KR101976855B1 - Conductive paste and substrate with conductive film - Google Patents

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Abstract

ITO 막 상에 하지층을 형성하지 않고, 또한 ITO 막 표면을 활성화시키는 처리를 실시하지 않고, 직접 도포하여 경화시키는 것만으로 양호한 밀착성을 발현하고, 도전성이 높은 도전막을 형성할 수 있는 도전성 페이스트의 제공. (A) 평균 입자경이 10 ㎚ ∼ 20 ㎛ 인 구리 입자와, (B) 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염과, (C) 포름알데히드를 1 성분으로 하는 열경화성 수지로 이루어지는 바와인더 수지를 함유하고, 상기 (A) 성분의 구리 입자 100 질량부에 대하여 상기 (C) 성분의 바인더 수지를 5 ∼ 40 질량부 함유하며, 상기 (C) 성분의 바인더 수지 100 질량부에 대하여 상기 (B) 성분의 유기 중합체의 염을 0.1 ∼ 100 질량부 함유하는 것을 특징으로 하는 도전성 페이스트.It is possible to provide a conductive paste capable of forming a conductive film having a high conductivity and exhibiting good adhesiveness only by directly coating and curing without forming a ground layer on the ITO film and without activating the surface of the ITO film, . (A) copper particles having an average particle diameter of 10 nm to 20 탆, (B) an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group, and (C) a thermosetting resin containing formaldehyde as one component , 5 to 40 parts by mass of the binder resin of the component (C) relative to 100 parts by mass of the copper particles of the component (A), and 100 parts by mass of the component (B) And 0.1 to 100 parts by mass of a salt of an organic polymer.

Description

도전성 페이스트 및 도전막 부착 기재{CONDUCTIVE PASTE AND SUBSTRATE WITH CONDUCTIVE FILM}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a conductive paste,

본 발명은, 도전성 페이스트 및 이것을 사용한 도전막 부착 기재에 관한 것이다.The present invention relates to a conductive paste and a base material with a conductive film using the conductive paste.

종래부터, 전자 부품이나 프린트 배선 기판 등의 배선 도체의 형성에, 도전성이 높은 금속 입자를 함유하는 도전성 페이스트를 사용하는 방법이 알려져 있다. 이 중, 프린트 배선 기판의 제조는, 절연 기재 상에 도전성 페이스트를 원하는 패턴 형상으로 도포하여 경화시켜, 배선 패턴을 이루는 도전막을 형성하여 이루어지고 있다.BACKGROUND ART Conventionally, a method of using a conductive paste containing metal particles with high conductivity for forming wiring conductors such as electronic parts and printed wiring boards has been known. Among them, the production of the printed wiring board is carried out by coating a conductive paste on an insulating substrate in a desired pattern and curing the conductive paste to form a conductive film constituting a wiring pattern.

도전성 페이스트로는, 금속 입자로서 은 입자를 함유하는 은 페이스트가 종래 주류였지만 (특허문헌 1), 마이그레이션의 점에서 문제가 있었다. 이 점에 있어서, 금속 입자로서 구리 입자를 함유하는 구리 페이스트는, 마이그레이션 현상이 잘 발생하지 않기 때문에, 전기 회로의 접속 신뢰성을 높일 수 있다.As a conductive paste, a silver paste containing silver particles as metal particles has been the mainstream in the past (Patent Document 1), but there is a problem in terms of migration. In this respect, the copper paste containing copper particles as metal particles does not easily migrate, so that the connection reliability of the electric circuit can be enhanced.

프린트 배선 기판 등의 배선 도체에는 여러 가지 특성이 요구되지만, 배선 패턴의 절연 기재에 대한 밀착성은, 전기 회로의 접속 신뢰성에 중요한 영향을 미치기 때문에, 가장 중요한 특성의 하나이다.Various characteristics are required for a wiring conductor such as a printed wiring board. However, the adhesion of the wiring pattern to the insulating substrate is one of the most important characteristics because it affects the connection reliability of the electric circuit.

프린트 배선 기판에 사용되는 기재로는, 종래부터 유리, 폴리에틸렌테레프탈레이트 (PET), 폴리이미드 (PI) 등이 사용되고 있지만, 최근, 터치 패널 등의 용도를 중심으로, 유리나 PET 등의 절연 기재 상에, 주석 도프 산화인듐 (ITO) 막 등의 투명 도전막이 형성된 투명 도전막 부착 기재가 사용되고 있다. 프린트 배선 기판으로서 이와 같은 투명 도전막 부착 기재를 사용하는 경우, 투명 도전막 상에 도전성 페이스트를 도포하여 도전막을 형성하게 된다 (예를 들어, 특허문헌 2 참조).(PET), polyimide (PI), and the like have been conventionally used as a substrate used for a printed wiring board. In recent years, in view of the use of touch panels and the like, , A tin-doped indium oxide (ITO) film, and the like are used. When such a substrate with a transparent conductive film is used as a printed wiring board, a conductive paste is applied on the transparent conductive film to form a conductive film (see, for example, Patent Document 2).

상기 목적에서 사용되는 투명 도전막 부착 기재에 있어서의 투명 도전막으로는, ITO 막이 널리 사용되고 있다.An ITO film is widely used as the transparent conductive film in the substrate with a transparent conductive film used for the above purpose.

이와 같은 경우에 있어서, ITO 막에 대한 도전막의 밀착성을 향상시키는 방법으로는, 천이 금속 화합물을 유기 용매 중에 용해시킨 용액을 ITO 막의 표면에 도포하고, 가열 처리를 실시하여 하지 (下地) 층을 형성하는 방법이 개시되어 있다 (예를 들어, 특허문헌 3 참조).In such a case, as a method for improving the adhesion of the conductive film to the ITO film, a method in which a solution obtained by dissolving the transition metal compound in an organic solvent is applied to the surface of the ITO film and heat treatment is performed to form a base layer (See, for example, Patent Document 3).

그러나, 이 방법에서는, 하지층의 형성을 필요로 하고, 하지층 형성 후에 도전성 페이스트를 도포하는 공정을 실시하기 때문에, 공정수가 증가하여 작업성이 나쁘다는 문제가 있었다.However, this method requires the formation of a ground layer, and since the step of applying the conductive paste after forming the ground layer is performed, there is a problem that the number of steps increases and workability is poor.

또, ITO 막 등의 투명 도전막 상에 도포되는 도전성 페이스트의 밀착성을 향상시키기 위하여, 산성 혹은 알칼리성 용액으로 처리하여, 투명 도전막 표면을 활성으로 하는 방법, 자외선, 전자선을 조사하여 투명 도전막 표면을 활성으로 하는 방법, 코로나 처리나 플라스마 처리를 실시하여 투명 도전막 표면을 활성으로 하는 방법이 알려져 있다 (예를 들어, 특허문헌 4 참조).In order to improve the adhesion of a conductive paste applied on a transparent conductive film such as an ITO film, a method of activating the surface of the transparent conductive film by treating with an acidic or alkaline solution, a method of irradiating ultraviolet rays or electron rays, A method of making the surface of the transparent conductive film active by performing a corona treatment or a plasma treatment is known (see, for example, Patent Document 4).

그러나, 이 방법에서는, 상기의 처리를 실시한 후에, 도전성 페이스트를 도포하는 공정을 실시하기 때문에, 공정수가 증가하여 작업성이 나쁘다는 문제가 있었다.However, in this method, since the step of applying the conductive paste is performed after the above-described processing, there is a problem that the number of steps increases and workability is poor.

일본 공개특허공보 평5-212579호Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-212579 일본 공개특허공보 2009-116452호JP-A-2009-116452 일본 공개특허공보 2005-293937호Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-293937 재공표 특허공보 99/59814호 (WO99/59814)Reissue Patent Publication No. 99/59814 (WO99 / 59814)

본 발명은, 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여, ITO 막 상에 하지층을 형성하지 않고, 또한 ITO 막 표면을 활성화시키는 처리를 실시하지 않고, 직접 도포하여 경화시키는 것만으로 양호한 밀착성을 발현시켜, 도전성이 높은 도전막을 형성할 수 있는 도전성 페이스트와, 그와 같은 도전성 페이스트를 사용하여 형성된 도전막이 부착된 기재의 제공을 목적으로 한다.In order to solve the problems of the prior art described above, it is an object of the present invention to provide an ITO film which does not have a base layer on the ITO film and which does not activate the surface of the ITO film, To provide a conductive paste capable of forming a conductive film having high conductivity and a substrate having a conductive film formed using such a conductive paste.

상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은, (A) 평균 입자경이 10 ㎚ ∼ 20 ㎛ 인 구리 입자와, (B) 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염과, (C) 포름알데히드를 1 성분으로 하는 열경화성 수지로 이루어지는 바인더 수지를 함유하고, 상기 (A) 성분의 구리 입자 100 질량부에 대하여 상기 (C) 성분의 바인더 수지를 5 ∼ 40 질량부 함유하며, 상기 (C) 성분의 바인더 수지 100 질량부에 대하여 상기 (B) 성분의 유기 중합체의 아민염을 0.1 ∼ 100 질량부 함유하는 것을 특징으로 하는 도전성 페이스트를 제공한다.(B) an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group; (C) an aqueous solution of formaldehyde as a single component; (C) is contained in an amount of 5 to 40 parts by mass based on 100 parts by mass of the copper particles of the component (A), and the binder resin 100 of the component (C) And 0.1 to 100 parts by mass of an amine salt of the organic polymer of the component (B) relative to the mass part.

본 발명의 도전성 페이스트에 있어서, 상기 (B) 성분의 유기 중합체의 염은, 산가가 10 ∼ 200 ㎎KOH/g 이고, 또한 아민가가 10 ∼ 200 ㎎KOH/g 인 것이 바람직하다.In the conductive paste of the present invention, the organic polymer salt of the component (B) preferably has an acid value of 10 to 200 mgKOH / g and an amine value of 10 to 200 mgKOH / g.

본 발명의 도전성 페이스트에 있어서, 상기 (B) 성분의 유기 중합체의 아민염은, 인산기를 갖는 유기 중합체의 암모늄염, 알킬아민염, 또는 알킬올아민염인 것이 바람직하다.In the conductive paste of the present invention, the amine salt of the organic polymer as the component (B) is preferably an ammonium salt, an alkylamine salt, or an alkylolamine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group.

본 발명의 도전성 페이스트에 있어서, 상기 (C) 성분의 바인더 수지는, 페놀 수지, 멜라민 수지, 자일렌 수지, 및 우레아 수지로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종 이상인 것이 바람직하다.In the conductive paste of the present invention, the binder resin of the component (C) is preferably at least one selected from the group consisting of a phenol resin, a melamine resin, a xylene resin, and a urea resin.

본 발명의 도전성 페이스트는, 추가로 (D) 분자 중에 적어도 1 개의 1 급 아미노기를 갖는 고분자 화합물의 카르복실산염을 함유하는 것이 바람직하다.The conductive paste of the present invention preferably further contains a carboxylate of a polymer compound having at least one primary amino group in the molecule (D).

본 발명의 도전성 페이스트에 있어서, 상기 (D) 성분은, 폴리에틸렌이민의 포름산염, 또는 폴리알릴아민의 포름산염인 것이 바람직하다.In the conductive paste of the present invention, the component (D) is preferably a formate of polyethyleneimine or a salt of polyallylamine.

또, 본 발명의 도전성 페이스트에 있어서, 상기 (A) 성분의 구리 입자 100 질량부에 대하여 상기 (D) 성분의 고분자 화합물의 카르복실산염을 0.05 ∼ 5 질량부 함유하는 것이 바람직하다.In the conductive paste of the present invention, it is preferable that the conductive paste contains 0.05 to 5 parts by mass of the carboxylate of the polymer compound of the component (D) based on 100 parts by mass of the copper particles of the component (A).

또한, 본 발명의 도전성 페이스트에 있어서, 상기 (A) 성분의 구리 입자 개수 기준의 입자경 분포에 있어서, 소립자 직경측으로부터의 적산값이 10 % 일 때의 입자경을 D10, 50 % 일 때의 입자경을 D50, 90 % 일 때의 입자경을 D90 으로 할 때, D90/D50 의 값이 4.0 이하이고, 또한 D90/D10 의 값이 3.0 이상인 것이 바람직하다.In the conductive paste of the present invention, it is preferable that the particle diameter when the integrated value from the side of the small particle diameter is 10% is D10, and the particle diameter when the particle diameter is 50% When the particle diameter at D50 and 90% is D90, it is preferable that the value of D90 / D50 is 4.0 or less and the value of D90 / D10 is 3.0 or more.

또, 본 발명의 도전성 페이스트에 있어서, 상기 (A) 성분의 구리 입자는, 표면 산소량이 0.5 이하인 구리 입자인 것이 바람직하다.In the conductive paste of the present invention, the copper particles of component (A) are preferably copper particles having a surface oxygen content of 0.5 or less.

또한, 본 발명은, 주석 도프 산화인듐 (ITO) 막을 갖는 기재의 상기 ITO 막 상에, 본 발명의 도전성 페이스트를 도포하여 경화시켜 이루어지는 도전막을 갖는 것을 특징으로 하는 도전막 부착 기재를 제공한다.Further, the present invention provides a conductive film-attached substrate characterized by having a conductive film formed by applying the conductive paste of the present invention and curing on the ITO film of a substrate having a tin-doped indium oxide (ITO) film.

본 발명에 의하면, ITO 막을 갖는 기재의 ITO 막 상에 하지층을 형성하지 않고, 또한 ITO 막 표면을 활성화시키는 처리를 실시하지 않고, ITO 막과의 밀착성이 양호하고 도전성이 높은 도전막을 형성할 수 있는 도전성 페이스트를 얻을 수 있다.According to the present invention, it is possible to form a conductive film having good adhesion with the ITO film and having high conductivity without forming a ground layer on the ITO film of the substrate having the ITO film and without activating the surface of the ITO film The conductive paste having the above properties can be obtained.

또한, 본 발명에 의하면, 이와 같은 도전성 페이스트를 사용함으로써, ITO 막과의 밀착성이 양호하고 도전성이 높은 도전막을 갖는 도전막 부착 기재를 얻을 수 있다.Further, according to the present invention, by using such a conductive paste, it is possible to obtain a substrate with a conductive film having a conductive film with good adhesion to the ITO film and high conductivity.

이하, 본 발명의 실시형태에 대하여 설명한다. 또한, 본 발명은 이하의 설명에 한정하여 해석되는 것은 아니다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described. The present invention is not limited to the following description.

<도전성 페이스트>&Lt; Conductive paste &

본 발명의 도전성 페이스트는, (A) 평균 입자경이 10 ㎚ ∼ 20 ㎛ 인 구리 입자와, (B) 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염과, (C) 포름알데히드를 1 성분으로 하는 열경화성 수지로 이루어지는 바인더 수지를 함유하고, 상기 (A) 성분의 구리 입자 100 질량부에 대하여 상기 (C) 성분의 바인더 수지를 5 ∼ 40 질량부 함유하며, 상기 (C) 성분의 바인더 수지 100 질량부에 대하여 상기 (B) 성분의 유기 중합체의 염을 0.1 ∼ 100 질량부 함유하는 것을 특징으로 한다. 이하, 도전성 페이스트를 구성하는 각 성분에 대하여 상세히 설명한다.The conductive paste of the present invention comprises (A) copper particles having an average particle diameter of 10 nm to 20 μm, (B) an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group, and (C) a thermosetting resin containing (C) is contained in an amount of 5 to 40 parts by mass based on 100 parts by mass of the copper particles of the component (A), and 100 parts by mass of the binder resin of the component (C) And 0.1 to 100 parts by mass of a salt of an organic polymer of the component (B). Hereinafter, each component constituting the conductive paste will be described in detail.

(A) 구리 입자(A) Copper particles

(A) 성분의 구리 입자는, 도전성 페이스트의 도전 성분이다.The copper particles of the component (A) are conductive components of the conductive paste.

(A) 성분의 구리 입자의 평균 입자경은 10 ㎚ ∼ 20 ㎛ 의 범위이다. 구리 입자의 형상에 따라, 이 범위 내에서 적절히 조정되면 된다. 구리 입자는, 후술하는 바와 같이 구리 입자, 수소화구리 미립자, 구리 복합 입자, 구리 미립자의 1 종 이상을 사용할 수 있다. 구리 입자의 평균 입자경이 하한값 이상이면, 그 구리 입자를 포함하는 도전 페이스트의 유동 특성이 양호해진다. 또, 구리 입자의 평균 입자경이 상한값 이하이면, 미세 배선을 제작하기 쉬워진다.The average particle diameter of the copper particles of the component (A) is in the range of 10 nm to 20 탆. Depending on the shape of the copper particles, it may be appropriately adjusted within this range. As described later, one or more of copper particles, copper hydride copper particles, copper composite particles, and copper fine particles may be used as the copper particles. If the average particle diameter of the copper particles is not less than the lower limit value, the flow characteristics of the conductive paste including the copper particles become good. When the average particle diameter of the copper particles is not more than the upper limit value, the fine wiring can be easily produced.

(A) 성분의 구리 입자로는, 예를 들어, 이하에 나타내는 구리 입자 (A1) ∼ (A5) 의 사용이 바람직하다.As the copper particles of component (A), for example, copper particles (A1) to (A5) shown below are preferably used.

(A1) 평균 1 차 입자경이 0.3 ∼ 20 ㎛ 인 구리 입자.(A1) Copper particles having an average primary particle size of 0.3 to 20 탆.

(A2) 평균 1 차 입자경이 0.3 ∼ 20 ㎛ 인 구리 입자의 표면에, 평균 응집 입자경이 20 ∼ 400 ㎚ 인 수소화구리 미립자가 부착된 구리 복합 입자.(A2) Copper composite particles having fine copper hydride microparticles having an average aggregate particle diameter of 20 to 400 nm adhered to the surface of copper particles having an average primary particle diameter of 0.3 to 20 탆.

(A3) 평균 응집 입자경이 10 ㎚ ∼ 1 ㎛ 인 수소화구리 미립자.(A3) Copper hydride microparticles having an average aggregate particle diameter of 10 nm to 1 탆.

(A4) 평균 1 차 입자경이 1 ∼ 20 ㎛ 인 구리 입자의 표면에, 평균 응집 입자경이 20 ∼ 400 ㎚ 인 구리 미립자가 부착된 구리 복합 입자.(A4) Copper composite particles having copper fine particles having an average aggregate particle diameter of 20 to 400 nm adhered to the surface of copper particles having an average primary particle diameter of 1 to 20 占 퐉.

(A5) 평균 응집 입자경이 10 ㎚ ∼ 1 ㎛ 인 구리 미립자.(A5) Copper fine particles having an average aggregate particle diameter of 10 nm to 1 占 퐉.

수소화구리 미립자는, 가열함으로써 수소화구리가 금속 구리로 변환되어, 구리 미립자가 된다. 즉, 수소화구리 미립자가 부착된 구리 복합 입자 (A2) 는, 가열됨으로써 구리 미립자가 부착된 구리 복합 입자 (A4) 가 된다. 또, 수소화구리 미립자 (A3) 은, 가열됨으로써 구리 미립자 (A5) 가 된다.The copper hydrogenated microparticles are converted into metallic copper by heating to become copper microparticles. That is, the copper composite particle A2 to which copper hydride fine particles are adhered becomes a copper composite particle A4 to which copper fine particles are adhered when heated. Further, the copper hydride copper fine particles (A3) are heated to become copper fine particles (A5).

본 명세서 중에 있어서의 평균 입자경은, 상기한 구리 입자의 형상에 따라 이하와 같이 구할 수 있다. 1 차 입자에 대하여 평균 1 차 입자경을 구할 때에는, 주사형 전자 현미경 (이하, 「SEM」 이라고 기재한다) 이미지 중에서 무작위로 선택한 100 개의 입자의 Feret 직경을 측정하여, 그것들을 평균함으로써 산출된다. 2 차 입자에 대하여 평균 응집 입자경을 구할 때에는, 투과형 전자 현미경 (이하, 「TEM」이라고 기재한다) 이미지 중에서 무작위로 선택한 100 개의 입자의 Feret 직경을 측정하여, 그것들을 평균함으로써 산출된다.The average particle diameter in the present specification can be obtained as follows according to the shape of the copper particles. The average primary particle size of the primary particles is calculated by measuring the Feret diameters of 100 particles randomly selected from images of a scanning electron microscope (hereinafter referred to as &quot; SEM &quot;) and averaging them. The average agglomerated particle diameter of the secondary particles is calculated by measuring the Feret diameter of 100 particles randomly selected from an image of a transmission electron microscope (hereinafter referred to as &quot; TEM &quot;) and averaging them.

또, 상기한 구리 입자 (A2) 와 같이, 구리 입자와, 그 구리 입자에 부착된 수소화구리 미립자를 함유하는 입자의 경우에는, 당해 입자 전체를 SEM 에 의해 관찰하여, 수소화구리 미립자도 포함시킨 후의 Feret 직경을 측정한다.In the case of the copper particles and the particles containing the copper hydride fine particles adhering to the copper particles as in the above copper particles (A2), the entirety of the particles is observed by SEM, and after the addition of the copper hydride fine particles Feret diameter is measured.

또, (A) 성분의 구리 입자 개수 기준의 입자경 분포에 있어서, 소립자 직경측으로부터의 적산값이 10 % 일 때의 입자경을 D10, 50 % 일 때의 입자경을 D50, 90 % 일 때의 입자경을 D90 으로 할 때, D90/D50 의 값이 4.0 이하이고, 또한 D90/D10 의 값이 3.0 이상인 것이 바람직하다. D90/D50 의 값이 4.0 이하이면, 도전성 페이스트를 사용하여 미세 배선을 제작하기 쉬워진다. D90/D10 의 값이 3.0 이상이면, 도전막 페이스트를 사용하여 형성되는 도전막 중의 구리 입자 밀도가 향상되어 도전성이 양호해진다.When the particle diameter of the component (A) based on the number of copper particles is D10, the particle diameter when the integrated value from the particle diameter side is 10% is D10, and the particle diameter when D50 is 90% D90, it is preferable that the value of D90 / D50 is 4.0 or less and the value of D90 / D10 is 3.0 or more. When the value of D90 / D50 is 4.0 or less, it is easy to produce a fine wiring using a conductive paste. When the value of D90 / D10 is 3.0 or more, the density of copper particles in the conductive film formed by using the conductive film paste is improved and the conductivity is improved.

(A) 성분의 구리 입자 개수 기준의 입자경 분포는, 상기의 순서에 의해 얻어진 Feret 직경의 측정 결과로부터 구한다. 구체적으로는, 소립자 직경측으로부터의 적산값을 구하여, 소립자 직경측으로부터의 적산값이 10 % 일 때의 입자경을 D10 으로 하고, 소립자 직경측으로부터의 적산값이 50 % 일 때의 입자경을 D50, 소립자 직경측으로부터의 적산값이 90 % 일 때의 입자경을 D90 으로 한다.The particle diameter distribution based on the number of copper particles of the component (A) is obtained from the measurement result of the Feret diameter obtained by the above procedure. Specifically, the integrated value from the small particle diameter side was determined, and the particle diameter when the integrated value from the small particle diameter side was 10% was D10, the particle size when the integrated value from the small particle diameter side was 50% was D50, And the particle diameter when the integrated value from the particle diameter side is 90% is D90.

또, (A) 성분의 구리 입자는, 표면 산소량이 0.5 이하인 것이 바람직하다. 표면 산소량이 0.5 이하인 구리 입자를 사용하면, 구리 입자 간의 접촉 저항이 보다 작아져, 얻어지는 도전막의 도전성이 향상된다.The copper particles of component (A) preferably have a surface oxygen content of 0.5 or less. When copper particles having a surface oxygen amount of 0.5 or less are used, the contact resistance between the copper particles becomes smaller, and the conductivity of the resulting conductive film is improved.

본 발명에 있어서의 「표면 산소량」은, 구리 입자의 표면 구리 농도 (단위 : 원자%) 에 대한 표면 산소 농도 (단위 : 원자%) 의 비율로 나타낸다. 또한, 구리 입자의 표면 구리 농도와 표면 산소 농도는, X 선 광전자 분광 분석에 의해 구해진다. 측정은, 입자 표면으로부터 중심을 향하여 약 3 ㎚ 깊이까지의 범위에 대하여 이루어진다. 이 범위에 대하여 측정이 이루어지고 있으면, 입자 표면의 상태를 충분히 파악할 수 있다.The "surface oxygen amount" in the present invention is represented by the ratio of the surface oxygen concentration (unit: atom%) to the surface copper concentration (unit: atom%) of the copper particles. Further, the surface copper concentration and the surface oxygen concentration of the copper particles are obtained by X-ray photoelectron spectroscopy. The measurement is made in the range from the particle surface to the center to a depth of about 3 nm. If the measurement is performed in this range, the state of the particle surface can be grasped sufficiently.

표면 산소량이 0.5 이하인 구리 입자로는, 구리 입자 표면을 환원 처리하여 이루어지는 「표면 개질 구리 입자」, 또는 구리 입자 표면의 적어도 일부에 구리 미립자가 부착된 「복합 금속 구리 입자」를 바람직하게 사용할 수 있다.As the copper particles having a surface oxygen amount of 0.5 or less, "surface-modified copper particles" obtained by reducing the surface of copper particles or "composite metal copper particles" having copper particles attached to at least part of the surface of copper particles can be preferably used .

본 발명에 있어서의 「표면 개질 구리 입자」는, 구리 입자 표면을, pH 값이 3 이하인 분산매 중에서 환원 처리하여 얻어지는 것이며, 예를 들어, (1) 구리 입자를 분산매에 분산시켜 「구리 분산액」으로 한 후, (2) 구리 분산액의 pH 값을 소정값 이하로 조정하고, (3) 구리 분산액에 환원제를 첨가하는, 습식 환원법에 의해 제조할 수 있다.The "surface-modified copper particles" in the present invention are obtained by reducing the surfaces of copper particles in a dispersion medium having a pH value of 3 or less. For example, (1) Copper particles are dispersed in a dispersion medium to form a "copper dispersion" (2) adjusting the pH value of the copper dispersion to a predetermined value or less, and (3) adding a reducing agent to the copper dispersion.

본 발명에 있어서의 「복합 금속 구리 입자」는, 금속 구리 입자 표면의 적어도 일부에, 금속 구리 미립자를 부착시킨 것으로서, 금속 구리 입자 표면에 수소화구리 미립자가 부착되어 이루어지는 「구리 복합 입자」를 가열하여, 수소화구리 미립자를 금속 구리 미립자로 변환시켜 얻어지는 것이다. 또한, 금속 구리 입자 표면의 미립자의 부착 유무는, SEM 이미지를 관찰하여 확인할 수 있다. 또, 금속 구리 입자의 표면에 부착된 수소화구리 미립자의 동정은, X 선 회절 장치 (리가쿠사 제조, TTR-Ⅲ) 를 사용하여 실시할 수 있다.The &quot; composite metal copper particles &quot; in the present invention are obtained by heating "copper composite particles" in which metal copper fine particles are adhered to at least a part of the surfaces of metal copper particles and copper hydride fine particles are adhered to the surfaces of the metal copper particles , And copper hydrogenated microparticles into metal copper microparticles. The presence or absence of the fine particles on the surface of the metal copper particles can be confirmed by observing the SEM image. The copper hydride fine particles attached to the surface of the metal copper particles can be identified by using an X-ray diffraction apparatus (TTR-III, manufactured by Rigaku Corporation).

구리 복합 입자에 있어서의 금속 구리 입자로는, 도전성 페이스트에 일반적으로 사용되는 공지된 구리 입자를 사용할 수 있으며, 그 입자 형상은, 구상 (球狀) 이어도 되고, 판상이어도 된다. 그리고, 이 금속 구리 입자의 평균 입자경 (평균 1 차 입자경) 은 0.3 ∼ 20 ㎛ 인 것이 바람직하고, 1 ∼ 10 ㎛ 인 것이 보다 바람직하다. 금속 구리 입자의 평균 입자경이 0.3 ㎛ 미만이면, 도전성 페이스트로 했을 때에, 충분한 유동 특성을 얻을 수 없다. 한편, 금속 구리 입자의 평균 입자경이 20 ㎛ 를 초과하면, 얻어지는 도전성 페이스트에 의한, 미세 배선의 제작이 곤란해질 우려가 있다. 또한, 금속 구리 입자의 평균 입자경 (평균 1 차 입자경) 은, 상기한 바와 같이, TEM 이미지 또는 SEM 이미지 중에서 무작위로 추출한 100 개의 금속 구리 입자의 Feret 직경을 측정하여, 이 측정치를 평균하여 산출한 것이다.As the copper copper particles in the copper composite particles, known copper particles commonly used in conductive pastes may be used, and the particle shape thereof may be spherical or plate-like. The average particle diameter (average primary particle diameter) of the metallic copper particles is preferably 0.3 to 20 탆, more preferably 1 to 10 탆. When the average particle diameter of the metal copper particles is less than 0.3 탆, sufficient flow characteristics can not be obtained when the conductive paste is used. On the other hand, when the average particle diameter of the metal copper particles exceeds 20 탆, there is a fear that the production of the fine wiring by the obtained conductive paste becomes difficult. The average particle diameter (average primary particle diameter) of the metallic copper particles was calculated by measuring the Feret diameter of 100 metallic copper particles randomly extracted from the TEM image or the SEM image as described above and averaging these measured values .

구리 복합 입자에 있어서의 수소화구리 미립자는, 주로 1 ∼ 20 ㎚ 정도의 1 차 입자가 응집된 2 차 입자로서 존재하고 있으며, 그 입자 형상은 구상이어도 되고, 판상이어도 된다. 수소화구리 미립자의 평균 입자경 (평균 응집 입자경) 은 20 ∼ 400 ㎚ 가 바람직하고, 30 ∼ 300 ㎚ 가 보다 바람직하며, 50 ∼ 200 ㎚ 가 더욱 바람직하다. 특히 바람직하게는 80 ∼ 150 ㎚ 이다. 수소화구리 미립자의 평균 입자경 (평균 응집 입자경) 이 20 ㎚ 미만이면, 수소화구리 미립자의 융착·성장이 발생하기 쉬워져, 도전막으로 했을 때에, 체적 수축에 수반하는 크랙 등의 문제가 발생할 우려가 있다. 한편, 수소화구리 미립자의 평균 입자경 (평균 응집 입자경) 이 400 ㎚ 를 초과하면, 입자 표면적이 충분하지 않고, 표면 융해 현상이 잘 발생하지 않게 되어, 조밀한 도전막을 형성하는 것이 곤란해진다. 수소화구리 미립자의 평균 입자경 (평균 응집 입자경) 은, 상기한 바와 같이, TEM 이미지 또는 SEM 이미지 중에서 무작위로 추출한 100 개의 수소화구리 미립자의 입자경을 측정하고, 그 측정치를 평균하여 산출한 것이다.Copper hydride copper particles in the copper composite particles exist mainly as secondary particles in which primary particles of about 1 to 20 nm are aggregated, and the particle shape thereof may be spherical or plate. The average particle size (average agglomerated particle diameter) of the copper hydride fine particles is preferably 20 to 400 nm, more preferably 30 to 300 nm, still more preferably 50 to 200 nm. And particularly preferably 80 to 150 nm. If the mean particle size (average aggregate particle diameter) of the copper hydride fine particles is less than 20 nm, the adhesion and growth of the copper hydride fine particles are liable to occur, and there is a possibility that problems such as cracks accompanying volume contraction may occur . On the other hand, when the average particle size (average aggregate particle diameter) of the copper hydride fine particles exceeds 400 nm, the surface area of the particles is insufficient and the surface fusion phenomenon does not occur easily, making it difficult to form a dense conductive film. The average particle size (average aggregate particle size) of the hydrogenated copper microparticles was calculated by measuring the particle diameters of 100 hydrogenated copper microparticles randomly extracted from the TEM image or the SEM image as described above and averaging the measured values.

금속 구리 입자 표면에 부착되는 수소화구리 미립자의 양은, 금속 구리 입자량의 5 ∼ 50 질량% 인 것이 바람직하고, 10 ∼ 35 질량% 인 것이 보다 바람직하다. 수소화구리 미립자의 양이 금속 구리 입자량의 5 질량% 미만이면, 금속 구리 입자 간에 도전 패스가 충분히 형성되지 않아, 도전막의 체적 저항률을 저감시키는 효과를 충분히 얻지 못할 우려가 있다. 한편, 수소화구리 미립자의 양이 금속 구리 입자량의 50 질량% 를 초과하면, 도전성 페이스트로서 충분한 유동성을 확보하는 것이 곤란해진다. 또한, 금속 구리 입자의 표면에 부착된 수소화구리 미립자의 양은, 예를 들어, 환원제를 첨가하기 전의 수용성 구리 화합물 용액 중의 구리 이온 농도와, 수소화구리 미립자 생성 종료 후의 반응액 중에 잔존하는 구리 이온 농도의 차로부터 산출할 수 있다.The amount of the hydrogenated copper fine particles attached to the surface of the metal copper particles is preferably 5 to 50 mass%, more preferably 10 to 35 mass%, of the amount of the metal copper particles. If the amount of the copper hydride fine particles is less than 5% by mass of the amount of the metallic copper particles, a conductive path is not sufficiently formed between the metallic copper particles, and the effect of reducing the volume resistivity of the conductive film may not be sufficiently obtained. On the other hand, when the amount of the copper hydride fine particles exceeds 50 mass% of the amount of the copper copper particles, it becomes difficult to secure sufficient fluidity as the conductive paste. The amount of the copper hydride fine particles adhering to the surface of the metal copper particles can be adjusted by changing the copper ion concentration in the solution of the water-soluble copper compound before the addition of the reducing agent and the concentration of the copper ion remaining in the reaction solution after completion of the generation of the copper- Can be calculated from the car.

(B) 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염(B) an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group

도전성 입자로서, 은 입자를 사용한 도전성 페이스트에서는, 저온에서 그리고 단시간에 의한 경화가 가능하다는 이유에서, 폴리에스테르 수지, 페녹시 수지 등의 열가소성 수지가 바인더 수지로서 사용되고 있다.In the conductive paste using the silver particles as the conductive particles, a thermoplastic resin such as a polyester resin or a phenoxy resin is used as the binder resin because it can be cured at a low temperature and for a short time.

이에 반하여, 본 발명의 도전성 페이스트의 경우, (A) 성분의 구리 입자가, 은 입자에 비해 산화되기 쉽기 때문에, 도전막의 신뢰성을 향상시킨다는 관점에서, 후술하는 바와 같이, (C) 성분의 바인더 수지로서 열경화성 수지가 사용된다.On the other hand, in the case of the conductive paste of the present invention, since the copper particles of the component (A) are easily oxidized as compared with the silver particles, the binder resin (C) A thermosetting resin is used.

그러나, 바인더 수지로서 열경화성 수지를 사용한 경우, ITO 막 상에 도전성 페이스트를 도포하여 도전막을 형성했을 때에, ITO 에 대한 도전막의 밀착성이 열등한 점이 문제가 된다. 그 이유는, 수지의 극성이 크고, 표면 에너지가 커지기 때문에 ITO 막 표면에 대한 젖음성이 나빠져, 충분한 밀착 면적을 확보하기 어렵기 때문이다.However, when a thermosetting resin is used as the binder resin, when the conductive paste is applied on the ITO film to form the conductive film, the adhesion of the conductive film to ITO is inferior. This is because the polarity of the resin is large and the surface energy is large, so that the wettability to the ITO film surface is deteriorated, and it is difficult to secure a sufficient adhesion area.

이 때문에, 도전성 입자로서 구리 입자를 사용한 도전성 페이스트를 사용하여 ITO 막 상에 도전막을 형성하는 경우, ITO 막 상에 하지층을 형성하는 방법 (특허문헌 3 참조), ITO 막 표면을 활성화시키는 처리를 실시하는 방법 (특허문헌 4 참조) 등의 수단을 강구하여, ITO 막에 대한 도전막의 밀착성을 향상시킬 필요가 있었다.Therefore, in the case of forming a conductive film on an ITO film by using a conductive paste using copper particles as conductive particles, a method of forming a ground layer on the ITO film (see Patent Document 3) and a process of activating the surface of the ITO film It is necessary to improve the adhesion of the conductive film to the ITO film.

이에 반하여, 본 발명의 도전성 페이스트에서는, (B) 성분으로서 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염을 배합함으로써, 그 도전성 페이스트를 사용하여 형성되는 도전막이 ITO 막에 대하여 양호한 밀착성을 발현한다. 이 이유는 이하의 2 가지이다.On the contrary, in the conductive paste of the present invention, the conductive film formed using the conductive paste exhibits good adhesion to the ITO film by blending the amine salt of the organic polymer having the phosphoric acid group as the component (B). There are two reasons for this.

1. (B) 성분 중, 인산기, 및 아민염을 구성하는 부분은, ITO 막에 대하여 상호 작용을 발현한다.1. Of the components (B), the phosphate group and the portion constituting the amine salt exhibit an interaction with the ITO film.

2. (B) 성분 중, 유기 중합체 부분은, (C) 성분의 바인더 수지에 대하여 상용 (相溶) 성을 발현한다.2. Of the components (B), the organic polymer portion exhibits compatibility with the binder resin of the component (C).

이 결과, 도전성 페이스트 중에서, (B) 성분의 유기 중합체 부분이 (C) 성분의 바인더 수지와 상용됨과 함께, (B) 성분의 인산기, 및 아민염을 구성하는 부분이 ITO 막과 상호 작용을 발현하기 때문에, 그 도전성 페이스트를 사용하여 형성되는 도전막이 ITO 막에 대하여 양호한 밀착성을 발현한다.As a result, in the conductive paste, the organic polymer portion of the component (B) was compatible with the binder resin of the component (C), and the phosphate group and the portion constituting the amine salt of the component (B) exhibited interaction with the ITO film Therefore, the conductive film formed using the conductive paste exhibits good adhesion to the ITO film.

또, 계면 활성 기능을 갖는 (B) 성분의 배합에 의해, ITO 막 표면과 도전성 페이스트 사이의 계면 에너지를 감소시켜, 도전성 페이스트의 ITO 막 표면에 대한 젖음성을 향상시키는 기능도 가짐으로써 그 도전성 페이스트를 사용하여 형성되는 도전막이 ITO 막에 대하여 양호한 밀착성을 발현한다.By mixing the component (B) having a surface-active function, the interfacial energy between the surface of the ITO film and the conductive paste is reduced to improve the wettability of the conductive paste on the ITO film surface, The conductive film formed using the ITO film exhibits good adhesion to the ITO film.

(B) 성분을 구성하는 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염은, 적어도 1 개의 인산기와, 아민염을 구성하는 부분을 갖는다. 상기 서술한 바와 같이, (B) 성분 중의 인산기 및 아민염을 구성하는 부분은 ITO 막에 대하여 상호 작용을 발휘하기 때문에, 유기 중합체의 염은 인산기를 복수 갖고 있는 것이 바람직하고, 산가 및 아민가가 하기를 만족하는 것이 바람직하다.The amine salt of the organic polymer having a phosphoric acid group constituting the component (B) has at least one phosphoric acid group and a moiety constituting the amine salt. As described above, since the portions constituting the phosphoric acid group and the amine salt in component (B) exert their interaction with the ITO film, the organic polymer salt preferably has a plurality of phosphoric acid groups, Is satisfied.

구체적으로는, 산가 (JIS K 7237 의 규정에 준함) 가 10 ∼ 200 ㎎KOH/g 인 것이 바람직하고, 30 ∼ 100 ㎎KOH/g 인 것이 보다 바람직하다. 산가가 10 ㎎KOH/g 미만이면, ITO 막과의 밀착성이 저하될 우려가 있다. 산가가 200 ㎎KOH/g 초과에서는, 유기 중합체 부분이 탄소수가 9 이하인 저분자량이 되어 (C) 성분의 바인더 수지와의 상용성이 저하될 우려가 있다.Specifically, the acid value (in accordance with JIS K 7237) is preferably from 10 to 200 mgKOH / g, and more preferably from 30 to 100 mgKOH / g. If the acid value is less than 10 mgKOH / g, the adhesion with the ITO film may be deteriorated. When the acid value is more than 200 mgKOH / g, the organic polymer moiety has a low molecular weight having a carbon number of 9 or less, and there is a fear that the compatibility with the binder resin of the component (C) is lowered.

아민가 (JIS K 7237 의 규정에 준거) 는 10 ∼ 200 ㎎KOH/g 인 것이 바람직하고, 30 ∼ 100 ㎎KOH/g 인 것이 보다 바람직하다. 아민가가 10 ㎎KOH/g 미만이면, ITO 막과의 밀착성이 저하될 우려가 있다. 아민가가 200 ㎎KOH/g 초과에서는, 유기 중합체 부분이 탄소수가 9 이하인 저분자량이 되어 (C) 성분의 바인더 수지와의 상용성이 저하될 우려가 있다.The amine value (in accordance with the provisions of JIS K 7237) is preferably 10 to 200 mgKOH / g, more preferably 30 to 100 mgKOH / g. If the amine value is less than 10 mgKOH / g, adhesion with the ITO film may be deteriorated. When the amine value is more than 200 mgKOH / g, the organic polymer moiety has a low molecular weight having a carbon number of 9 or less, which may lower the compatibility with the binder resin of the component (C).

(B) 성분을 구성하는 유기 중합체의 아민염의 적합예는, 인산기를 갖는 유기 중합체의 암모늄염, 알킬아민염, 또는 알킬올아민염을 들 수 있다.Examples of suitable amine salts of the organic polymer constituting the component (B) include ammonium salts, alkylamine salts, and alkylolamine salts of organic polymers having a phosphoric acid group.

유기 중합체 부분에 대해서는, 탄소수가 10 이상인 유기 중합체인 것이 바람직하고, 탄소수가 100 이상인 유기 중합체인 것이 더욱 바람직하다. 직사슬형의 주사슬을 갖는 것이어도, 분기 구조를 갖는 것이어도 된다. 또, 유기 중합체 부분이 공중합체인 경우, 블록 공중합체여도, 교호 공중합체여도, 그래프트 공중합체여도, 랜덤 공중합체여도 된다. 또, 유기 중합체 부분은, 폴리에스테르 및/또는 폴리옥시에틸렌인 것이 바람직하다.The organic polymer portion is preferably an organic polymer having a carbon number of 10 or more, more preferably an organic polymer having a carbon number of 100 or more. May have a linear main chain, or may have a branched structure. When the organic polymer moiety is a copolymer, it may be a block copolymer, an alternate copolymer, a graft copolymer, or a random copolymer. The organic polymer portion is preferably a polyester and / or polyoxyethylene.

(B) 성분을 구성하는 유기 중합체의 아민염으로는 시판품을 사용해도 된다. 시판품의 구체예로는, Disperbyk180 (빅케미사 제조), Disperbyk142 (빅케미사 제조) 가 있다.As the amine salt of the organic polymer constituting the component (B), a commercially available product may be used. Specific examples of commercially available products include Disperbyk 180 (manufactured by Big Chemical) and Disperbyk 144 (manufactured by Big Chemical).

본 발명의 도전성 페이스트에 있어서, (B) 성분의 유기 중합체의 아민염의 배합량은, (C) 성분의 바인더 수지 100 질량부에 대하여 0.1 ∼ 100 질량부이다. 즉, (B) 성분 (유기 중합체의 아민염) 의 (C) 성분 (바인더 수지) 에 대한 배합 비율은 0.1 ∼ 100 질량% 이다. (B) 성분의 유기 중합체의 아민염의 배합량이, (C) 성분의 바인더 수지 100 질량부에 대하여 0.1 질량부 이상이면, 도전성 페이스트를 사용하여 형성되는 도전막의 ITO 막 표면과의 밀착성이 양호해진다. (B) 성분의 유기 중합체의 아민염의 배합량이, (C) 성분의 바인더 수지 100 질량부에 대하여 100 질량부 이하이면, 도전성을 저해하여 도전막의 체적 저항률을 악화시키는 경우가 적어, 양호한 도전성을 갖는 도전막을 형성할 수 있다.In the conductive paste of the present invention, the amount of the amine salt of the organic polymer as the component (B) is from 0.1 to 100 parts by mass based on 100 parts by mass of the binder resin of the component (C). That is, the compounding ratio of the component (B) (amine salt of the organic polymer) to the component (C) (binder resin) is 0.1 to 100 mass%. When the compounding amount of the amine salt of the organic polymer as the component (B) is 0.1 part by mass or more based on 100 parts by mass of the binder resin of the component (C), the adhesion of the conductive film formed with the conductive paste to the ITO film surface is improved. When the amount of the amine salt of the organic polymer as the component (B) is 100 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the binder resin of the component (C), the volume resistivity of the conductive film is lowered, A conductive film can be formed.

(B) 성분의 유기 중합체의 아민염의 배합량은, (C) 성분의 바인더 수지 100 질량부에 대하여 0.5 ∼ 40 질량부인 것, 즉, (B) 성분 (유기 중합체의 아민염) 의 (C) 성분 (바인더 수지) 에 대한 배합 비율이 0.5 ∼ 40 질량% 인 것이 바람직하다.The amount of the amine salt of the organic polymer as the component (B) is 0.5 to 40 parts by mass relative to 100 parts by mass of the binder resin of the component (C), that is, the amount of the component (C) (Binder resin) is preferably 0.5 to 40% by mass.

(C) 바인더 수지(C) Binder resin

상기 서술한 바와 같이, 도전성 입자로서 구리 입자를 사용한 도전성 페이스트에서는, 바인더 수지로서 열경화성 수지가 사용된다. 본 발명의 도전성 페이스트에서는, (C) 성분의 바인더 수지로서 포름알데히드를 1 성분으로 하는 열경화성 수지로 이루어지는 것을 사용한다. 그 이유는 포름알데히드로부터 생성되는 메틸올기의 환원 작용에 의해 구리 입자 표면의 산화를 억제할 수 있고, 또한 적당히 경화 수축이 진행되어 구리 입자끼리의 접촉이 확보되기 때문이다.As described above, in the conductive paste using copper particles as the conductive particles, a thermosetting resin is used as the binder resin. In the conductive paste of the present invention, as the binder resin of the component (C), a thermosetting resin containing formaldehyde as one component is used. This is because the oxidation of the surface of the copper particles can be suppressed by the reducing action of the methylol groups generated from formaldehyde, and the curing shrinkage progresses appropriately to secure the contact between the copper particles.

포름알데히드를 1 성분으로 하는 열경화성 수지로는, 페놀 수지, 멜라민 수지, 자일렌 수지, 우레아 수지가 예시된다. 그 중에서도, 페놀 수지가 메틸올기의 환원 작용과 경화 수축의 정도에서 바람직하다. 경화 수축이 지나치게 크면 도전막 내에 불필요한 응력이 축적되어, 기계적 파괴의 원인이 된다. 경화 수축이 지나치게 적으면 구리 입자끼리의 접촉을 충분히 확보할 수 없다.Examples of the thermosetting resin having one component of formaldehyde include phenol resin, melamine resin, xylene resin and urea resin. Among them, the phenol resin is preferable in terms of the reducing action of the methylol group and the degree of curing shrinkage. If the hardening shrinkage is too large, an unnecessary stress accumulates in the conductive film, which causes mechanical breakdown. If the hardening shrinkage is too small, the contact between the copper particles can not be sufficiently secured.

본 발명의 도전성 페이스트에 있어서, (C) 성분의 바인더 수지의 배합량은, (A) 성분의 구리 입자의 체적과, 구리 입자 간에 존재하는 공극부의 체적의 비율에 따라 적절히 선택할 수 있지만, (A) 성분의 구리 입자 100 질량부에 대하여, 5 ∼ 40 질량부인 것이 바람직하고, 5 ∼ 20 질량부가 보다 바람직하다. 5 질량부 이상이면, 도전성 페이스트의 유동 특성이 양호해진다. 40 질량부 이하이면, 도전 페이스트를 사용하여 형성되는 도전막의 체적 저항률을 낮게 억제할 수 있다.In the conductive paste of the present invention, the amount of the binder resin of the component (C) may be properly selected depending on the volume of the copper particles of the component (A) and the volume of the void portion existing between the copper particles. Is preferably 5 to 40 parts by mass, more preferably 5 to 20 parts by mass, per 100 parts by mass of the copper particles. When the amount is 5 parts by mass or more, the flowability of the conductive paste is improved. When the amount is 40 parts by mass or less, the volume resistivity of the conductive film formed using the conductive paste can be suppressed to be low.

본 발명의 도전성 페이스트에 있어서, 본 발명의 도전성 페이스트는, 상기 (A) ∼ (C) 의 각 성분에 추가하여, (D) 성분으로서 분자 중에 적어도 1 개의 1 급 아미노기를 함유하는 고분자 화합물 (이하, 아미노기 함유 고분자 화합물이라고 하는 경우가 있다) 의 카르복실산염을 함유하는 것이 바람직하다. (D) 성분으로서, 이와 같은 아미노기 함유 고분자 화합물의 카르복실산염을 함유함으로써, 도전성 페이스트를 사용하여 형성되는 도전막의 ITO 막 표면과의 밀착성이 더욱 향상된다. 그 이유는, 아미노기 함유 고분자 화합물에 함유되는 1 급 아미노기 등의 아미노기가, (C) 성분으로서의 바인더 수지가 갖는 산성기와 산염기 반응에 의한 결합을 형성하면서, 동시에 ITO 막 표면과 상호 작용도 실시하고 있기 때문인 것으로 생각된다.In the conductive paste of the present invention, the conductive paste of the present invention may further comprise, in addition to the components (A) to (C), a polymer compound containing at least one primary amino group in the molecule , And an amino group-containing polymer compound). By containing the carboxylic acid salt of the amino group-containing polymer compound as the component (D), the adhesion of the conductive film formed by using the conductive paste to the ITO film surface is further improved. The reason is that the amino group such as the primary amino group contained in the amino group-containing polymer compound interacts with the ITO film surface at the same time while forming a bond by the acid base reaction with the acid group of the binder resin as the component (C) .

(D) 성분을 구성하는 아미노기 함유 고분자 화합물은, 분자 중에 적어도 1 개, 바람직하게는 복수 개의 1 급 아미노기를 함유하고, 질량 평균 분자량 (Mw) 이 300 ∼ 20000 인 고분자량의 아민이다. 아미노기 함유 고분자 화합물의 질량 평균 분자량 (Mw) 은, 600 ∼ 1600 의 범위가 보다 바람직하다.The amino group-containing polymer compound constituting the component (D) is a high molecular weight amine having at least one, preferably a plurality of primary amino groups in the molecule, and a mass average molecular weight (Mw) of 300 to 20,000. The mass average molecular weight (Mw) of the amino group-containing polymer compound is more preferably in the range of 600 to 1600.

(D) 성분을 구성하는 아미노기 함유 고분자 화합물은, 적어도 1 개, 바람직하게는 복수 개의 1 급 아미노기와 함께, 2 급 아미노기 및/또는 3 급 아미노기를 함유하는 것이 바람직하고, 아민가 (JIS K 7237 의 규정에 준거) 가 700 ∼ 1500 ㎎KOH/g 인 것이 바람직하며, 850 ∼ 1200 ㎎KOH/g 인 것이 특히 바람직하다. (D) 성분을 구성하는 아미노기 함유 고분자 화합물은, 직사슬형의 주사슬을 갖는 화합물이어도 되고, 분기 구조를 갖는 화합물이어도 된다. 그 중에서도, 분기 구조를 갖는 고분자 아민인 것이 바람직하다. (D) 성분을 구성하는 아미노기 함유 고분자 화합물로는, 구체적으로는, 상기 범위의 질량 평균 분자량 (Mw) 을 갖는 폴리에틸렌이민이나 폴리알릴아민을 들 수 있다. 특히, 폴리에틸렌이민이 바람직하다.The amino group-containing polymer compound constituting the component (D) preferably contains a secondary amino group and / or a tertiary amino group together with at least one primary amino group, preferably a plurality of primary amino groups. Is in the range of 700 to 1500 mgKOH / g, and particularly preferably 850 to 1200 mgKOH / g. The amino group-containing polymer compound constituting the component (D) may be a compound having a linear main chain or a compound having a branched structure. Among them, a polymer amine having a branched structure is preferable. Specific examples of the amino group-containing polymer compound constituting the component (D) include polyethyleneimine and polyallylamine having a mass average molecular weight (Mw) in the above range. In particular, polyethyleneimine is preferred.

상기의 아미노기 함유 고분자 화합물은, 함유되는 아미노기 (1 급 아미노기, 그리고 2 급 아미노기 및/또는 3 급 아미노기) 가 카르복실산과 반응하여 염을 형성한 형태이며, 본 발명의 도전성 페이스트에 함유된다. 아미노기 함유 고분자 화합물의 아미노기와 염을 형성하는 산으로는, 염산, 황산, 질산, 카르복실산, 술폰산 등을 들 수 있지만, 아미노기와의 결합성의 강도가 적당한 점에서 카르복실산이 바람직하다. 카르복실산 중에서도, 카르보닐기의 탄소 원자를 포함한 탄소수가 10 이하인 카르복실산이 바람직하고, 탄소수가 4 이하인 카르복실산이 특히 바람직하다. 구체적으로는, 포름산이 특히 바람직하다.The amino group-containing polymeric compound is a form in which an amino group (primary amino group, secondary amino group and / or tertiary amino group) is reacted with a carboxylic acid to form a salt, and is contained in the conductive paste of the present invention. Examples of the acid which forms a salt with the amino group of the amino group-containing polymer compound include hydrochloric acid, sulfuric acid, nitric acid, carboxylic acid, sulfonic acid and the like, but a carboxylic acid is preferable from the viewpoint of strength of bonding property with an amino group. Among the carboxylic acids, carboxylic acids having 10 or less carbon atoms including carbon atoms of carbonyl groups are preferable, and carboxylic acids having 4 or less carbon atoms are particularly preferable. Specifically, formic acid is particularly preferable.

따라서, 아미노기 함유 고분자 화합물의 카르복실산염으로는, 폴리에틸렌이민의 포름산염, 폴리알릴아민의 포름산염이 바람직하고, 특히, 폴리에틸렌이민의 포름산염이 바람직하다.Therefore, as the carboxylic acid salt of the amino group-containing polymer compound, a formate salt of polyethyleneimine or a formate salt of polyallylamine is preferable, and a formate salt of polyethyleneimine is particularly preferable.

(D) 성분으로서, 아미노기 함유 고분자 화합물의 카르복실산염을 배합하는 경우, 그 배합량은, (A) 성분의 구리 입자 100 질량부에 대하여 0.05 ∼ 5 질량부가 바람직하고, 0.1 ∼ 2 질량부가 특히 바람직하다. 즉, (D) 성분 (아미노기 함유 고분자 화합물 카르복실산염) 의 (A) 성분 (구리 입자) 에 대한 배합 비율은, 0.05 ∼ 5 질량% 가 바람직하고, 0.1 ∼ 2 질량% 의 범위가 특히 바람직하다. (D) 성분의 아미노기 함유 고분자 화합물 카르복실산염의 배합량이, (A) 성분의 구리 입자 100 질량부에 대하여 0.05 질량부 이상이면, 도전 페이스트를 사용하여 형성되는 도전막의 ITO 막 표면과의 밀착성이 양호해진다. 5 질량부 이하이면, 도전성을 저해하여 도전막의 체적 저항률을 악화시키는 경우가 적어, 양호한 도전성을 갖는 도전막을 형성할 수 있다.When the carboxylic acid salt of the amino group-containing polymer compound is compounded as the component (D), the amount thereof is preferably 0.05 to 5 parts by mass, more preferably 0.1 to 2 parts by mass, per 100 parts by mass of the copper particles of the component (A) Do. That is, the compounding ratio of the component (D) (amino group-containing polymer compound carboxylate) to the component (A) (copper particle) is preferably 0.05 to 5 mass%, particularly preferably 0.1 to 2 mass% . If the amount of the amino group-containing polymer compound carboxylate as the component (D) is 0.05 parts by mass or more based on 100 parts by mass of the copper particles of the component (A), the adhesion of the conductive film formed using the conductive paste to the ITO film surface . When the amount is less than 5 parts by mass, the conductivity is deteriorated and the volume resistivity of the conductive film is less likely to deteriorate, so that a conductive film having good conductivity can be formed.

(E) 그 밖의 성분(E) Other components

본 발명의 도전성 페이스트는, 상기 (A) ∼ (D) 의 각 성분에 추가하여, 필요에 따라 용제나 각종 첨가제 (레벨링제, 커플링제, 점도 조정제, 산화 방지제 등) 를, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위에서 함유하고 있어도 된다. 특히, 적당한 유동성을 갖는 페이스트를 얻기 위하여, 열경화성 수지를 용해시킬 수 있는 용제를 함유시키는 것이 바람직하다.The conductive paste of the present invention may contain, in addition to the above components (A) to (D), a solvent and various additives (leveling agent, coupling agent, viscosity adjusting agent, antioxidant, etc.) It may be contained in a range not inhibiting. In particular, in order to obtain a paste having an appropriate fluidity, it is preferable to include a solvent capable of dissolving the thermosetting resin.

용제로는, 예를 들어, 시클로헥사논, 시클로헥사놀, 테르피네올, 에틸렌글리콜, 에틸렌글리콜모노에틸에테르, 에틸렌글리콜모노부틸에테르, 에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트를 사용할 수 있다. 인쇄용 페이스트로서, 적당한 점도 범위로 하는 관점에서, 도전성 페이스트에 함유시키는 용제의 양은, 구리 입자에 대하여 1 ∼ 10 질량% 가 바람직하다.Examples of the solvent include a solvent such as cyclohexanone, cyclohexanol, terpineol, ethylene glycol, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, ethylene glycol monoethyl ether acetate, ethylene glycol monobutyl ether acetate, di Ethylene glycol, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monoethyl ether acetate, and diethylene glycol monobutyl ether acetate. As the printing paste, the amount of the solvent to be contained in the conductive paste is preferably 1 to 10% by mass with respect to the copper particles from the viewpoint of setting the viscosity within a suitable range.

도전성 페이스트는, 상기 (A) ∼ (D) 의 각 성분, 및 필요에 따라 상기 용제 등의 그 밖의 성분을 혼합하여 얻을 수 있다. 상기의 (A) ∼ (D) 의 각 성분을 혼합할 때에는, 열경화성 수지의 경화나 용제의 휘발이 발생하지 않는 정도의 온도 하에서, 가열하면서 실시할 수 있다.The conductive paste can be obtained by mixing the above components (A) to (D) and, if necessary, other components such as the above-mentioned solvent. The above components (A) to (D) may be mixed while heating at a temperature that does not cause curing of the thermosetting resin or volatilization of the solvent.

혼합, 교반시의 온도는 10 ∼ 40 ℃ 로 하는 것이 바람직하다. 보다 바람직하게는, 20 ∼ 30 ℃ 로 하는 것이 좋다. 도전 페이스트를 조제할 때에 10 ℃ 이상의 온도로 가열함으로써, 페이스트의 점도를 충분히 저하시킬 수 있어, 교반을 원활히 또한 충분히 실시할 수 있다. 한편, 도전 페이스트를 조제할 때의 온도가 40 ℃ 를 초과하면, 페이스트 중에서 수지의 경화가 발생할 우려나, 입자끼리의 융착이 발생할 우려가 있다. 또한, 혼합시에 구리 입자가 산화되는 것을 방지하기 위하여, 불활성 가스로 치환한 용기 내에서 혼합하는 것이 바람직하다.The temperature for mixing and stirring is preferably 10 to 40 占 폚. More preferably, the temperature is 20 to 30 占 폚. When the conductive paste is prepared, the viscosity of the paste can be sufficiently lowered by heating at a temperature of 10 占 폚 or higher, and agitation can be performed smoothly and sufficiently. On the other hand, if the temperature at the time of preparing the conductive paste exceeds 40 캜, the resin may be hardened in the paste, or fusion of the particles may occur. Further, in order to prevent the copper particles from being oxidized at the time of mixing, it is preferable to mix them in a container substituted with an inert gas.

이상 설명한 본 발명의 도전성 페이스트에 있어서는, (A) 소정의 평균 입자경을 갖는 구리 입자와 함께, (B) 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염, 및 (C) 포름알데히드를 1 성분으로 하는 열경화성 수지로 이루어지는 바인더 수지를 함유하고 있기 때문에, 이 도전성 페이스트에 의해 형성되는 도전막은, ITO 막과의 밀착성이 우수하다. 그리고, 도전성 페이스트가, (D) 성분으로서, 분자 중에 적어도 1 개의 1 급 아미노기를 함유하는 고분자 화합물의 카르복실산염을 함유하면, ITO 막과의 밀착성이 더욱 향상된다. 그 때문에, 본 발명의 도전성 페이스트로부터 얻어지는 도전막은, ITO 막 표면과 양호한 밀착성을 갖는다.In the conductive paste of the present invention described above, (A) an amine salt of (B) an organic polymer having a phosphoric acid group, and (C) a thermosetting resin containing formaldehyde as one component, together with copper particles having a predetermined average particle size , The conductive film formed by this conductive paste is excellent in adhesion with the ITO film. When the conductive paste contains a carboxylic acid salt of a polymer compound containing at least one primary amino group in the molecule as the component (D), adhesion with the ITO film is further improved. Therefore, the conductive film obtained from the conductive paste of the present invention has good adhesion with the ITO film surface.

<도전막 부착 기재>&Lt; Substrate with conductive film &

본 발명의 도전막 부착 기재는, ITO 막을 갖는 기재와, 이 기재의 ITO 막 상에 상기한 본 발명의 도전성 페이스트를 도포하여 경화시켜 형성한 도전막을 갖는다.The conductive film-adhered substrate of the present invention has a substrate having an ITO film and a conductive film formed by applying the above-described conductive paste of the present invention onto the ITO film of the substrate and curing.

기재 본체로는, 유리 기판, 플라스틱 기판 (예를 들어, 폴리이미드 기판, 폴리에스테르 기판 등), 섬유 강화 복합 재료로 이루어지는 기판 (예를 들어, 유리 섬유 강화 수지 기판 등) 을 들 수 있다. 이들 기재 본체의 표면에 ITO 막이 형성되어, ITO 막 부착 기재가 구성된다.Examples of the substrate main body include a glass substrate, a plastic substrate (e.g., a polyimide substrate, a polyester substrate), and a substrate made of a fiber-reinforced composite material (e.g., glass fiber reinforced resin substrate). An ITO film is formed on the surface of the base material body to constitute an ITO film-attached base material.

도전성 페이스트의 도포 방법으로는, 스크린 인쇄법, 롤 코트법, 에어 나이프 코트법, 블레이드 코트법, 바 코트법, 그라비아 코트법, 다이 코트법, 슬라이드 코트법 등의 공지된 방법을 들 수 있다. 이것들 중에서도 스크린 인쇄법이 바람직하다.Examples of the method of applying the conductive paste include known methods such as screen printing, roll coating, air knife coating, blade coating, bar coating, gravure coating, die coating and slide coating. Of these, screen printing is preferred.

도포층의 경화는, 온풍 가열, 열복사 가열 등의 방법으로 가열하여, 도전성 페이스트 중의 수지 (열경화성 수지) 를 경화시킴으로써 실시한다.Curing of the coating layer is performed by heating by a method such as hot air heating or heat-radiation heating to cure the resin (thermosetting resin) in the conductive paste.

가열 온도 및 가열 시간은, 도전막에 요구되는 특성에 따라 적절히 결정하면 된다. 가열 온도는 80 ∼ 200 ℃ 가 바람직하다. 가열 온도가 80 ℃ 이상이면, 바인더 수지의 경화가 원활히 진행되어, 구리 입자 간의 접촉이 양호해져 도전성이 향상됨과 함께, 도전막의 ITO 막과의 밀착성이 향상된다. 가열 온도가 200 ℃ 이하이면, 기재 본체로서 플라스틱 기판을 사용할 수 있기 때문에, 기재 선택의 자유도가 높아진다.The heating temperature and the heating time may be appropriately determined depending on the properties required for the conductive film. The heating temperature is preferably 80 to 200 占 폚. If the heating temperature is 80 占 폚 or higher, the curing of the binder resin proceeds smoothly, the contact between the copper particles is improved, the conductivity is improved, and the adhesion of the conductive film to the ITO film is improved. If the heating temperature is 200 DEG C or less, the plastic substrate can be used as the substrate body, so that the degree of freedom in substrate selection can be increased.

ITO 막 상에 형성되는 도전막의 두께는, 안정적인 도전성과 배선 형상의 유지를 확보하는 관점에서 1 ∼ 200 ㎛ 인 것이 바람직하고, 5 ∼ 100 ㎛ 의 범위가 보다 바람직하다.The thickness of the conductive film formed on the ITO film is preferably 1 to 200 占 퐉, more preferably 5 to 100 占 퐉, from the viewpoint of ensuring stable electrical conductivity and maintaining the wiring shape.

도전막의 체적 저항률 (비저항이라고도 한다) 은 1.0 × 10-4 Ω㎝ 이하인 것이 바람직하다. 도전막의 체적 저항률이 1.0 × 10-4 Ω㎝ 를 초과하면, 전자 기기용의 도전체로서의 사용이 곤란해지는 경우가 있다. 도전막의 체적 저항률은 이하와 같이 하여 구할 수 있다. 도전막의 전기 저항값을 저항값계 (키슬리사 제조, 상품명 : 밀리옴 하이테스터) 를 사용하여 측정하고, 접촉식 형상 측정 장치 (토쿄 정밀사 제조, 상품명 : 서프컴 130A) 를 사용하여 도전막의 단면적을 측정한다. 그리고, 도전막의 전기 저항값, 단면적, 길이로부터 체적 저항률 (비저항 ; 단위 μΩ㎝) 을 계산한다.The volume resistivity (also referred to as resistivity) of the conductive film is 1.0 x 10 -4 Cm or less. When the volume resistivity of the conductive film is 1.0 x 10 &lt; -4 &gt; If it exceeds Ω cm, it may become difficult to use it as a conductor for electronic devices. The volume resistivity of the conductive film can be obtained as follows. The electric resistance value of the conductive film was measured using a resistance value meter (trade name: Milli Om HiTester, manufactured by Keithley Co., Ltd.), and the sectional area of the conductive film was measured using a contact type shape measuring device (trade name: Surfcom 130A, . Then, the volume resistivity (specific resistance, unit: 占 ㎝ m) is calculated from the electrical resistance value, cross-sectional area, and length of the conductive film.

또, 도전막의 ITO 막 표면과의 밀착성은, 크로스컷법으로 측정한 값으로서, 60/100 이상이 바람직하다. ITO 막과의 밀착성이 60/100 미만이면, 전자 기기용의 도전체로서의 사용이 곤란해지는 경우가 있다. 또한, 크로스컷법에 의한 밀착성의 측정은, JIS K 5600-5-6 에 규정된 방법으로 도전막을 바둑판 눈금 형상으로 크로스컷한 후, 셀로판 테이프 (상품명 : 셀로판 테이프 #405 니치반사 제품) 를 사용하여 도전막을 박리함으로써 실시한다. 그리고, 박리하지 않고 잔존한 바둑판 눈금수를 X 로 하여, X/100 을 밀착성의 측정값으로 한다.The adhesion of the conductive film to the ITO film surface is preferably 60/100 or more as measured by a cross-cut method. If the adhesion to the ITO film is less than 60/100, it may become difficult to use it as a conductor for electronic devices. The measurement of the adhesion by the cross-cut method was carried out by cross-cutting the conductive film in the form of a checkerboard in accordance with the method specified in JIS K 5600-5-6, using a cellophane tape (trade name: Cellophane tape # 405, And then peeling off the conductive film. Then, the number of checkerboard scales remaining without peeling is X, and X / 100 is the measurement value of the adhesion.

실시예Example

이하, 본 발명을 실시예에 의해 더욱 상세히 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되지 않는다. 또한, 구리 입자의 평균 입자경, 도전막의 두께 및 체적 저항률 (비저항) 은, 각각 이하에 나타내는 장치를 사용하여 측정하였다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail by way of examples, but the present invention is not limited to these examples. The average particle diameter of the copper particles, the thickness of the conductive film, and the volume resistivity (specific resistance) were measured using the following apparatuses, respectively.

(평균 입자경)(Average particle size)

구리 입자의 평균 입자경은, SEM (닛폰 전자사 제조, S-4300) 에 의해 얻어진 SEM 이미지 중에서 무작위로 선택된 100 개의 입자의 Feret 직경을 측정하여, 그 평균 (수평균) 을 내는 것에 의해 구하였다.The average particle diameter of the copper particles was determined by measuring the Feret diameter of 100 randomly selected SEM images obtained by SEM (S-4300, manufactured by Nippon Electronics Co., Ltd.) and giving an average (number average) thereof.

(도전막의 두께)(Thickness of the conductive film)

도전막의 두께는, DEKTAK3 (Veeco metrology Group 사 제조) 을 사용하여 측정하였다.The thickness of the conductive film was measured using DEKTAK3 (Veeco metrology Group).

(도전막의 체적 저항률)(Volume resistivity of conductive film)

도전막의 전기 저항값을 저항값계 (키슬리사 제조, 상품명 : 밀리옴 하이테스터) 를 사용하여 측정하고, 접촉식 형상 측정 장치 (토쿄 정밀사 제조, 상품명 : 서프컴 130A) 를 사용하여 도전막의 단면적을 측정하였다. 그리고, 도전막의 전기 저항값, 단면적, 길이로부터 체적 저항률 (비저항 ; 단위 μΩ㎝) 을 계산하였다.The electrical resistance value of the conductive film was measured using a resistance value meter (trade name: Milli Om HiTester, manufactured by Keithley Co., Ltd.) and measured with a contact type shape measuring device (trade name: Surfcom 130A, Were measured. Then, the volume resistivity (specific resistance, unit: 占 ㎝ m) was calculated from the electrical resistance value, sectional area and length of the conductive film.

실시예 1Example 1

유리제 비커 내에, 포름산 3.0 g 과 50 질량% 의 차아인산 수용액 9.0 g 을 넣은 후, 이 비커를 워터 배스에 넣고 40 ℃ 로 유지하였다. 이 비커 내에 구리 입자 (미츠이 금속 광업사 제조, 상품명 : 1400YP, 평균 1 차 입자경 : 7 ㎛) 5.0 g 을 서서히 첨가하고, 30 분간 교반하여 구리 분산액을 얻었다.After 3.0 g of formic acid and 9.0 g of a 50% by mass aqueous solution of hypophosphorous acid were placed in a glass beaker, the beaker was placed in a water bath and kept at 40 캜. 5.0 g of copper particles (trade name: 1400YP, average primary diameter: 7 탆, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) was slowly added to the beaker and stirred for 30 minutes to obtain a copper dispersion.

얻어진 구리 분산액으로부터, 원심 분리기를 사용하여, 회전수 3000 rpm 으로 10 분간 원심 분리하여 침전물을 회수하였다. 이 침전물을 증류수 30 g 에 분산시키고, 원심 분리에 의해 다시 응집물을 침전시켜, 침전물을 분리하였다. 그 후, 얻어진 침전물을, -35 kPa 의 감압 하, 80 ℃ 에서 60 분간 가열하여 잔류 수분을 휘발시켜 서서히 제거하여, 입자 표면이 표면 개질된 구리 입자 (A-1) 을 얻었다.The resulting copper dispersion was centrifuged at a rotation speed of 3000 rpm for 10 minutes using a centrifugal separator to recover the precipitate. This precipitate was dispersed in 30 g of distilled water, and the agglomerate was again precipitated by centrifugation, and the precipitate was separated. Thereafter, the resulting precipitate was heated under a reduced pressure of -35 kPa at 80 캜 for 60 minutes to remove the residual moisture by volatilization to thereby obtain a copper particle (A-1) whose surface was surface-modified.

얻어진 구리 입자 (A-1) 의 표면 산소량은 0.16 이었다. 이 값은, X 선 광전자 분광 분석 (알박·파이사 제조, ESCA5500) 에 의해 표면 산소 농도 [원자%] 와 표면 구리 농도 [원자%] 를 구하고, 표면 산소 농도를 표면 구리 농도로 나누어 산출하였다. 또한, 산소량계 (LECO 사 제조, 상품 번호 : 「ROH-600」) 를 사용하여 측정한 결과, 구리 입자 (A-1) 중의 산소량은 460 ppm 이었다.The surface oxygen amount of the obtained copper particle (A-1) was 0.16. This value was calculated by determining the surface oxygen concentration [atomic%] and the surface copper concentration [atomic%] by X-ray photoelectron spectroscopic analysis (ESCA5500, manufactured by ULVAC · PASA) and dividing the surface oxygen concentration by the surface copper concentration. Further, the measurement was conducted using an oxygen meter (product number: "ROH-600", manufactured by LECO), and as a result, the oxygen content in the copper particles (A-1) was 460 ppm.

이어서, 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 (군에이 화학사 제조, 상품명 : 레지톱 PL6220, 이하의 예에 있어서 모두 동일) 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하였다. 추가로, 이 혼합물과 함께, (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk180 (산가 : 94 ㎎KOH/g, 아민가 : 94 ㎎KOH/g)) 0.006 g 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또, (B) 성분 (인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염) 의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 0.12 질량% 였다.Subsequently, 12 g of the obtained surface-modified copper particles (A-1) were mixed with 7.4 g of a phenol resin (trade name: REGITOON PL6220, manufactured by Mfd. Was added to the resin solution dissolved in 4.3 g of butyl ether acetate. Further, 0.006 g of an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) (Disperbyk 180 (acid value: 94 mgKOH / g, amine value: 94 mgKOH / g) as a component (B) And mixed at room temperature to obtain a copper paste. The blending amount of the component (B) (amine salt of organic polymer having a phosphoric acid group) was 0.12 mass% with respect to the component (C) (phenol resin).

실시예 2Example 2

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk142 (산가 : 46 ㎎KOH/g, 아민가 : 43 ㎎KOH/g)) 0.01 g (유효 성분으로서 0.006 g) 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, (B) 성분 (인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염) 의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 0.12 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of a phenol resin as the component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, , 0.01 g of an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) (Disperbyk 144 (acid value: 46 mgKOH / g, amine value: 43 mgKOH / g) as an ingredient (B) g) were placed in a mortar and mixed at room temperature to obtain a copper paste. The blending amount of the component (B) (amine salt of the organic polymer having a phosphoric acid group) was 0.12% by mass based on the component (C) (phenol resin).

실시예 3Example 3

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk180) 0.05 g 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, (B) 성분 (인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염) 의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 1.0 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of a phenol resin as the component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, , 0.05 g of an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) (Disperbyk 180, manufactured by BICKEMISA) was added to this mixture, and the mixture was mixed at room temperature to obtain a copper paste. The blending amount of the component (B) (amine salt of organic polymer having a phosphoric acid group) was 1.0% by mass based on the component (C) (phenol resin).

실시예 4Example 4

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk142 (산가 : 46 ㎎KOH/g, 아민가 : 43 ㎎KOH/g)) 0.08 g (유효 성분으로서 0.05 g) 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, (B) 성분 (인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염) 의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 1.0 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of a phenol resin as the component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, 0.08 g of an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) (Disperbyk 144 (acid value: 46 mgKOH / g, amine value: 43 mgKOH / g) g) were placed in a mortar and mixed at room temperature to obtain a copper paste. The blending amount of the component (B) (amine salt of organic polymer having a phosphoric acid group) was 1.0% by mass based on the component (C) (phenol resin).

실시예 5Example 5

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk180) 0.125 g 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, (B) 성분 (인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염) 의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 2.5 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of a phenol resin as the component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, , 0.125 g of an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) (Disperbyk 180, manufactured by BICKEMISA) was added to this mixture, and the mixture was mixed at room temperature to obtain a copper paste. The amount of the component (B) (amine salt of the organic polymer having a phosphoric acid group) was 2.5% by mass based on the component (C) (phenol resin).

실시예 6Example 6

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk142) 0.21 g (유효 성분으로서 0.125 g) 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, (B) 성분 (인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염) 의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 2.5 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of a phenol resin as the component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, 0.21 g (0.125 g as an active ingredient) of an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) (Disperbyk 144, manufactured by BICKEMISA) as a component (B) was placed in a mortar and mixed at room temperature to obtain a copper paste. The amount of the component (B) (amine salt of the organic polymer having a phosphoric acid group) was 2.5% by mass based on the component (C) (phenol resin).

실시예 7Example 7

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk180) 0.25 g 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, (B) 성분 (인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염) 의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 5.0 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of a phenol resin as the component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, 0.25 g of an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) (Disperbyk 180, manufactured by BICKEMISA) was added to the mixture in a mortar and mixed at room temperature to obtain a copper paste. The blending amount of the component (B) (amine salt of organic polymer having a phosphoric acid group) was 5.0% by mass based on the component (C) (phenol resin).

실시예 8Example 8

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk142) 0.42 g (유효 성분으로서 0.25 g) 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, (B) 성분 (인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염) 의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 5.0 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of a phenol resin as the component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, 0.42 g (0.25 g as an active ingredient) of an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) (Disperbyk 144, manufactured by BICKEMISA) as a component (B) was placed in a mortar and mixed at room temperature to obtain a copper paste. The blending amount of the component (B) (amine salt of organic polymer having a phosphoric acid group) was 5.0% by mass based on the component (C) (phenol resin).

실시예 9Example 9

수온을 50 ℃ 로 설정한 워터 배스 내에 유리제 비커를 설치하고, 비커 내에 폴리에틸렌이민 (쥰세이 화학사 제조, 상품명 : 폴리에틸렌이민 1200, Mw : 1200, 아민가 : 1120 m㏖/g) 50 g 을 넣고, 교반을 격렬하게 실시하면서 포름산 45 g 을 천천히 적하하였다. 엷은 황색을 한 상기 폴리에틸렌이민은 연기를 내면서 격렬하게 반응하여, 다갈색의 액체로 변화하였다. 적하 종료 후, 30 분간 그대로 교반한 후, 유리 용기에 생성물인 폴리에틸렌이민의 포름산염을 회수하였다.50 g of polyethyleneimine (trade name: polyethyleneimine 1200, Mw: 1200, manufactured by Junsei Chemical Co., Ltd., Mw: 1200, amine value: 1120 mmol / g) was placed in a beaker in a water bath in which the water temperature was set to 50 ° C, 45 g of formic acid was slowly added dropwise while stirring vigorously. The pale yellow polyethyleneimine reacted vigorously with smoke and turned into a dark brown liquid. After completion of the dropwise addition, the mixture was left to stand still for 30 minutes, and the resulting polyethyleneimine salt of formic acid was recovered in a glass container.

이어서, 실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, 상기의 순서로 얻어진 (D) 성분으로서의 폴리에틸렌이민포름산염 0.05 g 과 (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk180) 0.05 g 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, (D) 성분 (폴리에틸렌이민포름산염) 의 배합량은, (A) 성분 (구리 입자) 에 대하여 0.4 질량% 이고, (B) 성분 (인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염) 의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 1.0 질량% 였다.Subsequently, 12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution in which 7.4 g of a phenol resin was dissolved in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, , 0.05 g of polyethyleneimine formate as the component (D) obtained in the above procedure and 0.05 g of an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) (Disperbyk 180 manufactured by BICKEMISA) were placed in a mortar, To obtain a copper paste. The blending amount of the component (D) (polyethyleneimine salt) is 0.4 mass% with respect to the component (A) (copper particle), and the amount of the component (B) (amine salt of organic polymer having a phosphoric acid group) And 1.0% by mass based on the component (C) (phenol resin).

비교예 1Comparative Example 1

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하였다. 그리고, 이 혼합물을 막자사발에 넣고, 실온하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution in which 7.4 g of a phenol resin as the component (C) was dissolved in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate. Then, the mixture was placed in a mortar and mixed at room temperature to obtain a copper paste.

비교예 2Comparative Example 2

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분 대신에 인산기를 갖지 않는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk140 (산가 : 73 ㎎KOH/g, 아민가 : 76 ㎎KOH/g)) 0.25 g (유효 성분으로서 0.125 g) 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, 인산기를 갖지 않는 유기 중합체의 아민염의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 1.0 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of a phenol resin as the component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, 0.25 g of an amine salt of an organic polymer having no phosphoric acid group (manufactured by BICKEMISA: Disperbyk 140 (acid value: 73 mgKOH / g, amine value: 76 mgKOH / g) was used instead of the component (B) , 0.125 g) was placed in a mortar and mixed at room temperature to obtain a copper paste. The blending amount of the amine salt of the organic polymer having no phosphoric acid group was 1.0% by mass based on the component (C) (phenol resin).

비교예 3Comparative Example 3

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분 대신에 p-톨루엔술폰산의 아민염 (KING INDUSTRY 사 제조, 상품명 : NACURE2500) 0.12 g 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, p-톨루엔술폰산의 아민염의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 2.5 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of a phenol resin as the component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, , 0.12 g of an amine salt of p-toluenesulfonic acid (trade name: NACURE2500, manufactured by KING INDUSTRY CO., LTD.) Was placed in a mortar and mixed at room temperature in place of the component (B) to obtain a copper paste. The blending amount of the amine salt of p-toluenesulfonic acid was 2.5% by mass based on the component (C) (phenol resin).

비교예 4Comparative Example 4

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분 대신에 유기 중합체가 아닌 인산기를 갖는 화합물의 아민염 (다이이치 공업 제약사 제조, 상품명 : 플라이 서프 DOM (옥틸인산에스테르의 에탄올아민염)) 0.12 g 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, 유기 중합체가 아닌 인산기를 갖는 화합물의 아민염의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 2.5 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of a phenol resin as the component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, 0.12 g of an amine salt of a compound having a phosphoric acid group that is not an organic polymer (trade name: Flysup DOM (ethanolamine salt of octyl phosphate ester) manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.) was used instead of the component (B) And mixed at room temperature to obtain a copper paste. The compounding amount of the amine salt of the compound having a phosphate group, which is not an organic polymer, was 2.5% by weight based on the component (C) (phenol resin).

비교예 5Comparative Example 5

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서의 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk180) 0.00125 g 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, (B) 성분 (인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염) 의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 0.024 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of a phenol resin as the component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, 0.00125 g of an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) (Disperbyk 180 manufactured by BICKEMISA) was added to the mixture in a mortar, and the mixture was mixed at room temperature to obtain a copper paste. The amount of the component (B) (the amine salt of the organic polymer having a phosphoric acid group) was 0.024 mass% with respect to the component (C) (phenol resin).

비교예 6Comparative Example 6

실시예 1 과 동일하게 하여 얻어진 표면 개질 구리 입자 (A-1) 의 12 g 을, (C) 성분으로서 페놀 수지 7.4 g 을 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트 4.3 g 에 용해시킨 수지 용액에 첨가하고, 추가로 이 혼합물과 함께, (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염 (빅케미사 제조 : Disperbyk142) 0.0021 g (유효 성분으로서 0.00125 g) 을 막자사발에 넣고, 실온 하에서 혼합하여 구리 페이스트를 얻었다. 또한, (B) 성분 (인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염) 의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대하여 0.024 질량% 였다.12 g of the surface-modified copper particles (A-1) obtained in the same manner as in Example 1 was added to a resin solution obtained by dissolving 7.4 g of phenol resin as component (C) in 4.3 g of ethylene glycol monobutyl ether acetate, 0.0021 g (0.00125 g as an active ingredient) of an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) (Disperbyk 144, manufactured by BICKEMISA) as a component (B) was placed in a mortar and mixed at room temperature to obtain a copper paste. The amount of the component (B) (the amine salt of the organic polymer having a phosphoric acid group) was 0.024 mass% with respect to the component (C) (phenol resin).

다음으로, 실시예 1 ∼ 9 및 비교예 1 ∼ 6 에서 얻어진 구리 페이스트를, 스퍼터링법으로 성막한 ITO 막 부착 유리 기판의 ITO 막 (두께 50 ㎚) 상에 각각 도포하고, 150 ℃ 에서 30 분간 가열하여, (C) 성분으로서의 페놀 수지를 경화시켜, 두께 10 ㎛ 의 도전막을 형성하였다. 그리고, 얻어진 도전막의 전기 저항값을 저항값계 (키슬리사 제조, 상품명 : 밀리옴 하이테스터) 를 사용하여 측정하여, 체적 저항률 (비저항 ; 단위 μΩ㎝) 을 측정하였다. 또, 도전막의 밀착성을 크로스컷법에 의해 평가하였다.Next, the copper pastes obtained in Examples 1 to 9 and Comparative Examples 1 to 6 were respectively coated on an ITO film (thickness: 50 nm) of a glass substrate with an ITO film formed by a sputtering method and heated at 150 占 폚 for 30 minutes Thus, a phenolic resin as the component (C) was cured to form a conductive film having a thickness of 10 占 퐉. Then, the electrical resistance value of the obtained conductive film was measured using a resistance value meter (trade name: Milliohightester, manufactured by Kislyra Co., Ltd.), and the volume resistivity (resistivity; unit? Cm) was measured. The adhesion of the conductive film was evaluated by the cross-cut method.

Figure 112013021795732-pat00001
Figure 112013021795732-pat00001

표 중, (B) 성분의 배합량은, (C) 성분 (페놀 수지) 에 대한 질량% 이고, (D) 성분의 배합량은, 표면 개질 구리 입자 (A-1) 에 대한 질량% 이다.In the table, the blending amount of the component (B) is% by mass with respect to the component (C) (phenol resin), and the amount of the component (D) is% by mass with respect to the surface-modified copper particles (A-1).

표 1 로부터 알 수 있는 바와 같이, 표면 개질 구리 입자와 함께, (B) 성분으로서의 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염을, (C) 성분으로서의 페놀 수지에 대한 질량% 로 0.1 ∼ 100 질량% 배합한 실시예 1 ∼ 9 의 구리 페이스트를 사용함으로써, ITO 막 상에 하지층을 형성하지 않고, 또한 ITO 막 표면을 활성화시키는 처리를 실시하지 않고, 도전성 페이스트를 ITO 막 상에 직접 도포하여 경화시키는 것만으로, ITO 막과의 밀착성이 양호할 뿐만 아니라, 체적 저항률이 낮고, 충분히 높은 도전성을 갖고 있었다.As can be seen from Table 1, an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group as a component (B) together with the surface-modified copper particles is blended in an amount of 0.1 to 100% by mass with respect to the phenol resin as the component (C) By using the copper pastes of Examples 1 to 9, it is only necessary to apply the conductive paste directly on the ITO film and cure without forming a ground layer on the ITO film and without activating the surface of the ITO film , Not only the adhesiveness to the ITO film was good but also the volume resistivity was low and sufficiently high conductivity was obtained.

본 발명을 상세히 또 특정 실시형태를 참조하여 설명하였지만, 본 발명의 정신과 범위를 일탈하지 않고 여러 가지 변경이나 수정을 가할 수 있는 것은, 당업자에게 있어 분명하다.Although the present invention has been described in detail with reference to specific embodiments thereof, it will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications can be made without departing from the spirit and scope of the present invention.

본 출원은, 2012년 3월 22일에 출원된 일본 특허 출원 2012-065997호에 근거하는 것이며, 그 내용은 여기에 참조로서 받아들여진다.This application is based on Japanese Patent Application No. 2012-065997 filed on March 22, 2012, the content of which is incorporated herein by reference.

본 발명의 도전성 페이스트는, 여러 가지 용도에 이용할 수 있으며, 예를 들어, 프린트 배선판 등에 있어서의 배선 패턴의 형성 및 수복 (修復), 반도체 패키지 내의 층간 배선, 프린트 배선판과 전자 부품의 접합 등의 용도에 이용할 수 있다.The conductive paste of the present invention can be used for various purposes. For example, the conductive paste can be used for forming and repairing a wiring pattern in a printed wiring board or the like, interlayer wiring in a semiconductor package, bonding of a printed wiring board and an electronic component .

Claims (10)

(A) 평균 입자경이 10 ㎚ ∼ 20 ㎛ 인 구리 입자와,
(B) 인산기를 갖는 유기 중합체의 아민염과,
(C) 포름알데히드를 함유하는 열경화성 수지로 이루어지는 바인더 수지를 함유하고,
상기 (A) 성분의 구리 입자 100 질량부에 대하여 상기 (C) 성분의 바인더 수지를 5 ∼ 40 질량부 함유하며, 상기 (C) 성분의 바인더 수지 100 질량부에 대하여 상기 (B) 성분의 유기 중합체의 아민염을 0.1 ∼ 100 질량부 함유하는 것을 특징으로 하는 도전성 페이스트.
(A) Copper particles having an average particle diameter of 10 nm to 20 탆,
(B) an amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group,
(C) a binder resin comprising a thermosetting resin containing formaldehyde,
Wherein the binder resin of the component (C) is contained in an amount of 5 to 40 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the copper particles of the component (A) And 0.1 to 100 parts by mass of an amine salt of the polymer.
제 1 항에 있어서,
상기 (B) 성분의 유기 중합체의 아민염이, 산가가 10 ∼ 200 ㎎KOH/g 이고, 또한, 아민가가 10 ∼ 200 ㎎KOH/g 인, 도전성 페이스트.
The method according to claim 1,
Wherein the amine salt of the organic polymer of component (B) has an acid value of 10 to 200 mgKOH / g and an amine value of 10 to 200 mgKOH / g.
제 1 항에 있어서,
상기 (B) 성분의 유기 중합체의 아민염이, 인산기를 갖는 유기 중합체의 암모늄염, 알킬아민염, 또는, 알킬올아민염인, 도전성 페이스트.
The method according to claim 1,
Wherein the amine salt of the organic polymer of component (B) is an ammonium salt, alkylamine salt, or alkylol amine salt of an organic polymer having a phosphoric acid group.
제 1 항에 있어서,
상기 (C) 성분의 바인더 수지가, 페놀 수지, 멜라민 수지, 자일렌 수지, 및 우레아 수지로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종 이상인, 도전성 페이스트.
The method according to claim 1,
Wherein the binder resin of the component (C) is at least one selected from the group consisting of a phenol resin, a melamine resin, a xylene resin, and a urea resin.
제 1 항에 있어서,
추가로, (D) 분자 중에 적어도 1 개의 1 급 아미노기를 갖는 고분자 화합물의 카르복실산염을 함유하는, 도전성 페이스트.
The method according to claim 1,
Further, a conductive paste containing (D) a carboxylic acid salt of a polymer compound having at least one primary amino group in the molecule.
제 5 항에 있어서,
상기 (D) 성분이, 폴리에틸렌이민의 포름산염, 또는, 폴리알릴아민의 포름산염인, 도전성 페이스트.
6. The method of claim 5,
Wherein the component (D) is a formate salt of polyethyleneimine or a salt of polyallylamine formate.
제 5 항에 있어서,
상기 (A) 성분의 구리 입자 100 질량부에 대하여 상기 (D) 성분의 고분자 화합물의 카르복실산염을 0.05 ∼ 5 질량부 함유하는, 도전성 페이스트.
6. The method of claim 5,
Wherein the conductive paste contains 0.05 to 5 parts by mass of the carboxylate of the polymer compound of the component (D) relative to 100 parts by mass of the copper particles of the component (A).
삭제delete 삭제delete 주석 도프 산화인듐 (ITO) 막을 갖는 기재의 상기 ITO 막 상에, 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 기재된 도전성 페이스트를 도포하여 경화시켜 이루어지는 도전막을 갖는 것을 특징으로 하는 도전막 부착 기재.A conductive film-attached substrate characterized by having a conductive film formed by applying the conductive paste according to any one of claims 1 to 7 onto the ITO film of a substrate having a tin-doped indium oxide (ITO) film and curing the conductive film.
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