KR101973587B1 - Probe pin with improved electric property and pin block - Google Patents

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KR101973587B1
KR101973587B1 KR1020180017240A KR20180017240A KR101973587B1 KR 101973587 B1 KR101973587 B1 KR 101973587B1 KR 1020180017240 A KR1020180017240 A KR 1020180017240A KR 20180017240 A KR20180017240 A KR 20180017240A KR 101973587 B1 KR101973587 B1 KR 101973587B1
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김광일
최재용
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주식회사 메카텍시스템즈
김광일
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Abstract

The present invention relates to a probe pin having excellent electrical characteristics and a pin block including the same. The probe pin comprises: a housing having a tubular shape and having outer peripheries of both ends thereof which are bent inward so as to form an engaging portion; a plunger having a lower end inserted into the housing, and having one end on which a first engaging protrusion is formed so as not to be released by the engaging portion of the housing; a guide header expanding from an upper end of the plunger in a plate form, and having an upper end on which a connection portion having a shape of including two symmetrical hypotenuses; an inner coil spring elastically pushing the plunger upward in the housing; and an outer coil spring elastically pushing the housing and the guide header from the outside of the plunger. According to the present invention, the probe pin comprises a simple double connection of an upper plunger and the housing, and the upper plunger and the housing are maintained in a constant and stable contact state by the inner coil spring and the outer coil spring, thereby improving electrical characteristics.

Description

전기적 특성이 우수한 프로브핀과 이를 포함하는 핀블럭{PROBE PIN WITH IMPROVED ELECTRIC PROPERTY AND PIN BLOCK}PROBE PIN WITH IMPROVED ELECTRIC PROPERTY AND PIN BLOCK [0002]

본 발명은 전자모듈을 검사하기 위한 프로브핀과 이를 포함하는 핀블럭에 관한 것으로서 특히 안정적인 접속이 이루어질 수 있어서 전기적 특성이 우수한 프로브핀과 이를 포함하는 핀블럭에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a probe pin for inspecting an electronic module and a pin block including the probe pin. More particularly, the present invention relates to a probe pin having excellent electrical characteristics and a pin block including the probe pin.

일반적으로 프로브핀은 웨이퍼에 형성된 소자와 반도체를 테스트하기 위한 테스트 소켓 등에 널리 사용되고 있다.Generally, probe pins are widely used for devices formed on wafers and test sockets for testing semiconductors.

프로브핀은 도전성 재질로 구성되어 상부와 하부에 연결된 전기 단자와 접촉함으로써 전기적 신호를 전달하게 되고, 서로 이격된 복수의 단자부를 포함하며, 상기 단자부 사이의 접촉에 의해서 전기적 신호의 전달이 이루어지는 구성을 가질 수 있다.The probe pin is made of a conductive material and has a structure in which an electrical signal is transmitted by making contact with an electrical terminal connected to an upper portion and a lower portion and includes a plurality of terminal portions spaced from each other and the electrical signal is transmitted by the contact between the terminal portions Lt; / RTI >

상기 프로브핀을 통한 전기적 신호의 전달은 상기 단자부 사이의 접촉에 의해서 달성되므로 상기 단자부 사이의 전기적 연결이 제대로 이루어지는 것이 프로브핀의 핵심 기능에 해당한다.Since the transmission of the electrical signal through the probe pin is achieved by the contact between the terminal portions, the core function of the probe pin is that the electrical connection between the terminal portions is properly performed.

또한 고성능화를 구현하기 위해서 반도체 모듈과 회로기판 사이의 전기 신호 전달과정에서 전기 신호의 손실과 왜곡을 최소화하여야 하며, 이를 위해서는 전달 경로가 안정적이면서 전달 경로상의 임피던스가 최소화되어야 한다.In order to realize high performance, loss and distortion of the electrical signal must be minimized in the process of transferring electrical signals between the semiconductor module and the circuit board. For this, the transmission path must be stable and the impedance on the transmission path must be minimized.

종래 일반적인 프로브핀은 상부플런저와 하부플런저가 중간의 하우징에 의해 연결되고, 하우징의 내부에는 코일스프링이 설치되어 상부플런저와 하부플런저에 탄성을 부여하며, 이에 따라 상부플런저와 하부플런저가 각각 하우징으로부터 부분적으로 출몰자재하게 되는 형태로 이루어지는데 특허문헌 1 역시 그와 같은 구성을 기본적으로 포함하고 있다.Conventional probe pins have a structure in which an upper plunger and a lower plunger are connected by an intermediate housing and a coil spring is provided inside the housing to give an elasticity to the upper plunger and the lower plunger so that the upper plunger and the lower plunger are separated from the housing And is formed in such a manner that it is partly disembarked. However, Patent Document 1 also basically includes such a configuration.

이와 같이 여러 부품이나 단계의 경로를 거치게 되면 전달되는 전기 신호가 손실되거나 왜곡되는 문제점이 있게 되며, 일체감이 없으므로 강도가 약해서 수명이 짧아지는 문제가 있었다.In this way, when passing through various parts or stages, there is a problem that electric signals transmitted are lost or distorted, and there is a problem that the strength is weak and the service life is short because there is no sense of unity.

또한 하우징과 상부플런저 및 하부플런저와의 결합은 고정된 상태가 아닌 이동 가능한 결합으로 이루어져서 그 접촉이 완전하거나 일정하지 않을 수 있으며, 코일스프링 또한 그 내경이 상부플런저 및 하부플런저와 항상 밀착 상태를 유지하지 않고 동작에 따른 불안정한 접촉이 이루어질 수 있어서 전기 신호의 접속에 신뢰감을 줄 수 없는 것이었다.The connection between the housing and the upper plunger and the lower plunger may be a movable connection rather than a fixed state so that the contact may be completely or not constant and the inner diameter of the coil spring is always kept in close contact with the upper plunger and the lower plunger Unstable contact due to the operation can be performed without providing reliability of connection of electric signals.

특히 종래 프로브핀의 상부플런저 및 하부플런저는 핀 형태의 원형 단면을 갖는 것으로서 접속 단자와의 접촉이 점 접촉으로 되는 것이어서 전기 신호의 연결이 더욱 안정적이지 못한 문제점이 있었다.Particularly, the upper plunger and the lower plunger of the conventional probe pin have a circular cross section in the form of a pin, and the contact with the connection terminal is point-contacted, so that the connection of the electric signal is not stable.

1. 한국 특허등록 제10-1591013호.1. Korean Patent Registration No. 10-1591013.

본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 그 목적은 연결구성을 단순화하여 강도를 높이고, 전기 신호의 손실 및 왜곡을 최소화하여 전기적 특성을 향상시킬 수 있도록 된 프로브핀을 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a probe pin capable of improving the electrical characteristics by increasing the strength by simplifying the connection structure and minimizing the loss and distortion of the electrical signal.

본 발명의 다른 목적은, 프로브핀을 안정적으로 지지함으로써 전기 신호의 안정적인 전달이 가능하도록 하는 핀블럭을 아울러 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide a pin block for stably supporting an electric signal by stably supporting a probe pin.

본 발명의 또 다른 목적은, 핀블럭을 구성하는 플레이트가 효과적으로 결합되어 전체적인 부피를 줄이면서 더욱 견고하고 안정성 있게 조립될 수 있는 핀블럭을 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide a pin block which can be assembled more firmly and stably while effectively reducing the overall volume of the plates constituting the pin block.

본 발명에 따른 프로브핀은 상기의 목적을 달성하기 위하여, 관 형태로 되고, 양 단부의 외주연이 내측으로 절곡되어 걸림부를 형성하는 하우징; 하단이 상기 하우징에 삽입되고, 일단에 제1걸림턱이 형성되어 상기 하우징의 걸림부에 의해 이탈되지 않도록 된 플런저; 상기 플런저의 상측 단부에서 판상으로 확대되고, 상단에는 두 빗변이 대칭되는 형태의 접속부가 형성된 가이드헤더; 상기 하우징의 내부에서 상기 플런저를 상향 탄발시키는 내부코일스프링; 및 상기 플런저의 외측에서 상기 하우징과 가이드헤더를 서로 탄발시키는 외부코일스프링; 을 포함하여 이루어지는 특징이 있다.In order to achieve the above object, a probe pin according to the present invention includes a housing having a tube shape, the outer circumferences of both ends being bent inward to form a latching part; A plunger having a lower end inserted into the housing and formed with a first stopping jaw at one end so as not to be released by the latching portion of the housing; A guide header having a connection part formed in a shape of a plate extending from an upper end of the plunger and having a symmetrical shape with two hypotenuses at an upper end thereof; An inner coil spring for elastically urging the plunger upward in the housing; And an outer coil spring for elastically grasping the housing and the guide header outside the plunger; And the like.

본 발명에 따른 프로브핀은 상기 하우징의 외면 일단에는 돌출된 밴드부가 더 형성되어 언더플레이트와의 조립 시 스토퍼기능을 하도록 된 특징이 있다.The probe pin according to the present invention has a protruded band portion at one end of the outer surface of the housing to function as a stopper when assembled with the under plate.

본 발명의 다른 특징은 상기 플런저의 외면에서 상기 제1걸림턱의 상측에는 제2걸림턱이 형성되어 상기 하우징의 상측 걸림턱이 두 걸림턱 사이에 있도록 위치 제한하여, 두 걸림턱간의 간격이 플런저의 행정거리가 되도록 된 것이다.Another feature of the present invention resides in that a second stopping jaw is formed on the upper side of the first stopping jaw on the outer surface of the plunger so that the upper stopping jaw of the housing is positioned between the two stopping jaws, Of the total length.

본 발명의 또 다른 특징은 상기 프로브핀을 수용하는 핀블럭으로서, 상기 프로브핀을 설치하는 핀블럭은 베이스플레이트와, 하측의 언더플레이트와, 상측의 아답터 및 중간의 서브플레이트를 포함하며, 상기 프로브핀의 하우징은 상기 언더플레이트의 통공에 삽입되고, 상기 베이스플레이트와 서브플레이트에는 상기 프로브핀의 가이드헤더가 통과할 수 있는 장방형의 안내구멍 및 지지구멍을 형성하고, 서브플레이트의 각 지지구멍에는 프로브핀의 하우징에 돌출 형성되는 밴드부가 통과할 수 있도록 중간에 원형의 확장홈이 더 형성되어 있는 것이다.In another aspect of the present invention, a pin block for receiving the probe pin includes a base plate, a lower under plate, an upper adapter and an intermediate sub-plate, The housing of the pin is inserted into the through hole of the under plate, and a rectangular guide hole and a support hole through which the guide header of the probe pin can pass are formed in the base plate and the sub plate, A circular expansion groove is further formed in the middle so that the band portion protruding from the housing of the pin can pass through.

본 발명의 또 다른 특징은 상기 베이스플레이트의 윗면에는 상기 아답터가 수납되는 아답터홈이 형성되고, 베이스플레이트의 밑면에는 공간부가 형성되어 상기 서브플레이트가 수납 설치되도록 된 것이다.According to another aspect of the present invention, an adapter groove for accommodating the adapter is formed on an upper surface of the base plate, and a space is formed on a bottom surface of the base plate to house the sub-plate.

본 발명에 따른 프로브핀은 상부플런저와 하우징의 단순한 이중 결합으로 이루어지고, 상부플런저와 하우징을 내부코일스프링 및 외부코일스프링에 의해 일정하고 안정된 접촉 상태를 유지함으로써 전기적 특성을 향상시킬 수 있는 효과를 제공한다.The probe pin according to the present invention comprises a simple double connection of an upper plunger and a housing, and the upper plunger and the housing are maintained in a constant and stable contact state by an inner coil spring and an outer coil spring, to provide.

본 발명에 따른 프로브핀은 상부플런저가 접속 단자와의 면 접촉이 이루어지도록 되고, 하우징의 하단 역시 회로기판에 면 접촉함으로써 더욱 안정적인 전기적 연결이 이루어질 수 있는 효과를 제공한다.The probe pin according to the present invention provides the effect that the upper plunger is brought into surface contact with the connection terminal and the lower end of the housing is also in surface contact with the circuit board so that a more stable electrical connection can be made.

본 발명에 따른 프로브핀의 가이드헤더는 판 형상으로 이루어지고, 프로브핀을 지지하는 플레이트에는 상기 가이드헤더가 회전됨이 없이 직선적인 상ㆍ하 이동이 가능하도록 장방향의 구멍을 형성함으로써 프로브핀의 안정적인 동작이 이루어질 수 있으며, 그에 따른 강도의 향상으로 수명이 연장될 수 있는 효과를 제공한다.The guide pin of the probe pin according to the present invention is in the form of a plate, and the plate supporting the probe pin is provided with a hole in the longitudinal direction so that the guide head can be linearly moved up and down without being rotated, Stable operation can be performed, and the lifetime can be prolonged by the improvement of the strength.

본 발명에 따른 핀블럭을 구성하는 각 플레이트는 상호 수납되는 형태로 조립되어 안정성있는 결합 상태를 이룸으로써 더욱 향상된 품질의 테스트가 이루어질 수 있는 효과를 제공한다.Each plate constituting the pin block according to the present invention is assembled in a state of being housed mutually to provide a stable coupling state, thereby providing an effect of further improving quality test.

도 1은 본 발명에 따른 핀블럭의 일례를 나타낸 사시도.
도 2는 상기 도 1의 핀블럭의 분리사시도.
도 3은 본 발명에 따른 핀블럭의 결합상태 단면도.
도 4는 본 발명에 따른 서브플레이트의 측단면도.
도 5는 본 발명에 따른 서브플레이트의 일부평면도.
도 6은 본 발명에 따른 프로브핀의 일례를 나타낸 사시도.
도 7은 상기 도 6의 단면도.
도 8은 본 발명에 따른 프로브핀의 작용상태를 나타낸 단면도.
도 9는 본 발명에 따른 프로브핀의 다른 실시예를 나타낸 사시도.1 is a perspective view showing an example of a pin block according to the present invention;
FIG. 2 is an exploded perspective view of the pin block of FIG. 1; FIG.
3 is a cross-sectional view of a pin block according to an embodiment of the present invention;
4 is a side cross-sectional view of a sub-plate according to the present invention.
5 is a partial plan view of a sub-plate according to the present invention.
6 is a perspective view showing an example of a probe pin according to the present invention.
Fig. 7 is a cross-sectional view of Fig. 6; Fig.
8 is a cross-sectional view illustrating an operation state of a probe pin according to the present invention.
9 is a perspective view showing another embodiment of the probe pin according to the present invention.

본 발명의 구체적인 내용을 첨부된 실시예로서의 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 이 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In this process, the thicknesses of the lines and the sizes of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of explanation.

또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로, 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 하여 내려져야 할 것이다.In addition, the terms described below are defined in consideration of the functions of the present invention, which may vary depending on the intention or custom of the user, the operator. Therefore, definitions of these terms should be made based on the contents throughout this specification.

도면에서 동일 명칭 부분에 대해서는 동일 부호를 적용하였다.In the drawings, the same reference numerals are applied to the same names.

도 1은 본 발명에 따른 핀블럭의 일례를 나타낸 사시도이고, 도 2는 상기 도 1의 핀블럭의 분리사시도이며, 도 3은 본 발명에 따른 핀블럭의 결합상태 단면도이고, 도 4는 본 발명에 따른 서브플레이트의 측단면도이며, 도 5는 본 발명에 따른 서브플레이트의 일부평면도로서 이를 참조하면, 본 발명이 적용되는 핀블럭(100)은 베이스플레이트(110)와, 하측의 언더플레이트(120)와, 상측의 아답터(140) 및 중간의 서브플레이트(130)를 포함하고 있으며, 이러한 핀블럭(100)에 복수의 프로브핀(200)이 설치되어 있다.1 is a perspective view showing an example of a pin block according to the present invention, FIG. 2 is an exploded perspective view of the pin block in FIG. 1, FIG. 3 is a sectional view of the pin block according to the present invention, FIG. 5 is a partial plan view of a sub-plate according to the present invention. Referring to FIG. 5, the pin block 100 to which the present invention is applied includes a base plate 110, a lower under plate 120 An upper adapter 140 and an intermediate sub-plate 130. A plurality of probe pins 200 are installed in the pin block 100. The probe pins 200 are provided on the upper surface of the pin block 100,

베이스플레이트(110)에는 상기 프로브핀(200)이 관통하는 복수의 안내구멍(112)이 일정간격으로 형성되어 있는 접속부(111)가 형성되어 있고, 이 접속부(111)의 주위에는 상기 아답터(140)가 삽입 설치되는 아답터홈(113)이 형성되어 있다.A plurality of guide holes 112 through which the probe pins 200 pass are formed at a predetermined interval in the base plate 110. Around the connection portions 111, Is formed in the adapter groove 113. The adapter groove 113 is formed in the adapter groove 113, as shown in Fig.

베이스플레이트(110)의 밑면에는 상기 접속부(111)의 하측으로 공간부(114)가 형성되어 있으며, 이 공간부(114)에 서브플레이트(130)가 수납 설치되고, 베이스플레이트(110)의 하측으로 언더플레이트(120)가 조립되어 상기 공간부(114)를 마감하게 된다.The base plate 110 is provided at its lower surface with a space 114 below the connection part 111. The sub plate 130 is accommodated in the space part 114 and the lower part of the base plate 110 The under plate 120 is assembled to close the space 114.

베이스플레이트(110)의 각 안내구멍(112)과 일치하는 위치의 서브플레이트(130)에는 역시 프로브핀(200)이 관통하는 지지구멍(131)이 형성되어 있으며, 이와 대응되는 언더플레이트(120)에는 통공(121)이 형성되어 있고, 상기 안내구멍(112)과 지지구멍(131)은 장방형으로 이루어져 있다.A support hole 131 through which the probe pin 200 penetrates is formed in the subplate 130 at a position coinciding with the guide holes 112 of the base plate 110, The guide hole 112 and the support hole 131 are formed in a rectangular shape.

상기 아답터(140)는 커넥터(150)와 접촉되는 것으로서 상기 안내구멍(112)에 대응되는 해당 위치는 개구되어 프로브핀(200)의 상단을 노출시킬 수 있도록 되어있다.The adapter 140 is in contact with the connector 150 and the corresponding position corresponding to the guide hole 112 is opened to expose the upper end of the probe pin 200.

이와같이 베이스플레이트(110)의 하측과 상측에 각각 서브플레이트(130)와 아답터(140)가 수납되는 형태로 조립됨으로써 전체적인 핀블럭(100)의 부피를 최소화할 수 있고, 더욱 견고한 조립 상태를 유지할 수 있게 된다.Since the sub-plate 130 and the adapter 140 are accommodated in the lower and upper sides of the base plate 110 in this way, the volume of the entire pin block 100 can be minimized, .

도 6 및 도 7에는 본 발명에 따른 프로브핀이 상세하게 도시되어 있는데, 도 6은 본 발명에 따른 프로브핀의 일례를 나타낸 사시도이고, 도 7은 상기 도 6의 단면도이다.6 and 7 show a probe pin according to the present invention in detail. FIG. 6 is a perspective view showing an example of a probe pin according to the present invention, and FIG. 7 is a sectional view of the probe pin according to the present invention.

프로브핀(200)은 관 형태로 이루어진 하우징(210)과, 상기 하우징(210)에 출몰 가능하게 끼워지는 플런저(220)로 이루어지고, 하우징(210)의 내부에 설치되는 내부코일스프링(230)과, 외부에 설치되는 외부코일스프링(240)이 구비된다.The probe pin 200 includes a tubular housing 210 and an inner coil spring 230 installed inside the housing 210. The probe coil 200 includes a plunger 220 inserted into the housing 210, And an external coil spring 240 installed on the outside.

프로브핀(200)을 구성하는 하우징과 플런저 및 각 스프링은 도전성 재질로 이루어진다.The housing, the plunger, and the spring constituting the probe pin 200 are made of a conductive material.

하우징(210)은 양 단부의 외주연이 내측으로 일부 절곡되어 각각 상측걸림부(211)와 하측걸림부(212)를 형성하며, 상기 언더플레이트(120)의 통공(121)에 삽입된다.The outer circumferences of both ends of the housing 210 are partially bent inward to form an upper latching portion 211 and a lower latching portion 212 and are inserted into the through holes 121 of the under plate 120.

언더플레이트(120)의 하측으로 돌출되는 하우징(210)은 전기적 신호를 검사하기 위한 회로기판에 접속된다.The housing 210 protruding downward from the under plate 120 is connected to a circuit board for inspecting electrical signals.

하우징(210)의 일단에는 밴드부(213)가 돌출 형성되어 있는데, 이 밴드부(213)는 하우징(210)이 언더플레이트(120)의 통공(121)에 끼워졌을 때 하측으로 이탈되지 않도록 하는 스토퍼 기능을 하게 되며, 상기 밴드부(213)가 언더플레이트(120)의 윗면에 걸렸을 때 하우징(210)의 하단부는 언더플레이트(120)의 하측으로 돌출되는 정도의 위치로 설정된다.A band portion 213 protrudes from one end of the housing 210. The band portion 213 has a stopper function to prevent the housing 210 from being detached downward when the housing 210 is inserted into the through hole 121 of the under plate 120 And the lower end of the housing 210 protrudes to the lower side of the under plate 120 when the band portion 213 is caught by the upper surface of the under plate 120.

플런저(220)는 봉 형상으로 이루어지면서 하단이 하우징(210)의 내부로 끼워지게 되고, 중간에는 제1걸림턱(221)이 형성되어 이 제1걸림턱(221)이 하우징(210)의 상측걸림부(211)에 걸려서 외측으로의 이탈을 방지하게 된다.The lower end of the plunger 220 is inserted into the housing 210 while the lower end of the plunger 220 is inserted into the housing 210. A first stopping protrusion 221 is formed at the center of the plunger 220, And is caught by the latching portion 211 to prevent its outward departure.

상기 제1걸림턱(221)과 일정 거리를 두고 상측에는 제2걸림턱(222)이 형성되어 있어서 제1걸림턱(221)과 제2걸림턱(222) 사이는 지름이 좁은 구간을 형성하게 되는데, 이에 따라 두 걸림턱 사이의 거리만큼 플런저(220)는 하우징(210)에 대하여 이동이 가능하게 되며, 곧 플런저(220)의 행정 제한거리가 된다.A second locking protrusion 222 is formed on the upper side with a predetermined distance from the first locking protrusion 221 so that a narrow section is formed between the first locking protrusion 221 and the second locking protrusion 222 Accordingly, the plunger 220 can move relative to the housing 210 by the distance between the two jaws, which is the stroke limit of the plunger 220.

플런저(220)의 상단부는 확장된 판 형상의 가이드헤더(223)를 형성하게 되고, 이 가이드헤더(223)의 상단부는 대칭의 빗변으로 형성되어 커넥터의 접속단자와 면 접촉에 의한 접속이 이루어지도록 되어 있다.The upper end of the plunger 220 forms an extended plate-shaped guide header 223, and the upper end of the guide header 223 is formed with a symmetrical hypotenuse so that connection is made by surface contact with the connection terminal of the connector .

이러한 가이드헤더(223)가 통과하기 위하여 상기 베이스플레이트(110)의 안내구멍(112)과 서브플레이트(130)의 지지구멍(131)은 장방형으로 이루어져서 가이드헤더(223)를 유동됨이 없이 안내하게 되고, 특히 서브플레이트(130)의 지지구멍(131)에는 중간 양측에 원형의 확장홈(132)이 더 형성되어 하우징(210)의 외면으로 돌출된 밴드부(213)가 통과할 수 있도록 되어 있다.The guide hole 112 of the base plate 110 and the support hole 131 of the sub plate 130 are formed in a rectangular shape so that the guide header 223 can be guided without flowing The support hole 131 of the sub plate 130 is formed with a circular enlarged groove 132 on both sides thereof so that the band 213 protruding from the outer surface of the housing 210 can pass through.

하우징(210)의 내부에는 내부코일스프링(230)이 설치되는데, 내부코일스프링(230)의 하단은 하우징(210)의 하측걸림부(212)에 지지되고, 상단은 플런저(220)의 하단부에 접촉되어 플런저(220)를 항상 상측으로 탄발시키게 된다.An inner coil spring 230 is installed inside the housing 210. The lower end of the inner coil spring 230 is supported by the lower engaging portion 212 of the housing 210 and the upper end is supported by the lower end of the plunger 220 Thereby always urging the plunger 220 upward.

여기에 더하여 플런저(220)의 외측으로는 외부코일스프링(240)이 설치되는데, 외부코일스프링(240)의 하단은 하우징(210)의 상단에 지지되고, 상단은 플런저(220)의 가이드헤더(223)에 접촉되어 결국 플런저(220)를 상측으로 탄발시키게 되어 내부코일스프링(230)과 더불어 이중의 탄성을 제공하게 된다.An outer coil spring 240 is installed on the outer side of the plunger 220. The lower end of the outer coil spring 240 is supported on the upper end of the housing 210, 223 to eventually abrade the plunger 220 so as to provide double elasticity together with the inner coil spring 230.

또한 외부코일스프링(240)은 플런저(220)와 하우징(210)의 접촉을 더욱 명확하게 유지시키면서 더욱 많은 접속점을 확보하게 되어 내부코일스프링(230)과 함께 전기적인 특성을 최대한 향상시키게 된다.Further, the external coil spring 240 secures the contact between the plunger 220 and the housing 210 more clearly while securing more connection points, thereby improving the electrical characteristics with the internal coil spring 230 as much as possible.

이러한 프로브핀(200)이 핀블럭(100)에 설치되면 하우징(210)의 하단부는 언더플레이트(120)의 하측으로 노출되고, 플런저(220)의 상단 접속헤드(224)는 아답터(140)의 상측으로 노출된다.When the probe pin 200 is installed in the pin block 100, the lower end of the housing 210 is exposed to the lower side of the under plate 120 and the upper connection head 224 of the plunger 220 is exposed to the lower side of the adapter 140 And is exposed upward.

도 8은 핀블럭(100)에 커넥터(150)가 접촉되어 프로브핀(200)이 커넥터(150)의 접속단자(151)에 접속된 상태를 보여주는 것으로서, 이와 같이 접속단자(151)에 대하여 프로브핀(200)의 접속헤드(224)가 양 빗변이 동시에 접촉되면서 면 접촉에 의한 안정된 전기신호의 연결이 이루어지게 되며, 이 접촉에 의해 프로브핀(200)은 내부코일스프링(230)과 외부코일스프링(240)의 탄성을 누르고 압입되면서 전기적인 접속이 이루어지게 된다.8 shows a state in which the connector 150 is in contact with the pin block 100 and the probe pin 200 is connected to the connection terminal 151 of the connector 150. In this manner, The probe pin 200 is connected to the inner coil spring 230 and the outer coil 230. The probe pin 200 is connected to the inner coil spring 230 and the outer coil 230. [ The elasticity of the spring 240 is pressed and the electrical connection is made.

또한 언더플레이트(120)에는 회로기판이 연결되어 하우징(210)의 단부가 역시 면 접촉으로 접속되며, 이렇게 플런저(220)의 접속헤드(224)와 하우징(210)의 단부가 전기적으로 접속되고, 내부코일스프링(230)과 외부코일스프링(240)은 커넥터(150)의 접속단자(151)와 회로기판이 접촉됨에 따른 하중에 의해 신축되며, 각 스프링은 플런저(220)와 하우징(210)의 전기적 접점으로써 작용하기도 한다.The circuit board is connected to the under plate 120 so that the end of the housing 210 is also in surface contact so that the connecting head 224 of the plunger 220 and the end of the housing 210 are electrically connected, The inner coil spring 230 and the outer coil spring 240 are expanded and contracted by a load resulting from the contact between the connection terminal 151 of the connector 150 and the circuit board, It also acts as an electrical contact.

여기서 본 발명에 따른 프로브핀(200)은 하우징(210)과 플런저(220)의 단순한 구성에 의해 전기 신호의 왜곡이나 손실을 최소화하고, 보다 안정적인 신호의 전달이 이루어질 수 있으며, 이중의 스프링에 의해 스프링의 마모나 탄성의 저하 등에 의한 불량률을 최소화할 수 있다.The probe pin 200 according to the present invention minimizes the distortion or loss of the electric signal by the simple structure of the housing 210 and the plunger 220 and can transmit a more stable signal, It is possible to minimize the defective rate due to the wear of the spring and the decrease in the elasticity.

또한 프로브핀(200)의 가이드헤더(223)는 판상으로 이루어지고, 이를 베이스플레이트(110)와 서브플레이트(130)의 장방형의 안내구멍(112)과 지지구멍(131)에 의해 유동됨이 없이 지지함으로써 프로브핀(200)의 안정된 작용을 구현할 수 있는 것이다.The guide header 223 of the probe pin 200 is formed in a plate shape and is guided by the guide hole 112 and the support hole 131 of the base plate 110 and the sub plate 130, The stable operation of the probe pin 200 can be realized.

한편, 커넥터의 접속단자는 필요에 따라 암ㆍ수 형태로 나뉘어질 수 있는데, 이에 맞도록 본 발명에 따른 프로브핀(200)의 접속헤드(224)는 도 9에서와 같이 요입부를 형성하여 구성될 수도 있다.9, the connection head 224 of the probe pin 200 according to the present invention may be formed by forming a recessed portion as shown in FIG. 9 It is possible.

이상에서 설명하고 도시한 바와 같은 실시예들은 본 발명의 권리범위를 한정하는 것이 아니라 본 발명의 청구범위에 제시된 구성요소의 예시적인 사항에 불과하며, 본 발명의 명세서 전반에 걸친 기술사상에 포함되고 청구범위의 구성요소에서 균등물로서 치환 가능한 구성요소를 포함하는 실시예는 본 발명의 권리범위에 포함될 수 있다. While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of illustration, Embodiments incorporating replaceable components as equivalents in the components of the claims may be included within the scope of the present invention.

100 ; 핀블럭 110 ; 베이스플레이트
111 ; 접속부 112 ; 안내구멍
113 ; 아답터홈 114 ; 공간부
120 ; 언더플레이트 121 ; 통공
130 ; 서브플레이트 131 ; 지지구멍
132 ; 확장홈 140 ; 아답터
150 ; 커넥터 151 ; 접속단자
200 ; 프로브핀 210 ; 하우징
211 ; 상측걸림부 212 ; 하측걸림부
213 ; 밴드부 220 ; 플런저
221 ; 제1걸림턱 222 ; 제2걸림턱
223 ; 가이드헤더 224 ; 접속헤드
230 ; 내부코일스프링 240 ; 외부코일스프링100; Pin block 110; Base plate
111; Connection 112; Guide hole
113; Adapter groove 114; Space portion
120; An under plate 121; Passage
130; A subplate 131; Support hole
132; An extension groove 140; adapter
150; A connector 151; Connection terminal
200; Probe pin 210; housing
211; An upper latching part 212; The lower engaging portion
213; Band portion 220; plunger
221; A first latching jaw 222; The second jaw
223; A guide header 224; Connection head
230; Inner coil spring 240; External coil spring

Claims (5)

관 형태로 되고, 양 단부의 외주연이 내측으로 절곡되어 걸림부를 형성하는 하우징과; 하단이 상기 하우징에 삽입되고, 일단에 제1걸림턱이 형성되어 상기 하우징의 걸림부에 의해 이탈되지 않도록 된 플런저와; 상기 플런저의 상측 단부에서 판상으로 확대되고, 상단에는 두 빗변이 대칭되는 형태의 접속헤드가 형성된 가이드헤더와; 상기 하우징의 내부에서 상기 플런저를 상향 탄발시키는 내부코일스프링; 및 상기 플런저의 외측에서 상기 하우징과 가이드헤더를 서로 탄발시키는 외부코일스프링; 을 포함하여 이루어지는 프로브핀을 구비하고,
상기 프로브핀을 설치하는 핀블럭은 베이스플레이트와, 하측의 언더플레이트와, 상측의 아답터 및 중간의 서브플레이트를 포함하며,
상기 프로브핀의 하우징은 상기 언더플레이트의 통공에 삽입되고, 상기 베이스플레이트와 서브플레이트에는 상기 프로브핀의 가이드헤더가 통과할 수 있는 장방형의 안내구멍과 지지구멍을 형성하고, 서브플레이트의 각 지지구멍에는 프로브핀의 하우징에 돌출 형성되는 밴드부가 통과할 수 있도록 중간에 원형의 확장홈이 더 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 특성이 우수한 프로브핀과 이를 포함하는 핀블럭.
A housing having a tubular shape, the outer periphery of both end portions being bent inward to form a latching portion; A plunger having a lower end inserted into the housing and having a first stopping protrusion formed at one end thereof and not being released by the latching portion of the housing; A guide header extending in a plate shape at an upper end of the plunger and having an upper end symmetrical with a hypothetical guide head; An inner coil spring for elastically urging the plunger upward in the housing; And an outer coil spring for elastically grasping the housing and the guide header outside the plunger; And a probe pin including the probe pin,
The pin block for mounting the probe pin includes a base plate, a lower under plate, an upper adapter, and an intermediate sub-plate,
Wherein the probe pin housing is inserted into the through hole of the under plate and the base plate and the sub plate are provided with a rectangular guide hole and a support hole through which the guide head of the probe pin can pass, Wherein a circular extension groove is further formed in the middle of the probe pin so that a band portion protruding from the probe pin can pass therethrough.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 베이스플레이트의 윗면에는 상기 아답터가 수납되는 아답터홈이 형성되고, 베이스플레이트의 밑면에는 공간부가 형성되어 상기 서브플레이트가 수납 설치되도록 된 것을 특징으로 하는 전기적 특성이 우수한 프로브핀과 이를 포함하는 핀블럭.
The method according to claim 1,
Wherein the base plate has an adapter groove for accommodating the adapter, and a space is formed in a bottom surface of the base plate to accommodate the sub-plate. The probe pin having excellent electrical characteristics, .
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