KR101971827B1 - Vacuum apparatus, vacuum system, device manufacturing apparatus, device manufacturing system and device manufacturing method - Google Patents

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캐논 톡키 가부시키가이샤
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Abstract

A vacuum apparatus of the present invention, which exhausts a plurality of processing spaces, includes: a plurality of pump units respectively exhausting any one of the plurality of processing spaces; and a plurality of pump operating units respectively connected to at least one of the plurality of pump units and operating the pump, wherein at least one of the plurality of pump units is connected to two or more pump operating units different from each other, and at least one of the pump operating units different from each other is connected to two or more pump units different from each other.

Description

진공 장치, 진공 시스템, 디바이스 제조 장치, 디바이스 제조 시스템 및 디바이스 제조 방법{VACUUM APPARATUS, VACUUM SYSTEM, DEVICE MANUFACTURING APPARATUS, DEVICE MANUFACTURING SYSTEM AND DEVICE MANUFACTURING METHOD} BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vacuum apparatus, a vacuum system, a device manufacturing apparatus, a device manufacturing system,

본 발명은 펌프와 펌프 작동부를 포함하는 진공 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a vacuum device including a pump and a pump operating part.

최근 평판 표시 장치로서 유기 EL 표시 장치가 각광을 받고 있다. 유기 EL 표시장치는 자발광 디스플레이로서, 응답 속도, 시야각, 박형화 등의 특성이 액정 패널 디스플레이보다 우수하여, 모니터, 텔레비전, 스마트폰으로 대표되는 각종 휴대 단말 등에서 기존의 액정 패널 디스플레이를 빠르게 대체하고 있다. 또한, 자동차용 디스플레이 등으로도 그 응용분야를 넓혀가고 있다. Recently, an organic EL display device has been spotlighted as a flat panel display device. The organic EL display device is a self-luminous display, and its characteristics such as response speed, viewing angle, and thinness are superior to liquid crystal panel display, and thus various types of portable terminals typified by monitors, televisions, and smart phones are rapidly replacing existing liquid crystal panel displays . In addition, automotive displays are expanding their applications.

유기 EL 표시장치의 소자는 2개의 마주보는 전극(캐소드 전극, 애노드 전극) 사이에 발광을 일으키는 유기물 층이 형성된 기본 구조를 가진다. 유기 EL 표시 장치 소자의 유기물층 및 전극 금속층은, 진공 챔버 내에서 화소 패턴이 형성된 마스크를 통해 기판에 증착물질을 증착시킴으로써 제조된다.The element of the organic EL display device has a basic structure in which an organic material layer causing light emission is formed between two opposing electrodes (cathode electrode, anode electrode). The organic layer and the electrode metal layer of the organic EL display device are manufactured by depositing a deposition material on a substrate through a mask in which pixel patterns are formed in a vacuum chamber.

유기 EL 표시 장치의 제조라인에서는, 유기물층 및 전극금속층의 증착이 이루어지는 성막실 이외에도, 버퍼실, 선회실, 반송실, 마스크 스톡 챔버 등의 챔버의 내부 공간을 진공상태로 유지하기 위해 펌프를 사용한다. 특히, 고진공상태를 유지하기 위해서는 크라이오펌부가 사용된다.In the manufacturing line of the organic EL display device, in addition to the deposition chamber in which the organic layer and the electrode metal layer are deposited, a pump is used to maintain the internal space of the chamber such as the buffer chamber, the vortex chamber, the transport chamber, and the mask stock chamber in a vacuum state . Particularly, in order to maintain a high vacuum state, a cryostump portion is used.

크라이오 펌프는, 극저온면에 챔버내의 기체 분자를 응축 또는 흡착시켜 포집함으로써, 배기하는 펌프로서, 극저온면을 유지하기 위한 냉동기를 포함한다. 크라이오 펌프의 냉동기에는 냉매를 압축시키기 위한 컴프레서가 접속된다.The cryo pump includes a refrigerator for holding a cryogenic surface, as a pump for discharging gas by condensing or adsorbing gas molecules in the chamber on a cryogenic surface. A compressor for compressing the refrigerant is connected to the refrigerator of the cryopump.

특허문헌 1(일본 특허공개공보 제2000-9036호)에는, 복수의 크라이오 펌프가 하나의 컴프레서에 접속되는 기술이 개시되어 있으나, 컴프레서가 고장난 경우에, 모든 크라이오 펌프가 기능하지 않게 되어, 챔버내의 배기를 할 수 없게 되는 문제가 있었다. Patent Document 1 (Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) No. 2000-9036) discloses a technique in which a plurality of cryo pumps are connected to a single compressor. However, when a compressor fails, all of the cryo pumps do not function, There is a problem that the exhaust in the chamber can not be performed.

본 발명은, 이러한 문제를 해결 하기 위한 것으로서, 처리공간 내의 배기를 안정되게 행하기 위한 진공장치, 진공 시스템, 이를 사용한 디바이스 제조 장치, 디바이스 제조 시스템 및 디바이스 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a vacuum apparatus, a vacuum system, a device manufacturing apparatus, a device manufacturing system, and a device manufacturing method for stably exhausting a processing space.

본 발명의 제1 양태에 따른 진공장치는, 복수의 처리 공간을 배기하기 위한 진공 장치로서, 각각이 상기 복수의 처리 공간 중 어느 하나를 배기하는 복수의 펌프부와, 각각이 상기 복수의 펌프부 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부를 포함하며, 상기 복수의 펌프부 중 적어도 하나는 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부에 접속되며, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 적어도 하나는 서로 다른 2개 이상의 펌프부에 접속된다. A vacuum apparatus according to a first aspect of the present invention is a vacuum apparatus for evacuating a plurality of processing spaces, each of which includes a plurality of pump units for exhausting any one of the plurality of processing spaces, Wherein at least one of the plurality of pump units is connected to at least two pump operating units, and at least one of the two or more pump operating units is connected to at least one of the pump operating units, At least one of which is connected to two or more different pump units.

본 발명의 제2 양태에 따른 진공장치는, 복수의 처리 공간을 배기하기 위한 진공장치로서, 각각이 상기 복수의 처리 공간 중 어느 하나를 배기하는 복수의 펌프와, 각각이 상기 복수의 펌프 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부를 포함하고, 상기 복수의 처리 공간 중 제1 처리 공간을 배기하기 위한 펌프는, 제1 펌프와 제2 펌프를 포함하고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 어느 하나는 상기 복수의 펌프 작동부 중 제1 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 다른 하나는, 제2 펌프 작동부에 접속되며, 상기 복수의 처리 공간 중 제2 처리 공간을 배기하기 위한 펌프는 제3 펌프를 포함하며, 상기 제3 펌프는 상기 제2 펌프 작동부에 접속된다. A vacuum apparatus according to a second aspect of the present invention is a vacuum apparatus for evacuating a plurality of processing spaces, comprising: a plurality of pumps, each of which exhausts any one of the plurality of processing spaces; Wherein the pump for discharging the first processing space among the plurality of processing spaces includes a first pump and a second pump, and the first pump and the second pump are connected to each other, Wherein one of the first and second pumps is connected to a first pump operating portion of the plurality of pump operating portions, the other one of the first pump and the second pump is connected to a second pump operating portion, The pump for exhausting the second processing space out of the processing space includes a third pump, and the third pump is connected to the second pump operating portion.

본 발명의 제3 양태에 따른 진공장치는, 복수의 처리 공간을 배기하기 위한 진공장치로서, 각각이 상기 복수의 처리 공간 중 어느 하나를 배기하는 복수의 펌프와, 각각이 상기 복수의 펌프 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부를 포함하고, 상기 복수의 처리 공간 중 제1 처리 공간을 배기하기 위한 펌프는, 제1 펌프와 제2 펌프를 포함하고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 어느 하나는 상기 복수의 펌프 작동부 중 제1 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 다른 하나는 제2 펌프 작동부에 접속되며, 상기 복수의 처리 공간 중 제2 처리 공간을 배기하기 위한 펌프는 제3 펌프 및 제4 펌프를 포함하며, 상기 제3 펌프 및 상기 제4 펌프 중 어느 하나는 상기 제2 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제3 펌프 및 상기 제4 펌프 중 다른 하나는 제3 펌프 작동부에 접속된다.A vacuum apparatus according to a third aspect of the present invention is a vacuum apparatus for evacuating a plurality of processing spaces, comprising: a plurality of pumps each for exhausting any one of the plurality of processing spaces; Wherein the pump for discharging the first processing space among the plurality of processing spaces includes a first pump and a second pump, and the first pump and the second pump are connected to each other, Wherein one of the first and second pumps is connected to a first pump operating portion of the plurality of pump operating portions, the other one of the first pump and the second pump is connected to a second pump operating portion, Wherein one of the third pump and the fourth pump is connected to the second pump operating portion, the third pump and the fourth pump are connected to each other, And And the other of the fourth pump is connected to the third pump operating portion.

본 발명의 제4 양태에 따른 진공 시스템은, 복수의 처리공간을 배기하기 위한 진공 시스템으로서, 본 발명의 제1 양태 내지 제3 양태에 따른 진공 장치와, 상기 진공 장치를 제어하기 위한 제어부를 포함한다.A vacuum system according to a fourth aspect of the present invention is a vacuum system for evacuating a plurality of processing spaces, including a vacuum apparatus according to the first to third aspects of the present invention and a control unit for controlling the vacuum apparatus do.

본 발명의 제5 양태에 따른 디바이스 제조 장치는, 복수의 챔버와, 각각이 상기 복수의 챔버 중 어느 하나에 설치되는 복수의 펌프부와, 각각이 상기 복수의 펌프부 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부를 포함하며, 상기 복수의 펌프부 중 적어도 하나는 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부에 접속되며, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 적어도 하나는, 서로 다른 2개 이상의 펌프부에 접속된다.A device manufacturing apparatus according to a fifth aspect of the present invention includes a plurality of chambers, a plurality of pump units, each of which is provided in any one of the chambers, and a plurality of pump units, each of which is connected to at least one of the plurality of pump units, Wherein at least one of the plurality of pump units is connected to two or more pump operation units that are different from each other, and at least one of the two or more pump operation units is different from the other pump operation units Or more pump sections.

본 발명의 제6 양태에 따른 디바이스 제조 장치는, 복수의 챔버와, 각각이 상기 복수의 챔버 중 어느 하나에 설치되는 복수의 펌프와, 각각이 상기 복수의 펌프 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부를 포함하고, 상기 복수의 챔버 중 제1 챔버에 설치된 펌프는, 제1 펌프와 제2 펌프를 포함하고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 어느 하나는 상기 복수의 펌프 작동부 중 제1 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 다른 하나는 제2 펌프 작동부에 접속되며, 상기 복수의 챔버 중 제2 챔버에 설치된 펌프는 제3 펌프를 포함하며, 상기 제3 펌프는 상기 제2 펌프 작동부에 접속된다.A device manufacturing apparatus according to a sixth aspect of the present invention comprises a plurality of chambers, a plurality of pumps each provided in any one of the plurality of chambers, and a plurality of pumps each connected to at least one of the plurality of pumps, Wherein a pump installed in a first chamber of the plurality of chambers includes a first pump and a second pump, wherein any one of the first pump and the second pump includes a plurality of And the other of the first pump and the second pump is connected to the second pump operating portion, and the pump installed in the second chamber of the plurality of chambers is connected to the third pump operating portion of the pump operating portion, And the third pump is connected to the second pump operating portion.

본 발명의 제7 양태에 따른 디바이스 제조 장치는, 복수의 챔버와, 각각이 상기 복수의 챔버 중 어느 하나에 설치되는 복수의 펌프와, 각각이 상기 복수의 펌프 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부를 포함하고, 상기 복수의 챔버 중 제1 챔버에 설치된 펌프는, 제1 펌프와 제2 펌프를 포함하고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 어느 하나는 상기 복수의 펌프 작동부 중 제1 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 다른 하나는 제2 펌프 작동부에 접속되며, 상기 복수의 챔버 중 제2 챔버에 설치되는 펌프는 제3 펌프 및 제4 펌프를 포함하며, 상기 제3 펌프 및 상기 제4 펌프 중 어느 하나는 상기 제2 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제3 펌프 및 상기 제4 펌프 중 다른 하나는 제3 펌프 작동부에 접속된다.A device manufacturing apparatus according to a seventh aspect of the present invention is a device manufacturing apparatus comprising: a plurality of chambers; a plurality of pumps, each of which is provided in any one of the plurality of chambers; and each of the chambers is connected to at least one of the plurality of pumps, Wherein a pump installed in a first chamber of the plurality of chambers includes a first pump and a second pump, wherein any one of the first pump and the second pump includes a plurality of And the other of the first pump and the second pump is connected to the second pump operating portion and the pump installed in the second chamber of the plurality of chambers is connected to the third pump operating portion of the pump operating portion, Wherein one of the third pump and the fourth pump is connected to the second pump operating portion and the other one of the third pump and the fourth pump is connected to the third pump operating portion, Respectively.

본 발명의 제8 양태에 따른 디바이스 제조 시스템은, 본 발명의 제5 양태 내지 제7 양태 중 어느 하나에 따른 디바이스 제조 장치와, 상기 디바이스 제조 장치를 제어하기 위한 제어부를 포함한다. A device manufacturing system according to an eighth aspect of the present invention includes a device manufacturing apparatus according to any one of the fifth to seventh aspects of the present invention and a control section for controlling the device manufacturing apparatus.

본 발명의 제9 양태에 따른 디바이스의 제조 방법은, 본 발명의 제8 양태에 따른 디바이스 제조 시스템을 준비하는 단계, 상기 디바이스 제조 시스템에 포함되는 복수의 챔버 중 어느 하나의 챔버에 설치된 복수의 펌프에 서로 다른 2개의 펌프 작동부로부터 고압 냉매를 공급하는 단계, 상기 복수의 펌프에서 고압 냉매를 팽창시켜 상기 하나의 챔버를 진공배기하는 단계, 상기 하나의 챔버내의 압력을 측정하는 단계, 상기 서로 다른 2개의 펌프 작동부로부터 상기 복수의 펌프로 공급되는 냉매의 압력을 측정하는 단계, 및 상기 서로 다른 2개의 펌프 작동부 중 어느 하나의 펌프 작동부로부터 공급되는 냉매의 압력이 소정범위를 벗어나는 경우, 상기 서로 다른 2개의 펌프 작동부 중 다른 하나의 펌프 작동부의 출력을 조정함으로써, 상기 복수의 펌프가 접속된 상기 하나의 챔버내의 압력을 소정 범위내로 유지하도록 제어하는 단계를 포함한다. A manufacturing method of a device according to a ninth aspect of the present invention includes the steps of preparing a device manufacturing system according to the eighth aspect of the present invention, a step of preparing a plurality of pumps provided in any one of a plurality of chambers included in the device manufacturing system Comprising the steps of: supplying high-pressure refrigerant from two different pump actuating parts to a plurality of pumps, expanding the high-pressure refrigerant in the plurality of pumps to evacuate the one chamber, measuring the pressure in the one chamber, Measuring a pressure of the refrigerant supplied from the two pump operating portions to the plurality of pumps; and, when the pressure of the refrigerant supplied from one of the two pump operating portions is out of a predetermined range, By adjusting the output of the other pump operation part of the two different pump operation parts, And a step of controlling so as to maintain the pressure in the inherited one chamber within a predetermined range.

본 발명에 의하면, 처리공간 내의 배기를 안정되게 행할 수 있다. According to the present invention, the exhaust in the processing space can be stably performed.

도 1은 유기 EL 표시장치의 제조라인의 일부의 모식도이다
도 2는 본 발명의 진공장치의 모식도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 진공시스템의 접속관계를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 진공시스템의 접속관계를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 진공시스템의 접속관계를 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 제4 실시예에 따른 디바이스 제조 시스템을 나타내는 도면이다.
1 is a schematic view of a part of a manufacturing line of an organic EL display device
2 is a schematic diagram of a vacuum apparatus according to the present invention.
3 is a view showing the connection relationship of the vacuum system according to the first embodiment of the present invention.
4 is a view showing a connection relationship of a vacuum system according to a second embodiment of the present invention.
5 is a view showing a connection relationship of a vacuum system according to a third embodiment of the present invention.
6 is a diagram showing a device manufacturing system according to a fourth embodiment of the present invention.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시형태 및 실시예를 설명한다. 다만, 이하의 실시형태 및 실시예는 본 발명의 바람직한 구성을 예시적으로 나타내는 것이며, 본 발명의 범위는 이들 구성에 한정되지 않는다. 또한, 이하의 설명에 있어서, 장치의 하드웨어 구성 및 소프트웨어 구성, 처리 흐름, 제조조건, 크기, 재질, 형상 등은, 특히 특정적인 기재가 없는 한, 본 발명의 범위를 이것으로 한정하려는 취지인 것은 아니다. Hereinafter, preferred embodiments and examples of the present invention will be described with reference to the drawings. However, the following embodiments and examples are illustrative of preferred configurations of the present invention, and the scope of the present invention is not limited to these configurations. In the following description, the hardware configuration, the software configuration, the process flow, the manufacturing conditions, the size, the material, the shape, and the like of the apparatus are intended to limit the scope of the present invention unless otherwise specified no.

<전자 디바이스 제조 라인><Electronic Device Manufacturing Line>

도 1은 전자 디바이스의 제조 라인의 구성의 일부를 모식적으로 도시한 평면도이다. 1 is a plan view schematically showing a part of the configuration of a manufacturing line of an electronic device.

도 1의 제조 라인은, 예를 들면, 스마트폰 용의 유기 EL 표시장치의 표시 패널의 제조에 사용된다. 스마트폰 용의 표시 패널의 경우, 예를 들면, 풀사이즈(약 1500 ㎜ × 약 1850 ㎜) 또는 하프컷 사이즈(약 1500 ㎜ × 약 925 ㎜) 의 기판에 유기 EL의 성막을 행한 후, 해당 기판을 잘라내어 복수의 작은 사이즈의 패널로 제작한다. The manufacturing line of Fig. 1 is used, for example, in the manufacture of a display panel of an organic EL display device for a smart phone. In the case of a display panel for a smart phone, for example, organic EL is formed on a substrate of a full size (about 1500 mm x about 1850 mm) or a half-cut size (about 1500 mm x about 925 mm) Are cut out to produce a plurality of panels of small size.

유기 EL 표시 장치의 제조 라인의 성막 클러스터(1)는, 일반적으로 도 1에 도시한 바와 같이, 기판(10)에 대한 처리(예컨대, 성막)가 행해지는 복수의 성막실(11)과, 사용전후의 마스크가 수납되는 복수의 마스크 스톡 챔버(12)와, 그 중앙에 배치되는 반송실(13)을 구비한다. As shown in Fig. 1, the film-forming cluster 1 of the production line of the organic EL display device generally comprises a plurality of film-forming chambers 11 in which processing (for example, film-forming) A plurality of mask stock chambers 12 in which front and rear masks are accommodated, and a transport chamber 13 disposed at the center thereof.

반송실(13) 내에는, 복수의 성막실(11)간에 기판(10)을 반송하고, 성막실(11)과 마스크 스톡 챔버(12)간에 마스크를 반송하는 반송 로봇(14)이 설치된다. 반송 로봇(14)은, 예를 들면, 다관절 아암에, 기판(10)을 보유지지하는 로봇 핸드가 장착된 구조를 갖는 로봇일 수 있다. A transfer robot 14 for transferring a substrate 10 between a plurality of film deposition chambers 11 and transferring a mask between the deposition chamber 11 and the mask stock chamber 12 is provided in the transfer chamber 13. [ The carrying robot 14 may be, for example, a robot having a structure in which a robot hand for holding a substrate 10 is mounted on a multi-joint arm.

각 성막실(11)에는 성막 장치(증착 장치라고도 부름)가 설치된다. 성막장치에서는, 증발원에 수납된 증착재료가 히터에 의해 가열 및 증발되어, 마스크를 통해 기판상에 증착된다. 반송 로봇(14)과의 기판(10)의 주고 받음, 기판(10)과 마스크의 상대 위치의 조정(얼라인먼트), 마스크 상으로의 기판(10)의 고정, 성막(증착) 등의 일련의 성막 프로세스는, 성막 장치에 의해 자동적으로 행해진다. 성막 장치는 두 개의 스테이지를 가지는 듀얼 스테이지(Dual Stage) 타입일 수 있다. 듀얼 스테이지 타입의 성막장치에서는, 하나의 스테이지에 반입된 기판(10)에 대해 성막이 진행되는 동안, 다른 스테이지에 반입된 다른 기판(10)에 대해서 얼라인먼트가 행해진다.Each deposition chamber 11 is provided with a deposition apparatus (also referred to as a deposition apparatus). In the film forming apparatus, the evaporation material stored in the evaporation source is heated and evaporated by the heater, and is deposited on the substrate through the mask. A series of films such as transfer and reception of the substrate 10 with the transfer robot 14, alignment of the relative positions of the substrate 10 and the mask, fixing of the substrate 10 onto the mask, The process is automatically performed by the film forming apparatus. The deposition apparatus may be a dual stage type having two stages. In the film deposition apparatus of the dual stage type, alignment is performed with respect to another substrate 10 brought into another stage while the film formation progresses on the substrate 10 carried in one stage.

마스크 스톡 챔버(12)에는 성막실(11)에서의 성막 공정에 사용될 새로운 마스크 및 사용이 끝난 마스크가 두 개의 카세트에 나뉘어져 수납된다. 반송 로봇(14)은, 사용이 끝난 마스크를 성막실(11)로부터 마스크 스톡 챔버(12)의 카세트로 반송하며, 마스크 스톡 챔버(12)의 다른 카세트에 수납된 새로운 마스크를 성막실(11)로 반송한다.In the mask stock chamber 12, a new mask and a used mask to be used in the film forming process in the film forming chamber 11 are stored in two cassettes. The transfer robot 14 transfers the used mask from the film formation chamber 11 to the cassette of the mask stock chamber 12 and transfers a new mask stored in another cassette of the mask stock chamber 12 to the deposition chamber 11, .

유기 EL 표시 장치의 제조라인의 성막 클러스터(1)에는 기판(10)의 흐름방향으로 상류측으로부터의 기판(10)을 성막 클러스터(1)로 전달하는 패스실(15)과, 해당 성막 클러스터(1)에서 성막처리가 완료된 기판(10)을 하류측의 다른 성막 클러스터로 전달하기 위한 버퍼실(16)이 연결된다. 반송실(13)의 반송 로봇(14)은 상류측의 패스실(15)로부터 기판(10)을 받아서, 해당 성막 클러스터(1)내의 성막실(11)중 하나(예컨대, 성막실(11a))로 반송한다. 또한, 반송 로봇(14)은 해당 성막 클러스터(1)에서의 성막처리가 완료된 기판(10)을 복수의 성막실(11) 중 하나(예컨대, 성막실(11b))로부터 받아서, 하류측에 연결된 버퍼실(16)로 반송한다.The film formation cluster 1 of the production line of the organic EL display device is provided with a pass room 15 for transferring the substrate 10 from the upstream side in the flow direction of the substrate 10 to the film formation cluster 1, 1 is connected to the buffer chamber 16 for transferring the substrate 10 on which the film formation process has been completed to another film formation cluster on the downstream side. The transfer robot 14 of the transfer chamber 13 receives the substrate 10 from the pass space 15 on the upstream side and transfers the substrate 10 to one of the deposition chambers 11 (for example, the deposition chamber 11a) ). The transport robot 14 receives the substrate 10 on which the film formation process in the film formation cluster 1 has been completed from one of the plurality of the film formation chambers 11 (for example, the film formation chamber 11b) To the buffer chamber (16).

버퍼실(16)과 패스실(15) 사이에는 기판의 방향을 바꾸어 주는 선회실(17)이 설치된다. 이를 통해, 상류측 성막 클러스터와 하류측 성막 클러스터에서 기판의 방향이 동일하게 되어 기판 처리가 용이해 진다. A vortex chamber 17 is provided between the buffer chamber 16 and the pass chamber 15 for changing the direction of the substrate. As a result, the orientation of the substrate in the upstream-side film-forming clusters and the downstream-side film-forming clusters becomes the same, facilitating the substrate processing.

유기 EL 표시 장치의 제조 라인을 구성하는 성막실(11), 마스크 스톡 챔버(12), 반송실(13), 버퍼실(16), 선회실(17) 등의 챔버는 유기 EL 표시 패널의 제조 과정 동안, 고진공 상태로 유지된다. 이를 위해 이들 챔버에는 해당 챔버내의 공간을 고진공 배기하기 위한 펌프, 특히, 크라이오 펌프가 설치된다. 패스실(15)에도 진공배기용 펌프(예컨대, 후술하는 러프 배기용 펌프)가 설치되나, 고진공 배기용의 크라이오 펌프는 설치될 수도, 설치되지 않을 수도 있다. Chambers such as the deposition chamber 11, the mask stock chamber 12, the transfer chamber 13, the buffer chamber 16, the vortex chamber 17 and the like constituting the production line of the organic EL display device are fabricated in the manufacturing of the organic EL display panel During the process, it remains in a high vacuum state. To this end, a pump, particularly a cryo pump, is installed in these chambers for evacuating the space in the chamber. A vacuum exhaust pump (for example, a rough exhaust pump described later) is also provided in the pass room 15, but a cryo pump for high vacuum exhaust may or may not be provided.

도 1을 참조하여, 본 발명의 유기 EL 표시장치의 제조라인의 구성에 대해서 설명하였으나, 본 발명의 디바이스 제조 라인의 구성은 이에 한정되지 않으며, 다른 종류의 챔버를 가질 수도 있으며, 챔버간의 배치가 달라질 수도 있다.1, the structure of the manufacturing line of the organic EL display device of the present invention has been described. However, the structure of the device manufacturing line of the present invention is not limited to this, and it is also possible to have different kinds of chambers, It may be different.

이하, 성막실(11)을 예로 들어, 성막실(11)을 진공 배기하기 위한 진공 장치 및 진공 시스템의 구성에 대하여 설명한다.Hereinafter, the structure of a vacuum device and a vacuum system for evacuating the film formation chamber 11, taking the film formation chamber 11 as an example, will be described.

<진공장치 및 진공시스템><Vacuum system and vacuum system>

도 2는 진공장치(또는 진공 시스템)가 설치된 성막실(11)을 모식적으로 도시한다. 2 schematically shows a deposition chamber 11 provided with a vacuum apparatus (or a vacuum system).

성막실(11) 내부의 하부에는 증발원(111)이 설치되고, 상부에는 기판(10)을 보유지지하기 위한 기판 홀더(112)와 마스크(18)를 보유지지하기 위한 마스크 홀더(113)가 설치된다. 또한, 반송실(13)과 면한 성막실(11)의 측벽에는 기판(10) 또는 마스크(18)가 반출입되는 반출입용 밸브(114)가 설치된다.A substrate holder 112 for holding the substrate 10 and a mask holder 113 for holding the mask 18 are installed on an upper portion of the deposition chamber 11 do. A loading / unloading valve 114 for loading / unloading the substrate 10 or the mask 18 is provided on a sidewall of the deposition chamber 11 facing the transfer chamber 13.

성막실(11)에는 성막실(11)내의 처리 공간을 진공배기하기 위한 진공시스템이 설치된다. 본 발명의 진공시스템은 진공장치와 제어부(24)를 포함하며, 진공장치는 성막실(11)에 접속되어 성막실(11)의 내부공간을 고진공 배기(예컨대, ~10-8Torr) 하기 위한 크라이오 펌프(20)와, 성막실(11)의 내부공간을 저진공 배기(예컨대, 10-3Torr) 하기 위한 러프 배기용 펌프(21)와, 크라이오 펌프(20)에 접속된 펌프 작동부(22)를 포함한다. In the film formation chamber 11, a vacuum system for evacuating the processing space in the film formation chamber 11 is provided. The vacuum system of the present invention includes a vacuum device and a control unit 24. The vacuum device is connected to the film formation chamber 11 to perform a high vacuum discharge (e.g., 10 -8 Torr) A cryo pump 20 and a rough exhaust pump 21 for performing low vacuum evacuation (for example, 10 -3 Torr) of the internal space of the deposition chamber 11 and a pump operation (22).

크라이오 펌프(20)는, 성막실(11)의 챔버 저면에 설치된 배기구(115)와 고진공 배기용 밸브(116)를 게재하여 성막실(11)에 접속된다. The cryopump 20 is connected to the deposition chamber 11 by placing an exhaust port 115 provided on the bottom surface of the chamber of the deposition chamber 11 and a valve for high vacuum exhaustion 116.

크라이오 펌프(20)는, 극저온면에 챔버내의 기체 분자를 응축 또는 흡착시켜 포집함으로써, 성막실(11)의 내부 공간을 고진공으로 배기하는 펌프로서, 극저온판(크라이오 패널이라고도 부름)과 극저온판의 온도를 낮추기 위한 냉동기(미도시)를 포함한다. 극저온판의 표면에는 응축된 기체나 수분을 포집하기 위한 다공성층(미도시)이 형성된다. 크라이오 펌프(20)의 냉동기는 고압으로 압축된 냉매(예컨대, 헬륨)를 저압으로 팽창시킴으로써 극저온판의 온도를 소정의 온도로 낮춘다. The cryo pump 20 is a pump for exhausting the internal space of the film formation chamber 11 to a high vacuum by condensing or adsorbing gas molecules in the chamber on a cryogenic temperature surface. The cryo pump 20 includes a cryogenic plate (also called a cryo panel) And a freezer (not shown) for lowering the temperature of the plate. A porous layer (not shown) is formed on the surface of the cryogenic plate to collect the condensed gas and moisture. The refrigerator of the cryo pump 20 lowers the temperature of the cryogenic plate to a predetermined temperature by expanding the refrigerant (for example, helium) compressed at a high pressure to a low pressure.

성막실(11)에는 복수의(예컨대, 2개의) 크라이오 펌프(20)가 설치된다. 이에 의해, 진공 배기 속도를 높여 공정시간(Tact)를 줄일 수 있고, 성막실(11)에 접속된 하나의 크라이오 펌프(20)에 의한 진공배기가 제대로 이루어지지 못하는 경우라도, 다른 크라이오 펌프(20)에 의해 성막실(11)내를 고진공상태로 유지할 수 있다. A plurality of (for example, two) cryo pumps 20 are provided in the film formation chamber 11. [ As a result, the processing time Tact can be reduced by increasing the vacuum evacuation speed, and even when vacuum evacuation by one cryopump 20 connected to the deposition chamber 11 is not properly performed, The inside of the deposition chamber 11 can be kept in a high vacuum state by the vacuum pump 20.

펌프 작동부(22)는, 크라이오 펌프(20)의 냉매로 사용되는 헬륨을 높은 압력으로 압축시켜 고압 헬륨 냉매를 크라이오 펌프(20)의 냉동기에 제공한다. 펌프 작동부(22)에서 고압으로 압축된 냉매 및 크라이오 펌프(20)의 냉동기에서 저압으로 팽창된 냉매는 냉매 배관(23)을 통해 펌프 작동부(22)와 크라이오 펌프(20) 사이를 흐른다. 냉매 배관(23)에는, 냉매의 압력을 감지하기 위한 냉매 압력 센서(25)가 설치된다. 이를 통해, 후술하는 바와 같이, 펌프 작동부(22)가 충분한 압력으로 냉매를 압축하는지, 즉, 펌프 작동부(22)의 정상 작동 여부를 판단할 수 있다.The pump operating portion 22 compresses the helium used as the refrigerant of the cryopump 20 to a high pressure to provide the high pressure helium refrigerant to the freezer of the cryopump 20. [ The refrigerant compressed at the high pressure in the pump operating portion 22 and the refrigerant expanded at the low pressure in the refrigerator of the cryo pump 20 are discharged through the refrigerant piping 23 between the pump operating portion 22 and the cryo pump 20 Flows. The refrigerant pipe (23) is provided with a refrigerant pressure sensor (25) for sensing the pressure of the refrigerant. This allows the pump operating portion 22 to compress the refrigerant with a sufficient pressure, that is, to determine whether the pump operating portion 22 is operating normally, as described later.

러프 배기용 펌프(21)는, 성막실(11)의 챔버벽에 설치된 러프 배기용 밸브(118)를 통해, 성막실(11)에 접속된다. 러프 배기용 펌프(21)는, 크라이오 펌프(20)가 성막실(11)의 내부 공간을 고진공 상태로 배기하기 전에, 성막실(11)의 내부공간을 저진공 상태(예컨대, ~10-3 Torr)로 배기한다. 이에 의해, 크라이오 펌프(20)에 의한 고진공배기를 행할 수 있다. 러프 배기용 펌프(21)는 통상적으로 펌프 작동부가 필요없는 로터리 펌프 등을 사용할 수 있으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니다.The rough exhaust pump 21 is connected to the deposition chamber 11 through a rough exhaust valve 118 provided in the chamber wall of the deposition chamber 11. It pumps for rough exhaust 21, a cryo-pump 20 is prior to evacuating the inner space of the deposition chamber 11 at a high vacuum state, the interior space of the chamber 11, a low vacuum (e.g., 10 - 3 Torr). As a result, high vacuum exhausting by the cryopump 20 can be performed. The rough exhaust pump 21 may be a rotary pump or the like which does not normally require a pump operating portion, but the present invention is not limited thereto.

제어부(24)는 진공장치의 진공배기 동작을 제어한다. 제어부(24)는 성막실(11)의 진공챔버내에 설치된 챔버 압력 센서(117)에 의해 측정된 챔버내의 진공도, 냉매 배관(23)에 설치된 냉매 압력 센서(25)에 의해 감지된 냉매 압력, 크라이오 펌프(20)의 냉동기에 설치된 온도 센서에 의해 감지된 극저온판의 온도 등에 기초하여, 크라이오 펌프(20), 이에 접속된 펌프 작동부(22) 및 러프 배기용 펌프(21) 등의 동작을 제어한다. 또한, 제어부(24)는 펌프 작동부(22)내에 포함된 구성으로 하여도 좋다.The control unit 24 controls the vacuum exhaust operation of the vacuum apparatus. The control unit 24 controls the degree of vacuum in the chamber measured by the chamber pressure sensor 117 provided in the vacuum chamber of the deposition chamber 11, the refrigerant pressure sensed by the refrigerant pressure sensor 25 provided in the refrigerant pipe 23, The operation of the cryopump 20, the pump operating portion 22 connected to the cryopump 20, and the rough exhaust pump 21, etc., based on the temperature of the cryogenic plate detected by the temperature sensor installed in the freezer of the ophthalmologic pump 20, . Further, the control unit 24 may be included in the pump operating unit 22.

이하, 본 발명의 진공장치를 사용하여 성막실(11)의 내부공간을 진공배기하는 과정을 설명한다.Hereinafter, a process of vacuum evacuating the inner space of the deposition chamber 11 using the vacuum apparatus of the present invention will be described.

진공배기가 개시되면, 성막실(11)의 내부공간을 저진공상태로 만들기 위해 러프 배기용 펌프(21)가 작동한다. 즉, 성막실(11)의 챔버벽에 설치된 러프 배기용 밸브(118)가 열리고, 러프 배기용 펌프(21)가 작동하여 성막실(11)내를 소정의 저진공 상태로 배기한다. When the vacuum evacuation is started, the rough evacuation pump 21 is operated to make the internal space of the deposition chamber 11 a low vacuum state. That is, the rough discharge valve 118 provided in the chamber wall of the deposition chamber 11 is opened, and the rough discharge pump 21 is operated to discharge the inside of the deposition chamber 11 to a predetermined low vacuum state.

크라이오 펌프(20)은, 고진공 배기용 밸브(116)가 닫힌 상태에서 작동하여, 크라이오 펌프(20)의 극저온판을 소정의 온도로 냉각한다. 즉, 펌프 작동부(22)에서 고압으로 압축된 헬륨 냉매가 크라이오 펌프(20)에 공급되고, 크라이오 펌프(20)의 냉동기에서 고압 헬륨 냉매가 저압으로 단열 팽창하면서, 극저온판을 소정의 극저온의 온도로 냉각시킨다. 이에 의해, 크라이오 펌프(20) 내부는 고진공 분위기로 된다. The cryo pump 20 operates in a state in which the high vacuum exhaust valve 116 is closed to cool the cryo-plate 20 of the cryo pump 20 to a predetermined temperature. That is, the helium refrigerant compressed at a high pressure in the pump operating portion 22 is supplied to the cryo pump 20, and the high-pressure helium refrigerant expands adiabatically at low pressure in the freezer of the cryo pump 20, Cool to a cryogenic temperature. Thereby, the inside of the cryo pump 20 becomes a high vacuum atmosphere.

저진공상태로의 배기와, 상기 크라이오 펌프(20)의 작동은 어느 쪽이든 먼저 행하여져도 된다.The exhaust to the low vacuum state and the operation of the cryopump 20 may be performed either before.

성막실(11)내의 압력이 러프 배기용 펌프(21)에 의해 소정의 저진공 압력으로 되고, 크라이오 펌프(20)의 극저온판이 소정의 극저온 온도에 도달하여, 크라이오 펌프(20)내가 고진공 분위기로 되면, 러프 배기용 밸브(118)를 잠그고, 고진공 배기용 밸브(116)를 열어, 배기구(115)를 통해, 성막실(11)내에 여전히 남아 있는 기체 및 수분 등을 극저온판에 응축/흡착시켜 포집/고정함으로써, 성막실(11)의 내부공간을 소정의 고진공 분위기로 배기한다. 즉, 저진공 배기후에도 성막실(11)내에 남아 있는 기체나 수분 중 응고점이 상대적으로 높은 것은 고체로 응축시키고, 응고점이 낮은 것은 극저온판 표면상에 설치된 표면적이 큰 다공성 물질의 내부 공간에 가두어 둠으로써, 성막실(11)내에 남아 있는 기체나 수분 등을 제거하여, 고진공 상태로 배기한다. The pressure in the deposition chamber 11 is set to a predetermined low vacuum pressure by the rough exhaust pump 21 and the cryo pump 20 reaches a predetermined cryogenic temperature so that the cryo pump 20 is in a high vacuum When the atmosphere is established, the rough exhaust valve 118 is closed, the high vacuum exhaust valve 116 is opened, and the gas and moisture remaining in the deposition chamber 11 are condensed / Adsorbed and trapped / fixed, so that the inner space of the film formation chamber 11 is exhausted in a predetermined high vacuum atmosphere. That is, the gas or moisture remaining in the deposition chamber 11 even after the low vacuum evacuation condenses the solid with a relatively high solidifying point, and the low solidifying point is trapped in the inner space of the porous material having a large surface area provided on the cryogenic plate surface Gas and water remaining in the deposition chamber 11 are removed, and the substrate is exhausted in a high vacuum state.

성막실(11)의 내부공간이 소정의 고진공 상태로 되면, 기판/마스크의 반출입용 밸브(114)가 열리고, 마찬가지로 고진공 배기된 반송실(13)로부터 기판 또는 마스크가 성막실(11)내로 반입된다. 성막실(11)내로 반입된 기판 또는 마스크는, 기판 홀더(112) 및 마스크 홀더(113)에 보유지지되며, 도시하지 않은 얼라인먼트 시스템에 의해 기판과 마스크의 상대적인 위치가 조정된다.When the internal space of the film formation chamber 11 is in a predetermined high vacuum state, the substrate / mask loading / unloading valve 114 is opened and the substrate or mask is brought into the film formation chamber 11 from the high- do. The substrate or mask carried into the deposition chamber 11 is held in the substrate holder 112 and the mask holder 113 and the relative position of the substrate and the mask is adjusted by an alignment system not shown.

기판과 마스크의 상대적인 위치가 고정도로 조정된 후, 셔터(미도시)가 열려 증발원(111)에서 가열되어 증발된 유기재료 또는 전극용 금속재료가 마스크(18)를 통해 기판(10)에 증착된다.After the relative position of the substrate and the mask is adjusted to a high degree, a shutter (not shown) is opened, and an evaporated organic material or metal material for electrodes is heated on the evaporation source 111 and is deposited on the substrate 10 through the mask 18 .

<펌프와 펌프 작동부의 접속구조> &Lt; Connection structure of pump and pump operating part >

도 3 내지 도 5를 참조하여, 본 발명에 의한 진공장치/진공시스템에 있어서의, 펌프(펌프부)와 펌프 작동부의 접속 구조에 대하여 설명한다.3 to 5, a connection structure of the pump (pump section) and the pump operating section in the vacuum apparatus / vacuum system according to the present invention will be described.

본 발명에 따른 진공장치/진공시스템은, 도 3 내지 도 5에 도시한 바와 같이, 복수의 펌프부(30, 31, 32 등)와 이에 접속된 복수의 펌프 작동부(22a, 22b, 22c 등)를 포함한다. 3 to 5, the vacuum device / vacuum system according to the present invention includes a plurality of pump units 30, 31, 32, etc. and a plurality of pump operation units 22a, 22b, 22c, ).

각각의 펌프부는, 진공배기를 행할 처리 공간을 정의하는 각각의 챔버에 설치되며, 하나 이상의 펌프(예컨대, 크라이오 펌프)를 포함한다.Each pump section is installed in each chamber defining a processing space for performing vacuum evacuation, and includes one or more pumps (e.g., a cryo pump).

본 발명에 따른 진공장치/진공시스템에 있어서, 복수의 챔버 중 적어도 하나의 챔버의 내부공간을 배기하기 위한 펌프부는 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부에 접속된다. 펌프 작동부는, 펌프를 작동시키기 위해 전력 또는 압축냉매 등을 공급하는 공급부이다. 펌프가 크라이오 펌프인 경우에는, 컴프레서가 사용되고, 로타리 펌프와 터보 분자펌프인 경우에는, 전력원이 사용된다. 또한, 펌프는 이들 펌프에 한정되지 않고, 공급부도 펌프의 종류에 따라 사용하면 된다. In the vacuum apparatus / vacuum system according to the present invention, the pump section for evacuating the internal space of at least one of the chambers is connected to two or more different pump operating sections. The pump operation portion is a supply portion for supplying power or compressed refrigerant or the like to operate the pump. When the pump is a cryo pump, a compressor is used. When the pump is a rotary pump and a turbo molecular pump, a power source is used. The pump is not limited to these pumps, and the supply part may be used depending on the type of the pump.

이에 따라, 해당 펌프부에 접속된 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 어느 하나가 고장나서, 정상적으로 동작하지 못하는 경우에도, 해당 펌프부가 완전히 동작을 멈추어 해당 챔버의 내부공간이 진공상태로 유지되지 못하게 되는 상황을 방지할 수 있다.Accordingly, even if any one of the two or more different pump operation units connected to the pump unit fails and can not operate normally, the pump unit completely stops operating so that the internal space of the chamber can not be maintained in a vacuum state Can be prevented.

또한, 하나의 펌프부에 접속된 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 적어도 하나의 펌프 작동부는 해당 펌프부 이외의 다른 펌프부에도 접속된다. 이에 의해, 필요한 펌프 작동부의 개수를 줄일 수 있어, 비용 및 소비전력을 저감할 수 있을 뿐만 아니라 제조 라인 내의 공간을 효율적으로 사용할 수 있다. In addition, at least one of the two or more different pump operating portions connected to the one pump portion is also connected to another pump portion other than the corresponding pump portion. Thereby, the number of necessary pump operating parts can be reduced, cost and power consumption can be reduced, and the space in the manufacturing line can be efficiently used.

본 발명에 따른 진공 시스템의 제어부(24)는 복수의 펌프 작동부의 동작을 제어한다. 이에 의해, 하나의 제어부로 전체 펌프 작동부를 제어할 수 있어, 구성이 간소화된다.The control unit (24) of the vacuum system according to the present invention controls the operation of the plurality of pump operating units. Thereby, the entire pump operating section can be controlled by one control section, and the configuration is simplified.

이하 본 발명의 각 실시예에 따른 진공장치/진공 시스템에 있어서의 펌프부와 펌프 작동부간의 접속 구조에 대하여 설명한다.Hereinafter, a connection structure between the pump section and the pump operating section in the vacuum apparatus / vacuum system according to each embodiment of the present invention will be described.

제1 실시예First Embodiment

본 발명의 제1 실시예에 따른 진공 장치/진공 시스템은 2개의 챔버(제1 챔버 및 제2 챔버)의 내부 공간을 진공배기하기 위한 것으로서, 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, 제1 챔버(예컨대, 성막실(11a))에 접속되어 그 내부공간을 배기하기 위한 제1 펌프부(30)와, 제2 챔버(예컨대, 성막실(11b))에 접속되어 그 내부공간을 배기하기 위한 제2 펌프부(31)를 포함한다. The vacuum apparatus / vacuum system according to the first embodiment of the present invention is for evacuating the internal space of two chambers (the first chamber and the second chamber), and as shown in FIG. 3 (a) A first pump section 30 connected to one chamber (for example, the deposition chamber 11a) for exhausting the internal space thereof and a second pump section 30 connected to the second chamber (for example, the deposition chamber 11b) And a second pump unit 31 for performing the above operation.

제1 펌프부(30)는, 제1 챔버를 고진공 상태로 배기하기 위한 제1 펌프(20a) 및 제2 펌프(20b)를 포함하며, 제2 펌프부(31)는 제2 챔버를 고진공 상태로 배기하기 위한 제3 펌프(20c)를 포함한다. 챔버의 내부공간을 진공배기 하기 위한 펌프부를 몇 개의 펌프로 구성할지는 챔버의 부피, 진공배기 속도 등을 고려하여 정할 수 있다. 본 발명의 제1 실시예에 따른 제1 펌프 내지 제3 펌프는 도 2를 참조하여 설명한 크라이오 펌프일 수 있으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니다.The first pump unit 30 includes a first pump 20a and a second pump 20b for evacuating the first chamber in a high vacuum state and the second pump unit 31 is connected to the high- And a third pump 20c for evacuating the exhaust gas. The number of the pumps constituting the pump unit for evacuating the internal space of the chamber may be determined in consideration of the volume of the chamber, the vacuum evacuation speed, and the like. The first pump to the third pump according to the first embodiment of the present invention may be the cryo pump described with reference to FIG. 2, but the present invention is not limited thereto.

제1 펌프(20a)는 제1 펌프 작동부(22a)에 접속되어, 제1 펌프 작동부(22a)로부터 고압으로 압축된 냉매를 공급받는다. 제2 펌프(20b)는 제1 펌프 작동부(22a)가 아닌 제2 펌프 작동부(22b)에 접속된다. 이에 의해 제1 챔버를 진공배기 하기 위한 제1 펌프부(30)의 펌프들(20a, 20b)은 서로 다른 2개의 펌프 작동부(22a, 22b)에 접속된다.The first pump 20a is connected to the first pump operating portion 22a and receives refrigerant compressed at a high pressure from the first pump operating portion 22a. The second pump 20b is connected to the second pump operating portion 22b rather than the first pump operating portion 22a. Accordingly, the pumps 20a and 20b of the first pump unit 30 for evacuating the first chamber are connected to the two pump operation units 22a and 22b, which are different from each other.

종래의 기술에 있어서는, 하나의 챔버를 진공배기 하기 위한 2개의 크라이오 펌프가 동일한 펌프 작동부에 접속되었었다. 이로 인해 해당 펌프 작동부가 고장나면, 해당 챔버를 진공배기 하기 위한 크라이오 펌프 모두가 동작이 정지되기 때문에, 해당 챔버를 고진공 상태로 유지할 수 없게 되었다. In the prior art, two cryo pumps for evacuating one chamber were connected to the same pump operating part. As a result, if the pump operating part fails, the operation of all of the cryo pumps for evacuating the chamber is stopped, so that the chamber can not be maintained in a high vacuum state.

이에 비해, 본 발명에 있어서는, 제1 챔버에 접속된 제1 펌프부(30)에 포함된 2개의 펌프(20a, 20b)가 서로 다른 2개의 펌프 작동부(22a, 22b)에 접속되기 때문에, 어느 하나의 펌프 작동부가 고장나더라도, 다른 하나의 펌프 작동부의 출력을 높임으로써, 제1 챔버내의 고진공 상태를 유지할 수 있으며, 고장난 펌프 작동부의 메인티넌스를 진행하기 위한 준비가 이루어질 때까지 시간을 벌 수 있다.In contrast, in the present invention, since the two pumps 20a and 20b included in the first pump section 30 connected to the first chamber are connected to the two pump operation sections 22a and 22b, which are different from each other, It is possible to maintain the high vacuum state in the first chamber by increasing the output of the other pump operating portion even if any one of the pump operating portions fails and the time until the preparation for proceeding maintenance of the failed pump operating portion is made You can earn.

제2 펌프부(31)의 제3 펌프(20c)는 제2 펌프 작동부(22b)에 접속되어, 제2 펌프 작동부(22b)로부터 고압으로 압축된 냉매를 공급받는다. The third pump 20c of the second pump section 31 is connected to the second pump operating section 22b and receives the refrigerant compressed at a high pressure from the second pump operating section 22b.

제3 펌프(20c)에 고압 냉매를 공급하기 위한 펌프 작동부를 별도로 두지 않고, 제1 펌프부(30)의 제2 펌프(20b)에 접속된 제2 펌프 작동부(22b)를 사용함으로써, 즉, 제2 펌프 작동부(22b)를 서로 다른 2개의 펌프(20b, 20c)에 접속함으로써, 제1 챔버 및 제2 챔버를 진공배기 하는데 사용되는 펌프 작동부의 개수를 줄일 수 있다.By using the second pump operating portion 22b connected to the second pump 20b of the first pump portion 30 without separately providing the pump operating portion for supplying the high pressure refrigerant to the third pump 20c, And the second pump operating portion 22b are connected to two different pumps 20b and 20c, the number of pump operating portions used for evacuating the first chamber and the second chamber can be reduced.

도 3의 (b)에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예의 변형예에서는, 제2 챔버를 진공배기 하기 위한 제2 펌프부(31)가 제3 펌프(20c)이외에 제4 펌프(20d)를 더 포함한다. 제4 펌프(20d)는 제1 펌프 작동부(22a)에 접속된다. As shown in FIG. 3 (b), in the modification of the first embodiment of the present invention, the second pump portion 31 for evacuating the second chamber is connected to the third pump 20c, 20d. And the fourth pump 20d is connected to the first pump operating portion 22a.

이에 의해, 예컨대, 제3 펌프(20c)에 고압 냉매를 공급하는 제2 펌프 작동부(22b)가 고장나더라도, 제4 펌프(20d)에 접속된 제1 펌프 작동부(22a)의 출력을 높임으로써, 펌프 작동부의 개수를 증가시키지 않고도, 제1 챔버 및 제2 챔버내의 고진공 상태를 유지할 수 있다As a result, even if the second pump operating portion 22b for supplying the high-pressure refrigerant to the third pump 20c fails, the output of the first pump operating portion 22a connected to the fourth pump 20d The high vacuum state in the first chamber and the second chamber can be maintained without increasing the number of pump operating portions

본 발명의 제 1 실시예 및 그 변형예에 있어서, 제어부(24)는 제1 펌프 작동부(22a) 및 제2 펌프 작동부(22b)와 제1 펌프부(30) 및 제2 펌프부(31)와의 사이의 냉매 배관(23)에 설치된 냉매 압력 센서(25)에 의해 검지된 냉매의 압력이 소정 범위를 벗어나, 냉매가 충분한 압력으로 압축되지 않는 경우에, 해당 냉매 배관(23)과 연결된 펌프 작동부가 고장난 것으로 판정한다. 예컨대, 제1 펌프 작동부(22a)로부터 제1 펌프부(30)의 제1 펌프(20a)에 고압 냉매를 공급하기 위한 냉매 배관(23)내의 냉매의 압력, 또는 제1 펌프 작동부(22a)로부터 제2 펌프부(31)의 제4 펌프(20d)에 공급되는 냉매의 압력이 소정 범위 밑으로 떨어지면, 제1 펌프 작동부(22a)가 고장난 것으로 판정한다. The controller 24 controls the first pump operating portion 22a and the second pump operating portion 22b and the first pump portion 30 and the second pump portion When the pressure of the refrigerant detected by the refrigerant pressure sensor 25 provided in the refrigerant pipe 23 between the refrigerant pipe 23 and the refrigerant pipe 23 is out of a predetermined range and the refrigerant is not compressed to a sufficient pressure, It is determined that the pump operation portion has failed. For example, the pressure of the refrigerant in the refrigerant pipe 23 for supplying the high-pressure refrigerant from the first pump operating portion 22a to the first pump 20a of the first pump portion 30, or the pressure of the refrigerant in the first pump operating portion 22a The pressure of the refrigerant supplied to the fourth pump 20d of the second pump portion 31 falls below a predetermined range, it is determined that the first pump operating portion 22a has failed.

이 경우, 제어부(24)는, 제1 펌프부(30)의 제2 펌프(20b) 및 제2펌프부(31)의 제3 펌프(20c)에 접속된 제2 펌프 작동부(22b)의 출력을 높임으로써, 제1 챔버 및 제2 챔버내의 압력을 소정의 고진공 범위내로 유지할 수 있다. In this case, the control unit 24 controls the second pump 20b of the first pump unit 30 and the second pump operation unit 22b connected to the third pump 20c of the second pump unit 31 By increasing the output, the pressure in the first chamber and the second chamber can be maintained within a predetermined high vacuum range.

본 발명의 제1 실시예 및 그 변형예에서는, 진공 장치/진공 시스템을 2개의 펌프부(30, 31)와 2개의 펌프 작동부(22a, 22b)에 의해 구성하기 때문에, 상기 특성을 가지면서도 펌프부내의 펌프와 펌프 작동부간의 접속이 심플해지고, 메인티넌스시 배선관계가 알기 쉬워진다. 또한, 하나의 제어부(24)로 두 개의 펌프 작동부(22a, 22b)를 제어할 수 있기 때문에, 제어가 간소화 된다. In the first embodiment and its modification of the present invention, since the vacuum device / vacuum system is constituted by the two pump parts 30 and 31 and the two pump operating parts 22a and 22b, The connection between the pump in the pump section and the pump operating section becomes simple, and the maintenance wiring relationship becomes easy to understand. In addition, since the two pump operating portions 22a and 22b can be controlled by one control portion 24, the control is simplified.

본 발명의 제1 실시예 및 그 변형예는 예컨대, 도 1에 도시한 유기 EL 표시 패널의 제조 라인에서 동일한 기판 흐름 라인상에 배치된 두 성막실(11a, 11b) 또는 다른 두 성막실(11c, 11d)를 각각 진공배기하기 위한 진공장치/진공 시스템에 적용될 수 있다. 이에 대해서는, 도 6을 참조하여, 후술한다.The first embodiment and its modifications of the present invention are applicable to, for example, two film forming chambers 11a and 11b or two other film forming chambers 11c and 11c disposed on the same substrate flow line in the production line of the organic EL display panel shown in FIG. , 11d, respectively, to a vacuum device / vacuum system for vacuum evacuation. This will be described later with reference to Fig.

제2 실시예Second Embodiment

도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 진공장치/진공 시스템의 배치 및 접속구조를 모식적으로 도시한다.Fig. 4 schematically shows the arrangement and connection structure of the vacuum system / vacuum system according to the second embodiment of the present invention.

본 발명의 제2 실시예에 따른 진공장치/진공 시스템은 3개의 챔버(제1 챔버, 제2 챔버, 제3 챔버)의 내부공간을 진공배기 하기 위한 것으로서, 제1 챔버(예컨대, 마스크 스톡 챔버(12a))의 내부공간을 진공배기하기 위한 제1 펌프부(30)와, 제2 챔버(예컨대, 반송실(13))의 내부공간을 진공배기 하기 위한 제2 펌프부(31)와, 제3 챔버(예컨대, 마스크 스톡 챔버(12b))를 진공배기 하기 위한 제3 펌프부(32)를 포함한다.The vacuum apparatus / vacuum system according to the second embodiment of the present invention is for evacuating the internal space of three chambers (first chamber, second chamber, third chamber) A first pump unit 30 for evacuating the internal space of the second chamber (for example, the first chamber 12a), a second pump unit 31 for evacuating the internal space of the second chamber (for example, the transport chamber 13) And a third pump portion 32 for evacuating the third chamber (e.g., the mask stock chamber 12b).

제1 펌프부(30)는 제1 펌프(20a)와 제2 펌프(20b)를 포함하고, 제2 펌프부(31)는 제3 펌프(20c)와 제4 펌프(20d)를 포함하며, 제3 펌프부(32)는 제5 펌프(20e)와 제6 펌프(20f)를 포함한다. 각 펌프부에 포함되는 펌프의 개수는 해당 펌프부에 의해 진공배기 되어야 하는 챔버의 내부공간의 부피, 진공배기 속도 등에 따라 달라질 수 있다. 예컨대, 제1 펌프부(30)와 제3 펌프부(32)가 상대적으로 부피가 작은 마스크 스톡 챔버(12a) 및 마스크 스톡 챔버(12b)를 진공배기하는 경우에는 각각 1개의 펌프만으로 구성될 수도 있다.The first pump unit 30 includes a first pump 20a and a second pump 20b and the second pump unit 31 includes a third pump 20c and a fourth pump 20d, The third pump section 32 includes a fifth pump 20e and a sixth pump 20f. The number of pumps included in each pump unit may vary depending on the volume of the internal space of the chamber to be evacuated by the pump unit, the vacuum exhaust speed, and the like. For example, when the first pump unit 30 and the third pump unit 32 evacuate the mask stock chamber 12a and the mask stock chamber 12b having a relatively small volume, they may be constituted by only one pump have.

본 발명의 제2 실시예에 따른 진공 장치/진공 시스템은, 3개의 펌프부에 접속된 3개의 펌프 작동부(22a, 22b, 22c)를 포함한다. The vacuum system / vacuum system according to the second embodiment of the present invention includes three pump operation parts 22a, 22b, 22c connected to three pump parts.

도 4에 도시한 바와 같이, 제1 펌프부(30)의 제1 펌프(20a)는 제1 펌프 작동부(22a)에 접속되며, 제2 펌프(20b)는 제2 펌프 작동부(22b)에 접속된다. 제2 펌프부(31)의 제3 펌프(20c)는 제2 펌프 작동부(22b)에 접속되며, 제4 펌프(20d)는 제3 펌프 작동부(22c)에 접속된다. 제3 펌프부(32)의 제5 펌프(20e)는 제3 펌프 작동부(22c)에 접속되고, 제6 펌프(20f)는 제1 펌프 작동부(22a)에 접속된다.4, the first pump 20a of the first pump unit 30 is connected to the first pump operation unit 22a, the second pump 20b is connected to the second pump operation unit 22b, Respectively. The third pump 20c of the second pump section 31 is connected to the second pump operating section 22b and the fourth pump 20d is connected to the third pump operating section 22c. The fifth pump 20e of the third pump section 32 is connected to the third pump operating section 22c and the sixth pump 20f is connected to the first pump operating section 22a.

이에 의해, 제1 실시예 및 그 변형예에서와 마찬가지로, 3개의 펌프부 중 적어도 하나의 펌프부는 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부에 접속된다. 즉, 본 발명의 제2 실시예에서는, 3개의 펌프부 각각은 서로 다른 2개의 컴프레서에 접속된다. 이에 의해, 하나의 펌프부에 접속된 펌프 작동부 중 어느 하나가 고장나더라도 해당 펌프부에 접속된 다른 펌프 작동부의 출력을 조정하여, 해당 펌프부가 설치된 챔버내를 고진공상태로 유지할 수 있다.Thereby, as in the first embodiment and its modification, at least one of the three pump units is connected to two or more different pump operating units. That is, in the second embodiment of the present invention, each of the three pump units is connected to two different compressors. Thus, even if any one of the pump operation parts connected to one pump part fails, the output of another pump operation part connected to the corresponding pump part can be adjusted so that the chamber provided with the pump part can be maintained in a high vacuum state.

예컨대, 제2 펌프 작동부(22b)가 고장난 경우, 이에 접속된 제2 펌프(20b) 및 제3 펌프(20c)가 제1 챔버 및 제2 챔버를 각각 진공배기할 수 없게 되므로, 제1 챔버에 접속된 다른 펌프인 제1 펌프(20a)와 제2 챔버에 접속된 다른 펌프인 제4 펌프(20d)에 의한 진공배기량을 늘리기 위해, 제1 펌프(20a)에 대한 제1 펌프 작동부(22a)의 출력과, 제4 펌프(20d)에 대한 제3 펌프 작동부(22c)의 출력을 각각 올린다. 이에 의해, 제2 펌프 작동부(22b)가 고장나더라도, 제1 챔버 및 제2 챔버의 내부공간을 소정의 고진공 상태로 유지할 수 있다.For example, when the second pump operating portion 22b fails, the second pump 20b and the third pump 20c connected to the second pump operating portion 22b can not evacuate the first chamber and the second chamber, To increase the amount of vacuum evacuation by the first pump 20a which is another pump connected to the first pump 20a and the fourth pump 20d which is another pump connected to the second chamber, 22a and the output of the third pump operating portion 22c with respect to the fourth pump 20d, respectively. Thus, even if the second pump operating portion 22b fails, the inner space of the first chamber and the second chamber can be maintained in a predetermined high vacuum state.

동시에, 제3 챔버를 진공배기하는 제3 펌프부(32)의 제5 펌프(20e) 및 제6 펌프(20f)의 배기량을 낮추기 위해, 제6 펌프(20f)에 대한 제1 펌프 작동부(22a)의 출력과, 제5 펌프(20e)에 대한 제3 펌프 작동부(22c)의 출력을 낮춤으로써, 제1 챔버 내지 제3 챔버가 동등한 압력으로 유지될 수 있도록 한다. At the same time, in order to lower the displacement of the fifth pump 20e and the sixth pump 20f of the third pump portion 32 for evacuating the third chamber, the first pump operation portion 22a and the output of the third pump operating portion 22c with respect to the fifth pump 20e are lowered so that the first chamber to the third chamber can be maintained at the same pressure.

또한, 이에 의해, 제2 펌프 작동부(22b)가 고장난 경우라도, 제1 챔버 내지 제3 챔버를 동등한 진공도로 유지하면서도, 제1 펌프 작동부(22a) 및 제3 펌프 작동부(22c)에 성능 이상의 부하가 걸리지 않도록 할 수 있으며, 제1 펌프 작동부(22a)와 제3 펌프 작동부(22c)가 과부하가 되는 것을 방지할 수 있다. In this way, even when the second pump operating portion 22b is broken, the first pump operating portion 22a and the third pump operating portion 22c can be operated at the same vacuum level while maintaining the first to third chambers at the same degree of vacuum. It is possible to prevent the load from exceeding the performance, and it is possible to prevent the first pump operating portion 22a and the third pump operating portion 22c from being overloaded.

이러한 펌프 작동부의 출력 제어는, 펌프 작동부와 펌프부간의 냉매배관에 설치된 냉매 압력 센서(25)에 의해 검지된 냉매 압력에 기초하여, 제어부(24)에 의해 행해진다.The output control of the pump operating section is performed by the control section 24 based on the refrigerant pressure detected by the refrigerant pressure sensor 25 provided in the refrigerant pipe between the pump operating section and the pump section.

이렇듯, 본 발명의 제2 실시예의 진공장치/진공 시스템에 의하면, 펌프 작동부의 개수의 증가를 억제하면서도, 어느 하나의 펌프 작동부가 고장난 경우에, 복수의 챔버의 내부공간을 소정 범위내의 동등한 압력으로 유지할 수 있다.As described above, according to the vacuum apparatus / vacuum system of the second embodiment of the present invention, even when the number of the pump operating portions is prevented from increasing, even when any one of the pump operating portions fails, .

제3 실시예Third Embodiment

도 5는, 본 발명의 제3 실시예에 따라, 각각이 n개(n은 4이상의 정수)의 챔버를 진공배기 하기 위한 n개의 펌프부와 n개의 펌프 작동부의 접속 구조를 모식적으로 도시한다.5 schematically shows a connection structure of n pump units and n pump operation units for evacuating n chambers (n is an integer of 4 or more), respectively, according to the third embodiment of the present invention .

본 발명의 제3 실시예에 따른 진공장치/진공 시스템은, n개(n은 4이상의 정수)의 챔버를 진공배기 하기 위한 n개의 펌프부와, n개의 펌프부에 접속된 n개의 펌프 작동부를 포함한다.A vacuum apparatus / vacuum system according to a third embodiment of the present invention includes n pump sections for evacuating n chambers (n is an integer of 4 or more) and evacuating n chambers connected to n pump sections .

본 발명의 제3 실시예에 있어서, 제k 챔버(1≤k≤n-1)의 내부공간을 진공배기 하기 위한 제k 펌프부는 제2k-1 펌프 및 제2k 펌프를 포함한다. 제2k-1 펌프는 제k 펌프 작동부에 접속되고, 제2k 펌프는 제k+1 펌프 작동부에 접속된다. n번째 챔버의 내부공간을 진공배기 하기 위한 제n 펌프부는 제2n-1 펌프 및 제2n 펌프를 포함하며, 제2n-1 펌프는 제n 펌프 작동부에 접속되고, 제2n 펌프는 제1 펌프 작동부에 접속된다.In the third embodiment of the present invention, the k-th pump section for evacuating the internal space of the k-th chamber (1? K? N-1) includes a 2k-1 pump and a 2k-th pump. The second k-1 pump is connected to the k-th pump operating portion, and the second k-th pump is connected to the (k + 1) -th pump operating portion. The n-th pump section for evacuating the inner space of the n-th chamber includes a 2n-1 pump and a 2n-th pump, the 2n-1 pump is connected to the n-th pump operating part, And is connected to the operation unit.

즉, 각 펌프부에는 서로 다른 2개의 펌프 작동부가 접속되며, 각각의 펌프 작동부는 서로 다른 2개의 챔버의 내부공간을 진공배기 하기 위한 서로 다른 2개의 펌프부에 접속된다.That is, two pump operating parts are connected to each pump part, and each of the pump operating parts is connected to two different pump parts for evacuating the internal space of two different chambers.

이에 의해, 펌프 작동부의 개수의 증가를 억제하면서도, 어느 하나의 펌프 작동부가 고장난 경우에, 해당 펌프 작동부에 연결된 펌프부가 완전히 동작을 멈추는 문제를 방지할 수 있다. Thereby, it is possible to prevent the problem that the pump unit connected to the pump operation unit stops completely when one of the pump operation units fails, while suppressing an increase in the number of pump operation units.

또한, 제3 실시예에 따른 진공시스템의 제어부(24)는 어느 하나의 펌프 작동부가 고장나더라도, 다른 정상작동하는 펌프 작동부의 출력을 제1 및 제2 실시예에서와 마찬가지로 조절함으로써, 각 펌프부에 의해 진공배기 되는 모든 챔버내의 압력이 동등하게 유지되도록 제어할 수 있다.In addition, the control unit 24 of the vacuum system according to the third embodiment adjusts the outputs of other normally operating pump operating parts in the same manner as in the first and second embodiments, even if any one of the pump operating parts fails, It is possible to control so that the pressures in all of the chambers evacuated by the valves are kept equal.

예컨대, 제k 펌프 작동부가 고장난 경우, 이에 접속된 제k 펌프부의제2k-1 펌프 및 제k-1 펌프부의 제2k-2 펌프가 동작을 멈추게 되므로, 이들 펌프가 설치된 제k-1 챔버 및 제k 챔버의 내부공간을 소정의 압력 범위로 유지하기 위해, 제k-1 챔버에 설치된 다른 펌프인 제2k-3 펌프 및 제k 챔버에 설치된 다른 펌프인 제2k 펌프의 배기량을 증가시킨다. 이를 위해, 제2k-3 펌프에 대한 제k-1 펌프 작동부의 출력과, 제2k 펌프에 대한 제k+1 펌프 작동부의 출력을 증가시킨다. For example, when the k-th pump operation section fails, the second k-1 pump of the k-th pump section and the second k-2 pump of the k-1 pump section connected thereto are stopped, In order to keep the internal space of the k-th chamber at a predetermined pressure range, the displacement of the second k-3 pump, which is another pump installed in the k-1 chamber, and the second pump, which is another pump installed in the k-th chamber, is increased. To this end, the output of the (k-1) th pump operating part for the 2k-3 pump and the output of the (k + 1) th pump operating part for the 2k th pump are increased.

또한, 제k-1 펌프 작동부 및 제k+1 펌프 작동부에 걸리는 부하가 해당 펌프 작동부의 성능 이상으로 커지는 것을 막기 위해, 제k-1 펌프 작동부의 제2k-4 펌프에 대한 출력과 제k+1 펌프 작동부의 제2k+1 펌프에 대한 출력을 감소시킨다. 마찬가지로, 다른 정상적인 펌프 작동부의 각 펌프에 대한 출력을 감소시킴으로써, 제k 펌프 작동부의 고장으로 인해, 일부 펌프의 동작이 멈추더라도, 각 챔버내의 진공압력이 동등한 상태로 유지될 수 있도록 제어할 수 있다. Further, in order to prevent the load applied to the k-th pump operation portion and the (k + 1) th pump operation portion from becoming larger than the performance of the corresponding pump operation portion, 1 pump of the (k + 1) pump operating portion. Likewise, by reducing the output to each pump of the other normal pump actuating part, it is possible to control so that the vacuum pressure in each chamber can be maintained in an equivalent state, even if the operation of some pumps is stopped due to the failure of the k-th pump actuating part .

본 발명의 제3 실시예에서는, 각 펌프부가 2개의 펌프를 포함하고, 각 펌프 작동부가 2개의 서로 다른 펌프에 접속하는 것으로서 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 복수의 펌프부 중 적어도 하나가 2개의 펌프를 포함하고, 해당 2개의 펌프가 서로 다른 2개의 펌프 작동부에 접속되면 된다. 또한, 해당 서로 다른 2개의 펌프 작동부 중 적어도 하나는 다른 제3의 펌프에 접속되면 된다.In the third embodiment of the present invention, each pump section includes two pumps and each pump operating section is connected to two different pumps. However, the present invention is not limited to this, and at least one of the plurality of pump sections The two pumps may be connected to two different pump operating parts. Further, at least one of the two different pump operating portions may be connected to another third pump.

본 발명의 제3 실시예에서는, 4개 이상의 n개의 챔버를 진공배기하기 위해 n개의 펌프부를 n개의 펌프 작동부에 서로 연관지어 접속하였기 때문에, 하나의 제어부를 통해 n개의 펌프 작동부를 제어할 수 있으며, 구성이 간소화된다.In the third embodiment of the present invention, since the n pump sections are connected to the n pump operation sections in order to evacuate four or more n chambers, it is possible to control the n pump operation sections through one control section And the configuration is simplified.

다만, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 4개 이상의 n개의 펌프부를 2개의 펌프부 또는 3개의 펌프부의 그룹으로 나누어, 각각 2개의 펌프 작동부 또는 3개의 펌프 작동부에 제1 실시예 또는 제2 실시예에서와 마찬가지 방식으로 접속할 수도 있다. 예컨대, 6개의 챔버를 6개의 펌프부와 6개의 펌프 작동부로 진공배기하는 경우에 있어서, 2개의 펌프부씩 3개의 그룹으로 나누어, 제1 실시예 또는 그 변형예와 마찬가지로 펌프부와 펌프 작동부를 접속하여도 되고, 3개의 펌프부씩 2개의 그룹으로 나누어, 제2 실시예에서와 마찬가지로 펌프부와 펌프 작동부를 접속할 수도 있다. 또한, 2개의 펌프부는 제1 실시예 또는 그 변형예와 마찬가지로 접속하고, 3개의 펌프부는 제2 실시예와 마찬가지로 접속하며, 나머지 한 개의 펌프부는 하나의 펌프 작동부에만 접속되도록 하여도 된다. However, the present invention is not limited to this, and four or more n pump sections may be divided into two pump sections or three pump section groups, and two pump operation sections or three pump operation sections, respectively, It may be connected in the same manner as in the embodiment. For example, in the case of evacuating six chambers to six pump sections and six pump operating sections, the pump section and the pump operating section are connected to each other by dividing them into three groups of two pump sections, as in the first embodiment or its modification Alternatively, the pump unit and the pump operation unit may be connected as in the second embodiment by dividing the pump unit into two groups by three pump units. The two pump portions may be connected in the same manner as in the first embodiment or the modification thereof, and the three pump portions may be connected in the same manner as in the second embodiment, and the remaining one pump portion may be connected to only one pump operating portion.

제4 실시예Fourth Embodiment

도 6은 유기 EL 표시 패널의 제조 라인에 있어서, 본 발명의 기술적 사상을 적용한, 펌프부와 펌프 작동부간의 접속구조를 모식적으로 도시한다.6 schematically shows a connection structure between a pump section and a pump operating section, to which the technical idea of the present invention is applied, in a manufacturing line of an organic EL display panel.

본 발명의 제4 실시예서는, 유기 EL 표시 패널의 제조 라인을 구성하는 복수의 챔버를, 각각이 적어도 두 개 이상의 챔버를 포함하는 복수의 그룹으로 나누어, 해당 그룹의 챔버를 진공배기 하기 위한 펌프부 및 펌프 작동부를 접속한다.In a fourth embodiment of the present invention, a plurality of chambers constituting a production line of an organic EL display panel are divided into a plurality of groups each including at least two chambers, and a pump And the pump operating portion.

예컨대, 도 6에 도시한 바와 같이, 제1 성막실(11a)과 제2 성막실(11b)을 하나의 그룹으로 하고, 제3 성막실(11c)과 제4 성막실(11d)을 또 다른 하나의 그룹으로 하여, 각각의 그룹에서 챔버를 진공배기하기 위한 펌프부와 펌프 작동부를 본 발명의 제1 실시예의 변형예에서와 마찬가지 방식으로 접속한다.For example, as shown in Fig. 6, the first film formation chamber 11a and the second film formation chamber 11b are formed as one group, and the third film formation chamber 11c and the fourth film formation chamber 11d are formed as another group As a group, a pump unit and a pump operating unit for evacuating the chamber in each group are connected in the same manner as in the modification of the first embodiment of the present invention.

이렇듯, 제1 성막실(11a)과 제2 성막실(11b)의 그룹과, 제3 성막실(11c)과 제4 성막실(11d)의 그룹에 별도의 진공장치/진공시스템을 설치함으로써, 어느 한 쪽의 진공장치/진공시스템(예컨대, 펌프 작동부)에 고장이 생기더라도 다른 한쪽의 그룹을 통한 기판의 처리를 멈추지 않고 정상적으로 행할 수 있다. As described above, by providing a separate vacuum / vacuum system in the first film formation chamber 11a and the second film formation chamber 11b and in the third film formation chamber 11c and the fourth film formation chamber 11d, Even if a failure occurs in one of the vacuum apparatus / vacuum system (for example, the pump operating section), the processing of the substrate through the other group can be normally performed without stopping.

유기 EL 표시 패널의 제조 라인에 있어서, 상류측의 버퍼실(16a), 선회실(17)을 지나 패스실(15)로 전달된 기판은, 제1 성막실(11a)과 제2 성막실(11b)을 통과하면서 성막처리가 이루어진 후 하류측 버퍼실(16b)로 전달되거나, 제3 성막실(11c)과 제4 성막실(11d)을 통과하면서 성막처리가 이루어진 후 하류측 버퍼실(16b)로 전달되거나 하는 2개의 흐름으로 처리될 수 있다. In the production line of the organic EL display panel, the substrate transferred to the pass room 15 through the buffer chamber 16a and the vortex chamber 17 on the upstream side is transferred to the first film formation chamber 11a and the second film formation chamber The downstream buffer chamber 16b after the film formation process while passing through the third film formation chamber 11c and the fourth film formation chamber 11d or the downstream side buffer chamber 16b after the film formation process through the third film formation chamber 11c and the fourth film formation chamber 11d, &Lt; / RTI &gt; or may be processed with two flows.

여기서, 예컨대, 제1 성막실(11a)을 진공배기 하기 위한 펌프부에 접속된 펌프 작동부가 고장난 경우에도, 본 발명의 제1 실시예의 변형예에 따라 펌프부와 펌프 작동부를 접속함으로써, 고장나지 않은 다른 하나의 펌프 작동부에 의해 제1 성막실(11a)내의 진공도를 제2 성막실(11b)와 동등한 정도로 유지할 수 있다. 따라서, 제1 성막실(11a)내에서 성막처리되고 있는 기판을 버리는 일 없이, 기판에 대한 성막처리를 완료하고 하류측으로 전달할 수 있다. 그러나, 상기 다른 하나의 펌프 작동부 만으로 오랫동안 두개의 성막실을 진공배기하는 것은 상기 다른 하나의 펌프 작동부에 부담이 될 수 있으므로, 적절한 시점에 해당 라인을 통한 기판의 흐름을 중지시키고, 고장난 펌프 작동부의 메인티넌스를 행하게 된다. 이렇게 메인티넌스를 위해 제1 성막실/제2 성막실을 통과하는 기판 흐름이 멈추게 된 경우라도, 본 발명의 제4 실시예 따른 구성에 의하면, 제3 성막실/제4 성막실을 통과하는 기판 흐름은 멈추지 않아도 되며, 기판의 처리를 계속적으로 행할 수 있다. 이와 달리, 만약 제1 성막실과 제3 성막실을 하나의 진공장치/진공 시스템으로 배기하는 경우에는, 어느 한쪽의 성막실의 진공장치의 펌프 작동부가 고장나서, 메인티넌스를 행하여야 할 경우, 양쪽의 기판 흐름을 모두 멈추어야 하기 때문에, 기판의 처리라인 전체가 멈추게 된다. Here, for example, even when the pump operating section connected to the pump section for evacuating the first film forming chamber 11a fails, the pump section and the pump operating section are connected according to the modified example of the first embodiment of the present invention, The vacuum degree in the first film formation chamber 11a can be maintained at a level equivalent to that of the second film formation chamber 11b by the other pump operation portion. Therefore, the film forming process for the substrate can be completed and transferred to the downstream side without discarding the substrate that has been film-formed in the first film formation chamber 11a. However, it is difficult to evacuate the two film deposition chambers for a long time by using only the other pump operating portion, which may be a burden on the other pump operating portion. Therefore, the flow of the substrate through the corresponding line is stopped at a proper time, The maintenance of the operating portion is performed. Even in the case where the flow of the substrate passing through the first film formation chamber / the second film formation chamber is stopped for maintenance, according to the configuration of the fourth embodiment of the present invention, The substrate flow does not have to stop, and the processing of the substrate can be continuously performed. Alternatively, if the first film forming chamber and the third film forming chamber are evacuated by one vacuum device / vacuum system, if the pump operating part of the vacuum device of one of the film forming chambers fails and maintenance is to be performed, Since both substrate flows must be stopped, the entire processing line of the substrate is stopped.

본 발명의 제4 실시예에 따르면, 제1 마스크 스톡 챔버(12a), 반송실(13), 제2 마스크 스톡 챔버(12b)는 본 발명의 제2 실시예의 진공장치/진공시스템에 의해 진공배기 된다. 이를 통해, 이들 3 챔버를 진공배기 하기 위한 진공장치내의 어느 하나의 펌프 작동부가 고장나더라도, 다른 펌프 작동부의 출력을 조정함으로써, 이들 3 챔버내의 진공도를 동등한 정도로 유지할 수 있다. 다만, 본 발명은 이러한 구성에 한정되지 않으며, 진공장치/진공시스템이 다른 배치 구조를 가질 수도 있다. According to the fourth embodiment of the present invention, the first mask stock chamber 12a, the transfer chamber 13, and the second mask stock chamber 12b are connected to the vacuum evacuation / vacuum system of the second embodiment of the present invention, do. Accordingly, even if any one of the pump operating parts in the vacuum device for evacuating these three chambers fails, the degree of vacuum in these three chambers can be maintained to the same degree by adjusting the output of the other pump operating part. However, the present invention is not limited to this configuration, and the vacuum apparatus / vacuum system may have a different arrangement structure.

예컨대, 제1 마스크 스톡 챔버(12a)에는 제1 성막실(11a)/제2 성막실(11b)을 통과하는 기판의 성막에 사용되는 마스크가 수납되므로, 제1 성막실(11a), 제1 마스크 스톡 챔버(12a), 제2 성막실(11b)을 본 발명의 제2 실시예의 진공장치/진공시스템에 의해 진공배기하도록 구성할 수도 있다. 마찬가지로, 제3 성막실(11c), 제2 마스크 스톡 챔버(12b), 제4 성막실(11d)를 제2 실시예에 따른 다른 진공장치/진공시스템에 의해 배기하도록 구성할 수 있다. 이 경우, 반송실(13)은 별도의 다른 진공장치/진공시스템에 의해 배기하도록 구성할 수 있다. 특히, 반송실(13)의 진공장치의 펌프 작동부가 고장나면, 라인 전체가 멈추는 문제가 생기므로, 반송실(13)을 진공배기하기 위한 펌프부를 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부에 접속되도록 하는 것이 바람직하다.For example, a mask used for film formation of a substrate passing through the first film formation chamber 11a / the second film formation chamber 11b is accommodated in the first mask stock chamber 12a, so that the first film formation chamber 11a, The mask stock chamber 12a and the second film formation chamber 11b may be configured to be evacuated by the vacuum apparatus / vacuum system of the second embodiment of the present invention. Similarly, the third film formation chamber 11c, the second mask stock chamber 12b, and the fourth film formation chamber 11d can be configured to be evacuated by another vacuum device / vacuum system according to the second embodiment. In this case, the transport chamber 13 can be configured to be evacuated by another separate vacuum device / vacuum system. Particularly, when the pump operating portion of the vacuum chamber of the transfer chamber 13 fails, the entire line is stopped. Therefore, the pump portion for vacuum evacuating the transfer chamber 13 is connected to two or more pump operating portions .

이를 통해, 제1 마스크 스톡 챔버(12a)를 진공배기하기 위한 펌프부에 접속된 펌프 작동부 중 하나가 고장나서 메인티넌스가 행하여 지더라도, 제3 성막실(11c)/제4 성막실(11d)을 통과하는 기판 흐름을 멈추지 않고 기판처리를 계속할 수 있다.Thus, even if one of the pump operation parts connected to the pump part for evacuating the first mask stock chamber 12a is broken and maintenance is performed, the third film formation chamber 11c / the fourth film formation chamber 11d The substrate processing can be continued without stopping the flow of the substrate.

도 6에 도시한 본 발명의 제4 실시예에서는, 종래 기술에서와 같이, 버퍼실(16a)과 선회실(17)을 진공배기하기 위한 펌프부를 하나의 펌프 작동부에 접속하는 것으로 하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 제1 실시예/변형예에 따라 진공장치/진공시스템을 구성할 수도 있다.In the fourth embodiment of the present invention shown in Fig. 6, the pump section for evacuating the buffer chamber 16a and the vortex chamber 17 to vacuum is connected to one pump operating section as in the prior art, The invention is not limited thereto, and a vacuum device / vacuum system may be constructed according to the first embodiment / modification of the present invention.

또한, 패스실(15)은 다른 챔버와 달리 고진공을 요하지 않기 때문에, 통상적으로, 크라이오 펌프를 설치하지 않고 러프 배기용 펌프만을 설치하므로, 패스실(15)에 설치되는 진공장치/진공시스템에는 펌프 작동부가 포함되지 않으나, 패스실(15)에 크라이오 펌프를 설치하여도 된다. 이 경우, 패스실(15)을 다른 2개의 챔버(예컨대, 버퍼실(16a), 선회실(17))과 함께 본 발명의 제2 실시예에 따른 진공장치/진공시스템으로 진공배기할 수도 있고, 다른 1개의 챔버(예컨대, 반송실(13))과 함께 본 발명의 제1 실시예 따른 진공장치/진공시스템으로 진공배기할 수도 있다. Since the pass room 15 does not require a high vacuum unlike the other chambers, normally only the rough pump is installed without installing the cryo pump, so that the vacuum system / vacuum system provided in the pass room 15 The pump operating portion is not included, but the cryopump may be provided in the pass room 15. [ In this case, the pass room 15 may be evacuated to a vacuum apparatus / vacuum system according to the second embodiment of the present invention together with two other chambers (for example, the buffer chamber 16a and the vortex chamber 17) , And another vacuum chamber (for example, the transport chamber 13), to the vacuum apparatus / vacuum system according to the first embodiment of the present invention.

본 발명에 따른 진공장치/진공시스템에 사용되는 각각의 펌프 작동부는 해당 펌프 작동부가 접속되는 펌프부가 설치된 챔버의 내부공간의 부피에 따라 다른 출력 성능을 가지도록 구성할 수 있다. Each of the pump actuating parts used in the vacuum device / vacuum system according to the present invention may have different output performance depending on the volume of the internal space of the chamber in which the pump part connected to the corresponding pump actuating part is connected.

<진공배기 방법 및 이를 사용한 디바이스 제조 방법>&Lt; Vacuum exhaust method and device manufacturing method using the same &

이하 본 발명에 따른 진공장치/진공 시스템이 사용되는 유기 EL 표시 패널 제조 라인에서 각 챔버를 진공배기하는 방법과, 이를 사용하여 디바이스를 제조하는 방법에 대하여 설명한다.A method of evacuating each chamber in a manufacturing line of an organic EL display panel in which a vacuum device / vacuum system according to the present invention is used, and a method of manufacturing a device using the method are described below.

우선, 제조 라인을 구성하는 복수의 챔버에 설치된 복수의 펌프부에 의해 복수의 챔버를 진공배기한다(S1). 이 때, 복수의 챔버의 진공배기는 동시에 행해질 수도 있고, 순차적으로 또는 기판/마스크의 제조라인상의 흐름에 맞춰 정해진 순서대로 행해질 수도 있다.First, a plurality of chambers are evacuated by a plurality of pump units provided in a plurality of chambers constituting a manufacturing line (S1). At this time, the vacuum evacuation of the plurality of chambers may be performed at the same time, or may be performed sequentially, or in a predetermined order in accordance with the flow on the substrate / mask production line.

진공배기는 저진공 배기 단계 및 고진공 배기 단계의 2 단계에 거쳐 행해질 수 있다. 즉, 진공 장치/진공 시스템에 포함된 러프 배기용 펌프(21)에 의해 저진공의 압력까지 배기하고, 이어서, 고진공 배기용 펌프인 크라이오 펌프(20)를 사용하여 고진공의 압력까지 배기할 수 있다. 고진공 배기 단계는, 하나의 펌프부에 접속된 서로 다른 두 개의 펌프 작동부(제1 펌프 작동부 및 제2 펌프 작동부)에서 냉매를 고압으로 압축하는 단계와, 두 개의 펌프 작동부에서 압축된 고압 냉매를 냉매 배관을 통해 해당 펌프부의 2개의 크라이오 펌프에 각각 공급하는 단계와, 2개의 크라이오 펌프의 냉동기에서 고압 냉매를 각각 단열팽창시켜 냉매의 온도를 극저온으로 낮추는 단계와, 극저온으로 낮아진 냉매를 사용하여 2개의 크라이오 펌프의 극저온판을 소정의 온도로 각각 냉각시키는 단계를 포함한다. Vacuum evacuation can be performed through two steps of a low vacuum evacuation step and a high vacuum evacuation step. That is, it is evacuated to the low vacuum pressure by the rough exhaust pump 21 included in the vacuum system / vacuum system, and then to the high vacuum pressure using the cryo pump 20 which is the high vacuum exhaust pump have. The high vacuum evacuating step includes a step of compressing the refrigerant to a high pressure in two different pump operating parts (first pump operating part and second pump operating part) connected to one pump part, A step of supplying the high-pressure refrigerant to the two cryo pumps of the pump unit through the refrigerant pipe, the step of thermally expanding the high-pressure refrigerant in the refrigerators of the two cryo pumps to lower the temperature of the refrigerant to a cryogenic temperature, And cooling the cryogenic plates of the two cryo pumps to a predetermined temperature using a refrigerant.

복수의 펌프 작동부 각각 또는 복수의 펌프 작동부에서 복수의 펌프부로 고압 냉매를 공급하는 냉매 배관 각각에 설치된 냉매 압력 센서(25)에 의해 펌프 작동부로부터 펌프부로 공급되는 냉매의 압력을 측정한다(S2).The pressure of the refrigerant supplied from the pump operating portion to the pump portion is measured by the refrigerant pressure sensor 25 provided in each of the plurality of pump operating portions or the plurality of pump operating portions for supplying the high pressure refrigerant to the plurality of pump portions S2).

복수의 펌프 작동부 중 어느 하나의 펌프 작동부(예컨대, 제1 펌프 작동부)로부터 이에 접속된 서로 다른 2개의 펌프부(제1 펌프부 및 제n 펌프부)로 공급되는 냉매의 압력이 소정범위를 벗어나는 경우, 제1 펌프 작동부가 접속된 제1 펌프부에 접속된 다른 펌프 작동부인 제2 펌프 작동부의 제1 펌프부에 대한 출력 및 제1 펌프 작동부가 접속된 제n 펌프부에 접속된 다른 펌프 작동부인 제n 펌프 작동부의 제n 펌프부에 대한 출력을 조정함으로써, 제1 펌프부가 접속된 제1 챔버의 압력 및 제n 펌프부가 접속된 제n 챔버의 압력을 소정 범위내로 유지하도록 제어한다(S3). 이러한 펌프 작동부의 출력 제어는 제어부(24)에 의해 행해진다. The pressure of the refrigerant supplied to the two different pump units (the first pump unit and the nth pump unit) connected thereto from any one of the pump operation units (for example, the first pump operation unit) The output to the first pump section of the second pump operating section, which is another pump operating section connected to the first pump section to which the first pump operating section is connected, and the output to the nth pump section to which the first pump operating section is connected The controller controls the output of the first pump section connected to the first pump section and the pressure of the n-th chamber to which the n-th pump section is connected to be maintained within a predetermined range by adjusting the output of the n-th pump section of the n-th pump operating section, (S3). The output control of the pump operating section is performed by the control section 24. [

동시에, 제2 펌프 작동부에 접속된 다른 펌프부인 제2 펌프부에 대한 제2 펌프 작동부의 출력과, 제n 펌프 작동부에 접속된 제n 펌프부에 대한 제n 펌프 작동부의 출력을 조정하여, 제2 펌프 작동부의 전체 출력과 제n 펌프 작동부의 전체 출력이 각각의 펌프 작동부의 출력 제한치를 넘지 않도록 제어한다. 제어부(24)는 정상작동하는 다른 펌프 작동부의 출력을 조정함으로써, 각 챔버내의 압력이 동등한 정도가 되도록 제어한다. At the same time, the output of the second pump operating part to the second pump part, which is another pump part connected to the second pump operating part, and the output of the nth pump operating part to the nth pump part connected to the nth pump operating part , The total output of the second pump operating portion and the total output of the nth pump operating portion are controlled so as not to exceed the output limits of the respective pump operating portions. The control unit 24 controls the output of the other pump operating unit that operates normally so that the pressures in the respective chambers are equal to each other.

이를 통해, 복수의 펌프 작동부 중 하나 또는 그 이상의 펌프 작동부가 고장난 경우라도, 복수의 챔버내의 압력을 디바이스 제조 공정에 영향을 미치지 않는 소정범위 내로 동등하게 유지할 수 있다.This makes it possible to maintain the pressure in the plurality of chambers equally within a predetermined range that does not affect the device manufacturing process even when one or more of the pump operating parts fail.

이하 본 발명에 따른 진공장치/진공 시스템이 장착된 성막실(11)에서 기판상에 유기물층 또는 전극 금속막층을 형성하여, 유기 EL 표시 장치와 같은 디바이스를 제조하는 방법에 대하여 설명한다.A method of manufacturing a device such as an organic EL display device by forming an organic layer or an electrode metal layer on a substrate in a deposition chamber 11 equipped with a vacuum device / vacuum system according to the present invention will be described below.

우선, 성막실(11)에 설치된 펌프부에 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부로부터 고압 냉매를 공급하고 펌프부내의 2개 이상의 펌프에서 고압 냉매를 각각 단열 팽창시켜 해당 성막실(11)을 진공배기한다. First, high-pressure refrigerant is supplied from two or more different pump operating parts to the pump part provided in the film formation chamber 11, the high-pressure refrigerant is adiabatically expanded from two or more pumps in the pump part, do.

원하는 고진공 상태로 배기된 성막실(11)내로 마스크 및 기판을 반입한다. The mask and the substrate are carried into the film forming chamber 11 exhausted in a desired high vacuum state.

마스크 및 기판의 상대적 위치를 조정한다.Thereby adjusting the relative position of the mask and the substrate.

상대적 위치가 조정된 마스크를 통해 기판상에 증발원으로부터 증발된 증착재료를 성막한다.The evaporated evaporation material is evaporated from the evaporation source on the substrate through the mask with the relative position adjusted.

반입 단계로부터 성막 단계가 행해지는 동안, 성막실(11)내의 압력을 챔버 압력 센서(117)에 의해 측정한다.While the film-forming step is performed from the carrying-in step, the pressure in the film-forming chamber 11 is measured by the chamber pressure sensor 117.

측정된 챔버내의 압력이 소정범위를 벗어나는 경우, 해당 성막실에 설치된 펌프부에 접속된 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부로부터 공급되는 냉매의 압력을 측정한다.When the measured pressure in the chamber is out of a predetermined range, the pressure of the refrigerant supplied from two or more different pump operating portions connected to the pump portion provided in the deposition chamber is measured.

이 중 어느 하나의 펌프 작동부로부터 공급되는 냉매의 압력이 소정의 범위를 벗어나는 경우, 해당 펌프 작동부에 의한 냉매 압축 동작을 중지하고, 해당 펌프부에 접속된 다른 펌프 작동부의 해당 펌프부에 대한 출력 및 해당 다른 펌프 작동부에 접속된 다른 펌프부에 대한 출력을 조정하여, 해당 성막실 및 해당 다른 펌프부에 의해 진공배기되는 다른 성막실의 압력이 소정 범위내가 되도록 제어한다.When the pressure of the refrigerant supplied from any one of the pump operating portions is out of a predetermined range, the refrigerant compressing operation by the corresponding pump operating portion is stopped, and the refrigerant compressing operation of the other pump operating portion connected to the corresponding pump portion Output and the output to another pump section connected to the other pump operating section are controlled so that the pressure of the other deposition chamber evacuated by the deposition chamber and the other pump section is controlled within a predetermined range.

이러한 방법에 의해, 성막실에 설치된 펌프부에 고압 냉매를 공급하기 위한 2개 이상의 서로 다른 펌프 작동부 중 하나가 고장나더라도, 성막실내를 소정의 압력범위로 유지할 수 있기 때문에, 해당 성막실에서의 성막공정을 바로 중지하지 않아도 되며, 메인티넌스를 위한 준비가 될 때까지, 성막실에서의 성막처리를 정상적으로 진행할 수 있다. According to this method, even if one of two or more different pump operating portions for supplying high-pressure refrigerant to the pump portion provided in the deposition chamber fails, the deposition chamber can be maintained in a predetermined pressure range, It is not necessary to immediately stop the film forming process of the film forming chamber, and the film forming process in the film forming chamber can be normally proceeded until it is ready for maintenance.

상기한 실시예는 본 발명의 일 예를 나타낸 것으로, 본 발명은 상기한 실시예의 구성에 한정되지 않으며, 본 기술사상의 범위내에서 적절히 변형하여도 된다. The above-described embodiment shows an example of the present invention, and the present invention is not limited to the configuration of the above-described embodiment, and may be appropriately modified within the scope of the present invention.

1: 성막 클러스터
11: 성막실(처리실)
12: 마스크 스톡 챔버
13: 반송실
14: 반송 로봇
15: 패스실
16: 버퍼실
20: 크라이오 펌프
20a, 20b, 20c, 20d, 20e, 20f: 제1 펌프 내지 제6 펌프
21: 러프 배기용 펌프
22: 펌프 작동부
22a, 22b, 22c: 제1 펌프 작동부 내지 제3 펌프 작동부
23: 냉매 배관
24: 제어부
25: 냉매 압력 센서
30: 제1 펌프부
31: 제2 펌프부
32: 제3 펌프부
1: Tape Clusters
11: Deposition chamber (treatment chamber)
12: mask stock chamber
13: Carrier
14: Transfer robot
15: Pass room
16: buffer chamber
20: Cryo pump
20a, 20b, 20c, 20d, 20e, 20f: first to sixth pumps
21: Rough exhaust pump
22: Pump operating part
22a, 22b, 22c: a first pump operating portion to a third pump operating portion
23: Refrigerant piping
24:
25: Refrigerant pressure sensor
30: First pump section
31: Second pump section
32: Third pump section

Claims (29)

복수의 처리 공간을 배기하기 위한 진공 시스템으로서,
각각이 상기 복수의 처리 공간 중 어느 하나를 배기하는 복수의 펌프부와,
각각이 상기 복수의 펌프부 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부와,
상기 복수의 펌프 작동부 또는 상기 복수의 펌프부의 고장을 검지하는 검지수단과,
상기 복수의 펌프부, 상기 복수의 펌프 작동부, 및 상기 검지수단을 제어하기 위한 제어부를 포함하며,
상기 복수의 펌프부 중 적어도 하나의 펌프부는 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부에 접속되며,
상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 적어도 하나는 서로 다른 2개 이상의 펌프부에 접속되며,
상기 제어부는, 상기 검지수단에 의해, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 적어도 하나의 펌프 작동부, 또는, 상기 적어도 하나의 펌프부에 포함된 적어도 하나의 펌프의 고장을 검지한 경우, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 다른 펌프 작동부, 또는 상기 적어도 하나의 펌프부에 포함된 다른 펌프가 접속된 펌프 작동부의 출력을 조정함으로써, 상기 적어도 하나의 펌프부가 접속된 처리 공간 내의 압력을 소정의 범위 내로 유지하도록 제어하는
진공 시스템.
A vacuum system for evacuating a plurality of processing spaces,
A plurality of pump units each for exhausting any one of the plurality of processing spaces;
A plurality of pump operating portions each connected to at least one of the plurality of pump portions to operate the pump,
Detection means for detecting a failure of the plurality of pump operation portions or the plurality of pump portions,
And a control section for controlling the plurality of pump sections, the plurality of pump operating sections, and the detecting section,
At least one of the plurality of pump units is connected to two or more different pump operating units,
At least one of the two or more different pump operating portions is connected to two or more different pump portions,
Wherein when the detection means detects at least one pump operation part of at least two pump operation parts or at least one pump included in the at least one pump part by the detection part, By adjusting the output of the pump operation portion to which another pump operation portion of two or more different pump operation portions, or another pump included in the at least one pump portion, is connected, the pressure in the processing space to which the at least one pump portion is connected To be controlled within a predetermined range
Vacuum system.
제1항에 있어서,
상기 복수의 처리 공간 중 제1 처리 공간을 배기하기 위한 제1 펌프부는 제1 펌프 및 제2 펌프를 포함하고,
상기 제1 펌프 및 상기 제2 펌프 중 어느 하나는 상기 복수의 펌프 작동부 중 제1 펌프 작동부에 접속되며, 상기 제1 펌프 및 상기 제2 펌프 중 다른 하나는 제2 펌프 작동부에 접속되는
진공 시스템.
The method according to claim 1,
Wherein the first pump portion for exhausting the first processing space among the plurality of processing spaces includes a first pump and a second pump,
Wherein one of the first pump and the second pump is connected to the first pump operating portion of the plurality of pump operating portions and the other one of the first pump and the second pump is connected to the second pump operating portion
Vacuum system.
복수의 처리 공간을 배기하기 위한 진공 시스템으로서,
각각이 상기 복수의 처리 공간 중 어느 하나를 배기하는 복수의 펌프와,
각각이 상기 복수의 펌프 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부와,
상기 복수의 펌프 작동부 또는 상기 복수의 펌프의 고장을 검지하는 검지수단과,
상기 복수의 펌프, 상기 복수의 펌프 작동부, 및 상기 검지수단을 제어하기 위한 제어부를 포함하고,
상기 복수의 처리 공간 중 제1 처리 공간을 배기하기 위한 펌프는, 제1 펌프와 제2 펌프를 포함하고,
상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 어느 하나는 상기 복수의 펌프 작동부 중 제1 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 다른 하나는, 제2 펌프 작동부에 접속되며,
상기 복수의 처리 공간 중 제2 처리 공간을 배기하기 위한 펌프는 제3 펌프를 포함하며,
상기 제3 펌프는 상기 제2 펌프 작동부에 접속되며,
상기 제어부는, 상기 검지수단에 의해, 상기 복수의 처리 공간 중 어느 하나의 처리 공간을 배기하기 위한 펌프에 접속된 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 적어도 하나의 펌프 작동부, 또는, 상기 하나의 처리 공간을 배기하기 위한 펌프 중 적어도 하나의 펌프의 고장을 검지한 경우, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 다른 펌프 작동부, 또는 상기 하나의 처리 공간을 배기하기 위한 펌프 중 다른 펌프에 접속된 펌프 작동부의 출력을 조정함으로써, 상기 하나의 처리 공간 내의 압력을 소정의 범위 내로 유지하도록 제어하는
진공 시스템.
A vacuum system for evacuating a plurality of processing spaces,
A plurality of pumps each for exhausting any one of the plurality of processing spaces;
A plurality of pump operating portions, each of which is connected to at least one of the plurality of pumps,
Detection means for detecting a failure of the plurality of pump operation portions or the plurality of pumps,
And a control section for controlling the plurality of pumps, the plurality of pump operating sections, and the detecting section,
Wherein the pump for exhausting the first processing space among the plurality of processing spaces includes a first pump and a second pump,
Wherein one of the first pump and the second pump is connected to a first pump operating portion of the plurality of pump operating portions and the other one of the first pump and the second pump is connected to the second pump operating portion And,
Wherein the pump for exhausting the second processing space among the plurality of processing spaces includes a third pump,
The third pump is connected to the second pump operating portion,
Wherein the control unit controls at least one pump operating part of two or more different pump operating parts connected to a pump for evacuating any one of the plurality of processing spaces by the detecting device, When detecting failure of at least one pump out of the pumps for exhausting the processing space, connecting to another pump operating part of the two or more different pump operating parts, or to another pump among the pumps for exhausting the one processing space By controlling the output of the pump operation section, the pressure within the one processing space is maintained within a predetermined range
Vacuum system.
제3항에 있어서,
상기 제2 처리 공간을 배기하기 위한 펌프는 제4 펌프를 더 포함하며,
상기 제4 펌프는 상기 제1 펌프 작동부에 접속되는,
진공 시스템.
The method of claim 3,
Wherein the pump for exhausting the second processing space further comprises a fourth pump,
And the fourth pump is connected to the first pump operating portion,
Vacuum system.
복수의 처리 공간을 배기하기 위한 진공 시스템으로서,
각각이 상기 복수의 처리 공간 중 어느 하나를 배기하는 복수의 펌프와,
각각이 상기 복수의 펌프 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부와,
상기 복수의 펌프 작동부 또는 상기 복수의 펌프의 고장을 검지하는 검지수단과,
상기 복수의 펌프, 상기 복수의 펌프 작동부, 및 상기 검지수단을 제어하기 위한 제어부를
포함하고,
상기 복수의 처리 공간 중 제1 처리 공간을 배기하기 위한 펌프는, 제1 펌프와 제2 펌프를 포함하고,
상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 어느 하나는 상기 복수의 펌프 작동부 중 제1 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 다른 하나는 제2 펌프 작동부에 접속되며,
상기 복수의 처리 공간 중 제2 처리 공간을 배기하기 위한 펌프는 제3 펌프 및 제4 펌프를 포함하며,
상기 제3 펌프 및 상기 제4 펌프 중 어느 하나는 상기 제2 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제3 펌프 및 상기 제4 펌프 중 다른 하나는 제3 펌프 작동부에 접속되며,
상기 제어부는, 상기 검지수단에 의해, 상기 복수의 처리 공간 중 어느 하나의 처리 공간을 배기하기 위한 펌프에 접속된 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 적어도 하나의 펌프 작동부, 또는, 상기 하나의 처리 공간을 배기하기 위한 펌프 중 적어도 하나의 펌프의 고장을 검지한 경우, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 다른 펌프 작동부, 또는 상기 하나의 처리 공간을 배기하기 위한 펌프 중 다른 펌프에 접속된 펌프 작동부의 출력을 조정함으로써, 상기 하나의 처리 공간 내의 압력을 소정의 범위 내로 유지하도록 제어하는
진공 시스템.
A vacuum system for evacuating a plurality of processing spaces,
A plurality of pumps each for exhausting any one of the plurality of processing spaces;
A plurality of pump operating portions, each of which is connected to at least one of the plurality of pumps,
Detection means for detecting a failure of the plurality of pump operation portions or the plurality of pumps,
And a control unit for controlling the plurality of pumps, the plurality of pump actuating units, and the detecting unit
Including,
Wherein the pump for exhausting the first processing space among the plurality of processing spaces includes a first pump and a second pump,
Wherein one of the first pump and the second pump is connected to the first pump operating portion of the plurality of pump operating portions and the other one of the first pump and the second pump is connected to the second pump operating portion ,
Wherein the pump for exhausting the second processing space among the plurality of processing spaces includes a third pump and a fourth pump,
Wherein one of the third pump and the fourth pump is connected to the second pump operating portion and the other one of the third pump and the fourth pump is connected to the third pump operating portion,
Wherein the control unit controls at least one pump operating part of two or more different pump operating parts connected to a pump for evacuating any one of the plurality of processing spaces by the detecting device, When detecting failure of at least one pump out of the pumps for exhausting the processing space, connecting to another pump operating part of the two or more different pump operating parts, or to another pump among the pumps for exhausting the one processing space By controlling the output of the pump operation section, the pressure within the one processing space is maintained within a predetermined range
Vacuum system.
제5항에 있어서,
상기 복수의 처리 공간 중 제3 처리 공간을 배기하기 위한 펌프는 제5 펌프 및 제6 펌프를 포함하며,
상기 제5 펌프 및 상기 제6 펌프 중 어느 하나는 상기 제3 펌프 작동부에 접속되며, 상기 제5 펌프 및 상기 제6 펌프 중 다른 하나는 상기 제1 펌프 작동부에 접속되는,
진공 시스템.
6. The method of claim 5,
Wherein the pump for exhausting the third processing space among the plurality of processing spaces includes a fifth pump and a sixth pump,
Wherein one of the fifth pump and the sixth pump is connected to the third pump operating portion and the other one of the fifth pump and the sixth pump is connected to the first pump operating portion,
Vacuum system.
제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 펌프 작동부는, 펌프에 전력 또는 압축냉매를 공급하기 위한 공급부인 진공 시스템.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
Wherein the pump operating portion is a supply portion for supplying power or compressed refrigerant to the pump.
제7항에 있어서,
상기 펌프는, 냉동기를 포함하는 크라이오 펌프를 포함하며,
상기 펌프 작동부는, 냉매를 압축하여 상기 냉동기에 공급하기 위한 컴프레서인 진공 시스템.
8. The method of claim 7,
The pump includes a cryo pump including a freezer,
Wherein the pump operating portion is a compressor for compressing refrigerant and supplying the compressed refrigerant to the freezer.
제8항에 있어서, 상기 검지수단은, 상기 펌프 작동부로부터 상기 펌프에 공급되는 냉매의 압력을 측정하기 위한 압력측정수단을 포함하는 진공 시스템.
The vacuum system according to claim 8, wherein the detecting means includes pressure measuring means for measuring pressure of the refrigerant supplied from the pump operating portion to the pump.
제9항에 있어서, 상기 검지수단은, 상기 압력측정수단에 의해 측정된, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 어느 하나의 펌프 작동부로부터 공급되는 냉매의 압력이 소정의 범위로부터 벗어나는 경우에, 해당 펌프 작동부가 고장이라고 판단하는 진공 시스템.10. The refrigerating apparatus according to claim 9, wherein said detecting means detects the pressure of the refrigerant supplied from one of the two or more pump operating portions, which is measured by the pressure measuring means, , And judges that the pump operating part is malfunctioning. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어부는 상기 복수의 처리 공간의 압력이 동등하게 되도록, 상기 복수의 펌프 작동부를 제어하는 진공 시스템.7. The vacuum system according to any one of claims 1 to 6, wherein the control section controls the plurality of pump operating sections so that the pressure of the plurality of processing spaces becomes equal. 디바이스 제조 시스템으로서,
복수의 챔버와,
각각이 상기 복수의 챔버 중 어느 하나에 설치되는 복수의 펌프부와,
각각이 상기 복수의 펌프부 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부,
상기 복수의 펌프 작동부 또는 상기 복수의 펌프부의 고장을 검지하는 검지수단과,
상기 복수의 펌프부, 상기 복수의 펌프 작동부, 및 상기 검지수단을 제어하기 위한 제어부를 포함하며,
상기 복수의 펌프부 중 적어도 하나의 펌프부는 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부에 접속되며,
상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 적어도 하나는, 서로 다른 2개 이상의 펌프부에 접속되며,
상기 제어부는, 상기 검지수단에 의해, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 적어도 하나의 펌프 작동부, 또는, 상기 적어도 하나의 펌프부에 포함된 적어도 하나의 펌프의 고장을 검지한 경우, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 다른 펌프 작동부, 또는 상기 적어도 하나의 펌프부에 포함된 다른 펌프가 접속된 펌프 작동부의 출력을 조정함으로써, 상기 적어도 하나의 펌프부가 접속된 처리 공간 내의 압력을 소정의 범위 내로 유지하도록 제어하는
디바이스 제조 시스템.
A device manufacturing system comprising:
A plurality of chambers,
A plurality of pump units, each of which is installed in any one of the plurality of chambers;
Each of which is connected to at least one of the plurality of pump sections, for operating the pump,
Detection means for detecting a failure of the plurality of pump operation portions or the plurality of pump portions,
And a control section for controlling the plurality of pump sections, the plurality of pump operating sections, and the detecting section,
At least one of the plurality of pump units is connected to two or more different pump operating units,
At least one of the two or more different pump operating portions is connected to two or more different pump portions,
Wherein when the detection means detects at least one pump operation part of at least two pump operation parts or at least one pump included in the at least one pump part by the detection part, By adjusting the output of the pump operation portion to which another pump operation portion of two or more different pump operation portions, or another pump included in the at least one pump portion, is connected, the pressure in the processing space to which the at least one pump portion is connected To be controlled within a predetermined range
Device manufacturing system.
제12항에 있어서,
상기 복수의 챔버 중 제1 챔버에 설치된 제1 펌프부는 제1 펌프 및 제2 펌프를 포함하고,
상기 제1 펌프 및 상기 제2 펌프 중 어느 하나는 상기 복수의 펌프 작동부 중 제1 펌프 작동부에 접속되며, 상기 제1 펌프 및 상기 제2 펌프 중 다른 하나는 제2 펌프 작동부에 접속되는
디바이스 제조 시스템.
13. The method of claim 12,
Wherein the first pump unit installed in the first chamber of the plurality of chambers includes a first pump and a second pump,
Wherein one of the first pump and the second pump is connected to the first pump operating portion of the plurality of pump operating portions and the other one of the first pump and the second pump is connected to the second pump operating portion
Device manufacturing system.
디바이스 제조 시스템에 있어서,
복수의 챔버와,
각각이 상기 복수의 챔버 중 어느 하나에 설치되는 복수의 펌프와,
각각이 상기 복수의 펌프 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부와,
상기 복수의 펌프 작동부 또는 상기 복수의 펌프의 고장을 검지하는 검지수단과,
상기 복수의 펌프, 상기 복수의 펌프 작동부, 및 상기 검지수단을 제어하기 위한 제어부를 포함하고,
상기 복수의 챔버 중 제1 챔버에 설치된 펌프는, 제1 펌프와 제2 펌프를 포함하고,
상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 어느 하나는 상기 복수의 펌프 작동부 중 제1 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 다른 하나는 제2 펌프 작동부에 접속되며,
상기 복수의 챔버 중 제2 챔버에 설치된 펌프는 제3 펌프를 포함하며,
상기 제3 펌프는 상기 제2 펌프 작동부에 접속되며,
상기 제어부는, 상기 검지수단에 의해, 상기 복수의 챔버 중 어느 하나의 챔버를 배기하기 위한 펌프에 접속된 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 적어도 하나의 펌프 작동부, 또는, 상기 하나의 챔버를 배기하기 위한 펌프 중 적어도 하나의 펌프의 고장을 검지한 경우, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 다른 펌프 작동부, 또는 상기 하나의 챔버를 배기하기 위한 펌프 중 다른 펌프에 접속된 펌프 작동부의 출력을 조정함으로써, 상기 하나의 챔버 내의 압력을 소정의 범위 내로 유지하도록 제어하는
디바이스 제조 시스템.
In a device manufacturing system,
A plurality of chambers,
A plurality of pumps, each of which is installed in any one of the plurality of chambers;
A plurality of pump operating portions, each of which is connected to at least one of the plurality of pumps,
Detection means for detecting a failure of the plurality of pump operation portions or the plurality of pumps,
And a control section for controlling the plurality of pumps, the plurality of pump operating sections, and the detecting section,
Wherein the pump installed in the first chamber of the plurality of chambers includes a first pump and a second pump,
Wherein one of the first pump and the second pump is connected to the first pump operating portion of the plurality of pump operating portions and the other one of the first pump and the second pump is connected to the second pump operating portion ,
Wherein the pump installed in the second chamber of the plurality of chambers includes a third pump,
The third pump is connected to the second pump operating portion,
Wherein the control unit controls at least one of the two or more pump operation units connected to the pump for exhausting one of the chambers by the detection unit, The pump operating part connected to the other pump among the two or more different pump operating parts, or the pump for exhausting the one chamber, of the pump operating part of the at least one pump, Controlling the output so as to maintain the pressure in the one chamber within a predetermined range
Device manufacturing system.
제14항에 있어서,
상기 복수의 챔버 중 제2 챔버에 설치된 펌프는 제4 펌프를 더 포함하며,
상기 제4 펌프는 상기 제1 펌프 작동부에 접속되는,
디바이스 제조 시스템.
15. The method of claim 14,
Wherein the pump installed in the second chamber of the plurality of chambers further includes a fourth pump,
And the fourth pump is connected to the first pump operating portion,
Device manufacturing system.
제15항에 있어서,
상기 제1 챔버 및 상기 제2 챔버가, 상기 복수의 챔버 중 제3 챔버를 사이에 두고 접속되는
디바이스 제조 시스템.
16. The method of claim 15,
Wherein the first chamber and the second chamber are connected via a third one of the plurality of chambers
Device manufacturing system.
제16항에 있어서,
상기 제1 챔버 및 상기 제2 챔버는 유기재료를 증착하기 위한 증착실이고,
상기 제3 챔버는 기판 또는 마스크를 반송하기 위한 반송실인,
디바이스 제조 시스템.
17. The method of claim 16,
Wherein the first chamber and the second chamber are evaporation chambers for depositing an organic material,
Wherein the third chamber is a transport chamber for transporting the substrate or the mask,
Device manufacturing system.
디바이스 제조 시스템에 있어서,
복수의 챔버와,
각각이 상기 복수의 챔버 중 어느 하나에 설치되는 복수의 펌프와,
각각이 상기 복수의 펌프 중 적어도 하나에 접속되어, 펌프를 작동시키는 복수의 펌프 작동부와,
상기 복수의 펌프 작동부 또는 상기 복수의 펌프의 고장을 검지하는 검지수단과,
상기 복수의 펌프, 상기 복수의 펌프 작동부, 및 상기 검지수단을 제어하기 위한 제어부를 포함하고,
상기 복수의 챔버 중 제1 챔버에 설치된 펌프는, 제1 펌프와 제2 펌프를 포함하고,
상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 어느 하나는 상기 복수의 펌프 작동부 중 제1 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제1 펌프와 상기 제2 펌프 중 다른 하나는 제2 펌프 작동부에 접속되며,
상기 복수의 챔버 중 제2 챔버에 설치되는 펌프는 제3 펌프 및 제4 펌프를 포함하며,
상기 제3 펌프 및 상기 제4 펌프 중 어느 하나는 상기 제2 펌프 작동부에 접속되고, 상기 제3 펌프 및 상기 제4 펌프 중 다른 하나는 제3 펌프 작동부에 접속되며,
상기 제어부는, 상기 검지수단에 의해, 상기 복수의 챔버 중 어느 하나의 챔버를 배기하기 위한 펌프에 접속된 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 적어도 하나의 펌프 작동부, 또는, 상기 하나의 챔버를 배기하기 위한 펌프 중 적어도 하나의 펌프의 고장을 검지한 경우, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 다른 펌프 작동부, 또는 상기 하나의 챔버를 배기하기 위한 펌프 중 다른 펌프에 접속된 펌프 작동부의 출력을 조정함으로써, 상기 하나의 챔버 내의 압력을 소정의 범위 내로 유지하도록 제어하는
디바이스 제조 시스템.
In a device manufacturing system,
A plurality of chambers,
A plurality of pumps, each of which is installed in any one of the plurality of chambers;
A plurality of pump operating portions, each of which is connected to at least one of the plurality of pumps,
Detection means for detecting a failure of the plurality of pump operation portions or the plurality of pumps,
And a control section for controlling the plurality of pumps, the plurality of pump operating sections, and the detecting section,
Wherein the pump installed in the first chamber of the plurality of chambers includes a first pump and a second pump,
Wherein one of the first pump and the second pump is connected to the first pump operating portion of the plurality of pump operating portions and the other one of the first pump and the second pump is connected to the second pump operating portion ,
Wherein the pump installed in the second chamber of the plurality of chambers includes a third pump and a fourth pump,
Wherein one of the third pump and the fourth pump is connected to the second pump operating portion and the other one of the third pump and the fourth pump is connected to the third pump operating portion,
Wherein the control unit controls at least one of the two or more pump operation units connected to the pump for exhausting one of the chambers by the detection unit, The pump operating part connected to the other pump among the two or more different pump operating parts, or the pump for exhausting the one chamber, of the pump operating part of the at least one pump, Controlling the output so as to maintain the pressure in the one chamber within a predetermined range
Device manufacturing system.
제18항에 있어서,
상기 복수의 챔버 중 제3 챔버에 설치되는 펌프는 제5 펌프 및 제6 펌프를 포함하며,
상기 제5 펌프 및 상기 제6 펌프 중 어느 하나는 상기 제3 펌프 작동부에 접속되며, 상기 제5 펌프 및 상기 제6 펌프 중 다른 하나는 상기 제1 펌프 작동부에 접속되는,
디바이스 제조 시스템.
19. The method of claim 18,
Wherein the pump installed in the third chamber of the plurality of chambers includes a fifth pump and a sixth pump,
Wherein one of the fifth pump and the sixth pump is connected to the third pump operating portion and the other one of the fifth pump and the sixth pump is connected to the first pump operating portion,
Device manufacturing system.
제19항에 있어서,
상기 제1 챔버 및 상기 제3 챔버가, 상기 제2 챔버를 사이에 두고 접속되는
디바이스 제조 시스템.
20. The method of claim 19,
Wherein the first chamber and the third chamber are connected via the second chamber
Device manufacturing system.
제20항에 있어서,
상기 제1 챔버 및 상기 제3 챔버는 사용전후의 마스크가 수납되는 마스크 스톡실이고,
상기 제2 챔버는 기판 또는 마스크를 반송하기 위한 반송실인,
디바이스 제조 시스템.
21. The method of claim 20,
Wherein the first chamber and the third chamber are a mask stock chamber in which a mask is housed before and after use,
Wherein the second chamber is a transport chamber for transporting the substrate or the mask,
Device manufacturing system.
제14항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 펌프 작동부는, 펌프에 전력 또는 압축냉매를 공급하기 위한 공급부인 디바이스 제조 시스템.
22. The method according to any one of claims 14 to 21,
Wherein the pump operating portion is a supply portion for supplying power or compressed refrigerant to the pump.
제22항에 있어서,
상기 펌프는, 냉동기를 포함하는 크라이오 펌프를 포함하며,
상기 펌프 작동부는, 냉매를 압축하여 상기 냉동기에 공급하기 위한 컴프레서인
디바이스 제조 시스템.
23. The method of claim 22,
The pump includes a cryo pump including a freezer,
The pump operating section includes a compressor for compressing the refrigerant and supplying it to the refrigerator,
Device manufacturing system.
제23항에 있어서, 상기 검지수단은, 상기 펌프 작동부로부터 상기 펌프에 공급되는 냉매를 측정하기 위한 압력측정수단을 포함하는 디바이스 제조 시스템. The device manufacturing system according to claim 23, wherein the detecting means includes pressure measuring means for measuring a refrigerant supplied from the pump operating portion to the pump. 제24항에 있어서,
상기 검지수단은, 상기 압력측정수단에 의해 측정된, 상기 서로 다른 2개 이상의 펌프 작동부 중 어느 하나의 펌프 작동부로부터 공급되는 냉매의 압력이 소정의 범위로부터 벗어나는 경우에, 해당 펌프 작동부가 고장이라고 판단하는 디바이스 제조 시스템.
25. The method of claim 24,
When the pressure of the refrigerant supplied from any one of the two or more pump operating portions measured by the pressure measuring means deviates from a predetermined range, the detecting means detects that the pump operating portion fails Quot; device &quot;
제14항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제어부는 상기 디바이스 제조 시스템의 복수의 챔버 내의 압력이 동등하게 되도록, 상기 복수의 펌프 작동부를 제어하는 디바이스 제조 시스템.
22. The method according to any one of claims 14 to 21,
Wherein the control unit controls the plurality of pump actuating units so that the pressures in the plurality of chambers of the device manufacturing system become equal.
디바이스의 제조 방법으로서,
제24항의 디바이스 제조 시스템을 준비하는 단계,
상기 디바이스 제조 시스템에 포함되는 복수의 챔버 중 어느 하나의 챔버에 설치된 복수의 펌프에 서로 다른 2개의 펌프 작동부로부터 고압 냉매를 공급하는 단계,
상기 복수의 펌프에서 고압 냉매를 팽창시켜 상기 하나의 챔버를 진공배기하는 단계,
상기 하나의 챔버내의 압력을 측정하는 단계,
상기 서로 다른 2개의 펌프 작동부로부터 상기 복수의 펌프로 공급되는 냉매의 압력을 측정하는 단계, 및
상기 서로 다른 2개의 펌프 작동부 중 어느 하나의 펌프 작동부로부터 공급되는 냉매의 압력이 소정범위를 벗어나는 경우, 상기 서로 다른 2개의 펌프 작동부 중 다른 하나의 펌프 작동부의 출력을 조정함으로써, 상기 복수의 펌프가 접속된 상기 하나의 챔버내의 압력을 소정 범위내로 유지하도록 제어하는 단계를 포함하는
디바이스 제조 방법.
A method of manufacturing a device,
Preparing the device manufacturing system of claim 24,
Supplying high-pressure refrigerant from two different pump operating parts to a plurality of pumps installed in any one of a plurality of chambers included in the device manufacturing system,
Expanding the high-pressure refrigerant in the plurality of pumps to evacuate the one chamber,
Measuring a pressure in the one chamber,
Measuring the pressure of the refrigerant supplied to the plurality of pumps from the two different pump operating portions, and
Wherein when the pressure of the refrigerant supplied from any one of the two pump operating portions is out of a predetermined range, the output of the other pump operating portion of the two different pump operating portions is adjusted, To maintain the pressure in said one chamber to which said pump is connected within a predetermined range
/ RTI &gt;
제27항에 있어서,
상기 냉매의 압력을 측정하는 단계는, 상기 하나의 챔버내의 압력을 측정하는 단계에서 측정된 압력이 소정 범위를 벗어나는 경우에 행해지는,
디바이스 제조 방법.
28. The method of claim 27,
Wherein the measuring of the pressure of the refrigerant is performed when the pressure measured in the step of measuring the pressure in the one chamber is out of a predetermined range,
/ RTI &gt;
제27항에 있어서,
상기 제어하는 단계에서는, 상기 복수의 챔버내의 압력이 동등하게 되도록, 상기 복수의 챔버 중 다른 챔버에 설치된 다른 펌프에 고압 냉매를 공급하는 다른 펌프 작동부의 출력도 조정하는 디바이스 제조 방법.
28. The method of claim 27,
Wherein the controlling step also adjusts the output of another pump operating section that supplies high-pressure refrigerant to another pump installed in another chamber of the plurality of chambers so that the pressures in the plurality of chambers become equal.
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