인코더 시그널 카운터(후술하는 도 13 등)에서 위치 편차량을 펄스로 하여 축적한다.The DAC 213 converts the input digital command value into a speed command value of an analog signal and outputs it to the speed loop control unit 221 of the servo amplifier 220. In addition, the encoder signal is accumulated by using the position deviation amount as a pulse at an encoder signal counter (Fig. 13 to be described later).

서보 앰프(220)의 속도 루프 제어부(221)는 모션 컨트롤러(210)로부터 입력되는 속도 명령값과, 서보 모터(130)로부터 입력되는 인코더 신호에 따라, 서보 모터(130)의 회전 속도를 제어한다.The speed loop control unit 221 of the servo amplifier 220 controls the rotation speed of the servo motor 130 according to the speed command value input from the motion controller 210 and the encoder signal input from the servo motor 130. .

서보 모터(130)는 서보 앰프(220)의 속도 루프 제어부(221)로부터 입력되는 회전 속도의 제어에 따른 회전 속도로 회전하고, 실위치 및 실속도를 인코더 신호로 하여 서보 앰프(220)의 속도 루프 제어부(221)와 모션 컨트롤러(210)의 명령 파형 생성부(212)에 출력한다.The servo motor 130 rotates at the rotational speed according to the control of the rotational speed input from the speed loop control unit 221 of the servo amplifier 220, and the speed of the servo amplifier 220 using the actual position and the actual speed as an encoder signal. Outputs to the command waveform generator 212 of the loop controller 221 and the motion controller 210.

또한, 도 4의 실시예에서는, 서보 모터(130)의 카운트값(회전 횟수 및 회전 각도)으로부터 본딩 헤드 등의 피구동체의 실위치를 산출하고, 산출된 실위치를 기초로 실속도를 산출하고 있다. 그러나, 피구동체의 위치를 직접 검출하는 위치 검출 장치를 구비하여, 당해 위치 검출 장치가 검출한 위치를 실위치로 하도록 해도 된다.In addition, in the embodiment of Fig. 4, the actual position of the driven body such as the bonding head is calculated from the count value (the number of rotations and the rotation angle) of the servo motor 130, and the actual speed is calculated based on the calculated actual position. have. However, a position detecting device that directly detects the position of the driven member may be provided so that the position detected by the position detecting device is a real position.

이하, 이상 파형 생성부, 명령 파형 생성부에 대하여 상세하게 설명한다. 상술한 바와 같이 이상 파형 생성부(211)는 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 진폭값인 목표 가가속도(Jobj), 목표 가속도(Aobj), 목표 속도(Vobj) 및 목표 위치(Pobj)로부터, 이상적인 명령 파형을 생성한다. 명령 파형 생성부(212)는 명령 출력 처리 및 명령 파형 재생성 처리를 행한다. 이때, 명령 파형(예를 들어, 가가속도 미분값의 명령 파형)에, 편차량을 가미한 가가속도 미분값 가산 파형을 가산하도록 하여, 명령 파형 재생성 처리가 행해진다.The abnormal waveform generator and the command waveform generator will be described in detail below. As described above, the abnormal waveform generator 211 is configured from the target acceleration acceleration Jobj, the target acceleration Aobj, the target velocity Vobj, and the target position Pobj, which are amplitude values of acceleration, acceleration, velocity, and position. Generate an ideal command waveform. The command waveform generation unit 212 performs command output processing and command waveform regeneration processing. At this time, the command waveform regeneration process is performed by adding the acceleration acceleration derivative value addition waveform to which the deviation amount is added to the command waveform (for example, the command waveform of the acceleration acceleration value).

먼저, 이상 파형 생성부에 대하여 도 5를 사용하여 설명한다. 도 5는 도 4의 이상 파형 생성부의 제1 파형 생성부에서 생성되는 명령 파형을 설명하기 위한 도면이다. 도 5의 (a)는 명령 가가속도 파형, 도 5의 (b)는 명령 가가속도 파형으로부터 생성되는 명령 가속도 파형, 도 5의 (c)는 명령 가속도 파형으로부터 생성되는 명령 속도 파형, 도 5의 (d)는 명령 가속도 파형으로부터 생성되는 명령 위치이다. 명령 위치란, 피구동체의 이동처의 위치이다. 또한, 횡축은 시간이다.First, the abnormal waveform generating unit will be described with reference to FIG. 5. FIG. 5 is a diagram for describing a command waveform generated by the first waveform generator of FIG. 4. 5A is a command acceleration waveform, FIG. 5B is a command acceleration waveform generated from the command acceleration waveform, FIG. 5C is a command acceleration waveform generated from the command acceleration waveform, and FIG. (d) is a command position generated from the command acceleration waveform. The command position is the position of the moving destination of the driven body. In addition, the horizontal axis is time.

제1 파형 생성부(214)는 목표 가가속도(Jobj)로부터 명령 가가속도 파형(JDR)을 생성한다. 목표 가속도(Aobj)와 명령 가가속도 파형(JDR)의 적분으로부터 명령 가속도 파형(ADR)을 생성한다. 목표 속도(Vobj)와 명령 가속도 파형(ADR)의 적분으로부터 명령 속도 파형(VDR)을 생성한다. 목표 위치(Pobj)와 명령 속도 파형(VDR)의 적분으로부터 명령 위치 파형(PDR)을 생성한다.The first waveform generator 214 generates the command acceleration waveform JDR from the target acceleration acceleration Jobj. A command acceleration waveform ADR is generated from the integration of the target acceleration Aobj and the command acceleration waveform JDR. The command speed waveform VDR is generated from the integration of the target speed Vobj and the command acceleration waveform ADR. The command position waveform PDR is generated from the integration of the target position Pobj and the command speed waveform VDR.

도 5의 (a)에 있어서, n은 1펄스의 명령 파형을 출력하는 명령 출력 주기의 횟수이고, 8의 배수이다. 도 5에 나타낸 바와 같이, 피이동체를 구동하는 모터는 이동 개시로부터 최초의 기간(T1)에서는 서서히 가속되고, 중앙부의 기간(T2)에서는 정속도로, 최종 이동 위치에 접근하는 기간(T3)에서는 서서히 감속하여 정지하도록 가가속도 제어된다.In Fig. 5A, n is the number of command output periods for outputting a command waveform of one pulse, and is a multiple of eight. As shown in FIG. 5, the motor driving the to-be-moved body is gradually accelerated in the first period T1 from the start of movement, at a constant speed in the period T2 in the center portion, and gradually in the period T3 approaching the final moving position. Acceleration is controlled to decelerate and stop.

본 실시예에서는 8의 배수라고 하였지만, 목표 위치가 정방향인 경우에 가가속도 명령값이 정의 값, 부의 값, 부의 값, 정의 값으로 변화되는 파형, 또는 목표 위치가 정방향인 경우에 가가속도 명령값이 정의 값, 부의 값, 정의 값으로 변화되는 파형으로 할 수도 있다. 이것은 목표 이동 거리가 짧은 경우에, 가가속도 명령값이 0인 구간이 없어지기 때문이다. 이와 같이, 가가속도 파형에 가가속도가 0이 되는 부분을 형성하지 않으면, n은 4의 배수로 해도 된다.In the present embodiment, the multiplier is 8, but the acceleration command value changes to a positive value, negative value, negative value, positive value when the target position is positive direction, or the acceleration command value when the target position is positive direction. The waveform may be changed to this positive value, negative value, or positive value. This is because, in the case where the target moving distance is short, the section in which the acceleration command value is zero disappears. Thus, n may be a multiple of 4, unless the part in which the acceleration becomes zero is formed in the acceleration waveform.

이어서, 이동 평균 처리부의 설명에 앞서, 이동 평균법에 대하여 이동 평균 후의 명령 속도 파형을 구하는 수순을 예로 들어 도 6 내지 9를 사용하여 설명한다. 도 6 내지 9는 명령 속도 파형의 이동 평균을 구하는 수순을 설명하기 위한 도면이다.Next, prior to the description of the moving average processing unit, the procedure for obtaining the command speed waveform after the moving average with respect to the moving average method will be described using FIGS. 6 to 9 as an example. 6 to 9 are diagrams for explaining a procedure for obtaining a moving average of the command speed waveform.

명령 파형의 지정 시간 내의 m개의 명령의 평균을 명령값으로 하고, n개 어긋나게 하여 다음의 m개의 명령의 평균을 명령값으로 하고, 다시 n개 어긋나게 하고 다음의 m개의 명령의 평균을 명령값으로 한다. 이것을 명령 파형 전체에서 행하고, 평균화된 명령값을 서로 연결시켜 최종적인 명령 파형을 생성한다. 도 6 내지 9에서는 m=8, n=1의 예이다. 도 6에 나타낸 바와 같이, 이동 평균 전의 명령 속도 파형의 8개의 명령 속도 VR1을 평균하고, 이동 평균 후의 속도 명령값 VA1을 산출한다. 이어서, 도 7에 나타낸 바와 같이, 1개 어긋나게 하여 이동 평균 전의 명령 속도 파형의 8개의 명령 속도 VR2를 평균하고, 이동 평균 후의 속도 명령값 VA2를 산출한다. 이어서, 도 8에 나타낸 바와 같이, 1개 어긋나게 하여 이동 평균 전의 명령 속도 파형의 8개의 명령 속도 VR3을 평균하고, 이동 평균 후의 속도 명령값 VA3을 산출한다. 이것을 명령 속도 파형 VR의 전체에서 행하고, 평균화된 속도 명령값을 서로 연결시켜 최종적인 명령 속도 파형 VA를 생성한다.The average of the m commands within the specified time period of the command waveform is the command value, n shifts are made, the average of the next m commands is set to the command value, and the n shift is made again, and the average of the next m commands is set to the command value. do. This is done for the entire command waveform, and the averaged command values are linked together to produce the final command waveform. 6 to 9 show examples of m = 8 and n = 1. As shown in Fig. 6, the eight command speeds VR1 of the command speed waveform before the moving average are averaged, and the speed command value VA1 after the moving average is calculated. Subsequently, as shown in FIG. 7, the eight command speeds VR2 of the command speed waveform before the moving average are averaged by one shift, and the speed command value VA2 after the moving average is calculated. Subsequently, as shown in FIG. 8, 8 command speeds VR3 of the command speed waveform before a moving average are shifted | shifted and averaged, and the speed command value VA3 after a moving average is computed. This is done in the entire command speed waveform VR, and the averaged speed command values are connected to each other to generate the final command speed waveform VA.

이동 평균 시간과 명령 파형 형상의 관계에 대하여 도 10을 사용하여 설명한다. 도 10은 이동 평균 시간을 변화시킨 경우의 각 명령 파형의 형상을 나타내는 도면이다.The relationship between the moving average time and the command waveform shape will be described with reference to FIG. 10. 10 is a diagram illustrating the shape of each command waveform when the moving average time is changed.

명령 파형의 이동 평균 처리에 의해 전체의 명령 파형 길이가 신장되고, 동작 시간이 길어지므로, 지정 시간(이동 평균 시간)이 길어질(m이 커질)수록, 동작 시간이 길어진다.Since the entire command waveform length is extended by the moving average processing of the command waveforms, and the operation time becomes longer, the longer the specified time (moving average time) becomes (the larger m), the longer the operation time becomes.

이동 평균 시간이 커지면, 각 명령 파형은 둔해진다. 한편, 이동 평균 시간이 0초인 경우는, 가가속도 미분값이 무한대가 되기 때문에, 도시 불가능하고, 가가속도 미분 파형을 구할 수 없다. 이동 평균 시간은, 예를 들어 다이 본더에 요구되는 본딩 정밀도 또는 사이클 타임에 따라 설정 가능하다.As the moving average time increases, each command waveform becomes dull. On the other hand, when the moving average time is 0 seconds, since the acceleration differential value is infinity, it is not shown and the acceleration differential waveform cannot be obtained. The moving average time can be set according to the bonding accuracy or the cycle time required for the die bonder, for example.

이동 평균 처리부(215)는 제1 파형 생성부(214)에서 생성된 명령 위치 파형(위치의 명령 파형)을 상술한 바와 같이 이동 평균법(일정한 시간을 정하고, 범위를 어긋나게 하면서 평균을 취해 가는 것)에 의해 이동 평균 처리를 하고, 이동 평균 후의 명령 위치 파형(이상적인 위치의 명령 파형)을 생성한다.The moving average processing unit 215 takes the command position waveform (command waveform of the position) generated by the first waveform generating unit 214 as described above with a moving average method (determining a predetermined time and taking an average while shifting the range). The moving average processing is performed to generate a command position waveform (command waveform of an ideal position) after the moving average.

이어서, 제2 파형 생성부에 대하여 도 11을 사용하여 설명한다. 도 11은 제2 파형 생성부에서 생성되는 명령 파형을 설명하기 위한 도면이다. 제2 파형 생성부(216)는 이동 평균 처리부(215)에서 생성한 이동 평균 후의 명령 위치 파형[이상적인 위치의 명령 파형(PD)]을 미분함으로써, 이동 평균 후의 명령 속도 파형[이상적인 속도의 명령 파형(VD)]을 생성한다. 명령 속도 파형(VD)을 미분함으로써, 이동 평균 후의 명령 가속도 파형[이상적인 가속도의 명령 파형(AD)]을 생성한다. 명령 가속도 파형(AD)을 미분함으로써, 이동 평균 후의 명령 가가속도 파형[이상적인 가가속도의 명령 파형(JD)]을 생성한다. 명령 가가속도 파형(JD)을 미분함으로써, 이동 평균 후의 가가속도 미분값 파형[이상적인 가가속도 미분값의 명령 파형(ΔJD)]을 생성한다.Next, the second waveform generating unit will be described with reference to FIG. 11. 11 is a diagram for describing a command waveform generated by the second waveform generator. The second waveform generator 216 differentiates the command position waveform after the moving average (command waveform PD at the ideal position) generated by the moving average processing unit 215, thereby generating the command velocity waveform after the moving average (command waveform at the ideal speed). (VD)]. By differentiating the command velocity waveform VD, a command acceleration waveform (command waveform AD of ideal acceleration) after the moving average is generated. By differentiating the command acceleration waveform AD, a command acceleration waveform (ideal acceleration command waveform JD of ideal acceleration) after the moving average is generated. By differentiating the command acceleration waveform JD, an acceleration acceleration differential value waveform (a command waveform ΔJD of an ideal acceleration differential value) after the moving average is generated.

도 11의 (e')에 있어서, n은 1펄스의 명령 파형을 출력하는 명령 출력 주기의 횟수이고, 16의 배수이다. 도 11에 나타낸 바와 같이, 피이동체를 구동하는 모터는 이동 개시로부터 최초의 기간(T1)에서는 서서히 가속되고, 중앙부의 기간(T2)에서는 정속도로, 최종 이동 위치에 접근하는 기간(T3)에서는 서서히 감속하여 정지하도록 가가속도 미분값 제어된다.In Fig. 11E, n is the number of command output periods for outputting a command waveform of one pulse, and is a multiple of 16. As shown in FIG. 11, the motor which drives a to-be-moved body accelerates gradually in the initial period T1 from the start of a movement, at a constant speed in the period T2 of a center part, and gradually in the period T3 approaching a final moving position. Acceleration derivative is controlled to decelerate and stop.

본 실시예에서는 16의 배수로 하였지만, 목표 위치가 정방향인 경우에 가가속도 미분값의 명령값이 정의 값, 부의 값, 부의 값, 정의 값, 부의 값, 정의 값, 정의 값, 부의 값으로 변화되는 파형, 혹은 목표 위치가 정방향인 경우에 가가속도 미분값의 명령값이 정의 값, 부의 값, 정의 값, 부의 값, 정의 값, 부의 값으로 변화되는 파형으로 할 수도 있다. 이것은 목표 이동 거리가 짧은 경우에, 가가속도 미분값의 명령값이 0인 구간이 없어지기 때문이다. 이와 같이, 가가속도 미분값 파형에 가가속도 미분값이 0이 되는 부분을 형성하지 않으면, n은 8의 배수로 해도 된다.In the present embodiment, a multiple of 16 is used. However, when the target position is in the forward direction, the command value of the acceleration differential value is changed into a positive value, negative value, negative value, positive value, negative value, positive value, positive value, negative value and negative value. When the waveform or the target position is in the forward direction, it may be a waveform in which the command value of the acceleration differential value is changed into a positive value, negative value, positive value, negative value, positive value, and negative value. This is because, in the case where the target moving distance is short, the section in which the command value of the acceleration differential value is 0 disappears. Thus, n may be made a multiple of 8, unless a part in which the acceleration differential value is zero is formed in the acceleration differential value waveform.

이어서, 명령 파형 생성부에 대하여 도 12 내지 17을 사용하여 설명한다. 도 12는 도 4의 명령 파형 생성부의 구성 및 명령 파형 생성부로의 입출력 신호를 나타내는 블록도이다. 도 13은 도 12의 명령 파형 입출력부 및 명령 파형 재생성 처리부의 제어 블록도이다. 도 14는 가가속도 미분값 가산 파형을 설명하기 위한 도면이다. 도 15는 편차량이 1펄스, 2펄스, 4펄스, 8펄스 및 16펄스인 경우 각각의, 보상용으로 가산되는 가가속도 미분값 파형, 가가속도 파형, 가속도 파형 및 속도 파형을 나타내는 도면이다. 도 16은 가가속도 상한 하한 확인 처리 동작을 설명하기 위한 도면이다. 도 17은 보상용의 가가속도 미분값 파형 산출 후의, 재생성된 명령 파형의 일례를 나타내는 도면이다. 횡축은 시간, 종축은 각각 펄스 높이를 나타낸다.Next, the command waveform generation unit will be described with reference to FIGS. 12 to 17. 12 is a block diagram illustrating a configuration of a command waveform generator of FIG. 4 and an input / output signal to the command waveform generator. FIG. 13 is a control block diagram of a command waveform input / output unit and a command waveform regeneration processor of FIG. 12. It is a figure for demonstrating the acceleration differential value addition waveform. FIG. 15 is a diagram showing acceleration acceleration value waveforms, acceleration waveforms, acceleration waveforms, and velocity waveforms added for compensation when the deviation amounts are 1 pulse, 2 pulses, 4 pulses, 8 pulses and 16 pulses. It is a figure for demonstrating the acceleration upper limit lower limit confirmation processing operation. Fig. 17 is a diagram showing an example of a regenerated command waveform after calculation of an acceleration acceleration differential value waveform for compensation. The horizontal axis represents time and the vertical axis represents pulse height, respectively.

도 12에 나타낸 바와 같이, 명령 파형 생성부(212)는 명령 파형 입출력부(410)와 명령 파형 재생성 처리부(420)와 인코더 시그널 카운터(430)를 구비한다.As shown in FIG. 12, the command waveform generator 212 includes a command waveform input / output unit 410, a command waveform regeneration processor 420, and an encoder signal counter 430.

이어서, 도 13에 있어서, 모션 컨트롤러(210)의 제2 파형 생성부(216)는 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD), 명령 가가속도 파형(JD), 명령 가속도 파형(AD), 명령 속도 파형(VD) 및 명령 위치 파형(PD)의 펄스를 명령 파형 생성부(212)의 명령 파형 입출력부(410)에 출력한다.Subsequently, in FIG. 13, the second waveform generation unit 216 of the motion controller 210 includes the command acceleration differential value waveform ΔJD, the command acceleration waveform JD, the command acceleration waveform AD, and the command speed waveform. The pulses of the VD and the command position waveform PD are outputted to the command waveform input / output unit 410 of the command waveform generator 212.

또한, 명령 파형 입출력부(410)는 전회의 명령 출력 타이밍에서 재생성한 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD'1 내지 ΔJD'n)과, 명령 가가속도 파형(JD'1 내지 JD'n)과, 전회의 명령 출력 타이밍에서 재생성된 명령 파형 중에서 명령 출력 주기 1회분 전으로부터의 명령 가속도 파형(AD'0 내지 AD'n), 명령 속도 파형(VD'0 내지 VD'n) 및 명령 위치 파형(PD'0 내지 PD'n)을 보존하고 있다. 명령 파형 입출력부(410)는 명령 파형 생성부(212)의 명령 파형 재생성 처리부(420)의 감산기(421) 및 가산기(423 내지 427)에, 목표 명령 위치(PD'0) 및 각각 전회의 타이밍에서 재생성한 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD'1 내지 ΔJD'n)과, 명령 가가속도 파형(JD'1 내지 JD'n), 명령 출력 주기 1회분 전으로부터의 명령 가속도 파형(AD'0 내지 AD'n -1), 명령 출력 주기 1회분 전으로부터의 명령 속도 파형(VD'0 내지 VD'n -1) 및 명령 출력 주기 1회분 전으로부터의 명령 위치 파형(PD'0 내지 PD'n-1)을 출력한다.The command waveform input / output unit 410 further includes command acceleration differential value waveforms ΔJD ′ 1 to ΔJD ′ n , command acceleration waveforms JD ′ 1 to JD ′ n , which are regenerated at a previous command output timing. Of the command waveforms regenerated at the previous command output timing, the command acceleration waveforms AD ' 0 to AD' n , the command speed waveforms VD ' 0 to VD' n , and the command position waveform PD from one time before the command output cycle. ' 0 to PD' n ) are stored. The command waveform input / output unit 410 is provided to the subtractor 421 and the adders 423 to 427 of the command waveform regeneration processing unit 420 of the command waveform generation unit 212 to the target command position PD ' 0 and the previous timing, respectively. Command acceleration waveforms (ΔJD ' 1 to ΔJD' n ), command acceleration waveforms (JD ' 1 to JD' n ), and command acceleration waveforms (AD ' 0 to 1) before the command output cycle regenerated at AD ' n -1 ), command speed waveforms VD' 0 to VD ' n -1 from one command output period ago and command position waveforms PD' 0 to PD ' n- from one command output period ago 1 )

이때, 명령 파형 생성부(212)의 인코더 시그널 카운터(430)는, 도 12에 나타낸 바와 같이 서보 모터(130)의 인코더 카운트값으로부터 현재의 실위치(PA0)를 취득하고, 감산기(421)에 출력한다.At this time, the encoder signal counter 430 of the command waveform generating unit 212 acquires the current actual position PA 0 from the encoder count value of the servo motor 130, and the subtractor 421. Output to.

감산기(421)는 현재의 목표 명령 위치(PD'0)로부터 현재의 실위치(PA0)를 빼고 편차량(Perr)을 산출하고, 가가속도 미분값 가산 파형 생성부(422)에 출력한다.The subtractor 421 subtracts the current actual position PA 0 from the current target command position PD ' 0 , calculates a deviation Perr, and outputs it to the acceleration derivative value addition waveform generator 422.

도 14에 나타낸 바와 같이, 가가속도 미분값 가산 파형 생성부(422)는 샘플링 간격(TS) 내, 즉 명령 출력 주기(TC)를 갖는 n회의 명령으로 편차량(Perr)이 장래적으로 "0"이 되는 가가속도 미분값 파형(ΔC1 내지 ΔCn)을 생성한다. 도 14에 있어서, K는 펄스폭, ΔJC는 펄스 높이, n(자연수)은 샘플링 간격(TS)에 있어서의 명령 횟수, x(자연수)는 n개의 명령 횟수의 명령 위치[펄스 번호(1≤x≤n)]이다.As shown in Fig. 14, the acceleration differential value addition waveform generation unit 422 has a deviation amount Perr in the future with n commands within the sampling interval TS, that is, the command output period TC. Generate an acceleration differential value waveform ΔC 1 to ΔC n . In Fig. 14, K is pulse width, ΔJC is pulse height, n (natural number) is the number of instructions in the sampling interval TS, and x (natural number) is the instruction position of n number of instructions (pulse number (1≤x)). ≤ n)].

예를 들어, 가가속도 미분값 파형(ΔC1 내지 ΔCn)은 다음과 같은 수순 (1) 내지 (3)으로 생성한다. 또한, 이하에 있어서, 위치 편차 목표 보상량을 P(Perr을 P로 하여 그대로 사용함), 명령 출력 주기를 TC, 편차량 보상 목표 시간을 TN, 편차량 보상 목표 명령 출력 주기를 n회, 가가속도 미분값 파형의 폭을 K, 가가속도 미분값 가산 파형의 크기를 ΔJC로 하여 설명한다.For example, the acceleration differential value waveforms ΔC 1 to ΔC n are generated in the following procedures (1) to (3). In addition, in the following, the position deviation target compensation amount is P (use Perr as P as it is), the command output period is TC, the deviation amount compensation target time is TN, and the deviation amount compensation target command output period is n times, and the acceleration is The width of the derivative waveform is K and the magnitude of the acceleration derivative value addition waveform is ΔJC.

{수순 (1)}{Step (1)}

먼저, 이하와 같이, 가가속도 미분값 파형의 폭(K)을 산출한다.First, the width K of the acceleration differential value waveform is calculated as follows.

TN>(TC×n)으로부터, 가가속도 미분값 가산 파형의 형상을 고정하기 위해, n은 16의 배수로 한다.From TN> (TC × n), n is a multiple of 16 to fix the shape of the acceleration differential value addition waveform.

즉, TN>(TC×16×K)로 하고, 가가속도 미분값 파형의 폭(K)은,That is, TN> (TC × 16 × K), and the width K of the acceleration derivative value waveform is

K<(TN/(TC×16))으로 한다.Let K <(TN / (TC × 16)).

{수순 (2)}{Procedure (2)}

이어서, 이하의 식으로부터, 가가속도 미분값 가산 파형의 크기(ΔJC)를 산출한다.Next, the magnitude (ΔJC) of the acceleration differential value addition waveform is calculated from the following equation.

ΔJC=(1/16)×(P/K3×TC3)ΔJC = (1/16) × (P / K 3 × TC 3 )

{수순 (3)}{Step (3)}

이어서, 가가속도 미분값 가산 파형(ΔC1 내지 ΔCn)을 생성한다.Next, the acceleration differential value addition waveforms ΔC 1 to ΔC n are generated.

편차량을 보상하기 위한 가가속도 미분값 가산 파형(ΔC1 내지 ΔCn)은 하기와 같이 된다. 또한, 여기서, x는 1 내지 n의 x번째의 파형을 의미한다.The acceleration acceleration derivative value addition waveforms ΔC 1 to ΔC n for compensating for the deviation amount are as follows. Here, x means the x-th waveform of 1 to n.

x/K≤1일 때, ΔCx=ΔJCΔC x = ΔJC when x / K ≦ 1

x/K≤2일 때, ΔCx=0ΔC x = 0 when x / K≤2

x/K≤3일 때, ΔCx=-ΔJCΔC x = −ΔJC when x / K ≦ 3

x/K≤4일 때, ΔCx=0 ΔC x = 0 when x / K ≦ 4

x/K≤5일 때, ΔCx=-ΔJCΔC x = −ΔJC when x / K ≦ 5

x/K≤6일 때, ΔCx=0ΔC x = 0 when x / K ≦ 6

x/K≤7일 때, ΔCx=ΔJC ΔC x = ΔJC when x / K ≦ 7

x/K≤8일 때, ΔCx=0 ΔC x = 0 when x / K ≦ 8

x/K≤9일 때, ΔCx=-ΔJC ΔC x = −ΔJC when x / K ≦ 9

x/K≤10일 때, ΔCx=0 ΔC x = 0 when x / K ≦ 10

x/K≤11일 때, ΔCx=ΔJC ΔC x = ΔJC when x / K ≦ 11

x/K≤12일 때, ΔCx=0 ΔC x = 0 when x / K≤12

x/K≤13일 때, ΔCx=-ΔJCΔC x = −ΔJC when x / K ≦ 13

x/K≤14일 때, ΔCx=0 ΔC x = 0 when x / K ≦ 14

x/K≤15일 때, ΔCx=-ΔJC ΔC x = −ΔJC when x / K ≦ 15

x/K≤16일 때, ΔCx=0ΔC x = 0 when x / K ≦ 16

예를 들어, K=1인 경우에는, 가가속도 미분값 가산 파형(ΔC1 내지 ΔCn)은 이하와 같이 된다.For example, when K = 1, the acceleration differential value addition waveforms ΔC 1 to ΔC n are as follows.

ΔC1 내지 ΔCn={ΔJC, 0, -ΔJC, 0, -ΔJC, 0, ΔJC, 0, -ΔJC, 0, ΔJC, 0, ΔJC, 0, -ΔJC, 0}ΔC 1 to ΔC n = {ΔJC, 0, -ΔJC, 0, -ΔJC, 0, ΔJC, 0, -ΔJC, 0, ΔJC, 0, ΔJC, 0, -ΔJC, 0}

즉, ΔC1=ΔJC, ΔC2=0, ΔC3=-ΔJC, ΔC4=0, ΔC5=-ΔJC, ΔC6=0, ΔC7=ΔJC, ΔC8=0, ΔC9=-ΔJC, ΔC10=0, ΔC11=ΔJC, ΔC12=0, ΔC13=ΔJC, ΔC14=0, ΔC15=-ΔJC, ΔC16=0이다.That is, ΔC 1 = ΔJC, ΔC 2 = 0, ΔC 3 = -ΔJC, ΔC 4 = 0, ΔC 5 = -ΔJC, ΔC 6 = 0, ΔC 7 ΔJC, ΔC 8 = 0, ΔC 9 ΔΔC a ΔC 10 = 0, ΔC 11 = ΔJC, ΔC 12 = 0, ΔC 13 = ΔJC, ΔC 14 = 0, ΔC 15 = -ΔJC, ΔC 16 = 0.

도 15에 나타낸 바와 같이, 편차량(P)이 크면 클수록, 편차량(P)을 보상하기 위한 가가속도 미분값 파형의 높이(ΔJC)가 커진다.As shown in Fig. 15, the larger the deviation amount P, the larger the height ΔJC of the acceleration differential value waveform for compensating the deviation P.

이어서, 도 13에 있어서, 가가속도 미분값 가산 파형 생성부(422)는 가가속도 미분값 가산 파형(ΔC1 내지 ΔCn)을 가산기(423)에 출력한다. 가산기(423)는 가가속도 미분값 가산 파형(ΔC1 내지 ΔCn)과 전회의 명령 출력 타이밍에서 생성한 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD'1 내지 ΔJD'n)을 가산하고, 명령 출력 주기 n회분의 모든 명령 가가속도 미분값 파형(JD"1 내지 JD"n)을 재생성하고, 가가속도 미분값 제한부(428)와 가산기(424)에 출력한다.In FIG. 13, the acceleration differential value addition waveform generation unit 422 outputs the acceleration differential value addition waveforms ΔC 1 to ΔC n to the adder 423. The adder 423 adds the acceleration acceleration value addition waveforms ΔC 1 to ΔC n and the command acceleration acceleration value waveforms ΔJD ' 1 to ΔJD' n generated at the previous command output timing, and the command output period n All command acceleration differential value waveforms JD " 1 to JD" n of the batch are regenerated and output to the acceleration differential value limiting unit 428 and the adder 424.

예를 들어, 가산기(423)의 출력은 ΔJD"1=ΔJD'1+ΔC1, ΔJD"2=ΔJD'2+ΔC2, ΔJD"3=ΔJD'3+ΔC3, 내지, ΔJD"n=ΔJD'n+ΔCn이 된다.For example, the output of the adder 423 is ΔJD "1 = ΔJD '1 + ΔC 1, ΔJD" 2 = ΔJD' 2 + ΔC 2, ΔJD "3 = ΔJD '3 + ΔC 3, to, ΔJD" n = ΔJD' n + ΔC n .

가산기(424)는 재생성된 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n)과 전회의 명령 출력 타이밍에서 생성한 명령 가가속도 파형(JD'1 내지 JD'n)을 가산하고, 명령 출력 주기 n회분의 모든 명령 가가속도 파형(JD"1 내지 JD"n)을 재생성하여, 가가속도 미분값 제한부(428)와 가산기(425)에 출력한다.The adder 424 adds the regenerated command acceleration differential value waveforms ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n and the command acceleration waveforms JD ′ 1 to JD ′ n generated at the previous command output timing, and outputs a command. All command acceleration waveforms JD " 1 to JD" n for a period n times are regenerated and output to the acceleration differential value limiting unit 428 and the adder 425.

예를 들어, 가산기(424)의 출력은 JD"1=JD'1+ΔJD'1, JD"2=JD'2+ΔJD'2, JD"3=JD'3+ΔJD'3, 내지, JD"n=JD'n+ΔJD'n이 된다.For example, the output of the adder 424 JD "1 = JD '1 + ΔJD' 1, JD" 2 = JD '2 + ΔJD' 2, JD "3 = JD '3 + ΔJD' 3, to, JD" n = It is the JD 'n + ΔJD' n.

가산기(425)는 재생성된 명령 가가속도 파형(JD"1 내지 JD"n)과 전회의 명령 출력 타이밍에서 생성한 명령 출력 주기 1회분 전으로부터의 명령 가속도 파형(AD'0 내지 AD'n - 1)을 가산하고, 명령 출력 주기 n회분의 모든 명령 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n)을 재생성하여, 가산기(426) 및 가가속도 미분값 제한부(428)에 출력한다.The adder 425 is a command acceleration waveform AD ' 0 to AD' n - 1 from the regenerated command acceleration waveforms JD " 1 to JD" n and one time before the command output period generated at the previous command output timing. ) Are added, and all command acceleration waveforms AD " 1 to AD" n for the command output period n times are regenerated and output to the adder 426 and the acceleration derivative value limiting unit 428.

예를 들어, 가산기(425)의 출력은 AD"1=AD'0+JD"1, AD"2=AD'1+JD"2, AD"3=AD'2+JD"3, 내지, AD"n=AD'(n-1)+JD"n이 된다.For example, the output of the adder 425 is AD " 1 = AD ' 0 + JD" 1 , AD " 2 = AD' 1 + JD" 2 , AD " 3 = AD ' 2 + JD" 3 , to AD " n = AD ' (n-1) + JD " n .

가산기(426)는 재생성된 명령 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n)과 전회의 명령 출력 타이밍에서 생성한 명령 출력 주기 1회분 전으로부터의 명령 속도 파형(VD'0 내지 VD'n - 1)을 가산하고, 명령 출력 주기 n회분의 모든 명령 가속도 파형(VD"1 내지 VD"n)을 재생성하고, 가산기(427) 및 가가속도 미분값 제한부(428)에 출력한다.The adder 426 includes the regenerated command acceleration waveforms AD ″ 1 to AD ″ n and the command speed waveforms VD ' 0 to VD' n - 1 from one previous command output cycle generated at the previous command output timing. Is added, and all command acceleration waveforms VD " 1 to VD" n for n command output cycles are reproduced and output to the adder 427 and the acceleration differential value limiting unit 428.

예를 들어, 가산기(426)의 출력은 VD"1=VD'0+AD"1, VD"2=VD'1+AD"2, VD"3=VD'2+AD"3, 내지, VD"n=VD'(n-1)+AD"n이 된다.For example, the output of the adder 426 is VD "1 = VD '0 + AD" 1, VD "2 = VD' 1 + AD" 2, VD "3 = VD '2 + AD" 3, to, VD "n = VD ' (n-1) + AD " n .

가산기(427)는 재생성된 명령 속도 파형(VD"1 내지 VD"n)과 전회의 명령 출력 타이밍에서 생성한 명령 출력 주기 1회분 전으로부터의 명령 위치 파형(PD'0 내지 PD'n-1)을 가산하고, 명령 출력 주기 n회분의 모든 명령 위치 파형(PD"1 내지 PD"n)을 재생성하여 가가속도 미분값 제한부(428)에 출력한다.The adder 427 includes the regenerated command speed waveforms VD " 1 to VD" n and the command position waveforms PD ' 0 to PD' n-1 from one previous command output period generated at the previous command output timing. Is added, and all command position waveforms PD " 1 to PD" n for a command output period n times are regenerated and output to the acceleration differential value limiting unit 428.

예를 들어, 가산기(427)의 출력은 PD"1=PD'0+VD"1, PD"2=PD'1+VD"2, PD"3=PD'2+VD"3, 내지, PD"n=PD'(n-1)+VD"n이 된다.For example, the output of the adder 427 is PD " 1 = PD ' 0 + VD" 1 , PD " 2 = PD' 1 + VD" 2 , PD " 3 = PD ' 2 + VD" 3 , to PD " n = PD ' (n-1) + VD " n .

또한, 명령 파형 재생성 처리부(420)는 가산기(423 내지 427)에서 얻어진 각 명령 파형이 범위 내인지를 확인한다.In addition, the command waveform regeneration processing unit 420 checks whether each command waveform obtained by the adders 423 to 427 is within a range.

가가속도 미분값 제한부(428)는 재생성된 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n)이 상한(또는 하한)을 초과하지 않았는지 여부에 대하여 도 16을 사용하여 확인한다. 도 16에 있어서, 가가속도 미분값 상한(ΔJmax) 및 가가속도 미분값 하한(-ΔJmax)은 미리 정해져 있다.The acceleration differential value limiting unit 428 checks using FIG. 16 whether the regenerated command acceleration differential value waveforms ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n did not exceed the upper limit (or lower limit). In FIG. 16, the upper limit of acceleration differential value (DELTA) Jmax and the lower limit of acceleration differential value (-ΔJmax) are predetermined.

도 16에 있어서, 가산기(423)에서는 전회의 명령 출력 타이밍에서 생성한 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD'1 내지 ΔJD'n)에, 파선원(701) 내의 가가속도 미분값 가산 파형이 가산되어 있다. 즉, 가산 파형 펄스(ΔC1, ΔC2, ΔC3, ΔC4, ΔC5, ΔC6, ΔC7 및 ΔC8)가 굵은 선으로 나타난 가가속도 미분값 파형에 가산되어 있다[명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n)]. 전회 보정의 타이밍에 보정이 있고, 다시 보정이 가해지면 펄스 파형이 가가속도 미분값 하한값(-ΔJmax)을 하회할 가능성이 있다.In FIG. 16, the adder 423 adds the acceleration acceleration differential value addition waveform in the broken line source 701 to the command acceleration differential value waveforms ΔJD ' 1 to ΔJD' n generated at the previous command output timing. have. That is, the addition waveform pulses ΔC 1 , ΔC 2 , ΔC 3 , ΔC 4 , ΔC 5 , ΔC 6 , ΔC 7 and ΔC 8 are added to the acceleration differential value waveform represented by the thick line (command acceleration differential value). Waveform ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n ]. If correction is made at the timing of the previous correction, and correction is made again, there is a possibility that the pulse waveform may fall below the acceleration acceleration derivative lower limit value (-ΔJmax).

이 경우, 가가속도 미분값 제한부(428)는 현재 시각에서의 펄스 파형(ΔC1, ΔC2, ΔC3, ΔC4, ΔC5, ΔC6, ΔC7 및 ΔC8)이 상한(ΔJmax)과 하한(-ΔJmax) 사이에 있는지(OK) 아닌지(NG)를 검출하고, OK인지 NG인지를 판정하여, 출력을 분기하고 있다. 예를 들어, 현재 시각에서 파형(ΔC2)이, 상한(ΔJmax) 미만인지 여부를 검출한다(ΔJD"1 내지 ΔJD"n<ΔJmax). 그리고 아니(NG)라면, 명령 파형 복원부(42C)에 NG 정보를 출력한다. 또한 OK라면, 현재 시각에서의 파형(ΔC2)이, 하한(ΔJmax) 초과인지 여부를 검출한다(-ΔJmax<ΔJD"1 내지 ΔJD"n). 그리고 아니(NG)라면, 명령 파형 복원부(42C)에 NG 정보를 출력한다. 또한 OK라면, 가가속도 제한부(429)에 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n), 명령 가가속도 파형(JD"1 내지 JD"n), 명령 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n), 명령 속도 파형(VD"1 내지 VD"n) 및 명령 위치 파형(PD"1 내지 PD"n)을 출력한다. In this case, the acceleration derivative value limiting unit 428 has the pulse waveforms ΔC 1 , ΔC 2 , ΔC 3 , ΔC 4 , ΔC 5 , ΔC 6 , ΔC 7 and ΔC 8 at the present time with the upper limit ΔJmax. It detects whether it is between the lower limits (-ΔJmax) (OK) or not (NG), determines whether it is OK or NG, and branches the output. For example, at the current time, it is detected whether the waveform ΔC 2 is less than the upper limit ΔJmax (ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n <ΔJmax). If not, the NG information is outputted to the command waveform recovery unit 42C. If it is OK, it is detected whether or not the waveform ΔC 2 at the present time exceeds the lower limit ΔJmax (−ΔJmax <ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n ). If not, the NG information is outputted to the command waveform recovery unit 42C. If OK is also OK, the command acceleration differential value waveforms ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n , the command acceleration waveforms JD ″ 1 to JD ″ n , and the command acceleration waveforms AD ″ 1 to the acceleration acceleration limiting unit 429. AD ″ n ), command velocity waveforms VD ″ 1 to VD ″ n and command position waveforms PD ″ 1 to PD ″ n are outputted.

이어서, 도 13에 있어서, 가가속도 제한부(429)는 가가속도 미분값 제한부(428)와 마찬가지로, 현재 시각에서의 가가속도 파형이 상한(Jmax) 미만인지 여부를 검출한다(JD"1 내지 JD"n<Jmax). 그리고, 아니(NG)라면, 명령 파형 복원부(42C)에 NG 정보를 출력한다. 또한 OK라면, 현재 시각에서의 파형이, 하한 Jmax 초과인지 여부를 검출한다(-Jmax<JD"1 내지 JD"n). 그리고 아니(NG)라면, 명령 파형 복원부(42C)에 NG 정보를 출력한다. 또한 OK라면, 가속도 제한부(42A)에 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n), 명령 가가속도 파형(JD"1 내지 JD"n), 명령 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n), 명령 속도 파형(VD"1 내지 VD"n) 및 명령 위치 파형(PD"1 내지 PD"n)을 출력한다.13, the acceleration limiting unit 429 detects whether the acceleration waveform at the current time is less than the upper limit Jmax, similarly to the acceleration differential value limiting unit 428 (JD " 1 to 1) . JD " n <Jmax). If NO, the NG information is output to the command waveform recovery unit 42C. If OK is also present, it is detected whether or not the waveform at the current time exceeds the lower limit Jmax (-Jmax &lt; JD " 1 to JD " n ). If not, the NG information is outputted to the command waveform recovery unit 42C. If OK is also OK, the command acceleration differential derivative waveforms ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n , the command acceleration waveforms JD ″ 1 to JD ″ n , and the command acceleration waveforms AD ″ 1 to AD are applied to the acceleration limiting unit 42A. " n ), command speed waveforms VD" 1 to VD " n ) and command position waveforms PD" 1 to PD " n ) are output.

이어서, 도 13에 있어서, 가속도 제한부(42A)는 가가속도 미분값 제한부(428)와 마찬가지로, 현재 시각에서의 가속도 파형이, 상한(Amax) 미만인지 여부를 검출한다(AD"1 내지 AD"n<Amax). 그리고 아니(NG)라면, 명령 파형 복원부(42C)에 NG 정보를 출력한다. 또한 OK라면, 현재 시각에서의 파형이, 하한(Amax) 초과인지 여부를 검출한다(-Amax<AD"1 내지 AD"n). 그리고 아니(NG)라면, 명령 파형 복원부(42C)에 NG 정보를 출력한다. 또한 OK라면, 속도 제한부(42B)에 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n), 명령 가가속도 파형(JD"1 내지 JD"n), 명령 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n), 명령 속도 파형(VD"1 내지 VD"n) 및 명령 위치 파형(PD"1 내지 PD"n)을 출력한다.In FIG. 13, the acceleration limiting unit 42A detects whether the acceleration waveform at the present time is less than the upper limit Amax, similarly to the acceleration differential value limiting unit 428 (AD ″ 1 to AD). " n <Amax). If not, the NG information is outputted to the command waveform recovery unit 42C. If it is OK, it is detected whether or not the waveform at the current time is more than the lower limit Amax (-Amax &lt; AD &quot; 1 to AD " n ). If not, the NG information is outputted to the command waveform recovery unit 42C. If OK, the command acceleration acceleration derivative waveforms ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n , the command acceleration waveforms JD ″ 1 to JD ″ n , and the command acceleration waveforms AD ″ 1 to AD are supplied to the speed limiter 42B. " n ), command speed waveforms VD" 1 to VD " n ) and command position waveforms PD" 1 to PD " n ) are output.

또한 도 13에 있어서, 속도 제한부(42B)는 가가속도 미분값 제한부(428)와 마찬가지로, 현재 시각에서의 속도 파형이, 상한(Vmax) 미만인지 여부를 검출한다(VD"1 내지 VD"n<Vmax). 그리고 아니(NG)라면, 명령 파형 복원부(42C)에 NG 정보를 출력한다. 또한 OK라면, 현재 시각에서의 파형이, 하한(Vmax)을 초과하는지 여부를 검출한다(-Vmax<VD"1 내지 VD"n). 그리고 아니(NG)라면, 명령 파형 복원부(42C)에 NG 정보를 출력한다. 또한 OK라면, 명령 파형 입출력부(410)에 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n), 명령 가가속도 파형(JD"1 내지 JD"n), 명령 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n), 명령 속도 파형(VD"1 내지 VD"n) 및 명령 위치 파형(PD"1 내지 PD"n)을 출력한다.13, the speed limiting section 42B detects whether or not the speed waveform at the present time is less than the upper limit Vmax, similarly to the acceleration acceleration differential value limiting section 428 (VD " 1 to VD"). n <Vmax). If not, the NG information is outputted to the command waveform recovery unit 42C. If it is OK, it is detected whether or not the waveform at the current time exceeds the lower limit Vmax (-Vmax &lt; VD " 1 to VD " n ). If not, the NG information is outputted to the command waveform recovery unit 42C. If OK, the command waveform input / output unit 410 sends the command acceleration differential value waveforms ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n , the command acceleration waveforms JD ″ 1 to JD ″ n , and the command acceleration waveforms AD ″ 1 to ˜. AD ″ n ), command velocity waveforms VD ″ 1 to VD ″ n and command position waveforms PD ″ 1 to PD ″ n are outputted.

명령 파형 복원부(42C)는 NG 정보가, 가가속도 미분값 제한부(428), 가가속도 제한부(429), 가속도 제한부(42A), 또는 속도 제한부(42B)의 어느 것으로부터 입력된 경우에는, 전회의 명령 출력 시의 명령 파형을 복원하고, 전체 편차량의 보정을 차회 명령 출력 시까지 미룬다(상한과 하한의 확인 처리). 즉, 복원한 전회의 명령 출력 시의 명령 파형을 명령 파형 입출력부(410)에 출력한다.The command waveform reconstructing unit 42C has inputted NG information from any of the acceleration differential value limiting unit 428, the acceleration limiting unit 429, the acceleration limiting unit 42A, or the speed limiting unit 42B. In this case, the command waveform at the time of the previous command output is restored, and the correction of the total deviation amount is delayed until the next command output (upper and lower limit confirmation processing). That is, the command waveform at the time of restoring the previous command output is output to the command waveform input / output unit 410.

이 후, 도 13에 있어서, 재생성한 명령 파형의 ΔJD"1 내지 ΔJD"n, JD"1 내지 JD"n, AD"1 내지 AD"n, VD"1 내지 VD"n 및 PD"1 내지 PD"n을 새로운 명령 파형으로서 보존한다.Subsequently, in FIG. 13, ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n , JD ″ 1 to JD ″ n , AD ″ 1 to AD ″ n , VD ″ 1 to VD ″ n, and PD ″ 1 to PD of the regenerated command waveform. " n is saved as a new command waveform.

명령 파형의 속도 명령값(VD"1 내지 VD"n)은, 도 12에 나타낸 바와 같이 명령 파형 입출력부(410)로부터 DAC(213)로 순차 출력되고, DAC(213)는 순차 아날로그 변환한 속도 명령값을 서보 앰프(220)에 출력한다.Speed of Command Waveforms Command values VD ″ 1 to VD ″ n are sequentially output from the command waveform input / output unit 410 to the DAC 213 as shown in FIG. 12, and the DAC 213 is the speed of analog conversion in sequence. The command value is output to the servo amplifier 220.

도 12에 있어서, DAC(213)는 입력된 속도 명령값(VD"1)을 아날로그값으로 변환하여 서보 앰프(220)에 출력한다. 서보 앰프(220)는 입력된 아날로그 데이터에 따라 서보 모터(130)를 회전 구동하고, 또한 서보 모터(130)의 회전 위치(및 회전 속도)를 인코더 신호로 하여, 명령 파형 생성부(212)에 출력한다.In Fig. 12, the DAC 213 converts the input speed command value VD " 1 into an analog value and outputs it to the servo amplifier 220. The servo amplifier 220 according to the input analog data, the servo motor ( 130 is rotated and outputted to the command waveform generation unit 212 using the rotational position (and rotational speed) of the servo motor 130 as an encoder signal.

서보 모터(130)로부터 출력된 인코더 신호는 명령 파형 생성부(212)의 인코더 시그널 카운터(430)에 입력된다.The encoder signal output from the servo motor 130 is input to the encoder signal counter 430 of the command waveform generator 212.

인코더 시그널 카운터(430)는 소정의 사이클에서 카운트한 카운트값(PA0)을 명령 파형 재생성 처리부(420)에 출력한다.The encoder signal counter 430 outputs the count value PA 0 counted in a predetermined cycle to the command waveform regeneration processor 420.

명령 파형 재생성 처리부(420)에서는 감산기(421)가, 그 감산 입력 단자에, 인코더 시그널 카운터(430)가 출력하는 카운트값(PA0)을 입력한다.In the command waveform regeneration processor 420, the subtractor 421 inputs the count value PA 0 output from the encoder signal counter 430 to the subtraction input terminal.

서보 앰프(220)는 입력된 속도 명령값(VD"1)에 따라 서보 모터(130)를 제어한다.The servo amplifier 220 controls the servo motor 130 according to the input speed command value VD ″ 1 .

모든 명령 파형이 재생성되는 모습을 도 17에 나타낸다. 가는 실선은 각각 보상 전의 파형이고, 현재 시각으로부터 명령 가가속도 미분값에 있어서 보상용의 가가속도 미분값 파형이 가산된 기간 동안에, 굵은 실선으로 나타난 파형으로 서보 모터(130)가 제어된다.17 shows how all the command waveforms are regenerated. The thin solid line is the waveform before compensation, respectively, and the servo motor 130 is controlled by the waveform shown by the bold solid line during the period in which the acceleration acceleration differential value waveform for compensation is added to the command acceleration differential value from the present time.

이 결과, 서보 모터(130)가 회전하고, 그 회전에 의해, 모터가 고속으로 회전 동작할 때에, 피구동체의 진행 방향에 대한 진동이나 편차를 억제하여, 정정 시간 단축을 실현할 수 있다. 또한, 이상적인 궤적에서 모터를 동작시킬 수 있고, 또한 현재의 위치를 항상 모니터링 할 수 있기 때문에, 복수의 축을 동기시켜 동작시키는 것이 용이해진다.As a result, when the servo motor 130 rotates and the motor rotates at high speed, the servo motor 130 rotates, and the vibration and the deviation in the advancing direction of the driven body can be suppressed to shorten the settling time. In addition, since the motor can be operated in the ideal trajectory and the current position can be monitored at all times, it becomes easy to operate in synchronization with a plurality of axes.

또한, 도 17에 있어서, 실위치 파형이 현재 시각보다도 앞에서부터 어긋나 있는 것처럼 보인다. 이것은, 명령의 파형에 대하여, 현재 시각까지의 어긋남(위치 편차)을 나타내고 있다. 실제로는 매우 짧은 명령 출력 주기의 간격으로 계속해서 보정하고 있기 때문에, 도 17만큼 현저하게 어긋남이 발생하는 경우는 없다. 도 17에서는 위치가 보정되는 모습을 강조하여 표현하기 위해, 현재 시각의 실위치를 명령 파형으로부터 약간 어긋난 위치로 하고 있다.In addition, in FIG. 17, it appears that the real position waveform has shifted from the front of the present time. This represents a deviation (position deviation) up to the current time with respect to the waveform of the command. In practice, since the correction is continuously performed at very short command output periods, there is no significant deviation as shown in FIG. In FIG. 17, the actual position of the present time is set to a position slightly shifted from the command waveform in order to emphasize the state in which the position is corrected.

이어서, 모터 제어 방법에 대하여 도 18, 19를 사용하여 설명한다. 도 18, 19는 모터 제어 방법의 동작의 일례의 수순을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 18, 19에 의해, 명령 출력 주기 타이밍에서 명령 가가속도 미분값 파형(JD"), 명령 가가속도 파형(JD"), 명령 가속도 파형(AD"), 명령 속도 파형(VD") 및 명령 위치 파형(PD")을 작성하는 수순을 설명한다.Next, the motor control method will be described with reference to FIGS. 18 and 19. 18 and 19 are flowcharts for explaining a procedure of an example of the operation of the motor control method. 18 and 19, the command acceleration differential waveform JD ", the command acceleration waveform JD", the command acceleration waveform AD ", the command speed waveform VD", and the command position at the command output period timing. The procedure for creating the waveform PD "will be described.

스텝 S601에서는 인코더 카운트값으로부터 현재의 실위치(PA0)를 취득한다.In step S601, the current actual position PA 0 is obtained from the encoder count value.

스텝 S602에서는 실위치(PA0)와 현재의 명령 위치(PD'0)로부터 편차량(Perr)을 산출한다.In step S602, the deviation amount Perr is calculated from the actual position PA 0 and the current command position PD ' 0 .

스텝 S603에서는 명령 출력 주기 n회에서, 편차량(Perr)이 장래적으로 "0"이 되는 가가속도 미분값 가산 파형(ΔC1 내지 ΔCn)을 생성한다.In step S603, the acceleration acceleration derivative value addition waveforms DELTA C 1 to DELTA C n are generated in the command output period n times in which the deviation amount Perr becomes "0" in the future.

스텝 S604에서는 가가속도 미분값 가산 파형(ΔC1 내지 ΔCn)을 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD'1 내지 ΔJD'n)에 가산하고, 명령 출력 주기 n회분의 모든 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n)을 재생성한다.In step S604, the acceleration acceleration value addition waveforms ΔC 1 to ΔC n are added to the command acceleration differential value waveforms ΔJD ' 1 to ΔJD' n , and all command acceleration differential value waveforms for the command output period n times ( ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n ) are regenerated.

스텝 S605에서는 재생성한 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n)을 명령 가가속도 파형(JD'1 내지 JD'n)에 가산하고, 명령 출력 주기 n회분의 모든 명령 가가속도 파형(JD"1 내지 JD"n)을 재생성한다.In step S605, the regenerated command acceleration differential value waveforms ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n are added to the command acceleration waveforms JD ' 1 to JD' n , and all command acceleration waveforms for the command output period n times ( JD ″ 1 to JD ″ n ) is regenerated.

스텝 S606에서는 명령 출력 주기 1회분 전으로부터의 명령 가속도 파형(AD'0 내지 AD'n - 1)과 재생성한 명령 가가속도 파형(JD"1 내지 JD"n)으로부터, 명령 출력 주기 n회분의 모든 명령 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n)을 재생성한다.In step S606, all of the command output period n times from the command acceleration waveforms AD ' 0 to AD' n - 1 and the regenerated command acceleration waveforms JD " 1 to JD" n from one command output period one time ago. The command acceleration waveforms AD ″ 1 to AD ″ n are regenerated.

스텝 S607에서는 명령 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n)의 재생성(스텝 S606)과 동일한 방법으로 명령 속도 파형(VD"1 내지 VD"n)을 재생성한다.In step S607, the command speed waveforms VD " 1 to VD" n are regenerated in the same manner as the regeneration (step S606) of the command acceleration waveforms AD " 1 to AD" n .

스텝 S608에서는 명령 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n)의 재생성(스텝 S606), 또는 명령 속도 파형(VD"1 내지 VD"n)의 재생성(스텝 S607)과 동일한 방법으로 명령 위치 파형(PD"1 내지 PD"n)을 재생성한다.In step S608, the command position waveform PD is operated in the same manner as the regeneration of the command acceleration waveforms AD ″ 1 to AD ″ n (step S606) or the regeneration of the command speed waveforms VD ″ 1 to VD ″ n (step S607). " 1 to PD" n ) is regenerated.

스텝 S609에서는 재생성한 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n)이 상한(ΔJmax) 미만인지 여부를 확인한다. 상한(ΔJmax)을 초과하는 경우에는 스텝 S614로 처리를 이행하고, 상한 미만인 경우에는 스텝 S610으로 처리를 이행한다.In step S609, it is checked whether the regenerated acceleration differential value waveforms ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n are less than the upper limit ΔJmax. If the upper limit ΔJmax is exceeded, the process proceeds to step S614, and if it is less than the upper limit, the process proceeds to step S610.

스텝 S610에서는 재생성한 가가속도 파형(JD"1 내지 JD"n)이 상한(Jmax) 미만인지 여부를 확인한다. 상한(Jmax)을 초과하는 경우에는 스텝 S614로 처리를 이행하고, 상한 미만인 경우에는 스텝 S611로 처리를 이행한다.In step S610, it is checked whether the regenerated acceleration waveforms JD " 1 to JD" n are less than the upper limit Jmax. If the upper limit Jmax is exceeded, the process proceeds to step S614. If the upper limit Jmax is exceeded, the process proceeds to step S611.

스텝 S611에서는 재생성한 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n)이 상한(Amax) 미만인지 여부를 확인한다. 상한(Amax)을 초과하는 경우에는 스텝 S614로 처리를 이행하고, 상한 미만인 경우에는 스텝 S612로 처리를 이행한다.In step S611, it is checked whether the regenerated acceleration waveforms AD " 1 to AD" n are less than the upper limit Amax. If the upper limit Amax is exceeded, the process proceeds to step S614. If the upper limit Amax is exceeded, the process proceeds to step S612.

스텝 S612에서는 재생성한 속도 파형(VD"1 내지 VD"n)이 상한(Vmax) 미만인지 여부를 확인한다. 상한(Vmax)을 초과하는 경우에는 스텝 S614로 처리를 이행하고, 상한 미만인 경우에는 스텝 S613으로 처리를 이행한다.In step S612, it is checked whether the regenerated velocity waveforms VD " 1 to VD" n are less than the upper limit Vmax. If the upper limit Vmax is exceeded, the process proceeds to step S614. If the upper limit Vmax is exceeded, the process proceeds to step S613.

스텝 S613에서는 재생성한 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n), 명령 가가속도 파형(JD"1 내지 JD"n), 명령 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n), 명령 속도 파형(VD"1 내지 VD"n) 및 명령 위치 파형(PD"1 내지 PD"n)을 새로운 명령 파형으로서 보존한다.In step S613, the regenerated command acceleration differential value waveforms ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n , command acceleration waveforms JD ″ 1 to JD ″ n , command acceleration waveforms AD ″ 1 to AD ″ n , and command speed The waveforms VD ″ 1 to VD ″ n and the command position waveforms PD ″ 1 to PD ″ n are stored as new command waveforms.

스텝 S615에서는 차회의 속도 명령값(VD"1 내지 VD"n)을 DAC(312)로부터 출력시켜, 도 17, 18의 처리를 종료하고, 다음의 명령 출력 주기 타이밍의 동작으로 이행한다.In step S615, the next speed command values VD " 1 to VD" n are outputted from the DAC 312, the processing of Figs. 17 and 18 ends, and the operation shifts to the next command output cycle timing.

스텝 S614에서는 재생성 명령 파형을 전회의 명령 파형에서 복원하고, 스텝 S615로 처리를 이행한다. 즉, 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD"1 내지 ΔJD"n)으로서, 전회의 명령 가가속도 미분값 파형(ΔJD'1 내지 ΔJD'n)을 사용한다. 명령 가가속도 파형(JD"1 내지 JD"n)으로서, 전회의 명령 가가속도 파형(JD'1 내지 JD'n)을 사용한다. 또한, 명령 가속도 파형(AD"1 내지 AD"n)으로서, 전회의 명령 가속도 파형(AD'1 내지 AD'n)을 사용한다. 또한, 명령 속도 파형(VD"1 내지 VD"n)으로서, 전회의 명령 속도 파형(VD'1 내지 VD'n)도 사용한다. 또한, 명령 위치 파형(PD"1 내지 PD"n)으로서, 전회의 명령 위치 파형(PD'1 내지 PD'n)을 사용한다.In step S614, the regeneration command waveform is restored from the previous command waveform, and the process proceeds to step S615. That is, as the command acceleration differential value waveforms ΔJD ″ 1 to ΔJD ″ n , the previous command acceleration differential value waveforms ΔJD ′ 1 to ΔJD ′ n are used. As the command acceleration waveforms JD " 1 to JD" n , the previous command acceleration waveforms JD ' 1 to JD' n are used. As the command acceleration waveforms AD ″ 1 to AD ″ n , the previous command acceleration waveforms AD ′ 1 to AD ′ n are used. As the command speed waveforms VD ″ 1 to VD ″ n , the previous command speed waveforms VD ′ 1 to VD ′ n are also used. As the command position waveforms PD " 1 to PD" n , the previous command position waveforms PD ' 1 to PD' n are used.

이어서, 실시예에 관한 다이 본더를 사용한 반도체 장치의 제조 방법에 대하여 도 20을 사용하여 설명한다. 도 20은 반도체 장치의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.Next, the manufacturing method of the semiconductor device using the die bonder which concerns on an Example is demonstrated using FIG. 20 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a semiconductor device.

스텝 S11: 웨이퍼(11)로부터 분할된 다이(D)가 부착된 다이싱 테이프(16)를 유지한 웨이퍼 링(14)을 웨이퍼 카세트(도시하지 않음)에 격납하고, 다이 본더(10)에 반입한다. 제어부(8)는 웨이퍼 링(14)이 충전된 웨이퍼 카세트로부터 웨이퍼 링(14)을 다이 공급부(1)에 공급한다. 또한, 기판(P)을 준비하고, 다이 본더(10)에 반입한다. 제어부(8)는 기판 공급부(6)에서 기판(P)을 기판 반송 팔레트(51)에 적재한다.Step S11: The wafer ring 14 holding the dicing tape 16 with the die D divided from the wafer 11 is stored in a wafer cassette (not shown) and loaded into the die bonder 10. do. The control part 8 supplies the wafer ring 14 to the die supply part 1 from the wafer cassette in which the wafer ring 14 was filled. Moreover, the board | substrate P is prepared and carried in the die bonder 10. FIG. The control part 8 loads the board | substrate P in the board | substrate conveyance pallet 51 in the board | substrate supply part 6.

스텝 S12: 제어부(8)는 분할한 다이를 웨이퍼로부터 픽업한다.Step S12: The control unit 8 picks up the divided die from the wafer.

스텝 S13: 제어부(8)는 픽업한 다이를 기판(P) 상에 탑재 또는 이미 본딩한 다이의 상에 적층한다. 제어부(8)는 웨이퍼(11)로부터 픽업한 다이(D)를 중간 스테이지(31)에 적재하고, 본딩 헤드(41)에 의해 중간 스테이지(31)로부터 다시 다이(D)를 픽업하고, 반송되어 온 기판(P)에 본딩한다.Step S13: The control unit 8 stacks the picked-up die on the substrate P, which is mounted or already bonded. The controller 8 loads the die D picked up from the wafer 11 into the intermediate stage 31, picks up the die D again from the intermediate stage 31 by the bonding head 41, and is transported. Bonding to on-substrate P is carried out.

스텝 S14: 제어부(8)는 기판 반출부(7)에서 기판 반송 팔레트(51)로부터 다이(D)가 본딩된 기판(P)을 취출한다. 다이 본더(10)로부터 기판(P)을 반출한다.Step S14: The control unit 8 takes out the substrate P on which the die D is bonded from the substrate transport pallet 51 in the substrate transport unit 7. The substrate P is taken out from the die bonder 10.

<변형예><Variation example>

이하, 대표적인 변형예에 대하여 몇 가지 예시한다. 이하의 변형예의 설명에 있어서, 상술한 실시예에서 설명되어 있는 것과 동일한 구성 및 기능을 갖는 부분에 대해서는, 상술한 실시예와 동일한 부호가 사용될 수 있는 것으로 한다. 그리고 이러한 부분의 설명에 대해서는, 기술적으로 모순되지 않는 범위 내에 있어서, 상술한 실시예에 있어서의 설명이 적절히 원용될 수 있는 것으로 한다. 또한, 상술한 실시예의 일부 및 복수의 변형예의 전부 또는 일부가, 기술적으로 모순되지 않는 범위 내에 있어서, 적절히 복합적으로 적용될 수 있다.Hereafter, some typical modified examples are illustrated. In the following description of the modifications, the same reference numerals as those in the above-described embodiments may be used for the parts having the same configurations and functions as those described in the above-described embodiments. As for the description of these parts, the description in the above-described embodiments can be appropriately used within the scope that does not contradict technically. In addition, all or a part of some of the above-described embodiments and a plurality of modifications may be appropriately combined in a range not technically contradictory.

(변형예 1)(Modification 1)

도 21은 변형예 1에 관한 명령 파형 입출력부와 명령 파형 재생성 처리부의 구성을 나타내는 블록도이다.21 is a block diagram showing the configuration of a command waveform input / output unit and a command waveform regeneration processing unit according to Modification Example 1. FIG.

상기 실시예에서는 명령 파형 복원부(42C)가 전회의 명령 파형을 복원했지만, 도 21에 나타낸 바와 같이, 변형예 1에서는 명령 파형 재생성 처리부(420)가 NG 정보를 출력하고, 명령 파형 입출력부(410)가 NG 정보에 따라, 보존하고 있던 전회의 명령 파형을 현재의 명령 파형으로서 복원하도록 해도 된다.In the above embodiment, the command waveform restoring unit 42C restores the previous command waveform, but as shown in FIG. 21, in the modification 1, the command waveform regenerating processing unit 420 outputs NG information, and the command waveform input / output unit ( The 410 may restore the last command waveform stored as the current command waveform in accordance with the NG information.

(변형예 2)(Modification 2)

실시예에서는 회전하는 모터(서보 모터)에 대하여 설명했지만, 회전하는 모터 이외의 리니어 모터에도 적용할 수 있다. 구체적으로는, 도 4에 있어서, 서보 모터(130)를 리니어 모터로 치환한다(이하, 변형예 2에 관한 모터 제어 장치라고 함). 서보 앰프(220)의 속도 루프 제어부(221)는 모션 컨트롤러(210)로부터 입력되는 속도 명령값과, 리니어 모터로부터 입력되는 인코더 신호에 따라, 리니어 모터의 이동 속도를 제어한다.Although the rotating motor (servo motor) was demonstrated in the Example, it is applicable also to linear motors other than a rotating motor. Specifically, in FIG. 4, the servo motor 130 is replaced with a linear motor (hereinafter referred to as a motor control device according to modified example 2). The speed loop control unit 221 of the servo amplifier 220 controls the moving speed of the linear motor according to the speed command value input from the motion controller 210 and the encoder signal input from the linear motor.

리니어 모터는 서보 앰프(220)의 속도 루프 제어부(221)로부터 입력되는 이동 속도의 제어에 따른 이동 속도로 이동하고, 실위치 및 실속도를 인코더 신호로 하여 서보 앰프(220)의 속도 루프 제어부(221)와 모션 컨트롤러(210)의 명령 파형 생성부(212)에 출력한다.The linear motor moves at the moving speed according to the control of the moving speed input from the speed loop control unit 221 of the servo amplifier 220, and uses the real position and the real speed as encoder signals to control the speed loop control unit of the servo amplifier 220 ( 221 and a command waveform generator 212 of the motion controller 210.

또한, 변형예 2에 관한 모터 제어 장치에서는 리니어 모터의 카운트값으로부터 피구동체의 실위치를 산출하고, 산출된 실위치를 기초로 실속도를 산출하고 있다. 그러나, 피구동체의 위치를 직접 검출하는 위치 검출 장치를 구비하고, 당해 위치 검출 장치가 검출한 위치를 실위치로 하도록 해도 된다.In the motor control apparatus according to the second modification, the actual position of the driven body is calculated from the count value of the linear motor, and the actual speed is calculated based on the calculated actual position. However, a position detection device for directly detecting the position of the driven member may be provided, and the position detected by the position detection device may be set to the actual position.

예를 들어, 변형예 2에 관한 모터 제어 장치에 있어서, DAC(213)는 입력된 속도 명령값(VD"1)을 아날로그값으로 변환하여 서보 앰프(220)에 출력한다. 서보 앰프(220)는 입력된 아날로그 데이터에 따라 리니어 모터를 구동하고, 또한 리니어 모터의 이동 위치(및 이동 속도)를 인코더 신호로 하여, 명령 파형 생성부(212)에 출력한다.For example, in the motor control apparatus according to the modification 2, the DAC 213 converts the input speed command value VD ″ 1 into an analog value and outputs it to the servo amplifier 220. The servo amplifier 220 Drives the linear motor in accordance with the input analog data, and outputs the linear motor to the command waveform generation unit 212 using the linear motor's moving position (and moving speed) as an encoder signal.

리니어 모터로부터 출력된 인코더 신호는 명령 파형 생성부(212)의 인코더 시그널 카운터(430)에 입력된다.The encoder signal output from the linear motor is input to the encoder signal counter 430 of the command waveform generator 212.

인코더 시그널 카운터(430)는 소정의 사이클에서 카운트한 카운트값 PA0을 명령 파형 재생성 처리부(420)에 출력한다.The encoder signal counter 430 outputs the count value PA 0 counted in a predetermined cycle to the command waveform regeneration processor 420.

명령 파형 재생성 처리부(420)에서는 감산기(421)가 그 감산 입력 단자에, 인코더 시그널 카운터(430)가 출력하는 카운트값(PA0)을 입력한다. 모든 명령 파형이 재생성되는 모습은 도 17과 마찬가지이다.In the command waveform regeneration processor 420, the subtractor 421 inputs the count value PA 0 output from the encoder signal counter 430 to the subtraction input terminal. All command waveforms are regenerated as in FIG. 17.

이 결과, 리니어 모터가 이동하고, 그 이동에 의해, 리니어 모터가 고속으로 이동 동작할 때에, 피구동체의 진행 방향에 대한 진동이나 편차를 억제하여, 정정 시간 단축을 실현할 수 있다. 또한, 이상적인 궤적에서 리니어 모터를 동작시킬 수 있고, 또한 현재의 위치를 항상 모니터링할 수 있기 때문에, 복수의 축을 동기시켜 동작시키는 것이 용이해진다.As a result, when the linear motor moves, and the linear motor moves at high speed by the movement, the vibration and the deviation with respect to the advancing direction of the driven body can be suppressed, and the settling time can be shortened. In addition, since the linear motor can be operated in the ideal trajectory and the current position can be monitored at all times, it becomes easy to operate in synchronization with a plurality of axes.

또한, 인코더 카운터 기능을 갖는 모터 등 모터 전반에도 적용하는 것이 가능하다.In addition, it is possible to apply to the overall motor, such as a motor having an encoder counter function.

이상, 본 발명자에 의해 이루어진 발명을 실시 형태, 실시예 및 변형예에 기초하여 구체적으로 설명했지만, 본 발명은 상기 실시 형태, 실시예 및 변형예에 한정되는 것은 아니고, 다양하게 변경 가능한 것은 물론이다.As mentioned above, although the invention made by this inventor was concretely demonstrated based on embodiment, Example, and a modification, this invention is not limited to the said embodiment, Example, and modification, Of course, it can change variously. .

예를 들어, 실시예에서는, 명령 파형 입출력부는 속도 명령값을 출력하여 모터를 제어하고 있었다. 그러나, 속도 명령값 대신에 가속도 명령값을 출력하여 모터를 제어해도 된다. 그 결과, 위치의 제어뿐만 아니라, 하중 제어도 가능해진다.For example, in the embodiment, the command waveform input / output unit outputs the speed command value to control the motor. However, the motor may be controlled by outputting the acceleration command value instead of the speed command value. As a result, not only the position control but also the load control becomes possible.

또한, 실시예에서는 픽업 헤드 및 본딩 헤드를 각각 1개 구비하고 있지만, 각각 2개 이상이어도 된다. 또한, 실시예에서는 중간 스테이지를 구비하고 있지만, 중간 스테이지가 없어도 된다. 이 경우, 픽업 헤드와 본딩 헤드는 겸용해도 된다.In addition, although the pick-up head and the bonding head are each provided in the Example, two or more may be sufficient, respectively. In addition, although the intermediate stage is provided in the Example, it is not necessary to have an intermediate stage. In this case, the pickup head and the bonding head may be combined.

또한, 실시예에서는 다이의 표면을 위로 하여 본딩되지만, 다이를 픽업 후 다이의 표리를 반전시켜, 다이의 이면을 위로 하여 본딩해도 된다. 이 경우, 중간 스테이지는 설치하지 않아도 된다. 이 장치는 플립 칩 본더라고 한다.In addition, in the embodiment, the surface of the die is bonded upward, but after picking up the die, the front and rear surfaces of the die may be reversed, and the back of the die may be bonded upward. In this case, the intermediate stage does not need to be installed. This device is called flip chip bonder.

130 : 서보 모터
83e : 모터 제어 장치
210 : 모션 컨트롤러
211 : 이상 파형 생성부
212 : 명령 파형 생성부
213 : DAC
220 : 서보 앰프
221 : 속도 루프 제어부
410 : 명령 파형 입출력부
420 : 명령 파형 재생성 처리부
421 : 감산기
422 : 가가속도 미분값 가산 파형 생성부
423 내지 427 : 가산기
428 : 가가속도 미분값 제한부
429 : 가가속도 제한부
42A : 가속도 제한부
42B : 속도 제한부
42C : 명령 파형 복원부
430 : 인코더 시그널 카운터
130: servo motor
83e: Motor Control Unit
210: motion controller
211: abnormal waveform generator
212 command waveform generator
213: DAC
220: servo amplifier
221 speed loop control unit
410: command waveform input and output unit
420: command waveform regeneration processing unit
421: Subtractor
422: acceleration differential value addition waveform generation unit
423 to 427: adder
428: acceleration differential value limiting unit
429: acceleration limit
42A: acceleration limit
42B: Speed Limit
42C: command waveform recovery unit
430: Encoder Signal Counter

Claims (11)

피구동체를 구동하여 실위치를 인코더 신호로서 출력하는 모터와,
상기 모터를 제어하여 상기 피구동체를 목표 위치로 제어하고 다이를 기판에 실장하는 모터 제어 장치를 구비하고,
상기 모터 제어 장치는,
가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 이상적인 명령 파형을 생성하는 이상 파형 생성부와,
상기 이상적인 명령 파형을 판독하고, 목표 명령 위치 및 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형을 재생성하고, 재생성된 속도의 명령 파형을 출력하는 명령 파형 생성부와,
상기 재생성된 속도의 명령 파형을 아날로그 데이터로 변환하는 DAC를 구비하고,
상기 이상 파형 생성부는,
가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 목표값으로부터 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 제1 명령 파형을 순차 적분하여 생성하는 제1 파형 생성부와,
일정한 시간을 정하고, 범위를 어긋나게 하면서 평균을 취해 가는 이동 평균법에 의해 상기 제1 파형 생성부에서 생성된 위치의 제1 명령 파형으로부터 위치의 이상적인 명령 파형을 생성하는 이동 평균 처리부와,
상기 위치의 이상적인 명령 파형으로부터 순차 미분하여 속도, 가속도, 가가속도 및 가가속도 미분값의 이상적인 명령 파형을 생성하는 제2 파형 생성부를 구비하고,
상기 명령 파형 생성부는,
상기 인코더 신호에 의한 실위치와 상기 목표 명령 위치에 기초하여 가가속도 미분값의 가산 파형을 생성하고, 상기 생성된 가가속도 미분값의 가산 파형을 전회의 명령 출력 타이밍에서 재생성된 가가속도 미분값의 명령 파형에 가산하고, 가가속도 미분값의 명령 파형을 재생성하고, 또한 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형을 재생성하는 명령 파형 재생성 처리부와,
상기 생성된 위치, 속도, 가속도, 가가속도 및 가가속도 미분값의 이상적인 명령 파형과, 상기 재생성된 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형를 보존하는 명령 파형 입출력부를 구비하는 다이 본딩 장치.
A motor for driving the driven member to output the actual position as an encoder signal;
A motor control device for controlling the motor to control the driven object to a target position and mounting a die on a substrate;
The motor control device,
An abnormal waveform generator for generating an ideal command waveform of acceleration differential value, acceleration, acceleration, velocity, and position;
A command waveform generation unit for reading the ideal command waveform, regenerating a command waveform of a target command position and an acceleration differential value, an acceleration, an acceleration, a speed, and a position, and outputting a command waveform of the regenerated speed;
A DAC for converting the command waveform of the regenerated speed into analog data,
The abnormal waveform generator,
A first waveform generator for sequentially generating first command waveforms of acceleration, acceleration, velocity, and position from the target values of acceleration, acceleration, velocity, and position;
A moving average processing unit for generating an ideal command waveform of a position from a first command waveform of a position generated by the first waveform generating unit by a moving averaging method for determining a predetermined time and taking an average while shifting a range;
A second waveform generation unit for generating an ideal command waveform of velocity, acceleration, acceleration, and acceleration differential value by differentiating sequentially from the ideal command waveform at the position,
The command waveform generation unit,
Generate an addition waveform of an acceleration differential value based on the actual position of the encoder signal and the target command position; and generate the addition waveform of the generated acceleration differential value from the acceleration acceleration value regenerated at the previous command output timing. A command waveform regeneration processing unit which adds to the command waveforms, regenerates command waveforms with acceleration differential values, and regenerates command waveforms with acceleration, acceleration, speed, and position;
A die having an ideal command waveform of the generated position, velocity, acceleration, acceleration and acceleration derivative values, and a command waveform input / output unit for preserving the command waveforms of the regenerated acceleration derivative value, acceleration, acceleration, velocity, and position. Bonding device.
제1항에 있어서, 상기 명령 파형 생성부는,
상기 재생성된 가가속도 미분값의 명령 파형을 전회의 명령 출력 타이밍에서 재생성된 가가속도의 명령 파형에 가산하고, 가가속도의 명령 파형을 재생성하고,
상기 재생성된 가가속도의 명령 파형을 전회의 명령 출력 타이밍에서 재생성된 가속도의 명령 파형에 가산하고, 가속도의 명령 파형을 재생성하고,
상기 재생성된 가속도의 명령 파형을 전회의 명령 출력 타이밍에서 재생성된 가속도의 명령 파형에 가산하고, 가속도의 명령 파형을 재생성하고,
상기 재생성된 속도의 명령 파형을 전회의 명령 출력 타이밍에서 재생성된 속도의 명령 파형에 가산하고, 속도의 명령 파형을 재생성하고,
상기 재생성된 속도의 명령 파형을 전회의 명령 출력 타이밍에서 재생성된 위치의 명령 파형에 가산하고, 위치의 명령 파형을 재생성하는 다이 본딩 장치.
The method of claim 1, wherein the command waveform generation unit,
Adding the regenerated acceleration derivative command waveform to the regenerated acceleration command waveform at the previous command output timing, and regenerating the acceleration command waveform;
Adding the regenerated acceleration command waveform to the command waveform of acceleration regenerated at the previous command output timing, regenerating the command waveform of acceleration,
Add the command waveform of the regenerated acceleration to the command waveform of the regenerated acceleration at the previous command output timing, regenerate the command waveform of the acceleration,
Add the command waveform of the regenerated speed to the command waveform of the regenerated speed at the previous command output timing, regenerate the command waveform of the speed,
And a command waveform of the regenerated speed is added to the command waveform of the regenerated position at the previous command output timing, and regenerating the command waveform of the position.
제2항에 있어서, 상기 명령 파형 재생성 처리부는 상기 인코더 신호에 의한 실위치와 상기 목표 명령 위치의 차인 편차량으로부터 가가속도 미분값의 가산 파형을 생성하는 가가속도 미분값 가산 파형 생성부를 갖는 다이 본딩 장치.3. The die bonding of claim 2, wherein the command waveform regeneration processing unit has an acceleration acceleration differential value addition waveform generation unit for generating an addition waveform of the acceleration differential value from a deviation amount that is a difference between a real position and the target command position by the encoder signal. Device. 제3항에 있어서, 상기 명령 파형 재생성 처리부는 가가속도 미분값 제한부를 더 갖고,
상기 가가속도 미분값 제한부는 상기 재생성된 가가속도 미분값의 명령 파형이, 소정의 가가속도 미분값 상한값 초과 또는 가가속도 미분값 하한값 미만인 경우에 NG 정보를 상기 명령 파형 입출력부에 출력하고,
상기 명령 파형 입출력부는 상기 NG 정보가 입력된 경우에는,
상기 전회의 명령 출력 타이밍에서 재생성된 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형을 복원하고,
복원된 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형을, 재생성한 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형으로 하고, 재생성된 속도의 명령 파형을 상기 DAC에 출력하는 다이 본딩 장치.
The method of claim 3, wherein the command waveform regeneration processing unit further has an acceleration differential value limiting unit,
The acceleration differential value limiting unit outputs NG information to the command waveform input / output unit when the regenerated acceleration derivative value is greater than a predetermined acceleration differential value upper limit value or less than the acceleration acceleration derivative value lower limit value.
When the NG information is input to the command waveform input / output unit,
Restoring the command waveforms of acceleration, derivative, acceleration, acceleration, velocity, and position regenerated at the previous command output timing,
The reconstructed acceleration derivative, acceleration, acceleration, velocity and position command waveforms are regenerated acceleration derivatives, acceleration, acceleration, velocity and position command waveforms, and the regenerated speed command waveform is the DAC. Die-bonding device to output to.
제3항에 있어서, 상기 명령 파형 재생성 처리부는,
상기 재생성된 가가속도 미분값의 명령 파형이, 소정의 가가속도 미분값 상한값 초과 또는 가가속도 미분값 하한값 미만인 경우에 NG 정보를 출력하는 가가속도 미분값 제한부와,
상기 NG 정보가 입력된 경우에는, 상기 전회의 명령 출력 타이밍에서 재생성된 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형을 복원하여 상기 명령 파형 입출력부에 출력하는 명령 파형 복원부를 더 구비하고,
상기 명령 파형 입출력부는 복원된 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형을, 재생성한 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형으로 하고, 재생성된 속도의 명령 파형을 상기 DAC에 출력하는 다이 본딩 장치.
The method of claim 3, wherein the command waveform regeneration processing unit,
An acceleration differential value limiting unit for outputting NG information when the command waveform of the regenerated acceleration differential value is above a predetermined acceleration differential value upper limit value or below an acceleration acceleration derivative value lower limit value;
When the NG information is input, a command waveform restoring unit for restoring the command waveforms of the acceleration differential value, acceleration, acceleration, speed, and position regenerated at the previous command output timing, and outputting the command waveforms to the command waveform input / output unit. Equipped,
The command waveform input / output unit may be a command waveform of a regenerated acceleration differential value, acceleration, acceleration, speed, and position, and the command waveform of the restored acceleration acceleration value, acceleration, acceleration, speed, and position may be used. A die bonding device for outputting a command waveform to the DAC.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 명령 파형 생성부는 재생성된 가가속도 미분값, 가가속도, 가속도, 속도 및 위치의 명령 파형을 전회의 명령 출력 타이밍에서 재생성된 명령 파형으로서 보존하는 다이 본딩 장치.6. The command waveform generating apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the command waveform generating unit stores the command waveform of the regenerated acceleration derivative value, acceleration, acceleration, velocity, and position as the regenerated command waveform at the previous command output timing. Die bonding device. 제1항에 있어서, 상기 모터는 서보 모터인 다이 본딩 장치.The die bonding apparatus of claim 1, wherein the motor is a servo motor. 제1항에 있어서, 상기 피구동체는 본딩 헤드 및 픽업 헤드 중 적어도 하나인 다이 본딩 장치.The die bonding apparatus of claim 1, wherein the driven member is at least one of a bonding head and a pickup head. (a) 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항의 다이 본딩 장치를 준비하는 공정과,
(b) 다이가 부착된 다이싱 테이프를 유지하는 웨이퍼 링을 반입하는 공정과,
(c) 기판을 준비 반입하는 공정과,
(d) 다이를 픽업하는 공정과,
(e) 상기 픽업한 다이를 상기 기판 또는 이미 본딩된 다이 상에 본딩하는 공정을 구비하는 반도체 장치의 제조 방법.
(a) preparing a die bonding apparatus according to any one of claims 1 to 5,
(b) bringing in a wafer ring holding a dicing tape with a die attached thereto;
(c) preparing and loading a substrate;
(d) picking up the die;
(e) A method of manufacturing a semiconductor device, comprising the step of bonding the picked up die onto the substrate or a die already bonded.
제9항에 있어서, 상기 (d) 공정은 상기 다이싱 테이프 상의 다이를 상기 피구동체인 본딩 헤드에 의해 픽업하고,
상기 (e) 공정은 상기 본딩 헤드에 의해 상기 픽업한 다이를 상기 기판 또는 이미 본딩된 다이 상에 본딩하는 반도체 장치의 제조 방법.
The method according to claim 9, wherein the step (d) picks up a die on the dicing tape by a bonding head which is the driven member,
In the step (e), the die picked up by the bonding head bonds the die on the substrate or the die already bonded.
제9항에 있어서, 상기 (d) 공정은,
(d1) 상기 다이싱 테이프 상의 다이를 상기 피구동체인 픽업 헤드에 의해 픽업하는 공정과,
(d2) 상기 픽업 헤드에 의해 픽업한 다이를 중간 스테이지에 적재하는 공정을 갖고,
상기 (e) 공정은,
(e1) 상기 중간 스테이지에 적재된 다이를 상기 피구동체인 본딩 헤드에 의해 픽업하는 공정과,
(e2) 상기 본딩 헤드에 의해 픽업한 다이를 상기 기판에 적재하는 공정을 구비하는 반도체 장치의 제조 방법.
The method of claim 9, wherein the step (d),
(d1) a step of picking up a die on the dicing tape by a pickup head which is the driven member;
(d2) has a step of loading the die picked up by the pickup head into an intermediate stage,
The above (e) step,
(e1) a step of picking up the die mounted on the intermediate stage by the driven head bonding head,
(e2) A method of manufacturing a semiconductor device, comprising the step of loading a die picked up by the bonding head onto the substrate.
KR1020170150576A 2017-03-17 2017-11-13 Die bonding apparatus and method of manufacturing semiconductor device KR102029020B1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017052054A JP6694404B2 (en) 2017-03-17 2017-03-17 Die bonding apparatus and semiconductor device manufacturing method
JPJP-P-2017-052054 2017-03-17

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20180106834A KR20180106834A (en) 2018-10-01
KR102029020B1 true KR102029020B1 (en) 2019-10-08

Family

ID=63705794

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170150576A KR102029020B1 (en) 2017-03-17 2017-11-13 Die bonding apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6694404B2 (en)
KR (1) KR102029020B1 (en)
CN (1) CN108628257B (en)
TW (1) TWI663828B (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7408434B2 (en) * 2020-02-25 2024-01-05 ファスフォードテクノロジ株式会社 Motor control device, die bonding device, and semiconductor device manufacturing method
CN113241319B (en) * 2021-05-31 2021-11-30 广东工业大学 Rapid positioning method and system
JP2023146304A (en) * 2022-03-29 2023-10-12 Ntn株式会社 Control device of industrial apparatus
CN117038565B (en) * 2023-10-08 2024-01-26 恩纳基智能科技无锡有限公司 Chip pickup control method and chip pickup device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000253688A (en) 1999-02-26 2000-09-14 Pioneer Electronic Corp Rotation servo controller, and control method therefor
JP2014065096A (en) * 2012-09-25 2014-04-17 Daihen Corp Start point determination device, control device, and start point determination method
JP2015173551A (en) 2014-03-12 2015-10-01 ファスフォードテクノロジ株式会社 Semiconductor manufacturing method and die bonder

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH086628A (en) * 1994-06-21 1996-01-12 Fanuc Ltd Planning and generating method for movement command with limit of increased increased acceleration
DE10085354B3 (en) * 2000-11-01 2013-11-21 Mitsubishi Denki K.K. Servo control method and servo control device
JP2005301508A (en) * 2004-04-08 2005-10-27 Fanuc Ltd Control unit
JP2007086904A (en) * 2005-09-20 2007-04-05 Brother Ind Ltd Acceleration trajectory generation device
JP2008186405A (en) * 2007-01-31 2008-08-14 Brother Ind Ltd Control method and control device
JP2011113475A (en) * 2009-11-30 2011-06-09 Brother Industries Ltd Numerical control device and machine tool including the numerical control device
DE102010015316A1 (en) * 2010-04-17 2011-10-20 Audi Ag Method for controlling position and / or speed
JP5320420B2 (en) * 2011-02-18 2013-10-23 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ Motor control device and motor control method
CN102214589B (en) * 2011-05-31 2013-04-24 华亚平 Electronic packing method of vertical chips
KR101603536B1 (en) * 2012-12-21 2016-03-15 가부시키가이샤 신가와 Flipchip bonder and method for correcting flatness and deformation amount of bonding stage
JP5912143B2 (en) * 2014-03-04 2016-04-27 株式会社新川 Bonding equipment
JP6391378B2 (en) * 2014-09-10 2018-09-19 ファスフォードテクノロジ株式会社 Die bonder and bonding method
JP6584234B2 (en) * 2015-08-31 2019-10-02 ファスフォードテクノロジ株式会社 Die bonder, bonding method and semiconductor device manufacturing method
CN205648219U (en) * 2016-05-26 2016-10-12 东莞市正向智能科技有限公司 Four module LED crowds paste machine with adjustable pay -off track

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000253688A (en) 1999-02-26 2000-09-14 Pioneer Electronic Corp Rotation servo controller, and control method therefor
JP2014065096A (en) * 2012-09-25 2014-04-17 Daihen Corp Start point determination device, control device, and start point determination method
JP2015173551A (en) 2014-03-12 2015-10-01 ファスフォードテクノロジ株式会社 Semiconductor manufacturing method and die bonder

Also Published As

Publication number Publication date
TW201836258A (en) 2018-10-01
CN108628257A (en) 2018-10-09
KR20180106834A (en) 2018-10-01
CN108628257B (en) 2021-01-22
JP2018157046A (en) 2018-10-04
TWI663828B (en) 2019-06-21
JP6694404B2 (en) 2020-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102029020B1 (en) Die bonding apparatus and method of manufacturing semiconductor device
JP6247965B2 (en) Semiconductor manufacturing method and die bonder
US8456126B2 (en) Motor control system and motor control method
KR102100278B1 (en) Die bonding apparatus and method of manufacturing semiconductor device
EP1667001B1 (en) Controller
JP6008979B2 (en) Work equipment and component mounting machines
JP2012175768A5 (en)
KR101799544B1 (en) Motor Control Device
CN113942008B (en) Overshoot detection method and robot system
JP5912143B2 (en) Bonding equipment
KR102276898B1 (en) Die bonding device and method of manufacturing semiconductor device
TW201633029A (en) Motor control apparatus
JP5823045B2 (en) Torque control device
CN112140127B (en) Overshoot detection method, overshoot detection system, overshoot adjustment method and robot system
KR102488379B1 (en) Motor control apparatus, die bonding apparatus, and manufacturing method of semiconductor apparatus
CN118342491A (en) Bonding apparatus, bonding method, and computer-readable storage medium
JP2724054B2 (en) Positioning control device
CN118352266A (en) Bonding device, bonding method, and storage medium
CN118658826A (en) Semiconductor manufacturing apparatus, head stage, and method for manufacturing semiconductor device
JP2006053948A (en) Machine control unit

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant