JP3200668B2 - Exhaust method in cryopump and micromachining equipment - Google Patents

Exhaust method in cryopump and micromachining equipment

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JP3200668B2
JP3200668B2 JP22470091A JP22470091A JP3200668B2 JP 3200668 B2 JP3200668 B2 JP 3200668B2 JP 22470091 A JP22470091 A JP 22470091A JP 22470091 A JP22470091 A JP 22470091A JP 3200668 B2 JP3200668 B2 JP 3200668B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、プロセスチャンバにロ
ードロック室を付設した微細加工装置における排気方式
およびこの種の排気方式に使用可能なクライオポンプ
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an exhaust system in a fine processing apparatus provided with a load lock chamber in a process chamber.
And a cryopump that can be used for this type of exhaust system .

【0002】[0002]

【従来の技術】図4に、従来の排気方式を用いたイオン
注入装置の構成を示す。この装置において、半導体ウエ
ハ200は、ターンテーブル等のウエハ搬送機構(図示
せず)によりゲートバルブ202を介してロードロック
室204に搬入され、ロードロック室204内のハンド
アームによりゲートバルブ206を介してプロセスチャ
ンバ208内にロードされる。イオン注入プロセスの終
了した半導体ウエハ200は、上記と反対の動作で、プ
ロセスチャンバ208よりロードロック室204を介し
て搬出される。
2. Description of the Related Art FIG. 4 shows the structure of an ion implantation apparatus using a conventional exhaust system. In this apparatus, a semiconductor wafer 200 is loaded into a load lock chamber 204 through a gate valve 202 by a wafer transfer mechanism (not shown) such as a turntable, and is moved through a gate valve 206 by a hand arm in the load lock chamber 204. Loaded into the process chamber 208. The semiconductor wafer 200 having undergone the ion implantation process is carried out of the process chamber 208 via the load lock chamber 204 by the operation opposite to the above.

【0003】プロセスチャンバ208は、ゲートバルブ
210を介してクライオポンプ212に連通され、常時
イオン注入プロセスに適した真空状態、たとえば1×1
-6Torr程度の気圧に真空引きされている。
A process chamber 208 is connected to a cryopump 212 via a gate valve 210, and is always in a vacuum state suitable for an ion implantation process, for example, 1 × 1.
It is evacuated to a pressure of about 0 -6 Torr.

【0004】ロードロック室204は、配管214を介
してロータリポンプ218に連通されるとともに、配管
220を介してクライオポンプ224に連通される。配
管214,220の途中にはそれぞれ電磁弁216,2
22が設けられる。ロードロック室204は、半導体ウ
エハ200を1枚ずつ搬入する度に室内を大気圧から数
10mmTorr程度の気圧まで排気(真空引き)される。そ
の真空状態の下で、ロードロック室204内のハンドア
ームが半導体ウエハ200をプロセスチャンバ208に
ロード/アンロードする。
The load lock chamber 204 is connected to a rotary pump 218 via a pipe 214 and to a cryopump 224 via a pipe 220. In the middle of the pipes 214 and 220, solenoid valves 216 and 2
22 are provided. The load lock chamber 204 is evacuated (evacuated) from atmospheric pressure to a pressure of about several tens of mm Torr each time the semiconductor wafers 200 are loaded one by one. Under the vacuum condition, a hand arm in the load lock chamber 204 loads / unloads the semiconductor wafer 200 into / from the process chamber 208.

【0005】ロードロック室204の真空引きを行うに
は、先ず電磁弁222をオフにしたまま電磁弁214を
オンにして、ロータリポンプ218によりロードロック
室204を数100mmTorr程度まで粗引きする。通常、
真空度が約100mmTorrを超えると、ロータリポンプか
ら被排気室へオイルの逆流が起こるので、数100mmTo
rr程度に達したなら電磁弁216をオフにする。
In order to evacuate the load lock chamber 204, first, the electromagnetic valve 214 is turned on while the electromagnetic valve 222 is turned off, and the load lock chamber 204 is roughly evacuated to about several hundred mmTorr by the rotary pump 218. Normal,
When the degree of vacuum exceeds about 100 mmTorr, oil flows backward from the rotary pump to the exhaust chamber.
When the pressure reaches about rr, the solenoid valve 216 is turned off.

【0006】次に、電磁弁222をオンにして、クライ
オポンプ224により、ロードロック室204を真空引
きする。この真空引きによってロードロック室204の
気圧を数10mmTorr以下の高真空まで排気する。
Next, the electromagnetic valve 222 is turned on, and the load lock chamber 204 is evacuated by the cryopump 224. The evacuation evacuates the load lock chamber 204 to a high vacuum of several tens of mm Torr or less .

【0007】このように、ロードロック室204におい
ては、最初にロータリポンプ218によって数100mm
Torr程度まで粗い真空引き(粗引き)を行い、次にクラ
イオポンプ224によって目的の真空状態(数10mmTo
rr程度)まで真空引きする。クライオポンプは、極度に
冷却した面に気体分子を凝結して排気する方式の真空ポ
ンプであるから、オイル等の逆流がなく、ロードロック
室204を清浄な高真空状態にすることができる。
As described above, in the load lock chamber 204, first, several hundred mm
A rough evacuation (rough evacuation) is performed to about Torr, and then a desired vacuum state (several tens of mm
Vacuum to about rr). Since the cryopump is a vacuum pump of a type that condenses gas molecules on an extremely cooled surface and exhausts the same, there is no backflow of oil or the like, and the load lock chamber 204 can be in a clean high vacuum state.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
は、プロセスチャンバ208をクライオポンプ212に
よって常時イオン注入プロセスに適した高真空状態に排
気しつつ、ロードロック室204を定期的にロータリポ
ンプ218によって粗引きしたのちクライオポンプ22
4によって適当な高真空状態まで真空引きしていた。す
なわち、プロセスチャンバ208に対してはそれ専用の
クライオポンプ212をあてがう一方、ロードロック室
204に対してはそれ専用のクライオポンプ224をあ
てがっており、計2台のクライオポンプを使用してい
た。
As described above, conventionally, while the process chamber 208 is constantly evacuated to a high vacuum suitable for the ion implantation process by the cryopump 212, the load lock chamber 204 is periodically rotated by the rotary pump. After roughing by 218, cryopump 22
4 was evacuated to a suitable high vacuum. That is, a dedicated cryopump 212 is applied to the process chamber 208, while a dedicated cryopump 224 is applied to the load lock chamber 204, and a total of two cryopumps are used.

【0009】上記の例はイオン注入装置に係るものであ
ったが、スパッタリング装置、蒸着装置、CVD装置、
PVD装置、エピタキシャル装置等の他の半導体製造装
置においても同様で、従来方式によれば、プロセスチャ
ンバとロードロック室とにそれぞれ専用のクライオポン
プを使用していた。したがって、半導体製造ライン全体
では多数のクライオポンプを必要とし、コスト・スペー
ス・メインテナンス等の面で問題であった。
Although the above example relates to an ion implantation apparatus, a sputtering apparatus, a vapor deposition apparatus, a CVD apparatus,
The same applies to other semiconductor manufacturing apparatuses such as a PVD apparatus and an epitaxial apparatus. According to the conventional method, a dedicated cryopump is used for each of the process chamber and the load lock chamber. Therefore, a large number of cryopumps are required in the entire semiconductor manufacturing line, which is problematic in terms of cost, space, maintenance, and the like.

【0010】本発明は、かかる従来の問題点に鑑みてな
されたもので、1台で複数の被排気室を同時かつ個別的
に、しかも効率的に高真空状態に排気できるクライオポ
ンプを提供することを目的とする。 また、本発明は、プ
ロセスチャンバにロードロック室を付設する微細加工装
置において、クライオポンプの使用台数を少なくし、し
かもプロセスチャンバおよびロードロック室を同時かつ
個別的に、しかも効率的に高真空状態に排気するように
した排気方式を提供することを目的とする。
[0010] The present invention has been made in view of such conventional problems, simultaneously and individually a plurality of the exhaust chamber in one
Cryopo that can be evacuated to a high vacuum state efficiently
The purpose is to provide a pump. In addition, the present invention
Micro processing equipment with load lock chamber attached to process chamber
The number of cryopumps used
Also process chamber and load lock chamber at the same time
Evacuate individually and efficiently to high vacuum
The purpose of the present invention is to provide an improved exhaust system.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のクライオポンプは、筒状ケースの一端部
を開口して主吸気口を形成するとともに前記ケースの他
端部付近に副吸気口を設け、前記ケースの内側に、前記
ケースの中間部より前記第1の吸気口の方に向かって前
記ケースの長手方向に延在する主凝結部と、前記ケース
の中間部より前記副吸気口の方に向かって前記ケースの
長手方向に延在する副凝結部とを設け、前記ケースの他
端部側に前記主凝結部と前記副凝結部とをそれぞれ極低
温の所定温度に冷却するための冷却手段を設け、前記副
凝結部に面して前記ケースの長手方向に延在するラビリ
ンス板を有するラビリンスを設け、前記主吸気口より前
記ケース内に入ってきた気体分子を前記主凝結部の極低
温面に付着させて凍結排気し、前記副吸気口より前記ケ
ース内に入ってきた気体分子を前記ラビリンスに導いて
前記副凝結部の極低温面に付着させて凍結排気する構成
とした。 本発明のクライオポンプにおいて、前記ケース
内に前記副凝結部と前記主凝結部とを連通させる通気路
を設ける構成も可能である。 また、本発明の排気方式
は、真空下で所定のプロセスを行うためのプロセスチャ
ンバと、真空下で前記プロセスチャンバへ被処理基板を
ロードまたはアンロードするためのロードロック室とを
備えた微細加工装置における排気方式であって、上記本
発明のクライオポンプの前記主吸気口に前記プロセスチ
ャンバを連通せしめるとともに、前記クライオポンプの
前記副吸気口に前記ロードロック室を連通せしめてなる
方式とした。
In order to achieve the above object, a cryopump according to the present invention comprises an end portion of a cylindrical case.
To form the main air intake and
A sub intake port is provided near the end, and inside the case,
Forward from the middle part of the case toward the first air inlet
A main condensing portion extending in a longitudinal direction of the case;
From the middle part of the case toward the sub intake port.
A sub-condensation portion extending in the longitudinal direction is provided;
The main condensed part and the sub-condensed part are extremely low on the end side, respectively.
Cooling means for cooling to a predetermined temperature,
Rabbit extending longitudinally of the case facing the condensate
A labyrinth having a rinsing plate
The gas molecules entering the case are kept extremely low at the main condensation part.
Attached to the warm surface, freeze-exhausted, and
The gas molecules that enter the source into the labyrinth
A structure for adhering to the cryogenic surface of the sub-condensation part and for freezing and exhausting
And In the cryopump of the present invention, the case
An air passage for communicating the sub-condensed part and the main condensed part with each other
Is also possible. Also, the exhaust system of the present invention
Is a process chamber for performing a predetermined process under vacuum.
A substrate to be processed into the process chamber under vacuum.
Load lock chamber for loading or unloading
This is an exhaust system in a micromachining device equipped with
In the cryopump of the present invention, the process port
While allowing the chamber to communicate with the cryopump.
The load lock chamber communicates with the sub intake port.
System.

【0012】[0012]

【作用】本発明のクライオポンプでは、第1の被排気室
よりケース一端部の主吸気口を介してケース内に入って
きた気体分子が主凝結部の極低温面に吸着して凍結排気
されると同時に、第2の被排気室よりケース他端部付近
の副吸気口を介してケース内に入ってきた気体分子がラ
ビリンスに導かれながら副凝結部の極低温面に吸着して
凍結排気される。主凝結部においては、冷凍手段が背後
に位置するため、正面の主吸気口側に大きなスペースま
たはサイズで極低温面を向けることができ、主吸気口よ
り入ってきた気体分子を個別的にかつ効果的に凍結排気
できる。一方、副凝結部においては、ケース他端部付近
の冷凍手段の存在によりスペース的な制限はあるもの
の、ラビリンスの作用により気体分子と接する有効面積
が大きいため、小スペースでも副吸気口より入ってきた
気体分子を個別的にかつ効果的に凍結排気できる。 本発
明の排気方式においては、プロセスチャンバとロードロ
ック室が1台の上記クライオポンプの主凝結部および副
凝結部により同時に、かつ効率的に真空排気される。
In the cryopump of the present invention, the first exhausted chamber is provided.
Into the case through the main air inlet at one end of the case
Gas molecules adsorb on the cryogenic surface of the main condensate and freeze-exhaust
And at the same time, near the other end of the case from the second exhausted chamber.
Gas molecules entering the case through the sub intake port
Adsorbed to the cryogenic surface of the sub-condensation part while being guided by the virinth
Freeze and exhaust. In the main condensing part, the freezing means is behind
Large space on the front side of the main air intake.
The size of the main intake port.
Freeze and exhaust individual and effective gas molecules
it can. On the other hand, in the sub-condensation part, near the other end of the case
Space is limited due to the existence of freezing means
Effective area in contact with gas molecules by the action of labyrinth
Is large, so it came in through the secondary intake even in a small space
Gas molecules can be individually and effectively frozen and evacuated. Departure
In the clear exhaust system, the process chamber and load
The main condensing part and sub-condensing part of the cryopump with one lock chamber
The condensing part evacuates simultaneously and efficiently.

【0013】[0013]

【実施例】先ず、図2および図3につき本実施例による
クライオポンプを説明する。このクライオポンプのケー
ス10はステンレス製で円筒状の側面を有し、その上端
側は開放して開口12をなし、下端側は底板14により
閉塞されている。開口12は、主吸気口を形成し、ゲー
トバルプ(図示せず)等を介して第1の被排気室(図示
せず)に接続される。この主吸気口12の周りには、本
クライオポンプを第1の被排気室に取付固定するための
フランジ16がケース10と一体的に形成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, a cryopump according to this embodiment will be described with reference to FIGS. The cryopump case 10 is made of stainless steel and has a cylindrical side surface. The upper end is open to form an opening 12, and the lower end is closed by a bottom plate 14. The opening 12 forms a main intake port and is connected to a first exhaust chamber (not shown) via a gate valve (not shown) or the like. Around the main intake port 12, a flange 16 for attaching and fixing the present cryopump to the first exhaust chamber is formed integrally with the case 10.

【0014】ケース10の内側において、ケース底板1
4の中央部に冷凍シリンダ18が立設され、この冷凍シ
リンダ18の上部に、熱伝導率の高い材質、たとえばア
ルミニウムからなる第1および第2の凝結部20,22
が配設される。
Inside the case 10, a case bottom plate 1
4, a refrigeration cylinder 18 is erected at the center of the refrigeration cylinder 18, and first and second condensed portions 20, 22 made of a material having high thermal conductivity, for example, aluminum.
Is arranged.

【0015】第1の凝結部20は、ほぼカップ状の形体
を有し、主吸気口12に向かって、つまりカップ開口を
主吸気口12に向けて冷凍シリンダ18に取付される。
第1の凝結部20とケース10との間には断熱用の隙間
24が設けられる。第2の凝結部22は、第1の凝結部
20よりも径の小さい円筒体で、第1の凝結部20の内
側で冷凍シリンダ18に取付される。この第2の凝結部
22の表面には、水素・酸素・アルゴン等の気体分子を
効果的に吸着するための活性炭が接着されている。主吸
気口12には、気体の逆流を防止するための複数の環状
笠形バッフル15が同心円状に配設される。
The first condensing portion 20 has a substantially cup-like shape, and is attached to the refrigeration cylinder 18 toward the main intake port 12, that is, with the cup opening facing the main intake port 12.
A gap 24 for heat insulation is provided between the first condensed portion 20 and the case 10. The second condensing part 22 is a cylindrical body having a smaller diameter than the first condensing part 20, and is attached to the refrigeration cylinder 18 inside the first condensing part 20. Activated carbon for effectively adsorbing gas molecules such as hydrogen, oxygen, and argon is adhered to the surface of the second condensed portion 22. A plurality of annular cap-shaped baffles 15 for preventing backflow of gas are disposed concentrically at the main intake port 12.

【0016】冷凍シリンダ18の下端はケース底板14
の開口を介して冷凍機26に接続されている。この冷凍
機26は、高圧ポート28よりコンプレッサ(図示せ
ず)からの高圧ヘリウムを受け取り、その入力した高圧
ヘリウムをコンデンサにより凝縮したのち、エパポレー
タにより蒸発(断熱膨張)させ、極低温の冷気を発生す
る。エパポレータで低圧のガスに変じたヘリウムは、低
圧ポート30よりコンプレッサ側へ送出される。
The lower end of the freezing cylinder 18 is connected to the case bottom plate 14.
Is connected to the refrigerator 26 through the opening. The refrigerator 26 receives high-pressure helium from a compressor (not shown) from a high-pressure port 28, condenses the input high-pressure helium with a condenser, and then evaporates (adiabatic expansion) with an evaporator to generate cryogenic cold air. I do. Helium converted into low-pressure gas by the evaporator is sent out from the low-pressure port 30 to the compressor.

【0017】冷凍機26で発生した極低温の冷気は、冷
凍シリンダ18を介して第1および第2の凝結部20,
22に伝えられる。これにより、第1の凝結部20およ
びバッフル15の表面はたとえば40゜Kまで冷却さ
れ、第2の凝結部22の表面はたとえば15゜Kまで冷
却される。
The cryogenic cold air generated in the refrigerator 26 passes through the refrigeration cylinder 18 to the first and second condensing portions 20 and 20.
22. Thereby, the surfaces of the first condensed portion 20 and the baffle 15 are cooled to, for example, 40 ° K, and the surfaces of the second condensed portion 22 are cooled to, for example, 15 ° K.

【0018】両凝結部20,22に溜った気体分子を排
出するには、本クライオポンプを各被排出室から遮断し
た状態の下で、パージポート32より中性ガス、たとえ
ば窒素ガスN2 をケース10内に供給して、室内をベン
トする。このベントにより、両凝結部20,22の表面
から気体分子が蒸発し、アウトポート34より中性ガス
と一緒に外へ排気される。
In order to discharge the gas molecules accumulated in both the condensing sections 20 and 22, a neutral gas, for example, nitrogen gas N2 is supplied from the purge port 32 to the case while the cryopump is shut off from each of the discharge chambers. 10 to vent the room. This vent causes gas molecules to evaporate from the surfaces of the condensed portions 20 and 22, and is exhausted from the out port 34 together with the neutral gas.

【0019】本クライオポンプでは、ケース10の下端
部の側面に相対向する2つの吸気ポート36,38が設
けられる。これらの吸気ポート36,38は、副吸気口
であって、それぞれ配管(図示せず)を介して第2およ
び第3の被排気室(図示せず)に連通される。
In the present cryopump, two intake ports 36 and 38 facing each other are provided on the side surface of the lower end of the case 10. These intake ports 36 and 38 are auxiliary intake ports, and are respectively connected to second and third exhaust chambers (not shown) via pipes (not shown).

【0020】そして、ケース10内においては、第1の
凝結部20と一体に、その底板20aより垂直にケース
下端側へ向かって延長する第3の凝結部40が設けられ
る。この第3の凝結部40は、第1の凝結部20と同径
の外側円筒凝結部42と、この外側円筒凝結部40より
も径の小さい内側円筒凝結部44とからなる。これら外
側および内側円筒凝結部42,44の表面は、第1の凝
結部20の表面とほぼ同じ温度(40゜K)まで冷却さ
れる。
In the case 10, a third condensed portion 40 is provided integrally with the first condensed portion 20 and extends vertically from the bottom plate 20a toward the lower end of the case. The third condensed portion 40 includes an outer cylindrical condensed portion 42 having the same diameter as the first condensed portion 20 and an inner cylindrical condensed portion 44 having a smaller diameter than the outer cylindrical condensed portion 40. The surfaces of these outer and inner cylindrical condenses 42, 44 are cooled to approximately the same temperature (40 ° K) as the surface of the first condensate 20.

【0021】また、第3の凝結部40の下方にて、ケー
ス10の内側面に環状の水平支持板46が取付固定さ
れ、この水平支持板46に、外側円筒凝結部42と内側
円筒凝結部44との間に介在する外側円筒ラビリンス板
48と、内側円筒凝結部44と冷凍シリンダ18との間
に介在する内側円筒ラビリンス板50とが立設される。
さらに、第1の凝結部20の底板20aの外周部には円
周方向に多数の通気孔52が穿孔される。
An annular horizontal support plate 46 is attached and fixed to the inner surface of the case 10 below the third condensing portion 40. The outer cylindrical condensing portion 42 and the inner cylindrical condensing portion are attached to the horizontal supporting plate 46. An outer cylindrical labyrinth plate 48 interposed between the inner cylindrical labyrinth plate 44 and the inner cylindrical labyrinth plate 50 interposed between the inner cylindrical condensed portion 44 and the freezing cylinder 18 are erected.
Further, a large number of ventilation holes 52 are formed in the outer peripheral portion of the bottom plate 20a of the first condensed portion 20 in the circumferential direction.

【0022】かかる構成のクライオポンプにおいて、第
1の被排気室からの気体は、主吸気口12よりバッフル
15および第1の凝結部20の内側へ流入し、ここで、
水蒸気はバッフル15の表面および第1の凝結部20の
内側面(40゜K)で凍結排気され、水素・酸素・アル
ゴン等は第2の凝結部22の表面(15゜K)で凍結な
いし吸着排気される。また、第1の凝結部20とケース
10との隙間24に入り込んだ水蒸気は第1の凝結部2
0の外側面(40゜K)で凍結排気される。
In the cryopump having such a configuration, the gas from the first exhaust chamber flows into the baffle 15 and the inside of the first condensing portion 20 from the main intake port 12, where:
Water vapor is frozen and exhausted on the surface of the baffle 15 and the inner surface (40 ° K) of the first condensing portion 20, and hydrogen, oxygen, argon, etc. are frozen or adsorbed on the surface of the second condensing portion 22 (15 ° K). Exhausted. The water vapor that has entered the gap 24 between the first condensed portion 20 and the case 10 is dissipated by the first condensed portion 2.
It is frozen and evacuated on the outside surface of the zero (40 ° K).

【0023】一方、吸気ポート36,38よりケース1
0内に流入した第2,第3の被排気室からの気体分子
は、第3の凝結部40の外側および内側円筒凝結部4
2,44と外側および内側円筒ラビリンス板48,50
とで画成されるラビリンス54に入り、このラビリンス
54内で水蒸気が内側円筒凝結部44の内側・外側面
(40゜K)および外側円筒凝結部42の内側面(40
゜K)で凍結排気される。また、水素・酸素・アルゴン
等は、ラビリンス54から通気孔52を通って第1の凝
結部20の内側に入り、第2の凝結部22の表面(15
゜K)で凍結ないし吸着排気される。なお、ラビリンス
54で排気しきれない水蒸気は、通気孔52より第1の
凝結部20の内側へ入り込み、あるいはラビリンス54
を通り抜けて第1の凝結部20とケース10との隙間2
4へ入り込み、第1の凝結部20の内側面あるいは外側
面で凍結排気される。
On the other hand, the case 1
The gas molecules flowing from the second and third exhausted chambers into the inside of the second condensing portion 40 are outside and inside the third condensing portion 40 and the inside cylindrical condensing portion 4.
2,44 and outer and inner cylindrical labyrinth plates 48,50
The steam enters the labyrinth 54 which is defined by the following formulas. In the labyrinth 54, the water vapor is supplied to the inside and outside surfaces (40 ° K) of the inner cylindrical condensing portion 44 and the inner side surface (40
It is frozen and evacuated at ゜ K). In addition, hydrogen, oxygen, argon, and the like enter the inside of the first condensed portion 20 from the labyrinth 54 through the vent hole 52, and enter the surface (15) of the second condensed portion 22.
凍結 K) freezes or adsorbs and exhausts. The water vapor that cannot be completely exhausted by the labyrinth 54 enters the inside of the first condensed portion 20 through the vent hole 52, or
Through the gap 2 between the first condensed portion 20 and the case 10
4 and is frozen and evacuated on the inner surface or the outer surface of the first condensed portion 20.

【0024】このように、本実施例のクライオポンプに
おいては、第1の被排気室からの気体をほぼカップ状の
第1の凝結部20の内側に入れて、水蒸気を第1の凝結
部20およびバッフル15で凝結排気するとともに、水
素・酸素・アルゴン等を第2の凝結部22で凝結排気す
る一方、第2および第3の被排気室からの気体を第1の
凝結部20の裏側に第3の凝結部40とラビリンス板4
8,50とで形成されたラビリンス54に入れて(導い
て)、水蒸気を第3の凝結部40で凝結排気するととも
に、水素・酸素・アルゴン等を第1の凝結部20の底板
に設けた通気孔52を介してさらに第1の凝結部20の
内側へ導いて第2の凝結部22により凝結排気するよう
にした。これによって、第1、第2および第3の被排気
室を同時に、たとえば1×10-9 Toor 程度の清浄な超
真空状態に排気(真空引き)することができる。
As described above, in the cryopump of this embodiment, the gas from the first chamber to be evacuated is introduced into the inside of the substantially cup-shaped first condensing section 20, and the steam is supplied to the first condensing section 20. And while condensing and exhausting by the baffle 15, hydrogen, oxygen, argon and the like are condensed and exhausted by the second condensing part 22, while gas from the second and third exhausted chambers is transferred to the back side of the first condensing part 20. Third coagulation part 40 and labyrinth plate 4
The steam is condensed and exhausted in the labyrinth 54 formed by the first and second condensing portions 20, and hydrogen, oxygen, argon and the like are provided on the bottom plate of the first condensing portion 20. The air was further guided to the inside of the first condensed portion 20 through the ventilation hole 52 and condensed and exhausted by the second condensed portion 22. Thus, the first, second, and third chambers to be evacuated can be simultaneously evacuated (evacuated) to a clean ultra-vacuum state of, for example, about 1 × 10 −9 Toor.

【0025】特に、本実施例のクライオポンプにおい
て、第3の凝結部40は、ラビリンス54の作用により
気体分子と接する有効面積が大きく、比較的小さなサイ
ズでも効果的に水蒸気を排気することができる。また、
第1の凝結部20の底板に設けた通気孔52より第2お
よび第3の被排気室からの水素・酸素・アルゴン等を第
2の凝結部22へ導くようにしたので、全被排気室の排
気に対して第2の凝結部22が共用されている。
In particular, in the cryopump of this embodiment, the third condensing portion 40 has a large effective area in contact with gas molecules by the action of the labyrinth 54, and can effectively exhaust water vapor even with a relatively small size. . Also,
Since hydrogen, oxygen, argon, and the like from the second and third exhausted chambers are guided to the second condensed section 22 through the ventilation holes 52 provided in the bottom plate of the first condensed section 20, all the exhausted chambers are provided. The second condensing part 22 is shared with the exhaust gas.

【0026】図3は、一変形例によるクライオポンプの
構造を示す。この変形例において、上述した実施例と異
なる点は、副吸気口として吸気ポート60,62をケー
ス10の底板14に取付したこと、第3の凝結部を第1
の凝結部20と同径の1つの円筒凝結部64で構成し、
1つの円筒ラビリンス板66でラビリンス68を構成し
たこと、吸気ポート60,62からの水素・酸素・アル
ゴン等を第2の凝結部22側へ導くための手段を設けて
いないことである。
FIG. 3 shows a structure of a cryopump according to a modification. This modified example is different from the above-described embodiment in that the intake ports 60 and 62 are attached to the bottom plate 14 of the case 10 as auxiliary intake ports, and the third condensed portion is formed as the first condensed portion.
A single cylindrical condensed portion 64 having the same diameter as the condensed portion 20 of
The labyrinth 68 is constituted by one cylindrical labyrinth plate 66, and means for guiding hydrogen, oxygen, argon and the like from the intake ports 60 and 62 to the second condensing portion 22 is not provided.

【0027】このように、副吸気口は、主吸気口12と
は反対側のケース端部付近で任意の位置に設けることが
可能である。また、副吸気口の個数は2つに限定される
ものではなく、もちろん1つでも可能であり、あるいは
3つ以上設けてもよい。またラビリンス手段は、第3の
凝結部に対する気体分子の接触面積を増やすようなもの
であればよく、任意の構造を選択することができる。
As described above, the sub intake port can be provided at an arbitrary position near the case end opposite to the main intake port 12. Further, the number of sub intake ports is not limited to two, but may be one, or may be three or more. The labyrinth means may be any as long as it increases the contact area of the gas molecules with the third condensed part, and an arbitrary structure can be selected.

【0028】また、半導体製造装置におけるロードロッ
ク室のように、主に水蒸気を排気する目的でクライオポ
ンプを使用する場合もある。そのような場合は、第3の
凝結部だけで間に合う。したがって、この変形例のよう
に、副吸気口からの水素・酸素・アルゴン等を第2の凝
結部側へ導くための通気孔を省略することも可能であ
る。また、第2の凝結部の構造は、上記実施例・変形例
のような円筒形に限定されず、たとえば笠状の板体を一
定間隔で多数重ね配置したものでもよい。
In some cases, a cryopump is used mainly for exhausting water vapor, such as a load lock chamber in a semiconductor manufacturing apparatus. In such a case, only the third condensate is sufficient. Therefore, as in this modification, it is possible to omit a vent for guiding hydrogen, oxygen, argon, and the like from the sub-intake port to the second condensing portion side. Further, the structure of the second condensed portion is not limited to the cylindrical shape as in the above-described embodiments and modified examples. For example, a large number of cap-shaped plate members may be arranged at regular intervals.

【0029】次に、図1につき、本発明による排気方式
をイオン注入装置に適用した実施例を説明する。このイ
オン注入装置において、100はイオン注入を行うプロ
セスチャンバ、102,104はロードロック室、10
6は上記実施例によるクライオポンプ、108〜116
はゲートバルブ、118はロータリポンプ、122〜1
28は電磁弁、130〜136は配管である。
Next, an embodiment in which the exhaust system according to the present invention is applied to an ion implantation apparatus will be described with reference to FIG. In this ion implantation apparatus, 100 is a process chamber for performing ion implantation, 102 and 104 are load lock chambers, 10
6 is a cryopump according to the above embodiment,
Is a gate valve, 118 is a rotary pump, 122-1
28 is a solenoid valve, and 130 to 136 are pipes.

【0030】半導体ウエハ300は、ターンテーブル等
のウエハ搬送機構(図示せず)によりゲートバルブ10
8を介してロードロック室102に搬入され、ロードロ
ック室102内のハンドアームによりゲートバルブ11
0を介してプロセスチャンバ100内にロードされる。
同様にして、ロードロック室104側からも半導体ウエ
ハ300がプロセスチャンバ100内にロードされるよ
うになっている。イオン注入プロセスの終了した半導体
ウエハ300は、上記と反対の動作で、ハンドアームに
よりプロセスチャンバ100よりロードロック室10
2,104にアンロードされ、次いでロードロック室1
02,104から外へ搬出される。
The semiconductor wafer 300 is transferred to the gate valve 10 by a wafer transfer mechanism (not shown) such as a turntable.
8 is carried into the load lock chamber 102 through the gate valve 11 by the hand arm in the load lock chamber 102.
0 is loaded into the process chamber 100.
Similarly, the semiconductor wafer 300 is loaded into the process chamber 100 from the load lock chamber 104 side. After the ion implantation process is completed, the semiconductor wafer 300 is moved from the process chamber 100 to the load lock chamber 10 by the hand arm in the opposite operation.
2,104 unloaded, then load lock chamber 1
02 and 104 are carried out.

【0031】プロセスチャンバ100は、第1の被排気
室としてゲートバルブ116を介してクライオポンプ1
06の主吸気口(12)に連通される。これにより、プ
ロセスチャンバ100は、クライオポンプ106によっ
て、イオン注入プロセスに適した清浄な超高真空、たと
えば1×10-6程度に常時排気されている。
The process chamber 100 is provided with a cryopump 1 through a gate valve 116 as a first chamber to be evacuated.
06 is connected to the main intake port (12). Accordingly, the process chamber 100 is constantly evacuated to a clean ultra-high vacuum suitable for the ion implantation process, for example, about 1 × 10 −6 by the cryopump 106.

【0032】ロードロック室102,104は、配管1
30,132を介してロータリポンプ118に連通され
るとともに、第2、第3の被排気室として配管134,
136を介してクライオポンプ106の副吸気口(3
6,38)に連通される。各ロードロック室102,1
04は、半導体ウエハ300を1枚ずつ搬入する度に室
内を大気圧から数10mmTorr程度の高真空に排気(真空
引き)されなければならない。
The load lock chambers 102 and 104 are connected to the pipe 1
30 and 132, and is connected to a rotary pump 118, and a pipe 134,
136, the sub intake port of the cryopump 106 (3
6, 38). Each load lock chamber 102, 1
In step 04, the chamber must be evacuated (evacuated) from atmospheric pressure to a high vacuum of about several tens of mm Torr each time one semiconductor wafer 300 is loaded.

【0033】この真空引きを行うため、先ず電磁弁12
2,128をオンにして、ロータリポンプ118により
各ロードロック室102,104を数100mmTorr程度
まで粗引きする。通常、真空度が約100mmTorrを超え
ると、ロータリポンプから被排気室へオイルの逆流が起
こるので、数100mmTorr程度に達したならば電磁弁1
22,128をオフにする。
In order to perform this evacuation, first, the electromagnetic valve 12
When the load lock chambers 2 and 128 are turned on, the load lock chambers 102 and 104 are roughly evacuated to about several 100 mmTorr by the rotary pump 118. Normally, when the degree of vacuum exceeds about 100 mmTorr, oil flows backward from the rotary pump to the chamber to be evacuated.
22 and 128 are turned off.

【0034】次に、電磁弁124,126をオンにし
て、クライオポンプ106により、両ロードロック室1
02,104を真空引きする。ロータリポンプ118に
よる粗引きによって各ロードロック室102,104内
には殆ど水蒸気しか残留していないので、通気孔(5
2)無しの図2の変形例のようなポンプ構造のもので
も、使用可能である。このクライオポンプ106による
真空引きによって各ロードロック室102,104の気
圧を数10mmTorr以上の高真空に排気する。
Next, the solenoid valves 124 and 126 are turned on, and the two load lock chambers 1 are driven by the cryopump 106.
Evacuate 02,104. Since almost no water vapor remains in each of the load lock chambers 102 and 104 due to the rough evacuation by the rotary pump 118, the air holes (5
2) Even a pump having a pump structure like the modified example of FIG. 2 without it can be used. The pressure in each of the load lock chambers 102 and 104 is evacuated to a high vacuum of several tens mmTorr or more by evacuation by the cryopump 106.

【0035】両ロードロック室102,104の真空引
きを行っている間も、クライオポンプ106は、プロセ
スチャンバ100の排気を継続して行う。つまり、クラ
イオポンプ106は、主排気口12と連通するプロセス
チャンバ100をプロセスに適した高真空状態(たとえ
ば1×10−6mmTorr程度)に排気しながら、同時に、
両ロードロック室102,104を粗引き状態(たとえ
ば数100mmTorr)から予備室として適正な高真空状態
(たとえば数10mmTorr以下の高真空状態)まで真空引
きする。
While the load lock chambers 102 and 104 are evacuated, the cryopump 106 continuously exhausts the process chamber 100. That is, the cryopump 106 simultaneously evacuates the process chamber 100 communicating with the main exhaust port 12 to a high vacuum state (for example, about 1 × 10 −6 mmTorr) suitable for the process, and at the same time,
The load lock chambers 102 and 104 are evacuated from a roughly evacuated state (for example, several hundred mmTorr) to an appropriate high vacuum state (for example, a high vacuum state of several tens mmTorr or less ) as a spare chamber.

【0036】なお、このイオン注入装置において、プロ
セスチャンバ100の容積はたとえば100リットル程
度であるのに対し、各ロードロック室102,104の
容積はたとえば0.3リットル程度であるから、プロセ
スチャンバ100の排気に両ロードロック室102,1
04の排気が加わっても、クライオポンプ106の排気
能力には殆ど影響しない。
In this ion implantation apparatus, the volume of the process chamber 100 is, for example, about 100 liters, while the volume of each of the load lock chambers 102, 104 is, for example, about 0.3 liters. Load lock chambers 102, 1 for exhaust air
The addition of the exhaust of 04 has almost no effect on the exhaust capacity of the cryopump 106.

【0037】以上のように、本実施例の排気方式によれ
ば、プロセスチャンバ100と2つのロードロック室1
02,104に対し、1台のクライオポンプ106で対
応することが可能である。また、イオン注入装置のほか
にも、スパッタリング装置、蒸着装置、CVD装置、P
VD装置、エピタキシャル装置等の各種半導体製造装置
でロードロック室が一般的に使用されており、それら各
種の装置にも本発明の排気方式を適用することができ
る。そうした場合は、半導体製造ライン全体で、クライ
オポンプの使用台数が大幅に減少し、コスト低減はもち
ろんのこと、作業スペースの増床や配管の節約がはから
れ、クライオポンプに関する管理・保守の手間が半減す
る等の利点が得られる。
As described above, according to the exhaust system of this embodiment, the process chamber 100 and the two load lock chambers 1
02 and 104 can be handled by one cryopump 106. In addition to ion implantation equipment, sputtering equipment, vapor deposition equipment, CVD equipment, P
A load lock chamber is generally used in various semiconductor manufacturing apparatuses such as a VD apparatus and an epitaxial apparatus, and the exhaust system of the present invention can be applied to these various apparatuses. In such a case, the number of cryopumps used in the entire semiconductor manufacturing line is greatly reduced, which not only reduces costs, but also increases working space and piping, and reduces the time and labor required for cryopump management and maintenance. Advantages such as halving are obtained.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のクライオ
ポンプによれば、第1の被排気室からの気体分子に対し
てはケース内で相対的に大きな容量またはサイズに形成
可能な主凝結部を充て、第2の被排気室からの気体分子
に対してはラビリンス作用により大きな有効凝結面積を
持てる副凝結部を充てることにより、1台で複数の被排
気室を同時かつ個別的に、しかも効率的に高真空状態に
排気することができる。 また、本発明の真空排気方式に
よれば、微細加工装置におけるプロセスチャンバおよび
ロードロック室を本発明のクライオポンプの主吸気口お
よび副吸気口にそれぞれ連通させることにより、クライ
オポンプ1台でそれらプロセスチャンバおよびロードロ
ック室を同時かつ個別的に、しかも効率的に高真空状態
に排気することができる。
As described above, the present invention has a
According to the pump, gas molecules from the first exhaust chamber are
To a relatively large capacity or size in the case
Fill the possible main condensate with gas molecules from the second evacuated chamber
Large effective condensation area due to labyrinth action
By allocating the sub-condensation part that can be held,
Simultaneously, individually, and efficiently create high vacuum
Can be exhausted. In addition, the evacuation method of the present invention
According to the process chamber and the fine processing device
The load lock chamber is connected to the main intake port of the cryopump of the present invention.
And the sub intake port to communicate with each other.
One process pump and one load pump
The lock chambers are simultaneously and individually and efficiently vacuumed
Can be exhausted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例による排気方式を適用したイ
オン注入装置の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an ion implantation apparatus to which an exhaust system according to an embodiment of the present invention is applied.

【図2】本発明の排気方式で使用するための一実施例に
よるクライオポンプの構造を示す略断面図である。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a structure of a cryopump according to an embodiment for use in the exhaust system of the present invention.

【図3】本発明の排気方式で使用するための一変形例に
よるクライオポンプの構造を示す略断面図である。
FIG. 3 is a schematic sectional view showing a structure of a cryopump according to a modification for use in the exhaust system of the present invention.

【図4】従来の排気方式を適用したイオン注入装置の構
成を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of an ion implantation apparatus to which a conventional exhaust system is applied.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 ケース 12 主吸気口 36 副吸気口 38 副吸気口 60 副吸気口 62 副吸気口 100 プロセスチャンバ 102 ロードロック室 104 ロードロック室 106 クライオポンプ 124 電磁弁 126 電磁弁 134 配管 136 配管 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Case 12 Main intake port 36 Sub intake port 38 Sub intake port 60 Sub intake port 62 Sub intake port 100 Process chamber 102 Load lock chamber 104 Load lock chamber 106 Cryopump 124 Solenoid valve 126 Solenoid valve 134 Pipe 136 Pipe

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 21/3065 H01L 21/302 B (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/265 603 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 identification code FI H01L 21/3065 H01L 21/302 B (58) Investigated field (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/265 603

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 筒状ケースの一端部を開口して主吸気口
を形成するとともに前記ケースの他端部付近に副吸気口
を設け、 前記ケース内に、前記ケースの中間部より前記第1の吸
気口の方に向かって前記ケースの長手方向に延在する主
凝結部と、前記ケースの中間部より前記副吸気口の方に
向かって前記ケースの長手方向に延在する副凝結部とを
設け、 前記ケースの他端部側に前記主凝結部と前記副凝結部と
をそれぞれ極低温の所定温度に冷却するための冷却手段
を設け、 前記副凝結部に面して前記ケースの長手方向に延在する
ラビリンス板を有するラビリンスを設け、 前記主吸気口より前記ケース内に入ってきた気体分子を
前記主凝結部の極低温面に付着させて凍結排気し、前記
副吸気口より前記ケース内に入ってきた気体分子を前記
ラビリンスに導いて前記副凝結部の極低温面に付着させ
て凍結排気することを特徴とするクライオポンプ。
An opening at one end of the cylindrical case to open a main air inlet;
And a sub-inlet near the other end of the case.
Is provided inside the case from the intermediate portion of the case.
A main extending in the longitudinal direction of the case toward the vent
Condensation part and the auxiliary intake port from the middle part of the case
And a sub-condensed portion extending in the longitudinal direction of the case toward
The main condensation portion and the sub-condensation portion are provided on the other end side of the case.
Cooling means for cooling each to a very low predetermined temperature
And extends in the longitudinal direction of the case facing the sub-condensed portion.
A labyrinth having a labyrinth plate is provided, and gas molecules entering the case from the main intake port are removed.
Attached to the cryogenic surface of the main condensed part and evacuated by freezing,
The gas molecules entering the case from the sub intake port are
Lead to the labyrinth and adhere to the cryogenic surface
A cryopump characterized by freezing and exhausting.
【請求項2】 前記ケース内に前記副凝結部と前記主凝
結部とを連通させる通気路を設けることを特徴とする請
求項1に記載のクライオポンプ。
2. The apparatus according to claim 2 , wherein said sub-condensation portion and said main condensate portion are provided in said case.
A ventilating path for communicating with the joint.
The cryopump according to claim 1.
【請求項3】 真空下で所定のプロセスを行うためのプ
ロセスチャンバと、真空下で前記プロセスチャンバへ被
処理基板をロードまたはアンロードするためのロードロ
ック室とを備えた微細加工装置における排気方式であっ
て、 請求項1または2のクライオポンプの前記主吸気口に前
記プロセスチャンバを連通せしめるとともに、前記クラ
イオポンプの前記副吸気口に前記ロードロック室を連通
せしめてなることを特徴とする排気方式。
3. A process for performing a predetermined process under vacuum.
Process chamber and the process chamber under vacuum.
Load loader for loading or unloading processing substrates
This is an exhaust method in a micromachining device with a lock chamber.
And the main inlet of the cryopump according to claim 1 or 2
The process chamber is connected to the
Connects the load lock chamber to the sub intake port of Io pump
Exhaust method characterized by at least.
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