KR101984909B1 - Manufacturing method for semiconductor donor substrate - Google Patents
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Abstract
본 발명은 줄 가열을 이용하여 대상 기판에 유기물을 증착시킬 수 있게 하는 반도체 도너 기판의 제조 방법에 관한 것으로서, 반도체 재질로 이루어지는 몸체를 준비하는 몸체 준비 단계; 유기 발광 장치용 유기물을 수용할 수 있도록 상기 몸체의 표면부에 홈부를 형성하는 홈부 형성 단계; 및 상기 홈부에 수용된 상기 유기물을 가열하여 상기 유기물이 대상 기판에 증착될 수 있도록 상기 홈부의 적어도 일부분에 발열 영역을 형성하는 발열 영역 형성 단계;를 포함할 수 있다.The present invention relates to a method of manufacturing a semiconductor donor substrate that enables organic materials to be deposited on a target substrate by using line heater, comprising: a body preparing step of preparing a body made of a semiconductor material; Forming a groove on a surface portion of the body to accommodate an organic material for an organic light emitting device; And a heating region forming step of heating the organic material accommodated in the groove portion to form a heating region in at least a part of the groove portion so that the organic material can be deposited on a target substrate.
Description
본 발명은 반도체 도너 기판의 제조 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 줄 가열을 이용하여 대상 기판에 유기물을 증착시킬 수 있게 하는 반도체 도너 기판의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of fabricating a semiconductor donor substrate, and more particularly, to a method of fabricating a semiconductor donor substrate that enables organic materials to be deposited on a target substrate by using line heating.
유기 발광 장치란 유기 발광 다이오드(OLED)라고 지칭되는 것이 보통으로 평판 디스플레이 기술에서 외부 빛이 있어야 동작하는 수광형의 문제를 극복하여 자체적으로 빛을 낼 수 있는 발광형 제품을 말하는 것이다.An organic light emitting device is an organic light emitting diode (OLED), which is an organic light emitting diode (OLED) that can emit light by itself to overcome the problem of the light receiving type that requires external light in flat panel display technology.
이러한 유기 발광 장치는 자체 발광기능을 가진 적색, 황색, 청색 등 여러 가지의 형광체 유기화합물을 사용하여 조명 장치나 디스플레이 평판의 제조를 이루도록 함으로써 낮은 전압에서도 구동이 가능하고, 제품의 초박형 설계를 이룰 수 있는 것이며, 색감을 떨어뜨리는 백라이트(후광장치)의 구성이 필요 없는 장점이 있는 것이다.Such an organic light emitting device can be driven at a low voltage by forming a lighting device or a display plate using various organic phosphor compounds such as red, yellow, and blue having self-emission function, And there is an advantage that the configuration of a backlight (backlight device) for reducing the color tone is not necessary.
이에 따라, 유기 발광 장치는, 사용 상의 편의성과 생산된 제품의 효율성으로 인하여 전기, 전자 분야는 물론이고 다양한 산업에 적용하여 이용되고 있는 것이며 이러한 유기 발광 장치를 이용한 조명 장치 또는 디스플레이 장치를 생산하기 위한 다양한 방법이 제안되고 있다.Accordingly, the organic light emitting device has been used in various industries as well as electric and electronic fields due to convenience in use and efficiency of produced products. In order to produce an illumination device or a display device using the organic light emitting device Various methods have been proposed.
이러한 종래의 유기 발광 장치의 제조 방법은 대상 기판에 유기물의 증착 과정이 손쉽게 이루어지기 어렵고, 원하는 패턴으로 박막을 형성하기 어려워서 최근에는 증착용 도너 기판 전계를 인가하여 발생되는 줄 열을 이용하여 대상 기판에 유기물을 면상으로 편리하게 증착시키는 방법이 제안되었다.In the conventional method of manufacturing an organic light emitting device, it is difficult to easily deposit organic materials on a target substrate and it is difficult to form a thin film in a desired pattern. In recent years, using a row heat generated by applying a vapor donor substrate electric field, A method of conveniently depositing an organic material on a surface has been proposed.
그러나, 이러한 종래의 유기 발광 장치용 도너 기판은 일반적으로 유리 기판이나 세라믹 기판에 발열층을 접착하여 이루어지고, 발열층 상에 도포된 유기물을 대상 기판 방향으로 안내되어 정위치에 전사될 수 있도록 별도의 합성 수지 재질의 격벽 구조물을 형성하는 것으로서, 이러한 접착 공정은 발열층의 미세 패턴이 어렵고, 비록 발열층의 미세 패턴을 형성하더라도 별도의 마스크가 사용되어야 하는 등 미세 패턴이 어렵다는 문제점이 있었다.However, such a conventional donor substrate for an organic light emitting device generally has a heating layer adhered to a glass substrate or a ceramic substrate, and organic substances coated on the heating layer are guided toward the target substrate and are separately transferred This adhesion process has a problem that it is difficult to form a fine pattern of the heating layer and it is difficult to form a fine pattern such as using a separate mask even if a fine pattern of the heating layer is formed.
또한, 종래의 유기 발광 장치용 도너 기판은, 접착제 도포 및 접착제 경화 등 번거로운 별도의 제조 공정이 많이 소요되어 제조 비용과 제조 시간이 낭비되고, 기판을 이루는 유리 재질과 발열층을 이루는 금속 재질의 열팽창 계수의 차이 및 접착제의 특성상 고온으로 장시간의 줄 가열시 발열층이 쉽게 파손되거나 박리되는 등 제품의 내구성과 신뢰도가 떨어지는 문제점들이 있었다.In addition, the conventional donor substrate for an organic light emitting device requires a lot of additional manufacturing steps such as adhesive application and curing of the adhesive, so that manufacturing cost and manufacturing time are wasted, and the thermal expansion of the metal material constituting the substrate and the heating layer There is a problem that the durability and reliability of the product are inferior because the heat layer is easily broken or peeled off during heating for a long time at a high temperature due to the difference in coefficient and adhesive property.
또한, 발열층에서 발생되는 줄 열이 합성 수지 재질인 격벽으로 쉽게 전달되어 아웃개싱이 발생하는 등 격벽이 쉽게 손상되고, 이로 인하여 증착 패턴의 정밀도가 떨어지며, 파손된 격벽 성분이 유기물 및 대상 기판을 오염시켜서 발광 효율이 떨어지고, 불량 현상이 발생되는 등 많은 문제점들이 있었다.In addition, since the heat generated from the heating layer is easily transferred to the partition wall made of a synthetic resin material, outgassing occurs and the partition wall is easily damaged. As a result, the accuracy of the deposition pattern is degraded, There is a problem that the efficiency of light emission is lowered and a defective phenomenon occurs.
본 발명의 사상은, 이러한 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, 반도체 웨이퍼 및 반도체 공정을 이용하여 별도의 마스크나 접착제를 사용하지 않고도 이온 주입 공정을 이용하여 발열 영역을 형성할 수 있어서 미세 패턴 형성을 용이 하게 할 수 있으며, 반영구적인 반도체 재질의 홈부 구조를 이용하여 유기물의 전사 방향을 정확하게 안내할 수 있고, 기존의 접착제나 합성 수지 재질의 격벽을 사용할 필요가 없어서 제조 비용과 제조 시간을 절감할 수 있으며, 실리콘 재질의 특성상 열적, 기계적으로 매우 견고하여 제품의 내구성과 신뢰도를 크게 향상시킬 수 있고, 종래의 파손된 합성 수지 재질의 격벽 성분으로 인한 오염을 방지하여 발광 효율을 높일 수 있으며, 양질의 제품을 생산할 수 있게 하는 반도체 도너 기판의 제조 방법을 제공함에 있다. 그러나 이러한 과제는 예시적인 것으로서, 이에 의해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.The idea of the present invention is to solve these problems, and it is possible to form a heat generating region by using an ion implantation process without using a separate mask or adhesive by using a semiconductor wafer and a semiconductor process, It is possible to precisely guide the transfer direction of the organic material by using the semi-permanent groove structure of the semiconductor material, and it is not necessary to use the conventional adhesive or the partition wall made of the synthetic resin material, The durability and reliability of the product can be greatly improved, and it is possible to improve the luminous efficiency by preventing the contamination due to the partition wall component of the conventional broken synthetic resin material, The present invention provides a method of manufacturing a semiconductor donor substrate. However, these problems are illustrative, and thus the scope of the present invention is not limited thereto.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 사상에 따른 반도체 도너 기판의 제조 방법은, 반도체 재질로 이루어지는 몸체를 준비하는 몸체 준비 단계; 유기 발광 장치용 유기물을 수용할 수 있도록 상기 몸체의 표면부에 홈부를 형성하는 홈부 형성 단계; 및 상기 홈부에 수용된 상기 유기물을 가열하여 상기 유기물이 대상 기판에 증착될 수 있도록 상기 홈부의 적어도 일부분에 발열 영역을 형성하는 발열 영역 형성 단계;를 포함할 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a semiconductor donor substrate, comprising: preparing a body made of a semiconductor material; Forming a groove on a surface portion of the body to accommodate an organic material for an organic light emitting device; And a heating region forming step of heating the organic material accommodated in the groove portion to form a heating region in at least a part of the groove portion so that the organic material can be deposited on a target substrate.
또한, 본 발명에 따르면, 상기 몸체 준비 단계는, 수직 방향으로 식각이 용이한 결정 구조를 갖는 반도체 웨이퍼를 준비하는 반도체 웨이퍼 준비 단계;를 포함할 수 있다.In addition, according to the present invention, the body preparation step may include a semiconductor wafer preparation step of preparing a semiconductor wafer having a crystal structure that is easy to etch in a vertical direction.
또한, 본 발명에 따르면, 상기 홈부 형성 단계는, 상기 몸체의 상면에 부분적으로 보호막을 형성하는 보호막 형성 단계; 및 상기 보호막을 식각 마스크로 이용하여 상기 보호막으로부터 노출된 상기 몸체의 상기 표면부를 식각하여 상기 홈부를 형성하는 식각 단계;를 포함할 수 있다.According to the present invention, the groove forming step may include: forming a protective film partially on an upper surface of the body; And etching the surface portion of the body exposed from the protective film using the protective film as an etching mask to form the groove portion.
또한, 본 발명에 따르면, 상기 발열 영역 형성 단계는, 상기 보호막을 이온 주입 마스크로 이용하여 상기 홈부의 적어도 바닥면에 이온을 주입하는 이온 주입 단계; 및 상기 보호막을 제거하는 보호막 제거 단계;를 포함할 수 있다.According to the present invention, the heat generating region forming step may include: an ion implanting step of implanting ions into at least a bottom surface of the groove using the protective film as an ion implantation mask; And a protective film removing step of removing the protective film.
또한, 본 발명에 따르면, 상기 이온 주입 단계는, 퓨어 기판, N 타입 도핑 기판, P 타입 도핑 기판 중 어느 하나로 이루어지는 상기 몸체에 N 타입 또는 P 타입 불순물을 이온 주입할 수 있다.According to the present invention, the ion implantation step may include implanting N-type or P-type impurities into the body, which is formed of any one of a pure substrate, an N-type doped substrate and a P-type doped substrate.
또한, 본 발명에 따르면, 상기 발열 영역 형성 단계는, 이온이 주입된 이온 주입 영역을 어닐링하는 어닐링 단계;를 더 포함할 수 있다.In addition, according to the present invention, the heat generating region forming step may further include an annealing step of annealing the ion implanted region implanted with ions.
또한, 본 발명에 따른 반도체 도너 기판의 제조 방법은, 상기 몸체의 상면, 상기 홈부의 내면, 상기 발열 영역의 상면 중 어느 하나 이상에 보호층을 형성하는 보호층 형성 단계;를 더 포함할 수 있다.The method of manufacturing a semiconductor donor substrate according to the present invention may further include forming a protective layer on at least one of an upper surface of the body, an inner surface of the groove, and an upper surface of the heat generating region .
또한, 본 발명에 따르면, 상기 어닐링 단계 및 상기 보호층 형성 단계는 산화막 또는 고유전율 절연막이 형성되도록 산소 가스 환경에서 상기 몸체를 고온 가열하여 동시에 이루어질 수 있다.According to the present invention, the annealing step and the protective layer forming step may be simultaneously performed by heating the body at a high temperature in an oxygen gas environment so that an oxide film or a high dielectric constant insulating film is formed.
또한, 본 발명에 따르면, 상기 홈부 형성 단계는, 상기 홈부에 수용된 상기 유기물을 상기 대상 기판 방향으로 안내할 수 있도록 안내 측벽부를 형성하는 안내 측벽부 형성 단계; 및 상기 유기물을 수용하는 수용홈부를 형성하는 수용홈부 형성 단계;를 더 포함할 수 있다.According to the present invention, the groove forming step may include: forming a guide sidewall part to form the guide sidewall part so that the organic material accommodated in the groove part can be guided toward the target substrate; And a receiving recess forming step of forming a receiving recess for receiving the organic substance.
또한, 본 발명에 따르면, 상기 발열 영역 형성 단계 이후에, 원판 형상의 상기 몸체를 단위 사각 기판 형태로 형성할 수 있도록 상기 몸체를 절단하는 절단 단계;를 더 포함할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a plasma display panel, comprising the steps of: forming a body having a disk shape;
상기한 바와 같이 이루어진 본 발명의 일부 실시예들에 따르면, 반도체 웨이퍼 및 반도체 공정을 이용하여 별도의 마스크나 접착제를 사용하지 않고도 이온 주입 공정을 이용하여 발열 영역을 형성할 수 있어서 미세 패턴 형성을 용이 하게 할 수 있으며, 반영구적인 반도체 재질의 홈부 구조를 이용하여 유기물의 전사 방향을 정확하게 안내할 수 있고, 기존의 접착제나 합성 수지 재질의 격벽을 사용할 필요가 없어서 제조 비용과 제조 시간을 절감할 수 있으며, 실리콘 재질의 특성상 열적, 기계적으로 매우 견고하여 제품의 내구성과 신뢰도를 크게 향상시킬 수 있고, 종래의 파손된 합성 수지 재질의 격벽 성분으로 인한 오염을 방지하여 발광 효율을 높일 수 있으며, 양질의 제품을 생산할 수 있는 효과를 갖는 것이다. 물론 이러한 효과에 의해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.According to some embodiments of the present invention as described above, a heat generating region can be formed using an ion implantation process without using a separate mask or adhesive using a semiconductor wafer and a semiconductor process, thereby facilitating fine pattern formation And it is possible to accurately guide the transfer direction of the organic material by using the semi-permanent groove structure of the semiconductor material, and it is possible to reduce the manufacturing cost and the manufacturing time because it is unnecessary to use the conventional adhesive or the partition wall made of the synthetic resin material It is possible to improve the durability and reliability of the product significantly and to improve the luminous efficiency by preventing contamination due to the breakage component of the conventional broken synthetic resin material, Can be produced. Of course, the scope of the present invention is not limited by these effects.
도 1은 본 발명의 일부 실시예들에 따른 반도체 도너 기판을 나타내는 단면도이다.
도 2 내지 도 6은 도 1의 반도체 도너 기판의 제조 과정을 단계적으로 나타내는 단면도들이다.
도 7은 본 발명의 일부 다른 실시예들에 따른 반도체 도너 기판을 나타내는 단면도이다.
도 8는 본 발명의 일부 다른 실시예들에 따른 반도체 도너 기판을 나타내는 사시도이다.
도 9는 도 8의 반도체 도너 기판을 나타내는 평면도이다.
도 10은 도 1의 반도체 도너 기판을 이용한 유기 발광 장치의 제조 방법을 나타내는 단면도이다.
도 11은 본 발명의 일부 실시예들에 따른 반도체 도너 기판의 제조 방법을 나타내는 순서도이다.
도 12는 본 발명의 일부 다른 실시예들에 따른 반도체 도너 기판의 제조 방법을 나타내는 순서도이다.
도 13은 본 발명의 일부 또 다른 실시예들에 따른 반도체 도너 기판의 제조 방법을 나타내는 순서도이다.1 is a cross-sectional view illustrating a semiconductor donor substrate in accordance with some embodiments of the present invention.
FIGS. 2 to 6 are cross-sectional views showing steps of manufacturing the semiconductor donor substrate of FIG. 1. FIG.
7 is a cross-sectional view illustrating a semiconductor donor substrate in accordance with some other embodiments of the present invention.
8 is a perspective view illustrating a semiconductor donor substrate according to some alternative embodiments of the present invention.
9 is a plan view showing the semiconductor donor substrate of FIG.
10 is a cross-sectional view showing a method of manufacturing an organic light emitting device using the semiconductor donor substrate of FIG.
11 is a flow chart illustrating a method of fabricating a semiconductor donor substrate in accordance with some embodiments of the present invention.
12 is a flow chart illustrating a method of fabricating a semiconductor donor substrate in accordance with some other embodiments of the present invention.
Figure 13 is a flow chart illustrating a method of fabricating a semiconductor donor substrate in accordance with some further embodiments of the present invention.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 여러 실시예들을 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명의 실시예들은 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위하여 제공되는 것이며, 하기 실시예는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것은 아니다. 오히려 이들 실시예들은 본 개시를 더욱 충실하고 완전하게 하고, 당업자에게 본 발명의 사상을 완전하게 전달하기 위하여 제공되는 것이다. 또한, 도면에서 각 층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장된 것이다.The embodiments of the present invention are described in order to more fully explain the present invention to those skilled in the art, and the following embodiments may be modified into various other forms, It is not limited to the embodiment. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be more thorough and complete, and will fully convey the concept of the invention to those skilled in the art. In the drawings, the thickness and size of each layer are exaggerated for convenience and clarity of explanation.
본 명세서에서 사용된 용어는 특정 실시예를 설명하기 위하여 사용되며, 본 발명을 제한하기 위한 것이 아니다. 본 명세서에서 사용된 바와 같이, 단수 형태는 문맥상 다른 경우를 분명히 지적하는 것이 아니라면, 복수의 형태를 포함할 수 있다. 또한, 본 명세서에서 사용되는 경우 "포함한다(comprise)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급한 형상들, 숫자, 단계, 동작, 부재, 요소 및/또는 이들 그룹의 존재를 특정하는 것이며, 하나 이상의 다른 형상, 숫자, 동작, 부재, 요소 및/또는 그룹들의 존재 또는 부가를 배제하는 것이 아니다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. As used herein, the singular forms "a," "an," and "the" include singular forms unless the context clearly dictates otherwise. Also, " comprise " and / or " comprising " when used herein should be interpreted as specifying the presence of stated shapes, numbers, steps, operations, elements, elements, and / And does not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, operations, elements, elements, and / or groups.
이하, 본 발명의 실시예들은 본 발명의 이상적인 실시예들을 개략적으로 도시하는 도면들을 참조하여 설명한다. 도면들에 있어서, 예를 들면, 제조 기술 및/또는 공차(tolerance)에 따라, 도시된 형상의 변형들이 예상될 수 있다. 따라서, 본 발명 사상의 실시예는 본 명세서에 도시된 영역의 특정 형상에 제한된 것으로 해석되어서는 아니 되며, 예를 들면 제조상 초래되는 형상의 변화를 포함하여야 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings schematically showing ideal embodiments of the present invention. In the figures, for example, variations in the shape shown may be expected, depending on manufacturing techniques and / or tolerances. Accordingly, the embodiments of the present invention should not be construed as limited to the particular shapes of the regions shown herein, but should include, for example, changes in shape resulting from manufacturing.
이하, 본 발명의 여러 실시예들에 따른 반도체 도너 기판, 반도체 도너 기판의 제조 방법 및 유기 발광 장치의 제조 방법을 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a semiconductor donor substrate, a method of manufacturing a semiconductor donor substrate, and a method of manufacturing an organic light emitting device according to various embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
도 1은 본 발명의 일부 실시예들에 따른 반도체 도너 기판(100)을 나타내는 단면도이다.1 is a cross-sectional view illustrating a
먼저, 도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일부 실시예들에 따른 반도체 도너 기판(100)은, 크게 몸체(10)와 홈부(20) 및 발열 영역(30)을 포함할 수 있다.First, as shown in FIG. 1, a
예컨대, 상기 몸체(10)는 반도체 재질로 이루어지는 것으로서, 더욱 구체적으로 예를 들면, 상기 몸체(10)는, 수직 방향으로 식각이 용이한 결정 구조를 갖는 도 9의 반도체 웨이퍼(W)의 적어도 일부일 수 있다.For example, the
이러한 상기 몸체(10)는 반도체 도너 기판(100)의 대부분을 지칭할 수 있고, 본 발명의 범위는 상기 몸체(10)의 모양이나 형상에 제한되지 않는다.The
예컨대, 상기 몸체(10)는 시드의 결정을 성장시킨 잉곳을 절단하여 이루어지는 퓨어 웨이퍼 또는 벌크 웨이퍼일 수 있다. 또한, 상기 홈부(20) 및 상기 발열 영역(30) 역시, 반도체 물질로 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 몸체(10)는 불순물이 도핑되지 않은 퓨어 웨이퍼나, 소량의 불순물이 도핑된 벌크 웨이퍼 또는 벌크 실리콘-게르마늄 웨이퍼의 일부 또는 전체일 수 있다. For example, the
그러나, 이러한 상기 몸체(10)는 상술된 재질에 반드시 국한되지 않고, 불순물이 도핑되면 전기적 성질을 갖는 반도체 재질로 제조되는 모든 반도체 물질이 모두 적용될 수 있다.However, the
또한, 예컨대, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 홈부(20)는 유기 발광 장치용 유기물(1)을 수용할 수 있도록 상기 몸체(10)의 표면부에 형성되는 것으로서, 예를 들면, 상기 홈부(20)는, 제 1 폭(W1)과 제 1 깊이(D1)를 갖고, 수직으로 형성되는 수직 측벽(21)을 가질 수 있다.1, the
그러나, 이에 반드시 국한되지 않고, 경사 측벽을 형성하는 등 매우 다양한 형태의 상기 홈부(20)가 형성될 수 있다.However, the
이러한 상기 홈부(20)는 예컨대, 반도체 공정의 일종인 식각 과정을 통해서 상기 몸체(10)의 표면부에 형성될 수 있는 것으로서, 더욱 구체적으로 예를 들면, 상기 홈부(20)는, 상기 유기물(1)이 수용되는 수용홈부(20-1) 및 상기 수용홈부(20-1)에 수용된 상기 유기물(1)을 상기 대상 기판(S) 방향으로 안내할 수 있도록 상기 수용홈부(20-1)와 연결되는 형상으로 형성되는 안내 측벽부(20-2)를 포함할 수 있다.The
따라서, 상기 유기물(1)은 상기 수용홈부(20-1)에 수용될 수 있고, 상기 발열 영역(30)이 발열되면 액체에서 기체 상태로 승화되면서 상기 안내 측벽부(20-2)에 의해 수직 상방으로 안내되어 방향성을 갖는 상태로 수직 상방 또는 수직 하방에 정렬된 도 10의 대상 기판(S)에 증착될 수 있다.Therefore, the
만약, 상술된 상기 안내 측벽부(20-2)가 없다면 기체 상태의 상기 유기물(1)은 좌우 방향으로도 분산되면서 상기 대상 기판(S)에 정확한 패턴으로 증착되기 어렵다. 따라서, 이러한 상기 안내 측벽부(20-2)를 이용하여 상기 대상 기판(S)에 증착되는 상기 유기물(1) 패턴의 정밀도와 정확도를 크게 향상시킬 수 있다.If the above described guide side wall portion 20-2 is not provided, the
또한, 예컨대, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 발열 영역(30)은 상기 홈부(20)에 수용된 상기 유기물(1)을 가열하여 상기 유기물(1)이 대상 기판(S)에 증착될 수 있도록 상기 홈부(20)의 적어도 일부분에 형성되는 영역으로서, 상기 유기물(1)의 줄 가열이 가능하도록 상기 몸체(10)에 불순물을 이온 주입하여 저항을 가진 도전 영역으로 형성되는 부분일 수 있다.1, the
예를 들면, 상기 몸체(10)는 제 1 도전형으로 이루어지고, 상기 발열 영역(30)은, 상기 홈부(20)의 적어도 바닥면 하부에 상기 제 1 도전형과 다른 제 2 도전형으로 불순물을 이온 주입하여 형성될 수 있다.For example, the
더욱 구체적으로 예를 들면, 상기 몸체(10)는 퓨어 기판, N 타입 도핑 기판, P 타입 도핑 기판 중 어느 하나로 이루어지고, 상기 발열 영역(30)은, N 타입 또는 P 타입으로 이온 주입될 수 있다.More specifically, for example, the
예컨대, 상기 몸체(10)가 도전성이 없는 퓨어 기판일 때, 상기 발열 영역(30)은, N 타입 또는 P 타입으로 이온 주입되어 도전성이 형성될 수 있다. 즉, 상기 몸체(10)가 N 타입 또는 P 타입으로 도핑된 벌크 웨이퍼인 경우, 상기 발열 영역(30)은, 상기 몸체(10)의 타입과 반대인 P 타입 또는 N 타입으로 이온 주입될 수 있다. 그러나, 이에 반드시 국한되지 않고, 예컨대, 즉, 상기 몸체(10)가 N 타입 또는 P 타입으로 도핑된 벌크 웨이퍼인 경우, 상기 발열 영역(30)은, 상기 몸체(10)의 타입과 같은 N 타입 또는 P 타입으로 이온 주입될 수 있다. 이 경우에는 상기 발열 영역(30)에서 상기 몸체(10)로의 전류 누설을 방지할 수 있도록 상기 몸체(10)에 도핑된 불순물의 농도 보다 상기 발열 영역(30)에 도핑된 불순물의 농도가 훨씬 높은 것이 바람직하다.For example, when the
이러한, 불순물 도핑량은 상기 유기물(1)의 종류나, 사용 환경이나, 상기 몸체(10)의 특성이나, 챔버 환경 등에 따라 매우 다양하게 최적화 설계될 수 있다.The amount of doping of the impurities can be optimally designed according to the type of the
따라서, 상기 발열 영역(30)에 전계가 인가되면 상기 발열 영역(30)이 저항열에 의해 고온으로 줄 가열되면서 상기 홈부(20)에 수용된 상기 유기물(1)을 액체에서 기체 상태로 승화시킬 수 있고, 이렇게 승화된 상기 유기물(1)은 상기 안내 측벽부(20-2)에 의해 수직 상방으로 안내되어 방향성을 갖는 상태로 수직 상방 또는 수직 하방에 정렬된 도 8의 대상 기판(S)에 증착될 수 있다.Accordingly, when an electric field is applied to the
또한, 상기 발열 영역(30)은, 상기 홈부(20)의 상기 바닥면에 형성되는 바닥 발열부 이외에도, 도시하지 않았지만, 상기 홈부(20)의 상기 측벽의 적어도 일부에 형성되는 측벽 발열부를 포함할 수 있다.The
따라서, 이러한 상기 측벽 발열부를 이용하여 상기 바닥 발열부에 의해 증발되는 상기 유기물(1)이 상기 수직 측벽(21)에 증착되는 것을 방지할 수 있고, 이러한 상기 수직 측벽(21)에 증착되는 상기 유기물(1)을 고온으로 가열하여 제거함으로써 상기 홈부(20)의 폭이 좁아지는 것을 방지할 수 있다.Accordingly, the
그러므로, 반도체 웨이퍼 및 반도체 공정을 이용하여 별도의 마스크나 접착제를 사용하지 않고도 이온 주입 공정을 이용하여 상기 발열 영역(30)을 형성할 수 있어서 미세 패턴 형성을 용이 하게 할 수 있으며, 반영구적인 반도체 재질의 상기 홈부(20) 구조를 이용하여 유기물의 전사 방향을 정확하게 안내할 수 있고, 기존의 접착제나 합성 수지 재질의 격벽을 사용할 필요가 없어서 제조 비용과 제조 시간을 절감할 수 있으며, 실리콘 재질의 특성상 열적, 기계적으로 매우 견고하여 제품의 내구성과 신뢰도를 크게 향상시킬 수 있고, 종래의 파손된 합성 수지 재질의 격벽 성분으로 인한 오염을 방지하여 발광 효율을 높일 수 있으며, 양질의 제품을 생산할 수 있다.Therefore, the
도 2 내지 도 6은 도 1의 반도체 도너 기판(100)의 제조 과정을 단계적으로 나타내는 단면도들이다.FIGS. 2 to 6 are cross-sectional views showing steps of manufacturing the
도 2 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 도 1의 반도체 도너 기판(100)의 제조 과정을 단계적으로 설명하면, 먼저, 도 2에 도시된 바와 같이, 반도체 재질로 이루어지는 몸체(10)를 준비할 수 있다.As shown in FIGS. 2 to 6, the
이 때, 상기 몸체(10)는 시드의 결정을 성장시킨 잉곳을 절단하여 이루어지는 부도체 성질인 퓨어 웨이퍼 또는 거의 부도체 성질인 벌크 웨이퍼일 수 있는 것으로서, 예컨대, 수직 방향으로 식각이 용이한 결정 구조를 갖는 반도체 웨이퍼(W)를 준비할 수 있다.In this case, the
이어서, 도 3에 도시된 바와 같이, 유기 발광 장치용 유기물(1)을 수용할 수 있도록 상기 몸체(10)의 표면부에 홈부(20)를 형성할 수 있도록, 상기 몸체(10)의 상면(F)에 부분적으로 보호막(PR)을 형성할 수 있다.3, an upper surface (not shown) of the
이 때, 예컨대, 상기 보호막(PR)은 포토레지스트(photoresist)일 수 있고, 상기 몸체(10)의 상면에 스핀 코팅된 후, 포토 마스크를 이용한 노광 과정 및 현상 과정을 거쳐서 형성될 수 있다.In this case, for example, the protective film PR may be a photoresist, spin-coated on the top surface of the
이어서, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 보호막(PR)을 식각 마스크로 이용하여 상기 보호막(PR)으로부터 노출된 상기 몸체(10)의 상기 표면부를 식각하여 상기 홈부(20)를 형성할 수 있다.4, the
이 때, 이러한 상기 홈부(20)는 플라즈마를 이용하여 상기 몸체(10)를 건식 식각하거나, 에칭액을 이용하여 상기 몸체(10)를 습식으로 식각할 수 있다. 이 중에서 상기 홈부(20)가 수직 방향으로 이루어지기 위한 이방성 식각을 위해 건식 식각 방식이 유리할 수 있다. 그러나, 반드시 이에 국한되지 않고 매우 다양한 식각 방식이 모두 적용될 수 있다.At this time, the
여기서, 식각하는 과정에서 먼저, 상기 유기물(1)을 상기 대상 기판(S) 방향으로 안내할 수 있도록 안내 측벽부(20-2)를 형성하고, 마지막으로 상기 유기물(1)을 수용하는 수용홈부(20-1)를 형성할 수 있다.In the etching process, a guide side wall portion 20-2 is formed so that the
이어서, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 홈부(20)에 수용된 상기 유기물(1)을 가열하여 상기 유기물(1)이 대상 기판(S)에 증착될 수 있도록 상기 홈부(20)의 적어도 일부분에 발열 영역을 형성할 수 있다.5, the
예컨대, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 보호막(PR)을 이온 주입 마스크로 이용하여 상기 홈부(20)의 적어도 바닥면에 이온을 주입할 수 있다.For example, as shown in FIG. 5, ions can be implanted into at least the bottom surface of the
이 때, 예컨대, 상기 몸체(10)가 도전성이 없는 퓨어 기판일 때, 상기 발열 영역(30)은, N 타입 또는 P 타입으로 이온 주입되어 도전성이 형성될 수 있다. 즉, 상기 몸체(10)가 N 타입 또는 P 타입으로 도핑된 벌크 웨이퍼인 경우, 상기 발열 영역(30)은, 상기 몸체(10)의 타입과 반대인 P 타입 또는 N 타입으로 이온 주입될 수 있다. 그러나, 이에 반드시 국한되지 않고, 예컨대, 즉, 상기 몸체(10)가 N 타입 또는 P 타입으로 도핑된 벌크 웨이퍼인 경우, 상기 발열 영역(30)은, 상기 몸체(10)의 타입과 같은 N 타입 또는 P 타입으로 이온 주입될 수 있다.At this time, for example, when the
이어서, 도 6에 도시된 바와 같이, 표면에 이온이 주입된 상기 보호막(PR)을 제거하여 본 발명의 일 실시예들에 따른 반도체 도너 기판(100)을 제조할 수 있다.Next, as shown in FIG. 6, the
이어서, 이온이 주입된 이온 주입 영역을 어닐링하여 상기 발열 영역(30)을 활성화시킬 수 있다.Then, the
이 때, 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 몸체(10)의 상면(F), 상기 홈부(20)의 내면, 상기 발열 영역(30)의 상면 중 어느 하나 이상에 보호층(40)을 형성할 수 있다. 즉, 어닐링과 동시에 산화막 또는 고유전율 절연막이 형성되도록 산소 가스 환경에서 상기 몸체(10)를 고온 가열하여 상기 보호층(40)을 형성할 수 있다.7, the
더욱 구체적으로 예를 들면, 상기 보호층(40)은 산화막 또는 고유전율 절연막을 포함할 수 있다.More specifically, for example, the
따라서, 상기 보호층(40)을 이용하여 상기 유기물(1)의 줄 가열시 상기 유기물(1)을 상기 몸체(10)와, 상기 홈부(20) 및 상기 발열 영역(30)으로부터 쉽게 분리되어 증발될 수 있게 하고, 상기 몸체(10)와, 상기 홈부(20) 및 상기 발열 영역(30)의 강도 및 내구성을 향상시킬 수 있다.The
이어서, 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 원판 형상의 상기 몸체(10)를 단위 사각 기판 형태로 형성할 수 있도록 상기 몸체(10)를 절단할 수 있다.Next, as shown in FIGS. 8 and 9, the
이 때, 본 발명의 일부 다른 실시예들에 따른 반도체 도너 기판(200)의 홈부(20)는, 상기 몸체(10)의 가로 방향으로 형성되고, 서로 일정한 거리를 갖는 복수개의 줄홈부(20a) 및 복수개의 상기 줄홈부(20a)들을 전기적으로 서로 연결시킬 수 있도록 상기 몸체(10)의 세로 방향으로 형성되는 전극부(20b)를 포함할 수 있다.In this case, the
여기서, 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 줄홈부(20a)에 형성된 상기 발열 영역(30)과 상기 전극부(20b)에 형성된 상기 발열 영역(30) 간의 저항에 차이를 형성하여 주로 상기 줄홈부(20a)에서 집중적으로 저항열이 발생될 수 있도록 상기 전극부(20b)의 폭(W5)은 상기 줄홈부(20a)의 폭(W4) 보다 넓을 수 있다.8 and 9, the resistance between the
따라서, 상기 전극부(20b)의 폭(W5)은 상기 줄홈부(20a)의 폭(W4) 보다 넓기 때문에 상대적으로 저항이 낮아져서 발열량이 적고, 이로 인하여 전류의 분산을 원활하게 할 수 있고, 상기 줄홈부(20a)의 폭(W4)은 상기 전극부(20b)의 폭(W5) 보다 좁기 때문에 상대적으로 저항이 높아져서 발열량이 많고, 이로 인하여 상기 유기물(1)의 줄 가열을 원활하게 할 수 있다.Therefore, since the width W5 of the
이러한 본 발명의 반도체 기술을 이용한 상기 발열 영역(30)을 기존의 금속 발열층과 비교하면, 기존의 금속 발열층은 기판으로부터 분리되는 박리 현상이 쉽게 발생하는 것은 물론이고, 예컨대, 제조 상의 문제 등 다양한 원인으로 금속 발열층의 일부분이 폭이 좁아지거나 얇아지면 그 부분에서 저항이 높아지고, 높아진 저항으로 인하여 발열이 집중되어 결국 금속 발열층이 단선되는 등의 문제점이 있었으나, 본 발명의 반도체 기술을 이용한 상기 발열 영역(30)은 비록 폭이 좁아지더라도 높아진 저항으로 인하여 오히려 주변 전류가 낮아져서 과열을 방지하는 셀프 컴펜세이션, 즉, 자가 보상(self compensation) 현상이 발생되어 실제로 반영구적인 내구성을 가질 수 있다.When the
도 10은 도 1의 반도체 도너 기판(100)을 이용한 유기 발광 장치의 제조 과정을 나타내는 단면도이다.10 is a cross-sectional view illustrating a manufacturing process of an organic light emitting device using the
도 10에 도시된 바와 같이, 도 1의 반도체 도너 기판(100)을 반전시킨 후, 도가니나 잉크젯 프린터나 다른 도너 기판 등을 이용하여 상기 반도체 도너 기판(100)의 표면에 유기물(1)을 전체적으로 도포시킨 다음, 상기 발열 영역(30)에 전계를 순간적으로 인가하면, 상기 홈부(20)의 내부에 존재하는 상기 유기물(1)들만 선택적으로 증발되어 상기 반도체 도너 기판(10)의 하방에 정렬된 상기 대상 기판(S)으로 쉽게 전사되어 패턴을 형성할 수 있다.As shown in FIG. 10, after the
여기서, 설명을 위해서 도 1의 반도체 도너 기판(100)을 반전시킨 상태가 도시되었으나, 이외에도, 도 1의 반도체 도너 기판(100)을 반전시키지 않고 상기 반도체 도너 기판(100)의 상방에 정렬된 대상 기판에 증착시키는 것도 가능함은 물론이다.Although the
도 11은 본 발명의 일부 실시예들에 따른 반도체 도너 기판의 제조 방법을 나타내는 순서도이다.11 is a flow chart illustrating a method of fabricating a semiconductor donor substrate in accordance with some embodiments of the present invention.
도 1 내지 도 11에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일부 실시예들에 따른 반도체 도너 기판의 제조 방법은, 크게 도 2에 도시된 바와 같이, 반도체 재질로 이루어지는 몸체(10)를 준비하는 몸체 준비 단계(S1)와, 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 유기 발광 장치용 유기물(1)을 수용할 수 있도록 상기 몸체(10)의 표면부에 홈부(20)를 형성하는 홈부 형성 단계(S2) 및 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 홈부(20)에 수용된 상기 유기물(1)을 가열하여 상기 유기물(1)이 대상 기판(S)에 증착될 수 있도록 상기 홈부(20)의 적어도 일부분에 발열 영역을 형성하는 발열 영역 형성 단계(S3)를 포함할 수 있다.As shown in FIGS. 1 to 11, a method of manufacturing a semiconductor donor substrate according to some embodiments of the present invention includes the steps of preparing a
도 12는 본 발명의 일부 다른 실시예들에 따른 반도체 도너 기판의 제조 방법을 나타내는 순서도이다.12 is a flow chart illustrating a method of fabricating a semiconductor donor substrate in accordance with some other embodiments of the present invention.
도 1 내지 도 12에 도시된 바와 같이, 더욱 구체적으로 예를 들면, 상기 몸체 준비 단계(S1)는, 수직 방향으로 식각이 용이한 결정 구조를 갖는 반도체 웨이퍼(W)를 준비하는 반도체 웨이퍼 준비 단계(S11)를 포함할 수 있다.As shown in FIGS. 1 to 12, more specifically, for example, the body preparing step S1 is a step of preparing a semiconductor wafer W having a crystal structure that is easy to etch in the vertical direction (S11).
이어서, 상기 홈부 형성 단계(S2)는, 상기 몸체(10)의 상면(F)에 부분적으로 보호막(PR)을 형성하는 보호막 형성 단계(S21) 및 상기 보호막(PR)을 식각 마스크로 이용하여 상기 보호막(PR)으로부터 노출된 상기 몸체(10)의 상기 표면부를 식각하여 상기 홈부(20)를 형성하는 식각 단계(S22)를 포함할 수 있다.Next, the groove forming step S2 includes forming a protective film PR partially on the upper surface F of the
이어서, 상기 발열 영역 형성 단계(S3)는, 상기 보호막(PR)을 이온 주입 마스크로 이용하여 상기 홈부(20)의 적어도 바닥면에 이온을 주입하는 이온 주입 단계(S31) 및 상기 보호막(PR)을 제거하는 보호막 제거 단계(S32)를 포함할 수 있다.The heat generating region forming step S3 may include an ion implantation step S31 for implanting ions into at least the bottom surface of the
이 때, 상기 이온 주입 단계(S31)는, 퓨어 기판, N 타입 도핑 기판, P 타입 도핑 기판 중 어느 하나로 이루어지는 상기 몸체(10)에 N 타입 또는 P 타입 불순물을 이온 주입할 수 있다.At this time, the ion implantation step S31 may implant the N-type or P-type impurity into the
도 13은 본 발명의 일부 또 다른 실시예들에 따른 반도체 도너 기판의 제조 방법을 나타내는 순서도이다.Figure 13 is a flow chart illustrating a method of fabricating a semiconductor donor substrate in accordance with some further embodiments of the present invention.
도 1 내지 도 13에 도시된 바와 같이, 더욱 구체적으로 예를 들면, 상기 발열 영역 형성 단계(S3)는, 상기 홈부 형성 단계(S2)는, 상기 홈부(20)에 수용된 상기 유기물(1)을 상기 대상 기판(S) 방향으로 안내할 수 있도록 안내 측벽부(20-2)를 형성하는 안내 측벽부 형성 단계(S23) 및 상기 유기물(1)을 수용하는 수용홈부(20-1)를 형성하는 수용홈부 형성 단계(S24)를 더 포함할 수 있다.1 to 13, more specifically, for example, in the heat generating region forming step S3, the groove forming step S2 may include forming the
또한, 상기 발열 영역 형성 단계(S3)는, 이온이 주입된 이온 주입 영역을 어닐링하는 어닐링 단계(S33)를 더 포함할 수 있다.The heat generating region forming step (S3) may further include an annealing step (S33) of annealing the ion implanted region into which ions are implanted.
이어서, 본 발명의 일부 또 다른 실시예들에 따른 반도체 도너 기판의 제조 방법은, 상기 몸체(10)의 상면(F), 상기 홈부(20)의 내면, 상기 발열 영역(30)의 상면 중 어느 하나 이상에 보호층(40)을 형성하는 보호층 형성 단계(S4)를 더 포함할 수 있다.The method of manufacturing a semiconductor donor substrate according to still another embodiment of the present invention is characterized in that the upper surface F of the
이 때, 상기 어닐링 단계(S33) 및 상기 보호층 형성 단계(S4)는 산화막 또는 고유전율 절연막이 형성되도록 산소 가스 환경에서 상기 몸체(10)를 고온 가열하여 동시에 이루어질 수 있다.At this time, the annealing step (S33) and the protective layer forming step (S4) may be performed simultaneously by heating the body (10) at a high temperature in an oxygen gas environment so that an oxide film or a high dielectric constant insulating film is formed.
이어서, 상기 발열 영역 형성 단계(S3) 이후에, 원판 형상의 상기 몸체(10)를 단위 사각 기판 형태로 형성할 수 있도록 상기 몸체(10)를 절단하는 절단 단계(S5)를 더 포함할 수 있다.The method may further include a cutting step S5 of cutting the
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.While the present invention has been described with reference to exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the invention. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.
PR: 보호막
S1: 몸체 준비 단계
S2: 홈부 형성 단계
S3: 발열 영역 형성 단계
1: 유기물
10: 몸체
20: 홈부
21: 수직 측벽
22: 경사 측벽
20-1: 수용홈부
20-2: 안내 측벽부
20a: 줄홈부
20b: 전극부
30: 발열 영역
31: 바닥 발열부
32: 측벽 발열부
S: 대상 기판
W: 웨이퍼
F: 상면
40: 보호층
100: 반도체 도너 기판PR: Shield
S1: Body preparation step
S2: groove forming step
S3: heat generating region forming step
1: organic matter
10: Body
20: Groove
21: vertical side wall
22: inclined side wall
20-1: receiving groove
20-2:
20a:
20b:
30: heating region
31: Floor heating part
32: Side wall heating part
S: target substrate
W: Wafer
F: upper surface
40: Protective layer
100: Semiconductor donor substrate
Claims (10)
유기 발광 장치용 유기물을 수용할 수 있도록 상기 몸체의 표면부에 홈부를 형성하는 홈부 형성 단계; 및
상기 홈부에 수용된 상기 유기물을 가열하여 상기 유기물이 대상 기판에 증착될 수 있도록 상기 홈부의 적어도 일부분에 발열 영역을 형성하는 발열 영역 형성 단계;를 포함하고,
상기 홈부 형성 단계는,
상기 몸체의 상면에 부분적으로 보호막을 형성하는 보호막 형성 단계; 및
상기 보호막을 식각 마스크로 이용하여 상기 보호막으로부터 노출된 상기 몸체의 상기 표면부를 식각하여 상기 홈부를 형성하는 식각 단계;를 포함하고,
상기 발열 영역 형성 단계는,
상기 홈부의 적어도 바닥면에 이온을 주입하는 이온 주입 단계;
를 포함하는, 반도체 도너 기판의 제조 방법.A body preparing step of preparing a body made of a semiconductor material;
Forming a groove on a surface portion of the body to accommodate an organic material for an organic light emitting device; And
And a heating region forming step of forming a heating region in at least a portion of the groove so that the organic material is deposited on the target substrate by heating the organic material accommodated in the groove portion,
In the groove forming step,
Forming a protective film partially on an upper surface of the body; And
And etching the surface portion of the body exposed from the protective film using the protective film as an etching mask to form the groove portion,
The heat generating region forming step may include:
An ion implantation step of implanting ions into at least a bottom surface of the groove portion;
Wherein the semiconductor substrate is a silicon substrate.
상기 몸체 준비 단계는,
수직 방향으로 식각이 가능한 결정 구조를 갖는 반도체 웨이퍼를 준비하는 반도체 웨이퍼 준비 단계;를 포함하는, 반도체 도너 기판의 제조 방법.The method according to claim 1,
The body preparation step may include:
And a semiconductor wafer preparation step of preparing a semiconductor wafer having a crystal structure that is vertically etchable.
상기 발열 영역 형성 단계는,
상기 보호막을 제거하는 보호막 제거 단계;
를 더 포함하는, 반도체 도너 기판의 제조 방법.The method according to claim 1,
The heat generating region forming step may include:
A protective film removing step of removing the protective film;
Further comprising the steps of:
상기 이온 주입 단계는,
퓨어 기판, N 타입 도핑 기판, P 타입 도핑 기판 중 어느 하나로 이루어지는 상기 몸체에 N 타입 또는 P 타입 불순물을 이온 주입하는, 반도체 도너 기판의 제조 방법.The method according to claim 1,
Wherein the ion implantation step comprises:
A method for manufacturing a semiconductor donor substrate, comprising the steps of: implanting N-type or P-type impurities into said body made of any one of a pure substrate, an N-type doping substrate and a P-type doping substrate.
상기 발열 영역 형성 단계는,
이온이 주입된 이온 주입 영역을 어닐링하는 어닐링 단계;
를 더 포함하는, 반도체 도너 기판의 제조 방법.The method according to claim 1,
The heat generating region forming step may include:
An annealing step of annealing the ion implanted region implanted with ions;
Further comprising the steps of:
상기 몸체의 상면, 상기 홈부의 내면, 상기 발열 영역의 상면 중 어느 하나 이상에 보호층을 형성하는 보호층 형성 단계;
를 더 포함하는, 반도체 도너 기판의 제조 방법.The method according to claim 6,
Forming a protective layer on at least one of an upper surface of the body, an inner surface of the groove portion, and an upper surface of the heat generating region;
Further comprising the steps of:
상기 어닐링 단계 및 상기 보호층 형성 단계는 산화막 또는 고유전율 절연막이 형성되도록 산소 가스 환경에서 상기 몸체를 고온 가열하여 동시에 이루어지는, 반도체 도너 기판의 제조 방법.8. The method of claim 7,
Wherein the annealing step and the protective layer forming step are simultaneously performed by heating the body at a high temperature in an oxygen gas environment so as to form an oxide film or a high dielectric constant insulating film.
상기 홈부 형성 단계는,
상기 홈부에 수용된 상기 유기물을 상기 대상 기판 방향으로 안내할 수 있도록 안내 측벽부를 형성하는 안내 측벽부 형성 단계; 및
상기 유기물을 수용하는 수용홈부를 형성하는 수용홈부 형성 단계;
를 더 포함하는, 반도체 도너 기판의 제조 방법.The method according to claim 1,
In the groove forming step,
Forming a guide sidewall part to guide the organic material accommodated in the groove part toward the target substrate; And
Forming an accommodating groove portion for accommodating the organic material;
Further comprising the steps of:
상기 발열 영역 형성 단계 이후에,
원판 형상의 상기 몸체를 단위 사각 기판 형태로 형성할 수 있도록 상기 몸체를 절단하는 절단 단계;
를 더 포함하는, 반도체 도너 기판의 제조 방법.The method according to claim 1,
After the heat generating region forming step,
A cutting step of cutting the body so as to form the disk-shaped body in the form of a unit square board;
Further comprising the steps of:
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