KR102004879B1

KR102004879B1 - Sfp형 광섬유 고장점 탐지장치

Info

Publication number: KR102004879B1
Application number: KR1020170089370A
Authority: KR
Inventors: 석호준; 정용승; 조형선; 김나래; 류성호; 이상용
Original assignee: 주식회사 이스트포토닉스
Priority date: 2017-07-14
Filing date: 2017-07-14
Publication date: 2019-07-29
Also published as: WO2019013455A1; KR20190007837A

Abstract

본 발명은 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 계측기의 SFP 슬롯에 접속되어 계측기에서 제공되는 온 신호에 따라, SFP형 광섬유 고장점 탐지장치에 접속된 검사하고자 하는 광섬유를 접속시켜 광 색깔을 육안으로 식별할 수 있도록 함으로써, 광섬유 심선, 커넥터 등의 고장점을 복잡한 측정기를 사용하지 않고, 쉽게 식별할 수 있도록 하기 위한 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치에 관한 것이다.
본 발명을 통해, 계측기의 SFP 슬롯에 접속되어 계측기에서 제공되는 온 신호에 따라, SFP형 광섬유 고장점 탐지장치에 접속된 검사하고자 하는 광섬유를 접속시켜 광 색깔을 육안으로 식별할 수 있도록 함으로써, 광섬유 심선, 커넥터 등의 고장점을 복잡한 측정기를 사용하지 않고, 쉽게 식별할 수 있도록 함으로써, 예를 들어, 굴곡지점, 외피 손상지점에서 광 손실이 발생하는 경우 누설되는 적색광을 간단히 육안으로 확인할 수 있는 효과를 제공하게 된다.
특히, SFP와 같은 소형 크기와 무게로 고장점 탐지장치를 소형화할 수 있기 때문에 광 선로를 유지보수, 감시하는 현장 요원들에게 저렴하면서도 현장에서 편리하게 사용할 수 있는 효과를 제공한다.

Description

SFP형 광섬유 고장점 탐지장치{Optical fault position finding device type SFP}

본 발명은 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 계측기의 SFP 슬롯에 접속되어 계측기에서 제공되는 온 신호에 따라, SFP형 광섬유 고장점 탐지장치에 접속된 검사하고자 하는 광섬유를 접속시켜 광 색깔을 육안으로 식별할 수 있도록 함으로써, 광섬유 심선, 커넥터 등의 고장점을 복잡한 측정기를 사용하지 않고, 쉽게 식별할 수 있도록 하기 위한 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치에 관한 것이다.

인터넷의 급속한 확산에 따른 데이터서비스 초고속화로 인해 최근 데이터 트래픽이 급증하고 있으며 이를 수용하기 위한 다양한 망의 형태가 출현하고 있다.

이러한 관점에서, 최근에는 광선로를 통해 광신호 형태의 데이터를 송수신함으로써 급증한 데이터 트래픽 및 초고속화를 충족시키고자 하는 통신 환경의 이용이 증가하고 있으며, 앞으로 이러한 통신 환경의 이용은 더욱 늘어날 것으로 예상된다.

특히, 광통신에 있어서 중요한 통신 매체는 광케이블이다.

아무리 좋은 장비일 지라도 수백Km 중 어느 한곳만 끊어진다면 수십 억대 장비가 완전 무용지물이다.

따라서, 정상적인 통신상태를 유지하기 위하여 광케이블에 대한 운용감시 기기를 이용하여 케이블의 상태와 고장일 경우 어느 지점이 문제인지를 자동으로 찾는 시스템으로 발전되어 왔다.

특히, 국내외 광케이블을 갖는 통신사업자들은 광 선로를 통한 신호 품질의 측정을 위하여 휴대용 계측기를 사용하고 있었다.

특히, LTE 이동통신 서비스가 시작되면서 기지국이 소형화되고 광케이블이 지하, 옥내를 벗어나서 옥외 철탑에 이르기까지 광 선로가 광범위하게 포설되고 있다.

이러한 서비스 환경으로 인하여 광케이블 망 선로 운용 요원들은 기능은 단순하면서도 가볍고 저가의 계측기의 필요성을 요청하고 있는 상태이다.

또한, 광케이블의 심선, 커넥터 등의 고장점을 판별하기 위하여 종래에는 도 1과 같이 펜 형태 혹은 핸디 형태의 고장점 탐지기를 사용하고 있었다.

그러나, 이 또한 휴대의 불편함과 조작 과정의 불편함을 제공하고 있었다.

따라서, 서비스 요원이 휴대하기에 좋고, 손쉽게 광케이블의 심선, 커넥터 등의 고장점을 판별할 수 있는 기기를 제안하게 되었다.

(선행문헌 1) 대한민국등록특허공보 제10-1210465호(2012.12.10)

따라서, 본 발명은 상기 종래의 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로,

본 발명의 목적은 계측기의 SFP 슬롯에 접속되어 계측기에서 제공되는 온 신호에 따라, SFP형 광섬유 고장점 탐지장치에 접속된 검사하고자 하는 광섬유를 접속시켜 광 색깔을 육안으로 식별할 수 있도록 함으로써, 광섬유 심선, 커넥터 등의 고장점을 복잡한 측정기를 사용하지 않고, 쉽게 식별할 수 있도록 하는데 있다.

본 발명이 해결하고자 하는 과제를 달성하기 위하여,

본 발명의 일실시예에 따른 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치는,

계측기(200)의 SFP 슬롯(210)에 접속되어 계측기의 제어부(220)로부터 제공되는 온/오프 신호를 SFP제어부로 제공하기 위한 SFP통신포트부(110)와,

상기 SFP통신포트부(110)와 연결되어 계측기의 제어부(220)로부터 제공되는 온/오프 신호를 획득하여 레이저다이오드로 온 신호 혹은 오프 신호를 제공하기 위한 SFP제어부(120)와,

상기 SFP제어부와 연결되어 SFP제어부에 의해 온 신호시 점등되거나, 오프 신호시 점등 해제되는 레이저다이오드(130)와,

측정하고자 하는 광섬유(300)를 접속시키기 위하여 형성되며, 상기 레이저다이오드로부터 점등시 제공되는 광을 광섬유로 제공하기 위한 광출력부(140)를 포함하여 구성됨으로써, 본 발명의 과제를 해결하게 된다.

본 발명에 따른 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치는,

계측기의 SFP 슬롯에 접속되어 계측기에서 제공되는 온 신호에 따라, SFP형 광섬유 고장점 탐지장치에 접속된 검사하고자 하는 광섬유를 접속시켜 광 색깔을 육안으로 식별할 수 있도록 함으로써, 광섬유 심선, 커넥터 등의 고장점을 복잡한 측정기를 사용하지 않고, 쉽게 식별할 수 있도록 함으로써, 예를 들어, 굴곡지점, 외피 손상지점에서 광 손실이 발생하는 경우 누설되는 적색 광을 간단히 육안으로 확인할 수 있는 효과를 제공하게 된다.

특히, SFP와 같은 소형 크기와 무게로 고장점 탐지장치를 소형화할 수 있기 때문에 광 선로를 유지보수, 감시하는 현장 요원들에게 저렴하면서도 현장에서 편리하게 사용할 수 있는 효과를 제공한다.

도 1은 종래의 펜 타입 고장점 탐지기에 대한 외형도이다.
도 2a 내지 도 2e는 본 발명의 일실시예에 따른 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치의 외형도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치의 내부 블록도이다.
도 4a 내지 도 4f 및 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치의 운영 예시도이다.

상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일실시예에 따른 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치는,

측정하고자 하는 광섬유(300)를 접속시키기 위하여 형성되며, 상기 레이저다이오드로부터 점등시 제공되는 광을 광섬유로 제공하기 위한 광출력부(140)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

이때, 상기 광출력부(140)에,

측정하고자 하는 광섬유(300)를 접속시켜 광섬유의 심선, 커넥터의 고장점을 레이저다이오드(130)로부터 제공되는 광을 광섬유에 투과시켜 판별하도록 하는 것을 특징으로 한다.

이때, 상기 계측기의 제어부(220)로부터 온 신호를 제공할 경우에, 계측기의 디스플레이패널 상에 온 상태를 나타내며, 광출력부에 접속된 광섬유의 커넥터를 통해 출사되는 색깔이 존재하지 않으면 광섬유의 심선 혹은 커넥터의 고장으로 판별하는 것을 특징으로 한다.

한편, 원격지단말기에서 상기 계측기의 제어부(220)로 광 파장 및 광 세기 측정 신호를 전송할 경우에, 광 파장 및 광 세기 측정한 결과 신호를 원격지단말기로 전송하며, 계측기의 제어부(220)로 광섬유 고장점을 체크하기 위한 온 신호를 전송하면, 계측기의 제어부를 통해 SFP제어부(120)로 온 신호를 제공하고, 레이저다이오드(130)에 의해 점등됨으로써, 점등 시 제공되는 광을 광출력부(140)를 통해 광섬유로 제공하여 광섬유의 고장점을 체크할 수 있는 것을 특징으로 한다.

이하, 본 발명에 의한 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치의 실시예를 통해 상세히 설명하도록 한다.

도 2a 내지 도 2e는 본 발명의 일실시예에 따른 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치의 외형도이다.

구체적으로 도 2a는 사시도이며, 도 2b는 평면도이며, 도 2c는 좌측면도이며, 도 2d는 우측면도이며, 도 2e는 저면도를 나타낸 외형도이다.

도 2a 내지 도 2e에 도시한 바와 같이, SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)는 SFP형태의 케이스(150)와, 해당 케이스의 어느 일측면에 계측기(200)의 SFP 슬롯(210)에 접속되기 위한 SFP통신포트부(110)를 구성하게 된다.(도 2e 참조)

그리고, 해당 케이스의 타측면에 측정하고자 하는 광섬유(300)를 접속시키기 위하여 형성되는 광출력부(140)를 구성하게 된다.(도 2a ~ 도 2d 참조)

본 발명에서 설명하고 있는 SFP는 Small-Form-factor Pluggable Transceiver의 약자로서, VFL 또는 SFP 트랜시버 형태이며, 트랜시버장치와 연동하여 사용이 가능한 특징을 가지고 있다.

즉, 인터페이스가 SFP 타입이므로 휴대하기가 상당히 간편한 특징을 제공하게 된다.

또한, 본 발명의 SFP(Small Form Factor Pluggable Transceiver) 광섬유 고장점 탐지장치는 광섬유의 고장점을 식별할 수 있는 기기이며, 외부단말기에 접속되는 기기를 의미한다.

부연 설명하자면, SFP의 가로, 세로의 표준 규격이 정해져 있으며, 본 발명의 SFP통신포트부(110)도 해당 규격에 맞추어 구성하게 되며, 이를 통해 계측기와 연결하여 계측기로부터 온 오프 신호를 제공받는 구성을 가지게 된다.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치의 내부 블록도이다.

도 3에 도시한 바와 같이, 상기 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)는,

구체적으로 설명하자면, 계측기(200)는 SFP 슬롯(210), 제어부(220), 디스플레이패널(230), 통신부(240), 전원부(250)를 포함하여 구성하게 된다.

상기 SFP 슬롯(210)은 통신부(240)와 연결되어 제어부(220)로부터 제공된 신호를 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)로 제공하는 기능을 수행하게 된다.

상기 제어부(220)는 온/오프 신호를 생성하여 통신부(240)로 제공하게 되고, 상기 제공된 신호를 SFP제어부로 제공하게 되는 것이다.

또한, 상기 디스플레이패널(230)은 제어부(220)로부터 온 신호를 제공할 경우에, 계측기의 디스플레이패널 상에 온 상태를 나타내게 된다.

만약, 도 4a 내지 도 4f에 도시한 바와 같이, 상기 SFP 슬롯(210)에 본 발명의 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)를 삽입하게 되면, 상기 디스플레이패널(230) 상에 삽입됐다는 표시를 출력하게 되며, 온 신호를 송출하게 되면, 온 상태를 표시하며, 온 상태의 펄스 상태도 출력하게 되는 것이다.

구체적으로 도 4a는 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)를 삽입할 경우의 상태도이며, 도 4b는 삽입시 측면도이다.

여기서, 상기 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)를 삽입하게 되면, 디스플레이패널(230) 상에 'L.OFF'를 출력하게 되는 것이다.

그리고, 도 4c는 점등 상태도이며, 도 4d는 삽입시 측면도이다.

여기서, 상기 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)를 삽입하게 되면, 디스플레이패널(230) 상에 'L.ON'을 출력하게 되는 것이며, 조작자는 도 4d에 도시한 바와 같이, 육안으로 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)가 점등되었음을 알 수 있을 것이다.

그리고, 도 4e는 점등 상태도이며, 도 4f는 삽입시 측면도이다.

여기서, 상기 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)를 삽입하게 되면, 디스플레이패널(230) 상에 'L.PUL'을 출력하게 되는 것이다.

즉, 점등 펄스 상태를 확인할 수 있게 되는 것이며, 펄스 신호를 확인하기 위한 기술은 일반적인 기술이므로 상세한 설명은 생략하겠다.

한편, 본 발명인 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)의 SFP통신포트부(110)는 계측기(200)의 SFP 슬롯(210)에 접속되게 된다.

상기와 같이, 접속되게 되면, 계측기의 제어부(220)로부터 제공되는 온/오프 신호를 SFP제어부로 제공하게 되는 것이다.

이때, 상기 SFP제어부(120)는 SFP통신포트부(110)와 연결되어 계측기의 제어부(220)로부터 제공되는 온/오프 신호를 획득하여 레이저다이오드로 온 신호 혹은 오프 신호를 제공하게 되는 것이다.

이때, 상기 레이저다이오드는 SFP제어부와 연결되게 되어 레이저다이오드(130)는 SFP제어부에 의해 제공되는 신호가 온 신호일 경우에 점등되게 되거나, 오프 신호일 경우에 점등을 해제하게 되는 것이다.

이때, 상기 광출력부(140)에는 측정하고자 하는 광섬유(300)를 접속시키게 된다.

따라서, 상기 레이저다이오드로부터 점등시 제공되는 광을 광섬유로 제공하게 되는 것이다.

결국, 도 5에 도시한 바와 같이, 접속된 광섬유(300)의 광커넥터(310)를 통해 광 색깔을 출력하게 되어 측정자가 육안으로 확인할 수 있게 되는 것이다.

구체적으로, 상기 광출력부(140)에, 측정하고자 하는 광섬유(300)를 접속시켜 광섬유의 심선, 커넥터의 고장점을 레이저다이오드(130)로부터 제공되는 광을 광섬유에 투과시켜 고장점을 육안으로 판별하게 되는 것이다.

예를 들어, 650nm 파장의 광을 광섬유에 투과시키게 되면 붉은색 계열의 색깔을 육안으로 판별할 수가 있게 되는데, 만약 광섬유가 단선되게 된다면 붉은색 계역의 색깔은 출력되지는 않게 된다.

또한, 계측기의 제어부(220)로부터 온 신호를 제공할 경우에, 계측기의 디스플레이패널 상에 온 상태를 나타내며, 광출력부에 접속된 광섬유의 커넥터를 통해 출사되는 색깔이 존재하지 않으면 광섬유의 심선 혹은 커넥터의 고장으로 식별할 수가 있게 된다.

즉, 계측기의 디스플레이패널 상에는 온 상태를 나타내고 있지만, 광섬유의 커넥터를 통해 출사되는 색깔이 나타나지 않으면 광섬유의 심선 혹은 커넥터의 고장으로 판단할 수가 있게 되는 것이다.

한편, 원격지단말기를 상기 계측기와 연결하게 되면, 원격지단말기에서 상기 계측기의 제어부(220)로 광 파장 및 광 세기 측정 신호를 전송하여 광 파장 및 광 세기 측정한 결과 신호를 원격지단말기로 전송할 수 있으며, 계측기의 제어부(220)로 광섬유 고장점을 체크하기 위한 온 신호를 전송하여 계측기의 제어부를 통해 측정하고자 하는 광섬유의 고장점을 체크할 수 있는 장점을 제공하게 된다.

구체적으로 설명하자면, 종래의 펜 타입 광 고장점 탐지기기들은 측정하고자 하는 광섬유만을 꽂아서 확인하기 때문에 계측기 즉, 트랜시버 장치들과 연동은 불가능하다.

따라서, 트랜시버 장치를 통해 광 파장 및 광 세기를 측정하고, 다시 상기 펜 타입 광 고장점 탐지기를 통해 다시 고장점을 체크하는 작업을 분리하여 진행해야 하므로 측정의 불편함과 계측기와 펜 타입 광 고장점 탐지기기를 동시에 휴대해야 하는 불편함을 가지게 되었다.

요약하자면, 계측기인 트랜시버 장치에 삽입하여 연동 사용이 불가능한 단점을 가지고 있는 것이다.

반면에 본 발명의 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치는 계측기와 연동하는 방식이므로 계측기에서 신호를 받아서 광섬유의 고장점을 판별할 수 있으며, 동시에 계측기를 원격지단말기와 연결하게 되면, 원격지단말기의 제어에 따라 계측기를 통해 연동 제어가 가능한 장점을 제공할 수 있게 된다.

즉, 광 트랜시버 장치들과 하나의 패키지로 동작할 수 있으므로 원격지단말기를 통해 원격 체크가 가능한 편의성과 효율성 및 호환성을 제공하게 된다.

다시 설명하자면, 계측기를 통해 광 파장 및 광 세기를 측정하면서 연동되어 동시에 광섬유의 고장점도 확인이 가능하게 되는 것이다.

따라서, 계측기에 꽂기만 하면 계측기의 온 신호에 따라 고장점도 체크할 수 있는 확장성과 연동성을 동시에 제공하게 되는 것이다.

상기와 같은 구성 및 동작을 통해, 계측기의 SFP 슬롯에 접속되어 계측기에서 제공되는 온 신호에 따라, SFP형 광섬유 고장점 탐지장치에 접속된 검사하고자 하는 광섬유를 접속시켜 광 색깔을 육안으로 식별할 수 있도록 함으로써, 광섬유 심선, 커넥터 등의 고장점을 복잡한 측정기를 사용하지 않고, 쉽게 식별할 수 있도록 함으로써, 예를 들어, 굴곡지점, 외피 손상지점에서 광 손실이 발생하는 경우 누설되는 적색광을 간단히 육안으로 확인할 수 있는 효과를 제공하게 된다.

이상에서와 같은 내용의 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시된 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다.

본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구 범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

100 : SFP형 광섬유 고장점 탐지장치
110 : SFP통신포트부
120 : SFP제어부
130 : 레이저다이오드
140 : 광출력부
200 : 계측기

Claims

SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)에 있어서,
계측기(200)의 SFP 슬롯(210)에 접속되어 계측기의 제어부(220)로부터 제공되는 온/오프 신호를 SFP제어부로 제공하기 위한 SFP통신포트부(110)와,
상기 SFP통신포트부(110)와 연결되어 계측기의 제어부(220)로부터 제공되는 온/오프 신호를 획득하여 레이저다이오드로 온 신호 혹은 오프 신호를 제공하기 위한 SFP제어부(120)와,
상기 SFP제어부와 연결되어 SFP제어부에 의해 온 신호시 점등되거나, 오프 신호시 점등 해제되는 레이저다이오드(130)와,
측정하고자 하는 광섬유(300)를 접속시키기 위하여 형성되며, 상기 레이저다이오드로부터 점등시 제공되는 광을 광섬유로 제공하기 위한 광출력부(140)를 포함하여 구성되되,
상기 광출력부(140)에,
측정하고자 하는 광섬유(300)를 접속시켜 광섬유의 심선, 커넥터의 고장점을 레이저다이오드(130)로부터 제공되는 광을 광섬유에 투과시켜 판별하도록 하는 것을 특징으로 하며,
상기 계측기의 제어부(220)로부터 온 신호를 제공할 경우에, 계측기의 디스플레이패널 상에 온 상태를 나타내며, 광출력부에 접속된 광섬유의 커넥터를 통해 출사되는 색깔이 존재하지 않으면 광섬유의 심선 혹은 커넥터의 고장으로 판별하는 것을 특징으로 하며,
원격지단말기에서 상기 계측기의 제어부(220)로 광 파장 및 광 세기 측정 신호를 전송할 경우에, 광 파장 및 광 세기 측정한 결과 신호를 원격지단말기로 전송하며, 계측기의 제어부(220)로 광섬유 고장점을 체크하기 위한 온 신호를 전송하면, 계측기의 제어부를 통해 SFP제어부(120)로 온 신호를 제공하고, 레이저다이오드(130)에 의해 점등됨으로써, 점등 시 제공되는 광을 광출력부(140)를 통해 광섬유로 제공하여 광섬유의 고장점을 체크할 수 있는 것을 특징으로 하되,
상기 계측기(200)는,
SFP 슬롯(210), 제어부(220), 디스플레이패널(230), 통신부(240), 전원부(250)를 포함하여 구성하되,
SFP 슬롯(210)은 통신부(240)와 연결되어 제어부(220)로부터 제공된 신호를 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)로 제공하는 기능을 수행하며,
제어부(220)는 온/오프 신호를 생성하여 통신부(240)로 제공하게 되고, 상기 제공된 신호를 SFP제어부(120)로 제공하게 되며,
디스플레이패널(230)은 제어부(220)로부터 온 신호를 제공할 경우에, 계측기의 디스플레이패널 상에 온 상태를 나타내게 되거나, 상기 SFP 슬롯(210)에 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치(100)를 삽입하게 되면, 디스플레이패널(230) 상에 삽입됐다는 표시를 출력하게 되며, 온 신호를 송출하게 되면, 온 상태를 표시하며, 온 상태의 펄스 상태도 출력하게 되는 것을 특징으로 하는 SFP형 광섬유 고장점 탐지장치.
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